WO2016072759A1 - Method and system for producing cut product - Google Patents

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WO2016072759A1
WO2016072759A1 PCT/KR2015/011820 KR2015011820W WO2016072759A1 WO 2016072759 A1 WO2016072759 A1 WO 2016072759A1 KR 2015011820 W KR2015011820 W KR 2015011820W WO 2016072759 A1 WO2016072759 A1 WO 2016072759A1
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product
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unit
cutting
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PCT/KR2015/011820
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이규황
이호경
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주식회사 엘지화학
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B26—HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
    • B26D—CUTTING; DETAILS COMMON TO MACHINES FOR PERFORATING, PUNCHING, CUTTING-OUT, STAMPING-OUT OR SEVERING
    • B26D5/00—Arrangements for operating and controlling machines or devices for cutting, cutting-out, stamping-out, punching, perforating, or severing by means other than cutting
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B26—HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
    • B26D—CUTTING; DETAILS COMMON TO MACHINES FOR PERFORATING, PUNCHING, CUTTING-OUT, STAMPING-OUT OR SEVERING
    • B26D7/00—Details of apparatus for cutting, cutting-out, stamping-out, punching, perforating, or severing by means other than cutting
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B26—HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
    • B26D—CUTTING; DETAILS COMMON TO MACHINES FOR PERFORATING, PUNCHING, CUTTING-OUT, STAMPING-OUT OR SEVERING
    • B26D7/00—Details of apparatus for cutting, cutting-out, stamping-out, punching, perforating, or severing by means other than cutting
    • B26D7/26—Means for mounting or adjusting the cutting member; Means for adjusting the stroke of the cutting member

Definitions

  • the defect of the original fabric is mainly generated in the stretching or winding process.
  • both ends of the fabric are fixed to the stretching apparatus, where defects may occur in the fixing portion.
  • a fault may arise in the edge part fixed to a roll.
  • periodic defects may occur at the site of contact with the rolls due to the characteristics of the rotating rolls. If defects are found in the cut unit product, the loss of the product is high.
  • the first yield rate when cutting the fabric into a unit product having a first size only and the second yield rate when cutting only a unit product having a second size different from the first size Each can be calculated.
  • a system for producing a cut product includes a fabric selection mode for selecting one or more fabrics such that the quantity of good products of the unit product is equal to or greater than the production plan quantity based on the number of good products.
  • the number and quantity of goods of the unit product to be cut through each fabric through the output unit may be displayed respectively.
  • FIG. 2 is a plan view illustrating a fabric and a strip according to the present invention.
  • each component member may be exaggerated or reduced. Can be.
  • the fabric 10 may be taken out in a state of being wound on a roll, for example, in a strip shape.
  • the width X and the length Y of the fabric 10 are not limited.
  • the fabric 10 may have, for example, a width X of 40 mm to 2,500 mm and a length Y of 1,000 cm to 3,000 m. Specifically, the fabric 10 has a larger length (Y) than the width (X).
  • size is used in the same meaning as described above unless specifically stated otherwise in the following embodiments.
  • inch representing length may mean diagonal length, as is well known. Inch may refer to a diagonal length when the product is a rectangular unit such as a polarizing plate or the like.
  • the production method of the cutting product the fabric selection step of selecting one or more fabrics so that the number of good products of the unit product is more than the planned production quantity based on the production plan quantity and the calculated number of good products for each unit product ( S102).
  • the production plan quantity may be customer required quantity.
  • the yield calculation step (S101) based on the defect information on the fabric 10 the number and quantity of quantitative goods to be cut in each fabric can be respectively calculated.
  • a fabric having a high quantification rate among fabrics having a minimum inventory may be selected.
  • a method for producing a cut product is based on defect information on a piece of fabric. It includes the step of calculating the good quality to calculate.
  • the production method of the cutting product according to the second embodiment is based on the production plan quantity (customer's required quantity) according to the size of the unit product and the number of good products calculated for each size, the number of good products of the unit product at each size A fabric selection step of selecting a plurality of fabrics so that the production plan quantity or more.
  • a plurality of fabrics having a yield ratio equal to or greater than a predetermined value at each size and minimizing the inventory of the unit product are selected.
  • the first yield rate when cutting the fabric into a unit product having a first size only and the second yield rate when cutting only a unit product having a second size different from the first size Each can be calculated.
  • a third yield ratio may be calculated when the unit product having the first size and the unit product having the second size are cut and combined. For example, when the first fabric is cut into only the A product of the first size, the first yield rate and the number of good products of the A product may be calculated. In addition, when the first fabric is cut into only the B product of the second size, the second yield rate and the number of good products of the B product may be calculated. In addition, when the first fabric is cut with a combination of A and B products, the third yield rate, the number of A products and the number of B products may be calculated.
  • the production system 100 for cutting products may further include an input unit for inputting a production plan quantity for a unit product and an output unit for displaying one or more fabrics to be cut when inputting a production plan quantity for a unit product. .
  • the number and quantity of goods of the unit product to be cut through each fabric through the output unit may be displayed respectively.
  • the fabric having the minimum amount of inventory of the unit product may be selected in preference to the yield rate.
  • the cutting part 300 may include a first cutting part which slits the fabric 10 in the longitudinal direction to obtain a plurality of strips 11, 12, 13.
  • the cutting part 300 may include a second cutting part which cuts the obtained strips 11, 12, 13 in the width direction to obtain a unit product.
  • defect inspection of the fabric 10 may be performed through the defect inspection unit 600.
  • defect information of the fabric 10 may be stored in the defect information storage unit 400.

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Abstract

The present invention relates to a method for producing a cut product and a system for producing a cut product. According to an aspect of the present invention, a method for producing a cut product is provided, the method comprising: a non-defective product calculation step for calculating the number of non-defective products and a non-defective product ratio for unit products to be cut from each material on the basis of information on defects on the material; and a material selection step for selecting, on the basis of the planned production quantity and the calculated number of non-defective products for the unit products, one or more materials which allow the number of non-defective products for the unit products to be equal to or greater than the planned production quantity.

