BRPI0303222B1 - método e aparelho para inspecionar dispositivos óticos - Google Patents
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Abstract
"método e sistema para inspecionar dispositivos óticos". um método para inspecionar dispositivos óticos que compreende (a) iluminar o dispositivo ótico e um fundo circundante com luz, em que a dita luz compreende uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda, em que a dita primeira banda de comprimento de onda e a dita segunda banda de comprimento de onda são comprimentos de onda diferentes, e em que a dita primeira banda de comprimento de onda tem uma primeira intensidade e a dita segunda banda de comprimento de onda tem uma segunda intensidade; (b) transmitir a dita luz através do dito dispositivo ótico em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dito dispositivo ótico e a maior parte da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do dito dispositivo ótico, e capturar a dita luz transmitida da lente sobre uma rede de pixels fotossensível; (c) transmitir a dita luz através do dito fundo circundante em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda e da dita segunda banda de comprimento de onda são transmitidas, e capturar a dita luz transmitida do fundo sobre uma rede de pixels fotossensível; (d) ler os pixels gerados da etapa (b) e da etapa (c) e comparar os valores de escala de cinza da dita leitura, em que a diferença entre os valores de escala de cinza dos pixels gerados da dita luz transmitida do fundo e da dita luz transmitida da lente é de um valor suficiente para distinguir entre os furos do dito dispositivo ótico e as bolhas no dito fundo circundante.
Description
Relatório Descritivo da Patente de Invenção para, "MÉTODO E APARELHO PARA INSPECIONAR DISPOSITIVOS ÓTICOS".
PEDIDO RELATIVO
[001] Este pedido reivindica prioridade de um pedido de patebte provisório U.S. N° de Série 60/359.074, depositado em 21 de fevereiro de 2003, e intitulado "Method and System For Inspecting Optical Devices".
CAMPO DA INVENÇÃO
[002] Esta invenção refere-se genericamente à inspeção de dispositivos ou meios óticos, tais como as lentes oftálmicas. Mais especificamente, a invenção refere-se a tais sistemas para inspecionar automaticamente os dispositivos óticos e a técnicas e procedimentos que são bem-adequados para utilização com tais sistemas.
[003] Ao longo dos últimos diversos anos, técnicas automatizadas tem sido desenvolvidas com sucesso para inspecionar as lentes oftálmicas, particularmente as lentes de contato. Tais técnicas estão descritas, por exemplo, na Patente U.S. 5.500.732 e no Pedido de Patente U.S. N° de Série 09/751.875, depositado em 29 de Dezembro de 2001, [004] Geral mente, nestas técnicas, uma radiação, a qual pode ser uma luz ultravioleta, uma luz visível, ou um laser, é direcionada através de uma lente para formar uma imagem da lente sobre uma rede de pixels. Valores de dados digitais são produzidos que representam a intensidade da radiação sobre os pixels da rede, e um computador é utilizado para processar estes valores de dados para determinar se a lente tem qualquer falha ou defeito inaceitável. Qualquer lente que tenha uma tal falha ou defeito é então identificada e rejeitada.
[005] Muitas destas técnicas são muito eficientes em assegurar que qualquer lente que tenha uma falha ou defeito inaceitável seja re- jeitada. Ao mesmo tempo, estas técnicas algumas vezes rejeitam lentes aceitáveis, um resultado referido como falsas rejeições. Uma razão para isto é que muitos dos procedimentos não são capazes de distinguir entre certos tipos de defeitos de lente e outras características que possam aparecer sobre a rede de pixels mas os quais não são defeitos de lente.
[006] Quando um sistema de inspeção detecta uma característica sobre a rede de pixels mas não pode determinar se esta característica é um defeito de lente ou outra característica indistinguível mas aceitável, a lente é rejeitada. Por exemplo, com diversas técnicas de inspeção, as lentes são inspecionadas enquanto submersas em uma solução líquida, e é muito difícil distinguir entre furos em uma lente (os quais são inaceitáveis) e bolhas naquela solução líquida (as quais não são defeitos de lente). Como um resultado, lentes aceitáveis podem ser rejeitadas devido a bolhas na solução líquida.
[007] Como outro exemplo, com os sistemas de inspeção de lentes automatizados da técnica anterior, é muito difícil distinguir entre lentes de contato moldadas que tem rasgos ou furos e lentes de contatos moldadas que simplesmente foram ligeiramente puxadas de uma seção de molde. Para elaborar, as lentes de contato podem ser feitas, por exemplo como descrito na Patente U.S. 5.540.410, pela moldagem de um polímero adequado entre duas seções de molde plástico. Após o polímero endurecer parcialmente, uma das seções de molde é afastada da outra seção de molde para fornecer acesso à lente.
[008] Neste processo, conforme uma lente é feita, furos ou rasgos podem se desenvolver na lente. Também, conforme as seções de molde são afastadas, uma lente pode se tornar delaminada - isto é, a borda da lente pode se afastar ligeiramente da seção de molde na qual a lente permanece. É muito difícil para um sistema de inspeção automatizado distinguir entre uma lente que foi apenas ligeiramente afas- tada da seção de molde (o que não é um defeito de lente) e uma lente que tem um furo ou está rasgada (o que é um defeito de lente). Por causa disto, lentes aceitáveis podem ser rejeitadas.
BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS
[009] Figura 1 é um diagrama de blocos que ilustra genericamente um sistema de inspeção de lentes que pode ser utilizado na prática da presente invenção.
[0010] Figura 2 mostra porções do subsiste mas de iluminação e de formação de imagem do sistema de inspeção mostrado na Figura 1, [0011] Figura 3 mostra as bandas espectrais que podem ser utilizadas para iluminar uma lente no sistema das Figuras 1 e 2.
[0012] Figura 4 mostra uma imagem de lente feita no sistema das Figuras 1 e 2 e utilizando uma primeira técnica de mascaramento espectral.
[0013] Figura 5 é um gráfico de fluxo para um procedimento preferido para analisar uma imagem de lente utilizando a primeira técnica de ma seara mento espectral.
[0014] Figuras 6 e 7, as quais são similares às Figuras 1 e 2 respectivamente, mostram um segundo sistema de inspeção de lente que também pode ser utilizado na prática desta invenção.
[0015] Figura 8 ilustra os elementos de filtro que podem ser utilizados para fornecer uma segunda técnica de mascara mento espectral, a qual pode ser utilizada para iluminar uma lente no sistema de inspeção das Figuras 6 e 7.
[0016] Figura 9 mostra uma imagem de lente utilizando a segunda técnica de mascaramento espectral.
OBJETIVOS DA INVENÇÃO
[0017] Um objetivo desta invenção é de melhorar os sistemas para a inspeção de dispositivos óticos. Outro objetivo da presente invenção é de reduzir a percentagem de falsas rejeições em um sistema de inspeção de lentes automatizado.
[0018] Um objeto adicional da invenção é de fornecer um sistema automatizado para inspecionar dispositivos óticos que seja capaz de identificar certas características mais precisamente. Um objetivo adicional da invenção é de fornecer um sistema de inspeção de lentes automatizado que tenha uma capacidade melhorada de distinguir entre furos nas lentes e bolhas nas soluções líquidas dentro das quais as lentes são submersas.
[0019] Outro objetivo desta invenção é de iluminar uma lente que está submersa em um líquido, em um modo que facilite distinguir entre furos na lente e bolhas no líquido. Um objetivo adicional da invenção é de fornecer uma técnica de análise de imagem que possa distinguir entre as imagens de um furo em uma lente oftálmica e imagens de bolhas em um líquido dentro do qual a lente está submersa. Outro objetivo desta invenção é de iluminar uma lente de tal modo que a delami-nação da lente não seja mostrada, enquanto que furos e rasgos na lente são mostrados.
[0020] Um objetivo adicional da presente invenção é de fornecer uma técnica de iluminação, referida como mascaramento espectral, que ilumina os objetos com uma luz em bandas de comprimento de onda diferentes, separadas. Alternativamente, o objeto pode ser iluminado por uma luz que compreende as bandas de comprimento de onda separadas e bandas adicionais; no entanto, o sistema de formação de imagem é sensível a somente as bandas de comprimento de onda separadas, ou os comprimentos de onda de luz que não são desejados são filtrados antes do sistema de formação de imagem. Outros objetivos desta invenção é de fornecer técnicas de mascaramento espectral que podem ser utilizadas para permitir que um sistema de inspeção de lentes identifique certas características mais precisamente.
[0021] Um objetivo adicional da presente invenção é de iluminar diferentes porções de um dispositivo ótico com diferentes bandas de comprimento de onda. Ainda outro objetivo da invenção é de iluminar uma porção central de uma lente de contato moldada em um modo que mostre se furos ou rasgos estão presentes naquela porção da lente, sem iluminar outras porções da lente do mesmo modo.
[0022] Estes e outros objetivos podem ser atingidos com os procedimentos de inspeção e análise descritos aqui. Geralmente, estes procedimentos empregam, ou são utilizados com, uma técnica de iluminação única, referida como mascaramento espectral, na qual um dispositivo ótico é iluminado com bandas de comprimento de onda plurais. Com uma técnica de mascaramento espectral, o dispositivo ótico inteiro é iluminado com duas bandas separadas, as quais podem fazer parte de um espectro de luz contínuo; e em outra técnica de mascaramento espectral, diferentes regiões do dispositivo ótico são iluminadas com diferentes bandas. A primeira técnica pode ser utilizada para diferenciar entre bolhas em uma solução e furos no dispositivo ótico, o que é particularmente bem-adequado para analisar as lentes dentro de uma solução em um pacote; no entanto, a técnica pode também ser utilizada para encontrar furos em uma lente dentro de uma peça de molde. Esta invenção é útil na inspeção de lentes muito espessas, por exemplo lentes de -6 ou maiores que são espessas demais para serem analisadas utilizando somente um método de inspeção de UV. A técnica de mascaramento espectral que ilumina o dispositivo ótico com diferentes bandas em diferentes regiões do dispositivo é particularmente bem-adequada para analisar as lentes de contato dentro de uma peça de molde e pode ser utilizada para evitar rejeitar lentes aceitáveis simplesmente porque elas estão delaminadas.
