CN102455965A - 电子装置测试***及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电子装置测试***及方法。所述电子装置测试***包含一第一数据传输装置、一接口转接卡以及一计算机。第一数据传输装置具有热移除功能。接口转接卡包含一第二数据传输接口以及一转换模块。第二数据传输接口用以连接一待测装置。转换模块电性连接第一数据传输装置以及第二数据传输接口，且对第一数据传输装置以及第二数据传输接口之间传输的数据进行转换。计算机包含一处理组件。处理组件透过第一数据传输装置，连接接口转接卡。处理组件使第一数据传输装置，透过接口转接卡，对待测装置进行一功能测试。在功能测试完成时，处理组件通过热移除功能，移除第一数据传输装置。

Description

电子装置测试***及方法

技术领域

本发明是有关于一种测试***以及方法，且特别是有关于一种电子装置测试***以及方法。

背景技术

随着信息科技的高度发展，计算机硬件装置的应用也愈趋普及。这些计算机硬件装置包括使屏幕显示数据的显示卡、使计算机发出声音的声卡等以及连结网络的网络卡等。以网络卡为例，网络卡是计算机主机和因特网沟通的桥梁，如果没有网络卡，则计算机主机就无法连结上因特网。

当这些计算机硬件装置制作完成，需要一套测试方法来测试这些硬件装置的功能以及效能。例如，在测试网络卡时，会先启用网络卡，然后确认主机是否能够连结上因特网，以及连结上网络所耗费的时间，来验证网络卡的功能以及效能。

其中，在进行测试各硬件装置时，需根据待测硬件装置所采用的接口，将待测硬件装置装设至主机上对应的插槽。举例来说，当待测硬件装置是采用PCI时，需将待测硬件装置装设至主机的PCI插槽上，以进行测试。然而，若待测硬件装置所采用的数据传输接口不支持热插拔时，需先将主机关机，才可以更换下一个待测硬件装置。这样的测试流程是十分费时且不便的。

发明内容

因此，本发明的一目的是在提供一种电子装置测试***，用以透过具热移除功能的数据传输装置，对待测装置进行功能测试，并在功能测试完成后，热移除数据传输装置。电子装置测试***包含一第一数据传输装置、一接口转接卡(interface card)以及一计算机。第一数据传输装置具有一热移除功能。接口转接卡包含一第二数据传输接口以及一转换模块。第二数据传输接口用以连接一待测装置。转换模块电性连接第一数据传输装置以及第二数据传输接口。转换模块对第一数据传输装置以及第二数据传输接口之间传输的数据进行转换。计算机包含一处理组件。处理组件透过第一数据传输装置，连接接口转接卡。处理组件包含一测试模块以及一移除模块。测试模块使第一数据传输装置，透过接口转接卡，对待测装置进行一功能测试。移除模块在功能测试完成时，通过热移除功能，移除第一数据传输装置。

依据本发明一实施例，处理组件还可包含一侦测模块，用以在移除第一数据传输装置，且侦测到接口转接卡连接另一待测装置时，致能第一数据传输装置，并触发测试模块开始使第一数据传输装置，透过接口转接卡对另一待测装置，进行功能测试。

依据本发明另一实施例，功能测试可包含一识别码验证测试。测试模块可包含一识别码验证器，用以使接口转接卡透过第二数据传输接口，自待测装置取得待测装置的一第一识别码。识别码验证器使转换模块将第一识别码，转换为对应第一数据传输装置的一第二识别码，并根据第二识别码进行识别码验证测试。

依据本发明另一实施例，其中待测装置可包含一储存组件，功能测试可包含一储存组件存取测试。测试模块可包含一储存组件存取测试器，用以使第一数据传输装置，透过接口转接卡，对待测装置的储存组件，进行储存组件存取测试。

依据本发明另一实施例，其中待测装置可包含一温度感测组件，功能测试包含一温度感测测试。测试模块可包含一温度感测测试器，用以使第一数据传输装置，透过接口转接卡对待测装置的温度感测组件，进行温度感测测试。

依据本发明另一实施例，其中待测装置包含至少一插槽，插槽用以插设一***装置，功能测试包含一插槽测试。测试模块包含一插槽测试器，用以使第一数据传输装置，透过接口转接卡对插设于插槽的***装置，进行插槽测试。

