WO2017183275A1 - 半導体集積回路 - Google Patents

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WO2017183275A1
WO2017183275A1 PCT/JP2017/006200 JP2017006200W WO2017183275A1 WO 2017183275 A1 WO2017183275 A1 WO 2017183275A1 JP 2017006200 W JP2017006200 W JP 2017006200W WO 2017183275 A1 WO2017183275 A1 WO 2017183275A1
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voltage
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真久 飯田
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株式会社ソシオネクスト
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    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0018Special modifications or use of the back gate voltage of a FET

Definitions

  • the present disclosure relates to a semiconductor integrated circuit including a power switch circuit having a function of switching a power supply voltage to be supplied.
  • the signal voltage level is decreased in order to suppress an increase in power consumption.
  • the SD (secure digital) memory card interface standard used to be a 3.3V signal interface
  • the new high speed standard uses a 1.8V signal interface.
  • widely used interface standards such as SD memory cards require devices that support both the old and new standards, and therefore, the interface circuit has a signal voltage level that depends on the standards supported by the SD memory card to be connected. It will be necessary to switch. Therefore, a power switch circuit that switches the power supply voltage supplied to the interface circuit between 3.3V and 1.8V is required.
  • Patent Document 1 One conventional technique realizes a power switch circuit that does not generate an unnecessary current such as a parasitic diode current even when one of a plurality of power supply voltages is in an off state (see Patent Document 1).
  • This disclosure realizes a power switch circuit that does not generate an unnecessary current using only a low voltage MOS transistor, and eliminates the need for a special through current prevention control circuit.
  • the first semiconductor integrated circuit has a ground terminal to which a ground potential is applied, a voltage having a ground voltage level equal to the ground potential in the off state, and a first power supply voltage level higher than the ground potential in the on state.
  • a second power supply terminal to which a second power supply voltage indicating a power supply voltage level of 2 is applied, and a first power supply voltage applied to the first power supply terminal, or a second power supply terminal.
  • a third power supply terminal that outputs the applied second power supply voltage; a PMOS (P-channel MOS) transistor that connects the first power supply terminal and the third power supply terminal; and a second power supply terminal; With a third power supply terminal An NMOS (N-channel MOS) transistor to be connected, a first switch control circuit connected to the gate of the PMOS transistor, and a second switch control circuit connected to the gate of the NMOS transistor, the first switch control circuit comprising: When the first power supply voltage is in the off state and the second power supply voltage is in the on state, signals from the ground voltage level to the second power supply voltage level are displayed, and both the first and second power supply voltages are in the on state.
  • the PMOS transistor is controlled to be in an on state or an off state.
  • the second switch control circuit The signal from the ground voltage level to the second power supply voltage level when the voltage is off and the second power supply voltage is on.
  • the NMOS transistor is controlled to be in the on or off state by outputting signals from the second power supply voltage level to the first power supply voltage level, respectively. It is characterized by doing.
  • the second semiconductor integrated circuit has a ground terminal to which a ground potential is applied, a ground voltage level equal to the ground potential in the off state, and a first power supply voltage level higher than the ground potential in the on state.
  • a third power supply terminal that outputs the applied second power supply voltage, a first PMOS transistor that connects the first power supply terminal and the third power supply terminal, a second power supply terminal, and a third power supply terminal Connect the power terminal of the second A PMOS transistor; a first switch control circuit connected to the gate of the first PMOS transistor; and a second switch control circuit connected to the gate of the second PMOS transistor.
  • the first switch control circuit includes: When the first power supply voltage is in the off state and the second power supply voltage is in the on state, signals from the ground voltage level to the second power supply voltage level are displayed, and both the first and second power supply voltages are in the on state.
  • the first PMOS transistor is controlled to be in an on state or an off state
  • the second switch control circuit When the power supply voltage is off and the second power supply voltage is on, signals from the ground voltage level to the second power supply voltage level are When both the second power supply voltage and the second power supply voltage are on, signals from the ground voltage level to the first power supply voltage level are output to control the second PMOS transistor to be on or off.
  • a power switch circuit that does not generate unnecessary current using only a low voltage MOS transistor is realized, and a special through current prevention control circuit is not required. Can do.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a voltage selector that selects a higher one of the first power supply voltage and the second power supply voltage in FIG. 1.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing a voltage selector that selects a lower one of the first power supply voltage and the second power supply voltage in FIG. 1.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing a previous level shifter in each switch control circuit in FIG. 1.
  • FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a post-stage level shifter in each switch control circuit in FIG. 1.
  • 2 is a time chart showing the operation of the semiconductor integrated circuit of FIG. It is a circuit diagram which shows the modification of FIG. It is a circuit diagram which shows the modification of FIG.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a second embodiment. 10 is a time chart showing the operation of the semiconductor integrated circuit of FIG.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to the first embodiment.
  • the semiconductor integrated circuit of FIG. 1 includes a power switch circuit 1, a first switch control circuit 2, and a second switch control circuit 3.
  • VOH is a higher voltage (selected high voltage) of the first power supply voltage VDD1 and the second power supply voltage VDD2
  • VOL is the first power supply voltage VDD1 and the second power supply voltage VDD2.
  • the lower voltage selective low voltage
  • the power switch circuit 1 includes a first power supply terminal 11 to which a first power supply voltage VDD1 is externally applied, a second power supply terminal 12 to which a second power supply voltage VDD2 is externally applied, and a PMOS transistor.
  • a switch circuit including P1 and an NMOS transistor N1 and a power supply output terminal 13 that outputs the first power supply voltage VDD1 or the second power supply voltage VDD2 to the outside as the power supply voltage output VOUT.
  • the PMOS transistor P1 has a source at the first power supply terminal 11, a drain at the power output terminal 13, a gate at the first switch control signal SW1, which is an output signal of the first switch control circuit 2, and a back gate at the back. Each is connected to a selected high voltage VOH.
  • the NMOS transistor N1 has a source at the second power supply terminal 12, a drain at the power output terminal 13, a gate at the second switch control signal SW2 that is an output signal of the second switch control circuit 3, and a back gate at the back gate. Each is connected to a selected low voltage VOL.
  • each of the PMOS transistor P1 and the NMOS transistor N1 is a 1.8V withstand voltage MOS transistor, that is, a bias in which the potential difference between the two terminals is 1.8V or less even if any two of the four terminals are taken. This is a transistor that requires a condition (1.8V withstand voltage condition).
  • the first switch control circuit 2 receives the output enable signal OE from the outside of 0V / 1.8V and the input signal IN of 0V / 0.9V, and supplies the first switch control signal SW1.
  • the first level shifter L1 includes a front-stage level shifter LV11 that uses the second power supply voltage VDD2 and the ground potential VSS as power sources, and a rear-stage level shifter LV21 that uses the selected high voltage VOH and selected low voltage VOL as power sources.
  • the signal is converted into a signal having an amplitude up to the level, and the output signal of the previous level shifter LV11 is converted into the first switch control signal SW1 having the amplitude from the selected low voltage VOL to the selected high voltage VOH by the subsequent level shifter LV21.
  • the second switch control circuit 3 receives a 0V / 1.8V external output enable signal OE and a 0V / 0.9V input signal IN, and supplies a second switch control signal SW2.