[0023] Mais especificamente, de acordo com um primeiro aspecto da invenção, um método e sistema são fornecidos para formar uma imagem de um dispositivo ótico tal como uma lente oftálmica. Na imagem formada com este procedimento, imagens de bolhas e furos tem diferenças discerníveis. Este método é um método de formação de imagem espectral / inspeção plural para um objeto enquanto que o objeto tem níveis de absorção espectral variados que compreendem pelo menos uma fonte de iluminação que compreende comprimentos de onda que são pelo menos parcialmente absorvidos, preferivelmente quase todos absorvidos e comprimentos de onda que são pelo menos parcialmente transmitidos, preferivelmente quase todos transmitidos pelo objeto para produzir uma imagem parcialmente translúcida.
[0024] Com a modalidade preferida, a técnica se baseia nas qualidades de absorção de ultravioleta de um inibidor de ultravioleta na lente para criar o efeito translúcido / sombreado desejado. O efeito é conseguido passando bandas específicas de luz ultravioleta e visível filtradas na razão e intensidades apropriadas através da lente. As bandas espectrais são selecionadas de tal modo que uma porção da luz ultravioleta é absorvida pela lente e uma porção da luz visível é deixada passar através do dispositivo ótico.
[0025] De acordo com um segundo aspecto da invenção, um procedimento é fornecido para distinguir entre furos nos dispositivos óticos e bolhas em uma solução líquida. Neste procedimento, uma imagem do dispositivo é formada, e a imagem formada pode incluir uma característica que é ou um furo ou uma bolha. Uma característica é identificada que distingue a imagem de um furo da imagem de uma bolha. Um conjunto de valores de dados que representam a imagem formada é processado, de acordo com um programa predeterminado, para procurar por aquela característica distintiva, e se ela for encontrada, a característica é utilizada para classificar a característica como ou um furo no dispositivo ótico ou uma bolha na solução líquida. A modalidade preferida do procedimento, descrita em detalhes abaixo, emprega três elementos chave para discriminar as bolhas dos furos: simetria, espessura de parede, e intensidade e razões de intensidade, [0026] De acordo com um aspecto adicional da invenção, uma técnica de mascaramento espectral é fornecida que pode ser utilizada para evitar rejeitar lentes de contato moldadas aceitáveis simplesmente porque elas estão delamínadas. Em particular, esta técnica efetivamente elimina, ou substancial mente reduz, os falsos negativos causados por uma incapacidade de distinguir entre as lentes delaminadas e as lentes que tem furos ou rasgos. Em uma aplicação preferida, também descrita em detalhes abaixo, as regiões externas da lente são iluminadas de tal modo que qualquer delam inação da lente não é mostrada, enquanto que uma região central da lente é iluminada em um comprimento de onda que mostra os furos ou rasgos naquela porção da lente.
[0027] Benefícios e vantagens adicionais da invenção ficarão aparentes de uma consideração da descrição detalhada seguinte, dada com referência aos desenhos acompanhantes, os quais especificam e mostram as modalidades preferidas da invenção.
DESCRIÇÃO DETALHADA DA INVENÇÃO
[0028] A invenção inclui um método para inspecionar dispositivos óticos que compreende: (a) iluminar o dispositivo ótico e um fundo circundante com luz, em que a dita luz compreende uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda, [0029] em que a dita primeira banda de comprimento de onda e a dita segunda banda de comprimento de onda são comprimentos de onda diferentes, e [0030] em que a dita primeira banda de comprimento de onda tem uma primeira intensidade e a dita segunda banda de comprimento de onda tem uma segunda intensidade; (b) transmitir a dita luz através do dito dispositivo ótico em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dito dispositivo ótico e a maior parte da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do dito dispositivo ótico, e capturar a dita luz transmitida da lente sobre uma rede de pixels fo-tossensível; (c) transmitir a dita luz através do dito fundo circundante em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda e da dita segunda banda de comprimento de onda são transmitidas, e capturar a dita luz transmitida do fundo sobre uma rede de pixels fo-tossensível; (d) ler os pixels gerados da etapa (b) e da etapa (c) e comparar os valores de escala de cinza da dita leitura, em que a diferença entre os valores de escala de cinza dos pixels gerados da dita luz transmitida do fundo e da dita luz transmitida da lente é de um valor suficiente para distinguir entre os furos no dito dispositivo ótico e as bolhas no dito fundo circundante.
[0031] Como utilizado aqui o termo "dispositivo ótico" inclui mas não está limitado a lentes de contato rígidas, lentes de contato macias, lentes de contato permeáveis ao gás rígidas, lentes intraoculares, lentes para microscópios, lentes para câmeras e lentes para óculos. Os dispositivos óticos inspecionados nesta invenção podem ou não conter correção de visão. Os dispositivos óticos preferidos são as lentes de contato macias com ou sem correção de visão. As lentes macias podem ser feitas de hidrogéis convencionais e são geralmente preparadas de monômeros que incluem mas não limitados a metacrilato de hidroxietila (HEMA), vinil pirrolidona, glicerol metacrilato, ácido meta-crílico e ésteres ácidos; ou hidrogéis de silicone. Exemplos de lentes de contato macias incluem mas não estão limitados a etafilcon A, gen-filcon A, lenefilcon A, polymacon, acquafilcon A, balafilcon A, lotrafilcon A e hidrogéis de silicone como preparados nas Pat. U.S. N- 5.998.498, Pedido de Pat, U.S. N- 09/532.943, uma continuação-em-parte do Pedido de Pat. U.S. N- 09/532.943, depositado em 30 de Agosto de 2000, Pat. U.S. N- de Série 09/957.299, depositado em 20 de Setembro de 2001, Pat. U.S. N- 6.087.415, Pat. U.S. N- 5.760.100, Pat. U.S. N- 5.776.999, Pat. U.S. N- 5.789.461, Pat. U.S. N- 5.849.811, Pat. U.S. N- 5.965.631, Pedido de Pat. U.S. N- 60/318.536, intitulado "Bio-medical Devices Containing Internai Wetting Agents," depositado em 10 de Setembro de 2001, e a sua contraparte não-provisória do mesmo título, depositada em 06 de Setembro de 2002. Estas patentes assim como todas as outras patentes descritas neste pedido estão por meio disto incorporadas por referência na sua totalidade.
[0032] Em adição às misturas de monômeros para as lentes de contato macias, as lentes podem conter outros materiais. Sem limitação, outros materiais a este respeito preferivelmente incluem um ou mais aditivos de absorção de ultravioleta (UV). Estes podem ser incluídos na mistura de monômeros por meio disto fazendo com que o dispositivo ótico resultante tenha propriedades de absorção particulares. Como um exemplo somente, os absorventes de UV deste tipo incluem o NORBLOCK (comercialmente disponível da JANSSEN). Apesar da quantidade de tais absorventes poder variar, dependendo do tipo do comportamento de absorção final desejado, é típico que tais absorventes estejam presentes em uma quantidade de aproximadamente 1 parte de absorvente por cem partes de monômero. Outros materiais de absorção incluem os tingimentos, a cor dos quais pode ser correlacionada por aqueles versados na técnica para obter a absorção de outros comprimentos de onda particulares, por exemplo a luz amarela seria absorvida por uma lente que tivesse um tingimento azul.
[0033] Como utilizado aqui, o termo "fundo circundante" refere-se a qualquer objeto que transmita a luz e sustente fisicamente o disposi- tivo ótico durante a inspeção. Se o dispositivo ótico for uma lente de contato macia, um exemplo de um fundo circundante inclui mas não está limitado à embalagem para as lentes ou o molde utilizado para preparar as lentes. A maioria dos processos utilizados para preparar os dispositivos óticos, particularmente as lentes de contato macias são processos úmidos, onde uma solução de embalagem, água desioniza-da e outras soluções são utilizadas através de todas as etapas de processo. Tipicamente quando uma lente de contato macia é inspecionada, a lente é submersa ou flutua em um líquido. Portanto para propósitos desta invenção, se um dispositivo ótico for inspecionado enquanto submerso ou flutuando em um líquido, o termo fundo circundante inclui este líquido. Com respeito aos moldes para as lentes, eles são construídos de plásticos servíveis como materiais que incluem sem limitação: as poliolefinas, tais como o polietileno de baixa densidade, o poli-etileno de média densidade, o polietileno de alta densidade, o polipro-pileno, e os copolímeros de polipropileno e de polietilenos acima mencionados; o poliestireno, o poli-4-metilpenteno; as resinas poliacetais; o poliacriléter; o poliariléter; as sulfonas; o Nylon 6; o Nylon 66; o Nylon 11; o poliéster termoplástico, e vários materiais fluoretados tais como os copolímeros de etileno propileno fluoretados e os copolímeros de etileno fluoretileno. Os moldes para as lentes são freqüente-mente de uma construção de duas partes que contém as partes fêmea e macho correspondentes (curva dianteira e curva traseira respectivamente). Se as lentes forem inspecionadas dentro do molde, é preferido que o molde seja separado nas suas partes e que a lente seja inspecionada dentro da curva dianteira.
[0034] Como utilizado aqui o termo "primeira banda de comprimento de onda" refere-se à luz de um comprimento de onda na região ultravioleta do espectro que é absorvida pelo dispositivo ótico. A luz não precisa ser completamente absorvida pelo dispositivo ótico, apenas a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda precisa ser absorvida. É preferido que aproximadamente 51% a aproximadamente 100% da dita primeira banda de comprimento de onda sejam absorvidos, mais preferivelmente, aproximadamente 80% a aproximadamente 100%, ainda mais preferivelmente aproximadamente 90% a aproximadamente 99%, e mais preferivelmente aproximadamente 99%.
