WO2021261136A1 - パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置 - Google Patents

パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2021261136A1
WO2021261136A1 PCT/JP2021/019407 JP2021019407W WO2021261136A1 WO 2021261136 A1 WO2021261136 A1 WO 2021261136A1 JP 2021019407 W JP2021019407 W JP 2021019407W WO 2021261136 A1 WO2021261136 A1 WO 2021261136A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
power
power module
wiring
substrate
semiconductor element
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/019407
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
円丈 露野
隆宏 荒木
高志 平尾
健 徳山
Original Assignee
株式会社日立製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社日立製作所 filed Critical 株式会社日立製作所
Priority to EP21829189.6A priority Critical patent/EP4174930A4/en
Priority to CN202180038505.5A priority patent/CN115885465A/zh
Priority to US18/009,760 priority patent/US20230283190A1/en
Publication of WO2021261136A1 publication Critical patent/WO2021261136A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/50Multistep manufacturing processes of assemblies consisting of devices, each device being of a type provided for in group H01L27/00 or H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02PCONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P27/00Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage
    • H02P27/04Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage using variable-frequency supply voltage, e.g. inverter or converter supply voltage
    • H02P27/06Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of supply voltage using variable-frequency supply voltage, e.g. inverter or converter supply voltage using dc to ac converters or inverters
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/2089Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for power electronics, e.g. for inverters for controlling motor
    • H05K7/20927Liquid coolant without phase change
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • H01L2224/331Disposition
    • H01L2224/3318Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
    • H01L2224/33181On opposite sides of the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/13Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • H01L23/4334Auxiliary members in encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49822Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/003Constructional details, e.g. physical layout, assembly, wiring or busbar connections
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/42Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
    • H02M7/44Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters
    • H02M7/48Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
    • H02M7/53Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal
    • H02M7/537Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only, e.g. single switched pulse inverters
    • H02M7/5387Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only, e.g. single switched pulse inverters in a bridge configuration

Definitions

  • the present invention relates to a power module and a power conversion device using the power module.
  • Power conversion devices that switch power semiconductor devices have high conversion efficiency, so they are widely used in consumer, in-vehicle, railway, and substation equipment. Along with this, the development technology of small and thin power converters with excellent productivity is also developing day by day.
  • Patent Document 1 discloses a technique for sealing a circuit board including a semiconductor element with a mold resin.
  • the semiconductor device described in Patent Document 1 has a structure in which dummy wiring is provided on the surface layer of an insulating base material, and the protective resin covering the dummy wiring is crushed by a mold during the molding process to prevent resin leakage from the transfer mold. Met.
  • the present invention further prevents the resin leakage of the transfer mold due to the variation in the thickness of the substrate during manufacturing and the breakage of the surface layer wiring of the substrate caused by the strong mold clamping.
  • the challenge is to provide a power conversion device that realizes miniaturization and improves the yield.
  • the power module has a power semiconductor element that converts DC power into AC power and outputs the AC power to a motor, a conductor that is electrically connected to the power semiconductor element, and a substrate wiring that is connected to the conductor.
  • the substrate is provided with a power semiconductor element, a conductor, and a resin encapsulant for encapsulating the substrate, and the substrate is located on the surface of the substrate wiring at a position in contact with an end portion of the resin encapsulant. Has a recess formed in a continuous curved shape.
  • Circuit diagram and semi-transmissive plan view of the power module according to the present invention. The cross-sectional view explaining the manufacturing method of the circuit body by this invention.
  • Sectional drawing of the power module which shows the modification of one Embodiment of this invention.
  • FIG. 1 is a plan view of an embodiment of a power module according to the present invention
  • FIG. 2A is a circuit diagram of a motor drive system including the power module according to the present invention
  • FIG. 2B is FIG. It is a semi-transmissive plan view.
  • the power module 300 includes a wiring board 160 (hereinafter referred to as a board 160), a first wiring layer 161 installed on the surface of the board 160, and a circuit body 310.
  • the circuit body 310 is an electric circuit, and is composed of a three-phase power semiconductor element and a conductor plate.
  • the power semiconductor element includes a first power semiconductor element (upper arm circuit active element) 155, a first power semiconductor element (upper arm circuit diode) 156, a second power semiconductor element (lower arm circuit active element) 157, and a second power semiconductor. It is composed of an element (lower arm circuit diode) 158 and forms a switching element group in the power module 300. A part of the switching element group and the substrate 160 is transferred and protected by a resin encapsulant 360 (hereinafter referred to as encapsulant 360).
  • the conductor plates are the first conductor plate (upper arm circuit emitter side) 430, the second conductor plate (upper arm circuit collector side) 431, the third conductor plate (lower arm circuit emitter side) 432, and the fourth conductor plate (lower arm). Circuit collector side) It is composed of 433.
  • the R-shaped recess 606 is formed on the first wiring layer 161 on the entire circumference of the sealing material 360.
  • the R-shaped recess 606 is formed by the R-shaped mold protrusion of the transfer molding apparatus 600 described later, and the sealing material 360 is a part of the switching element group and the substrate 160 due to the R-shaped recess 606. Can be accurately enclosed without sticking out of the predetermined sealing range. Details will be described later.
  • the switching element group for three phases (power semiconductor elements 155 to 158) has an upper arm circuit and a lower arm circuit, respectively.
  • the power semiconductor elements 155 to 158 of this switching element group convert the DC power of the battery 30 into AC power for outputting and driving the vehicle traveling motor 192 (hereinafter referred to as motor 192).
  • motor 192 the vehicle traveling motor 192
  • a first conductor plate 430 and a third conductor plate 432 are provided on the emitter side (front side of the paper surface in FIG. 2B) of the upper arm circuit and the lower arm circuit, respectively, and the collector side of the upper arm circuit and the lower arm circuit (the collector side of the lower arm circuit and the lower arm circuit).
  • a second conductor plate 431 and a fourth conductor plate 433 are provided on the back side of the paper surface in FIG. 2B, respectively.
  • the surfaces of the first conductor plate 430 and the third conductor plate 432 are exposed from the resin encapsulant 360, respectively.
  • the second conductor plate 431 and the fourth conductor plate 433 are similar to the first conductor plate 430 and the third conductor plate 432.
  • the surface of each is exposed from the resin encapsulant 360.
  • a cooling member is installed on the exposed surface of these conductor plates 430 to 433 as described later.
  • the conductor plates 430 and 431, the power semiconductor element 155, and the diode 156 are electrically connected on the upper arm side by the solder connection described later. Similarly, on the lower arm side, the conductor plates 432 and 433, the power semiconductor element 157, and the diode 158 are electrically connected.
  • the first power semiconductor element 155 or the second power semiconductor element 157 is, for example, an IGBT, a MOSFET, or the like. In the case of MOSFET, the first diode 156 or the second diode 158 is unnecessary by using the body diode.
  • the semiconductor material constituting the power semiconductor device 155 for example, Si, SiC, GaN, GaO, C or the like can be used.
  • the positive electrode wiring 315 is connected between the collector side of the upper arm circuit and the positive electrode of the battery 30 and the capacitor 500.
  • the positive electrode wiring 315 passes through the second conductor plate 431 from an input terminal (not shown) connected to the positive electrode side of the battery 30 and the capacitor 500 via the fourth wiring 164 described later formed on the surface layer of the substrate 160. It represents a positive electrode wiring path connected to the power semiconductor element of the upper arm circuit via.
