CN102736013B - 一种SoC芯片的空闲状态测试方法、***及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于嵌入式技术领域，提供了一种SoC芯片的空闲状态测试方法、***及测试装置，所述方法包括：A、进行SoC芯片的上电复位，当SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；B、计算测试用例的标识号，该测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；C、判断测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，否则获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤A。本发明实现了对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高了测试***的测试效率，减少了数据的处理量。
Description
技术领域
本发明属于嵌入式技术领域，尤其涉及一种SoC芯片的空闲状态测试方法、***及测试装置。
背景技术
***级芯片(SoC，System-on-Chip)是一个有专用目标的集成电路，可以是一完整的***，例如微处理器ARM、知识产权核(IP核)和存储器。同时SoC芯片也是一种技术的统称，用以实现从确定***功能开始，到软/硬件划分，并完成设计的整个过程。
目前，SoC芯片已经广泛地应用于各种各样的手持设备中，例如数码相机、智能手机等，这就要求SoC芯片具备低功耗的特性，为了降低SoC芯片的功耗，较为有效的方法是关闭SoC芯片中暂时不用的模块的电源，使得SoC芯片进入到空闲(idle)状态，当SoC芯片处于空闲状态时，除了时钟(RTC)、电源管理模块(PMU)、内部随机存取存储器(RAM)和外部RAM外，其它模块则可以进行断电处理，其中内部RAM用来存储断电前芯片的配置，断电的模块重新工作时用来恢复其配置，外部RAM用来保存程序和数据。SoC芯片可以通过软件的方式进入idle状态，也可以通过软件/硬件/定时的方式退出idle状态，一种进入方式和一种退出方式为一种组合，每种组合情况都需要进行测试验证。
在SoC芯片设计中，测试验证是SoC芯片设计流程中最复杂、最耗时的环节，大约占用了整个芯片开发周期的一半以上，采用先进的设计与测试方法成为SoC芯片设计成功的关键。为了测试SoC芯片进入/退出idle状态方法的可靠性，现有的测试方法在进行SoC芯片的进入/退出idle状态的测试时，一次只能对一个测试用例进行测试，当需要测试的SoC芯片的进入/退出idle状态的测试用例较多时，测试***需要较多的时间开销进行测试用例的编译，且在测试过程中，需要处理多个不同的仿真波形文件，降低了测试***的测试效率。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种SoC芯片的空闲状态测试方法、***及测试装置，旨在解决由于现有测试方法无法进行多个测试用例的持续测试，导致测试***处理数据增加，测试***的测试效率降低的问题。
本发明实施例是这样实现的，一种SoC芯片的空闲状态测试方法，所述方法包括下述步骤：
A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤A。
本发明实施例的另一目的在于提供一种SoC芯片的空闲状态测试***，所述***包括：
标识号获取单元，用于进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
标识号计算单元，用于根据所述标识号获取单元获取的标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
标识号判断单元，用于判断所述标识号计算单元计算得到的测试用例的标识号是否为空字符；
退出单元，用于当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试；以及
测试单元，用于当测试用例的标识号不为空字符时，根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置。
本发明实施例的另一目的在于提供一种包括上述SoC芯片的空闲状态测试***的SoC测试装置。
本发明实施例在对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例进行测试时，通过SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号，根据该标识号计算测试用例的标识号，判断测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，否则根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，循环执行直至测试用例全部被测试，从而实现对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高测试***的测试效率，减少了数据的处理量。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试方法的实现流程图；
图2是本发明第二实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试方法的实现流程图；
图3是本发明第三实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试***的结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例在对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例进行测试时，通过SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号，根据该标识号计算测试用例的标识号，判断测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，否则根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，循环执行直至测试用例全部被测试，从而实现对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高测试***的测试效率，减少了数据的处理量。
本发明实施例提供了一种SoC芯片的空闲状态测试方法，所述方法包括下述步骤：
A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤A。
本发明实施例还提供了一种SoC芯片的空闲状态测试***，所述***包括：
标识号获取单元，用于进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
标识号计算单元，用于根据所述标识号获取单元获取的标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