[0035] Com respeito ao comprimento de onda da dita primeira banda de comprimento de onda, este é determinado pela composição do dispositivo ótico e pelas suas propriedades de absorção de luz. Por exemplo se o dispositivo ótico absorve aproximadamente 98% a aproximadamente 99% de luz tendo um comprimento de onda de aproximadamente 340 nm a aproximadamente 360 nm, a dita primeira banda de comprimento de onda será de 340 nm a aproximadamente 360 nm.
[0036] Como utilizado aqui o termo "segunda banda de comprimento de onda" refere-se à luz de um comprimento de onda na região visível do espectro que é transmitido pelo dispositivo ótico. A luz não precisa ser completamente transmitida pelo dispositivo ótico, apenas a maior parte da dita segunda banda de comprimento de onda precisa ser transmitida. É preferido que aproximadamente 51% a aproximadamente 100% da dita segunda banda de comprimento de onda sejam transmitidos, mais preferivelmente, aproximadamente 80% a aproximadamente 100%, ainda mais preferivelmente aproximadamente 90% a aproximadamente 99%, e mais preferivelmente aproximadamente 98% a aproximadamente 99%.
[0037] O comprimento de onda desta segunda banda de comprimento de onda é determinado pelas propriedades de transmitância do dispositivo ótico, aonde os comprimentos de onda que correspondem à percentagem apropriada de transmitância de luz são utilizados. Por exemplo se o dispositivo ótico transmitir mais do que 98% de luz inci- dente a um comprimento de onda de aproximadamente 385-405 nm, o comprimento de onda preferido para a segunda banda de comprimento de onda é de aproximadamente 385 nm a aproximadamente 405 nm.
[0038] O dispositivo ótico pode ser iluminado com a dita primeira banda de comprimento de onda e a dita segunda banda de comprimento de onda por duas fontes de luz separadas, onde uma luz tem o primeiro comprimento de onda e a outra tem o segundo comprimento de onda. No entanto, o mesmo resultado pode ser conseguido utilizando uma fonte de luz o qual contém uma faixa de comprimentos de onda e utilizando um ou mais filtros apropriados para emitir a luz do primeiro e do segundo comprimentos de onda desejados.
[0039] Como utilizado aqui a "primeira intensidade" é da dita primeira banda de comprimento de onda e a "segunda intensidade" é da dita segunda banda de comprimento de onda. A razão da média da primeira banda de intensidade média para a segunda banda de intensidade média é ajustada de modo que a razão da primeira intensidade média para a segunda intensidade média esteja entre aproximadamente 1:1 a aproximadamente 2:1, e mais preferivelmente aproximadamente 1,5:1.
[0040] Como utilizado aqui, o termo "rede de pixels fotossensível" tem a sua definição comum na indústria. Como utilizado aqui o termo "valor de escala de cinza" refere-se a uma escala de luminosidade para as imagens ou à sua leitura de pixel correspondente, onde quanto mais alto o número mais clara (ou mais branca) a imagem, e mais baixo o número, mais escura (ou mais preta) a imagem. Como utilizado nesta invenção, o valor de escala de cinza do fundo circundante branco é de aproximadamente 255 e o valor de escala de cinza para uma imagem preta é de aproximadamente 0. A diferença entre o valor de escala de cinza de uma região livre de defeitos (sem furos, rasgos, ou detritos) do dispositivo ótico e o valor de escala de cinza para o fundo circundante é de aproximadamente 120 a aproximadamente 180, preferivelmente aproximadamente 130-160, mais preferivelmente aproximadamente 140. Uma imagem (ou uma leitura de pixel correspondente) que tem a diferença acima mencionada entre os valores de escala de cinza do fundo circundante e de uma região livre de defeitos do dispositivo ótico tem uma aparência translúcida/sombreada que discrimina entre a aparência de furos no dispositivo ótico e de bolhas na solução circundante.
[0041] Como utilizado aqui, "furos" refere-se a uma área do dispositivo ótico em que o material o qual compreende o dispositivo está faltando. "Bolhas" como utilizado aqui são pequenos corpos de gás com os meios líquidos que circundam ou de outro modo umedecem o dispositivo ótico.
[0042] Ainda a invenção inclui um método para inspecionar dispositivos óticos que compreende: (a) iluminar o dispositivo ótico e um fundo circundante com luz, em que a dita luz compreende uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda, [0043] em que a dita primeira banda de comprimento de onda e a dita segunda banda de comprimento de onda são comprimentos de onda diferentes, e [0044] em que a dita primeira banda de comprimento de onda tem uma primeira intensidade e a dita segunda banda de comprimento de onda tem uma segunda intensidade; (b) transmitir a dita luz através do dito dispositivo ótico em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dito dispositivo ótico e a maior parte da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do dito dispositivo ótico, e capturar a dita luz transmitida da lente sobre uma rede de pixels fo- tossensível; (c) transmitir a dita luz através do dito fundo circundante em que a maior parte da dita primeira banda de comprimento de onda e da dita segunda banda de comprimento de onda são transmitidas, e capturar a dita luz transmitida do fundo sobre uma rede de pixels fo-tossensível; (d) produzir uma imagem do dito dispositivo ótico e do dito fundo circundante em que a diferença entre o valor de escala de cinza da imagem produzida pela etapa (c) e etapa (b) é de um valor suficiente para distinguir entre os furos do dito dispositivo ótico e as bolhas no dito fundo circundante. Como utilizados aqui, os termos dispositivo ótico, fundo circundante, primeira banda de comprimento de onda, segunda banda de comprimento de onda, primeira intensidade, segunda intensidade, rede de pixels fotossensível, valor de escala de cinza, furo e bolha todos tem os seus significados e faixas preferidas acima mencionados.
[0045] Como utilizado aqui, o termo "imagem" refere-se a uma contraparte ótica legível por pessoas ou legível por máquina do dito dispositivo ótico e do dito fundo circundante. A dita imagem pode ser projetada sobre um plano de imagem, uma tela de computador ou outro dispositivo de observação. Ainda a dita imagem pode ser ampliada, ou de outro modo focalizada para melhorar a capacidade do leitor de ver a dita imagem. A invenção está ilustrada em detalhes adicionais pelos desenhos seguintes.
[0046] Figura 1 ilustra um sistema de inspeção 10 para inspecionar lentes de contato. O sistema 10 geralmente compreende um sub-sistema de transporte 12, um subsistema de iluminação 14, um subsis-tema de formação de imagem 16, e um subsistema de processamento 20. A Figura 1 também mostra um mecanismo de rejeição 22, um controle de rejeição 24, e uma pluralidade de suportes ou estrados de len- tes 30, cada um dos quais contém uma ou mais embalagens de lentes. Preferivelmente, o subsistema de formação de imagem 16 inclui uma câmera 32; e o subsistema de processamento 20 inclui um meio processador de imagem 34, um meio de interface do operador 36, e um computador supervisor 40; e, mais especificamente, o meio processador 34 inclui uma pluralidade de placas processadoras e de memória 42, e o meio de interface 36 inclui um monitor 44 e um computador principal 46.
[0047] Geralmente, o subsistema de transporte 12 é fornecido para mover uma quantidade de lentes oftálmicas ao longo de um percurso predeterminado e para uma posição de inspeção de lentes, referenciado como 50 na Figura 1. O subsistema de iluminação 14 é fornecido para gerar um feixe de luz o qual inclui uma luz que compreende uma ou mais bandas que são pelo menos parcialmente absorvidas e uma ou mais bandas diferentes que são pelo menos parcialmente transmitidas e direcionar este feixe através das lentes que se movem através da posição de inspeção de lentes. O subsistema de formação de imagem 16 gera um conjunto de sinais que representam o feixe de luz, ou suas porções, transmitido através de cada lente inspecionada, e então transmite estes sinais para o subsistema de processamento 20.
[0048] O subsistema de processamento 20 recebe estes sinais do subsistema de formação de imagem 16 e processa estes sinais de acordo com um programa predeterminado. Utilizando este programa, o subsistema de processamento 20 gera um sinal que indica se cada lente inspecionada é adequada para uso do consumidor. Se uma lente for considerada ser inaceitável, um sinal é transmitido para o controlador 24, o qual então opera o mecanismo 22 para remover a lente inaceitável do fluxo de lentes aceitáveis. Os dispositivos ou elementos específicos que podem ser utilizados no sistema 10 estão apresenta- dos e descritos em detalhes na Patente U.S. 5.500.732 e no Pedido de patente U.S. N- de Série 09/751.875, ambos os quais estão incorporados aqui por referência nas suas totalidades.
[0049] A Figura 2 ilustra em maiores detalhes porções dos subsis-temas de iluminação e de formação de imagem preferidos. Em uso, um sensor de disparo (não-mostrado) detecta um pacote de transporte 30 movendo-se ao longo do transportador de pacotes 52 e envia um sinal elétrico para o subsistema de iluminação, o qual por sua vez dispara um estroboscópio de xenônio 54 (fonte de luz). A luz produzida pelo estroboscópio passa através do vidro de difusão 56 e migra através do tubo de extensão de luz 60, onde ela encontra uma combinação de filtros 62 e 64 em um suporte de filtro 66. A luz recentemente filtrada continua o seu curso através da embalagem primária 70, onde a luz encontra a lente de contato dentro de água desionizada 72. A luz que emerge da lente de contato é recebida pela lente de quartzo de elementos múltiplos 74 e oticamente processada antes de impingir a rede de CCD de câmera 76. Os dados de imagem resultantes são então processados pelo subsistema de processamento. A Figura 2 também mostra um anel de ajuste de diafragma da lente 80, um tubo de extensão de lente 82, e um anel de foco de lente 84.
