CN102636256A - 可移动式低温弱光检测***及检测方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 claims description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 abstract description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 5
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 5
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 230000007850 degeneration Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种可移动式低温弱光检测***,包括箱体和设置在所述箱体中的真空***、芯片控制电路、***光路、制冷机和压缩机;所述箱体中横向设置有一层隔板;所述制冷机设置在所述隔板上,制冷机中设置有样品室;所述压缩机设置在所述箱体的底部,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供低温环境;所述真空***设置在箱体的上部空间,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供真空环境;所述***光路和芯片控制电路设置在箱体的顶部空间的两个侧壁上,通过气密接口将光信号和电信号导入所述制冷机的样品室。本发明的***重心平衡,便于光缆和电缆连接,减小了机械振动的影响,增强了***工作的稳定性,增强了***的可移动性,克服了低温光探测器移动的难题,极大地拓展了低温器件的应用范围和领域。
Description
技术领域
本发明涉及一种低温弱光探测***,尤其一种可移动式低温弱光探测***,本发明还涉及利用该检测***进行检测的方法。
背景技术
光探测器是光电***的主要组成部分。高灵敏度的光探测器在国防工业、生物技术、公共安全和科学研究中发挥着关键作用。光探测器的灵敏度、噪声、响应波长、响应速度等是光探测器的主要性能指数。要实现弱光检测,甚至单光子检测,探测器***必须要尽可能的克服热噪声等,降低探测器工作温度。
因此,现有的高灵敏度光探测器均采用的制冷设计。例如,半导体制冷到零下40摄氏度,液氮降温到77K,甚至液氦降温到4.2K。当具备工作温度4K左右时,可选用的探测器灵敏度和信噪比等大大提高,具有非常优异的性能。但由于该低温条件相对比较苛刻,因此目前的***主要应用于实验室或大型地面工作站,极大的限制了该类探测器的应用。
发明内容
发明目的:本发明的目的在于提供了一种可重复性、可移动式使用的低温弱光检测***。
本发明的另一目的在于提供利用该检测***进行检测的方法。
技术方案:本发明所述的一种可移动式低温弱光检测***,包括箱体和设置在所述箱体中的真空***、芯片控制电路、***光路、制冷机和压缩机;所述箱体中横向设置有一层隔板;所述制冷机设置在所述隔板上,制冷机中设置有样品室;所述压缩机设置在所述箱体的底部,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供低温环境;所述真空***设置在箱体的上部空间,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供真空环境;所述***光路和芯片控制电路设置在箱体的顶部空间的两个侧壁上,用于分别传导光信号和电信号,通过气密接口将光信号和电信号导入所述制冷机的样品室。所述***光路采用光纤导光。本发明通过制冷机、压缩机获得4K低温***,真空机工作获得真空环境隔绝与外界的热交换,保持4K温度。光路***将光信号输入低温***,电路***将检测到的信号放大并且控制芯片工作。
本发明所述低温弱光探测***中,压缩机位于***最底部,制冷机置于压缩机上层的位置,光路***及电路***更高于制冷机的位置。保证了***重心平衡,便于光缆和电缆连接,减小机械振动的影响。
低温***采用闭循环制冷机获得4K低温环境,通以220V交流电源即可正常工作,避免了使用液氦等制冷剂,因此无需液氦杜瓦和液氦回收***。
利用本发明所述的低温弱光检测***进行检测的方法,包括如下步骤:
(1)连接光信号和电路,通以220V交流电源;
(2)启动真空泵抽真空,制冷机样品室获得真空环境;
(3)启动压缩机降温,获得低温环境;
(4)打开探测器控制电源和测量电路电源,进行测量。
利用本发明***检测获得低温***的实验条件简单,使用方便,操作场所不限于实验室或地面作业工作站。
本发明低温弱光探测***适用于低温弱光检测器芯片的常规工作温度范围4±1K,通过辐射屏蔽和增加加热装置,可扩展其工作温度到1.8-300K范围。
