WO2018220840A1

WO2018220840A1 - 表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法

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Publication number: WO2018220840A1
Application number: PCT/JP2017/020674
Authority: WO
Inventors: 照幸山本
Original assignee: 堺ディスプレイプロダクト株式会社
Priority date: 2017-06-02
Filing date: 2017-06-02
Publication date: 2018-12-06

Abstract

表示パネル用検査装置は、画像表示領域(１１)を有する表示パネル(１)を検査するための表示パネル用検査装置であって、表示パネル(１)の前方に配置され、画像表示領域(１１)を撮像する撮像装置(３)と、表示パネル(１)と撮像装置(３)との間に配置された光制御部材(４)とを備える。光制御部材(４)は、画像表示領域(１１)から前方に出射された光を透過する光透過領域(４１)と、表示パネル(１)の周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域(４２)とを有する。遮光領域(４２)の面積は、表示パネル(１)に対する光制御部材(４)の位置を保持した状態で、任意に変更可能である。

Description

表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法

　この発明は、表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法に関する。

　表示パネルにおける点欠陥、線欠陥、班欠陥、色度欠陥等の欠陥は、検査員が検査ステージ上で駆動されている表示パネルを目視する目視検査や、検査ステージ上で駆動されている表示パネルをテレビカメラで撮像し、このテレビカメラから出力されて表示パネルの画像を示す出力信号をコンピュータで処理して自動検査によって検出されることが知られている。

　従来、自動検査で使用される表示パネル用検査装置としては、特許文献１（特開平８－２２００１４号公報）に開示されたものがある。この表示パネル用検査装置は、ＬＣＤ（液晶ディスプレイ）パネル下に配置され、ＬＣＤパネルの下面に沿って移動可能なライン光源と、ＬＣＤパネル上に配置され、ＣＣＤ（電荷結合素子）を有するラインセンサとを備えている。また、ラインセンサは、上下方向においてライン光源と重なる位置にあり、ライン光源の移動と同期して移動可能に設けられている。

　上記構成の表示パネル用検査装置が、ＬＣＤパネルを検査する場合、点灯状態のライン光源をＬＣＤパネルの下面に沿って移動させて、ライン光源の光をＬＣＤパネルの下面の各部に順次照射する。このとき、ラインセンサがライン光源の移動と同期して移動し、ラインセンサのＣＣＤがＬＣＤパネルから出る光を受光する。すなわち、ＬＣＤパネルの上面の各部を順次撮像する。その結果、ＬＣＤパネルの上面の各部の画像を示す信号がラインセンサからデータ処理部に出力されて、データ処理部がＬＣＤパネルの欠陥画素を検出し、モニタが欠陥画素の検出結果を表示する。

特開平８－２２００１４号公報

　ところで、上記ＬＣＤパネルの上面の各部を順次撮像するとき、ＬＣＤパネルを経由しないでＬＣＤパネルを取り囲む領域を経由した光がＣＣＤに入射すると、検査結果が不正確になる恐れがある。

　そこで、上記検査結果が不正確になるのを防ぐ方法としては、ＬＣＤパネルの周囲の空間上に、ライン光源の光を透過しない遮光部材を配置することにより、その空間からＣＣＤに光を出射させないようにする方法が考えられる。

　しかしながら、上記方法では、例えば、７０型のＬＣＤパネルの検査後、６０型のＬＣＤパネルを検査しようとすると、遮光部材をより大きな遮光部材に交換するか、遮光部材を追加するかしなければならない。

　したがって、上記方法には、表示パネルのパネルサイズが変更されると、遮光部材の交換または追加が行われるため、検査効率が低下してしまうという問題がある。

　そこで、この発明の課題は、様々なパネルサイズの表示パネルを検査することができると共に、検査効率の低下を防ぐことができる表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法を提供することにある。

　この発明の一態様に係る表示パネル用検査装置は、
　画像表示領域を有する表示パネルを検査するための表示パネル用検査装置であって、
　上記表示パネルの前方に配置され、上記画像表示領域を撮像する撮像装置と、
　上記表示パネルと上記撮像装置との間に配置された光制御部材と
を備え、
　上記光制御部材は、
　上記画像表示領域から前方に出射された光を透過する光透過領域と、
　上記表示パネルの周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域と
を有し、
　上記遮光領域の面積は、上記表示パネルに対する上記光制御部材の位置を保持した状態で、任意に変更可能である。

　この発明の一態様に係る表示パネル用検査方法は、
　画像表示領域を有する表示パネルを検査するための表示パネル用検査方法であって、
　上記画像表示領域から前方に出射された光を透過する光透過領域と、上記表示パネルの周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域とを有する光制御部材を、上記表示パネルと撮像装置との間に配置する工程と、
　上記光制御部材の配置後、上記表示パネルの後方に配置された光源装置に上記表示パネルに向かって光を出射させた状態で、上記表示パネルの上記画像表示領域を上記撮像装置で撮像する工程と
を備え、
　上記遮光領域の面積は、上記表示パネルに対する上記光制御部材の位置を保持した状態で、任意に変更可能である。

　この発明の表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法は、様々なパネルサイズの表示パネルを検査することができると共に、検査効率の低下を防ぐことができる。

