WO2016166901A1

WO2016166901A1 - 温度測定装置

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Publication number: WO2016166901A1
Application number: PCT/JP2015/061913
Authority: WO
Inventors: 米努福田; 達朗大西
Original assignee: 三菱電機株式会社
Priority date: 2015-04-17
Filing date: 2015-04-17
Publication date: 2016-10-20

Abstract

測温抵抗体の一端と第１の配線を介して接続される第１の端子と、測温抵抗体の他端と第２の配線を介して接続される第２の端子と、測温抵抗体の他端と第３の配線を介して接続される第３の端子と、第１の端子及び第２の端子の各々に一定の電流を供給する電流出力部と、第３の端子と基準電位との間に接続された抵抗器と、第１の端子と第２の端子との間の電圧に基づいて、測温抵抗体の温度を算出する処理部と、予め測定された抵抗器の電圧を格納する不揮発性記憶部と、を備え、処理部は、抵抗器の電圧に基づいて、第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していることを検出し、不揮発性記憶部に格納された抵抗器の電圧と、測定した抵抗器の電圧と、に基づいて、測温抵抗体の温度を補正する。

Description

温度測定装置

　本発明は、測温抵抗体を用いて被測定物の温度を測定する温度測定装置に関する。

　従来、被測定物の温度を測定するために、測温抵抗体が用いられている。測温抵抗体は、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗である。測温抵抗体の抵抗値が温度に応じて変化するので、測温抵抗体の抵抗値を測定することで、測温抵抗体の温度つまり被測定物の温度を取得することができる。

　測温抵抗体を用いる温度測定装置では、測温抵抗体と温度測定装置とを接続する配線の断線を検出したいという要請がある。

　また、測温抵抗体を用いる温度測定装置では、電子部品の電気的特性が電子部品の温度に応じて変化する温度ドリフトにより生ずる、測温抵抗体の温度の誤差を補正したいという要請がある。

　関連する技術として、下記の特許文献１には、断線検出機能付きの４線式測温抵抗体入力回路が記載されている。

　また、下記の特許文献２には、部品故障を検出する４線式測温抵抗体入力回路が記載されている。

　また、下記の特許文献３には、測温抵抗体に入線する導線の断線を検知する測温抵抗体入力装置が記載されている。

特開２０１２－１６８１０５号公報特開２０１２－１６８１０６号公報特開平８－２４７８５７号公報

　しかしながら、特許文献１記載の４線式測温抵抗体入力回路は、２個の温度測定用の定電流源１１，１２と、３個の断線検出用の定電流源７１，７２，７３と、直列に接続された２個のレファレンス用の定抵抗８１，８２と、を備え、部品点数が多いので、大きなスペースが必要であり、コストが高い。

　また、特許文献２記載の４線式測温抵抗体入力回路は、基準抵抗Ｒ１，Ｒ２などの部品故障を行うが、断線検出を行うものではない。

　また、特許文献３記載の測温抵抗体入力回路は、断線を検出するが、温度ドリフト補正を行うものではない。

　本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、少ない部品点数で断線検出及び温度ドリフト補正を行うことができる温度測定装置を得ることを目的とする。

　上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、測温抵抗体の一端と第１の配線を介して接続される第１の端子と、測温抵抗体の他端と第２の配線を介して接続される第２の端子と、測温抵抗体の他端と第３の配線を介して接続される第３の端子と、第１の端子及び前記第２の端子の各々に一定の電流を供給する電流出力部と、第３の端子と基準電位との間に接続された抵抗器と、第１の端子と第２の端子との間の電圧に基づいて、測温抵抗体の温度を算出する処理部と、予め測定された前記抵抗器の電圧を格納する不揮発性記憶部と、を備える。処理部は、抵抗器の電圧に基づいて、第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していることを検出し、不揮発性記憶部に格納された抵抗器の電圧と、測定した前記抵抗器の電圧と、に基づいて、測温抵抗体の温度を補正する。

　本発明にかかる温度測定装置は、少ない部品点数で断線検出及び温度ドリフト補正を行うことができるという効果を奏する。

実施の形態１にかかる温度測定装置の構成を示す図実施の形態１にかかる温度測定装置の温度測定動作を示すフローチャート実施の形態１にかかる温度測定装置の断線検出動作を示すフローチャート実施の形態１にかかる温度測定装置の基準値格納動作を示すフローチャート実施の形態１にかかる温度測定装置の温度ドリフト補正動作を示すフローチャート実施の形態１にかかる温度測定装置の他の温度ドリフト補正動作を示すフローチャート

