Verfahren und Vorrichtung zur Uberwachung der Länge von Unregelmässigkeiten in der StÏrke eines Textilfadens
Zur ¯berwachung von Unregelmϯigkeiten in der StÏrke eines Textilfadens sind mechanische, optische und elektrische Verfahren bekannt. Bei den mechanischen Verfahren wird der Faden auf einen bestimmten Durchmesser abgetastet und bei ¯berschreiten dieses Durchmessers ein Signal gegeben oder der Faden getrennt.
Dieses Verfahren kann also nur solche Unregel- mϯigkeiten in der StÏrke eines Textilfadens erfassen, welche inderÜberschreitungeinesvorgegebenenDurch- messers des Fadens bestehen. en, Bei,, dbn elektrischen und optischen Verfahren, die beispielsweise mit kapazitiven oder photoeloktrischen Me¯f hlern. arbeiten, wird je nach Art des Messverfahrens der Querschnitt oder das Vo- lumen der Unregelmässigkeit in der StÏrke eines Textilfadens erfasst.
Derartige Messverfahren eignen sich also bereits nicht nur zur Erfassung von Dickstellen und Knoten, sondern auch zur Ermittlung von D nnstellen, Ein wesentlicher Nachteil dieser Verfahren besteht jedoch darin, da¯ an dem Me¯wert nicht zu unterscheiden ist, ob die Unregelmϯigkeitsstelle langgezogen ist oder quer zum Faden steht, An Hand der Fig. 1A, 1B und 2 sei dies näher erlÏutert.
In den Fig. 1A und 1B ist jeweils ein Schnitt durch einen Faden F in zwei verschiedenen Richtungen gelegt wor, den. Zur Ermittlung der Unregelmässigkeit des'Fa- dens, in diesem Falle der Dickstelle D, dient ein elek- trooptischer Messfühler E in Form eines Photoelementes, welches aus, der Richtung der Pfeile P in Fig. 1B beleuchtet wird. Je stärker, das Photoelement E beleuchtet wird, desto gr¯¯er ist die an seinen Ausgangsklemmen a und b anstehende Spannung. Mit anderen Worten, die Klemmspannung des Photoelementes wird um so kleinier, je grösser das Volumen der Dickstelle D ist.
Es dürfte unschwer zu erkennen sein, da¯ die ausgezogen gezeichnete querstehendeDickstelle D bei gleichem Volumen den gleichen Spannungsabfall an den Klemmen a und b ergibt wie die gestrichelt eingezeichnete lÏngsstehende Dickstelle D'.
Bild 2 zeigt einen Querschnitt durch eine kapazitive Messanordnung, wobei der Faden F zwischen den beiden Belägen MI und M2 eines Messkondensators hindurchgeführt wird. Die Dickstelle D verändert in diesem die Dielektmzitätsskoostamte und ruft infolgedessen eine e Anderung des durch den Messkondensator hindurch- fliessenden Wechselstromes hervor. Auch hier ist bei gleichem Volumen einer querstehenden Dickstelle D . und einer lÏngsstehenden Dickstelle D' die StromÏnderung gleich. Nun ist es. aber bekannt, dass langgezogene Dickstellen erheblich störender in einem Gewebe wirken als querstehende Dickstellen gleichen Volumens.
Die bekannten Messvorrichtungen weisen aus diesem Grunde Vorrichtungen auf, die dann ansprechen, wenn die Unregelmässigkeitsstelle, also im allgemeinen die Dickstelle, eine vorgegebene Länge überschreitet. Bei diesen bekannten Messvorrichtungen bandelt es sich jedoch um solche, die mit Integrationsschaltungen arbeiten, also zeitabhänig bzw. geschwindigkeitsabhängig sind, Der Nachteil dieser Vorrichtungen besteht darin, da¯ eine gleich lange Dickstelle bei geringerer Fadengeschwindigkeit lÏnger erscheint als bei gr¯¯erer Fadengeschwindigkeit.
