WO2020213432A1 - 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機 - Google Patents

変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機 Download PDF

Info

Publication number
WO2020213432A1
WO2020213432A1 PCT/JP2020/015305 JP2020015305W WO2020213432A1 WO 2020213432 A1 WO2020213432 A1 WO 2020213432A1 JP 2020015305 W JP2020015305 W JP 2020015305W WO 2020213432 A1 WO2020213432 A1 WO 2020213432A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
displacement
displacement detector
contactor
stylus
measurement
Prior art date
Application number
PCT/JP2020/015305
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
森井 秀樹
Original Assignee
株式会社東京精密
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社東京精密 filed Critical 株式会社東京精密
Priority to GB2107595.7A priority Critical patent/GB2596225B/en
Priority to CN202211161378.0A priority patent/CN115574691A/zh
Priority to CN202080008208.1A priority patent/CN113272619A/zh
Priority to DE112020001949.7T priority patent/DE112020001949T5/de
Publication of WO2020213432A1 publication Critical patent/WO2020213432A1/ja
Priority to US17/336,794 priority patent/US11435175B2/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor
    • G01B5/016Constructional details of contacts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/001Constructional details of gauge heads
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045Correction of measurements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B5/201Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures for measuring roundness

Definitions

  • the present invention relates to a displacement detector, and particularly to a displacement detector capable of measuring in two directions.
  • the contactor and the object to be measured are relatively moved with the contactor in contact with the object to be measured, and the displacement of the contact at that time is detected.
  • Displacement detectors are used. Normally, in a displacement detector that can measure only one direction, it is necessary to change the posture of the displacement detector according to the measurement direction.
  • Patent Document 1 describes a displacement detector capable of measuring in two directions and having only one differential transformer (LVDT: Linear Variable differential Transformer).
  • the displacement detector described in Patent Document 1 has two contacts. One contactor is connected to the bobbin of the LVDT and is used to detect horizontal displacement. The other contact is connected to the core of the LVDT and is used to detect vertical displacement.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and is a displacement detector capable of measuring displacements in a plurality of directions, having a simple configuration, and capable of highly accurate measurement.
  • the purpose is to provide.
  • the displacement detector according to the first aspect of the present invention is provided on the detector main body, a stylus having a contactor in contact with the surface to be measured of the object to be measured, and the detector main body.
  • a stylus holding portion that oscillates the stylus with surfaces including the first and second directions orthogonal to each other as oscillating surfaces, and a stylus holding portion provided on the detector body, which accompanies contact between the contactor and the surface to be measured.
  • the stylus has a first one end portion and a first other end portion, and the first one end portion is held by the stylus holding portion, and is provided from the first one end portion.
  • It has a first arm extending in the first direction toward the first other end, a second one end, and a second other end, and the second end is connected to the first other end and the second end. It has a second arm extending in a second direction from the portion toward the second other end portion and having a contactor provided at the second other end portion.
  • the stylus can swing the surface including the first direction and the second direction
  • the contactor can be displaced in two directions, the first direction and the second direction.
  • the displacement in two directions can be measured by only one displacement detection unit, so that the configuration of the displacement detector can be simplified.
  • the manufacturing cost of the displacement detector can be reduced.
  • the displacement detector since the displacement detector has only one swing center as the movable portion, it is possible to reduce the occurrence of an error due to the movable portion and realize highly accurate measurement.
  • the stylus is swingably supported around a rotation axis orthogonal to the swing plane via the stylus holding portion.
  • the displacement detector is provided with a measuring force applying unit that applies a force for urging the contactor in the direction toward the surface to be measured.
  • the measuring force applying unit include a spring and a counterweight.
  • the stylus holding portion is swingably attached to the detector body via an elastic body.
  • the elastic body include a spring.
  • the measuring force applying unit can be omitted from the displacement detector.
  • the contactor direction has a component in the first direction and a component in the second direction.
  • both the component in the first direction and the component in the second direction are 50% or more of the total components in the contact direction in a state where the contactor does not contact the surface to be measured. More preferably, both the component in the first direction and the component in the second direction are 60% or more of the total components in the contact direction in a state where the contact is not in contact with the surface to be measured. Even more preferably, when the contactor is displaced, the displacement detection unit can detect the displacement in the first direction and the displacement in the second direction as the displacement of the contactor. By keeping the component in the first direction and the component in the second direction within an appropriate range, it is possible to prevent a large difference in sensitivity depending on the measurement direction.
  • the displacement detection unit has calibration values in each of the first direction and the second direction. Since the calibration value is set for each of the two measurement directions, the displacement detector can measure with high accuracy in either measurement direction.
  • the displacement detection unit includes a differential transformer having a core and a plurality of coils, and the stylus holding unit is opposite to the side supporting the stylus when viewed from the swing center. Support the core at the side edge.
  • the surface property measuring machine holds the displacement detector and the displacement detector according to the first aspect, and is a measurement object in the horizontal direction and in the vertical direction orthogonal to the horizontal direction. It is provided with a moving mechanism for moving the displacement detector relative to the relative. By adopting the displacement detector according to the first aspect, it is possible to simplify the configuration of the surface texture measuring machine.
  • the surface texture measuring machine detects the measuring direction of the displacement detector based on the moving direction of the moving mechanism when the contactor of the displacement detector comes into contact with the object to be measured at the start of measurement. Further provided with a control unit. By automatically detecting the measurement direction, the efficiency of measurement can be improved.
  • the control unit detects the moving direction of the displacement detector based on the signal that controls the driving of the moving mechanism.
  • the roundness measuring machine includes a displacement detector according to the first aspect and a rotating stage for rotating a measurement object around a stage rotation axis parallel to the vertical direction.
  • the roundness measuring machine holds the displacement detector and is displaced relative to the object to be measured in the horizontal direction and the vertical direction orthogonal to the horizontal direction. It further includes a moving mechanism for moving the detector and a control unit for detecting the measurement direction of the displacement detector based on the moving direction of the moving mechanism when the contactor of the displacement detector comes into contact with the object to be measured at the start of measurement. By automatically detecting the measurement direction, the efficiency of measurement can be improved.
  • the control unit detects the moving direction of the displacement detector based on the signal that controls the driving of the moving mechanism.
  • a displacement detector having a simple configuration, which is a displacement detector capable of measuring displacements in a plurality of directions with high accuracy.
  • the figure which shows an example of the structure of the surface texture measuring machine (roundness measuring machine) which concerns on 1st Embodiment The figure which shows an example of the posture of the displacement detector when measuring the displacement in the horizontal direction.
  • Graph showing the relationship between the tilt angle of the stylus and the gain of the displacement detector Flow chart showing the procedure of measurement using a surface texture measuring machine (roundness measuring machine)
  • the figure which shows an example of the structure of the displacement detector which concerns on 2nd Embodiment The figure which shows an example of the structure of the displacement detector which concerns on 3rd Embodiment
  • FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a surface texture measuring machine (roundness measuring machine) according to the first embodiment.
  • the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction are orthogonal to each other, the X-axis direction is the horizontal direction, the Y-axis direction is the horizontal direction orthogonal to the X-axis direction, and the Z-axis direction is the vertical direction (vertical).
  • the surface texture measuring machine 10 includes a horizontal movement mechanism 12, a vertical movement mechanism 14, a rotary table 16, a displacement detector 20, and a control unit 50.
  • the horizontal movement mechanism 12 is extended in the horizontal direction (X-axis direction in FIG. 1). One end of the horizontal movement mechanism 12 holds the displacement detector 20 detachably, and the other end of the horizontal movement mechanism 12 is held by the vertical movement mechanism 14. The horizontal movement mechanism 12 is moved in the horizontal direction by driving a motor (not shown).
  • the vertical movement mechanism 14 is installed vertically on the main body base (not shown).
  • the horizontal movement mechanism 12 is moved in the vertical direction along the vertical movement mechanism 14 by driving a motor (not shown) of the vertical movement mechanism 14.
  • the horizontal and vertical positions of the displacement detector 20 are adjusted by the movement of the horizontal movement mechanism 12.
  • the rotary table 16 is provided on the main body base. It is possible to finely feed the rotary table 16 in the X-axis direction and the Y-axis direction by using the X-axis direction fine movement knob (not shown) and the Y-axis direction fine movement knob (not shown). Further, the inclination of the rotary table 16 in the X-axis direction and the Y-axis direction is adjusted by the X-axis direction inclination knob (not shown) and the Y-axis direction inclination knob (not shown).
  • the rotation stage 14 is rotated about a rotation axis parallel to the Z-axis direction by a motor (not shown) provided on the main body base.
  • a work W to be measured is placed on the upper surface of the rotary table 16.
  • the rotation axis of the rotary table 16 is parallel to the Z-axis direction.
  • the work W is placed so that its central axis coincides with the rotation axis of the rotary table 16.
  • the work W placed on the rotary table 16 is rotated around the rotary axis together with the rotary table 16.
  • the control unit 50 includes a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), an input / output interface, and the like (not shown).
  • various programs such as a control program stored in the ROM are expanded in the RAM, and the programs expanded in the RAM are executed by the CPU, so that various arithmetic processes and controls are performed via the input / output interface. The process is executed.