  • the upper arm gate signal terminal 325U is output from the gate electrode of the first power semiconductor element 155 of the upper arm circuit.
  • the negative electrode wiring 319 is connected between the emitter side of the lower arm circuit and the negative electrode of the battery 30 and the capacitor 500.
  • the negative electrode wiring 319 is from an input terminal (not shown) connected to the negative electrode side of the battery 30 and the capacitor 500, via the first wiring 161 formed on the surface layer of the substrate 160, and via the third conductor plate 432. It represents the negative electrode wiring path connected to the power semiconductor element of the lower arm circuit.
  • the negative electrode wiring 319 may be connected to the GND of the power module 300 and the motor 192.
  • the lower arm gate signal terminal 325L is output from the gate electrode of the second power semiconductor element 157 of the lower arm circuit.
  • the collector side of the first power semiconductor element 155 and the cathode side of the first diode 156 are bonded to the second conductor plate 431.
  • a first conductor plate 430 is electrically bonded to the emitter side of the first power semiconductor element 155 and the anode side of the first diode 156.
  • the collector side of the second power semiconductor element 157 and the cathode side of the second diode 158 are bonded to the fourth conductor plate 433.
  • a third conductor plate 432 is electrically bonded to the emitter side of the second power semiconductor element 157 and the anode side of the second diode 158.
  • solder may be used or sintered metal may be used for this joining.
  • the conductor plates 430 to 433 are not particularly limited as long as they are materials having high electrical conductivity and thermal conductivity, but copper-based or aluminum-based materials are desirable. These may be used alone, but may be plated with Ni, Ag, or the like in order to improve the bondability with solder or sintered metal.
  • the terminal group 325 is a collection of terminals such as a Kelvin emitter signal terminal 325K, a lower arm gate signal terminal 325L, a mirror emitter signal terminal, and an upper arm gate signal terminal 325U.
  • the AC electrode 320 is electrically connected to the first conductor plate 430 connected to the emitter side of the upper arm circuit and the third conductor plate 432 connected to the collector side of the lower arm circuit, and is connected to the motor 192.
  • the lower arm circuit is connected to the negative electrode side of the capacitor 500 instead of GND.
  • the power module 300 converts the DC power input from the battery 30 into AC power and outputs it to the motor 192 via the AC electrode 320.
  • the power module 300 of the present embodiment has a 6in1 structure in which three sets of two arm circuits, an upper arm circuit and a lower arm circuit, are integrated.
  • a 2in1 structure may be used, which is a structure in which two arm circuits are integrated into one power module.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a circuit body according to the present invention.
  • the cross sections of FIGS. 3 (a) to 3 (e) are cross sections of the power module 300 when the cross section positions of XX of FIG. 2 (b) are viewed from the arrow S direction of FIG. 2 (b).
  • FIG. 3A is a solder connection step of the power semiconductor element 157 and the diode 158 to the fourth conductor plate 433.
  • the fourth conductor plate 433 is connected to the collector side of the second power semiconductor element 157 and the cathode side of the second diode 158 via the solder 150.
  • the second conductor plate 431 is also connected to the collector side of the first power semiconductor element 155 and the cathode side of the first diode 156 via the solder 150.
  • FIG. 3B is a connection process of the substrate 160.
  • the substrate 160 is provided with a hollow region 166, and a conductor plate 433 (431) to which a power semiconductor element 157 (155) and a diode 158 (156) are solder-connected is incorporated.
  • the fourth wiring layer 164 and the fourth conductor plate 433 formed on the lower surface layer of the substrate 160 on the side where the AC electrode 320 is solder-connected (on the left side of the paper surface) with the hollow region 166 as a boundary are via the solder 150. Be connected.
  • the second conductor plate 431 is formed on the fourth wiring layer 164 formed on the lower surface layer of the substrate 160 on the side opposite to the side where the AC electrode 320 is solder-connected (on the right side of the paper surface), and the solder 150 is attached. Connected via.
  • FIG. 3C is a wire bonding process.
  • the gate electrode of the power semiconductor device 157 (155) is connected to the wiring board 160 through the wire 151.
  • FIG. 3D is a solder connection process for the conductor plate 432 and the AC electrode 320.
  • the emitter side of the power semiconductor element 157 and the anode side of the second diode 158 are connected to the third conductor plate 432 via the solder 150, and the third conductor plate 432 is on the side opposite to the side to which the AC electrode 320 is soldered. It is connected to the first wiring layer 161 formed on the upper surface layer of the substrate 160 (on the right side of the paper) via the solder 150.
  • the first conductor plate 430 is connected to the emitter side of the first power semiconductor element 155 and the anode side of the first diode 156 via the solder 150 in the same manner as the third conductor plate 432.
  • the AC electrode 320 is connected to the first wiring layer 161 formed on the upper surface layer of the substrate 160 on the side where the AC electrode 320 is solder-connected (on the left side of the paper) via the solder 150. Further, the AC electrode 320 is connected to the substrate 160 to which the first conductor plate 430 and the fourth conductor plate 433 are solder-connected via the solder 150. This gives the circuit body 310 ready for transfer molding.
  • FIG. 3 (e) is a schematic cross-sectional view of the circuit body 310 before transfer molding.
  • the substrate 160 has four or more wiring layers. Further, as shown in the figure, it is desirable to use thick copper wiring of 0.2 mm or more for the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164 which are surface layers.
  • Thick copper wiring is an effective material because it can suppress heat generation due to wiring resistance when a large current is applied. For example, by securing a cross-sectional area of 40 mm or more in width with a wiring having a thickness of 0.2 mm, a current of 350 Arms class can be energized.
  • the second wiring layer 162 and the third wiring layer 163, which are the inner layers use wiring having a thickness of 0.1 mm or less.
  • the unevenness of the pattern of the inner layer substrate is large when the substrate 160 is manufactured, the unevenness is not filled when the substrate prepreg which is the source of the surface layer substrate is crimped. Therefore, the pattern of the inner layer substrate is formed by etching, and then the substrate prepreg is crimped.
  • the substrate can be manufactured using thick copper wiring.
  • the current of 350 Arms class can be energized by securing the cross-sectional area of each layer width of 60 mm or more after energizing by using two inner layers together.
  • the first wiring layer 161 in addition to the negative electrode wiring 319 connected to the battery 30 and the capacitor 500, an electrode connected to the gate electrodes 325L and 325U of the power semiconductor elements 155 to 158, an electrode to be an output of the AC electrode 320, and the like. , An electrode connected to the first conductor plate 430 and the like are provided.
  • the second wiring layer 162 and the third wiring layer 163 have a gate wiring and an AC wiring connecting between the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164 on the connection side (left side of the paper) of the AC electrode 320. Be prepared. In this AC wiring, the cross-sectional area is doubled and the necessary cross-sectional area is secured by energizing the second wiring layer 162 and the third wiring layer 163 in combination.
  • the fourth wiring layer 164 includes a positive electrode wiring 315 connected to the battery 30 and the capacitor 500, an electrode connected to the fourth conductor plate 433, and the like.
  • the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164 are metal surface portions that later form an interface with the substrate 160 on the outer periphery of the transfer mold resin and serve as a resin stopper in contact with the end portion of the sealing material 360. be. As will be described later, a continuous curved surface-shaped recess 606 is formed on these metal surface portions so as to surround the entire circumference of the sealing material 360 at a position in contact with the end portion of the sealing material 360.
