WO2018110631A1 - 洗浄薬液供給装置、洗浄ユニット、及びプログラムを格納した記憶媒体 - Google Patents

洗浄薬液供給装置、洗浄ユニット、及びプログラムを格納した記憶媒体 Download PDF

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海洋 徐
富士彦 豊増
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    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/30625With simultaneous mechanical treatment, e.g. mechanico-chemical polishing

Definitions

  • the present invention relates to a cleaning chemical supply device, a cleaning unit, and a storage medium storing a program.
  • a CMP (Chemical Mechanical Polishing) apparatus includes a polishing unit for polishing a surface of a semiconductor substrate on which a semiconductor chip is formed, and a cleaning unit for cleaning a semiconductor substrate polished by the polishing unit while supplying a chemical solution. And have.
  • This cleaning unit mixes a chemical solution with a dilution water such as DIW (De-Ionized Water) to create a chemical solution with an adjusted concentration, and cleans the semiconductor substrate using this chemical solution.
  • DIW De-Ionized Water
  • Patent Document 1 describes a cleaning chemical supply apparatus for a substrate processing apparatus.
  • the cleaning chemical solution supply apparatus includes a processing tank 2 storing a processing liquid for processing a substrate, and a cleaning chemical liquid tank 3 storing a cleaning chemical liquid to be supplied to the processing tank 2.
  • the flow rate of the cleaning chemical solution is adjusted by providing a resistance portion 6 as a throttle in the middle of the pipe 4 leading to 2.
  • Patent Document 2 describes a cleaning device for scrub cleaning the surface of a substrate with a roll cleaning member.
  • cleaning chemicals and DIW De-Ionized Water supplied through separate flow paths are supplied to the substrate surface from separate nozzles.
  • Patent Document 3 describes a cleaning unit having a cleaning device and a cleaning chemical solution supply device.
  • the flow rates of DIW and cleaning chemical liquid are adjusted by DIWCLC 111 and chemical liquid CLC 113, respectively, and the adjusted DIW and chemical liquid are mixed by mixer 115, and the diluted chemical liquid is mixed from this mixing section 115 to the upper surface of cleaning device 200. This is supplied to the cleaning unit 222 and the bottom surface cleaning unit 223.
  • Patent Document 4 describes a cleaning unit having a cleaning device and a cleaning chemical solution supply device.
  • this cleaning unit when supplying the first chemical liquid to the cleaning device 200, the flow rates of DIW and chemical liquid are adjusted by the DIWCLC 110 and chemical liquid CLC 120, respectively, the adjusted DIW and chemical liquid are mixed by the mixer 72, and the diluted chemical liquid is obtained. Is supplied to the cleaning device 200.
  • medical solution is each adjusted with DIWCLC110 and the chemical
  • JP-A-9-260332 JP 2014-132641 A Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-9818 JP 2016-15469 A
  • a chemical solution and / or DIW has been supplied from a common supply source to a plurality of devices in a factory, and depending on the installation location of the device, the chemical solution and / or DIW pressure may be low.
  • the chemical liquid and / or DIW supply pressure to the cleaning chemical supply apparatus is low, the pressure loss of the flow path and the configuration in the cleaning chemical supply apparatus and the cleaning apparatus of the conventional configuration is sufficient for the substrate.
  • the chemical solution of the flow rate cannot be supplied.
  • the flow channel is branched from a common flow channel to each surface side of the substrate, and a restriction is provided in one of the flow channels. Is adjusted.
  • the chemical solution and / or DIW supply pressure to the cleaning chemical solution supply apparatus is low, there is a possibility that a sufficient flow rate of the chemical solution may not be supplied to the substrate due to pressure loss at the throttle portion.
  • An object of the present invention is to solve at least a part of the problems described above.
  • a cleaning chemical solution supply device for supplying a cleaning chemical solution to a cleaning device.
  • the cleaning chemical solution supply apparatus includes a chemical solution inlet portion and a dilution water inlet portion, a first chemical solution control unit fluidly connected to the chemical solution inlet portion and the dilution water inlet portion, the chemical solution inlet portion and the dilution water inlet.
  • a second chemical liquid control unit fluidly connected to the unit.
  • the first chemical liquid control unit is configured to receive a chemical liquid from the chemical liquid inlet and control a flow rate of the chemical liquid; and a dilution water from the dilution water inlet
  • a first dilution water flow control unit configured to receive the supply and control a flow rate of the dilution water; and the chemical solution and the dilution water from the first chemical liquid flow rate control unit and the first dilution water flow rate control unit
  • a first mixing unit for mixing.
  • the second chemical liquid control unit is configured to receive a supply of the chemical liquid from the chemical liquid inlet and control the flow rate of the chemical liquid; and the dilution from the dilution water inlet
  • a second dilution water flow control unit configured to receive a supply of water and control the flow rate of the dilution water, the chemical solution from the second chemical liquid flow rate control unit, and the second dilution water flow rate control unit;
  • a second mixing unit for mixing dilution water.
  • a cleaning chemical supply device for supplying a cleaning chemical to a cleaning device, comprising: a flow meter; a first pipe entering the flow meter; and a first outlet from the flow meter.
  • a cleaning chemical supply apparatus comprising: 2 pipes, wherein the first pipe and the second pipe are inclined from a horizontal direction and a vertical direction.
  • FIG. 1 is a schematic front view showing a cleaning chemical solution supply apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • the cleaning chemical solution supply apparatus 100 according to this embodiment is configured to be able to supply a cleaning chemical solution (for example, hydrofluoric acid or ammonia) to the cleaning apparatus 200 included in the substrate processing apparatus.
  • the substrate processing apparatus includes a polishing apparatus such as a CMP (Chemical Mechanical Polishing) apparatus, for example.
  • CMP Chemical Mechanical Polishing
  • a cleaning chemical solution supply apparatus 100 includes a case 101, a first chemical solution dilution box (first chemical solution control unit) 120, and a second chemical solution dilution box (second chemical solution control unit). 130 and a plurality of chemical utility boxes 50.
  • the first chemical solution dilution box 120, the second chemical solution dilution box 130, and the plurality of chemical solution utility boxes 50 are accommodated in the case 101.
  • the first chemical solution dilution box 120 and the second chemical solution dilution box 130 mix the chemical solution and the dilution water to generate a chemical solution (diluted chemical solution) whose flow rate and concentration are adjusted.
  • the dilution water is DIW (De-Ionized Water) or other dilution medium.
  • the dilution water is described as being DIW, but the dilution water may be a dilution medium other than DIW.
  • the chemical solution utility box 50 is configured to introduce the chemical solution from the chemical solution supply source 20 into the cleaning chemical solution supply apparatus 100.
  • six chemical utility boxes 50 are provided in the cleaning chemical supply device 100, but this is an example, and the number of chemical utility boxes 50 is changed as appropriate according to the specifications of the cleaning device 200.
  • FIG. 2 is a fluid circuit diagram of the cleaning unit according to one embodiment.
  • the cleaning unit 10 includes a cleaning chemical supply device 100 and a cleaning device 200.
  • the chemical solution utility box 50 includes an input unit 51 connected to the chemical solution supply source 20 (see FIG. 2), an on-off valve 52, a lockout valve 53, and a pressure gauge 54.
  • the on-off valve 52 is controlled to open and close by a signal from the control device 110.
  • the lockout valve 53 is a valve that is manually opened and closed, and is used, for example, when the chemical liquid supply source 20 is disconnected from the cleaning chemical liquid supply apparatus 100 during maintenance.
  • the pressure gauge 54 detects the pressure of the chemical liquid introduced from the chemical liquid supply source 20 into the cleaning chemical liquid supply apparatus 100.
  • the input unit 51 constitutes a chemical solution inlet.
  • a connection portion with the chemical solution supply source 20 of the cleaning chemical solution supply apparatus 100 constitutes a chemical solution inlet.
  • the control device 110 may be, for example, a control device provided for the cleaning chemical solution supply device 100, a control device provided for the cleaning unit 10, or polishing where the cleaning unit 10 is provided. It may be a control device provided for a substrate processing apparatus such as an apparatus.
  • the control device 110 includes a computer or a control circuit such as a microcomputer or a sequencer, and a recording medium (a volatile or nonvolatile memory or the like) that stores a program executed by the control circuit.
  • the program includes a program for supplying and cleaning chemical liquid (diluted chemical liquid) by the cleaning chemical liquid supply apparatus 100 and the cleaning apparatus 200. According to this program, each part of cleaning chemical solution supply apparatus 100 and cleaning apparatus 200 is controlled.
  • the program may be stored in a recording medium (CD, flash memory, etc.) that can be attached to and detached from the control device 110.
  • the control device 110 may be stored in a recording medium that can be read via wire or wireless.
  • the cleaning chemical solution supply device 100 further includes a regulator 60 for introducing DIW from the DIW supply source 30 into the cleaning chemical solution supply device 100.
  • the regulator 60 adjusts the pressure of DIW from the DIW supply source 30 and outputs it to the first chemical solution dilution box 120 and the second chemical solution dilution box 130 via the pipes 90, 91, 92.
  • the input part 61 of the regulator 60 constitutes a dilution water inlet part.
  • the connection portion of the cleaning chemical solution supply apparatus 100 with the DIW supply source 30 constitutes a dilution water inlet portion.
  • the first chemical solution dilution box 120 controls the chemical solution and DIW flow rates, respectively, and outputs a chemical solution (diluted chemical solution) having a desired flow rate and concentration.
  • the input part of the first chemical solution dilution box 120 is connected to the chemical solution utility box 50 via pipes 80 and 81 and is connected to the regulator 60 via pipes 90 and 91.
  • the output unit of the first chemical solution dilution box 120 is connected to the nozzle 211 of the cleaning unit 210 of the cleaning device 200 via the pipe 85.
  • the first chemical liquid dilution box 120 includes a first chemical liquid CLC (first chemical liquid flow rate control unit) 121, a first DIWCLC (first dilution water flow rate control unit) 122, and a mixing unit 123.
  • a CLC Closed Loop Controller
  • medical solution CLC121 controls the flow volume of the chemical
  • the first DIWCLC 122 controls and outputs the flow rate of DIW from the regulator 60.
  • the output part of the first chemical liquid CLC 121 is connected to the pipe 83.
  • the output unit of the first DIWCLC 122 is connected to the pipe 93.
  • the pipe 83 and the pipe 93 merge with the pipe 85.
  • the junction of the pipe 83, the pipe 93, and the pipe 85 constitutes the mixing unit 123.
  • the mixing unit 123 mixes the chemical liquid whose flow rate is controlled by the first chemical liquid CLC 121 and DIW whose first DIWCLC 122 has the flow rate controlled, and outputs a chemical liquid (diluted chemical liquid) having a desired flow rate and concentration.
  • the flow rate and concentration of the diluted chemical solution are determined according to the flow rate of the chemical solution and DIW set in the first chemical solution CLC 121 and the first DIWCLC 122 by the signal from the control device 110.
  • FIG. 3 is a configuration diagram illustrating a configuration of a flow control valve unit (CLC) according to an embodiment.
  • the first chemical CLC 121 and the first DIWCLC 122 include a flow meter 1212, a flow control valve (internal control valve) 1211, and a control unit 1213.
  • the flow meter 1212 of the first chemical CLC 121 is an ultrasonic flow meter. From the viewpoint of reducing pressure loss, an ultrasonic flow meter is preferably used as the flow meter 1212. However, in consideration of pressure loss in the cleaning chemical solution supply device 100 and the cleaning device 200 as a whole, a differential pressure type flow meter (orifice flow meter) is used. ) May be used.
  • the flow control valve 1211 is a motor valve, and the opening degree of the valve body 1211a is controlled by the power of a drive source 1211b including a motor.
  • the flow control valve 1211 may be a valve whose opening degree is adjustable, and may be another type of variable flow valve (for example, an electromagnetic valve driven by a solenoid or the like).
  • the control unit 1213 includes a control circuit such as a microcomputer and a memory that stores a program executed by the control circuit.
  • the control circuit and the memory are mounted on a control board, for example.
  • the control unit 1213 receives the fluid flow rate setting value iT from the control device 110 and also receives the fluid flow rate detection value io from the flow meter 1212, and the flow rate control valve 1211 so that the flow rate detection value io matches the flow rate setting value iT. Feedback control.
  • the fluid is a chemical liquid
  • the fluid is DIW.
  • the flow rate control valve unit including a flow meter, a flow rate control valve, and a control part is illustrated here, some or all of these may be provided separately.
  • the flow meter 1212 and the flow control valve 1211 are provided separately, and the control device 110 replaces the control unit 1213 (or via the control unit 1213) with the flow rate control valve based on the detection value from the flow meter 1212. 1211 may be controlled to control the flow rate.
  • the control device 110 may appropriately control the flow control valve 1211 via another drive circuit.
  • the first chemical solution dilution box 120 further includes a suck back valve unit 141 and a pressure gauge 142.
  • the suck back valve unit 141 is an on-off valve having a dripping prevention function.
  • the suck-back valve unit 141 includes a suck-back valve that sucks downstream fluid by a function that causes a volume change due to deformation of the diaphragm, and an open / close valve (stop valve, two-way valve) that opens and closes the flow path. It is. According to the suck back valve unit 141, when the output of the chemical solution (diluted chemical solution) from the first chemical solution dilution box 120 is cut off, dripping from the nozzle 211 (see FIG.
  • the pressure gauge 142 detects the pressure of the chemical liquid (diluted chemical liquid) output from the mixing unit 123, and the pressure of the chemical liquid (diluted chemical liquid) in the pipe 85 where the pipe 83 and the pipe 93 merge. To detect.
  • the second chemical solution dilution box 130 controls the chemical solution and DIW flow rates, respectively, and outputs a chemical solution (diluted chemical solution) having a desired flow rate and concentration.
  • the second chemical solution dilution box 130 controls the flow rates of the chemical solution and DIW independently of the control of the first chemical solution dilution box 120.
  • the input unit of the second chemical solution dilution box 130 is connected to the chemical solution utility box 50 via a pipe 80 and a pipe 82, and is connected to the regulator 60 via a pipe 90 and a pipe 92.
  • the output unit of the second chemical liquid dilution box 130 is connected to the nozzle 212 of the cleaning unit 210 of the cleaning apparatus 200 via the pipe 95 and is connected to the nozzle of the standby unit 230 of the cleaning apparatus 200 via the pipe 96 (see FIG. (Not shown).
  • the second chemical dilution box 130 includes a second chemical CLC (second chemical flow rate control unit) 131, a second DIWCLC (second dilution water flow rate control unit) 132, and a mixing unit 133.
  • medical solution CLC131 controls the flow volume of the chemical
  • the second DIWCLC 132 controls the flow rate of DIW from the regulator 60 and outputs it.
  • the output part of the second chemical liquid CLC 131 is connected to the pipe 84.
  • the output part of the second DIWCLC 132 is connected to the pipe 94.
  • a confluence of the pipe 84, the pipe 94, and the pipe 86 constitutes the mixing unit 133.
  • the mixing unit 133 mixes the chemical liquid whose flow rate is controlled by the second chemical liquid CLC 131 and DIW whose second DIWCLC 132 has its flow rate controlled, and outputs a chemical liquid (diluted chemical liquid) having a desired flow rate and concentration.
  • the flow rate and concentration of the diluted chemical solution are determined according to the flow rate of the chemical solution and DIW set by the second chemical solution CLC 131 and the second DIWCLC 132 based on the signal from the control device 110.
  • the second chemical liquid CLC 131 and the second DIWCLC 132 have the configuration shown in FIG. 3, similar to the first chemical liquid CLC 121 and the first DIWCLC 122.