  • the second level shifter L2 includes a front-stage level shifter LV12 that uses the second power supply voltage VDD2 and the ground potential VSS as power sources, and a rear-stage level shifter LV22 that uses the selected high voltage VOH and selected low voltage VOL as power sources.
  • the signal is converted into a signal having an amplitude up to the level, and the output signal of the previous level shifter LV12 is converted into the second switch control signal SW2 having an amplitude from the selected low voltage VOL to the selected high voltage VOH by the subsequent level shifter LV22.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing the first voltage selector 4 for supplying the selected high voltage VOH.
  • the first voltage selector 4 includes a first PMOS transistor P21 and a second PMOS transistor P22.
  • the first PMOS transistor P21 has a source connected to the second power supply voltage VDD2, a drain connected to the selected high voltage VOH, a gate connected to the first power supply voltage VDD1, and a back gate connected to the selected high voltage VOH.
  • the second PMOS transistor P22 has a source connected to the first power supply voltage VDD1, a drain connected to the selected high voltage VOH, a gate connected to the second power supply voltage VDD2, and a back gate connected to the selected high voltage VOH.
  • both the first and second PMOS transistors P21 and P22 are 1.8V withstand voltage MOS transistors.
  • the first voltage selector 4 selects the higher one of the first power supply voltage VDD1 and the second power supply voltage VDD2 as the selected high voltage VOH.
  • FIG. 3 is a circuit diagram showing the second voltage selector 5 for supplying the selected low voltage VOL.
  • the second voltage selector 5 includes a first NMOS transistor N31 and a second NMOS transistor N32.
  • the first NMOS transistor N31 has a source connected to the second power supply voltage VDD2, a drain connected to the selected low voltage VOL, a gate connected to the first power supply voltage VDD1, and a back gate connected to the selected low voltage VOL.
  • the second NMOS transistor N32 has a source connected to the first power supply voltage VDD1, a drain connected to the selected low voltage VOL, a gate connected to the second power supply voltage VDD2, and a back gate connected to the selected low voltage VOL.
  • both the first and second NMOS transistors N31 and N32 are 1.8V withstand voltage MOS transistors.
  • VDD1 0V
  • VDD2 1.8V
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing the pre-stage level shifters LV11 and LV12 in the switch control circuits 2 and 3 in FIG.
  • the configuration of FIG. 4 is a level shifter that receives the aforementioned input signal IN, the aforementioned output enable signal OE, and the second power supply voltage VDD2, and generates an output signal OUT1 to the subsequent level shifters LV21 and LV22.
  • the first inverter INV41 inverts the logic level of the input signal IN
  • the second inverter INV42 inverts the logic level of the output enable signal OE.
  • the source is the second power supply voltage VDD2
  • the drain is the source of the second PMOS transistor P42
  • the gate is the output signal of the second inverter INV42
  • the gate of the third PMOS transistor P43 Each is connected.
  • the second PMOS transistor P42 has a drain connected to the gate of the fourth PMOS transistor P44 and the drain of the first NMOS transistor N41, a gate connected to the output signal OUT1, the drain of the fourth PMOS transistor P44, and the second NMOS transistor N42. And the drain of the third NMOS transistor N43.
  • the third PMOS transistor P43 has a source connected to the second power supply voltage VDD2 and a drain connected to the source of the fourth PMOS transistor P44.
  • the first NMOS transistor N41 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the input signal IN.
  • the second NMOS transistor N42 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the output signal of the first inverter INV41.
  • the third NMOS transistor N43 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the output signal of the second inverter INV42.
  • the output enable signal OE is at L level
  • the output signal of the second inverter INV42 is at H level
  • the control is performed by the output enable signal OE, the 0.9V amplitude input signal IN is received, and the 1.8V amplitude output having the same logic level as the input signal IN is received.
  • a signal OUT1 can be obtained.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing the rear level shifters LV21 and LV22 in the switch control circuits 2 and 3 in FIG. 5 receives the output signal OUT1 of the previous level shifters LV11 and LV12 as the input signal IN1, and receives the second power supply voltage VDD2, the selected high voltage VOH, and the selected low voltage VOL, and the first level shifter LV11 described above.
  • a level shifter for generating an output signal OUT as the second switch control signals SW1 and SW2, and the first, second, third, fourth, fifth, sixth, seventh and eighth PMOS transistors P51, P52, P53, P54, P55, P56, P57, P58, and first, second, third, fourth, fifth, sixth, seventh, and eighth NMOS transistors N51, N52, N53, N54, N55 , N56, N57, N58 and an inverter INV51, which is composed of only a 1.8V withstand voltage MOS transistor.
  • the inverter INV51 inverts the logic level of the input signal IN1.
  • the source of the first PMOS transistor P51 is the selected high voltage VOH, its own back gate, the back gate of the second PMOS transistor P52 and the back gate of the fifth PMOS transistor P55, and the drain of the second PMOS transistor P52.
  • the second PMOS transistor P52 has a drain connected to the gate of the seventh PMOS transistor P57 and the drain of the first NMOS transistor N51, and a gate connected to the selected low voltage VOL.
  • the source is the selected high voltage VOH, its own back gate, the back gate of the fourth PMOS transistor P54 and the back gate of the sixth PMOS transistor P56, and the drain thereof is the fourth PMOS transistor P54.
  • the source and the drain of the sixth PMOS transistor P56 have their gates connected to the source of the fifth PMOS transistor P55, the source and back gate of the seventh PMOS transistor P57, and the drain of the fifth NMOS transistor N55, respectively.
  • the fourth PMOS transistor P54 has a drain connected to the gate of the eighth PMOS transistor P58 and the drain of the third NMOS transistor N53, and a gate connected to the selected low voltage VOL.
  • the gates of the fifth PMOS transistor P55 and the sixth PMOS transistor P56 are connected to the selected low voltage VOL.
  • the drains of the seventh PMOS transistor P57 and the eighth PMOS transistor P58 are also connected to the selected low voltage VOL.
  • the first NMOS transistor N51 has a source connected to the drain of the second NMOS transistor N52 and a gate connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the second NMOS transistor N52 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the input signal IN1 and the gate of the sixth NMOS transistor N56.
  • the third NMOS transistor N53 has a source connected to the drain of the fourth NMOS transistor N54 and a gate connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the fourth NMOS transistor N54 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the output signal of the inverter INV51 and the gate of the eighth NMOS transistor N58.
  • the fifth NMOS transistor N55 has a source connected to the drain of the sixth NMOS transistor N56 and a gate connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the source of the sixth NMOS transistor N56 is connected to the selected low voltage VOL.
  • the seventh NMOS transistor N57 has a source connected to the drain of the eighth NMOS transistor N58 and a gate connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the source of the eighth NMOS transistor N58 is connected to the selected low voltage VOL.
  • FIG. 6 is a time chart showing the operation of the semiconductor integrated circuit of FIG. In the initial state before time t1, the internal power supply voltage VDD, the second power supply voltage VDD2, the first power supply voltage VDD1, the output enable signal OE, the input signal IN, the first switch control signal SW1, and the second switch control. Both the signal SW2 and the power supply voltage output VOUT are 0V.
  • the second power supply voltage VDD2 rises.
  • the first and second switch control signals SW1, SW2 are both maintained at 0V.
  • VOUT 0V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the PMOS transistor P1 are 0V, 0V, 0V and 1.8V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the NMOS transistor N1 are 1.8V, 0V, 0V and 0V.