  • the substrate size can be reduced by connecting one surface of the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164 to the positive electrode of the capacitor 500 and the other surface to the negative electrode, and outputting the inner layer to the gate circuit and the AC circuit. This also contributes to increasing the power density of the power module 300.
  • the wiring layers 161, 164 connected to the conductor plates 430 to 433 are printed on the surface, but a step is generated in the portion where the wiring layers 161 and 164 are printed and the portion where the wiring layers 161 and 164 are not printed.
  • This step becomes significantly large when thick copper wiring that conducts a large current is used.
  • the thickness variation of the substrate due to the printing of the wiring at the time of manufacturing becomes large, and it becomes difficult to accurately align the thickness direction. Therefore, when the transfer mold is sealed including the substrate 160, it is crimped by a sealing material injection device to form a boundary.
  • the crimping is performed. Resin leakage occurs from the gaps in the unfinished parts.
  • the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164 which are the surface wiring of the substrate 160, are connected to the electrodes of the battery 30 and the capacitor 500 as the positive electrode wiring 315 and the negative electrode wiring 319. This facilitates the use of laminated wiring on the positive electrode wiring 315 side and the negative electrode wiring 319 side, which has the effect of reducing wiring inductance.
  • the power semiconductor element projection unit does not have a wiring board.
  • the wiring board used in the present invention may be provided with a thin film resin such as a solder resist that covers the surface layer wiring.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the process of transfer molding according to the present invention.
  • FIG. 4A is an explanatory diagram of the transfer molding apparatus 600 that performs the transfer molding process.
  • the transfer mold device 600 includes an upper die 601 and a medium die 602, and a lower die 603 with a spring 604 and a plunger 605.
  • the circuit body 310 is set in the transfer mold device 600.
  • the R-shaped mold protrusion 610 is provided on the middle mold 602 and the lower mold 603 of the transfer mold device 600, respectively.
  • the R-shaped mold protrusion 610 provided around the entire region where the sealing material 360 is injected causes the surface layer wiring 161 to form an R-shaped recess 606 (described later) at the time of pressurization.
  • FIG. 4B is an explanatory diagram of the transfer molding process.
  • the wiring board 160 of the circuit body 310 is pressurized by the medium mold 602 and the lower mold 603 as shown in the enlarged view of A, the wiring board 160 has an R shape due to the R-shaped mold protrusion 610 of the medium mold 602 and the lower mold 603. A dent 606 is created.
  • the sealing material 360 is injected. As a result, an R-shaped recess 606 is formed on the entire circumference of the sealing material 360.
  • the substrate 160 has a recess 606 formed by denting the surfaces of the substrate wirings 161 and 164 in a continuous curved surface at a position in contact with the end portion of the sealing material 360. Since the R-shaped recess 606 becomes larger than the thickness variation of the wirings 161 and 164 on the substrate 160 described above, the thickness variation of the substrate can be absorbed by the depth of the recess. That is, forming a recess having the same depth in the outer peripheral portion to be clamped at the time of transfer molding leads to prevention of resin leakage.
  • FIG. 4C is a schematic cross-sectional view after the transfer mold. As shown not only in the enlarged view A but also in the enlarged view B, the R-shaped recess 606 is formed around both sides of the hollow 166 in which the semiconductor element is embedded, that is, in the first wiring layer 161 and the fourth wiring layer 164. , Formed to be recesses of the same depth.
  • the upper and lower arm circuits and a part of the substrate 160 are sealed with the sealing material 360 by transfer mold molding.
  • the sealing material 360 By doing so, it is possible to cover with high dimensional accuracy, so that there is an effect that the cooling water channel provided here can be easily installed and efficiently installed. Further, covering the power semiconductor element with the sealing material 360 has an effect of improving reliability.
  • the encapsulant 360 When the encapsulant 360 is formed by the transfer mold, resin leakage occurs when a step of 20 ⁇ m or more is generated. Therefore, even if the wiring board 160 is provided with a wiring layer that is continuously in contact with the end portion of the encapsulant on the surface layer, the thickness variation of 20 ⁇ m or more occurs due to the influence of the layout of the inner layer wiring, and the resin is used during transfer molding. Leakage occurs. Therefore, the depth of the R-shaped recess needs to be set to 20 ⁇ m or more.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view comparing the prior art and the present invention.
  • 5 (a) is an explanatory view of the prior art
  • FIG. 5 (b) is a cross-sectional view showing the effect of the present invention.
  • the substrate 160 is pressed against the medium mold 602 of the transfer mold device by the square mold protrusion 607. Since the substrate 160 is pressurized with this square shape, stress is concentrated on the edges and cracks 608 occur in the wiring on the substrate 160. As described above, in the substrate pressurizing method shown in the comparative example, the risk of wiring disconnection is high, and dummy wiring has been used for the surface layer wiring.
  • the substrate 160 is pressurized by the R-shaped mold protrusion 610, the surface wiring of the substrate 160 is recessed, and the sealing material 360 leaks during transfer molding. It has a structure to prevent it. Therefore, by applying pressure in the R shape, there is an effect that local stress concentration does not occur, and cracks can be prevented while reducing substrate damage. As a result, it has become possible to use energized wiring instead of dummy wiring for the surface layer wiring, effectively secure the wiring cross-sectional area required for passing a large current, and improve the efficiency of the board layout.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a power module according to the present invention.
  • FIG. 6A is a diagram showing a connection process of the capacitor 500.
  • the electrode terminals of the capacitor 500 are connected to the transfer-molded circuit body 310 via the through holes 165 of the substrate 160.
  • a robot solder connection device or the like is used to inject and connect the solder 150.
  • the power module 300 is obtained.
  • the life of the capacitor can be extended by performing the transfer molding step of heating the capacitor 500 having low heat resistance to 175 ° C.
  • FIG. 6B is a diagram showing a mounting process of the cooling member 340.
  • An insulating layer 442 is provided on the surface in contact with the third conductor plate 432, the fourth conductor plate 433, and the sealing material 360.
  • the cooling member 340 is brought into close contact with the insulating layer 442 and installed.
  • the cooling member 340 is similarly adhered to the first conductor plate 430 and the second conductor plate 431 via the insulating layer 442.
  • a power module 400 with a cooler hereinafter referred to as a power module 400
  • the insulating layer 442 can be thinly formed and high heat dissipation can be achieved. Further, by using a material having high thermal conductivity for the insulating layer 442, the heat generated by the second power semiconductor element 157 and 158 can be efficiently dissipated to the cooling member 340. By installing the cooling member 340 on both sides of the power semiconductor elements 155 to 158, higher heat dissipation can be achieved.
  • FIG. 7 is a cross-sectional perspective view of the power conversion device according to the present invention.
  • the power conversion device 200 is composed of a lower case 11 and an upper case 10, and contains a power module 400 and the like. From one side surface of the lower case 11, a cooling water inflow pipe 13 and a cooling water outflow pipe 14 communicating with a cooling flow path conducting inside the cases 10 and 11 are provided to cool the power module 400 with cooling water or the like. It stands out.
  • the upper case 10 and the lower case 11 are formed of an aluminum alloy or the like, and the power module 400 is sealed and fixed inside.
  • the upper case 10 and the lower case 11 may be integrally configured.
  • the power conversion device 200 since the power conversion device 200 has a simple rectangular parallelepiped shape, it can be easily attached to a vehicle or the like, and can be easily manufactured.
