CN101882424A - 驱动集成电路和包括该驱动集成电路的图像显示装置 - Google Patents

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CN101882424A CN2010101765816A CN201010176581A CN101882424A CN 101882424 A CN101882424 A CN 101882424A CN 2010101765816 A CN2010101765816 A CN 2010101765816A CN 201010176581 A CN201010176581 A CN 201010176581A CN 101882424 A CN101882424 A CN 101882424A
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Abstract

本发明提供了驱动集成电路(IC)和包括该驱动集成电路的图像显示装置。所述驱动IC包括：参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；负载电流控制单元，响应于负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与参考电压进行比较，并基于比较结果保持负载电流恒定。

Description

驱动集成电路和包括该驱动集成电路的图像显示装置
技术领域
实施例涉及一种驱动集成电路(IC)，更具体地说，涉及一种能够使用间接感测方法执行电流校准的驱动IC和一种包括该驱动IC的图像显示装置。
背景技术
采用驱动IC为LED提供电流，从而能够使LED发光。每个LED可以发射亮度基于LED的各种特性(例如，流过LED的电流量、与LED一起使用的感测电阻器的电阻、温度、工艺等等)的光。因此，与LED一起使用的驱动IC需要高精确度负载电流。
为了在驱动IC中确保高精确度负载电流，需要校准电路来补偿例如与LED连接的感测电阻器的电阻相对于温度或工艺的改变。校准电路还需要高校准精确度。传统的校准电路具有与LED直接连接的感测电阻器，并通过直接电阻感测来校正LED的负载电流。例如，校准电路中的感测电阻器具有外部施加到LED的负载电流，并基于其电阻值和负载电流输出感测电压。
然而，因为传统的感测电阻器具有若干欧姆(Ω)的电阻值以使校准电路的功率损失最小化，所以，从感测电阻器输出的感测电压很低，这导致校准电路产生误差。因此，校准电路不会精确地校正LED的负载电流。此外，因为感测电阻器与LED直接连接，所以，当校准电路使用直接电阻感测方法执行电流校准时，LED会不期望地导通。
发明内容
因此，实施例涉及基本上克服了由于现有技术的局限性和缺点而产生的一个或多个问题的驱动集成电路和图像显示装置。
因此，实施例的特征在于提供一种包括电流校准电路的驱动集成电路(IC)。
实施例的另一特征在于提供一种驱动IC，与传统装置相比，所述驱动IC适于基于较短的校准时间将相对更加恒定的电流提供给相应的LED。
因此，实施例的特征在于提供一种驱动IC，与传统装置相比，所述驱动IC适于将相对更加恒定的电流提供给相应的LED。
因此，实施例的特征在于提供一种驱动IC，与传统装置相比，所述驱动IC适于将相对更加精确受控的电流提供给相应的LED。
因此，实施例的特征在于提供一种驱动IC，与传统装置相比，所述驱动IC适于更加精确地确定跨过感测电阻器的电压，并将相对更加恒定的电流提供给相应的LED。
实施例的另一特征在于提供一种包括驱动IC的图像显示装置。
根据本发明的一些实施例，以上和其它特征及优点可以通过提供一种驱动集成电路(IC)来实现，所述驱动集成电路包括：参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与所述参考电压进行比较，并基于比较结果保持所述负载电流恒定。
所述驱动IC可以包括被构造成响应于测试电流输出所述测试电压的测试电阻器。所述负载电阻器可以包括并联连接的至少两个单元晶体管，所述测试电阻器可以包括串联连接的至少两个单元晶体管。所述测试电阻器的电阻值可以是所述负载电阻器的电阻值的N倍，其中，N是自然数。
所述测试电阻器可以是所述负载电流控制单元的一部分。所述负载和所述测试电阻器可以在半导体基底上彼此相邻。
所述参考电压设置电路可以包括：校准电路，被构造成将所述测试电压与校准电压进行比较，并根据比较结果输出至少一个控制信号，以控制所述负载电流控制单元保持所述负载电流恒定。所述至少一个控制信号可以包括：第一电流校准控制信号，输出到所述负载电阻器，以控制所述负载电阻器的电阻值；第二电流校准控制信号，输出到所述参考电压产生器，以控制所述参考电压的幅值，其中，所述校准电路输出所述第一电流校准控制信号和所述第二电流校准控制信号中的一个。
所述驱动IC可以包括：开关控制器，被构造成基于所述至少一个电流校准控制信号输出多个开关信号；开关单元，包括分别与所述第一单元晶体管连接的多个开关，所述开关单元被构造成响应于所述开关信号执行开关操作，以控制所述负载电阻器的电阻值。
所述测试电压可以是响应于测试电流从测试电阻器输出的实际值，所述校准电压可以是从所述测试电流和所述测试电阻器的电阻值计算的理论值。
所述负载电流控制单元可以包括：比较器，被构造成将所述负载电压与所述参考电压进行比较，并输出所述比较结果；控制器，与所述负载连接，并被构造成根据从所述比较器输出的比较结果保持所述负载电流的幅值恒定。
所述负载可以包括多个发光二极管(LED)，所述驱动IC是LED驱动IC。
所述驱动IC可以包括：测试电流源，连接到所述测试电阻器，以供给所述测试电流。
所述参考电压设置电路可以包括被构造成接收所述测试电压的校准电路。所述参考电压设置电路可以包括被构造成输出所述参考电压的参考电压产生电路。所述参考电压产生电路可以被构造成将可变电压输出到所述校准电路，所述校准电路包括将所述可变电压与所述测试电压进行比较的比较器。所述负载电流控制单元可以包括：比较器，被构造成将所述负载电压与所述参考电压进行比较，并输出所述比较，所述负载电流控制单元中的所述比较器的类型与所述校准电路中的所述比较器的类型相同。
根据本发明的一些实施例，以上和其它特征及优点可以通过提供一种图像显示装置来实现，所述图像显示装置包括：图像显示单元，被构造成显示图像信号；光源，被构造成向所述图像显示单元提供光；驱动集成电路(IC)，被构造成保持从外部施加到所述光源的负载电流恒定。所述驱动IC可以包括：参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与所述参考电压进行比较，并基于比较结果保持所述负载电流恒定。
所述图像显示单元可以是大面板显示单元。所述负载可以是布置在所述大面板显示单元的***的多个光源或相邻于所述大面板显示单元以矩阵布置的多个光源。
