WO2020194635A1 - 検査装置 - Google Patents

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WO2020194635A1
WO2020194635A1 PCT/JP2019/013466 JP2019013466W WO2020194635A1 WO 2020194635 A1 WO2020194635 A1 WO 2020194635A1 JP 2019013466 W JP2019013466 W JP 2019013466W WO 2020194635 A1 WO2020194635 A1 WO 2020194635A1
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WO
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inspection device
inspected
inspection
porous sheet
sheet
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/013466
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English (en)
French (fr)
Inventor
吉隆 北村
克彦 岸本
Original Assignee
シャープ株式会社
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09FDISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
    • G09F9/00Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00

Definitions

  • the present invention relates to an inspection device provided with an inspection stage on which an object to be inspected is placed.
  • Patent Document 1 discloses an inspection device for inspecting an organic EL panel.
  • the inspection device of the present invention is an inspection device provided with an inspection stage on which the object to be inspected is placed, and includes a vacuum chuck mechanism for vacuum-adsorbing the object to be inspected on the inspection stage.
  • a foreign matter trapping sheet on the inspection stage that comes into contact with the inspected object by vacuum suction of the inspected object onto the inspection stage is provided.
  • 2 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of the inspection device and the flexible display panel when the flexible display panel is mounted on the inspection device according to the first embodiment of the present invention.
  • It is the schematic top view and schematic sectional view of the inspection apparatus which concerns on the comparative form of this invention. It is a figure for demonstrating the subject of the inspection apparatus which concerns on the comparative form of this invention.
  • It is the schematic sectional drawing of the porous sheet which concerns on Embodiment 1 of this invention.
  • It is the schematic top view and schematic sectional view of the inspection apparatus which concerns on Embodiment 2 of this invention.
  • FIG. 1 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of the inspection device 2 according to the present embodiment.
  • FIG. 1A is a schematic top view of the inspection device 2
  • FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1A.
  • FIG. 1C is an enlarged view of a part of the upper surface of the inspection stage 4, which will be described later.
  • the inspection device 2 includes an inspection stage 4, a vacuum chuck mechanism 6, a foreign matter trapping sheet 8, and a support sheet 10.
  • the inspection device 2 may be provided with a conventionally known inspection device (not shown) for inspecting an object to be inspected, such as an image pickup device or a sensor.
  • the inspection device 2 includes an inspection stage 4 on which the inspected object is placed in order to inspect the inspected object.
  • the inspection device 2 can inspect the inspected object by placing the inspected object at a position overlapping the upper surface side of the inspection stage 4.
  • the vacuum chuck mechanism 6 shown in FIG. 1 (b) is provided on the lower surface side of the inspection stage 4.
  • the vacuum chuck mechanism 6 vacuum-sucks a member on the upper surface side of the inspection stage 4 at a position overlapping the upper surface of the inspection stage 4 by, for example, a vacuum pump (not shown).
  • the inspection stage 4 may contain a ceramic sintering material, that is, the inspection stage 4 may be formed by sintering a ceramic sintering material.
  • the inspection stage 4 may include a porous body containing pores 4A generated during sintering of the ceramic sintered material, as shown in FIG. 1 (c).
  • the pores 4A of the porous body may be used as vacuum suction holes used for vacuum suction of the object to be inspected by the vacuum chuck mechanism 6.
  • the inspection stage 4 is provided with vacuum suction holes substantially uniformly, and the vacuum chuck mechanism 6 facilitates suction of the object to be inspected to substantially the entire surface of the inspection stage 4.
  • the diameter dA of the pore 4A included in the inspection stage 4 is preferably 2 ⁇ m to 3 ⁇ m. Further, from the viewpoint of ensuring durability, the thickness of the inspection stage 4 is preferably 1 mm or more.
  • the foreign matter trapping sheet 8 is provided on the upper surface side of the inspection stage 4, and includes a porous sheet 12 and a deformation prevention layer 14.
  • at least a part of the object to be inspected comes into contact with the upper surface 8S of the foreign matter trapping sheet 8 by vacuum suction of the object to be inspected by the vacuum chuck mechanism 6.
  • at least a part of the object to be inspected is brought into contact with the upper surface of the porous sheet 12 by vacuum adsorption of the object to be inspected by the vacuum chuck mechanism 6.
  • the porous sheet 12 is a layer having a lower rigidity than the inspection stage 4.
  • the porous sheet 12 may contain, for example, a plurality of fibrous materials.
  • the porous sheet 12 has a film thickness d1 as shown in FIG. 1B.
  • the deformation prevention layer 14 is a layer for preventing the porous sheet 12 from being deformed by vacuum suction by the vacuum chuck mechanism 6, and is between the inspection stage 4 and the porous sheet 12. Be placed. From the viewpoint of improving the handling of the porous sheet 12 and the deformation prevention layer 14, it is preferable that the porous sheet 12 and the deformation prevention layer 14 are integrated.
  • the deformation prevention layer 14 may have a structure in which fine wires are woven into a mesh, or may have a thin wire including a honeycomb structure.
  • the diameter of the thin wire contained in the deformation prevention layer 14 is preferably 5 ⁇ m or less.
  • the mesh size of the network structure or the honeycomb structure formed by the fine wires is preferably 5 ⁇ m or less.
  • the deformation prevention layer 14 can be provided with the rigidity necessary to prevent deformation due to the vacuum suction without hindering the vacuum suction of each member on the inspection stage 4 by the vacuum chuck mechanism 6. Further, from the viewpoint of preventing deformation, the value obtained by dividing the height of the thin wire provided in the deformation prevention layer 14 by the width of the thin wire is preferably 1 or more.
  • the deformation prevention layer 14 may have, for example, a mesh structure in which a metal wire having a diameter of 10 to 100 ⁇ m is woven vertically and horizontally.
  • the metal wire may be, for example, a 30 ⁇ m Au thin wire or a 15 ⁇ m Al thin wire used in wire bonding.
  • the deformation prevention layer 14 may be formed by forming a large number of openings in a metal plate having a thickness of 50 to 100 ⁇ m.
  • the processing on the metal plate may be physical processing including, for example, laser processing or milling, or may be chemical processing including wet etching or dry etching.
  • the support sheet 10 is a layer having a higher rigidity than the foreign matter trapping sheet 8 and is formed on a part of the upper surface of the inspection stage 4. As shown in FIG. 1A, the support sheet 10 may be formed around the porous sheet 12 in a top view. Further, the support sheet 10 does not have to be provided with a gas flow path, and the object to be inspected may not be adsorbed on the upper surface of the support sheet 10 by the vacuum chuck mechanism 6.