  • control unit 50 Although one control unit 50 is shown in FIG. 1, one control unit 50 may be divided into a plurality of control units for each function. Further, the position of the control unit 50 can be arbitrarily determined.
  • the control unit 50 comprehensively controls the horizontal movement mechanism 12, the vertical movement mechanism 14, the rotary table 16, and the displacement detector 20 according to various programs such as a control program.
  • the control unit 50 drives the horizontal movement mechanism 12, the vertical movement mechanism 14, and the rotary table 16 based on a user's instruction input via an input / output interface (not shown).
  • the control unit 50 calibrates the displacement detector 20.
  • the control unit 50 detects the measurement direction of the displacement detector 20 based on the drive directions of the horizontal movement mechanism 12 and the vertical movement mechanism 14 at the start of measurement. The various processes performed by the control unit 50 will be described in detail later.
  • the displacement detector 20 includes a detector body 30 and a stylus 40.
  • the detector main body 30 includes a displacement detecting unit 31, a measuring force applying unit 32, and a stylus holding unit 33.
  • the LVDT will be described as an example of the displacement detection unit 31.
  • the displacement detection unit 31 has a bobbin having a plurality of coils and a core.
  • the bobbin is fixed to a fixed portion, for example, the detector body 30.
  • One end of the core is connected to the stylus holding portion 33 and the other end is a free end. Since the configuration of the LVDT is known, detailed description thereof will be omitted.
  • the stylus holding unit 33 is connected to the core of the displacement detecting unit 31.
  • the other end of the stylus holding portion 33 holds the stylus 40 swingably (or rotatably).
  • the stylus holding portion 33 has a bearing 34 at the other end, and holds the stylus 40 swingably with the bearing 34 as a rotation axis (swing center).
  • the bearing 34 is, for example, various bearings.
  • the stylus 40 is held swingably around a rotation axis parallel to the Y-axis direction.
  • the displacement detection unit 31 detects the displacement amount and the displacement direction of the contact 44 by detecting the displacement amount and the displacement direction of the core position.
  • the measuring force applying mechanism 32 applies a measuring force that acts (urges) the contact 44 toward the measuring surface to the stylus 40.
  • the measuring force applying mechanism 32 has, for example, an elastic body.
  • an elastic body will be described as a coil spring as an example.
  • the coil spring may be a tension spring (pull spring) or a compression spring.
  • One end of the coil spring of the measuring force applying mechanism 32 is connected to the stylus holding portion 33, and the other end of the coil spring is fixed to a fixed portion, for example, the detector main body 30.
  • control unit 50 can automatically detect the direction (measurement direction) in which the displacement is measured by the displacement detector 20. The detection of the measurement direction will be described in detail later.
  • the stylus 40 includes a stylus arm 42 and a contactor 44.
  • the stylus arm 42 is, for example, substantially L-shaped, and includes a horizontal arm portion 45 extending in the X-axis direction and a vertical arm portion 46 extending in the Z-axis direction.
  • the base end of the horizontal arm portion 45 is held by the stylus holding portion 33 of the displacement detector 20, and the tip of the horizontal arm portion 45 coincides with the base end of the vertical arm portion 46.
  • the vertical arm portion 46 extends downward in the vertical direction from the tip of the horizontal arm portion 45, and a contactor 44 is provided at the tip of the vertical arm portion 46.
  • the contactor 44 comes into contact with the measurement surface of the work W, and the position of the contactor 44 is displaced according to the displacement of the measurement surface.
  • the shape and material of the contactor 44 are not particularly limited, and examples of the shape of the contactor 44 include a spherical shape, a hemispherical shape, a cylindrical shape, a disk shape, an ax shape, a conical shape, and a polygonal pyramid shape. Examples of the material of the contactor 44 include ruby, zirconia, ceramic and the like.
  • the line connecting the center of the contactor 44 and the swing center of the stylus 40 (the center of the bearing 34) (line L shown by a single point chain line in FIG. 1) is an angle (inclination angle of the stylus 40) ⁇ with respect to the vertical line.
  • the angle ⁇ is not particularly limited, but preferably the angle ⁇ is 30 ° to 60 °, more preferably the angle ⁇ is 38 ° to 52 °, and even more preferably the angle ⁇ is approximately 45 °. is there.
  • FIG. 1 shows a case where the angle ⁇ is 45 ° as an example. The angle ⁇ will be described in detail later.
  • the posture of the displacement detector 20 when measuring the displacement in the horizontal direction (X-axis direction) and the vertical direction (Z-axis direction) using the surface texture measuring machine 10 will be described with reference to FIGS. 2 to 4. .
  • the hollow cylindrical work W will be described, but the purpose is not to limit the shape of the work W. 2 to 4 show the postures of the displacement detector 20 when measuring the roundness of the outer peripheral side surface, the flatness of the upper surface, and the roundness of the inner peripheral side surface, respectively.
  • the stylus arm 42 can swing about the rotation axis parallel to the Y-axis direction by the bearing 34, so that the contact 44 swings on the XX plane. That is, the contactor 44 can be displaced in the X-axis direction and the Z-axis direction. Therefore, when measuring the displacement in the horizontal direction to measure the roundness of the outer peripheral side surface of the work W (FIG. 2), and when measuring the displacement in the horizontal direction to measure the flatness of the upper surface of the work W. With (FIG. 3), it is not necessary to change the posture of the displacement detector 20.
  • the shape of the stylus arm 42 is also devised in order to reduce the trouble of changing the posture of the displacement detector 20. That is, since the stylus arm 42 is substantially L-shaped, the contactor 44 is not on the extension lines of the detector main body 30 in the X-axis direction and the Z-axis direction. Since there is no possibility that the detector main body 30 interferes with the work W, it is not necessary to change the posture of the displacement detector 20 even when measuring the roundness of the inner peripheral side surface of the work W (FIG. 4). This makes it possible to prevent a decrease in work efficiency due to a change in posture.
  • the displacement detector 20 of the present embodiment uses a stylus 40 that is swingable (rotatable) about the Y-axis direction, the direction in which the contact 44 detected by the displacement detector 20 is displaced is , The direction is tangential to the arc centered on the rotation axis of the stylus 40. That is, the displacement of the contactor 44 includes an X-axis direction component and a Z-axis direction component. Therefore, the control unit 50 calculates the displacement amount (displacement amount in the X-axis direction or the displacement amount in the Z-axis direction) corresponding to the measurement direction based on the displacement amount of the contactor 44 and the angle ⁇ .
  • the angle formed by the line connecting the center of the contact 44 and the rotation axis of the stylus 40 (line L indicated by the alternate long and short dash line in FIG. 1) and the vertical line is ⁇ .
  • the contactor 44 swings so as to draw a minute arc, and the amount of change (angle change amount) of this angle ⁇ caused by the swing of the contactor 44 is defined as d ⁇ .
  • the minute arc-shaped displacement of the contact 44 is a line segment perpendicular to the line connecting the center of the contact 44 and the rotation axis of the swing (that is, the arc). It can be approximated to a line segment in the tangential direction).
  • the control unit 50 uses a triangular function to move the contact 44 on the XX plane.
  • the amount of displacement can be decomposed into the amount of displacement in the horizontal direction (X-axis direction) and the amount of displacement in the vertical direction (Z-axis direction). More specifically, assuming that the length of the line segment in the tangential direction of the arc drawn by the contact 44 by swinging is D, the displacement amount in the X-axis direction is D ⁇ cos ⁇ , and the displacement amount in the Z-axis direction is D. ⁇ It can be calculated by sin ⁇ .
  • the control unit 50 outputs the result of multiplying the displacement amount of the contactor 44 by cos ⁇ when measuring the displacement in the horizontal direction as a measurement result, and outputs the displacement amount of the contactor 44 when measuring the displacement in the vertical direction. Is multiplied by sin ⁇ and the result is output as the measurement result.
  • the displacement detector 20 having one LVDT As described above, according to the present embodiment, it is possible to measure the displacement in two directions by using the displacement detector 20 having one LVDT. As a result, it is possible to realize simplification of the structure, reduction of manufacturing cost, and miniaturization of the device.
  • the displacement detector 20 has only the bearing 34 as a movable part, and the number of movable parts is small (the degree of freedom of movement is 1). As a result, it is possible to reduce the occurrence of an error caused by the movable portion. Further, since the displacement detector 20 of the present embodiment has only one contactor, the degree of freedom of the posture of the displacement detector 20 and each direction are different from those of the invention of Patent Document 1 provided with two contacts. It is possible to improve the measurement accuracy of the displacement of.
  • FIG. 5 is a graph showing the relationship between the angle ⁇ and the gain of the displacement detector 20, where the horizontal axis represents the angle ⁇ (unit: °) and the vertical axis represents the magnitude of the gain.
  • the dotted line shows the gain in the X-axis direction
  • the solid line shows the gain in the Z-axis direction.
  • the gain corresponds to the displacement amount of the contactor 44, and in the graph of FIG. 5, the gain is shown as a relative value with 1 as the maximum value.
  • the ratio of the component in the X-axis direction to the ratio of the component in the Z-axis direction is in the range of about 1: 0.58 to 1: 1.73, and the angle ⁇ . Is in the range of 30 ° to 60 °.
  • the size of the angle ⁇ is determined so that the gain in the direction in which the measurement sensitivity becomes disadvantageous is about 60% or more of the maximum sensitivity (when the angle ⁇ is 0 (zero) °).
  • the ratio of the component in the X-axis direction to the ratio of the component in the Z-axis direction is in the range of about 1: 0.75 to 1: 1.33, and the angle ⁇ . Ranges from about 38 ° to 52 °.
  • the calibration of the displacement detector 20 will be described. For example, calibration is performed before shipment of the surface texture measuring machine 10. Even after shipment, calibration may be performed as necessary and the calibration value may be updated. In the present embodiment, since the displacement detector 20 measures the displacement in two directions using one LVDT, calibration is performed in each of the two measurement directions.
  • data showing the correlation between the actual displacement amount (known) and the signal amount obtained by the displacement detection unit 31 is acquired in each of the X-axis direction and the Z-axis direction.
  • Examples of the data showing the correlation include a calibration value table and a calibration curve.
  • a gain at which a good signal amount can be obtained is determined as a calibration value based on the data showing this correlation.
  • the calibration value used when measuring the inner peripheral side surface may be further determined.