[0050] Os filtros, 62 e 64 removem os comprimentos de onda de luz que não estão dentro da primeira banda de comprimento de onda ou da segunda banda de comprimento de onda. Preferivelmente um dos filtros é um filtro IV com uma transmissão de pico a 540 nm 300 FWHM (largura total na metade do máximo, ou a largura da banda de transmissão de um filtro ótico medido a 50% da transmissão de pico). O segundo filtro é preferivelmente um filtro UV, ou um filtro de vidro preto de transmissão de UV que filtra a luz a 350 nm 53 FWHM (filtro UG1) ou um filtro de vidro preto que filtra a luz a 324 nm 112 FWHM (UG11). Os filtros estão descritos e mostrados nas modalidades prefe- ridas como estando localizados entre a fonte de luz e o dispositivo a ser inspecionado; no entanto, os filtros podem estar alternativamente localizados entre o dispositivo a ser inspecionado e a câmera.
[0051] Com referência à Figura 1, nesta operação do sistema 10, o computador principal 46, o qual preferivelmente inclui um teclado e um terminal de vídeo, está conectado ao meio de processador 34 para apresentar visualmente os dados ou as mensagens que estão sendo inseridas no processador. O monitor 44 está também conectado ao meio de processador 34 e é fornecido para produzir imagens de vídeo dos valores de dados armazenados no meio de processador, e o monitor 44 pode também ser utilizado para apresentar os resultados e os totais da inspeção.
[0052] Como mencionado acima, o subsistema de processamento 20 processa os dados recebidos da rede de pixels 76 para determinar se cada lente 70 é aceitável. Geralmente, isto é feito pesquisando a imagem de cada lente quanto à presença de qualquer defeito, ou mais precisamente, quanto à imagem de qualquer defeito. Se um defeito for encontrado, a lente é então rejeitada.
[0053] Um tipo de defeito é um furo em uma lente, e os procedimentos de inspeção da técnica anterior tipicamente procuram tais furos. Uma desvantagem chave da tecnologia da técnica anterior, no entanto, é a sua incapacidade de discernir precisamente entre as bolhas na solução 72 e furos em uma lente de contato 70. Esta incapacidade é devido ao fato de que estas bolhas 42 e furos 43 tem características similares quando formada a imagem. Esta deficiência é uma causa principal de produtos falsamente rejeitados.
[0054] O subsistema de iluminação 14 é projetado e operado para formar uma imagem sobre uma rede de pixels 76 nas quais as bolhas e os furos tem diferenças discerníveis, e o subsistema de processamento 20 está equipado com uma rotina que pode identificar estas di- ferenças e por meio disto distinguir entre os furos nas lentes e as bolhas na solução. Mais especificamente, o subsistema de iluminação fornece um método de formação de imagem de comprimentos de onda plurais para a lente, enquanto que a lente tem níveis de absorção variados, que compreende pelo menos uma fonte de iluminação que compreende comprimentos de onda que são pelo menos parcialmente absorvidos e comprimentos de onda que são pelo menos parcialmente transmitidos pela lente para produzir uma imagem parcialmente translúcida.
[0055] Em adição às qualidades espectrais da lente de contato, esta técnica pode adicionar quantidades de inibidores de ultravioleta aos componentes de lente de contato restantes para ajustar o grau de absorvência da banda de comprimento de onda para alcançar o efeito translúcido desejado. Com referência à Figura 3, o efeito é conseguido passando bandas de luz ultravioleta e visível filtradas na razão e inten-sidades apropriadas através da lente, e o resultado líquido são as bandas 86 e 88. As bandas espectrais são selecionadas de tal modo que uma porção da luz ultravioleta é absorvida pela lente e uma porção da luz visível é deixada passar através da lente. A porção de UV da luz que alcança a câmera e faz parte da luz que forma a imagem sobre a rede de CCD preferivelmente compreende 340-365 nm. (Esta porção UV da luz é medida após passar através dos filtros e da lente de contato). A porção visível da luz que alcança a câmera e faz parte da luz que forma a imagem sobre a rede de CCD preferivelmente compreende 385-405 nm (Esta porção visível da luz é medida após passar através dos filtros e da lente). A razão de absorvente (componente de luz ultravioleta) para não-absorvente (componente de luz visível) está preferivelmente entre aproximadamente 1:1 a 1,5:1 e mais preferivelmente 1,5:1.
[0056] Também, o sistema está ajustado de modo que a intensi- dade média da luz que compreende a dita primeira banda de comprimento de onda e a dita segunda banda de comprimento de onda incidente sobre a rede de pixels fotossensível está na faixa média da sensibilidade da rede. Por exemplo se a faixa de leitura de escala de cinza correspondente da rede de pixels fotossensível for por exemplo de 0 a 255, a intensidade média da luz incidente sobre a rede de pixels fotossensível é ajustada para o meio desta faixa preferivelmente aproximadamente 140. Na Figura 3, a linha 92 ("______") representa a transmi- tância de câmera / filtro, a linha 90 representa os dados de absorção da lente sem filtros presentes, e a linha 94 ("--"), a qual inclui as bandas 86 e 88, representa os espectros de transmitância líquida na câmera após passar através da lente e dos filtros. A Figura 4 ilustra uma imagem de lente de contato 96 formada sobre a rede de pixels utilizando esta tecnologia de formação de imagem multiespec-tral. A imagem de lente de contato é uma imagem parcialmente translúcida isto é uma imagem cinza, 97. Esta imagem distingue claramente entre uma bolha, 42, e um furo 43. Em contraste, um sistema de inspeção de campo claro cria uma imagem clara da lente de contato na qual a borda e os defeitos são pixels escuros, e um sistema de inspeção de campo escuro cria uma imagem escura da lente de contato na qual a borda e os defeitos são pixels claros.
[0057] A Figura 5 mostra um gráfico de fluxo para uma rotina ou procedimento 100 que é executado pelo sistema de processamento utilizando um programa de computador para analisar as informações de pixels. O procedimento, quando utilizado com uma imagem de lente formada no modo acima descrito, é capaz efetivamente de distinguir entre os furos nas lentes e as bolhas no líquido dentro do qual as lentes estão submersas. Geralmente, este procedimento emprega três elementos chave para discriminar as bolhas dos furos: simetria, espessura de parede, e intensidade e razões de intensidade. Todas as características de discriminação podem ser utilizadas em qualquer sistema de inspeção, por exemplo os sistemas de inspeção de campo claro e campo escuro como descrito nas Patentes U.S. 6.154,274; 5.995.213; 5.943.436; 5.828.446; 5.814.134; 5.812.254; 5.805.276; 5.748.300; 5.745.230; 5.717.781; 5.675.962; 5.649.410; 5.640.464; 5.568.715; e 5.500.732, as quais estão por meio disto incorporadas por referência na sua totalidade. No entanto, a terceira característica de discriminação que utiliza a intensidade e as razões de intensidade está particularmente bem-adequada para o sistema descrito aqui.
[0058] As bolhas tem uma razão de aspecto, a qual é uma medida de simetria, próximo de 1,0, onde a razão de aspecto é definida como a largura dividida pela altura da bolha. As bolhas também tem estruturas simétricas por dentro também. O centróide inercial (centro de intensidade similar ao centro de massa) de uma bolha está quase sempre dentro de um ou dois pixels do seu centróide geométrico. O centróide inercial é definido pelas seguintes equações: [0059] Coluna: Xi = (intensidade de pixel) * (posição na coluna) / (Contagem de Intensidade Total) [0060] Linha: Yi = (intensidade de pixel) * (posição na linha) / (Contagem de Intensidade Total) [0061] O centróide geométrico é o seu centro e é definido pelas seguintes equações: [0062] Coluna: Xg = (início da coluna) + (Largura da bolha) / 2,0 [0063] Linha: Yg = (início da linha) + (Altura da bolha) / 2,0 [0064] Também, as bolhas tem uma espessura de parede mínima para o seu tamanho. Esta espessura de parede é o anel escuro que compreende a borda da bolha. Os furos freqüentemente tem bordas muito finas, mas a espessura da borda de um furo pode variar com a prescrição da lente, a localização do furo na lente, e a profundidade do furo. Na rotina 100 preferida, discutida em detalhes abaixo, a espessu- ra de parede da bolha ou do furo é determinada por oito vetores de pesquisa, separados por 45 graus, processando do exterior para o centro e comparando os pixels com os limites desenvolvidos do fundo local. Para cada vetor, os pixels escuros e os pixels claros são contados, com base na sua comparação com os limites. Os pixels escuros representam a espessura da parede da bolha ou do furo e a contagem de pixels claros é utilizada para determinar a quantidade de perda de material, se existir.
[0065] A técnica de formação de imagem espectral plural acima descrita fornece uma característica de discriminação adicional: as in-tensidades de uma bolha e um furo com respeito aos seus respectivos fundos locais. Uma característica importante na modalidade preferida destas técnicas de formação de imagem é que a lente absorve acima de 99% da luz UV mas passa quase toda a luz visível. Por causa disto, a lente de contato aparece como um objeto cinza (valores de escala de cinza mais baixos) e qualquer perda de material significativa na lente aparecerá na imagem capturada como branca (valores de escala de cinza mais altos). Utilizando isto, os furos podem ser facilmente detectados nas imagens pela comparação de seus valores de escala de cinza com aqueles dos pixels vizinhos. Uma limitação nesta discriminação é a descoberta de bolhas as quais atuam como pequenas lentes e refratam a luz visível, fazendo com que as bolhas apareçam como furos. Elas parecem ser furos na lente já que elas tem centros mais claros do que os seus pixels vizinhos. Em vista disto, preferivelmente, o limite de pixel claro é linearmente ajustado de modo que o limite da razão de escuro para claro é relaxado para permitir bolhas claras mais próximas da borda da lente mas não localizar bolhas claras mais próximo do centro da lente.