  • the flow meter 1212 of the second chemical liquid CLC 131 is an ultrasonic flow meter, like the first chemical liquid CLC 121. From the viewpoint of reducing pressure loss, an ultrasonic flow meter is preferably used as the flow meter 1212. However, in consideration of pressure loss in the cleaning chemical solution supply device 100 and the cleaning device 200 as a whole, a differential pressure type flow meter (orifice flow meter) is used. ) May be used.
  • a differential pressure type flow meter (orifice flow meter) is used as the flow meter 1212 of the second DIWCLC 132.
  • an ultrasonic flow meter may be adopted as the flow meter 1212 of the second DIWCLC 132.
  • the fluid is a chemical liquid
  • the fluid is DIW.
  • Other configurations are the same as described above, and a description thereof will be omitted.
  • the second chemical solution dilution box 130 further includes an on-off valve 151, an on-off valve 152, and a pressure gauge 153.
  • the on-off valve 151 is provided in a pipe 95 branched from the pipe 86.
  • the on-off valve 151 opens and closes the fluid connection between the mixing unit 133 and the nozzle 212 on the substrate lower surface side of the cleaning apparatus 200.
  • the on-off valve 152 is provided in a pipe 96 branched from the pipe 86.
  • the on-off valve 152 opens and closes the fluid connection between the mixing unit 133 and the standby unit 230 of the cleaning device 200.
  • the pressure gauge 153 detects the pressure of the chemical solution (diluted chemical solution) output from the mixing unit 133, and detects the pressure of the chemical solution in the pipe 86 where the pipe 84 and the pipe 94 merge.
  • the cleaning apparatus 200 is an apparatus that is installed in a substrate processing apparatus such as a polishing apparatus and cleans the substrate W. As shown in FIG. 2, the cleaning apparatus 200 is connected to the cleaning chemical solution supply apparatus 100 via pipes 85, 95, and 96, and from the cleaning chemical solution supply apparatus 100, the chemical solution (chemical solution after dilution) and / or DIW Receive the supply.
  • the cleaning device 200 includes a cleaning unit 210 and a standby unit 230.
  • the cleaning unit 210 supplies a chemical solution (diluted chemical solution) to the first surface and the second surface (in this example, the upper surface and the lower surface) of the substrate W, and cleans the substrate W with this chemical solution.
  • a substrate that waits for cleaning in the cleaning unit 210 is disposed in the standby unit 230.
  • the cleaning apparatus 200 includes a DIW cleaning unit that is cleaned by DIW
  • a pipe that supplies DIW may be provided in the cleaning chemical supply apparatus 100.
  • Either the first surface or the second surface of the substrate W may be the surface or the lower surface of the substrate W.
  • the first surface and the second surface of the substrate W are surfaces that extend in the vertical direction when the substrate W is vertically arranged.
  • the cleaning unit 210 includes one or a plurality of nozzles 211 disposed on the upper surface side of the substrate W and a nozzle 212 disposed on the lower surface side of the substrate W. To avoid complication of the drawing, only one nozzle 211 is shown in FIG.
  • the one or more nozzles 211 are arranged above the substrate W and inject a chemical (diluted chemical) toward the upper surface of the substrate W.
  • the nozzle 211 is connected to the output of the first chemical solution dilution box 120 of the cleaning chemical solution supply apparatus 100 via the pipe 85, and the chemical solution (after dilution) adjusted to a desired flow rate and concentration in the first chemical solution dilution box 120.
  • chemical solution Of chemical solution.
  • the nozzle 212 has a configuration in which a plurality of nozzle holes are provided in a common housing.
  • the nozzle 212 is disposed below the substrate W and injects a chemical (diluted chemical) toward the lower surface of the substrate W.
  • the nozzle 212 is connected to the output of the second chemical solution dilution box 130 of the cleaning chemical solution supply apparatus 100 via the pipe 95, and the chemical solution (after dilution) adjusted to a desired flow rate and concentration in the second chemical solution dilution box 130. Of chemical solution).
  • the nozzle 212 is preferably a low pressure loss type nozzle in order to reduce pressure loss on the flow path.
  • Standby unit 230 receives supply of a chemical solution (chemical solution after dilution) adjusted to a desired flow rate and concentration in second chemical solution dilution box 130.
  • the on-off valves 151 and 152 may be controlled so that the chemical solution (diluted chemical solution) is supplied from the second chemical solution dilution box 130 to only one of the nozzle 212 and the standby unit 230 of the cleaning unit 210.
  • a pipe with a large inner diameter and a small pressure loss from the supply sources 20 and 30 to the nozzles 211 and 212 and the standby unit 230 it is preferable to use a valve (52, 151, 152, 141) having a small pressure loss.
  • the on-off valve 52, the regulator 60, the suck back valve unit 141, and the on-off valves 151 and 152 are controlled by signals from the control device 110.
  • the control device 110 executes control of the first chemical CLC 121 and the first DIWCLC 122 according to a program stored in the recording medium.
  • the flow rate of the chemical solution is controlled so that the first chemical solution CLC 121 becomes the flow rate set value from the control device 110, and the first DIWCLC 122 becomes the flow rate set value from the control device 110.
  • the flow rate of DIW is controlled, and the mixing unit 123 mixes the chemical solution after dilution (chemical solution after dilution) and DIW to generate a chemical solution (diluted chemical solution) controlled to a predetermined flow rate and concentration, This is output to the nozzle 211 on the upper surface side of the substrate of the cleaning apparatus 200.
  • First chemical liquid CLC 121 and first DIWCLC 122 are controlled by a signal from control device 110.
  • the control device 110 executes control of the first chemical CLC 121 and the first DIWCLC 122 according to a program stored in the recording medium.
  • the flow rate of the chemical solution is controlled so that the second chemical solution CLC 131 becomes the flow rate set value from the control device 110, and the second DIWCLC 132 becomes the flow rate set value from the control device 110.
  • the flow rate of DIW is controlled, and the mixing unit 133 mixes the chemical solution and DIW after the flow rate adjustment to generate a chemical solution (diluted chemical solution) controlled to a predetermined flow rate and concentration, and this is stored in the cleaning device 200. Output to the nozzle 212 on the lower surface side of the substrate. Further, the mixing unit 133 supplies a chemical solution (diluted chemical solution) controlled to a predetermined flow rate and concentration to the standby unit 230 of the cleaning device 200.
  • Second chemical liquid CLC 131 and second DIWCLC 132 are controlled by a signal from control device 110.
  • the control device 110 controls the second chemical liquid CLC 131 and the second DIWCLC 132 according to a program stored in the recording medium.
  • the on-off valve 141 is opened and the on-off valves 151 and 152 are closed (second)
  • the flow control valves of the chemical liquid CLC131 and the second DIWCLC132 may be closed).
  • the chemical solution (diluted chemical solution) whose flow rate and concentration are independently controlled by the first chemical solution dilution box 120 and the second chemical solution dilution box 130 is supplied from the nozzle 21 and the nozzle 212 to the substrate W, respectively.
  • the substrate W is cleaned by supplying the upper and lower surfaces of the substrate.
  • a chemical liquid having a lower chemical concentration to the nozzle 212 can be supplied to the nozzle 211.
  • Cleaning device 200 is controlled by a signal from control device 110.
  • the control device 110 executes control of the cleaning device 200 according to a program stored in the recording medium.
  • FIG. 4 is an example of a flowchart of a chemical solution supply process. These processes are executed in the control device 110.
  • step S11 it is determined whether or not the on-off valve 52 is opened. If it is determined in step S11 that the on-off valve 52 is opened, the on-off valve 52 is opened by a signal from the control device 110 in step S12.
  • step S13 it is determined whether or not to open the suck back valve unit 141. If it is determined in step S13 that the suck back valve unit 141 is to be opened, the suck back valve unit 141 is opened by a signal from the control device 110 in step S14. When the suck back valve unit 141 is already opened, the suck back valve unit 141 is kept open. On the other hand, when it is determined that the suck back valve unit 141 is maintained or closed, the control device 110 controls the suck back valve unit 141 so as to maintain or close the suck back valve unit 141. Is done.
  • step S15 in the first chemical solution dilution box 120, the flow rate of the chemical solution is controlled so that the first chemical solution CLC121 becomes the flow rate set value from the control device 110, and the first DIWCLC 122 controls the flow rate set value from the control device 110.
  • the flow rate of DIW is controlled so that
  • step S ⁇ b> 16 the mixing unit 123 mixes the chemical solution and DIW after the flow rate adjustment to generate a chemical solution (diluted chemical solution) controlled to a predetermined flow rate and concentration, and this is generated on the substrate upper surface side of the cleaning apparatus 200. Output to the nozzle 211.
  • the valve 141 is closed, the chemical liquid (diluted chemical liquid) is not output to the nozzle 211 on the substrate upper surface side of the cleaning apparatus 200. In this case, the operations of the first chemical liquid CLC 121 and the first DIWCLC 122 may be stopped.
  • step S17 it is determined whether or not the on-off valve 151 is opened. If it is determined in step S17 that the on-off valve 151 is opened, the on-off valve 151 is opened by a signal from the control device 110 in step S18. When the on-off valve 151 has already been opened, the on-off valve 151 is kept open. On the other hand, when it is determined that the on-off valve 151 is maintained or closed, the control device 110 controls the on-off valve 151 so as to maintain or close the on-off valve 151.
  • step S19 it is determined whether or not the on-off valve 152 is opened. If it is determined in step S19 that the on-off valve 152 is opened, the on-off valve 152 is opened by a signal from the control device 110 in step S20. If the on-off valve 152 has already been opened, the on-off valve 152 is kept open. On the other hand, when it is determined that the open / close valve 152 is maintained or closed, the control device 110 controls the open / close valve 151 so as to maintain or close the open / close valve 152.
  • step S21 in the second chemical solution dilution box 130, the flow rate of the chemical solution is controlled so that the second chemical solution CLC 131 becomes the flow rate set value from the control device 110, and the second DIWCLC 132 controls the flow rate set value from the control device 110.
  • the flow rate of DIW is controlled so that
  • step S ⁇ b> 22 the mixing unit 133 mixes the chemical solution and DIW after the flow rate adjustment to generate a chemical solution (diluted chemical solution) controlled to a predetermined flow rate and concentration, and this is the substrate lower surface side of the cleaning apparatus 200.
  • a chemical solution diluted chemical solution
  • the on-off valve 151 when the on-off valve 151 is closed, no chemical solution (diluted chemical solution) is output to the nozzle 212 on the lower surface side of the substrate of the cleaning device 200. Further, when the on-off valve 152 is closed, the chemical solution (diluted chemical solution) is not supplied to the standby unit 230. When both the on-off valves 151 and 152 are closed, the chemical solution (diluted chemical solution) is not supplied to the nozzle 212 and the standby unit 230. When both the on-off valves 151 and 152 are closed, the operations of the second chemical CLC 131 and the second DIWCLC 132 may be stopped.
  • step S23 it is determined whether there is an instruction to end the chemical supply process. If there is an end instruction, in step S24, an end process such as closing the opened valve, stopping the regulator, and the CLC is executed, and then the chemical supply process is ended. On the other hand, if there is no end instruction, the process returns to step S13, and the processes of steps S13 to S16 and steps S17 to S22 are repeated.
  • the first chemical solution dilution box 120 and the second chemical solution dilution box 130 can independently control the flow rate and concentration of the chemical solution (S13 to S16, S17 to S22). Further, the supply of the chemical solution (diluted chemical solution) from one of the first chemical solution dilution box 120 or the second chemical solution dilution box 130 can be stopped (S13 to S14, S17 to S20).
  • FIG. 5 is a plan view showing an overall configuration of a polishing apparatus including a cleaning unit according to an embodiment.
  • the polishing apparatus 1 includes a substantially rectangular housing 2 and a load port 3 on which a substrate cassette for stocking substrates such as a plurality of semiconductor wafers is placed.
  • the load port 3 can be equipped with an open cassette, a SMIF (Standard Manufacturing Interface) pod, or a FOUP (Front Opening Unified Pod).
  • SMIF Standard Manufacturing Interface
  • FOUP Front Opening Unified Pod
  • Inside the housing 2 are housed a plurality (four in this example) of polishing units 4a to 4d, cleaning units 5a and 5b for cleaning the polished substrate, and a drying unit 6 for drying the cleaned substrate.
  • the cleaning unit 10 according to the embodiment of the present invention is applied to at least one of the cleaning units 5a and 5b.
  • a first transfer robot 7 is arranged in the region surrounded by the load port 3, the polishing unit 4a, and the drying unit 6, a first transfer robot 7 is arranged. Further, a transport unit 8 is arranged in parallel with the polishing units 4a to 4d.
  • the first transfer robot 7 receives the substrate before polishing from the load port 3 and transfers it to the transfer unit 8, and also receives the dried substrate from the drying unit 6 and returns it to the load port 3.
  • the transport unit 8 transports the substrate received from the first transport robot 7 and delivers the substrate to and from each of the polishing units 4a to 4d.
  • a transport unit 8 and a second transport robot 9a for transferring the substrate between these units 5a and 5b are arranged.
  • a third transfer robot 9b is disposed between the cleaning unit 5b and the drying unit 6 and transfers substrates between these units 5b and 6.
  • a control device 300 that controls the movement of each device of the polishing apparatus 1 is disposed inside the housing 2. As the control device 110 described above, the control device 300 of the polishing apparatus may be used.
  • FIG. 6A to FIG. 6C are explanatory views for explaining the mounting structure of the CLC.
  • the first chemical liquid CLC121 is taken as an example of CLC, but the other chemical liquids CLC and DIWCLC have the same configuration.
  • the first chemical liquid CLC 121 includes the flow control valve 1211 and the flow meter 1212, which are connected by the pipe 800 and accommodated in the housing 1214.
  • FIG. 6A shows a case where the first chemical CLC 121 is attached so that the direction of the fluid passing through the flow meter 1212 is horizontal, that is, the piping portions 803a and 803b are horizontal.
  • FIG. 6B shows a case where the first chemical CLC 121 is attached so that the direction of the fluid passing through the flow meter 1212 is the vertical direction.
  • FIG. 6C shows a case where the first chemical CLC 121 is attached so that the direction of the fluid passing through the flow meter 1212 is inclined with respect to the vertical direction and the horizontal direction.
  • the vertical direction and the horizontal direction indicate a vertical direction and a horizontal direction with respect to an installation surface of an apparatus such as a cleaning chemical supply apparatus.
  • the pipe portions 801, 802, and 803a may be formed by bending one pipe, or a part or all of the pipe parts may be prepared separately and connected to each other.
  • the pipe parts 803b and 804a may be formed by bending one pipe, or part or all of the pipe parts may be prepared separately and connected to each other.
  • the pipe parts 804a and 805 may be formed by bending one pipe, or part or all of the pipe parts may be prepared separately and connected to each other.
  • the pipe parts 803a and 803b are continuous as one pipe, and a flow meter arranged around the pipe parts can also be used.
  • any pipe portions 803a and 803b or a combination of the pipe portions 803a and 803b may be referred to as a pipe portion 803. The same applies to the piping portions 804a and 804b.
  • the pipe 800 in the first chemical liquid CLC 121 has pipe portions 801 and 803a extending in the horizontal direction when the longitudinal direction of the casing 1214 is arranged in the horizontal direction (FIG. 6A). , 803b, 805 and pipe portions 802, 804a, 804b extending in the vertical direction.
  • the first chemical liquid CLC 121 is arranged in the state of FIG. 6A, since the pipe portions 803a and 803b on the inlet side and the outlet side of the flow meter 1212 are oriented in the horizontal direction, bubbles remain in the fluid in the pipe portions 803a and 803b. It becomes easy to do.
  • the vicinity of the boundary between the pipe portion 803a extending in the horizontal direction and the pipe portion 802 extending in the vertical direction, and the vicinity of the boundary portion between the pipe portion 803b extending in the horizontal direction and the pipe portion 804a extending in the vertical direction are each pipe portion.