所述图像显示单元可以是便携式显示单元。所述负载可以是布置在所述便携式显示单元的***的多个光源或相邻于所述便携式显示单元以矩阵布置的多个光源。
根据本发明的一些实施例，以上和其它特征及优点可以通过提供一种用于图像显示装置的背光单元来实现，所述背光单元包括：光源，被构造成向所述图像显示装置提供光；驱动集成电路(IC)，被构造成保持从外部施加到所述光源的负载电流恒定。所述驱动IC可以包括：参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与所述参考电压进行比较，并基于比较结果保持所述负载电流恒定。
所述光源可以包括布置在所述背光单元的***的多个发光二极管(LED)源或以矩阵布置的多个发光二极管(LED)源。
根据本发明的一些实施例，以上和其它特征及优点可以通过提供一种多通道驱动***来实现，所述多通道驱动***包括：多个驱动集成电路(IC)；参考电压设置电路，适于向所述多个驱动IC中的每个驱动IC提供相应的参考电压，参考电压产生电路包括参考电压源，所述参考电压源适于基于测试电压提供源参考电压；校准电路，被构造成从每个驱动IC接收感测电压，并根据每个感测电压和所述源参考电压中相应选择的源参考电压产生相应的参考电压。
所述参考电压源和所述校准电路中的至少一个对于所述多个驱动IC可以是共同的。
根据本发明的一些实施例，以上和其它特征及优点可以通过提供一种驱动光源的方法来实现，所述方法包括：根据测试电压校准参考电压；当校准完成时，将所述参考电压供给到电流驱动器；利用所述电流驱动器驱动所述光源。
所述方法可以包括：当校准完成时，停止校准。
所述方法可以包括：使用测试电阻器产生所述测试电压，所述测试电阻器相邻于所述电流驱动器中的电阻器，并连接到测试电流源。当校准完成时，可以截止所述测试电流。
附图说明
通过参照附图详细描述本发明的示例性实施例，以上和其它特征及优点将变得更加明显，在附图中：
图1示出了根据本发明一些实施例的驱动集成电路(IC)的示意性框图；
图2示出了根据本发明其它实施例的驱动IC的示意性框图；
图3示出了在图2中示出的多个单元电阻器的布局；
图4示出了根据本发明其它实施例的驱动IC的示意性框图；
图5示出了图4的驱动IC的更详细的示意性框图；
图6示出了图5的驱动IC的示意图，包括可在其中采用的校准电路的示例性实施例的更详细的示意图和可在其中采用的可变参考电压的示例性时序图；
图7示出了图4的驱动IC的示意图，包括可在其中采用的校准电路的示例性实施例的更详细的示意图；
图8示出了图4的驱动IC的示意图，包括可在其中采用的参考电压产生电路的示例性实施例的更详细的示意图；
图9示出了可由图8的参考电压产生电路和校准电路的示例性实施例可采用的示意性信号的时序图；
图10示出了驱动IC的另一示例性实施例的示意图；
图11示出了驱动IC的示意性多通道实施例的示意图；
图12示出了在图1中示出的驱动IC的电流校准操作的流程图；
图13示出了根据在图12中示出的流程图的波形；
图14示出了根据任意实施例的包括驱动IC的图像显示装置的示意性框图；
图15示出了根据任意实施例的与采用驱动IC的边光式显示器一起使用的示例性背光单元的框图；
图16示出了根据任意实施例的与采用驱动IC的直下式显示器一起使用的示例性背光单元的框图；
图17示出了根据任意实施例的与采用驱动IC的移动显示器一起使用的示例性背光单元的框图。
具体实施方式
本申请要求于2009年5月8日在韩国知识产权局提交的第10-2009-0040214号韩国专利申请和于2009年7月31日在韩国知识产权局提交的第10-2009-0070484号韩国专利申请的优先权，上述两件申请的公开内容通过引用并入本文。
现在，将在下文中参照附图更充分地描述本发明，在附图中示出了本发明的实施例。然而，本发明可以以多种不同的形式来实施，不应该被理解为局限于在此提出的实施例。相反，提供这些实施例以使本公开将是彻底的和完整的，并将本发明的范围充分地传达给本领域的技术人员。在附图中，为了清晰起见，会夸大层和区域的尺寸和相对尺寸。相同的标号始终表示相同的元件。
应该理解的是，当元件被称作在“连接”或“结合”到另一元件时，该元件可以直接连接到或结合到另一元件，或者可以存在中间元件。相反，当元件被称作“直接连接”或“直接结合”到另一元件时，不存在中间元件。如在这里使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列项目的任意组合和所有组合，并可以简写为“/”。
应该理解的是，尽管在这里可使用术语第一、第二等来描述不同的元件，但是这些元件并不受这些术语的限制。这些术语仅是用来将一个元件与另一个元件区分开来。例如，在不脱离本公开的教导的情况下，第一信号可被命名为第二信号，类似地，第二信号可被命名为第一信号。
这里使用的术语仅为了描述特定实施例的目的，而不意图限制本发明。如这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式。还将理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，说明存在所述特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个或多个其它特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
除非另有定义，否则这里使用的所有术语(包括技术术语和科技术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员所通常理解的意思相同的意思。将进一步理解，除非这里明确定义，否则术语例如在通用的字典中定义的术语应该被解释为具有与相关领域和/或本申请的上下文中它们的意思相同的意思，而不应理想地或者过于正式地解释它们的意思。
图1示出了根据本发明一些实施例的驱动集成电路(IC)100的示意性框图。图2是根据本发明其它实施例的驱动IC 100a的示意性框图。图3是在图2中示出的多个单元电阻器的布局。参照图1，驱动IC 100可以包括负载电流控制单元110和参考电压设置电路，参考电压设置电路包括参考电压产生器130和电流校准电路150。负载电流控制单元110可以与负载200连接，并保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。
负载200可以包括多个发光二极管(LED)串，每个发光二极管串可以包括串联连接的多个LED LD1、LD2、...、LDn。负载200可以在图像显示装置(例如，液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)显示器)中用作光源。负载200可以从外部装置(例如，DC-DC转换器(未示出))接收预定的驱动电压VDD，以进行操作。