  • the support sheet 10 includes an upper surface 10S that comes into contact with a part of the object to be inspected by vacuum suction of the object to be inspected by the vacuum chuck mechanism 6.
  • the upper surface 8S and the upper surface 10S are substantially flush with each other.
  • the foreign matter trapping sheet 8 and the support sheet 10 may be adhered to the inspection stage 4 via the breathable adhesive layer 16 shown in FIG. 1 (b). ..
  • the adhesive layer 16 preferably has less adhesive residue when the foreign matter trapping sheet 8 and the support sheet 10 are peeled from the inspection stage 4.
  • the adhesive strength of the adhesive layer 16 is preferably 0.1 N / 25 mm or more and 10 N / 25 mm or less. Due to the adhesive layer 16, the foreign matter trapping sheet 8 and the support sheet 10 can be easily separated from the inspection stage 4 in the present embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining a state in which an object to be inspected is placed on the inspection device 2 according to the present embodiment.
  • a flexible display panel P including an OLED panel and the like will be described as an example of an object to be inspected using the inspection device 2.
  • FIG. 2A is a schematic top view of the inspection device 2 on which the flexible display panel P is mounted
  • FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 2A. Is.
  • the flexible display panel P includes a display area DA having a display surface and a frame area NA provided around the display area DA.
  • the terminal portion TA shown in FIG. 1 (a) is formed in the frame region NA.
  • the terminal portion TA and the wiring connected to each sub-pixel circuit of the display area DA are electrically conductive via the routing wiring L formed in the frame area NA.
  • An external device for applying a video signal may be mounted on the terminal portion TA in each sub-pixel circuit connected to each sub-pixel in the display area DA.
  • the flexible display panel P when the flexible display panel P is inspected using the inspection device 2, as shown in FIGS. 2A and 2B, the flexible display panel P is a foreign substance in the inspection stage 4. It is arranged at a position on the capture sheet 8 side that overlaps with the inspection stage 4. At this time, the display area DA is arranged at a position where it overlaps with the foreign matter capturing sheet 8. Similarly, the frame region NA including the terminal portion TA is arranged at a position where it overlaps with the support sheet 10.
  • the lower surface of the display area DA which is a part of the flexible display panel P different from the terminal portion TA, comes into contact with the foreign matter capturing sheet 8. Therefore, the display area DA is supported by the inspection stage 4 via the foreign matter capturing sheet 8.
  • the lower surface of the frame region NA which is a part of the flexible display panel P including the terminal portion TA, comes into contact with the support sheet 10. Therefore, the frame region DA, particularly the terminal portion TA, is directly supported on the support sheet 10.
  • the flexible display panel P is attracted to the inspection device 2 by operating the vacuum chuck mechanism 6 in a state where the flexible display panel P is arranged at a position overlapping the inspection stage 4. With the flexible display panel P adsorbed on the inspection device 2, the flexible display panel P is inspected by an inspection instrument (not shown).
  • the display area DA and the frame area are used when the flexible display panel P is attracted to the inspection device 2. It is possible to reduce the occurrence of damage at the boundary with the NA.
  • the thickness d2 of the flexible display panel P shown in FIG. 2B may be 150 ⁇ m to 200 ⁇ m. Further, when the flexible display panel P is a display panel having a touch panel, the thickness d2 may be 250 ⁇ m to 300 ⁇ m.
  • the flexible display panel P may have, for example, a structure in which a laminated film having an adhesive layer, a polyimide substrate, and a device layer having a thin film transistor layer or a light emitting element layer are laminated in order from the lower layer.
  • the thickness of the laminated film may be 100 ⁇ m
  • the thickness of the polyimide substrate may be 16 ⁇ m
  • the thickness of the device layer may be 20 to 30 ⁇ m.
  • the flexible display panel P may be provided with a laminated film having a thickness of about 75 ⁇ m on the upper layer of the device layer.
  • FIG. 3 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of the inspection device 20 according to the comparative form.
  • FIG. 3A is a schematic top view of the inspection device 20, and
  • FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 3A.
  • the configuration of the inspection device 20 according to the comparative embodiment is different from that of the inspection device 2 according to the present embodiment only in that it does not include the foreign matter trapping sheet 8, the support sheet 10, and the adhesive layer 16. Therefore, the inspection of the inspected object using the inspection device 20 is performed in a state where the inspected object is directly adsorbed on the inspection stage 4 by using the vacuum chuck mechanism 6.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining a problem of the inspection device 20 according to the comparative form, and both of FIG. 4A and FIG. 4B correspond to FIG. 3B. A cross-sectional view at the position is shown.
  • foreign matter E As shown in FIG. 4A may be generated.
  • the foreign matter E when the object to be inspected is the flexible display panel P, for example, a lump of the organic substance adhered in the chamber of the vapor deposition machine when the organic layer of the flexible display panel P is formed by vapor deposition can be mentioned.
  • examples of the foreign matter E include fragments of the substrate glass or fragments of the plastic tray generated during the division of the substrate of the flexible display panel P or the transportation of the substrate.
  • the foreign matter E includes, for example, small pieces of metal generated by scraping the parts of the transport system in the transport of the substrate of the flexible display panel P, or fiber scraps generated from the human body or clothing of the worker. Can be mentioned.
  • the foreign matter E When the foreign matter E is present on the inspection stage 4 and the object to be inspected is adsorbed on the inspection stage 4, the foreign matter E and the object to be inspected come into contact with each other. For this reason, the foreign matter E may cause scratches or the like on the object to be inspected.
  • the flexible display panel P is adsorbed on the inspection stage 4 in a state where the foreign matter E is present on the inspection stage 4, a part of the flexible display panel P is caused by the foreign matter E as shown in FIG. 4B. It is pushed up and becomes a panel deformation part PD.
  • the inspection by the inspection device 20 is executed in the state where the panel deformed portion PD is generated in the display area DA, the flexible display panel P which is a good product is regarded as a defective product due to the presence of the panel deformed portion PD. It may be falsely detected.
  • the panel deformed portion PD is placed in a portion that should be originally determined to be a bright portion. If it occurs, it may be detected that the portion is a dark part. It is difficult to determine whether the portion is a dark part due to the panel deformation portion PD or a dark part due to color mixing, and color mixing occurs in the flexible display panel P in which color mixing does not originally occur. There is a possibility of erroneously determining that the product is defective.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining the effect of the inspection device 2 according to the present embodiment, and in both of FIG. 5 (a) and FIG. 5 (b), FIG. 2 (b) shows. A cross-sectional view at the corresponding position is shown.
  • foreign matter E may be generated on the foreign matter trapping sheet 8.