  • the fluid passing through the flow meter 1212 also includes bubbles.
  • the flow meter 1212 is an ultrasonic flow meter, there is a possibility that the detection accuracy of the flow rate is lowered due to bubbles in the fluid.
  • the flow rate detection accuracy may be lowered if a drift (a deviation in the flow velocity) occurs due to bubbles in the pipe or the fluid.
  • a drift a deviation in the flow velocity
  • air bubbles are likely to stay in the pipe portions 802, 804a, and 804b extending in the horizontal direction, and air bubbles stay near the boundary between the pipe portion 802 extending in the horizontal direction and the pipe portion 803a extending in the vertical direction. It's easy to do. If bubbles stay in these portions, the fluid passing through the flow meter 1212 may contain bubbles. Similar to the case of FIG.
  • the detection accuracy of the flow rate may be reduced due to bubbles in the fluid. Even in the case where the flow meter 1212 is a differential pressure type flow meter, the flow rate detection accuracy may be lowered if a drift (a deviation in the flow velocity) occurs due to bubbles in the pipe or the fluid.
  • each pipe portion of the pipe 800 is inclined with respect to the horizontal direction and the vertical direction.
  • the flow path inside the flow meter 1212 is also inclined at the same inclination as the pipe portions 803a and 803b. It is preferable that the piping parts 803a and 803b (flow direction passing through the flowmeter) are inclined at an angle of 10 degrees or more and 40 degrees or less with respect to the vertical direction.
  • the boundary part between the piping part 802 and the piping part 803a, the piping part 803b and the piping part Bubbles can easily pass through at the boundary with 804a, and the retention of bubbles can be suppressed.
  • FIG. 6C show the case where the pipe 800 has a portion that bends in an L shape (bent portion), but the pipe 800 may have a portion that bends at an angle other than a right angle.
  • the first chemical solution CLC121 is attached so that the pipe 800 is inclined with respect to the horizontal direction and the vertical direction as shown in FIG. It is possible to suppress bubbles that are generated, and to prevent bubbles from being contained in the fluid passing through the flow meter 1212. As a result, the detection accuracy of the flow meter 1212 can be improved.
  • the pipe portions 801, 802, 803a, 803b, 804a, 804b, and 805 extend linearly.
  • FIG. 7 is a plan view of the CLC.
  • FIG. 8 is a side view of the CLC.
  • a valve block 1216 is attached to the first chemical liquid CLC121.
  • the first chemical CLC 121 and the valve block 1216 are attached to the base 1215.
  • the housing 1214 is provided with an inlet portion 1214a.
  • the outlet portion 1214b provided in the piping portion 805 of FIGS. 6A to 6C is shown as an integrated piping between the first chemical liquid CLC121 and the valve block 1216. What is necessary is just to connect between the 1st chemical
  • the inlet portion 1214a is provided on one end side of the pipe portion 801 and opens in the direction in which the pipe portion 801 extends.
  • the inlet portion 1214a is illustrated as an end portion of the piping portion 801, a connector capable of connecting piping from the outside may be attached.
  • the valve block 1216 is provided with an outlet portion 1214c having a connector configuration capable of connecting piping from the outside.
  • the inlet portion 1214a is connected to the primary side, that is, the chemical solution supply source 20 and the DIW supply source 30 side.
  • the outlet portion 1214c is connected to the secondary side, that is, the cleaning unit 200 side.
  • FIG. 9 is a plan view of a CLC assembly in which two CLCs are combined.
  • FIG. 10A is a side view from one side of the CLC assembly.
  • FIG. 10B is a side view from the other side of the CLC assembly.
  • the first chemical liquid CLC121 and the first DIWCLC122 are combined is shown, but the same applies when the second chemical liquid CLC131 and the second DIWCLC132 are combined.
  • the first chemical liquid CLC 121 and the second chemical liquid CLC 131 may be combined, or the first DIWCLC 122 and the second DIWCLC 132 may be combined.
  • more than two CLCs may be combined and attached to a common base.
  • Two or more CLCs may be arranged in a common housing.
  • a combination of a plurality of CLCs is referred to as a CLC assembly.
  • the first chemical CLC 121 and the first DIWCLC 122 are fixed to a common base 1215.
  • the first chemical CLC 121 has a valve block 1216
  • the first DIWCLC 122 has a valve block 1226.
  • These valve blocks 1216, 1226 are arranged side by side and are in fluid communication therewithin. That is, the fluid output from the first chemical CLC 121 flows into the valve block 1216, the fluid output from the first DIWCLC 122 flows into the valve block 1226, and these fluids are mixed and output from the outlet 1214c.
  • the valve blocks 1216 and 1226 constitute the mixing unit 123 (see FIG. 2).
  • the first chemical CLC 121 and the first DIWCLC 122 may be connected to a single valve block.
  • FIG. 11 is a side view of the CLC mounting structure.
  • FIG. 12 is a perspective view of the CLC mounting structure.
  • the CLC assembly (the first chemical liquid CLC121 and the second chemical liquid CLC) is attached inclined from the horizontal direction and the vertical direction.
  • the CLC assembly is attached by attachment bases 1218 and 1219 provided in the housing 1217.
  • the mounting base 1218 is fixed to the bottom surface of the housing 1217 and has one or more inclined surfaces that support one end side of the base 1215 of the CLC assembly.
  • the mounting base 1219 is fixed to the inside of the side surface of the housing 1217 and has an inclined surface that supports the other end side of the base 1215 of the CLC assembly.
  • the mounting base 1219 may also be configured to have a plurality of inclined surfaces.
  • the base 1215 of the CLC assembly is fixed to the mounting base 1219 by a fastening member such as a bolt.
  • the base 1215 of the CLC assembly may be fixed to the mounting base 1218 with a fastening member.
  • the inlet portion 1214 a of the first chemical liquid CLC 121 is connected to the pipe 81 (FIG. 2), and the inlet portion 1224 a of the first DIWCLC 122 is connected to the pipe 91.
  • the outlet portion 1214c is connected to the pipe 85.
  • any pipe portion of the pipe 800 in the CLC is not arranged along the horizontal direction, it is possible to suppress the retention of air (bubbles) in the pipe. Further, in the vicinity of the bent portion (bent portion) of the pipe 800, bubbles tend to stay, but by inclining each pipe portion on both sides of the bent portion from the horizontal direction and the vertical direction, air (bubbles) in the bent portion is inclined. Residence can be suppressed. Further, since the pipe 800 is inclined with respect to the vertical direction, pressure loss in the pipe 800 can be suppressed. Also, when the pipe 800 extends in a straight line, the same effects can be obtained if the pipe 800 is inclined.
  • FIG. 13 is a flowchart of flow control according to another example.
  • the flow rate is controlled by the flow rate control valve 1211 based on the detection value of the flow meter 1212 (S15 and S21 in FIG. 4), but even if the flow rate is controlled based on the detection values of the pressure gauges 142 and 153. Good.
  • the control is switched to the control based on the pressure gauges 142 and 153. This control flow is executed in parallel with the control flow of FIG. 4 and switches to control based on a pressure gauge when an abnormality is detected in the flow meter.
  • step S110 it is determined whether or not the flow meter is normal. This determination is made, for example, with respect to the flow rate setting value set by the control device 110, as a result of the flow rate control by the flow meter 1212 and the flow rate control valve 1211, the detected value of the flow meter 1212 (within an allowable range) within a predetermined time. ) Judge by whether or not the flow rate setting value is shown.
  • the process proceeds to step S120A, and the flow rate control (S15, S21 in FIG. 4) is executed based on the detection value of the flow meter 1212 as described above.
  • step 120B the process proceeds to step 120B, and the flow rate control (S15, S21 in FIG. 4) is executed based on the detected values of the pressure gauges 142, 153.
  • the control device 110 sets the hydraulic pressure set value, and the flow control valve 1211 is feedback-controlled so that the detected values of the pressure gauges 142 and 153 approach the hydraulic pressure set value. To do.
  • flow control based on the pressure gauge is mainly performed, and switching to flow control based on the flow meter may be performed when an abnormality is detected in the pressure gauge.
  • FIG. 14 is a flowchart of abnormality detection control using a pressure gauge. This control flow is also executed in parallel with the control flow of FIG.
  • a normal range is set as the detection value of the pressure gauges 142 and 153 based on the flow rate setting value or hydraulic pressure setting value set by the control device 110. For the normal range, for example, an experiment or the like is performed in advance, and a table of the normal range corresponding to the flow rate setting value or the hydraulic pressure setting value is created. Regardless of the flow rate setting value or hydraulic pressure setting value, a fixed error range may be used.
  • step S211 it is determined whether or not the actual detection values detected by the pressure gauges 142 and 153 are within a set normal range.
  • step S210 If the detected values of the pressure gauges 142 and 153 are in the normal range, the processing from step S210 is repeated. On the other hand, if the detected values of the pressure gauges 142 and 153 are outside the normal range, the process proceeds to step S212, where it is determined that there is an abnormality in the secondary side configuration of the pressure gauges 142 and 153, and abnormality detection processing is executed. .
  • the abnormality detection process includes outputting an alarm to the user and other devices, stopping the device, and the like.
  • As an abnormality of the secondary side configuration when there is an abnormality such as leakage in the secondary side piping 85, 95, 96, etc.
  • abnormalities in the piping downstream of the flow control valve piping leakage, etc.
  • abnormalities in the devices connected to the piping nozzles, valves, etc.
  • the chemical liquid is introduced from the same chemical liquid supply source 20 into the first chemical liquid dilution box 120 and the second chemical liquid dilution box 130, and the flow rate of the chemical liquid by the first chemical liquid dilution box 120 and the second chemical liquid dilution box 130.
  • concentration can be controlled respectively. Therefore, the flow rate and concentration of the chemical solution (diluted chemical solution) supplied to each surface (upper surface and lower surface) of the substrate can be controlled independently.
  • the opening and closing of the suck back valve unit 141, the on-off valve 151, and the on-off valve 152 causes the first The output of the chemical liquid (diluted chemical liquid) from either the first chemical liquid dilution box 120 or the second chemical liquid dilution box 130 can be stopped. Further, by opening / closing the on-off valve 151 and the on-off valve 152, any one of the chemicals (diluted chemicals) supplied to the nozzle 212 and the standby unit 230 of the cleaning unit 210 of the cleaning apparatus 200 can be stopped.
  • the chemical solution (diluted chemical solution) can be supplied only to each of the surfaces (upper surface and lower surface) and the standby portion of the substrate by the control in the cleaning chemical solution supply apparatus 100. Therefore, it is not necessary to install an additional valve or the like in the cleaning device 200 in order to supply the chemical solution (diluted chemical solution) only to each of the surfaces (upper surface and lower surface) and the standby portion of the substrate.
  • the first chemical solution dilution box 120 and the second chemical solution dilution box 130 can control the flow rates of the respective chemical solutions (diluted chemical solution), the chemical solution (diluted chemical solution) is branched from a common flow path. In addition, it is not necessary to adjust the flow rate using a restriction. Therefore, the pressure loss that the chemical liquid and the dilution water receive on the flow paths of the cleaning chemical liquid supply apparatus 100 and the cleaning apparatus 200 is reduced, and the decrease in the flow rate of the chemical liquid (diluted chemical liquid) to the cleaning apparatus 200 can be suppressed or prevented. it can.
  • the flow rate of the chemical solution (the diluted chemical solution) supplied to each surface (upper surface and lower surface) of the substrate is reduced. It can be suppressed or prevented.
  • the flow rate of the chemical solution and / or dilution water can be easily and accurately determined by the signal from the control device 110. It is possible to control. For example, the pressure loss in the flow meter 1212 and the flow control valve 1211 can be reduced as compared with the case where the flow rate of the chemical solution to each surface (upper surface and lower surface) of the substrate is controlled by a throttle.
  • the CLC 121, 122, 122, 132 including the flow meter 1212 and the flow control valve 1211 can automatically control the flow rate. This is advantageous.
  • the pressure loss in the flow meter can be reduced as compared with the case of using a differential pressure type flow meter (orifice flow meter).
  • a differential pressure type flow meter orifice flow meter
  • the opening degree of the flow control valve can be adjusted quickly and accurately by changing the opening degree of the valve body 1211a by the drive source 1211b having a motor.
  • the output of the diluted chemical solution from the first chemical solution dilution box 120 can be distributed / stopped by the suck back valve unit 141. According to the suck back valve unit 141, when the output from the first chemical liquid dilution box 120 is shut off, dripping from the nozzle 211 can be suppressed or prevented.
  • the second chemical solution dilution box 130 that supplies a chemical solution (diluted chemical solution) to any one of the surfaces of the substrate (for example, the lower surface) is placed on the substrate of the standby unit 230 that waits for cleaning.
  • a separate configuration for supplying the chemical solution (diluted chemical solution) to the standby substrate can be omitted, and the configuration of the fluid circuit can be simplified. .
  • a cleaning chemical solution supply device for supplying a cleaning chemical solution to the cleaning device.
  • the cleaning chemical solution supply apparatus includes a chemical solution inlet portion and a dilution water inlet portion, a first chemical solution control unit fluidly connected to the chemical solution inlet portion and the dilution water inlet portion, the chemical solution inlet portion and the dilution water inlet.
  • a second chemical liquid control unit fluidly connected to the unit.
  • the first chemical liquid control unit is configured to receive a chemical liquid from the chemical liquid inlet and control a flow rate of the chemical liquid; and a dilution water from the dilution water inlet
  • a first dilution water flow control unit configured to receive the supply and control a flow rate of the dilution water; and the chemical solution and the dilution water from the first chemical liquid flow rate control unit and the first dilution water flow rate control unit
  • a first mixing unit for mixing.
  • the second chemical liquid control unit is configured to receive a supply of the chemical liquid from the chemical liquid inlet and control the flow rate of the chemical liquid; and the dilution from the dilution water inlet
  • a second dilution water flow control unit configured to receive a supply of water and control the flow rate of the dilution water, the chemical solution from the second chemical liquid flow rate control unit, and the second dilution water flow rate control unit;
  • a second mixing unit for mixing dilution water.
  • the chemicals from the same chemical supply source can be diluted independently in the first and second chemical control units, and the flow rate and concentration of the chemicals can be controlled independently.
  • the flow rate and concentration of the chemical solution supplied to each surface of the substrate can be controlled independently.
  • the first and second chemical liquid control units can control the flow rates of the respective chemical liquids, the flow rate is adjusted using a restriction, as in the case where the chemical liquid is branched from the common flow path to each side of the substrate. There is no need. Therefore, the pressure loss that the chemical solution and the dilution water receive on the cleaning chemical solution supply device and the flow path of the cleaning device is reduced, and a decrease in the flow rate of the chemical solution to the cleaning device can be suppressed or prevented. For example, even when the supply pressure (input pressure) of the chemical solution and / or dilution water to the cleaning chemical solution supply device is low, a decrease in the flow rate of the chemical solution supplied to each surface of the substrate can be suppressed or prevented.
  • each of the first and second chemical liquid flow rate control units and the first and second dilution water flow rate control units may be configured as follows.
  • a flow rate control unit including a flow meter and a flow rate control valve
  • the control unit such as a computer.
  • the pressure loss on the flow path can be reduced as compared with the case where the flow rate of the chemical solution to each surface side of the substrate is controlled by a restriction.
  • the flow rate control unit including the flow meter and the flow rate control valve can automatically control the flow rate.
  • At least one of the first and second chemical liquid flow rate control units and the first and second dilution water flow rate control units is more than the flow meter. Has a sonic flow meter.
  • the pressure loss in the flow meter can be reduced as compared with the case of using a differential pressure type flow meter (orifice flow meter).
  • This configuration is particularly advantageous when the supply pressure of the chemical solution and / or dilution water to the cleaning chemical solution supply device is low because the pressure loss on the flow path can be reduced and the decrease in the flow rate that can be supplied to the substrate can be suppressed. is there.