  • a connector 188 is attached to one side surface (longitudinal direction) of the lower case 11, and an AC terminal 18 is connected to this connector 188.
  • the AC electrode 320 of the power module 300 penetrates the current sensor 180 and is connected to the connector 188.
  • a control circuit 172 and a driver circuit 174 are arranged above the power module 400, and a capacitor 500 is housed on the DC terminal side of the power module 400.
  • the capacitor 500 By arranging the capacitor 500 at the same height as the power module 400, the entire power conversion device 200 can be made thinner, so that the degree of freedom in installing the power conversion device 200 in the vehicle is improved.
  • FIG. 8 is a plan view showing a modified example of the embodiment of the present invention.
  • the modified example is characterized in that the substrate 160A of the power module 300A is not on the entire circumference of the encapsulant 360, but only on the DC electrode side.
  • the first wiring layer 161A is also configured to be present only on one side of the sealing material 360.
  • the AC electrode 320A has a configuration in which it directly protrudes from the sealing material 360.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a transfer molding process showing a modified example of the embodiment of the present invention.
  • the one with the substrate 160A clamps the substrate 160A with the mold of the transfer mold device 600A, and the one without the substrate 160A directly clamps the AC electrode 320A with the upper mold 601A. is doing.
  • the R-shaped recess formed by the R-shaped mold protrusion 610A is formed only on the side where the DC power, which is a part around the sealing material 360, flows in the substrate 160A, and the AC electrode 320A side is the R-shaped. No dents are formed.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view showing a modified example of the embodiment of the present invention.
  • the cross-sectional view of the power module 400A shown in FIG. 10 is a view of the YY cross-sectional position of FIG. 8 as viewed from the T direction.
  • the AC electrode 320A is connected to the fourth conductor plate 433 and the first conductor plate 430 via the solder 150. .. That is, the modified example is a configuration in which the AC electrode 320A and the conductor plates 430 and 433 are directly connected without interposing the substrate 160A. As a result, since there is no substrate 160A on the AC electrode 320A side, there is no need to consider resin leakage of the transfer mold on one side, which simplifies the configuration of the transfer mold device and the configuration of the substrate 160A, and simplifies the assembly. be able to.
  • the power module 300 includes power semiconductor elements 155 to 158 that convert DC power into AC power and output AC power to the motor 192, and conductors 430 to 433 that are electrically connected to the power semiconductor elements 155 to 158.
  • the substrate 160 includes a substrate 160 having a substrate wiring connected to conductors 430 to 433 on the surface, power semiconductor elements 155 to 158, conductors 430 to 433, and a resin encapsulant 360 for sealing the substrate 160. At a position in contact with the end of the resin encapsulant 360, the surface of the substrate wiring has a recess formed by being recessed on a continuous curved surface. Since this is done, it is possible to provide a power conversion device that achieves both miniaturization and improved yield.
  • the recesses formed in the metal surface portions 161 and 164 of the power module 300 are R-shaped 606 having a constant depth. Since this is done, it is possible to prevent resin leakage during transfer molding regardless of the degree of variation in the thickness of the substrate 160.
  • the recess 606 of the power conversion device 200 is formed on the entire circumference of the resin encapsulant 360. Since this is done, it is possible to prevent leakage of the sealing material 360 when forming the transfer mold.
  • the recesses 606 of the power conversion device 200 are formed on both sides of the substrate 160. Since this is done, it is possible to prevent leakage of the sealing material 360 when forming the transfer mold.
  • the recess 606 of the power conversion device 200 is formed in a part around the resin encapsulant 360. Since this is done, it is not necessary to provide the substrate 160 on the AC electrode side.