标识号判断单元，用于判断所述标识号计算单元计算得到的测试用例的标识号是否为空字符；
退出单元，用于当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试；以及
测试单元，用于当测试用例的标识号不为空字符时，根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置。
本发明实施例还提供了一种包括上述SoC芯片的空闲状态测试***的SoC测试装置。
本发明实施例在对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例进行测试时，通过SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号，根据该标识号计算测试用例的标识号，根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，循环执行直至测试用例全部被测试，从而实现对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高测试***的测试效率，减少了数据的处理量。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述：
实施例一：
在本发明实施例中，将SoC芯片进入/退出空闲状态的全部测试用例保存在随机存取存储中，建立标识号与全部测试用例的一一对应关系，通过在SoC芯片启动过程中执行测试用例，直至所有的SoC芯片进入/退出空闲状态的全部测试用例被测试完。
图1示出了本发明第一实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试方法的实现流程，详述如下：
在步骤S101中，进行SoC芯片的上电复位，当SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号。
SoC芯片为具有一定功能的***级芯片，可以包括控制逻辑模块、微处理器/微控制器CPU内核模块、数字信号处理器DSP模块、嵌入的存储器模块和外部进行通讯的接口模块等，在本发明实施例中，首先在预设的随机存取存储器中预先设置的位置中存储一个标识号，该标识号为本次之前一次的SoC芯片的测试用例的标识号，若本次测试为第一次对SoC芯片进行测试，则该标识号可以为预先设置的特定的标识号，例如设置为0。SoC芯片进行上电复位，对SoC芯片进行初始化，对SoC芯片复位完成后，执行SoC芯片中的启动代码(Boot代码)获取存储的标识号。
在步骤S102中，根据标识号计算测试用例的标识号，该测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。
在本发明实施例中，在步骤S101中获取到存储的标识号后，根据***设置的计算方式计算本次测试用例的标识号，例如，加1运算或通过其它一元一次函数来计算本次测试用例的标识号，较优地，由于测试用例在随机存取存储器上是顺序存储的，因此通过加1运算来计算本次测试用例的标识号。
在步骤S103中，判断测试用例的标识号是否为空字符，是则执行步骤S105，否则执行步骤S104。
在步骤S104中，根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤S101。
在步骤S105中，退出SoC芯片的测试。
本发明实施例中，判断步骤S102中计算得到的测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，退出SoC芯片的测试时，可以将SoC芯片置于正常状态，各个组成部件供电均处于正常供电状态，或将SoC芯片置于预设的状态，在此不用以限制本发明。当标识号不为空字符，表明还有测试用例尚未测试，此时根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，为下次测试计算测试用例的标识号提供条件，写入后自动进行SoC芯片的上电复位，即跳转至步骤S101继续执行测试用例。
在本发明实施例中，应预先建立并存储测试用例的标识号与测试用例的对应关系，以方便***根据测试用例的标识号获取测试用例的所在随机存取存储器的地址。
在本发明实施例中，在预设的随机存取存储器中的预设位置存储一标识号，且SoC芯片的启动(Boot)代码中保存有测试用例的标识号与存储测试用例的对应关系，即测试用例的标识号与存储测试用例的随机存取存储器的地址的关联关系，当读取到存储的标识号后，将SoC芯片的控制权交给随机存取存储器中测试用例，进行测试用例的测试，测试完成后更新预设的随机存取存储器中的预设位置存储的标识号，继续测试直至所有测试用例全部被测试，测试完成后所有测试用例形成一个测试波形图，而不会单独输出为多个文件，从而减少了测试过程中测试***的数据处理量，进一步提高测试***的测试效率。
实施例二：
图2示出了本发明第二实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试方法的实现流程，详述如下：
在步骤S201中，对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。
在本发明实施例中，预先对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器，从而提高测试***的测试效率。
在步骤S202中，建立并存储测试用例的标识号与测试用例的对应关系。
在步骤S203中，进行SoC芯片的上电复位，当SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号。
SoC芯片为具有一定功能的***级芯片，可以包括控制逻辑模块、微处理器/微控制器CPU内核模块、数字信号处理器DSP模块、嵌入的存储器模块、和外部进行通讯的接口模块以及电源提供和功耗管理模块等，在本发明实施例中，首先在预设的随机存取存储器中预先设置的位置中存储一个标识号，该标识号为本次之前一次的SoC芯片的测试用例的标识号，若本次测试为第一次对SoC芯片进行测试，则该标识号可以为预先设置的特定的标识号，例如设置为0。SoC芯片进行上电复位，对SoC芯片进行初始化，对SoC芯片复位完成后，执行SoC芯片中的启动代码(Boot代码)获取存储的标识号。
在步骤S204中，根据标识号计算测试用例的标识号，该测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。
在本发明实施例中，在步骤S203中获取到存储的标识号后，根据***设置的计算方式计算本次测试用例的标识号，例如，加1运算或通过其它一元一次函数来计算本次测试用例的标识号，较优地，由于测试用例在随机存取存储器上是顺序存储的，因此可以通过加1运算来计算本次测试用例的标识号。
在步骤S205中，判断测试用例的标识号是否为空字符，是则执行步骤S207，否则执行步骤S206。
在步骤S206中，根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤S203。
在步骤S207中，退出SoC芯片的测试，
