WO2021192543A1 - ガラス板製造方法及びその製造装置 - Google Patents

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WO2021192543A1
WO2021192543A1 PCT/JP2021/001648 JP2021001648W WO2021192543A1 WO 2021192543 A1 WO2021192543 A1 WO 2021192543A1 JP 2021001648 W JP2021001648 W JP 2021001648W WO 2021192543 A1 WO2021192543 A1 WO 2021192543A1
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WO
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glass plate
glass
cutting
glass ribbon
thermography
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PCT/JP2021/001648
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English (en)
French (fr)
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勲 奥山
隼人 奥
岡田　貞治
昌弘 古田
章 西堀
洋平 桐畑
Original Assignee
日本電気硝子株式会社
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B17/00—Forming molten glass by flowing-out, pushing-out, extruding or drawing downwardly or laterally from forming slits or by overflowing over lips
    • C03B17/06—Forming glass sheets
    • C03B17/064—Forming glass sheets by the overflow downdraw fusion process; Isopipes therefor
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B17/00—Forming molten glass by flowing-out, pushing-out, extruding or drawing downwardly or laterally from forming slits or by overflowing over lips
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/02—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/03—Glass cutting tables; Apparatus for transporting or handling sheet glass during the cutting or breaking operations
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00—Severing cooled glass
    • C03B33/02—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/037—Controlling or regulating

Definitions

  • the present invention relates to a glass plate manufacturing technique, and more specifically, relates to detection of defects generated in the glass ribbon or the glass plate after the glass ribbon is cut and the glass plate is cut out.
  • a method for manufacturing a glass plate As a method for manufacturing a glass plate, a method using a down draw method represented by an overflow down draw method, a slot down draw method, and a redraw method is widely adopted.
  • the glass ribbon is cut along the width direction for each predetermined length, and the glass plate is cut out from the glass ribbon. Will be done. At this time, defects may occur in the glass ribbon or the glass plate.
  • Patent Document 1 the presence or absence of glass in the glass ribbon or glass plate after cutting is detected by a plurality of laser sensors, and based on the detection result, defects (damaged in the same document) that occur in them are automatically detected. It is disclosed to monitor.
  • the laser sensor here, a reflective sensor is used that irradiates a glass ribbon or a glass plate with a laser beam and detects the reflected light reflected by the glass.
  • the present invention targets the cut side end of the glass ribbon after cutting, the glass plate, or any one of both of them as a measurement target, and detects defects occurring in the measurement target with high accuracy. That is the issue.
  • the first aspect of the present invention which was devised to solve the above problems, is a molding step of molding a glass ribbon in a molding zone, a transporting step of transporting the glass ribbon along the longitudinal direction, and the glass ribbon.
  • a glass plate manufacturing method including a cutting step of cutting along the width direction to cut out a glass plate, wherein the end of the glass ribbon after cutting in the cutting step, the glass plate, and both of them. It is characterized by having a detection step of measuring the temperature of the measurement target with any one of them as the measurement target and detecting defects occurring in the measurement target based on the measurement result.
  • “defective” means a defect (including a deformed shape) or damage that occurs in the measurement target, and the measurement target in which this defect occurs is itself a defect (defective product) ( The same applies below).
  • the measurement target is the cutting side end of the glass ribbon
  • a defect occurring at the cutting side end is detected, and when the measurement target is a glass plate, it occurs on the glass plate.
  • the measurement target is both the cut side end portion and the glass plate of the glass ribbon
  • the defect generated in the cut side end portion and the glass plate is detected.
  • the temperature of the measurement target does not change significantly even if the position of the measurement target fluctuates due to shaking or vibration on the transport path, but the glass in the measurement target is missing or protrudes. Shows a big change where it is. Therefore, according to this method, defects occurring in the measurement target can be detected with high accuracy.
  • the glass plate in the cutting step, may be cut out by folding the glass ribbon along a scribe line extending in the width direction thereof.
  • the glass ribbon can be cut by laser cutting, laser cutting, or the like, but when the glass ribbon is broken and cut, a peculiar defect different from the case of other methods occurs. According to the configuration here, it is possible to appropriately deal with such a peculiar defect.
  • the glass ribbon is molded by the down draw method, and in the detection step, the temperature of the measurement target in the vertical posture is measured as the measurement of the temperature distribution by thermography.
  • the vertical posture means a vertical posture or an inclined posture that is less than 45 ° with respect to the vertical direction (hereinafter, the same applies).
  • thermography For measuring the temperature distribution, a glass ribbon in a vertical position or a plurality of temperature sensors arranged along the width direction of the glass plate can be used, but if thermography is used, a high-definition temperature distribution can be obtained. It can be done, and even small defects can be detected reliably.
  • the defect detected in the detection step may include a shape defect of the cut surface on the upper side of the glass plate after cutting in the cutting step.
  • the distribution of the height position of the upper cut surface may be obtained from the temperature distribution of the glass plate, and the shape defect of the upper cut surface may be detected based on the height.
  • the detection process can be optimized.
  • the boundary between the low temperature part, which is the space above the glass plate, and the high temperature part where the glass plate exists is depicted as the shape of the cut surface. .. Then, if image analysis or the like is performed based on the height of the boundary line, the shape defect of the cut surface can be accurately detected.
  • the glass plate when a shape defect of the upper cut surface is detected, the glass plate may be discarded.
  • the glass plate can be discarded at an early stage, and contamination of the production line in the subsequent process can be prevented.
  • the defects detected in the detection step may include partial breakage of the glass plate after cutting in the cutting step.
  • Partial damage is likely to occur, for example, when the glass ribbon has a large warp. If the partial breakage is detected, appropriate measures such as reduction of the warp of the glass ribbon can be taken, and the occurrence of the partial breakage in the subsequent glass plate can be suppressed.
  • the area of at least a part of the glass plate may be obtained from the temperature distribution of the glass plate, and the partial damage may be detected based on the area and the first threshold value.
  • the area of the glass plate is, for example, the area of a part of the glass plate when the area that can be measured by thermography is a part of the glass plate, and the area that can be measured by thermography is the entire area of the glass plate.
  • the first threshold value is set to, for example, 90% to 99% of the area of the glass plate (the area corresponding to the above region) when there are no defects. Therefore, when the area of the high temperature portion in the thermal image exceeds the first threshold value, it is regarded as not partial damage, and when it is equal to or less than the first threshold value, it is detected as partial damage.
  • the glass plate when the partial damage is detected, the glass plate may be discarded.
  • the glass plate can be discarded at an early stage when partial damage is detected, so that contamination of the production line in the subsequent process can be prevented.
  • the defects detected in the detection step may include cracking and breakage of the glass plate due to vertical cracking of the glass ribbon after cutting in the cutting step.
  • the area of at least a part of the glass plate may be obtained from the temperature distribution of the glass plate, and the crack breakage may be detected based on the area and the second threshold value.
  • the area of the glass plate in this case is, for example, the area of a part or the whole area of the glass plate, and can be obtained by the number of pixels in the thermal image or the like, as in the case described above.
  • the second threshold value here is set to, for example, 30% to 50% of the area of the glass plate (the area corresponding to the above region) when there are no defects. Therefore, when the area of the high temperature portion in the thermal image exceeds the second threshold value, it is considered not to be cracked, and when it is equal to or less than the second threshold value, it is detected as cracked damage. Since the second threshold value is smaller than the above-mentioned first threshold value, the above-mentioned partial damage is detected as a defect when it is equal to or less than the first threshold value and exceeds the second threshold value.
  • the cutting device when the cracking and breaking of the glass plate is detected, that is, when it is considered that the vertical cracking of the glass ribbon has occurred, the cutting device is retracted at an early stage. Can be done. As a result, it is possible to prevent contamination or failure of the cutting device due to a large amount of glass pieces or glass powder scattered and dropped from the glass ribbon due to the occurrence of vertical cracks.
  • thermography may measure the temperature distribution of the measurement target from diagonally below.
  • the region that can be measured by thermography is a part of the measurement target (for example, if the measurement target is a glass plate, a part of the glass plate in the vertical direction)
  • the following Benefits are gained. That is, the region where the measurement target can be measured when the measurement by thermography is performed from diagonally below is longer in the vertical direction than the region where the measurement target can be measured when the measurement is performed along the horizontal direction. Therefore, there is an advantage that defects occurring in a wide measurement area can be detected.
  • the following advantages can be obtained. That is, when the measurement by thermography is performed along the horizontal direction or when the measurement is performed from diagonally above, it is necessary to install the thermography at a relatively higher position than when performing the measurement from diagonally below.
  • thermography can be installed at a relatively low position as compared with the case where the measurement is performed from the horizontal direction or diagonally above. As a result, the thermography is less likely to interfere with the above-mentioned peripheral device, and the degree of freedom in the installation space of the thermography is increased.
  • thermography may be capable of adjusting the direction in which the surface of the measurement target is directed in the vertical direction.
  • the area that can be measured by the thermography corresponds to the vertical deviation of the measurement target. It can be shifted. As a result, the area where the measurement target can be measured is appropriately corrected, and the accuracy of defect detection can be further improved.
  • thermography may be capable of adjusting the direction toward the surface of the measurement target in the width direction.
  • the position of the thermography in the vertical direction may be adjustable.
  • thermography is moved up and down.
  • the area where the measurement target can be measured is appropriately corrected. In this case, the area where the measurement target can be measured can be shifted in the vertical direction without changing the direction of the thermography or while changing the direction.
  • the height position of the upper edge of the glass plate after cutting is detected on the thermal image obtained by measuring the temperature distribution by the thermography, and the detected height position is used as the origin position in the vertical direction.
  • a defect inspection region may be set for the upper end portion of the glass plate and the space above the glass plate, and defects generated in the glass plate may be detected by image analysis in the defect inspection region.
  • the defect inspection area is set at an appropriate position on the thermographic thermal image, so that defects that occur in the glass plate can be detected with even higher accuracy. More specifically, the vertical position of the glass plate depicted in the thermal image is not uniformly determined. The cause is not only due to the above-mentioned changes and shaking, but also because the timing at which the thermography captures the thermal image fluctuates every time the measurement is performed. Under such circumstances, when the defect inspection area is set on the thermal image, the vertical position of the defect inspection area may vary or have an error, which may lead to erroneous detection of defects occurring in the glass plate.
  • the height position of the upper edge of the glass plate depicted in the thermal image is detected, and the defect inspection region is set with the detected height position as the origin position in the vertical direction.
  • the vertical position of the defect inspection area with respect to the glass plate on the thermal image is uniformly determined.
  • the second aspect of the present invention which was devised to solve the above problems, is a molding zone for molding a glass ribbon, a transport device for transporting the glass ribbon along the longitudinal direction, and the above-mentioned for cutting out a glass plate.
  • a glass plate manufacturing apparatus including a cutting device for cutting a glass ribbon along the width direction, and any of the cutting side end portion of the glass ribbon, the glass plate, and both of them after cutting by the cutting device. It is characterized by being provided with a detection device that measures the temperature of the measurement target and detects defects that occur in the measurement target based on the measurement result.
  • the present invention it is possible to detect defects occurring in the measurement target with high accuracy by using any one of the cut side end portion of the glass ribbon, the glass plate, and both of them after cutting as the measurement target. ..
  • thermography It is a schematic front view for demonstrating the method of detecting the second example of the defect of a glass plate and a glass ribbon from the thermal image of the temperature distribution by thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. It is a front view which shows the method of detecting the 3rd example of the defect of a glass plate and a glass ribbon from the thermal image of the temperature distribution by thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention.
  • a schematic front view for explaining another method for detecting a second example of defects in a glass plate and a glass ribbon from a thermal image of a temperature distribution by thermography which is a component of the glass plate manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. be.
  • a schematic front view for explaining another method for detecting a third example of defects in a glass plate and a glass ribbon from a thermal image of a temperature distribution by thermography which is a component of the glass plate manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. be.
  • thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention.
  • FIG. 1 It is a schematic front view which is the glass plate manufacturing apparatus which concerns on the modification of embodiment of this invention, and the manufacturing apparatus is viewed from the direction A of FIG.
  • FIG. 1 It is a schematic front view which shows the range which can measure by thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on the modification of embodiment of this invention.
  • It is a schematic side view which shows the relationship between the thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention, and a glass plate.
  • thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. It is a schematic side view which shows the relationship between the thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention, and a glass plate. It is a schematic plan view which shows the relationship between the thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention, and a glass plate. It is a schematic side view which shows the relationship between the thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention, and a glass plate.
  • thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. It is a front view which shows the method for setting the defect inspection region on the thermal image of the temperature distribution by thermography which is a component element of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. It is a front view which shows the 1st example of the method of detecting a defect by image analysis in the defect inspection region set on the thermal image of the temperature distribution by thermography which is a component of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. be. It is a front view which shows the 2nd example of the method of detecting a defect by image analysis in the defect inspection region set on the thermal image of the temperature distribution by thermography which is a component of the glass plate manufacturing apparatus which concerns on embodiment of this invention. be.
  • FIG. 1 is a vertical sectional side view showing the overall configuration of the glass plate manufacturing apparatus according to the present embodiment.
  • the glass plate manufacturing apparatus includes a glass ribbon G processing apparatus 1, a cutting apparatus 2, and a detection apparatus 3.
  • the processing apparatus 1 includes a molding zone 11 for continuously molding the glass ribbon G, a heat treatment zone 12 for heat-treating (slowly cooling) the glass ribbon G, a cooling zone 13 for cooling the glass ribbon G to near room temperature, and a molding zone 11.
  • a transfer device 14 composed of rollers and R provided in a plurality of upper and lower stages.
  • the molding zone 11 and the heat treatment zone 12 are composed of a furnace in which the transport path of the glass ribbon G is surrounded by a wall, and a heating device such as a heater for adjusting the temperature of the glass ribbon G is placed at an appropriate position in the furnace. It is arranged.
  • the cooling zone 13 is open to the outside atmosphere at room temperature without being surrounded by the wall portion around the transport path of the glass ribbon G, and a heating device such as a heater is not arranged.
  • a molded body 15 for molding the glass ribbon G from the molten glass Gm by the overflow down draw method is arranged.
  • the molten glass Gm supplied to the molded body 15 overflows from a groove portion (not shown) formed in the top portion 15a of the molded body 15.
  • the overflowing molten glass Gm joins at the lower end along both side surfaces 15b having a cross-sectional wedge shape of the molded body 15.
  • the plate-shaped glass ribbon G is continuously formed.
  • the continuously molded glass ribbon G is fed downward in a vertical posture (preferably a vertical posture).
  • the internal space of the heat treatment zone 12 has a predetermined temperature gradient downward.
  • the glass ribbon G in the vertical posture is heat-treated (slowly cooled) so that the temperature becomes lower as it moves downward in the internal space of the heat treatment zone 12. By this heat treatment, the internal strain of the glass ribbon G is reduced.
  • the temperature gradient of the internal space of the heat treatment zone 12 is adjusted by, for example, a heating device provided on the inner surface of the wall portion of the heat treatment zone 12.
  • the plurality of rollers vs. R constituting the transport device 14 sandwich both ends of the glass ribbon G in the vertical posture in the width direction from both the front and back sides.
  • the top roller vs. R located in the forming zone 11 is a cooling roller.