Description

재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템Production method and production system of foundation products
본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것으로, 특히, 재고량을 줄이고, 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a method for producing a cut product and a production system for a cut product, and more particularly, to a method for producing a cut product and a production system for a cut product that can reduce inventory and improve yield.
본 출원은 2014년 11월 5일자 한국 특허 출원 제10-2014-0152889호 및 2015년 11월 4일자 한국 특허 출원 제10-2015-0154512호에 기초한 우선권의 이익을 주장하며, 해당 한국 특허 출원의 문헌들에 개시된 모든 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다. This application claims the benefit of priority based on Korean Patent Application No. 10-2014-0152889 filed on November 5, 2014 and Korean Patent Application No. 10-2015-0154512 filed on November 4, 2015. All content disclosed in the documents is included as part of this specification.
일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.Generally, the product on the film (or sheet) is made in the form of a fabric of size larger than the size of the product to be actually used. For example, optical members, such as a polarizing plate, retardation plate, etc. used for a display apparatus etc. are like this. For example, the polarizer supplier (manufacturer) is a fabric having a length and width larger than the actual product used in manufacturing the polarizer in consideration of various factors such as the efficiency of the manufacturing process and fluctuations in demand for the product. Manufacture.
또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.In addition, in most cases, the fabric is manufactured in a band shape through a continuous process, and the fabric is fabricated and stored in a roll. Thereafter, the fabric wound on the roll is taken out and cut into unit products of a predetermined size.
일반적으로, 원단을 재단함에 있어서는, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어질 수 있도록 재단하는 방법이 많이 사용되고 있다. 예를 들어, 복수의 커터가 장착된 재단 프레임을 이용한다. 이때, 재단을 어떠한 방식으로 진행하는가에 따라 재단된 단위 제품의 수율이 달라진다. 낮은 재단 효율성은 재단 후 버려지는 스크랩(scrap), 즉 폐기물의 양을 증가시키며, 이는 궁극적으로 제품의 제조비용을 상승시키는 원인이 된다.In general, in cutting the fabric, a method of cutting so that a plurality of unit products can be obtained at the same time in one cutting process is used a lot. For example, a cutting frame equipped with a plurality of cutters is used. In this case, the yield of the cut unit product varies depending on how the cutting is performed. Low cutting efficiency increases the amount of scrap that is discarded after cutting, ie waste, which ultimately increases the manufacturing cost of the product.
또한, 원단의 종류에 따라 제품으로 바람직하지 못한 결점(defect)이 존재할 수 있다. 이 경우, 원단의 재단 시에는 양질의 품질화(양품화)를 위해 결점이 고려된다. 일반적으로, 결점은 원단의 제조 공정이나 권취 공정 등에서 형성된다.Also, depending on the type of fabric, there may be undesirable defects in the product. In this case, defects are considered for the quality (quality) of the fabric when cutting. Generally, a fault is formed in a manufacturing process of a raw material, a winding process, etc.
예를 들어, TV 등의 디스플레이 장치에 사용되는 편광판은, (1)편광자를 얻는 공정, (2)편광자 보호층을 적층하는 공정, 및 (3)보호 필름이나 이형 필름을 적층하는 공정을 통해 제조된다. 편광자를 얻는 공정에서는 주로 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 염색 및 연신하여 편광자를 얻는다. 편광자 보호층을 적층하는 공정에서는 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광자 보호층을 적층한다. 이때, 편광판은 각 공정을 진행하는 과정에서 롤에 권취될 수 있으며, 적어도 상기 (3)공정을 진행한 제품은 롤에 권취되어 보관된다. 이와 같이 롤에 권취하는 경우, 각 공정으로의 운반성은 물론, 보관의 용이성 및 재단 공정 등에서 취급성 등이 유리하다.For example, the polarizing plate used for display apparatuses, such as a TV, is manufactured through the process of (1) obtaining a polarizer, (2) laminating a polarizer protective layer, and (3) laminating a protective film or a release film. do. In the process of obtaining a polarizer, a polyvinyl alcohol (PVA) film is mainly dyed and stretched and a polarizer is obtained. In the process of laminating the polarizer protective layer, a triacetyl cellulose (TAC) film is attached to both surfaces of the polarizer through an adhesive to laminate the polarizer protective layer. At this time, the polarizing plate may be wound on a roll in the process of proceeding each process, at least the product having the above (3) process is wound on the roll and stored. Thus, when winding up to a roll, handling property etc. are advantageous in the ease of storage, cutting process, etc. as well as the transportability to each process.
원단의 결점은 상기 연신이나 권취 공정에서 주로 발생된다. 예를 들어, 연신 공정에서는 원단의 양측 단부를 연신 장치에 고정하고 있는데, 이때 상기 고정 부위에 결점이 발생할 수 있다. 권취 공정의 경우에는 롤에 고정하는 단부 부위에 결점이 발생할 수 있다. 또한, 권취 공정의 경우, 롤에 흠집이 존재하는 경우, 회전하는 롤의 특성 상 롤과 접촉되는 부위에 주기적인 결점(periodic defect)이 발생할 수 있다. 재단된 단위 제품에 결점이 확인되는 경우, 제품의 손실이 커진다.The defect of the original fabric is mainly generated in the stretching or winding process. For example, in the stretching process, both ends of the fabric are fixed to the stretching apparatus, where defects may occur in the fixing portion. In the case of a winding process, a fault may arise in the edge part fixed to a roll. In addition, in the winding process, when scratches are present on the rolls, periodic defects may occur at the site of contact with the rolls due to the characteristics of the rotating rolls. If defects are found in the cut unit product, the loss of the product is high.
