CN102208204A - 一种硬盘检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种硬盘检测方法及装置,其中硬盘检测方法包括以下步骤:读取连接在同一检测装置上的多个硬盘接口的ID;获取硬盘的供电信息;向多个硬盘写入数据;根据硬盘的写数据过程读取不同硬盘读写时的指标参数的当前值;将读取的所述供电信息和所述指标参数的当前值与相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试不通过。本发明通过对连接在同一检测装置上的硬盘进行批量检测,可实现硬盘检测的自动化,大大提高了硬盘检测的效率。

Description

一种硬盘检测方法及装置
技术领域
本发明涉及通信或者电子领域的测试技术,尤其涉及一种硬盘检测方法及装置。
背景技术
随着科技时代的来临,工业的发展,各个行业需要储存的数据量都在增加,安全性都在提高,储存的时间更长,由传统的磁带作为存储设备显然已经不能再满足这一要求。要求能储存的数据量大、安生性高、储存时间长、存取方便,作为现代的存储设备,硬盘无疑是最佳的选择,硬盘是现在计算机上最常用的存储设备之一。
一块硬盘的好坏关系到数据的完整性、可用性。所以必要对硬盘的质量进行检测,传统的检测方法是对单个硬盘、抽批次检测,不但效率低,检测周期长,而且发现问题不能较准确的得出结论,不利于分析和解决问题,这种检测方法不能满足大批量检测。
目前常用的单盘检测方法不但效率低下,检测周期长,而且发现问题不能迅速做出结论,影响了问题分析和解决周期,直接影响到研发进程,及后续的生产和正常的供货。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于针对现有技术中不能批量检测硬盘的缺陷,提供一种可批量检测硬盘的硬盘检测方法。
本发明要解决的另一技术问题在于针对现有技术中不能批量检测硬盘的缺陷,提供一种可批量检测硬盘的硬盘检测装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
提供一种硬盘检测方法,包括以下步骤:
读取连接在同一检测装置上的多个硬盘接口的ID;
获取硬盘的供电信息;
向多个硬盘写入数据;
根据硬盘的写数据过程读取不同硬盘读写时的指标参数的当前值;
将读取的所述供电信息和所述指标参数的当前值与相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试不通过;
本发明所述的硬盘检测方法中,所述多个硬盘通过硬盘多接口卡与所述检测装置连接。
本发明所述的硬盘检测方法中,所述指标参数包括读写状态下硬盘的最大和最小读写速度。
本发明所述的硬盘检测方法中,该方法还包括步骤:检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障,并记录故障信息。
本发明所述的硬盘检测方法中,该方法还包括步骤:读取硬盘的基本参数并记录,所述基本参数包括读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数。
本发明所述的硬盘检测方法中,所述硬盘检测方法在不同的环境下进行多次测试。
本发明解决其技术问题所采用的另一技术方案是:
提供一种硬盘检测装置,该装置通过硬盘多接口卡和多个硬盘连接;该装置具体包括:
硬盘接口ID读取单元,用于读取多个硬盘接口的ID,以定位硬盘;
供电信息获取单元,用于获取硬盘的供电信息;
写数据单元,用于向多个硬盘写入数据;
读参数单元,用于根据硬盘的写数据过程读取硬盘的指标参数的当前值;
标准值存储单元,用于存储硬盘的各项标准值;
比较单元,用于将所述供电信息获取单元获取的硬盘供电信息和所述读参数单元读取的所述指标参数的当前值与所述标准值存储单元中的相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试不通过;
记录单元,用于根据所述比较单元的比较结果分别记录不同硬盘的测试结果。
本发明所述的硬盘检测装置中,所述指标参数包括读写状态下硬盘的最大和最小读写速度。
本发明所述的硬盘检测装置中,该装置还包括:
故障检测单元,用于检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障;
所述记录单元,还用于记录所述故障检测单元检测出的故障信息。
本发明所述的硬盘检测装置中,该装置还包括:
基本参数读取单元,用于读取硬盘的读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数;
所述记录单元,还用于根据所述基本参数读取单元记录所述状态参数。
本发明产生的有益效果是:本发明通过对连接在同一检测装置上的硬盘进行批量检测,可实现硬盘检测的自动化,大大提高了硬盘检测的效率。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明实施例硬盘检测装置与硬盘的连接示意图;
图2是本发明实施例硬盘检测装置的结构示意图一;
图3是本发明实施例硬盘检测装置的结构示意图二;
图4是本发明实施例硬盘检测方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本发明较佳实施例中,硬盘检测装置100通过硬盘多接口卡200和多个硬盘连接,如硬盘300a、300b……300n。硬盘检测装置100可以同时对多个硬盘进行检测,大大提高了硬盘的检测效率。
