CN100543578C - 一种获取亮点坐标的投影机以及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种获取亮点坐标的投影机以及方法。该投影机包括用于投影的光源和变焦***,该光源发出的光经由该变焦***后投影到投影区域上,包括:半透半反镜,其设置在光源与变焦***之间的光路上,用于将投影区域反射的、经由该变焦***入射到其上的外部光线进行反射,该外部光线包括投影图像、以及入射到该投影图像中的亮点的亮点图像;成像器件,用于对该半透半反镜反射的外部光线进行采集;以及处理***,根据该成像器件采集到的亮点图像,获得该亮点坐标。本发明的投影机不依赖于计算机***,简单、高速、且高精度的获得亮点坐标。

Description

一种获取亮点坐标的投影机以及方法
技术领域
本发明涉及投影机技术,尤其涉及一种获取亮点坐标的投影机以及方法。
背景技术
使用投影机进行投影时,通常需要使用高亮点光源(例如激光点光源、LED光点)在投影机的投影区域投射亮点,从而方便演示者进行演示。此时,为了进一步方便演示,需要投影机能够独立完成许多以前必须依赖计算机才能完成的工作,如在投影的文稿上做标记等;并且还需要该投影机能与正在操作投影的计算机进行通信,从而投影机可以自动完成需要演示者在计算机上完成的许多复杂的功能,如翻页、移动鼠标、点击按钮等。因此,就需要投影机能获取演示者投射的激光点的坐标,从而实现上述做标记、翻页、移动鼠标、点击按钮等功能。
目前,利用投影机获取亮点坐标(激光点坐标)存在有两种方案。
图1显示了依照现有技术的第一种方案获取激光点坐标的***结构示意图。
如图1所示,该获取激光点坐标的***包括投影机1、摄像机2、以及计算机3,该计算机3包括视频采集卡31和视频显示卡32,该视频采集卡31与摄像机2相连,该视频显示卡32与投影机1相连,并且该摄像机2放置于该投影机1的正上方。
当演示者利用该投影机1进行投影,且利用激光点光源在投影区域投射激光点时,首先,摄像机2摄取该激光点图像,并将其摄取的激光点图像传送到该视频采集卡31。
该视频采集卡31对其接收的激光点图像进行采集,获得采集的激光点图像信息。
该计算机3根据视频采集卡31接收的激光点图像,利用该计算机3中的激光点实时检测程序来处理该采集激光点图像信息,获得该激光点的坐标,用于对其相连的投影机1进行操作。
该解决方案的主要缺点是获取激光点信息的是计算机***,投影机本身并不能获取激光点的位置;并且如果该投影机1离开了选定的计算机***,投影机并不具备获取激光点坐标的功能。
图2显示了依照现有技术的第二种方案获取激光点坐标的***结构示意图。
如图2所示,该获取激光点坐标的***包括投影机1、摄像机2、计算机3、电荷耦合器件(CCD)4以及处理***5,其中,该计算机3包括与该投影机1相连的视频显示卡32,用于进行投影操作。
在该第二种方案中,摄像机2放置于该投影机1的旁边,该摄像机2摄取的激光点图像在该电荷耦合器件4成像后,输入到该处理***5。
由于该处理***5独立于计算机3的操作,该处理***5并不能直接得到投影机1投影的图像在该电荷耦合器件4上的成像的大小和位置,其必须使用图像边缘提取算法来确定该成像的大小与位置,并经过复杂的计算,最后得到激光点的坐标。
该解决方案的主要缺点是由于不知道投影机投影的图像在电荷耦合器件或者其它成像器件(CMOS-互补金属氧化物半导体器件以及JFET-结型场效应管器件)上成像的大小与位置,需要先使用图像边缘提取算法来确定成像的大小与位置,然后经过复杂的计算得出激光点的坐标,速度慢,精度低。
因此,根据上述方案的缺点,有必要设计一种获取激光点坐标的投影机,其可以不依赖于计算机***而独立、方便地使用,并且简单、高速、且高精度的获取激光点坐标。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种获取亮点坐标的投影机,从而可以简单、高速、且高精度的获取亮点坐标。