  • the determined calibration value is stored in, for example, a memory (not shown) provided in the control unit 50.
  • the type of memory is not particularly limited, but for example, the memory is ROM or RAM.
  • the displacement detector 20 of the present embodiment can measure with high accuracy in any measurement direction.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the measurement procedure.
  • the control unit 50 moves the displacement detector 20 by using the horizontal movement mechanism 12 and the vertical movement mechanism 14, and brings the contact 44 into contact with the measurement surface of the work W (step S10).
  • control unit 50 automatically detects the measurement direction based on the drive directions of the horizontal movement mechanism 12 and the vertical movement mechanism 14 (step S12).
  • automatic detection of the measurement direction in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4.
  • a hollow cylindrical work W will be described as an example, but the purpose is not to limit the shape of the work W.
  • the control unit 50 drives the horizontal movement mechanism 12 in the negative direction of the X-axis (horizontally toward the left side in FIG. 2).
  • the contactor 44 is brought into contact with the outer peripheral side surface of the work W on the rotary table 16.
  • the displacement detection unit 31 detects the displacement of the contactor 44.
  • the control unit 50 measures the displacement (outer diameter) in the X-axis direction. Detect automatically. In the state shown in FIG. 2, when the straightness of the outer peripheral side surface is measured while moving the vertical movement mechanism 14 in the Z-axis direction, the measurement direction can be detected in the same manner.
  • the control unit 50 drives the vertical movement mechanism 14 in the negative direction of the Z axis (vertically downward in FIG. 2).
  • the contactor 44 is brought into contact with the upper surface of the work W on the rotary table 16.
  • the displacement detection unit 31 detects the displacement of the contactor 44.
  • the control unit 50 automatically detects that the displacement in the Z axis direction is measured. To do.
  • the straightness of the upper surface is measured while moving the horizontal movement mechanism 12 in the X-axis direction in the state shown in FIG. 3, the measurement direction can be detected in the same manner.
  • the control unit 50 drives the horizontal movement mechanism 12 in the positive direction of the X-axis (horizontally toward the right side in FIG. 4).
  • the contactor 44 is brought into contact with the inner side surface of the work W on the rotary table 16.
  • the displacement detection unit 31 detects the displacement of the contactor 44. Based on the fact that the displacement of the contact 44 is detected when the horizontal movement mechanism 12 is driven in the positive direction of the X-axis, the displacement detection unit 31 measures the displacement (inner diameter direction) in the X-axis direction. Is automatically detected.
  • the measurement direction can be detected in the same manner.
  • the measurement direction is automatically set based on which direction the horizontal movement mechanism 12 or the vertical movement mechanism 14 is driven at the start of measurement when the contactor 44 comes into contact with the work W. Can be detected. Thereby, the efficiency of measurement can be improved.
  • the control unit 50 reads out the calibration value according to the detected measurement direction from the memory and sets it (step S14), and measures the displacement of the contact 44 (step S16).
  • the displacement detection unit 31 when measuring the roundness of the outer peripheral side surface of the columnar work W, the displacement detection unit 31 measures the displacement of the contact 44 while rotating the rotary table 16 (and the work W) in the state shown in FIG. .. Further, for example, when measuring the straightness of the outer peripheral side surface of the work W, the displacement detection unit 31 drives the vertical movement mechanism 14 to move the detector main body 30 in the Z-axis direction in the state shown in FIG. Measure the displacement of 44.
  • the displacement of the contact 44 is measured by the displacement detection unit 31 while rotating the rotary table 16 (and the work W) in the state shown in FIG. Further, for example, when measuring the straightness of the upper surface of the work W, the displacement detection unit 31 drives the horizontal movement mechanism 12 to move the detector main body 30 in the X-axis direction in the state shown in FIG. Measure the displacement of.
  • the displacement detection unit 31 moves the contact 44 while rotating the rotary table 16 (and the work W) in the state shown in FIG. Measure the displacement.
  • the vertical movement mechanism 14 is driven in the state shown in FIG. 4 to move the detector main body 30 in the Z-axis direction while contacting with the displacement detection unit 31. The displacement of the child 44 is measured.
  • the displacement amount of the contactor 44 includes the X-axis direction component and the Z-axis direction component. Therefore, the control unit 50 uses the displacement amount of the contactor 44 measured by the displacement detection unit 31 as the displacement amount in the measurement direction. The calculation is performed to convert to, and the calculation result is output as the measurement result (step S18). Specifically, when measuring the displacement in the X-axis direction (horizontal direction), the control unit 50 calculates the displacement amount in the X-axis direction by multiplying the displacement amount of the contactor 44 by cos ⁇ . The result is output as a measurement result.
  • control unit 50 calculates the displacement amount in the Z-axis direction by multiplying the displacement amount of the contactor 44 by sin ⁇ , and measures the calculated result. Output as a result.
  • step S18 when measuring in another direction (step S20: Yes), the process returns to step S10.
  • step S20 when changing the measurement direction, it is not necessary to change the posture of the displacement detector 20 in this embodiment, so that the measurement can be performed efficiently. If the measurement is not performed in the other direction (step S20: No), the measurement is terminated.
  • the stylus 40 capable of swinging on the XX plane with the bearing 34 as the swing center is used. Since the line connecting the center of the contactor 44 and the rotation axis of the stylus 40 forms a predetermined angle ⁇ with respect to the vertical line, the direction from the swing center of the stylus 40 toward the contactor 44 (contactor direction) is Includes an X-axis direction component and a Z-axis direction component. Since the contactor 44 is displaced in a direction perpendicular to the direction from the rotation axis of the swing toward the contactor 44, the displacement of the contactor 44 also includes an X-axis direction component and a Z-axis direction component. Therefore, it is possible to measure the displacement in the X-axis direction and the Z-axis direction with the displacement detector 20 including one LVDT.
  • the configuration of the displacement detector is different from that of the first embodiment.
  • the displacement detector includes an elastic body instead of the bearing 34. Since the overall configuration of the surface texture measuring machine according to the second embodiment is basically the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • FIG. 7 shows the configuration of the displacement detector 60 according to the second embodiment.
  • the displacement detector 60 includes a leaf spring 61 as an example of an elastic body. As shown in FIG. 7, one end of the leaf spring 61 is held by the spring holding member 62, and the spring holding member 62 is fixed to a fixing portion, for example, the detector main body 30. The other end of the leaf spring 61 is held by the spring holding member 63, and the spring holding member 63 is connected to the stylus holding portion 33.
  • the immovable part of the configuration of the displacement detector 60 is shaded (shaded) so that it can be distinguished from the moving part.
  • the stylus 40 is configured to swing around the substantially center of the leaf spring 61 (the center of the portion not held by the spring holding members 62 and 63) (the center of swing).
  • the displacement is transmitted to the core of the displacement detection unit 31 via the stylus arm 42 and the stylus holding unit 33, and the displacement detection unit 31 detects this displacement. To do.
  • the spring holding member 63 is movable, but the spring holding member 62 is immovable. Therefore, as a result of the displacement of the position of the contactor 44, when the leaf spring 61 is displaced (deformed) from the neutral point, a reaction force is generated by the leaf spring 61. Since the direction in which this reaction force acts is opposite to the direction in which the contactor 44 is displaced, the reaction force acts to press the contactor 44 against the measurement surface. Since this reaction force plays the role of the measuring force by the measuring force applying mechanism 32 in the first embodiment, the measuring force applying mechanism 32 can be eliminated in the second embodiment. This makes it possible to further simplify the configuration of the displacement detector 60.
  • the displacement detector includes an elastic body instead of the bearing 34. Since the overall configuration of the surface texture measuring machine according to the third embodiment is basically the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • FIG. 8 shows the configuration of the displacement detector 70 according to the third embodiment.
  • the displacement detector 70 includes a cross spring 71 as an example of an elastic body. As shown in FIG. 8, two of the four ends of the cross spring 71 are held by the spring holding member 72, and the spring holding member 72 is fixed to a fixing portion, for example, the detector main body 30. The remaining two ends of the four ends of the cross spring 71 are held by the spring holding member 73, and the spring holding member 73 is connected to the stylus holding portion 33.
  • the immovable part of the configuration of the displacement detector 70 is shaded (shaded) so that it can be distinguished from the moving part.
  • the stylus 40 is configured to be swingable with the center of the cross spring 71 (intersection of the cross) as the center (center of swing).
  • the displacement is transmitted to the core of the displacement detection unit 31 via the stylus arm 42 and the stylus holding unit 33, so that the displacement detection unit 31 can detect the displacement. it can.
  • the spring holding member 73 is movable, but the spring holding member 72 is immovable.
  • a reaction force is generated by the cross spring 71. Similar to the second embodiment, in the third embodiment, since this reaction force plays the role of the measuring force by the measuring force applying mechanism 32 in the first embodiment, the measuring force applying mechanism 32 can be eliminated.
  • the displacement detector includes a counterweight instead of the measuring force applying mechanism 32. Since the overall configuration of the surface texture measuring machine according to the fourth embodiment is basically the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • FIG. 9 shows the configuration of the displacement detector 80 according to the fourth embodiment.
  • the displacement detector 80 includes a counterweight 81 on the side opposite to the stylus 40 when viewed from the bearing 34.
  • the counterweight 81 swings in the direction opposite to the swing direction of the stylus 40.
  • the number of movable parts of the displacement detectors 20, 60, 70 and 80 is small (because the degree of freedom of movement is low), it is possible to reduce the occurrence of errors due to the movable parts. Moreover, since the calibration value is set for each measurement direction, it is possible to measure with high accuracy in any measurement direction.
  • the measurement direction can be automatically detected based on the movement direction of the drive mechanism (horizontal movement mechanism 12 and vertical movement mechanism 14) at the start of measurement, the measurement efficiency can be improved.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