  • the flow rate control is performed in at least one of the first and second chemical liquid flow rate control units and the first and second dilution water flow rate control units.
  • the valve is a motor valve whose opening is changed by a motor.
  • the opening degree of the flow control valve can be adjusted quickly and accurately by changing the opening degree of the flow control valve by the motor.
  • the first chemical liquid control unit further includes a suck back valve unit on the downstream side of the first mixing unit.
  • the output of the diluted chemical liquid from the first chemical liquid control unit can be distributed / stopped by the suck back valve unit. According to the suck back valve unit, dripping from the nozzle can be suppressed or prevented when the output from the first chemical liquid control unit is shut off.
  • a cleaning unit includes the cleaning chemical liquid supply device according to any one of the first to fifth aspects, and the cleaning device connected to the cleaning chemical liquid supply device.
  • the first and second chemical liquid control units are configured to supply the diluted chemical liquid to the first and second surfaces of the same substrate installed in the cleaning apparatus, respectively.
  • the chemical liquid from the same chemical liquid supply source is introduced into the first and second chemical liquid control units, and the chemical liquids whose flow rate and concentration are independently controlled by the first and second chemical liquid control units are respectively supplied to the substrate.
  • the flow rate and concentration of the chemical solution supplied to the first surface and the second surface of the substrate can be controlled independently.
  • first and second chemical liquid control units can control the flow rates of the respective chemical liquids
  • a diaphragm is used as in the case where the chemical liquid is branched from the common flow path to the first surface side and the second surface side of the substrate. There is no need to adjust the flow rate. Therefore, the pressure loss that the chemical solution and the dilution water receive on the cleaning chemical solution supply device and the flow path of the cleaning device is reduced, and a decrease in the flow rate of the chemical solution to the cleaning device can be suppressed or prevented.
  • the second chemical liquid control unit is further configured to supply the diluted chemical liquid to the substrate waiting for cleaning in the cleaning device.
  • a separate configuration for supplying the chemical liquid to the standby substrate can be omitted.
  • the configuration can be simplified.
  • a storage medium storing a program for causing a computer to execute a method for controlling a cleaning unit.
  • This recording medium is supplied with a chemical solution from the chemical solution inlet, and independently controls the flow rate of the chemical solution by the first and second chemical solution flow rate control units, receives the supply of dilution water from the dilution water inlet unit, Independently controlling the flow rate of the dilution water by the first and second dilution water flow rate control units, the chemical solution and the dilution whose flow rate is controlled by the first chemical solution flow rate control unit and the first dilution water flow rate control unit Water is mixed in the first mixing unit, and the diluted chemical solution is output to the cleaning device; the chemical solution whose flow rate is controlled by the second chemical solution flow rate control unit and the second dilution water flow rate control unit; A program for causing a computer to mix the dilution water in the second mixing unit and output the diluted chemical solution to the cleaning device is stored.
  • the chemicals from the same chemical supply source can be diluted independently in the first and second chemical control units, and the flow rate and concentration of the chemicals can be controlled independently.
  • first and second chemical liquid control units can control the flow rates of the respective chemical liquids, it is not necessary to adjust the flow rates using a throttle as in the case where the chemical liquids are branched from a common flow path. Therefore, the pressure loss that the chemical solution and the dilution water receive on the cleaning chemical solution supply device and the flow path of the cleaning device is reduced, and a decrease in the flow rate of the chemical solution to the cleaning device can be suppressed or prevented.
  • the diluted chemical solution from the first and second mixing units is further supplied to the first surface and the second surface of the same substrate.
  • the flow rate and concentration of the chemical solution supplied to the first surface and the second surface of the substrate can be controlled independently.
  • the chemical solution can be supplied to only one of the first surface and the second surface of the substrate by the control in the cleaning chemical solution supply apparatus. Therefore, it is not necessary to install an additional valve or the like in the cleaning apparatus in order to supply the chemical solution to only one of the first surface and the second surface of the substrate. Further, even when the supply pressure of the chemical solution and / or dilution water to the cleaning chemical solution supply device is low, it is possible to suppress or prevent a decrease in the flow rate of the chemical solution supplied to the first surface or the second surface of the substrate. .
  • a cleaning chemical supply device for supplying a chemical for cleaning to a cleaning device, comprising: a flow meter; a first pipe entering the flow meter; and a second pipe exiting from the flow meter.
  • a cleaning chemical supply device is provided in which the first pipe and the second pipe are inclined from the horizontal direction and the vertical direction.
  • the eleventh aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to the tenth aspect, wherein the first pipe and the second pipe are inclined at the same inclination.
  • the first and second pipes can be easily installed.
  • the twelfth form is the cleaning chemical solution supply apparatus according to the tenth or eleventh form, wherein the flowmeter is inclined.
  • the flow path in the flow meter and the flow path composed of the first and second pipes can be tilted.
  • a thirteenth aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to twelfth aspects, wherein at least one of the first pipe and the second pipe is connected to a pipe extending in a horizontal direction, and the pipe extending in the horizontal direction is Further, on the side connected to at least one of the first pipe and the second pipe, the first pipe and the second pipe are curved so as to approach the extending direction of at least one of the first pipe and the second pipe.
  • the pipe extending in the horizontal direction can be bent and connected to the first pipe and / or the second pipe extending obliquely.
  • the direction change is large, and therefore, the pipe is often connected via a joint.
  • the first pipe and the second pipe are inclined, they are connected to the first pipe and / or the second pipe by gently bending the pipe extending in the horizontal direction. Can do.
  • a fourteenth aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to twelfth aspects, wherein at least one of the first pipe and the second pipe is connected to a pipe extending in a vertical direction, and the pipe extending in the vertical direction is Further, on the side connected to at least one of the first pipe and the second pipe, the first pipe and the second pipe are curved so as to approach the extending direction of at least one of the first pipe and the second pipe.
  • the pipe extending in the vertical direction can be bent and connected to the first pipe and / or the second pipe extending in an inclined manner.
  • a pipe extending in the vertical direction is connected to a pipe extending in the horizontal direction, the change in direction is large, and therefore, the pipe is often connected via a joint.
  • the pipe extending in the vertical direction is gently curved and connected to the first pipe and / or the second pipe. Can do.
  • the first pipe and / or the second pipe may be connected to a pipe extending in the vertical direction via a valve.
  • the fifteenth aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to fourteenth aspects, wherein at least one of the first pipe and the second pipe has a bent portion on the side opposite to the flow meter, Each pipe part on both sides of the bent part is inclined from the horizontal direction and the vertical direction.
  • the pipe portions on both sides of the bent portion are inclined, so that retention of air (bubbles) in the pipe is suppressed. be able to. Since the bent portion changes the direction of the piping, air tends to stay, but by tilting each pipe part on both sides of the bent portion from the horizontal and vertical directions, the retention of air (bubbles) in the bent portion is suppressed. can do.
  • the sixteenth embodiment is the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to fifteenth embodiments, wherein the flow meter is an ultrasonic flow meter.
  • a seventeenth aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to sixteenth aspects, wherein at least one of the first pipe and the second pipe is inclined at an inclination angle of not less than 10 degrees and not more than 40 degrees from the vertical direction. .
