CN101436422A - 硬盘预检方法及*** - Google Patents

Abstract

一种硬盘预检方法及***，其应用于电性连接多个硬盘的测试装置，该测试装置内安装有测试软件，本发明则通过该测试软件选取待测硬盘进行预检程序，该预检程序包括检查硬盘本身的自检程序以及检查硬盘中的***的主引导记录检测，以在执行性能测试作业前，对各该硬盘预先进行检测，从而提高工作效率。

Description

硬盘预检方法及***

技术领域

本发明涉及一种硬盘预检方法及***，更详而言之，涉及一种应用于电性连接多个硬盘的测试装置中的硬盘检测方法及***。

背景技术

随着电子产业的蓬勃发展，使得电子产品得以普遍应用于普通大众之中，其中以个人电脑、笔记型电脑或服务器为代表的电子产品，因其强大的数据处理功能，从而得到越来越广泛的应用。硬盘(HardDisk)是电脑中一个非常重要的配件，其主要用来储存电子产品的作业***程序数据，因此硬盘性能的优劣将直接决定着配置有该硬盘的电子产品的品质。因此，生产厂商依据不同规格及产品诉求制造各类的硬盘，都需要对其进行相关性能测试作业，以确保产品品质。

一般，在现有的硬盘测试中，通常要求一次同时对数量比较多的硬盘(例如几十个SAS式硬盘或SATA式硬盘)进行性能测试。所述待测硬盘均连接于装载有测试软件的测试装置上，该测试装置例如为服务器。该性能测试作业具体包括例如压力测试、传输速率检测、温度检测、输入输出(I/O)测试或磁片表面扫描等测试作业，以验证所述待测硬盘的性能，且将其中未通过测试的硬盘分拣出，以在后续检查其错误并进行维修。

但是，在性能测试作业的过程中，除了因为硬盘本身品质的问题(例如硬盘出现磁轨损坏)导致未能通过测试软件的测试外，更可能因为硬盘中作业***的原因导致测试未通过，甚至因无法辨识硬盘而无法进行测试；例如，由于有些硬盘的主引导记录(Master Boot Record，MBR)中所记录的作业***(例如为微软视窗Windows***)与测试服务器所运行的作业***(例如为Linux***)并不相同，导致测试软件无法进行测试。因此，在现有技术条件下，后续维修工程师须同时排除上述仅因具有不允符的主引导记录(MBR)的不相容错误，而无疑加重了工作负担。而且，对于测试工作而言，尤其是针对某些需要相当长时间测试的项目，例如：24/48小时压力测试(24/48hours stress)，若反复地进行测试将会严重地影响测试产出的进度。

因此，如何克服上述背景技术的缺失，进而在硬盘执行测试前再提供一种可减轻后续执行测试作业的作业负担，简化流程及节省作业时间，并提高工作的效率，实为目前所亟待解决的课题。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺失，本发明的一个目的在于提供一种硬盘预检方法及***，对欲执行测试的硬盘预先执行检测，由此提高工作效率。

本发明的另一目的在于提供一种可简化流程及节省作业时间的硬盘预检方法及***。

为达上述目的及其他目的，本发明即提供一种硬盘预检方法，其应用于电性连接多个硬盘的测试装置，其中，该测试装置内安装有测试软件，用以在执行性能测试作业前，对硬盘预先进行检测。

该硬盘预检方法包括：启动测试软件，以供选取所欲预检的多个硬盘；对所选取的所述硬盘进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常；以及侦测通过自检的所述硬盘是否具有主引导记录(Master BootRecord；MBR)，以删除该主引导记录，从而供后续执行性能测试作业。

前述的硬盘预检方法中，该自检程序可包括硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、及坏轨侦测的至少其中一个。同时，该方法还可包括在对所选取的硬盘进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常的步骤后，更换未通过自检的硬盘。此外，该方法也可选择包括将通过自检程序且没有该主引导记录的硬盘直接执行性能测试作业的步骤。本发明还揭露一种硬盘预检***，其可包括：操作选择接口，其电性连接该测试装置，用以供选取所欲预检的多个硬盘；自检模块，其电性连接该操作选择接口及该测试装置，以通过该测试软件来检测所选取的硬盘是否正常；以及删除模块，其电性连接该操作选择接口及该测试装置，用于通过该测试软件来对该自检模块列为正常的硬盘进行检测，以删除所述硬盘的主引导记录(Master BootRecord；MBR)后，从而供后续执行性能测试作业。