　以下に、本発明の実施の形態にかかる温度測定装置を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。

実施の形態１．
　図１は、実施の形態１にかかる温度測定装置の構成を示す図である。温度測定装置１は、３線式の測温抵抗体２の一端に第１の配線３ａを介して接続される第１の端子Ａと、測温抵抗体２の他端に第２の配線３ｂを介して接続される第２の端子Ｂと、測温抵抗体２の他端に第３の配線３ｃを介して接続される第３の端子ｂと、を含む。

　測温抵抗体２は、被測定物に取り付けられる。測温抵抗体２は、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗である。測温抵抗体２の抵抗値が温度に応じて変化するので、温度測定装置１は、測温抵抗体２の抵抗値を測定することで、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。

　温度測定装置１は、第１の端子Ａに一定の電流Ｉ_１を供給し、第２の端子Ｂに一定の電流Ｉ_２を供給する電流出力部４を含む。実施の形態１では、Ｉ_１＝Ｉ_２である。なお、電流Ｉ_１及びＩ_２の電流値をＩと称する。

　温度測定装置１は、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された抵抗器５を含む。実施の形態１では、基準電位は、接地電位である。抵抗器５には、第３の端子ｂから基準電位に向かう方向に電流Ｉ_３が流れる。

　電流Ｉ_１は、第１の端子Ａ、配線３ａ、測温抵抗体２、配線３ｃ、第３の端子ｂ及び抵抗器５の経路を流れる。電流Ｉ_２は、第２の端子Ｂ、配線３ｂ、配線３ｃ、第３の端子ｂ及び抵抗器５の経路を流れる。従って、Ｉ_３＝Ｉ_１＋Ｉ_２＝２Ｉである。

　温度測定装置１は、第１の端子Ａの電位Ｖ_Ａ、第２の端子Ｂの電位Ｖ_Ｂ及び第３の端子ｂの電位Ｖ_Ｃを測定するＡＤ（analog　to　digital）変換部６を含む。実施の形態１では、基準電位が接地電位であるので、第３の端子ｂの電位Ｖ_Ｃは、抵抗器５の電圧と同じである。

　温度測定装置１は、ＡＤ変換部６で測定された電位Ｖ_Ａ及びＶ_Ｂに基づいて測温抵抗体２の温度を算出する制御部７を含む。制御部７は、制御プログラムが格納された記憶部７ａと、制御プログラムを実行する処理部７ｂと、を含む。制御部７は、ＣＰＵ（Central　Processing　Unit）が例示される。

　温度測定装置１は、予め測定された抵抗器５の電圧を格納する不揮発性記憶部８を含む。不揮発性記憶部８は、フラッシュメモリ（登録商標）が例示される。

　温度測定装置１の温度算出動作について説明する。図２は、実施の形態１にかかる温度測定装置の温度測定動作を示すフローチャートである。

　処理部７ｂは、ステップＳ１０において、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖを、Ｖ＝Ｖ_Ａ－Ｖ_Ｂにより算出する。この電圧Ｖは、測温抵抗体２の電圧である。

　処理部７ｂは、ステップＳ１２において、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度を算出する。

　詳細には、測温抵抗体２を流れる電流は、一定の電流Ｉ_１である。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２を、Ｒ_２＝（Ｖ_Ａ－Ｖ_Ｂ）／Ｉ_１により算出する。

　測温抵抗体２は、温度に応じて抵抗値が変化する。つまり、測温抵抗体２の温度は、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２により一意に定まる。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２に基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。

　なお、処理部７ｂは、予め判っている測温抵抗体２の抵抗値と温度との関係式を使用して、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２に演算処理を施すことにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。また、不揮発性記憶部８が、測温抵抗体２の抵抗値と温度との関係を表すテーブルを予め格納し、処理部７ｂが、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２をキーにしてテーブルを検索することにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。

　また、電流Ｉ_１が一定であるので、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２は、電圧ＶつまりＶ_Ａ－Ｖ_Ｂにより一意に定まる。つまり、測温抵抗体２の温度は、電圧Ｖにより一意に定まる。従って、処理部７ｂは、測温抵抗体２の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することもできる。

　つまり、処理部７ｂは、予め判っている測温抵抗体２の電圧と温度との関係式を使用して、測温抵抗体２の電圧Ｖに演算処理を施すことにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。また、不揮発性記憶部８が、測温抵抗体２の電圧と温度との関係を表すテーブルを予め格納し、処理部７ｂが、測温抵抗体２の電圧Ｖをキーにしてテーブルを検索することにより、測温抵抗体２の温度を算出しても良い。