  • the 1.8V withstand voltage condition is satisfied in both the PMOS transistor P1 and the NMOS transistor N1.
  • the NMOS transistor N1 is surely maintained in the OFF state when such one-side power supply is supplied, the second power supply terminal 12 to the first power supply terminal 11 can be provided without providing a special through current prevention control circuit. There is no through current flowing toward it.
  • VOUT 3.3V.
  • Each voltage of the source, drain, gate and back gate of the PMOS transistor P1 is 3.3V, 3.3V, 1.8V and 3.3V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the NMOS transistor N1 are 1.8V, 3.3V, 1.8V and 1.8V. Therefore, the 1.8V withstand voltage condition is satisfied in both the PMOS transistor P1 and the NMOS transistor N1.
  • the input signal IN rises.
  • the first and second switch control signals SW1, SW2 are both 3.3V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the PMOS transistor P1 are 3.3V, 1.8V, 3.3V and 3.3V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the NMOS transistor N1 are 1.8V, 1.8V, 3.3V and 1.8V. Therefore, the 1.8V withstand voltage condition is satisfied in both the PMOS transistor P1 and the NMOS transistor N1.
  • the input signal IN falls at time t6, the output enable signal OE falls at time t7, the first power supply voltage VDD1 falls at time t8, and the second power supply voltage VDD2 falls at time t9.
  • the initial state is restored.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a modification of FIG.
  • the configuration of FIG. 5 receives the output signal OUT1 of the previous level shifters LV11 and LV12 as the input signal IN1, receives the selected high voltage VOH and the selected low voltage VOL, and receives the first and second switch control signals SW1 described above.
  • SW2 that generates an output signal OUT, and includes first, second, third, fourth, fifth, and sixth PMOS transistors P71, P72, P73, P74, P75, P76, Second, third and fourth NMOS transistors N71, N72, N73, N74 and an inverter INV71 are included.
  • the fifth PMOS transistor P75, the sixth PMOS transistor P76 and the inverter INV71 are composed of 1.8V withstand voltage MOS transistors, but the first to fourth PMOS transistors P71 to P74 and the first to fourth PMOS transistors are included.
  • the NMOS transistors N71 to N74 are all constituted by LD (laterally diffused) MOS transistors.
  • the LDMOS transistor can apply a voltage of 3.3 V between the source and drain, between the gate and drain, and between the back gate and drain, but the other terminal voltage is a MOS that should satisfy the 1.8 V withstand voltage condition. It means a transistor.
  • the inverter INV71 inverts the logic level of the input signal IN1.
  • the source is the selected high voltage VOH, its own back gate and the back gate of the third PMOS transistor P73
  • the drain is the drain of the third PMOS transistor P73, and the gate of the fifth PMOS transistor P75.
  • the source is the selected high voltage VOH, its back gate, the back gate of the fourth PMOS transistor P74, the drain is the drain of the fourth PMOS transistor P74, and the gate of the sixth PMOS transistor P76.
  • the gate of the second NMOS transistor N72 is connected to the source of the second PMOS transistor P72, the source and back gate of the fifth PMOS transistor P75, and the drain of the third NMOS transistor N73.
  • the gates of the third PMOS transistor P73 and the fourth PMOS transistor P74 are connected to the selected low voltage VOL.
  • the drains of the fifth PMOS transistor P75 and the sixth PMOS transistor P76 are also connected to the selected low voltage VOL.
  • the first NMOS transistor N71 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the input signal IN1 and the gate of the third NMOS transistor N73.
  • the second NMOS transistor N72 has a source connected to the ground potential and a gate connected to the output signal of the inverter INV71 and the gate of the fourth NMOS transistor N74.
  • the sources of the third NMOS transistor N73 and the fourth NMOS transistor N74 are connected to the selected low voltage VOL.
  • the first to fourth PMOS transistors P71 to P74 and the first to fourth NMOS transistors N71 to N74 are all compared with the case where 3.3V withstand voltage MOS transistors are employed.
  • an LDMOS transistor By adopting an LDMOS transistor, a level shifter with a small circuit scale can be realized.
  • Each of the first PMOS transistor P71, the second PMOS transistor P72, and the first to fourth NMOS transistors N71 to N74 in FIG. 7 is replaced with a cascode connection of two 1.8V breakdown voltage MOS transistors.
  • a configuration in which the third and fourth PMOS transistors P73 and 74 are replaced with one 1.8V MOS transistor each corresponds to the configuration of FIG.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing a modification of FIG. 8 includes first, second, third, and fourth PMOS transistors P81, P82, P83, and P84, first, second, and third NMOS transistors N81, N82, and N83, and first and second PMOS transistors P81, P82, P83, and P84.
  • a third inverter INV83 is added to the output stage having the same configuration as that of FIG. 4 having the second inverters INV81 and INV82, and is configured by only a 1.8V breakdown voltage MOS transistor.
  • the third inverter INV83 is connected to the second power supply voltage VDD2 and the ground potential, and its output is an output signal XOUT to the post-stage level shifters LV21 and LV22.
  • previous stage level shifter LV12 in the second switch control circuit 3 in FIG. 1 is left in the configuration of FIG. 4, and the previous level shifter LV11 in the first switch control circuit 2 is changed from the configuration of FIG. 4 to the configuration of FIG.
  • the output enable signal OE is at the L level
  • both the PMOS transistor P1 and the NMOS transistor N1 are turned off, so that the power supply voltage output VOUT can be a high impedance output.
  • a power switch circuit that does not generate an unnecessary current is realized by using only a low voltage MOS transistor, that is, using only a 1.8V voltage MOS transistor or an LDMOS transistor.
  • a special through current prevention control circuit can be dispensed with.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to the second embodiment.
  • the semiconductor integrated circuit of FIG. 9 includes a power switch circuit 1a, a first switch control circuit 2, and a second switch control circuit 3a.
  • the power switch circuit 1a shown in FIG. 9 reduces the ESD (electrostatic discharge) risk by replacing the NMOS transistor N1 in the power switch circuit 1 shown in FIG. 1 with a PMOS transistor P2.
  • the PMOS transistor P1 interposed between the first power supply terminal 11 and the power output terminal 13 is referred to as a “first PMOS transistor”, and the second power supply terminal 12, the power output terminal 13, and the like.
  • the PMOS transistor P2 interposed between them is referred to as a “second PMOS transistor”.
  • the back gates of the first and second PMOS transistors P1 and P2 are connected to the selected high voltage VOH.
  • the first switch control circuit 2 in FIG. 9 has a first level shifter L1 having the same configuration as in FIG.
  • the first level shifter L1 supplies the first switch control signal SW1 to the gate of the first PMOS transistor P1.
  • the second switch control circuit 3a in FIG. 9 includes a third level shifter L3, third and fourth PMOS transistors P91 and P92, in addition to the second level shifter L2 having the same configuration as in FIG. , First and second NMOS transistors N91 and N92.
  • the third level shifter L3 receives the 0V / 1.8V output enable signal OE and the 0V / 0.9V input signal IN, and generates the 0V / 1.8V signal as described above.
  • the level shifter LV13 has the same configuration as the LV11 and LV12.
  • the third PMOS transistor P91 has a source connected to the selected high voltage VOH, a drain connected to the source of the fourth PMOS transistor P92, and a gate connected to the output signal of the second level shifter L2.
