CN101424870A - 镜座测试装置及测试方法 - Google Patents

镜座测试装置及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101424870A
CN101424870A CNA2007102023239A CN200710202323A CN101424870A CN 101424870 A CN101424870 A CN 101424870A CN A2007102023239 A CNA2007102023239 A CN A2007102023239A CN 200710202323 A CN200710202323 A CN 200710202323A CN 101424870 A CN101424870 A CN 101424870A
Authority
CN
China
Prior art keywords
microscope base
microscope
control module
proving installation
test cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2007102023239A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101424870B (zh
Inventor
陈汉邦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2007102023239A priority Critical patent/CN101424870B/zh
Publication of CN101424870A publication Critical patent/CN101424870A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101424870B publication Critical patent/CN101424870B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本发明涉及一种镜座测试装置及测试方法，用于对多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行自动化测试，所述镜座测试装置包括：一个承载平台、一个控制单元和一个测试单元，所述承载平台用以承载所述多个镜座组成的阵列，所述控制单元控制所述承载平台在其所在平面坐标内移动，依次将所述多个镜座移至与所述测试单元对准，使得所述测试单元依次对所述多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试，所述测试单元依次将测试结果送至所述控制单元以判断是否为良品。所述镜座测试装置进一步包括一个移除单元，所述控制单元控制所述移除单元将所述非良品镜座移走。