  • the plurality of rollers vs. R may include those that do not sandwich the side end portion of the glass ribbon G. That is, the facing distance between the rollers and R may be made larger than the thickness of both ends of the glass ribbon G in the width direction so that the glass ribbon G passes between the rollers and R.
  • both ends of the glass ribbon G manufactured by the processing apparatus 1 are thicker than the central portion in the width direction due to the influence of shrinkage in the molding process (hereinafter, also referred to as “ear portion”). ) Has.
  • the cutting device 2 is configured to sequentially cut a glass plate from the glass ribbon G by cutting the glass ribbon G in a vertical posture in the width direction for each predetermined length below the processing device 1.
  • the glass plate becomes a glass original plate (mother glass plate) from which the ears are removed in a later step and one or a plurality of product glass plates are collected.
  • the width direction is a direction orthogonal to the longitudinal direction (transportation direction) of the glass ribbon G, and substantially coincides with the horizontal direction in the present embodiment.
  • the cutting device 2 includes a scribe line forming device 21 and a folding device 22.
  • the scribe line forming device 21 is a device that forms a scribe line S on the first main surface of the vertically oriented glass ribbon G descending from the processing device 1 at the scribe line forming position P1.
  • the scribing line forming apparatus 21 has a wheel cutter 23 that forms a scribing line S on the first main surface of the glass ribbon G along the width direction thereof, and a glass ribbon G at a position corresponding to the wheel cutter 23.
  • a support member 24 (for example, a support bar or a support roller) that supports the second main surface (the surface opposite to the first main surface) is provided.
  • the wheel cutter 23 and the support member 24 are configured to form a scribe line S in the entire area or a part of the glass ribbon G in the width direction while following the descending glass ribbon G.
  • the scribe line S is also formed on the selvage portion having a relatively large thickness.
  • the scribe line S may be formed by irradiation with a laser or the like.
  • the folding device 22 is a device that cuts out a glass plate by breaking the glass ribbon G along the scribe line S at the folding position (cutting position) P2 provided below the scribe line forming position P1.
  • the folding device 22 grips the folding member 25 that comes into contact with the region where the scribe line S is formed from the second main surface side, and the lower region of the glass ribbon G below the folding position P2.
  • the gripping mechanism 26 is provided.
  • the folding member 25 is composed of a plate-like body (surface plate) having a flat surface that comes into contact with the entire width direction or a part of the glass ribbon G while following the descending glass ribbon G.
  • the contact surface of the folding member 25 may be a curved surface curved in the width direction.
  • the gripping mechanism 26 includes chucks 27 arranged at a plurality of positions in the vertical direction at both ends in the width direction of the glass ribbon G, and arms 28 (see FIG. 2) for holding the plurality of chucks 27 at both ends in the width direction. It has. These arms 28 perform an operation (operation in the B direction) for bending the glass ribbon G with the folding member 25 as a fulcrum while lowering the plurality of chucks 27 following the descending glass ribbon G. As a result, bending stress is applied to the scribe line S and its vicinity, and the glass ribbon G is folded along the scribe line S in the width direction. As a result of cutting by this folding, a glass plate is cut out from the glass ribbon G.
  • the chuck 27 may be changed to another holding form such as holding the glass ribbon G by negative pressure adsorption.
  • the detection device 3 takes the cutting side end Gt and the glass plate g of the glass ribbon G after being cut by the cutting device 2 as measurement targets, and generates the measurement targets g and Gt. It is a device for detecting defects.
  • the detection device 3 includes a thermography 31, a detection unit 32, a control unit 33, and an alarm unit 34.
  • the glass ribbon G and the glass plate g have a length in the width direction of 1000 to 3500 mm and a thickness of 100 to 2000 ⁇ m.
  • the length of the glass plate g in the vertical direction (length in the vertical direction) is 800 to 3000 mm.
  • the thermography 31 measures the temperature distribution of the measurement targets Gt and g, and is arranged below the height position of the wheel cutter 23 and above the lower end of the gripping mechanism 26.
  • the thermography 31 of the present embodiment is arranged below the height position of the folding member 25 and above the lower end of the gripping mechanism 26. Further, the thermography 31 is arranged on one main surface side (first main surface side of the glass ribbon G) of the measurement target Gt, g at the central position in the width direction of the measurement target Gt, g, away from the main surface. It is installed.
  • the distance from the measurement target Gt and g of the thermography 31 can be arbitrarily set within a range in which the temperature distribution of the measurement target Gt and g can be measured in a non-contact manner (for example, in the range of 800 to 3000 mm).
  • the thermography 31 may be arranged on the other main surface side of the measurement target Gt and g.
  • the detection unit 32 analyzes the thermal image showing the temperature distribution by the thermography 31 and detects defects occurring in the measurement targets g and Gt based on the result.
  • the detection unit 32 is composed of, for example, a personal computer or the like.
  • the glass ribbon G is cut by folding, not only the glass ribbon G after cutting is shaken, but also the glass plate g is shaken due to the vibration and shaking of the gripping mechanism 26.
  • the thickness of the glass ribbon G is thin or when the glass ribbon G is warped, the shaking of the glass ribbon G and the glass plate g after cutting may be remarkable.
  • the detection unit 32 detects defects generated in the measurement target g and Gt from the temperature distribution by the thermography 31, it is unlikely to be adversely affected by the shaking of the glass ribbon G and the glass plate g.
  • the control unit 33 sends a control signal for performing a gripping operation by the chuck 27 of the gripping mechanism 26 and a releasing operation thereof, and a retracting movement and a returning movement of the cutting device 2. It emits.
  • the alarm unit 34 issues an alarm when a specific defect (for example, crack damage g4 of the glass plate g accompanying the vertical crack G4 of the glass ribbon G described later) is detected by the detection unit 32.
  • the alarm is notified to the operator by voice or display.
  • the alarm unit 34 may be omitted.
  • FIGS. 4a to 8 illustrate defects that can be detected by the detection unit 32.
  • the gripping mechanism 26 and the like are omitted for convenience.
  • the glass plate g shown in FIG. 4a has a shape defect on the upper cut surface ga due to a horn (commonly known as) g1 having an intermediate portion in the width direction protruding upward.
  • the horn g1 has, for example, a height of several mm and a width of several mm. Due to this, the cut surface Ga on the lower side of the glass ribbon G shown in the figure has a shape defect due to the chip G2 in which the intermediate portion in the width direction is recessed upward.
  • the glass plate g shown in FIG. 4b has a shape defect due to a chip g2 in which the intermediate portion in the width direction is recessed downward on the upper cut surface ga.
  • the chipped g2 has, for example, a depth of several mm and a width of several mm. Due to this, the cut surface Ga on the lower side of the glass ribbon G shown in the figure has a shape defect due to the horn G1 in which the intermediate portion in the width direction projects downward.
  • the glass plate g shown in FIG. 5a has a shape defect on the upper cut surface ga due to the horn g1 having one end in the width direction protruding upward.
  • the horn g1 has, for example, a height of several mm and a width of several mm. Due to this, the cut surface Ga on the lower side of the glass ribbon G shown in the figure has a shape defect due to the chipped G2 in which one end in the width direction is missing. Such poor shape of the cut surfaces ga and Ga occurs because the ears are relatively thick.
  • the glass plate g shown in FIG. 5b has a shape defect due to a chip g2 in which one end portion in the width direction is missing on the upper cut surface ga.
  • the cut surface Ga on the lower side of the glass ribbon G shown in the figure has a shape defect due to the horn G1 having one end in the width direction protruding downward. Such poor shape of the cut surfaces ga and Ga also occurs due to the relatively thick ears.
  • the glass plate g shown in FIG. 6 has a wavy shape defect on the entire upper cut surface ga. Due to this, a shape defect showing a wavy shape also occurs in the entire cut surface Ga on the lower side of the glass ribbon G shown in the figure. Such shape defects occur when cracks deviate from the scribe line and propagate. In addition to this, shape defects caused by cracks deviating from the scribe line may occur when part of the cut surface ga has a wavy shape or when part or all of the cut surface ga has an arch shape. be.
  • the irregular shape of the glass plate g and the irregular shape of the glass ribbon G are opposite at the same position in the width direction. It doesn't have to be in a relationship.
  • one partially damaged g3 is generated starting from the upper cut surface ga.
  • the partially damaged g3 has, for example, a depth of 3 to 500 mm and a width of 10 to 2000 mm, which is larger than the above-mentioned chipped g2.
  • the number of the partially damaged g3 may be plural.
  • Such partial breakage g3 occurs when a part of the glass plate g (around the upper cut surface ga or an intermediate portion in the width direction) is broken during cutting.
  • crack breakage g4 due to vertical crack G4 of the glass ribbon G occurs at one place.
  • the crack breakage g4 is caused by a vertical crack G4 of the glass ribbon G as the crack grows in the vertical direction.
  • the vertical crack G4 may lead to breakage of the entire glass ribbon G with the passage of time. Therefore, the cracking breakage g4 of the glass plate g accompanying the vertical cracking G4 of the glass ribbon G tends to be larger in the subsequent glass plate g, and finally it becomes impossible to cut out the glass plate g from the glass ribbon G. May be.
  • FIGS. 9 to 16 are thermal images F1 to F5 showing the temperature distribution measured by the thermography 31, and the measurement targets g and Gt having defects are projected on these thermal images F1 to F5.
  • FIGS. 9 to 14 show only the main part of the measured thermal image for convenience.
  • the temperatures of the measurement targets g and Gt are, for example, less than 100 ° C., preferably less than 80 ° C. Further, the temperatures of the measurement targets g and Gt are higher than the temperature of the space region Z around them. Therefore, in the thermal images F1 to F5, the glass plate g and the glass ribbon G are depicted in a bright color, and the spatial region Z around the glass plate g and the glass ribbon G are depicted in a dark color.
  • the thermal images F1 to F3 shown in FIGS. 9 to 11 show the shapes of the measurement targets g and the cut surfaces ga and Ga of G.
  • the detection unit 32 obtains the distribution of the height positions of the cut surfaces ga and Ga from these thermal images F1 to F3, and the cut surfaces ga and Ga have a shape defect based on the height (here, the height difference). Detects whether or not. The specific method will be described below.
  • the thermal image F1 shown in FIG. 9 shows the measurement targets g and Gt having the defect of the aspect shown in FIG. 4a described above.
  • a method for the detection unit 32 to detect a shape defect due to the horn g1 generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g from the thermal image F1 will be described.
  • the maximum value and the minimum value of the distance from the straight line K1 to the upper contour line of the region where the glass plate g is drawn are obtained.
  • the distance (maximum value) Ma from the straight line K1 to the top gx of the horn g1 and the distance (minimum value) Mi from the straight line K1 to the straight line K0 are obtained.
  • the difference ⁇ M between the maximum value Ma and the minimum value Mi is calculated, and the detection unit 32 detects the shape defect generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g based on the difference ⁇ M and the threshold value.
  • the detection unit 32 determines that the shape is not defective, and when the difference ⁇ M exceeds the threshold value, detects it as a shape defect.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g has a shape defect. Even when the weapon g1 is generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g in the manner shown in FIG. 5a, the detection unit 32 is formed on the glass plate g by the same method as described here. Detects the presence or absence of shape defects that occur.
  • the thermal image F2 shown in FIG. 10 shows the measurement targets g and Gt having the defect of the mode shown in FIG. 4b described above.
  • a method will be described in which the detection unit 32 detects the shape defect due to the chipped g2 generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g from the thermal image F2.
  • a straight line K1 is set at the same position as above, and the maximum and minimum values of the distance from the straight line K1 to the upper contour line of the region where the glass plate g is drawn are obtained.
  • the detection unit 32 determines that the shape is not defective, and when the difference ⁇ M exceeds the threshold value, detects it as a shape defect.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g has a shape defect. Even when the cut surface ga on the upper side of the glass plate g is chipped g2 in the manner shown in FIG. 5b, the detection unit 32 has a defective shape by the same method as described here. Detects whether or not.
  • the thermal image F3 shown in FIG. 11 shows the measurement targets g and Gt having the defect of the aspect shown in FIG. 6 described above.
  • a method will be described in which the detection unit 32 detects the shape defect due to the wave shape generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g from the thermal image F3.
  • a straight line K1 is set at a position similar to the above, and the maximum and minimum values of the distance from the straight line K1 to the upper contour line of the region where the glass plate g is drawn are obtained.
  • the detection and substance of the shape defect due to the chip g2 on the thermal image F2 shown in FIG. can be detected by the same method.
  • the detection of the shape defect due to the horn g1 on the thermal image F1 shown in FIG. 9 It can be detected by substantially the same method.
  • the shape defect due to the wave shape of the glass plate g on the thermal image F3 shown in FIG. It can be detected by substantially the same method as the detection of. It should be noted that the substantially same method referred to here means that the methods themselves are the same, only the hierarchical relationship is reversed.
  • the control signal from the control unit 33 is used. Based on this, the gripping operation of the gripping mechanism 26 by the chuck 27 is released, and the glass plate g is discarded. The discarded glass plate g is collected.
  • the cut glass plate g is often transported to a subsequent process by gripping the upper part. Therefore, if the glass plate g having a defective shape on the upper cut surface ga is discarded, the glass plate g may be damaged when the upper part is gripped and transported, and the production line may be contaminated due to this. It can be prevented before it happens.
  • the shape defect on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g is likely to occur due to the wear of the wheel cutter 23. Therefore, when the detection unit 32 detects that the shape defect has occurred, the wheel cutter It is preferable to replace 23. By doing so, it is possible to suppress the occurrence of shape defects in the subsequent glass plate g.
  • the maximum value Ma, the minimum value Mi, and the difference ⁇ M were obtained based on the straight lines K0 and K1, but the maximum value Ma and the minimum value Mi were obtained without using the straight lines K0 and K1.
  • the difference ⁇ M may be obtained.
  • the contour line on the upper side of the glass plate g is obtained from the thermal image, the height of the point where the height position is the maximum in the contour line is set to the maximum value Ma, and the height position is the minimum point.
  • the height may be set to the minimum value Mi, and the difference ⁇ M may be obtained from them.
  • FIGS. 12 to 14 exemplify other methods for detecting a shape defect of the glass plate g from the thermal images F1 to F3 shown in FIGS. 9 to 11, respectively.
  • the detection unit 32 obtains the distribution of the height positions of the cut surfaces ga and Ga from the thermal images F1 to F3, and detects the shape defects of the cut surfaces ga and Ga based on the height. be.
  • the measurement lines L1 and L2 are on the upper and lower sides of the thermal image F1 with reference to the line L0 on which the regular cutting line of the glass plate g, that is, the scribe line S is formed. pull.
  • the two measurement lines L1 and L2 are parallel to the line L0 and separated from the line L0 by the same distance. Then, it is measured whether or not there is a place where the brightness is higher than the preset set value on the upper measurement line L1, that is, whether or not there is a place where the temperature is higher than the preset set temperature.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g has a shape defect. Regarding the weapon g1 generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g in the manner shown in FIG. 5a, whether or not the detection unit 32 has a defective shape is determined by the same method as described here. Detect.
  • the method illustrated in FIG. 13 also draws measurement lines L1 and L2 on the thermal image F2 on the upper and lower sides of the thermal image F2 with reference to the line L0 in the same manner as described above, and is on the upper measurement line L1.
  • Brightness (temperature) and brightness (temperature) on the lower measurement line L2 are measured.