对应上述的硬盘预检***，该操作选择接口包括：操作接口，其与该测试装置、该自检模块以及该删除模块电性连接；以及显示单元，其与该操作接口电性连接，以供显示预检过程。其中，该操作接口为键盘(Keyboard)、触碰式面板(Touch panel)、及鼠标的其中一个，该显示单元则可选自包括LCD显示器、等离子显示器、及CRT显示器的其中一个。

对应上述的硬盘预检***，该显示单元还可包括：第一显示视窗，用以显示所述硬盘在预先进行检测前的选取清单；以及第二显示视窗，用以显示在该自检模块列为正常的硬盘的选取清单。此外，该自检模块所检测的项目可包括：硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、及坏轨侦测的至少其中一个。而且，可利用格式化处理来删除该主引导记录。

本发明的硬盘预检方法及其***，主要在多硬盘执行常规的性能测试之前，对所述待测硬盘提供预检程序，包括对待测硬盘进行选择性自检程序以及删除主引导记录(Master Boot Record；MBR)，以便在后续进行硬盘性能测试作业，可避免如现有技术中没有提供硬盘预检功能，而在执行测试前不能将一些不符合测试要求的硬盘予以分拣剔除，导致在测试过程中没办法识别硬盘或者报错而影响测试效果及工作效率，由此提高工作效率。同时，由于应用本发明可避免现有技术在测试时才发现硬盘出错或无法辨识的问题，故无需在测试作业中检验有问题的硬盘，相对可简化流程及节省作业时间。

附图说明

图1显示本发明的硬盘预检***一个实施例的基本架构示意图。

图2显示本发明的硬盘预检***另一实施例的基本架构示意图。

图3显示本发明的硬盘预检方法一个实施例的流程示意图。

【主要元件符号说明】

1至N         硬盘

10           测试装置

20           操作选择接口

21            接口

22            显示单元

221           第一显示视窗

222           第二显示视窗

30            自检模块

40            删除模块

S100～S107    步骤

具体实施方式

以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域的技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。

请参阅图1，其为本发明的硬盘预检***一个实施例的基本架构示意图，如图1所示，本发明的硬盘预检***应用于电性连接多个硬盘1至N的测试装置10，其中，该测试装置10内安装有测试软件(未图示)，用以在执行性能测试作业前，对硬盘预先进行检测，该硬盘预检***则包括：电性连接该测试装置10的操作选择接口20、电性连接该操作选择接口20的自检模块30以及删除模块40。

应注意的是，在本实施例中，该测试装置10以例如服务器为例进行说明，但并不以此为限，也可为个人电脑或工作站等其他测试装置，该测试装置10可一次同时连接有数十甚至几十个待测硬盘。该测试软件可执行的测试内容包括例如压力测试、传输速率检测、温度检测、输入输出(I/O)测试等，但并不以此为限，因该部分技术为本领域的公知技术且并非本案的诉求，故不在此另行赘述。

以下将对照图1对本发明的硬盘预检***揭示的各部分进行详细的说明。

该操作选择接口20与该测试装置10电性连接，用以供使用者选取所欲预检的多个硬盘1～N。该操作选择接口20可包括操作接口21以及显示单元22，其中该操作接口21与该测试装置10、该自检模块30、以及该删除模块40电性连接，该显示单元22则与该操作接口21电性连接，用以显示预检过程。当然，该显示单元22也可显示所述硬盘1至N于自检程序前后的选取清单，供使用者通过该操作接口21选取。例如，该操作接口21可为例如键盘(Keyboard)、触碰式面板(Touchpanel)、鼠标等可供输入数据的装置，而该显示单元22则可选自LCD显示器、等离子显示器或CRT显示器的其中一个，从而利于使用者通过该操作接口21选取该显示单元22所产生的选取清单。

该自检模块30与该操作选择接口20及该测试装置10电性连接，以通过该测试软件来检测所选取的硬盘是否正常。具体而言，该自检模块30除了可以硬件实现，也可为用以执行局部预定功能项目的程序指令集的形式内嵌于该测试软件内，用以判断所选取的硬盘在该自检程序所检测的项目中是否正常，若是，则在该操作选择接口20中列为正常(例如可加正常标记)，若否，则在该操作选择接口20中列为异常(例如可加异常标记)。在本实施例中，该自检程序可包括例如硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、及坏轨侦测的其中一个。由于前述自检程序的项目及其检测技术为本领域所现有的，故不在此另行赘述。

