CN101853706A - 测试装置、测试方法和程序 - Google Patents

Abstract

一种测试装置，包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较输入信号的故障出现率与所述随机数数据。当所述随机数数据小于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

Description

测试装置、测试方法和程序

技术领域

本发明涉及使用测试矢量数据测试经历检查的电路的测试装置、测试方法和程序，在所述测试矢量数据中描述要输入经历检查的电路的输入信号。

背景技术

近年来，使用电子电路的***发展有更高的功能和更多复杂性。结果，在这样的***中安装的硬件具有更大的电路规模和增加的复杂性。在***设计中，硬件和软件的验证对于确保***如所指定的一样运转是非常重要的。

在硬件设计中，功能的验证占据了大部分设计时段。随着电路的规模和复杂性增加，用于这种功能的验证的工时(person-hours)数也在增加。在这种背景的情况下，考虑用于缩短功能的验证的措施。缩短验证时段的示例性方法包括通过硬件仿真的加速缩短验证时段的方法和随机生成测试矢量数据的方法。

在日本未审专利申请公开No.2001-167141、2006-58172和2007-47109中公开了涉及测试矢量的创建和验证的技术。

日本未审专利申请公开No.2001-167141公开了故障仿真器。该故障仿真器执行具有对应于操作模式激活的不同组件部分的集成电路的故障仿真，并且基于电路设计数据分类测试矢量。仿真器然后使用分类的测试矢量执行每一操作模式的集成电路的故障仿真。

日本未审专利申请公开No.2006-58172公开了测试模式生成程序。该测试模式生成程序基于网络列表(netlist)生成电路的端子信息，选择激活生成的端子信息的端子的激活测试序列，并且使用该激活测试序列生成测试序列。

在日本未审专利申请公开No.2007-47109中，包括在测试数据中的信息(如信号信息)分类为用于创建中间数据的每个类型，并且故障信息添加到中间数据以创建用于故障分析的测试数据。

以此方式，在日本未审专利申请公开No.2001-167141、2006-58172和2007-47109中，使用电路信息、故障信息等创建测试矢量，或者使用电路信息、故障信息等选择适当的测试矢量。

发明内容

在实际生产点，通常通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数据的验证来执行硬件功能的验证。

在使用测试矢量数据的验证中，设计者创建矢量。因此，可能为验证创建高质量、检测硬件缺陷的可能性高和适于经历验证的电路的测试矢量数据。

然而，在手动地创建测试矢量数据的情况下，花费时间和精力来创建测试矢量数据。结果，极难在短的设计时段中创建足够的测试矢量数据。还难以用不同于创建的测试矢量数据的矢量数据验证。

另一方面，在使用随机矢量数据的验证中，因为不是手动地生成随机矢量数据，所以不花费时间和精力来创建矢量数据。

然而，在随机矢量数据中，包括不可能手动创建为测试矢量数据的矢量数据项。在使用随机矢量数据的验证中，要验证的矢量数据的数目因此增加，并且仿真时段结果比使用测试矢量数据的验证的仿真时段长。

结果，在实际生产点，即使通过组合使用测试矢量数据的验证和使用随机矢量数据的验证来验证硬件功能，也难以在短时间段中完成硬件功能的充分验证。

希望提供一种测试装置、测试方法和程序，其能够通过改进硬件功能的验证的效率缩短验证时段。

根据本发明实施例的测试装置包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据。在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

优选地，所述测试装置还可以包括程序存储器单元，存储其中描述转换规则的转换程序，以便从其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据，其中描述不同于能够输入经历检查的电路的标准输入信号的输入信号。所述矢量生成器可以执行所述转换程序以从原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据。

根据本发明另一实施例的测试方法包括以下步骤：从存储原始测试矢量数据的存储器单元读取所述原始测试矢量数据，其中描述要输入经历检查的电路的输入信号；生成随机数数据；从存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率的存储器单元读取对应于读取的原始测试矢量数据的输入信号的故障出现率；比较生成的随机数数据与读取的输入信号的故障出现率；从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；以及输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据。在比较步骤中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，通过生成步骤生成生成的测试矢量数据，并且在输出步骤中输出通过生成步骤生成的生成的测试矢量数据，并且在比较步骤中所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，在输出步骤中输出所述原始测试矢量数据。

根据本发明另一实施例的程序使得具有存储器单元和处理电路并且用作测试装置的计算机测试经历检查的电路，以便执行：用于从存储器单元读取原始测试矢量数据的过程，所述原始测试矢量数据存储在存储器单元中，并且其中描述要输入经历检查的电路的输入信号；用于生成随机数数据的过程；从存储器单元读取输入信号的故障出现率的步骤，所述故障出现率存储在存储器单元中并且在原始测试矢量数据中描述；用于比较生成的随机数数据与输入信号的读取的故障出现率的过程；用于从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据的过程；以及用于输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据的过程。在比较过程中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，用生成过程生成生成的测试矢量数据，并且使得在输出过程中输出用生成过程生成的生成的测试矢量数据，并且在比较过程中所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，使得在输出过程中输出所述原始测试矢量数据。