本发明的另一目的在于,提供一种获取亮点坐标的方法,从而可以简单、高速、且高精度的获取亮点坐标。
根据本发明的目的,提供一种获取亮点坐标的投影机,包括用于投影的光源和变焦***,该光源发出的光经由该变焦***后投影到投影区域上,该投影机包括:半透半反镜,其设置在光源与变焦***之间的光路上,光路上的光线以一定入射角入射到半透半反镜,该半透半反镜用于将该光源发出的光透射到该变焦***,且将投影区域反射的、经由该变焦***入射到其上的外部光线进行反射,该外部光线包括投影图像、以及入射到该投影图像中的亮点的亮点图像;成像器件,用于对该半透半反镜反射的外部光线进行采集;以及处理***,根据该成像器件采集到的亮点图像,获得该亮点坐标。
根据本发明的另一目的,提供一种使用上述的投影机的获取亮点坐标的方法,包括:对半透半反镜反射的外部光线进行采集,该外部光线包括投影图像、以及入射到该投影图像中的亮点的亮点图像;以及根据采集到的亮点图像,获得该亮点坐标。
本发明的有益效果是:根据本发明的获取激光点坐标的投影机以及方法,可以不依赖于计算机***,简单、高速、且高精度的获得亮点坐标;通过将投影机与计算机进行复用,相比传统方式降低了整个***成本;且降低了对成像器件、投影机的投影区域及其背景的要求。
附图说明
图1为现有技术的一种获取激光点坐标的***结构示意图;
图2为现有技术的另一种获取激光点坐标的***结构示意图;
图3为依照本发明的实施例1的投影机的结构示意图;
图4为依照本发明的实施例2的半透半反镜的光路图;
图5显示了依照本发明的修改实施例的投影机的结构示意图。。
具体实施方式
以下将结合附图说明依照本发明的获取亮点坐标的投影机。
实施例1
图3显示了依照本发明的实施例1的投影机的结构示意图。
如图3所示,依照本发明的实施例1的投影机1包括光源21、半透半反镜22、变焦***23、电荷耦合器件24、以及处理***25。其中,该半透半反镜22为平面半透半反镜,位于该光源21和变焦***23之间的光路上,且光路上的光线以一定入射角θ入射到半透半反镜22。
从该光源21发出的光线经由半透半反镜22和变焦***23后,向投影区域(屏幕或墙面等)进行投影。
从投影区域反射的外部光线(包括投影图像以及投射到该投影图像中的激光点的图像)经由变焦***23和半透半反镜22后,反射到该电荷耦合器件(CCD)24,该电荷耦合器件24根据接收的外部光线,对激光点的图像进行采样,获得激光点图像,并将激光点图像发送到处理***25,并由处理***25进行处理,获得该激光点的坐标。
该光源21和变焦***23为现有投影机中用于发出光线并且进行投影的模块,变焦***(ZOOM)23为镜头的组合,在此不再复述。
下面,根据图3,将具体说明本发明实施例1的投影机获取激光点坐标的流程。
a):该光源21发出的光线a首先以一定入射角度θ入射到该半透半反镜22,该半透半反镜22对该光线a进行部分反射(图未示),并进行部分透射(被透射的光线为a1),该部分透射的光线a1入射到该变焦***23中。
其中,图3中显示的入射角度θ约为45度,但是该入射角度θ可为小于该半透半反镜的全反射角的任意角度,换句话说,只要使得光源21发出的光线不发生全反射即可。
b):被透射的光线a1进入变焦***23后,经由该变焦***23,对投影对象进行投影,并将投影图像投射到投影区域(未显示)。
c):来自投影区域的外部光线经由变焦***23后变成光线b并入射到半透半反镜22上,其中该外部光线包括投影图像以及演示者向投影区域投射的激光点在投影区域上反射的光线。