Der Erfindung la) g die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren, insbesondere zur geschwindigkeitsunabhÏngigen, Überwachung der LÏnge von Unregelmässigkeiten in der StÏrke eines Textilfadens zu entwickeln. Diese Aufgabe ist gemϯ der Erfindung dadurch gel¯st, da¯ die Dimensionen des Fadens an mehreren in Faden- richtung'unmittelbar hintereinanderliegenden Stellen er- mittelt, von jedem einzelnen Messwert der Logarithmus gebildet und dann alle Logarithmen addiert werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung beispielsweise erlÏutert:
Anhand der Fig. 3A und 3B sei der Grundgedanke der Erfindung an einer Vorrichtung erlÏutert, bei der die FadenstÏrke mittels eines elektrooptischen. Me¯f hlers in Fig. 3A und mittels eines kapazitiven Messfühlers in Fig. 3B ermittelt wird. Dabei ist jeweils ein Schnitt, durch den zu überwachenden Faden F ge legt, welcher innerhalb des Messbereiches eine Unregelmässigkeit in Form einer Dickstelle D aufweist. Hierbei handelt es sich um, eine längsstehende Dickstelle. Eine querstehende Dickstelle D'ist wiederum. gestrichelt eingezeichnet.
Wie die Fig. 3A erkennen lϯt, besteht gemϯ der Erfindung der elektrooptische Messfühler aus mehr, eren, in Fadenrichtung unmittelbar hintereinander angeordneten Messzellen El bis E4. In ähnlicher Weise ist der in Fig. 3B dargestellte kapazitive Messfühler aus mehreren, in Fadenrichtung unmittelbar hintereinander angeordneten Messzellen zusammengesetzt, die aus einzelnen getrennten Kondensatorbelägen Cl bis C4 bestehen, die einer vorzugsweise gemeinsamen Kon densatorplatte C5 gegenüberstehen. Die Anzahl der Messzellen kann dem jeweiligen Anwendungsfall angepasst werden, jedoch ist darauf zu achten, dass eine zu grosse Anzahl von Messzellen die Länge des Messfühlers gegebenenfalls unn¯tig vergr¯¯ert und eine zu geringe Anzahl von Messzellen die Messgenauigkeit herabsetzt.
Im allgemeinen wird man bei vier bis fünf Mcsszellen optimale Ergebnisse erreichen.
W rde man bei der Anordnung der einzelnen Messzellen gemϯ der Fig. 3A und 3B die ermittelten Messwerte einfach addieren, so erhielte man das gleiche Messergebnis, welches man gemäss der Fig. l A und 1B bzw. Fig. 2 mit einer einzigen, entsprechend länger ausgebildeten Messzelle erreicht. Wird jedoch gemäss der Erfindung von jedem einzelnen Messwert der Logarithmus gebildet und werden danach alle Logarithmen addiert, so vergrössert sich die sich ergebende Summe mit zunehmender Länge der Dickstelle selbst dann, wenn das Gesamtvolumen der Dickstelle bei jeder Länge unverändert konstant bleibt. Die Me¯wertzunahme geht in diesem Falle lediglich zu Lasten der Länge.
An Hand der in der Fig. 4 wiedergegebenen Tabelle sei dieser Effekt erläutert.
In den einzelnen Zeilen l bis 9 sind verschiedene Fälle angenommen. In Zeile 1 wird lediglich eine Photozelle durch eine Dickstelle abgeschattet, wie beispielsweise die Photozelle El durch die Dickstelle D' in Fig. 3A. In diesem Fall betrÏgt der Einheitsme¯wert des auf diese Photozelle entfallenden Fadenvolumens 100 %. Dies. en 100 % m¯ge ein angenommener Me¯wert von 24 entsprechen. Der Logarithmus von 24 ist 1, 3802. Er wird in der letzten Zeile ebenfalls mit 100 % angesetzt.
In der zweiten Zeile sind die Werte erfasst für den Fall, dass eine Dickstelle mit dem (gleichen Volumen des Falles in Zeile 1 sich auf zwei MesszeHen veilt, wobei auf die erste Photozelle ein Anteil von 80 % und'auf die zweite Photozelle ein Anteil von 20 % entfällt. Dementsprechend würde die erste Photozelle einen Messwert von 19, 2, die zweite einen Messwert von 4, 8 ergeben. Die Logarithmen von 19, 2 und 4, 8 werden addiert und ergeben einen Summenlogarithmus von
1, 9645. Dies bedeutet eine prozentuale Steigerung des logarifhmischen Wertes gegenüber Zeile 1 auf 142%.
In den Zeilen 3, 4 und 5 sind dann weitere verschiedene Verteilungen des Dickstellenvolumens auf die beiden Photozellen durchgerechnet. Wie Zeile 5 er kemnen lässt, ergibt bereits eine gleichmässige Aufteilung des Diokstellenvolumens auf beide Photozellen eine prozentuale Steigerung der logarithmischen Werte auf
156%.