在上面三个实施例中，从原始测试矢量数据生成测试矢量数据。因此，用户不必生成用于验证的所有测试矢量数据。因此，可以缩短由用户生成测试矢量数据的时段。

此外，在上面三个实施例中，每个原始测试矢量数据项以对应于每一项的输入信号中故障出现的概率转换为生成的测试矢量数据。也就是说，在上面三个实施例中，对于有信号的故障出现概率的故障出现的情况，可能测试在原始测试矢量数据中描述的输入信号。

此外，在上面三个实施例中，通过转换原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据。也就是说，限制生成的矢量数据的随机性。因此，如在使用随机矢量数据的验证的情况下，抑制自动生成的矢量数据的增加。

在本发明的实施例中，可以通过改进硬件功能的验证的效率缩短验证时段。

附图说明

图1是图示根据本发明实施例的测试装置的示意性配置图；

图2是图1的测试装置的详细的示意性配置图；

图3A和3B图示图2的序列定义文件组的一个示例，其中图3A是故障出现率表，并且图3B是用于每个输入信号的转换程序；

图4是图示通过图1的测试装置的测试矢量数据生成处理的流程的流程图；

图5图示图1的测试矢量文件的数据结构的一个示例；

图6图示通过图2的矢量生成器生成的测试矢量文件的数据结构的一个示例；

图7图示图2的激活日志文件的数据结构的一个示例；

图8是图示根据本发明的另一实施例的测试装置的示意性配置图；

图9A和9B图示图8的序列定义文件组的一个示例，其中图9A是故障出现率表，并且图9B是用于每个输入信号的转换程序；以及

图10是图示根据本发明实施例的修改的测试装置的示意性配置图。

具体实施方式

下面将参照附图以以下顺序给出本发明实施例的描述：

1.实施例(对于用于验证的每个输入信号，通过转换具有故障出现概率的原始测试矢量生成测试矢量数据的示例)

2.另一实施例(对应于另一输入信号的故障出现改变输入信号的故障出现概率的示例)

<实施例>

[测试装置的配置]

根据本发明实施例的测试装置仿真电路描述程序，其中描述经历检查的电路(DUT：测试下的设计)以检查电路的功能。测试装置可以以信号的故障出现概率转换由电路描述程序的仿真中的用户创建的测试矢量数据来执行仿真。

电路描述程序可以是其中描述经历检查的电路的程序。

作为这种电路描述程序，例如，存在在RTL(寄存器传输级)中描述的硬件模型程序。

不同于此，电路描述程序还可以是以低于在摘要(abstraction)的级别中的RTL的门级别描述的硬件模型程序，或者是以高于在摘要的级别中的RTL的操作级别描述的程序。

用于描述电路的程序语言可以是例如Verilog、VHDL、可以在操作级别描述电路的语言(如***C)等的描述语言。

测试矢量数据是其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的数据。如在随后描述的图5中示例的，测试矢量数据是其中以0(低电平)和1(高电平)的数据阵列描述输入信号的波形的数据。

图1是图示根据实施例的测试装置1的示意性配置图。图2是图1的测试装置1的详细配置图。

图1中的测试装置1可以以这样的方式提供，在具有存储器单元、输入单元、输出单元和连接到它们的处理电路的计算机中，处理电路执行在存储器单元中存储的程序。在此情况下，处理电路执行用于在图1和图2中图示的各种功能的处理。用于在计算机中提供测试装置1的程序可以记录在计算机可读记录介质(如CD-ROM(致密盘只读存储器))中并且安装在计算机中。程序还可以通过传输介质(如网络)从服务器下载并且安装在计算机中。

图1中的测试装置1具有EDA(电子设计自动化)单元2和仿真单元3。EDA单元2还具有存储器单元4、矢量测试单元6和故障生成器7。EDA单元2输出测试矢量到仿真单元3。

仿真单元3使用作为电路描述程序的输入数据的测试矢量数据执行电路描述程序。电路描述程序可以例如存储在存储器单元4中。

在使用测试矢量数据仿真的情况下，仿真单元3虚拟地仿真在给出输入信号到经历检查的电路的情况下的电路行为。通过该仿真，仿真单元3然后获得电路描述程序的执行结果的输出数据。输出数据对应于其中描述经历检查的电路的输出信号的数据。仿真单元3输出仿真的输出数据到EDA单元2的矢量测试单元6。