d):入射到该半透半反镜22上的光线b(包括投影图像以及投射到该投影图像中的激光点的图像)一部分透射过该半透半反镜22(被透射的光线为b1),一部分被反射(被反射的光线为b2),且该被反射的光线b2入射到电荷耦合器件24中。
e):该电荷耦合器件24根据接收的光线b2中的投影图像和激光点图像进行采集,获得采集的投影图像和激光点图像,并都发送到处理***25。
f):处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的投影图像和激光点图像进行处理(例如亮度对比),获得该激光点的坐标。
此时,过程e)和f)中还存有另一种情况:
e’):该电荷耦合器件24根据接收的光线b2中的投影图像和激光点图像进行采集,由于投影图像的亮点太低,只获得采集的激光点图像,从而只将采集的激光点图像发送到处理***25。
f’):处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的激光点图像进行处理(例如将该采集的激光点图像与该电荷耦合器件24的采集范围进行对比),获得该激光点的坐标。
应理解的是,上述激光点可以是其它高亮点,例如LED光点。该电荷耦合器件24也可以采用其它成像器件,例如互补金属氧化物半导体器件(CMOS)、以及结型场效应管器件(JFET)。
根据上述流程和结构,依照本发明实施例1的投影机不依赖于计算机***,简单、高速、且高精度的获得亮点坐标;通过将投影机与计算机进行复用,相比传统方式降低了整个***成本;且由于只需采集到激光点的图像,从而降低了对成像器件、投影机的投影区域及其背景的要求。
实施例2
参照图4,本发明的实施例2的投影机与实施例1的投影机的结构大体相同,其包括光源21、半透半反镜22、变焦***23、电荷耦合器件24、以及处理***25。唯一不同之处在于,该半透半反镜22不是平面半透半反镜,而是楔形半透半反镜。其它部件的结构与功能相同,在此不再复述。
图4显示了依照本发明实施例2的楔形半透半反镜的光路图。
如图4所示,该半透半反镜22由半透半反镜I和半透半反镜II构成,楔形半透半反镜22的楔角,即半透半反镜I和半透半反镜II之间的夹角为2θ。
a):来自光源21的光线以入射角θ,入射到该楔形半透半反镜22,该半透半反镜22的半透半反镜I对该光线a进行部分反射(图4未显示),并进行部分透射(被透射的光线为a1),该部分透射的光线a1入射到该半透半反镜22的半透半反镜II。
其中,图4中显示的入射角度θ约为45度,但是该入射角度θ可为小于该半透半反镜的全反射角的任意角度,换句话说,只要使得光源21发出的光线不发生全反射即可。
b):经半透半反镜I透射的光线a1入射到该半透半反镜II后,一部分被反射(未显示),一部分(透射光线为a3)经过该半透半反镜II透射进入变焦***23后,对投影对象进行投影,并将投影图像投射到投影区域。
c):来自投影区域的外部光线经由变焦***23后变成光线b,并入射到半透半反镜22的半透半反镜II上,其中该光线b包括投影图像以及演示者向投影区域投射的激光点在投影区域上反射的光线。
d):入射到该半透半反镜II上的光线b,一部分(透射光线b1)透射过该半透半反镜II后入射到该半透半反镜22的半透半反镜I上,一部分(反射光线b2)被反射。
e):经该半透半反镜II透射的光线b1入射到该半透半反镜I上后,一部分(透射光线b3)透射过该半透半反镜I,一部分(反射光线b4)被半透半反镜I反射后入射到该电荷耦合器件24。
之后,该电荷耦合器件24根据接收的光线b4中的投影图像和激光点图像进行采集,获得采集的投影图像和激光点图像,并都发送到处理***25。处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的投影图像和激光点图像进行处理(例如亮度对比),获得该激光点的坐标。