この発明の第１実施形態の表示パネル用検査装置の模式図である。液晶表示パネルの模式断面である。光制御パネルの模式斜視図である。液晶表示パネルの検査を説明するための模式図である。光制御パネルの遮光領域の面積の調整を説明するための模式図である。光制御パネルの模式斜視図である。液晶表示パネルの検査を説明するための模式図である。液晶表示パネルの検査で使用可能なヒータの模式斜視図である。光制御パネルの遮光領域の面積の調整を説明するための模式図である。この発明の第２実施形態の表示パネル用検査装置のブロック図である。この発明の第３実施形態の表示パネル用検査装置の模式図である。この発明の第４実施形態の表示パネル用検査装置の模式図である。図１２の主要部の模式斜視図である。

　以下、この発明の表示パネル用検査装置および表示パネル用検査方法を図示の実施の形態により詳細に説明する。なお、図面において、同一の参照番号は、同一部分または相当部分を表わすものである。また、図面において、ｘ軸は液晶表示パネルの厚さ方向、ｙ軸は液晶パネルの画面の水平方向、ｚ軸は液晶パネルの画面の鉛直方向に対応している。

　〔第１実施形態〕
　図１は、この発明の第１実施形態の表示パネル用検査装置の主要部の概略構成を示す模式図である。

　上記表示パネル用検査装置は、例えば８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’を検査するための表示パネル用検査装置であって、バックライトユニット２と、撮像装置の一例としてのカメラ３と、光制御部材の一例としての光制御パネル４と、コンピュータ５とを備える。すなわち、上記表示パネル用検査装置は、８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’を順次検査することが可能に構成されている。なお、７０型の液晶表示パネル１’およびこれの構成部（画像表示領域１１’およびブラックマトリクス１２’）は、図７に示している。また、８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’は表示パネルの一例である。

　カメラ３は、液晶表示パネル１の前方に配置されている。このカメラ３は、８０型の液晶表示パネル１の画像表示領域１１を撮像して、この撮像結果を示す信号を出力する。より詳しくは、カメラ３は、例えばＣＣＤ(Charged-coupled devices)、ＣＭＯＳ(Complementary metal-oxide-semiconductor)などの撮像素子３１を有し、画像表示領域１１から前方に出射された光を受光する。このとき、上記光に応じた信号が生成されてコンピュータ５に出力される。

　バックライトユニット２は、液晶表示パネル１の後方に配置されている。このバックライトユニット２は、電源ユニット（図示せず）から電源の供給を受けて、前面が発光する。すなわち、バックライトユニット２の前面は、８０型の液晶表示パネル１に向かって光を出射するようになっている。より詳しくは、バックライトユニット２は、例えば７０００ｃｄ～２２００ｃｄの範囲内で明るさ調整が可能であると共に、８０型の液晶表示パネル１の後面（カメラ３側とは反対側の面）をムラ無く照らすことが可能である。

　８０型の液晶表示パネル１は画像表示領域１１を前面（光制御パネル４側の表面）に有する。この画像表示領域１１は、それぞれ、映像信号に対応する画像を表示させるための領域である。また、画像表示領域１１は、映像信号に対応する画像を表示しないブラックマトリクス１２で取り込まれている。すなわち、８０型の液晶表示パネル１の前面の周縁部にブラックマトリクス１２が形成されている。

　光制御パネル４は、８０型の液晶表示パネル１とカメラ３との間に配置される。この光制御パネル４は、画像表示領域１１から前方に出射された光を透過する光透過領域４１と、８０型の液晶表示パネル１の周縁部に隣接する空間を通ってカメラ３に向かう光を遮る遮光領域４２とを有する。この遮光領域４２の面積を調整するとき、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃが使用される。

　第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃは、それぞれ、螺旋状のニクロム線（図示せず）を内部に有している。このニクロム線に電流を流すため、ニクロム線は電源に接続されている。また、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃのそれぞれには、光制御パネル４に接触させる平坦面が設けられている。なお、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃは、それぞれ、金属発熱体の一例としてのニクロム線を内部に有していたが、他の金属発熱体（例えば鉄クロム線）を内部に有してもよい。また、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃのうちの少なくとも１つが、セラミック発熱体を内部に有するようにしてもよい。また、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃは、画像表示領域１１の撮像時、光制御パネル４とカメラ３との間に位置させない。

　コンピュータ５は、カメラ３の撮像画像、検査結果などを表示するモニタ５１と、ＣＰＵ（中央処理装置）、メモリ、入出力回路などから構成された制御装置５２とを備えている。

　制御装置５２は、バックライトユニット２および８０型の液晶表示パネル１を制御するため、バックライトユニット２および８０型の液晶表示パネル１に制御信号を送出する。より詳しくは、制御装置５２は、バックライトユニット２の点灯および非点灯を制御するバックライトユニット制御部５２ａと、８０型の液晶表示パネル１の画像表示領域１１に検査用画像を表示させるための画像表示領域制御部５２ｂと、カメラ３からの信号に基づいて、画像表示領域１１内におけるムラ、黒点、白点などのいわゆる表示品位不良の有無を検査する検査部５２ｃとを有している。この検査部５２ｃが出す検査結果はモニタ５１に表示されるようになっている。なお、制御装置５２は、８０型の液晶表示パネル１と同様に、７０型の液晶表示パネル１の表示品位不良の有無を検査可能に構成されている。