複数の方向の変位を測定可能であって、単純な構成を有し、且つ、高精度な測定が可能な変位検出器、表面性状測定機及び真円度測定機を提供する。変位測定器(20)は、検出器本体(30)と、測定対象物(W)の被測定面に接触する接触(44)を有する略L字形のスタイラス(40)と、検出器本体(30)に設けられ、互いに直交する第1方向及び第2方向を含む面を揺動面としてスタイラス(40)を揺動可能に保持するスタイラス保持部(33)と、検出器本体(30)に設けられ、接触子(44)と被測定面との接触に伴う接触子(44)の変位を検出する変位検出部と、を備える。

Description

変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
 本発明は変位検出器に係り、特に2方向の測定が可能な変位検出器に関する。
 従来より、真円度測定及び平面度測定等において、接触子を測定対象物に接触させた状態で接触子と測定対象物とを相対的に移動させ、その際の接触子の変位を検出する変位検出器が用いられている。通常、1方向のみを測定可能な変位検出器では測定方向に合わせて変位検出器の姿勢を変更することが必要となる。
 しかしながら、このような姿勢変更は煩雑であり、作業効率を低下させる原因となっている。そこで、姿勢変更を不要とする変位検出器として、従来から、複数の方向を測定可能な変位検出器が提案されている。
 例えば、特許文献1には、2方向を測定可能な変位検出器であって、差動変圧器(LVDT:Linear Variable differential Transformer)を1つのみ有する変位検出器が記載されている。特許文献1に記載された変位検出器は2つの接触子を有する。一方の接触子はLVDTのボビンに接続されており、水平方向の変位を検出するために用いられる。他方の接触子はLVDTのコアに接続されており、上下方向の変位を検出するために用いられる。
国際公開第2007/097135号
 しかし、特許文献1に記載の変位検出器は2つの接触子を有するために、測定時の変位検出器の姿勢が制限される(姿勢の自由度が低くなる)という問題がある。また、変位検出器の構成が複雑になるという問題もある。更に、一方の接触子で測定している際に、2つの接触子のアームを接続する軸を介して他方の接触子が動くことを考慮する必要があるなどの改良の余地がある。
 本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、複数の方向の変位を測定可能な変位検出器であって、単純な構成を有し、且つ、高精度な測定が可能な変位検出器を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本発明の第1の態様に係わる変位検出器は、検出器本体と、測定対象物の被測定面に接触する接触子を有するスタイラスと、検出器本体に設けられ、互いに直交する第1方向及び第2方向を含む面を揺動面としてスタイラスを揺動可能に保持するスタイラス保持部と、検出器本体に設けられ、接触子と被測定面との接触に伴う接触子の変位を検出する変位検出部と、を備え、スタイラスは、第1一端部と第1他端部とを有し、第1一端部がスタイラス保持部に保持され、第1一端部から第1他端部に向かって第1方向に延びる第1アームと、第2一端部と第2他端部とを有し、第2一端部が第1他端部に接続され、第2一端部から第2他端部に向かって第2方向に延び、第2他端部に接触子が設けられた第2アームと、を有する。
 上記の変位検出器において、スタイラスは第1方向及び第2方向を含む面を揺動可能であるため、接触子は第1方向及び第2方向の2方向に変位可能である。これにより1つの変位検出部のみで2方向の変位を測定できるため、変位検出器の構成の単純化を実現することができる。ひいては、変位検出器の製造コストを低減することが可能となる。また、変位検出器は可動部として揺動中心を1つ有するだけであるため、可動部に起因する誤差の発生を低減し、高精度な測定を実現することが可能となる。
 ここで、好ましくは、スタイラスはスタイラス保持部を介して揺動面に直交する回転軸を中心に揺動可能に軸支される。この場合、変位検出器は接触子を被測定面に向かう方向に付勢する力を付与する測定力付与部を備えることが望ましい。測定力付与部として、例えばバネ、カウンターウェイト等が挙げられる。
 あるいは、好ましくは、スタイラス保持部は検出器本体に弾性体を介して揺動可能に取り付けられる。弾性体として、例えばバネが挙げられる。この場合、変位検出器から測定力付与部を省くことができる。
 好ましくは、スタイラスの揺動中心から接触子に向かう方向を接触子方向とした場合、接触子方向は、第1方向の成分と第2方向の成分とを有する。
 好ましくは、接触子が被測定面に接触しない状態において、第1方向の成分と第2方向の成分との両方が、接触子方向の成分全体の50%以上である。より好ましくは、接触子が被測定面に接触しない状態において、第1方向の成分と第2方向の成分との両方が、接触子方向の成分全体の60%以上である。更により好ましくは、接触子が変位した場合、変位検出部は、接触子の変位として第1方向の変位と第2方向の変位とを検出可能である。第1方向の成分と第2方向の成分とを適切な範囲内にすることにより、測定方向によって感度に大きな差ができないようにすることができる。
 また、好ましくは、上記の変位検出器において、変位検出部は第1方向及び第2方向それぞれについて校正値を有する。2つの測定方向のそれぞれについて校正値を設定するため、変位検出器はいずれの測定方向でも高精度に測定することが可能である。
 また、好ましくは、上記の変位検出器において、変位検出部は、コアと複数のコイルと有する差動変圧器を備え、スタイラス保持部は、揺動中心から見てスタイラスを支持する側とは反対側の端部においてコアを支持する。
 本発明の第2の態様に係わる表面性状測定機は、第1の態様に係わる変位検出器と変位検出器を保持し、且つ、水平方向及び水平方向に対して直交する鉛直方向に測定対象物に対して相対的に変位検出器を移動させる移動機構と、を備える。第1の態様に係わる変位検出器を採用することにより、表面性状測定機の構成を単純化することが可能となる。
 好ましくは、第2の態様に係わる表面性状測定機は、測定開始時に変位検出器の接触子が測定対象物に接触した際の移動機構の移動方向に基づいて変位検出器の測定方向を検出する制御部を更に備える。測定方向を自動的に検出することにより、測定の効率を向上させることができる。ここで、好ましくは、制御部は移動機構の駆動を制御する信号に基づいて変位検出器の移動方向を検出する。
 本発明の第3の態様に係わる真円度測定機は、第1の態様に係わる変位検出器と、鉛直方向に対して平行なステージ回転軸周りに測定対象物を回転させる回転ステージを備える。第1の態様に係わる変位検出器を採用することにより、真円度測定機の構成を単純化することが可能となる。
 また、好ましくは、第3の態様に係わる真円度測定機は、変位検出器を保持し、且つ、水平方向及び水平方向に対して直交する鉛直方向に測定対象物に対して相対的に変位検出器を移動させる移動機構と、測定開始時に変位検出器の接触子が測定対象物に接触した際の移動機構の移動方向に基づいて変位検出器の測定方向を検出する制御部を更に備える。測定方向を自動的に検出することにより、測定の効率を向上させることができる。ここで、好ましくは、制御部は移動機構の駆動を制御する信号に基づいて変位検出器の移動方向を検出する。
 本発明によれば、複数の方向の変位を高精度に測定可能な変位検出器であって、単純な構成を有する変位検出器を実現することができる。
第1実施形態に係わる表面性状測定機(真円度測定機)の構成の一例を示す図 水平方向の変位を測定する際における変位検出器の姿勢の一例を示す図 上下方向の変位を測定する際における変位検出器の姿勢の一例を示す図 水平方向の変位を測定する際における変位検出器の姿勢の他の一例を示す図 スタイラスの傾斜角度と変位検出器のゲインとの関係を示すグラフ 表面性状測定機(真円度測定機)を用いた測定の手順を示すフローチャート 第2実施形態に係る変位検出器の構成の一例を示す図 第3実施形態に係る変位検出器の構成の一例を示す図 第4実施形態に係る変位検出器の構成の一例を示す図
 以下、添付図面に従って本発明の実施形態について説明する。
 <第1実施形態>
 図1は、第1実施形態に係る表面性状測定機(真円度測定機)の全体構成を示す図である。なお、X軸方向、Y軸方向、及びZ軸方向は互いに直交する方向であり、X軸方向は水平方向、Y軸方向はX軸方向に直交する水平方向、Z軸方向は上下方向(鉛直方向)である。図1に示すように、表面性状測定機10は、水平移動機構12、垂直移動機構14、回転テーブル16、変位検出器20及び制御部50を備える。
 水平移動機構12は水平方向(図1中のX軸方向)に延設される。水平移動機構12の一方端は変位検出器20を着脱可能に保持し、水平移動機構12の他方端は垂直移動機構14により保持される。水平移動機構12はモータ(不図示)の駆動により水平方向に移動される。
 垂直移動機構14は鉛直方向に本体ベース(不図示)上に立設される。水平移動機構12は垂直移動機構14のモータ(不図示)の駆動により、垂直移動機構14に沿って上下方向に移動される。水平移動機構12の移動により変位検出器20の水平方向及び上下方向の位置が調節される。
 回転テーブル16は本体ベース上に設けられる。X軸方向微動つまみ(不図示)及びY軸方向微動つまみ(不図示)によって回転テーブル16をX軸方向及びY軸方向に微動送りすることが可能である。また、X軸方向傾斜つまみ(不図示)及びY軸方向傾斜つまみ(不図示)によって回転テーブル16のX軸方向及びY軸方向の傾斜が調整される。本体ベースに設けられたモータ(不図示)により、回転ステージ14は、Z軸方向に平行な回転軸を中心に回転される。
 回転テーブル16の上面には測定対象物となるワークWが載置される。回転テーブル16の回転軸はZ軸方向と平行である。ワークWはその中心軸が回転テーブル16の回転軸と一致するように載置される。回転テーブル16に載置されたワークWは、回転テーブル16とともに回転軸を中心に回転される。
 制御部50は不図示のCPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、及び入出力インターフェース等を備える。制御部50では、ROMに記憶されている制御プログラム等の各種プログラムがRAMに展開され、RAMに展開されたプログラムがCPUによって実行されることにより、入出力インターフェースを介して各種の演算処理や制御処理が実行される。
 図1において1つの制御部50を示すが、1つの制御部50を機能ごとに複数の制御部に分けてもよい。また、制御部50の位置も任意に決めることが可能である。
 制御部50は、制御プログラム等の各種プログラムに従って、水平移動機構12、垂直移動機構14、回転テーブル16及び変位検出器20を統括的に制御する。例えば、不図示の入出力インターフェースを介して入力されたユーザの指示に基づいて、制御部50は水平移動機構12、垂直移動機構14及び回転テーブル16を駆動する。また、例えば、制御部50は変位検出器20を校正する。また、例えば、制御部50は測定開始時に水平移動機構12及び垂直移動機構14の駆動方向に基づいて変位検出器20の測定方向を検出する。制御部50が行う各種の処理について詳しくは後述する。
