CN101452415B - 嵌入式***测试的辅助装置及方法 - Google Patents

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Abstract

一种嵌入式***测试的辅助装置，所述辅助装置包括依次连接的写入装置、通用输入输出芯片、信号转换装置及串行总线接口，所述通用输入输出芯片还连接有显示装置，其中：所述写入装置用于将测试参数写入通用输入输出芯片中；所述通用输入输出芯片用于保存上述测试参数；所述串行总线接口用于连接辅助装置与嵌入式***测试机台；所迷信号转换装置用于根据串行总线接口的不同类型将嵌入式***测试机台发出的读取信号及测试结果转换成通用输入输出芯片上的格式；所述通用输入输出芯片还用于保存测试结果；所述显示装置用于即时显示通用输入输出芯片上的测试参数及测试结果。另外，本发明还提供一种利用上述辅助装置辅助嵌入式***测试的方法。

Description

嵌入式***测试的辅助装置及方法
技术领域
本发明涉及一种嵌入式***测试的辅助装置及方法。
背景技术
提高和保证产品质量，是企业活动中的重要内容。为了提高和保证产品质量，企业必须对产品实施测试以获得产品及其制造过程的质量信息，按照这些信息对产品的制造过程实施控制——进行修正和补偿活动，使废次品与返修品率降到最低程度，最终保证产品质量形成过程的稳定性及其产出产品的一致性。
众所周知，在对嵌入式***进行测试时，要获得测试结果，并将其显示出来通常通过一台个人计算机(Personal Computer)与嵌入式***测试机台相连，在个人计算机与嵌入式***测试机台之间进行通讯，将所测试的结果在个人计算机上显示出来，即通过个人计算机充当人机介面。由于个人计算机不仅检测时间过长(仅启动个人计算机就需要一定时间)且用于购买个人计算机的成本也相对过高，架设机台的空间需求亦较大，如此既费时又耗资，测试成本增加。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种嵌入式***测试的辅助装置，其可以将测试结果转化成通用输出输入芯片上对应的格式，并将经过格式转化的测试结果在显示装置上以不同的标示符显示出来，用户可以通过显示出来的标示符得出测试的结果，结构简单方便。
鉴于以上内容，还有必要提供一种利用上述辅助装置辅助嵌入式***测试的方法，其可以将测试结果转化成通用输出输入芯片上对应的格式，并将经过格式转化的测试结果在显示装置上以不同的标示符显示出来，用户可以通过显示出来的标示符得出测试的结果，方法简单方便。
一种嵌入式***测试的辅助装置，该辅助装置与嵌入式***测试机台相连，该嵌入式***洲试机台用于测试各种嵌入式***的功能，所述辅助装置包括依次连接的写入装置、通用输入输出芯片、信号转换装置及串行总线接口，所述通用输入输出芯片还连接有显示装置，其中：所述写入装置用于将测试参数写入通用输入输出芯片中，所述测试参数由标示符组成；所述通用输入输出芯片用于保存上述测试参数；所述串行总线接口用于连接辅助装置与嵌入式***测试机台；所述信号转换装置用于根据串行总线接口的不同类型将嵌入式***测试机台发出的读取信号转换成通用输入输出芯片上的格式，并根据格式转换后的读取信号读取上述测试参数以对嵌入式***进行测试，及将测试结果转换成通用输入输出芯片上的格式；所述通用输入输出芯片还用于保存测试结果；所述显示装置用于即时显示通用输入输出芯片上的测试参数对应的标示符及通过不同的标示符显示上述测试结果。
一种利用权利要求所述的辅助装置辅助嵌入式***测试的方法，该方法包括如下步骤：写入装置将测试参数写入通用输入输出芯片中，所述测试参数由标示符组成；嵌入式***测试机台发出读取通用输入输出芯片上测试参数的读取信号；根据与嵌入式***测试机台连接的串行总线接口的类型判断是否需要进行信号转换；当不需要进行信号转换时，所述嵌入式***测试机台读取通用输入输出芯片上的测试参数，开始测试，然后将嵌入式***测试机台的测试结果通过串行总线接口写入通用输入输出芯片；当需要进行信号转换时，信号转换装置将所述的读取信号转换成通用输入输出芯片上的格式以读取通用输入输出芯片上的测试参数，嵌入式***测试机台开始测试，然后信号转换装置将嵌入式***测试机台的测试结果转换成通用输入输出芯片上的格式，并将其写入通用输入输出芯片上；显示装置将通用输入输出芯片上的测试参数及测试结果通过不同的标示符即时显示出来。
相较于现有技术，所述的嵌入式***测试的辅助装置及方法，利用辅助装置上依次连接的写入装置、GPIO芯片，信号转换装置及串行总线接口获取嵌入式***测试机台的测试结果，将测试结果转化成GPIO芯片上对应的状态信息，并将对应的状态信息显示出来，用户可以通过显示出来的状态信息得出测试的结果，结构简单方便，占用空间小，大大节约了成本。
附图说明
图1是本发明嵌入式***测试的辅助装置较佳实施例的硬件架构图。
图2是本发明利用上述辅助装置辅助嵌入式***测试的方法方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明嵌入式***测试的辅助装置较佳实施例的***架构图。该***主要包括辅助装置1及嵌入式***测试机台7。所述辅助装置1中包含有显示装置2、写入装置3、通用输入输出(GPIO：General Purpose Input Output)芯片4、信号转换装置5及串行总线接口6。在辅助装置1中，所连写入装置3、GPIO芯片4、信号转换装置5及串行总线接口6依次连接。所述辅助装置1通过串行总线接口6连接到嵌入式***测试机台7。所述GPIO芯片4连接显示装置2。
