CN102467924B - 用于全息复制***的多光斑配准的伺服*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于全息复制***的多光斑配准的伺服***。本技术提供用于控制使用多个反向传播光束将显微全息图记录在全息光盘的多个数据光道之上的方法和***。在记录过程期间全息光盘的缺陷或者光盘的移动可使信号光束偏离目标数据光道。在一些实施例中,将跟踪光束导向光盘的参考层。参考光束与参考层的目标凹槽的偏离可指示跟踪误差。检测器可检测跟踪光束的反射,并且响应所检测跟踪误差而生成误差信号。伺服机械装置可致动(例如径向、切向或轴向平移、旋转和/或倾斜)一个或多个光学组件以补偿跟踪误差,通过这些光学组件发射反向传播光束。
Description
技术领域
一般来说,本技术涉及逐比特全息数据存储技术。更具体来说,本技术涉及用于全息光盘中的并行复制的方法和***。
背景技术
随着计算能力进步,计算技术已经进入新应用领域,例如消费者视频、数据存档、文档存储、成像和电影制作等等。这些应用已经提供开发具有增强存储容量和增加数据速率的数据存储技术的持续推动力。
数据存储技术的发展的一个示例可以是光学存储***的越来越高的存储容量。例如,20世纪80年代初所开发的致密光盘具有大约650-700MB的数据容量,或大约74-80分钟的双声道音频节目。相比之下,20世纪90年代初所开发的数字多功能光盘(DVD)格式具有大约4.7GB(单层)或8.5GB(双层)的容量。此外,已经开发更高容量的存储技术,以便满足不断增加的需求,例如对更高分辨率视频格式的需求。例如,诸如Blu-rayDiscTM格式之类的高容量记录格式能够将大约25GB保存在单层光盘中或者将50GB保存在双层光盘中。随着计算技术持续发展,可预期甚至更高容量的存储介质。例如,全息存储***和显微全息存储***是可实现存储工业中的增加容量要求的其它发展中存储技术的示例。
全息存储是采取全息图形式的数据存储,全息图是通过在光敏存储介质中的两个光束相交所创建的三维干涉图案的图像。一直寻求基于页面的全息技术和逐比特全息技术。在基于页面的全息数据存储中,包含数字编码数据(例如多个比特)的信号光束重叠在存储介质的体积中的参考光束上,从而引起调制该体积中的介质的折射率的化学反应。因此,各比特一般作为干涉图案的一部分来存储。在逐比特全息或显微全息数据存储中,将每一个比特作为通常由两个反向传播聚焦记录光束所生成的显微全息图或布拉格反射光栅来写入。然后通过使用读取光束来反射出显微全息图以重构记录光束,来检索数据。
逐比特全息***可实现更小间隔和层聚焦显微全息图的记录,因而提供比现有光学***高许多的存储容量。但是,逐比特全息***的带宽可能受到单通信通道的传输率和全息存储盘的转速限制。例如,Blu-rayTM***中12xBD速率的典型光盘转速可引起大约430兆位/秒的单通道传输。以这个传输率,光盘中的每个数据层的记录时间大约为500秒。用于增加逐比特显微全息***中的传输率的技术会是有利的。
发明内容
本技术的一个实施例提供一种在复制盘中记录数据的方法。该方法包括将多个信号光束从第一组光学组件发射到全息光盘的第一面,将多个参考光束从第二组光学组件发射到全息光盘的第二面,并且确定多个信号光束光斑是否对准在全息光盘的目标层的多个目标数据光道中。该方法还包括确定多个参考光束的各参考光束是否与多个信号光束的对应信号光束大致重叠,以便在全息光盘的记录期间形成多个照射光斑,并且在确定多个照射光斑没有对准在多个目标数据光道中时调整第一组光学组件和第二组光学组件中的一个或多个。
另一个实施例提供一种用于在全息光盘上记录显微全息图的***。该***包括两个光学***。第一光学***配置成将多个信号光束从全息光盘的第一面聚焦在多个目标数据层中。第一光学***还耦合到第一组伺服机械装置,第一组伺服机械装置配置成致动第一光学***中的第一组光学组件,以便将多个信号光束的每个对准在多个目标数据光道的相应光道中。第二光学***配置成将多个参考光束从全息光盘的第二(相对)面传送到目标数据层中。第二光学***包括第二组光学组件,第二组光学组件配置成被致动以将多个参考光束的每个与多个信号光束的相应信号光束对准,以便在一个或多个目标数据层的多个目标数据光道的相应光道中形成干涉图案。
另一个实施例提供一种用于对全息光盘进行预先格式化的***。该***包括第一光学头,其配置成将多个信号光束照射到全息光盘的多个数据光道,并且配置成将跟踪光束照射到全息光盘的参考层的目标凹槽,其中目标凹槽对应于多个数据光道。该***还包括第二光学头,其配置成将多个参考光束照射到多个数据光道,使得多个信号光束和多个参考光束在数据层中进行干涉,以便形成包括多个照射光斑的干涉图案。该***包括跟踪检测器,其配置成检测跟踪光束从全息光盘的反射,并且配置成当跟踪光束的反射指示跟踪光束没有聚焦在目标凹槽上时生成第一组误差信号。该***还包括第二组检测器,其配置成检测多个信号光束的传送或者多个参考光束的传送中的一个或多个,并且配置成当多个参考光束与多个信号光束的相应信号光束没有对准时生成第二组误差信号。此外,该***包括一个或多个伺服机械装置,其耦合到第一光学头和第二光学头,配置成从跟踪检测器和第二组检测器中的一个或多个接收误差信号,并且配置成响应误差信号而致动第一光学头和第二光学头中的一个或多个的光学组件。