In den Zeilen 6 und 7 ist dann angenommen, dass sich das Volumen der Dickstelle auf 3 Photozellen verteilen mage. Man erkennt, dass die logarithmischen Summenwerte weiter ansteigen. Schliesslich zeigen die Zeilen 8 und 9 noch die Verteilung des gleichen Volumens auf vier verschiedene Photozellen. Dabei ist in Zeile 9 angenommen, dass sich das Volumen einer Dick sbelle, welche in Zeile 1 nur eine einzige Photozelle ab- schattete, nunmehr alle vier Photozellen gleichmässig mit jeweils 25 % abschattet. Wie man aus der Tabelle ersieht, ergibt also das gleiche Volumen bei einer Ausbildung der Dickstelle gemäss Zeile 9 den 2, 26fachen Messwert gegenüber einer Ausbildung der Dickstelle gemäss Zeile l.
Es ist also mit Hilfe der Erfindung möglich, einen Messwert zu erhalten,. der sowohl das Volumen als auch die Länge der Dickstelle beinhaltet.
Die Ansprechschwelle eines nachgeschaltsten Verstär- kers für die Messwerte kann demzufolge so eingestellt werden, dass der Schaltverstärker sowohl auf das Uber- schreiten eines vorgegebenen Volumens als auch auf das ¯berschreiten einer vorgegebenen LÏnge anspricht, ohne von der Fadengeschwindigkeit beeinflusst zu werden. Eine Dickstelle mit einer Länge, die nicht der eingestellten Länge entspricht, muss somit schon das Mehrfache des eingestellten Volumens aufweisen, um die Schwelle des Schaltverstärkers zu übersteigen.
Dabei lässt die Tabelle der F. ig. 4 auch erkennen, da¯ mit Hilfe der Messzellenanzahl auch eingestellt werden kann, um wieviel das Volumen einer kurzen Dickstelle grösser sein muss als das Volumen einer langen Dickstelle, um die Ansprechschwelle des Schaltverstärkers zu ber schreiten.
Um entsprechend der Erfindung von den einzelnen Messwerten jeweils den Logarithmus zu bilden, kann die elektrische Ausgangsspannung jeder Me¯zelle an einen passiven oder aktiven Spannungsteiler angeschlos- sen sein, der sich aus einem Teil mit linearer und einem Teil mit nichtlinearer Strom-Spannungs-Kennlinie zu sammensetzt. Elektrische Widerstände mit nichtlinearer Strom-Spannungs-Kennlinie sind in verschiedenen Ausführungen bekannt. Lediglich als Beispiel sei verwiesen auf R¯hren, Transistoren, Varistoren und Dioden.
Ein einfaches Lösungsbeispiel f r die Umwandlung eines linear ansteigenden elektrischen Wertes in einen logarith misch ansteigenden, mit Hilfe einer Diode und einem linearen Widerstand, also einem passiven Spannungs- teiler,zeigtdieFig. 5. In ähnlicher Weise kann auch ein aktiver Spannungsteiler, z. B. aus einem linearen Widerstand und einer R¯hre oder einem Transistor bestehend, verwendet werden, also ein Spannungsteiler, dessen nichtlinearer Widerstand zugleich Verstärker- eigenschaften aufweist. Die an den Klemmen c und d anliegende lineare Me¯wertspannung wird ber einen Widerstand 1 einer Diode 2 zugef hrt.
Die Strom- Spannungs-Kennlinie einer solchen Diode weist bekannt- lich in Durchlassrichtung einen exponentiellen Anteil auf, welcher f r die Umwandlung verwendjet wird. Durch entsprechende Wahl des Widerstandes 1 kann erreicht werden, dass die Schwankungen der Messwertspannung innerhalb dieses exponentiellen Teils, der Kennlinie liegen. Da der Durchla¯widerstand der Diode 2 mit zu nehmender Spannung kleiner wird, Ïndert sich das SpannungsteilerverhÏltnis vom Widerstand 1 zum Di odenwiderstand 2. Die Spannungszuwachsrate am Diodeninnenwiderstand wird : infolge des exponentiellen.
Teils der zunehmender Spannung an den
Klemmen c und d kleiner. Man erhält infolgedessen an den Klemmen e und f eine logarithmisch ansteigende Spannung.