EDA单元2的存储器单元4存储测试矢量文件5。在测试矢量文件5中，存储测试矢量数据，其对应于要验证的电路由用户创建。在特别区分于随后描述的生成的测试矢量数据的情况下，包括在测试矢量文件5中的这种测试矢量数据下面称为原始测试矢量数据。

图5图示测试矢量文件5的一个示例。在测试矢量文件5中，包括测试矢量数据，其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号。测试矢量数据与其中描述的输入信号的名称相关联。

图5中的测试矢量文件5包括在电视信号中包括的垂直同步信号vsync的测试矢量数据和水平同步信号hsync的测试矢量数据。垂直同步信号vsync的测试矢量数据包括001000000...0000的数据阵列。第三数据位1指示垂直同步信号vsync的垂直同步脉冲。水平同步信号hsync的测试矢量数据包括001000000001000的数据阵列。第三数据位1和第十二数据位1指示水平同步信号hsync的水平同步脉冲。

测试矢量文件5中包括的测试矢量数据可以是由用户创建的标准测试矢量数据。标准测试矢量数据意味着由数据阵列组成的测试矢量数据，该数据阵列中用0和1描述要输入到经历检查的电路的输入信号的标准波形。

矢量测试单元6从测试矢量文件5读取测试矢量数据。矢量测试单元6还将读取的测试矢量数据输出到故障生成器7。因此，测试矢量文件5中包括的测试矢量数据经由故障生成器7输出到仿真单元3。

在没有故障生成器7的一般EDA单元2中，矢量测试单元6将测试矢量数据直接输出到仿真单元3。以此方式，测试矢量文件5中包括的测试矢量数据是能够直接用于仿真单元3中的仿真的数据。

如图2所示，故障生成器7具有随机数生成器11、故障确定部分12、矢量生成器13、输出部分14和激活数据保存部分15。故障生成器7使用序列定义文件组16、操作模式文件17和激活日志文件18。这些文件存储在存储器单元4中。

图3A和3B图示序列定义文件组16的一个示例。序列定义文件组16包括图3A中的故障出现率表16-1和图3B中的用于每个输入信号的多个转换程序16-2。

如图13A所示，故障出现率表16-1具有输入经历检查的电路的多个输入信号的故障出现率(％)的值。每个输入信号的故障出现率的值与输入信号的名称相关联。

输入信号的故障出现率(％)可以是示出对应于通信环境等可以实际出现的输入信号中的错误率。例如，在用于接收电视波段的电路的情况下，它们可以是在垂直同步信号中出现的故障出现率(％)和在水平同步信号中出现的故障出现率(％)。图3A中的示例是垂直同步信号vsync没有变为具有0.00001的概率的高电平的情况的示例。该示例也是水平同步信号hsync没有变为具有0.00001的概率的高电平的情况的示例。

图3B中示出的用于每个输入信号的转换程序16-2是用于将原始测试矢量数据转换为不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据的程序。

具体地，例如，转换程序16-2可以是用于将其中描述标准输入信号的标准测试矢量数据转换为不同于标准测试矢量数据的验证测试矢量数据的程序。例如，在要输入有通信数据等的电路中使用这种验证测试矢量数据允许验证当通信出故障时的行为。

转换程序16-2可以是以例如C语言、C+语言、***C、VHDL或Verilog描述的。转换程序16-2还可以提供在专用硬件中。

这里，验证测试矢量数据意味着其中描述可能和实际输入经历检查的电路的输入信号的波形的测试矢量数据，以及不同于其中描述标准波形的标准测试矢量数据的测试矢量数据。

不同于标准波形，作为可能和实际输入经历检查的电路的输入信号的波形，例如存在具有从标准波形中包括的脉冲变化的脉冲宽度、位置或大小的波形。仍不同于此，例如在不具有要输入到其的输入信号的情况下，还存在波形。

然后，在验证例如输入信号没有输入经历检查的电路的情况下，转换程序16-2可以是用于将测试矢量数据的所有值转换为0的程序。

仍不同于此，在验证例如输入信号中包括的脉冲的位置偏移的情况下，转换程序16-2可以是用于在数据阵列中向后和向前转移测试矢量数据中的位数据1的位置的程序。

操作模式文件17包括示出故障生成器7的操作模式的数据。故障生成器7具有正常模式和再现模式的操作模式。

正常模式是用于转换从矢量测试单元6输入的原始测试矢量数据以生成新的测试矢量数据的模式。

如随后所述，再现模式是不管随机数生成结果和故障确定结果，使用激活数据转换原始测试矢量数据以再现之前生成的测试矢量数据的模式。这使得能够再现之前生成的测试矢量数据中改变的时间和内容，并且再现之前执行的仿真。