  • the angle of inclination from the vertical direction By setting the angle of inclination from the vertical direction to not less than 10 degrees and not more than 40 degrees, it is possible to achieve both suppression of bubble retention and reduction of fluid pressure loss in the piping.
  • the angle of inclination is less than 10 degrees, the pressure loss in the pipe increases.
  • the angle of inclination exceeds 40 degrees, the effect of suppressing bubble retention decreases. Even if outside this angular range, the pressure loss reducing effect or the bubble retention effect is reduced, but a certain effect can be obtained by tilting the first pipe and the second pipe from the horizontal and vertical directions.
  • the eighteenth form further includes a flow rate control valve and a pressure gauge arranged on the flow path on the output side of the flow rate control valve in the cleaning chemical solution supply apparatus of any one of the tenth to seventeenth forms.
  • a flow rate control valve and a pressure gauge arranged on the flow path on the output side of the flow rate control valve in the cleaning chemical solution supply apparatus of any one of the tenth to seventeenth forms.
  • a nineteenth aspect is the cleaning chemical solution supply apparatus according to the eighteenth aspect, wherein the flow rate control valve controls a flow rate based on a detection value of the flow meter, and based on a detection value of the pressure gauge. It is possible to control the flow rate.
  • the flow control valve can be controlled based on the detection value of the flow meter, and when an abnormality is detected in the flow meter, the flow control valve can be controlled based on the detection value of the pressure gauge.
  • the reverse method of use is also possible.
  • a pressure gauge can be used as a backup for the flow meter.
  • the cleaning chemical solution supply apparatus in the cleaning chemical solution supply apparatus according to the eighteenth or nineteenth aspect, at least one of the apparatus connected to the piping on the output side of the flow control valve and the piping based on the detection value of the pressure gauge Anomaly detection is performed.
  • the twenty-first form is a cleaning unit, and includes the cleaning chemical solution supply apparatus according to any one of the tenth to twentieth forms, and the cleaning apparatus connected to the cleaning chemical solution supply apparatus.
  • the above-described mode of operation and effect can be achieved in the cleaning unit.
  • the flow rate of the chemical solution supplied to the cleaning device can be accurately controlled.
  • the flow control by the flow control valve can be continued using the other sensor.
  • a pressure sensor can be used to detect abnormalities in piping, nozzles, valves, and the like.
  • Patent Document 1 JP 9-260332 A (Patent Document 1), JP 2014-132641 A (Patent Document 2), JP 2016-9818 A (Patent Document 3), JP 2016-15469 A (Patent Document 4).
  • Patent Document 2 JP 9-260332 A
  • Patent Document 3 JP 2014-132641 A
  • Patent Document 4 JP 2016-9818 A
  • Patent Document 4 JP 2016-15469 A

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Abstract

洗浄薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置であって、薬液入口部及び希釈水入口部と、前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第1薬液制御部と、前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第2薬液制御部と、を備え、前記第1薬液制御部は、第1薬液流量制御部と、第1希釈水流量制御部と、第1混合部とを有し、前記第2薬液制御部は、第2薬液流量制御部と、第2希釈水流量制御部と、第2混合部とを有する。

Description

洗浄薬液供給装置、洗浄ユニット、及びプログラムを格納した記憶媒体
 本発明は、洗浄薬液供給装置、洗浄ユニット、及びプログラムを格納した記憶媒体に関する。
 CMP(Chemical Mechanical Polishing)装置は、半導体チップが形成された半導体基板の表面を研磨するための研磨ユニットと、研磨ユニットで研磨された半導体基板に対して薬液を供給しながら洗浄するための洗浄ユニットとを有する。この洗浄ユニットは、薬液に対してDIW(De-Ionized Water)などの希釈水を混合することで、濃度が調整された薬液を作成し、この薬液を用いて半導体基板の洗浄を行う。
 特許文献1には、基板処理装置の洗浄薬液供給装置が記載されている。この洗浄薬液供給装置は、基板を処理するための処理液を貯留した処理槽2と、処理槽2に供給すべき洗浄薬液を貯留する洗浄薬液タンク3とを備え、洗浄薬液タンク3から処理槽2に至る配管4の途中に絞りとしての抵抗部6を設けることによって洗浄薬液の流量を調整している。
 特許文献2には、ロール洗浄部材で基板の表面をスクラブ洗浄する洗浄装置が記載されている。この洗浄装置では、別々の流路で供給される洗浄薬液及びDIW(De-Ionized Water)を別々のノズルから基板表面に供給する。
 特許文献3には、洗浄装置と洗浄薬液供給装置とを有する洗浄ユニットが記載されている。この洗浄ユニットでは、DIW及び洗浄薬液の流量をDIWCLC111及び薬液CLC113でそれぞれ調整し、調整後のDIW及び薬液を混合器115で混合し、この混合部115から希釈後の薬液を洗浄装置200の上面洗浄部222及び下面洗浄部223に供給する。
 特許文献4には、洗浄装置と洗浄薬液供給装置とを有する洗浄ユニットが記載されている。この洗浄ユニットでは、第1薬液を洗浄装置200に供給する場合、DIW及び薬液の流量をDIWCLC110及び薬液CLC120でそれぞれ調整し、調整後のDIW及び薬液を混合器72で混合し、希釈後の薬液を洗浄装置200に供給する。一方、第2薬液を洗浄装置200に供給する場合、DIW及び薬液の流量をDIWCLC110及び薬液CLC130でそれぞれ調整し、調整後のDIW及び薬液を混合器73で混合し、希釈後の薬液を洗浄装置200に供給する。
特開平9-260332号公報 特開2014-132641号公報 特開2016-9818号公報 特開2016-15469号公報
 特許文献1乃至4に記載された構成では、基板の各面(例えば、上面及び下面)に供給する薬液の流量及び濃度を独立に制御することができない。
 また、基板の各面の何れか一方のみに薬液を供給する場合には、洗浄装置内の各流路に開閉弁を設けて薬液の流通及び遮断を制御する必要がある。
 また、近年、工場内の複数の装置に共通の供給源から薬液及び/又はDIWを供給することが行われており、装置の設置場所によっては、洗浄薬液供給装置に供給される薬液及び/又はDIWの圧力が低い場合がある。このように、洗浄薬液供給装置への薬液及び/又はDIW供給圧力が低い場合、従来の構成の洗浄薬液供給装置及び洗浄装置内の流路及び構成の圧損のままでは、基板に対して十分な流量の薬液を供給できない可能性がある。
 例えば、従来の洗浄ユニットでは、基板の各面に薬液及び又はDIWを供給する場合、共通の流路から基板の各面側にそれぞれ流路を分岐させ、一方の流路に絞りを設けて流量を調整している。洗浄薬液供給装置への薬液及び/又はDIW供給圧力が低い場合、絞りの部分での圧損によって基板に対して十分な流量の薬液を供給できない可能性がある。
 本発明の目的は、上述した課題の少なくとも一部を解決することである。
 本発明の一側面によれば、洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置が提供される。この洗浄薬液供給装置は、 薬液入口部及び希釈水入口部と、 前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第1薬液制御部と、 前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第2薬液制御部と、を備える。前記第1薬液制御部は、 前記薬液入口部からの薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第1薬液流量制御部と、 前記希釈水入口部からの希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第1希釈水流量制御部と、 前記第1薬液流量制御部及び前記第1希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第1混合部と、を有する。前記第2薬液制御部は、 前記薬液入口部からの前記薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第2薬液流量制御部と、 前記希釈水入口部からの前記希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第2希釈水流量制御部と、前記第2薬液流量制御部及び前記第2希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第2混合部と、を有する。
 本発明の一側面によれば、洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置であって、 流量計と、 前記流量計に入る第1配管と、 前記流量計から出る第2配管と、を備え、 前記第1配管及び前記第2配管が、水平方向及び鉛直方向から傾いている、洗浄薬液供給装置が提供される。
一実施形態に係る洗浄薬液供給装置を示す概略正面図である。 一実施形態に係る洗浄ユニットの流体回路図である。 一実施形態に係る流量制御弁ユニット(CLC)の構成を示す構成図である。 薬液供給プロセスのフローチャートの一例である。 一実施形態に係る洗浄ユニットを備える研磨装置の全体構成を示す平面図である。 CLCの取付構造を説明する説明図である。 CLCの取付構造を説明する説明図である。 CLCの取付構造を説明する説明図である。 CLCの平面図である。 CLCの側面図である。 CLC組立体の平面図である。 CLC組立体の一方側からの側面図である。 CLC組立体の他方側からの側面図である。 CLCの取付構造の側面図である。 CLCの取付構造の斜視図である。 他の例に係る流量制御のフローチャートである。 圧力計を使用した異常検知制御のフローチャートである。
 以下、本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る洗浄薬液供給装置を示す概略正面図である。本実施形態の洗浄薬液供給装置100は、洗浄のための薬液(例えばフッ酸やアンモニアなど)を、基板処理装置が有する洗浄装置200に供給可能に構成される。基板処理装置は、例えば、CMP(Chemical Mechanical Polishing)装置等の研磨装置を含む。
 図1に示すように、一実施形態に係る洗浄薬液供給装置100は、ケース101と、第1薬液希釈ボックス(第1薬液制御部)120と、第2薬液希釈ボックス(第2薬液制御部)130と、複数の薬液ユーティリティボックス50と、を有する。第1薬液希釈ボックス120と、第2薬液希釈ボックス130と、複数の薬液ユーティリティボックス50は、ケース101内に収納される。第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130は、薬液と、希釈水とを混合し、流量及び濃度を調整した薬液(希釈後の薬液)を生成する。希釈水は、DIW(De-Ionized Water)、その他の希釈媒体である。以下の説明では、希釈水は、DIWであるとして説明するが、希釈水はDIW以外の希釈媒体であってもよい。洗浄薬液供給装置100において、薬液ユーティリティボックス50は、薬液供給源20からの薬液を洗浄薬液供給装置100に導入するための構成である。図示の例では、6つの薬液ユーティリティボックス50が洗浄薬液供給装置100に設けられているが、これは一例であり、洗浄装置200の仕様に応じて薬液ユーティリティボックス50の数は適宜変更される。
 図2は、一実施形態に係る洗浄ユニットの流体回路図である。洗浄ユニット10は、洗浄薬液供給装置100と、洗浄装置200とを備えている。洗浄薬液供給装置100において、薬液ユーティリティボックス50は、薬液供給源20(図2参照)に接続される入力部51と、開閉弁52と、ロックアウト弁53と、圧力計54とを備えている。開閉弁52は、制御装置110からの信号によって開閉制御される。ロックアウト弁53は、手動で開閉される弁であり、例えば、メンテナンス時に洗浄薬液供給装置100から薬液供給源20を切り離す際に使用される。圧力計54は、薬液供給源20から洗浄薬液供給装置100に導入される薬液の圧力を検出する。この例では、入力部51が薬液入口部を構成する。薬液ユーティリティボックス50が省略される場合には、洗浄薬液供給装置100の薬液供給源20との接続部が、薬液入口部を構成する。
 制御装置110は、例えば、洗浄薬液供給装置100に対して設けられる制御装置であってもよいし、洗浄ユニット10に対して設けられる制御装置であってもよいし、洗浄ユニット10が設けられる研磨装置等の基板処理装置に対して設けられる制御装置であってもよい。制御装置110は、マイクロコンピュータ、シーケンサー等のコンピュータまたは制御回路と、制御回路で実行されるプログラムを格納した記録媒体(揮発性、不揮発性メモリ等)と、を備えている。プログラムには、洗浄薬液供給装置100及び洗浄装置200による薬液(希釈後の薬液)の供給、洗浄を実施するプログラムが含まれている。このプログラムに従って、洗浄薬液供給装置100及び洗浄装置200の各部が制御される。なお、上記プログラムは、制御装置110に着脱可能な記録媒体(CD、フラッシュメモリ等)に格納されてもよい。また、制御装置110が有線又は無線を介して読み込み可能な記録媒体に格納されてもよい。
 洗浄薬液供給装置100は、さらに、DIW供給源30からのDIWを洗浄薬液供給装置100に導入するためのレギュレータ60を備えている。レギュレータ60は、DIW供給源30からのDIWの圧力を調整して、配管90、91、92を介して、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130に出力する。この例では、レギュレータ60の入力部61が希釈水入口部を構成する。レギュレータ60が省略される場合には、洗浄薬液供給装置100のDIW供給源30との接続部が、希釈水入口部を構成する。
 第1薬液希釈ボックス120は、薬液及びDIWの流量をそれぞれ制御し、所望の流量及び濃度の薬液(希釈後の薬液)を出力する。第1薬液希釈ボックス120の入力部は、配管80、81を介して薬液ユーティリティボックス50に接続されるとともに、配管90、91を介してレギュレータ60に接続されている。第1薬液希釈ボックス120の出力部は、配管85を介して、洗浄装置200の洗浄部210のノズル211に接続されている。
 第1薬液希釈ボックス120は、第1薬液CLC(第1薬液流量制御部)121と、第1DIWCLC(第1希釈水流量制御部)122と、混合部123と、を備えている。CLC(Closed Loop Controller)は、図3に示すような閉ループ制御装置からなる流量制御弁ユニットであり、詳細は後述する。第1薬液CLC121は、薬液ユーティリティボックス50からの薬液の流量を制御し、出力する。第1DIWCLC122は、レギュレータ60からのDIWの流量を制御し、出力する。第1薬液CLC121の出力部は、配管83に接続されている。第1DIWCLC122の出力部は、配管93に接続されている。配管83及び配管93は、配管85に合流する。配管83、配管93、配管85の合流点が、混合部123を構成する。混合部123は、第1薬液CLC121で流量が制御された薬液と、第1DIWCLC122が流量が制御されたDIWとを混合し、所望の流量及び濃度の薬液(希釈後の薬液)を出力する。制御装置110からの信号によって第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122で設定される薬液及びDIWの流量に応じて、希釈後の薬液の流量及び濃度が決定される。
 図3は、一実施形態に係る流量制御弁ユニット(CLC)の構成を示す構成図である。第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122は、図3に示すように、流量計1212と、流量制御弁(内部コントロールバルブ)1211と、制御部1213と、を備えている。第1薬液CLC121の流量計1212は、超音波流量計である。圧損低減の観点からは、流量計1212は、超音波流量計を使用することが好ましいが、洗浄薬液供給装置100及び洗浄装置200全体での圧損を考慮して、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用してもよい。第1DIWCLC122の流量計1212は、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用する。なお、第1DIWCLC122の流量計1212として、超音波流量計を採用してもよい。流量制御弁1211は本実施形態では、モータバルブであり、弁本体1211aの開度がモータを備える駆動源1211bの動力によって制御される。流量制御弁1211は、開度が調整可能な弁であればよく、他の種類の可変流量弁(例えば、ソレノイド等で駆動される電磁弁)であってもよい。制御部1213は、マイクロコンピュータ等の制御回路と、制御回路で実行されるプログラムを格納したメモリとを備えている。制御回路及びメモリは、例えば、制御基板に実装されている。制御部1213は、制御装置110から流体の流量設定値iTを受け取るとともに、流量計1212から流体の流量検出値ioを受け取り、流量検出値ioが流量設定値iTに一致するように流量制御弁1211をフィードバック制御する。第1薬液CLC121では、流体は薬液であり、第1DIWCLC122では、流体はDIWである。
 なお、ここでは、流量計、流量制御弁、及び制御部を含む流量制御弁ユニット(CLC)を例示するが、これらの一部又は全部を別体で設けても良い。例えば、流量計1212と流量制御弁1211とを別体で設け、制御部1213に代えて(又は制御部1213を介して)、制御装置110が流量計1212からの検出値に基づいて流量制御弁1211を制御し、流量を制御するようにしてもよい。制御装置110は、適宜、他の駆動回路を介して流量制御弁1211を制御してもよい。