  • the fourth PMOS transistor P92 has a drain connected to the second switch control signal SW2 and the drain of the second NMOS transistor N92, and a gate connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the first NMOS transistor N91 has a source connected to the ground potential VSS, a drain connected to the source of the second NMOS transistor N92, and a gate connected to the output signal of the third level shifter L3.
  • the gate of the second NMOS transistor N92 is connected to the second power supply voltage VDD2.
  • the third and fourth PMOS transistors P91, P92 and the first and second NMOS transistors N91, N92 constitute an inverter for inverting the logic level of the output signal of the second level shifter L2. That is, the second level shifter L2 in FIG. 9 supplies the second switch control signal SW2 to the gate of the second PMOS transistor P2 via the inverter.
  • FIG. 10 is a time chart showing the operation of the semiconductor integrated circuit of FIG. Compared to the waveform of FIG. 6, only the waveform of the second switch control signal SW2 is different in FIG.
  • VOUT 0V.
  • the voltages of the source, drain, gate and back gate of the first PMOS transistor P1 are 0V, 0V, 0V and 1.8V.
  • the source, drain, gate and back gate voltages of the second PMOS transistor P2 are 1.8V, 0V, 1.8V and 1.8V.
  • the 1.8V withstand voltage condition is satisfied in both the first and second PMOS transistors P1 and P2.
  • the second PMOS transistor P2 is surely maintained in the OFF state when such one-side power supply is performed, the first power supply is supplied from the second power supply terminal 12 without providing a special through current prevention control circuit. No through current flows toward the terminal 11.
  • the source, drain, gate, and back gate voltages of the second PMOS transistor P2 are 1.8V, 3.3V, 3.3V, and 3.3V, respectively, and the 1.8V withstand voltage condition is satisfied. ing.
  • the second PMOS transistor P2 is in the ON state, and the voltages of the source, drain, gate and back gate of the second PMOS transistor P2 are 1.8V, 1.8V, 0V and 3.3V. In this case, the 1.8V withstand voltage condition is satisfied.
  • the arrangement of the fourth PMOS transistor P92 and the second NMOS transistor N92 may be omitted. It can.
  • the voltage between the gate and the drain of the first NMOS transistor N91 becomes 3.3V, but the problem of withstand voltage does not occur because of the LDMOS transistor.
  • a power switch circuit that does not generate an unnecessary current is realized by using only a low voltage MOS transistor, that is, using only a 1.8V voltage MOS transistor or an LDMOS transistor, A special through current prevention control circuit can be dispensed with.
  • the semiconductor integrated circuit according to the present disclosure realizes a power switch circuit that does not generate an unnecessary current using only a low voltage MOS transistor, and does not require a special through current prevention control circuit. This is useful as a semiconductor integrated circuit or the like having a power switch circuit having a function of switching the power supply voltage to be supplied.

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Abstract

低耐圧トランジスタのみを用いて電源スイッチ回路を実現し、特別な貫通電流防止制御回路を不要とするように、スイッチ制御回路(2,3)は、第1の電源電圧VDD1(=0V/3.3V)がオフ状態でありかつ第2の電源電圧VDD2(=0V/1.8V)がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧VDD1,VDD2がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、PMOSトランジスタ(P1)及びNMOSトランジスタ(N1)をオン状態又はオフ状態に制御する。

Description

半導体集積回路
 本開示は、供給する電源電圧を切り替える機能を持つ電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路に関する。
 一般的に、インターフェースを高速化するために、信号の周波数を高くする場合、消費電力の増大を抑えるために、信号の電圧レベルを小さくする。例えば、SD(secure digital)メモリカードのインターフェース規格では、従来は3.3V信号のインターフェースであったのに対して、新しい高速な規格では1.8V信号のインターフェースとなっている。また、SDメモリカードのような広く普及したインターフェース規格では、新旧両方の規格に対応した機器が求められるため、インターフェース回路としては、接続するSDメモリカードが対応している規格によって、信号の電圧レベルを切り替える必要が出てくる。そのため、インターフェース回路に供給する電源電圧を3.3Vと1.8Vで切り替える電源スイッチ回路が必要となる。
 ある従来技術では、複数の電源電圧のうちのいずれかがオフ状態の場合でも寄生ダイオード電流などの不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現している(特許文献1参照)。
国際公開第2014/038115号
 上記従来技術では、電源スイッチ回路を構成するMOS(metal-oxide-semiconductor)トランジスタの端子間に最大3.3Vの電圧が印加されるため、高耐圧MOSトランジスタ、すなわち各々の4端子のうちのいずれの2端子をとっても、当該2端子間の電位差が3.3Vまで許容される3.3V耐圧MOSトランジスタを使用しており、プロセスコスト上昇などによりコスト増大を招いていた。また、耐圧対応のため、外部1.8V/3.3Vの複数電源を使用するが、片側電源供給時の貫通電流防止制御回路が必要であった。
 本開示は、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とする。
 本開示の第1の半導体集積回路は、接地電位が印加される接地端子と、オフ状態では接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、オフ状態では接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電圧レベルよりも高くかつ第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、第1の電源端子に印加されている第1の電源電圧、又は、第2の電源端子に印加されている第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、第1の電源端子と第3の電源端子とを接続するPMOS(PチャネルMOS)トランジスタと、第2の電源端子と第3の電源端子とを接続するNMOS(NチャネルMOS)トランジスタと、PMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、NMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、第1のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、PMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、第2のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、NMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする。