在存储器单元14中存储的数据(如操作模式文件17的值)可以响应于用户操作通过未示出的输入单元来修改。

随机数生成器11在从0到1的范围内生成实数值(有限值)的随机数数据。

例如，可以通过马特赛特旋转演算法(Mersenne twister)或线性同余方法的随机函数rand()生成随机数数据。

不同于此，随机数数据还可以使用例如由操作***准备的随机数生成器(如/dev/random)以获得从0到1的范围内的实数值(有限值)。

线性同余方法的随机函数rand()生成随机数阵列，其中一旦种子(seed)固定，此后的多个随机数值就变得相同。相反，/dev/random提取输入设备等的输入值以生成随机数值，因此完全生成随机数。

随机数生成器11将生成的随机数数据输出到故障确定部分12。

故障确定部分12比较由随机数生成器11生成的随机数数据和故障出现率表16-1中存储的故障出现率。故障确定部分12然后判断在随机数数据小于故障出现率的情况下出现故障，并且判断在随机数数据不小于故障出现率的情况下不出现故障。故障确定部分12将示出是否出现故障的判断结果输出到矢量生成器13。

矢量生成器13对应于操作模式和是否出现故障的判断结果选择要输出的测试矢量数据。

矢量生成器13还从输入故障生成器7的测试矢量数据生成测试矢量数据。生成的测试矢量数据的数据阵列不同于输入故障生成器7的原始测试矢量数据的数据阵列。由矢量生成器13生成的测试矢量数据下面称为生成的测试矢量数据。

具体地，矢量生成器13在正常模式的情况下执行图3B中用于每个输入信号的转换程序16-2，以便从原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据。

矢量生成器13从例如图5中示出的原始标准测试矢量数据生成图6中的验证测试矢量数据。在图6的验证测试矢量数据中，垂直同步信号vsync中第三数据块从0修改为1。此外，水平同步信号hsync中第十二数据块从0修改为1。

在再现模式的情况下，矢量生成器13使用随后描述的图5中的激活日志文件18的差别数据，从输入的原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据。

矢量生成器13然后将选择的测试矢量数据输出到输出部分14。在生成测试矢量数据的情况下，矢量生成器13输出生成的测试矢量数据的原始测试矢量数据到激活数据保存部分15。

输出部分14将由矢量生成器13选择的测试矢量数据输出到仿真单元3。

激活数据保存部分15在激活日志文件18中积累用于由矢量生成器13生成的测试矢量数据的再现的激活数据。

图5图示激活日志文件18的一个示例。在激活日志文件18中，积累用于由矢量生成器13生成的生成的测试矢量数据的再现的激活数据(再现数据)。在图5的示例中，在激活日志文件18中，积累输入矢量生成器13的原始测试矢量数据和由矢量生成器13生成的生成的测试矢量数据之间的差别的数据。具体地，积累这样的差别数据，其示出垂直同步信号vsync中的第三数据块被修改和水平同步信号hsync中的第十二数据块被修改。

[测试装置的行为]

图4是图示直到测试矢量数据输出到仿真单元3、图1的测试装置1中的行为的流程的流程图。图5图示在测试矢量文件5中存储的标准测试矢量数据的一个示例。图6图示基于图5中的标准测试矢量数据由矢量生成器13生成的验证测试矢量数据的一个示例。图7图示在基于图5中的标准测试矢量数据生成图6中的验证测试矢量数据的情况下、在激活日志文件18中存储的激活数据的一个示例。

在由用户创建的图5的标准测试矢量数据存储在图1的测试矢量文件5中的状态下，矢量测试单元6从测试矢量文件5读取每个信号名称的标准测试矢量数据用于输出。在图5的情况下，矢量测试单元6首先读取垂直同步信号vsync的标准测试矢量数据用于输出。在此情况下，故障生成器7执行图4中的流程图。

当测试矢量输入故障生成器7时(步骤ST1)，矢量生成器13从操作模式文件17读取当前设置的操作模式(步骤ST2)。

在读取的操作模式是正常模式的情况下，故障确定部分12从随机数生成器11获得随机数数据。随机数生成器11生成具有在从0到1的范围内的值的随机数数据(步骤ST3)。

当输入随机数数据时，故障确定部分12从序列定义文件组16的图3A中的故障出现率表16-1读取对应于输入的测试矢量数据的输入信号的故障出现率的值，以便判断故障。在输入垂直同步信号vsync的标准测试矢量数据的情况下，故障确定部分12读取与信号名称vsync相关联的0.00001％的故障出现率(步骤ST4)。

接下来，故障确定部分12比较随机数数据的值与故障出现率。在随机数数据的值小于故障出现率的值的情况下，故障确定部分12然后判断出现故障。相反，在随机数数据的值不小于故障出现率的值的情况下，故障确定部分12判断未出现故障。故障确定部分12输出是否出现故障的判断结果到矢量生成器13。