附图说明
通过参照附图阅读以下详细描述,会更好地理解本发明的这些及其它特征、方面和优点,附图中,相似符号在附图中通篇表示相似部件,附图包括:
图1示出按照实施例、具有数据光道的光盘;
图2A和图2B是按照实施例的显微全息复制***的框图;
图3A和图3B各示出按照实施例、比较单光束复制技术和多平行光束复制技术的示意图;
图4是按照实施例、在全息光盘的多个光道上进行并行记录的多头***的示意图;
图5是按照实施例、并行传送多个光束以在全息光盘的多个光道进行记录的单头的示意图;
图6是按照实施例、表示全息光盘的多个数据层、多个数据光道和参考层的示意图;
图7是按照实施例、进入全息光盘的多个信号光束、多个反向传播参考光束和跟踪光束的侧视图;
图8示出按照实施例、全息光盘中具有编码标记的光道的平行数据光道的径向图;
图9A和图9B示出按照实施例的全息光盘中的数据光道和照射光斑阵列的径向图;
图10是按照实施例、可经过补偿的若干类型的光盘缺陷的示意侧视图;
图11是按照实施例、表示对全息光盘中形成的照射光斑倾斜的光盘的效果的图表;
图12是按照实施例的全息记录***的示意图;
图13是按照实施例、在全息记录***中检测的强度分布的简图;
图14是按照实施例的全息记录***中的倾斜控制***的示意图;以及
图15是按照实施例、表示可在全息记录***中使用的径向和切向倾斜致动的示意图。
具体实施方式
下面将描述本技术的一个或多个实施例。在提供这些实施例的简要描述的过程中,在本说明书中并非描述实际实现的所有特征。应当理解,在任何这种实际实现的开发中,如同任何工程或设计项目中那样,必须进行许多实现特定的判定以便实现开发人员的特定目标,例如符合***相关和业务相关限制,这些限制可对每个实现而改变。此外,应当理解,这种开发工作可能是复杂且费时的,但是仍然是获益于本公开的本领域的技术人员进行的设计、制作和制造的例行事务。
逐比特全息数据存储***通常涉及通过在记录介质(例如全息光盘)内部发射两个重叠和干涉光束来进行记录。由称作显微全息图、在由聚焦光束照射时充当体积光反射器的显微级定域全息图案的存在或不存在来表示数据位。例如,图1所示的全息光盘10表示在光盘10的一层可如何组织数据位。一般来说,全息光盘10为圆形大致平坦光盘,其中一个或多个数据存储层嵌入透明塑料膜中。数据层可包括大致定域在适当深度的可反射光线的材料的任何数量的改性区域,例如用于逐比特全息数据存储的显微全息图。在一些实施例中,数据层可嵌入对照射到光盘10的光束的照射强度进行响应的全息可记录材料中。例如,在不同实施例中,光盘10的材料可以是阈值响应或线性响应的。数据层可具有在大约0.05μm至5μm之间的厚度,并且可具有大约0.5μm至250μm之间的间隔。
采取显微全息图形式的数据一般可从光盘10的外沿到内限被存储在信息区的连续螺旋光道或多个光道12中,但是可使用同心圆形或螺旋光道或者其它配置。光盘上的信息区还可包括不同功能区,例如导入、用户数据和导出区,图8中将进一步描述。主轴孔14可确定大小为啮合在全息***的主轴周围,使得可使光盘10旋转以供数据记录和/或读取。主轴的旋转可由反馈***来控制,以便在记录和/或读取过程期间保持恒定线速度或恒定角速度。此外,光盘主轴、记录光学器件和/或读取光学器件可由位移台或滑车沿光盘的径向移动,以便允许光学***跨光盘的整个半径进行记录或读取。
在图2A的框图中提供将显微全息图记录到全息光盘10的一般***。全息***16包括光源18,其可分为信号光束20和参考光束22。将进行论述,在一些实施例中,光源18(它可以是单光源或者多个单模偏振光源)可发射多个接***行光束,以便记录在光盘10的平行光道12之上。多个源光束还可分为多个信号光束20和多个参考光束22。信号光束20可按照将要记录在光盘10上的数据来调制(框24)。在一些实施例中,处理器40可控制信号光束20的调制(框24)。经调制的信号光束26可经过光学器件和伺服机械***28,该光学器件和伺服机械***28可包括配置成将所聚焦信号光束30聚焦到光盘10的特定位置的各种光学和伺服机械装置。例如,光学器件和伺服机械***28可将所聚焦信号光束30聚焦到光盘10的特定数据层或数据光道12。
参考光束22也可经过光学器件和伺服机械***32,其中光学器件和伺服机械***32包括设计成将所聚焦参考光束34聚焦到光盘10的特定数据层或数据光道12以使得所聚焦参考光束34与所聚焦信号光束30重叠的各种光学器件和伺服机械装置。显微全息图可采用两个重叠反向传播聚焦激光束30和34所形成的干涉图案的被照射光斑来记录在全息光盘10中。在一些实施例中,所记录显微全息图可使用所聚焦参考光束34从光盘10来检索。所聚焦参考光束34的反射称作数据反射36,其可在用于信号检测的检测器38处被接收。
通过在使光盘10围绕通过主轴孔14所定位的主轴旋转的同时保持重叠反向传播聚焦光束至预期光道,多个显微全息图流可记录在光盘10的光道12之上。一般来说,保持反向传播光束的某种程度的重叠,以便确保显微全息图准确地记录在全息光盘10的适当光道12和/或层中。光学和伺服机械***28、32可用于在显微全息图记录过程期间动态保持与光盘旋转的预期重叠。