Fig. 6 zeigt ein Ausfiihrungsbeispiel, bei dem der elektrische Widerstand mit nichtlinearer Strom-Span- nungs-Kennlinie dadurch. gebildet wird, dass mehrere Dioden 2a bis 2c parallelgeschaltet sind, wobei jede Diode durch eine Spannung U1 bis U3 vorgespannt ist.
Die Vorspannungen Ul bis U3 sind dabei so gewÏhlt, da¯ die Dioden 2a bis 2c jeweils erst dann einen Strom durchlassen, wenn die an den jeweiligen Dioden anliegende Spannung die Vorspannung überschreitet. Die Fig. 7 zeigt, wie. auf diese Weise allein durch Wahl geeigneter Vorspannungen eine exponentielle Strom Spannungs-Kennlinie erreicht werden kann, ohne da¯ der exponentielle Teil der Diodenkennlinie ausgenutzt wird. Es ergibt sich also auch hierbei an den Klemmen e und f der-Fig. 6 eine logarithmische Ausgangsspan- nung.
Fig. 8 zeigt ein praktisches Anwendungsbeispiel mit einem Siliziumphotoelement 3 als elektrooptische Me¯zelle. An das Photoelement 3 islfi ein Transistor 4 angeschlossen, welcher als Impeclanzwandler geschaltet ist, so da¯ das Photoelement 3 durch den hohen Ein gangswiderstand des Transistors 4 praktich kaum be- lastet wird und annähernd mitseiner Leerlaufspannung arbeitet. Da diese Leerlaufspannung des Photoelemlentes 3 mit abnehmender Beleuchtung, also zusätzlicher Abschattung, exponentiell abfällt, entsteht auch an dem Emitterwiderstanid 5 ein exponentieller Spannungsabfall.
Dieser exponentielle Spannungsabfall wird zur Steue- rung des Transistors 6 verwendet, der durch entspre- chende Wahl des Kollektorwiderstandes 7 mit einer derartigen elektrischen Spannung versehen wird, dass er im Knick seiner Kennlinie betrieben, wird. Dadurch wird erreicht, da¯ der exponentielle Spannungsabfall am Widerstand 5 in einen linearen Spannungsanstieg umgewandelt wird, welcher zwischen der Emitter-und der Kollektorelektrode des Translators 6 abgenommen wird.
Dieser lineare Spannungsanstieg zwischen der Emitter-und der Kollektorelektrode des Transistors 6 wird der in Fig. 5 beschriebenen Widerstandsdioden- schaltung mit dem Widerstand 1 und der Diode 2 zugeführt, so da¯ sich an den Klemmen e und f ein logarith- mischer Spannungsanstieg ergibt.
Zur Summierung der logarithmischen Spannungen der einzelnen Messzellen kann eine Summierschaltung verwendet werden, wie sie beispielsweise in Fig. 9 dargestellt ist. Dabei entsprechen die Klemmen e, f den Klemmen e, f der Fig. 8. Die entsprechenden, Klemmen f anderer Photozellen werden eblenfalls an die Klemme f angeschlossen, während die Klemmen e2, e3, e4 der zweiten, dritten, vierten Photozelle an die entsprechen- den Klemmen angeschlossen sind !. Die einzelnen. an den Klemmen e, e2, e3, e4 anliegenden Spannungen sind ber Widerstände 8 bis 11 zusammengefasst und geschlossen über, dlen Wglderstand 12 geführt.
Die Adldition der einzelnen Spannungen erfoLgt in diesem Fall nicht durch Hintereinanderschaltung der Teilspannun- gen, sondern durch Parallelschaltung der Teilströme.
Der von den Widerständen 8 bis 11 sich ergebende Ge- samtstrom ruft im Widerstand 12 einen gemeinsamen Summenspannungsabfall hervor, so dass an den Klemmen g, h die logarithmische Summenspannung aller Messzellen abgenommen werden kann.
Wenn die nichtlinearen Widerstände zur Bildung der logarithmisch von der Fadenstärke abhängigen Aas- gangsspannungen nicht ganz ein logarithmisches Verhalten zeigen, kann es vorteilhaft sein, von dem logarithmischen Summenwert der einzelnen Messwerte, wie er sich in Fig. 9 an den Klemmen g und h ergibt, den Numerus zu bilden, so dass die Additon der Logarithmen dann eine Multiplikation der in Fig. 8 zwischen Emitterund Kollektorelektrode anstehenden linearen Spannung ergibt.