负载电流控制单元110可以包括比较器111、控制器113和第一电阻器115。比较器111可以将从参考电压产生器130输出的参考电压Vref与从第一电阻器115输出的负载电压V_RS进行比较，并根据比较的结果输出用于控制控制器113的操作的控制电压VG。此时，从第一电阻器115输出的负载电压V_RS可以是通过控制器113从负载200提供的负载电流IR和第一电阻器115的电阻RS的乘积。
控制器113可以用作电流源，该电流源基于从比较器111输出的控制电压VG来保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。控制器113可以由诸如晶体管的开关元件来实现。从比较器111输出的控制电压VG可以控制控制器113的栅极的栅电压。
第一电阻器115可以感测通过控制器113从负载200提供的负载电流IR，并基于感测结果输出与负载电流IR和第一电阻器115的电阻RS的乘积对应的负载电压V_RS。第一电阻器115可以是具有可变电阻的可变电阻器，并可以基于从校准器155输出的控制信号(例如，第一电流校准控制信号CNT1)来控制电阻RS，后面将对此进行描述。
换言之，负载电流控制单元110可以使用第一电阻器115感测在负载200中流动的负载电流IR，并可以基于根据感测结果输出的负载电压V_RS与参考电压Vref的比较结果来控制控制器113，由此保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。此时，第一电阻器115的电阻值会由于使用驱动IC 100的环境(例如，温度或湿度)或由于制造第一电阻器115的工艺误差而改变。第一电阻器115的电阻值的改变导致负载电压V_RS的幅值的改变。因此，负载电流控制单元110不会保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。为了防止这种情况，第一电阻器115基于从校准器155输出的第一电流校准控制信号CNT1通过电流校准电路150的电流校准来补偿电阻值的改变。电阻值的补偿能够使负载电流控制单元110来保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。
可选地，第一电阻器115可以包括并联连接的多个电阻器。参照图2，例如，第一电阻器115a包括并联连接的多个第一单元电阻器rs1、rs2、...、rsn。第一单元电阻器rs1至rsn可以与包括在开关单元117中的多个开关分别连接。第一电阻器115a的总电阻值可由于开关单元117的切换操作而改变。
开关单元117可以根据从包括在电流校准电路150a中的校准器155输出的第一电流校准控制信号CNT1来控制开关的操作。换言之，在图2中示出的驱动IC 100a还可以包括开关控制器160，开关控制器160可以基于从校准器155输出的第一电流校准控制信号CNT1输出多个开关信号SW1、SW2、...、SWn。开关单元117可以基于开关控制器160提供的开关信号SW1至SWn控制开关的操作，由此改变第一电阻器115a的总电阻值。
虽然在图2中开关单元117中的开关与第一单元电阻器rs1至rsn分别串联连接，但本发明不局限于在图2中示出的实施例。在本发明的其它实施例中，开关单元117中的开关可以与第一单元电阻器rs1至rsn分别并联连接。在开关单元117中的开关与第一单元电阻器rs1至rsn分别串联连接的情况下，当开关单元117中的每个开关由从开关控制器160输出的开关信号S1至Sn中的一个开关信号打开时，可以控制第一电阻器115a的总电阻值。在开关单元117中的开关与第一单元电阻器rs1至rsn分别并联连接的另一情况下，当开关单元117中的每个开关由从开关控制器160输出的开关信号SW1至SWn中的一个开关信号闭合时，可以控制第一电阻器115a的总电阻值。
返回参照图1，参考电压产生器130可以将参考电压Vref输出到负载电流控制单元110。参考电压产生器130可以基于从电流校准电路150a输出的控制信号(例如，第二电流校准控制信号CNT2)来控制参考电压Vref的幅值。
电流校准电路150a可以将基于测试电流It产生的测试电压V_RT与校准电压Vcal进行比较，并根据比较结果输出至少一个校准信号，例如第一电流校准控制信号CNT1和/或第二电流校准控制信号CNT2。电流校准电路150a可以包括测试电流产生器151、第二电阻器153a和校准器155。
当驱动IC 100a执行电流校准时，测试电流产生器151可以产生并输出具有预定幅值的测试电流It。测试电流产生器151可以由单个恒定电流源实现，并可以输出幅值为大约100μA的测试电流It。
第二电阻器153a可以与测试电流产生器151连接，并基于测试电流It输出测试电压V_RT。第二电阻器153a的电阻值可以与第一电阻器115a的电阻值相同，或可以是第一电阻器115a的电阻值的N倍，其中，N是自然数。第二电阻器153a可以与测试电流产生器151串联连接。
校准器155可以将从第二电阻器153a输出的测试电压V_RT与校准电压Vcal进行比较。校准电压Vcal可以是与测试电流It和第二电阻器153a的电阻值的乘积对应的理论电压。测试电压V_RT可以是在电流校准电路153a的操作期间从第二电阻器153a输出的实际电压。校准器155可以根据校准电压Vcal与测试电压V_RT的比较结果输出至少一个控制信号，例如，第一电流校准控制信号CNT1和/或第二电流校准控制信号CNT2。第一电流校准控制信号CNT1可以是用于控制第一电阻器115的电阻值的信号，第二电流校准控制信号CNT2可以是用于控制参考电压产生器130的参考电压Vref的信号。
可选地，第二电阻器153可以包括串联连接的多个电阻器。参照图2，例如，第二电阻器153a可以包括串联连接的多个第二单元电阻器rt1、rt2、...、rtn。此时，第二单元电阻器rt1至rtn中的每个电阻器的电阻值可以与第一单元电阻器rs1至rsn中的电阻器的电阻值相同。因此，从第二电阻器153a输出的测试电压V_RT可以是第二电阻器153a的总电阻值(即，各个第二单元电阻器rt1至rtn的电阻值的和)与测试电流It的乘积。第一电阻器115a的第一单元电阻器rs1至rsn可以设置为与第二电阻器153a的第二单元电阻器rt1至rtn相邻。
参照图2和图3，第一单元电阻器rs1至rsn和第二单元电阻器rt1至rtn可以被形成为在单个半导体基底10上彼此相邻。例如，第一单元电阻器rs1至rsn可以形成在半导体基底10的第一区域中，而第二单元电阻器rt1至rtn可以形成在半导体基底10的第二区域中。在图3所示的实施例中，三个第二单元电阻器rt1、rt2和rt3形成在半导体基底10上，以构成第二电阻器153a。