이에 따라, 결점을 가지는 원단을 재단함에 있어서는 재단에 앞서 결점 검사가 이루어지며, 재단된 단위 제품에 결점이 포함되지 않도록 결점을 피하여 재단한다. 또한, 상기한 바와 같이 재단된 단위 제품의 수율이 고려된다. Accordingly, in cutting the fabric having a defect, a defect inspection is made prior to cutting, and the cutting is avoided so as not to include the defect in the cut unit product. In addition, the yield of the unit product cut as described above is considered.
일반적으로, 원단의 재단은, 결점의 위치(분포)를 검사하는 검사 과정, 상기 검사된 결점 정보에 기초하여 가상으로 재단할 때의 단위 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 과정, 상기 수율 산출 과정에서 계산 값을 바탕으로 소정치 이상의 수율(최고 수율)을 갖도록 재단하는 재단 과정을 통해 진행되고 있다.In general, the cutting of the fabric, during the inspection process for inspecting the location (distribution) of the defect, the yield calculation process for calculating the yield of the unit product when the virtual cutting based on the inspected defect information, the yield calculation process On the basis of the calculated value, it is progressing through a cutting process for cutting to have a yield higher than a predetermined value (highest yield).
예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2008-0033863호, 대한민국 등록특허 제10-1179071호, 및 대한민국 등록특허 제10-1315102호 등에는 위와 관련한 기술이 제시되어 있다.For example, the Republic of Korea Patent Publication No. 10-2008-0033863, Republic of Korea Patent No. 10-1179071, Republic of Korea Patent No. 10-1315102 and the like has been presented the technology related to the above.
위와 같이 원단을 재단함에 있어서는 결점을 피하여 재단하되, 최고의 수율을 고려하여 재단한다. 이때, 수율은 면적 수율로서, 이는 재단 후에 얻어지는 단위 제품의 총면적을 재단 전 원단의 총면적으로 나누어 산출하며, 통상 백분율(%)로 나타낸다.When cutting the fabric as described above to avoid the defects, but in consideration of the best yield. In this case, the yield is an area yield, which is calculated by dividing the total area of the unit product obtained after cutting by the total area of the fabric before cutting, and is usually expressed as a percentage (%).
그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은, 예를 들어 다음과 같은 문제점이 지적된다. However, the cutting method according to the prior art, for example, the following problems are pointed out.
최근, 대부분의 원단은 매우 큰 폭으로 제조되고 있다. 이 또한 원단 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 요인들을 고려한 것이다. 이러한 큰 폭을 가지는 원단에 대해서는 원단의 길이 방향으로 재단하는 슬리팅(slitting) 재단이 필요할 수 있다. 그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은 최대의 면적 수율을 위한 단위 제품의 재단에 국한되고, 슬리팅 재단은 고려하지 않고 있다. 이에 따라, 최대의 재단 효율성을 고려한 방법으로 보기 어렵다.Recently, most fabrics have been manufactured in very large widths. This also considers factors such as the efficiency of the fabric manufacturing process and fluctuations in demand for products. For a fabric having such a large width, slitting cutting to cut in the longitudinal direction of the fabric may be required. However, the cutting method according to the prior art is limited to the cutting of the unit product for the maximum area yield, the slitting cutting is not considered. Therefore, it is difficult to see the method considering the maximum cutting efficiency.
또한, 종래에는 원단의 상태에 대한 정확한 정보를 갖고 있지 않기 때문에 원단의 평균 수율을 적용하여 대략적인 작업량을 선정하게 되고, 실제 수율이 평균 수율보다 적게 나타남에 따라 고객의 요구 수량에 맞추기 위하여 계산된 작업량보다 많은 양의 생산을 계획하였다. 또한, 이러한 추가 생산량은 작업자의 경험에 따라 임의로 결정되었다. 따라서 최종 완제품의 재고량이 증가하는 문제가 발생하였다.In addition, conventionally, since it does not have accurate information on the state of the fabric, the approximate amount of work is selected by applying the average yield of the fabric, and the actual yield is calculated to meet the required quantity of the customer as the yield is less than the average yield. The production of more than the workload was planned. In addition, this additional production amount was arbitrarily determined according to the operator's experience. As a result, the inventory of the final finished product increased.
본 발명은 고객의 요구수량 및 원단의 결점정보에 기초하여 재단 계획을 세울 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.The present invention is to solve the problem to provide a production method and a production system for the cutting products that can be cut based on the customer's required quantity and defect information of the fabric.
또한, 본 발명은 재고량을 줄이고, 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.In addition, the present invention is to solve the problem to provide a production method and a production system for cutting products of the cut products that can reduce the inventory amount, improve the yield rate.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.In order to solve the above problems, according to an aspect of the present invention, on the basis of the defect information on the fabric, for each of the product yield step and unit product for calculating the quantity and quantity of the product of each unit to be cut in each fabric A method for producing a cut product is provided, comprising a fabric selection step of selecting one or more fabrics such that the quantity of good products of the unit product is equal to or greater than the production planned quantity based on the production plan quantity and the calculated quantity of good products, respectively.
또한, 원단 선정 단계에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정한다.In addition, in the fabric selection step, the fabric which minimizes the inventory of the unit product is selected from the plurality of fabrics whose yield ratio is a predetermined value or more.
또한, 원단 선정 단계에서는, 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다.In addition, in the fabric selection step, it is possible to select the fabric so that the minimum amount of inventory of the unit product in preference to the quantization rate.