  • this thermal image F2 there is one place where the brightness (temperature) is lower than the set value in the entire region on the upper measurement line L1 and the brightness (temperature) is lower than the set value on the lower measurement line L2.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g has a shape defect.
  • the chipped g2 generated on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g in the manner shown in FIG. 5b whether or not the detection unit 32 has a defective shape is determined by the same method as described here. Detect.
  • measurement lines L1 and L2 are drawn on the thermal image F3 on the upper and lower sides of the thermal image F3 with reference to the line L0 in the same manner as described above, and on the upper measurement line L1.
  • Brightness (temperature) and brightness (temperature) on the lower measurement line L2 are measured.
  • this thermal image F3 there are a plurality of locations (two in the example) in which the brightness (temperature) is higher than the set value on the upper measurement line L1 and the brightness is in the entire region on the lower measurement line L2. (Temperature) is higher than the set value.
  • thermal images F4 and F5 in which the entire region of the glass plate g and the cut side end portion Gt of the glass ribbon G are projected. From these thermal images F4 and F5, the detection unit 32 obtains the area of the measurement target g and Gt, and detects the defect generated in the measurement target g and G based on the area and the threshold value. The specific method will be described below.
  • the thermal image F4 shown in FIG. 15 shows the measurement targets g and Gt having the defect of the aspect shown in FIG. 7 described above.
  • a method for the detection unit 32 to detect the partial damage g3 generated in the glass plate g from the thermal image F4 will be described.
  • the area of the glass plate g is obtained from the number of pixels.
  • the region gripped by the chuck 27 of the glass plate g has a lower temperature than the region not gripped, and may be depicted in a dark color similar to that of the space region Z.
  • the area of the region where the main surface of the glass plate g is exposed is obtained.
  • the detection unit 32 When the region gripped by the chuck 27 of the glass plate g and the region not gripped are at the same temperature and both are depicted in bright colors, the entire region of the glass plate g is depicted. Area is required. When this area exceeds the first threshold value, the detection unit 32 assumes that it is not partially damaged g3, and when this area is equal to or less than the first threshold value and exceeds the second threshold value described later, the detection unit 32 detects it as partially damaged g3. ..
  • the first threshold value is, for example, 90% to 99% of the area of the glass plate g (the area corresponding to the above-mentioned region) in which no defect has occurred. Here, since the area is equal to or less than the first threshold value and exceeds the second threshold value, the detection unit 32 detects that the glass plate g is partially damaged g3.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g is partially damaged g3 from the thermal image F4 illustrated in FIG. 15, it is gripped based on the control signal from the control unit 33.
  • the glass plate g is discarded when the gripping operation by the chuck 27 of the mechanism 26 is released.
  • the discarded glass plate g is collected.
  • it is less likely that the glass plate g having the partially damaged g3 is erroneously transported to the subsequent process and undergoes subsequent processing.
  • the partial breakage g3 of the glass plate g is likely to occur when the warp of the glass ribbon G is large.
  • the detection unit 32 detects that the partial breakage g3 has occurred, the glass ribbon G It is preferable to take measures to reduce the warp of the glass plate, and in this way, it is possible to prevent the subsequent glass plate g from being partially damaged g3.
  • the thermal image F5 shown in FIG. 16 shows the measurement targets g and Gt having the defect of the aspect shown in FIG. 8 described above.
  • a method for the detection unit 32 to detect the crack damage g4 accompanying the vertical crack G4 of the glass ribbon G from the thermal image F5 will be described.
  • the area of the glass plate g is obtained from the number of pixels.
  • the relationship between the area of the glass plate g and the chuck 27 is the same as in the case described above.
  • the detection unit 32 assumes that it is not cracked damage g4, and when this area is equal to or less than the second threshold value, the detecting unit 32 detects it as cracked damage g4.
  • the second threshold value is, for example, 30% to 50% of the area of the glass plate g (the area corresponding to the above-mentioned region) in which no defect has occurred.
  • the detection unit 32 detects that the glass plate g is cracked and broken g4.
  • the cracking breakage g4 of the glass plate g occurs with the vertical cracking G4 of the glass ribbon G as described above. Therefore, the detection unit 32 also detects that the vertical crack G4 of the glass ribbon G is generated when the detection unit 32 detects that the glass plate g is cracked and broken g4.
  • the occurrence of the cracked break g4 of the glass plate g is regarded as the occurrence of the vertical crack G4 of the glass ribbon G.
  • the second threshold value is set as a value that satisfies such a situation.
  • the cutting device 2 moves to the retracted position based on the control signal from the control unit 33.
  • This retracted position is a position where the glass piece or glass powder from the glass ribbon G does not fall to the cutting device 2.
  • glass pieces and the like adhering to the cutting device 2 are removed by cleaning. This prevents the glass ribbon G and the glass plate g from being damaged by the glass pieces and glass powder remaining in the cutting device 2 when the molding of the glass ribbon G is restarted and the cutting device 2 is returned to the original position. can.
  • This glass plate manufacturing apparatus detects defects occurring in the measurement targets g and Gt based on the measurement results for the measurement targets g and Gt, and cannot recognize even the types of defects, but the defects. May be recognized by type. In this case, post-treatment subdivided according to the type of defect can be performed.
  • defects generated in the measurement targets g and Gt can be detected with high accuracy.
  • the configuration as shown may be adopted.
  • thermography 31 As the first configuration, as shown in FIG. 17, a plurality of (three in the example) thermography 31 are installed along the width direction. These thermography 31 are arranged at equal intervals in the width direction and are installed at the same height position. This height position is the same as the height position when one thermography 31 described above is installed. Further, the separation distance and the separation mode from the measurement target Gt and g of the thermography 31 are also the same as the separation distance and the separation mode when the one thermography 31 described above is installed.
  • thermography 31 a plurality of (three in this embodiment) thermal images can be obtained. More specifically, as shown in FIG. 18, the regions 35 in which the plurality of thermography 31 can measure the measurement target g and Gt, respectively, are arranged in a row in the width direction. In these regions 35, adjacent regions 35 partially overlap (the overlapping portion is indicated by reference numeral 35x), and cover the entire region in the width direction of the measurement target g and Gt. Therefore, a plurality of thermal images can also be obtained by imaging the measurement targets g and Gt in the same manner as the measurable regions 35 and 35x.
  • the plurality of thermal images are those in which adjacent thermal images are partially overlapped, and the entire region in the width direction of the measurement targets g and Gt is captured.
  • defects generated in the measurement targets g and Gt can be detected without omission by the thermal images obtained by the plurality of thermography 31s.
  • the glass plate g or the glass ribbon G is detected.
  • the cutting side end Gt of the above is considered to be defective.
  • the defect of the cutting side end Gt of the glass plate g or the glass ribbon G is not detected by all the thermal images, it is considered that the cutting side end Gt of the glass plate g or the glass ribbon G is not defective.
  • an antireflection member (not shown) is arranged on the front portion of each thermography 31 by sticking or the like. If the antireflection member is not arranged, the reflected light from the lighting or the like may cause a decrease in detection accuracy when detecting a defect using each thermography 31. According to the configuration here, the presence of the antireflection member makes it less likely to be adversely affected by reflected light such as lighting.
  • each thermography 31 is installed so as to measure the temperature distribution of the measurement targets g and Gt from diagonally below.
  • the lower end Gt of the glass ribbon G is omitted (the same applies to FIGS. 20 to 23 described later).
  • the angle ⁇ formed by the direction C in which each thermography 31 points to the surface of the glass plate g and the horizontal direction is 3 ° to 80 ° (preferably, the lower limit value is 30 ° and the upper limit value is 60 °).
  • the glass plate g when the glass plate g is in the vertical posture, that is, the vertical posture shown by the solid line in the figure or the substantially vertical posture shown by the chain line in the figure (for example, the angle ⁇ with respect to the vertical direction is 15 ° or less).
  • the tilted posture the following advantages can be obtained. That is, as shown in FIG. 20, the region 35 where the glass plate g can be measured when the measurement by the thermography 31 is performed from diagonally below is from the region 35a where the glass plate g can be measured when the measurement is performed along the horizontal direction. Also, it becomes longer in the vertical direction. Therefore, defects generated in the glass plate g can be detected in a wide measurement area.
  • thermography 31 when the measurement by the thermography 31 is performed along the horizontal direction or from diagonally above, the thermography 31 is placed at a relatively higher position (for example, the region indicated by reference numeral H in FIG. 19) than when the measurement is performed from diagonally below. Need to be installed in. In such a case, the thermography 31 may interfere with the scribe line forming device 21 or other devices (not shown), and the degree of freedom in the installation space of the thermography 31 is reduced.
  • the thermography 31 can be installed at a relatively low position as shown in FIG. 19 as compared with the case where the measurement is performed from the horizontal direction or diagonally above. As a result, the thermography 31 is less likely to interfere with the scribe line forming device 21 or other devices (not shown), and the degree of freedom in the installation space of the thermography 31 is increased.
  • each thermography 31 is capable of adjusting the direction C facing the surface of the glass plate g in the vertical direction. Specifically, each thermography 31 is rotatable around the fulcrum 31s on their central axis in the DD direction. Therefore, by changing the orientation C of each thermography 31, the region where the glass plate g can be measured fluctuates along the vertical direction. In this case, the orientation C of each thermography 31 may be adjusted at the same time by interlocking all the thermography 31 or at different times.
  • the glass plate g is shaken. It is possible to appropriately deal with the harmful effects that may occur in such cases. That is, when such a change or shaking occurs, the position of the glass plate g after cutting may shift in the vertical direction. When such a displacement occurs, not only the accuracy of detecting defects generated in the glass plate g is lowered, but also a part or all of the glass plate g deviates from the region that can be measured by the thermography 31 in some cases. Defect detection can be disabled.
  • the region that can be measured by the thermography 31 can be shifted corresponding to the vertical deviation of the glass plate g.
  • the area that can be measured by the thermography 31 is appropriately corrected, and the accuracy of defect detection can be further improved.
  • each thermography 31 has an adjustable direction C toward the surface of the glass plate g in the width direction. Specifically, each thermography 31 is rotatable in the EE direction around a fulcrum 31t on their central axis. Therefore, by changing the orientation C of the thermography 31, the region where the glass plate g can be measured fluctuates along the width direction. In this case, the orientation C of each thermography 31 may be adjusted at the same time by interlocking all the thermography 31 or at different times.
  • thermography 31 can be adjusted in the width direction to perform thermography.
  • the region where the glass plate g can be measured is appropriately corrected by 31.
  • each thermography 31 can be adjusted in the vertical direction. Specifically, each thermography 31 can be translated in the vertical direction (FF direction). Therefore, by changing the position of the thermography 31 in the vertical direction, the region where the glass plate g can be measured fluctuates along the vertical direction. In this case, the vertical position of each thermography 31 may be adjusted at the same time by interlocking all the thermography 31 or at different times.
  • thermography 31 can be adjusted in the vertical position to perform thermography.
  • the region where the glass plate g can be measured is appropriately corrected by 31.
  • FIG. 24 is a thermal image Fw by the thermography 31 installed at the widthwise end (left end)
  • FIG. 25 is a thermal image Fx by the thermography 31 installed at both ends in the widthwise direction.
  • a defect inspection region 36 for the upper end portion (cutting side end portion) gt of the glass plate g and the space Z1 above the upper end portion (cutting side end portion) gt of the glass plate g is set on the thermal images Fw and Fx shown in the respective figures, respectively.
  • the adjacent defect inspection regions 36 partially overlap, and the entire region in the width direction of the upper end portion gt of the glass plate g. Over.
  • the upper edge portion ga1 (its height position) of the glass plate g is detected on the thermal image Fw, and the detected upper edge portion ga1 is set as the origin position in the vertical direction.
  • detecting the upper edge portion ga1 of the glass plate g means the following. That is, when the cut surface ga on the upper side of the glass plate g appears as a straight line in the horizontal direction, the cut surface ga is detected as the upper edge ga1.
  • the cut surface ga on the upper side of the glass plate g appears as a wavy shape or a shape inclined with respect to the horizontal direction, for example, the highest or lowest portion of the cut surface ga, or the highest and lowest cut surface ga.
  • the central portion in the vertical direction between the portions is detected as the upper edge portion ga1.
  • the detection unit 32 can detect it as an obvious defect, so that the setting is not performed here.
  • the boundary portion gf between the selvage portion ge formed at the widthwise end portion of the glass plate g and the portion gt on the widthwise central side thereof appears, so that the boundary portion gf is used. It is detected, and this boundary portion gf is set as the origin position in the width direction.
  • the origin position in the width direction may be the outer edge gf1 in the width direction of the selvage portion g.
  • a rectangular inspection frame 37 elongated in the width direction is overlaid on the thermal image Fw. As a result, the internal area surrounded by the inspection frame 37 is set as the defect inspection area 36.
  • the defect inspection region 36 is aligned so that the origin position ga1 in the vertical direction exists at the central portion in the vertical direction. Further, one end portion (left end portion) in the width direction of the defect inspection region 36 is aligned to the left side of the origin position gf with reference to the origin position gf in the width direction. Further, the other end portion (right end portion) in the width direction of the defect inspection region 36 is aligned so as to exist at the right end portion of the thermal image Fw. Therefore, the defect inspection region 36 here is one region N extracted by one inspection frame 37 so that the left end side portion of the upper end portion gt of the glass plate g is the inspection target. The same initial setting as above is also performed for the thermal image Fw by the thermography 31 installed at the right end in the width direction.
  • the defect inspection region 36 is one region M extracted by one inspection frame 37 so that the central portion in the width direction of the upper end portion gt of the glass plate g is the inspection target.
  • the method executed at this time is the same as the method based on FIG. 24 described above. Therefore, according to the method here, the same operation and effect as the method based on FIG. 24 described above can be obtained by excluding the one due to the origin position in the width direction.
  • FIG. 26 illustrates one form in a part of the region N (M) extracted by the inspection frame 37.
  • a shape defect due to a wavy shape occurs on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g.
  • the origin position ga1 in the vertical direction shown in the figure is located at the central portion in the vertical direction between the lowest portion and the highest portion in the wave shape (including the wave shape in other regions). Further, in the figure, the wave shape is exaggerated.
  • the portion of this region N (M) is composed of a plurality of unit pixel groups Pk partitioned vertically and horizontally in a grid pattern.
  • One unit pixel group Pk is an aggregate of a plurality of pixels.
  • the brightness of the group of unit pixel groups Pk (the group marked with a circle in the figure) arranged in a horizontal row at the bottom is set as the reference brightness corresponding to the reference temperature. Then, the boundary between the upper end portion gt of the glass plate g and the space Z1 above the upper end portion gt is clarified by the difference in brightness from the reference brightness. Under such a setting, from among a plurality of unit pixel groups Pk existing above the group of unit pixel groups Pk marked with a circle in the figure, the upper end portion gt of the glass plate g and the space Z1 above it. The unit pixel group Pk including the boundary with and is extracted.
  • a plurality of unit pixel groups Pk including the above boundary extracted here are marked with a cross. Further, among the plurality of unit pixel group Pk extracted here, the number of unit pixel group Pk corresponding to the height difference from the one at the bottom to the one at the top (that is, when one horizontal row is one step). Find the number of stages where the x mark exists). Then, when the obtained number is equal to or more than the preset number, the detection unit 32 detects it as a shape defect due to the wave shape, and the obtained number is less than the preset number. In addition, it is assumed that the detection unit 32 is not defective in shape due to the wave shape.