如图2所示,本发明较佳实施例中,硬盘检测装置100可以采用计算机实现,硬盘检测装置100主要包括硬盘接口ID读取单元101、供电信息获取单元109、写数据单元102、读参数单元103、标准值存储单元106、比较单元104、逻辑运算单元110和记录单元105,其中,
硬盘接口ID读取单元101,用于读取多个硬盘接口的ID,每个硬盘接口都有唯一的ID,根据ID能准确定位硬盘,并能对单个硬盘进行测试或者多个硬盘同时进行测试,测试记录对应于每个ID号;
供电信息获取单元109,用于获取硬盘的供电信息;硬盘的供电取自主机的开关电源,四个接线柱的电压分别为:红色为正5V,黑色为地线,黄色为正12V,通过线性电源变换电路,变换为硬盘正常工作的各种电压。硬盘的供电电路如果出现问题,会直接导致硬盘不能工作。故障现象往往表现为不通电、硬盘检测不到、盘片不转、磁头不寻道等,所以在检测磁盘之前,很有必要先进行硬盘的供电检测,否则会做很多无用功,浪费检测时间。故供电信息获取单元所获取的供电信息对测试很重要,如果确定获取不到供电信息,可以暂停其他检测,先检查供电电路中的插座的接线柱、滤波电容、二极管、三极管、场效应管、电感、保险电阻等,因为这些部位容易出现问题。
写数据单元102,用于向多个硬盘写入数据,可同时对多个硬盘进行写操作;读参数单元103,用于根据硬盘的写数据过程读取硬盘的指标参数的当前值,指标参数可包括读写状态下硬盘的最大和最小读写速度;
标准值存储单元106,用于存储硬盘的各项标准值,各项标准值一般是在设计硬盘时所设定的值,其存储在硬盘存储区中的CMOS RAM,其中记录了磁盘的转动轴、磁头、柱面、扇区、容量大小、RPM值等参数,即硬盘参数(geometry),操作***在引导启动或驱动器初始化时可以从那里得到硬盘参数。
比较单元104,用于将供电信息获取单元109获取的硬盘供电信息和读参数单元103读取的指标参数的当前值与标准值存储单元106中的相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试未通过;
记录单元105,用于根据比较单元104的运算结果分别记录不同硬盘的测试结果,如果运算结果为1表示测试通过,否则为不通过,该记录结果分别对应连接在不同接口上的硬盘,通过接口的ID来定位相应硬盘,根据记录结果可以很快判定哪些硬盘测试通过,哪些测试未通过。
进一步地,本发明较佳实施例硬盘检测装置,如图3所示,硬盘检测装置100还包括故障检测单元107,用于检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障,并通过记录单元105记录故障信息。
进一步地,该硬盘检测装置100还包括基本参数读取单元108,用于读取硬盘的读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数;记录单元105,还用于根据基本参数读取单元记录状态参数。根据记录的基本参数,可以与上述硬盘参数(geometry)再进行比较,以进一步判断待测试的硬盘是否符合标准。
进一步地,在硬盘测试装置100可在不同的环境下进行多次测试,如在允许的温度下分别进行低温测试和高温测试,并进行长时间的压力测试,对硬盘进行读写操作,以检验硬盘是否能正常工作,各项性能是否达标,并记录下硬盘读写信息和相应的故障信息。
如图4所示,本发明较佳实施例硬盘检测方法,包括以下步骤:
S1、硬盘检测装置读取连接在该同一检测装置上的多个硬盘接口的ID;
S2、获取硬盘的供电信息;如果此时获取不到硬盘的供电信息,则无需进行其他的操作,可直接检测硬盘的供电电路;
S3、向多个硬盘写入数据,根据获取的硬盘供电信息判断硬盘供电是否正常,在硬盘的供电正常时,再进行硬盘写操作;
S4、根据硬盘的写数据过程读取不同硬盘读写时的指标参数的当前值;
S5、将读取的供电信息和指标参数的当前值与相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,否则记为0;这里的标准值在上文已有相应描述,在此不再赘述;
S6、将比较结果与硬盘中的相对应的参数值做逻辑与运算,如果运算结果为1表示测试通过,否则为不通过。
本发明较佳实施例硬盘检测方法中,多个硬盘通过硬盘多接口卡与检测装置连接。在硬盘多接口卡不接通电源的情况下,可先进行硬盘接口检测,手动插拔10次(包括供电接口、数据接口),查看接口是否有异常。硬盘多接口卡插上硬盘,然后接通电源,对硬盘接口及硬盘电路板进行电气特性检测。
进一步地,本发明较佳实施例硬盘检测方法还包括检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障,并记录故障信息的步骤。
进一步地,本发明较佳实施例硬盘检测方法还包括读取硬盘的基本参数并记录的步骤,基本参数包括读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数,通过读写磁头、传动手臂、传动轴可以确定硬盘容量的大小,硬盘容量=柱面数×扇区数×磁头数×512B,由此可以判定容量大小是否正确,硬盘的读写速率是否达到要求,读写磁头、传动手臂、传动轴是否正常;该步骤还可以读取伺服***的各个参数,以判定是否符合要求。