 変位検出器20は検出器本体30及びスタイラス40を備える。検出器本体30は変位検出部31、測定力付与部32、及びスタイラス保持部33を備える。本実施形態では変位検出部31の例としてLVDTについて説明する。
 変位検出部31は複数のコイルを有するボビンとコアとを有する。ボビンは固定部、例えば検出器本体30に固定されている。コアの一方端はスタイラス保持部33に接続され、他方端は自由端である。LVDTの構成は公知であるため、詳しい説明については省略する。
 スタイラス保持部33の一方端は変位検出部31のコアに接続される。スタイラス保持部33の他方端はスタイラス40を揺動可能(又は回動可能)に保持する。第1実施形態では、スタイラス保持部33は他方端に軸受34を有し、軸受34を回転軸(揺動中心)にしてスタイラス40を揺動可能に保持する。軸受34は、例えば各種のベアリングである。図1では、スタイラス40はY軸方向に平行な回転軸を中心に揺動可能に保持される。
 測定時にスタイラス40の先端にある接触子44の位置が変位すると、その変位はスタイラスアーム42及びスタイラス保持部33を介して変位検出部31のコアに伝えられ、コアの位置が変位する。変位検出部31はコアの位置の変位量及び変位の向きを検出することにより、接触子44の変位量及び変位の向きを検出する。
 測定力付与機構32は、接触子44を測定面に向かって押し付けるように作用する(付勢する)測定力をスタイラス40に付与する。測定力付与機構32は例えば弾性体を有する。本実施形態では、一例として弾性体をコイルバネとして説明する。コイルバネは引張りバネ(引きバネ)でもよいし、圧縮バネでもよい。測定力付与機構32のコイルバネの一方端はスタイラス保持部33に接続され、コイルバネの他方端は固定部、例えば検出器本体30に固定されている。
 また、本実施形態では、制御部50は、変位検出器20によって変位を測定する方向(測定方向)を自動的に検出することができる。測定方向の検出について詳しくは後述する。
 スタイラス40はスタイラスアーム42及び接触子44を備える。スタイラスアーム42は、例えば略L字形であり、X軸方向に延びる水平アーム部45とZ軸方向に延びる垂直アーム部46とを備える。水平アーム部45の基端は変位検出器20のスタイラス保持部33に保持され、水平アーム部45の先端は垂直アーム部46の基端に一致する。垂直アーム部46は水平アーム部45の先端から鉛直方向下向きに延び、垂直アーム部46の先端には接触子44が設けられる。
 測定時には、接触子44はワークWの測定面に接触し、測定面の変位に従って接触子44の位置が変位する。接触子44の形状及び材質は特に限定されないが、接触子44の形状の例として、球形、半球形、円筒形、円板形、斧形、円錐形、多角錐形等が挙げられる。接触子44の材質の例として、例えば、ルビー、ジルコニア、セラミック等が挙げられる。
 本実施形態では、接触子44は略L字形のスタイラスアーム42を介して変位検出器20に接続されるため、接触子44の位置は変位検出器20の直下ではない。接触子44の中心とスタイラス40の揺動の中心(軸受34の中心)とを結ぶ線(図1において一点鎖線で示す線L)は、鉛直線に対して角度(スタイラス40の傾斜角度)θを形成する。この角度θは特に限定されないが、好ましくは、角度θは30°から60°であり、より好ましくは、角度θは38°から52°であり、更により好ましくは、角度θは略45°である。図1では例として角度θが45°である場合を示す。角度θについて詳しくは後述する。
 以下、図2から図4を用いて、表面性状測定機10を用いて水平方向(X軸方向)及び上下方向(Z軸方向)の変位を測定する際の変位検出器20の姿勢について説明する。例として、中空円柱形のワークWについて説明するが、ワークWの形状を限定する趣旨ではない。図2から図4は、それぞれ、外周側面の真円度、上面の平面度、及び内周側面の真円度を測定する場合の変位検出器20の姿勢を示す。
 本実施形態ではスタイラスアーム42は軸受34によってY軸方向に平行な回転軸を中心に揺動可能であるため、接触子44はX-Z平面上を揺動する。つまり、接触子44はX軸方向及びZ軸方向に変位可能である。したがって、ワークWの外周側面の真円度を測定するために水平方向の変位を測定する場合(図2)と、ワークWの上面の平面度を測定するために水平方向の変位を測定する場合(図3)とで、変位検出器20の姿勢を変更する必要がない。
 更に、本実施形態では変位検出器20の姿勢変更の手間を低減するために、スタイラスアーム42の形状も工夫している。つまり、スタイラスアーム42は略L字形であるため、接触子44は検出器本体30のX軸方向及びZ軸方向の延長線上にはない。検出器本体30がワークWと干渉する恐れがないため、ワークWの内周側面の真円度を測定する場合(図4)でも変位検出器20の姿勢を変更する必要がない。これにより、姿勢変更に伴う作業効率の低下を防ぐことが可能となる。
 本実施形態の変位検出器20は、Y軸方向を中心に揺動可能な(回動可能な)スタイラス40を用いているため、変位検出器20により検出される接触子44が変位する方向は、スタイラス40の回転軸を中心とする円弧に接する接線方向となる。つまり、接触子44の変位はX軸方向成分とZ軸方向成分とを含む。そこで、制御部50は、接触子44の変位量及び角度θに基づいて測定方向に対応する変位量(X軸方向の変位量又はZ軸方向の変位量)を算出する。
 以下、制御部50による変位量の算出について説明する。測定開始前において接触子44の中心とスタイラス40の回転軸とを結ぶ線(図1において一点鎖線で示す線L)と、鉛直線とがなす角度をθとする。測定中に接触子44は微小な円弧を描くように揺動し、接触子44の揺動により生じるこの角度θの変化量(角度変化量)をdθとする。
 この角度変化量dθは十分に小さいため、接触子44の微小な円弧形の変位を、接触子44の中心と揺動の回転軸とを結ぶ線に対して垂直な線分(つまり円弧の接線方向の線分)に近似することができる。
 接触子44の揺動半径は接触子44の中心と揺動の回転軸との距離であり、既知であるから、制御部50は、三角関数を用いてX-Z平面上の接触子44の変位量を水平方向(X軸方向)の変位量と、垂直方向(Z軸方向)の変位量とに分解することが可能である。より具体的には、接触子44が揺動により描く円弧の接線方向の線分の長さをDとすると、X軸方向の変位量はD・cos θで、Z軸方向の変位量はD・sin θで算出可能である。
 制御部50は水平方向の変位を測定する場合には接触子44の変位量にcos θを乗算した結果を測定結果として出力し、上下方向の変位を測定する場合には接触子44の変位量にsin θを乗算した結果を測定結果として出力する。
 このように、本実施形態によれば、1つのLVDTを有する変位検出器20を用いて2方向の変位を測定することが可能である。これにより、構造の単純化、製造コスト削減、及び装置の小型化を実現することができる。
 また、変位検出器20が有する可動な部品は軸受34だけであり、可動部の数が少ない(運動自由度が1である)。これにより、可動部に起因する誤差の発生を低減することができる。また、本実施形態の変位検出器20は接触子を1つ有するだけであるため、接触子を2つ備える特許文献1の発明と比べて、変位検出器20の姿勢の自由度及び各方向での変位の測定精度を向上させることができる。
 以下、図5を用いてスタイラス40の傾斜角度θの望ましい大きさについて説明する。図5は角度θと変位検出器20のゲインとの関係を示すグラフであり、横軸が角度θ(単位:°)を示し、縦軸がゲインの大きさを示す。図5において、点線がX軸方向のゲインを示し、実線がZ軸方向のゲインを示す。ゲインは接触子44の変位量に対応し、図5のグラフではゲインは1を最大値とする相対値で示される。
 ゲイン全体の中でX軸方向の成分が占める割合とZ軸方向の成分が占める割合との間の差が大きい場合、測定方向によって測定感度の差が大きくなる。そこで、測定感度が不利になる方の方向のゲインが最大感度(角度θが0(ゼロ)°の場合)の2分の1以上となるようにθの大きさを決めることが望ましい。この場合、図5から分かるように、X軸方向の成分が占める割合とZ軸方向の成分が占める割合との比は約1:0.58から1:1.73までの範囲となり、角度θは30°から60°までの範囲となる。
 より好ましくは、測定感度が不利になる方の方向のゲインが最大感度(角度θが0(ゼロ)°の場合)の約60%以上となるように角度θの大きさを決めることである。この場合、図5から分かるように、X軸方向の成分が占める割合とZ軸方向の成分が占める割合との比は約1:0.75から1:1.33までの範囲となり、角度θは約38°から52°までの範囲となる。
 更により好ましくは、X軸方向とZ軸方向とで測定感度に差がないことである。図5ではX軸方向のゲインとZ軸方向のゲインとが交わる時の角度θに相当し、この時の角度θは略45°である。
 続いて、変位検出器20の校正について説明する。例えば、校正は表面性状測定機10の出荷前に行われる。出荷後も、必要に応じて適宜校正が行われ、校正値が更新されることにしてもよい。本実施形態では変位検出器20は1つのLVDTを用いて2方向の変位を測定するため、2つの測定方向のそれぞれについて校正を行う。
 まず、X軸方向及びZ軸方向のそれぞれについて、実際の変位量(既知)と変位検出部31で得られる信号量との相関関係を示すデータを取得する。相関関係を示すデータとして、例えば校正値テーブル及び校正カーブが挙げられる。続いて、それぞれの測定方向ついて、この相関関係を示すデータに基づいて良好な信号量が得られるゲインを校正値として決定する。
 ここで、ワークWが中空円柱形等の場合、内周側面(内周方向)を測定する際に用いる校正値を更に決定してもよい。決定された校正値は、例えば、制御部50に設けられた不図示のメモリに記憶される。メモリの種類は特に限定されないが、例えばメモリはROM又はRAMである。
 なお、LVDTの校正方法は従来と大きくは変わらないため、詳しい説明を省略する。2つの測定方向のそれぞれについて校正値を設定するため、本実施形態の変位検出器20はいずれの測定方向でも高精度に測定することが可能である。
 次に、図6を用いて本実施形態の表面性状測定機10を用いた測定手順について説明する。図6は測定の手順を示すフローチャートである。まず、制御部50は、水平移動機構12及び垂直移動機構14を用いて変位検出器20を移動させ、接触子44をワークWの測定面に接触させる(ステップS10)。
 続いて、水平移動機構12及び垂直移動機構14の駆動方向に基づいて制御部50は測定方向を自動的に検出する(ステップS12)。以下、図2から図4を用いて本実施形態での測定方向の自動検出について説明する。例として中空円柱形のワークWについて説明するが、ワークWの形状を限定する趣旨ではない。