  • the detection unit 32 detects that the shape defect due to the wave shape has occurred. It should be noted that such an image analysis method can be similarly applied to the case where the cut surface ga on the upper side of the glass plate g has a shape defect due to the above-mentioned horn g1 or chipped g2. be.
  • the boundary is determined by using a certain position of the glass plate g as a reference brightness based on the origin position ga1 in the vertical direction (including the origin position gf in the width direction in some cases). It is possible to prevent variations and mistakes in the determination of boundaries each time. Moreover, since the occurrence of defects can be detected only by obtaining the number of pixels corresponding to the height difference of the boundary determined by the difference in brightness from the reference brightness, the ease and further accuracy of image analysis can be ensured.
  • FIG. 27 illustrates another form in a part of the region N (M) extracted by the inspection frame 37.
  • a defect due to partial breakage g3 occurs on the cut surface ga on the upper side of the glass plate g.
  • the number of each unit pixel group Pk partitioned vertically and horizontally in a grid pattern is larger than in the above case. Therefore, one unit pixel group Pk has a smaller number of pixels than the above-mentioned case.
  • the origin position ga1 in the height direction exists at the boundary between the upper end portion gt of the glass plate g and the space Z1 above it (excluding the boundary with the partially damaged g3).
  • the boundary between the upper end portion gt (including the partially damaged g3) of the glass plate g and the upper space Z1 thereof is found by the brightness difference from the reference brightness as in the above case.
  • the difference between the upper end portion gt and the upper space Z1 is also known.
  • a virtual straight line ga11 is drawn in the width direction along the origin position ga1 in the height direction.
  • the area of the region Zx surrounded by the contours g3a and g3b of the partially damaged g3 and the virtual straight line ga11 is obtained from the number of unit pixel groups Pk (or pixel Pk).
  • the detection unit 32 detects it as a partially damaged g3 and obtains the value.
  • the detection unit 32 assumes that the partial damage g3 is not performed. In the illustrated example, since the value of the obtained area is equal to or greater than the value of the preset area, the detection unit 32 detects that the partial damage g3 has occurred.
  • the area of the glass plate g excluding the above region Zx (the area of the glass plate g depicted in the relevant portion of the region N (M)) is obtained from the number of unit pixel groups Pk (or pixel Pk). You may.
  • a value based on the area of the glass plate g (for example, the first threshold value described above) when no defect has occurred in the glass plate g is set in advance. In this way, when the value of the obtained area exceeds the value of the preset area, the detection unit 32 assumes that it is not the partial damage g3, and the value of the obtained area is set in advance.
  • the detection unit 32 detects it as partial damage g3.
  • the above-mentioned glass ribbon G is used. It can be applied in the same manner when crack breakage g4 due to vertical crack occurs.
  • crack breakage g3 due to vertical cracking of the glass ribbon G it is possible to describe an aspect in which the glass plate g does not exist at all in at least one of the plurality of thermal images by the plurality of thermography 31s. In some cases, crack damage g3 can be detected without obtaining the area value from the number of pixels.
  • the boundary and the upper end thereof are defined with a certain position of the glass plate g as the reference brightness based on the origin position ga1 in the vertical direction (including the origin position gf in the width direction in some cases).
  • the difference between the part gt and the upper space Z1 is discriminated. Therefore, it is possible to prevent variations and mistakes in determining the boundaries and the above differences each time the inspection is performed.
  • the region N (M) where the position is corrected based on the origin position ga1 (gf) the occurrence of defects can be detected only by obtaining the area value from the number of pixels, which facilitates image analysis. Further accuracy is ensured.
  • the glass plate manufacturing method according to the present embodiment includes a molding process, a transporting process, a cutting process, and a detection process.
  • the molding step is a step of molding the glass ribbon G in the molding zone 11.
  • the transport process is a step of transporting the molded glass ribbon G by the rollers vs. R of the transport device 14.
  • the transfer step includes a heat treatment step and a cooling step.
  • the heat treatment step is a step of heat-treating the glass ribbon G while transporting the glass ribbon G that has undergone the molding step in the heat treatment zone 12.
  • the cooling step is a step of cooling while transporting the glass ribbon G that has undergone the heat treatment step in the cooling zone 13.
  • the cutting step is a step of obtaining the glass plate g by cutting the glass ribbon G in the width direction by the cutting device 2 while transporting the glass ribbon G that has undergone the cooling step.
  • the temperature distribution of the measurement target including the cut side end Gt of the glass ribbon G and the glass plate g is measured by thermography 31, and based on the measurement result, the measurement targets Gt and g are set as described in detail. This is a process of detecting whether or not a defect has occurred.
  • the embodiment of the present invention is not limited to this, and various changes are made without departing from the gist of the present invention. It is possible to apply.
  • the shape defect of the cut surface to be measured is detected based on the height position of the cut surface obtained from the thermal image showing the temperature distribution of the thermography.
  • the shape defect of the cut surface to be measured may be detected by image analysis.
  • the partial breakage of the glass plate g and the vertical crack of the glass ribbon G are detected based on the area and the threshold value of the glass plate g, but the partial breakage and the vertical crack are detected by other image analysis. May be detected. Further, as the area of the glass plate g, the entire area of the glass plate g may be obtained, or the area of a part of the glass plate g may be obtained. For example, the area of the intermediate portion excluding both ends of the glass plate g gripped by the chuck 27 is obtained, and partial breakage of the glass plate g and vertical cracking of the glass ribbon G are detected based on the area of the intermediate portion and the threshold value. You may.
  • the temperature of the measurement target Gt, g is measured as the measurement of the temperature distribution by the thermography 31, but instead, the measurement target Gt, g is measured by a linear sensor thermometer capable of linearly measuring the temperature.
  • the temperature distribution of g may be measured.
  • the measurement target includes both the cut side end portion Gt of the glass ribbon G and the glass plate g, but only one of the two may be the measurement target.
  • a single measurement target has a weapon, a chip, a wave shape, a partial breakage, and a breakage due to a vertical crack, and these defects are individually detected for each measurement target.
  • Multiple types of these defects may occur simultaneously in a single measurement target.
  • a plurality of types of defects presence or absence of these defects may be detected for a single measurement target.
  • the glass ribbon G is formed by the overflow down draw method, but it may be formed by another down draw method such as a slot down draw method or a redraw method, or a float method.
  • the glass ribbon G is cut by folding along the scribe line S, but it may be cut by another method such as laser cutting or laser cutting. Even when such a method is adopted, when the glass plate g is separated from the glass ribbon G, vibration or impact is generated, so that the glass ribbon G and the glass plate g may be shaken. It is unlikely to be adversely affected by such shaking.
  • the thermal images shown in FIGS. 9 to 14 are used as a part of the thermal images obtained by one thermography, but these thermal images are among the respective thermal images obtained by a plurality of thermographies (see FIG. 17). It may be one whole thermal image of. If this is the case, the glass ribbon may not be depicted in the thermal image as shown in FIGS. 26 and 27 when the defect is detected. Further, in the thermal images shown in FIGS. 15 and 16, the entire glass plate is depicted, but only the upper portion (for example, the upper end portion) of the glass plate may be depicted, and in that case, the glass plate is further depicted. Only a part in the width direction (the glass ribbon is also only a part in the width direction) may be drawn. Even in such a case, the glass ribbon may not be drawn as shown in FIGS. 26 and 27 when the defect is detected.