[0066] Com referência específica à Figura 5, preferivelmente, antes do procedimento 100 ser iniciado, os dados de imagem são pro- cessados para identificar furos e bolhas potenciais, os quais são genericamente referidos como blobs. Qualquer procedimento adequado pode ser utilizado para fazer isto, por exemplo, ver as Patentes U.S. 6.154,274; 5.995.213; 5.943.436; 5.828.446; 5.814.134; 5.812.254; 5.805.276; 5.748.300; 5.745.230; 5.717.781; 5.675.962; 5.649.410; 5.640.464; 5.568.715; e 5.500.732. Todas estas patentes estão incorporadas aqui por referência na sua totalidade. Tipicamente uma análise de pixel por pixel é executada a qual compara as intensidades de pixels adjacentes para primeiramente localizar a borda da lente e então para determinar se a lente tem qualquer defeito dentro da lente. Os pixels dentro da lente são comparados com um valor limite e se a intensidade de pixel for menor do que o valor limite, então aquele pixel pode ser um furo ou um defeito. Os pixels adjacentes que tem uma intensidade mais baixa do que o valor limite são agrupados e serão referidos como umo blob. Uma região retangular é definida ao redor de cado blob incorporando todos os pixels do blob que tem valores de intensidade menores do que o valor limite. Na etapa 102 do procedimento 100, o número total de blobs é comparado com um valor limite; e se este número exceder este valor limite, a lente é rejeitada e a rotina termina. Isto é feito na premissa que, se tantos blobs estão presentes, é muito provável que pelo menos um dos blobs seja um furo, ou mesmo se todos os blobs forem bolhas, estas bolhas podem ter obscureci-do ou mascado um furo na lente. Sob estas circunstâncias, pode simplesmente ser mais econômico rejeitar a lente do que analisar todos os blobs. Por exemplo, o valor limite pode ser 50 como mostrado na Figura 5.
[0067] Se o número total de blobs for menor do que o valor limite, a rotina prossegue para analisar os blobs um de cada vez. Especificamente, na etapa 104, o tamanho de um dos blobs é comparado com um valor mínimo que representa o menor tamanho que um furo prova- velmente teria. Se o blob não for maior do que este tamanho de furo mínimo, o blob é considerado não ser um furo, e a rotina prossegue para analisar o próximo blob. Para o sistema preferido, um blob menor do que 3 pixels, 47 mícrons é considerado não ser um furo.
[0068] Em contraste, o tamanho do blob é tal que ele poderia ser um furo, então a rotina vai para a etapa 106 e a razão de aspecto do blob é calculada. Como mencionado acima, esta razão de aspecto é simplesmente a largura do blob dividida pela sua altura. Na etapa 110, esta razão de aspecto é comparada com uma faixa, e se a razão de aspecto estiver fora da faixa especificada, então o blob é identificado como um furo, e a rotina prossegue para analisar o próximo blob. Se, no entanto, a razão de aspecto estiver dentro da faixa, a rotina avança para a etapa 112. A razão de aspecto é usualmente determinada para estar dentro da faixa de 0,8 a 1,2.
[0069] Pode ser notado que a faixa com a qual a razão de aspecto é comparada na etapa 110 não precisa ser uma faixa fixa, permanente, mas pode variar de blob paro blob dependendo do tamanho do blob. Por exemplo, um valor pode ser utilizado para esta comparação se o blob for maior do que um dado tamanho, enquanto que um segundo valor pode ser utilizado se o blob for menor do que um dado tamanho. Também, se o blob for menor do que um dado tamanho, um valor de comparação pode ser determinado como uma função do tamanho do blob. As bolhas grandes usualmente tem bordas mais espessas de modo que o programa pode fornecer uma faixa de razão de aspecto mais estreita centrada próximo de 1 para otimizar a diferenciação de bolhas grandes se baseando mais na análise de suas espessuras de borda.
[0070] Nas etapas 112 e 114, diversos valores são calculados. Em particular, na etapa 112, dois valores limite são calculados. Um primeiro destes, referido como o limite de furo, representa uma intensidade relativa ao fundo para comparação dos pixels dentro do blob; e o segundo valor, referido como o limite de anel, representa uma intensidade relativa do fundo para comparação dos pixels na borda, ou anel, do blob.
[0071] Para cado blob processado, uma estimativa do fundo local é executada para suportar uma melhor determinação de limites utilizados para avaliar o tamanho do blob, a forma, e as características. Os limites determinados do fundo local incluem um limite de furo, um limite de anel, e um limite de detritos. O limite de furo é utilizado para identificar os furos parciais onde o interior do blob não está em níveis saturados, mas é mais claro do que os níveis de cinza do fundo local. O limite de parede de blob é utilizado para avaliar a espessura de parede de bolha potencial já que uma imagem de bolha aparece como uma forma de anel circular escura parecida como uma rosquinha. O interior da bolha é usualmente similar em intensidade aos seus níveis de fundo local, mas os blobs de bolha usualmente exibem um anel escuro, o qual é significativamente mais escuro do que os níveis de fundo local. Um limite é também determinado separadamente para os detritos, os quais tipicamente são mais escuros do que as intensidades de parede de bolha. A utilização do fundo local para determinar estes limites significa que o processamento será mais adaptável e cado blob processado será melhor caracterizado.
[0072] Qualquer procedimento adequado pode ser utilizado para determinar uma valor de fundo local apropriado para cado blob. Preferivelmente, este valor pode ser baseado nos valores de intensidade dos pixels em uma área definida vizinha ao blob e dentro do retângulo que define a área de análise para o blob. Utilizando este valor de fundo apenas determinado, BgMean, os valores limites de anel de furo, e de detritos podem ser calculados pelas equações: [0073] holeTHrs = BgMean + (C_smHTFactor * BgSigma) [0074] ringTHrs = BgMean + (C_smDTFactor * BgSigma) [0075] Onde BgMean é o valor de intensidade médio dos pixels em uma dada área, BgSigma é o desvio padrão destes valores de intensidade de pixels da média, e C_smHTFactor e C_smDTFactor são parâmetros. Estes parâmetros são empiricamente derivados por um processo interativo para um sistema que utiliza imagens de lentes de contato que são conhecidas terem furos e bolhas nas imagens.
[0076] Na etapa 114, um valor de gradiente de blob (descrito abaixo como uma primeira derivada em duas dimensões) para cada pixel do blob é determinado. Uma parte importante da análise de blob inicial, precedendo a etapa 102, isto é precedendo o software de processamento de bolhas mostrado no diagrama de fluxo na Figura 5, é a determinação das bordas do blob calculando a sua primeira derivada em duas dimensões ou gradientes. Estes gradientes são utilizados para rastrear as bordas externa e interna para formar umo blob para um processamento posterior. No entanto, estes valores de gradiente são substituídos na análise do blob inicial por uma codificação de cor de pixel a qual é utilizada para costurar os pixels vizinhos juntos em umo blob contígua. Como uma parte do processo de identificação de bolha, os gradientes de borda de blob são reavaliados na etapa 114. A reavaliação do gradiente de blob é compreendida de calcular as primeiras derivadas em duas dimensões para um tamanho de área aumentado para cado blob (2 pixels adicionais sobre cada lado da região retangular do blob inicial) em uma tentativa de melhorar as bordas fracas que podem ter sido ignoradas pela análise de blob inicial que foi feita antes da etapa 102 quando os blobs foram localizados. Enquanto o gradiente de blob é recalculado, a média e o desvio padrão do gradiente são calculados. O limite de gradiente é determinado como sendo a média de gradiente menos um desvio padrão de gradiente. O limite de gradiente é utilizado no processamento posterior para determinar o tama- nho do blob, a razão de aspecto, a simetria, e a espessura de parede (anel) do blob, os quais são utilizados para classificar o blob como uma bolha ou um defeito. Na análise de blob inicial, executada antes da etapa 102 no software de identificação de bolha, um limite de gradiente estático é utilizado na análise de blob. Pelo cálculo de um limite de gradiente local para cado blob no software de processamento de bolhas, uma melhor determinação das características do blob pode ser executada.
[0077] Após as etapas 112 e 114, a rotina determina, na etapa 116, se o blob é pequeno ou grande. Isto é feito comparando o tamanho do blob com um parâmetro predeterminado. Se o tamanho for menor do que esta constante, o blob é considerado pequeno, e a rotina prossegue para a etapa 120; e se o tamanho do blob for maior do que esta constante, o blob é considerada grande e a rotina se move para a etapa 122.
[0078] Os blobs pequenos, os quais são menores do que o valor especificado pelo parâmetro C_bubMinBlob, por exemplo os blobs que tem uma área de pixel maior do que 15, e os quais tem uma razão de aspecto dentro da faixa especificada do parâmetro C_smBubRat, são avaliados para determinar se eles tem pixels claros característicos de pequenos furos. Também, a razão de pixels escuros para todos os pixels (determinada pela comparação de intensidades de pixels com os limites de furo e de anel calculados do fundo local (para cado blob)) é comparada com o parâmetro C_minDPPer. Se os pixels escuros para os pixels totais dentro do blob for maior do que C_minDPPer, então o blob é uma bolha ou um furo parcial pequeno. C_minDPPer é determinado empiricamente para um dado sistema e lente. Para o presente sistema ele tem um valor de 52.
[0079] Na etapa 120, a razão de pixels escuros para todos os pixels é calculada, e então, na etapa 124, esta razão é utilizada para determinar se o blob é um furo ou uma bolha. Mais especificamente, na etapa 124, dois critérios precisam ser atendidos de modo que o blob seja identificado como uma bolha. O primeiro critério é que a razão de pixels escuros para totais precisa satisfazer uma dada condição. Por exemplo, esta condição pode ser que a razão de pixels escuros para totais seja maior do que um valor definido. Deve ser notado que este valor definido pode ser uma função de outros fatores tais como o tamanho do blob. O segundo critério aplicado na etapa 124 é se o número total de pixels claros é menor do que um dado número tal como dois. Se ambos os critérios aplicados na etapa 124 forem atendidos, o blob é identificado como uma bolha, e de outro modo o blob é determinado ser um furo.
[0080] Na etapa 120, qualquer teste ou testes adequados podem ser utilizados para identificar os pixels como escuros ou claros. Por exemplo, aqueles pixels cujos valores de intensidade são menores do que um primeiro valor dado podem ser considerados como escuros, enquanto que os pixels cujos valores de intensidade são maiores do que um segundo valor podem ser considerados como claros. Para o presente sistema, é preferido que um pixel escuro seja um pixel que tenha um valor de intensidade menor do que o limite de anel, ringThr, e um pixel claro é um pixel que tem um valor de intensidade maior do que o limite de furo, holeThr.