　図２は、８０型の液晶表示パネル１の模式断面である。

　液晶表示パネル１は、表示パネル本体１００と、表示パネル本体１００の前方に配置された前側偏光板１２４と、表示パネル本体１００の後方に配置された後側偏光板１１４とを備えている。

　より詳しくは、表示パネル本体１００は、後側偏光板１１４側に第１ガラス基板１０１を有する一方、前側偏光板１２４側に第２ガラス基板１０２を有する。この第１ガラス基板１０１と第２ガラス基板１０２の間には液晶層１０３が設けられている。また、第１ガラス基板１０１と第２ガラス基板１０２の間には、液晶層１０３に封入される液晶を封止するためのシール材１３１が、第２ガラス基板１０２の周縁部に沿って設けられている。

　第１ガラス基板１０１の上面（第２ガラス基板１０２側の表面）上には、複数のＴＦＴ（薄膜トランジスタ）１１１，１１１，・・・と、各ＴＦＴ１１１に接続される表示画素の画素電極１１２とが形成されている。このＴＦＴ１１１および画素電極１１２上には、配向膜１１３が積層されている。一方、第１ガラス基板１０１の下面には、後側偏光板１１４が貼り付けられている。また、第１ガラス基板１０１の上面の周縁部上には、供給回路基板１１５が設置されている。

　供給回路基板１１５は、複数の走査信号配線（図示せず）を介して、各行のＴＦＴ１１１に順次操作信号を供給する。

　第２ガラス基板１０２の下面（第１ガラス基板１０１側の表面）下には、カラーフィルタ層１２１が形成されている。このカラーフィルタ層１２１は、赤色カラーフィルタ１２１Ａ、緑色カラーフィルタ１２１Ｂおよび青色カラーフィルタ１２１Ｃをそれぞれ複数有する。各赤色カラーフィルタ１２１Ａ、各緑色カラーフィルタ１２１Ｂおよび各青色カラーフィルタ１２１Ｃは、赤色サブ画素、緑色サブ画素および青色サブ画素に対応する。また、カラーフィルタ層１２１下には、対向電極１２２および配向膜１２３が積層されている。一方、第２ガラス基板１０２の上面には、前側偏光板１２４が貼り付けられている。

　後側偏光板１１４および前側偏光板１２４は、後側偏光板１１４の吸収軸と前側偏光板１２４の吸収軸とは互いに直交するように、形成および配置されている。別の言い方をすれば、後側偏光板１１４はｚ軸と平行な吸収軸を有する一方、前側偏光板１２４はｙ軸に平行な吸収軸を有する。

　画素電極１１２および対向電極１２２は、それぞれ、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）からなる透明電極である。

　図示しないが、第１ガラス基板１０１の上面の周縁部上には、画素電極１１２にデータ信号を供給するための供給回路基板も設置されている。また、７０型の液晶表示パネル１’の内部構造は、８０型の液晶表示パネル１の内部構造と同じである。

　図３は、光制御パネル４を前側から見た模式斜視図である。

　光制御パネル４は、画像表示領域１１から前方に出射された光を透過する板部材４３（例えばガラス板）を用いて形成されている。

　より詳しくは、例えばロイコ染料および顕色材を含んだ感熱剤を用いて、感熱層４４が板部材４３の前面上に形成されている。この感熱層４４において、加熱されて発色した部分が遮光領域４２である。また、感熱層４４において、加熱されかった部分が光透過領域４１である。また、光透過領域４１および遮光領域４２は、光透過領域４１のｙ軸方向，ｚ軸方向の長さが８０型の液晶表示パネル１の画像表示領域１１のｙ軸方向，ｚ軸方向の長さよりも短くならならないように形成される。なお、上記感熱剤の一部の加熱は、例えば、検査員が第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃで行ってもよいし、他の装置で行ってもよい。

　上記感熱層４４は、加熱前、画像表示領域１１から前方に出射された光と対して透明であり、かつ、液晶表示パネル１の周囲を通ってカメラ３に向かう光に対して透明であるが、加熱されると発色し、液晶表示パネル１の周囲を通ってカメラ３に向かう光に対して不透明になる。なお、上記感熱剤の加熱後の色は、液晶表示パネル１の周囲を通ってカメラ３に向かう光に対して不透明な色であれば、特に限定されないが、画像表示領域１１の画像との区別を容易にする観点上、例えば黒が好ましい。

　上記構成の表示パネル用検査装置を用いて、８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’を順次検査する場合、次のようにする。

　まず、８０型の液晶表示パネル１の位置および姿勢を固定するため、測定台（図示せず）の上面の溝に液晶表示パネル１の下部を嵌合させて、測定台上に液晶表示パネル１を設置する。これにより、液晶表示パネル１の後面がバックライトユニット２の前面に対向する。なお、上記測定台に対する８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’の位置を決めるための目印が、上記測定台に付けられている。