当输入是否出现故障的判断结果时，矢量生成器13基于输入的是否出现故障的判断结果判断处理内容(步骤ST5)。

例如，在故障确定部分12确定没有出现故障的情况下(如步骤ST5中否的判断的情况)，矢量生成器13将从矢量测试单元6输入的测试矢量数据直接输出到输出部分14(步骤ST6)。结果，输出部分14将存储器单元4中存储的测试矢量数据输出到仿真单元3。在图5的情况下，输出部分14将垂直同步信号vsync的标准测试矢量数据输出到仿真单元3。

在图5的测试矢量文件5中，除了垂直同步信号vsync的标准测试矢量数据，还包括水平同步信号hsync的标准测试矢量数据。因此，矢量测试单元6然后读取水平同步信号hsync的标准测试矢量数据以输出到故障生成器7。故障生成器7执行上述图4中的处理。在故障确定部分12再次确定未出现故障的情况下(如步骤ST5中否的判断的情况)，故障生成器7的输出部分14然后输出存储器单元4中存储的水平同步信号hsync的标准测试矢量数据到仿真单元3(步骤ST6)。

当输入预定的测试矢量数据时，仿真单元3使用作为输入的输入测试矢量数据执行电路描述程序。仿真单元3还输出作为仿真的结果生成的输出数据到矢量测试单元6。矢量测试单元6例如将输出数据保存在存储器单元4中。矢量测试单元6还比较输出数据与未示出的预定预期数据，以便将比较结果(一致或不一致)保存在存储器单元4中。

基于输出数据或存储器单元4中存储的比较结果，在输入标准输入信号的情况下，用户可以判断验证的电路描述程序的电路是否可以提供希望的功能。在难以提供希望的功能的情况下，用户可以改正电路描述程序并且重复验证。

不同于此，例如在图4的步骤ST5中，在故障确定部分12确定出现故障(是)的情况下，矢量生成器13开始生成测试矢量数据的处理(步骤ST7)。

在正常模式中生成测试矢量数据的处理中，矢量生成器13首先读取序列定义文件组16中的图3B的转换程序16-2。接下来，矢量生成器13执行读取的转换程序16-2，并且转换从矢量测试单元6输入的测试矢量数据以生成测试矢量数据。例如，在转换程序16-2是验证未输入输入信号的状态的程序的情况下，矢量生成器13生成验证测试矢量数据，其中标准测试矢量数据中包括的所有数据块1用数据块0替换。

然后，矢量生成器13将输入的标准测试矢量数据和生成的验证测试矢量数据输出到激活数据保存部分15(步骤ST8)。首先，激活数据保存部分15例如从标准测试矢量数据减去验证测试矢量数据，以生成差别测试矢量数据。激活数据保存部分15然后生成示出矢量数据中、在差别测试矢量数据中出现的不一致位数据的位置的差别数据，以将差别数据保存在激活日志文件18中。在图5和6中的垂直同步信号vsync的情况下，如图7所示，将(3，vsync)的差别数据保存在激活日志文件18中。

矢量生成器13还将生成的测试矢量数据输出到输出部分14(步骤ST9)。输出部分14将从矢量生成器13输入的测试矢量数据输出到仿真单元3。

随后，矢量测试单元6读取水平同步信号hsync的标准测试矢量数据以输出到故障生成器7。在此情况下，故障生成器7重复执行上述图4中的处理。

在故障确定部分12在步骤ST5再次确定出现故障(是)的情况下，故障生成器7的矢量生成器13然后输出验证测试矢量数据和标准测试矢量数据到激活数据保存部分15(步骤ST8)。激活数据保存部分15然后生成示出矢量数据中、在差别测试矢量数据中出现的不一致位数据的位置的差别数据，以将差别数据保存在激活日志文件18中。在图5和6中的水平同步信号hsync的情况下，如图7所示，将(12，hsync)的差别数据保存在激活日志文件18中。

矢量生成器13还使用从序列定义文件组16读取的转换程序16-2转换输入的水平同步信号hsync的标准测试矢量数据(步骤ST9)。矢量生成器13还将新生成的验证测试矢量数据输出到激活数据保存部分15和仿真单元3。

在上面处理的情况下，在该示例中，将图6中示出的垂直同步信号vsync的验证测试矢量数据和水平同步信号hsync的验证测试矢量数据输入仿真单元3。仿真单元3使用作为输入信号的数据的多个输入的验证测试矢量数据项执行电路描述程序。仿真单元3将作为执行的结果生成的输出数据输出到矢量测试单元6。矢量测试单元6将输出数据保存在存储器单元4中。矢量测试单元6还比较输出数据与未示出的预期数据，以便将比较结果(一致或不一致)保存在存储器单元4中。

基于输出数据或存储器单元4中存储的比较结果，在输入不同于标准输入信号的信号的情况下，用户可以判断验证的电路描述程序的电路是否提供希望的功能。在难以提供希望的功能的情况下，用户可以改正电路描述程序。