这种光学和伺服机械组件28、32可增加最终用户装置用于记录全息光盘10的复杂度。本技术提供用于采用显微全息图来对全息光盘10预先格式化和/或为全息光盘10预先装载以使得光盘10可由最终用户装置使用单光束曝光来修改和/或擦除的方法和***。对全息光盘进行预先装载可表示全息光盘10的制造过程期间显微全息图的预录。在预先装载过程期间所记录的显微全息图可表示代码、地址、跟踪数据和/或其它辅助信息。预录显微全息图随后可使用单光束而不是重叠反向传播光束来修改和/或擦除。因此,最终用户***不需要保持重叠反向传播激光束以将数据记录到预先装载的全息光盘。而是使用单面光束或多个单面光束的最终用户***可用于通过修改和/或擦除预先装载的全息光盘上的显微全息图,来记录数据。
虽然采用反向传播光束来记录显微全息图以便对全息光盘进行预先装载可降低最终用户装置的显微全息图修改的复杂度,但是对光盘进行预先装载的过程还可按照本技术得到改进。如所述,在对全息光盘10预先装载时,光盘10在全息***中旋转,使得导向光盘10的重叠反向传播光束可将显微全息图记录在光盘10的所选光道12和/或层之上。光盘10的转速部分地受到光盘材料的机械强度限制,它限制能够记录显微全息图的速度(称作传输率)。例如,Blu-rayTM的典型光盘转速可引起在12xBD速率的单通道***中大约430兆位/秒的传输率。以这个传输率,光盘中的每个数据层的记录时间大约为500秒。
在一个或多个实施例中,并行显微全息图记录技术可用于增加传输率而减少全息光盘10的记录时间。例如,并行显微全息图记录可涉及将多个光束导向全息光盘,以便照射光盘10的一个以上光道12。光束可表示通过同一组光学元件沿大致相同方向传播的光线集合,并且可包括源自不同光源的光线。多个光束还可从相反方向(即,反向传播光束)定向到光盘10的一个以上光道12,使得多个重叠反向传播光束可创建引起光盘10的平行光道12中的多个所记录显微全息图的多个照射光斑的干涉图案。此外,在一些实施例中,重叠光束可在相对数据层平面具有较小面积的聚焦光斑处进行干涉。干涉图案的聚焦照射光斑可由非照射区域来分隔。通过限制数据层上的被照射面积,所记录显微全息图的深度扩展可限制到预期尺寸和/或限制在预期数据层上(例如在大约0.05μm至5μm之间)。
此外,如图2B所示,复制***的一个或多个实施例涉及直接调制平行通道光源18。例如,平行通道光源18可耦合到适合直接调制平行通道光源18的调制器24。调制器24可由处理器40来控制,并且可调制平行通道光源18,使得由平行通道光源18所发射的经调制的信号光束26包括将要记录在复制盘10上的信息。将针对图8来论述这个实施例的其它细节。
图3A和图3B所示的示意图比较两种不同方式,以便并行记录显微全息图。图3A中,使用单光束方式42的宽场照射包括使用单光束44来照射母盘46中的较宽场(例如跨越多个数据光道12)。母盘46可包含待复制到复制盘10上的数据,并且采用单光束44来跨越多个数据光道12可允许多个数据光道12上的数据同时被复制。来自母盘46的所传送信号光束48(或者所反射信号光束,取决于不同的***设计)可通过图3A中表示为透镜的光学成像***50来传送,光学成像***50可聚焦信号光束48,并且将所聚焦光束52导向复制盘10。还可将单宽场参考光束54导向复制盘10的相对面,使得所聚焦信号光束52和参考光束54可反向传播并且干涉,以便形成全息图图案56。复制盘10可具有多个数据层76,如垂直线L0、L1和L2所表示。
但是,单光束44和54的照射的增加视野一般引起复制盘10中的所记录全息图的增加深度扩展。增加深度扩展特性可表示全息图的增加的大小,它可跨越光盘10的更大厚度(在单光束44和54的方向),并且可跨越一层以上。例如,虽然单光束44和54均可导向层L1,但是通常用于这类基于页面的宽场照射***的线性材料可能对宽照射场比较敏感,并且相邻层L0和L2中的材料还可受到单光束44和54影响。因此,全息图记录中的增加深度扩展可限制或降低全息光盘10的数据容量,因为记录一个全息图案可要求一个以上数据层。
在多个平行光束方式58中呈现本技术的一个实施例。不是如同单光束方式42中那样采用单光束来照射较宽场,多光束方式58而是涉及采用多个反向传播光束来照射全息光盘10。在一个实施例中,将多个信号光束60导向母盘46。各光束可聚焦在一个光道12上,并且来自母盘46的传送62(或者反射,取决于不同***设计)可通过图3B中表示为透镜的光学成像***50来传送,光学成像***50可将传送62成像到复制盘10。
多个参考光束66还可导向光盘10的相对面。在一些实施例中,参考光束66和信号光束60可从公共平行通道光源18(图2A和图2B)分离,而在一些实施例中,多个参考光束66(并且因而多个信号光束60)可从不同的单模偏振光源来传送。在又一些实施例中,多个信号和多个参考光束均可经过调制。平行参考光束66和信号光束64可反向传播并且干涉,以便在光盘10的数据层(例如数据层L1)上形成干涉图案。干涉图案可包括通过非照射区域所分隔的多个照射光斑(例如,各光斑可对应于平行光束通道中的一对反向传播光束的干涉)。干涉光斑的每个可形成数据层L1中的显微全息图68。由于相对于整个数据层平面的面积(而不是单光束方式42中的宽区域)仅照射数据层L1中的数据层平面的小部分,所以照射图案中的光束斑(或显微全息图68)的每个可相对聚焦在单数据层L1中,由此潜在地增加光盘10的数据容量。