或者,该电荷耦合器件24根据接收的光线b4中的投影图像和激光点图像进行采集,由于投影图像的亮点太低,只获得采集的激光点图像,从而只将采集的激光点图像发送到处理***25。处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的激光点图像进行处理(例如将该采集的激光点图像与该电荷耦合器件24的采集范围进行对比),获得该激光点的坐标。
应理解的是,上述激光点可以是其它高亮点,例如LED光点。该电荷耦合器件24也可以采用其它成像器件,例如互补金属氧化物半导体器件(CMOS)、以及结型场效应管器件(JFET)。
且上述反射光线b2也可入射到该电荷耦合器件24,用于对激光点的图像进行采集。
依照本发明实施例2的投影机的结构以及楔形半透半反镜的结构,可以解决由于投影机光源的光谱较宽使得其发出的光线在通过普通的半透半反镜会产生不同程度的折射的问题,有效的防止了光线发生色散。并且,亮点坐标的获取不依赖于计算机***,因而可以简单、高速、且高精度的获得亮点坐标;通过将投影机与计算机进行并用,相比传统方式降低了整个***成本;且由于只需采集到激光点的图像,从而降低了对成像器件、投影机的投影区域及其背景的要求。
此外,上述两个实施例中,还可以通过减小半透半反镜的厚度d来防止光线发生色散。
修改实施例
图5显示了依照本发明的修改实施例的投影机的结构示意图。
本发明的修改实施例的投影机与图3所示的实施例1的投影机的结构大体相同,其包括光源21、半透半反镜22、变焦***23、电荷耦合器件24、滤光片26、以及处理***25。唯一不同之处在于,在电荷耦合器件24和半透半反镜22之间增加了一红色滤光片26,该滤光片与激光点的颜色(红色)相对应,用于增强激光点亮度。其它部件的结构与功能相同,在此不再复述。
其中,这里半透半反镜22采用的是平面半透半反镜,但是其也可以采用楔形半透半反镜。
如图5所示,且依照对实施例1的描述,从变焦***23入射到该半透半反镜22上的光线b(包括投影图像以及投射到该投影图像中的激光点的图像)一部分透射过该半透半反镜22(被透射的光线为b1),一部分被反射(被反射的光线为b2),此时该反射的光线b2入射到红色滤光片26。
该红色滤光片26通过减少其它波长的光线的透射来对光线b2中的激光点图像进行增强,获得且将光线b5(包括增强后的激光点图像)入射到电荷耦合器件24中。
之后,该电荷耦合器件24根据接收的光线b5中的投影图像和激光点图像进行采集,获得采集的投影图像和激光点图像,并都发送到处理***25。处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的投影图像和激光点图像进行处理(例如亮度对比),获得该激光点的坐标。
或者,该电荷耦合器件24根据接收的光线b5中的投影图像和激光点图像进行采集,由于投影图像的亮点太低,只获得采集的激光点图像,从而只将采集的激光点图像发送到处理***25。处理***25对从电荷耦合器件24发送的采集的激光点图像进行处理(例如将该采集的激光点图像与该电荷耦合器件24的采集范围进行对比),获得该激光点的坐标。
根据本发明的修改实施例的投影机,其不仅可实现上述实施例的优点,并且,能够对激光点图像进行增强,增加激光点在投影图像上的对比度,使得激光点的图像在投影图像上更容易被识别。
该红色滤光片26也同样可以应用于实施例2,其位置与功能也相同。当然,也可以使用与其它亮点颜色(蓝色、绿色等)相应的滤光片。
另外,在上述本发明的三个实施例中,在半透半反镜22与光源21之间,半透半反镜22与变焦***23之间可进一步包括其它光学部件,例如,透镜。即,本发明的上述半透半反镜可以设置在光源与变焦***之间的任何位置。
并且,上面本发明仅以激光点为例,说明投影机获取激光点的坐标的过程,但是依照本发明的投影机也可获得激光点之外的其它高亮点光源透射的亮点,例如LED光点。
