BR112014017853A8

BR112014017853A8 - Sistema de geração de imagens por raios x para a geração de imagens de contraste de fase de um objeto, método para a geração de imagens por de contraste de fase de raios x de um objeto, elemento de programa de computador para o controle de um aparelho, e meio legível por computador

Info

Publication number: BR112014017853A8
Application number: BR112014017853A
Authority: BR
Inventors: Roessl Ewald; Koehler Thomas
Original assignee: Koninklijke Philips Nv
Priority date: 2012-01-24
Filing date: 2013-01-22
Publication date: 2017-07-11
Also published as: US9597050B2; EP2806798A1; WO2013111050A1; RU2624513C2; JP2015503988A; CN104066375B; CN104066375A; US20150036795A1; RU2014134452A; BR112014017853A2; EP2806798B1; JP6265914B2

Abstract

SISTEMA DE GERAÇÃO DE IMAGENS POR RAIOS X PARA A GERAÇÃO DE IMAGENS DE CONTRASTE DE FASE DE UM OBJETO, MÉTODO PARA A GERAÇÃO DE IMAGENS POR DE CONTRASTE DE FASE DE RAIOS X DE UM OBJETO, ELEMENTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR PARA O CONTROLE DE UM APARELHO, E MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR. A presente invenção se refere à geração de imagens por raios X de contraste de fase de um objeto. De modo a prover informação de contraste de fase em mais de uma direção, é provido um sistema de geração de imagens por raios X que compreende uma fonte de raios X (12), uma disposição do detector de raios X (16), e uma disposição de reticulação (18) com uma estrutura de fase de reticulação (46) e uma estrutura de analisador de reticulação (48). A disposição do detector de raios X compreende pelo menos oito unidades do detector de linha (40) em paralelo umas às outras em uma primeira direção (42), em que as unidades do detector de linha se estendem linearmente em uma direção (44) perpendicular à primeira direção. A fonte de raios X, a disposição do detector de raios X e a disposição de reticulação são adaptadas para realizar um movimento de aquisição em relação a um objeto em uma direção de varredura paralela à primeira direção. A estrutura de fase de reticulação tem uma série de fases de reticulação lineares, e cada uma delas é disposta em associação fixa com uma linha atribuída de pelo menos oito unidades do detector de linha; uma primeira como a primeira fase de reticulação com fendas em uma primeira direção, e uma segunda parte como a segunda fase de reticulação com fendas em uma segunda direção diferente da primeira direção. A estrutura do analisador de reticulação tem uma série de analisadores de reticulação lineares, e cada um deles é disposto em associação fixa com uma linha atribuída de pelo menos oito unidades do detector de linha; uma primeira parte como o primeiro analisador de reticulação com fendas na primeira direção; e uma segunda parte como o segundo analisador de reticulação com fendas na segunda direção. Pelo menos quatro linhas adjacentes das unidades do detector de linha são associadas à primeira fase de reticulação e ao primeiro analisador de reticulação, e pelo menos quatro linhas adjacentes das unidades do detector de linha são associadas à segunda fase de reticulação e ao segundo analisador de reticulação. A disposição de reticulação pode compreender uma estrutura de fonte de reticulação disposta entre a fonte de raios X e a estrutura de fase de reticulação para prover coerência suficiente ao feixe de raios X que passa pela estrutura de fonte de reticulação, de modo que, após passar pela estrutura de fase de reticulação, a interferência pode ser observada no local da estrutura do analisador de reticulação.