 第1薬液希釈ボックス120は、図2に示すように、サックバック弁ユニット141と、圧力計142と、を更に備えている。サックバック弁ユニット141は、液だれ防止機能を有する開閉弁である。サックバック弁ユニット141は、ダイヤフラムの変形による容積変化を生じる機能によって下流側の流体を吸引するサックバック弁と、流路を開閉する開閉弁(ストップ弁、二方弁)と、を備える弁ユニットである。サックバック弁ユニット141によれば、第1薬液希釈ボックス120からの薬液(希釈後の薬液)の出力を遮断する際に、ノズル211(図2参照)からの液だれを抑制ないし防止することができる。圧力計142は、混合部123が出力する薬液(希釈後の薬液)の圧力を検出するものであり、配管83と、配管93とが合流する配管85における薬液(希釈後の薬液)の圧力を検出する。
 第2薬液希釈ボックス130は、薬液及びDIWの流量をそれぞれ制御し、所望の流量及び濃度の薬液(希釈後の薬液)を出力する。第2薬液希釈ボックス130は、第1薬液希釈ボックス120の制御とは独立に、薬液及びDIWの流量をそれぞれ制御する。第2薬液希釈ボックス130の入力部は、配管80、配管82を介して薬液ユーティリティボックス50に接続されるとともに、配管90、配管92を介してレギュレータ60に接続されている。第2薬液希釈ボックス130の出力部は、配管95を介して、洗浄装置200の洗浄部210のノズル212に接続されるとともに、配管96を介して、洗浄装置200の待機部230のノズル(図示せず)に接続されている。
 第2薬液希釈ボックス130は、第2薬液CLC(第2薬液流量制御部)131と、第2DIWCLC(第2希釈水流量制御部)132と、混合部133と、を備えている。第2薬液CLC131は、薬液ユーティリティボックス50からの薬液の流量を制御し、出力する。第2DIWCLC132は、レギュレータ60からのDIWの流量を制御し、出力する。第2薬液CLC131の出力部は、配管84に接続されている。第2DIWCLC132の出力部は、配管94に接続されている。配管84及び配管94は、配管86に合流する。配管84、配管94、配管86の合流点が、混合部133を構成する。混合部133は、第2薬液CLC131で流量が制御された薬液と、第2DIWCLC132が流量が制御されたDIWとを混合し、所望の流量及び濃度の薬液(希釈後の薬液)を出力する。制御装置110からの信号によって第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132で設定される薬液及びDIWの流量に応じて、希釈後の薬液の流量及び濃度が決定される。
 第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132は、第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122と同様に、図3に示す構成を有する。第2薬液CLC131の流量計1212は、第1薬液CLC121と同様に、超音波流量計である。圧損低減の観点からは、流量計1212は、超音波流量計を使用することが好ましいが、洗浄薬液供給装置100及び洗浄装置200全体での圧損を考慮して、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用してもよい。第2DIWCLC132の流量計1212は、第1DIWCLC122と同様に、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用する。なお、第2DIWCLC132の流量計1212として、超音波流量計を採用してもよい。第2薬液CLC131では、流体は薬液であり、第2DIWCLC132では、流体はDIWである。その他の構成は、前述した通りであるので、説明を省略する。
 第2薬液希釈ボックス130は、図2に示すように、開閉弁151と、開閉弁152と、圧力計153と、を更に備えている。開閉弁151は、配管86から分岐した配管95に設けられている。開閉弁151は、混合部133と、洗浄装置200の基板下面側のノズル212との間の流体的な接続を開放、遮断する。開閉弁152は、配管86から分岐した配管96に設けられている。開閉弁152は、混合部133と、洗浄装置200の待機部230との間の流体的な接続を開放、遮断する。圧力計153は、混合部133が出力する薬液(希釈後の薬液)の圧力を検出するものであり、配管84と、配管94とが合流する配管86における薬液の圧力を検出する。
 洗浄装置200は、研磨装置等の基板処理装置に設置され、基板Wを洗浄する装置である。洗浄装置200は、図2に示すように、配管85、95、96を介して、洗浄薬液供給装置100に接続されており、洗浄薬液供給装置100から薬液(希釈後の薬液)及び/又はDIWの供給を受ける。洗浄装置200は、洗浄部210と、待機部230とを備えている。洗浄部210は、基板Wの第1面及び第2面(この例では、上面及び下面)に薬液(希釈後の薬液)を供給し、この薬液によって基板Wを洗浄する。待機部230には、洗浄部210での洗浄を待機する基板が配置される。なお、洗浄装置200が、DIWによって洗浄されるDIW洗浄部を備える場合には、DIWを供給する配管が洗浄薬液供給装置100に設けられてもよい。基板Wの第1面及び第2面は、何れが基板Wの表面及び下面であってもよい。また、基板Wの第1面及び第2面は、基板Wが鉛直方向に立てて配置される場合には、第1面及び第2面は鉛直方向に延びる面である。
 洗浄部210は、基板Wの上面側に配置される1又は複数のノズル211と、基板Wの下面側に配置されるノズル212とを備えている。図面の複雑化を避けるため、図2では1つのノズル211のみ示す。
 1又は複数のノズル211は、基板Wの上方に配置され、基板Wの上面に向けて薬液(希釈後の薬液)を噴射する。ノズル211は、配管85を介して、洗浄薬液供給装置100の第1薬液希釈ボックス120の出力に接続されており、第1薬液希釈ボックス120で所望の流量及び濃度に調整された薬液(希釈後の薬液)の供給を受ける。一部又は全部のノズル211は、流路上の圧損を低減するために、低圧損タイプのノズル(例えば、フラットタイプの噴出口のもの)を使用することが好ましい。
 ノズル212は、共通の筐体に複数のノズル穴が設けられた構成である。ノズル212は、基板Wの下方に配置され、基板Wの下面に向けて薬液(希釈後の薬液)を噴射する。ノズル212は、配管95を介して、洗浄薬液供給装置100の第2薬液希釈ボックス130の出力に接続されており、第2薬液希釈ボックス130で所望の流量及び濃度に調整された薬液(希釈後の薬液)の供給を受ける。ノズル212は、流路上の圧損を低減するために、低圧損タイプのノズルを使用することが好ましい。
 待機部230は、第2薬液希釈ボックス130で所望の流量及び濃度に調整された薬液(希釈後の薬液)の供給を受ける。なお、第2薬液希釈ボックス130から洗浄部210のノズル212または待機部230の何れか一方のみに薬液(希釈後の薬液)を供給するように、開閉弁151、152を制御してもよい。
 なお、流路上の圧損を低減する観点から、供給源20、30からノズル211、212、待機部230までの配管は、内径が大きく圧損の小さいものを使用することが好ましい。また、弁(52、151、152、141)も圧損の小さいものを用いることが好ましい。
 (薬液供給プロセス)
 次に、図2に示した洗浄薬液供給装置100における薬液供給プロセスについて説明する。通常、ロックアウトバルブ53は開放されており、薬液供給プロセスの開始時には、制御装置110からの信号によって、薬液ユーティリティボックス50の開閉弁52が開放される。また、制御装置110からの信号によって、レギュレータ60が作動される。また、制御装置110からの信号によって、サックバック弁ユニット141、開閉弁151、開閉弁152が開放される。薬液ユーティリティボックス50及びレギュレータ60から、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130に薬液(希釈後の薬液)及びDIWが供給される。開閉弁52、レギュレータ60、サックバック弁ユニット141、開閉弁151、152は、制御装置110からの信号によって制御される。制御装置110は、記録媒体に格納されているプログラムに従って、第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122の制御を実行する。
 第1薬液希釈ボックス120では、第1薬液CLC121が、制御装置110からの流量設定値になるように薬液の流量を制御するとともに、第1DIWCLC122が、制御装置110からの流量設定値になるようにDIWの流量を制御し、混合部123が、流量調整後の薬液(希釈後の薬液)及びDIWを混合して、所定の流量及び濃度に制御された薬液(希釈後の薬液)を生成し、これを洗浄装置200の基板上面側のノズル211に出力する。第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122は、制御装置110からの信号によって制御される。制御装置110は、記録媒体に格納されているプログラムに従って、第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122の制御を実行する。
 第2薬液希釈ボックス130では、第2薬液CLC131が、制御装置110からの流量設定値になるように薬液の流量を制御するとともに、第2DIWCLC132が、制御装置110からの流量設定値になるようにDIWの流量を制御し、混合部133が、流量調整後の薬液及びDIWを混合して、所定の流量及び濃度に制御された薬液(希釈後の薬液)を生成し、これを洗浄装置200の基板下面側のノズル212に出力する。また、混合部133は、所定の流量及び濃度に制御された薬液(希釈後の薬液)を洗浄装置200の待機部230に供給する。第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132は、制御装置110からの信号によって制御される。制御装置110は、記録媒体に格納されているプログラムに従って、第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132の制御を実行する。
 なお、ノズル211、ノズル212への薬液(希釈後の薬液)の供給の一方を停止する場合には、サックバック弁ユニット141又は開閉弁151の一方を閉じ、一方を開ける(第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122の流量制御弁、または、第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132の流量制御弁を閉じてもよい)。
 また、ノズル211に薬液(希釈後の薬液)を供給し、ノズル212及び待機部230への薬液の供給を停止する場合には、開閉弁141を開け、開閉弁151、152を閉じる(第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132の流量制御弁を閉じてもよい)。
 また、ノズル212又は待機部230への薬液(希釈後の薬液)の供給の一方を停止する場合には、開閉弁151又は開閉弁152の一方を閉じる。
 洗浄装置200の洗浄部210では、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130で独立に流量及び濃度が制御された薬液(希釈後の薬液)をそれぞれ、ノズル21及びノズル212から基板Wの上面及び下面に供給し、基板Wを洗浄する。例えば、ノズル212への薬液の濃度のより低い薬液をノズル211に対して供給することができる。洗浄装置200は、制御装置110からの信号によって制御される。制御装置110は、記録媒体に格納されているプログラムに従って、洗浄装置200の制御を実行する。
 (フローチャート)
 図4は、薬液供給プロセスのフローチャートの一例である。これらの処理は、制御装置110において実行される。
 ステップS11では、開閉弁52を開放するか否かが判定される。ステップS11において、開閉弁52を開放すると判定されると、ステップS12において、制御装置110からの信号によって開閉弁52を開放する。
 ステップS13では、サックバック弁ユニット141を開放するか否かが判定される。ステップS13において、サックバック弁ユニット141を開放すると判定されると、ステップS14において、制御装置110からの信号によってサックバック弁ユニット141を開放する。なお、サックバック弁ユニット141が既に開放されている場合には、サックバック弁ユニット141を開放した状態を維持する。一方、サックバック弁ユニット141を閉じた状態を維持する又は閉じると判定された場合、サックバック弁ユニット141を閉じた状態を維持する又は閉じるように、制御装置110によってサックバック弁ユニット141が制御される。
 ステップS15では、第1薬液希釈ボックス120において、第1薬液CLC121が、制御装置110からの流量設定値になるように薬液の流量を制御するとともに、第1DIWCLC122が、制御装置110からの流量設定値になるようにDIWの流量を制御する。
 ステップS16では、混合部123が、流量調整後の薬液及びDIWを混合して、所定の流量及び濃度に制御された薬液(希釈後の薬液)を生成し、これを洗浄装置200の基板上面側のノズル211に出力する。なお、弁141が閉じられている場合には、薬液(希釈後の薬液)は、洗浄装置200の基板上面側のノズル211に出力されない。この場合は、第1薬液CLC121及び第1DIWCLC122の動作を停止してもよい。
 ステップS17では、開閉弁151を開放するか否かが判定される。ステップS17において、開閉弁151を開放すると判定されると、ステップS18において、制御装置110からの信号によって開閉弁151を開放する。なお、開閉弁151が既に開放されている場合には、開閉弁151を開放した状態を維持する。一方、開閉弁151を閉じた状態を維持する又は閉じると判定された場合、開閉弁151を閉じた状態を維持する又は閉じるように、制御装置110によって開閉弁151が制御される。
 ステップS19では、開閉弁152を開放するか否かが判定される。ステップS19において、開閉弁152を開放すると判定されると、ステップS20において、制御装置110からの信号によって開閉弁152開放する。なお、開閉弁152が既に開放されている場合には、開閉弁152を開放した状態を維持する。一方、開閉弁152を閉じた状態を維持する又は閉じると判定された場合、開閉弁152を閉じた状態を維持する又は閉じるように、制御装置110によって開閉弁151が制御される。
 ステップS21では、第2薬液希釈ボックス130において、第2薬液CLC131が、制御装置110からの流量設定値になるように薬液の流量を制御するとともに、第2DIWCLC132が、制御装置110からの流量設定値になるようにDIWの流量を制御する。
 ステップS22では、混合部133が、流量調整後の薬液及びDIWを混合して、所定の流量及び濃度に制御された薬液(希釈後の薬液)を生成し、これを洗浄装置200の基板下面側のノズル212に出力するとともに、待機部230に出力する。
 なお、開閉弁151が閉じられている場合には、洗浄装置200の基板下面側のノズル212に薬液(希釈後の薬液)は出力されない。また、開閉弁152が閉じられている場合には、待機部230に薬液(希釈後の薬液)は供給されない。開閉弁151、152の両方が閉じられている場合には、ノズル212及び待機部230に薬液(希釈後の薬液)は供給されない。開閉弁151、152の両方が閉じられている場合には、第2薬液CLC131及び第2DIWCLC132の動作を停止してもよい。
 ステップS23では、薬液供給プロセスの終了指示があるか否かが判定される。終了指示がある場合には、ステップS24において、開放されている弁を閉じる、レギュレータ、CLCを停止させる等の終了処理を実行した後、薬液供給プロセスを終了する。一方、終了指示がない場合には、ステップS13に戻り、ステップS13~S16及びステップS17~S22の処理を繰り返す。
 この薬液供給プロセスによれば、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130がそれぞれ独立に薬液の流量及び濃度を制御することが可能である(S13~S16、S17~S22)。また、第1薬液希釈ボックス120又は第2薬液希釈ボックス130の一方からの薬液(希釈後の薬液)の供給を停止することができる(S13~S14、S17~S20)。
 (基板処理装置の例)
 次に、上述した一実施形態に係る洗浄ユニットを備える基板処理装置の一例として、研磨装置の構成例を説明する。図5は、一実施形態に係る洗浄ユニットを備える研磨装置の全体構成を示す平面図である。
 図5に示すように、研磨装置1は、略矩形状のハウジング2と、複数の半導体ウエハ等の基板をストックする基板カセットが載置されるロードポート3を備えている。ロードポート3には、オープンカセット、SMIF(Standard Manufacturing Interface)ポッド、またはFOUP(Front Opening Unified Pod)を搭載することができる。ハウジング2の内部には、複数(この例では4つ)の研磨ユニット4a~4dと、研磨後の基板を洗浄する洗浄ユニット5a、5bと、洗浄後の基板を乾燥させる乾燥ユニット6が収容されている。洗浄ユニット5a、5bの少なくとも1つに、本発明の実施形態に係る洗浄ユニット10が適用される。
 ロードポート3、研磨ユニット4a及び乾燥ユニット6に囲まれた領域には、第1搬送ロボット7が配置されている。また、研磨ユニット4a~4dと平行に、搬送ユニット8が配置されている。第1搬送ロボット7は、研磨前の基板をロードポート3から受け取って搬送ユニット8に受け渡すとともに、乾燥後の基板を乾燥ユニット6から受け取ってロードポート3に戻す。搬送ユニット8は、第1搬送ロボット7から受け取った基板を搬送して、各研磨ユニット4a~4dとの間で基板の受け渡しを行う。洗浄ユニット5aと洗浄ユニット5bの間に位置して、搬送ユニット8と、これらの各ユニット5a、5bとの間で基板の受け渡しを行う第2搬送ロボット9aが配置されている。また、洗浄ユニット5bと乾燥ユニット6との間に位置して、これらの各ユニット5b、6との間で基板の受け渡しを行う第3搬送ロボット9bが配置されている。更に、ハウジング2の内部に位置して、研磨装置1の各機器の動きを制御する制御装置300が配置されている。前述した制御装置110として、研磨装置の制御装置300を使用してもよい。
 図6Aから図6Cは、CLCの取付構造を説明する説明図である。以下の説明では、CLCとして第1薬液CLC121を例に挙げるが、他の薬液CLC、DIWCLCも同様の構成を有する。第1薬液CLC121は、前述したように、流量制御弁1211と流量計1212とを備え、これらが配管800で接続され、筐体1214内に収容されている。図6Aは、流量計1212を通過する流体の方向が水平方向になるように、つまり、配管部分803a、803bが水平になるように、第1薬液CLC121を取り付けた場合を示す。図6Bは、流量計1212を通過する流体の方向が鉛直方向になるように、第1薬液CLC121を取り付けた場合を示す。図6Cは、流量計1212を通過する流体の方向が鉛直方向及び水平方向に対して傾くように、第1薬液CLC121を取り付けた場合を示す。鉛直方向及び水平方向とは、洗浄薬液供給装置等の装置の設置面に対して鉛直方向及び水平方向を示すものとする。配管部分801、802、803aは、1つの配管を曲げ加工して形成したものでもよく、一部又は全部の配管部分を別体で用意し、これらを互いに接続したものでもよい。配管部分803b、804aは、1つの配管を曲げ加工して形成したものでもよく、一部又は全部の配管部分を別体で用意し、これらを互いに接続したものでもよい。配管部分804a、805は、1つの配管を曲げ加工して形成したものでもよく、一部又は全部の配管部分を別体で用意し、これらを互いに接続したものでもよい。また、配管部分803a、803bが1つの配管として連続しており、その周囲に配置するような流量計を使用することもできる。なお、以下の説明では、配管部分803a、803bを区別する必要がない場合は、任意の配管部分803a、803bまたは配管部分803a、803bの組み合わせを配管部分803と称す場合がある。配管部分804a、804bについても同様である。
 図6Aから図6Cに示すように、第1薬液CLC121内の配管800は、筐体1214の長手方向を水平方向に向けて配置したとき(図6A)に、水平方向に延びる配管部分801、803a、803b、805と、鉛直方向に延びる配管部分802、804a、804bとを含む。図6Aの状態で第1薬液CLC121を配置した場合、流量計1212の入口側及び出口側の配管部分803a、803bが水平方向に向いているため、配管部分803a、803b内の流体に気泡が滞留しやすい状態になる。また、水平方向に延びる配管部分803aと、鉛直方向に延びる配管部分802との境界部付近、水平方向に延びる配管部分803bと、鉛直方向に延びる配管部分804aとの境界部付近は、各配管部分が折れ曲がる曲折部となっており、このような曲折部付近で気泡が滞留しやすい。これらの部分で気泡が滞留すると、流量計1212を通過する流体にも気泡が含まれるようになる。流量計1212が超音波流量計である場合、流体内の気泡により流量の検出精度が低下するおそれがある。流量計1212が差圧型流量計である場合も、配管内又は流体内の気泡に起因して偏流(流速の偏り)が生じると、流量の検出精度が低下するおそれがある。図6Bの状態では、水平方向に延びる配管部分802、804a、804bに気泡が滞留しやすく、また、水平方向に延びる配管部分802と、鉛直方向に延びる配管部分803aの境界部付近で気泡が滞留しやすい。これらの部分で気泡が滞留すると、流量計1212を通過する流体にも気泡が含まれるおそれがある。図6Aの場合と同様に、流量計1212が超音波流量計である場合、流体内の気泡により流量の検出精度が低下するおそれがある。流量計1212が差圧型流量計である場合も、配管内又は流体内の気泡に起因して偏流(流速の偏り)が生じると、流量の検出精度が低下するおそれがある。