该电荷耦合器件24也可以采用其它成像器件,例如互补金属氧化物半导体器件(CMOS)、以及结型场效应管器件(JFET)。
综上所述,依照本发明的获取激光点坐标的投影机不依赖于计算机***,简单、高速、且高精度的获得亮点坐标;通过将投影机与计算机进行复用,相比传统方式降低了整个***成本;由于只需采集到激光点的图像,从而降低了对成像器件、投影机的投影区域及其背景的要求;并且还可进一步有效的防止光线发生色散,通过对激光点的图像进行增强,提高激光点在投影图像中的对比度,使得激光点的图像在投影图像上更容易被识别。
对该技术领域的普通技术人员来说,根据以上实施类型可以很容易的联想到其他的优点和变形。因此,本发明并不局限于上述具体实施例,其仅仅作为例子对本发明的一种形态进行详细、示范性的说明。在不背离本发明宗旨的范围内,本领域普通技术人员可以根据上述具体实施例通过各种等同替换所得到的技术方案,但是这些技术方案均应该包含在本发明的权利要求的范围及其等同的范围之内。

Claims (13)

1.一种获取亮点坐标的投影机,包括用于投影的光源和变焦***,该光源发出的光经由该变焦***后投影到投影区域上,其特征在于,包括:
半透半反镜,其设置在光源与变焦***之间的光路上,用于将投影区域反射的、经由该变焦***入射到其上的外部光线进行反射,该外部光线包括投影图像、以及入射到该投影图像中的亮点的亮点图像;
成像器件,用于对该半透半反镜反射的外部光线进行采集;以及
处理***,根据该成像器件采集到的亮点图像,获得该亮点坐标,
光路上的光线以一定入射角入射到半透半反镜,所述入射角小于该半透半反镜的全反射角。
2.如权利要求1所述的获取亮点坐标的投影机,其中,
所述亮点能够在所述投影区域内任意移动。
3.如权利要求2所述的获取亮点坐标的投影机,其中,
该半透半反镜为平面半透半反镜。
4.如权利要求2所述的获取亮点坐标的投影机,其中,
该半透半反镜为具有预定夹角的楔形半透半反镜,所述夹角的角度为所述入射角的两倍。
5.如权利要求3或4所述的获取亮点坐标的投影机,其中,
该处理***根据该成像器件采集的亮点图像与该成像器件采集的投影图像的对比获得该亮点坐标,或者根据该成像器件采集的亮点图像与该成像器件的采集范围的对比获得该亮点坐标。
6.如权利要求5所述的获取亮点坐标的投影机,其中,该半透半反镜与该成像器件之间进一步包括滤光片,该滤光片与该亮点颜色相对应,用于对该半透半反镜反射的投影图像中的亮点图像进行增强。
7.如权利要求6所述的获取亮点坐标的投影机,其中,该亮点包括激光点或LED光点。
8.如权利要求7所述的获取亮点坐标的投影机,其中,该成像器件为电荷耦合器件、或互补金属氧化物半导体器件、或结型场效应管器件。
9.一种使用如权利要求1所述的投影机的获取亮点坐标的方法,包括:
步骤A:对半透半反镜反射的外部光线进行采集,该外部光线包括投影图像、以及入射到该投影图像中的亮点的亮点图像;以及
步骤B:根据采集到的亮点图像,获得该亮点坐标。
10.如权利要求9所述的获取亮点坐标的方法,其中,
该半透半反镜为平面半透半反镜,或者该半透半反镜为具有预定夹角的楔形半透半反镜,所述夹角的角度为入射角的两倍。
11.如权利要求10所述的获取亮点坐标的方法,其中,
根据采集的亮点图像与采集的投影图像的对比获得该亮点坐标,或者根据采集的亮点图像与采集范围的对比获得该亮点坐标。
12.如权利要求11所述的获取亮点坐标的方法,其中,在步骤A中,进一步利用与该亮点颜色相对应的滤光片,对该半透半反镜反射的投影图像中的亮点图像进行增强。
13.如权利要求12所述的获取亮点坐标的方法,其中,该亮点包括激光点或LED光点。
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