Eine derartige sogenannte Dehnung der Summen- spannung an den Klemmen g und h kann gemäss Fig. 10 durch. ein Diodenwiderstandsglied in'umgekehrter Rei henfolge derjenigen nach Fig. 5 eirreicht werden. An , die Klemmen g, h wird die aus Fig. 9 stammende log arithmische Summemspannung angeschlossen und übar die Diode 13 an den Widerstand 14 angelegt. Durch die exponentielle Kennlinie der Diode 13 er. gibt sich dann am Widerstand 14 ein. exponentieller Spannungs- anstieg, welcher an den Klemmen d, k abgegriffen werden kann.
Aus der logarithmischen Summenspannung an den Klemmen g, h ist somit eine exponentiell ansteigende Spannung an den Klemmen i und k geworden.
Die in Fig. 9. an den Klemmen g, h abnehmbare logar, ithmische Summenspannung odler die an den Klem- men i, k der Fig. 10 abnehmbare exponentiell an steigende Spannung kann beispielsweise zur Steuerung einer Kontroll-oder einer Registriereinrichtung dienen.
Wenn die Spannung zur Steuerung einer Fadentrennvorrichtung dient, so wird d die Vorrichtung zu einem selbsttätigen Fadenreiniger. Es ist vorteilhaft, der Sum menspannung eine Schwellwertspannung entgegenzu- schalten, bei deren ¯berschreiten die Kontroll-, Regi strier-oder Fadenstrennvoirrichtung m Tätigkeit gesetzt wird.
Die Schwellwertspannung kann sich aus den multiplizierten Grenzspannungen f r die StÏrke des Fadens, die StÏrke der Dickstelle, also um wieviel die D, ickstelle dicker ist als der Faden, und die LÏnge der Dickstelle zusammensetzen, wobei unter Grenzspan nung. diejenige Spannung verstanden wird, die gerade noch zulässig ist und bei deren ¯berschreiten eine Unrfagehnässigke. it in der Fadenstärke vorliegt. Eine der- artige als Fadenreiniger dienende Vorrichtung sei an Hand der Fig. 11 erläutert.
An den Stellen g und h liegt die aus Fig. 9 abge nommene logarithmische Summenspannung. Ihr negativer Wert wird ber einen an sich bekannten und nur schematisch. angedeutetien Verstärker 15 an die Basis des Transistors 16 angelegt. Au¯erdem ist an die Basis , des Transistors 16 aber auch der positive Pol einer Schwellwertspannung angeschlossen, welche von dem als Impedanzwandler geschalteten Transistor 17 gesteuert wird. Man erkennt, da¯ der Transistor 16 nur dann stromdurchlässig wird, wenn die von der Klemme g ber den Verstarker 15 an der Basis des Transistors 16 anliegende logarithmische Summenspannung em höheres negatives Potential aufweist als das positive Potential der Schwellwertspannung.
Sobald also die logaritbmische Summenspannung die Schwellwertspannun überschrei- tet, erhält die Basis des Transistors 16 eine negative Vorspannung, so dass der Transistor leibend wird und sich dadurch der Stromkreis f r den Fadenabschneidemagneten 18 schliesst.
Die positive Schwellwertspannung an der Basis des Transistors 16 wird, wie bereits erwähnt, von dem als Impedanzwandler geschalteten Transistor 17 abgenommen. Die Basis dieses Transistors 17 wird von einer Spannung gesteuert, die sich aus drei in Reihe geschalteten Spannungsteilerschaltungen engibt. An dem ver änderbaren Widerstand 19 des ersten Spannungsteilers kann beispielsweise eine der Garnnummer entsprechende Spannung eingestellt werden, welche dem zweiten Spannungsteiler zugef hrt wird.
Der verÏnderbare Wi derstand 20 dieses zweiten Spannungsteilers kann dann auf eine Spannung eingestellt werden, welche den Fak- tor der Dickstelle bestimmt, also den Prozentsatz, um den das zulässige Volumen der Dickstelle gr¯¯er sein soll als dasjenige Garnvolumen, welches normalerweise der Garnnummer entspricht. Die an dem Widerstand 20 des zweiten Spannungsteilers abgenommene Spannung wird dann dem dritten Spannungsteilermitdem verstellbaren Widerstand 21 zugeführt, an welchem man den Längsfaktor einstellt.
In der Fig. 11 sind alle veränderbaren WiderstÏnde 19, 20 und 21 in der Stellung 1 igezeichnet.