또한, 원단 선정단계에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.In addition, in the fabric selection step, a fabric having a high yield ratio may be selected among fabrics having a minimum inventory.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.In addition, the production plan quantity may be customer required quantity.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계 및 단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.In addition, according to another aspect of the present invention, on the basis of the defect information on the fabric, when cutting each piece of fabric for each size of the unit, the quantity of goods calculation step of calculating the number of pieces and quantity of quantification according to the size of the unit product respectively And a fabric selection step of selecting a plurality of fabrics such that the number of good products of the unit product is greater than the production plan quantity at each size based on the production plan quantity and the number of good products calculated for each size according to the size of the unit product. Provided are methods for producing a foundation product.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정한다.Further, in the fabric selection step, a plurality of fabrics having a yield ratio equal to or greater than a predetermined value at each size and minimizing the inventory of the unit product are selected.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다.In addition, in the fabric selection step, it is possible to select the fabric so that the minimum amount of inventory of the unit product in preference to the quantization rate in each size.
또한, 원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.Also, in the fabric selection step, a fabric having a high quantification rate among fabrics having a minimum inventory can be selected.
또한, 원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정될 수 있다.In addition, in the fabric selection step, the size of the unit product to be cut in the selected fabric may be determined together.
또한, 양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출할 수 있다.In addition, in the yield calculation step, the first yield rate when cutting the fabric into a unit product having a first size only and the second yield rate when cutting only a unit product having a second size different from the first size Each can be calculated.
또한, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제2 크기로 결정될 수 있다.Further, in the fabric selection step, when the second yield rate is higher than the first yield rate, the size of the unit product to be cut in the corresponding fabric may be determined as the second size.
또한, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정될 수 있다.Also, in the fabric selection step, when the second yield rate is higher than the first yield rate, and the inventory of the unit product having the first size is smaller than the inventory quantity of the unit product having the second size, the unit product to be cut from the fabric The size of may be determined as the first size.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.In addition, the production plan quantity may be customer required quantity.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 산출하는 양품 산출 모드 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하는 재단 제품의 생산 시스템이 제공된다.In addition, according to another aspect of the present invention, on the basis of the defect information on the fabric, the production quantity and the production plan quantity for the unit product calculation mode and unit product for calculating the quantity of goods and the yield rate of the unit product to be cut in each fabric A system for producing a cut product is provided that includes a fabric selection mode for selecting one or more fabrics such that the quantity of good products of the unit product is equal to or greater than the production plan quantity based on the number of good products.
또한, 원단 선정모드에서는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정된다.In addition, in the fabric selection mode, a fabric having a minimum inventory amount of a unit product is selected from a plurality of fabrics having a yield ratio of a predetermined value or more.
또한, 재단 제품의 생산 시스템은, 단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함할 수 있다.In addition, the production system for cutting products may further include an input unit for inputting a production plan quantity for the unit product and an output unit for displaying one or more fabrics to be cut when the production plan quantity for the unit product is input.
또한, 상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다.In addition, the number and quantity of goods of the unit product to be cut through each fabric through the output unit may be displayed respectively.
또한, 원단 선정 모드에서는 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다.In addition, in the fabric selection mode, the fabric having the minimum amount of inventory of the unit product may be selected in preference to the yield rate.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.In addition, the production plan quantity may be customer required quantity.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드와, 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드 및 크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하는 재단 제품의 생산 시스템이 제공된다.In addition, according to another aspect of the present invention, the defect inspection mode for inspecting the defects on the fabric and the number of good products of the unit product according to the size when cutting each fabric by the size of the unit based on the defect information And a production quantity calculation mode for calculating a quantity yield ratio and a production plan quantity for a unit product for each size, respectively, the quantity of the quantity of the unit product at each size based on the quantity of the quantity of the product calculated for each unit size and the production plan quantity, respectively. There is provided a production system for a cutting product including a fabric selection mode for selecting a plurality of fabrics such that the number of production plans is greater than or equal to the production plan quantity.
또한, 원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다.In addition, in the fabric selection mode, the size of the unit product to be cut from the selected fabric is determined together, and the fabric may be selected so that the amount of inventory of the unit product is minimized in preference to the yield rate at each size.
또한, 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다.In addition, the production plan quantity may be customer required quantity.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템은 다음과 같은 효과를 갖는다.As described above, the production method of the cut product and the production system of the cut product according to an embodiment of the present invention has the following effects.
각각의 원단에 대하여, 해당 원단의 결점 정보에 기초하여 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 또한, 크기별 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 따라서, 원단의 양품 정보를 정확히 산출할 수 있으며, 이를 기초로 재단 계획을 수립할 수 있다.For each fabric, the quantity and quantity of quantitative products of the unit product to be cut may be calculated based on defect information of the fabric. In addition, the number and quantity of quantitative products of unit products for each size may be calculated. Therefore, it is possible to accurately calculate the quality information of the fabric, it is possible to establish a cutting plan based on this.
또한, 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 원단의 결점정보에 기초하여 재단 계획을 세울 수 있다. 따라서, 재고량을 최소화하고, 양품화율을 향상시킬 수 있다.In addition, the cutting plan can be made based on the production plan quantity (customer required quantity) and the defect information of the fabric. Therefore, the amount of inventory can be minimized and the yield rate can be improved.
도 1은 본 발명과 관련된 원단의 평면도이다.1 is a plan view of a fabric associated with the present invention.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.2 is a plan view illustrating a fabric and a strip according to the present invention.
도 3은 본 발명과 관련된 원단 및 결점 분포 지도를 설명하기 위한 평면도이다.3 is a plan view for explaining the far-end and defect distribution map associated with the present invention.
도 4는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우차트이다.4 is a flowchart showing a method for producing a cut product according to a first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템을 나타내는 블록 구성도이다.Figure 5 is a block diagram showing a production system for cutting products according to an embodiment of the present invention.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing a cut product and a production system of a cut product according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.In addition, irrespective of the reference numerals, the same or corresponding components will be given the same or similar reference numerals, and redundant description thereof will be omitted. For convenience of description, the size and shape of each component member may be exaggerated or reduced. Can be.