本发明实施例中，判断步骤S204中计算得到的测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，退出SoC芯片的测试时，可以将SoC芯片置于正常状态，各个组成部件供电均处于正常供电状态，或将SoC芯片置于预设的状态，在此不用以限制本发明。当标识号不为空字符，表明还有测试用例尚未测试，此时根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，为下次测试计算测试用例的标识号提供条件，写入后自动进行SoC芯片的上电复位，即跳转至步骤S203继续执行测试用例。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
实施例三：
图3示出了本发明第三实施例提供的SoC芯片的空闲状态测试***的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
该SoC芯片的空闲状态测试***可以用于测试SoC芯片的空闲状态功能的测试平台中，或者具有SoC芯片的空闲状态测试的SoC测试装置中，可以是运行于这些SoC测试装置内的软件单元，也可以作为独立的挂件集成到这些SoC测试装置中或者运行于这些SoC测试装置的应用***中，其中：
测试用例编译单元31对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。
在本发明实施例中，预先对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器，从而提高测试***的测试效率。
对应关系建立单元32建立并存储测试用例编译单元31编译后的测试用例的标识号与测试用例的对应关系。
标识号获取单元33进行SoC芯片的上电复位，当SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号。
SoC芯片为具有一定功能的***级芯片，可以包括控制逻辑模块、微处理器/微控制器CPU内核模块、数字信号处理器DSP模块、嵌入的存储器模块、和外部进行通讯的接口模块以及电源提供和功耗管理模块等，在本发明实施例中，首先在预设的随机存取存储器中预先设置的位置中存储一个标识号，该标识号为本次之前一次的SoC芯片的测试用例的标识号，若本次测试为第一次对SoC芯片进行测试，则该标识号可以为预先设置的特定的标识号，例如设置为0。SoC芯片进行上电复位，对SoC芯片进行初始化，对SoC芯片复位完成后，执行SoC芯片中的启动代码(Boot代码)获取存储的标识号。
标识号计算单元34根据标识号获取单元33获取的标识号计算测试用例的标识号，该测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。
在本发明实施例中，在步骤S203中获取到存储的标识号后，根据***设置的计算方式计算本次测试用例的标识号，例如，加1运算或通过其它一元一次函数来计算本次测试用例的标识号，较优地，由于测试用例在随机存取存储器上是顺序存储的，因此可以通过加1运算来计算本次测试用例的标识号。具体地，标识号计算单元34包括有标识号计算子单341，标识号计算子单341用于对标识号获取单元33获取的标识号进行加1运算，将运算结果作为测试用例的标识号。
标识号判断单元35判断标识号计算单元34计算得到的测试用例的标识号是否为空字符。
测试单元36当测试用例的标识号不为空字符时，根据测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入前述预设的随机存取存储器中的预设的位置中。
退出单元37当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试。
本发明实施例在对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例进行测试时，通过SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号，根据该标识号计算测试用例的标识号，根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，循环执行直至测试用例全部被测试，从而实现对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高测试***的测试效率，减少了数据的处理量。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种SoC芯片的空闲状态测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试并将所有测试完的测试用例形成一个测试波形图，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设位置，并跳转至步骤A。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前，所述方法还包括下述步骤：
对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前，所述方法还包括下述步骤：
建立并存储测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤B具体为：
对步骤A中获取的标识号进行加1运算，将运算结果作为测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。
5.一种SoC芯片的空闲状态测试***，其特征在于，所述***包括：
标识号获取单元，用于进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；
标识号计算单元，用于根据所述标识号获取单元获取的标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；
标识号判断单元，用于判断所述标识号计算单元计算得到的测试用例的标识号是否为空字符；
退出单元，用于当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试并将所有测试完的测试用例形成一个测试波形图；以及
测试单元，用于当测试用例的标识号不为空字符时，根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置。
6.如权利要求5所述的***，其特征在于，所述***还包括：
测试用例编译单元，用于对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。
7.如权利要求5所述的***，其特征在于，所述***还包括：
对应关系建立单元，用于建立并存储测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系。
8.如权利要求5所述的***，其特征在于，所述***还包括：
标识号计算子单元，用于对所述标识号获取单元获取的标识号进行加1运算，将运算结果作为测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。
9.一种SoC测试装置，其特征在于，所述SoC测试装置包括权利要求5至8任一项所述的SoC芯片的空闲状态测试***。
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