CH450206A - Verfahren zum Schärfen der Schleifscheibe in einer Schleifmaschine - Google Patents

Description

  Verfahren     zum        Schärfen    der     Schleifscheibe        in        einer        Schleifmaschine       Die     Erfindung    bezieht sich auf ein Verfahren zum  Schleifen der umlaufenden Schleifscheibe in einer  Schleifmaschine mit     Hilfe    eines von einem Halter getra  genen Schleifwerkzeuges, wobei Schleifscheibe und       Schärfwerkzeug    vor jedem     Schärfvorgang    in eine Lage       zueinander    eingestellt werden, bei der eine Abarbeitung  von     Scheibenmaterial    stattfinden soll.

   Eine solche     Schär-          fung    kann benutzt werden, um in gleichmässigen Ab  ständen die Form der schleifenden Oberfläche der  Schleifscheibe wieder herzustellen     mit    dem Zweck, die  stumpfen Körner loszureissen und ferner der Arbeitsflä  che der Schleifscheibe, die     mit    dem Werkstück in  Berührung steht, eine bestimmte Lage in der Maschine  zu geben. Nach der     Schärfung    kann die Schleifscheibe  zum Werkstück hin vorgeschoben werden., bis das fertige  Mass auf dessen bearbeiteter Oberfläche erhalten ist.  



  Bevor die Schleifscheibe einer     Schärfung    unterzogen  wird, wird sie bei den bekannten     Schärfverfahren    gegen  über dem als     Schärfwerkzeug    dienenden Diamanten in  der Querrichtung so eingestellt, dass der Diamant eine  bestimmte Schicht der Schleifscheibe wegarbeiten wird.  Diese Zulage in der Einstellung der Schleifscheibe wird  auch als  Kompensation  bezeichnet.  



  Die Grösse der Zulage oder Kompensation wurde  bisher so bemessen, dass sie unter allen Umständen die  Abnützung der Schleifscheibe übersteigt, weil diese  bisher nicht festgestellt werden konnte. Dies hat dazu  geführt, dass der Verbrauch an     Schleifscheibenwerkstoff     zu gross gewesen ist. Die Erfindung bezweckt eine solche  unnötige Verschwendung von     Schleifscheibenwerkstoff     zu vermeiden.  



  Das     erfindungsgemässe    Verfahren ist dadurch ge  kennzeichnet, dass die Einwirkung des     Schärfvorganges     auf den Halter über ein abtastendes Organ eine elektri  sche Spannung erzeugt, deren Grösse von der     Schärftiefe          abhängig    ist und die zum Messen der     Schärftiefe     und/oder deren Einstellung auf einen     bestimmten        Wert     ausgenutzt wird.

   Die erzeugte Spannung kann vorteilhaft    zur     Betätigung    eines     Messinstruments    benutzt werden,  das anzeigt, um wieviel die Scheibe jedesmal     geschärft     wird, d. h. bis zu welcher Tiefe Werkstoff von der  Scheibe abgetragen wird. Nach Massgabe der Anzeige  kann man erforderliche Korrekturen     vornehmen.    Ferner  können die von dem     Abtastorgan    ausgehenden Impulse  zur automatischen Einstellung des     Vorschubwerkes    ver  wendet werden, derart, dass die Schleifscheibe bei zu  grossen Impulsen auf eine geringere     Abschärftiefe    oder  umgekehrt angesetzt wird.  



  Im folgenden wird das erfindungsgemässe Verfahren  anhand eines     Ausführungsbeispieles    näher erläutert.  Das     Abtastorgan    kann ein     Vibrations-    oder     Draht-          dehnungs-Abnehmer    o. dgl. sein, der als Folge der       tionen    des     Diamanthalters    eine elektrische Spannung  liefert.

   Die Grösse der Vibrationen und damit die der  Spannung ist proportional zu der     Schärftiefe    längs einer  Kurve, die gewöhnlich nicht geradlinig ist.     Während    des       Schärfvorgangs    ist somit der     Diamanthalter,    der die  Form eines Armes haben kann, Schwingungen     mit    einer  Frequenz ausgesetzt, die für das     Schärfungsmoment     charakteristisch ist und sonst nicht auftritt. Die Schwin  gungen entsprechen der Resonanzfrequenz des Armes  oder der Schlagfrequenz der     Schleifscheibenkörner    ge  gen die Diamantenspitze.