  • the power conversion device 200 includes a power module 300, and the power module 300 is hermetically fixed by the cases 10 and 11, and inside the cases 10 and 11, a cooling flow path 13 for cooling the power module 300 is provided. 14 is made conductive. Therefore, it is possible to provide a power conversion device 200 that can prevent resin leakage and achieve both miniaturization and improvement in yield.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

パワーモジュールは、直流電力を交流電力に変換し前記交流電力をモータに出力するパワー半導体素子と、前記パワー半導体素子と電気的に接続される導体と、前記導体と接続される基板配線を面上に有する基板と、前記パワー半導体素子と前記導体と前記基板を封止する樹脂封止材と、を備え、前記基板は、前記樹脂封止材の端部と接する位置に、前記基板配線の表面が連続した曲面状に凹んで形成された凹部を有する。

Description

パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置
 本発明は、パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置に関する。
 パワー半導体素子のスイッチングによる電力変換装置は、変換効率が高いため、民生用、車載用、鉄道用、変電用の設備等に幅広く利用されている。それに伴い、生産性に優れた小型薄型の電力変換装置の開発技術も、日々発展している。
 本願発明の背景技術として、下記の特許文献1が知られている。特許文献1では、半導体素子を含む回路基板をモールド樹脂で封止する技術が開示されている。
特開2016-171203号公報
 特許文献1に記載された半導体装置は、絶縁基材の表層にダミー配線を設け、このダミー配線を覆う保護樹脂をモールド工程時に金型によって押し潰すことで、トランスファーモールドの樹脂漏れを防止する構造であった。
 これを踏まえて、本発明は、さらに製造時の基板の厚さばらつきによるトランスファーモールドの樹脂漏れと、強力な型締めをすることで生じる基板の表層配線の破断とを防止することで、配線基板の小型化を実現させ、歩留まりを向上させた電力変換装置を提供することが課題である。
 パワーモジュールは、直流電力を交流電力に変換し前記交流電力をモータに出力するパワー半導体素子と、前記パワー半導体素子と電気的に接続される導体と、前記導体と接続される基板配線を面上に有する基板と、前記パワー半導体素子と前記導体と前記基板を封止する樹脂封止材と、を備え、前記基板は、前記樹脂封止材の端部と接する位置に、前記基板配線の表面が連続した曲面状に凹んで形成された凹部を有する。
 小型化と歩留まり向上を両立させた電力変換装置を提供できる。
本発明によるパワーモジュールの一実施形態の平面図。 本発明によるパワーモジュールの回路図と半透過平面図。 本発明による回路体の製造方法を説明する断面図。 本発明によるトランスファーモールドの工程を説明する断面図。 従来技術と本発明を比較する断面図。 本発明によるパワーモジュールの製造方法を説明する断面図。 本発明による電力変換装置の断面斜視図。 本発明の一実施形態の変形例を示す平面図。 本発明の一実施形態の変形例を示すトランスファーモールドの工程を説明する断面図。 本発明の一実施形態の変形例を示すパワーモジュールの断面図。
 以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下の記載および図面は、本発明を説明するための例示であって、説明の明確化のため、適宜、省略および簡略化がなされている。本発明は、他の種々の形態でも実施する事が可能である。特に限定しない限り、各構成要素は単数でも複数でも構わない。
 図面において示す各構成要素の位置、大きさ、形状、範囲などは、発明の理解を容易にするため、実際の位置、大きさ、形状、範囲などを表していない場合がある。このため、本発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、形状、範囲などに限定されない。
(本発明の一実施形態とその構成)
 図1および図2(a)、図2(b)を用いて本発明によるパワーモジュールの一実施形態の構成を示す。図1は、本発明によるパワーモジュールの一実施形態の平面図であり、図2(a)は、本発明によるパワーモジュールを含むモータ駆動システムの回路図、図2(b)は、図1の半透過平面図である。
 パワーモジュール300は、配線基板160(以下基板160)、基板160の表面に設置されている第1配線層161、および回路体310を備えている。回路体310は電気回路であり、3相のパワー半導体素子および導体板で構成されている。
 パワー半導体素子は、第1パワー半導体素子(上アーム回路能動素子)155、第1パワー半導体素子(上アーム回路ダイオード)156、第2パワー半導体素子(下アーム回路能動素子)157、第2パワー半導体素子(下アーム回路ダイオード)158で構成されており、パワーモジュール300におけるスイッチング素子群を形成している。このスイッチング素子群および基板160の一部は、樹脂封止材360(以下封止材360)でトランスファーモールド封止され保護されている。
 導体板は、第1導体板(上アーム回路エミッタ側)430、第2導体板(上アーム回路コレクタ側)431、第3導体板(下アーム回路エミッタ側)432、第4導体板(下アーム回路コレクタ側)433で構成されている。
 R形状の凹み606は、第1配線層161上において、封止材360の全周に形成されている。このR形状の凹み606は、後述するトランスファーモールド装置600のR形状の金型突起によって形成されるものであり、このR形状の凹み606によって封止材360がスイッチング素子群および基板160の一部だけを、所定の封止範囲からはみ出すことなく正確に囲うことができる。詳細は後述する。
 パワーモジュール300において、3相分のスイッチング素子群(パワー半導体素子155~158)は、上アーム回路および下アーム回路をそれぞれ有している。このスイッチング素子群のパワー半導体素子155~158は、バッテリ30の直流電力を、車両走行用モータ192(以下モータ192)に出力し駆動させるための交流電力に変換している。この三相のうち1相分を例にとって構成を説明する。
 上アーム回路と下アーム回路のエミッタ側(図2(b)の紙面手前側)には第1導体板430と第3導体板432がそれぞれ設けられ、上アーム回路と下アーム回路のコレクタ側(図2(b)の紙面奥側)には第2導体板431と第4導体板433がそれぞれ設けられている。図1に示すように、パワーモジュール300の上側(紙面手前側)において、第1導体板430と第3導体板432は、その表面が樹脂封止材360からそれぞれ露出している。なお、図1には示していないが、パワーモジュール300の下側(紙面手前側)では、第1導体板430および第3導体板432と同様に、第2導体板431と第4導体板433の表面が樹脂封止材360からそれぞれ露出している。これらの導体板430~433の露出面には、後述するように冷却部材が設置される。
 後述のはんだ接続により、上アーム側で導体板430,431とパワー半導体素子155とダイオード156とが電気的に接続される。同様に下アーム側で、導体板432,433とパワー半導体素子157とダイオード158とが電気的に接続される。
 第1パワー半導体素子155または第2パワー半導体素子157は、例えばIGBT、MOSFETなどである。MOSFETの場合は、ボディダイオードを用いることで、第1ダイオード156または第2ダイオード158は不要である。
 パワー半導体素子155(157)を構成する半導体材料としては、例えば、Si、SiC、GaN、GaO、C等を用いることができる。
 図2(a)において、上アーム回路のコレクタ側とバッテリ30及びコンデンサ500の正極との間を正極配線315が接続している。正極配線315は、バッテリ30及びコンデンサ500の正極側に接続されている不図示の入力端子から、基板160の表層に形成されている後述の第4配線164を経由し、第2導体板431を介して上アーム回路のパワー半導体素子に接続される、正極配線経路を表している。上アームゲート信号端子325Uは、上アーム回路の第1パワー半導体素子155のゲート電極から出力されている。
 また図2(a)において、下アーム回路のエミッタ側とバッテリ30及びコンデンサ500の負極との間を負極配線319が接続している。負極配線319は、バッテリ30及びコンデンサ500の負極側に接続されている不図示の入力端子から、基板160の表層に形成されている第1配線161を経由し、第3導体板432を介して下アーム回路のパワー半導体素子に接続される、負極配線経路を表している。なお、負極配線319は、パワーモジュール300及びモータ192のGNDに接続されてもよい。下アームゲート信号端子325Lは、下アーム回路の第2パワー半導体素子157のゲート電極から出力されている。
 第1パワー半導体素子155のコレクタ側および第1ダイオード156のカソード側は、第2導体板431に接合されている。第1パワー半導体素子155のエミッタ側および第1ダイオード156のアノード側には、第1導体板430が電気的に接合されている。
 第2パワー半導体素子157のコレクタ側および第2ダイオード158のカソード側は、第4導体板433に接合されている。第2パワー半導体素子157のエミッタ側および第2ダイオード158のアノード側には第3導体板432が電気的に接合されている。
 この接合には、はんだを用いてもよいし、焼結金属を用いてもよい。また、導体板430~433は、電気伝導性と熱伝導率が高い材料であれば特に限定されないが、銅系又はアルミ系材料が望ましい。これらは、単独で用いてもよいが、はんだや、焼結金属との接合性を高めるため、NiやAg等のめっきを施してもよい。