[0081] Se, na etapa 116, o blob for determinado como sendo um grande blob, a rotina prossegue da etapa 116 para a etapa 122, onde o tamanho do blob é comparado com um dado valor (o qual é um parâmetro com um valor padrão de 11000 pixels quadrados), o qual representa o tamanho máximo de uma bolha. Se o blob não for menor do que este valor, o blob é identificada como um furo. No entanto, se o blob for menor do que este tamanho, a rotina move-se para a etapa 126, onde a espessura do anel, ou borda externa, do blob é determi- nada.
[0082] Os blobs maiores tem as suas espessuras de parede avaliadas para determinar se elas exibem o traço característico de bolhas no fato de que elas se assemelham a uma rosquinha. A espessura de parede do blob é determinada, na etapa 126, ao longo de cada um dos oito vetores de pesquisa, separados por quarenta e cinco graus, processando do exterior do blob para o centro, e comparando os valores de intensidade para os pixels nos limites dos vetores para furo e anel calculados do fundo local para cada furo. Ao longo de cada vetor, os pixels escuros e os pixels claros são contados, com base na sua comparação com os limites de anel ou de furo. Os pixels escuros representam a espessura da parede (borda ou anel) do blob, e a contagem de pixels claros pode ser utilizada para determinar a quantidade de perda de material, se existir.
[0083] Na etapa 130, o número de vetores que se estendem através de uma espessura de parede maior do que um dado número de pixels acima de uma espessura mínima, por exemplo maior do que dois pixels, é comparado com um dado valor, C_bubNEdge. Se o blob não passar neste teste, então o blob é classificado como um furo (defeito). Se o blob tiver um número aceitável de vetores de teste, então ele é adicionalmente processado para determinar se ele é uma bolha.
[0084] Se um blob passar no teste de vetor de anel na etapa 130, então os seus pixels são comparados com limites adicionais determinados do fundo local e contados. Também a média geométrica e a média ponderada de pixels são determinadas. Os valores limite adicionais são: [0085] darkThr = BgMean - (darkfac * BgSigma) [0086] brightThr = BgMean + (holefac * BgSigma) [0087] verybrightThr = holerThr [0088] Como descrito acima os parâmetros darkfac e holefac são determinados empiricamente como descrito anteriormente.
[0089] Na etapa 132, contagens são feitas do número de pixels dentro do blob que são escuros, claros, e muito claros. Especificamente, para fazer isto, os valores de nível de cinza dos pixels são comparados com os três valores limite apenas definidos, que representam os valores escuro, claro, e muito claro. Se um valor de nível de cinza de um pixel for menor do que o valor limite escuro (darkThr), o pixel é considerado ser escuro. Se o valor de nível de cinza de um pixel for maior do que o valor limite claro (brightThr), o pixel é considerado ser claro; e se o nível de cinza de um pixel for maior do que o valor limite muito claro (verybrightThr), o pixel é considerado ser muito claro. Com este procedimento, pode ser notado, um pixel que é muito claro é também contado como um pixel claro.
[0090] Na etapa 134, a rotina verifica para determinar se o blob tem qualquer pixel claro. Se não, o blob é considerada ser uma bolha; enquanto que se o blob tiver qualquer pixel claro, a rotina prossegue para a etapa 136 para testar se o blob é uma bolha que tem um centro claro porque a bolha está atuando como uma lente. Nesta etapa, uma determinação é feita, com base no número de pixels escuros e claros e uma comparação do centro geométrico e do centróide inercial que foi descrita anteriormente e pode ser referida como uma média ponderada de pixels, para determinar se o blob é uma bolha, um furo, ou detrito, ou algum outro tipo de defeito. Quando as bolhas exibem pixels claros na sua região central, o seu centróide inercial está tipicamente muito próximo dos seus centros geométricos, enquanto que os furos parecerão ter centróides inerciais oblíquos quando comparados com os seus centros geométricos. Os detritos são usualmente também não-simétrico e também não passarão neste teste.
[0091] Na etapa 140, a distância entre o centróide inercial e o centro geométrico é comparada com um valor definido, o qual pode ser uma constante, ou pode ser determinada de acordo com uma função definida. Se esta distância não for menor do que o valor definido, o blob é considerado ser assimétrico e é assim considerado ser um furo. No entanto, se a distância entre os centróides inercial e geométrico for menor do que o valor definido, o blob é considerado ser simétrico. O blob pode ser uma bolha, e a rotina se move para a etapa 142.
[0092] Nesta etapa 142, a rotina verifica para ver se a razão de pixels escuros para pixels claros indica se o blob é uma bolha. Para fazer isto, a rotina compara esta razão com um valor definido, o qual pode ser um parâmetro ou o qual pode ser calculado de acordo com uma função definida. Se a razão de pixels escuros para claros for menor do que o valor definido, o blob é considerado ser uma bolha, mas se esta razão não for menor do que o valor definido, o blob é considerado ser um furo. O valor definido é preferivelmente aproximadamente 5.
[0093] Com a modalidade preferida da rotina 100 mostrada na Figura 5, todos os blobs podem ser analisados, mesmo se a presença de um furo poder ser suficiente para rejeitar a lente. É preferido que todas os blobs sejam analisados já que isto pode fornecer informações úteis sobre o procedimento utilizado para fazer a lente.
[0094] As Figuras 6 e 7 ilustram um sistema de inspeção 200 que incorpora um sistema e método alternativo desta invenção. Como será apreciado, as Figuras 6 e 7 são similares às Figuras 1 e 2, respectivamente, e os números de referência iguais nas Figuras identificam subsistemas ou elementos idênticos ou de contraparte. Assim, o sistema 200 das Figuras 6 e 7 compreende o subsistema de transporte 12, o subsistema de iluminação 14, o subsistema de formação de imagem 16 e o subsistema de processamento 20. Com particular referência à Figura 7, no sistema 200, o subsistema de iluminação inclui o es-troboscópio de xenônio 54, e o subsistema de formação de imagem inclui a câmera 32, a qual inclui a rede de CCD 76. A diferença entre o sistema mostrado na Figura 1 e na Figura 6 é que a lente de contato é mostrada como sendo inspecionada dentro de uma metade de molde ou molde de curva dianteira 206, ao invés da embalagem final como descrito para o sistema mostrado Nas Figuras 1 e 2. Este sistema que utiliza uma luz que é parcialmente transmitida e parcialmente absorvida é particularmente útil, porque ele pode ser utilizado para inspecionar lentes de contato espessas e finas, se comparado com outros sistemas, particularmente um sistema de inspeção que utiliza somente a luz UV, que pode ser utilizado para inspecionar as lentes finas, mas não pode criar uma imagem através de uma lente espessa.
[0095] Como será compreendido por aqueles versados na técnica, o sistema 200 é projetado para inspecionar uma lente de contato moldada, a qual foi moldada entre duas seções de molde, logo após uma das seções de molde ser removida. A lente é deixada dentro da seção de molde 206 restante, a qual então carrega a lente através do sistema de inspeção. Na vasta maioria das vezes, as duas seções de molde são afastadas sem afetar a lente. No entanto, em algumas ocasiões conforme as seções de molde são afastadas, uma lente pode ser ligeiramente afastada da seção de molde restante. Isto não é um defeito na lente. No entanto, os sistemas de inspeção de lentes automatizados da técnica anterior não são capazes de distinguir eficazmente entre uma lente que foi afastada de uma seção de molde e uma lente que tem furos ou rasgos, os quais são defeitos.
[0096] Portanto a invenção inclui um método para inspecionar um dispositivo ótico que compreende: (a) iluminar a zona central do dito dispositivo ótico com luz que tem uma primeira largura de banda; (b) iluminar a borda do dito dispositivo ótico com luz que tem uma segunda largura de banda; (c) transmitir a luz da etapa (a) e da etapa (b) através do dito dispositivo ótico e capturar a dita luz sobre uma rede de pixels fo-tossensível; (d) ler os pixels gerados da etapa (c) para inspecionar o dito dispositivo ótico.
[0097] Como utilizados aqui, os termos dispositivo ótico e rede de pixels fotossensível tem os seus significados e faixas preferidas acima mencionados. O termo "zona central" refere-se à área do dito dispositivo ótico que se estende concentricamente do centro geométrico do dispositivo ótico do dito dispositivo ótico para um raio não maior do que 1 milímetro da borda do dito dispositivo ótico. Como utilizado aqui, o termo "borda" refere-se à área do dito dispositivo ótico que se estende concentricamente do perímetro do dito dispositivo ótico e termina na dita zona central. Por exemplo se o dito dispositivo ótico for uma lente de contato que tem um diâmetro de 12,6 milímetros a zona central é a área, que se estende do dito centro geométrico 5,3 milímetros quando medida ao longo do raio. A borda desta lente de contato é de 6,3 milímetros medida ao longo de seu raio.
[0098] Como utilizado aqui, a frase "luz que tem uma primeira largura de banda" refere-se à luz que tem um comprimento de onda que ilumina os defeitos tais como furos, bolhas, rasgos, e detritos nos dispositivos óticos. Preferivelmente a dita luz que tem uma primeira largura de banda está na faixa visível, (aproximadamente 370 nm a aproximadamente 410 nm), no entanto, a dita luz que tem uma primeira largura de banda pode compreender uma luz na faixa visível e na faixa ultravioleta. Por exemplo, a luz que tem uma primeira largura de banda pode ter uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda como tais itens são definidos aqui. A frase "luz que tem uma segunda largura de banda" refere-se à luz que tem um comprimento de onda que não produz nenhuma característica de imagem que resulta de uma pequena separação da borda da lente do suporte de molde. É preferido que a dita luz que tem uma segunda largura de banda esteja na região ultravioleta do espectro (aproximadamente 330 nm a aproximadamente 367 nm).