第一单元电阻器rs1至rsn可以通过连接元件(例如，第一连接元件15_1和第二连接元件15_2)并联连接，并可以通过焊盘P2和P4连接在外部(即，开关单元117和地面GND)之间。第二单元电阻器rt1至rtn可以通过连接元件(例如，第三连接元件15_3和第四连接元件15_4)串联连接，并可以通过焊盘P1和P3连接在外部(即，测试电流产生器151和校准器155)之间。
同时，第一电阻器115a中的第一单元电阻器rs1至rsn的每个电阻器的电阻值可以与第二电阻器153a中的第二单元电阻器rt1至rtn的电阻器的电阻值相同。因此，在第二单元电阻器rt1至rtn的每个电阻器中出现的电阻值误差可以视为与在第一单元电阻器rs1至rsn的电阻器中出现的电阻值误差相同。因此，当电流校准电路150的校准器155基于测试电压V_RT与校准电压Vcal的比较结果输出控制信号时，可以确定出在第二单元电阻器rt1至rtn的每个电阻器的电阻值中出现误差，并且在第一单元电阻器rs1至rsn的每个电阻器的电阻值中出现相同的误差。因此，校准器155可以通过使用第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2调节第一电阻器115a的电阻值或参考电压Vref的幅值来执行电流校准。
换言之，在图1或图2中示出的电流校准电路150或150a使用形成在分开区域中的测试电流产生器151和第二电阻器153或153a来校准驱动IC 100或100a中的电流，从而防止当传统的驱动IC(未示出)使用负载电流执行电流校准时所出现的负载的导通(例如，LED LD1至LDn的导通)。另外，因为在图2中示出的第二电阻器153a的第二单元电阻器rt1至rtn串联连接，所以，第二电阻器153a的电阻值可大于第一单元电阻器rs1至rsn并联连接的第一电阻器115a的电阻值。因此，即使当电流校准电路150a的测试电流产生器151产生并输出小的测试电流It，第二电阻器153a也可以由于大电阻值而输出大的测试电压V_RT。因此，电流校准电路150a可以减小在驱动IC 100a执行电流校准的同时消耗的功率。
图4示出了驱动IC 100b的另一示例性实施例的示意图。驱动IC 100b可以包括负载电流控制单元110b和参考电压设置电路170。如图5所示，参考电压设置电路170可以包括参考电压产生器190和校准电路180。负载电流控制单元110b可以连接到负载200。
与先前的实施例相反，第一电阻器115和第二电阻器153可以布置在半导体基底(未示出)的基本相同的部分上，例如，可以布置为在单个半导体基底上彼此相邻。即，例如，第二电阻器153可以与第一电阻器115相同，并可以布置为在半导体基底上与第一电阻器115相邻。在实施例中，通过例如在相同的工艺条件和规范下制造第一电阻器115和第二电阻器153，第一电阻器115和第二电阻器153可以具有完全相同的电阻和完全相同的特性，例如，由于温度改变而导致的电阻改变。可选地，第一电阻器可以实现为图2的第一电阻器115a，第二电阻器可以实现为图2的第二电阻器153a。如图2所示，虽然形成第一电阻器115a和第二电阻器153a的电阻器可以具有相同的电阻并在相同的条件下形成，但是这些电阻器对于第一电阻器115a而言可以并联连接，对于第二电阻器153a而言可以串联连接。然后，负载电流控制单元110b还可以包括图2的开关单元117。
再参照图4，当采用一个以上的电阻器时，除了它们之间的连接以外，第一电阻器115和第二电阻器153可以布置为在半导体基底的相同区域上彼此相邻，可以包括完全相同的材料，可以在完全相同的工艺条件下制造(例如，同时一起制造)，可以具有完全相同的图案和/或尺寸等。因此，即使当第一电阻器115和第二电阻器153的环境改变(例如，湿度和/或温度改变等)时，第一电阻器115和第二电阻器153仍可以具有相同和/或基本相同的电阻值。因此，当向第一电阻器115和第二电阻器153提供相同的电流时，跨过第一电阻器115的负载电压V_RS和跨过第二电阻器153的测试电压V_RT或它们之间的关系可以完全相同和/或基本上相同，而与例如第一电阻器115和第二电阻器153周围的环境无关。
通过提供彼此相邻的第一电阻器115和第二电阻器153，从第二电阻器153输出的测试电压V_RT可以有效地将从第一电阻器115输出的负载电压V_RS供给到参考电压设置电路170。然后，参考电压设置电路170可以基于从负载电流控制单元110b供给的所产生的电压信号V_RT来产生参考电压Vref。
图5是图4的驱动IC 100的示意图，其包括安装在其中的参考电压设置电路170的示例性实施例的更详细意图。总体来讲，图5中将不再重复上面描述过的元件的特征。
参照图5，在一些实施例中，参考电压设置电路170可包括校准电路180和/或参考电压产生电路190。可将基于第二电阻器153和电流源151产生的测试电压V_RT提供给校准电路180。在驱动IC 100b操作时，例如，驱动IC100b的操作的初始时间段期间，校准电路180可采用测试电压V_RT以实现校准功能。
在包括参考电压产生电路190的实施例中，参考电压产生电路190可将可变参考电压Vsource提供给校准电路180。校准电压180可采用可变参考电压Vsource以确定测试电压V_RT的电压电平。参考电压信号S0至Sn-1和控制信号Control可基于测试电压V_RT和/或可变参考电压Vsource与校准功能对应。校准电路180可将参考电压信号S0至Sn-1和控制信号Control提供给参考电压产生电路190。
在这些实施例中，参考电压产生电路190可采用参考电压信号S0至Sn-1和控制信号Control以产生参考电压Vref，并将其输出到负载电流控制单元110b的比较器111。
图6示出图5的驱动IC 100b的示意图，其包括校准电路170的更详细的示意图和在其中采用的可变参考电压Vsource的示例性时序图。总体来讲，图6中将不再重复上面描述过的元件的特征。
参照图6，校准电路180可包括比较器182。可分别将测试电压V_RT和可变参考电压Vsource输入到比较器182的输入端。如上所述，在一些实施例中，校准电路180可采用可变参考电压Vsource以确定测试电压V_RT的电压电平。在一些实施例中，负载电流控制单元110b的比较器111和校准电路180的比较器182可相同，例如，具有相同的规格和特性，并且可实现噪声消除(noise canceling)效果并减小和/或最小化校准误差。
比较器182可基于测试电压V_RT和可变参考电压Vsource的比较结果来输出高信号或低信号。如果测试电压V_RT和可变参考电压Vsource具有相同电平，则比较器182可输出高电平信号。如果测试电压V_RT和可变参考电压Vsource不具有相同电平，则比较器182可输出低电平信号，并且可变参考电压Vsource的电平可顺序增加，例如，在图6中所示，并且比较器182可执行另一次比较。可重复这种比较和增加可变参考电压Vsource的过程，直到测试电压V_RT和可变参考电压Vsource具有相同电平，并可确定测试电压V_RT的电平。