　なお、電流出力部４が、電流Ｉ_１だけを第１の端子Ａに供給し、電流Ｉ_２を第２の端子Ｂに供給しない態様も考えられる。この態様においても、処理部７ｂは、測温抵抗体２の電圧Ｖに基づいて、測温抵抗体２の温度つまり被測定物の温度を算出することができる。しかしながら、配線３ａは、抵抗成分を有する。従って、この態様では、電流Ｉ_１が配線３ａを流れることによる電位上昇分が測温抵抗体２の電圧Ｖの誤差成分となり、測温抵抗体２の電圧Ｖの精度が低下してしまい、測温抵抗体２の温度の精度が低下してしまう。配線３ａが長くなるほど、配線３ａの抵抗成分が大きくなり、電流Ｉ_１が配線３ａを流れることによる電位上昇分が大きくなり、測温抵抗体２の温度の精度が低下してしまう。

　一方、実施の形態１では、電流Ｉ_１が配線３ａを流れることによる電位上昇分と、電流Ｉ_２が配線３ｂを流れることによる電位上昇分とが、Ｖ＝Ｖ_Ａ－Ｖ_Ｂにより相殺されるので、測温抵抗体２の電圧Ｖの精度を高くすることができ、測温抵抗体２の温度の精度を高くすることができる。また、実施の形態１では、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが長くなっても、測温抵抗体２の温度の精度を高く保つことができる。

　温度測定装置１の断線検出動作について説明する。測温抵抗体２は、被測定物に取り付けられるので、温度測定装置１と測温抵抗体２とは、地理的に離れた場所に配置される。従って、配線３ａ、３ｂ及び３ｃは、長くなる場合が多い。そのため、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが断線する可能性が高まる。そこで、温度測定装置１は、配線３ａ、３ｂ及び３ｃが断線しているか否かを検出する。

　図３は、実施の形態１にかかる温度測定装置の断線検出動作を示すフローチャートである。処理部７ｂは、ステップＳ１００において、予め定められて不揮発性記憶部８に格納されている閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃが小さければ（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１０２に進め、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃが小さくなければ（Ｎｏ）、処理をステップＳ１０４に進める。

　閾値Ｔｈについて説明する。抵抗器５の抵抗値をＲ_５とする。もし、配線３ａ，３ｂ及び３ｃが断線していないとすると、Ｉ_３＝Ｉ_１＋Ｉ_２＝２Ｉとなるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝２Ｉ×Ｒ_５となる。

　もし、配線３ａが断線していたとすると、Ｉ_３＝Ｉ_２＝Ｉとなるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝Ｉ×Ｒ_５となる。

　もし、配線３ｂが断線していたとすると、Ｉ_３＝Ｉ_１＝Ｉとなるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝Ｉ×Ｒ_５となる。

　もし、配線３ｃが断線していたとすると、Ｉ_３＝０となるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝０となる。

　もし、配線３ａ及び３ｂが断線していたとすると、Ｉ_３＝０となるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝０となる。

　もし、配線３ａ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ_３＝０となるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝０となる。

　もし、配線３ｂ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ_３＝０となるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝０となる。

　もし、配線３ａ，３ｂ及び３ｃが断線していたとすると、Ｉ_３＝０となるので、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃは、Ｖ_Ｃ＝０となる。

　従って、閾値Ｔｈを２Ｉ×Ｒ_５より小さく且つＩ×Ｒ_５より大きな値に定めておく。これにより、処理部７ｂは、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃが小さければ、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していると判定することができる。また、処理部７ｂは、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃと、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃが小さくなければ、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの全てが断線していないと判定することができる。

　閾値Ｔｈを、２Ｉ×Ｒ_５よりも、Ｉ×Ｒ_５側に近い値に定めておけば、断線検出感度を高めることができる一方、ノイズで例示される外部要因による誤検出が起こりやすくなる。

　閾値Ｔｈを、Ｉ×Ｒ_５よりも、２Ｉ×Ｒ_５側に近い値に定めておけば、断線検出感度は低くなる反面、ノイズで例示される外部要因による誤検出が起こりにくくなる。

　従って、閾値Ｔｈは、２Ｉ×Ｒ_５とＩ×Ｒ_５との中間値に定めることが好適である。

　処理部７ｂは、ステップＳ１０２において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していると判定し、処理を終了する。