Description

镜座测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试装置及测试方法，尤其涉及一种对镜头模组的镜座进行表面电阻测试的测试装置及测试方法。
背景技术
随着摄像技术的发展，镜头模组在各种用途的摄像装置中得到广泛的应用，镜头模组与各种便携式电子装置如手机、计算机等的结合，更得到众多消费者的青睐。
然而，随着便携式电子装置朝着功能多样化的方向发展，其元件也变得越来越复杂，且所述元件大多需通电才能工作，这导致所述便携式电子装置很容易因为电磁干扰而影响正常工作。
镜头模组通常作为摄像装置的元件而广泛地应用于便携式电子装置中，其一般包括镜片、镜座、滤光片及影像感测器等。镜片的设计方法请参阅Chao等人在2000年IEEE***、超声波会议(2000 IEEE Ultrasonics Symposium)上发表的论文Aspheric lens design。为了降低所述影像感测器受电磁干扰的程度，一般还需于所述镜座的表面涂上一层防电磁干扰(Electromagnetic Interference，EMI)涂层。
当镜座的表面涂上防电磁干扰(EMI)涂层后，利用静电计(Electrometer)测试该涂层的电阻值是否达到要求来判断该镜座是否为良品。通常的做法是抽样并用人工方式操作静电计来测试样品涂层的电阻值，可以理解的是，这种方法既耗费时间且测量误差较大，良品率较低。
有鉴于此，有必要提供一种能快速准确测试镜座表面防电磁干扰涂层的电阻率，提高良品率的自动化镜座测试装置及自动化测试方法。
发明内容
下面将以具体实施例说明一种能准确快捷的测试镜座表面防电磁干扰涂层的电阻的自动化镜座测试装置及自动化镜座测试方法。
一种镜座测试装置，用于对多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试，其特征在于，所述镜座测试装置包括：一个承载平台，所述承载平台承载所述多个镜座组成的阵列，以及一个测试单元，所述承载平台在其所在坐标平面内移动，依次将所述多个镜座移至与所述测试单元对准，所述测试单元依次对所述多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试。
所述镜座测试装置进一步包括一个控制单元，用以控制所述承载平台在其所在平面坐标内移动，依次将所述多个镜座移至与所述测试单元对准，所述测试单元依次对所述多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试，所述测试单元将测试结果及其对应的镜座的位置编码值送至所述控制单元。所述控制单元接收所述测试结果判断其对应的镜座是否为良品，纪录下非良品镜座的位置编码值，所述镜座测试装置进一步包括一个移除装置，所述移除装置具有一个夹头，所述控制单元控制所述移除装置，用以夹持所述非良品镜座并将其移走。
以及，一种采用上述镜座测试装置的镜座测试方法，其包括以下步骤：
(1)提供一所述镜座测试装置；
(2)所述测试单元依次对所述多个镜座测量，并将测量结果和对应的镜座的位置编码值依次送至所述控制单元；
(3)所述控制单元依据所述测试结果判断其对应的镜座是否为良品，记录下非良品镜座的位置编码值；
(4)所述控制单元依非良品镜座的位置编码值，控制所述非良品镜座与所述夹持单元对准，进而控制所述夹持单元将与其对准的非良品镜座移走。
相对于现有技术，所述镜座测试装置及测试方法，其通过自动化控制探针依次对多个镜座的快速测量，大大提高了量测的效率，甚至可以达到不抽样而全部进行测量的目标，更加提高了良品率。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的镜座测试装置的结构示意图。
图2是本发明第二实施例提供的镜座测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步详细说明。
请参阅图1，本发明第一实施例提供的一种镜座测试装置10，用于对镜座110的外圆周表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试。所述镜座测试装置10包括一个承载平台11、一个测试单元12及一个控制单元13。
所述承载平台11用以承载多个镜座110所组成的阵列。所述承载平台11可以在其所在平面内移动，优选地，所述镜座测试装置10还包括一个基座15和两个独立的步进马达(图未示)，所述承载平台11连接所述两个步进马达，所述控制单元13与所述两个独立的步进马达电连接，以提供电脉冲给所述两个独立的步进马达电脉冲以驱动所述承载平台11相对于所述基座15分别沿图1所示的X轴和Y轴坐标移动。
所述测试单元12位于所述承载平台11上方，与所述控制单元13电连接，用以对所述多个镜座110的表面防电磁干扰(Electromagnetic Interference，EMI)涂层的电阻进行测试，优选地，所述测试单元12可为一个静电计(Electrometer)，且所述静电计包括一对探针121。
具体地，所述承载平台11在其所在平面坐标内移动，如图1所示的X、Y轴坐标平面内移动，依次将所述多个镜座110移至与所述测试单元12对准，所述探针121接触所述镜座110外圆周面任意两点，以测量所述镜座110外圆周面防电磁干扰涂层的电阻，然后，所述测试单元12依次对下一个镜座110外圆周面防电磁干扰涂层的电阻进行测试。
所述控制单元13包括一个电源131、一个电阻信息处理单元132和一个位置信息存储器133，具体地，所述电源131分别提供电脉冲给所述两个独立的步进马达使其工作以驱动所述承载平台11在所述X轴坐标方向和Y轴坐标方向移动。
所述测试单元12与所述电阻信息处理单元132电连接，所述测试单元12依次对所述多个镜座110外圆周面防电磁干扰涂层的电阻进行测试，并依次将所述测试结果和对应的镜座110的位置编码值分别送至所述电阻信息处理单元132和位置信息存储器133。优选地，所述测试结果为电阻值，所述电阻信息处理单元132具有一个预设的基准值，所述电阻信息处理单元133接收所述测试结果，并将其与所述基准值比较，从而判断所述测试结果是否在良品值范围内，以此判断其对应的镜座110是否为良品，所述位置信息存储器133记录下非良品镜座110的位置编码值。优选地，所述非良品镜座110的位置编码值为其位置编码值，具体地，图1给出6个所述镜座110，其位置编码值依次为(1，1)、(1，2)、(1，3)、(2，1)、(2，2)及(2，3)。所述测试单元12预先存储所述多个镜座110的位置编码值，所述测试单元12依次对所述镜座110外圆周面防电磁干扰涂层的电阻进行测试，并依次将对应镜座110的位置编码值送至所述位置信息存储器133。
所述镜座测试装置10进一步包括一个移除装置14，所述移除装置14包括一对夹头141，用以移走所述多个镜座110中的非良品镜座110。具体地，所述控制单元13依据所述纪录下的非良品镜座110的位置编码值，控制所述承载平台12在所述X、Y轴坐标平面内移动，依次将所述非良品镜座110移至与所述一对夹头141对准，所述一对夹头141依次将其夹起并移开。
优选地，所述镜座测试装置进一步包括一个支架16，其固定在所述基座15上，所述测试单元12与所述移除单元14分别连接到一个杠杆17的两端，所述杠杆17与所述支架16之间连接一个伺服马达18，所述控制单元13提供一个电流给所述伺服马达使其旋转，从而可以带动所述支架16绕所述支架17旋转，从而使得所述测试单元12和所述移除单元14互相调换位置，所述控制单元依此控制所述测试单元12对所述多个镜座110进行电阻测试或者控制所述移除单元13对所述非良品镜座110进行移除。
本发明提供的第一实施例的镜座测试装置10的镜座测试方法的步骤如下：
(1)提供所述镜座测试装置10；
(2)所述测试单元12依次对所述多个镜座110测量，并将测量结果依次送至所述控制单元13；
(3)所述控制单元13依据所述测试结果判断其对应的镜座是否为良品，记录下非良品镜座的位置编码值；
(4)所述控制单元13依非良品镜座的位置编码值，控制所述移除单元14将所述非良品镜座移走。
本发明提供的第一实施例的镜座测试装置10及镜座测试方法，其通过设置一个测试单元12、承载多个镜座110的承载平台11和一个移除装置14，并经由所述控制单元14以控制所述承载平台11移动实现所述测试单元12对多个镜座110进行防电磁干扰涂层的电阻测试的自动化，并控制所述承载平台移动实现自动化移除非良品镜座110，从而实现了对多个镜座的快速测量，降低测试时间，大大提高了测试的效率，甚至可以达到不抽样而全部进行测量的目标，更加提高了良品率。
请参阅图2提供的第二实施例的镜座测试装置20，其与所述第一实施例的镜座测试装置10的不同点在于，所述测试单元包括多对探针221，所述承载平台21上承载多个镜座210，所述多个镜座210成阵列排布，所述测试单元具有多对探针221，所述多对探针221可以同时对所述阵列的一列或者一行的所述多个镜座210进行防电磁干扰涂层的电阻测试，更加节省测试时间，提高测试效率。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (9)

