WO2023188614A1

WO2023188614A1 - 眼底観察装置

Info

Publication number: WO2023188614A1
Application number: PCT/JP2022/047116
Authority: WO
Inventors: 美智子中西; 慎悟上野; 洋人田嶋
Original assignee: 株式会社トプコン
Priority date: 2022-03-31
Filing date: 2022-12-21
Publication date: 2023-10-05

Abstract

眼底観察装置は、光学系と、２つの凹面鏡と、保持部材とを含む。光学系は、光源からの光を被検眼の眼底に投射し、眼底からの戻り光を受光する。２つの凹面鏡は、それぞれが凹面状の反射面を有し、光学系からの光を眼底に導くと共に戻り光を光学系に導く。保持部材は、所定の１次元方向又は２次元方向に既定の相対位置になるように両面に配置された状態で２つの凹面鏡を保持可能である。

Description

眼底観察装置

　この発明は、眼底観察装置に関する。

　眼疾患のスクリーニングや治療などを行うための眼底観察装置には、簡便に広い視野で被検眼の眼底などの観察や撮影が可能なものが求められている。具体的には、一度の撮影で、撮影画角が８０度を超える広角で被検眼の眼底を観察可能なものが求められている。このような眼底観察装置として、走査型レーザー検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ　Ｌａｓｅｒ　Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）が知られている。ＳＬＯは、光で眼底をスキャンし、眼底からの戻り光を受光デバイスで検出することにより眼底の画像を形成する装置である。

　このような眼底観察装置に関する技術について、種々提案されている。

　例えば、特許文献１には、２つの楕円面鏡と平面鏡とを用いた２次元の平行光走査を、走査移動手段によって移動させて網膜を広角で走査することが可能な走査検眼鏡が開示されている。

特表２００９－５４３５８５号公報

　広角で眼底の観察（撮影）を行う場合、広い偏向角度範囲で偏向された光を瞳孔を通じて眼内に入射させる必要がある。これは、楕円面鏡等の光学系の精度が眼底観察の精度により一層の影響を及ぼすことを意味する。

　しかしながら、従来の技術では、楕円面鏡等の光学部材自体が高精度なものであっても、光学部材の位置合わせ等の調整精度に起因して眼底観察の精度が低下したり、光学部材の位置合わせ等の調整作業が複雑化したりする。そこで、簡便に光学部材を高精度に調整するための新たな技術が求められる。

　本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、簡便に光学部材を高精度に調整するための新たな技術を提供することにある。

　実施形態の１つの態様は、光源からの光を被検眼の眼底に投射し、前記眼底からの戻り光を受光する光学系と、それぞれが凹面状の反射面を有し、前記光学系からの前記光を前記眼底に導くと共に前記戻り光を前記光学系に導く２つの凹面鏡と、所定の１次元方向又は２次元方向に既定の相対位置になるように両面に配置された状態で前記２つの凹面鏡を保持可能な保持部材と、を含む、眼底観察装置である。

　本発明によれば、簡便に光学部材を高精度に調整するための新たな技術を提供することができるようになる。

第１実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態の比較例に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態の比較例に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る眼底観察装置の処理系の構成の一例を表す概略図である。第１実施形態に係る眼底観察装置の動作例を表すフローチャートである。第２実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。第２実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。第２実施形態に係る眼底観察装置の処理系の構成の一例を表す概略図である。第２実施形態に係る眼底観察装置の動作例を表すフローチャートである。第２実施形態に係る眼底観察装置の動作を説明するための概略図である。第３実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。第４実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。第５実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。

　この発明に係る眼底観察装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

　本明細書において「プロセッサ」は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ　Ｓｐｅｃｉｆｉｃ　Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｌｏｇｉｃ　Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｌｏｇｉｃ　Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｇａｔｅ　Ａｒｒａｙ））等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

　実施形態に係る眼底観察装置は、光学系と、凹面状の反射面を有する２つの凹面鏡を含み、光学系からの光を被検眼の眼底に導くと共に、眼底からの戻り光を光学系に導く。光学系は、２つの凹面鏡を介して光源からの光を眼底に投射し、眼底からの戻り光を２つの凹面鏡を介して受光する。眼底観察装置は、所定の１次元方向又は２次元方向に既定の相対位置になるように両面に配置された状態で２つの凹面鏡を保持可能な保持部材を含む。いくつかの実施形態では、保持部材は、所定の方向に既定の距離を置いて両面に２つの凹面鏡を保持する。所定の方向の例として、光学系の光軸方向、光源からの光のスキャン中心方向、又は光源からの光の進行方向などがある。

　これにより、保持部材により保持される２つの凹面鏡は、３次元方向のうち１次元方向又は２次元方向について所定の位置関係で固定されるため、２つの凹面鏡の位置関係を調整すべき方向の数を低減することができる。例えば、２つの凹面鏡が光学系の光軸方向に既定の位置関係で固定される場合、光学系の光軸方向に交差する２次元方向に調整するだけで済む。その結果、高精度に設計された光学的な計測条件を簡便に実現しつつ、眼底観察の精度を低コストで向上させることが可能になる。特に、凹面鏡等の光学部材を高精度な加工技術で製造することで、位置合わせ精度に起因した光学的な計測精度の劣化を抑えることが可能になる。

　光学系は、撮影光学系、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）光学系、ＳＬＯ光学系、又はこれらの２以上を組み合わせた光学系を含む。撮影光学系は、光源からの光で眼底を照明し、眼底からの戻り光を受光することにより得られた受光結果に基づいて眼底画像を形成する。ＯＣＴ光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光で眼底をスキャンし、眼底からの測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出することにより得られた干渉光の検出結果に基づいて眼底画像（断層画像、正面画像）を形成する。ＳＬＯ光学系は、光源からの光で眼底をスキャンし、眼底からの戻り光を受光するにより得られた受光結果に基づいて眼底画像を形成する。

　いくつかの実施形態では、２つの凹面鏡は互いの反射面が対向するように配置され、偏向部材により偏向された光を一方の凹面鏡で反射し、反射された光を他方の凹面鏡で反射して被検眼に導くように構成される。いくつかの実施形態では、２つの凹面鏡の間に光スキャナ又は反射ミラーが配置され、一方の凹面鏡で反射された光を光スキャナ又は反射ミラーで偏向して他方の凹面鏡で反射して被検眼に導くように構成される。

　凹面鏡は、反射面が楕円面（楕円体面）の一部を構成する楕円面鏡、反射面が放物面の一部を構成する放物面鏡、又は反射面が自由曲面の一部を構成する自由曲面鏡であってよい。２つの凹面鏡は、上記の同じタイプの凹面鏡を組み合わせたものであってもよいし、上記の互いに異なるタイプの凹面鏡を組み合わせたものであってもよい。いくつかの実施形態では、２つの凹面鏡は、２つの楕円面鏡である。いくつかの実施形態では、２つの凹面鏡は、楕円面鏡と自由曲面鏡である。

　上記のように保持部材が２つの凹面鏡を保持するように構成された眼底観察装置は、例えば、被検眼の眼底を断面光束形状がスリット状（ライン状）の照明光で照明し、眼底と光学的に略共役な位置における移動可能な受光可能範囲（フォーカルプレーン、仮想的な開口範囲）において眼底からの照明光の戻り光を２次元イメージセンサで受光することが可能である。このとき、戻り光が中心部を透過（通過）し、且つ、中心部の周辺部で照明光を反射させる構造を有する偏向部材を用いて、照明光の光路と戻り光の光路とを結合（分離）し、受光可能範囲（フォーカルプレーン）の移動に同期して照明光を偏向することにより照明光で眼底をスキャンさせることが可能である。いくつかの実施形態では、偏向部材における、照明光の光路と戻り光の光路との光路結合部は、被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置に配置される。いくつかの実施形態では、偏向部材は、穴鏡である。

　これにより、簡便、且つ、低コストで、光学部材の組み立て（取り付け）精度に起因した光学的な計測条件の劣化を回避し、照明光のラインの幅方向にスキャンする光学系だけで８０度を超える撮影画角を確保して、広角な照明光の光路と戻り光の光路との共有光学系を容易に配置することが可能になる。

　いくつかの実施形態では、眼底観察装置は、更に、光スキャナを含み、光スキャナにより偏向された測定光を被検眼に照射し、測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出するＯＣＴスキャンを実行するＯＣＴ光学系を含む。この場合、偏向部材と２次元イメージセンサとの間に配置された光路結合分離部材により、スリット状（ライン状）の照明光の戻り光の光路とＯＣＴ光学系の光路とを結合する。すなわち、偏向部材の透過側において（穴鏡の穴を通して）ＯＣＴ光学系を光学的に結合することで、上記の共有光学系から照明光の戻り光の光路を低コストで分離することができる。また、ＯＣＴスキャン用の光スキャナと照明光の偏向用の光スキャナとを共有させることなく、大広角で観察している眼底の任意の位置に対してＯＣＴ計測（ＯＣＴ撮影）を行うことが可能になる。

　以下、実施形態に係る眼底観察装置が、１つの焦点位置を共有するように光学系の光軸方向に既定の距離を置いて保持部材の両面に保持された２つの楕円面鏡（広義には、凹面鏡）を用いて被検眼の眼底の画像を取得する場合について説明する。

　以下、説明の便宜上、眼底に投射される光のスキャン中心方向をｚ方向（光学系の光軸方向）とし、ｚ方向に直交する上下方向（垂直方向）をｙ方向とし、ｚ方向に直交する左右方向（水平方向）をｘ方向とする。

　＜第１実施形態＞
　＜構成＞
　図１に、第１実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成例を示す。なお、図１では、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置が眼底共役位置Ｐとして図示され、被検眼Ｅの瞳孔（虹彩）と光学的に略共役な位置が瞳孔共役位置（虹彩共役位置）Ｑとして図示されている。