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Abstract

ガラスリボンＧを成形ゾーン１１で成形すると共に搬送装置１４により長手方向に搬送しつつ、ガラスリボンＧを切断装置２により幅方向に沿って切断してガラス板ｇを切り出した後、ガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔ及びガラス板ｇを測定対象として、該測定対象Ｇｔ、ｇについて温度を測定し、その測定結果に基づいて、該測定対象Ｇｔ、ｇに発生する不良を検知する。

Description

ガラス板製造方法及びその製造装置
　本発明は、ガラス板の製造技術に係り、詳しくは、ガラスリボンを切断してガラス板を切り出した後におけるガラスリボンやガラス板に発生する不良の検知に関する。
　ガラス板を製造するための手法としては、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法、リドロー法に代表されるダウンドロー法を利用した手法が広く採用されている。
　これらの手法を利用したガラス板の製造工程では、ガラスリボンを連続的に成形した後、そのガラスリボンを所定の長さ毎に幅方向に沿って切断し、ガラスリボンからガラス板を切り出すことが行われる。この際、ガラスリボンやガラス板に不良が発生する場合がある。
　そこで、例えば特許文献１には、複数のレーザーセンサにより切断後のガラスリボンやガラス板におけるガラスの有無などを検知し、この検知結果に基づき、それらに発生する不良（同文献では破損）を自動監視することが開示されている。ここでのレーザーセンサとしては、ガラスリボンやガラス板に向かってレーザー光を照射してガラスで反射した反射光を検知する反射型のセンサが使用されている。
特開２０１８－１０４２２８号公報
　しかしながら、レーザーセンサの場合、ガラスリボンやガラス板が搬送経路上で揺れたり振動したりすると、それらに向かって照射したレーザー光から得られる反射光などの測定対象光の状態が容易に変動する。その結果、ガラスリボンやガラス板に発生する不良を誤検知する問題があり、より高精度でそれらの不良を検知することが望まれている。
　以上の観点から、本発明は、切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象に発生する不良を高精度で検知することを課題とする。
　上記課題を解決するために創案された本発明の第一の側面は、成形ゾーンでガラスリボンを成形する成形工程と、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送工程と、前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断してガラス板を切り出す切断工程と、を備えたガラス板製造方法であって、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知工程を備えていることに特徴づけられる。ここで、「不良」とは、測定対象に発生する欠陥（異形を含む）や破損などの不良を意味し、この不良が発生している測定対象はそれ自体が不良（不良品）となる（以下、同様）。
　この方法によれば、測定対象がガラスリボンの切断側端部である場合は、その切断側端部に発生する不良が検知され、測定対象がガラス板である場合は、そのガラス板に発生する不良が検知され、測定対象がガラスリボンの切断側端部及びガラス板の両者である場合は、その切断側端部及びガラス板に発生する不良が検知される。この不良の検知に際して、測定対象の温度は、測定対象の位置が搬送経路上で揺れや振動などにより変動しても大きな変化を示さないが、測定対象におけるガラスが欠落している箇所や突出している箇所で大きな変化を示す。したがって、この方法によれば、測定対象に発生する不良を高精度で検知できる。
　この方法において、前記切断工程では、前記ガラスリボンをその幅方向に延びるスクライブ線に沿って折り割ることで前記ガラス板を切り出すようにしてもよい。
　このようにすれば、ガラスリボンを折り割ることで切断した場合における切断後のガラスリボンの切断側端部やガラス板に発生する特有の不良を高精度で検知できる。すなわち、切断工程では、レーザー割断やレーザー溶断等によってガラスリボンを切断することもできるが、ガラスリボンを折り割って切断する場合には、他の手法による場合とは異なる特有の不良が発生する。ここでの構成によれば、そのような特有の不良に適切に対処可能となる。
　以上の方法において、前記成形工程では、前記ガラスリボンをダウンドロー法により成形し、前記検知工程では、縦姿勢である前記測定対象についての温度の測定を、サーモグラフィによる温度分布の測定として行うようにしてもよい。ここで、縦姿勢とは、鉛直姿勢、または鉛直方向に対して４５°未満である傾斜姿勢をいう（以下、同様）。
　温度分布の測定には、縦姿勢であるガラスリボンやガラス板の幅方向に沿って配列される複数の温度センサを用いることができるが、サーモグラフィを用いれば、高精細な温度分布を得ることができ、小さな不良も確実に検知できる。
　この方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の上側の切断面の形状不良を含んでもよい。
　ガラス板の上側の切断面の形状不良は、例えばスクライブチップあるいはホイールカッター等の消耗によって引き起こされる場合が多い。この形状不良を検知すれば、スクライブチップあるいはホイールカッター等の交換といった適切な措置を施すことができ、後続のガラス板の上側の切断面に形状不良が発生することを抑制できる。
　この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記上側の切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて前記上側の切断面の形状不良を検知するようにしてもよい。
　このようにすれば、ガラス板の上側の切断面における高さ位置の分布から高低を測定することで、切断面の形状不良を検知することができ、検知工程の適正化が図られる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板の上方の空間である低温の箇所と、ガラス板が存在している高温の箇所との境界が、切断面の形状として描写される。そして、この境界線の高低に基づいて画像解析等すれば、切断面の形状不良を正確に検知できる。
　この方法において、前記上側の切断面の形状不良を検知した場合、そのガラス板を廃棄するようにしてもよい。
　このようにすれば、上側の切断面の形状不良が検知された時点で、そのガラス板を早期に廃棄することができ、後工程での製造ラインの汚染等を未然に防止することができる。
　これらの方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の部分破損を含んでもよい。
　部分破損は、例えばガラスリボンの反りが大きい場合に発生し易くなる。部分破損を検知すれば、ガラスリボンの反りの低減といった適切な措置を施すことができ、後続のガラス板に部分破損が発生することを抑制できる。
　この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第１閾値とに基づいて前記部分破損を検知するようにしてもよい。
　このようにすれば、ガラス板の少なくとも一部の領域の面積と第１閾値とに基づいて部分破損が検知されるため、誤差の少ない正確な検知が可能になる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板が存在することで高温の描画がされるべき箇所の一部に、部分破損に相当する低温の描画が出現する。そして、高温の箇所のみの面積が求められ、この面積と第１閾値とに基づいて部分破損が検知される。この場合のガラス板の面積は、例えばサーモグラフィにより測定できる領域がガラス板の一部の領域である場合には、その一部の領域の面積であり、サーモグラフィにより測定できる領域がガラス板の全領域である場合には、その全領域の面積である。この面積は、熱画像におけるピクセル数などによって求めることができる。ここでの第１閾値は、不良が全く存在しない場合のガラス板の面積（上記の領域に対応する面積）の例えば９０％～９９％に設定される。したがって、熱画像における高温の箇所の面積が、第１閾値を超える場合には、部分破損でないとされ、第１閾値以下の場合には、部分破損として検知される。
　この方法において、前記部分破損を検知した場合、そのガラス板を廃棄するようにしてもよい。
　このようにすれば、部分破損が検知された時点で、そのガラス板を早期に廃棄することができるため、後工程での製造ラインの汚染等を未然に防止することができる。
　これらの方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの縦割れに伴うガラス板の割れ破損を含んでもよい。
　このようにすれば、サーモグラフィによるガラス板の温度分布を示す熱画像から、前述の形状不良や部分破損とは異なる不良である割れ破損を検知できる。この割れ破損は、切断後のガラスリボンの縦割れに伴って発生するものである。ここで、縦割れとは、ガラスリボンの上下方向に沿って形成される割れであって、時間経過によりガラスリボン全体が破損してしまうような割れを意味する。この縦割れが発生すると、ガラスリボンから切り出されるガラス板に前述の部分破損よりも大きな割れ破損が発生するため、ガラス板の切り出しが不能になる場合がある。ここでの構成によれば、このようなガラスリボンの縦割れの発生を、ガラスリボンではなく、ガラス板の熱画像から検知できる。
　この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第２閾値とに基づいて前記割れ破損を検知するようにしてもよい。
　このようにすれば、ガラス板の面積と第２閾値とに基づいて既述の縦割れに伴う割れ破損が検知されるため、誤差の少ない正確な検知が可能になる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板が存在することで高温の描画がされるべき箇所の一部に、割れ破損に相当する低温の描画が出現する。なお、割れ破損は、ガラス板が存在しなくなる破損をも含み、この場合には熱画像上でガラス板の存在を示す高温の箇所が消失する。このような事情の下で、高温の箇所の面積（零の場合も有り得る）が求められ、この面積と第２閾値とに基づいて割れ破損が検知される。この場合のガラス板の面積も、既述の場合と同様に、例えばガラス板の一部の領域または全領域の面積であって、熱画像におけるピクセル数などで求めることができる。ここでの第２閾値は、不良が全く存在しない場合のガラス板の面積（上記の領域に対応する面積）の例えば３０％～５０％に設定される。したがって、熱画像における高温の箇所の面積が、第２閾値を超える場合には、割れ破損でないとされ、第２閾値以下の場合には、割れ破損として検知される。なお、第２閾値は、既述の第１閾値よりも小さい数値であるため、既述の部分破損は、第１閾値以下で且つ第２閾値を超える場合に不良として検知される。
　この方法において、前記割れ破損を検知した場合、前記ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなして、前記切断工程の実行に用いる切断装置を退避させるようにしてもよい。
　このようにすれば、ガラス板の割れ破損を検知した場合、ガラスリボンに縦割れが発生しているとみなすため、この縦割れに対して適切な対策を講じることができる。詳しくは既述のように、ガラス板の割れ破損は、ガラスリボンの縦割れに伴って発生する。したがって、ガラス板の割れ破損が発生していることを検知すれば、ガラスリボンの縦割れが発生していることをも検知していることになる。すなわち、ガラス板の割れ破損の発生を、ガラスリボンの縦割れの発生とみなしていることになる。割れ破損であるか否かを判断するための基準となる条件（例えば既述の第２閾値）は、このような事象を満たす条件として設定される。このような観点から、ここでの構成によれば、ガラス板の割れ破損を検知した場合、すなわち、ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなした場合に、切断装置を早期に退避させることができる。これにより、縦割れの発生に起因してガラスリボンから多量のガラス片やガラス粉が飛散して落下することによる切断装置の汚染や故障を未然に防止できる。
　これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象についての温度分布の測定を斜め下方から行うようにしてもよい。
　このようにすれば、サーモグラフィにより測定できる領域が測定対象の一部の領域（例えば測定対象がガラス板であれば、ガラス板の上下方向の一部の領域）である場合に、以下のような利点が得られる。すなわち、サーモグラフィによる測定を斜め下方から行う場合に測定対象を測定できる領域は、当該測定を水平方向に沿って行う場合に測定対象を測定できる領域よりも、上下方向に長くなる。そのため、広い測定領域で発生する不良を検知できるという利点が得られる。加えて、以下のような利点も得られる。すなわち、サーモグラフィによる測定を水平方向に沿って行う場合あるいは斜め上方から行う場合には、斜め下方から行う場合よりも、サーモグラフィを相対的に高い位置に設置する必要がある。そのようにした場合には、ガラスリボンの切断位置の周辺に配置されている周辺装置（例えばスクライブ線を形成する装置など）とサーモグラフィとが干渉するおそれが生じ、サーモグラフィの設置スペースの自由度が低下する。ここでの構成によれば、上記の水平方向や斜め上方から測定を行う場合と比較して、サーモグラフィを相対的に低い位置に設置できる。これにより、サーモグラフィが上記の周辺装置と干渉し難くなり、サーモグラフィの設置スペースの自由度が高くなる。
　これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが上下方向に調整可能とされていてもよい。
　このようにすれば、成形されて搬送されるガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更された場合、あるいはこの変更がなされなくても測定対象に揺れが生じた場合などに起こり得る弊害に対して適切に対処できる。すなわち、このような変更や揺れが生じた場合には、切断後における測定対象の位置が上下方向にずれる場合がある。このような位置のずれが生じると、測定対象に発生する不良の検知精度が低下するだけでなく、場合によっては、サーモグラフィにより測定できる領域から測定対象の一部または全部が上下方向で逸脱し、不良の検知が不能になり得る。ここでの構成によれば、サーモグラフィの向き（測定対象の表面を指向している向き）を上下方向に調整することで、サーモグラフィにより測定できる領域を、測定対象の上下方向のずれに対応してずらすことができる。これにより、測定対象を測定できる領域が適切に補正され、不良の検知のさらなる高精度化が図られる。
　これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが幅方向に調整可能とされていてもよい。
　このようにすれば、上記と同様にガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更されたり、測定対象に揺れが生じたりして、切断後の測定対象が幅方向にずれても、サーモグラフィの向きを幅方向に調整することで、測定対象を測定できる領域が適切に補正される。
　これらの方法において、前記サーモグラフィは、上下方向の位置が調整可能とされていてもよい。
　このようにすれば、上記と同様にガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更されたり、測定対象に揺れが生じたりして、切断後の測定対象が上下方向にずれても、サーモグラフィの上下方向の位置を調整することで、測定対象を測定できる領域が適切に補正される。この場合には、サーモグラフィの向きを変えずにあるいは向きを変えつつ、測定対象を測定できる領域を上下方向にずらすことができる。
　これらの方法において、前記サーモグラフィによる温度分布の測定により得られる熱画像上で、切断後におけるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として、前記ガラス板の上端部及びその上方空間を対象とする不良検査領域を設定し、該不良検査領域内での画像解析により前記ガラス板に発生する不良を検知するようにしてもよい。
　このようにすれば、サーモグラフィによる熱画像上で、不良検査領域が適正な位置に設定されるため、ガラス板に発生する不良をより一層高精度で検知できる。詳述すると、熱画像に描写されるガラス板の上下方向の位置は一様に定まらない。その原因は、既述のような変更や揺れなどによるだけでなく、サーモグラフィが熱画像を取り込むタイミングが、測定を行う度に変動することなどにもよる。このような事情の下では、熱画像上で不良検査領域を設定する際に、不良検査領域の上下方向位置にバラツキや誤差が生じ、ガラス板に発生する不良の誤検知を招くおそれが生じる。ここでの構成によれば、熱画像に描写されるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として不良検査領域が設定されるため、熱画像上でのガラス板に対する不良検査領域の上下方向の位置が一様に定まる。これにより、不良検査領域内での画像解析によりガラス板に発生する不良を検知する際の誤検知が生じ難くなり、より一層確実に不良の検知精度を高めることができる。
　上記課題を解決するために創案された本発明の第二の側面は、ガラスリボンを成形する成形ゾーンと、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送装置と、ガラス板を切り出すために前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断する切断装置と、を備えたガラス板製造装置であって、前記切断装置による切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知装置を備えていることに特徴づけられる。
　これによれば、この製造装置と実質的に構成が同一である既述の製造方法と同一の作用効果を得ることができる。
　本発明によれば、切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象に発生する不良を高精度で検知することができる。