所述的串行总线接口6用于在辅助装置1与嵌入式***测试机台7之间传送信号，所述的辅助装置1上串行总线接口6包括以下几种：通用串行总线接口(USB：Universal Serial Bus)、内部集成电路总线(I2C：Inter-Integrated Circuit)、***管理总线接口(SMBus：SystemManagement Bus)及通用异步接受发送串行接口(UART：UniversalAsynchronous Receiver Transmitter)，由于上述每种串行总线接口6都有一定的适用范围，因此在辅助装置1上安装有以上各种串行总线接口6以满足各种测试需要。
所述信号转换装置5用于当嵌入式***测试机台7读取GPIO芯片4上的测试参数时，根据串行总线接口6的不同类型判断是否需要将嵌入式***测试机台发出的读取信号转换成GPIO芯片上的格式以读取GPIO芯片4上的测试参数，及当嵌入式***测试机台7测试完成后、将测试结果转换成GPIO芯片上的格式。具体而言，若辅助装置1与嵌入式***测试机台7是通过USB接口或者UART接口连接，则需要通过信号转换装置5进行上述信号转换，若辅助装置1与嵌入式***测试机台7是通过I2C接口或者SMBUS接口连接，则不需要通过信号转换装置5进行信号转换。
所述写入装置3用于将测试参数写入GPIO芯片4中。所述的测试参数包括测试的具体项目、测试的初始状态。所述的写入装置3可以是单片机，还可以是其它任意合适的数据处理设备，在本较佳实施例中，写入装置3使用的是单片机。
所述GPIO芯片4用于保存上述测试参数及测试结果，所述测试参数及测试结果存放在一个EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电擦除可编程只读存储器)中，所述测试参数及测试结果通常为一些具体的标示符，标示符标明测试的结果。具体而言，例如，“F0”代表测试开始，嵌入式***测试机台7读取到该信息进入测试状态，当完成测试之后，将测试结果通过串行总线接口6及信号转换装置5写入GPIO芯片4，若测试通过，则写入GPIO芯片4的测试结果为“FF”以标明测试通过，若测试失败，则写入GPIO芯片4的测试结果信息为“FE”以标明测试失败。
所述嵌入式***测试机台7用于测试各种嵌入式***(如：主板)的功能，并能够读取GPIO芯片4上的测试参数，并根据读取的测试参数进行测试，当完成测试之后，将测试结果写入GPIO芯片4。若测试通过，则写入GPIO芯片4的测试结果为“FF”以标明测试通过，若测试失败，则写入GPIO芯片4的测试结果为“FE”以标明测试失败。
所述显示装置2与GPIO芯片4相连，用于即时显示GPIO芯片4上的测试参数及测试结果，例如，测试刚开始时，显示的是某一个符号(如：F0)以标明测试开始，测试结束时显示其它符号以标明测试是否通过。在本实施例中，所述的显示装置2为一块液晶显示片，在其它实施例中，也可以是其它任意合适的显示装置。
如图2所示，是本发明嵌入式***测试的辅助方法较佳实施例的流程图。
步骤S10，首先，写入装置3将测试参数写入GPIO芯片4中。所述的测试参数包括测试的具体项目、测试的初始状态。所述测试参数通常为一些具体的标示符，例如，标示符“1”表示测试内存，“F0”表示测试开始，当嵌入式***测试机台7从GPIO芯片4中读取到上述测试参数时，则嵌入式***测试机台7开始测试内存。所述的写入装置3可以是单片机，还可以是其它任意合适的数据处理设备，在本较佳实施例中，写入装置3使用的是单片机。
步骤S11，嵌入式***测试机台7发出读取GPIO芯片4上测试参数的读取信号。
步骤S12，信号转换装置5根据与嵌入式***机台7连接的串行总线接口6的类型判断是否需要进行将所述读取信号进行转换。具体而言，若辅助装置1与嵌入式***测试机台7是通过USB接口或者UART接口连接，则需要通过信号转换装置5将所述读取信号进行信号转换，若辅助装置1与嵌入式***测试机台7是通过I2C接口或者SMBUS接口连接，则不需要通过信号转换装置5将所述读取信号进行信号转换。
步骤S13，当不需要进行信号转换时，所述读取信号读取GPIO芯片4上的测试参数，嵌入式***测试机台7开始测试。
步骤S14，将嵌入式***测试机台7的测试结果通过串行总线接口6写入GPIO芯片4。
步骤S15，显示装置2将GPIO芯片4上的测试结果即时显示出来。具体而言，显示装置2显示的信息都是与测试结果信息对应的标示符，例如，若测试通过，则显示符号“FF”，若测试没有通过，则显示“FE”。
在步骤S12中，当需要进行信号转换时，于步骤S16，信号转换装置5将所述的读取信号转换成GPIO芯片4上的格式以读取GPIO芯片4上的测试参数，嵌入式***测试机台7开始测试。
步骤S17，嵌入式***测试机台的测试结果通过信号转换装置5转换成GPIO芯片4上的格式，并将其写入GPIO芯片4上，之后转到步骤S15。
本发明所述的嵌入式***测试的辅助装置及方法利用辅助装置上依次连接的写入装置器、GPIO芯片、信号转换装置及串行总线接口获取嵌入式***测试机台的测试结果，将测试结果转化成GPIO芯片上对应的格式，并将经过格式转化后的测试结果在显示装置上以不同的标示符显示出来，用户可以通过显示出来的标示符得出测试结果。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (6)