 ワークWの外周側面の真円度を測定する場合、図2に示すように、制御部50は水平移動機構12をX軸の負の方向(図2では水平に左側に向かって)に駆動させ、回転テーブル16上のワークWの外周側面に接触子44を接触させる。接触子44がワークWに接触すると、変位検出部31は接触子44の変位を検出する。水平移動機構12をX軸の負の方向に駆動させた際に接触子44の変位を検出したことに基づいて、制御部50はX軸方向の変位(外径)の測定が行われることを自動的に検出する。なお、図2に示す状態で垂直移動機構14をZ軸方向に移動させながら外周側面の真直度を測定する場合も同様にして測定方向を検出可能である。
 ワークWの上面の平面度を測定する場合、図3に示すように、制御部50は垂直移動機構14をZ軸の負の方向(図2では垂直に下側に向かって)に駆動させ、回転テーブル16上のワークWの上面に接触子44を接触させる。接触子44がワークWに接触すると、変位検出部31は接触子44の変位を検出する。垂直移動機構14をZ軸の負の方向に駆動させた際に接触子44の変位を検出したことに基づいて、制御部50はZ軸方向の変位の測定が行われることを自動的に検出する。なお、図3に示す状態で水平移動機構12をX軸方向に移動させながら上面の真直度を測定する場合も同様にして測定方向を検出可能である。
 ワークWの内側側面の平面度を測定する場合、図4に示すように、制御部50は水平移動機構12をX軸の正の方向(図4では水平に右側に向かって)に駆動させ、回転テーブル16上のワークWの内側側面に接触子44を接触させる。接触子44がワークWに接触すると、変位検出部31は接触子44の変位を検出する。水平移動機構12をX軸の正の方向に駆動させた際に接触子44の変位を検出したことに基づいて、変位検出部31はX軸方向の変位(内径方向)の測定が行われることを自動的に検出する。なお、図4に示す状態で垂直移動機構14をZ軸方向に移動させながら内側側面の真直度を測定する場合も同様にして測定方向を検出可能である。
 このように、本実施形態では、測定開始時に水平移動機構12及び垂直移動機構14のどちらがどの方向に駆動された際に接触子44がワークWに接触したのかに基づいて、測定方向を自動的に検出することができる。これにより、測定の効率を向上させることができる。続いて、制御部50は検出された測定方向に応じた校正値をメモリから読みだして設定し(ステップS14)、接触子44の変位の測定を行う(ステップS16)。
 例えば、円柱状のワークWの外周側面の真円度を測定する場合、図2に示す状態で回転テーブル16(及びワークW)を回転させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。また、例えば、ワークWの外周側面の真直度を測定する場合、図2に示す状態で垂直移動機構14を駆動して検出器本体30をZ軸方向に移動させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。
 また、例えば、ワークWの上面の平面度を測定する場合、図3に示す状態で回転テーブル16(及びワークW)を回転させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。また、例えば、ワークWの上面の真直度を測定する場合、図3に示す状態で水平移動機構12を駆動して検出器本体30をX軸方向に移動させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。
 また、例えば、中空円柱状のワークWの内周側面の真円度を測定する場合、図4に示す状態で回転テーブル16(及びワークW)を回転させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。また、例えば、ワークWの内周側面の真直度を測定する場合、図4に示す状態で垂直移動機構14を駆動して検出器本体30をZ軸方向に移動させながら変位検出部31で接触子44の変位を測定する。
 本実施形態では接触子44の変位量はX軸方向成分とZ軸方向成分とを含むため、制御部50は変位検出部31によって測定された接触子44の変位量を、測定方向の変位量に変換する演算を行い、演算結果を測定結果として出力する(ステップS18)。具体的には、X軸方向(水平方向)の変位を測定する場合には、制御部50は接触子44の変位量にcos θを乗算してX軸方向の変位量を算出し、算出した結果を測定結果として出力する。一方、Z軸方向(上下方向)の変位を測定する場合には、制御部50は接触子44の変位量にsin θを乗算してZ軸方向の変位量を算出し、算出した結果を測定結果として出力する。
 ステップS18の後、他の方向についても測定を行う場合には(ステップS20:Yes)、ステップS10に戻る。上述のように、測定方向を変更する際、本実施形態では変位検出器20の姿勢を変更する必要がないため、測定を効率的に行うことができる。他の方向についても測定を行わない場合には(ステップS20:No)、測定を終了する。
 このように、本実施形態によれば、軸受34を揺動中心としてX-Z平面上を揺動可能なスタイラス40を用いる。接触子44の中心とスタイラス40の回転軸とを結ぶ線は、鉛直線に対して所定の角度θを形成するため、スタイラス40の揺動中心から接触子44に向かう方向(接触子方向)はX軸方向成分とZ軸方向成分とを含む。接触子44は、揺動の回転軸から接触子44に向かう方向に対して垂直な方向に変位するため、接触子44の変位もまたX軸方向成分とZ軸方向成分とを含む。よって、1つのLVDTを備える変位検出器20でX軸方向及びZ軸方向の変位を測定することが可能である。
 これにより、変位検出器20の構成を単純化し、製造コストを低減することが可能となる。また、本実施形態の変位検出器20では可動部の数が少ないため、誤差が発生しにくくなる。
 <第2実施形態>
 以下の第2実施形態では変位検出器の構成が第1実施形態と異なる。具体的には、第2実施形態では変位検出器は軸受34の代わりに弾性体を備える。第2実施形態に係る表面性状測定機の全体構成は基本的に第1実施形態と同じであるため、説明を省略する。図7は第2実施形態に係わる変位検出器60の構成を示す。
 図7では、変位検出器60は弾性体の一例として板バネ61を備える。図7に示すように、板バネ61の一方端はバネ保持部材62により保持されており、バネ保持部材62は固定部、例えば検出器本体30に固定されている。板バネ61の他方端はバネ保持部材63により保持されており、バネ保持部材63はスタイラス保持部33に接続される。
 図7では、可動部と区別できるように変位検出器60の構成のうち不動な部分はシェーディング(網掛け)されている。第2実施形態では、スタイラス40は板バネ61のほぼ中央(バネ保持部材62及び63によって保持されていない部分の中央)を中心(揺動の中心)として揺動可能に構成されている。測定時にスタイラス40の先端にある接触子44の位置が変位すると、その変位はスタイラスアーム42及びスタイラス保持部33を介して変位検出部31のコアに伝えられ、変位検出部31はこの変位を検出する。
 また、バネ保持部材63は可動であるが、バネ保持部材62は不動である。このため、接触子44の位置が変位した結果、板バネ61が中立点から変位する(変形する)と、板バネ61により反力が発生する。この反力の作用する方向は接触子44の変位の方向とは反対であるため、反力は接触子44を測定面に押し付けるように作用する。この反力が第1実施形態での測定力付与機構32による測定力の役割を果たすため、第2実施形態では測定力付与機構32を不要にすることができる。これにより、変位検出器60の構成を一層単純化することが可能となる。
 <第3実施形態>
 第2実施形態と同様に第3実施形態でも、変位検出器は軸受34の代わりに弾性体を備える。第3実施形態に係る表面性状測定機の全体構成は基本的に第1実施形態と同じであるため、説明を省略する。図8は第3実施形態に係わる変位検出器70の構成を示す。
 図8では、変位検出器70は弾性体の一例として十字バネ71を備える。図8に示すように、十字バネ71の4端のうちの2端はバネ保持部材72により保持されており、バネ保持部材72は固定部、例えば検出器本体30に固定されている。十字バネ71の4端のうちの残る2端端はバネ保持部材73により保持されており、バネ保持部材73はスタイラス保持部33に接続される。
 図8では、可動部と区別できるように変位検出器70の構成のうち不動な部分はシェーディング(網掛け)されている。第3実施形態では、スタイラス40は十字バネ71の中心(十字の交点)を中心(揺動の中心)として揺動可能に構成されている。測定時にスタイラス40の接触子44の位置が変位すると、その変位はスタイラスアーム42及びスタイラス保持部33を介して変位検出部31のコアに伝えられるため、変位検出部31は変位を検出することができる。
 また、バネ保持部材73は可動であるが、バネ保持部材72は不動である。接触子44の位置が変位した結果、十字バネ71が中立点から変位すると、十字バネ71により反力が発生する。第2実施形態と同様に、第3実施形態でもこの反力が第1実施形態での測定力付与機構32による測定力の役割を果たすため、測定力付与機構32を不要とすることができる。
 <第4実施形態>
 第4実施形態では、変位検出器は測定力付与機構32の代わりにカウンターウェイトを備える。第4実施形態に係る表面性状測定機の全体構成は基本的に第1実施形態と同じであるため、説明を省略する。図9は第4実施形態に係わる変位検出器80の構成を示す。
 図9に示すように、変位検出器80は軸受34から見てスタイラス40とは反対側にカウンターウェイト81を備える。例えば、スタイラス40が軸受34を中心に揺動すると、カウンターウェイト81はスタイラス40の揺動方向とは反対方向に揺動する。これにより、第1実施形態における測定力付与機構32を不要とすることができる。
 <効果>
 以上説明したように、各実施形態に係わる変位検出器20,60,70及び80は1つの変位検出部31のみを有するため、より単純な構成で2方向の変位を測定可能である。これにより、変位検出器20,60,70及び80の製造コストを低減することが可能となる。
 変位検出器20,60,70及び80が有する可動部の数が少ないため(運動自由度が低いため)、可動部に起因する誤差の発生を低減することが可能となる。また、測定方向それぞれについて校正値を設定するため、いずれの測定方向でも高精度に測定することが可能である。
 測定開始時の駆動機構(水平移動機構12及び垂直移動機構14)の移動方向に基づいて測定方向を自動的に検出することが可能であるため、測定効率を向上することができる。
 以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、以上の例には限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変形を行ってもよいのはもちろんである。
 10…表面性状測定機、12…水平移動機構、14…垂直移動機構、16…回転テーブル、20,60,70,80…変位検出器、30…検出器本体、31…変位検出部、32…測定力付与機構、33…スタイラス保持部、34…軸受、40…スタイラス、42…スタイラスアーム、44…接触子、45…水平アーム部、46…垂直アーム部、50…制御部、61…板バネ、62,63,72,73…バネ保持部材、71…十字バネ、W…ワーク