[0099] Ainda adicionalmente a invenção inclui um método para inspecionar um dispositivo ótico que compreende: (a) iluminar a zona central do dito dispositivo ótico com luz que tem uma primeira largura de banda; (b) iluminar a borda do dito dispositivo ótico com luz que tem uma segunda largura de banda; (c) transmitir a luz da etapa (a) e da etapa (b) através do dito dispositivo ótico e capturar a dita luz sobre uma rede de pixels fo-tossensível; (d) produzir uma imagem do dito dispositivo ótico.
[00100] Como utilizados aqui, os termos dispositivo ótico, rede de pixels fotossensível, imagem, zona centra, borda, luz que tem uma primeira largura de banda e luz que tem uma segunda largura de banda tem os seus significados e faixas preferidas acima mencionados.
[00101] Ainda mais adicionalmente a invenção inclui um aparelho para inspecionar um dispositivo ótico que compreende: (a) um meio para iluminar a zona central do dito dispositivo ótico com luz que tem uma primeira largura de banda; (b) um meio para iluminar a borda do dito dispositivo ótico com luz que tem uma segunda largura de banda; (c) um meio para transmitir a luz da etapa (a) e da etapa (b) através do dito dispositivo ótico e capturar a dita luz sobre uma rede de pixels fotossensível; (d) um meio para ler os pixels gerados da etapa (c) para inspecionar o dito dispositivo ótico.
[00102] Como utilizados aqui, os termos dispositivo ótico, rede de pixels fotossensível, imagem, zona central, borda, luz que tem uma primeira largura de banda e luz que tem uma segunda largura de banda tem os seus significados e faixas preferidas acima mencionados.
[00103] Como utilizado aqui o dito meio para iluminar a dita zona central inclui mas não está limitado a transmitir luz de uma fonte de luz através de um primeiro elemento de filtro, em que o dito filtro transmite uma luz que mostra furos e rasgos no dito dispositivo ótico. Preferivelmente o dito primeiro elemento de filtro transmite a luz na faixa visível do espectro, mais preferivelmente aproximadamente 370 nm a aproximadamente 410 nm. Como utilizado aqui o meio para iluminar a dita borda inclui mas não está limitado a transmitir luz de uma fonte de luz através de um segundo elemento de filtro, em que o dito filtro não produz uma característica de imagem que resulta de uma ligeira separação da borda da lente do suporte de molde. Preferivelmente o dito segundo elemento de filtro transmite uma luz na região ultravioleta que tem um comprimento de onda de aproximadamente 330 nm a aproximadamente 367 nm. Esta invenção está ilustrada em mais detalhes em referência às figuras e descrição seguintes.
[00104] Em uma modalidade alternativa preferida do sistema mostrado nas Figuras 6 e 7, o sistema 200 pode ser modificado para trocar o dispositivo de filtro 202 localizado entre a fonte de luz 54 e a lente 204 por outro dispositivo de filtro 220 mostrado na Figura 8. Alternativamente, o dispositivo de filtro 220, poderia estar localizado entre a lente 204 e a câmera.
[00105] Com o dispositivo de filtro 220, o sistema 200 está projetado para evitar rejeitar as lentes simplesmente porque elas estão dela-minadas. Geralmente, isto é feito utilizando o fato de que a maior parte dos furos e rasgos nas lentes ocorrem nas regiões centrais das lentes, enquanto que o efeito de uma lente que foi afastada do suporte de molde 206 fica aparente principalmente na área periférica da lente.
Mais particularmente, o subsistema de iluminação do sistema 200 é projetado e operado para formar uma imagem sobre a rede de pixels 76 que mostre efetivamente os furos ou rasgos em uma lente sem também mostrar nenhum defeito que resulte de uma ligeira separação da lente do suporte de molde.
[00106] Preferivelmente isto é feito iluminando a região central de uma lente de contato 206 com uma luz em pelo menos uma largura de banda que mostre os furos ou rasgos na lente, e iluminar as regiões externas da lente com uma luz em uma segunda largura de banda que não produza nenhuma característica de imagem que resulte de uma ligeira separação da borda da lente do suporte de molde. Isto, por sua vez, é executado posicionando o dispositivo de filtro 220 no percurso do feixe de luz de iluminação, entre a fonte de luz 54 e a lente 204.
[00107] O dispositivo de filtro 220 compreende um suporte ou um membro de corpo, e um primeiro e um segundo elemento de filtro, os quais estão seguramente presos no membro de corpo. Com particular referência à Figura 8, um primeiro elemento de filtro 212 tem uma forma circular, e um segundo elemento de filtro 214 tem uma forma circular maior e está posicionado de modo que o segundo elemento de filtro 214 esteja concêntrico com o dito primeiro elemento de filtro 212 de modo que o dito segundo elemento de filtro 214 se sobreponha ao dito primeiro elemento de filtro 212, e também tem uma forma anular que se estende além da circunferência do elemento de filtro 212. Alternativamente, um primeiro elemento de filtro circular e um segundo elemento de filtro anular poderíam ser utilizados para atingir o mesmo efeito.
[00108] O dispositivo de filtro 220 está posicionado no sistema 200 de modo que a luz que passa através da porção central da lente 204 passa através do dito primeiro elemento de filtro 212, e a luz que passa através da porção periférica externa da lente 204 passou através do dito segundo elemento de filtro 214. Mais ainda, preferivelmente, nenhuma luz que passa através do dito primeiro elemento de filtro 212 passa através da região de lente externa, e, similarmente, nenhuma luz que passa através do segundo elemento de filtro 214 passa através da região de lente central.
[00109] Os elementos de filtro 212 e 214 podem transmitir quaisquer larguras de banda adequadas. Por exemplo, o dito segundo elemento de filtro 214 transmite luz na região ultravioleta do espectro, preferivelmente em aproximadamente 340 nm ou 357 nm (+/-10FWHM) para fornecer uma iluminação no estilo ultravioleta para a periferia da lente. O dito primeiro elemento de filtro 212 transmite luz principalmente na região visível, mas pode transmitir luz na primeira banda de comprimento de onda 86, e na segunda banda de comprimento de onda 88 como mostrado na Figura 3. Estreitando a largura de banda da luz que é capaz de ser transmitida para as porções externas da lente e finalmente para a rede de CCD, a imagem das porções externas da lente é uma imagem mais escura que mascara os artefatos de delaminação.
[00110] A Figura 9 ilustra uma imagem de lente formada sobre uma rede de pixels 76 do sistema 200. Qualquer algoritmo de análise de imagem adequado pode ser utilizado para analisar os dados de pixels para determinar se a lente é aceitável. Uma vantagem significativa deste aspecto da invenção é que os algoritmos de análise de imagem existentes podem ser utilizados para determinar se a lente tem furos ou rasgos. Isto é devido ao fato de que a utilização de luz UV somente sobre a borda da lente mascara os artefatos do processo de desmol-dagem que aparecem como delaminação. A técnica de mascaramento espectral empregada no sistema 200 elimina, ou pelo menos reduz substancialmente, a probabilidade de que uma característica apareça sobre uma rede de pixels 76 devido à separação da lente do suporte de molde. Assim, os algoritmos podem identificar precisamente as lentes que tem furos ou rasgos mesmo se o algoritmo não for capaz de efetivamente distinguir entre tais lentes e uma lente cuja borda se separou do suporte de molde.
[00111] Como será apreciado por aqueles versados na técnica, o sistema 10, a rotina 100 e o sistema 200 podem ser utilizados para inspecionar uma grande variedade de tipos e tamanhos de lentes óticas e outros dispositivos óticos, e os sistema 10 e 200 são particularmente bem-adequados para inspecionar as lentes de contato. Ainda, os procedimentos de formação de imagem espectrais plurais descritos aqui podem também ser aplicados a outros objetos utilizando várias combinações do espectro dependendo das características de absorção / transmissão do objeto a ser inspecionado e/ou embalado no sistema. Outros objetos que podem ser inspecionados utilizando esta invenção incluem as lentes de óculos, as lentes de câmeras, os filtros óticos, os filmes finos, e o vidro.
[00112] Aspectos adicionais da invenção descrita aqui incluem mas não estão limitados aos seguintes. Um método para ler pixels gerados de uma rede fotossensível para avaliar se um dispositivo ótico compreende um furo, utilizando o grau de simetria, uma espessura de parede, e os valores de escala de cinza do dito dispositivo ótico. Um dispositivo de armazenamento de programa legível por computador, tan-givelmente incorporando um programa de instruções executável pela máquina para executar as etapas do método para processar os dados de imagem que representam um dispositivo ótico o qual distingue características definidas do dito dispositivo ótico.
[00113] Apesar de ficar aparente que a invenção aqui descrita é bem calculada para atender os objetos descritos acima, será apreciado que numerosas modificações e modalidades podem ser imaginadas por aqueles versados na técnica, e é pretendido que as reivindicações anexas cubram todas tais modificações e modalidades que caiam dentro do verdadeiro espírito e escopo da presente invenção.
REIVINDICAÇÕES
Claims (18)
1. Método para inspecionar dispositivos óticos caracterizado pelo fato de que compreende as etapas de: (a) iluminar o dispositivo ótico (43) e um líquido (42) no qual o dispositivo ótico está imergindo com luz, em que a luz compreende uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda, em que a primeira banda de comprimento de onda e a segunda banda de comprimento de onda são comprimentos de onda diferentes, e em que a primeira banda de comprimento de onda tem uma primeira intensidade e a segunda banda de comprimento de onda tem uma segunda intensidade; (b) capturar luz que é transmita através do dispositivo ótico (43) em uma rede de pixels fotossensitiva (76), em que a maior parte da primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dispositivo ótico e a maior parte da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do dispositivo ótico (43), (c) capturar luz que é transmitida através do líquido (42) na rede de pixels fotossensitiva (76), em que a maior parte da primeira banda de comprimento de onda e da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do líquido (42); (d) ler os pixels gerados da etapa (b) e da etapa (c) e comparar os valores de escala de cinza da leitura, em que a diferença entre os valores de escala de cinza dos pixels gerados a partir das etapas (b) e (c) é suficiente para distinguir entre os furos no dispositivo ótico (43) e as bolhas no líquido (42).
2. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dispositivo ótico de 80% a 100%.
3. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a primeira banda de comprimento de onda é absorvida de 98% a 100%.
4. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a primeira banda de comprimento de onda é de 340 nm a 360 nm.
5. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a segunda banda de comprimento de onda é transmitida de 80% a 100%.
6. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a segunda banda de comprimento de onda é transmitida de 98% a 100%.
7. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a segunda banda de comprimento de onda é de 385 nm a 405 nm.
8. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a razão de intensidade da primeira intensidade para a segunda intensidade é de 2:1.
9. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a razão de intensidade da primeira intensidade para a segunda intensidade é de 1,5:1.
10. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a diferença entre a escala de cinza do líquido e uma região livre de defeitos do dispositivo ótico (43) é de 120 a 180.
11. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a diferença entre a escala de cinza do líquido e uma região livre de defeitos do dispositivo ótico (43) é de 140.
12. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a intensidade da luz que é transmitida na etapa (b) e na etapa (a) e incidente sobre a rede de pixels fotossensível (76) é ainda ajustada de modo que a imagem capturada de uma região livre de defeitos do dispositivo ótico (43) está na faixa média da sensibilidade da rede de pixels fotossensível (76).
13. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a primeira banda de comprimento de onda e a segunda banda de comprimento de onda são produzidas por uma fonte de luz e um ou mais filtros apropriados (63,64,212,214).
14. Método, de acordo como a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que ainda compreende a etapas de: (d) produzir uma imagem do dispositivo ótico (43) e do líquido em que a diferença entre o valor de escala de cinza da imagem produzida pela etapa (c) e etapa (b) é de um valor suficiente para distinguir entre os furos do dispositivo ótico (43) e as bolhas no líquido (42).
15. Aparelho para inspecionar dispositivos óticos caracterizado pelo fato de que compreende: (a) um meio para iluminar o dispositivo ótico (43) e um líquido no qual o dispositivo ótico (43) está imergindo com luz, em que o uso da luz compreende uma primeira banda de comprimento de onda e uma segunda banda de comprimento de onda, em que a primeira banda de comprimento de onda e a segunda banda de comprimento de onda são comprimentos de onda diferentes, e em que a primeira banda de comprimento de onda tem uma primeira intensidade e a segunda banda de comprimento de onda tem uma segunda intensidade; (b) um meio para capturar a luz que é transmitida através do dispositivo ótico (43) em uma rede de pixels fotossensitiva (76), em que, em uso, a maior parte da primeira banda de comprimento de onda é absorvida pelo dispositivo ótico (43) e a maior parte da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do dispositivo ótico (43); (c) um meio para capturar a luz transmitida através do líquido (42) na rede de pixels fotossensitiva (76), em que, em uso, a maior parte da primeira banda de comprimento de onda e da segunda banda de comprimento de onda é transmitida através do líquido (42); e (d) um meio para ler os pixels gerados da etapa (b) e da etapa (c) e comparar os valores de escala de cinza da leitura, em que, em uso, a diferença entre os valores de escala de cinza dos pixels gerados a partir da etapa (b) da etapa (c) é de um valor suficiente para distinguir entre os furos do dispositivo ótico (43) e as bolhas no líquido (42).
16. Aparelho de acordo com a reivindicação 15, caracterizado pelo fato de que em uso, a primeira banda de comprimento de onda ilumina a zona central do dispositivo ótico (43), e em que, em uso, a segunda banda de comprimento de onda ilumina a borda do dispositivo ótico (43).,
17. Aparelho, de acordo com a reivindicação 15, caracterizado pelo fato de que o meio para iluminar compreende uma fonte de luz e um primeiro elemento de filtro para iluminar a zona central em que, em uso, o primeiro elemento de filtro transmite luz na região visível (212).
18. Aparelho, de acordo com a reivindicação 25, caracterizado pelo fato de que o meio para iluminar compreende uma fonte de luz e um segundo elemento de filtro para iluminar a borda em que o segundo elemento de filtro transmite luz na região ultravioleta (214).
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ATE370799T1 (de) * | 2000-05-01 | 2007-09-15 | Fujifilm Corp | Vorrichtung zur abgabe eines fluids |
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US20060244954A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-11-02 | Daley Wayne D | System and method for inspecting packaging quality of a packaged food product |
US20060232766A1 (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Watterson Robert J Jr | Methods of inspecting ophthalmic lenses |
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US8107696B2 (en) * | 2006-10-02 | 2012-01-31 | Johnson & Johnson Consumer Companies, Inc. | Calibration apparatus and method for fluorescent imaging |
US8122878B1 (en) * | 2006-10-20 | 2012-02-28 | Energy Innovations, Inc. | Solar concentrator with camera alignment and tracking |
SG173233A1 (en) * | 2010-01-28 | 2011-08-29 | Visionxtreme Pte Ltd | Inspection of defects in a contact lens |
US8358830B2 (en) * | 2010-03-26 | 2013-01-22 | The Boeing Company | Method for detecting optical defects in transparencies |
US8736828B2 (en) * | 2011-02-23 | 2014-05-27 | Visionxtreme Pte Ltd | Method and apparatus for inspecting ophthalmic lens |
US20140028833A1 (en) * | 2011-04-18 | 2014-01-30 | Ismeca Semiconductor Holding Sa | Inspection device |
AU2012262324B2 (en) * | 2011-06-03 | 2016-02-11 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Multiple radiation inspection of ophthalmic lenses |
US8634068B2 (en) | 2011-06-16 | 2014-01-21 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Method of determining the optimal wavelength for inspecting ophthalmic lenses |
US20120320374A1 (en) | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Sites Peter W | Method of imaging and inspecting the edge of an ophthalmic lens |
CN103162940B (zh) * | 2013-02-22 | 2016-01-06 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | 一种手机摄像模组自动测试机 |
KR102166189B1 (ko) * | 2013-10-08 | 2020-10-15 | 이미지 비전 피티이. 리미티드 | 습식 안과 렌즈 검사 시스템 및 방법 |
WO2015134449A1 (en) * | 2014-03-05 | 2015-09-11 | Novartis Ag | Method for automatic inspection of contact lenses |
KR102226634B1 (ko) | 2014-05-15 | 2021-03-10 | 이미지 비전 피티이. 리미티드 | 안과 렌즈 검사 시스템 및 방법 |
EP3062130B1 (de) * | 2015-02-26 | 2022-03-30 | Wincor Nixdorf International GmbH | Verfahren zur steuerung mindestens einer lichtschranke, steuerungsschaltung und damit ausgestattetes selbstbedienungsterminal |
FR3039660B1 (fr) * | 2015-07-30 | 2017-09-08 | Essilor Int | Methode de verification d'une caracteristique geometrique et d'une caracteristique optique d'une lentille ophtalmique detouree et dispositif associe |
SG10201509497VA (en) * | 2015-11-18 | 2017-06-29 | Emage Vision Pte Ltd | Contact lens defect inspection using uv illumination |
EP3309603B1 (en) * | 2016-10-11 | 2019-01-02 | Essilor International | Method for determining a parameter of an optical equipment |
EP3502769A1 (en) * | 2017-12-21 | 2019-06-26 | Essilor International | A method for determining an optical parameter of a lens |
US11422089B2 (en) * | 2017-12-28 | 2022-08-23 | Transitions Optical, Ltd. | Method for measuring optical characteristics of a transparent article |
US10634618B2 (en) * | 2018-01-23 | 2020-04-28 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited | Apparatus and a method for inspecting a light transmissible optical component |
KR20200134913A (ko) * | 2019-05-24 | 2020-12-02 | 엘지이노텍 주식회사 | 액체 렌즈 제조 장치 및 방법 |
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US12014480B2 (en) * | 2021-10-19 | 2024-06-18 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Defect detection using synthetic data and machine learning |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD145805B1 (de) * | 1979-08-27 | 1982-06-30 | Johannes Grosser | Beleuchtungsanordnung fuer mikroskope |
AU649291B2 (en) * | 1990-12-19 | 1994-05-19 | Bodenseewerk Geratetechnik Gmbh | Process and apparatus for examining optical components, especially optical components for the eye and device for illuminating clear-transparent test-objects |
DE4236928A1 (de) * | 1992-10-31 | 1994-05-05 | Bodenseewerk Geraetetech | Verfahren und Vorrichtung zur Reihenprüfung von Bildinformationen |
IL107603A (en) * | 1992-12-21 | 1997-01-10 | Johnson & Johnson Vision Prod | Ophthalmic lens inspection method and apparatus |
US5500732A (en) * | 1994-06-10 | 1996-03-19 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Lens inspection system and method |
US5649410A (en) * | 1994-06-10 | 1997-07-22 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Post-hydration method and apparatus for transporting, inspecting and packaging contact lenses |
US5578331A (en) * | 1994-06-10 | 1996-11-26 | Vision Products, Inc. | Automated apparatus for preparing contact lenses for inspection and packaging |
DE29901791U1 (de) * | 1999-02-02 | 2000-07-06 | Novartis Ag, Basel | Linsenmesseinrichtung |
JP3544892B2 (ja) * | 1999-05-12 | 2004-07-21 | 株式会社東京精密 | 外観検査方法及び装置 |
EP1213568B1 (de) * | 2000-12-08 | 2005-12-28 | Gretag-Macbeth AG | Vorrichtung zur bildelementweisen Ausmessung eines flächigen Messobjekts |
US6577387B2 (en) * | 2000-12-29 | 2003-06-10 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Inspection of ophthalmic lenses using absorption |
US6765661B2 (en) * | 2001-03-09 | 2004-07-20 | Novartis Ag | Lens inspection |
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