  • the flexible display panel P is arranged on the inspection device 2 in a state where the foreign matter E is present on the foreign matter capturing sheet 8, also in the present embodiment, as shown in FIG. 5A, one of the display areas DA. A panel deformed portion PD is generated in the portion.
  • the foreign matter E becomes the porous sheet 12 of the foreign matter capturing sheet 8 as shown in FIG. 5 (b). It is captured by the recess 12R generated in. This is because the porous sheet 12 has a lower rigidity than the inspection stage 4, so that the foreign matter E pushed by the flexible display panel P by vacuum suction is pushed into the porous sheet 12.
  • the inspection device 2 By capturing the foreign matter E in the recess 12R on the porous sheet 12, the occurrence of scratches or the like due to the foreign matter E on the object to be inspected adsorbed at the position where it overlaps with the porous sheet 12 is reduced. Therefore, when the inspection device 2 according to the present embodiment is used to inspect the object to be inspected, even if foreign matter E is generated on the inspection device 2, scratches on the object to be inspected or the like may occur. Occurrence can be reduced.
  • the panel deformed portion PD is removed from the display area DA of the flexible display panel P. Therefore, in the present embodiment, even when the foreign matter E is generated on the inspection device 2, the inspection of the flexible display panel P can be performed in a state where the unevenness in the display area DA of the flexible display panel P is reduced. Therefore, in the present embodiment, the probability that the flexible display panel P, which is originally a good product, is erroneously detected as a defective product can be reduced, and the yield in the manufacturing process of the flexible display panel P can be improved.
  • the deformation prevention layer 14 is formed only on the lower layer of the porous sheet 12. Therefore, although the deformation prevention layer 14 reduces the deformation of the porous sheet 12 due to vacuum adsorption, it does not inhibit the deformation of the porous sheet 12 due to the foreign matter E. Therefore, the deformation prevention layer 14 does not interfere with the function of the porous sheet 12 to take in the foreign matter E.
  • the panel deformed portion PD is generated in the frame region NA of the flexible display panel P.
  • the frame area NA does not have any defects that affect the display quality, such as color mixing. Therefore, even if the panel deformation portion PD occurs in the frame region NA of the flexible display panel P, the influence on the inspection of the flexible display panel P is small.
  • the support sheet 10 has a higher rigidity than the porous sheet 12, the terminal portion TA of the flexible display panel P is more reliably held by the support sheet 10. For this reason, it becomes easier to mount an external device on the terminal portion TA for carrying out the above-mentioned color mixing inspection and the like, and the inspection using the inspection device 2 becomes easier.
  • the porous sheet 12 when the porous sheet 12 includes a fibrous material, the porous sheet 12 may capture the foreign matter E by taking in the foreign matter E between the fibrous materials.
  • the ratio of the length to the diameter of the fibrous material included in the porous sheet 12 may be 1000 or more and 1: 1. That is, the fibrous material included in the porous sheet 12 may have a length of 1000 times or more the diameter of the fibrous material.
  • the diameter of the fibrous material included in the porous sheet 12 is preferably 1/10 or less of the thickness d2 of the object to be inspected such as the flexible display panel P.
  • the porous sheet 12 can acquire appropriate rigidity, that is, flexibility for capturing the foreign matter E.
  • the diameter of the fibrous material included in the porous sheet 12 is expressed by using decitex, which is a unit indicating the gram weight per 10,000 m
  • the diameter of the fibrous material according to the present embodiment is It is preferably 5, 5 decitex or less.
  • the diameter of the fibrous material according to the present embodiment is preferably 30 ⁇ m or less, and more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the porous sheet 12 may have conductivity.
  • the porous sheet 12 may contain a fibrous conductive material, and the fibrous material described above may be the conductive material.
  • the conductive material may contain, for example, Pt, Au, or carbon.
  • the above-mentioned film thickness d1 is preferably 20 ⁇ m or more.
  • the foreign matter E generated on the inspection device 2 is a foreign matter E having a maximum size of about several ⁇ m.
  • the porous sheet 12 can more efficiently capture the foreign matter E having a size of about several ⁇ m.
  • the film thickness d1 is preferably 1 mm or less, and more preferably 300 ⁇ m or less.
  • the porosity of the porous sheet 12 is preferably 20% by volume or more and 50% by volume or less with respect to the total volume of the porous sheet 12.
  • the porosity of the porous sheet 12 is 20% by volume or more, the maximum amount of foreign matter E that can be captured by the same porous sheet 12 can be sufficiently secured, and the porous sheet 12 can be replaced, that is, the foreign matter trapping sheet. The frequency of replacement of 8 can be reduced.
  • the porosity of the porous sheet 12 is 50% by volume or less, the rigidity of the porous sheet 12 for the porous sheet 12 to appropriately support an object to be inspected such as the flexible display panel P is increased. It can be secured sufficiently.
  • FIG. 6A is a cross-sectional view of the porous sheet 12 in a plane orthogonal to the length direction of the fibrous material included in the porous sheet 12.
  • FIG. 6B is a cross-sectional view corresponding to FIG. 6A, showing a case where the porous sheet 12 is compressed in the thickness direction of the porous sheet 12.
  • the vertical direction toward the paper surface is the thickness direction of the porous sheet 12.
  • the fibrous material 12f of the porous sheet 12 has such that the centers of the fibrous material 12f substantially coincide with each other in a regular triangular lattice dot shape. Assume a model aligned in the porous sheet 12. Further, it is assumed that the fibrous material 12f of the porous sheet 12 has substantially the same shape in the length direction.
  • the radius of the fibrous material 12f is a, and the minimum distance between the gaps between the fibrous materials 12f adjacent to each other is b.
  • a has a value of 1/10 or less of the thickness of the flexible display panel P.
  • b has a value of a or less.
  • the porosity K of the porous sheet 12 is represented by the following formula (1).
  • T1 is represented by the following equation (2) using a and b.
  • the region of the equilateral triangle formed by the centers of the three fibrous materials 12f adjacent to each other is defined as the region C.
  • the cross-sectional area of the fibrous material 12f included in the region C is half of the total cross-sectional area of the fibrous material 12f. Therefore, assuming that the filling rate of the fibrous material 12f in the porous sheet 12 in the region C is F, the following formula (3) is established.
  • the filling rate F is substantially the same as the filling rate of the fibrous material 12f with respect to the total volume of the porous sheet 12. Can be considered to be. Therefore, the above-mentioned equation (1) is derived by subtracting the filling factor F from 1.
  • T2 is represented by the following equation (4) using a and b.
  • the porous sheet 12 has a structure in which n layers of the fibrous material 12f are laminated in the thickness direction of the porous sheet 12.
  • n is a natural number of 2 or more.