　次に、図４に示すように、遮光領域４２の内縁がブラックマトリクス１２に対向するように、液晶表示パネル１の前方に光制御パネル４を配置する。例えば、遮光領域４２の内縁が、ブラックマトリクス１２の幅方向の中心を通る線と重なるように、光制御パネル４を配置する。なお、遮光領域４２の内縁は、ブラックマトリクス１２の幅方向の中心を通る線の近傍の部分と重なってもよい。また、液晶表示パネル１下の領域を通ってカメラ３に向かう光は測定台で遮光される。

　次に、バックライトユニット２を点灯させて、画像表示領域１１に検査用画像を表示させた後、画像表示領域１１を光透過領域４１を介してカメラ３で撮像する。これにより、８０型の液晶表示パネル１の表示品位の良否がモニタ５１に表示される。

　次に、上記測定台から８０型の液晶表示パネル１を降ろして、８０型の液晶表示パネル１のときと同様に、上記測定台上に７０型の液晶表示パネル１’を設置する。

　次に、図５に示すように、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの平坦面の温度を所定温度まで上げた後、光透過領域４１の遮光領域４２と隣り合う部分に、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの平坦面をそれぞれ接触させる。このような作業を複数回行うことにより、図６に示すように、７０型の液晶表示パネルを検査するための遮光領域４２’および光透過領域４１’を有する光制御パネル４’が得られる。このとき、光制御パネル４’と液晶表示パネルとの関係は、図７に示すようになる。なお、光透過領域４１の遮光領域４２と隣り合う部分に、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの平坦面を接触させた後、その平坦面の温度を所定温度まで上げてもよい。

　最後に、バックライトユニット２を点灯させて、画像表示領域１１’に検査用画像を表示させた後、画像表示領域１１’を光透過領域４１’を介してカメラ３で撮像する。これにより、７０型の液晶表示パネル１’の表示品位の良否がモニタ５１に表示される。

　このように、遮光領域４２，４２’の内縁がブラックマトリクス１２，１２’に対向するので、液晶表示パネル１，１’の周縁部に隣接する空間を通ってカメラ３に向かう光が遮光領域４２，４２’で遮ることができる。これにより、上記光による悪影響が画像表示領域１１の撮像に及ぶのを防ぐことができる。その結果、検査部５２ｃは液晶表示パネル１を正確に検査することができる。したがって、検査部５２ｃの検査結果に基づいて、表示領域の例えばムラ補正を的確に行うことができる。

　また、８０型の液晶表示パネル１に対する光制御パネル４の位置を保持した状態で、遮光領域４２の面積は任意に変更可能である。これにより、７０型の液晶表示パネル１’の検査時における光制御パネル４’の位置が、８０型の液晶表示パネル１の検査時における光制御パネル４の位置と同じでも、７０型の液晶表示パネル１の周縁部に隣接する空間を通ってカメラ３に向かう光を遮光領域４２’で遮ることができる。したがって、様々なパネルサイズの液晶表示パネル１を検査することができると共に、検査効率の低下を防ぐことができる。

　また、光制御パネル４の感熱層４４は、加熱されたとき、液晶表示パネル１の周縁部に隣接する空間を通ってカメラ３に向かう光に対して不透明となる。したがって、上記加熱の対象となる領域の面積を調整することにより、遮光領域４２の面積を任意に設定することができる。

　上記第１実施形態では、表示パネル用検査装置はバックライトユニット２を備えていたが、液晶表示パネル１，１’が光源を有しているのであれば、バックライトユニット２を備えなくてもよい。すなわち、バックライトユニット２の換わりに、液晶表示パネル１，１’に設けられた光源を用いてもよい。

　上記第１実施形態では、８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’を検査していたが、８０型，７０型の液晶表示パネル１，１’とは異なるサイズの液晶表示パネルを検査してもよい。

　上記第１実施形態では、８０型の液晶表示パネル１の検査時の位置で光制御パネル４の一部を加熱して、光制御パネル４’を得ていたが、その位置とは異なる位置で光制御パネル４の一部を加熱して、光制御パネル４’を得てもよい。

　上記第１実施形態では、光透過領域４１’および遮光領域４２’の形成に、それぞれの形状が長板形状である第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃを用いていたが、図８に示すように、平面視形状がコの字形状であるヒータ６０を用いてもよい。

　ヒータ６０は、第１ヒータ６Ａなどとは形状が異なるだけであって、第１ヒータ６Ａなどと同様に、光制御パネル４の感熱層４４を加熱することが可能である。また、ヒータ６０の内側の領域が７０型の光透過領域４１’に対応するように、ヒータ６０の形状が設定されている。また、ヒータ６０には、光制御パネル４に接触する平坦面が設けられている。

　ヒータ６０を用いて、光透過領域４１’および遮光領域４２’を形成するとき、ヒータ６０の平坦面の温度を所定温度まで上げた後、図９に示すように、光透過領域４１の遮光領域４２と隣り合う部分に、ヒータ６０の平坦面を接触させる。これにより、図６に示すように、光透過領域４１’および遮光領域４２’が得られる。なお、光透過領域４１の遮光領域４２と隣り合う部分に、ヒータ６０の平坦面を接触させた後、その平坦面の温度を所定温度まで上げてもよい。