 端子群325は、ケルビンエミッタ信号端子325K、下アームゲート信号端子325L、ミラーエミッタ信号端子、上アームゲート信号端子325Uなどの端子の集まりである。
 交流電極320は、上アーム回路のエミッタ側に接続された第1導体板430および下アーム回路のコレクタ側に接続された第3導体板432と電気的に接続されており、モータ192に接続される。中性点接地をする場合は、下アーム回路は、GNDでなくコンデンサ500の負極側に接続する。パワーモジュール300は、バッテリ30から入力される直流電力を交流電力に変換し、交流電極320を介してモータ192に出力している。
 なお、本実施形態のパワーモジュール300は、上アーム回路及び下アーム回路の2つのアーム回路を、3組一体化した構造である6in1構造である。6in1構造の他にも、2つのアーム回路を1つのパワーモジュールに一体化した構造である2in1構造であってもよい。6in1構造を用いた場合、3つのパワーモジュールを連結する端子が不要となり、パワーモジュールからの出力端子の数を低減させ小型化させることができる。
 図3は本発明による回路体の製造方法を説明する断面図である。なおこの図3(a)~(e)の断面は、図2(b)のX―Xの断面位置を図2(b)の矢印S方向から見たパワーモジュール300の断面である。
 図3(a)は、パワー半導体素子157およびダイオード158の第4導体板433へのはんだ接続工程である。第4導体板433は、第2パワー半導体素子157のコレクタ側および第2ダイオード158のカソード側に、はんだ150を介して接続される。また、図示していないが同様に第2導体板431も、第1パワー半導体素子155のコレクタ側および第1ダイオード156のカソード側に、はんだ150を介して接続される。
 図3(b)は基板160の接続工程である。基板160は、中抜き領域166が設けられており、パワー半導体素子157(155)とダイオード158(156)がはんだ接続された導体板433(431)が、組み込まれる。中抜き領域166を境にして、交流電極320をはんだ接続する側(紙面左側)の基板160の下側表層に形成された第4配線層164と第4導体板433が、はんだ150を介して接続される。一方、図示していないが第2導体板431は、交流電極320をはんだ接続する側とは反対側(紙面右側)の基板160の下側表層に形成された第4配線層164に、はんだ150を介して接続される。
 図3(c)は、ワイヤボンディング工程である。パワー半導体素子157(155)のゲート電極は、ワイヤ151を通して配線基板160に接続される。
 図3(d)は、導体板432、交流電極320のはんだ接続工程である。パワー半導体素子157のエミッタ側および第2ダイオード158のアノード側は、はんだ150を介して第3導体板432に接続され、第3導体板432は、交流電極320をはんだ接続する側とは反対側(紙面右側)の基板160の上側表層に形成された第1配線層161に、はんだ150を介して接続される。一方、図示していないが第1導体板430は、第3導体板432と同様に第1パワー半導体素子155のエミッタ側および第1ダイオード156のアノード側にはんだ150を介して接続されるとともに、交流電極320をはんだ接続する側(紙面左側)の基板160の上側表層に形成された第1配線層161に、はんだ150を介して接続される。また、第1導体板430及び第4導体板433がはんだ接続された基板160には、交流電極320がはんだ150を介して接続される。これによりトランスファーモールドの準備ができた回路体310を得る。
 図3(e)は、トランスファーモールドする前の回路体310の断面模式図である。
 回路体310において基板160は、4層以上の配線層を有するものが望ましい。また、図示するように表層となる第1配線層161及び第4配線層164は0.2mm以上の厚銅配線を用いることが望ましい。
 厚銅配線は、大電流を通電したときに、配線抵抗による発熱を抑制できるため有効な材料である。例えば0.2mm厚さの配線で幅40mm以上の断面積を確保することで、350Armsクラスの電流を通電できる。
 また、内層となる第2配線層162及び第3配線層163は、0.1mm以内の厚さの配線を用いることが望ましい。基板160を作製する際に、内層基板のパターンの凹凸が大きい場合は、表層基板のもととなる基板プリプレグを圧着した際に凹凸が埋まらない。そのため、内層基板のパターンはエッチングにより形成され、そのあと基板プリプレグが圧着される。
 一方、表層の配線は、エッチングによって形成された後、基板プリプレグを圧着する必要がないので、厚銅配線を用い基板を作製することができる。例えば0.07mmの内層配線を用いる場合、内層2層を併用し通電することとした上で、各層幅60mm以上の断面積を確保することで350Armsクラスの電流を通電できる。
 第1配線層161は、バッテリ30やコンデンサ500と接続される負極配線319に加えて、パワー半導体素子155~158のゲート電極325L、325U等と接続する電極や、交流電極320の出力となる電極、第1導体板430と接続される電極などを備える。第2配線層162と第3配線層163は、ゲート配線と、交流電極320の接続側(紙面左側)において第1配線層161と第4配線層164の間を接続している交流配線とを備える。この交流配線は、第2配線層162と第3配線層163を併用して通電することで、断面積を2倍に増やし必要な断面積を確保している。第4配線層164は、バッテリ30やコンデンサ500と接続される正極配線315や、第4導体板433と接続される電極などを備える。
 なお、この第1配線層161および第4配線層164は、後にトランスファーモールド樹脂の外周に基板160との界面を形成し、封止材360の端部と接する樹脂止め部となる金属表面部である。これらの金属表面部には、後述するように、封止材360の端部と接する位置において封止材360の全周を囲うように、連続した曲面状の凹み606が形成される。第1配線層161および第4配線層164の一面をコンデンサ500の正極、他面を負極にそれぞれ接続し、内層をゲート回路、交流回路に出力することで、基板サイズを低減することができる。また、これにより、パワーモジュール300の高パワー密度化にも貢献できる。
 基板160は、導体板430~433と接続される配線層161,164が表面上にプリントされているが、配線層161および164がプリントされている部分とされていない部分で段差が生じる。この段差は、大電流を通電する厚銅配線が使われる場合に、顕著に大きくなる。これに伴い、製造時の配線のプリントによる基板の厚さばらつきが大きくなるため、精密に厚さ方向を位置合わせすることが困難になる。このため、基板160を含めてトランスファーモールド封止をする際、密閉するために封止材注入装置によって圧着させて境目を形成するが、前述した基板にプリントされた配線の厚さばらつきによって、圧着しきれていない部分の隙間から樹脂漏れが生じる。またこれを防ぐために強力に型締めする対応策があるが、これによって配線の破断が生じる懸念がある。
 また、このように大電流を通電する場合、配線断面積の確保が重要となる。本発明では、基板160の表層配線である第1配線層161及び第4配線層164は、正極配線315及び負極配線319として、バッテリ30及びコンデンサ500の電極に接続される。これにより、正極配線315側及び負極配線319側をラミネート配線とすることが容易となり配線インダクタンス低減の効果がある。
 また、パワー半導体素子を搭載する位置を基板160の配線よりも厚い導体板とすることで狭い投影面積で有効な断面を確保し、小型化させている。また、導体板の上下から効率よく冷却するためにパワー半導体素子投影部には、配線基板が無い構成としている。本発明で使用する配線基板に、表層配線を覆うソルダーレジスト等の薄膜樹脂を設けてもよい。
 図4は、本発明によるトランスファーモールドの工程を説明する断面図である。
 図4(a)は、トランスファーモールド工程を行うトランスファーモールド装置600の説明図である。トランスファーモールド装置600は、上型601、中型602、及びスプリング604とプランジャ605を備えた下型603を備えている。このトランスファーモールド装置600に、回路体310がセットされる。
 R形状の金型突起610は、トランスファーモールド装置600の中型602と下型603にそれぞれ設けられている。封止材360が注入される領域の全周辺に設けられたR形状の金型突起610は、加圧時に表層配線161にR形状の凹み606(後述)を形成させる。
 図4(b)は、トランスファーモールド工程の説明図である。回路体310の配線基板160は、Aの拡大図に示すように中型602及び下型603により加圧されるときに、中型602および下型603のR形状の金型突起610により、R形状の凹み606が生じる。この後に封止材360を注入する。これにより、封止材360の全周にR形状の凹み606が形成される。
 これにより、基板160は、封止材360の端部と接する位置に、基板配線161および164の表面が連続した曲面状に凹んで形成された凹部606を有するようになる。このR形状の凹み606が、前述した基板160上の配線161、164の厚さばらつきよりも大きくなることで、基板の厚さばらつきを凹みの深さで吸収することができる。つまり、トランスファーモールド時にクランプする外周部が同一の深さとなる凹部を形成することが、樹脂漏れ防止につながっている。
 図4(c)は、トランスファーモールド後の断面模式図である。前述したA拡大図部分だけでなく、B拡大図でも示すように、R形状の凹み606は、半導体素子を埋め込む中抜き166の両面の周囲、つまり第1配線層161および第4配線層164に、同一の深さの凹みになるように形成される。
 これにより、上下のアーム回路及び基板160の一部は、トランスファーモールド成型により封止材360で封止されている。こうすることで、寸法精度よく被覆できるため、ここに備える冷却水路を設置しやすくまた効率的に設置できる効果がある。また封止材360でパワー半導体素子を覆うことで信頼性が向上する効果がある。
 なお、トランスファーモールドで封止材360を形成する場合、20μm以上の段差が生じると樹脂漏れが発生する。このため、配線基板160は、表層に封止材の端部と連続して接する配線層を設けても、内層配線のレイアウトの影響で、20μm以上の厚さばらつきが発生し、トランスファーモールド時に樹脂漏れが生じる。そのためR形状の凹部の深さは20μm以上に設定される必要がある。