　第１実施形態に係る眼底観察装置１は、スリット投影光学系１０と、スリット受光光学系２０と、スキャン機構を有する偏向部材としての穴鏡３０と、第１楕円面鏡４０と、第２楕円面鏡５０とを含む。

（スリット投影光学系１０）
　スリット投影光学系１０は、スリット状の照明光（光束断面形状がライン状の照明光）を生成し、生成された照明光を穴鏡３０に投射する。スリット投影光学系１０は、照明光源１１と、虹彩絞り１２と、スリット１３と、投影レンズ１４とを含む。

　照明光源１１は、可視領域の光を発生する可視光源を含む。例えば、照明光源１１は、４２０ｎｍ～７００ｎｍの波長範囲の中心波長を有する光を発生する。このような照明光源１１は、例えば、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ　Ｅｍｉｔｔｉｎｇ　Ｄｉｏｄｅ）、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ　Ｄｉｏｄｅ）、ハロゲンランプ、又はキセノンランプを含む。いくつかの実施形態では、照明光源１１は、白色光源又はＲＧＢの各色成分の光を出力可能な光源を含む。いくつかの実施形態では、照明光源１１は、赤外領域の光又は可視領域の光を切り換えて出力することが可能な光源を含む。照明光源１１は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆ及び瞳孔（虹彩）のそれぞれと光学的に非共役な位置に配置される。

　虹彩絞り１２（具体的には、後述の開口部）は、瞳孔共役位置Ｑに配置可能である。虹彩絞り１２には、照明光源１１から出力される光の光路の光軸から離れた位置に１以上の開口部が形成されている。虹彩絞り１２に形成された開口部は、被検眼Ｅの虹彩における照明光の入射位置（入射形状）を規定する。例えば、虹彩絞り１２には、光軸を中心とする点対称の位置に開口部が形成される。それにより、照明光の光路の光軸に被検眼Ｅの瞳孔中心が配置されたとき、瞳孔中心から偏心した位置（具体的には、瞳孔中心を中心とする点対称の位置）から照明光を眼内に入射させることが可能になる。

　また、照明光源１１と虹彩絞り１２に形成された開口部との間の相対位置を変更することにより、虹彩絞り１２に形成された開口部を通過する光の光量分布を変更することが可能である。

　スリット１３は、（具体的には、後述の開口部）は、眼底共役位置Ｐに配置可能である。スリット１３に形成された開口部は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける照明光の照射領域の形状（照射パターン形状）を規定する。

　スリット１３は、図示しない移動機構によりスリット投影光学系１０の光軸方向に移動可能である。移動機構は、後述の制御部からの制御を受け、スリット１３を光軸方向に移動する。これにより、被検眼Ｅの状態（具体的には、屈折度数、眼底Ｅｆの形状）に応じてスリット１３の位置を移動することができる。

　いくつかの実施形態では、スリット１３は、被検眼Ｅの状態に応じて、光軸方向に移動されることなく開口部の位置及び形状の少なくとも１つを変更可能に構成される。このようなスリット１３の機能は、例えば液晶シャッターにより実現される。

　虹彩絞り１２に形成された開口部を通過した照明光源１１からの光は、スリット１３に形成された開口部を通過し、投影レンズ１４を透過してスリット状の照明光として出力される。スリット投影光学系１０から出力されたスリット状の照明光は、穴鏡３０に導かれる。

　いくつかの実施形態では、スリット投影光学系１０は、光源を備えたプロジェクタを含み、プロジェクタがスリット状の照明光を出力する。プロジェクタには、透過型液晶パネルを用いたＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ　Ｃｒｙｓｔａｌ　Ｄｉｓｐｌａｙ）方式のプロジェクタ、反射型液晶パネルを用いたＬＣＯＳ（Ｌｉｑｕｉｄ　Ｃｒｙｓｔａｌ　Ｏｎ　Ｓｉｌｉｃｏｎ）方式のプロジェクタ、ＤＭＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｍｉｒｒｏｒ　Ｄｅｖｉｃｅ）を用いたＤＬＰ（Ｄｉｔｉｇａｌ　Ｌｉｇｈｔ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）（登録商標）方式のプロジェクタなどがある。

（穴鏡３０）
　穴鏡３０（具体的には、後述の偏向面）は、瞳孔共役位置Ｑに配置可能である。穴鏡３０は、その向き（偏向方向）が変更可能な偏向面を有し、スリット投影光学系１０からの照明光を後述の第１楕円面鏡４０の反射面に導く一軸の光スキャナとして機能する。偏向面には、後述のスリット受光光学系２０の光軸が通過するように穴部が形成されている。すなわち、穴鏡３０は、照明光の戻り光が中心部を透過（通過）し、且つ、中心部の周辺部で照明光を反射させる構造を有する。

　穴鏡３０は、被検眼Ｅにおける照明光の照射部位において照射領域のスリット方向（スリットが延びる方向、照射領域の長手方向）に直交する方向（スリット幅の方向、照射領域の短手方向）に順次に移動するように偏向面の向きを変更することで照明光を偏向する。穴鏡３０は、後述の制御部からの制御を受け、照明光の偏向方向を変更可能に構成されている。

　スリット投影光学系１０からの照明光は、穴部の周辺の偏向面で偏向され、第１楕円面鏡４０の反射面に導かれる。被検眼Ｅからの照明光の戻り光は、第１楕円面鏡４０の反射面を介して、穴鏡３０に形成された穴部を通過し、スリット受光光学系２０に導かれる。

　いくつかの実施形態では、穴鏡３０は、スリット投影光学系１０からの照明光を第１楕円面鏡４０の反射面に導く二軸の光スキャナとして機能する。

　いくつかの実施形態では、穴鏡３０は、照明光の戻り光の波長成分（又は偏光成分）を透過するように構成される。この場合、被検眼Ｅからの照明光の戻り光は、第１楕円面鏡４０の反射面を介して、穴鏡３０を透過し、スリット受光光学系２０に導かれる。

（スリット受光光学系２０）
　スリット受光光学系２０は、穴鏡３０の穴部を通過した被検眼Ｅからの照明光の戻り光を受光する。スリット受光光学系２０は、イメージセンサ２１と、結像レンズ２２とを含む。

　イメージセンサ２１は、ピクセル化された受光器としての２次元イメージセンサの機能を実現する。イメージセンサ２１の受光面（検出面、撮像面）は、眼底共役位置Ｐに配置可能である。イメージセンサ２１は、眼底共役位置Ｐにおいて移動可能な受光可能範囲（仮想的な開口範囲、フォーカルプレーン）を設定可能である。

　例えば、イメージセンサ２１による受光結果は、ローリングシャッター方式により取り込まれて読み出される。いくつかの実施形態では、後述の制御部は、イメージセンサ２１を制御することにより受光結果の読み出し制御を行う。いくつかの実施形態では、イメージセンサ２１は、受光位置を示す情報と共に、あらかじめ決められたライン分の受光結果を自動的に出力することが可能である。

　このようなイメージセンサ２１は、例えば、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ　Ｍｅｔａｌ　Ｏｘｉｄｅ　Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサを含む。この場合、イメージセンサ２１は、ロウ方向に配列された複数のピクセル（受光素子）群がカラム方向に配列された複数のピクセルを含む。具体的には、イメージセンサ２１は、２次元的に配列された複数のピクセルと、複数の垂直信号線と、水平信号線とを含む。各ピクセルは、フォトダイオード（受光素子）と、キャパシタとを含む。複数の垂直信号線は、ロウ方向（水平方向）に直交するカラム方向（垂直方向）のピクセル群毎に設けられる。各垂直信号線は、受光結果に対応した電荷が蓄積されたピクセル群と選択的に電気的に接続される。水平信号線は、複数の垂直信号線と選択的に電気的に接続される。各ピクセルは、戻り光の受光結果に対応した電荷を蓄積し、蓄積された電荷は、例えばロウ方向のピクセル群毎に順次読み出される。例えば、ロウ方向のライン毎に、各ピクセルに蓄積された電荷に対応した電圧が垂直信号線に供給される。複数の垂直信号線は、選択的に水平信号線と電気的に接続される。垂直方向に順次に上記のロウ方向のライン毎の読み出し動作を行うことで、２次元的に配列された複数のピクセルの受光結果を読み出すことが可能である。

　このようなイメージセンサ２１に対してローリングシャッター方式で戻り光の受光結果を取り込む（読み出す）ことにより、ロウ方向に延びる所望の仮想的な開口形状に対応した受光像が取得される。このような制御については、例えば、米国特許７８３１１０６号明細書又は米国特許第８２３７８３５号明細書等に開示されている。

　結像レンズ２２は、穴鏡３０に形成された穴部を通過した照明光の戻り光（又は穴鏡３０を透過した照明光の戻り光）をイメージセンサ２１の受光面に結像させる。

（第１楕円面鏡４０）
　第１楕円面鏡４０の反射面（第１反射面）は、楕円面（より具体的には、楕円面の一部）である。第１楕円面鏡４０は、凹面鏡の一例である。

　第１楕円面鏡４０は、光学的に共役な２つの焦点（第１焦点Ｆ１、第２焦点Ｆ２）を有する。穴鏡３０（穴鏡３０の偏向面）は、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１若しくはその近傍に配置される。いくつかの実施形態では、穴鏡３０は、第１焦点Ｆ１と光学的に共役な位置（第１焦点Ｆ１の共役位置）又はその近傍に配置される。