　このように、光制御パネル４にヒータ６０を一度接触させれば、光透過領域４１および遮光領域４２が得られるので、光透過領域４１および遮光領域４２を得るための作業を効率良く行うことができる。

　上記第１実施形態では、光透過領域４１，４１’および遮光領域４２，４２’は、感熱層４４を用いて形成されていたが、例えば感圧シートで形成されるようにしてもよい。

　〔第２実施形態〕
　図１０は、この発明の第２実施形態の表示パネル用検査装置のブロック図である。

　上記表示パネル用検査装置は、液晶表示パネル１’の機種を示す機種情報を検出するバーコードリーダ２０７を備える。これにより、遮光領域４２の面積は、バーコードリーダ２０７によって検出された機種情報に基づいて、自動的に変更可能になっている。なお、バーコードリーダ２０７は機種情報検出部の一例である。

　より詳しくは、上記表示パネル用検査装置は、このバーコードリーダ２０７からの信号が入力されるコンピュータ２０５と、ヒータ駆動ユニット２０８を備える。

　ヒータ駆動ユニット２０８は、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃのそれぞれを独立してｘ軸方向，ｙ軸方向，ｚ軸方向に駆動させる。

　コンピュータ２０５にはバーコードリーダ２０７からの信号が入力される。このコンピュータ２０５の制御装置２５２は、バックライトユニット制御部５２ａ、画像表示領域制御部５２ｂ、検査部５２ｃ、ヒータ温度制御部２５２ｄおよびヒータ駆動ユニット制御部２５２ｅを有する。

　ヒータ温度制御部２５２ｄは、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃ内の平坦面の温度を制御する。これにより、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの平坦面が光制御パネル４の感熱層４４に接触しているとき、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの平坦面の温度を所定温度とすることが可能になっている。

　ヒータ駆動ユニット制御部２５２ｅは、バーコードリーダ２０７からの機種情報に基づいて、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃの駆動を制御する。例えば、ヒータ駆動ユニット制御部２５２ｅは、図５を使って説明しように、第１ヒータ６Ａ、第２ヒータ６Ｂおよび第３ヒータ６Ｃを動かす。

　上記構成の表示パネル用検査装置を用いて、例えば、８０型の液晶表示パネル１を検査した後、７０型の液晶表示パネル１’を検査する場合、７０型の液晶表示パネル１’の機種情報を示すバーコードが印刷されたシールを、７０型の液晶表示パネル１’の画像表示領域１１以外の部分に予め貼り付ける。これにより、検査員は、画像表示領域１１の撮像前、上記シールのバーコードをバーコードリーダ２０７でスキャンすると、機種情報に対応する加熱処理が光制御パネル４の感熱層４４に自動的に行われる。すなわち、図６に示す光透過領域４１’および遮光領域４２’が自動的に得られる。したがって、７０型の液晶表示パネル１の周縁部に隣接する空間を通ってカメラ３に向かう光を遮るための遮光面積を自動的に設定することができる。

　〔第３実施形態〕
　図１１は、この発明の第３実施形態の表示パネル用検査装置の主要部の概略構成を示す模式図である。

　上記表示パネル用検査装置は、液晶シャッタ装置３０４およびコンピュータ３０５を備えている。なお、液晶シャッタ装置３０４は、光制御部材の一例であると共に、電気光学部の一例である。

　より詳しくは、液晶シャッタ装置３０４は、複数の液晶シャッタで構成されている。この各液晶シャッタは、画像表示領域１１からカメラ３への光を透過することが可能である。また、各液晶シャッタは、印加電圧を変更することにより、液晶表示パネル１の周囲を通ってカメラ３に向かう光に対して不透明になることも可能である。

　制御装置３５２は、検査員の指示を示す信号に基づいて、液晶シャッタ装置３０４の各液晶シャッタの印加電圧を変更する印加電圧変更部３５２ｆを有している。この各液晶シャッタの印加電圧が変更されると、液晶シャッタ装置３０４は、図３の状態と同様の状態から、図６の状態と同様の状態に変化したり、図６の状態と同様の状態から、図３の状態と同様の状態に変化したりする。

　上記構成の表示パネル用検査装置は、上記第１実施形態と同様の作用効果を奏すると共に、印加電圧変更部３５２ｆが液晶シャッタ装置３０４の各液晶シャッタの印加電圧を変更することにより、液晶シャッタ装置３０４の遮光領域の形状および面積を任意に設定することができる。

　上記第３実施形態では、液晶シャッタ装置３０４の遮光領域の面積は、作業者の指示がなければ、変更されないが、作業者の指示がなくても、自動的に変更されるようにしてもよい。例えば、上記第２実施形態のバーコードリーダ２０７からの機種情報に基づいて、液晶シャッタ装置３０４の遮光領域４２の面積が自動的に変更されるようにしてもよい。すなわち、上記第２，第３実施形態の記載内容を適宜組み合わせたものを、この発明の一実施形態としてもよい。

　〔第４実施形態〕
　図１２は、この発明の第４実施形態の表示パネル用検査装置の主要部の概略構成を示す模式図である。

　上記表示パネル用検査装置は、カメラ３と光制御パネル４との間に配置されたカメラ用偏光板４１０と、バックライトユニット２と液晶表示パネル１との間に配置されたバックライト用偏光板４２０とを備えている。なお、カメラ用偏光板４１０は撮像装置用偏光板の一例であり、バックライト用偏光板４２０は光源装置用偏光板の一例である。