进一步地,本发明较佳实施例硬盘检测方法硬盘检测方法可在不同环境下进行多次测试,如在允许的温度下分别进行低温测试和高温测试,并分别进行长时间的压力测试。
在本发明较佳实施例硬盘检测方法中,在进行上述步骤之前,可对硬盘进行外观检测:检测硬盘接口有无变形、表面是否有划痕、电路板器件是否有松动,硬盘整体外观是否达到要求。在外观检测合格情况下再进行其他的检测步骤。
进一步地,为了使检测结果更加可靠同时又节省时间,可以对检测过的硬盘进行抽样,将抽样后的硬盘按照上述硬盘检测方法重复检测。检测合格后的硬盘粗要贴上合格的标签,粘贴标签前,首先要检查标签是否有污点、有划痕、标签内容是否正确;在贴标签时要沿着硬盘的机械边缘缓慢贴合,使标签能贴到正确位置并以防止会产生气泡。最后进行封装,即将经过以上步骤检验合格的硬盘进行外包装、入库。
本发明通过对连接在同一检测装置上的硬盘进行批量检测,可实现硬盘检测的自动化,大大提高了硬盘检测的效率。
应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种硬盘检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、读取连接在同一检测装置上的多个硬盘接口的ID;
S2、获取硬盘的供电信息; 
S3、向多个硬盘写入数据;
S4、根据硬盘的写数据过程读取不同硬盘读写时的指标参数的当前值;
S5、将读取的所述供电信息和所述指标参数的当前值与相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试不通过。
2.根据权利要求1所述的硬盘检测方法,其特征在于,所述多个硬盘通过硬盘多接口卡与所述检测装置连接。
3.根据权利要求2所述的硬盘检测方法,其特征在于,所述指标参数包括读写状态下硬盘的最大和最小读写速度。
4.根据权利要求3所述的硬盘检测方法,其特征在于,该方法还包括步骤:检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障,并记录故障信息。
5.根据权利要求3所述的硬盘检测方法,其特征在于,该方法还包括步骤:读取硬盘的基本参数并记录,所述基本参数包括读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的硬盘检测方法,其特征在于,所述硬盘检测方法在不同的环境下进行多次测试。
7.一种硬盘检测装置,其特征在于,该装置通过硬盘多接口卡和多个硬盘连接;该装置具体包括:
硬盘接口ID读取单元(101),用于读取多个硬盘接口的ID,以定位硬盘;
供电信息获取单元(109),用于获取硬盘的供电信息;
写数据单元(102),用于向多个硬盘写入数据;
读参数单元(103),用于根据硬盘的写数据过程读取硬盘的指标参数的当前值;
标准值存储单元(106),用于存储硬盘的各项标准值;
比较单元(104),用于将所述供电信息获取单元获取的硬盘供电信息和所述读参数单元(103)读取的所述指标参数的当前值与所述标准值存储单元(106)中的相应标准值进行比较;在比较结果相同时,将比较结果记为1,表示测试通过;否则记为0,表示测试未通过;
记录单元(105),用于根据所述比较单元(104)的比较结果分别记录不同硬盘的测试结果。
8.根据权利要求7所述的硬盘检测装置,其特征在于,所述指标参数包括读写状态下硬盘的最大和最小读写速度。
9.根据权利要求8所述的硬盘检测装置,其特征在于,该装置还包括:
故障检测单元(107),用于检测硬盘的盘面、磁道和扇区是否存在故障;
所述记录单元(105),还用于记录所述故障检测单元(107)检测出的故障信息。
10.根据权利要求8所述的硬盘检测装置,其特征在于,该装置还包括:
基本参数读取单元(108),用于读取硬盘的读写磁头、传动手臂和传动轴的状态参数;
所述记录单元(105),还用于根据所述基本参数读取单元(108)记录所述状态参数。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102568522A (zh) * 2011-12-31 2012-07-11 曙光信息产业股份有限公司 硬盘性能的测试方法和装置
CN103440186A (zh) * 2013-07-22 2013-12-11 记忆科技(深圳)有限公司 测试缓存加速的方法及其***
CN103578568A (zh) * 2012-07-24 2014-02-12 苏州捷泰科信息技术有限公司 固态硬盘的性能测试方法及装置
CN103955417A (zh) * 2014-04-02 2014-07-30 江门市未来之星网络科技有限公司 一种电脑硬盘数据检测设备及方法
CN104536857A (zh) * 2014-12-19 2015-04-22 上海理工大学 硬盘参数获取方法
CN104660968A (zh) * 2013-11-22 2015-05-27 南京视威电子科技股份有限公司 一种使用多存储卡存储报警信息的方法
CN105068903A (zh) * 2015-08-13 2015-11-18 广州慧存电子科技有限公司 一种硬盘检测修复***和装置
CN106708681A (zh) * 2016-12-22 2017-05-24 郑州云海信息技术有限公司 一种服务器硬盘性能检测方法及装置
CN106991024A (zh) * 2017-05-25 2017-07-28 郑州云海信息技术有限公司 一种硬盘背板的检测方法和***