本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の全体構成を示す縦断側面図である。 図１のＡ方向から視たガラス板製造装置の要部を示す概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後の概略の状態を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第１例を検知する手法を説明するための概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第２例を検知する手法を説明するための概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第３例を検知する手法を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第１例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第２例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第３例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第４例を検知する手法を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第５例を検知する手法を示す正面図である。 本発明の実施形態の変形例に係るガラス板製造装置であって、当該製造装置を図１のＡ方向から視たとした場合における概略正面図である。 本発明の実施形態の変形例に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィにより測定できる範囲を示す概略正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによりガラス板を測定できる範囲を示す概略側面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略平面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上で不良検査領域を設定するための手法を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上で不良検査領域を設定するための手法を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上に設定された不良検査領域内で画像解析により不良を検知する手法の第１例を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上に設定された不良検査領域内で画像解析により不良を検知する手法の第２例を示す正面図である。
　以下、本発明に係る一実施形態を添付図面に基づいて説明する。
　図１は、本実施形態に係るガラス板製造装置の全体構成を示す縦断側面図である。同図に示すように、ガラス板製造装置は、ガラスリボンＧの処理装置１と、切断装置２と、検知装置３と、を備えている。
　処理装置１は、ガラスリボンＧを連続成形する成形ゾーン１１と、ガラスリボンＧを熱処理（徐冷）する熱処理ゾーン１２と、ガラスリボンＧを室温付近まで冷却する冷却ゾーン１３と、成形ゾーン１１、熱処理ゾーン１２及び冷却ゾーン１３のそれぞれに上下複数段に設けられたローラ対Ｒからなる搬送装置１４と、を備えている。
　成形ゾーン１１及び熱処理ゾーン１２は、ガラスリボンＧの搬送経路の周囲が壁部で囲まれた炉により構成されており、ガラスリボンＧの温度を調整するヒータ等の加熱装置が炉内の適所に配置されている。一方、冷却ゾーン１３は、ガラスリボンＧの搬送経路の周囲が壁部に囲まれることなく常温の外部雰囲気に開放されており、ヒータ等の加熱装置は配置されていない。
　成形ゾーン１１の内部空間には、オーバーフローダウンドロー法により溶融ガラスＧｍからガラスリボンＧを成形する成形体１５が配置されている。成形体１５に供給された溶融ガラスＧｍは、成形体１５の頂部１５ａに形成された溝部（図示略）から溢れ出る。この溢れ出た溶融ガラスＧｍは、成形体１５の断面楔状を呈する両側面１５ｂを伝って下端で合流する。これにより、板状のガラスリボンＧが連続成形される。この連続成形されるガラスリボンＧは、縦姿勢（好ましくは鉛直姿勢）で下方に送られる。
　熱処理ゾーン１２の内部空間は、下方に向かって所定の温度勾配を有している。縦姿勢のガラスリボンＧは、熱処理ゾーン１２の内部空間を下方に向かって移動するに連れて、温度が低くなるように熱処理（徐冷）される。この熱処理により、ガラスリボンＧの内部歪が低減される。熱処理ゾーン１２の内部空間の温度勾配は、例えば熱処理ゾーン１２の壁部内面に設けた加熱装置により調整される。
　搬送装置１４を構成する複数のローラ対Ｒは、縦姿勢のガラスリボンＧの幅方向両端部を表裏両側から挟持する。成形ゾーン１１に配置された最上部のローラ対Ｒは、冷却ローラである。なお、熱処理ゾーン１２の内部空間などでは、複数のローラ対Ｒの中に、ガラスリボンＧの側端部を挟持しないものが含まれていてもよい。つまり、ローラ対Ｒの対向間隔をガラスリボンＧの幅方向両端部の厚みよりも大きくし、ローラ対Ｒの間をガラスリボンＧが通過するようにしてもよい。
　本実施形態では、処理装置１によって製造されたガラスリボンＧの幅方向両端部は、成形過程の収縮等の影響により、幅方向中央部に比べて厚みが大きい部分（以下、「耳部」ともいう）を有する。
　切断装置２は、処理装置１の下方で縦姿勢のガラスリボンＧを所定の長さ毎に幅方向に切断することにより、ガラスリボンＧからガラス板を順次切り出すように構成されている。ガラス板は、後の工程で耳部が除去されて１枚又は複数枚の製品ガラス板が採取されるガラス原板（マザーガラス板）となる。ここで、幅方向は、ガラスリボンＧの長手方向（搬送方向）と直交する方向であり、本実施形態では実質的に水平方向と一致する。
　図１及び図２に示すように、切断装置２は、スクライブ線形成装置２１と、折割装置２２とを備えている。
　スクライブ線形成装置２１は、スクライブ線形成位置Ｐ１で、処理装置１から降下してきた縦姿勢のガラスリボンＧの第一主面にスクライブ線Ｓを形成する装置である。本実施形態では、スクライブ線形成装置２１は、ガラスリボンＧの第一主面にその幅方向に沿ってスクライブ線Ｓを形成するホイールカッター２３と、ホイールカッター２３に対応する位置でガラスリボンＧの第二主面（第一主面の反対側の面）を支持する支持部材２４（例えば支持バーや支持ローラ）と、を備えている。
　ホイールカッター２３及び支持部材２４は、降下中のガラスリボンＧに追従降下しつつ、ガラスリボンＧの幅方向の全域又は一部にスクライブ線Ｓを形成する構成とされている。本実施形態では、相対的に厚みが大きい耳部にもスクライブ線Ｓが形成される。なお、スクライブ線Ｓはレーザーの照射等によって形成してもよい。
　折割装置２２は、スクライブ線形成位置Ｐ１の下方に設けられた折割位置（切断位置）Ｐ２で、スクライブ線Ｓに沿ってガラスリボンＧを折り割ってガラス板を切り出す装置である。本実施形態では、折割装置２２は、スクライブ線Ｓが形成された領域に第二主面側から当接する折割部材２５と、折割位置Ｐ２よりも下方でガラスリボンＧの下部領域を把持する把持機構２６と、を備えている。
　折割部材２５は、降下中のガラスリボンＧに追従降下しつつ、ガラスリボンＧの幅方向の全域又は一部と接触する平面を有する板状体（定盤）から構成されている。折割部材２５の接触面は、幅方向に湾曲した曲面であってもよい。
　把持機構２６は、ガラスリボンＧの幅方向両端部における上下方向の複数箇所に配設されたチャック２７と、それら複数のチャック２７を幅方向両端部でそれぞれ保持するアーム２８（図２参照）とを備えている。これらのアーム２８は、複数のチャック２７を降下中のガラスリボンＧに追従降下させつつ、折割部材２５を支点としてガラスリボンＧを湾曲させるための動作（Ｂ方向の動作）を行う。これにより、スクライブ線Ｓ及びその近傍に曲げ応力を付与し、ガラスリボンＧをスクライブ線Ｓに沿って幅方向に折り割る。この折り割りによる切断の結果、ガラスリボンＧからガラス板が切り出される。なお、チャック２７は、ガラスリボンＧを負圧吸着によって保持するなどの他の保持形態に変更してもよい。
　図１及び図３に示すように、検知装置３は、切断装置２により切断された後のガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔ及びガラス板ｇを測定対象として、その測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良を検知するための装置である。本実施形態では、検知装置３は、サーモグラフィ３１と、検知部３２と、制御部３３と、警報部３４と、を備えている。ここで、ガラスリボンＧ及びガラス板ｇは、幅方向長さが１０００～３５００ｍｍであり、厚みが１００～２０００μｍである。また、ガラス板ｇは、縦方向長さ（上下方向長さ）が８００～３０００ｍｍである。
　サーモグラフィ３１は、測定対象Ｇｔ、ｇについての温度分布を測定するもので、ホイールカッター２３の高さ位置よりも下方で且つ把持機構２６の下端よりも上方に配設されている。本実施形態のサーモグラフィ３１は、折割部材２５の高さ位置よりも下方で且つ把持機構２６の下端よりも上方に配設されている。また、サーモグラフィ３１は、測定対象Ｇｔ、ｇの幅方向中央部位置において、測定対象Ｇｔ、ｇの一方の主面側（ガラスリボンＧの第１主面側）にその主面から離間して配設されている。サーモグラフィ３１の測定対象Ｇｔ、ｇからの離間距離は、測定対象Ｇｔ、ｇについての温度分布を非接触で測定できる範囲で任意に設定可能である（例えば、８００～３０００ｍｍの範囲）。なお、サーモグラフィ３１を、測定対象Ｇｔ、ｇの他方の主面側に配設してもよい。
　検知部３２は、サーモグラフィ３１による温度分布を示す熱画像について画像解析をして、その結果に基づいて、測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良を検知するものである。検知部３２は、例えばパーソナルコンピュータなどで構成される。ここで、ガラスリボンＧが折り割りにより切断された場合、切断後のガラスリボンＧに揺れが生じるだけでなく、ガラス板ｇも把持機構２６の振動や揺れ等に起因して揺れが生じる。また、ガラスリボンＧの厚みが薄い場合やガラスリボンＧに反りが発生している場合には、切断後のガラスリボンＧ及びガラス板ｇの揺れが顕著になり得る。しかしながら、検知部３２は、サーモグラフィ３１による温度分布から測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良を検知するものであるため、ガラスリボンＧ及びガラス板ｇの揺れによる悪影響を受け難い。
　制御部３３は、検知部３２で不良が検知された場合に、把持機構２６のチャック２７による把持動作及びその解除動作や、切断装置２の退避移動及び復帰移動などを行わせるための制御信号を発するものである。
　警報部３４は、検知部３２で特定の不良（例えば後述するガラスリボンＧの縦割れＧ４に伴うガラス板ｇの割れ破損ｇ４）が検知された場合などに、警報を発するものである。警報は、音声や表示などで作業者に報知される。なお、警報部３４は省略してもよい。
　図４ａ～図８は、検知部３２で検知することが可能な不良を例示している。なお、これら各図においては、便宜上、把持機構２６などの図示を省略している。
　図４ａに示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａに、幅方向の中間部が上方に突出するツノ（通称）ｇ１による形状不良が発生している。ツノｇ１は、例えば高さが数ｍｍで、幅が数ｍｍである。これに起因して、同図に示すガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａには、幅方向の中間部が上側に窪む欠けＧ２による形状不良が発生している。これとは逆に、図４ｂに示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａに、幅方向の中間部が下側に窪む欠けｇ２による形状不良が発生している。欠けｇ２は、例えば深さが数ｍｍで、幅が数ｍｍである。これに起因して、同図に示すガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａには、幅方向の中間部が下方に突出するツノＧ１による形状不良が発生している。
　図５ａに示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａに、幅方向の一端部が上方に突出するツノｇ１による形状不良が発生している。ツノｇ１は、例えば高さが数ｍｍで、幅が数ｍｍである。これに起因して、同図に示すガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａには、幅方向の一端部が欠落する欠けＧ２による形状不良が発生している。このような切断面ｇａ、Ｇａの形状不良は、耳部が相対的に厚肉であることに由来して生じる。これとは逆に、図５ｂに示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａに、幅方向の一端部が欠落する欠けｇ２による形状不良が発生している。これに起因して、同図に示すガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａには、幅方向の一端部が下方に突出するツノＧ１による形状不良が発生している。このような切断面ｇａ、Ｇａの形状不良も、耳部が相対的に厚肉であることに由来して生じる。
　図６に示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａの全体に、波形状を呈する形状不良が発生している。これに起因して、同図に示すガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａの全体にも、波形状を呈する形状不良が発生している。このような形状不良は、クラックがスクライブ線から逸れて進展することで発生する。これ以外に、クラックがスクライブ線から逸れて進展することで発生する形状不良は、切断面ｇａの一部が波形状を呈する場合や、切断面ｇａの一部又は全部が弓状を呈する場合もある。
　なお、図４ａ～図６に示した例は、ガラス板ｇにおける形状不良の凹凸と、ガラスリボンＧにおける形状不良の凹凸とが、幅方向の同一位置で逆になる関係にあるが、このような関係になくてもよい。
　図７に示すガラス板ｇは、上側の切断面ｇａを起点に１個の部分破損ｇ３が発生している。部分破損ｇ３は、例えば深さが３～５００ｍｍで、幅が１０～２０００ｍｍであって、上述の欠けｇ２よりも大きい。この部分破損ｇ３の個数は、複数であってもよい。このような部分破損ｇ３は、切断に伴ってガラス板ｇの一部（上側の切断面ｇａ周辺や幅方向の中間部）が破損することで発生する。
　図８に示すガラス板ｇは、ガラスリボンＧの縦割れＧ４に伴う割れ破損ｇ４が１箇所に発生している。この割れ破損ｇ４は、上下方向に沿ってクラックが進展することに伴うガラスリボンＧの縦割れＧ４に起因して生じるものである。縦割れＧ４は、時間経過に伴ってガラスリボンＧ全体の破損につながる場合がある。そのため、ガラスリボンＧの縦割れＧ４に伴うガラス板ｇの割れ破損ｇ４は、後続のガラス板ｇでより大きくなる傾向を有し、最終的にガラスリボンＧからのガラス板ｇの切り出しが不能になる場合がある。
　図９～図１６は、サーモグラフィ３１によって測定された温度分布を示す熱画像Ｆ１～Ｆ５であって、これらの熱画像Ｆ１～Ｆ５には、不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。なお、図９～図１４は、便宜上、測定された熱画像の主要部のみを図示している。ここで、測定対象ｇ、Ｇｔの温度は、例えば１００℃未満であり、好ましくは８０℃未満である。また、測定対象ｇ、Ｇｔの温度は、その周辺の空間領域Ｚの温度よりも高い。そのため、熱画像Ｆ１～Ｆ５には、ガラス板ｇ及びガラスリボンＧが明るい色で描写され、その周辺の空間領域Ｚが暗い色で描写される。
　図９～図１１に示す熱画像Ｆ１～Ｆ３には、測定対象ｇ、Ｇの切断面ｇａ、Ｇａの形状が映し出されている。検知部３２は、これらの熱画像Ｆ１～Ｆ３から切断面ｇａ、Ｇａの高さ位置の分布を求め、その高低（ここでは高低差）に基づいて切断面ｇａ、Ｇａに形状不良が発生しているか否かを検知する。以下、その具体的な手法を説明する。
　図９に示す熱画像Ｆ１には、既述の図４ａに示す態様の不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。ここで、この熱画像Ｆ１から、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生したツノｇ１による形状不良を検知部３２が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像Ｆ１上におけるガラス板ｇが描画されている領域（相対的に明るい領域）において、スクライブ線Ｓが形成されていた直線Ｋ０から所定距離だけ離間した位置に、当該直線Ｋ０と平行な基礎になる直線Ｋ１を設定する。次いで、この直線Ｋ１からガラス板ｇが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線Ｋ１からツノｇ１の頂部ｇｘまでの距離（最大値）Ｍａと、直線Ｋ１から直線Ｋ０までの距離（最小値）Ｍｉを求める。そして、この最大値Ｍａと最小値Ｍｉとの差分ΔＭを算出し、この差分ΔＭと閾値とに基づいて、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生した形状不良を検知部３２が検知する。具体的には、検知部３２は、差分ΔＭが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔＭが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔＭが閾値を超えているため、検知部３２は、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。なお、図５ａに示すような態様でガラス板ｇの上側の切断面ｇａにツノｇ１が発生している場合にも、ここでの説明と同様の手法で、検知部３２が、ガラス板ｇに発生する形状不良の有無を検知する。
　図１０に示す熱画像Ｆ２には、既述の図４ｂに示す態様の不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。ここで、この熱画像Ｆ２から、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生した欠けｇ２による形状不良を検知部３２が検知する手法について説明する。この熱画像Ｆ２についても、上記と同様の位置に直線Ｋ１を設定し、この直線Ｋ１からガラス板ｇが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線Ｋ１から欠けｇ２の最低部ｇｙまでの距離（最小値）Ｍｉと、直線Ｋ１から直線Ｋ０までの距離（最大値）Ｍａを求める。そして、検知部３２は、この最大値Ｍａと最小値Ｍｉとの差分ΔＭが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔＭが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔＭが閾値を超えているため、検知部３２は、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。なお、図５ｂに示すような態様でガラス板ｇの上側の切断面ｇａに欠けｇ２が発生している場合にも、ここでの説明と同様の手法で、検知部３２が、形状不良であるか否かを検知する。
　図１１に示す熱画像Ｆ３には、既述の図６に示す態様の不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。ここで、この熱画像Ｆ３から、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生した波形状による形状不良を検知部３２が検知する手法について説明する。この熱画像Ｆ３についても、上記と同様の位置に直線Ｋ１を設定し、この直線Ｋ１からガラス板ｇが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線Ｋ１から、複数の山のうち最も高い山の頂上ｇｚまでの距離（最大値）Ｍａと、直線Ｋ１から、複数の谷のうち最も低い谷の最低部ｇＺまでの距離（最小値）Ｍｉを求める。そして、検知部３２は、この最大値Ｍａと最小値Ｍｉとの差分ΔＭが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔＭが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔＭが閾値を超えているため、検知部３２は、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。