本发明的另一目的是在提供一种电子装置测试方法，用以透过具热移除功能的数据传输接口，对待测装置进行功能测试，并在功能测试完成后，热移除数据传输装置。电子装置测试方法包含以下步骤：提供一计算机。其中，计算机包含一第一数据传输接口，第一数据传输接口具有一热移除功能。提供一接口转接卡。其中，接口转接卡电性连接第一数据传输接口。接口转接卡包含一第二数据传输接口，用以连接一待测装置。使计算机的第一数据传输接口透过接口转接卡，对待测装置进行一功能测试。其中，接口转接卡自第一数据传输接口，接收功能测试的至少一第一测试指令。接口转接卡将至少一第一测试指令，转换为对应第二数据传输接口的至少一第二测试指令。其中，功能测试可包含一识别码验证测试、一储存组件存取测试、一温度感测测试或一插槽测试。于是，待测装置执行至少一第二测试指令，以进行功能测试。在功能测试完成时，通过热移除功能，移除第一数据传输接口。

依据本发明另一实施例，电子装置测试方法还包含：侦测接口转接卡的第二数据传输接口是否连接另一待测装置。在侦测到第二数据传输接口连接另一待测装置时，致能第一数据传输接口，并开始使计算机的第一数据传输接口透过接口转接卡，对另一待测装置进行功能测试。

由上述本发明实施方式可知，应用本发明具有下列优点。在对待测装置测试完成时，不需使计算机断电，便可替换另一待测装置。即使待测装置仅能连接于不支持热移除功能的数据传输接口，仍可在不将计算机关机的情况下，替换另一待测装置。如此一来，可大大节省测试过程中，计算机开关机所需耗费的时间。

附图说明

为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1绘示依照本发明一实施方式的一种电子装置测试***的功能方块图；

图2是依照本发明另一实施方式的一种电子装置测试方法的流程图。

【主要组件符号说明】

100：第一数据传输装置    315：移除模块

200：接口转接卡          316：侦测模块

210：第二数据传输接口    400：待测装置

220：转换模块            410：插槽

300：计算机              420：储存组件

310：处理组件            430：温度感测组件

311：测试模块            500：***装置

312：识别码验证器        600：电子装置测试方法

313：储存组件存取测试器    610-670：步骤

314：温度感测测试器

具体实施方式

以下将以附图及详细说明清楚说明本发明的精神，任何所属技术领域中具有通常知识者在了解本发明的较佳实施例后，当可由本发明所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本发明的精神与范围。

请参照图1，其绘示依照本发明一实施方式的一种电子装置测试***的功能方块图。电子装置测试***透过具热移除功能的数据传输装置，对待测装置进行功能测试，并在功能测试完成后，热移除数据传输装置。

电子装置测试***包含一第一数据传输装置100、一接口转接卡(interfacecard)200以及一计算机300。第一数据传输装置100具有一热移除功能。第一数据传输装置可采用快捷外设互联标准(Peripheral Component InterconnectExpress，PCI-E)或其它支持热移除功能的数据传输标准。

接口转接卡200包含一第二数据传输接口210以及一转换模块220。第二数据传输接口210用以连接一待测装置400。转换模块220电性连接第一数据传输装置100以及第二数据传输接口210。转换模块220对第一数据传输装置100以及第二数据传输接口210之间传输的数据进行转换。其中，转换模块220可通过调整接脚顺序，进行数据转换。因此，转换模块220可使第一数据传输装置100的接脚，转接到第二数据传输接口210对应的接脚，而进行数据转换。

计算机300包含一处理组件310。处理组件310透过第一数据传输装置100，连接接口转接卡200。处理组件310包含一测试模块311以及一移除模块315。测试模块311使第一数据传输装置100，透过接口转接卡200，对待测装置400进行一功能测试。其中，测试模块311可用命令列直译器(CommandLine Interpreter，CLI)或其它程序实作。移除模块315在功能测试完成时，通过热移除功能，移除第一数据传输装置100。在移除第一数据传输装置100后，不需关闭计算机300即可抽换测试完成的待测装置400。换言之，即使待测装置400连接不支持热移除的第二数据传输接口210时，仍能在移除第一数据传输装置100后，抽换测试完成的待测装置400。

此外，电子装置测试***可在替换另一待测装置400后，开始进行功能测试。因此，处理组件还可包含一侦测模块316。在移除第一数据传输装置100，且侦测到接口转接卡200的第二数据传输接口210连接另一待测装置400时，侦测模块316致能(enable)第一数据传输装置100。接下来，侦测模块316触发测试模块311开始使第一数据传输装置100，透过接口转接卡200对另一待测装置400，进行功能测试。