该删除模块40与该操作选择接口20及该测试装置10电性连接，用以自该操作选择接口20中选取列为正常标记的硬盘，并在删除所述硬盘的主引导记录(Master Boot Record；MBR)后，供后续执行性能测试作业。具体而言，该删除模块40除了可以硬件实现，也可为用以执行删除功能的程序指令集的形式内嵌于测试软件内，由此避免如现有技术中因没有提供硬盘预检功能而在执行测试前不能将一些不符合测试要求的硬盘予以分拣剔除并导致在测试过程中硬盘没办法识别或者报错而影响测试效果及工作效率的弊端，简化流程及节省作业时间，并提高工作效率。

请参阅图2，其为本发明的硬盘预检***另一实施例的基本架构示意图，硬盘预检***包括：操作选择接口20、电性连接该操作选择接口20的自检模块30以及删除模块40。该操作选择接口20也包括操作接口21以及显示单元22。

与前述实施例不同的是，该显示单元22内还包括第一显示视窗221以及第二显示视窗222，其中该第一显示视窗221用以显示所述硬盘1至N于自检程序前的选取清单，该第二显示视窗222则用以显示在自检程序后列为正常标记的硬盘的选取清单。具体而言，当进行自检程序前，该显示单元22可在该第一显示视窗221中分别显示电性连接该测试装置10的硬盘1至N的选取清单，从而利于使用者通过接口21在该第一显示视窗中221选取欲进行该自检程序的硬盘。更佳地，在该第一显示视窗221中，可对各个硬盘予以编号，从而利于使用者依据该对应各硬盘的编号进行选择。当第一显示视窗221所选取的硬盘分别通过该测试软件判断是否正常时，若是列为正常的，可在该第二显示视窗221中显示为正常标记，若否，则在该第二显示视窗222中显示为异常标记。之后，可将列为正常标记的硬盘整合于一个选取清单内，从而供使用者在该第二显示视窗222的选取清单内选取列为正常标记的硬盘，并删除所述硬盘的主引导记录，以供后续执行性能测试作业。

如图3所示，其为本发明的硬盘预检方法一个实施例的流程示意图，如图所示该硬盘预检方法搭载至安装在测试装置中的测试软件，用以在硬盘执行测试作业之前预先进行检测，本发明的硬盘预检方法包括以下详细实施步骤。

首先，启动测试软件，以供选取所欲预检的多个硬盘。如在步骤S100，启动测试软件并进入操作选择接口20，以供使用者选取所欲预检的待测硬盘。在本实施例中，在该操作选择接口20上可显示有与该测试装置10相连接的各个硬盘1至N，并可对各个硬盘1至N予以编号，测试工程者即可依据该对应各硬盘1至N的编号进行选择。接着，进至步骤S101。

之后，对所选取的硬盘进行预检程序，包括对待测硬盘进行选择性自检程序以及删除主引导记录程序。

例如，可先进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常。

在步骤S101，分别通过该测试软件对所选取的硬盘进行自检程序。其中，该自检程序用于检测硬盘本身是否有损坏，所检测的项目例如可包括硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、坏轨侦测、及/或其他需检测项目。同时，所检测的项目可视需要为一项或更多项。接着，进至步骤S102。

在步骤S102，判断所述硬盘在该自检程序所检测的项目中是否正常，若是，则进至步骤S104；反之，若否，则进至步骤S103。

在步骤S103，报告所述未通过自检程序的硬盘，以供使用者(例如测试工程师)获知其错误原因，并可进行步骤S1031，以供进行修复或予以更换等后续处理，且在处理完毕后，返至步骤S101。当然，在本实施例中，对所选取的硬盘进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常的步骤后，进行修复或更换未通过自检的硬盘的步骤，但在其他实施例中也可省略此步骤。

最后，侦测通过自检程序的所述硬盘是否具有主引导记录(MasterBoot Record；MBR)，以删除该主引导记录，从而供后续执行性能测试作业。

在步骤S104，通过选择该操作接口21列为正常的硬盘，侦测硬盘是否具有主引导记录。在本实施例中，对通过自检程序的硬盘进行主引导记录检测程序，例如侦测硬盘是否未清除主引导记录，以避免无法辨识硬盘中的***。可依据该测试装置10所运行的作业***而相应选择储存有与该测试装置10的作业***相异的作业***的硬盘。举例而言，该测试装置10所运行的作业***例如Linux***，而所述硬盘的主引导记录区储存有Windows***的数据，则显示该硬盘具有Windows***数据的硬盘。接着，进至步骤S105。