如上所述，校准电路180可基于测试电压V_RT的确定电平产生参考电压信号S0至Sn-1和控制信号Control，并将其提供给参考电压产生电路190。在这些实施例中，参考电压产生电路190可采用参考电压信号S0至Sn-1和控制信号Control来产生参考电压Vref并将其输出到负载控制电路单元110b的比较器111。
图7示出图4的驱动IC 100b的示意图，其包括在其中采用的校准电路180的示例性实施例的更详细示意图。总体来讲，在图7中将不再重复上面描述过的元件的特征。
参照图7，除比较器182之外，校准电路180还可包括电平检测和控制电路184、计数器186和寄存器188。计数器186可以是N比特计数器，寄存器188可以是N比特寄存器。如上所述，比较器182可基于可变参考电压Vsource和测试电压V_RT之间的比较来输出高电平信号或低电平信号。参照图7，电平检测和控制电路184可从比较器182接收输出信号，电平检测和控制电路184可基于比较器182的输出信号的电平来控制计数器186的操作。电平检测和控制电路184还可基于比较器182的输出信号的电平将控制信号Control提供到参考电压产生电路190。
计数器186可对比较器182执行的比较次数进行计数。可将计数器186计数的比较次数存储在寄存器188中。可将存储在寄存器188中的次数作为参考电压信号S0至Sn-1提供给参考电压产生电路190。参考电压信号S0至Sn-1可被参考电压产生电路190采用，以设置将施加到负载电流控制单元110b的参考电压Vref。
图8示出图4的参考电压设置电路170的示意图，其包括在其中可采用的参考电压产生电路190的示例性实施例的更详细示意图。总体来讲，在图8中将不再重复上面描述过的元件的特征。
参照图8，参考电压产生电路190可包括切换电路191、数模转换器(DAC)193、运算放大器195、197和参考电压源199。参考电压源199可产生多个参考电压，并通过，例如，运算放大器195、19将其提供给DAC 193。
参考电压源199可适于基于参考电压VREF来产生低参考电压VREF_L和高参考电压VREF_H。例如，可将高参考电压VREF_H和低参考电压VREF_L的电平设置为包括将被校正的电压分布范围。例如，假设当将被校正的电压分布的范围是±50％时，在误差为0％时的电压是VREF，则可如下设置高参考电压VREF_H：VREF_H＝VREF+50％(VREF)，可如下设置低参考电压VREF_L：VREF_L＝VREF-50％(VREF)。
DAC 193可基于校准电路180的寄存器188提供的参考电压信号S0至Sn-1，来选择例如参考电压源199提供的可变参考电压中的一个参考电压。可执行校准直到测试电压V_RT具有与可变参考电压Vsource相同的电压。在一些实施例中，当完成校准时，例如，当V_RT＝Vsource时，可再不将选择的可变参考电压Vsource提供给校准电路180。在这些实施例中，当完成校准时，例如，可断开用于提供可变参考电压Vsource的参考电压产生电路190与校准电路180之间的通路。
当完成校准时，可将来自参考电压源199的选择的参考电压信号提供给切换电路191。切换电路191可将由DAC 193选择的选择的参考电压信号提供给负载电流控制单元110b。更具体地，参考电压产生电路190可基于从校准电路180的电平检测和控制电路184提供的控制信号Control，通过切换电路191将选择的参考电压信号提供给负载电流控制单元110b的比较器111。
切换电路191可包括用于选择性地控制切换电路191和校准单元180和/或负载电流控制单元110b之间的通路的多个开关。更具体地，切换电路191的开关可选择性地控制切换电路191与校准电路180的比较器182之间的通路以及切换电路191与负载电流控制单元110b的比较器111之间的通路。
图9示出参考电压产生电路190和校准电路180可采用的示例性信号的时序图。参照图9，在校准周期的开始处，校准控制信号CAL_OUT可以是高，第一校准使能信号可以是CAL_EN1可以是高，第一校准反相(bar)使能信号CAL_ENB1可以是低，第二校准反相使能信号CAL_ENB2可以是低。校准控制信号CAL_OUT可以与从电平检测和控制电路184提供给参考电压产生电路190的控制信号Control对应。在校准周期期间第二校准反相使能信号CAL_ENB2是低的情况下，切换电路191的对应的开关可以闭合，并且可在该时间期间存在DAC 193与地之间的通路。此外，在校准周期期间第一校准使能信号CAL_EN1是高的情况下，可闭合切换单元191的对应的开关，并且可在该时间期间存在DAC 193与校准电路180之间的用于将可变参考电压Vsource提供给比较器182的通路。在第一校准反相使能信号CAL_ENB1是低的情况下，打开切换单元191的对应的开关。
更具体地，在校准期间，如上所述，比较器182可基于可变参考电压Vsource与测试电压V_RT之间的比较来输出高电平信号或者低电平信号。参照图8，电平检测和控制电路184可从比较器182接收输出信号，并且电平检测和控制电路184可基于比较器182的输出信号的电平来控制计数器186的操作。电平检测和控制电路184还可基于比较器182的输出信号的电平将可与图9的校准控制信号CAL_OUT对应的控制信号Control提供给参考电压产生电路190。
如上所述，计数器186可对比较器182执行的比较的次数进行计数。可将计数器186计数的比较次数存储在寄存器188中。可将存储在寄存器188中的次数作为参考电压信号S0至Sn-1提供给参考电压产生电路190。更具体地，参照图9，基于时钟信号，可将分别与参考电压信号S0至Sn-1对应的计数信号CNT 0至CNT 7从校准电路180的寄存器188提供给参考电压产生电路190。参考电压信号S0至Sn-1可被参考电压产生电路190采用，以设置将提供给负载电流控制单元110b的参考电压Vref。
在校准周期的结束处，校准控制信号CAL_OUT可以是低，第一校准使能信号CAL_EN1可以是低，第一校准反向使能信号CAL_ENB1可以是高，第二校准反相使能信号CAL_ENB2可以是高。参照图9，在这些实施例中，在校准周期之后第二校准反相使能信号CAL_ENB2是高的情况下，可打开切换电路191的对应的开关。此外，在校准周期之后第一校准使能信号CAL_EN1是低的情况下，可打开切换电路191的对应的开关，并且可在该时间期间不存在用于将可变参考电压Vsource提供给比较器182的DAC 193与校准电路180之间的通路。在第一校准反相使能信号CAL_ENB1是高的情况下，闭合切换单元191的对应的开关，并且可在该时间期间在DAC 193与负载控制电流单元110b的比较器111之间存在通路。因此，可在校准完成之后将选择的参考电压信号Vref提供给负载电流控制单元110b的比较器111。