도 1은 본 발명과 관련된 원단(10)의 평면도이고, 도 2는 본 발명과 관련된 원단(10) 및 스트립(11, 12, 13)을 설명하기 위한 평면도이며, 도 3은 본 발명과 관련된 원단(10) 및 결점 분포 지도(30)를 설명하기 위한 평면도이다.1 is a plan view of the fabric 10 according to the present invention, Figure 2 is a plan view for explaining the fabric 10 and strips (11, 12, 13) related to the present invention, Figure 3 is a fabric associated with the present invention It is a top view for demonstrating 10 and the fault distribution map 30. FIG.
본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다. 원단(10)은, 보다 구체적인 예를 들어 TV나 모니터 등과 같은 디스플레이 장치 등에 적용되는 광학 부재로부터 선택될 수 있다. 또한, 원단(10)은 단층체 및/또는 적층체를 포함한다. In this document, the "fabric" to be cut is a base material on a film (or sheet), which is included here as long as it has a relatively larger size than before cutting. In addition, in the present invention, the type or laminated structure of the fabric 10 is not particularly limited. The fabric 10 may be selected from, for example, an optical member, a protective member, or the like on a film (or sheet) applied to an electric or electronic product. The far end 10 may be selected from, for example, an optical member applied to a display device such as a TV or a monitor. In addition, the fabric 10 includes a monolayer and / or a laminate.
하나의 예시에서, 원단(10)은 편광판으로부터 선택될 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. In one example, the far end 10 may be selected from a polarizer. In this case, the polarizing plate may have a laminated structure including a polarizer and a polarizer protective layer formed on the polarizer. The polarizer may be selected from, for example, dyed and stretched polyvinyl alcohol (PVA) films and the like. The polarizer protective layer may be selected from, for example, a triacetyl cellulose (TAC) film and the like, and may be attached to both surfaces of the polarizer through an adhesive. In addition, the polarizing plate may have a laminated structure further including a protective film and / or a release film formed on the polarizer protective layer.
원단(10)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤(Roll)에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(10)의 폭(X)과 길이(Y)는 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 40 ㎜ 내지 2,500 ㎜의 폭(X)과, 1,000 ㎝ 내지 3,000 m의 길이(Y)를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 원단(10)은 폭(X)에 비하여 큰 길이(Y)를 갖는다.The fabric 10 may be taken out in a state of being wound on a roll, for example, in a strip shape. The width X and the length Y of the fabric 10 are not limited. The fabric 10 may have, for example, a width X of 40 mm to 2,500 mm and a length Y of 1,000 cm to 3,000 m. Specifically, the fabric 10 has a larger length (Y) than the width (X).
또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(10)은 결점(d, defect)이 존재하는 것, 및/또는 결점(d)이 존재하지 않는 것을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(10)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다. Further, in the present invention, the fabric 10 to be cut includes those in which defects (d, defects) exist and / or defects (d) do not exist. Defect (d) is an undesirable defect as a product, which may be formed in the manufacturing process and / or winding process of the fabric (10). The drawbacks include, for example, foreign matter, contamination, torsion, scratches and / or bubbles.
첨부된 도면에서, "*"은 결점(d)을 나타낸다. 원단(10)에는 위와 같은 결점(d)이 1종류 또는 서로 다른 2종류 이상이 존재할 수 있으나, 도면에서는 결점(d)의 종류를 고려하지 않고 "*"로 나타내었다. In the accompanying drawings, "*" indicates a defect d. In the fabric 10, one or two or more kinds of the above-described defects (d) may be present. However, the fabric 10 is represented by "*" without considering the kind of the defects (d).
한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품으로 재단하는 것을 의미하여, 상기 "단위 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향 및 폭(X) 방향으로 재단하여 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 ‘단위 제품’이라 한다. On the other hand, in this document, "foundation" may be used to mean one or more selected from "slitting foundation" and "unit cutting". In addition, in the present invention, the "slit cutting" means to cut the fabric 10 in the length (Y) direction to be cut into strip-shaped semi-finished products, the "unit cutting" is the length of the fabric 10 It means cutting to the unit product by cutting in the (Y) direction and the width (X) direction. At this time, in the present invention, the strip-shaped semi-finished product obtained through the slitting cutting is referred to as 'strip', and the cutting product obtained through the unit cutting is referred to as 'single item' or 'unit product'.
상기 단품은 원단(10)보다 작은 길이와 폭을 가지는 낱장의 최종 제품으로서, 이는 예를 들어 사각형의 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2를 참조하면, 본 발명에서, 상기 스트립(11)(12)(13)은 원단(10)보다 폭이 작은 띠 형상의 반제품으로서, 이는 단위 재단을 통해 낱장의 단품으로 재단될 수 있다. 참고로, 도 2는 원단(10)을 슬리팅 재단하여 제1 스트립(11), 제2 스트립(12) 및 제3 스트립(13)으로 분할하기 위한 상태를 나타낸다. 또한, 각각의 스트립(11 내지 13)은 원단(10) 상의 재단선(20)을 따라 재단될 수 있다. 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 원단의 폭(X)보다 작게 결정될 수 있다. 또한, 상기 재단선(20)의 폭(X-Z)은 각각의 스트립(11 내지 13)의 폭의 합과 실질적으로 동일할 수 있다.The single piece is a single piece of end product having a length and width smaller than that of the fabric 10, which may have, for example, a rectangular shape. Also, referring to FIG. 2, in the present invention, the strips 11, 12 and 13 are strip-shaped semi-finished products having a width smaller than that of the fabric 10, which can be cut into single pieces through unit cutting. have. For reference, FIG. 2 illustrates a state for slitting and cutting the fabric 10 into the first strip 11, the second strip 12, and the third strip 13. In addition, each strip 11-13 may be cut along the cutting line 20 on the fabric 10. The width X-Z of the cutting line 20 may be determined to be smaller than the width X of the fabric. In addition, the width X-Z of the cutting line 20 may be substantially equal to the sum of the widths of the respective strips 11 to 13.