（第２楕円面鏡５０）
　第２楕円面鏡５０の反射面（第２反射面）は、楕円面（より具体的には、楕円面の一部）である。第２楕円面鏡５０は、凹面鏡の一例である。

　第２楕円面鏡５０は、光学的に共役な２つの焦点（第１焦点Ｆ３、第２焦点Ｆ４）を有する。第２楕円面鏡５０は、第１焦点Ｆ３が第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２と略一致するように配置される。いくつかの実施形態では、第２楕円面鏡５０は、第１焦点Ｆ３が第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２と光学的に共役な位置（第２焦点Ｆ２の共役位置）又はその近傍に略一致するように配置される。第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４には、被検眼Ｅが配置される。すなわち、第２楕円面鏡５０は、第２焦点Ｆ４が、被検眼Ｅが配置される被検眼位置に略一致するように配置される。

　このように、第１楕円面鏡４０と第２楕円面鏡５０との間の第２焦点Ｆ２（第１焦点Ｆ３）にスキャン光学部材を配置する必要がないため、所定のスキャン方向（横方向、水平方向）のスキャン範囲の制限を受けない。例えば、特許文献１に記載された構成では、横方向に照明光をスキャンさせる偏向部材が設けられているため、理論上は１８０度まで（現実的には、１５０度程度まで）の撮影画角を確保することができる。これに対して、実施形態によれば、横方向にスキャンさせる偏向部材が不要であるため、１８０度を超えた撮影画角まで撮影することが可能になる（人眼の角膜は、瞳孔よりも前方に突出した位置に配置されるため、魚眼レンズのような効果で１８０度を超える範囲を観察可能である）。

　第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０は、実施形態に係る「２つの凹面鏡」の一例である。第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を以下のように保持部材により保持することで、簡便に、且つ、低コストで、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２と第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３とを高精度に一致するように配置することが可能である。

　図２Ａ～図２Ｄに、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の保持構造の一例を模式的に示す。図２Ａは、保持部材４５により保持される第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の取り付け態様を表す概略的な側面図である。図２Ｂは、第２楕円面鏡５０の反射面の側からみたときの保持部材４５に第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０が保持された状態を模式的に表す斜視図である。図２Ｃは、第１楕円面鏡４０の反射面の側からみたときの保持部材４５に第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０が保持された状態を模式的に表す斜視図である。図２Ｄは、保持部材４５に第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０が保持された状態を模式的に表す側面図である。図２Ａ～図２Ｄにおいて、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　眼底観察装置１は、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を保持する保持部材４５を含む。保持部材４５は、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の相対位置が、スリット投影光学系１０及びスリット受光光学系２０を含む光学系の光軸方向に既定の位置関係となるように配置された状態で第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を固定可能である。

　第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０のそれぞれの周縁部には、フランジが形成されている。第１楕円面鏡４０のフランジを保持部材４５に固定することにより、保持部材４５に第１楕円面鏡４０を固定可能である。第２楕円面鏡５０のフランジを保持部材４５に固定することにより、保持部材４５に第２楕円面鏡５０を固定可能である。

　第１楕円面鏡４０は、例えば、電気鋳造加工により形成される。電気鋳造加工は、電解液中の金属イオンを母型（ｍａｔｒｉｘ）の表面に電気化学的に析出させることで、ナノレベルで母型の形状を忠実に複製する手法である。これにより、非常に高精度な形状を有する第１楕円面鏡４０を形成することが可能になる。

　第１楕円面鏡４０の２つの第１焦点Ｆ１及び第２焦点Ｆ２の双方は、凹面状の反射面からフランジの面より離れた位置に配置される。図２Ａでは、反射面と第１焦点Ｆ１との間の短軸方向の距離、及び反射面と第２焦点Ｆ２との間の短軸方向の距離の双方が、反射面とフランジの面との間の短軸方向の距離より長い。

　第１楕円面鏡４０の長軸方向（所定の第１方向）の両端部は、長軸方向に直交する平面で切断された形状を有する。これにより、広角の眼底観察に必要な第１楕円面鏡４０の反射面のサイズを確保しつつ、第１楕円面鏡４０の軽量化及び小型化を図ることが可能になる。

　第２楕円面鏡５０は、例えば、第１楕円面鏡４０と同様に、電気鋳造加工により形成される。これにより、非常に高精度な形状を有する第２楕円面鏡５０を形成することが可能になる。

　第２楕円面鏡５０の２つの第１焦点Ｆ３及び第２焦点Ｆ４の双方は、凹面状の反射面からフランジの面より離れた位置に配置される。図２Ａでは、反射面と第１焦点Ｆ３との間の短軸方向の距離、及び反射面と第２焦点Ｆ４との間の短軸方向の距離の双方が、反射面とフランジの面との間の短軸方向の距離より長い。なお、第２楕円面鏡５０に形成されるフランジ（面）は、第１焦点Ｆ３及び第２焦点Ｆ４を結ぶ長軸に略平行である。

　第２楕円面鏡５０の長軸方向（所定の第１方向）の両端部は、長軸方向に交差する平面で切断された形状を有する。これにより、広角の眼底観察に必要な第２楕円面鏡５０の反射面のサイズを確保しつつ、第２楕円面鏡５０の軽量化及び小型化を図ることが可能になる。特に、下方側を切断することで、観察対象の被検者の口や顎と第２楕円面鏡５０との干渉を回避することが可能になる。

　保持部材４５には、光学系の光軸方向に所定の厚さを有し、第１保持面に保持された第１楕円面鏡４０の反射面が第１保持面と反対側の第２保持面の側に露出し、且つ、第２保持面に保持された第２楕円面鏡５０の反射面が第１保持面の側に露出するように開口が形成されている。これにより、第１楕円面鏡４０の反射面で反射された光学系からの光が開口を通過して第２楕円面鏡５０の反射面で反射して眼底に導かれ、第２楕円面鏡５０の反射面で反射された眼底からの戻り光が開口を通過して第１楕円面鏡４０の反射面で反射して光学系に導かれる。

　なお、保持部材４５の光学系の光軸方向の厚さは一定でなくてもよい。保持部材の４５の光学系の光軸方向の厚さの変化に応じて、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の周縁部が切断され、楕円面鏡の周縁部（フランジ）が当該厚さの変化に応じた形状を有していればよい。

　図２Ａ～図２Ｃに示すように、保持部材４５の第１保持面において反射面が開口に対向するように第１楕円面鏡４０が配置され、第２保持面において反射面が開口に対向するように第２楕円面鏡５０が配置される。このように保持部材４５に第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０が配置されたとき、図２Ｄに示すように、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２と第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３とは、光学系の光軸方向に略一致するようになっている。

　従って、図２Ｂ及び図２Ｃに示すように、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の相対位置を光学系の光軸方向に直交する２次元方向（ｘ方向及びｙ方向）に変更するだけで、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２及び第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３を３次元的に簡便に、且つ、高精度に一致させることが可能になる。

　例えば、図２Ｄに示すように保持部材４５の両面に第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０が配置された状態で、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１又はその光学的に略共役な位置に配置された光源からの光を第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４又はその光学的に略共役な位置で受光する。このとき、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２、第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３、及び第２焦点Ｆ４において光源からの光が集光するように第１楕円面鏡４０と第２楕円面鏡５０の光学系の光軸方向に直交する２次元方向（ｘ方向及びｙ方向）の相対位置を変更することで、第１楕円面鏡４０と第２楕円面鏡５０の光学系の光軸方向に直交する２次元方向（ｘ方向及びｙ方向）の相対位置が決定される。

　いくつかの実施形態では、眼底観察装置１は、第１楕円面鏡４０を保持すると共に保持部材４５に対する第１楕円面鏡４０の光学系の光軸方向に直交する２次元方向（ｘ方向及びｙ方向）の相対位置を変更する第１移動機構と、第２楕円面鏡５０を保持すると共に保持部材４５に対する第２楕円面鏡５０の光学系の光軸方向に直交する２次元方向（ｘ方向及びｙ方向）の相対位置を変更する第２移動機構とを含む。この場合、眼底観察装置１は、第１移動機構及び第２移動機構の少なくとも一方により、第１楕円面鏡４０と第２楕円面鏡５０との相対位置を変更するように構成される。

　上記のように、第１楕円面鏡４０と第２楕円面鏡５０との相対位置が決定されると、各楕円面鏡のフランジは保持部材４５に固定される。例えば、ねじ留め、ピン留め、圧着、溶接、又はカシメ等によりフランジが保持部材４５に対して固定される。

　図３に、保持部材４５により保持された第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の側面図を模式的に示す。図３において、図１～図２Ｄと同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　上記のように、保持部材４５は、第１楕円面鏡４０のフランジと、第２楕円面鏡５０のフランジとを保持するように構成される。ここで、図２Ｄに示すように、保持部材４５は、第１楕円面鏡４０のフランジ（面）と第２楕円面鏡５０のフランジ（面）とが略平行になるように保持する。

　これにより、保持部材４５によりｚ方向の距離ｄｚが一定に保持されてｚ方向に位置合わせが高精度に行われた状態で、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０に対してｚ方向に直交するｘ方向及びｙ方向の位置合わせを高精度に行うことができる。その結果、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を簡便、且つ、低コストで高精度に位置合わせすることができるようになる。

　更に、実施形態に係る第２楕円面鏡５０の両端部は、上記のように、楕円面の一部である反射面の長軸方向に交差する平面で切断された形状を有する。両端部を切断することで、軽量化及び小型化を図ることができるが、特に、下方の端部を切断することで、観察対象の被検者の負担を軽減することが可能になる。

　図４Ａ及び図４Ｂに、実施形態の比較例に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡と観察対象の被検者との位置関係を模式的に示す。図４Ａは、実施形態の比較例に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡と観察対象の被検者との位置関係の概略を示す上面図である。図４Ｂは、実施形態の比較例に係る第１楕円面鏡及び第２楕円面鏡と観察対象の被検者との位置関係の概略を示す側面図である。