其中，功能测试可包含一识别码验证测试，用以验证待测装置400的识别码。因此，测试模块311可包含一识别码验证器312。识别码验证器312使接口转接卡200透过其第二数据传输接口210，自待测装置400取得待测装置400的一第一识别码。识别码验证器312使转换模块220将第一识别码，转换为对应第一数据传输装置100的一第二识别码，并根据第二识别码进行识别码验证测试。举例来说，在第一数据传输装置100不具有用以传输待测装置400的识别码的接脚，如通用输入输出(General Purpose Input/Output，GPIO)接脚，时，可使转换模块220透过第二数据传输接口210的识别码接脚接收待测装置400的第一识别码。接下来，转换模块220将第一识别码转换为对应第一数据传输装置100的一第二识别码，如符合内部整合电路(Inter-Integrated Circuit，I2C)格式的识别码，供第一数据传输装置100传送给识别码验证器312，进行识别码验证测试。如此一来，即使第一数据传输接口100以及计算机300不具有与待测装置400相同的识别码接脚，仍可通过接口转接卡200，验证待测装置400的识别码。

此外，若待测装置400包含一储存组件420时，测试模块311可对储存组件420进行一储存组件存取测试。其中，储存组件420可为电子可抹除可程序化只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，EEPROM)或其它类型的储存组件。功能测试可包含一储存组件存取测试，测试模块311可包含一储存组件存取测试器313。储存组件存取测试器313使第一数据传输装置100，透过接口转接卡200，对待测装置400的储存组件420，进行储存组件存取测试。

另外，测试模块311可对待测装置400进行一温度感测测试。待测装置400可包含一温度感测组件430(如LM75)，功能测试包含一温度感测测试。测试模块311可包含一温度感测测试器314。温度感测测试器314使第一数据传输装置100，透过接口转接卡200对待测装置400的温度感测组件430，进行温度感测测试。

若待测装置400为具有至少一插槽410的装置，如一扩充卡(riser card)，时，测试模块311可对插槽410进行一插槽测试。因此，测试模块311可包含一插槽测试器315。插槽测试器315使第一数据传输装置100，透过接口转接卡200对插设于插槽311的***装置500，进行插槽测试。其中，插槽测试器315可发出一访问要求至插槽410中的***装置500。若可自***装置500收到一回复，插槽测试器315则可判定插槽411为正常的。

请参照图2，其是依照本发明另一实施方式的一种电子装置测试方法的流程图。在电子装置测试方法中，透过具热移除功能的数据传输接口，对待测装置进行功能测试，并在功能测试完成后，热移除数据传输接口。电子装置测试方法600包含以下步骤：

在步骤610中，提供一计算机。其中，计算机包含具有热移除功能的一第一数据传输接口。第一数据传输接口可采用快捷外设互联标准或其它支持热移除功能的数据传输标准。

在步骤620中，提供一接口转接卡。其中，接口转接卡电性连接第一数据传输接口，且包含一第二数据传输接口。第二数据传输接口是用以连接一待测装置。

在步骤630中，使计算机的第一数据传输接口透过接口转接卡，对待测装置进行一功能测试。其中，接口转接卡自第一数据传输接口，接收功能测试的至少一第一测试指令。接下来，接口转接卡将第一测试指令，转换为对应第二数据传输接口的至少一第二测试指令。于是，可使待测装置执行至少一第二测试指令，以进行步骤630的功能测试。其中，功能测试可包含一识别码验证测试、一储存组件存取测试、一温度感测测试、一插槽测试或其它功能测试。识别码验证测试是用以验证待测装置的识别码。储存组件存取测试是用以对待测装置的储存组件，如电子可抹除可程序化只读存储器或其它类型的储存组件，进行存取。温度感测测试是用以测试待测装置的温度感测组件。插槽测试是用以测试待测装置上的至少一插槽。

在功能测试完成(步骤640)时，通过热移除功能，移除第一数据传输接口(步骤650)。在移除第一数据传输接口后，不需关闭计算机即可抽换测试完成的待测装置。换言之，即使待测装置连接不支持热移除的第二数据传输接口时，仍能在移除第一数据传输接口后，抽换测试完成的待测装置。