在一些实施例中,将多个平行光束用于并行显微全息图记录可利用多个光学头,如图4所示。光学头70各可发射单光束,并且复制***16(例如图2A)中的多个光学头70可设置成各将光束60照射在光盘10的数据光道12之上,使得多个光束60并行照射多个光道12。在一些实施例中,各光学头可具有配置成将光束60聚焦在光道12上的独立光学器件。此外,一组附加光学头可配置成从相反方向照射光盘10,使得从各光学头70所发射的并行光束60反向传播,以便在光盘10的一层的数据光道12中进行干涉。
在图5所示的另一个实施例中,使用多个平行光束进行的显微全息图记录可利用光学头72,光学头72从一组光学器件并行传送多个光束60。在一个实施例中,来自单个光学头72的多个信号光束60可通过适合于传送光束的一束单独光纤来传送,使得各光束在从光学头72被传送出来并且传送到光盘10的多个光道12时是离散的。可通过将反向传播光束66从另一个光学头74传送到光盘10的相对面,或者通过将多个光束分为多个信号光束60和多个参考光束66(如针对图2A和图2B所述),来实现反向传播平行信号光束60。
用于将数据并行预录和/或并行记录在全息光盘10上的技术涉及将全息记录***配置成使得在整个记录过程中配准导向数据层76的多个照射光斑的每个,以便预先格式化光盘10的数据光道12。当数据光道间距在CD光盘中大约为1.6μm、对DVD大约为0.74μm以及对Blu-rayDiscTM大约为0.3μm时,较高准确度可用于控制多个数据光道12上的多个照射光斑的精度。
在一个或多个实施例中,聚焦和对准技术可用于对适当数据光道12和/或数据层76保持照射光斑。在一些实施例中,如图6所示,各光盘10可包括具有与各层76的数据光道12的位置对应的螺旋凹槽的一个或多个参考层78。凹槽还可包括编码特征或调制标记,例如固定频率或调制摆动(modulatedwobble)。这些编码特征或调制标记可提供数据光道的地址信息,或者用作确定光盘转速的标记供控制光盘主轴速度。如图7所示,在记录过程期间,可将跟踪光束86连同多个信号光束84一起导向光盘10。多个信号光束84和多个反向传播参考光束92可聚焦,以便沿数据焦平面88形成照射光斑68。数据焦平面88可以是例如一个或多个数据层76。跟踪光束86可聚焦在与参考层78对应的跟踪焦平面90上。例如,在一些实施例中,跟踪光束86可聚焦在参考层78中与由多个信号光束84和多个反向传播参考光束92所记录的多个光道12的中心数据光道12对应的目标凹槽上。在其它实施例中,跟踪光束86还可包括多个光束,并且可聚焦在参考层78中与由信号和参考光束84、92所记录的多个数据光道12对应的多个凹槽上。
用于对适当数据光道12和/或数据层76保持照射光斑的另一个实施例可涉及包括编码对准光道,如图8所示。在一些实施例中,复制盘10可包括与各数据层76中的其它数据光道12平行的编码对准光道94。编码对准光道94可编码有数据和/或其它调制标记,例如摆动,它识别围绕各编码对准光道94的数据光道12。光盘12上的信息区还可包括一个或多个功能区,例如导入区、用户数据和/或导出区。例如,如图8所示,由虚线轮廓线所标识的导入区93和导出区95可包括用于在初始化过程期间将信号和参考光束与目标数据层76中的多个目标数据光道12对准的特征和信息。例如,这类特征可包括参考层78中的一个或多个凹槽。初始化过程可涉及将多个信号光束84聚焦在参考层78上,并且分析多个信号光束84从参考层78的两个或更多目标凹槽的反射或传送。
在一些实施例中,各编码对准光道94可对应于编码对准光道94的任一侧的数据光道12。其它实施例可包括数据层76中的数据光道12和编码对准光道94的不同配置。例如,在各个实施例中,各对准光道94可对应于任一侧的两个或更多数据光道12或者一侧的一个或多个数据光道12等。在又一个实施例中,对准光道94可以是经调制的数据光道。由于各编码对准光道94可用于识别光盘10的每个层76中的一个或多个数据光道12,所以将多个光束之一与编码对准光道94对准可指示其它光束与对应于编码对准光道94的数据光道12的对准。例如,一个或多个光束可照射到数据层的多个光道之上,包括多个数据光道12和至少一个编码对准光道94。检测器可检测对于编码对准光道94的光束的反射,并且一个光束与编码对准光道94的准确对准可指示多个光束与对应于编码对准光道94的多个数据光道12的准确对准。因此,包括编码对准光道94的光盘10的配置可实现复制过程期间对光束的跟踪和/或对准。
此外,在一些实施例中,如图9A所示,可按照被记录的相邻数据光道12的间距来保持相邻平行信号或参考光束之间的距离以便径向配准多个照射光斑在多个目标数据光道12上。在一些实施例中,保持多个目标数据光道12上的多个照射光斑96的配准可涉及调整多个信号与参考光束之间的距离。在其它实施例中,如图9B所示,多个信号与参考光束之间的距离可以是固定的。如果固定光束具有分开大于数据光道12的间距的距离,则多个信号和/或多个参考光束的阵列可倾斜一定角度,以便保持多个目标数据光道上的照射光斑的配准。更具体来说,照射光斑阵列98(例如由多个照射光斑所形成的线)的取向可相对于光盘的径向100形成角θ。这个角θ可随焦点位置从盘中心移动到边缘或者从盘边缘移动到中心而改变。可通过调整光学器件和伺服***实现多个照射光斑的取向的变化以保持多个照射光斑在多个目标数据光道上的配准,下面将进一步论述。