　実施形態の比較例に係る眼底観察装置は、第１楕円面鏡４０′と第２楕円面鏡５０′とを含む。第１楕円面鏡４０′は、実施形態に係る第１楕円面鏡４０と同様であってよい。これに対して、第２楕円面鏡５０′の両端部は、楕円面である反射面の長軸に交差する平面で切断されていない（図４Ｂ参照）。

　この場合、被検眼位置（第２楕円面鏡５０′の第２焦点Ｆ４の位置）に被検眼を配置しようと被検者ＳＵが顔を第２楕円面鏡５０′を近付けると、図４Ｂに示すように、顔の一部（口、顎）が第２楕円面鏡５０′の下部に干渉する。従って、被検者ＳＵは、図４Ａに示すように、第２楕円面鏡５０′の反射面に対して斜め方向に顔を向けて被検眼位置に被検眼を配置する必要が生ずる。それにより、被検眼の固視が困難になったり、観察中の被検者ＳＵの姿勢に負担をかけたりする場合がある。

　図５Ａ及び図５Ｂに、実施形態に係る第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０と観察対象の被検者との位置関係を模式的に示す。図５Ａは、実施形態に係る第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０と観察対象の被検者との位置関係の概略を示す上面図である。図５Ｂは、実施形態に係る第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０と観察対象の被検者との位置関係の概略を示す側面図である。

　上記のように、第２楕円面鏡５０の両端部は、楕円面である反射面の長軸に交差する平面で切断されている（図５Ｂ参照）。この場合、被検眼位置（第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４の位置）に被検眼を配置しようと被検者ＳＵが顔を第２楕円面鏡５０に近付けても、図５Ｂに示すように、顔（口、顎）が第２楕円面鏡５０の下部に干渉することを回避することができる。従って、被検者ＳＵは、図５Ａに示すように、第２楕円面鏡５０の反射面に対して正面を向いて被検眼位置に被検眼を配置することができる。それにより、被検眼の固視が容易になり、観察中の被検者ＳＵの姿勢に負担をかけることがない。

　なお、図１に示すように、第２楕円面鏡５０は、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１と第２焦点Ｆ２とを結ぶ直線と第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３と第２焦点Ｆ４とを結ぶ直線とのなす角が角度αになるように配置される。例えば、角度αは３０度である。いくつかの実施形態では、角度αを変更するように、第１楕円面鏡４０に対して第２楕円面鏡５０が相対的に移動可能に構成される。

　このような構成において、第１焦点Ｆ１に配置された穴鏡３０により偏向された照明光は、第１楕円面鏡４０の反射面で反射され、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２に導かれる。第２焦点Ｆ２に導かれた照明光は、第２楕円面鏡５０の反射面に導かれ、この反射面で反射され、第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４に配置された被検眼Ｅに導かれる。

　被検眼Ｅに導かれた照明光は、瞳孔を通じて眼内に入射し、眼底Ｅｆに照射される。眼底Ｅｆにおいて反射された照明光の戻り光は、瞳孔を通じて被検眼Ｅの外部に出射され、往路と同じ経路を逆向きに進行して、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１に導かれる。第１焦点Ｆ１に導かれた照明光の戻り光は、上記のように、穴鏡３０に形成された穴部を通過し（又は穴鏡３０を透過し）、スリット受光光学系２０に導かれる。

　いくつかの実施形態では、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０の少なくとも一方は、反射面が凹面状に形成された凹面鏡である。いくつかの実施形態では、凹面鏡の反射面は、自由曲面になるように形成される。

　眼底観察装置１には、図１に示す構成に加え、被検眼Ｅと光学系との位置合わせを行うためのアライメント光学系が設けられてもよい。また、眼底観察装置１には、レンズの移動、又はスリット受光光学系２０の移動による合焦機構が設けられていてもよい。

　また、眼底観察装置１は、検査に付随する機能を提供するための構成を備えていてよい。例えば、眼底観察装置１には、被検眼Ｅを固視させるための視標（固視標）を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影するための固視光学系が設けられていてよい。更に、眼底観察装置１には、被検者の顔を支持するための部材（顎受け、額当て等）等の任意の要素やユニットが設けられてもよい。

　図６に、第１実施形態に係る眼底観察装置１の処理系の構成例を示す。図６において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　眼底観察装置１の処理系は、制御部６０を中心に構成される。制御部６０は、眼底観察装置１の各部の制御を行う。

　制御部６０は、主制御部６１と、記憶部６２とを含む。主制御部６１の機能は、例えばプロセッサにより実現される。記憶部６２には、眼底観察装置１を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。このコンピュータプログラムには、照明光源制御用プログラム、イメージセンサ制御用プログラム、穴鏡制御用プログラム、画像形成用プログラム、及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部６１が動作することにより、制御部６０は制御処理を実行する。

　（主制御部６１）
　主制御部６１は、スリット投影光学系１０、スリット受光光学系２０、穴鏡３０、画像形成部７０、及びユーザインターフェイス（Ｕｓｅｒ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ：ＵＩ）部８０の各部を制御する。

　スリット投影光学系１０に対する制御には、照明光源１１に対する制御などがある。照明光源１１に対する制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。

　スリット受光光学系２０に対する制御には、イメージセンサ２１に対する制御などがある。イメージセンサ２１に対する制御には、眼底共役位置Ｐにおいて移動可能な受光可能範囲（仮想的な開口範囲、フォーカルプレーン）の設定制御、ローリングシャッター方式で受光結果を読み出すための制御（例えば、照明パターンのサイズに対応した受光サイズの設定等）が含まれる。また、イメージセンサ２１の制御には、リセット制御、露光制御、電荷転送制御、出力制御などが含まれる。

　穴鏡３０に対する制御には、照明光を偏向する偏向面の角度の制御が含まれる。偏向面の角度を制御することで、照明光の偏向方向を制御することが可能である。偏向面の角度範囲を制御することで、スキャン範囲（スキャン開始位置及びスキャン終了位置）を制御することが可能である。偏向面の角度の変更速度を制御することで、スキャン速度を制御することが可能である。

　画像形成部７０に対する制御には、イメージセンサ２１により得られた受光結果から被検眼Ｅの画像を形成する画像形成制御などがある。

　ＵＩ部８０に対する制御には、表示デバイスに対する制御、操作デバイス（入力デバイス）に対する制御などがある。

（記憶部６２）
　記憶部６２は、各種のデータを記憶する。記憶部６２に記憶されるデータとしては、例えば、イメージセンサ２１により得られた受光結果、画像形成部７０により形成された画像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。

　また、記憶部６２には、眼底観察装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部７０）
　画像形成部７０は、ローリングシャッター方式によりイメージセンサ２１から読み出された受光結果に基づいて、任意の受光可能範囲（仮想的な開口範囲、フォーカルプレーン）に対応した受光像（眼底像）を形成することが可能である。画像形成部７０は、受光可能範囲（開口範囲）に対応した受光像を順次に形成し、形成された複数の受光像から被検眼Ｅの画像を形成することが可能である。画像形成部７０により形成された各種の画像（画像データ）は、例えば記憶部６２に保存される。

　例えば、画像形成部７０は、プロセッサを含み、記憶部等に記憶されたプログラムに従って処理を行うことで、上記の機能を実現する。

（ＵＩ部８０）
　ＵＩ部８０は、ユーザと眼底観察装置１との間で情報のやりとりを行うための機能を備える。ＵＩ部８０は、表示デバイスと操作デバイスとを含む。表示デバイスは、表示部を含んでよく、それ以外の表示デバイスを含んでもよい。表示デバイスは、各種の情報を表示させる。表示デバイスは、例えば液晶ディスプレイを含み、主制御部６１からの制御を受け、上記の情報を表示する。表示デバイスに表示される情報には、制御部６０による制御結果に対応した情報、画像形成部７０による演算結果に対応した情報（画像）などがある。操作デバイスは、各種のハードウェアキー及び／又はソフトウェアキーを含む。主制御部６１は、操作デバイスに対する操作内容を受け、操作内容に対応した制御信号を各部に出力することが可能である。操作デバイスの少なくとも一部と表示デバイスの少なくとも一部とを一体的に構成することが可能である。タッチパネルディスプレイはその一例である。

　第１楕円面鏡４０は、実施形態に係る「第１凹面鏡」の一例である。第２楕円面鏡５０は、実施形態に係る「第２凹面鏡」の一例である。スリット投影光学系１０及スリット受光光学系２０は、実施形態に係る「光学系」の一例である。穴鏡３０は、実施形態に係る「偏向部材」の一例である。

　＜動作＞
　次に、第１実施形態に係る眼底観察装置１の動作例について説明する。

　図７に、第１実施形態に係る眼底観察装置１の動作例を示す。図７は、第１実施形態に係る眼底観察装置１の動作例のフローチャートを表す。記憶部６２には、図７に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部６１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図７に示す処理を実行する。

　図７では、被検眼Ｅが所定の被検眼位置（図１の第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４）に配置されているものとする。

（Ｓ１：照明光源を点灯）
　主制御部６１は、照明光源１１を制御して、照明光源１１を点灯させる。

　照明光源１１から出力された光は、虹彩絞り１２に形成された開口部を通過し、スリット１３に形成された開口部を通過し、投影レンズ１４を透過し、スリット状の照明光として穴鏡３０に導かれる。