  • the film thickness d1 of the porous sheet 12 in the state where the porous sheet 12 is not compressed is represented by the following formula (5).
  • the film thickness d3 of the porous sheet 12 in the compressed state of the porous sheet 12 is represented by the following formula (6).
  • the maximum height H of the foreign matter E which can be reliably captured by the porous sheet 12, is set to the maximum amount of deformation in the thickness direction of the porous sheet 12 so that the porous sheet 12 can be deformed by being pushed by the foreign matter E. Equivalent to. Therefore, the maximum height H is expressed by the following equation (7).
  • the foreign matter trapping sheet 8 can reliably trap the foreign matter E up to the maximum height H represented by the above formula (7) on the porous sheet 12.
  • the inspection device 2 since the inspection device 2 includes the adhesive layer 16, the foreign matter trapping sheet 8 and the support sheet 10 can be separated from the inspection stage 4. Therefore, when a large amount of foreign matter is generated on the foreign matter trapping sheet 8 or the support sheet 10, the foreign matter trapping sheet 8 or the support sheet 10 can be easily replaced.
  • the foreign matter trapping sheet 8 When the foreign matter trapping sheet 8 is provided with a conductive material, the foreign matter trapping sheet 8 may be replaced even when the conductive material is oxidized and the foreign matter trapping sheet 8 loses its conductivity.
  • the foreign matter trapping sheet 8 includes any of Pt, Au, or carbon as a conductive material, the deterioration of the conductivity of the foreign matter trapping sheet 8 due to the oxidation of the conductive material is delayed, and the foreign matter is trapped. The frequency of replacement of the capture sheet 8 can be reduced.
  • FIG. 7 is a schematic top view and a schematic sectional view of the inspection device 2 according to the present embodiment.
  • FIG. 7A is a schematic top view of the inspection device 2
  • FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1A.
  • the porous sheet 12 is on the surface of the porous sheet 12 on the side where the object to be inspected is vacuum-adsorbed.
  • the configuration is different only in that the film 18 is further provided as shown in each figure.
  • the film 18 is made of a conductive material and has a film thickness d4.
  • the inspection device 2 can reduce the probability that the flexible display panel P, which is a good product, is erroneously detected as a defective product, and can improve the yield in the manufacturing process of the flexible display panel P. ..
  • the porous sheet 12 since the porous sheet 12 has a film 18 made of a conductive material on the upper surface 8S side, it can be used as an object to be inspected such as a flexible display panel P on the inspection stage 4. , The generation of static electricity can be reduced more efficiently.
  • the film thickness d4 of the film 18 is preferably 100 nm or less. When the film thickness d4 is 100 nm or less, it is possible to reduce the inhibition of the capture of foreign matter E by the porous sheet 12 by the film 18.
  • the film thickness d4 of the film 18 is preferably 1 nm or more. When the film thickness d4 is 1 nm or more, the film 18 can acquire sufficient conductivity, and the film 18 can be formed relatively easily.