聚焦和对准技术可包括致动和伺服机械技术。伺服机械技术可降低产生于光盘缺陷的显微全息图记录不准确性。如图10所示,全息光盘10可能具有多个缺陷,它们降低显微全息图记录过程的精度。例如,光盘10可具有不均匀表面,使得光盘10的表面可使光束不准确地照射光盘10。
如果例如光盘10相对预计位置102而倾斜,或者如果光盘10自身有缺陷,则不准确性也可能产生。例如,光盘10可能具有不平行的顶面和底面,或者光盘10可能比完美光盘10更厚,使得当光盘10安装在记录***的主轴时,光盘10或者光盘10的层76的位置偏离预计位置102。此外,光盘10可能翘曲,如光盘10相对于预计位置102的弯曲形状所表示。这种不准确定位或缺陷可引起显微全息图记录误差。
例如,图11提供比较光盘10的数据层76和数据光道12的预计和实际位置的图表104。图表104的x和y轴分别提供光盘10的所照射区域的径向距离和轴向距离(单位均为微米)。当光盘的顶面和底面预计为从y=0μm至y=-1200μm时,所照射区域的径向中心可处于x=0μm。如在y=0μm所表示,光盘10的顶面108相对于光盘10的顶面的预计位置106而倾斜。这个倾斜可能是由于光盘缺陷,或者由于光盘相对于全息记录***10(图1)的倾斜而造成的。如果没有进行调整以补偿该倾斜,则不准确照射光斑可在数据焦平面88处形成。例如,箭头110表示沿数据焦平面88的预计照射光斑。光斑可在离光盘10的顶面106大约-600μm与-602μm之间的范围。由于光盘10的倾斜,实际照射光斑112可在轴向和径向上偏离预计照射光斑110,从而可能引起在错误光道12中或者在错误层中形成照射光斑,这取决于光盘倾斜或缺陷的严重性。形成照射光斑中的这类偏差可引起光盘10上的显微全息图的不准确预先格式化或预录。
为了降低预录不准确性,一个或多个实施例中的全息存储***10可采用使用伺服机械装置的倾斜致动,以便补偿光盘10的移动、不准确定位和/或缺陷。图12是示出用于使用多个反向传播光束84和92在多个数据光道12之上进行记录的用于显微全息图记录的全息复制***114的一个实施例的示意图。这种致动可包括例如轴向、切向和/或径向倾斜各种光学组件,或者将光学组件移动成更靠近或者远离光盘10。在一些实施例中,伺服机械组件可配置成按照总共5个自由度(例如沿轴向、切向和/或径向轴平移以及绕轴向、切向和/或径向轴旋转和/或倾斜)移动光学组件,并且还可配置成按照一个以上自由度同时致动光学组件。在一个或多个实施例中,光学组件的致动可表示诸如透镜、振镜(galvomirror)等的一个或多个光学组件的倾斜、旋转和/或平移。
复制***114可照射多个信号光束84和多个反向传播参考光束92,以便在全息光盘10上干涉和形成照射光斑。在光盘10上形成的照射光盘可对应于写到光盘10的多个光道12的显微全息图的位置。例如,在一个实施例中,光源可将多个源光束传送到调制电路116,调制电路116可配置成直接调制或间接调制多个源光束,以便生成将要记录到光盘10上的多个信号光束84。在其它实施例中,可通过经由母盘的调制标记传送源光线或者从母盘的调制标记反射源光线来生成多个信号光束和/或多个参考光束。在又一些实施例中,空间光调制器用于生成多个信号光束和/或多个参考光束。
在多个信号光束84聚焦到光盘10的数据平面之前,多个信号光束84可经过第一光学***80。第一光学***80可包括诸如透镜或滤光器之类的光学组件,并且还可包括伺服机械组件,伺服机械组件配置成控制第一光学***80中的各种光学组件的移动,使得通过第一光学***80发射到光盘10的多个源光束86可聚焦,以便在光盘10的预期数据平面中的在预期光道12上形成照射光斑(通过采用反向传播光束92进行干涉)。
在一些实施例中,全息记录***110可包括跟踪控制的部件,以便当将显微全息图记录在多个数据光道12之上时补偿倾斜。如前所述,全息光盘10在复制过程期间有时可能摇摆。此外,全息光盘10可具有缺陷或不均匀性。复制盘10中的移动、缺陷或者不均匀性可引起光盘10内预期数据光道12上的照射光斑的不完全对准,如针对图10所述。因此,在光盘10的预录或记录过程期间,涉及各种自由度的光学组件的动态致动可用于补偿照射光斑与预期数据光道12之间的这类不完全对准。例如,将多个信号光束84保持在相应目标数据光道12上可涉及相对于光盘10向后或向前移动第一光学***80中的透镜,或者沿各种方向倾斜透镜,如第一光学***80中的倾斜透镜的虚线轮廓线所示。