본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(10)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다.  In the present invention, the cutting method is not particularly limited. The cutting method may be any one capable of dividing the original fabric 10 into at least one piece of article and / or strips 11, 12, 13. Cutting may be carried out, for example, through a metal knife, a jet water knife and / or a light source, and the like, for example, a laser beam or the like.
본 문서에서, "면적 수율"은 재단 후에 얻어지는 재단 제품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 면적 수율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 재단 제품은 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로부터 선택된다. 그리고 상기 '재단 제품의 총면적'은 재단 제품 1개의 면적 x 생산된 재단 제품의 개수로 계산된다. 또한, “양품화율”은 재단 후에 얻어지는 재단 제품 중 양품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 양품화율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 한편, 면적 수율과 양품화율은 동일한 개념으로 사용될 수도 있다.In this document, "area yield" means calculated by dividing the total area of the cut product obtained after cutting by the total area of the fabric 10 before cutting. Area yield can be expressed as a percentage, as usual. The cut product is then selected from a single piece and / or strip 11, 12, 13. The total area of the foundation product is calculated as the area of one foundation product x the number of foundation products produced. In addition, the "quantification rate" means that the total area of the good product of the cut products obtained after cutting is calculated by dividing the total area of the fabric 10 before cutting. The yield rate can be expressed as a percentage, as usual. Meanwhile, the area yield and the yield rate may be used in the same concept.
또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(10)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미한다. In addition, in this document, "size" means one or more selected from the width, length, area, and diagonal length of the fabric 10 or the cut product (single and / or strip).
본 발명에서, "크기"는 이하의 실시형태에서 특별히 한정하여 언급하지 않는 한 위와 같은 의미로 사용된다. 또한, 길이를 나타내는 "인치(inch)"는, 주지된 바와 같이 대각선 길이를 의미할 수 있다. 인치는, 예를 들어 제품이 편광판 등과 같이 사각형 단품인 경우에 대각선 길이를 의미할 수 있다.In the present invention, "size" is used in the same meaning as described above unless specifically stated otherwise in the following embodiments. Further, “inch” representing length may mean diagonal length, as is well known. Inch may refer to a diagonal length when the product is a rectangular unit such as a polarizing plate or the like.
원단(10)의 결점(d)은 검사자 또는 재단 시스템(100, 도 5 참조)을 구성하는 결점 검사부(600, 도 5 참조)에 의해 검사될 수 있다. 상기 결점 검사부는 화상을 통한 자동 스캐닝(scanning) 방식으로 결점(d)을 검사하도록 마련될 수 있다. 또한, 결점 검사부(100)에서 검사된 원단의 결점 정보(또는 결점 분포 지도)는 결점 정보 저장부(400)에 저장될 수 있다. 또한, 원단(10)의 결점 정보는 출력부(500, 도 5 참조)를 통해 화면상으로 표시될 수 있다.The defect d of the far end 10 may be inspected by the inspector or the defect inspection unit 600 (see FIG. 5) constituting the cutting system 100 (see FIG. 5). The defect inspection unit may be provided to inspect the defect d by an automatic scanning method through an image. In addition, defect information (or defect distribution map) of the fabric examined by the defect inspection unit 100 may be stored in the defect information storage unit 400. In addition, defect information of the far end 10 may be displayed on the screen through the output unit 500 (see FIG. 5).
상기 결정 정보는 결점(d)의 위치(분포), 종류, 크기 및/또는 개수 등을 포함하며, 결점(d)의 위치(분포)의 경우에는 x-y 좌표로 출력부에 표시될 수 있다. 결점(d)의 검사 방법 및 표시 방법 등은 특별히 제한되지 않으며, 이들은 예를 들어 통상적인 방법으로 수행할 수 있다. 이와 같이, 원단의 결정정보에 기초하여 원단(10)의 결점 분포 지도가 생성된다. 상기 원단(10)의 결점 분포 지도(30)의 생성은 재단 시스템을 구성하는 제어부를 통해 수행될 수 있다.The determination information includes the position (distribution), type, size and / or number of defects d, and in the case of the position (distribution) of defects d, it may be displayed on the output unit in x-y coordinates. The inspection method, the marking method, etc. of the fault (d) are not specifically limited, These can be performed, for example by a conventional method. In this way, a defect distribution map of the fabric 10 is generated based on the determination information of the fabric. Generation of the defect distribution map 30 of the far end 10 may be performed through a control unit constituting the cutting system.
또한, 상기 제어부는 원단(10)의 재단선(20)을 따라 원단(10)의 결점 분포 지도(30)를 분할하고, 분할된 각각의 결점 분포 지도를 저장할 수 있다. 이와 같이, 분할된 결점 분포 지도는 후속 공정(또는 후속 모드)에 걸쳐 지속적으로 사용될 수 있다.In addition, the controller may divide the defect distribution map 30 of the fabric 10 along the cutting line 20 of the fabric 10 and store the divided defect distribution maps. As such, the segmented defect distribution map can be used continuously over subsequent processes (or subsequent modes).