 図5は、従来技術と本発明を比較する断面図である。図5(a)は従来技術の説明図、図5(b)は、本発明の効果を示す断面図である。
 図5(a)の従来技術では、トランスファーモールド装置の中型602に角形状の金型突起607で基板160を加圧している。この角形状で基板160が加圧されるため、エッジに応力集中し基板160上の配線にクラック608が生じる。このように、比較例に示す基板加圧方法では、配線の断線リスクが高く、表層配線にはダミー配線が用いられてきた。
 一方で、図5(b)のように本発明では、R形状の金型突起610により基板160が加圧され、基板160の表層配線を凹ませてトランスファーモールド時に封止材360の漏れ出しを防ぐ構造になっている。そのため、R形状で加圧することで局所的な応力集中とならない効果があり、基板ダメージを低減しつつクラックを防止できた。またこれにより、表層配線はダミー配線ではなく通電する配線を使用できるようになり、大電流を流すのに必要な配線断面積を有効に確保し、基板レイアウトの効率化ができるようになった。
 図6は、本発明によるパワーモジュールの製造方法を説明する断面図である。
 図6(a)は、コンデンサ500の接続工程を示す図である。トランスファーモールドした回路体310に、コンデンサ500の電極端子が、基板160のスルーホール165を介して接続される。この接続には、ロボットはんだ接続装置等を用い、はんだ150を注入して接続する。これにより、パワーモジュール300が得られる。このように、耐熱性の低いコンデンサ500を175℃に加熱するトランスファーモールド工程の後にすることで、コンデンサ寿命を延ばせる。また、トランスファーモールド時にコンデンサ等の突出した部品が無いことで、金型でクランプしやすくなっている。
 図6(b)は、冷却部材340の搭載工程を示す図である。第3導体板432、第4導体板433、封止材360と接する面に絶縁層442を設ける。その絶縁層442に冷却部材340を密着させ設置する。なお、図示していないが第1導体板430と第2導体板431についても同様に、絶縁層442を介して冷却部材340が密着される。これにより冷却器付パワーモジュール400(以下パワーモジュール400)が得られる。
 また、樹脂もれしないトランスファーモールドで封止材360が形成されることで、絶縁層442を薄く形成することができ高放熱化できる。また、絶縁層442は高熱伝導の材料を用いることで第2パワー半導体素子157、158の発熱を効率よく冷却部材340に放熱することができる。冷却部材340はパワー半導体素子155~158の両面に設置されることで、より高放熱化できる。
 図7は、本発明による電力変換装置の断面斜視図である。
 電力変換装置200は、下部ケース11および上部ケース10により構成され内部には、パワーモジュール400等が収容されている。下部ケース11の一側面からは、パワーモジュール400を冷却水等により冷却するため、ケース10および11の内部に導通している冷却流路に連通する、冷却水流入管13および冷却水流出管14が突出している。
 上部ケース10と下部ケース11とは、アルミニウム合金等により形成され、パワーモジュール400を内部に密封して固定する。上部ケース10と下部ケース11とは、一体化して構成されてもよい。これにより、電力変換装置200を単純な直方体形状としたことで、車両等への取り付けが容易となり、また、製造も容易になる。
 下部ケース11の一側面(長手方向)に、コネクタ188が取り付けられており、このコネクタ188には、交流ターミナル18が接続されている。パワーモジュール300の交流電極320は、電流センサ180を貫通してコネクタ188に接続されている。
 パワーモジュール400の上方には、制御回路172およびドライバ回路174が配置され、パワーモジュール400の直流端子側には、コンデンサ500が収容されている。コンデンサ500をパワーモジュール400と同一の高さに配置することで、電力変換装置200全体を薄型化することができるため、電力変換装置200の車両への設置自由度が向上する。
 図8は、本発明の一実施形態の変形例を示す平面図である。
 変形例は、パワーモジュール300Aの基板160Aが、封止材360の全周ではなく、直流電極側にだけあることが特徴である。これに伴い、第1配線層161Aも封止材360の片側にだけある構成になっている。交流電極320Aは、図1とは違い封止材360から直接出ている構成になっている。
 図9は、本発明の一実施形態の変形例を示すトランスファーモールドの工程を説明する断面図である。
 図9において、パワー半導体素子の位置を境に、基板160Aのある方はトランスファーモールド装置600Aの金型で基板160Aをクランプし、基板160Aのない方は、交流電極320Aを上型601Aで直接クランプしている。これにより、R形状の金型突起610AによってできるR形状の凹みは、基板160Aにおいて、封止材360の周囲の一部分である直流電力が流れる側だけに形成され、交流電極320A側は、R形状の凹みは形成されない。
 図10は、本発明の一実施形態の変形例を示す断面図である。なお、図10に示すパワーモジュール400Aの断面図は、図8のY-Y断面位置をT方向から見た図である。
 R形状の凹み606Aによって、封止材360で一部がモールドされているパワーモジュール400Aにおいて、交流電極320Aは、はんだ150を介して第4導体板433及び第1導体板430と接続されている。つまり、変形例は基板160Aを間に介さないで交流電極320Aと導体板430,433を直接接続する構成である。これにより、交流電極320A側に基板160Aがないことで、一方側のトランスファーモールドの樹脂もれを考える必要がなく、トランスファーモールド装置の構成や基板160Aの構成を簡易化させ、組立を簡素化させることができる。
 以上説明した本発明の一実施形態によれば、以下の作用効果を奏する。
(1)パワーモジュール300は直流電力を交流電力に変換し交流電力をモータ192に出力するパワー半導体素子155~158と、パワー半導体素子155~158と電気的に接続される導体430~433と、導体430~433と接続される基板配線を面上に有する基板160と、パワー半導体素子155~158と導体430~433と基板160を封止する樹脂封止材360と、を備え、基板160は、樹脂封止材360の端部と接する位置に、基板配線の表面が連続した曲面上に凹んで形成された凹部を有する。このようにしたので、小型化と歩留まり向上を両立させた電力変換装置を提供できる。
(2)パワーモジュール300の金属表面部161,164に形成される凹部は、深さが一定のR形状606である。このようにしたので、基板160の厚さのばらつき具合に関わらずトランスファーモールド時の樹脂漏れを防ぐことができる。
(3)電力変換装置200の凹部606は、樹脂封止材360の全周に形成される。このようにしたので、トランスファーモールド形成時に封止材360の漏れを防ぐことができる。
(4)電力変換装置200の凹部606は、基板160の両面に形成されている。このようにしたので、トランスファーモールド形成時に封止材360の漏れを防ぐことができる。
(5)電力変換装置200の凹部606は、樹脂封止材360の周囲の一部分に形成される。このようにしたので、基板160を交流電極側に設ける必要がなくなる。
(6)電力変換装置200はパワーモジュール300を備え、パワーモジュール300は、ケース10,11によって密閉固定され、ケース10、11の内部には、パワーモジュール300を冷却するための冷却流路13,14を導通させている。このようにしたので、樹脂漏れ防止を可能にし、小型化と歩留まり向上を両立させた電力変換装置200を提供できる。
 なお、以上の説明はあくまでも一例であり、発明を解釈する際、上記実施の形態の記載事項と特許請求の範囲の記載事項の対応関係に何ら限定も拘束もされない。また、発明の技術的思想を逸脱しない範囲で、削除・他の構成に置換・他の構成の追加をすることが可能であり、その態様も本発明の範囲内に含まれる。さらに、上述の実施形態と複数の変形例を組み合わせた構成としてもよい。
10   上部ケース
11   下部ケース
13   冷却水流入管
14   冷却水流出管
18   交流ターミナル
30   バッテリ
150   はんだ
151   ワイヤ
155   第1パワー半導体素子(上アーム回路能動素子)
156   第1パワー半導体素子(上アーム回路ダイオード)
157   第2パワー半導体素子(下アーム回路能動素子)
158   第2パワー半導体素子(下アーム回路ダイオード)
160,160A   配線基板
161,161A   第1配線層
162   第2配線層
163   第3配線層
164   第4配線層
165   貫通スルーホール
166   配線基板の中抜き領域
172   制御回路
174   ドライバ回路
175   基板間接続
180   電流センサ
188   コネクタ
192   車両走行用モータ
200   電力変換装置
300、300A   パワーモジュール
310   回路体
315   正極配線
319   負極配線
320、320A   交流電極
325   端子群
325K  ケルビンエミッタ信号端子
325L  下アームゲート信号端子
325U  上アームゲート信号端子
340   冷却部材
360   樹脂封止材
400、400A   冷却器付パワーモジュール
430   第1導体板(上アーム回路エミッタ側)
431   第2導体板(上アーム回路コレクタ側)
432   第3導体板(下アーム回路エミッタ側)
433   第4導体板(下アーム回路コレクタ側)
442   絶縁層
500   コンデンサ
600、600A   トランスファーモールド装置
601   上型
602、602A   中型
603   下型
604   スプリング
605   プランジャ
606、606A   R形状の凹み
607   角形状の金型突起
608   クラック
610、610A   R形状の金型突起

Claims (6)

  1.  直流電力を交流電力に変換し前記交流電力をモータに出力するパワー半導体素子と、
     前記パワー半導体素子と電気的に接続される導体と、