　処理部７ｂは、ステップＳ１０４において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの全部が断線していないと判定し、処理を終了する。

　温度測定装置１によれば、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備え、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃに基づいて、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを検出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。

　温度測定装置１の温度ドリフト補正動作について説明する。電子部品は、温度に応じて、電気的特性が変化する。この電気的特性の変化は、温度ドリフトと呼ばれる。温度ドリフトが発生すると、温度測定装置１は、測温抵抗体２の温度を高精度に算出することができない。

　温度測定装置１が有する電流出力部４、抵抗器５、ＡＤ変換部６、制御部７及び不揮発性記憶部８の中で、温度ドリフトが最も大きいのは、電流出力部４である。電流出力部４の温度が変化すると、電流Ｉ_１及びＩ_２が一定ではなくなり、誤差を有してしまう。電流Ｉ_１及びＩ_２が誤差を有すると、第１の端子Ａと第２の端子Ｂとの間の電圧Ｖも誤差を有することになる。結果として、算出された測温抵抗体２の温度も誤差を有することになる。

　そこで、温度測定装置１は、電流出力部４の温度ドリフトに起因する誤差を抑制し、測温抵抗体２の温度を補正する。

　具体的には、温度測定装置１は、出荷前に、補正の基準となる基準値を格納する。そして、温度測定装置１は、測温抵抗体２の温度測定の際に、基準値を用いて、測定された温度を補正する。

　図４は、実施の形態１にかかる温度測定装置の基準値格納動作を示すフローチャートである。図４に示すフローチャートは、温度測定装置１の出荷前に実行される。図４に示すフローチャートは、常温で実行されると好ましい。常温は、２５℃が例示される。

　処理部７ｂは、ステップＳ２００において、測温抵抗体２の電圧ＶつまりＶ_Ａ－Ｖ_Ｂを測定し、測定値を不揮発性記憶部８に格納する。不揮発性記憶部８に格納された測温抵抗体２の電圧Ｖの測定値は、補正の基準となる基準値である。

　なお、測温抵抗体２の温度Ｔは、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２により一意に定まり、測温抵抗体２の抵抗値Ｒ_２は、電圧Ｖにより一意に定まる。

　処理部７ｂは、ステップＳ２０２において、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃを測定し、測定値を不揮発性記憶部８に格納する。不揮発性記憶部８に格納された抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃの測定値は、補正の基準となる基準値である。

　図５は、実施の形態１にかかる温度測定装置の温度ドリフト補正動作を示すフローチャートである。図５に示すフローチャートは、予め定められたタイミング又は予め定められた周期で実行される。

　処理部７ｂは、ステップＳ３００において、測温抵抗体２の電圧Ｖ’を測定する。

　処理部７ｂは、ステップＳ３０２において、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃ’を測定する。

　処理部７ｂは、ステップＳ３０４において、電流Ｉ_１及びＩ_２の変化率を算出する。Ｉ_３＝Ｉ_１＋Ｉ_２であるので、電流Ｉ_１及びＩ_２の変化率は、電流Ｉ_３の変化率と同じである。そして、Ｖ_Ｃ＝Ｉ_３×Ｒ_５であるので、電流Ｉ_３の変化率は、電圧Ｖ_Ｃの変化率と同じである。従って、処理部７ｂは、電流Ｉ_１及びＩ_２の変化率αを、α＝Ｖ_Ｃ／Ｖ_Ｃ’により算出する。

　処理部７ｂは、ステップＳ３０６において、ステップＳ３００で測定した電圧Ｖ’に電流Ｉ_１及びＩ_２の変化率αを乗ずることにより、電圧Ｖ’を補正し、補正後の電圧Ｖ’’を算出する。そして、処理部７ｂは、補正後の電圧Ｖ’’に基づいて、補正後の温度Ｔ’’を算出する。

　処理部７ｂは、ステップＳ３０８において、閾値Ｔｈと、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃ’と、を比較し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃ’が小さくなければ（Ｎｏ）、処理を終了し、閾値Ｔｈより抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃ’が小さければ（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ３１０に進める。

　処理部７ｂは、ステップＳ３１０において、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを外部装置に報知し、処理を終了する。

　温度測定装置１によれば、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備え、基準値の電圧Ｖ_Ｃと、測定された電圧Ｖ_Ｃ’と、に基づいて、測温抵抗体２の温度Ｔ’を補正することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。