 一方、図6Cの状態では、配管800の各配管部分が水平方向及び鉛直方向に対して傾いている。また、流量計1212の内部の流路も、配管部分803a、803bと同じ傾きで傾いている。配管部分803a、803b(流量計を通過する流れ方向)が鉛直方向に対して10度以上かつ40度以下の角度で傾くことが好ましい。この場合、配管部分802、配管部分803a、803b、配管部分804a、804bは、何れも水平方向に対して傾いているため、配管部分802と配管部分803aとの境界部、配管部分803bと配管部分804aとの境界部において気泡が通過しやすくなり、気泡の滞留を抑制することができる。配管部分801と配管部分802についても同様であり、配管部分804bと配管部分805についても同様である。従って、図6Cのように、配管800の各配管部分を水平方向に対して傾けるように第1薬液CLC121を取り付けることにより、配管内に滞留する気泡を抑制し、流量計1212を通過する流体に気泡が含まれることを抑制できる。この結果、流量計1212の検出精度を向上し得る。
 なお、図6AからCでは、配管800がL字状に折れ曲がる部分(曲折部)を有する場合を示すが、配管800は直角以外の角度で折れ曲がる部分を有してもよい。また、配管800が折れ曲がる部分を有しない直線状である場合にも、図6Cのように配管800を水平方向及び鉛直方向に対して傾けるように第1薬液CLC121を取り付けることにより、配管内に滞留する気泡を抑制し、流量計1212を通過する流体に気泡が含まれることを抑制できる。この結果、流量計1212の検出精度を向上し得る。例えば、図6Cにおいて、配管部分801、802、803a、803b、804a、804b、805が直線状に延びる場合である。
 また、図6Aの取付構造では、水平方向に延びる配管部分801,805(言い換えれば、水平方向に開口する入口部1214a、出口部1214b)を、鉛直方向に延びる外部の配管と接続する場合、直角に流路の方向を変えるために継手が必要となる場合が多い。図6Bの取付構造では、鉛直方向に延びる配管部分801、805(言い換えれば、鉛直方向に開口する入口部1214a、出口部1214b)を水平方向に延びる外部の配管と接続する場合、直角に流路の方向を変えるために継手が必要となる場合が多い。継手により流体は圧損を生じるため、洗浄薬液供給装置の圧損低減の観点からは、継手を省略することが好ましい。
 一方、図6Cの取付構造では、配管部分801,805(入口部1214a、出口部1214b)の開口方向が水平方向及び鉛直方向から傾いているため、水平方向及び鉛直方向に延びる何れの配管(配管部分)に対しても緩やかに方向付けられる。従って、水平方向及び鉛直方向に延びる外部の配管を緩やかに湾曲させて、配管部分801,805(入口部1214a、出口部1214b)に接続すれば、継手を使用することなく、配管部分801,805(入口部1214a、出口部1214b)を水平方向及び鉛直方向に延びる外部の配管に接続できる。なお、図7から図12の例では、水平方向及び鉛直方向に延びる外部の配管を緩やかに湾曲させて、配管部分801(入口部1214a)、バルブブロック1216の出口部1214cに接続すれば、継手を使用することなく、配管部分801(入口部1214a)、バルブブロック1216の出口部1214cを水平方向及び鉛直方向に延びる外部の配管に接続できる(図12参照)。
 図7は、CLCの平面図である。図8は、CLCの側面図である。この例では、第1薬液CLC121には、バルブブロック1216が取り付けられている。第1薬液CLC121及びバルブブロック1216は、ベース1215に取り付けられている。筐体1214には、入口部1214aが設けられている。ここでは、図6AからCの配管部分805に設けられる出口部1214bは、第1薬液CLC121及びバルブブロック1216の間の配管として一体化されて示されている。第1薬液CLC121及びバルブブロック1216の間は、任意の連結方法で接続すればよい。入口部1214aは、配管部分801の一端側に設けられており、配管部分801が延びる方向に開口している。ここでは、入口部1214aは、配管部分801の端部として例示しているが、外部からの配管の接続が可能なコネクタが取り付けられてもよい。バルブブロック1216には、外部からの配管の接続が可能なコネクタの構成を備える出口部1214cが設けられている。入口部1214aは、一次側、すなわち薬液供給源20、DIW供給源30の側に接続されている。出口部1214cは、二次側、すなわち洗浄ユニット200側に接続されている。
 図9は、2つのCLCを組み合わせたCLC組立体の平面図である。図10Aは、CLC組立体の一方側からの側面図である。図10Bは、CLC組立体の他方側からの側面図である。この例では、第1薬液CLC121と第1DIWCLC122とを組み合わせた例を示しているが、第2薬液CLC131、第2DIWCLC132を組み合わせる場合も同様である。また、第1薬液CLC121と第2薬液CLC131とを組み合わせてもよいし、第1DIWCLC122と第2DIWCLC132とを組み合わせてもよい。他の実施形態では、3つ以上のCLCを組み合わせて、共通のベースに取り付けてもよい。また、2つ以上のCLCを共通の筐体内に配置するようにしてもよい。複数のCLCの組み合わせをCLC組立体と称す。
 第1薬液CLC121と第1DIWCLC122とは、共通のベース1215に固定されている。この例では、第1薬液CLC121がバルブブロック1216を有し、第1DIWCLC122がバルブブロック1226を有している。これらのバルブブロック1216、1226は、並んで配置されており、内部で流体的に連絡している。つまり、第1薬液CLC121から出力される流体がバルブブロック1216に流れ込み、第1DIWCLC122から出力される流体がバルブブロック1226に流れ込み、これらの流体が混合されて、出口部1214cから出力される。バルブブロック1216、1226は、混合部123(図2参照)を構成する。なお、第1薬液CLC121と第1DIWCLC122とを単一のバルブブロックに接続するようにしてもよい。
 図11は、CLCの取付構造の側面図である。図12は、CLCの取付構造の斜視図である。この例では、共通のベース1215を介して複数のCLCを取り付ける場合を説明するが、各CLCを個々のベースを介して取り付けてもよい。これらの図面に示すとおり、CLC組立体(第1薬液CLC121、第2薬液CLC)は、水平方向及び鉛直方向から傾いて取り付けられる。CLC組立体は、筐体1217内に設けられた取付ベース1218、1219によって取り付けられる。取付ベース1218は、筐体1217の底面に固定され、CLC組立体のベース1215の一端側を支持する1又は複数の傾斜面を有する。取付ベース1219は、筐体1217の側面内側に固定され、CLC組立体のベース1215の他端側を支持する傾斜面を有する。取付ベース1219も、複数の傾斜面を有するように構成してもよい。CLC組立体のベース1215は、ボルト等の締結部材によって取付ベース1219に固定される。取付ベース1218に対しても、CLC組立体のベース1215を締結部材で固定してもよい。第1薬液CLC121の入口部1214aは配管81(図2)に接続され、第1DIWCLC122の入口部1224aは、配管91に接続される。図示省略しているが、出口部1214cは、配管85に接続される。ここでは、配管81に設けられたコネクタで配管81を入口部1214aに接続する場合を例示するが、第1薬液CLC121の筐体1214側、つまり入口部1214aにコネクタを設けてもよい。配管91、第2薬液CLCについても同様である。
 この構成によれば、CLC内の配管800の何れの配管部分も水平方向に沿って配置されることがないので、配管内に空気(気泡)が滞留することを抑制できる。また、配管800の曲折部(折れ曲がる部分)付近では、気泡が滞留し易い傾向にあるが、曲折部両側の各配管部分を水平方向及び鉛直方向から傾けることにより、曲折部における空気(気泡)の滞留を抑制することができる。また、配管800が鉛直方向に対して傾いているので、配管800内の圧損を抑制することができる。また、配管800が、直線状に延びる場合にも、傾けて配置すれば、同様の作用効果を得ることができる。
 (第2実施形態)
 図13は、他の例に係る流量制御のフローチャートである。上記実施形態では、流量計1212の検出値に基づいて流量制御弁1211により流量を制御したが(図4のS15、S21)、圧力計142、153による検出値に基づいて流量を制御してもよい。図4のフローチャートでは、流量計1211に異常が検知された場合に、圧力計142、153に基づく制御に切り替える。この制御フローは、図4の制御フローと並列に実行され、流量計に異常を検知した時点で、圧力計に基づく制御に切り替える。
 ステップS110では、流量計が正常か否か判定される。この判断は、例えば、制御装置110で設定される流量設定値に対して、流量計1212及び流量制御弁1211による流量制御の結果、所定時間以内に流量計1212の検出値が(許容範囲内で)流量設定値を示すか否かで判断する。流量計が正常である場合には、ステップS120Aに移行し、上述したように、流量計1212の検出値に基づいて、流量の制御(図4のS15、S21)を実行する。一方、流量計が正常でない場合には、ステップ120Bに移行し、圧力計142、153の検出値に基づいて、流量の制御(図4のS15、S21)を実行する。圧力計142、153の検出値に基づく制御では、制御装置110が液圧設定値を設定し、圧力計142、153の検出値が液圧設定値に近づくように、流量制御弁1211をフィードバック制御する。
 なお、圧力計に基づく流量制御を主として行い、圧力計に異常が検知された場合に、流量計に基づく流量制御に切り替えるようにしてもよい。
 (第3実施形態)
 図14は、圧力計を使用した異常検知制御のフローチャートである。この制御フローも、図4の制御フローと並列に実行される。ステップS210では、制御装置110が設定する流量設定値または液圧設定値に基づいて、圧力計142、153の検出値として正常な範囲を設定する。正常な範囲は、例えば、予め実験等を行い、流量設定値または液圧設定値に応じた正常範囲のテーブルを作成しておく。流量設定値、液圧設定値に関わらず、固定の誤差範囲としてもよい。ステップS211では、圧力計142、153で検出した実際の検出値が、設定された正常な範囲内であるか否かを判定する。圧力計142、153の検出値が正常範囲であれば、ステップS210からの処理を繰り返す。一方、圧力計142、153の検出値が正常範囲外であれば、ステップS212に移行し、圧力計142、153の二次側の構成に異常があると判定し、異常検出時処理を実行する。異常検出時処理としては、ユーザや他の装置に対するアラームの出力、装置の停止等が含まれる。二次側の構成の異常としては、圧力計142、153の二次側の配管85、95、96等に漏れ等の異常がある場合、ノズル211、212として正しいノズルが取り付けられていない場合等である。また、圧力計の二次側の配管にバルブが取り付けられている場合には、バルブに異常がある場合も、二次側の異常として検出することができる。
 この実施形態によれば、圧力計の検出値に基づいて、流量制御弁の下流の配管の異常(配管漏れ等)、配管に接続される装置(ノズル、バルブ等)の異常を早期に検知することができる。
(作用効果)
 上記実施形態によれば、同一の薬液供給源20から第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130に薬液を導入し、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130によって薬液の流量及び濃度をそれぞれ制御することができる。よって、基板の各面(上面及び下面)に供給する薬液(希釈後の薬液)の流量及び濃度を独立に制御することができる。
 また、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130からそれぞれ薬液(希釈後の薬液)を出力する構成であるため、サックバック弁ユニット141、開閉弁151、開閉弁152の開閉によって、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130の何れかからの薬液(希釈後の薬液)の出力を停止することができる。また、開閉弁151、開閉弁152の開閉によって、洗浄装置200の洗浄部210のノズル212および待機部230に供給する薬液(希釈後の薬液)の何れかを停止することができる。よって、洗浄薬液供給装置100内の制御によって、基板の各面(上面及び下面)、待機部の何れかのみに薬液(希釈後の薬液)を供給することが可能である。従って、基板の各面(上面及び下面)、待機部の何れかのみに薬液(希釈後の薬液)を供給するために、洗浄装置200内に追加の弁等を設置する必要がない。
 また、第1薬液希釈ボックス120及び第2薬液希釈ボックス130がそれぞれの薬液(希釈後の薬液)の流量を制御できるため、共通の流路から薬液(希釈後の薬液)を分岐させる場合のように、絞りを使用して流量を調整する必要がない。従って、薬液及び希釈水が、洗浄薬液供給装置100及び洗浄装置200の流路上で受ける圧損が低減され、洗浄装置200への薬液(希釈後の薬液)の流量の低下を抑制ないし防止することができる。例えば、洗浄薬液供給装置100への薬液及び/又は希釈水の供給圧力が低い場合であっても、基板の各面(上面及び下面)に供給する薬液(希釈後の薬液)の流量の低下を抑制ないし防止することができる。
 上記実施形態によれば、流量計1212と流量制御弁1211とを備えるCLC121、122、122、132を使用することによって、制御装置110からの信号によって薬液及び/又は希釈水の流量を簡易かつ正確に制御することが可能である。例えば、基板の各面(上面及び下面)への薬液の流量を絞りで制御する場合と比較して、流量計1212と流量制御弁1211における圧損を低減することができる。また、絞り(例えば、ニードル弁)の開度を手動で調整する場合に比較すると、流量計1212と流量制御弁1211とを備えるCLC121、122、122、132は、流量の制御を自動的に行える点で有利である。
 上記実施形態によれば、超音波流量計を使用することにより、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用する場合に比較して、流量計における圧損を小さくすることができる。この構成では、流路上の圧損を低減して基板に供給できる流量の低下を抑制することができるので、洗浄薬液供給装置100への薬液及び/又は希釈水の供給圧力が低い場合に、特に有利である。
 上記実施形態によれば、モータを備える駆動源1211bによって弁本体1211aの開度を変更することにより、迅速かつ正確に流量制御弁の開度を調整することができる。
 上記実施形態によれば、第1薬液希釈ボックス120からの希釈後の薬液の出力をサックバック弁ユニット141によって流通/停止することができる。サックバック弁ユニット141によれば、第1薬液希釈ボックス120からの出力を遮断する際に、ノズル211からの液だれを抑制ないし防止することができる。
 上記実施形態によれば、基板の各面の何れかの面(例えば、下面)に薬液(希釈後の薬液)を供給する第2薬液希釈ボックス130から、洗浄を待機する待機部230の基板に薬液(希釈後の薬液)を供給することによって、待機する基板に薬液(希釈後の薬液)を供給するための別途の構成を省略することができ、流体回路の構成を簡易にすることができる。
 上記実施形態の記載から、少なくとも以下の技術的思想を把握することができる。
 第1形態によれば、洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置が提供される。この洗浄薬液供給装置は、 薬液入口部及び希釈水入口部と、 前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第1薬液制御部と、 前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第2薬液制御部と、を備える。前記第1薬液制御部は、 前記薬液入口部からの薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第1薬液流量制御部と、 前記希釈水入口部からの希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第1希釈水流量制御部と、 前記第1薬液流量制御部及び前記第1希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第1混合部と、を有する。前記第2薬液制御部は、 前記薬液入口部からの前記薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第2薬液流量制御部と、 前記希釈水入口部からの前記希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第2希釈水流量制御部と、前記第2薬液流量制御部及び前記第2希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第2混合部と、を有する。
 この形態によれば、同一の薬液供給源からの薬液を第1及び第2薬液制御部において独立に希釈し、薬液の流量及び濃度を独立に制御することができる。例えば、基板の各面に供給する薬液の流量及び濃度を独立に制御することができる。
 また、第1及び第2薬液制御部からそれぞれ薬液を出力する構成であるため、第1及び第2薬液制御部内又は第1及び第2薬液制御部に関連して弁を設ければ、第1及び第2薬液制御部の何れかからの薬液の出力を停止することができる。よって、洗浄薬液供給装置内の制御によって、基板の上面又は下面の何れか一方のみに薬液を供給することが可能である。従って、基板の第1面及び第2面の何れか一方のみに薬液を供給するために、洗浄装置内に追加の弁等を設置する必要がない。
 また、第1及び第2薬液制御部がそれぞれの薬液の流量を制御できるため、共通の流路から薬液を基板の各面側に分岐させる場合のように、絞りを使用して流量を調整する必要がない。従って、薬液及び希釈水が、洗浄薬液供給装置及び洗浄装置の流路上で受ける圧損が低減され、洗浄装置への薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。例えば、洗浄薬液供給装置への薬液及び/又は希釈水の供給圧力(入力圧力)が低い場合であっても、基板の各面に供給する薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。
 第2形態によれば、第1形態の洗浄薬液供給装置において、 前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の各々は、 前記薬液又は前記希釈水の流量を検出するための流量計と、 前記流量計の検出値に基づいて前記薬液又は前記希釈水の流量をフィードバック制御する流量制御弁と、を有する。
 この形態によれば、流量計と流量制御弁とを備える流量制御部を使用することによって、コンピュータ等の制御部からの信号によって薬液及び/又は希釈水の流量を簡易かつ正確に制御することが可能である。例えば、基板の各面側への薬液の流量を絞りで制御する場合と比較して、流路上の圧損を低減することができる。また、絞りの開度を手動で調整する場合に比較すると、流量計と流量制御弁とを備える流量制御部では、流量の制御を自動的に行える点で有利である。
 第3形態によれば、第2形態の洗浄薬液供給装置において、 前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の少なくとも1つは、前記流量計として超音波流量計を有する。
 この形態によれば、超音波流量計を使用することにより、差圧式流量計(オリフィス流量計)を使用する場合に比較して、流量計における圧損を小さくすることができる。この構成では、流路上の圧損を低減して基板に供給できる流量の低下を抑制することができるので、洗浄薬液供給装置への薬液及び/又は希釈水の供給圧力が低い場合に、特に有利である。
 第4形態によれば、第2又は3形態の洗浄薬液供給装置において、 前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の少なくとも1つにおいて、前記流量制御弁はモータによって開度が変更されるモータバルブである。
 この形態によれば、モータによって流量制御弁の開度を変更することにより、迅速かつ正確に流量制御弁の開度を調整することができる。
 第5形態によれば、第1乃至4形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記第1薬液制御部は、前記第1混合部の下流側にサックバック弁ユニットを更に備える。
 この形態によれば、第1薬液制御部からの希釈後の薬液の出力をサックバック弁ユニットによって流通/停止することができる。サックバック弁ユニットによれば、第1薬液制御部からの出力を遮断する際に、ノズルからの液だれを抑制ないし防止することができる。
 第6形態によれば、洗浄ユニットが提供され、この洗浄ユニットは、第1乃至5形態の何れかの洗浄薬液供給装置と、前記洗浄薬液供給装置に接続された前記洗浄装置と、を備え、 前記第1及び第2薬液制御部は、前記洗浄装置内に設置された同一の基板の第1面及び第2面にそれぞれ前記希釈後の薬液を供給するように構成されている。
 この形態によれば、同一の薬液供給源からの薬液を第1及び第2薬液制御部に導入し、第1及び第2薬液制御部で独立に流量及び濃度を制御した薬液をそれぞれ、基板の第1面及び第2面に供給することによって、基板の第1面及び第2面に供給する薬液の流量及び濃度を独立に制御することができる。