有益效果:1、本发明压缩机位于***最底部,制冷机置于压缩机上层的位置,光路***及电路***更高于制冷机的位置,使得***重心平衡,便于光缆和电缆连接,减小机械振动的影响,增强了***工作的稳定性。2、采用闭循环制冷机获得4K低温环境,避免了使用液氦等制冷剂,通以220V交流电源即可,因此获得低温***的实验条件简单。3、本发明通过压缩机和制冷机获得4K低温环境,连接电路,打开光路即可进行检测,因此操作地点不限,增强了低温弱光探测***的可移动性,克服了低温光探测器移动的难题。
附图说明
图1为本发明的***结构示意图。
图2为本发明的实物结构示意图。
具体实施方式
下面对本发明技术方案进行详细说明,但是本发明的保护范围不局限于所述实施例。
实施例:如图1所示,本发明可移动式低温弱光检测***,包括4K低温***1、***光路2、控制电源3和信号放大部分4,其中,4K低温***1由压缩机、制冷机和真空***组成;控制电源3和信号放大部分4同属于芯片控制电路。检测***工作时,通过低温***1将工作环境温度降到并保持在4K。打开光路***2,光纤传导光信号,通过气密性接口将光信号通入低温***1。芯片控制电路***提供芯片工作所需的电源,芯片正常工作的控制以及输出信号的放大。
如图2所示,本发明检测***包括箱体和设置在所述箱体中的真空***1、芯片控制电路2、***光路3、制冷机4和压缩机5;所述箱体中横向设置有一层隔板;所述制冷机4设置在所述隔板上,制冷机4中设置有样品室;所述压缩机5设置在所述箱体的底部,并与所述制冷机4连接为所述制冷机4中的样品室提供低温环境;制冷机4和压缩机5实现低温环境,通过闭循环制冷机获得约4K的样品台,降低样品的温度,达到其最佳工作状态。所述真空***1设置在箱体的上部空间,并与所述制冷机4连接为所述制冷机4中的样品室提供真空环境,真空***1控制制冷机内样品室真空度,通过真空隔绝外界和冷头热传递,并且减少芯片样品的氧化造成的退化;所述***光路3和芯片控制电路2设置在箱体的顶部空间的两个侧壁上,通过气密接口将光信号和电信号导入所述制冷机4的样品室。芯片控制电路2实现芯片电源的提供、芯片工作方式的控制和输出信号的放大处理等;***光路3通过光纤将检测光信号输入探测器检测区域,实现超低损耗光传输和光信号的检测。
Claims (3)
1.一种可移动式低温弱光检测***,其特征在于:包括箱体和设置在所述箱体中的真空***、芯片控制电路、***光路、制冷机和压缩机;所述箱体中横向设置有一层隔板;所述制冷机设置在所述隔板上,制冷机中设置有样品室;所述压缩机设置在所述箱体的底部,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供低温环境;所述真空***设置在箱体的上部空间,并与所述制冷机连接为所述制冷机中的样品室提供真空环境;所述***光路和芯片控制电路设置在箱体的顶部空间的两个侧壁上,通过气密接口将光信号和电信号导入所述制冷机的样品室。
2.根据权利要求1 所述的低温弱光检测***,其特征在于:所述***光路采用光纤导光。
3.据权利要求1所述的低温弱光检测***进行检测的方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)连接光信号和电路,通以220V交流电源;
(2)启动真空泵抽真空,制冷机样品室获得真空环境;
(3)启动压缩机降温,获得低温环境;
(4)打开探测器控制电源和测量电路电源,进行测量。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2012101062025A CN102636256A (zh) | 2012-04-12 | 2012-04-12 | 可移动式低温弱光检测***及检测方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2012101062025A CN102636256A (zh) | 2012-04-12 | 2012-04-12 | 可移动式低温弱光检测***及检测方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102636256A true CN102636256A (zh) | 2012-08-15 |
Family
ID=46620738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2012101062025A Pending CN102636256A (zh) | 2012-04-12 | 2012-04-12 | 可移动式低温弱光检测***及检测方法 |
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