此外，可在替换另一待测装置后，对另一待测装置开始进行功能测试。因此，可在步骤660中，侦测接口转接卡的第二数据传输接口是否连接另一待测装置。在未侦测到第二数据传输接口连接另一待测装置时，可持续侦测接口转接卡的第二数据传输接口是否连接另一待测装置(步骤660)。

在步骤670中，在侦测到第二数据传输接口连接另一待测装置时，致能第一数据传输接口。接下来，开始使计算机的第一数据传输接口透过该接口转接卡，对另一待测装置进行功能测试(步骤630)。

由上述本发明实施方式可知，应用本发明具有下列优点。在对待测装置测试完成时，不需使计算机断电，便可替换另一待测装置。即使待测装置仅能连接于不支持热移除功能的数据传输接口，仍可在不将计算机关机的情况下，替换另一待测装置。如此一来，可大大节省测试过程中，计算机开关机所需耗费的时间。

虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种电子装置测试***，其特征在于，包含：

一第一数据传输装置，具有一热移除功能；

一接口转接卡，包含：

一第二数据传输接口，用以连接一待测装置；以及

一转换模块，电性连接该第一数据传输装置以及该第二数据传输接口，对该第一数据传输装置以及该第二数据传输接口之间传输的数据进行转换；以及

一计算机，包含：

一处理组件，透过该第一数据传输装置，连接该接口转接卡，包含：

一测试模块，使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡，对该待测装置进行一功能测试；以及

一移除模块，在该功能测试完成时，通过该热移除功能，移除该第一数据传输装置。

2.根据权利要求1所述的电子装置测试***，其特征在于，该处理组件还包含：

一侦测模块，在移除该第一数据传输装置，且侦测到该接口转接卡连接另一待测装置时，致能该第一数据传输装置，并触发该测试模块开始使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡对该另一待测装置，进行该功能测试。

3.根据权利要求1所述的电子装置测试***，其特征在于，该功能测试包含一识别码验证测试，且该测试模块包含：

一识别码验证器，使该接口转接卡透过该第二数据传输接口，自该待测装置取得该待测装置的一第一识别码，且使该转换模块将该第一识别码，转换为对应该第一数据传输装置的一第二识别码，并根据第二识别码进行该识别码验证测试。

4.根据权利要求1所述的电子装置测试***，其特征在于，该待测装置包含一储存组件，该功能测试包含一储存组件存取测试，且该测试模块包含：

一储存组件存取测试器，使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡，对该待测装置的该储存组件，进行该储存组件存取测试。

5.根据权利要求1所述的电子装置测试***，其特征在于，该待测装置包含一温度感测组件，该功能测试包含一温度感测测试，且该测试模块包含：

一温度感测测试器，使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡对该待测装置的该温度感测组件，进行该温度感测测试。

6.根据权利要求1所述的电子装置测试***，其特征在于，该待测装置包含至少一插槽，该插槽用以插设一***装置，该功能测试包含一插槽测试，且该测试模块包含：

一插槽测试器，使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡对插设于该插槽的该***装置，进行该插槽测试。

7.一种电子装置测试方法，其特征在于，包含：

提供一计算机，其中该计算机包含一第一数据传输接口，该第一数据传输接口具有一热移除功能；

提供一接口转接卡，其中该接口转接卡电性连接该第一数据传输接口，该接口转接卡包含一第二数据传输接口，该第二数据传输接口用以连接一待测装置；

使该计算机的该第一数据传输接口透过该接口转接卡，对该待测装置进行一功能测试，其中该接口转接卡自该第一数据传输接口，接收该功能测试的至少一第一测试指令，该接口转接卡将该至少一第一测试指令，转换为对应该第二数据传输接口的至少一第二测试指令，藉此使该待测装置执行该至少一第二测试指令，以进行该功能测试；以及

在该功能测试完成时，通过该热移除功能，移除该第一数据传输接口。

8.根据权利要求7所述的电子装置测试方法，其特征在于，还包含：

侦测该接口转接卡的该第二数据传输接口是否连接另一待测装置；以及

在侦测到该第二数据传输接口连接该另一待测装置时，致能该第一数据传输接口，并开始使该计算机的该第一数据传输接口透过该接口转接卡，对该另一待测装置进行该功能测试。

9.根据权利要求7所述的电子装置测试方法，其特征在于，该功能测试包含一识别码验证测试、一储存组件存取测试、一温度感测测试或一插槽测试。

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