图10示出驱动IC 100c的另一示例性实施例的示意图，其包括可在其中采用的参考电压设置电路170的示例性实施例。图10中示出的驱动IC 100c的示例性实施例基本与图4中示出的驱动IC的示例性实施例对应。因此，总体来讲，以下将仅描述图4的示例性驱动IC 100b与图10的示例性驱动IC100c之间的差别。
图4的示例性驱动IC 100b示出间接感测负载电压V_RS的间接感测方法的示例性实施例，而图10的示例性驱动IC 100c示出直接感测负载电压V_RS的直接感测方法的示例性实施例。更具体地，参照图10，在示例性驱动IC 100c中，将负载电压V_RS直接提供给负载电流控制电路110c的比较器111和校准电路180的比较器182，例如，不存在与图4的第二电阻器153对应的电阻器。对于图10，校准电路180和参考电压产生电路190可如上所述地操作，但是通过直接感测的测试电压V_RT采用直接感测的负载电压V_RS而不是间接感测的负载电压V_RS。当然，第一电阻器可使用图2的第一电阻器115a和切换单元117来实现。
图11示出驱动IC***100d的示例性多通道实施例的示意图。贯穿本申请，相同标号表示相同元件，因此，总体来讲，以下将仅描述图4的示例性实施例与图11的示例性实施例之间的差别。参照图11，多通道驱动IC 100d可包括参考电压设置电路170a。
可将多个LED布置为多个串201_1、201_2、...、201_n的组，每个串包括串联连接的两个或两个以上的LED。可将多个电流驱动器110c_1至110c_n中的每一个连接到LED串201-1～201-n中的对应的串。
参考电压设置电路170a可包括校准电路180a和参考电压产生电路190a。LED串201-1～201-n中的一个、一些或所有的串可共同地采用校准电路180a。参考电压设置电路170a还可包括具有多个开关的通道切换电路175以提供参考电压产生电路190a与多个电流驱动器110c_1至110c_n之间的连接，以将对应的参考电压Vref1、Vref2、...、Vrefn提供给多个电流驱动器110c_1至110c_n。参考电压设置电路170a还可包括具有多个开关的通道切换电路177以提供校准电路180a与多个电流驱动器110c_1至110c_n之间的连接，以将来自多个电流驱动器110c_1至110c_n的感测电压Vsense1、Vsense2、...、Vsensen提供给校准电路180a作为测试电压V_RT。可根据用于每个通道的校准使能信号CAL_CH-1_EN、CAL_CH-2_EN、...、CAL_CH-n_EN来控制在通道切换电路175、177中的开关。
参考电压产生电路190a可包括参考电压源199、多个N比特DAC 193_1至193_n和切换电路191a，切换电路191a包括根据用于每个通道的校准使能信号CAL_CH-1_EN、CAL_CH-2_EN、...、CAL_CH-n_EN来控制的多个通道开关，以将对应的电压Vref1至Vrefn提供给电流驱动器110c_1至110c_n。串201_1、201_2、...、201_n中的一个、一些或所有的串可共同地采用参考电压源199。
校准电路180a可包括比较器182、电平检测和控制电路184、计数器186、多个N比特寄存器/存储器188_1至188_n和切换单元189，所述切换189具有根据用于每个通道的校准使能信号CAL_CH-1_EN、CAL_CH-2_EN、...、CAL_CH-n_EN来控制的多个开关以将计数器186的输出提供给对应的寄存器188_1至188_n。串201_1、201_2、...、201_n中的一个、一些或所有的串可共同地采用比较器182、电平检测和控制电路184、计数器186。
图12示出图1中示出的驱动IC 100的电流校准操作的流程图。图13示出根据图12中示出的流程图的波形。虽然为了清楚地描述的目的，通过图12中示出的流程图来描述图1中示出的驱动IC 100执行的电流校准，但是该流程图还可被应用到上述的驱动IC 100a至100d中的任意一个执行的电流校准。参照图1和图12，在操作S10，当驱动IC 100在电流校准模式下操作时，电流校准电路150的测试电流产生器151可输出测试电流It，第二电阻器153可根据测试电流It输出测试电压_RT。
在操作S20，将测试电压V_RT输入到校准器155，校准器155可将测试电压V_RT与校准电压Vcal进行比较。当确定测试电压V_RT与校准电压Vcal相同时，例如，在误差范围内时，作为比较结果，电流校准电路150确定在第二电阻器153的电阻值中没有出现误差，并在操作S40结束电流校准。
当电流校准电路150结束电流校准时，然后在第一电阻器115中没有出现误差。因此，驱动IC 100可使用控制电压VG将在负载200中流动的负载电流IR保持恒定，其中，将控制电压VG作为没有进行校准的Vref与从第一电阻器115输出的V_RS的比较结果。
同时，作为校准器155的比较结果，当确定测试电压V_RT与校准电压Vcal不同，例如，超出误差范围时，在操作S30，校准器155根据比较结果来输出第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2以执行电流校准。从校准器155输出的第一电流校准控制信号CNT1可被提供给第一电阻器155(或图2中的开关控制器160)以控制第一电阻器115的电阻值。从校准器155输出的第二电流校准控制信号CNT2可被提供给参考电压设置电路130以控制参考电压Vref的幅值。
例如，当校准器155输出第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2时，这可表示在第二电阻器153的电阻值中出现误差。因此，校准器155可输出第一电流校准控制信号CNT1以补偿第一电阻器115的电阻值的误差，或者可输出第二电流校准控制信号CNT2以校准参考电压Vref，从而可补偿第一电阻器115的电阻值的误差，其中，第一电阻器115的电阻值中出现的误差的量与第二电阻器153的电阻值中出现的误差的量相同。
校准器155可仅输出第一电流校准控制信号CNT1和第二电流校准控制信号CNT2中的一个控制信号。换言之，校准器155可输出第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2以执行电流校准。在操作S30校准器155执行电流校准之后，在操作S20驱动IC 100可再次将测试电压V_RT与校准电压Vcal进行比较。