 本開示の第2の半導体集積回路は、接地電位が印加される接地端子と、オフ状態では接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、オフ状態では接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電圧レベルよりも高くかつ第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、第1の電源端子に印加されている第1の電源電圧、又は、第2の電源端子に印加されている第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、第1の電源端子と第3の電源端子とを接続する第1のPMOSトランジスタと、第2の電源端子と第3の電源端子とを接続する第2のPMOSトランジスタと、第1のPMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、第2のPMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、第1のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、第1のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、第2のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには接地電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、第2のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする。
 本開示によれば、電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路において、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
第1の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。 図1中の第1の電源電圧と第2の電源電圧とのうちの高い方の電圧を選択する電圧セレクタを示す回路図である。 図1中の第1の電源電圧と第2の電源電圧とのうちの低い方の電圧を選択する電圧セレクタを示す回路図である。 図1中の各スイッチ制御回路における前段レベルシフタを示す回路図である。 図1中の各スイッチ制御回路における後段レベルシフタを示す回路図である。 図1の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。 図5の変形例を示す回路図である。 図4の変形例を示す回路図である。 第2の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。 図9の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。
 以下、本開示の2つの実施形態を、図面を参照しながら説明する。
 各実施形態では、オフ状態(=0V)/オン状態(=3.3V)の第1の電源電圧VDD1と、オフ状態(=0V)/オン状態(=1.8V)の第2の電源電圧VDD2との2つの電源電圧を切り替える電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路を用いて説明する。半導体集積回路の内部電源電圧VDDは、オフ状態(=0V)/オン状態(=0.9V)であるものとする。
 《第1の実施形態》
 図1は、第1の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。図1の半導体集積回路は、電源スイッチ回路1と、第1のスイッチ制御回路2と、第2のスイッチ制御回路3とを備えている。図1において、VOHは第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの高い方の電圧(選択高電圧)であり、VOLは第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの低い方の電圧(選択低電圧)である。
 電源スイッチ回路1は、外部から第1の電源電圧VDD1が印加される第1の電源供給端子11と、外部から第2の電源電圧VDD2が印加される第2の電源供給端子12と、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1からなるスイッチ回路と、第1の電源電圧VDD1又は第2の電源電圧VDD2を電源電圧出力VOUTとして外部へ出力する電源出力端子13とを有する。PMOSトランジスタP1は、ソースが第1の電源供給端子11に、ドレインが電源出力端子13に、ゲートが第1のスイッチ制御回路2の出力信号である第1のスイッチ制御信号SW1に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。NMOSトランジスタN1は、ソースが第2の電源供給端子12に、ドレインが電源出力端子13に、ゲートが第2のスイッチ制御回路3の出力信号である第2のスイッチ制御信号SW2に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。ここで、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタ、すなわち各々の4端子のうちのいずれの2端子をとっても、当該2端子間の電位差が1.8V以下であるバイアス条件(1.8V耐圧条件)が要求されるトランジスタである。
 第1のスイッチ制御回路2は、0V/1.8Vの外部からの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、第1のスイッチ制御信号SW1を供給する第1のレベルシフタL1を有する。第1のレベルシフタL1は、第2の電源電圧VDD2と接地電位VSSとを電源とする前段レベルシフタLV11と、選択高電圧VOHと選択低電圧VOLとを電源とする後段レベルシフタLV21とで構成される。つまり、第1のレベルシフタL1は、VSS(=0V)レベルからVDD(=0.9V)レベルまでの振幅を有する入力信号INを前段レベルシフタLV11でVSS(=0V)レベルからVDD2(=1.8V)レベルまでの振幅を有する信号に変換し、更に前段レベルシフタLV11の出力信号を後段レベルシフタLV21で選択低電圧VOLから選択高電圧VOHまでの振幅を有する第1のスイッチ制御信号SW1に変換する。
 第2のスイッチ制御回路3は、0V/1.8Vの外部からの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、第2のスイッチ制御信号SW2を供給する第2のレベルシフタL2を有する。第2のレベルシフタL2は、第2の電源電圧VDD2と接地電位VSSとを電源とする前段レベルシフタLV12と、選択高電圧VOHと選択低電圧VOLとを電源とする後段レベルシフタLV22とで構成される。つまり、第2のレベルシフタL2は、VSS(=0V)レベルからVDD(=0.9V)レベルまでの振幅を有する入力信号INを前段レベルシフタLV12でVSS(=0V)レベルからVDD2(=1.8V)レベルまでの振幅を有する信号に変換し、更に前段レベルシフタLV12の出力信号を後段レベルシフタLV22で選択低電圧VOLから選択高電圧VOHまでの振幅を有する第2のスイッチ制御信号SW2に変換する。
 図2は、選択高電圧VOHを供給する第1の電圧セレクタ4を示す回路図である。第1の電圧セレクタ4は、第1のPMOSトランジスタP21と、第2のPMOSトランジスタP22とを有する。第1のPMOSトランジスタP21は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが選択高電圧VOHに、ゲートが第1の電源電圧VDD1に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP22は、ソースが第1の電源電圧VDD1に、ドレインが選択高電圧VOHに、ゲートが第2の電源電圧VDD2に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。ここに、第1及び第2のPMOSトランジスタP21,P22は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタである。
 図2に示した第1の電圧セレクタ4によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、第1のPMOSトランジスタP21がオン状態に、第2のPMOSトランジスタP22がオフ状態になるので、VOH=VDD2=1.8Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、第1のPMOSトランジスタP21がオフ状態に、第2のPMOSトランジスタP22がオン状態になるので、VOH=VDD1=3.3Vとなる。つまり、第1の電圧セレクタ4は、第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの高い方の電圧を、選択高電圧VOHとして選択する。
 図3は、選択低電圧VOLを供給する第2の電圧セレクタ5を示す回路図である。第2の電圧セレクタ5は、第1のNMOSトランジスタN31と、第2のNMOSトランジスタN32とを有する。第1のNMOSトランジスタN31は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが選択低電圧VOLに、ゲートが第1の電源電圧VDD1に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN32は、ソースが第1の電源電圧VDD1に、ドレインが選択低電圧VOLに、ゲートが第2の電源電圧VDD2に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。ここに、第1及び第2のNMOSトランジスタN31,N32は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタである。
 図3に示した第2の電圧セレクタ5によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、第1のNMOSトランジスタN31がオフ状態に、第2のNMOSトランジスタN32がオン状態になるので、VOL=VDD1=0Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、第1のNMOSトランジスタN31がオン状態に、第2のNMOSトランジスタN32がオフ状態になるので、VOL=VDD2=1.8Vとなる。つまり、第2の電圧セレクタ5は、第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの低い方の電圧を、選択低電圧VOLとして選択する。
 以上のように、第1及び第2の電圧セレクタ4,5によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、VOH=3.3V、VOL=1.8Vとなる。
 図4は、図1中の各スイッチ制御回路2,3における前段レベルシフタLV11,LV12を示す回路図である。図4の構成は、前述の入力信号INと、前述の出力イネーブル信号OEと、第2の電源電圧VDD2とを受けて、後段レベルシフタLV21,LV22への出力信号OUT1を生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3及び第4のPMOSトランジスタP41,P42,P43,P44と、第1、第2及び第3のNMOSトランジスタN41,N42,N43と、第1及び第2のインバータINV41,INV42とを有し、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。第1のインバータINV41は入力信号INの論理レベルを反転し、第2のインバータINV42は出力イネーブル信号OEの論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP41は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが第2のPMOSトランジスタP42のソースに、ゲートが第2のインバータINV42の出力信号及び第3のPMOSトランジスタP43のゲートにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP42は、ドレインが第4のPMOSトランジスタP44のゲート及び第1のNMOSトランジスタN41のドレインに、ゲートが出力信号OUT1、第4のPMOSトランジスタP44のドレイン、第2のNMOSトランジスタN42のドレイン及び第3のNMOSトランジスタN43のドレインにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP43は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが第4のPMOSトランジスタP44のソースにそれぞれ接続されている。第1のNMOSトランジスタN41は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号INにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN42は、ソースが接地電位に、ゲートが第1のインバータINV41の出力信号にそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN43は、ソースが接地電位に、ゲートが第2のインバータINV42の出力信号にそれぞれ接続されている。