在步骤S105，判断是否具有主引导记录。若是，则进至步骤S106；反之，若否，则进至步骤S107。

在步骤S106，删除该主引导记录。在本实施例中，该删除动作可例如通过格式化处理来进行，但并非局限于此。接着，进至步骤S107。

在步骤S107，通过该测试软件，对通过自检程序及主引导记录检测的硬盘执行性能测试作业。因该测试技术为本领域的公知技术且并非本案的诉求，故不在此另行赘述。

应注意的是，如在步骤S105中所述，通过自检程序且没有该主引导记录的硬盘可直接执行测试作业，如此可快速进行测试作业。当然，在其他实施例中，也可先进行主引导记录检测，再进行自检程序；然而，实际实施时，通常会先判断硬盘本身是否损坏，以避免花费时间在已损坏的硬盘上。此外，本发明可对对接在诸如服务器上的硬盘进行选择性自检程序及主引导记录检测，以在测试前找出硬盘本身的问题及删除主引导记录，由此避免在测试中发现硬盘出错或***无法辨识的不便；所以，所属技术领域中具有通常知识者可依此对前述步骤进行变化、颠倒、或修改。

综上所述，本发明的硬盘预检方法及其***，主要在多硬盘执行常规的性能测试作业之前，预先对硬盘提供预检程序，该预检程序包括对硬盘本身进行自检程序以及对硬盘中的***进行主引导记录检测，以便于后续进行常规的硬盘性能测试作业，可避免如现有技术中因没有提供该预检功能而在执行测试前不能将一些例如硬盘硬件损坏或具有不符合测试环境的主引导记录的硬盘予以分拣剔除、并导致在后续测试过程中硬盘没办法识别或者报错而影响测试效果及工作效率的弊端。因此，相比于现有技术，本发明的硬盘预检方法，可提高工作效率。同时，因应用本发明可在使用硬盘前对硬盘进行选择性自检及删除主引导记录的操作，避免现有技术在测试时发现问题所耗费的程序之时间，相对简化流程及节省作业时间。

上述实施例仅为例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明，即，本发明事实上仍可作其他改变。因此，任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修改。因此本发明的权利保护范围，应如后述的权利要求所列。

Claims (11)

1、一种硬盘预检方法，应用于电性连接多个硬盘的测试装置，其中，该测试装置内安装有测试软件，用以在执行性能测试作业前，对各该硬盘预先进行检测，该硬盘预检方法包括：

启动测试软件，以供选取所欲预检的多个硬盘；

对所选取的硬盘进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常；以及

侦测通过自检的所述硬盘是否具有主引导记录，以删除该主引导记录，从而供后续执行性能测试作业。

2、根据权利要求1所述的硬盘预检方法，其中，该自检程序所检测的项目包括硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、及坏轨侦测的至少其中一个。

3、根据权利要求1所述的硬盘预检方法，还包括在对所选取的硬盘进行自检程序，以判断所述硬盘是否正常的步骤后，更换或修复未通过自检的硬盘。

4、根据权利要求1所述的硬盘预检方法，还包括将通过自检程序且没有该主引导记录的硬盘直接执行性能测试作业的步骤。

5、根据权利要求1所述的硬盘预检方法，其中，以格式化处理来删除该主引导记录。

6、一种硬盘预检***，应用于电性连接多个硬盘的测试装置，其中，该测试装置内安装有测试软件，用以在执行性能测试作业前，对所述硬盘预先进行检测，该硬盘预检***包括：

操作选择接口，其电性连接该测试装置，以供选取所欲预检的多个硬盘；

自检模块，其电性连接该操作选择接口及该测试装置，以通过该测试软件来检测所选取的硬盘是否正常；以及

删除模块，其电性连接该操作选择接口及该测试装置，用于通过该测试软件来对该自检模块列为正常的硬盘进行检测，以删除所述硬盘的主引导记录后，从而供后续执行性能测试作业。

7、根据权利要求6所述的硬盘预检***，其中，该操作选择接口还包括：

操作接口，其与该测试装置、该自检模块、以及该删除模块电性连接；以及

显示单元，其与该操作接口电性连接，用以显示预检过程。

8、根据权利要求7所述的硬盘预检***，其中，该操作接口为键盘、触碰式面板、及鼠标的其中一个。

9、根据权利要求7所述的硬盘预检***，其中，该显示单元选自包括LCD显示器、等离子显示器、及CRT显示器的其中一个。

10、根据权利要求7所述的硬盘预检***，其中，该显示单元还包括第一及第二显示视窗，该第一显示视窗该用以显示所述硬盘在预先进行检测前的选取清单，该第二显示视窗则用以显示该自检模块列为正常的硬盘的选取清单。

11、根据权利要求6所述的硬盘预检***，其中，该自检模块所检测的项目包括硬盘驱动器重定、控制器内部测试、硬盘驱动器测试与定位、及坏轨侦测的其中一个。

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