Claims (17)

  1.  検出器本体と、
     測定対象物の被測定面に接触する接触子を有するスタイラスと、
     前記検出器本体に設けられ、互いに直交する第1方向及び第2方向を含む面を揺動面として前記スタイラスを揺動可能に保持するスタイラス保持部と、
     前記検出器本体に設けられ、前記接触子と前記被測定面との接触に伴う前記接触子の変位を検出する変位検出部と、
     を備え、
     前記スタイラスは、
     第1一端部と第1他端部とを有し、前記第1一端部が前記スタイラス保持部に保持され、前記第1一端部から前記第1他端部に向かって前記第1方向に延びる第1アームと、
     第2一端部と第2他端部とを有し、前記第2一端部が前記第1他端部に接続され、前記第2一端部から前記第2他端部に向かって前記第2方向に延び、前記第2他端部に前記接触子が設けられた第2アームと、
     を有する、変位検出器。
  2.  前記スタイラスは、前記スタイラス保持部を介して前記揺動面に直交する回転軸を中心に揺動可能に軸支される、請求項1に記載の変位検出器。
  3.  前記接触子を前記被測定面に向かう方向に付勢する力を付与する測定力付与部を備える、請求項2に記載の変位検出器。
  4.  前記スタイラス保持部は前記検出器本体に弾性体を介して揺動可能に取り付けられる、請求項1に記載の変位検出器。
  5.  前記スタイラスの揺動中心から前記接触子に向かう方向を接触子方向とした場合、前記接触子方向は、前記第1方向の成分と前記第2方向の成分とを有する、請求項1から4のいずれか1項に記載の変位検出器。
  6.  前記接触子が前記被測定面に接触しない状態において、前記第1方向の成分と前記第2方向の成分との比は1:0.58から1:1.73までの範囲内にある、請求項5に記載の変位検出器。
  7.  前記接触子が前記被測定面に接触しない状態において、前記第1方向の成分と前記第2方向の成分との比は1:0.75から1:1.33までの範囲内にある、請求項5に記載の変位検出器。
  8.  前記接触子が前記被測定面に接触しない状態において、前記第1方向の成分と前記第2方向の成分とが等しい、請求項5に記載の変位検出器。
  9.  前記接触子が変位した場合、前記変位検出部は、前記接触子の変位として前記第1方向の変位と前記第2方向の変位とを検出可能である、請求項1から8のいずれか1項に記載の変位検出器。
  10.  前記変位検出部は前記第1方向及び前記第2方向それぞれについて校正値を有する、請求項1から9のいずれか1項に記載の変位検出器。
  11.  前記変位検出部は、コアと複数のコイルと有する差動変圧器を備え、
     前記スタイラス保持部は、揺動中心からみて前記スタイラスを支持する側とは反対側の端部において前記コアを支持する、
     請求項1から10のいずれか1項に記載の変位検出器。
  12.  請求項1から11のいずれか1項に記載の変位検出器と、
     前記変位検出器を保持し、且つ、水平方向及び前記水平方向に対して直交する鉛直方向に測定対象物に対して相対的に前記変位検出器を移動させる移動機構と、
     を備える表面性状測定機。
  13.  測定開始時に前記変位検出器の接触子が前記測定対象物に接触した際の前記移動機構の移動方向に基づいて前記変位検出器の測定方向を検出する制御部を更に備える、
     請求項12に記載の表面性状測定機。
  14.  前記制御部は、前記移動機構の駆動を制御する信号に基づいて前記変位検出器の測定方向を検出する、請求項13に記載の表面性状測定機。
  15.  請求項1から11のいずれか1項に記載の変位検出器と、
     鉛直方向に対して平行なステージ回転軸周りに測定対象物を回転させる回転ステージと、
     を備える真円度測定機。
  16.  前記変位検出器を保持し、且つ、水平方向及び前記水平方向に対して直交する鉛直方向に測定対象物に対して相対的に前記変位検出器を移動させる移動機構と、
     測定開始時に前記変位検出器の接触子が前記測定対象物に接触した際の前記移動機構の移動方向に基づいて前記変位検出器の測定方向を検出する制御部を更に備える、
     請求項15に記載の真円度測定機。
  17.  前記制御部は、前記移動機構の駆動を制御する信号に基づいて前記変位検出器の測定方向を検出する、請求項16に記載の真円度測定機。
PCT/JP2020/015305 2019-04-16 2020-04-03 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機 WO2020213432A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB2107595.7A GB2596225B (en) 2019-04-16 2020-04-03 Displacement detector, surface shape measuring apparatus, and roundness measuring apparatus
CN202211161378.0A CN115574691A (zh) 2019-04-16 2020-04-03 位移检测器、表面性状测定仪及真圆度测定仪
CN202080008208.1A CN113272619A (zh) 2019-04-16 2020-04-03 位移检测器、表面性状测定仪及真圆度测定仪
DE112020001949.7T DE112020001949T5 (de) 2019-04-16 2020-04-03 Verschiebungsdetektor, Oberflächenform-Messvorrichtung und Rundheitsmessvorrichtung
US17/336,794 US11435175B2 (en) 2019-04-16 2021-06-02 Displacement detector, surface shape measuring apparatus, and roundness measuring apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019077810A JP6788207B2 (ja) 2019-04-16 2019-04-16 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
JP2019-077810 2019-04-16