 図4の構成によれば、出力イネーブル信号OEがLレベルであれば、第2のインバータINV42の出力信号がHレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオフ状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオン状態になるので、入力信号INの論理レベルにかかわらず、出力信号OUT1がL(=0V)レベルに固定される。
 次に、図4にて出力イネーブル信号OEがHレベルであり、かつ入力信号INがH(=0.9V)レベルである場合の動作を説明する。出力イネーブル信号OEがHレベルであるから、第2のインバータINV42の出力信号がLレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオン状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオフ状態になる。一方、入力信号INがHレベルであるから、第1のNMOSトランジスタN41及び第4のPMOSトランジスタP44がともにオン状態に、第2のNMOSトランジスタN42及び第2のPMOSトランジスタP42がともにオフ状態になる。その結果、出力信号OUT1がH(=1.8V)レベルになる。
 最後に、図4にて出力イネーブル信号OEがHレベルであり、かつ入力信号INがL(=0V)レベルである場合の動作を説明する。出力イネーブル信号OEがHレベルであるから、第2のインバータINV42の出力信号がLレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオン状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオフ状態になる。一方、入力信号INがLレベルであるから、第1のNMOSトランジスタN41及び第4のPMOSトランジスタP44がともにオフ状態に、第2のNMOSトランジスタN42及び第2のPMOSトランジスタP42がともにオン状態になる。その結果、出力信号OUT1がL(=0V)レベルになる。
 以上のように、図4の構成によれば、出力イネーブル信号OEによる制御を受けつつ、0.9V振幅の入力信号INを受けて、入力信号INと同じ論理レベルを有する1.8V振幅の出力信号OUT1を得ることができる。
 図5は、図1中の各スイッチ制御回路2,3における後段レベルシフタLV21,LV22を示す回路図である。図5の構成は、前段レベルシフタLV11,LV12の出力信号OUT1を入力信号IN1として受け、かつ第2の電源電圧VDD2と、選択高電圧VOHと、選択低電圧VOLとを受けて、前述の第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2として出力信号OUTを生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7及び第8のPMOSトランジスタP51,P52,P53,P54,P55,P56,P57,P58と、第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7及び第8のNMOSトランジスタN51,N52,N53,N54,N55,N56,N57,N58と、インバータINV51とを有し、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。インバータINV51は入力信号IN1の論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP51は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第2のPMOSトランジスタP52のバックゲート及び第5のPMOSトランジスタP55のバックゲートに、ドレインが第2のPMOSトランジスタP52のソース及び第5のPMOSトランジスタP55のドレインに、ゲートが出力信号OUT、第6のPMOSトランジスタP56のソース、第8のPMOSトランジスタP58のソース及びバックゲート、並びに第7のNMOSトランジスタN57のドレインにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP52は、ドレインが第7のPMOSトランジスタP57のゲート及び第1のNMOSトランジスタN51のドレインに、ゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP53は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第4のPMOSトランジスタP54のバックゲート及び第6のPMOSトランジスタP56のバックゲートに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP54のソース及び第6のPMOSトランジスタP56のドレインに、ゲートが第5のPMOSトランジスタP55のソース、第7のPMOSトランジスタP57のソース及びバックゲート、並びに第5のNMOSトランジスタN55のドレインにそれぞれ接続されている。第4のPMOSトランジスタP54は、ドレインが第8のPMOSトランジスタP58のゲート及び第3のNMOSトランジスタN53のドレインに、ゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第5のPMOSトランジスタP55及び第6のPMOSトランジスタP56の各々のゲートは、選択低電圧VOLに接続されている。第7のPMOSトランジスタP57及び第8のPMOSトランジスタP58の各々のドレインも、選択低電圧VOLに接続されている。第1のNMOSトランジスタN51は、ソースが第2のNMOSトランジスタN52のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN52は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号IN1及び第6のNMOSトランジスタN56のゲートにそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN53は、ソースが第4のNMOSトランジスタN54のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第4のNMOSトランジスタN54は、ソースが接地電位に、ゲートがインバータINV51の出力信号及び第8のNMOSトランジスタN58のゲートにそれぞれ接続されている。第5のNMOSトランジスタN55は、ソースが第6のNMOSトランジスタN56のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第6のNMOSトランジスタN56のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。第7のNMOSトランジスタN57は、ソースが第8のNMOSトランジスタN58のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第8のNMOSトランジスタN58のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。
 図5にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=1.8V)レベルになる。
 また、図5にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオン状態に、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=0V)レベルになる。
 また、図5にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=3.3V)レベルになる。
 最後に、図5にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオン状態に、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=1.8V)レベルになる。
 図6は、図1の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。時刻t1より前の初期状態では、内部電源電圧VDD、第2の電源電圧VDD2、第1の電源電圧VDD1、出力イネーブル信号OE、入力信号IN、第1のスイッチ制御信号SW1、第2のスイッチ制御信号SW2、電源電圧出力VOUTのいずれもが0Vである。
 時刻t1にて、内部電源電圧VDDが立ち上がる。これにより、第1及び第2のスイッチ制御回路2,3に入力信号INを供給する準備が整う。
 時刻t2にて、第2の電源電圧VDD2が立ち上がる。その結果、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。OE=L(=0V)のため、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに0Vを維持する。この時点でPMOSトランジスタP1がオン状態、NMOSトランジスタN1がオフ状態のため、VOUT=0Vのままである。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、0V、0V、0V、1.8Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、0V、0V、0Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。しかも、このような片側電源供給時にNMOSトランジスタN1が確実にオフ状態を維持するので、特別な貫通電流防止制御回路を設けなくとも、第2の電源供給端子12から第1の電源供給端子11へ向けて貫通電流が流れることはない。
 時刻t3にて、第1の電源電圧VDD1が立ち上がる。その結果、VOH=3.3V,VOL=1.8Vとなる。OE=L(=0V)のままであるが、後段レベルシフタLV21,LV22にて選択高電圧VOH及び選択低電圧VOLが変化するため、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに1.8Vとなる。この時点でPMOSトランジスタP1がオン状態、NMOSトランジスタN1がオフ状態のため、VOUT=3.3Vとなる。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、3.3V、3.3V、1.8V、3.3Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、3.3V、1.8V、1.8Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。
 時刻t4にて、出力イネーブル信号OEが立ち上がる。IN=0Vのままであるため、他の信号は変化しない。
 時刻t5にて、入力信号INが立ち上がる。その結果、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに3.3Vとなる。この時点でPMOSトランジスタP1がオフ状態、NMOSトランジスタN1がオン状態へと変化するため、VOUT=1.8Vとなる。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、3.3V、1.8V、3.3V、3.3Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、1.8V、3.3V、1.8Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。