또한, 도 3을 참조하면, 상기 원단(10)은 마킹부(15, marking part)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 원단(10)에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부(15)가 형성될 수 있다. 본 문서에서, 마킹부(15)는 원단(10)의 방향을 구분할 수 있도록 마련될 수 있다. 마킹부(15)는, 구체적으로 원단(10)의 적어도 좌측과 우측을 구분할 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다.In addition, referring to FIG. 3, the fabric 10 may include a marking part 15. Specifically, at least one marking portion 15 may be formed on the fabric 10 to distinguish the left side and the right side. In this document, the marking unit 15 may be provided to distinguish the direction of the fabric (10). In particular, the marking part 15 is preferably provided to distinguish at least the left side and the right side of the fabric 10.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 좌측 단부(DS) 및 우측 단부(OS) 중 적어도 하나의 단부에 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 형성될 수 있다. 여기서, 각 단부(OS)(DS)는 원단(10)의 가장자리를 의미하며, 이는 예를 들어 원단(10)의 좌측이나 우측의 끝단에서부터 2cm 이내의 폭을 의미할 수 있다. 이때, 마킹부(15)의 폭은 제한되지 않는다. 예를 들어, 마킹부(15)는 0.01mm 내지 2cm, 0.02mm 내지 1.5cm, 0.1 내지 1cm, 또는 0.5mm 내지 0.5cm의 폭을 가질 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다. 도 3에는 마킹부(15)가 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 일직선상으로 연속적으로 형성된 실시예가 도시되어 있다.  The marking part 15 may be formed along a length (Y) direction of the fabric 10 at at least one of the left end DS and the right end OS of the fabric 10. Here, each end (OS) (DS) means the edge of the fabric 10, which may mean, for example, a width within 2cm from the end of the left or right of the fabric (10). At this time, the width of the marking portion 15 is not limited. For example, the marking part 15 may have a width of 0.01 mm to 2 cm, 0.02 mm to 1.5 cm, 0.1 to 1 cm, or 0.5 mm to 0.5 cm. In addition, the marking part 15 may be formed continuously or discontinuously along the length (Y) direction of the fabric (10). 3 shows an embodiment in which the marking part 15 is continuously formed in a straight line along the length (Y) direction of the fabric 10.
상기 마킹부(15)는 육안 및/또는 식별 장치 등에 의해 인식이 가능한 것이면 제한되지 않는다. 마킹부(15)는, 예를 들어 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치(notch)부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 인쇄부는 색상 물질의 인쇄에 의해 마련될 수 있다. 또한, 상기 노치부는 두께 단차를 가지는 것이면 제한되지 않으며, 이는 가압에 의해 형성된 오시 처리부나 하프 커팅(half- cutting)하여 형성된 하프 커팅부 등으로부터 선택될 수 있다. 또한, 상기 천공부는 불연속적으로 형성될 수 있다. The marking unit 15 is not limited as long as it can be recognized by the naked eye and / or the identification device. The marking portion 15 may include, for example, at least one of a printing portion formed by printing, a notch portion formed by a thickness step, and a drilling portion formed by perforation. For example, the printing unit may be provided by printing color material. In addition, the notch is not limited as long as it has a thickness step, which may be selected from an oscillation processing portion formed by pressing or a half cutting portion formed by half-cutting. In addition, the perforations may be formed discontinuously.
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사 전에 형성되거나, 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 일 실시예로, 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다.The marking part 15 may be formed before the defect inspection of the fabric 10 or after the defect inspection of the fabric 10 is performed. In one embodiment, the marking unit 15 may be formed after the defect inspection of the fabric (10).
상기 마킹부(15)는 원단(10)의 적어도 재단 생산성 등을 개선한다. 앞서 언급한 바와 같이, 일반적으로 원단(10)은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이때, 마킹부(15)는 풀림과 감김의 반복에 의해 좌측과 우측이 바뀌는 경우에도 원단(10)의 방향을 구분할 수 있게 한다.The marking portion 15 improves at least cutting productivity of the fabric 10. As mentioned above, in general, the fabric 10 may be changed left and right while repeating the unwinding and winding after the defect inspection is made. In this case, the marking unit 15 may distinguish the direction of the fabric 10 even when the left and right sides are changed by repetition of unwinding and winding.
도 4는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우차트이다.4 is a flowchart showing a method for producing a cut product according to a first embodiment of the present invention.
제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 원단(10) 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단(10)에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계(S101)를 포함한다.The production method of the cut product according to the first embodiment, based on the defect information on the fabric 10, the quantity of goods calculation step of calculating the quantity and quantity of goods of each unit product to be cut in each fabric 10 (S101) ).
또한, 상기 재단 제품의 생산방법은, 단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계(S102)를 포함한다. 본 문서에서 생산 계획 수량은 고객사 요구 수량일 수 있다. In addition, the production method of the cutting product, the fabric selection step of selecting one or more fabrics so that the number of good products of the unit product is more than the planned production quantity based on the production plan quantity and the calculated number of good products for each unit product ( S102). In this document, the production plan quantity may be customer required quantity.
한편, 원단(10) 상의 결점 정보에 기초한 양품 산출 단계(S101)를 통하여, 각각의 원단에서 재단될 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다.On the other hand, through the yield calculation step (S101) based on the defect information on the fabric 10, the number and quantity of quantitative goods to be cut in each fabric can be respectively calculated.
예를 들어, 제1 원단을 A제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 B제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다. 여기서, A제품과 B제품은 크기가 서로 다른 단위 제품이다. 특히, 제1 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수와 양품화율은 제1 원단을 B제품으로 재단하는 경우의 양품 개수와 양품화율과 서로 다를 수 있다. 즉, 동일한 원단일지라도, 재단하고자 하는 단위제품의 크기에 따라 양품 개수 및 양품화율이 달라질 수 있다. 마찬가지로, 제2 원단을 A제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율을 각각 산출할 수 있고, 제2 원단을 B제품으로 재단할 경우, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다. 정리하면, 보유 원단들에 대하여, 특정 제품(A제품 또는 B제품)으로 재단 시, 양품 개수와 양품화율이 각각 산출될 수 있다.For example, when the first fabric is cut into the A product, the quantity and quantity of quantitative goods can be calculated. In addition, when the first fabric is cut into the B product, the number and quantity of yield can be calculated, respectively. Here, A product and B product are unit products of different sizes. In particular, the number and quantity of quantitative products when the first fabric is cut to the A product may be different from the number and quantity of quantitative products when the first fabric is cut to the B product. That is, even in the same fabric, the number and quantity of quantitative goods may vary according to the size of the unit product to be cut. Similarly, when the second fabric is cut into the A product, the number of good products and the quantization rate can be calculated, respectively. When the second fabric is cut into the B product, the number of goods and the quantization rate can be respectively calculated. In summary, with respect to the retaining fabrics, when cutting to a specific product (A product or B product), the number of products and the yield rate can be calculated respectively.