  • the film 18 may contain, for example, Pt, Au, or carbon as the conductive material. By including these materials in the film 18, even if the film thickness d4 of the film 18 is about several nm, the oxidation of the film 18 is reduced and the conductivity of the film 18 is more easily maintained.

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Abstract

検査装置(2)は、被検査物を載置する検査ステージ(4)を備えた検査装置であって、前記被検査物を前記検査ステージ上に真空吸着する真空チャック機構(6)と、前記検査ステージ上への前記被検査物の真空吸着により、前記被検査物と接する、前記検査ステージ上の異物捕捉シート(8)とを備える。

Description

検査装置
 本発明は、被検査物を載置する検査ステージを備えた検査装置に関する。
 特許文献1には、有機ELパネルを検査するための検査装置が開示されている。
日本国再公表特許「国際公開番号2015/056365」
 特許文献1に記載されているような検査装置を用いて、被検査物を検査する場合、検査装置のステージと被検査物との間の異物の存在により、被検査物に傷等が発生する可能性がある。
 上記課題を解決するために、本発明の検査装置は、被検査物を載置する検査ステージを備えた検査装置であって、前記被検査物を前記検査ステージ上に真空吸着する真空チャック機構と、前記検査ステージ上への前記被検査物の真空吸着により、前記被検査物と接する、前記検査ステージ上の異物捕捉シートとを備える。
 上記構成により、検査装置のステージと被検査物との間に異物が存在した場合であっても、当該被検査物への傷等の発生を低減できる。
本発明の実施形態1に係る検査装置の概略上面図および概略断面図である。 本発明の実施形態1に係る検査装置にフレキシブル表示パネルを載置した際の、当該検査装置およびフレキシブル表示パネルの概略上面図および概略断面図である。 本発明の比較形態に係る検査装置の概略上面図および概略断面図である。 本発明の比較形態に係る検査装置の課題を説明するための図である。 本発明の実施形態1に係る検査装置の効果を説明するための、当該検査装置の概略上面図および概略断面図である。 本発明の実施形態1に係る多孔質シートの概略断面図である。 本発明の実施形態2に係る検査装置の概略上面図および概略断面図である。
 〔実施形態1〕
 図1は、本実施形態に係る検査装置2の概略上面図および概略断面図である。図1の(a)は、検査装置2の概略上面図であり、図1の(b)は、図1の(a)における、A-A線矢視断面図である。図1の(c)は、後述する検査ステージ4の上表面の一部を拡大して示す図である。
 図1に示すように、本実施形態に係る検査装置2は、検査ステージ4と、真空チャック機構6と、異物捕捉シート8と、支持シート10とを備える。この他、検査装置2は、撮像装置、あるいはセンサ等、被検査物を検査するための、図示しない従来公知の検査器具を備えていてもよい。
 検査装置2は、被検査物を検査するために、当該被検査物を載置する検査ステージ4を備える。本実施形態において、検査装置2は、検査ステージ4の上面側と重畳する位置に、被検査物を載置することにより、当該被検査物の検査が可能となる。
 検査ステージ4の下面側には、図1の(b)に示す、真空チャック機構6が設けられている。真空チャック機構6は、例えば、図示しない真空ポンプ等により、検査ステージ4の上面側の部材を、検査ステージ4の上面と重畳する位置に真空吸着する。
 ここで、例えば、検査ステージ4は、セラミックの焼結材料を含んでいてもよく、すなわち、検査ステージ4は、セラミックの焼結材料を焼結することにより形成してもよい。この場合、検査ステージ4は、図1の(c)に示すように、セラミックの焼結材料の焼結の際に生じる細孔4Aを含む、多孔質体を備えていてもよい。当該多孔質体の細孔4Aは、真空チャック機構6による、被検査物の真空吸着に使用される真空吸着孔として使用してもよい。これにより、検査ステージ4は、略均一に真空吸着孔を備え、真空チャック機構6により、被検査物を、検査ステージ4の略全面に吸着させやすくなる。真空吸着孔としての機能を担保する観点から、検査ステージ4が備える細孔4Aの直径dAは、2μmから3μmであることが好ましい。また、耐久性を確保する観点から、検査ステージ4の厚みは、1mm以上であることが好ましい。
 異物捕捉シート8は、検査ステージ4の上面側に設けられ、多孔質シート12と、変形防止層14とを含む。本実施形態において、真空チャック機構6による被検査物の真空吸着により、被検査物の少なくとも一部は、異物捕捉シート8の上面8Sと接する。特に、本実施形態においては、真空チャック機構6による被検査物の真空吸着により、被検査物の少なくとも一部と多孔質シート12の上面とが接する。
 本実施形態において、多孔質シート12は、検査ステージ4と比較して剛性の低い層である。本実施形態において、多孔質シート12は、例えば、複数の繊維状材料を含んでいてもよい。なお、多孔質シート12は、図1の(b)に示すように、膜厚d1を有している。
 本実施形態において、変形防止層14は、多孔質シート12が、真空チャック機構6による真空吸着によって、変形することを防止するための層であり、検査ステージ4と多孔質シート12との間に配置される。多孔質シート12と変形防止層14とのハンドリングを改善する観点から、多孔質シート12と変形防止層14とは、一体化されていることが好ましい。
 変形防止層14は、細線が網目状に編み込まれた構造を備えていてもよく、あるいは、ハニカム構造を含む細線を備えていてもよい。変形防止層14に含まれる細線の直径は、5μm以下であることが好ましい。また、細線によって形成される網目構造またはハニカム構造の網目の大きさは、5μm以下であることが好ましい。
 上記構成により、変形防止層14は、真空チャック機構6による、検査ステージ4上の各部材の真空吸着を妨げることなく、当該真空吸着による変形を防止するために必要な剛性を備えることができる。また、変形を防止する観点から、変形防止層14が備える細線の高さを、当該細線の幅で割った値は、1以上であることが好ましい。
 変形防止層14は、例えば、直径が10~100μmの金属ワイヤを、縦横に編み込んだメッシュ構造を備えていてもよい。当該金属ワイヤは、例えば、ワイヤボンディングで使用される、30μmのAu細線、または、15μmのAl細線であってもよい。
 また、変形防止層14は、厚さ50~100μmの金属プレートに対し、多数の開口を形成することにより形成してもよい。当該金属プレートに対する加工は、例えば、レーザ加工またはミリング等を含む、物理的加工であってもよく、あるいは、ウェットエッチングまたはドライエッチング等を含む、化学的加工であってもよい。
 支持シート10は、異物捕捉シート8よりも剛性の高い層であり、検査ステージ4の上面の一部に形成されている。支持シート10は、図1の(a)に示すように、上面視において、多孔質シート12の周囲に形成されていてもよい。また、支持シート10は、気体の流路を備えていなくともよく、真空チャック機構6によって、支持シート10の上面に被検査物が吸着されなくともよい。
 本実施形態において、図1の(b)に示すように、支持シート10は、真空チャック機構6による被検査物の真空吸着により、被検査物の一部と接触する上面10Sを備えている。ここで、上面8Sと、上面10Sとの、検査ステージ4の上面からの高さが同一であるため、上面8Sと、上面10Sとは、略面一となる。
 なお、本実施形態において、異物捕捉シート8と、支持シート10とは、図1の(b)に示す、通気性を備えた接着層16を介して、検査ステージ4に接着されていてもよい。接着層16は、異物捕捉シート8と、支持シート10とを、検査ステージ4から剥離した際の糊残りが少なくなるものが好ましい。接着層16の粘着力は、0.1N/25mm以上、10N/25mm以下が好ましい。当該接着層16があるために、本実施形態においては、異物捕捉シート8と、支持シート10とは、検査ステージ4から容易に剥離できる。