参照图1、图12和图13，在时间轴t上的时间t0处，参考电压设置电路130可输出参考电压Vref。此外，在时间t0处测量第一电阻器115的电阻值RS。在时间轴t上的时间t1处，可在电流校准模式下操作驱动IC 100，可将校准电压Vcal输入到校准器155。顺序地，第二电阻器153可基于从测试电流产生器151输出的测试电流It将测试电压(例如，第一测试电压V_RT’)输出到校准器155，并且校准器155可在时间t2处将第一测试电压V_RT’与校准电压Vcal进行比较。
当校准器155确定第一测试电压V_RT’比校准电压Vcal低第一电压差ΔV1作为比较结果时，校准器155可根据比较结果输出第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2。第一电流校准控制信号CNT1可在时间t2处控制第一电阻器115的电阻值RS_T’。详细地，第一电流校准控制信号CNT1可在时间t2处将第一电阻器115的电阻值RS_T’控制为比在时间t0处测量的第一电阻器115的电阻值RS_T大第一电阻差ΔΩ1。第二电流校准控制信号CNT2可在时间t2处控制参考电压Vref’的幅值。详细地，第二电流校准控制信号CNT2可在时间t2处将参考电压Vref’控制为比在时间t0处输出的参考电压Vref低第一电压差ΔV1’。因此，由于已控制了电阻值的第一电阻器115或已控制了幅值的参考电压Vref’，所以自时间轴t上的时间t2，负载电流控制单元110可保持在负载200中流动的负载电流IR恒定。
可选地，在时间轴t上的时间t0处，可从参考电压设置电路130输出参考电压Vref。此外，可在时间t0处测量第一电阻器115的电阻值RS_T。在时间t的时间t1处，可在电流校准模式下操作驱动IC 100并且可将校准电压Vcal输入到校准器155。
顺序地，第二电阻器153可基于从测试电流产生器151输出的测试电流It来将测试电压(例如，第二测试电压V_RT”)输出到校准器155，并且校准器155可在时间t2’处将第二测试电压V_RT”与校准电压Vcal进行比较。当校准器155确定第二测试电压V_RT”比校准电压Vcal高第二电压差ΔV2作为比较结果时，校准器155可根据比较结果输出第一电流校准控制信号CNT1或第二电流校准控制信号CNT2。
第一电流校准控制信号CNT1可在时间t2’处控制第一电阻器115的电阻值RS_T”。详细地，第一电流校准控制信号CNT1可在时间t2’处将第一电阻器115的电阻值RS_T”控制为比在时间t0处测量的第一电阻器115的电阻值RS_T小第二电阻差ΔΩ2。第二电流校准控制信号CNT2可在时间t2处控制参考电压Vref”的幅值。详细地，第二电流校准控制信号CNT2可在时间t2’处控制参考电压Vref”比在时间t0处输出的参考电压Vref高第二电压差ΔV2’。因此，由于已被控制了电阻值的第一电阻器115或者已被控制了幅值的参考电压Vref”，所以自时间轴t上的时间t2’，负载电流控制单元110可保持在负载200中流动的电流IR恒定。
图14示出包括上述的驱动IC 100至100d中的任意的驱动IC的图像显示装置400的示意框图。图像显示装置400可以是液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)显示器，但是本发明不限于此。参照图14，图像显示装置400可包括图像显示单元300、图像控制器350、光源200和驱动IC 100至100d。
光源200可包括多个光源，例如，LED LD1至LDn，即，上述的负载200。已参照图1至图13描述了驱动IC 100至100d。因此，将省略对其的详细描述。
图像显示单元300可显示从图像控制器350提供的图像信号R’、G’和B’。图像控制器350可处理外部提供的将由图像显示单元300显示的画面信号R、G和B，并且可产生图像信号R’、G’和B’，并将其输出到图像显示单元300。
光源200可将光提供给图像显示单元300。光源200可使用灯或LED。在本发明的当前实施例中，假设光源200使用多个LED。驱动IC 100至100d可将在LED中流动的负载电流控制为恒定。
图15示出用于采用在此描述的一个或多个特征(例如，驱动IC 100至100d)的示例性边光式显示器500的背光单元(BLU)505的框图。参照图15，BLU 505可包括电路板550、多个驱动IC和多个光源，例如，LED。驱动IC可以可控地驱动多个光源中的对应的光源。每个光源可包括单个光源或成串的光源。在一些实施例中，每个驱动IC均可以分别与例如驱动IC 100至100d分别对应。因此，将省略对此的进一步描述。此外，参照图15，例如，在边光式BLU TV中，可以沿BLU 505的一个或多个边缘布置光源。虽未示出，但边光式显示器还可包括，例如，BLU 505可提供均匀的光源的LCD显示面板。边光式显示器可优于下述的直下式显示器，例如，可以是相对较薄的显示器。
图16示出用于采用在此描述的一个或多个特征(例如，驱动IC 100至100d)的直下式显示器的示例性BLU 605的框图。参照图16，BLU 605可包括多个驱动IC 610-1～610-n和控制器650。在一些实施例中，控制器650可包括，例如，参考电压设置电路170和/或控制器650可适合于基于驱动IC610-1～610-n感测的各个电压执行参考电压的校准。BLU 605可包括，例如，按矩阵布置的多个光源660_11至660_nn(例如，LED)。在一些实施例中，驱动IC可以可控地驱动布置在同一列中的多个光源中的对应的光源。光源可均可以包括多个光源，但是，在一些实施例中可以是单个光源601a。在一些实施例中，每个驱动IC可以与，例如，上述驱动IC 100至100d中的任意的驱动IC对应。因此，将省略对其的进一步描述。此外，参照图16，例如，在直下式显示器中，例如，可以按矩阵图案布置光源。虽未示出，但直下式显示器还可包括，例如，BLU 605可提供均匀的光源的LCD显示面板。
图17示出用于采用在此描述的一个或多个特征(例如，驱动IC 100至100d)的移动装置的示例性BLU 705的框图。更具体地，例如，移动装置可以是移动电话、个人数字助理(PDA)、智能手机、便携式多媒体播放器(PMP)、信息技术(IT)装置(例如，投影仪)等。
参照图17，BLU 705可包括光源(例如，LED)和包括驱动IC 710的电路板750。驱动IC 710可以可控地驱动光源。光源可包括单个光源和成串的光源。在一些实施例中，可采用多个光源。在一些实施例中，光源驱动IC可以分别与，例如，上述的驱动IC 100至100d对应。因此，将省略对其进一步描述。
根据实施例，驱动IC和包括所述驱动IC的图像显示装置使用间接电阻感测方法来执行电流校准以保持在负载中流动的负载电流恒定，从而增加电流校准精度并减少电流校准期间的功耗。
根据另一实施例，驱动IC和包括其的图像显示装置使用直接电阻感测方法来执行电流校准以产生参考电压从而保持在负载中流动的负载电流恒定，因此增加电流校准的精度并减少电流校准期间的功耗。