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US17/336,794 Continuation US11435175B2 (en) 2019-04-16 2021-06-02 Displacement detector, surface shape measuring apparatus, and roundness measuring apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020213432A1 true WO2020213432A1 (ja) 2020-10-22

Family

ID=72837779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/015305 WO2020213432A1 (ja) 2019-04-16 2020-04-03 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11435175B2 (ja)
JP (1) JP6788207B2 (ja)
CN (2) CN113272619A (ja)
DE (1) DE112020001949T5 (ja)
GB (1) GB2596225B (ja)
WO (1) WO2020213432A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11435175B2 (en) * 2019-04-16 2022-09-06 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Displacement detector, surface shape measuring apparatus, and roundness measuring apparatus

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101944080B1 (ko) * 2018-07-24 2019-01-30 황재은 형상측정기

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06273104A (ja) * 1993-03-17 1994-09-30 Mitsubishi Materials Corp 輪郭形状測定機
JPH07505958A (ja) * 1992-09-25 1995-06-29 カール−ツアイス−スチフツング ワークにおける座標測定法
WO2007097135A1 (ja) * 2006-02-22 2007-08-30 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. 変位検出器
JP2018163093A (ja) * 2017-03-27 2018-10-18 株式会社東京精密 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
JP2018173349A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 株式会社東京精密 表面形状測定機の校正装置

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2937431C2 (de) * 1979-09-15 1987-02-05 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Einrichtung zur Meßwerterfassung an Prüflingen
CH658126A5 (de) * 1983-03-07 1986-10-15 Maag Zahnraeder & Maschinen Ag Messgeraet und -verfahren zur teilungspruefung von zahnraedern.
DE3717666A1 (de) * 1987-05-26 1988-12-08 Hoefler Willy Verfahren und vorrichtung zur pruefung des flankenprofils der zahnflanken von zahnraedern
CA2082708C (en) * 1991-12-02 2004-01-13 James Edward Randolph Jr. Tool point compensation for hardware displacement and inclination
US5832416A (en) * 1995-09-01 1998-11-03 Brown & Sharpe Manufacturing Company Calibration system for coordinate measuring machine
US5758429A (en) * 1996-05-14 1998-06-02 Farzan; Farshad Translation and rotation coupled positioning method and apparatus
US20080202735A1 (en) 2005-07-19 2008-08-28 Peter Geskes Heat Exchanger
JP2008256462A (ja) * 2007-04-03 2008-10-23 Fanuc Ltd 形状データの画像表示方法
JP2008292199A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Mitsutoyo Corp 真円度測定装置、真円度測定方法、及び真円度測定プログラム
JP4291382B2 (ja) * 2007-07-31 2009-07-08 ファナック株式会社 接触検知による取り付け誤差の自動補正機能を有する工作機械
US8250772B2 (en) 2008-02-07 2012-08-28 Eaton Homer L Spatial measurement and robotic arm device
JP4532577B2 (ja) * 2008-05-23 2010-08-25 ファナック株式会社 数値制御装置と機上計測装置を有する工作機械
JP4653824B2 (ja) * 2008-07-29 2011-03-16 ファナック株式会社 機上計測装置にて計測対象物の形状を計測する工作機械システム
JP4968600B1 (ja) * 2011-01-13 2012-07-04 株式会社東京精密 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法
JP5639934B2 (ja) * 2011-03-09 2014-12-10 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機
US8701301B2 (en) * 2011-04-19 2014-04-22 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring instrument
JP5301061B1 (ja) * 2012-01-04 2013-09-25 株式会社東京精密 輪郭形状表面粗さ測定装置および輪郭形状表面粗さ測定方法
CN104049114A (zh) 2013-03-14 2014-09-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电子器件量测治具及量测装置
JP6273104B2 (ja) * 2013-07-22 2018-01-31 ローム株式会社 日常生活における警告システム
JP6189153B2 (ja) * 2013-09-18 2017-08-30 株式会社ミツトヨ 梃子式測定器
JP6518421B2 (ja) 2014-09-24 2019-05-22 株式会社ミツトヨ 真円度測定機およびその制御方法
EP3239649B1 (en) * 2015-01-30 2019-04-17 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Three-dimensional coordinate measurement apparatus
CN104965236A (zh) 2015-06-12 2015-10-07 茅伟萍 具有探头的检测装置
JP6671011B2 (ja) * 2016-03-03 2020-03-25 株式会社東京精密 真円度測定装置
CN109333156B (zh) 2018-11-12 2019-11-26 电子科技大学 一种用于五轴数控机床rtcp检测的误差与姿态同步标定方法
CN109848754B (zh) 2019-02-25 2020-11-03 江苏大学 一种基于位移传感器的型材形状自动检测及姿态校正机构
JP6788207B2 (ja) * 2019-04-16 2020-11-25 株式会社東京精密 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07505958A (ja) * 1992-09-25 1995-06-29 カール−ツアイス−スチフツング ワークにおける座標測定法
JPH06273104A (ja) * 1993-03-17 1994-09-30 Mitsubishi Materials Corp 輪郭形状測定機
WO2007097135A1 (ja) * 2006-02-22 2007-08-30 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. 変位検出器
JP2018163093A (ja) * 2017-03-27 2018-10-18 株式会社東京精密 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
JP2018173349A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 株式会社東京精密 表面形状測定機の校正装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11435175B2 (en) * 2019-04-16 2022-09-06 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Displacement detector, surface shape measuring apparatus, and roundness measuring apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
DE112020001949T5 (de) 2021-12-23
GB2596225A (en) 2021-12-22
US20210285751A1 (en) 2021-09-16
JP6788207B2 (ja) 2020-11-25
US11435175B2 (en) 2022-09-06
CN115574691A (zh) 2023-01-06
JP2020176871A (ja) 2020-10-29
GB2596225B (en) 2023-01-25
GB202107595D0 (en) 2021-07-14
CN113272619A (zh) 2021-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2020213432A1 (ja) 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
JP4582446B2 (ja) 測定装置
JP6368986B1 (ja) 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
JP4748287B2 (ja) 形状測定装置
JPH03180711A (ja) プローブならびに連続の測定プローブを較正するための方法および装置ならびに案内手段
US11592278B2 (en) Method and apparatus for determining a relative position of an axis of rotation of a rotary table for a coordinate measuring machine
JP5331645B2 (ja) 検出器、及び測定機
JP5538882B2 (ja) 表面特性を測定するための測定器
US20230032119A1 (en) Roundness measuring machine
JP2005010019A (ja) 測定ヘッド
JP3787721B2 (ja) 測定ヘッドにおける接触子の基準点検出方法
JP7360593B2 (ja) 校正ユニット
JP7148663B2 (ja) 外径測定装置及びその調整方法
JP2018048857A (ja) 検出装置
JPS6222002A (ja) 変位検出ヘツド
JP2024078405A (ja) 測定システム及びその動作方法並びにスタイラス運動機構
JPH0758163B2 (ja) 機械的部材の測定装置および測定方法
WO2020121579A1 (ja) 接触検知装置
JP2022081675A (ja) 内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法
JPH10253309A (ja) 接触型変位測定器
JP2005127839A (ja) レンズ偏心測定装置
JPS6254102A (ja) ねじ軸有効径測定装置における測定器支持機構
JPH06160075A (ja) スクロール羽根の形状測定装置
JPH0432701A (ja) 機械の運動精度測定装置
JP2018044840A (ja) 測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20791001

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

DPE2 Request for preliminary examination filed before expiration of 19th month from priority date (pct application filed from 20040101)
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 202107595

Country of ref document: GB

Kind code of ref document: A

Free format text: PCT FILING DATE = 20200403

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20791001

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1