　カメラ用偏光板４１０の吸収軸は、図１３に示すように前側偏光板１２４の吸収軸と平行である。すなわち、カメラ用偏光板４１０の吸収軸はｙ軸と平行である。なお、図１３では、光制御パネル４の図示を省略している。

　バックライト用偏光板４２０は、例えば、前面(後側偏光板１１４側の面)および後面(後側偏光板１１４側とは反対側の面)がバックライトユニット２の前面と同サイズであり、バックライトユニット２の前面全域を覆っている。このバックライト用偏光板４２０の後面はバックライトユニット２の前面に接触している。また、バックライト用偏光板４２０の吸収軸は、後側偏光板１１４の吸収軸と平行である。すなわち、バックライト用偏光板４２０の吸収軸はｚ軸と平行である。なお、バックライト用偏光板４２０は、バックライトユニット２の前面よりも大きくしてもよい。また、バックライト用偏光板４２０は、バックライトユニット２の前面から所定間隔を隔てて配置されてもよい。

　上記構成の表示パネル用検査装置では、カメラ３と光制御パネル４との間にカメラ用偏光板４１０を配置し、バックライトユニット２と液晶表示パネル１との間にバックライト用偏光板４２０を配置した状態で、画像表示領域１１の撮像を行う。これにより、バックライトユニット２から出射された光のうち、バックライト用偏光板４２０を通過した光のみ、すなわち、バックライト用偏光板４２０の吸収軸と直交する振動方向の光のみが、液晶表示パネル１に向かう。したがって、仮に、液晶表示パネル１の周囲を通った光がカメラ３に向かったとしても、上記光はバックライト用偏光板４２０からの光となるので、上記光がカメラ３に入射するのをカメラ用偏光板４１０で防ぐことができる。なお、液晶表示パネル１内を通過する光は、振動方向が９０度ねじれるため、液晶表示パネル１内を通って画像表示領域１１から前方に出射された光は、カメラ用偏光板４１０を通過してカメラ３に入射する。

　この発明の具体的な実施形態について説明したが、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の範囲内で種々変更して実施することができる。例えば、上記第１～第４実施形態で記載した内容を適宜組み合わせたものを、この発明の一実施形態としてもよい。

　すなわち、上記開示を纏めると、次のようになる。

　この発明の一態様に係る表示パネル用検査装置は、
　画像表示領域１１を有する表示パネル１，１’を検査するための表示パネル用検査装置であって、
　上記表示パネル１，１’の前方に配置され、上記画像表示領域１１を撮像する撮像装置３と、
　上記表示パネル１，１’と上記撮像装置３との間に配置された光制御部材４，３０４と
を備え、
　上記光制御部材４，３０４は、
　上記画像表示領域１１から前方に出射された光を透過する光透過領域４１，４１’，３４１と、
　上記表示パネル１，１’の周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域４２，４２’，３４２と
を有し、
　上記遮光領域４２，４２’，３４２の面積は、上記表示パネル１，１’に対する上記光制御部材４，３０４の位置を保持した状態で、任意に変更可能である。

　ここで、上記表示パネル１，１’の前方とは、ユーザが画像表示領域１１を見るとき、そのユーザが存在する側を指す。

　上記構成によれば、上記撮像装置３が画像表示領域１１を撮像するとき、表示パネル１，１’の周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光が遮光領域４２，４２’，３４２で遮られるので、上記光による悪影響が画像表示領域１１の撮像に及ぶのを防ぐことができる。したがって、上記撮像装置３が撮像した画像表示領域１１に基づいて、画像表示領域１１の例えばムラ補正を良好に行うことができる。すなわち、上記ムラ補正が不良となるのを回避することができる。

　また、上記表示パネル１，１’に対する光制御部材４，３０４の位置を保持した状態で、遮光領域４２，４２’，３４２の面積は任意に変更可能である。これにより、上記表示パネル１，１’とはパネルサイズが異なる他の表示パネル１，１’を検査するとき、光制御部材４，３０４を動かさなくても、上記他の表示パネル１，１’の周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮光領域４２，４２’，３４２で遮ることができる。したがって、様々なパネルサイズの表示パネル１，１’を検査することができると共に、検査効率の低下を防ぐことができる。

　一実施形態の表示パネル用検査装置では、
　上記遮光領域４２，４２’は、加熱されることによって、上記表示パネル１，１’の周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる感熱層４４で形成される。

　上記実施形態によれば、上記感熱層４４を加熱すると、感熱層４４は上記光に対して不透明になる。したがって、上記加熱の対象となる領域の面積を調整することにより、遮光領域４２，４２’の面積を任意に設定することができる。

　一実施形態の表示パネル用検査装置では、
　上記遮光領域３４２は、印加電圧を変更することよって、上記表示パネル１，１’の周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる電気光学部３０４で形成される。