虽然参照本发明示例性实施例来具体地示出和描述了本发明，但是本领域普通技术人员理解的是，在不脱离权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下，可进行各种形式和细节的变化。

Claims (35)

1.一种驱动集成电路，所述驱动集成电路包括：
参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；
负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与参考电压进行比较，并基于比较结果保持所述负载电流恒定。
2.根据权利要求1所述的驱动集成电路，所述驱动集成电路还包括：测试电阻器，被构造成响应于测试电流输出测试电压。
3.根据权利要求2所述的驱动集成电路，其中，负载电阻器包括并联连接的至少两个单元电阻器，测试电阻器包括串联连接的至少两个单元电阻器。
4.根据权利要求2所述的驱动集成电路，其中，测试电阻器的电阻值是负载电阻器的电阻值的N倍，其中，N是自然数。
5.根据权利要求2所述的驱动集成电路，其中，测试电阻器是负载电流控制单元的一部分。
6.根据权利要求2所述的驱动集成电路，其中，负载和测试电阻器在半导体基底上彼此相邻。
7.根据权利要求1所述的驱动集成电路，其中，参考电压设置电路包括：校准电路，被构造成将测试电压与校准电压进行比较，并根据比较结果输出至少一个控制信号，以控制负载电流控制单元保持所述负载电流恒定。
8.根据权利要求7所述的驱动集成电路，其中，所述至少一个控制信号包括：
第一电流校准控制信号，输出到负载电阻器，以控制负载电阻器的电阻值；
第二电流校准控制信号，输出到参考电压产生器，以控制参考电压的幅值，
校准电路输出第一电流校准控制信号和第二电流校准控制信号中的信号。
9.根据权利要求7所述的驱动集成电路，所述驱动集成电路还包括：
开关控制器，被构造成基于所述至少一个电流校准控制信号输出多个开关信号；
开关单元，包括分别与第一单元晶体管连接的多个开关，所述开关单元被构造成响应于开关信号执行切换操作，以控制负载电阻器的电阻值。
10.根据权利要求7所述的驱动集成电路，其中，所述测试电压是响应于测试电流从测试电阻器输出的实际值，所述校准电压是从测试电流和测试电阻器的电阻值计算的理论值。
11.根据权利要求1所述的驱动集成电路，其中，负载电流控制单元包括：
比较器，被构造成将负载电压与所述参考电压进行比较，并输出所述比较结果；
控制器，与负载连接，并被构造成根据从比较器输出的比较结果保持负载电流的幅值恒定。
12.根据权利要求1所述的驱动集成电路，其中，负载包括多个发光二极管，所述驱动集成电路是发光二极管驱动集成电路。
13.根据权利要求2所述的驱动集成电路，所述驱动集成电路还包括：测试电流源，连接到测试电阻器，以供给测试电流。
14.根据权利要求13所述的驱动集成电路，其中，当校准完成时，测试电流源截止。
15.根据权利要求1所述的驱动集成电路，其中，参考电压设置电路包括被构造成接收测试电压的校准电路。
16.根据权利要求15所述的驱动集成电路，其中，参考电压设置电路包括被构造成输出参考电压的参考电压产生电路。
17.根据权利要求16所述的驱动集成电路，其中，参考电压产生电路被构造成将可变电压输出到校准电路，校准电路包括将可变电压与测试电压进行比较的比较器。
18.根据权利要求17所述的驱动集成电路，其中，负载电流控制单元包括：比较器，被构造成将负载电压与参考电压进行比较，并输出比较结果，负载电流控制单元中的比较器的类型与校准电路中的比较器的类型相同。
19.一种图像显示装置，所述图像显示装置包括图像显示单元、光源和驱动集成电路，图像显示单元被构造成显示图像信号，光源被构造成向图像显示单元提供光，驱动集成电路被构造成保持从外部施加到光源的负载电流恒定，驱动集成电路包括：
参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；
负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与参考电压进行比较，并基于比较结果保持负载电流恒定。
20.根据权利要求19所述的图像显示装置，其中，图像显示单元是大面板显示单元。
21.根据权利要求20所述的图像显示装置，其中，光源包括布置在大面板显示单元的***中的多个光源。
22.根据权利要求20所述的图像显示装置，其中，光源包括相邻于大面板显示单元按矩阵布置的多个光源。
23.根据权利要求19所述的图像显示装置，其中，图像显示单元是便携式显示单元。
24.根据权利要求23所述的图像显示装置，其中，光源包括布置在便携式显示单元的***中的多个光源。
25.根据权利要求23所述的图像显示装置，其中，光源包括相邻于便携式显示单元按矩阵布置的多个光源。
26.一种用于图像显示装置的背光单元，所述背光单元包括光源和驱动集成电路，光源被构造成向图像显示装置提供光，驱动集成电路被构造成保持从外部施加到光源的负载电流恒定，驱动集成电路包括：
参考电压设置电路，被构造成基于测试电压输出参考电压；
负载电流控制单元，被构造成响应于在负载中流动的负载电流将从负载电阻器输出的负载电压与参考电压进行比较，并基于比较结果保持负载电流恒定。
27.根据权利要求26所述的背光单元，其中，光源包括布置在所述背光单元的***中的多个发光二极管源。
28.根据权利要求26所述的背光单元，其中，光源包括按矩阵布置的多个发光二极管源。
29.根据权利要求26所述的背光单元，其中，光源包括用于移动式装置的发光二极管源。
30.一种多通道驱动***，所述多通道驱动***包括：
多个驱动集成电路；
参考电压设置电路，适于向所述多个驱动集成电路中的每个驱动集成电路提供相应的参考电压，参考电压产生电路包括参考电压源，参考电压源适于基于测试电压提供源参考电压；
校准电路，被构造成从每个驱动集成电路接收感测的电压，并根据每个感测的电压和源参考电压中相应选择的源参考电压来产生相应的参考电压。
31.根据权利要求24所述的多通道驱动***，其中，参考电压源和校准电路中的至少一个对于所述多个驱动集成电路是共享的。
32.一种驱动光源的方法，所述方法包括如下步骤：
根据测试电压校准参考电压；
当校准完成时，将参考电压供给到电流驱动器；
利用电流驱动器驱动光源。
33.根据权利要求32所述的方法，其中，所述方法还包括：当校准完成时，停止校准。
34.根据权利要求32所述的方法，其中，所述方法还包括：使用测试电阻器产生测试电压，测试电阻器相邻于电流驱动器中的电阻器，并连接到测试电流源。
35.根据权利要求34所述的方法，其中，所述方法还包括：当校准完成时，截止测试电流源。
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