可通过将跟踪光束86连同多个信号光束84照射到光盘10,来确定跟踪误差。跟踪光束可从另一个光源120来发射,并且可在照射光盘10之前经过各种光学元件(例如偏振分束器122),这取决于***110的配置。如前面所述,跟踪光束86可在照射光盘10之前与多个信号光束84对准。虽然多个信号光束84可聚焦在对应于其中被写入显微全息图的数据层76的焦平面88上,但是跟踪光束86可聚焦在包括与光盘10的数据光道12的位置对应的多个凹槽的光盘10的参考层78上。例如,在一些实施例中,跟踪光束86可通过相同第一光学***80来传送,并且聚焦在参考层78中与由多个信号光束84和多个反向传播参考光束92所记录的多个光道12的中心光道对应的目标凹槽上。
跟踪光束86从参考层78的反射可在跟踪检测器118处接收。如果光盘摇摆或倾斜,则跟踪光束86的焦点可偏离目标凹槽,这影响在跟踪检测器118处检测的反射跟踪光束86的光强度。当预期数据光道12上的多个信号光束84的照射与目标凹槽上的目标光束86的照射对准时,跟踪光束86与目标凹槽的偏离可对应于多个信号光束84与焦平面88(图7)中的预期光道12的偏离。跟踪检测器118可评估跟踪光束86的反射强度,以便确定跟踪误差。例如,可将跟踪光束86的反射的强度分布与阈值强度或者与先前所检测强度进行比较。
如果跟踪检测器118确定跟踪误差,则跟踪误差信号可传送给第一光学***80。基于跟踪误差信号,第一光学***80可调整光学***80中的一个或多个透镜的倾斜,以便补偿跟踪误差。例如,如果光盘10沿轴向逆时针倾斜,则第一光学***80中的透镜也可沿轴向逆时针倾斜,直到跟踪光束86再次照射参考层78中的目标凹槽。当多个信号光束84经过第一光学***80中与跟踪光束86相同的一组光学组件时,还可校正多个信号光束84与预期数据光道12的跟踪偏离。
全息记录***114还可包括第二光学***82,其包括适合于将多个参考光束92聚焦在光盘10中的各种元件。如前所述,多个参考光束92可从与多个信号光束84的相对的面照射在复制盘10上。多个参考光束92可通过诸如偏振分束器124和振镜126之类的各种光学元件传送到第二光学***82,供照射在光盘10上。光束84和92可具有相似的强度分布,并且可创建多个照射光斑的干涉图案,以便将显微全息图记录在光盘10的数据层76的多个光道12之上。第二光学***82还可包括伺服机械组件,其配置成按照各种自由度来致动第二光学***82的组件(例如透镜、滤光器等)。例如,第二光学***82可调整组件以相对于光盘10向前或向后移动,或者顺时针或逆时针轴向倾斜以调整(针对多个参考光束92与光盘10的预期光道12之间的不完全对准)。
在一些实施例中,第一光学***80和/或第二光学***82可响应反馈环而移动。多个信号光束84的传送可在一个或多个检测器122处接收,检测器122可分析所传送信号光束84的强度,以便确定跟踪误差是否已经发生。检测器118和122可用于生成跟踪、聚焦和/或倾斜误差信号,可传送这些信号以致动光学***80和82中的组件,从而补偿这类误差。在一个实施例中,焦点误差信号(FES)可从常规像散法来得到,而跟踪误差信号可从直接偏离象限检测器122的调制标记的光道12而来的推送跟踪信号来得到。在一些实施例中,第二光学***82可基于第一光学***80来致动。例如,可将传送给第一光学***80的误差和致动信号传送给第二光学***82。在其它实施例中,第一和第二光学***80、82可共享公共伺服机械组件,使得第二光学***82可随第一光学***80而致动。
在一些实施例中,倾斜误差信号能够通过利用如图13所示的检测器118来生成,检测器118检测倾斜所引起的光分布变化。例如,检测区128可对应于从数据层76的区域(例如层76中的一个或多个数据光道12)所检测的光线。不同的所示字母A-D的每个可表示所检测光线的不同强度,并且某个强度图案可指示倾斜。检测器118可分析所检测的强度图案,并且生成倾斜伺服误差。倾斜误差信号可用于调整第一光学***80中的光学组件,以便补偿所检测倾斜。
此外,从一个或多个检测器122所生成的一个或多个焦点误差信号(FES)可用于确定多个信号或参考光束与目标数据光道12的对准误差。例如,如图14所示,检测器122可包括象限检测器的阵列,其检测多个信号光束84的传送和/或多个参考光束92从光盘10的反射。象限检测器134和136的每个可分别测量所传送或所反射光束130和132的强度,并且将所检测光束的光束强度信息传送给焦点误差生成器(FEG)138和140。在一个实施例中,可检测来自被照射光束的阵列的不同光束的反射的光强度,以便确定被照射阵列区域的倾斜。例如,第一光束130(例如多个信号光束84之一的传送或反射)可在象限检测器134处检测并且传送给FEG138,FEG138生成第一焦点误差信号,并且将这个信号传送给比较器142。第二光束反射132可在象限检测器136处检测并且传送给FEG140,FEG140生成第二焦点误差信号,并且将这个信号传送给比较器142。比较器142可比较第一和第二焦点误差信号的每个,以便确定光盘10的倾斜。例如,如果第一焦点误差信号为正且同时第二焦点误差信号为负,则比较器可确定第一光束130具有较高强度,而第二光束132具有较低强度,这可指示光盘10倾斜成使得其中照射第一光束130的光盘位置相对其中照射第二光束132的光盘位置向前倾斜。比较器142可基于这个比较来生成倾斜误差信号144,并且将倾斜误差信号传送给倾斜控制器146。倾斜误差信号144可包括其中包含可由光盘10的倾斜虚线轮廓线所表示的光盘10的所估计倾斜的信息。作为响应,倾斜控制器146可控制耦合到第一光学***80和/或第二光学***82的伺服机械组件,并且使各种光学组件(例如透镜、滤光器等)移动成相对光盘10倾斜,如第一光学***80和第二光学***82中的透镜的倾斜虚线轮廓线所表示。在一些实施例中,同一倾斜控制器146或者一个以上不同倾斜控制器146和147可用于控制第一和第二光学***80、82中的各种光学组件的致动。