 図2は、本実施形態に係る検査装置2に、被検査物を載置した状態について説明するための図である。本実施形態においては、検査装置2を使用して検査する被検査物として、OLEDパネル等を含む、フレキシブル表示パネルPを例に挙げて説明する。図2の(a)は、フレキシブル表示パネルPを載置した検査装置2の概略上面図であり、図2の(b)は、図2の(a)における、A-A線矢視断面図である。
 本実施形態において、フレキシブル表示パネルPは、図2の(a)に示すように、表示面を有する表示領域DAと、当該表示領域DAの周囲に設けられた額縁領域NAとを備える。額縁領域NAには、図1の(a)に示す、端子部TAが形成されている。端子部TAと、表示領域DA各サブ画素回路に接続する配線とは、額縁領域NAに形成された引き回し配線Lを介して、電気的に導通している。端子部TAには、表示領域DAの各サブ画素と接続する各サブ画素回路に、映像信号を印加するための外部機器が実装されてもよい。
 本実施形態において、検査装置2を使用してフレキシブル表示パネルPを検査する場合、図2の(a)および図2の(b)に示すように、フレキシブル表示パネルPが、検査ステージ4の異物捕捉シート8側の、検査ステージ4と重畳する位置に配置される。この際、表示領域DAは、異物捕捉シート8と重畳する位置に配置される。同様に、端子部TAを含む額縁領域NAは、支持シート10と重畳する位置に配置される。
 ゆえに、フレキシブル表示パネルPの、端子部TAとは異なる一部である、表示領域DAの下面は、異物捕捉シート8と接する。このため、表示領域DAは、異物捕捉シート8を介して、検査ステージ4に支持される。一方、フレキシブル表示パネルPの、端子部TAを含む一部である、額縁領域NAの下面は、支持シート10と接する。このため、額縁領域DA、特に、端子部TAは、支持シート10上において直接支持される。
 検査ステージ4と重畳する位置に、フレキシブル表示パネルPを配置した状態において、真空チャック機構6を稼働することにより、フレキシブル表示パネルPを、検査装置2に吸着する。検査装置2にフレキシブル表示パネルPを吸着した状態において、図示しない検査器具による、フレキシブル表示パネルPの検査が実行される。
 なお、上述したように、本実施形態においては、上面8Sと、上面10Sとが略面一であることから、フレキシブル表示パネルPの検査装置2への吸着の際に、表示領域DAと額縁領域NAとの境界に、ダメージが生じることを低減することができる。
 なお、フレキシブル表示パネルPが、タッチパネルを有さない表示パネルであった場合、図2の(b)に示す、フレキシブル表示パネルPの厚みd2は、150μm~200μmであってもよい。また、フレキシブル表示パネルPが、タッチパネルを有する表示パネルであった場合、上記厚みd2は、250μm~300μmであってもよい。
 フレキシブル表示パネルPは、例えば、粘着層を備えた積層フィルムと、ポリイミド基板と、薄膜トランジスタ層または発光素子層を備えたデバイス層とが、下層から順に積層された構造を備えていてもよい。積層フィルムの厚みは100μmであってもよく、ポリイミド基板の16μmであってもよく、デバイス層の厚みは20~30μmであってもよい。さらに、フレキシブル表示パネルPは、当該デバイス層の上層に、厚みが75μm程度の積層フィルムを備えていてもよい。
 次に、本実施形態に係る検査装置2の効果を、図3に示す、比較形態に係る検査装置20の課題と対比して説明する。
 図3は、比較形態に係る検査装置20の概略上面図および概略断面図である。図3の(a)は、検査装置20の概略上面図であり、図3の(b)は、図3の(a)における、A-A線矢視断面図である。
 比較形態に係る検査装置20は、本実施形態に係る検査装置2と比較して、異物捕捉シート8、支持シート10、および接着層16を備えていない点においてのみ、構成が異なる。このため、検査装置20を使用した被検査物の検査は、真空チャック機構6を使用して、検査ステージ4上に直接被検査物を吸着した状態において実行される。
 図4は、比較形態に係る検査装置20の課題を説明するための図であり、図4の(a)と図4の(b)との何れにおいても、図3の(b)に対応する位置における断面図を示している。
 被検査物の検査工程においては、図4の(a)に示す、異物Eが発生する場合がある。異物Eとしては、被検査物がフレキシブル表示パネルPである場合、例えば、フレキシブル表示パネルPの有機層を蒸着により形成した際に、蒸着機のチャンバ内において付着した有機物の塊が挙げられる。また、異物Eとしては、例えば、フレキシブル表示パネルPの基板の分断、あるいは、基板の搬送において発生する、基板ガラスの破片、またはプラスチック製のトレイの破片が挙げられる。他にも、異物Eとしては、例えば、フレキシブル表示パネルPの基板の搬送において、搬送系の部品が削れることによって生じる、金属の小片、あるいは、作業員の人体または被服から発生する繊維くず等が挙げられる。
 検査ステージ4上に異物Eが存在する状態において、検査ステージ4上に被検査物が吸着すると、当該異物Eと被検査物とが当接する。このために、異物Eによって、被検査物に傷等が発生する可能性がある。
 また、検査ステージ4上に異物Eが存在する状態において、検査ステージ4上にフレキシブル表示パネルPが吸着すると、図4の(b)に示すように、異物Eによってフレキシブル表示パネルPの一部が押し上げられ、パネル変形部PDとなる。ここで、表示領域DAにパネル変形部PDが生じている状態において、検査装置20による検査が実行された場合、パネル変形部PDの存在により、良品であるフレキシブル表示パネルPを不良品であると誤検知する場合がある。
 例えば、パネル変形部PDを表示領域DAに有するフレキシブル表示パネルPに対し、カメラを用いた混色検査等の表示品位検査を実行した場合、本来明部と判定されるべき箇所にパネル変形部PDが生じていると、当該箇所を暗部であると検知する場合がある。当該箇所は、パネル変形部PDにより暗部となっているのか、あるいは、混色により暗部となっているのかが判断することが困難であり、本来混色が生じていないフレキシブル表示パネルPを、混色が発生した不良品であると誤って判断する可能性がある。
 図5は、本実施形態に係る検査装置2が奏する効果について説明するための図であり、図5の(a)と図5の(b)との何れにおいても、図2の(b)に対応する位置における断面図を示している。
 本実施形態においても、図5の(a)に示すように、異物捕捉シート8上に、異物Eが生じる場合がある。異物捕捉シート8上に異物Eが存在する状態において、フレキシブル表示パネルPを検査装置2上に配置した場合、本実施形態においても、図5の(a)に示すように、表示領域DAの一部にパネル変形部PDが生じる。
 しかしながら、本実施形態において、真空チャック機構6による、フレキシブル表示パネルPの吸着が実行されることにより、図5の(b)に示すように、異物Eが、異物捕捉シート8の多孔質シート12に生じる凹部12Rに捕捉される。これは、多孔質シート12が、検査ステージ4と比較して剛性が低いために、真空吸着によってフレキシブル表示パネルPに押された異物Eが、多孔質シート12に押し込まれることによる。
 多孔質シート12上の凹部12R中に、異物Eが捕捉されることにより、多孔質シート12と重畳する位置に吸着された被検査物への、異物Eによる傷等の発生が低減する。したがって、本実施形態に係る検査装置2を使用して、被検査物の検査を行う場合には、検査装置2上に異物Eが生じた場合であっても、被検査物への傷等の発生を低減できる。
 また、多孔質シート12上の凹部12R中に、異物Eが捕捉されることにより、フレキシブル表示パネルPの表示領域DAからパネル変形部PDが除去される。したがって、本実施形態においては、検査装置2上に異物Eが生じた場合であっても、フレキシブル表示パネルPの表示領域DAにおける凹凸を低減した状態において、フレキシブル表示パネルPの検査を実行できる。このために、本実施形態においては、本来良品であるフレキシブル表示パネルPを、不良品であると誤検知する蓋然性を低減でき、フレキシブル表示パネルPの製造工程における歩留まりを改善できる。