1.一种嵌入式***测试的辅助装置，该辅助装置与嵌入式***测试机台相连，该嵌入式***测试机台用于测试各种嵌入式***的功能，其特征在于，所述辅助装置包括依次连接的写入装置、通用输入输出芯片、信号转换装置及串行总线接口，所述通用输入输出芯片还连接有显示装置，其中：
所述写入装置用于将测试参数写入通用输入输出芯片中，所述测试参数由标示符组成；
所述通用输入输出芯片用于保存上述测试参数；
所述串行总线接口用于连接辅助装置与嵌入式***测试机台；
所述信号转换装置用于根据串行总线接口的不同类型将嵌入式***测试机台发出的读取信号转换成通用输入输出芯片上的格式，并根据格式转换后的读取信号读取上述测试参数以对嵌入式***进行测试，及将测试结果转换成通用输入输出芯片上的格式；
所述通用输入输出芯片还用于保存测试结果；及
所述显示装置用于即时显示通用输入输出芯片上的测试参数对应的标示符及通过不同的标示符显示上述测试结果。
2.如权利要求1所述的嵌入式***测试的辅助装置，其特征在于，所述串行总线接口是通用串行总线接口、内部集成电路总线、***管理总线接口或通用异步接受发送串行接口。
3.如权利要求1所述的嵌入式***测试的辅助装置，其特征在于，所述测试参数包括测试的具体项目。
4.一种利用权利要求1所述的辅助装置辅助嵌入式***测试的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
写入装置将测试参数写入通用输入输出芯片中，所述测试参数由标示符组成；
嵌入式***测试机台发出读取通用输入输出芯片上测试参数的读取信号；
根据与嵌入式***测试机台连接的串行总线接口的类型判断是否需要进行信号转换；
当不需要进行信号转换时，所述嵌入式***测试机台读取通用输入输出芯片上的测试参数，开始测试，然后将嵌入式***测试机台的测试结果通过串行总线接口写入通用输入输出芯片；
当需要进行信号转换时，信号转换装置将所述的读取信号转换成通用输入输出芯片上的格式以读取通用输入输出芯片上的测试参数，嵌入式***测试机台开始测试，然后信号转换装置将嵌入式***测试机台的测试结果转换成通用输入输出芯片上的格式，并将其写入通用输入输出芯片上；及
显示装置将通用输入输出芯片上的测试参数及测试结果通过不同的标示符即时显示出来。
5.如权利要求4所述的嵌入式***测试方法，其特征在于，所述串行总线接口是通用串行总线接口、内部集成电路总线、***管理总线接口或通用异步接受发送串行接口。
6.如权利要求4所述的嵌入式***测试的方法，其特征在于，所述测试参数包括测试的具体项目。
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