 また、第1及び第2薬液制御部からそれぞれ薬液を出力する構成であるため、第1及び第2薬液制御部内又は第1及び第2薬液制御部に関連して弁を設ければ、第1及び第2薬液制御部の何れかからの薬液の出力を停止することができる。よって、洗浄薬液供給装置内の制御によって、基板の第1面及び第2面の何れか一方のみに薬液を供給することが可能である。従って、基板の第1面及び第2面の何れか一方のみに薬液を供給するために、洗浄装置内に追加の弁等を設置する必要がない。
 また、第1及び第2薬液制御部がそれぞれの薬液の流量を制御できるため共通の流路から薬液を基板の第1面側及び第2面側に分岐させる場合のように、絞りを使用して流量を調整する必要がない。従って、薬液及び希釈水が、洗浄薬液供給装置及び洗浄装置の流路上で受ける圧損が低減され、洗浄装置への薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。例えば、洗浄薬液供給装置への薬液及び/又は希釈水の供給圧力が低い場合であっても、基板の第1面及び第2面に供給する薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。
 第7形態によれば、第6形態の洗浄ユニットにおいて、 前記第2薬液制御部は、更に、前記洗浄装置内で洗浄を待機する基板に前記希釈後の薬液を供給するように構成されている。
 基板の下面に薬液を供給する第2薬液制御部から洗浄を待機する基板に薬液を供給することによって、待機する基板に薬液を供給するための別途の構成を省略することができ、流体回路の構成を簡易にすることができる。
 第8形態によれば、 洗浄ユニットを制御する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体が提供される。この記録媒体は、 薬液入口部からの薬液の供給を受け、前記薬液の流量を第1及び第2薬液流量制御部によって独立に制御すること、 希釈水入口部からの希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を第1及び第2希釈水流量制御部によって独立に制御すること、 前記第1薬液流量制御部及び前記第1希釈水流量制御部で流量を制御された前記薬液及び前記希釈水を第1混合部で混合して、前記希釈後の薬液を前記洗浄装置に出力すること、 前記第2薬液流量制御部及び前記第2希釈水流量制御部で流量を制御された前記薬液及び前記希釈水を第2混合部で混合して、前記希釈後の薬液を前記洗浄装置に出力すること、をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納している。
 この形態によれば、同一の薬液供給源からの薬液を第1及び第2薬液制御部において独立に希釈し、薬液の流量及び濃度を独立に制御することができる。
 また、第1及び第2薬液制御部からそれぞれ薬液(希釈後の薬液)を出力する構成であるため、第1及び第2薬液制御部の何れかからの薬液の出力を停止することができる。
 また、第1及び第2薬液制御部がそれぞれの薬液の流量を制御できるため、共通の流路から薬液を分岐させる場合のように、絞りを使用して流量を調整する必要がない。従って、薬液及び希釈水が、洗浄薬液供給装置及び洗浄装置の流路上で受ける圧損が低減され、洗浄装置への薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。
 第9形態によれば、第8形態の記憶媒体において、 更に、前記第1及び第2混合部からの前記希釈後の薬液を同一の基板の第1面及び第2面に供給すること、をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納している。基板の第1面及び第2面に供給する薬液の流量及び濃度を独立に制御することができる。洗浄薬液供給装置内の制御によって、基板の第1面又は第2面の何れか一方のみに薬液を供給することが可能である。従って、基板の第1面又は第2面の何れか一方のみに薬液を供給するために、洗浄装置内に追加の弁等を設置する必要がない。また、洗浄薬液供給装置への薬液及び/又は希釈水の供給圧力が低い場合であっても、基板の第1面又は第2面に供給する薬液の流量の低下を抑制ないし防止することができる。
 第10形態によれば、 洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置であって、 流量計と、 前記流量計に入る第1配管と、 前記流量計から出る第2配管と、を備え、 前記第1配管及び前記第2配管が、水平方向及び鉛直方向から傾いている、洗浄薬液供給装置が提供される。
 この構成によれば、第1配管および第2配管の何れも水平方向に沿って配置されることがないので、配管内に空気(気泡)が滞留することを抑制できる。また、第1配管および第2配管の何れも鉛直方向から傾いているので、流路の圧損を低減することができる。
 第11形態は、第10形態の洗浄薬液供給装置において、 前記第1配管及び前記第2配管は、同じ傾きで傾いて配置されている。
 この形態によれば、第1及び第2配管の設置が容易である。
 第12形態は、第10又は11形態の洗浄薬液供給装置において、 前記流量計が傾いて配置されている。
 この形態によれば、流量計内の流路と第1及び第2配管からなる流路を傾けることができる。
 第13形態は、第10乃至12形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、水平方向に延びる配管に接続され、前記水平方向に延びる配管は、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方に接続される側において、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方の延びる方向に近づくように湾曲されている。
 この構成では、水平方向に延びる配管を、湾曲させることにより、傾いて延びる第1配管及び/又は第2配管に接続することができる。水平方向に延びる配管を鉛直方向に延びる配管に接続する場合には、方向の変化が大きいため、継手を介して接続することが多い。この形態の構成によれば、第1配管及び第2配管が傾いて配置されているため、水平方向に延びる配管を緩やかに湾曲させることによって、第1配管及び/又は第2配管に接続することができる。なお、第1配管及び/又は第2配管を、バルブを介して、水平方向に延びる配管に接続してもよい。
 第14形態は、第10乃至12形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、鉛直方向に延びる配管に接続され、前記鉛直方向に延びる配管は、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方に接続される側において、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方の延びる方向に近づくように湾曲されている。
 この構成では、鉛直方向に延びる配管を、湾曲させることにより、傾いて延びる第1配管及び/又は第2配管に接続することができる。鉛直方向に延びる配管を水平方向に延びる配管に接続する場合には、方向の変化が大きいため、継手を介して接続することが多い。この形態の構成によれば、第1配管及び第2配管が傾いて配置されているため、鉛直方向に延びる配管を緩やかに湾曲させることによって、第1配管及び/又は第2配管に接続することができる。なお、第1配管及び/又は第2配管を、バルブを介して、鉛直方向に延びる配管に接続してもよい。
 第15形態は、第10乃至14形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、前記流量計とは反対側において、曲折部を有し、該曲折部の両側の各配管部分は水平方向及び鉛直方向から傾いている。
 この形態によれば、第1及び/又は第2配管が曲折部を有する場合にも、曲折部の両側の各配管部分が傾いているので、配管内での空気(気泡)の滞留を抑制することができる。曲折部は配管が方向を変えるので、空気が滞留し易い傾向にあるが、曲折部の両側の各配管部分を水平方向及び鉛直方向から傾けることにより、曲折部における空気(気泡)の滞留を抑制することができる。
 第16形態は、第10乃至15形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記流量計は、超音波流量計である。
 上述したように、第1及び第2配管を傾けて配置することにより、これらの配管内、及び境界部における気泡の滞留を抑制することができるので、超音波流量計による流量の検出精度を向上させることができる。
 なお、配管内の気泡の滞留を抑制することにより、配管内を流れる流体の偏流(流速の偏り)を抑制する効果もあると考えられるため、差圧型流量計を使用した場合も、流量の検出精度を向上させ得ると考えられる。
 第17形態は、第10乃至16形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、鉛直方向から10度以上40度以下の傾き角で傾いている。
 鉛直方向からの傾きの角度を10度以上40度以下とすることにより、気泡の滞留抑制と、配管内での流体の圧損低減とを両立させることができる。傾きの角度が10度未満では、配管内での圧損が大きくなり、一方、傾きの角度が40度超の場合には、気泡滞留の抑制効果が小さくなる。なお、この角度範囲外であっても、圧損低減効果又は気泡滞留効果が小さくなるものの、第1配管及び第2配管を水平及び鉛直方向から傾けることによって、一定の効果は得られる。
 第18形態は、第10乃至17形態の何れかの洗浄薬液供給装置において、 流量制御弁と、 前記流量制御弁の出力側の流路上に配置された圧力計と、を更に備える。この形態では、圧力計の検出値を用いて、洗浄薬液供給装置の流量制御、異常検知等を行うことができる。
 第19形態は、第18形態に記載の洗浄薬液供給装置において、 前記流量制御弁は、前記流量計の検出値に基づいて流量の制御を行うこと、及び、前記圧力計の検出値に基づいて流量の制御を行うことが可能である。
 例えば、流量計の検出値に基づいて流量制御弁を制御するとともに、流量計に異常が検知された場合に、圧力計の検出値に基づいて流量制御弁を制御することができる。また、その逆の使用方法も可能である。例えば、圧力計を流量計のバックアップとして使用できる。
 第20形態は、第18又は19形態に記載の洗浄薬液供給装置において、 前記圧力計の検出値に基づいて、前記流量制御弁の出力側の配管、該配管に接続される装置の少なくとも1つの異常検知が行われる。
 圧力計の検出値に基づいて、流量制御弁の下流の配管の異常(配管漏れ等)、配管に接続される装置(ノズル、バルブ等)の異常を検知することができる。
 第21形態は、洗浄ユニットであって、 第10乃至20形態の何れかの洗浄薬液供給装置と、 前記洗浄薬液供給装置に接続された前記洗浄装置と、を備える。
 この形態によれば、洗浄ユニットにおいて、上述した形態の作用効果を奏することができる。この結果、洗浄装置に供給する薬液の流量を精度よく制御することができる。また、一例では、流量計及び圧力計の一方に異常が生じた場合にも、他方のセンサを使用して流量制御弁による流量制御を継続することができる。また、一例では、圧力センサを利用して、配管、ノズル、バルブ等の異常検知を行うことができる。
 以上、いくつかの例に基づいて本発明の実施形態について説明してきたが、上記した発明の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明には、その均等物が含まれることはもちろんである。また、上述した課題の少なくとも一部を解決できる範囲、または、効果の少なくとも一部を奏する範囲において、特許請求の範囲および明細書に記載された各構成要素の任意の組み合わせ、または、省略が可能である。
 本願は、2016年12月16日出願の日本特許出願番号2016-244469号、2017年12月11日出願の日本特許出願番号2017-236998号に基づく優先権を主張する。2016年12月16日出願の日本特許出願番号2016-244469号、2017年12月11日出願の日本特許出願番号2017-236998号の明細書、特許請求の範囲、図面及び要約書を含む全ての開示内容は、参照により全体として本願に組み込まれる。
 特開平9-260332号公報(特許文献1)、 特開2014-132641号公報(特許文献2)、 特開2016-9818号公報(特許文献3)、 特開2016-15469号公報(特許文献4)の明細書、特許請求の範囲、図面及び要約書を含む全ての開示は、参照により全体として本願に組み込まれる。
1 研磨装置
2 ハウジング
3 ロードポート
4a~4d 研磨ユニット
5a、5b 洗浄ユニット
6 乾燥ユニット
7 第1搬送ロボット
8 第2搬送ロボット
9a 第2搬送ロボット
9b 第3搬送ロボット
10 洗浄ユニット
20 薬液供給源
30 DIW供給源
50 薬液ユーティリティボックス
51 入力部
52 開閉弁
53 ロックアウト弁
54 圧力計
60 レギュレータ
61 入力部
80~86、90~96 配管
100 洗浄薬液供給装置
101 ケース
120 第1薬液希釈ボックス
121 第1薬液CLC
122 第1DIWCLC
130 第2薬液希釈ボックス
131 第2薬液CLC
132 第2DIWCLC
141 サックバック弁ユニット
142 圧力計
200 洗浄装置
210 洗浄部
211 ノズル
212 ノズル
230 待機部
300 制御装置
1211 流量制御弁
1211a 弁本体
1211b 駆動源
1212 流量計
1213 制御部
 

Claims (21)

  1.  洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置であって、
     薬液入口部及び希釈水入口部と、
     前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第1薬液制御部と、
     前記薬液入口部及び前記希釈水入口部に流体的に接続された第2薬液制御部と、
    を備え、
     前記第1薬液制御部は、
     前記薬液入口部からの薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第1薬液流量制御部と、
     前記希釈水入口部からの希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第1希釈水流量制御部と、
     前記第1薬液流量制御部及び前記第1希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第1混合部と、を有し、
     前記第2薬液制御部は、
     前記薬液入口部からの前記薬液の供給を受け、前記薬液の流量を制御するように構成された第2薬液流量制御部と、
     前記希釈水入口部からの前記希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を制御するように構成された第2希釈水流量制御部と、
     前記第2薬液流量制御部及び前記第2希釈水流量制御部からの前記薬液及び前記希釈水を混合する第2混合部と、を有する、
    洗浄薬液供給装置。
  2.  請求項1に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の各々は、
     前記薬液又は前記希釈水の流量を検出するための流量計と、
     前記流量計の検出値に基づいて前記薬液又は前記希釈水の流量をフィードバック制御する流量制御弁と、
    を有する、洗浄薬液供給装置。
  3.  請求項2に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の少なくとも1つは、前記流量計として超音波流量計を有する、洗浄薬液供給装置。
  4.  請求項2又は3に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1及び第2薬液流量制御部ならびに前記第1及び第2希釈水流量制御部の少なくとも1つにおいて、前記流量制御弁はモータによって開度が変更されるモータバルブである、洗浄薬液供給装置。
  5.  請求項1乃至4の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1薬液制御部は、前記第1混合部の下流側にサックバック弁ユニットを更に備える、洗浄薬液供給装置。
  6.  洗浄ユニットであって、
     請求項1乃至5の何れかに記載の洗浄薬液供給装置と、
     前記洗浄薬液供給装置に接続された前記洗浄装置と、
    を備え、
     前記第1及び第2薬液制御部は、前記洗浄装置内に設置された同一の基板の第1面及び第2面にそれぞれ前記希釈後の薬液を供給するように構成されている、洗浄ユニット。
  7.  請求項6に記載の洗浄ユニットにおいて、
     前記第2薬液制御部は、更に、前記洗浄装置内で洗浄を待機する基板に前記希釈後の薬液を供給するように構成されている、洗浄ユニット。
  8.  洗浄ユニットを制御する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体であって、
     薬液入口部からの薬液の供給を受け、前記薬液の流量を第1及び第2薬液流量制御部によって独立に制御すること、
     希釈水入口部からの希釈水の供給を受け、前記希釈水の流量を第1及び第2希釈水流量制御部によって独立に制御すること、
     前記第1薬液流量制御部及び前記第1希釈水流量制御部で流量を制御された前記薬液及び前記希釈水を第1混合部で混合して、前記希釈後の薬液を前記洗浄装置に出力すること、
     前記第2薬液流量制御部及び前記第2希釈水流量制御部で流量を制御された前記薬液及び前記希釈水を第2混合部で混合して、前記希釈後の薬液を前記洗浄装置に出力すること、
    をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体。
  9.  請求項8に記載の記憶媒体において、
     更に、前記第1及び第2混合部からの前記希釈後の薬液を同一の基板の第1面及び第2面に供給すること、をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納した記憶媒体。
  10.  洗浄のための薬液を洗浄装置に供給するための洗浄薬液供給装置であって、
     流量計と、
     前記流量計に入る第1配管と、
     前記流量計から出る第2配管と、
    を備え、
     前記第1配管及び前記第2配管が、水平方向及び鉛直方向から傾いている、洗浄薬液供給装置。
  11.  請求項10に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1配管及び前記第2配管は、同じ傾きで傾いて配置されている、洗浄薬液供給装置。
  12.  請求項10又は11に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記流量計が傾いて配置されている、洗浄薬液供給装置。
  13.  請求項10乃至12の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、水平方向に延びる配管に接続され、前記水平方向に延びる配管は、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方に接続される側において、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方の延びる方向に近づくように湾曲されている、洗浄薬液供給装置。
  14.  請求項10乃至12の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、鉛直方向に延びる配管に接続され、前記鉛直方向に延びる配管は、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方に接続される側において、前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方の延びる方向に近づくように湾曲されている、洗浄薬液供給装置。
  15.  請求項10乃至14の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、前記流量計とは反対側において、曲折部を有し、該曲折部の両側の各配管部分は水平方向及び鉛直方向から傾いている、
    洗浄薬液供給装置。
  16.  請求項10乃至15の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記流量計は、超音波流量計である、洗浄薬液供給装置。
  17.  請求項10乃至16の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記第1配管及び前記第2配管の少なくとも一方は、鉛直方向から10度以上40度以下の傾き角で傾いている、洗浄薬液供給装置。
  18.  請求項10乃至17の何れかに記載の洗浄薬液供給装置において、
     流量制御弁と、
     前記流量制御弁の出力側の流路上に配置された圧力計と、
    を更に備える洗浄薬液供給装置。
  19.  請求項18に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記流量制御弁は、前記流量計の検出値に基づいて流量の制御を行うこと、及び、前記圧力計の検出値に基づいて流量の制御を行うことが可能である、洗浄薬液供給装置。
  20.  請求項18又は19に記載の洗浄薬液供給装置において、
     前記圧力計の検出値に基づいて、前記流量制御弁の出力側の配管、該配管に接続される装置の少なくとも1つの異常検知が行われる、洗浄薬液供給装置。
  21.  洗浄ユニットであって、
     請求項10乃至20の何れかに記載の洗浄薬液供給装置と、
     前記洗浄薬液供給装置に接続された前記洗浄装置と、
    を備える、洗浄ユニット。
     
     
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