　なお、図９に示す熱画像Ｆ１におけるガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａに発生した欠けＧ２による形状不良については、図１０に示す熱画像Ｆ２上の欠けｇ２による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。また、図１０に示す熱画像Ｆ２上におけるガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａに発生したツノＧ１による形状不良については、図９に示す熱画像Ｆ１上のツノｇ１による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。さらに、図１１に示す熱画像Ｆ３におけるガラスリボンＧの下側の切断面Ｇａに発生した波形状による形状不良については、同図に示す熱画像Ｆ３上のガラス板ｇの波形状による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。なお、ここでいう実質的に同一の手法とは、上下関係が逆になるだけで、手法自体は同一であることを意味する。
　この場合において、図９～図１１に例示した熱画像Ｆ１～Ｆ３から、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知部３２が検知した場合には、制御部３３からの制御信号に基づいて、把持機構２６のチャック２７による把持動作が解除されるなどして、そのガラス板ｇが廃棄される。廃棄されたガラス板ｇは回収される。ここで、切断後のガラス板ｇは、上部を把持して後工程に搬送される場合が多い。そのため、上側の切断面ｇａに形状不良が発生しているガラス板ｇを廃棄しておけば、上部を把持して搬送する際のガラス板ｇの破損、及びこれに伴う製造ラインの汚染等を未然に防止できる。また、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａにおける形状不良は、ホイールカッター２３の消耗によって発生し易くなるため、この形状不良が発生していることを検知部３２が検知した場合には、ホイールカッター２３の交換をすることが好ましい。このようにすれば、後続のガラス板ｇに形状不良が発生することを抑制できる。
　なお、図９～図１１に示す手法では、直線Ｋ０及びＫ１に基づいて最大値Ｍａ、最小値Ｍｉ及び差分ΔＭを求めたが、直線Ｋ０及びＫ１を用いることなく、最大値Ｍａ、最小値Ｍｉ及び差分ΔＭを求めてもよい。具体的には、熱画像からガラス板ｇの上側の輪郭線を求め、輪郭線のうちで高さ位置が最大となる点の高さを最大値Ｍａとし、高さ位置が最小となる点の高さを最小値Ｍｉとし、それらから差分ΔＭを求めてもよい。
　図１２～図１４はそれぞれ、上述の図９～図１１に示す熱画像Ｆ１～Ｆ３からガラス板ｇの形状不良を検知する際の他の手法を例示するものである。これらの他の手法も、検知部３２が、熱画像Ｆ１～Ｆ３から切断面ｇａ、Ｇａの高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて切断面ｇａ、Ｇａの形状不良を検知するものである。
　図１２に例示する手法は、先ず、熱画像Ｆ１上で、ガラス板ｇの正規の切断線つまりスクライブ線Ｓが形成されていたラインＬ０を基準として、その上側及び下側に測定線Ｌ１、Ｌ２を引く。この２つの測定線Ｌ１、Ｌ２は、ラインＬ０と平行であって、ラインＬ０から同じ距離だけ隔てている。そして、上側の測定線Ｌ１上において明度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否かつまり温度が予め設定された設定温度よりも高い箇所が存在するか否かを測定する。また、下側の測定線Ｌ２上においても明度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否か（温度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否か）を測定する。この場合、明度（温度）を測定する範囲は、測定線Ｌ１、Ｌ２上におけるガラス板ｇの幅方向全域に亘る範囲である。この熱画像Ｆ１では、上側の測定線Ｌ１上において明度（温度）が設定値よりも高い箇所が１つ存在し、且つ、下側の測定線Ｌ２上の全領域において明度（温度）が設定値よりも高くなっている。検知部３２は、このような状態を認識することで、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。なお、図５ａに示すような態様でガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生したツノｇ１についても、ここでの説明と同様の手法で、検知部３２が、形状不良であるか否かを検知する。
　図１３に例示する手法も、熱画像Ｆ２上に、既述の場合と同様にして、ラインＬ０を基準として、その上側及び下側に測定線Ｌ１、Ｌ２を引き、上側の測定線Ｌ１上における明度（温度）及び下側の測定線Ｌ２上における明度（温度）を測定する。この熱画像Ｆ２では、上側の測定線Ｌ１上の全領域において明度（温度）が設定値よりも低く、且つ、下側の測定線Ｌ２上において明度（温度）が設定値よりも低い箇所が１つ存在している。検知部３２は、このような状態を認識することで、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。なお、図５ｂに示すような態様でガラス板ｇの上側の切断面ｇａに発生した欠けｇ２についても、ここでの説明と同様の手法で、検知部３２が、形状不良であるか否かを検知する。
　図１４に例示する手法も、熱画像Ｆ３上に、既述の場合と同様にして、ラインＬ０を基準として、その上側及び下側に測定線Ｌ１、Ｌ２を引き、上側の測定線Ｌ１上における明度（温度）及び下側の測定線Ｌ２上における明度（温度）を測定する。この熱画像Ｆ３では、上側の測定線Ｌ１上において明度（温度）が設定値よりも高い箇所が複数（図例では２つ）存在し、且つ、下側の測定線Ｌ２上の全領域において明度（温度）が設定値よりも高くなっている。検知部３２は、このような状態を認識することで、ガラス板ｇに形状不良が発生していることを検知する。
　図１５及び図１６は、ガラス板ｇの全領域とガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔとが映し出された熱画像Ｆ４、Ｆ５を示している。これらの熱画像Ｆ４、Ｆ５から、検知部３２は、測定対象ｇ、Ｇｔについての面積を求め、その面積と閾値とに基づいて測定対象ｇ、Ｇに発生した不良を検知する。以下、その具体的な手法を説明する。
　図１５に示す熱画像Ｆ４には、既述の図７に示す態様の不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。ここで、この熱画像Ｆ４から、ガラス板ｇに発生した部分破損ｇ３を検知部３２が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像Ｆ４上で、ガラス板ｇの面積をピクセル数から求める。この場合、ガラス板ｇのチャック２７により把持されている領域は、把持されていない領域よりも温度が低く、空間領域Ｚと同程度の暗い色で描写される場合がある。この場合には、ガラス板ｇの主面が露出している領域の面積が求められる。なお、ガラス板ｇのチャック２７により把持されている領域と、把持されていない領域とが、同程度の温度であって、両者が明るい色で描写される場合には、ガラス板ｇの全領域の面積が求められる。この面積が第１閾値を超える場合、検知部３２は、部分破損ｇ３でないとし、この面積が第１閾値以下で且つ後述する第２閾値を超える場合、検知部３２は、部分破損ｇ３として検知する。この第１閾値は、不良が全く発生していない状態にあるガラス板ｇの面積（上記の領域に対応する面積）の例えば９０％～９９％である。ここでは、上記の面積が第１閾値以下で且つ第２閾値を超えているため、検知部３２は、ガラス板ｇに部分破損ｇ３が発生していることを検知する。
　この場合において、図１５に例示した熱画像Ｆ４から、ガラス板ｇに部分破損ｇ３が発生していることを検知部３２が検知した場合には、制御部３３からの制御信号に基づいて、把持機構２６のチャック２７による把持動作が解除されるなどして、そのガラス板ｇが廃棄される。廃棄されたガラス板ｇは回収される。これにより、部分破損ｇ３を有するガラス板ｇが誤って後工程に搬送されて後続の処理を受けるという事態が生じ難くなる。また、ガラス板ｇの部分破損ｇ３は、ガラスリボンＧの反りが大きい場合に発生し易くなるため、この部分破損ｇ３が発生していることを検知部３２が検知した場合には、ガラスリボンＧの反りを低減させる措置を施すことが好ましい、このようにすれば、後続のガラス板ｇに部分破損ｇ３が発生することを抑制できる。
　図１６に示す熱画像Ｆ５には、既述の図８に示す態様の不良を有する測定対象ｇ、Ｇｔが映し出されている。ここで、この熱画像Ｆ５から、ガラスリボンＧの縦割れＧ４に伴う割れ破損ｇ４を検知部３２が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像Ｆ５上で、ガラス板ｇの面積をピクセル数から求める。このガラス板ｇの面積とチャック２７との関係は、既述の場合と同一である。この面積が第２閾値を超える場合、検知部３２は、割れ破損ｇ４でないとし、この面積が第２閾値以下の場合、検知部３２は、割れ破損ｇ４として検知する。第２閾値は、不良が全く発生していない状態にあるガラス板ｇの面積（上記の領域に対応する面積）の例えば３０％～５０％である。ここでは、上記の面積が第２閾値以下であるため、検知部３２は、ガラス板ｇに割れ破損ｇ４が発生していることを検知する。この場合において、ガラス板ｇの割れ破損ｇ４は、既述のように、ガラスリボンＧの縦割れＧ４に伴って発生するものである。したがって、検知部３２は、ガラス板ｇに割れ破損ｇ４が発生していることを検知した時点で、ガラスリボンＧの縦割れＧ４が発生していることをも検知していることになる。換言すれば、ガラス板ｇの割れ破損ｇ４の発生を、ガラスリボンＧの縦割れＧ４の発生とみなしていることになる。第２閾値は、このような事情を満たす値として設定されている。
　この場合において、図１６に例示した熱画像Ｆ５から、ガラス板ｇに割れ破損ｇ４が発生していることを検知した場合には、ガラスリボンＧの縦割れＧ４が発生しているとみなして、制御部３３からの制御信号に基づいて、切断装置２が退避位置に移動する。この退避位置は、ガラスリボンＧからのガラス片やガラス粉が切断装置２に落下しなくなる位置である。退避位置では、切断装置２に付着したガラス片などが清掃により除去される。これにより、ガラスリボンＧの成形を再開し、切断装置２を元の位置に戻した際に、切断装置２に残留するガラス片やガラス粉によってガラスリボンＧやガラス板ｇが破損する事態を防止できる。
　このガラス板製造装置は、測定対象ｇ、Ｇｔについての測定結果に基づいて、測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良を検知するものであって、不良の種類までも認識できるものではないが、不良を種類別に認識するようにしてもよい。このようにした場合には、不良の種類別に細分化された後処理を行うことができる。
　以上の構成を備えたガラス板製造装置によれば、測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良の検知を高精度で行うことができるが、不良の検知のさらなる高精度化を図るために、以下に示すような構成を採用してもよい。
　第一の構成として、図１７に示すように、幅方向に沿って複数（図例では３個）のサーモグラフィ３１を設置する。これらサーモグラフィ３１は、幅方向に等間隔で配列され、且つ、同一の高さ位置に設置されている。この高さ位置は、既述の１個のサーモグラフィ３１を設置した場合の高さ位置と同一である。また、これらサーモグラフィ３１の測定対象Ｇｔ、ｇからの離間距離及び離間態様も、既述の１個のサーモグラフィ３１を設置した場合の離間距離及び離間態様と同一である。
　これらサーモグラフィ３１による温度分布の測定では、複数（本実施形態では３個）の熱画像が得られる。詳述すると、図１８に示すように、複数のサーモグラフィ３１がそれぞれ測定対象ｇ、Ｇｔを測定できる領域３５は、幅方向に一列に並ぶ。これらの領域３５は、隣り合う領域３５が一部で重複し（その重複部を符号３５ｘで示す）、測定対象ｇ、Ｇｔの幅方向全領域に亘っている。したがって、複数の熱画像も、この測定できる領域３５、３５ｘと同様の態様で、測定対象ｇ、Ｇｔを撮像することで得られる。すなわち、複数の熱画像は、隣り合う熱画像が一部で重複したものとなり、且つ、測定対象ｇ、Ｇｔの幅方向全領域を撮像したものとなる。これにより、複数のサーモグラフィ３１による熱画像によって測定対象ｇ、Ｇｔに発生する不良を漏れなく検知できる。そして、複数のサーモグラフィ３１による熱画像のうち、何れか一つの熱画像によってガラス板ｇ又はガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔの不良が検知された場合には、そのガラス板ｇ又はガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔは不良であるとされる。これに対して、全ての熱画像によってガラス板ｇ又はガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔの不良が検知されなければ、そのガラス板ｇ又はガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔは不良でないとされる。この場合、各サーモグラフィ３１の前方部には、反射防止部材（図示略）が貼り付け等によって配置されている。この反射防止部材が配置されない場合には、照明等の反射光に起因して、各サーモグラフィ３１を用いて不良を検知する際の検知精度の低下等を招き得る。ここでの構成によれば、反射防止部材の存在によって、照明等の反射光による悪影響を受け難くなる。
　第二の構成として、図１９に示すように、各サーモグラフィ３１は、測定対象ｇ、Ｇｔについての温度分布の測定を斜め下方から行うように設置されている。図例では、ガラスリボンＧの下端部Ｇｔを省略している（後述する図２０～図２３も同様）。この場合、各サーモグラフィ３１がガラス板ｇの表面を指向する向きＣと水平方向とのなす角度αは、３°～８０°（好ましくは、下限値が３０°で、上限値が６０°）である。
　この第二の構成によれば、ガラス板ｇが縦姿勢である場合、つまり同図に実線で示す鉛直姿勢もしくは同図に鎖線で示す略鉛直姿勢（例えば鉛直方向に対する角度βが１５°以下の傾斜姿勢）である場合に、次のような利点が得られる。すなわち、図２０に示すように、サーモグラフィ３１による測定を斜め下方から行う場合にガラス板ｇを測定できる領域３５は、当該測定を水平方向に沿って行う場合にガラス板ｇを測定できる領域３５ａよりも、上下方向に長くなる。そのため、広い測定領域でガラス板ｇに発生する不良を検知できる。
　さらに、この第二の構成によれば、次のような利点も得られる。すなわち、サーモグラフィ３１による測定を水平方向に沿って行う場合あるいは斜め上方から行う場合には、斜め下方から行う場合よりも、サーモグラフィ３１を相対的に高い位置（例えば図１９に符号Ｈで示す領域）に設置する必要がある。そのようにした場合には、サーモグラフィ３１が、スクライブ線形成装置２１や図外のその他の装置などと干渉するおそれが生じ、サーモグラフィ３１の設置スペースの自由度が低下する。この第二の構成では、上記の水平方向や斜め上方から測定を行う場合と比較して、サーモグラフィ３１を図１９に示すように相対的に低い位置に設置できる。これにより、サーモグラフィ３１が、スクライブ線形成装置２１や図外のその他の装置などと干渉し難くなり、サーモグラフィ３１の設置スペースの自由度が高くなる。
　第三の構成として、図２１に示すように、各サーモグラフィ３１は、ガラス板ｇの表面を指向する向きＣが上下方向に調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ３１は、それらの中心軸上の支点３１ｓの廻りにＤ－Ｄ方向に回転可能とされている。したがって、各サーモグラフィ３１の向きＣを変えることで、ガラス板ｇを測定できる領域が上下方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ３１の向きＣの調整は、全てのサーモグラフィ３１を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。
　この第三の構成によれば、成形ゾーン１１で成形されて搬送されるガラスリボンＧのサイズ、厚み、品種などが変更された場合、あるいはこの変更がなされなくてもガラス板ｇに揺れが生じた場合などに起こり得る弊害に対して適切に対処できる。すなわち、このような変更や揺れが生じた場合には、切断後におけるガラス板ｇの位置が上下方向にずれる場合がある。このような位置のずれが生じると、ガラス板ｇに発生する不良の検知精度が低下するだけでなく、場合によっては、サーモグラフィ３１により測定できる領域からガラス板ｇの一部または全部が逸脱し、不良の検知が不能になり得る。ここでの構成によれば、サーモグラフィ３１の向きＣを上下方向に調整することで、サーモグラフィ３１により測定できる領域を、ガラス板ｇの上下方向のずれに対応してずらすことができる。これにより、サーモグラフィ３１により測定できる領域の適切な補正がなされ、不良の検知のさらなる高精度化が図られる。
　第四の構成として、図２２（平面図）に示すように、各サーモグラフィ３１は、ガラス板ｇの表面を指向する向きＣが幅方向に調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ３１は、それらの中心軸上の支点３１ｔの廻りにＥ－Ｅ方向に回転可能とされている。したがって、サーモグラフィ３１の向きＣを変えることで、ガラス板ｇを測定できる領域が幅方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ３１の向きＣの調整は、全てのサーモグラフィ３１を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。
　この第四の構成によれば、上記と同様の変更や揺れが生じたりして、切断後のガラス板ｇが幅方向にずれても、サーモグラフィ３１の向きを幅方向に調整することで、サーモグラフィ３１によりガラス板ｇを測定できる領域が適切に補正される。
　第五の構成として、図２３に示すように、各サーモグラフィ３１は、上下方向の位置が調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ３１は、上下方向（Ｆ－Ｆ方向）に平行移動できるようになっている。したがって、サーモグラフィ３１の上下方向の位置を変えることで、ガラス板ｇを測定できる領域が上下方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ３１の上下方向の位置の調整は、全てのサーモグラフィ３１を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。
　この第五の構成によれば、上記と同様の変更や揺れが生じたりして、切断後のガラス板ｇが上下方向にずれても、サーモグラフィ３１の上下方向の位置を調整することで、サーモグラフィ３１によりガラス板ｇを測定できる領域が適切に補正される。
　なお、上述の第三、第四及び第五の構成に関しては、これらのうちの一つの構成を備えているだけでもよく、または、これらから任意に選んだ二つの構成を備えていてもよく、さらには、これら三つの構成を備えていてもよい。
　第六の構成として、サーモグラフィ３１による測定で得られた熱画像に対して、初期設定と、不良を検知するためのより緻密な画像解析とが行われる。図２４は、幅方向端部（左端部）に設置されたサーモグラフィ３１による熱画像Ｆｗであり、図２５は、幅方向両端部以外の部位に設置されたサーモグラフィ３１による熱画像Ｆｘである。初期設定として、これら各図に示す熱画像Ｆｗ、Ｆｘ上に、ガラス板ｇの上端部（切断側端部）ｇｔとその上方空間Ｚ１とを対象とする不良検査領域３６をそれぞれ設定する。複数（三つ）の熱画像Ｆｗ、Ｆｘ上の全てに設定される不良検査領域３６は、隣り合う不良検査領域３６が一部で重複して、ガラス板ｇの上端部ｇｔの幅方向全領域に亘っている。