CN107507649A (zh) * 2017-09-26 2017-12-22 苏州恒成芯兴电子技术有限公司 一种适用于固态硬盘的全自动测试***及其方法
CN110515786A (zh) * 2019-08-28 2019-11-29 深圳市安信达存储技术有限公司 一种多硬盘批量对比测试***及方法
CN111766933A (zh) * 2019-04-02 2020-10-13 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 供电保护电路及具有供电保护电路的电子装置
CN113253825A (zh) * 2020-02-11 2021-08-13 盛令章 一种集中式硬盘供电异常保护***
CN113590406A (zh) * 2021-08-16 2021-11-02 湖南博匠信息科技有限公司 一种基于电变量进行固态硬盘故障检测的方法及***

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1716428A (zh) * 2004-07-01 2006-01-04 华为技术有限公司 硬盘检测装置及方法
CN101436422A (zh) * 2007-11-15 2009-05-20 英业达股份有限公司 硬盘预检方法及***

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1716428A (zh) * 2004-07-01 2006-01-04 华为技术有限公司 硬盘检测装置及方法
CN101436422A (zh) * 2007-11-15 2009-05-20 英业达股份有限公司 硬盘预检方法及***

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102568522A (zh) * 2011-12-31 2012-07-11 曙光信息产业股份有限公司 硬盘性能的测试方法和装置
CN102568522B (zh) * 2011-12-31 2015-08-19 曙光信息产业股份有限公司 硬盘性能的测试方法和装置
CN103578568A (zh) * 2012-07-24 2014-02-12 苏州捷泰科信息技术有限公司 固态硬盘的性能测试方法及装置
CN103578568B (zh) * 2012-07-24 2016-08-17 苏州傲科创信息技术有限公司 固态硬盘的性能测试方法及装置
CN103440186B (zh) * 2013-07-22 2017-02-22 记忆科技(深圳)有限公司 测试缓存加速的方法及其***
CN103440186A (zh) * 2013-07-22 2013-12-11 记忆科技(深圳)有限公司 测试缓存加速的方法及其***
CN104660968A (zh) * 2013-11-22 2015-05-27 南京视威电子科技股份有限公司 一种使用多存储卡存储报警信息的方法
CN104660968B (zh) * 2013-11-22 2018-04-27 南京视威电子科技股份有限公司 一种使用多存储卡存储报警信息的方法
CN103955417A (zh) * 2014-04-02 2014-07-30 江门市未来之星网络科技有限公司 一种电脑硬盘数据检测设备及方法
CN104536857A (zh) * 2014-12-19 2015-04-22 上海理工大学 硬盘参数获取方法
CN105068903A (zh) * 2015-08-13 2015-11-18 广州慧存电子科技有限公司 一种硬盘检测修复***和装置
CN106708681A (zh) * 2016-12-22 2017-05-24 郑州云海信息技术有限公司 一种服务器硬盘性能检测方法及装置
CN106991024A (zh) * 2017-05-25 2017-07-28 郑州云海信息技术有限公司 一种硬盘背板的检测方法和***
CN107507649A (zh) * 2017-09-26 2017-12-22 苏州恒成芯兴电子技术有限公司 一种适用于固态硬盘的全自动测试***及其方法
CN111766933A (zh) * 2019-04-02 2020-10-13 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 供电保护电路及具有供电保护电路的电子装置
CN111766933B (zh) * 2019-04-02 2023-08-15 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 供电保护电路及具有供电保护电路的电子装置
CN110515786A (zh) * 2019-08-28 2019-11-29 深圳市安信达存储技术有限公司 一种多硬盘批量对比测试***及方法
CN113253825A (zh) * 2020-02-11 2021-08-13 盛令章 一种集中式硬盘供电异常保护***
CN113590406A (zh) * 2021-08-16 2021-11-02 湖南博匠信息科技有限公司 一种基于电变量进行固态硬盘故障检测的方法及***

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