　また、温度測定装置１は、電圧Ｖ_Ｃ’を測定するだけで測温抵抗体２の温度Ｔ’を補正することができるので、温度ドリフト補正の高速化が可能になる。

　図６は、実施の形態１にかかる温度測定装置の他の温度ドリフト補正動作を示すフローチャートである。図６に示すフローチャートは、予め定められたタイミング又は予め定められた周期で実行される。

　図５に示すフローチャートでは、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度行っている。しかしながら、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度行う必要は少ない。図６に示すフローチャートでは、処理部７ｂは、断線の検出を温度測定の都度には行わない。

　図６に示すフローチャートでは、図５に示すフローチャートのステップＳ３０６とステップＳ３０８との間に、ステップＳ３０７が追加されている。ステップＳ３０７以外の他のステップは、図５に示すフローチャートと同様であるので、説明を省略する。

　処理部７ｂは、ステップＳ３０７において、断線検出を実行するフラグが設定されているか否かを判定する。処理部７ｂは、断線検出を実行するフラグが設定されていたら（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ３０８に進め、断線検出を実行するフラグが設定されていなかったら（Ｎｏ）、処理を終了する。

　断線検出を実行するフラグは、パラメータとして不揮発性記憶部８に設定されても良い。あるいは、断線検出を実行するフラグは、図示しないタイマー回路によって、定期的に設定されても良い。

　温度測定装置１によれば、測温抵抗体２の温度測定に際し、断線検出を実行するフラグが設定されている場合に、断線検出を行うことができる。これにより、温度測定装置１は、処理部７ｂの負荷を軽減することができる。

　以上説明したように、実施の形態１にかかる温度測定装置１は、第３の端子ｂと基準電位との間に接続された１つの抵抗器５を備える。

　温度測定装置１は、抵抗器５を備えることにより、抵抗器５の電圧Ｖ_Ｃに基づいて、配線３ａ，３ｂ及び３ｃの中の少なくとも１つが断線していることを検出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。

　温度測定装置１は、抵抗器５を備えることにより、基準値の電圧Ｖ_Ｃと、測定値の電圧Ｖ_Ｃ’とに基づいて、電流Ｉ_１及びＩ_２の変化率αを、α＝Ｖ_Ｃ／Ｖ_Ｃ’により算出することができる。そして、温度測定装置１は、測定値の電圧Ｖ’に変化率αを乗ずることにより、補正後の電圧Ｖ’’を算出する。さらに、温度測定装置１は、補正後の電圧Ｖ’’に基づいて、補正後の温度Ｔ’’を算出することができる。これにより、温度測定装置１は、省スペース化及び省コスト化が可能となる。

　以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。

　１　温度測定装置、２　測温抵抗体、４　電流出力部、５　抵抗器、６　ＡＤ変換部、７　制御部、７ａ　記憶部、７ｂ　処理部、８　不揮発性記憶部。

Claims

　測温抵抗体の一端と第１の配線を介して接続される第１の端子と、
　前記測温抵抗体の他端と第２の配線を介して接続される第２の端子と、
　前記測温抵抗体の他端と第３の配線を介して接続される第３の端子と、
　前記第１の端子及び前記第２の端子の各々に一定の電流を供給する電流出力部と、
　前記第３の端子と基準電位との間に接続された抵抗器と、
　前記第１の端子と前記第２の端子との間の電圧に基づいて、前記測温抵抗体の温度を算出する処理部と、
　予め測定された前記抵抗器の電圧を格納する不揮発性記憶部と、
　を備え、
　前記処理部は、
　前記抵抗器の電圧に基づいて、前記第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していることを検出し、前記不揮発性記憶部に格納された前記抵抗器の電圧と、測定した前記抵抗器の電圧と、に基づいて、前記測温抵抗体の温度を補正すること
　を特徴とする温度測定装置。
　前記不揮発性記憶部は、
　予め定められた閾値を格納し、
　前記処理部は、
　前記抵抗器の電圧が前記閾値より小さかったら、前記第１、第２及び第３の配線の中の少なくとも１つが断線していると判定すること
　を特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。
　前記閾値は、前記電流の２倍と前記抵抗器の抵抗値との積より小さく且つ前記電流と前記抵抗器の抵抗値との積より大きいこと
　を特徴とする請求項２に記載の温度測定装置。
　前記処理部は、
　前記不揮発性記憶部に格納された前記抵抗器の電圧と、測定された前記抵抗器の電圧と、に基づいて、前記電流の変化率を算出し、前記電流の変化率を前記測温抵抗体の電圧に乗じることにより、前記測温抵抗体の温度を補正すること
　を特徴とする請求項１に記載の温度測定装置。