  1. 【权利要求1】一种镜座测试装置，用于对多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试，其特征在于，所述镜座测试装置包括：
    一个承载平台，所述承载平台承载所述多个镜座组成的阵列；
    一个控制单元，控制所述承载平台在其所在平面坐标内移动；以及
    一个测试单元，其与所述控制单元电连接，所述承载平台承载所述多个镜座在其所在平面坐标内移动，依次将所述多个镜座与所述测试单元对准，所述测试单元依次对所述多个镜座表面的防电磁干扰涂层的电阻进行测试，并将所述测试结果和与其对应的镜座的位置编码值送至所述控制单元。
  2. 【权利要求2】如权利要求1所述的镜座测试装置，其特征在于，所述镜座测试装置进一步两个独立控制的步进马达，所述承载平台连接所述两个步进马达，所述控制单元与所述两个独立的步进马达电连接，以提供电脉冲给所述两个独立的步进马达以驱动所述承载平台沿其所在平面两个垂直的坐标轴方向移动。
  3. 【权利要求3】如权利要求1所述的镜座测试装置，其特征在于，所述测试单元为一个静电计，且所述静电计包括一对探针。
  4. 【权利要求4】如权利要求2所述的镜座测试装置，其特征在于，所述控制单元包括一个电源、一个电阻信息处理单元、一个位置信息存储器，所述电源提供电脉冲给所述两个步进马达，用以驱动所述承载平台沿其所在平面两个垂直的坐标轴方向移动，所述测试单元分别将测试结果和与其对应的镜座的位置编码值送至所述电阻信息处理单元和位置信息存储器。
  5. 【权利要求5】如权利要求1所述的镜座测试装置，其特征在于，所述镜座测试装置进一步包括一个移除装置，所述移除装置具有一个夹头。
  6. 【权利要求6】如权利要求5所述的镜座测试装置，其特征在于，所述镜座测试装置进一步包括一个基座、一个支架和一个杠杆，所述支架位于所述基座上，所述杠杆固定于所述支架上，所述杠杆与所述支架的连接部具有一个伺服马达，所述移除装置与所述测试单元分别连接到所述杠杆的两端，所述控制单元与所述伺服马达电连接，所述控制单元提供一个电流给所述伺服马达使其旋转，以带动所述杠杆绕所述支架旋转，以使所述测试单元和所述移除单元互相调换位置，以控制所述镜座测试装置测试或者移除所述镜座。
  7. 【权利要求7】一种镜座测试方法，其包括以下步骤：
    (1)提供一镜座测试装置，其包括一个测试单元、一个夹持单元、一个控制单元和一个承载一个多个镜座组成的阵列的承载平台；
    (2)所述测试单元依次对所述多个镜座测量，并将测量结果和对应的镜座的位置编码值依次送至所述控制单元；
    (3)所述控制单元依据所述测试结果判断其对应的镜座是否为良品，记录下非良品镜座的位置编码值；
    (4)所述控制单元依非良品镜座的位置编码值，控制所述夹持单元将所述非良品镜座移走。
  8. 【权利要求8】如权利要求7所述的镜座测试方法，所述控制单元包括一个电阻信息处理单元、一个位置信息存储器，所述测试单元分别将所述测试结果和与其对应的镜座的位置编码值送至所述电阻信息处理单元和位置信息存储器，所述电阻信息处理单元依据所述测试结果判断其对应的镜座是否为良品，所述位置编码值处理器记录下非良品镜座的位置编码值。
  9. 【权利要求9】如权利要求8所述的镜座测试方法，所述电阻信息处理单元具有一个预设的基准值，所述电阻信息单元接收所述测试结果，并将其与所述基准值比较，判断其是否在良品的电阻值范围内，依此判断所述测试结果对应的镜座是否为良品。
CN2007102023239A 2007-10-31 2007-10-31 镜座测试装置及测试方法 Expired - Fee Related CN101424870B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102023239A CN101424870B (zh) 2007-10-31 2007-10-31 镜座测试装置及测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102023239A CN101424870B (zh) 2007-10-31 2007-10-31 镜座测试装置及测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101424870A true CN101424870A (zh) 2009-05-06
CN101424870B CN101424870B (zh) 2011-09-28