     前記導体と接続される基板配線を面上に有する基板と、
     前記パワー半導体素子と前記導体と前記基板を封止する樹脂封止材と、を備え、
     前記基板は、前記樹脂封止材の端部と接する位置に、前記基板配線の表面が連続した曲面状に凹んで形成された凹部を有する
     パワーモジュール。
  2.  請求項1に記載のパワーモジュールにおいて、
     前記凹部は、深さが一定のR形状である
     パワーモジュール。
  3.  請求項1に記載のパワーモジュールにおいて、
     前記凹部は、前記樹脂封止材の全周に形成される
     パワーモジュール。
  4.  請求項1に記載のパワーモジュールにおいて、
     前記凹部は、前記基板の両面に形成されている
     パワーモジュール。
  5.  請求項1に記載のパワーモジュールにおいて、
     前記凹部は、前記樹脂封止材の周囲の一部分に形成される
     パワーモジュール。
  6.  請求項1に記載のパワーモジュールを備え、
     前記パワーモジュールは、ケースによって密閉固定され、
     前記ケースの内部には、前記パワーモジュールを冷却するための冷却流路を導通させている
     電力変換装置。
PCT/JP2021/019407 2020-06-24 2021-05-21 パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置 WO2021261136A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP21829189.6A EP4174930A4 (en) 2020-06-24 2021-05-21 POWER MODULE AND POWER CONVERSION DEVICE WITH THIS POWER MODULE
CN202180038505.5A CN115885465A (zh) 2020-06-24 2021-05-21 功率组件和使用它的电力转换装置
US18/009,760 US20230283190A1 (en) 2020-06-24 2021-05-21 Power module and power conversion device using the same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020-109102 2020-06-24
JP2020109102A JP7444711B2 (ja) 2020-06-24 2020-06-24 パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021261136A1 true WO2021261136A1 (ja) 2021-12-30

Family

ID=79282521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/019407 WO2021261136A1 (ja) 2020-06-24 2021-05-21 パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20230283190A1 (ja)
EP (1) EP4174930A4 (ja)
JP (1) JP7444711B2 (ja)
CN (1) CN115885465A (ja)
WO (1) WO2021261136A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116847534A (zh) * 2022-05-19 2023-10-03 上海沛塬电子有限公司 一种电源变换器、内埋集成器件单元、高散热高频功率模组及其制作方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2024093978A (ja) * 2022-12-27 2024-07-09 株式会社日立製作所 電力変換装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6215827A (ja) * 1985-07-12 1987-01-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 封止金型装置
JP2006108362A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Sharp Corp 電子デバイスおよびそれを用いた電子機器
JP2008149677A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止金型
JP2016171203A (ja) 2015-03-12 2016-09-23 株式会社デンソー 電子装置及びその製造方法
JP2019102561A (ja) * 2017-11-30 2019-06-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体装置及びその製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4094957B2 (ja) * 2001-02-02 2008-06-04 株式会社ルネサステクノロジ メモリカード
JP7155748B2 (ja) * 2018-08-22 2022-10-19 株式会社デンソー 半導体装置
JP7100569B2 (ja) * 2018-11-22 2022-07-13 日立Astemo株式会社 半導体モジュール、電力変換装置および半導体モジュールの製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6215827A (ja) * 1985-07-12 1987-01-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 封止金型装置
JP2006108362A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Sharp Corp 電子デバイスおよびそれを用いた電子機器
JP2008149677A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止金型
JP2016171203A (ja) 2015-03-12 2016-09-23 株式会社デンソー 電子装置及びその製造方法
JP2019102561A (ja) * 2017-11-30 2019-06-24 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体装置及びその製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4174930A4

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116847534A (zh) * 2022-05-19 2023-10-03 上海沛塬电子有限公司 一种电源变换器、内埋集成器件单元、高散热高频功率模组及其制作方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20230283190A1 (en) 2023-09-07
CN115885465A (zh) 2023-03-31
EP4174930A4 (en) 2024-07-17
JP2022006712A (ja) 2022-01-13
EP4174930A1 (en) 2023-05-03
JP7444711B2 (ja) 2024-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4576448B2 (ja) 電力用半導体装置
JP6979864B2 (ja) パワー半導体装置及びその製造方法
JP7100569B2 (ja) 半導体モジュール、電力変換装置および半導体モジュールの製造方法
JP6488390B2 (ja) 構造体
WO2021261136A1 (ja) パワーモジュール及びこれを用いた電力変換装置
JP7196047B2 (ja) 電気回路体、電力変換装置、および電気回路体の製造方法
JP4885046B2 (ja) 電力用半導体モジュール
JP7491707B2 (ja) 電気回路体、電力変換装置、および電気回路体の製造方法
JP7046742B2 (ja) パワーモジュール
WO2018159209A1 (ja) パワー半導体装置
JP2022092545A (ja) 電気回路体、電力変換装置、および電気回路体の製造方法
WO2010110445A1 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造装置及び製造方法
CN111587528B (zh) 功率半导体装置
JP2022098583A (ja) 電気回路体および電力変換装置
WO2022137704A1 (ja) パワーモジュールおよび電力変換装置
WO2023100771A1 (ja) 半導体モジュール、電力変換装置、および半導体モジュールの製造方法
JP7171516B2 (ja) パワー半導体モジュール、電力変換装置およびパワー半導体モジュールの製造方法
WO2023112997A1 (ja) 半導体装置及び電力変換装置
WO2024009617A1 (ja) 電気回路体および電力変換装置
WO2022137701A1 (ja) 電気回路体および電力変換装置
WO2022270022A1 (ja) 電気回路体および電力変換装置
JP2010239033A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2023124683A (ja) 半導体装置及び電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21829189

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2021829189

Country of ref document: EP

Effective date: 20230124