此外，例如在图4的步骤ST2中，在操作模式判断为再现模式的情况下，矢量生成器13开始在再现模式中生成测试矢量数据的处理。矢量生成器13开始处理以再现与在过去生成的验证测试矢量数据相同的测试矢量数据。

在再现模式中生成测试矢量数据的处理中，矢量生成器13首先从激活日志文件18读取差别数据。接下来，矢量生成器13使用读取的差别数据修改从矢量测试单元6输入的标准测试矢量数据，以生成再现的验证测试矢量数据。例如，在图7中的激活日志文件18的情况下，矢量生成器13在垂直同步信号vsync的测试矢量数据中将第三数据位修改为1，并且在水平同步信号hsync的测试矢量数据中将第十二数据位修改为1。在此情况下，再现图6中的验证测试矢量数据。

矢量生成器13将再现的验证测试矢量数据输出到输出部分14。输出部分14将从矢量生成器13输入的测试矢量数据输出到仿真单元3(步骤ST11)。

通过对输入信号的测试矢量数据重复执行上面的再现处理，例如，图6中垂直同步信号vsync的再现的验证测试矢量数据和水平同步信号hsync的再现的验证测试矢量数据输入仿真单元3中。仿真单元3使用作为用于输入信号的数据的多个再现的验证测试矢量数据执行电路描述程序。

仿真单元3还将作为执行的结果生成的输出数据输出到矢量测试单元6。矢量测试单元6将输出数据保存在存储器单元4中。矢量测试单元6还比较输出数据与未示出的预期数据，以便将比较结果(一致或不一致)保存在存储器单元4中。

基于输出数据或存储器单元4中存储的比较结果，用户例如可以确认在实现校正之前电路描述程序的电路不能提供希望的功能，以便通过校正提供希望的功能。

如上，在该实施例中，在随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，生成随机数数据以将生成的验证测试矢量数据输出到经历检查的电路。在随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，将标准测试矢量数据输出到经历检查的电路。

因此，在该实施例中，可以将其中以在输入信号中实际生成的故障出现率出现故障的测试矢量数据输入经历验证的电路。

在该实施例中，矢量生成器13从其中描述输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生成不同于标准测试矢量数据的验证测试矢量数据。

具体地，在该实施例中，使用转换程序16-2生成验证测试矢量数据，该转换程序16-2中描述用于从其中描述标准输入信号的标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据的转换规则。

因此，生成的验证测试矢量数据变为包括在由标准测试矢量数据限制的范围内的故障的测试矢量数据。生成的验证测试矢量数据变为近似标准测试矢量数据的测试矢量数据。在生成的验证测试矢量数据中包括的数据故障限制于在输入信号中实际出现的信号故障。也就是说，生成的验证测试矢量数据变为适于电路验证的测试矢量数据。

为此原因，在该实施例中由矢量生成器13生成的验证测试矢量数据不变为作为随机生成的矢量数据的不可能输入经历检查的电路的矢量数据。

在该实施例中，使用转换程序16-2从标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据。因此，在该实施例中，可以基于确定规则生成验证测试矢量数据。

因此，在该实施例中，可以准备其中例如时钟信号描述为标准测试矢量数据的测试矢量数据，并且可以使用其中转移时钟脉冲的位置的转换规则描述为用于时钟信号的转换程序16-2的程序。

以此方式，在该实施例中，转移时钟脉冲的位置使得能够验证用于在经历检查的电路中执行时钟切换的部分。

例如，在一个半导体设备中实现具有不同传输速率的两个电路的情况下，在两个电路之间出现这种时钟切换。具体地，可以在处理以太

的通信分组的半导体设备、处理数字广播信号的半导体设备等中生成这种时间切换。

在该实施例中，类似于上述时钟信号的脉冲位置，还可以转移数据信号改变的位置。

在此情况下，在该实施例中，可以准备其中描述数据信号的测试矢量数据作为标准测试矢量数据，并且可以使用其中描述用于转移数据信号改变的位置的转换规则的程序作为用于数据信号的转换程序16-2。

<另一实施例>

[测试装置的配置]

图8图示根据本发明另一实施例的经历检查的电路的测试装置1的配置。在具有仿真单元3和包括存储器单元4、矢量测试单元6和故障生成器7的EDA单元2方面，根据该实施例的测试装置1和根据之前描述的实施例的测试装置1是一样的。

然而，在该实施例中的故障生成器7的序列定义文件组16A中，在包括存储对应于在另一输入信号中出现的故障而变化的多个故障出现概率的故障出现率表16-1A的方面，该测试装置1不同于根据之间描述的实施例的测试装置1。