（Ｓ２：照明光の偏向制御、受光面の開口範囲を設定）
　続いて、主制御部６１は、穴鏡３０を制御することにより、所定の照射範囲を照明するために所定の偏向方向に偏向面の向きを設定し、所定の偏向角度範囲で偏向面の向きを順次に変更する照明光の偏向制御を開始する。すなわち、主制御部６１は、眼底Ｅｆに対して照明光のスキャンを開始する。

　いくつかの実施形態では、主制御部６１は、イメージセンサ２１において任意に設定可能な仮想的な開口範囲（受光可能範囲）の移動に同期して、穴鏡３０を制御して照明光の偏向制御を行う。

　いくつかの実施形態では、主制御部６１は、イメージセンサ２１を制御し、眼底Ｅｆにおける照明光の照射領域に対応する受光面における戻り光の受光範囲を含む開口範囲（受光可能範囲）を仮想的に設定する。例えば、眼底Ｅｆにおける照明光の照射範囲は、穴鏡３０の偏向面の偏向角度に基づいて特定することが可能である。主制御部６１は、順次に変更される穴鏡３０の偏向面の偏向方向に対応して、イメージセンサ２１の受光面における開口範囲を仮想的に設定することが可能である。

　穴鏡３０に導かれた照明光は、偏向方向が変更された偏向面で偏向されて第１楕円面鏡４０の反射面に導かれ、この反射面で反射され、第１楕円面鏡４０の第２焦点Ｆ２を経由して、第２楕円面鏡５０の反射面に導かれる。第２楕円面鏡５０に反射面に導かれた照明光は、この反射面で反射され、第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４に配置された被検眼Ｅの眼内に入射し、眼底Ｅｆに照射される。眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行し、穴鏡３０に形成された穴部を通過し、又は穴鏡３０を透過し、結像レンズ２２を介してイメージセンサ２１の受光面で受光される。イメージセンサ２１の受光面では、眼底Ｅｆにおける照明光の照射範囲に対応した戻り光の受光範囲を含むように仮想的な開口範囲（受光可能範囲）が設定されているため、不要な散乱光の影響を抑えつつ、眼底Ｅｆからの戻り光のみが受光される。

（Ｓ３：終了？）
　続いて、主制御部６１は、眼底Ｅｆに対する照明光のスキャンを終了するか否かを判定する。例えば、主制御部６１は、順次に変更される穴鏡３０の偏向面の偏向角度が所定の偏向角度範囲以内であるか否かを判定することにより、眼底Ｅｆに対する照明光のスキャンを終了するか否かを判定することができる。

　眼底Ｅｆに対する照明光のスキャンを終了すると判定されたとき（Ｓ３：Ｙ）、眼底観察装置１の動作はステップＳ４に移行する。眼底Ｅｆに対する照明光のスキャンを終了しないと判定されたとき（Ｓ３：Ｎ）、眼底観察装置１の動作はステップＳ２に移行する。

（Ｓ４：画像を取得）
　ステップＳ３において、眼底Ｅｆに対する照明光のスキャンを終了すると判定されたとき（Ｓ３：Ｙ）、主制御部６１は、画像形成部７０を制御することにより、イメージセンサ２１から読み出された受光結果に基づいて被検眼Ｅの画像を形成させる。いくつかの実施形態では、画像形成部７０は、ステップＳ２においてイメージセンサ２１から読み出された受光結果に基づいて受光像を順次に形成し、形成された複数の受光像から被検眼Ｅの画像を形成する。

　以上で、眼底観察装置１の動作は終了である（エンド）。

　以上説明したように、第１実施形態によれば、第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を簡便、且つ、低コストで高精度に位置合わせすることができる。更に、このような第１楕円面鏡４０及び第２楕円面鏡５０を備えた眼底観察装置１では、穴鏡３０を用いてスリット投影光学系１０の光路とスリット受光光学系２０の光路とを結合すると共に、穴鏡３０を用いて照明光を偏向して第１楕円面鏡４０の反射面に導く。それにより、低コスト、且つ、コンパクトな構成で、照明光のスリット方向に直交するスリット幅方向（ラインの幅方向）にスキャンする光学系だけで８０度を超える撮影画角を確保しつつ、広角な照明光の光路と戻り光の光路との共有光学系を容易に配置することが可能になる。また、穴鏡３０の穴部の通過（透過）側にも光学系を配置することができるため、瞳リレー系が不要な構成となり、光学系の配置の自由度を向上させることができる。

　更に、ポリゴンミラー等ではなく穴鏡３０を用いることで、静音化を図りつつ、偏向角度範囲を広くすることが可能になる。また、スリット方向の長さ又はスキャン方向の長さを可変にすることで、照明光のスキャン範囲を任意に設定することができるようになる。

　＜第２実施形態＞
　実施形態に係る眼底観察装置の構成は、第１実施形態に係る眼底観察装置１の構成に限定されるものではない。例えば、第１実施形態に係る眼底観察装置１は、更に、ＯＣＴ光学系を備えていてもよい。

　以下、実施形態では、ＯＣＴを用いた計測又は撮影においてスウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼底観察装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

　以下、第２実施形態に係る眼底観察装置について、第１実施形態に係る眼底観察装置１との相違点を中心に説明する。

　＜構成＞
　図８に、第２実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成例を示す。図８において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの光学系の構成が第１実施形態に係る眼底観察装置１の光学系の構成と異なる点は、眼底観察装置１の光学系の構成に対してＯＣＴ光学系１００が追加された点である。ＯＣＴ光学系１００の光路は、スリット受光光学系２０と穴鏡３０との間の光路でスリット受光光学系２０の光路と結合される。

　具体的には、スリット受光光学系２０と穴鏡３０との間の光路に、リレーレンズ７１、７２を含むリレーレンズ光学系が配置される。リレーレンズ７１とリレーレンズ７２との間の光路は、テレセントリック光学系の光路に変換され、テレセントリック光学系の光路にダイクロイックミラー９０が配置される。すなわち、リレーレンズ光学系は、ダイクロイックミラー９０が配置された光路の少なくとも一部をテレセントリック光学系の光路に変換する。

　ダイクロイックミラー９０は、スリット受光光学系２０の光路からＯＣＴ光学系１００の光路を分離する（スリット受光光学系２０の光路とＯＣＴ光学系１００の光路とを結合する）光路結合分離部材である。ダイクロイックミラー９０は、ＯＣＴ光学系１００からの測定光を反射してリレーレンズ７１に導くと共に、被検眼Ｅからの測定光の戻り光を反射してＯＣＴ光学系１００に導く。また、ダイクロイックミラー９０は、リレーレンズ７１を介して導かれてきた被検眼Ｅからの照明光の戻り光を透過させ、リレーレンズ７２に導く。

（ＯＣＴ光学系１００）
　図９に、図８のＯＣＴ光学系１００の構成例を示す。図９において、図８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　ＯＣＴ光学系１００には、被検眼Ｅに対してＯＣＴ計測（又はＯＣＴ撮影）を行うための光学系が設けられている。この光学系は、波長掃引型（波長走査型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す干渉信号であり、後述の画像形成部７０ａ、及びデータ処理部７５ａ等に送られる。

　ＯＣＴ光源１０１は、一般的なスウェプトソースタイプの眼底観察装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、例えば、共振器を含み、中心波長が１０５０ｎｍの光を発するレーザー光源を含んで構成される。ＯＣＴ光源１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

　ＯＣＴ光源１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏波状態が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏波状態を調整する。

　偏波コントローラ１０３により偏波状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

　参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、光路長変更部１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。

　光路長変更部１１４は、図９に示す矢印の方向に移動可能とされ、参照光ＬＲの光路長を変更する。この移動により参照光ＬＲの光路の長さが変更される。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部１１４は、例えばコーナーキューブと、これを移動する移動機構とを含んで構成される。この場合、光路長変更部１１４のコーナーキューブは、コリメータ１１１により平行光束とされた参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブに入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブから出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。

　光路長変更部１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバ１１７に入射する。光ファイバ１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏波状態が調整され、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

　一方、ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７によりに導かれ、コリメータレンズユニット１４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光スキャナ１５０により１次元的又は２次元的に偏向される。

　コリメータレンズユニット１４０は、ＯＣＴ光学系１００に含まれる干渉光学系の光軸に配置されたコリメータレンズを含む。コリメータレンズは、ＯＣＴ光学系１００に接続され測定光ＬＳを導光する光ファイバの端部から出射した測定光の光束を平行光束にする。当該光ファイバの端部は、例えば眼底共役位置Ｐに配置される。

　光スキャナ１５０（偏向面）は、瞳孔共役位置Ｑに配置可能である。１次元的に照明光を偏向する場合、光スキャナ１５０は、所定の偏向方向を基準に所定の偏向角度範囲で測定光ＬＳを偏向するガルバノスキャナを含む。２次元的に照明光を偏向する場合、光スキャナ１５０は、第１ガルバノスキャナと、第２ガルバノスキャナとを含む。第１ガルバノスキャナは、ＯＣＴ光学系１００の光軸に直交する水平方向（例えば、ｘ方向）に照射位置を移動するように測定光ＬＳを偏向する。第２ガルバノスキャナは、ＯＣＴ光学系１００の光軸に直交する垂直方向（例えば、ｙ方向）に照射位置を移動するように、第１ガルバノスキャナにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。光スキャナ１５０による測定光ＬＳの照射位置を移動するスキャン態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

　光スキャナ１５０により偏向された測定光ＬＳは、合焦レンズ１５１を通過し、ダイクロイックミラー９０により反射され、穴鏡３０の穴部を通過し、第１楕円面鏡４０の反射面に導かれ、スリット投影光学系１０からの照明光と同様の経路で被検眼Ｅに導かれる。合焦レンズ１５１は、測定光ＬＳの光路（ＯＣＴ光学系１００の光軸）に沿って移動可能である。合焦レンズ１５１は、後述の制御部からの制御を受け、図示しない移動機構により測定光ＬＳの光路に沿って移動される。