Family

ID=40615557

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007102023239A Expired - Fee Related CN101424870B (zh) 2007-10-31 2007-10-31 镜座测试装置及测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101424870B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102262186A (zh) * 2010-05-28 2011-11-30 深圳富泰宏精密工业有限公司 天线测试治具
CN109089107A (zh) * 2017-06-14 2018-12-25 宁波舜宇光电信息有限公司 批量摄像模组测试设备及其测试***
CN109254492A (zh) * 2017-07-13 2019-01-22 宁波舜宇光电信息有限公司 摄像模组测试的传递***
CN109324229A (zh) * 2017-08-01 2019-02-12 蔡宜兴 微型电阻检测装置及检测方法
TWI684007B (zh) * 2016-05-18 2020-02-01 佳思科技有限公司 半導體測試治具之靜電消散結構

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4514086A (en) * 1982-01-05 1985-04-30 Stine Edward V Apparatus for measuring refractive properties of lenses and other transmissive devices
AU2003218348A1 (en) * 2002-03-22 2003-10-13 Electro Scientific Industries, Inc. Test probe alignment apparatus
CN2570732Y (zh) * 2002-10-11 2003-09-03 徐春云 一种精密测量仪

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102262186A (zh) * 2010-05-28 2011-11-30 深圳富泰宏精密工业有限公司 天线测试治具
TWI684007B (zh) * 2016-05-18 2020-02-01 佳思科技有限公司 半導體測試治具之靜電消散結構
CN109089107A (zh) * 2017-06-14 2018-12-25 宁波舜宇光电信息有限公司 批量摄像模组测试设备及其测试***
CN109089107B (zh) * 2017-06-14 2021-12-24 宁波舜宇光电信息有限公司 批量摄像模组测试设备及其测试***
CN109254492A (zh) * 2017-07-13 2019-01-22 宁波舜宇光电信息有限公司 摄像模组测试的传递***
CN109254492B (zh) * 2017-07-13 2021-02-09 宁波舜宇光电信息有限公司 摄像模组测试的传递***
CN109324229A (zh) * 2017-08-01 2019-02-12 蔡宜兴 微型电阻检测装置及检测方法
CN109324229B (zh) * 2017-08-01 2020-09-29 蔡宜兴 微型电阻检测装置及检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101424870B (zh) 2011-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101424870B (zh) 镜座测试装置及测试方法
US7211997B2 (en) Planarity diagnostic system, E.G., for microelectronic component test systems
TWI681198B (zh) 基板檢查方法及基板檢查裝置
CN209400668U (zh) 一种柔性电路板的对接测试装置
CN101332531A (zh) 带有静电放电检测的导电金属球焊的设备和方法
CN112233971B (zh) 一种晶圆清洗方法和晶圆清洗装置
JP4163911B2 (ja) 半導体ウェハ試験方法および半導体ウェハ試験装置
US20090039908A1 (en) Microstructure inspecting apparatus and microstructure inspecting method
US20130200914A1 (en) Methods and Systems for Cleaning Needles of a Probe Card
CN101833234B (zh) 音圈马达测试装置及其辅助装置
JP4652699B2 (ja) 基板検査装置、位置調整方法
CN112858885B (zh) 一种宽温度范围工作环境下芯片测试方法
US20080224723A1 (en) Method for testing a semiconductor wafer and apparatus thereof
CN101009268A (zh) 基板及其电测方法
CN112858884A (zh) 一种面向超高温工作环境下芯片测试的mems探针结构
CN207923782U (zh) 用于车身焊接的涡流检测装置
KR102425162B1 (ko) Pcba 검사장치
KR102536716B1 (ko) Pcba 검사장치
TW200918914A (en) Testing system module
TWI437228B (zh) 鏡座測試裝置及測試方法
CN105588957B (zh) 测试座
CN113985113A (zh) 一种电路板电压的检测装置以及检测方法
CN110634789B (zh) 一种玻璃承载装置的调节方法
TWI420125B (zh) 音圈馬達測試裝置及其輔助裝置
KR102449983B1 (ko) Pcba 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110928

Termination date: 20151031

EXPY Termination of patent right or utility model