　上記実施形態によれば、上記電気光学部３０４の印加電圧を制御することにより、遮光領域３４２の面積を任意に設定することができる。

　一実施形態の表示パネル用検査装置では、
　上記表示パネル１，１’の機種を示す機種情報を検出する機種情報検出部２０７を備え、
　上記遮光領域４２，４２’の面積は、上記機種情報検出部２０７によって検出された上記機種情報に基づいて自動的に変更される。

　上記実施形態によれば、上記機種情報検出部２０７によって検出された機種情報に基づいて、遮光領域４２，４２’の面積を自動的に変更させるので、検査効率を向上させることができる。

　一実施形態の表示パネル用検査装置は、
　上記光制御部材４，３０４と上記撮像装置３との間に配置された撮像装置用偏光板４１０と、
　上記表示パネル１，１’の後方に配置され、上記表示パネル１，１’に向かって光を出射する光源装置２と、
　上記光源装置２と上記表示パネル１，１’との間に配置された光源装置用偏光板４２０と
を備え、
　上記表示パネル１，１’は、
　表示パネル本体１００と、
　上記表示パネル本体１００の前方に配置された前側偏光板１２４と、
　上記表示パネル本体１００の後方に配置されていると共に、上記前側偏光板１２４の吸収軸と直交する吸収軸を有する後側偏光板１１４と
を有し、
　上記撮像装置用偏光板４１０の吸収軸は、上記前側偏光板１２４の吸収軸と平行であり、
　上記光源装置用偏光板４２０の吸収軸は、上記後側偏光板１１４の吸収軸と平行である。

　上記実施形態によれば、上記撮像装置用偏光板４１０の吸収軸を、前側偏光板１２４の吸収軸と平行とすると共に、光源装置用偏光板４２０の吸収軸を、後側偏光板１１４の吸収軸と平行とするので、仮に、光源装置用偏光板４２０から出射された光が表示パネル１，１’の周囲を通って撮像装置３に向かったとしても、その光が撮像装置３に入射するのを撮像装置用偏光板４１０で防ぐことができる。

　この発明の一態様に係る表示パネル用検査方法は、
　画像表示領域１１を有する表示パネル１，１’を検査するための表示パネル用検査方法であって、
　上記画像表示領域１１から前方に出射された光を透過する光透過領域４１，４１’，３４１と、上記表示パネル１，１’の周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域４２，４２’，３４２とを有する光制御部材４，３０４を、上記表示パネル１，１’と撮像装置３との間に配置する工程と、
　上記光制御部材の配置後、上記表示パネル１，１’の後方に配置された光源装置２に上記表示パネル１，１’に向かって光を出射させた状態で、上記表示パネル１，１’の上記画像表示領域１１を上記撮像装置３で撮像する工程と
を備え、
　上記遮光領域４２，４２’，３４２の面積は、上記表示パネル１，１’に対する上記光制御部材４，３０４の位置を保持した状態で、任意に変更可能である。

　一実施形態の表示パネル用検査方法では、
　加熱されることによって、上記表示パネル１，１’の周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる感熱層４４を用いて、上記遮光領域４２，４２’を形成する。

　上記実施形態によれば、上記感熱層４４を加熱すると、感熱層４４は表示パネル１，１’の周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる。したがって、上記加熱の対象となる領域の面積を調整することにより、遮光領域４２，４２’の面積を任意に設定することができる。

　一実施形態の表示パネル用検査方法では、
　印加電圧を変更することよって、上記表示パネル１，１’の周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる電気光学部３０４を用いて、上記遮光領域３４２を形成する。

　上記実施形態によれば、上記電気光学部３０４の印加電圧を変更すると、電気光学部３０４は上記光に対して不透明になる。したがって、上記印加電圧を制御することにより、遮光領域３４２の面積を任意に設定することができる。

　一実施形態の表示パネル用検査方法では、
　上記画像表示領域１１の撮像前、上記表示パネル１，１’の機種を示す機種情報を機種情報検出部２０７で検出して、上記機種情報検出部２０７によって検出された機種情報に基づいて、遮光領域４２，４２’の面積を自動的に変更させる。

　上記実施形態によれば、上記画像表示領域１１の撮像前、遮光領域４２，４２’の面積が自動的に変更するので、検査効率を向上させることができる。

　一実施形態の表示パネル用検査方法では、
　上記表示パネル１，１’は、
　表示パネル本体１００と、
　上記表示パネル本体１００の前方に配置された前側偏光板１２４と、
　上記表示パネル本体１００の後方に配置されていると共に、上記前側偏光板１２４の吸収軸と直交する吸収軸を有する後側偏光板１１４と
を有し、
　上記前側偏光板１２４の吸収軸と平行な吸収軸を有する撮像装置用偏光板４１０を上記光制御部材４，３０４と上記撮像装置３との間に配置すると共に、上記後側偏光板１１４の吸収軸と平行な吸収軸を有する光源装置用偏光板４２０を上記光源装置２と上記表示パネル１，１’との間に配置した後、上記画像表示領域１１の撮像を行う。

　上記実施形態によれば、上記撮像装置用偏光板４１０が光制御部材４，３０４と撮像装置３との間に配置されると共に、光源装置用偏光板４２０が光源装置２と表示パネル１，１’との間に配置された状態で、画像表示領域１１の撮像が行われる。したがって、仮に、光源装置用偏光板４２０から出射された光が表示パネル１，１’の周囲を通って撮像装置３に向かったとしても、その光が撮像装置３に入射するのを撮像装置用偏光板４１０で防ぐことができる。