　第２楕円面鏡５０の反射面により反射された測定光ＬＳは、第２焦点Ｆ４（被検眼位置）における被検眼Ｅの瞳孔を通じて眼内に入射する。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

　ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

　検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ　Ｐｈｏｔｏ　Ｄｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（干渉信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ　Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ　Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。ＤＡＱ１３０には、ＯＣＴ光源１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、ＯＣＴ光源１０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。ＯＣＴ光源１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、クロックＫＣに基づき、検出器１２５の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、サンプリングされた検出器１２５の検出結果を画像形成部７０ａ、及びデータ処理部７５ａ等に送る。画像形成部７０ａ（又は、データ処理部７５ａ）は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、画像形成部７０ａは、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

　なお、図９では、参照光の光路長を変更することにより測定光と参照光との光路長差を変更するが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、測定光の光路長を変更することにより測定光と参照光との光路長差を変更するように構成されていてもよい。

　図１０に、第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの処理系の構成例を示す。図１０において、図６、図８又は図９と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　眼底観察装置１ａの処理系の構成が眼底観察装置１の処理系の構成と異なる点は、制御部６０に代えて制御部６０ａが設けられた点と、画像形成部７０に代えて画像形成部７０ａが設けられた点と、データ処理部７５ａ及びＯＣＴ光学系１００が追加された点である。

　制御部６０ａは、主制御部６１ａと、記憶部６２ａとを含み、制御部６０が実行可能な制御に加えて、画像形成部７０ａ、データ処理部７５ａ、及びＯＣＴ光学系１００に対する制御を実行する。主制御部６１ａの機能は、主制御部６１と同様に、例えばプロセッサにより実現される。記憶部６２ａには、記憶部６２と同様に、眼底観察装置１ａを制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。このコンピュータプログラムには、照明光源制御用プログラム、イメージセンサ制御用プログラム、穴鏡制御用プログラム、画像形成用プログラム、データ処理用プログラム、ＯＣＴ光学系制御用プログラム、及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部６１ａが動作することにより、制御部６０ａは制御処理を実行する。

　主制御部６１ａは、スリット投影光学系１０、スリット受光光学系２０、穴鏡３０、画像形成部７０ａ、データ処理部７５ａ、ＯＣＴ光学系１００、及びＵＩ部８０の各部を制御する。

　ＯＣＴ光学系１００に対する制御には、ＯＣＴ光源１０１に対する制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御、光路長変更部１１４の移動制御、アッテネータ１２０の動作制御、検出器１２５に対する制御、ＤＡＱ１３０に対する制御、光スキャナ１５０に対する制御、移動機構１５１Ｄに対する制御などがある。

　ＯＣＴ光源１０１に対する制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。検出器１２５に対する制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。光スキャナ１５０に対する制御には、光スキャナ１５０によるスキャン位置やスキャン範囲やスキャン速度の制御などがある。

　移動機構１５１Ｄは、合焦レンズ１５１をＯＣＴ光学系１００の光軸方向に移動する。主制御部６１ａは、移動機構１５１Ｄを制御することにより、合焦レンズ１５１をＯＣＴ光学系１００の光軸方向に移動させ、測定光の合焦位置を変更することが可能である。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

　画像形成部７０ａに対する制御には、イメージセンサ２１により得られた受光結果から被検眼Ｅの画像を形成する画像形成制御に加えて、ＯＣＴ光学系１００により得られた干渉光の検出結果に基づくＯＣＴ画像の形成制御などがある。

　データ処理部７５ａに対する制御には、画像形成部７０ａにより形成された画像に対する画像処理の制御、画像の解析処理の制御などがある。

　画像形成部７０ａは、画像形成部７０と同様に、イメージセンサ２１から読み出された受光結果に基づいて、仮想的に設定された任意の開口範囲（受光可能範囲）に対応した受光像（眼底像）を形成することが可能である。画像形成部７０ａは、仮想的な開口範囲に対応した受光像を順次に形成し、形成された複数の受光像から被検眼Ｅの画像を形成することが可能である。

　また、画像形成部７０ａは、ＤＡＱ１３０（検出器１２５）から入力される検出信号と、制御部６０ａから入力される画素位置信号とに基づいて、ＯＣＴ画像（断層像）の画像データを形成する。画像形成部７０ａにより形成されるＯＣＴ画像には、Ａスキャン画像、Ｂスキャン画像などがある。Ｂスキャン画像は、例えば、Ａスキャン画像をＢスキャン方向に配列することにより形成される。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、分散補償、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ　Ｆｏｕｒｉｅｒ　Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。他のタイプのＯＣＴ装置の場合、画像形成部７０ａは、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。画像形成部７０ａにより形成された各種の画像（画像データ）は、例えば記憶部６２ａに保存される。

　データ処理部７５ａは、スリット受光光学系２０により得られた受光結果に基づいて形成された画像、又は被検眼Ｅに対するＯＣＴ計測により取得されたデータを処理する。データ処理部７５ａは、画像形成部７０ａにより形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施すことが可能である。例えば、データ処理部７５ａは、画像の輝度補正等の各種補正処理を実行する。

　データ処理部７５ａは、ＯＣＴ画像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部７５ａは、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ　Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ　Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。ＵＩ部８０に含まれる表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

　また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

　データ処理部７５ａは、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（例えば、特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ－ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。

　データ処理部７５ａは、ＯＣＴにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼Ｅの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

　いくつかの実施形態では、データ処理部７５ａは、略同一部位に対するＢスキャンにより得られた時系列のＢスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部７５ａは、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してｅｎ－ｆａｃｅ画像として構築することでＯＣＴＡ像を形成する。

　データ処理部７５ａにより生成された画像（例えば、３次元画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像）もまたＯＣＴ画像に含まれる。

　更に、データ処理部７５ａは、スリット受光光学系２０により得られた受光結果に基づいて形成された画像、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果、又は当該検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像に対して所定の解析処理を行う。所定の解析処理には、被検眼Ｅにおける所定の部位（組織、病変部）の特定；指定された部位間の距離（層間距離）、面積、角度、比率、密度の算出；指定された計算式による演算；所定の部位の形状の特定；これらの統計値の算出；計測値、統計値の分布の算出；これら解析処理結果に基づく画像処理などがある。所定の組織には、血管、視神経乳頭、中心窩、黄斑などがある。所定の病変部には、白斑、出血などがある。

　眼底観察装置１ａは、ＯＣＴ光学系１００をＯＣＴ光学系１００の光軸に交差する１次元方向又は２次元方向に移動させる移動機構を含んでもよい。この場合、主制御部６１ａは、この移動機構を制御することにより、ダイクロイックミラー９０に対してＯＣＴ光学系１００をＯＣＴ光学系１００の光軸に交差する１次元方向又は２次元方向に移動させる。それにより、ＯＣＴ光学系１００の光スキャナ１５０を用いたスキャン範囲を移動させて、眼底Ｅｆにおける広角のスキャン範囲（例えば、ＳＬＯの撮影範囲）をスキャンすることが可能になる。

　ＯＣＴ光学系１００は、実施形態に係る「投射光学系」及び「受光光学系」の一例である。

　＜動作＞
　次に、第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの動作例について説明する。

　眼底観察装置１ａは、図７に示す照明光による眼底Ｅｆに対するスキャン制御と並列に、ＯＣＴ光学系１００を用いたＯＣＴ計測を実行することが可能である。以下、図７に示す制御と並列に実行可能なＯＣＴ計測の制御について説明する。

　図１１に、第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの動作例を示す。図１１は、第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの動作例のフローチャートを表す。記憶部６２ａには、図１１に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部６１ａは、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図１１に示す処理を実行する。

　図１１では、被検眼Ｅが所定の被検眼位置（図１の第２楕円面鏡５０の第２焦点Ｆ４）に配置されているものとする。

（Ｓ１１：スキャン範囲を設定）
　まず、主制御部６１ａは、光スキャナ１５０のスキャン範囲を設定する。主制御部６１ａは、スキャン範囲と共に、光スキャナ１５０によるスキャン開始位置、スキャン終了位置、スキャン速度（スキャン周波数）等を設定することが可能である。

　いくつかの実施形態では、ユーザは、ＵＩ部８０における操作デバイスに対する操作によりスキャンモード又は動作モードを指定することが可能である。ユーザによって操作デバイスに対する操作によりスキャンモード（例えば、水平スキャン、垂直スキャン）が指定されたとき、主制御部６１ａは、操作デバイスからの操作情報を解析して、指定されたスキャンモードを特定する。ユーザによって操作デバイスに対する操作により動作モードが指定されたとき、主制御部６１ａは、操作情報を解析して、指定された動作モード（ＯＣＴ計測モード）においてあらかじめ指定されたスキャンモード（例えば、水平スキャン、垂直スキャン）を特定する。

（Ｓ１２：ＯＣＴ光源を点灯）
　続いて、主制御部６１ａは、ＯＣＴ光源１０１を制御して、ＯＣＴ光源１０１を点灯させる。いくつかの実施形態では、主制御部６１ａは、図７に示すステップＳ１における照明光源１１の点灯制御に同期して、ステップＳ１２を実行する。

　いくつかの実施形態では、主制御部６１ａは、フォーカス調整制御及び偏波調整制御を実行する。例えば、主制御部６１ａは、移動機構１５１Ｄを制御して合焦レンズを所定の距離だけ移動させた後、ＯＣＴ光学系１００を制御してＯＣＴ計測を実行させる。主制御部６１ａは、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態をデータ処理部７５ａに判定させる。例えば、データ処理部７５ａは、ＯＣＴ計測により取得された干渉光の検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出し、算出された評価値に基づいてフォーカス状態を判定する。データ処理部７５ａによる判定結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部６１ａは、再び移動機構１５１Ｄの制御を行い、フォーカス状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