 時刻t6にて入力信号INが立ち下がり、時刻t7にて出力イネーブル信号OEが立ち下がり、時刻t8にて第1の電源電圧VDD1が立ち下がり、時刻t9にて第2の電源電圧VDD2が立ち下がり、時刻t10にて内部電源電圧VDDが立ち下がることで、初期状態に戻る。
 図7は、図5の変形例を示す回路図である。図5の構成は、前段レベルシフタLV11,LV12の出力信号OUT1を入力信号IN1として受け、かつ選択高電圧VOHと、選択低電圧VOLとを受けて、前述の第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2として出力信号OUTを生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3、第4、第5及び第6のPMOSトランジスタP71,P72,P73,P74,P75,P76と、第1、第2、第3及び第4のNMOSトランジスタN71,N72,N73,N74と、インバータINV71とを有する。このうち、第5のPMOSトランジスタP75、第6のPMOSトランジスタP76及びインバータINV71は1.8V耐圧MOSトランジスタで構成されるが、第1~第4のPMOSトランジスタP71~P74及び第1~第4のNMOSトランジスタN71~N74はいずれもLD(laterally diffused)MOSトランジスタで構成される。ここで、LDMOSトランジスタとは、ソース・ドレイン間、ゲート・ドレイン間及びバックゲート・ドレイン間には3.3Vの電圧を印加できるが、その他の端子間電圧は1.8V耐圧条件を満たすべきMOSトランジスタを意味する。
 インバータINV71は入力信号IN1の論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP71は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート及び第3のPMOSトランジスタP73のバックゲートに、ドレインが第3のPMOSトランジスタP73のドレイン、第5のPMOSトランジスタP75のゲート及び第1のNMOSトランジスタN71のドレインに、ゲートが出力信号OUT、第4のPMOSトランジスタP74のソース、第6のPMOSトランジスタP76のソース及びバックゲート、並びに第4のNMOSトランジスタN74のドレインにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP72は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第4のPMOSトランジスタP74のバックゲートに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP74のドレイン、第6のPMOSトランジスタP76のゲート及び第2のNMOSトランジスタN72のドレインに、ゲートが第2のPMOSトランジスタP72のソース、第5のPMOSトランジスタP75のソース及びバックゲート、並びに第3のNMOSトランジスタN73のドレインにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP73及び第4のPMOSトランジスタP74の各々のゲートは、選択低電圧VOLに接続されている。第5のPMOSトランジスタP75及び第6のPMOSトランジスタP76の各々のドレインも、選択低電圧VOLに接続されている。第1のNMOSトランジスタN71は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号IN1及び第3のNMOSトランジスタN73のゲートにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN72は、ソースが接地電位に、ゲートがインバータINV71の出力信号及び第4のNMOSトランジスタN74のゲートにそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN73及び第4のNMOSトランジスタN74の各々のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。
 図7にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=1.8V)レベルになる。
 また、図7にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオン状態に、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=0V)レベルになる。
 また、図7にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、出力信号OUTがH(=3.3V)レベルになる。この際、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオフ状態となる。このうち、第1のPMOSトランジスタP71のゲート・ドレイン間、第3のPMOSトランジスタP73のバックゲート・ドレイン間、第2のNMOSトランジスタN72のゲート・ドレイン間、及び、第4のNMOSトランジスタN74のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、これらにLDMOSトランジスタを採用しているので、耐圧の問題は生じない。
 最後に、図7にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば出力信号OUTがL(=1.8V)レベルになる。この際、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオン状態に、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオフ状態となる。このうち、第2のPMOSトランジスタP72のゲート・ドレイン間、第4のPMOSトランジスタP74のバックゲート・ドレイン間、第1のNMOSトランジスタN71のゲート・ドレイン間、及び、第3のNMOSトランジスタN73のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、これらにLDMOSトランジスタを採用しているので、耐圧の問題は生じない。
 図7の構成によれば、第1~第4のPMOSトランジスタP71~P74及び第1~第4のNMOSトランジスタN71~N74にいずれも3.3V耐圧MOSトランジスタを採用する場合に比べて、これらにLDMOSトランジスタを採用することによって回路規模の小さいレベルシフタを実現できる。
 なお、図7中の第1のPMOSトランジスタP71、第2のPMOSトランジスタP72及び第1~第4のNMOSトランジスタN71~N74の各々を、2個の1.8V耐圧MOSトランジスタのカスコード接続に置き換え、かつ第3及び第4のPMOSトランジスタP73,74をそれぞれ1個の1.8V耐圧MOSトランジスタに置き換えたものが、図5の構成に概略相当する。
 図8は、図4の変形例を示す回路図である。図8の構成は、第1、第2、第3及び第4のPMOSトランジスタP81,P82,P83,P84と、第1、第2及び第3のNMOSトランジスタN81,N82,N83と、第1及び第2のインバータINV81,INV82とを有する図4と同様の構成の出力段に、第3のインバータINV83を付加したものであって、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。第3のインバータINV83は、第2の電源電圧VDD2及び接地電位に接続され、その出力は、後段レベルシフタLV21,LV22への出力信号XOUTである。
 図8の構成によれば、出力イネーブル信号OEがL(=0V)レベルであれば、入力信号INの論理レベルにかかわらず、出力信号XOUTがH(=1.8V)レベルに固定される。また、出力イネーブル信号OEがH(=1.8V)レベルである場合には、入力信号INがH(=0.9V)レベルならば出力信号XOUTがL(=0V)レベルに、入力信号INがL(=0V)レベルならば出力信号XOUTがH(=1.8V)レベルになる。
 以上のように、図8の構成によれば、出力イネーブル信号OEによる制御を受けつつ、0.9V振幅の入力信号INを受けて、入力信号INと逆の論理レベルを有する1.8V振幅の出力信号XOUTを得ることができる。
 図1中の第1のスイッチ制御回路2における前段レベルシフタLV11と、第2のスイッチ制御回路3における前段レベルシフタLV12との双方を図4の構成から図8の構成に変更すれば、出力イネーブル信号OEがLレベルである場合の電源電圧出力VOUTを第1の電源電圧VDD1(=3.3V)から第2の電源電圧VDD2(=1.8V)に変更することができる。
 また、図1中の第2のスイッチ制御回路3における前段レベルシフタLV12を図4の構成のままとし、かつ第1のスイッチ制御回路2における前段レベルシフタLV11を図4の構成から図8の構成に変更すれば、出力イネーブル信号OEがLレベルである場合に、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1の双方がオフ状態となるため、電源電圧出力VOUTをハイインピーダンス出力とすることができる。
 以上のように、第1の実施形態によれば、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて、すなわち1.8V耐圧MOSトランジスタ又はLDMOSトランジスタのみを用いて、不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
 《第2の実施形態》
 図9は、第2の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。図9の半導体集積回路は、電源スイッチ回路1aと、第1のスイッチ制御回路2と、第2のスイッチ制御回路3aとを備えている。
 図9の電源スイッチ回路1aは、図1の電源スイッチ回路1におけるNMOSトランジスタN1をPMOSトランジスタP2に置き換えることにより、ESD(electrostatic discharge)リスクを低減したものである。以下の説明では、第1の電源供給端子11と電源出力端子13との間に介在したPMOSトランジスタP1を「第1のPMOSトランジスタ」といい、第2の電源供給端子12と電源出力端子13との間に介在したPMOSトランジスタP2を「第2のPMOSトランジスタ」という。第1及び第2のPMOSトランジスタP1,P2の各々のバックゲートは、選択高電圧VOHに接続されている。
 図9における第1のスイッチ制御回路2は、図1の場合と同様の構成を持つ第1のレベルシフタL1を有する。第1のレベルシフタL1は、第1のPMOSトランジスタP1のゲートへ第1のスイッチ制御信号SW1を供給するものである。
 図9における第2のスイッチ制御回路3aは、図1の場合と同様の構成を持つ第2のレベルシフタL2に加えて、第3のレベルシフタL3と、第3及び第4のPMOSトランジスタP91,P92と、第1及び第2のNMOSトランジスタN91,N92とを有する。第3のレベルシフタL3は、0V/1.8Vの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、0V/1.8Vの信号を生成するように、前述の前段レベルシフタLV11,LV12と同様の構成を持つレベルシフタLV13で構成される。第3のPMOSトランジスタP91は、ソースが選択高電圧VOHに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP92のソースに、ゲートが第2のレベルシフタL2の出力信号にそれぞれ接続されている。第4のPMOSトランジスタP92は、ドレインが第2のスイッチ制御信号SW2及び第2のNMOSトランジスタN92のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第1のNMOSトランジスタN91は、ソースが接地電位VSSに、ドレインが第2のNMOSトランジスタN92のソースに、ゲートが第3のレベルシフタL3の出力信号にそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN92のゲートは、第2の電源電圧VDD2に接続されている。第3及び第4のPMOSトランジスタP91,P92と、第1及び第2のNMOSトランジスタN91,N92とは、第2のレベルシフタL2の出力信号の論理レベルを反転するためのインバータを構成する。つまり、図9における第2のレベルシフタL2は、当該インバータを介して、第2のPMOSトランジスタP2のゲートへ第2のスイッチ制御信号SW2を供給する。