在不同实施例中,不同的倾斜控制器可用于控制不同的光学***,包括将多个信号光束84照射到光盘10的第一光学***80。在一些实施例中,一个倾斜控制器可用于控制许多光学***。例如,一个倾斜控制器146可与第一光学***80和第二光学***82中的伺服机械装置进行通信,使得两个***80和82中的光学组件可以对准。在一些实施例中,能够通过组合从多个象限检测器所生成的焦点误差信号来生成倾斜伺服误差信号。例如,象限检测器还可用于检测跟踪光束86的强度。
在一些实施例中,可采用二维倾斜致动***。例如,如图15所示,检测***128可包括设置成检测按照二维阵列所发射的反射光束的多个象限检测器134、136、148和150。可检测二维反射光束,以便确定光盘10在二维的倾斜。例如,除了图14所述的径向倾斜致动之外,一个或多个实施例还可在象限检测器148和150处检测所反射光束。与象限检测器134和136相比(例如横向或纵向),象限检测器148和150可测量从不同方向自光盘10的表面所反射的光束。因此,象限检测器148和150可检测适合于采用切向倾斜致动的信息。象限检测器148和150可分别向FEG152和154传送所反射光束强度信息,它们各生成并且向比较器156传送焦点误差信号。基于所接收焦点误差信号的比较,比较器156可生成并且向切向倾斜控制器158传送倾斜误差信号。虽然图14所述的径向倾斜控制器146可控制配置成控制光学组件沿径向的倾斜的伺服机械组件,但是切向倾斜控制器158可控制配置成控制光学组件沿切线方向的倾斜的伺服机械组件。因此,如果光盘10在被照射区域相对全息读取和复制***16径向或切向倾斜,则***16中的光学组件能够倾斜,以便补偿光盘10的倾斜。
虽然本文仅说明和描述了本发明的某些特征,但本领域的技术人员会想到多种修改和变更。因此要理解,所附权利要求书预计涵盖落入本发明的真实精神之内的所有这类修改和变更。
Claims (30)
1.一种在全息光盘中记录数据的方法,所述方法包括:
将多个信号光束从第一组光学组件发射到所述全息光盘的第一面;
将多个参考光束从第二组光学组件发射到所述全息光盘的第二面;
确定多个信号光束斑是否对准在所述全息光盘的目标层的多个目标数据光道中;
在所述全息光盘的记录期间,确定所述多个参考光束中的各参考光束是否与所述多个信号光束中的对应信号光束大致重叠,以便形成多个照射光斑;
当确定所述多个信号光束的一个或多个没有对准在所述全息光盘的目标层的多个目标数据光道中时,调整所述第一组光学组件中的一个或多个光学组件;以及
当确定所述多个参考光束的一个或多个没有与所述多个信号光束中的对应信号光束大致重叠以形成多个照射光斑时,调整所述第二组光学组件中的一个或多个光学组件;
其中,所述全息光盘具有包括一个或多个参考凹槽的参考层。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个照射光斑对应于所述全息光盘的目标层的目标数据光道中形成的多个显微全息图。
3.如权利要求1所述的方法,包括将跟踪光束从所述第一组光学组件发射到所述参考层的目标凹槽,其中所述目标凹槽对应于所述多个目标数据光道。
4.如权利要求1所述的方法,其中,确定所述多个信号光束斑是否对准在所述多个目标数据光道中包括在初始化过程期间将所述多个信号光束聚焦在所述全息光盘的参考层上,并且分析从所述全息光盘的所述参考层的两个或更多目标凹槽所反射的所述多个信号光束的反射。
5.如权利要求1所述的方法,其中,确定各参考光束是否与对应信号光束大致重叠以形成多个照射光斑包括分析通过所述光盘的所传送信号光束的两个或更多的强度分布。
6.如权利要求1所述的方法,其中,确定各参考光束是否与对应信号光束大致重叠以形成多个照射光斑包括分析通过所述光盘的所传送参考光束的两个或更多的强度分布。
7.如权利要求1所述的方法,包括基于所述第一组光学组件的调整来调整所述第二组光学组件。
8.如权利要求1所述的方法,其中,调整所述第一组光学组件包括沿切向或径向中的一个或多个来倾斜一个或多个透镜。
9.如权利要求1所述的方法,其中,调整所述第一组光学组件和所述第二组光学组件中的一个或多个包括旋转光学元件,以便实现沿轴向、径向和切向中的一个或多个的所述多个信号光束的位置变化。
10.如权利要求1所述的方法,其中,调整所述第一组光学组件和所述第二组光学组件中的一个或多个包括沿轴向、径向和切向中的一个或多个来平移一组透镜。
11.如权利要求1所述的方法,其中,调整所述第一组光学组件包括旋转光学组件,以便实现所述多个信号光束的布置的取向的旋转。
12.一种用于在全息光盘上记录显微全息图的***,所述***包括:
第一光学***,配置成将多个信号光束从所述全息光盘的第一面聚焦在一个或多个目标数据层的多个目标数据光道中,其中所述第一光学***耦合到第一组伺服机械装置,所述第一组伺服机械装置配置成致动所述第一光学***中的第一组光学组件,以便将所述多个信号光束的每个与多个目标数据光道的相应光道对准;以及
第二光学***,配置成将多个参考光束从所述全息光盘的第二面传送到所述目标数据层,其中所述第一面与所述第二面是相对的,并且所述第二光学***包括第二组光学组件,所述第二组光学组件配置成被致动以将所述多个参考光束的每个与所述多个信号光束的相应信号光束对准,以便在所述一个或多个目标数据层的所述多个目标数据光道的相应光道中形成干涉图案;
其中,所述第一光学***配置成将跟踪光束聚焦在所述全息光盘的参考层的目标凹槽上。
13.如权利要求12所述的***,其中,所述第二光学***包括第二组伺服机械装置,并且所述第二组光学组件配置成由所述第二组伺服机械装置来致动。
14.如权利要求12所述的***,其中,所述第一光学***耦合到第一组检测器,所述第一组检测器配置成接收反射,所述反射包括所述多个信号光束从所述全息光盘的参考层的两个或更多凹槽的反射,其中所述第一组检测器配置成提供误差信号,并且将所述误差信号传递给所述第一光学***。
15.如权利要求12所述的***,其中,所述第二光学***耦合到第二组检测器,所述第二组检测器配置成接收所述多个信号光束的一个或多个的传送或者所述多个参考光束的一个或多个的传送,并且所述第二组检测器配置成提供误差信号,并且将所述误差信号传递给所述第二光学***。
16.如权利要求12所述的***,其中,所述第一光学***配置成通过沿径向和切向中的一个或多个倾斜所述第一组透镜,来致动所述第一组光学组件中的第一组透镜。
17.如权利要求12所述的***,其中,所述第一光学***和所述第二光学***中的一个或多个配置成通过沿径向和切向中的一个或多个倾斜光学元件,来致动所述光学元件。
18.如权利要求12所述的***,其中,所述第一光学***配置成通过沿所述多个信号光束的传播轴线旋转光学元件,来致动所述光学元件。
19.如权利要求12所述的***,其中,所述第一光学***耦合到第三检测器,所述第三检测器配置成接收所述跟踪光束从所述参考层的所述目标凹槽的反射。
20.如权利要求19所述的***,其中,所述第三检测器配置成分析所述跟踪光束的反射,并且基于反射分析来将误差信号提供给所述第一光学***。
21.如权利要求20所述的***,其中,所述第一光学***配置成响应所述误差信号而沿轴向、径向或切向中的一个或多个来平移所述第一组光学组件中的所述第一组透镜。
22.一种用于预先格式化全息光盘的***,所述***包括:
第一光学头,其配置成将多个信号光束照射到所述全息光盘的多个数据光道,并且配置成将跟踪光束照射到所述全息光盘的参考层的目标凹槽,其中所述目标凹槽对应于所述多个数据光道;
第二光学头,其配置成将多个参考光束照射到所述多个数据光道,使得所述多个信号光束和所述多个参考光束在数据层中进行干涉,以便形成包括多个照射光斑的干涉图案;
跟踪检测器,配置成检测所述跟踪光束从所述全息光盘的反射,并且配置成当所述跟踪光束的反射指示所述跟踪光束没有聚焦在所述目标凹槽上时生成第一组误差信号;
第二组检测器,配置成检测所述多个信号光束的传送或者所述多个参考光束的传送中的一个或多个,并且配置成当所述多个参考光束与所述多个信号光束的相应信号光束没有对准时生成第二组误差信号;以及
一个或多个伺服机械装置,耦合到所述第一光学头和所述第二光学头,配置成从所述跟踪检测器和所述第二组检测器中的一个或多个接收所述误差信号,并且响应所述误差信号而致动所述第一光学头和所述第二光学头中的一个或多个的光学组件。
23.如权利要求22所述的***,其中,所述一个或多个伺服机械装置配置成在记录过程期间响应所述误差信号而致动所述第一光学头和所述第二光学头中的一个或多个的光学组件,以便补偿所述全息光盘相对于***的移动。
24.如权利要求22所述的***,其中,所述一个或多个伺服机械装置配置成响应所述全息光盘的缺陷而致动所述第一光学头和所述第二光学头中的一个或多个的光学组件。
25.如权利要求22所述的***,其中,所述光学组件的致动包括所述一个或多个光学组件相对所述***沿轴向、切向或径向中的一个或多个的倾斜、旋转或平移中的一个或多个。
26.如权利要求22所述的***,其中,所述第二组检测器配置成从所述一组焦点误差信号来生成一个或两个差别信号,并且配置成使用所述差别信号生成沿径向或切向的倾斜伺服误差信号。
27.如权利要求22所述的***,其中,所述跟踪检测器和所述第二组检测器中的该一个或多个配置成生成指示所述全息光盘的转速的信号。
28.如权利要求22所述的***,包括配置成以预期速度来旋转所述全息光盘的伺服机械***。
29.如权利要求28所述的***,其中,所述伺服机械***配置成使所述全息光盘相对于所述第一光学头、所述第二光学头、所述跟踪检测器和所述第二检测器中的一个或多个来移动。
30.如权利要求28所述的***,其中,所述伺服机械***配置成使所述第一光学头、所述第二光学头、所述跟踪检测器和所述第二检测器中的一个或多个相对于所述全息光盘来移动。
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