图9A和9B图示图8的序列定义文件组16A的一个示例。如图9A所示，序列定义文件组16A的故障出现率表16-1A具有用于水平同步信号hsync的两个故障出现率。在这两个故障出现率中，左边的故障出现率1是在水平同步信号hsync不出现故障情况下的故障出现率。右边的故障出现率2是在水平同步信号hsync出现故障情况下的故障出现率。右边的故障出现率2在值(100％，在该示例中)上高于左边的故障出现率1。

以此方式，在该实施例的故障出现率表16-1A中，可能描述要输入电路的多个输入信号之间的相关性。

[测试装置的行为]

当矢量测试单元6从测试矢量文件5读取每个信号名称的标准测试矢量数据并且输出到故障生成器7时(步骤ST1)，故障生成器7执行图4中的流程图。

矢量生成器13从操作模式文件17读取当前设置的操作模式(步骤ST2)。

在读取的操作模式是正常模式的情况下，故障确定部分12从随机数生成器11获得随机数数据。随机数生成器11生成随机数数据以输出到故障确定部分12(步骤ST3)。

当输入随机数数据时，故障确定部分12从序列定义文件组16A的图9A中的故障出现率表16-1A读取对应于输入的测试矢量数据的输入信号的故障出现率的值。故障确定部分12还从激活日志文件18读取另一信号中是否出现故障(步骤ST4)。

例如，在处理水平同步信号hsync的情况下，当在垂直同步信号vsync中不出现故障时，故障确定部分12读取图9A中左边的故障出现率1的值。当在垂直同步信号vsync中出现故障时，故障确定部分12读取图9A中右边的故障出现率2的值。

故障确定部分12然后比较随机数数据的值与故障出现率，以便将是否出现故障的判断结果输出到矢量生成器13。

步骤ST5之后矢量生成器13的行为和正常模式下的其余行为与之前描述的实施例中的那些相同。

也就是说，例如在正常模式下不出现故障的情况下(步骤ST5中否的情况)，矢量生成器13选择从测试矢量文件5读取的原始标准测试矢量数据(步骤ST6)。输出部分14将标准测试矢量数据输出到仿真单元3。仿真单元3使用标准测试矢量数据执行经历检查的电路的仿真。

在正常模式下出现故障的情况下(步骤ST5中是的情况)，矢量生成器13执行转换程序16-2并且转换原始标准测试矢量数据以生成验证测试矢量数据(步骤ST7)。输出部分14将验证测试矢量数据输出到仿真单元3(步骤ST9)。仿真单元3使用验证测试矢量数据执行经历检查的电路的仿真。

在步骤ST2中判断为再现模式的情况下，矢量生成器13应用激活日志文件18的差别数据到原始标准测试矢量数据，以生成验证测试矢量数据(步骤ST10)。输出部分14将验证测试矢量数据输出到仿真单元3(步骤ST11)。仿真单元3使用验证测试矢量数据执行经历检查的电路的仿真。

尽管上面的实施例是本发明的优选实施例的示例，但是本发明不限于他们，而是可以进行各种修改或替换而不背离本发明的范围。

例如，图3A和3B中的序列定义文件组16或图9A和9B中的序列定义文件组16A包括转换原始测试矢量数据以生成测试矢量生成程序的转换程序16-2。不同于此，例如，序列定义文件组16和16A还可以包括转换程序16-2和由转换程序16-2读取的多个转换定义数据项。然后，例如，对应于随机数数据的值区分由转换程序16-2读取的转换定义数据，使得能够从一个原始测试矢量数据项生成对应于多个输入故障的多个验证测试矢量数据项。

转换程序16-2还可以是转换不同于标准测试矢量数据的测试矢量数据的程序。

在上述每个实施例中，为了便于描述，在存储器单元4中存储由设计者创建的一个测试矢量文件5和一对序列定义文件组16。

不同于此，例如，在实际应用中还可以在存储器单元4中存储由设计者创建的多个测试矢量文件5和多对序列定义文件组16。

以此方式，即使在存储器单元4中存储多个测试矢量文件5的情况下，也可以从测试矢量文件5中包括的多个测试矢量数据项生成不同于它们的多个测试矢量数据项，使得可以减少设计者应该创建的测试矢量数据项的数目。

如图1所示，上述每个实施例是在经历检查的电路是在仿真单元3中执行的电路描述程序的情况下的示例。不同于此，例如，经历检查的电路还可能是制造的电路，例如半导体设备等。

图10是图示根据本发明实施例的修改的测试装置的示意性配置图。测试装置1是用于检查制造的半导体设备23，并且具有与图1中的EDA单元2相同功能的EDA单元21和连接到半导体设备23的测试I/F 22。

测试I/F 22将基于由EDA单元21输出的测试矢量数据的输出信号输出到半导体设备23。测试I/F 22还采样由半导体设备23输出的输入信号以生成输出数据。测试I/F 22将生成的输出数据输出到矢量测试单元6。