   Gleichzeitig können störende  Frequenzen, die mit der eigentlichen     Schärfung    nichts zu  tun haben und somit auch auftreten wenn der Diamant  nicht in Funktion ist, weggefiltert werden. Die Impulse  vom     Abtastorgan    gehen durch ein einstellbares Bandfil  ter hindurch, das auf die Frequenz einstellbar ist, welche  die grösste Spannung liefert und welche dann an einen  Verstärker angeschaltet wird, der seinerseits z. B. ein  Zeigergerät betätigt. Mit einem     Potentiometer    kann man  dann von Fall zu Fall die Empfindlichkeit derart  einstellen, dass ein voller Ausschlag auf der Skala bei  unnötig grosser     Schärfung    auftritt.

   Die von dem Verstär  ker ausgehende Spannung kann ausserdem an Stromre  lais gekoppelt werden, von denen eines bei allzu kleinen      Ausschlägen und eines bei allzu grossen Ausschlägen ein  Signal     gibt.    Diese Impulse können ihrerseits Einstellor  gane der Maschine zur Regelung der Grösse der Kom  pensation oder des Zuschlages betätigen.  



  Man hat somit eine Möglichkeit, während des  Verlaufes der     Schleifung    die Ausschläge des Zeigerin  strumentes zu beobachten und den Zuschlag oder die  Kompensation auf einen Bestwert hinsichtlich des     Aus-          nutzgrades    der Schleifscheibe einzustellen. Ferner hat  man die Möglichkeit, Impulse von den     Maximum-    und  Minimumrelais an Einstellorgane zu koppeln, die auto  matisch den Zuschlag oder die Kompensation auf den  günstigsten Wert einstellen, um dadurch der Schleifschei  be die     längstmögliche    Lebensdauer zu geben.  



  Es kann vorkommen, dass bei einem Schleifvorgang  die Schleifscheibe stärker als üblich abgenützt wird, z. B.  bei der Bearbeitung eines fehlerhaften Werkstückes. Um  zu vermeiden, dass bei einem solchen Fall die Schleif  scheibe bei der nächsten     Schärfung    vom Diamanten  überhaupt nicht geschärft wird, da der Zuschlag oder die  Kompensation kleiner ist als der Verschleiss der Scheibe,  kann man Minimumimpulse auch dazu ausnutzen, die  Maschine     derart    zu betätigen, dass sie das Schärfen  wiederholt, bis eine ausreichende     Schärfung    stattgefun  den hat und erst danach ihren Arbeitszyklus     fortsetzt.  

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH Verfahren zum Schärfen der umlaufenden Schleif scheibe in einer Schleifmaschine mit Hilfe eines von einem Halter getragenen Schärfwerkzeuges, wobei Schleifscheibe und Schärfwerkzeug vor jedem Schärfvor- gang in eine Lage zueinander eingestellt werden, bei der eine Abarbeitung von Scheibenmaterial stattfinden soll, dadurch gekennzeichnet, dass die Einwirkung des Schärfvorganges auf den Halter über ein abtastendes Organ eine elektrische Spannung erzeugt,

   deren Grösse von der Schärftiefe abhängig ist und die zum Messen der Schärftiefe und/oder deren Einstellung auf einen be stimmten Wert ausgenutzt wird. UNTERANSPRÜCHE 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekenn zeichnet, dass die vom Abtastorgan erzeugte Spannung gefiltert wird um störende Frequenzen, die nicht vom Werkzeug hervorgebracht werden, zu unterdrücken. 2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekenn zeichnet, dass bei einem maximalen und/oder minimalen Wert der vom Abtastorgan erzeugten Spannung Steuer impulse zwecks Korrigierung der Schärftiefe erzeugt werden.

   3. Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, dass bei dem minimalen Wert der Span nung die Maschine zur Wiederholung der Schärfung betätigt wird, bis vom Abtastorgan eine Wechselspan nung bestimmter Grösse erzeugt wird.