 なお、変形防止層14は、多孔質シート12の下層のみに形成されている。このため、変形防止層14は、真空吸着による多孔質シート12の変形を低減するものの、異物Eによる多孔質シート12の変形を阻害しない。このために、変形防止層14は、多孔質シート12の、異物Eを取り込む機能を阻害しない。
 また、多孔質シート12よりも剛性の高い支持シート10上に異物Eが生じた場合、フレキシブル表示パネルPの額縁領域NAにパネル変形部PDが生じる。しかしながら、額縁領域NAは、混色等、表示品位に影響する不良は生じない。このため、フレキシブル表示パネルPの額縁領域NAにパネル変形部PDが生じた場合であっても、フレキシブル表示パネルPの検査に与える影響は小さい。
 加えて、支持シート10が多孔質シート12よりも剛性が高いことにより、フレキシブル表示パネルPの端子部TAが、支持シート10によってより確実に保持される。このために、上述した混色検査等を実施するための、端子部TAへの外部機器の実装がより容易となり、検査装置2を使用した検査がより簡便となる。
 本実施形態において、多孔質シート12が繊維状材料を備える場合、多孔質シート12は、繊維状材料間に異物Eを取り込むことにより、異物Eを捕捉してもよい。本実施形態において、多孔質シート12が備える繊維状材料の長さと直径との比は、1000以上:1であってもよい。すなわち、多孔質シート12が備える繊維状材料は、当該繊維状材料の直径の1000倍以上の長さを有していてもよい。上記構成によれば、異物Eを多孔質シート12が捕捉した際の、多孔質シート12に含まれる繊維状材料からの発塵が防止でき、また、異物Eを繊維状材料中に、効率よく取り込むために必要な剛性を、多孔質シート12が備えることが可能である。
 また、多孔質シート12が備える繊維状材料の直径は、フレキシブル表示パネルP等の被検査物の厚みd2の、10分の1以下であることが好ましい。当該繊維状材料を多孔質シート12に用いることにより、多孔質シート12は、異物Eを補足するために適切な剛性、すなわち柔軟性を獲得することができる。
 本実施形態において、10,000mあたりのグラム重量を示す単位である、デシテックスを用いて、多孔質シート12が備える繊維状材料の直径を表した場合、本実施形態に係る繊維状材料の直径は、5デシテックス以下であることが好ましい。また、本実施形態に係る繊維状材料の直径は、30μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがより好ましい。上記構成により、多孔質シート12が、異物を繊維状材料中に、効率よく取り込むことが可能である。なお、本実施形態に係る繊維状材料の直径が、0.1デシテックス以上、あるいは0.1μm以上であれば、当該繊維状材料を人工的に製造できる。
 本実施形態において、多孔質シート12は、導電性を有していてもよい。例えば、多孔質シート12は、繊維状の導電性材料を含んでいてもよく、上述した繊維状材料が、当該導電性材料であってもよい。これにより、検査ステージ4上におけるフレキシブル表示パネルP等の被検査物に、静電気が発生することを低減でき、当該静電気による被検査物へのダメージを低減できる。導電性材料は、例えば、Pt、Au、あるいはカーボンの何れかを含んでいてもよい。
 上述した膜厚d1は、20μm以上であることが好ましい。フレキシブル表示パネルの検査を、検査装置2を使用して行う場合、一般に、検査装置2上に発生する異物Eは、最大で数μm程度の大きさを有する異物Eが想定される。膜厚d1が20μm以上であることにより、数μm程度の大きさを有する異物Eを、多孔質シート12がより効率よく捕捉することが可能である。
 また、膜厚d1は、1mm以下であることが好ましく、300μm以下であることがより好ましい。上記構成により、多孔質シート12が変形して、異物Eを捕捉するために必要な柔軟性を、多孔質シート12が備えることが可能である。
 また、多孔質シート12の空隙率は、多孔質シート12全体の体積に対して、20体積パーセント以上、50体積パーセント以下であることが好ましい。多孔質シート12の空隙率が、20体積パーセント以上であることにより、同一の多孔質シート12が捕捉できる異物Eの最大量が十分に確保でき、多孔質シート12の交換、すなわち、異物捕捉シート8の交換の頻度を低減できる。また、多孔質シート12の空隙率が、50体積パーセント以下であることにより、フレキシブル表示パネルP等の被検査物を、多孔質シート12が適切に支持するための、多孔質シート12の剛性を十分に確保することができる。
 多孔質シート12の空隙率に関して、図6を参照して説明を行う。図6の(a)は、多孔質シート12を、当該多孔質シート12が備える繊維状材料の長さ方向と直交する面における断面図である。また、図6の(b)は、図6の(a)に対応する断面図であり、多孔質シート12を、多孔質シート12の厚み方向に圧縮した場合について示している。なお、図6においては、紙面に向かって上下方向を、多孔質シート12の厚み方向とする。
 本実施形態においては、図6の(a)に示すように、多孔質シート12の繊維状材料12fは、繊維状材料12fのそれぞれの中心が、正三角格子点状に略一致するように、多孔質シート12中に整列しているモデルを仮定する。また、多孔質シート12の繊維状材料12fは、長さ方向に略同一の形状を有していると仮定する。
 ここで、繊維状材料12fの半径をa、互いに隣接する繊維状材料12fの間隙の最小距離をbとおく。なお、被検査物が上述するフレキシブル表示パネルP等の柔軟な被検査物である場合、aはフレキシブル表示パネルPの厚みの10分の1以下の値を有する。しかしながら、被検査物が柔軟でない場合には、aはこれ以上の値であってもよい。また、bはa以下の値を有する。この場合、多孔質シート12の空隙率Kは、下記の式(1)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 多孔質シート12の空隙率Kの導出について、図6の(a)を参照しつつ説明する。
 図6の(a)に示すように、多孔質シート12の厚み方向において互いに隣接する繊維状材料12fにおいて、一方の繊維状材料12fの中心から、他方の繊維状材料12fの中心までの、多孔質シート12の厚み方向における距離を、T1とおく。ここで、T1は、aおよびbを用いて、下記の式(2)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 ここで、図6の(a)に示すように、互いに隣接する3つの繊維状材料12fの中心同士が形成する正三角形の領域を、領域Cとおく。ここで、領域Cに含まれる、繊維状材料12fの断面積は、繊維状材料12fの全断面積の半分である。したがって、領域Cにおける、多孔質シート12中の繊維状材料12fの充填率をFとすると、下記の式(3)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 さらに、繊維状材料12fは、多孔質シート12中において多数積層されていると仮定した場合、充填率Fは、多孔質シート12の全体の体積に対する、繊維状材料12fの充填率と略同一であると見なせる。したがって、1から充填率Fを引くことにより、上述した式(1)が導出される。
 次いで、多孔質シート12が捕捉することができる、異物Eの最大高さHについて、図6の(b)を参照しつつ説明する。