在此情况下，图10中的测试装置1可以对制造的半导体设备23执行类似于上述每个实施例的验证。

在测试装置1中，测试I/F 22可以是为测试半导体设备23专用提供的接口，或者可以是测试装置1的通用数据输入和输出部分。

本申请包含涉及于2009年3月4日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2009-050278中公开的主题，在此通过引用并入其全部内容。

本领域技术人员应当理解，取决于设计要求和其他因素，可出现各种修改、组合、子组合和更改，只要它们在权利要求或其等效物的范围内。

Claims (10)

1.一种测试装置，包括：

矢量存储器单元，存储其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；

矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；

输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；

故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；

随机数生成器，生成随机数数据；以及

比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据；

其中在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。

2.如权利要求1所述的测试装置，其中所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据作为原始测试矢量数据。

3.如权利要求1或2所述的测试装置，还包括程序存储器单元，存储其中描述转换规则的转换程序，以便从其中描述要输入经历检查的电路的标准输入信号的标准测试矢量数据生成验证测试矢量数据，在所述验证测试矢量数据中描述不同于能够输入经历检查的电路的标准输入信号的输入信号，

其中所述矢量生成器执行所述转换程序，以便从所述原始测试矢量数据生成所述生成的测试矢量数据。

4.如权利要求3所述的测试装置，其中：

所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的多个输入信号的多个原始测试矢量数据项；

所述故障出现率存储器单元在另一原始测试矢量数据项中不出现故障的情况下存储低故障出现率，而在另一原始测试矢量数据项中出现故障的情况下存储高故障出现率，作为在多个原始测试矢量数据项的一个原始测试矢量数据项中描述的输入信号的故障出现率；并且

所述比较部分在另一原始测试矢量数据项中不出现故障的情况下比较低故障出现率与随机数数据，而在另一原始测试矢量数据项中出现故障的情况下比较高故障出现率与随机数数据。

5.如权利要求1所述的测试装置，其中：

所述矢量存储器单元存储其中描述要输入经历检查的电路的多个输入信号的多个原始测试矢量数据项；

所述故障出现率存储器单元为在分别对应于所述矢量存储器单元中存储的多个原始测试矢量数据项的每个原始测试矢量数据项中描述的每个输入信号存储多个故障出现率；并且

所述比较部分为每个原始测试矢量数据项比较其中描述的输入信号的故障出现率与随机数数据。

6.如权利要求1所述的测试装置，还包括再现数据存储器单元，其积累和存储再现数据，以便再现由所述矢量生成器生成的所述生成的测试矢量数据，

其中所述矢量生成器使用在再现数据存储器单元中存储的再现数据，从原始测试矢量数据再现所述生成的测试矢量数据。

7.如权利要求6所述的测试装置，其中：

所述再现数据存储器单元存储对于生成的测试矢量数据示出从原始测试矢量数据修改的点的差别数据作为再现数据；并且

所述矢量生成器通过将所述再现数据存储器单元中存储的再现数据应用到原始测试矢量数据，再现生成的测试矢量数据。

8.如权利要求1所述的测试装置，包括仿真单元，使用从输出部分输出的测试矢量数据作为输入数据，执行电路描述程序的仿真，

其中在电路描述程序中描述经历检查的电路。

9.一种测试方法，包括以下步骤：

从存储原始测试矢量数据的存储器单元读取其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；

生成随机数数据；

从存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率的存储器单元读取对应于读取的原始测试矢量数据的输入信号的故障出现率；

比较生成的随机数数据与读取的输入信号的故障出现率；

从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；以及

输出要输入到经历检查的电路的测试矢量数据；

其中在比较步骤中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，通过生成步骤生成所述生成的测试矢量数据，并且在输出步骤中输出通过生成步骤生成的所述生成的测试矢量数据，并且

其中在比较步骤中所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，在输出步骤中输出所述原始测试矢量数据。

10.一种程序，使得具有存储器单元和处理电路并且用作测试装置的计算机测试经历检查的电路，以便执行：

用于从存储器单元读取原始测试矢量数据的过程，所述原始测试矢量数据存储在存储器单元中，并且其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号；

用于生成随机数数据的过程；

从存储器单元读取输入信号的故障出现率的步骤，所述故障出现率存储在存储器单元中并且在原始测试矢量数据中描述；

用于比较生成的随机数数据与读取的输入信号的故障出现率的过程；

用于从读取的原始测试矢量数据生成不同于原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据的过程；以及

用于输出要输入到经历检查的电路的测试矢量数据的过程，

其中在比较过程中所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，使得用生成过程生成所述生成的测试矢量数据，并且使得在输出过程中输出用生成过程生成的所述生成的测试矢量数据，并且

其中在比较过程中所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，使得在输出过程中输出所述原始测试矢量数据。

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