　先ず、図２４に示す熱画像Ｆｗ上に不良検査領域３６を設定する手法を説明する。最初に、熱画像Ｆｗ上で、ガラス板ｇの上側縁部ｇａ１（その高さ位置）を検出し、この検出した上側縁部ｇａ１を上下方向の原点位置とする。ここで、ガラス板ｇの上側縁部ｇａ１を検出するとは、次に示すことを意味する。すなわち、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａが、水平方向に一直線となって現れている場合には、その切断面ｇａを上側縁部ｇａ１として検出する。一方、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａが、波形状もしくは水平方向に対して傾斜した形状などとなって現れている場合は、例えば切断面ｇａの最高部もしくは最低部、または最高部と最低部との間における上下方向中央部などを上側縁部ｇａ１として検出する。この場合、波形状や傾斜した形状などの高低差が極端に大きいことが明確に現れている場合は、検知部３２が、明らかな不良として検知できるため、ここでの設定は行われない。
　また、この熱画像Ｆｗでは、ガラス板ｇの幅方向端部に形成された耳部ｇｅと、それよりも幅方向中央側の部位ｇｃとの境界部ｇｆが現れているため、境界部ｇｆを検出し、この境界部ｇｆを幅方向の原点位置とする。なお、幅方向の原点位置は、耳部ｇｅの幅方向外端縁ｇｆ１であってもよい。そして、上下方向の原点位置ｇａ１と幅方向の原点位置ｇｆとに基づいて、幅方向に長尺な矩形の検査枠３７を熱画像Ｆｗ上に重ねて描く。これにより、検査枠３７で取り囲まれた内部領域が不良検査領域３６として設定される。この実施形態に係る熱画像Ｆｗ上では、不良検査領域３６の上下方向中央部に、上下方向の原点位置ｇａ１が存在するように位置合わせされている。また、不良検査領域３６の幅方向一端部（左端部）が、幅方向の原点位置ｇｆを基準としてその原点位置ｇｆよりも左側に位置合わせされている。さらに、不良検査領域３６の幅方向他端部（右端部）が、熱画像Ｆｗの右端部に存在するように位置合わせされている。したがって、ここでの不良検査領域３６は、ガラス板ｇの上端部ｇｔの左端側部位が検査対象になるように一つの検査枠３７により抽出された一つの領域Ｎとなる。なお、幅方向右端部に設置されたサーモグラフィ３１による熱画像Ｆｗについても上記と同様の初期設定が行われる。
　このような手法によれば、熱画像Ｆｗに描画されるガラス板ｇの上下方向の位置及び幅方向の位置が一様に定まらない場合でも、熱画像Ｆｗ上でのガラス板ｇに対する不良検査領域３６の上下方向の位置及び幅方向の位置が一様に定まる。これにより、不良検査領域３６内での画像解析によりガラス板ｇに発生する不良を検知する際（後述する）の誤検知が生じ難くなり、より一層確実に不良の検知精度を高めることができる。
　次いで、図２５に示す熱画像Ｆｘ上に不良検査領域３６を設定する手法を説明する。この場合には、熱画像Ｆｘ上にガラス板ｇの幅方向端部が現れないため、幅方向の原点位置を検出する必要がない。したがって、不良検査領域３６の幅方向両端部はそれぞれ、熱画像Ｆｘの幅方向両端部に存在するように位置合わせされている。そして、この熱画像Ｆｘ上においても、上下方向の原点位置ｇａ１を決めること、及び、検査枠３７により不良検査領域３６を設定することが行われる。したがって、ここでの不良検査領域３６は、ガラス板ｇの上端部ｇｔの幅方向中央部位が検査対象になるように一つの検査枠３７により抽出された一つの領域Ｍとなる。この際に実行される手法は、既述の図２４に基づく手法と同一である。そのため、ここでの手法によれば、幅方向の原点位置によるものを除外すれば、既述の図２４に基づく手法と同一の作用効果が得られる。
　図２６は、検査枠３７によって抽出された領域Ｎ（Ｍ）の一部分における一形態を例示している。この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分では、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに波形状による形状不良が発生している。なお、同図に示す上下方向の原点位置ｇａ１は、波形状（他の領域の波形状も含む）における最低部と最高部との間における上下方向中央部に位置している。また、同図では、波形状を誇張して示している。この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分は、格子状に縦横に仕切られた複数の単位ピクセル群Ｐｋによって構成される。一つの単位ピクセル群Ｐｋは、複数個のピクセルの集合体である。この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分では、最も下方で横一列に並ぶ単位ピクセル群Ｐｋの集まり（同図に○印を付した集まり）の明度を、基準温度に相当する基準明度として設定する。そして、この基準明度との明度差によって、ガラス板ｇの上端部ｇｔとその上方空間Ｚ１との境界が判明している。このような設定の下で、同図に○印を付した単位ピクセル群Ｐｋの集まりよりも上方に存在する複数の単位ピクセル群Ｐｋの中から、ガラス板ｇの上端部ｇｔとその上方空間Ｚ１との境界を含む単位ピクセル群Ｐｋを抽出する。同図には、ここで抽出された上記の境界を含む複数の単位ピクセル群Ｐｋに、×印を付している。さらに、ここで抽出された複数の単位ピクセル群Ｐｋのうち、最下部にあるものから最上部にあるものまでの高低差に相当する単位ピクセル群Ｐｋの個数（すなわち、横一列を一段とした場合に×印が存在する段数）を求める。そして、この求められた個数が、予め設定された個数以上である場合に、検知部３２は、波形状による形状不良として検知し、この求められた個数が、予め設定された個数未満である場合に、検知部３２は、波形状による形状不良でないとする。図例では、求められた個数が４個であり、予め設定された個数が３個であるため、検知部３２は、波形状による形状不良が発生していることを検知する。なお、このような画像解析の手法は、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに、既述のツノｇ１や欠けｇ２による形状不良が発生している場合も、同様にして適用することが可能である。
　このような画像解析の手法によれば、上下方向の原点位置ｇａ１（場合によっては幅方向の原点位置ｇｆを含む）に基づきガラス板ｇの一定の位置を基準明度として境界を判別するため、検査を行う度に境界の判別にばらつきやミスが生じることを抑止できる。しかも、基準明度との明度差によって判別される境界についての高低差に相当するピクセルの個数を求めるだけで、不良の発生を検知できるため、画像解析の容易性及びさらなる正確性が確保される。
　図２７は、検査枠３７によって抽出された領域Ｎ（Ｍ）の一部分における他の形態を例示している。この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分では、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに部分破損ｇ３による不良が発生している。ここで、この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分では、格子状に縦横に仕切られたそれぞれの単位ピクセル群Ｐｋの個数が上述の場合よりも多くなっている。そのため、一つの単位ピクセル群Ｐｋは、ピクセル数が上述の場合よりも少ない。また、この領域Ｎ（Ｍ）の当該部分では、ガラス板ｇの上端部ｇｔとその上方空間Ｚ１との境界（部分破損ｇ３との境界を除く）に、高さ方向の原点位置ｇａ１が存在している。そして、ここでの画像解析においても、上述の場合と同様に、基準明度との明度差によって、ガラス板ｇの上端部ｇｔ（部分破損ｇ３を含む）とその上方空間Ｚ１との境界が判明し、且つ、その上端部ｇｔと上方空間Ｚ１との相違も判明している。このような設定の下で、高さ方向の原点位置ｇａ１に沿って、幅方向に仮想直線ｇａ１１を引く。この状態で、部分破損ｇ３の輪郭ｇ３ａ、ｇ３ｂと仮想直線ｇａ１１とにより取り囲まれた領域Ｚｘの面積を、単位ピクセル群Ｐｋ（またはピクセルＰｋ）の個数から求める。そして、この求められた面積の値が、予め設定された面積の値（ガラス板ｇの欠落部の面積の値）以上である場合に、検知部３２は、部分破損ｇ３として検知し、この求められた面積の値が、予め設定された面積の値未満である場合に、検知部３２は、部分破損ｇ３でないとする。図例では、求められた面積の値が、予め設定された面積の値以上であるため、検知部３２は、部分破損ｇ３が発生していることを検知する。
　これに代えて、次のような手法を採用してもよい。すなわち、上記の領域Ｚｘを除外したガラス板ｇの面積（領域Ｎ（Ｍ）の当該部分に描写されるガラス板ｇの面積）を、単位ピクセル群Ｐｋ（またはピクセルＰｋ）の個数から求めるようにしてもよい。この場合には、ガラス板ｇに不良が全く発生していない場合のガラス板ｇの面積に基づく値（例えば既述の第１閾値）を予め設定しておく。このようにすれば、求められた面積の値が、予め設定された面積の値を超えている場合、検知部３２は、部分破損ｇ３でないとし、求められた面積の値が、予め設定された面積の値以下である場合に、検知部３２は、部分破損ｇ３として検知する。なお、図２７に基づく画像解析の手法は、ガラス板ｇの上側の切断面ｇａに、既述のツノｇ１や欠けｇ２による形状不良が発生している場合、さらには既述のガラスリボンＧの縦割れに伴う割れ破損ｇ４が発生している場合に、同様にして適用することが可能である。特に、ガラスリボンＧの縦割れに伴う割れ破損ｇ３の検知に際しては、複数のサーモグラフィ３１による複数の熱画像のうちの少なくとも一つの熱画像にガラス板ｇが全く存在しない態様が描写され得るため、ピクセル数から面積の値を求めなくても割れ破損ｇ３を検知できる場合がある。
　このような画像解析の手法によれば、上下方向の原点位置ｇａ１（場合によっては幅方向の原点位置ｇｆを含む）に基づきガラス板ｇの一定の位置を基準明度として、境界、及び、当該上端部ｇｔと上方空間Ｚ１との相違を判別する。そのため、検査を行う度に境界や上記の相違の判別にばらつきやミスが生じることを抑止できる。しかも、上記の原点位置ｇａ１（ｇｆ）に基づき位置補正がなされた領域Ｎ（Ｍ）内で、ピクセル数から面積の値を求めるだけで、不良の発生を検知できるため、画像解析の容易性及びさらなる正確性が確保される。
　次に、以上のような構成を備えたガラス板製造装置を用いたガラス板製造方法について説明する。
　本実施形態に係るガラス板製造方法は、成形工程と、搬送工程と、切断工程と、検知工程と、を備えている。
　成形工程は、成形ゾーン１１でガラスリボンＧを成形する工程である。
　搬送工程は、成形されたガラスリボンＧを搬送装置１４のローラ対Ｒで搬送する工程である。なお、搬送工程は、熱処理工程と、冷却工程と、を含んでいる。
　熱処理工程は、熱処理ゾーン１２で成形工程を経たガラスリボンＧを搬送しながら、ガラスリボンＧに対して熱処理を施す工程である。
　冷却工程は、冷却ゾーン１３で熱処理工程を経たガラスリボンＧを搬送しながら冷却する工程である。
　切断工程は、冷却工程を経たガラスリボンＧを搬送しながら、切断装置２によりガラスリボンＧを幅方向に切断してガラス板ｇを得る工程である。
　検知工程は、ガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔ及びガラス板ｇからなる測定対象の温度分布をサーモグラフィ３１により測定し、その測定結果に基づいて、既に詳述したように測定対象Ｇｔ、ｇに不良が発生しているか否かを検知する工程である。
　以上、本発明の実施形態に係るガラス板製造装置及びその製造方法について説明したが、本発明の実施の形態はこれに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を施すことが可能である。
　上記実施形態では、測定対象の切断面の形状不良を、サーモグラフィの温度分布を示す熱画像から切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて検知するようにしたが、これ以外の画像解析によって測定対象の切断面の形状不良を検知するようにしてもよい。
　上記実施形態では、ガラス板ｇの部分破損及びガラスリボンＧの縦割れを、ガラス板ｇについての面積と閾値とに基づいて検知するようにしたが、これ以外の画像解析によって部分破損及び縦割れを検知するようにしてもよい。また、ガラス板ｇの面積は、ガラス板ｇの全部の面積を求めてもよく、ガラス板ｇの一部の面積を求めてもよい。例えば、チャック２７によって把持されるガラス板ｇの両端部を除いた中間部の面積を求め、中間部の面積と閾値とに基づいてガラス板ｇの部分破損及びガラスリボンＧの縦割れを検知してもよい。
　上記実施形態では、測定対象Ｇｔ、ｇの温度の測定を、サーモグラフィ３１による温度分布の測定として行ったが、これに代えて、直線状に温度測定が可能なリニアセンサ温度計によって測定対象Ｇｔ、ｇの温度分布を測定するようにしてもよい。
　上記実施形態では、測定対象を、ガラスリボンＧの切断側端部Ｇｔとガラス板ｇとの両者を含むようにしたが、この両者のうちの何れか一方のみを測定対象としてもよい。
　上記実施形態では、単一の測定対象に、ツノ、欠け、波形状、部分破損、及び縦割れに伴う破損が発生するものとして、測定対象毎にこれらの不良を個別に検知するようにしたが、これらの不良のうちの複数種の不良が単一の測定対象に同時に発生する場合がある。このような場合には、単一の測定対象について複数種の不良（それらの不良の存否）を検知するようにしてもよい。
　上記実施形態では、ガラスリボンＧをオーバーフローダウンドロー法により成形したが、スロットダウンドロー法やリドロー法などの他のダウンドロー法や、フロート法などにより成形してもよい。
　上記実施形態では、ガラスリボンＧをスクライブ線Ｓに沿う折り割りで切断するようにしたが、レーザー割断やレーザー溶断などの他の方法により切断してもよい。このような方法を採用した場合にも、ガラスリボンＧからガラス板ｇを切り離す際には、振動や衝撃が発生するため、ガラスリボンＧ及びガラス板ｇに揺れが生じ得るが、本発明では、このような揺れによる悪影響を受け難い。
　上記実施形態では、図９～図１４に示す熱画像を、一つのサーモグラフィによる熱画像の一部としたが、これらの熱画像は、複数のサーモグラフィ（図１７参照）によるそれぞれの熱画像のうちの一つの熱画像全体であってもよい。そうである場合は、不良の検知に際して図２６及び図２７に示すように熱画像にガラスリボンが描写されていなくてもよい。また、図１５及び図１６に示す熱画像では、ガラス板全体が描写されているが、ガラス板の上側部分（例えば上端部）のみが描写されていてもよく、その場合にはさらにガラス板の幅方向の一部のみ（ガラスリボンも幅方向の一部のみ）が描写されていてもよい。そのようにした場合も、不良の検知に際して図２６及び図２７に示すようにガラスリボンが描写されていなくてもよい。
１     処理装置
２     切断装置
３     検知装置
１１   成形ゾーン
１４   搬送装置
２２   切断装置
３１   サーモグラフィ
３２   検知部
３６   不良検査領域
Ｆ１   熱画像
Ｆ２   熱画像
Ｆ３   熱画像
Ｆ４   熱画像
Ｆ５   熱画像
Ｆｗ   熱画像
Ｆｘ   熱画像
Ｇ     ガラスリボン
Ｇｔ   ガラスリボンの切断側端部
ｇ     ガラス板
Ｇ１   ツノ
ｇ１   ツノ
Ｇ２　　欠け
ｇ２　　欠け
Ｇ３   部分破損
ｇ３   部分破損
Ｇ４　　縦割れ
ｇ４　　縦割れ
Ｇａ   ガラスリボンの下側の切断面
ｇａ   ガラス板の上側の切断面
ｇａ１ 上下方向の原点位置（ガラス板の上側縁部）
Ｇｍ   溶融ガラス
Ｚ１   ガラス板の上方空間

Claims (18)

  1. 　成形ゾーンでガラスリボンを成形する成形工程と、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送工程と、前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断してガラス板を切り出す切断工程と、を備えたガラス板製造方法であって、
    　前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知工程を備えていることを特徴とするガラス板製造方法。
  2. 　前記切断工程では、前記ガラスリボンをその幅方向に延びるスクライブ線に沿って折り割ることで前記ガラス板を切り出すことを特徴とする請求項１に記載のガラス板製造方法。
  3. 　前記成形工程では、前記ガラスリボンをダウンドロー法により成形し、
    　前記検知工程では、縦姿勢である前記測定対象についての温度の測定を、サーモグラフィによる温度分布の測定として行うことを特徴とする請求項１又は２に記載のガラス板製造方法。
  4. 　前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の上側の切断面の形状不良を含むことを特徴とする請求項３に記載のガラス板製造方法。
  5. 　前記ガラス板についての温度分布から、前記上側の切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて前記上側の切断面の形状不良を検知することを特徴とする請求項４に記載のガラス板製造方法。
  6. 　前記上側の切断面の形状不良を検知した場合、そのガラス板を廃棄することを特徴とする請求項４又は５に記載のガラス板製造方法。
  7. 　前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の部分破損を含むことを特徴とする請求項３～６の何れかに記載のガラス板製造方法。
  8. 　前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第１閾値とに基づいて前記部分破損を検知することを特徴とする請求項７に記載のガラス板製造方法。
  9. 　前記部分破損を検知した場合、そのガラス板を廃棄することを特徴とする請求項７又は８に記載のガラス板製造方法。
  10. 　前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの縦割れに伴うガラス板の割れ破損を含むことを特徴とする請求項３～９の何れかに記載のガラス板製造方法。
  11. 　前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第２閾値とに基づいて前記割れ破損を検知することを特徴とする請求項１０に記載のガラス板製造方法。
  12. 　前記割れ破損を検知した場合、前記ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなして、前記切断工程の実行に用いる切断装置を退避させることを特徴とする請求項１０又は１１に記載のガラス板製造方法。
  13. 　前記サーモグラフィは、前記測定対象についての温度分布の測定を斜め下方から行うことを特徴とする請求項３～１２の何れかに記載のガラス板製造方法。
  14. 　前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが上下方向に調整可能とされていることを特徴とする請求項３～１３の何れかに記載のガラス板製造方法。
  15. 　前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが幅方向に調整可能とされていることを特徴とする請求項３～１４の何れかに記載のガラス板製造方法。
  16. 　前記サーモグラフィは、上下方向の位置が調整可能とされていることを特徴とする請求項３～１５の何れかに記載のガラス板製造方法。
  17. 　前記サーモグラフィによる温度分布の測定により得られる熱画像上で、切断後におけるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として、前記ガラス板の上端部及びその上方空間を対象とする不良検査領域を設定し、該不良検査領域内での画像解析により前記ガラス板に発生する不良を検知することを特徴とする請求項３～１６の何れかに記載のガラス板製造方法。
  18. 　ガラスリボンを成形する成形ゾーンと、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送装置と、ガラス板を切り出すために前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断する切断装置と、を備えたガラス板製造装置であって、
    　前記切断装置による切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知装置を備えていることを特徴とするガラス板製造装置。
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