　１　８０型の液晶表示パネル
　１’　７０型の液晶表示パネル
　２　バックライトユニット
　３　カメラ
　４　光制御パネル
　１１　画像表示領域
　４１，４１’，３４１　光透過領域
　４２，４２’，３４２　遮光領域
　４４　感熱層
　１００　表示パネル本体
　３０４　液晶シャッタ装置
　４１０　撮像装置用偏光板
　４２０　バックライト用偏光板

Claims

　画像表示領域を有する表示パネルを検査するための表示パネル用検査装置であって、
　上記表示パネルの前方に配置され、上記画像表示領域を撮像する撮像装置と、
　上記表示パネルと上記撮像装置との間に配置された光制御部材と
を備え、
　上記光制御部材は、
　上記画像表示領域から前方に出射された光を透過する光透過領域と、
　上記表示パネルの周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域と
を有し、
　上記遮光領域の面積は、上記表示パネルに対する上記光制御部材の位置を保持した状態で、任意に変更可能であることを特徴とする表示パネル用検査装置。
　請求項１に記載の表示パネル用検査装置において、
　上記遮光領域は、加熱されることによって、上記表示パネルの周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる感熱層で形成されることを特徴とする表示パネル用検査装置。
　請求項１に記載の表示パネル用検査装置において、
　上記遮光領域は、印加電圧を変更することよって、上記表示パネルの周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる電気光学部で形成されることを特徴とする表示パネル用検査装置。
　請求項１から３までのいずれか一項に記載の表示パネル用検査装置において、
　上記表示パネルの機種を示す機種情報を検出する機種情報検出部を備え、
　上記遮光領域の面積は、上記機種情報検出部によって検出された上記機種情報に基づいて自動的に変更されることを特徴とする表示パネル用検査装置。
　請求項１から４までのいずれか一項に記載の表示パネル用検査装置において、
　上記光制御部材と上記撮像装置との間に配置された撮像装置用偏光板と、
　上記表示パネルの後方に配置され、上記表示パネルに向かって光を出射する光源装置と、
　上記光源装置と上記表示パネルとの間に配置された光源装置用偏光板と
を備え、
　上記表示パネルは、
　表示パネル本体と、
　上記表示パネル本体の前方に配置された前側偏光板と、
　上記表示パネル本体の後方に配置されていると共に、上記前側偏光板の吸収軸と直交する吸収軸を有する後側偏光板と、
を有し、
　上記撮像装置用偏光板の吸収軸は、上記前側偏光板の吸収軸と平行であり、
　上記光源装置用偏光板の吸収軸は、上記後側偏光板の吸収軸と平行であることを特徴とする表示パネル用検査装置。
　画像表示領域を有する表示パネルを検査するための表示パネル用検査方法であって、
　上記画像表示領域から前方に出射された光を透過する光透過領域と、上記表示パネルの周縁部に隣接する空間を通って前方に向かう光を遮る遮光領域とを有する光制御部材を、上記表示パネルと撮像装置との間に配置する工程と、
　上記光制御部材の配置後、上記表示パネルの後方に配置された光源装置に上記表示パネルに向かって光を出射させた状態で、上記表示パネルの上記画像表示領域を上記撮像装置で撮像する工程と
を備え、
　上記遮光領域の面積は、上記表示パネルに対する上記光制御部材の位置を保持した状態で、任意に変更可能であることを特徴とする表示パネル用検査方法。
　請求項６に記載の表示パネル用検査方法において、
　加熱されることによって、上記表示パネルの周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる感熱層を用いて、上記遮光領域を形成することを特徴とする表示パネル用検査方法。
　請求項６に記載の表示パネル用検査方法において、
　印加電圧を変更することよって、上記表示パネルの周囲を通って前方に向かう光に対して不透明になる電気光学部を用いて、上記遮光領域を形成することを特徴とする表示パネル用検査方法。
　請求項６から８までのいずれか一項に記載の表示パネル用検査方法において、
　上記画像表示領域の撮像前、上記表示パネルの機種を示す機種情報を機種情報検出部で検出して、上記機種情報検出部によって検出された機種情報に基づいて、遮光領域の面積を自動的に変更させることを特徴とする表示パネル用検査方法。
　請求項６から９までのいずれか一項に記載の表示パネル用検査方法において、
　上記表示パネルは、
　表示パネル本体と、
　上記表示パネル本体の前方に配置された前側偏光板と、
　上記表示パネル本体の後方に配置されていると共に、上記前側偏光板の吸収軸と直交する吸収軸を有する後側偏光板と
を有し、
　上記前側偏光板の吸収軸と平行な吸収軸を有する撮像装置用偏光板を上記光制御部材と上記撮像装置との間に配置すると共に、上記後側偏光板の吸収軸と平行な吸収軸を有する光源装置用偏光板を上記光源装置と上記表示パネルとの間に配置した後、上記画像表示領域の撮像を行うことを特徴とする表示パネル用検査方法。