CN102661697A - 一种深锥面孔的测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种深锥面孔的测量装置，包括百分表座、百分表、标准值校对块、标准量块；一弹性套管与所述百分表座左部的上端部的通孔配合连接，所述百分表的表脚与该弹性套管配合，所述百分表的测量头与所述标准值校对块的右端接触；一前定位套与所述标准量块的中部配合，该前定位套与被测工件的深孔内壁接触；所述标准量块的右端部与所述百分表座右部的下端部的通孔配合连接；所述标准量块的左端部与被测工件的锥面孔接触，且右端面与所述标准值校对块的左端接触。本发明能够实现高精度特深锥度孔的精确测量，不受测量场所限制，能够在加工过程中对工件进行精确测量，提高工件加工合格品率，降低加工成本。
Description
技术领域
本发明涉及机械零件测量装置，具体涉及一种深锥面孔的测量装置。
技术背景
在武器***中，特别是高炮武器***中，高精度深锥度孔是高炮弹药发射的必然构成要素。比如高炮管，不仅构成锥面孔的深度D较深，即锥面孔与管口的距离较远，而且锥面孔的尺寸精度要求及关联要素的位置精度要求高。这给加工制造及准确测量带来了极大的难度。常规的刻线游标测量装置精度最高到0.02mm，且量具制造成本高。采用常规的刻线游标装置测量深锥度孔工件存在的问题是：①刻线宽度严重影响测量的精度，且本身的精度也较低；②三座标测量误差大，且不利于加工过程的测量。采用通止规测量，虽然能够测量尺寸的规定的范围，但是没有具体的读数，不利于加工过程尺寸控制。
发明内容
本发明的目的是提供一种深锥面孔的测量装置，其测量精度较高，制造成本低，不仅能够对加工完毕的工件进行测量，而且能够在加工过程中对工件进行测量。
本发明所述的一种深锥面孔的测量装置，包括百分表座、百分表、标准值校对块、标准量块，其特征是：
所述百分表座的中部平直、左部竖直向上、右部竖直向下，左部的上端部和右部的下端部分别所有一轴线水平且相互平行的通孔；
一弹性套管与所述百分表座左部的上端部的通孔配合连接，所述百分表的表脚与该弹性套管配合，并通过锁紧螺母紧固，所述百分表的测量头与所述标准值校对块的右端接触；
一前定位套与所述标准量块的中部配合，该前定位套的外圆面与被测工件的深孔内壁接触；所述标准量块的右端部与所述百分表座右部的下端部的通孔配合连接，并通过螺母紧固；所述标准量块的左端部与被测工件的锥面孔接触，且右端面与所述标准值校对块的左端接触。
所述的一种深锥面孔的测量装置，其所述标准值校对块呈平直状且左端部向下弯折。
所述的一种深锥面孔的测量装置，其所述标准量块的左端部呈锥形，且锥度与测量工件的锥度一致。
深锥面孔的测量是以标准量块的校对距离D与被测工件的距离尺寸D（即锥面孔的深度）进行比较测量，并将对比测量结果进行推算，获知锥面孔尺寸特性的的检测方法。
本发明的有益效果：能够实现高精度特深锥度孔的精确测量，不受测量场所限制，能够在加工过程中对工件进行精确测量，反映工件真实的加工去除余量，达到特深锥面孔的尺寸精度及位置精度的测量要求；提高工件加工合格品率，降低加工成本；与刻线方式测量相比，测量精度提高5倍，成本下降10%。制造成本较低的原因在于：本方法的核心是对比测量技术，标准量块只需要锥度与被测工件一致，要求精度不需特别高，只取实测值即可；标准值校对块的D值（即锥面孔的深度值）要求精度也不需特别高，只取实测值即可。使用者根据两者的实测值，计算出与被测工件的标准对比值即可使用。因此，高精度深锥度孔的精确测量方法及其装置具有很好的应用前景。
附图说明
图1是本发明与被测工件配合的示意图；
图2是标准量对块的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
参见图1和图2，所述的一种深锥面孔的测量装置，包括百分表座6、百分表8、标准值校对块3和标准量块4；
所述百分表座6的中部平直、左部竖直向上、右部竖直向下，左部的上端部和右部的下端部分别所有一轴线水平且相互平行的通孔；
一弹性套管2与所述百分表座6左部的上端部的通孔配合连接，所述百分表8的表脚与该弹性套管2配合，并通过锁紧螺母1紧固，所述百分表8的测量头与所述标准值校对块3的右端接触；
一前定位套5与所述标准量块4的中部配合，该前定位套5的外圆面与被测工件的深孔内壁接触；所述标准量块4的右端部与所述百分表座6右部的下端部的通孔配合连接，并通过螺母7紧固；所述标准量块4的左端部与被测工件的锥面孔接触，且右端面与所述标准值校对块3的左端接触。
进一步，所述标准值校对块3呈平直状且左端部向下弯折。
进一步，所述标准量块4的左端部呈锥形，且锥度与测量工件的锥度一致。
采用本装置测量工件，存在影响精度提高的因素，主要包括：
a．被测工件表面的清洁度；轻微的杂质影响到真实的测量结果。
b．端面与锥孔轴线的垂直度；垂直度直接影响测量圆周各点的D值不一致，从而无法判定测量结果。
测量时，将被测工件9固定在平台上，仔细清洁被测工件的表面；
先把百分表8（或千分表）安装在百分表座6上，将表脚的伸出量调整适当；
再将标准量块与标准值校对块进行校对，调校百分表到适当位置；
前定位套放在被测工件的预孔中，推动标准量块与被测工件内锥面接触，即可进行测量；
将测量的值与校对值进行对比，即可推算被测工件的尺寸精度及位置精度。
Claims (3)
1.一种深锥面孔的测量装置，包括百分表座（6）、百分表（8）、标准值校对块（3）、标准量块（4），其特征是：
所述百分表座（6）的中部平直、左部竖直向上、右部竖直向下，左部的上端部和右部的下端部分别所有一轴线水平且相互平行的通孔；
一弹性套管（2）与所述百分表座（6）左部的上端部的通孔配合连接，所述百分表（8）的表脚与该弹性套管（2）配合，并通过锁紧螺母（1）紧固，所述百分表（8）的测量头与所述标准值校对块（3）的右端接触；
一前定位套（5）与所述标准量块（4）的中部配合，该前定位套（5）的外圆面与被测工件的深孔内壁接触；所述标准量块（4）的右端部与所述百分表座（6）右部的下端部的通孔配合连接，并通过螺母（7）紧固；所述标准量块（4）的左端部与被测工件的锥面孔接触，且右端面与所述标准值校对块（3）的左端接触。
2. 根据权利要求1所述的一种深锥面孔的测量装置，其特征是：所述标准值校对块（3）呈平直状且左端部向下弯折。
3. 根据权利要求1或2所述的一种深锥面孔的测量装置，其特征是：所述标准量块（4）的左端部呈锥形，且锥度与测量工件的锥度一致。
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