 図6の(b)に示すように、多孔質シート12が、繊維状材料12f同士が接触するまで、厚み方向に圧縮された場合を仮定する。ここで、図6の(b)に示すように、多孔質シート12の厚み方向において互いに隣接する繊維状材料12fにおいて、一方の繊維状材料12fの中心から、他方の繊維状材料12fの中心までの、多孔質シート12の厚み方向における距離を、T2とおく。この場合、ここで、T2は、aおよびbを用いて、下記の式(4)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 ここで、本実施形態において、多孔質シート12は、多孔質シート12の厚み方向に、n層の繊維状材料12fの層が積層された構造を有していると仮定する。なお、nは2以上の自然数である。この場合、多孔質シート12が圧縮されていない状態における、多孔質シート12の膜厚d1は、下記の式(5)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 同様に、多孔質シート12が圧縮された状態における、多孔質シート12の膜厚d3は、下記の式(6)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 ここで、多孔質シート12が確実に捕捉できる、異物Eの最大高さHは、異物Eに押されることにより、多孔質シート12が変形できる、多孔質シート12の厚み方向の最大変形量に相当する。したがって、当該最大高さHは、下記の式(7)によって表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 以上より、異物捕捉シート8は、上記の式(7)に示す、最大高さHまでの異物Eを、多孔質シート12に、確実に捕捉することができる。
 なお、上述したように、本実施形態においては、検査装置2が接着層16を備えているために、異物捕捉シート8と、支持シート10とを、検査ステージ4から剥離できる。ゆえに、異物捕捉シート8上または支持シート10上に多く異物が発生した場合には、容易に異物捕捉シート8または支持シート10を交換することができる。
 異物捕捉シート8が導電性材料を備えている場合、当該導電性材料が酸化し、異物捕捉シート8の導電性が失われた場合においても、異物捕捉シート8を交換してもよい。ここで、異物捕捉シート8が、Pt、Au、あるいはカーボンの何れかを導電性材料として備えている場合、当該導電性材料の酸化による、異物捕捉シート8の導電性の低下を遅延させ、異物捕捉シート8の交換の頻度を低減することができる。
 〔実施形態2〕
 図7は、本実施形態に係る検査装置2の概略上面図および概略断面図である。図7の(a)は、検査装置2の概略上面図であり、図7の(b)は、図1の(a)における、A-A線矢視断面図である。
 本実施形態に係る検査装置2は、前実施形態に係る検査装置2と比較して、多孔質シート12が、多孔質シート12の、被検査物を真空吸着する側の表面に、図7の各図に示す、皮膜18をさらに備えている点においてのみ、構成が異なる。皮膜18は、導電性材料からなり、膜厚d4を有する。
 本実施形態においても、検査装置2は、同様の理由から、良品であるフレキシブル表示パネルPを、不良品であると誤検知する蓋然性を低減でき、フレキシブル表示パネルPの製造工程における歩留まりを改善できる。
 また、本実施形態に係る検査装置2は、多孔質シート12が、導電性材料からなる皮膜18を、上面8S側に有するために、検査ステージ4上におけるフレキシブル表示パネルP等の被検査物に、静電気が発生することをより効率よく低減できる。
 皮膜18の膜厚d4は、100nm以下であることが好ましい。膜厚d4が100nm以下であることにより、多孔質シート12による異物Eの捕捉を、皮膜18が阻害することを低減できる。また、皮膜18の膜厚d4は、1nm以上であることが好ましい。膜厚d4が1nm以上であることにより、皮膜18が十分な導電性を獲得でき、かつ、比較的容易に皮膜18を形成することが可能である。
 皮膜18は、導電性材料として、例えば、Pt、Au、あるいはカーボンの何れかを含んでいてもよい。皮膜18がこれらの材料を含むことにより、皮膜18の膜厚d4が数nm程度であっても、皮膜18の酸化が低減され、皮膜18の導電性がより維持されやすくなる。
 本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
2  検査装置
4  検査ステージ
6  真空チャック機構
8  異物捕捉シート
10 支持シート
12 多孔質シート
14 変形防止層
18 皮膜
P  フレキシブル表示パネル
TA 端子部

Claims (20)

  1.  被検査物を載置する検査ステージを備えた検査装置であって、
     前記被検査物を前記検査ステージ上に真空吸着する真空チャック機構と、
     前記検査ステージ上への前記被検査物の真空吸着により、前記被検査物と接する、前記検査ステージ上の異物捕捉シートとを備えた検査装置。
  2.  前記異物捕捉シートは、前記被検査物の真空吸着により、前記被検査物と接する多孔質シートと、前記真空チャック機構による真空吸着により、多孔質シートが変形することを防止する、前記検査ステージと前記多孔質シートとの間の変形防止層とを含む請求項1に記載の検査装置。
  3.  前記多孔質シートは、複数の繊維状材料を含む請求項2に記載の検査装置。
  4.  前記繊維状材料の長さと直径との比が、1000以上:1である請求項3に記載の検査装置。
  5.  前記繊維状材料の直径が、被検査物の厚みの10分の1以下である請求項3または4に記載の検査装置。
  6.  前記繊維状材料の直径が、0.1デシテックス以上、5デシテックス以下である請求項3から5の何れか1項に記載の検査装置。
  7.  前記繊維状材料の直径が、0.1μm以上、30μm以下である請求項3から5の何れか1項に記載の検査装置。
  8.  前記繊維状材料の半径をa、互いに隣接する前記繊維状材料の間隙の最小距離をb、前記多孔質シートの空隙率をKとし、aが前記被検査物の厚みの10分の1以下の値を有し、bがa以下の値を有する場合、下記の式(1)が成立する請求項3から7の何れか1項に記載の検査装置。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
  9.  前記多孔質シートが、導電性を有する請求項2から8の何れか1項に記載の検査装置。
  10.  前記多孔質シートが、前記多孔質シートの、前記被検査物を真空吸着する側の表面に、導電性材料からなる皮膜をさらに備えた請求項9に記載の検査装置。
  11.  前記皮膜の膜厚が、1nm以上、100nm以下である請求項10に記載の検査装置。
  12.  前記多孔質シートが、繊維状の導電性材料を含む請求項9に記載の検査装置。
  13.  前記導電性材料が、Pt、Au、またはカーボンの何れかである請求項10から12の何れか1項に記載の検査装置。
  14.  前記多孔質シートの膜厚が、20μm以上、1mm以下である請求項2から13の何れか1項に記載の検査装置。
  15.  前記多孔質シートの空隙率が、20体積パーセント以上、50体積パーセント以下である請求項2から14の何れか1項に記載の検査装置。
  16.  前記変形防止層が、網目状の細線を備えた請求項2から15の何れか1項に記載の検査装置。
  17.  前記変形防止層が、ハニカム構造を含む細線を備えた請求項2から15の何れか1項に記載の検査装置。
  18.  前記検査ステージが、セラミックの焼結材料を含み、前記焼結材料が、前記真空チャック機構による前記被検査物の真空吸着に使用される真空吸着孔を有する多孔質体を備えた請求項1から17の何れか1項に記載の検査装置。
  19.  前記被検査物が、端子部を有するフレキシブル表示パネルであり、前記真空チャック機構による真空吸着により、前記フレキシブル表示パネルの、前記端子部とは異なる一部が、異物捕捉シートを介して、前記検査ステージ上に支持され、前記端子部を含む一部が、前記異物捕捉シートよりも剛性の高い支持シートにより支持される請求項1から18の何れか1項に記載の検査装置。
  20.  前記異物捕捉シートと、前記支持シートとの、前記被検査物と接する面の、前記検査ステージからの高さが同一である請求項19に記載の検査装置。
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