An der Basis des Transistors 17 engibt sich dann eine positive Spannung vom Wert 1x1x1=1. An jedem einzelnen der verstellbaren Widerstände 19-21 kann diese Spannung unabhängig verzehnfacht werden. Durch die dargestellte Multiplikationsschaltung werden alle an den Widerständen 19-21 eingestellten Werte miteinander multipliziert. Das Produkt ist der genau de finierte Schwellwert. Es ist vorteilhaft, wenn der erste Regler mit dem Widerstand 19 niederohmig ist. Die darauf folgenden Regler sollen dann höhere Widerstände haben, damit sic den vorhergehenden Spannungsteiler nicht durch eine Strombelastung verfälschen.
Es ist also vorteilhaft, den ersten Spannungsteiler mit dem Widerstand 19 niederohmig, den zweiten mit dem Wi derstand 20 mittelohmig und den dritben mit dem Widerstand 21 hochohmig auszubillden. Um eine weitere nen nonswerte Belastung auszuschliessen, ist an die vom Widerstand 21 abgegriffene Spannung der Transistor
17 wiederum als Impedanzwandler. angeschlossen.
Es ist möglich, eine Schwellwertspannung f r mehrere logarithmiische Summenspannungen zu verwenden.
In diesem Fall sind sämtliche Glieder, die in Fig. 11 links der Line Q-Q angeordnet sind, nur einmal vor- handen, während die Teile rechts dieser Linie für jlede Messstelle einmal vorhanden sein müssen. Um die Schwellwertspannung mehreren logarithmischen Sum- menspannungen entgegenschalten zu k¯nnen, sind Steck verbindungen l, m, n angedeutet. In diesem Falle kann auch der Impedanzwandler 17 aus einer Kaskade von mehreren n-p-n-Transistoren bestehen.
Wie bereits erwähnt, muss bei einer bestimmten Garnnummer der eingestellte Wert von beispielsweise 400 % für die Dickstelle erreicht werden, wenn diese der eingestellten Länge der Dickstelle entspricht, um die Schaltspannung des Transistors 16 und damit die Erregung des Fadenabschaeidm, agneten 18 zu erreichen.
Weist die Dickstelle nicht die entsprechende Länge auf, dann muss das Volumen der Dickstelle um den Längenfaktor ansteigen, um den Schwellenwert zu erreichen.
In diesem Fall ist auch die kürzere Dickstielle infolge ihres erheblich grösseren Volumens nicht mehr zu vertreten und soll durch den Fadenreiniger ausgeschieden werden wie bei iallen anderen bekannten Verfahren.
Die Schwellwertspannung an der Basis des Transistors 16 kann nur einen Wert haben und ist demzufolge das Produkt mehrerer Faktoren. Wird einer der eingestellten Faktoren bei der Messung nicht erreicht, mu¯ ein anderer um m so gr¯¯er sein, um die Schwelle zu erreichen.
Mit der beschriebenen Vernichtung ist es also m¯glich, einen Fadenreiniger herzustellen, der vollkommen statisch arbeitet,. also von der Geschwindigkeit des Fadens absolut nnnabhängig ist. Dieser Reiniger kann aber auch eine automatische Nullpunktkorrektur be- sitzen, um Stromschwankungen bei kapazitiven Messfiihlern oder Lichtstärkeschwankungen bei elektroopti- schen Me¯f hlern auszugleichen. Da die Spannung z.
B. eines Siliziumphotoelementes mit abuehmender Beleuch- tung exponentiell abfällt, hat das Photoelement bei allen Beleuchtungsstärken bei prozentual gleicher Abschattung durch den Faden auch immer den gleichen Span nungssprung. Jede Lichtstärke ergibt f r das gleiche Fadenvolumen den gleichen Spannungssprung J ju, der 'also von der Grundhelligkeit der Lampe unab- hängig ist. Lediglich der Grundwert der Photoelement- spannung ist von der Helli, gkeit der Lampe abhängig.
Die Veränderungen in der Helligkeit der Lampe sind aber im, allgemeinen nicht sprunghaft, sondern langs, am.
Sic entstehen durch Verstaubung oder durch das D nnerbrennen des Lampenwendels usw. Wird nun als Verstärker 15 ein entsprechend konstruierter, differenz bildeader Gleichspannungsverstärker verwendet, so verschieben die langsamen Lichtverminderungen den Ar beitspunkt des Verstärkers und damit die Ansprech- schwelle des Verstärkers nicht mehr, sondern der Verstärker kompensiert den Gleichspannumgsgrundwert einschlie¯lich dessen langfristige Schwankungen.