　また、例えば、主制御部６１ａは、偏波コントローラ１０３、１１８の少なくとも一方を制御して光Ｌ０及び測定光ＬＳの少なくとも一方の偏波状態を所定の量だけ変更した後、ＯＣＴ光学系１００を制御してＯＣＴ計測を実行させ、取得された干渉光の検出結果に基づくＯＣＴ画像を画像形成部７０ａに形成させる。主制御部６１ａは、ＯＣＴ計測により得られたＯＣＴ画像の画質をデータ処理部７５ａに判定させる。データ処理部７５ａによる判定結果に基づいて測定光ＬＳの偏波状態が適正ではないと判断されたとき、主制御部６１ａは、再び偏波コントローラ１０３、１１８の制御を行い、偏波状態が適正であると判断されるまで繰り返す。

（Ｓ１３：ＯＣＴスキャンを実行）
　続いて、主制御部６１ａは、光スキャナ１５０を制御することによりＯＣＴ光源１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで被検眼Ｅの眼底Ｅｆの所定部位をスキャンさせる。当該ＯＣＴ計測により取得された干渉光の検出結果は、ＤＡＱ１３０においてサンプリングされ、干渉信号として記憶部６２ａ等に保存される。

（Ｓ１４：終了？）
　続いて、主制御部６１ａは、眼底Ｅｆに対するＯＣＴスキャンを終了するか否かを判定する。例えば、主制御部６１ａは、順次に変更される光スキャナ１５０の偏向面の偏向角度が所定の偏向角度範囲以内であるか否かを判定することにより、眼底Ｅｆに対するＯＣＴスキャンを終了するか否かを判定することができる。

　眼底Ｅｆに対するＯＣＴスキャンを終了すると判定されたとき（Ｓ１４：Ｙ）、眼底観察装置１ａの動作はステップＳ１５に移行する。眼底Ｅｆに対するＯＣＴスキャンを終了しないと判定されたとき（Ｓ１４：Ｎ）、眼底観察装置１ａの動作はステップＳ１３に移行する。

（Ｓ１５：ＯＣＴ画像を形成）
　ステップＳ１４において、眼底Ｅｆに対するＯＣＴスキャンを終了すると判定されたとき（Ｓ１４：Ｙ）、主制御部６１ａは、ステップＳ１４において取得された干渉信号に基づいてＢスキャン方向に沿って眼底Ｅｆの複数のＡスキャン画像を画像形成部７０ａに形成させる。いくつかの実施形態では、主制御部６１ａは、データ処理部７５ａを制御して、３次元のＯＣＴ画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像などのＯＣＴ画像を形成させる。

　以上で、眼底観察装置１ａの動作は終了である。

　図１２に、第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの動作の説明図を示す。

　図１２に示すように、穴鏡３０を用いて照明光を偏向することにより実現される眼底Ｅｆにおける照明光のスキャンと、光スキャナ１５０を用いて測定光ＬＳを偏向することにより実現される眼底ＥｆにおけるＯＣＴスキャンとが並列に実行される。それにより、眼底Ｅｆにおいてスキャン範囲ＳＣ１（水平方向Ｈ０×垂直方向Ｖ０）で照明光のスキャンが行われているときに、スキャン範囲ＳＣ１内の任意の位置のスキャン範囲ＳＣ０に対してＯＣＴスキャンを実行することができる。

　その結果、スキャン範囲ＳＣ１に対する照明光のスキャンにより大広角で観察している眼底の任意の位置に対して、ＯＣＴ計測（ＯＣＴ撮影）を行うことが可能になる。

　以上説明したように、第２実施形態によれば、第１実施形態により得られる効果に加えて、偏向部材としての穴鏡３０の透過側において（穴鏡の穴を通して）ＯＣＴ光学系１００を光学的に結合することで、広角の照明光の光路とその戻り光の光路を低コストで分離することができる。また、ＯＣＴスキャン用の光スキャナと照明光の偏向用の光スキャナとを共有させることなく、大広角で観察している眼底の任意の位置に対してＯＣＴ計測（ＯＣＴ撮影）を行うことが可能になる。

　＜第３実施形態＞
　第１実施形態及び第２実施形態では、第２楕円面鏡５０が、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１と第２焦点Ｆ２とを結ぶ直線と、第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３と第２焦点Ｆ４とを結ぶ直線とのなす角の角度αが３０度になるように配置される場合について説明した。しかしながら、実施形態に係る構成は、これに限定されるものではない。例えば、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１と第２焦点Ｆ２とを結ぶ直線と、第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３と第２焦点Ｆ４とを結ぶ直線とのなす角の角度αは、略０度であってよい。

　図１３に、第３実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成例を示す。図１３において、図８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　第３実施形態に係る眼底観察装置１ｂの光学系の構成が第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの光学系の構成と異なる点は、第１楕円面鏡４０に対する第２楕円面鏡５０の配置である。眼底観察装置１ｂでは、第２楕円面鏡５０は、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１と第２焦点Ｆ２とを結ぶ直線と、第２楕円面鏡５０の第１焦点Ｆ３と第２焦点Ｆ４とを結ぶ直線とのなす角の角度αが０．２度（略０度）になるように配置される。

　なお、図１３では、眼底観察装置１ｂには、ＯＣＴ光学系１００が設けられているが、眼底観察装置１ｂは、図１と同様に、ＯＣＴ光学系１００が省略された構成を有していてもよい。

　上記の角度αに応じて、広角の範囲と共に、被検眼Ｅに対する観察範囲の対称性が変化する。第３実施形態によれば、第２実施形態と比較して、被検眼Ｅに対して対称となる広角の範囲で眼底Ｅｆを観察することが可能になる。

　＜第４実施形態＞
　第１実施形態では、穴鏡３０を用いて照明光を偏向する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。第１実施形態において、例えば、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１に反射ミラーを配置し、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に略共役な位置に穴鏡を配置するようにしてもよい。

　図１４に、第４実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成例を示す。図１４において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　第４実施形態に係る眼底観察装置１ｃの光学系の構成が第１実施形態に係る眼底観察装置１の光学系の構成と異なる点は、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１に穴鏡３０に代えて反射ミラー３１が配置される点と、第１焦点Ｆ１から離れた瞳孔共役位置Ｑに穴鏡３２が配置される点と、穴鏡３２とスリット投影光学系１０との間に光スキャナ１７が配置される点と、瞳孔共役位置Ｑをリレーするためのリレーレンズ３３、１５、１６が追加された点である。

　反射ミラー３１の偏向面の向きは、固定される。リレーレンズ３３は、反射ミラー３１と穴鏡３２との間に配置される。穴鏡３２は、スリット投影光学系１０の光路とスリット受光光学系２０の光路とを分離又は結合する。穴鏡３２の偏向面の向きは、固定される。穴鏡３２とスリット投影光学系１０との間に、リレーレンズ１６、光スキャナ１７、リレーレンズ１５が配置される。光スキャナ１７は、穴鏡３０と同様の照明光の偏向動作を行う一軸の光スキャナである。

　この場合、スリット投影光学系１０からの照明光は、リレーレンズ１５を通過し、光スキャナ１７により偏向される。光スキャナ１７により偏向された照明光は、リレーレンズ１６を通過し、穴鏡３２に形成された穴部の周辺領域で偏向されてリレーレンズ３３に導かれる。リレーレンズ３３に導かれてきた照明光は、反射ミラー３１により反射されて、第１楕円面鏡４０の反射面に導かれる。被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、反射ミラー３１により偏向され、リレーレンズ３３を通過し、穴鏡３２の穴部を通過し、スリット受光光学系２０に導かれる。

　第４実施形態によれば、第１実施形態と比較して、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１の近傍に光学系を配置するスペースの余裕がなくても、瞳孔共役位置Ｑをリレーすることで、スリット投影光学系１０及びスリット受光光学系２０の配置の自由度を向上させることができる。

　＜第５実施形態＞
　第２実施形態では、穴鏡３０を用いて照明光を偏向する場合について説明したが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。第２実施形態において、第４実施形態と同様に、例えば、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１の反射ミラーを配置し、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に略共役な位置に穴鏡を配置するようにしてもよい。

　図１５に、第５実施形態に係る眼底観察装置の光学系の構成例を示す。図１５において、図８又は図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

　第５実施形態に係る眼底観察装置１ｄの光学系の構成が第２実施形態に係る眼底観察装置１ａの光学系の構成と異なる点は、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１に穴鏡３０に代えて反射ミラー３１が配置される点と、第１焦点Ｆ１から離れた瞳孔共役位置Ｑに穴鏡３２が配置される点と、穴鏡３２とスリット投影光学系１０との間に光スキャナ１７が配置される点と、瞳孔共役位置Ｑをリレーするためのリレーレンズ１５、１６が追加された点である。

　第４実施形態と同様に、反射ミラー３１と穴鏡３２の偏向面の向きは、固定される。瞳孔共役位置Ｑは、リレーレンズ７１、７２によりリレーされる。穴鏡３２は、スリット投影光学系１０の光路とスリット受光光学系２０の光路とを分離又は結合する。穴鏡３２とスリット投影光学系１０との間に、リレーレンズ１６、光スキャナ１７、リレーレンズ１５が配置される。光スキャナ１７は、穴鏡３０と同様の照明光の偏向動作を行う一軸の光スキャナである。