 図10は、図9の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。図6の波形と比べて、図10では第2のスイッチ制御信号SW2の波形のみが異なっている。
 図10の時刻t2から時刻t3まで、また時刻t8から時刻t9までは、VDD1=0V、VDD2=1.8Vであるから、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。この場合、第1のスイッチ制御信号SW1はL(=0V)レベルであり、第2のスイッチ制御信号SW2はH(=1.8V)レベルであって、VOUT=0Vとなる。この際、第1のPMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、0V、0V、0V、1.8Vである。また、第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、0V、1.8V、1.8Vである。したがって、第1及び第2のPMOSトランジスタP1,P2のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。しかも、このような片側電源供給時に第2のPMOSトランジスタP2が確実にオフ状態を維持するので、特別な貫通電流防止制御回路を設けなくとも、第2の電源供給端子12から第1の電源供給端子11へ向けて貫通電流が流れることはない。
 また、図10の時刻t3から時刻t8までは、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vであるから、VOH=3.3V,VOL=1.8Vとなる。この場合、第1のスイッチ制御信号SW1がL(=1.8V)レベルであれば第2のスイッチ制御信号SW2はH(=3.3V)レベルであり、VOUT=3.3Vとなる。このとき、第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、3.3V、3.3V、3.3Vであって、1.8V耐圧条件が満たされている。一方、第1のスイッチ制御信号SW1がH(=3.3V)レベルであれば第2のスイッチ制御信号SW2はL(=0V)レベルであり、VOUT=1.8Vとなる。このとき、第2のPMOSトランジスタP2はオン状態であり、当該第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、1.8V、0V、3.3Vであって、この場合にも1.8V耐圧条件が満たされている。
 なお、図9中の第3のPMOSトランジスタP91及び第1のNMOSトランジスタN91の各々にLDMOSトランジスタを採用すれば、第4のPMOSトランジスタP92及び第2のNMOSトランジスタN92の配設を省略することができる。VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vであり、したがってVOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、第1のNMOSトランジスタN91がオフ状態であってSW2=3.3Vとなるとき、当該第1のNMOSトランジスタN91のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、LDMOSトランジスタのため耐圧の問題は生じない。また、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、第3のPMOSトランジスタP91がオフ状態であってSW2=0Vとなるとき、当該第3のPMOSトランジスタP91のソース・ドレイン間及びゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、LDMOSトランジスタのため耐圧の問題は生じない。
 以上のように、第2の実施形態によっても、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて、すなわち1.8V耐圧MOSトランジスタ又はLDMOSトランジスタのみを用いて、不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
 以上説明してきたように、本開示に係る半導体集積回路は、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる効果を有し、供給する電源電圧を切り替える機能を持つ電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路等として有用である。
1,1a 電源スイッチ回路
2,3,3a スイッチ制御回路
4,5 電圧セレクタ
11,12 電源供給端子
13 電源出力端子
IN 入力信号
L1,L2,L3,LV13 レベルシフタ
LV11,LV12 前段レベルシフタ
LV21,LV22 後段レベルシフタ
N1,N91,N92 NMOSトランジスタ
OE 出力イネーブル信号
P1,P2,P91,P92 PMOSトランジスタ
SW1,SW2 スイッチ制御信号
VDD 内部電源電圧(0V/0.9V)
VDD1 第1の電源電圧(0V/3.3V)
VDD2 第2の電源電圧(0V/1.8V)
VOH 選択高電圧
VOL 選択低電圧
VOUT 電源電圧出力
VSS 接地電位(0V)

Claims (6)

  1.  接地電位が印加される接地端子と、
     オフ状態では前記接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
     オフ状態では前記接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電圧レベルよりも高くかつ前記第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
     前記第1の電源端子に印加されている前記第1の電源電圧、又は、前記第2の電源端子に印加されている前記第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、
     前記第1の電源端子と前記第3の電源端子とを接続するPMOSトランジスタと、
     前記第2の電源端子と前記第3の電源端子とを接続するNMOSトランジスタと、
     前記PMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、
     前記NMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、
     前記第1のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記PMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、
     前記第2のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記NMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする半導体集積回路。
  2.  請求項1記載の半導体集積回路において、
     前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの高い方の電圧を選択高電圧レベルの電圧として出力する第1の電圧セレクタと、
     前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの低い方の電圧を選択低電圧レベルの電圧として出力する第2の電圧セレクタとを更に備え、
     前記PMOSトランジスタのバックゲートには前記選択高電圧レベルの電圧が、前記NMOSトランジスタのバックゲートには前記選択低電圧レベルの電圧がそれぞれ印加されていることを特徴とする半導体集積回路。
  3.  請求項2記載の半導体集積回路において、
     前記第1及び第2のスイッチ制御回路の各々は、
     前記接地電圧レベルから内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する前段レベルシフタと、
     前記前段レベルシフタの出力信号を、前記選択低電圧レベルから前記選択高電圧レベルまでの信号に変換する後段レベルシフタとを有することを特徴とする半導体集積回路。
  4.  接地電位が印加される接地端子と、
     オフ状態では前記接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
     オフ状態では前記接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電圧レベルよりも高くかつ前記第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
     前記第1の電源端子に印加されている前記第1の電源電圧、又は、前記第2の電源端子に印加されている前記第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、
     前記第1の電源端子と前記第3の電源端子とを接続する第1のPMOSトランジスタと、
     前記第2の電源端子と前記第3の電源端子とを接続する第2のPMOSトランジスタと、
     前記第1のPMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、
     前記第2のPMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、
     前記第1のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記第1のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、
     前記第2のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記第2のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする半導体集積回路。
  5.  請求項4記載の半導体集積回路において、
     前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの高い方の電圧を選択高電圧レベルの電圧として出力する第1の電圧セレクタと、
     前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの低い方の電圧を選択低電圧レベルの電圧として出力する第2の電圧セレクタとを更に備え、
     前記第1及び第2のPMOSトランジスタのバックゲートには、いずれも前記選択高電圧レベルの電圧が印加されていることを特徴とする半導体集積回路。
  6.  請求項5記載の半導体集積回路において、
     前記第1のスイッチ制御回路は第1のレベルシフタを、前記第2のスイッチ制御回路は第2のレベルシフタ、第3のレベルシフタ及びインバータをそれぞれ備え、
     前記第1及び第2のレベルシフタの各々は、
     前記接地電圧レベルから内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する前段レベルシフタと、
     前記前段レベルシフタの出力信号を、前記選択低電圧レベルから前記選択高電圧レベルまでの信号に変換する後段レベルシフタとを有し、
     前記第3のレベルシフタは、前記接地電圧レベルから前記内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する機能を有し、
     前記インバータは、前記選択高電圧レベルの電圧と前記接地電位との間に互いに直列に接続された第3のPMOSトランジスタと第1のNMOSトランジスタとを有し、
     前記第2のレベルシフタの出力信号が前記第3のPMOSトランジスタのゲートに、前記第3のレベルシフタの出力信号が前記第1のNMOSトランジスタのゲートにそれぞれ接続されたことを特徴とする半導体集積回路。
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