　この場合、スリット投影光学系１０からの照明光は、リレーレンズ１５を通過し、光スキャナ１７により偏向される。光スキャナ１７により偏向された照明光は、リレーレンズ１６を通過し、穴鏡３２に形成された穴部の周辺領域で偏向され、リレーレンズ７２、ダイクロイックミラー９０、及びリレーレンズ７１を通過し、反射ミラー３１により反射されて、第１楕円面鏡４０の反射面に導かれる。被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの照明光の戻り光は、反射ミラー３１により偏向され、リレーレンズ７１、ダイクロイックミラー９０、及びリレーレンズ７２を通過し、穴鏡３２の穴部を通過し、スリット受光光学系２０に導かれる。

　第５実施形態によれば、第２実施形態と比較して、第１楕円面鏡４０の第１焦点Ｆ１の近傍に光学系を配置するスペースに余裕がなくても、瞳孔共役位置Ｑをリレーすることで、スリット投影光学系１０及びスリット受光光学系２０の配置の自由度を向上させることができる。

　［作用］
　実施形態に係る眼底観察装置について説明する。

　実施形態の第１態様は、光源（照明光源１１、ＯＣＴ光源１０１）からの光を被検眼（Ｅ）の眼底（Ｅｆ）に投射し、眼底からの戻り光を受光する光学系（スリット投影光学系１０及びスリット受光光学系２０、ＯＣＴ光学系１００）と、それぞれが凹面状の反射面を有し、光学系からの光を眼底に導くと共に戻り光を光学系に導く２つの凹面鏡（第１楕円面鏡４０、第２楕円面鏡）と、２つの凹面鏡を保持する保持部材（４５）と、を含む眼底観察装置（１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ）である。保持部材４５は、所定の１次元方向又は２次元方向に既定の相対位置になるように両面に配置された状態で２つの凹面鏡を保持可能である。

　このような態様によれば、２つの凹面鏡について３次元方向のうち１次元方向又は２次元方向に所定の位置関係で固定されるため、２つの凹面鏡の位置関係を調整すべき方向の数を低減することができる。それにより、高精度に設計された光学的な計測条件を簡便に実現しつつ、眼底観察の精度を低コストで向上させることが可能になる。特に、凹面鏡等の光学部材を高精度な加工技術で製造することで、位置合わせ精度に起因した光学的な計測精度の劣化を抑えることが可能になる。

　実施形態の第２態様では、第１態様において、保持部材は、光学系の光軸方向に既定の距離を置いて両面に２つの凹面鏡を保持する。

　このような態様によれば、光学系の光軸方向に交差する２次元方向に調整するだけで、高精度に設計された光学的な計測条件を簡便に実現することが可能になる。

　実施形態の第３態様では、第１態様又は第２態様において、２つの凹面鏡は、周縁部に第１フランジが形成され、光を反射する凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡（第１楕円面鏡４０）と、周縁部に第２フランジが形成され、第１凹面鏡により反射された光を眼底に導く凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡（第２楕円面鏡５０）と、を含む。保持部材は、第１フランジと第２フランジとが略平行になるように第１凹面鏡及び第２凹面鏡を保持する。

　このような態様によれば、第１凹面鏡及び第２凹面鏡の少なくとも１つを互いに平行に移動することで、簡便に、２つの凹面鏡の位置合わせ等の調整を高精度に行うことができるようになる。

　実施形態の第４態様では、第１態様～第３態様のいずれかにおいて、２つの凹面鏡の少なくとも１つの所定の第１方向（楕円面鏡の長軸方向）の両端部は、第１方向に交差する平面で切断された形状を有する。

　このような態様によれば、広角の眼底観察に必要な反射面のサイズを確保しつつ、眼底観察装置の軽量化及び小型化を図ることができるようになる。特に、被検者の口や顎が凹面鏡に干渉する事態を回避することができるようになり、被検者は反射面に対して正面を向いた状態で被検眼を観察することが可能になる。

　実施形態の第５態様では、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、２つの凹面鏡のうち少なくとも１つは、楕円面鏡（第１楕円面鏡４０、第２楕円面鏡５０）である。

　このような態様によれば、楕円面鏡を簡便、且つ、高精度に位置合わせを行うことができる眼底観察装置を提供することができるようになる。

　実施形態の第６態様では、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、２つの凹面鏡は、第１楕円面鏡（４０）と、第２楕円面鏡（５０）とを含み、第１楕円面鏡の２つの焦点の一方（第２焦点Ｆ２）は、第２楕円面鏡の２つの焦点の一方（第１焦点Ｆ３）に配置され、光学系からの光を第２楕円面鏡の２つの焦点の他方（第２焦点Ｆ４）に導く。

　このような態様によれば、２つの楕円面鏡を用いた眼底観察装置において、簡便、且つ、低コストで凹面鏡を高精度に位置合わせすることが可能になる。

　実施形態の第７態様では、第６態様において、光学系は、光源からの光を投射する投射光学系（スリット投影光学系１０、ＯＣＴ光学系１００）と、戻り光を受光する受光光学系（スリット受光光学系２０、ＯＣＴ光学系１００）と、第１楕円面鏡の２つの焦点の他方（第１焦点Ｆ１）に配置され、光源からの光を偏向し、戻り光を受光光学系に導く偏向部材（穴鏡３０）と、を含む。

　このような態様によれば、低コスト、且つ、コンパクトな構成で、光学系だけで８０度を超える撮影画角を確保しつつ、広角な光の光路と戻り光の光路との共有光学系を容易に配置することが可能になる。

　実施形態の第８態様では、第６態様において、光学系は、偏向部材（光スキャナ１７）を含み、光源からの光を偏向して投射する投射光学系（スリット投影光学系１０）と、戻り光を受光する受光光学系（スリット受光光学系２０）と、投射光学系の光路と受光光学系の光路とを光学的に結合する光路結合部材（穴鏡３２）と、第１楕円面鏡の２つの焦点の他方（第１焦点Ｆ１）に配置され、光路結合部材により結合された光路を導かれてきた光源からの光を第１楕円面鏡に導く反射部材（反射ミラー３１）と、を含む。

　このような態様によれば、第１楕円面鏡の第２焦点の近傍に光学系を配置するスペースの余裕がない場合に、投射光学系及び受光光学系の配置の自由度を向上させることができる。

　＜その他＞
　以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

　いくつかの実施形態では、上記の眼底観察装置の制御方法の各ステップをプロセッサ（コンピュータ）に実行させるためのプログラムが提供される。このようなプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の非一時的な記録媒体（記憶媒体）に記憶させることができる。この記録媒体としては、例えば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ－ＲＯＭ／ＤＶＤ－ＲＡＭ／ＤＶＤ－ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ　眼底観察装置
１０　スリット投影光学系
１７、１５０　光スキャナ
２０　スリット受光光学系
３０、３２　穴鏡
３１　反射ミラー
４０　第１楕円面鏡
４５　保持部材
５０　第２楕円面鏡
１００　ＯＣＴ光学系
Ｅ　被検眼
Ｆ１、Ｆ３　第１焦点
Ｆ２、Ｆ４　第２焦点
Ｐ　眼底共役位置
Ｑ　瞳孔共役位置

Claims

　光源からの光を被検眼の眼底に投射し、前記眼底からの戻り光を受光する光学系と、
　それぞれが凹面状の反射面を有し、前記光学系からの前記光を前記眼底に導くと共に前記戻り光を前記光学系に導く２つの凹面鏡と、
　所定の１次元方向又は２次元方向に既定の相対位置になるように両面に配置された状態で前記２つの凹面鏡を保持可能な保持部材と、
　を含む、眼底観察装置。
　前記保持部材は、前記光学系の光軸方向に既定の距離を置いて両面に前記２つの凹面鏡を保持する
　ことを特徴とする請求項１に記載の眼底観察装置。
　前記２つの凹面鏡は、
　周縁部に第１フランジが形成され、前記光を反射する凹面状の第１反射面を有する第１凹面鏡と、
　周縁部に第２フランジが形成され、前記第１凹面鏡により反射された光を前記眼底に導く凹面状の第２反射面を有する第２凹面鏡と、
　を含み、
　前記保持部材は、前記第１フランジと前記第２フランジとが略平行になるように前記第１凹面鏡及び前記第２凹面鏡を保持する
　ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼底観察装置。
　前記２つの凹面鏡の少なくとも１つの所定の第１方向の両端部は、前記第１方向に交差する平面で切断された形状を有する
　ことを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
　前記２つの凹面鏡のうち少なくとも１つは、楕円面鏡である
　ことを特徴とする請求項１～請求項４のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
　前記２つの凹面鏡は、第１楕円面鏡と、第２楕円面鏡とを含み、
　前記第１楕円面鏡の２つの焦点の一方は、前記第２楕円面鏡の２つの焦点の一方に配置され、
　前記光学系からの前記光を前記第２楕円面鏡の２つの焦点の他方に導く
　ことを特徴とする請求項１～請求項４のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
　前記光学系は、
　前記光源からの光を投射する投射光学系と、
　前記戻り光を受光する受光光学系と、
　前記第１楕円面鏡の２つの焦点の他方に配置され、前記光源からの光を偏向し、前記戻り光を前記受光光学系に導く偏向部材と、
　を含む
　ことを特徴とする請求項６に記載の眼底観察装置。
　前記光学系は、
　偏向部材を含み、前記光源からの光を偏向して投射する投射光学系と、
　前記戻り光を受光する受光光学系と、
　前記投射光学系の光路と前記受光光学系の光路とを光学的に結合する光路結合部材と、
　前記第１楕円面鏡の２つの焦点の他方に配置され、前記光路結合部材により結合された光路を導かれてきた前記光源からの前記光を前記第１楕円面鏡に導く反射部材と、
　を含む
　ことを特徴とする請求項６に記載の眼底観察装置。