원단 선정단계(S102)는 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여 수행된다. 즉, 고객사 수요를 맞추기 위하여 하나 이상의 원단을 통해 재단될 양품 개수는 고객사 요구 수량 이상이 되어야 한다.Fabric selection step (S102) is carried out based on the production plan quantity (customer's required quantity) and the calculated number of articles for each unit product. In other words, the number of good products to be cut through one or more fabrics in order to meet the customer's demand should be more than the customer's required quantity.
이때, 원단 선정 단계에서는, 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다. 특히, 원단 선정 단계(S102)에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정한다. 예를 들어, 원단 선정의 기준이 되는 양품화율은 70% 이상일 수도 있고, 바람직하게, 80% 이상일 수도 있고, 보다 바람직하게, 85% 이상일 수도 있다. 즉, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서만 단위 제품의 재고량(양품 개수-생산 계획 수량)을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다. 또한, 원단 선정 단계에서, 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다. 예를 들면, A제품에 대한 생산 계획 수량이 100개인 경우, 제1 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수는 130개이고, 양품화율 88%이며, 제2 원단을 A제품으로 재단하는 경우의 양품 개수는 110개이고, 양품화율 86%일 수 있다. 이때, 양품화율을 우선하는 경우, 제1 원단이 선택될 수 있다. 그러나, 본 발명에서는, 원단 선정 기준에서 재고량이 양품화율에 우선하게 되며, 재고량을 최소로 하는 제2 원단이 선택될 수 있다.At this time, in the fabric selection step, the fabric so that the minimum amount of inventory of the unit product can be selected. In particular, in the fabric selection step (S102), the fabric that minimizes the inventory of the unit product among the plurality of fabrics with a quantification rate of more than a predetermined value is selected. For example, the yield ratio as a standard for fabric selection may be 70% or more, preferably 80% or more, and more preferably 85% or more. That is, only the plurality of fabrics whose yield rate is greater than or equal to a predetermined value may be selected from among fabrics having a minimum inventory quantity (quantity of goods-production plan quantity) of the unit product. In addition, in the fabric selection step, it is possible to select the fabric so that the minimum amount of inventory of the unit product in preference to the quantization rate. For example, if the production plan quantity for product A is 100, the number of good products for cutting the first fabric into the product A is 130, the yield rate is 88%, and the second fabric is cut into the A product. The number of yields is 110, and the yield rate may be 86%. In this case, in the case of prioritizing the yield rate, the first fabric may be selected. However, in the present invention, the stock quantity is given priority over the quantification rate in the fabric selection criteria, and a second fabric having a minimum stock quantity may be selected.
정리하면, 재고량을 줄이기 위하여, 재단될 양품 개수와 생산 계획 수량(고객사 요구 수량)의 차이가 최소가 되도록 하는 원단이 선정될 수 있다.In summary, in order to reduce the inventory amount, the fabric may be selected so that the difference between the number of good products to be cut and the production plan quantity (customer required quantity) is minimized.
또한, 원단 선정단계(S102)에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.In addition, in the fabric selection step (S102), a fabric having a high quantification rate among fabrics having a minimum inventory may be selected.
본 발명의 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계를 포함한다.According to the second embodiment of the present invention, a method for producing a cut product is based on defect information on a piece of fabric. It includes the step of calculating the good quality to calculate.
또한, 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함한다.In addition, the production method of the cutting product according to the second embodiment is based on the production plan quantity (customer's required quantity) according to the size of the unit product and the number of good products calculated for each size, the number of good products of the unit product at each size A fabric selection step of selecting a plurality of fabrics so that the production plan quantity or more.
또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정한다.Further, in the fabric selection step, a plurality of fabrics having a yield ratio equal to or greater than a predetermined value at each size and minimizing the inventory of the unit product are selected.
단위 제품의 크기, 예를 들어 37인치(B제품), 42인치(A제품) 등에 따라 고객사 요구 수량이 각각 산출될 수 있다. 이때, 각각의 원단에 대하여 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출할 수 있으며, 이는 제1 실시예를 통해 설명한 바와 같다.According to the size of the unit product, for example, 37 inches (B product), 42 inches (A product), etc., customer required quantity can be calculated. In this case, for each fabric, the number and quantity of quantitative goods according to the size of the unit product may be calculated, respectively, as described through the first embodiment.
이때, 단위 제품의 크기에 따른 고객사 요구 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 고객사 요구 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단이 선정된다. 예를 들어, 37인치의 단위제품의 양품 개수와 42인치의 단위제품의 양품 개수는 각각 37인치에 대한 고객사 요구 수량 및 42인치에 대한 고객사 요구 수량 이상이 되어야 한다.In this case, a plurality of fabrics are selected such that the quantity of good products of the unit product in each size is greater than or equal to the quantity required by the customer based on the quantity required for the customer and the quantity calculated for each size according to the size of the unit product. For example, the quantity of goods in units of 37 inches and the quantity of goods in units of 42 inches must be greater than or equal to the customer's requirement for 37 inches and the customer's requirement for 42 inches, respectively.
또한, 원단 선정단계에서는, 각각의 단위제품의 크기에서 단위 제품의 재고량이 최소가 되도록 원단이 선정될 수 있다. 또한, 원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정할 수 있다. 또한, 원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정될 수 있다.In addition, in the fabric selection step, the fabric may be selected so that the amount of inventory of the unit product is the minimum in the size of each unit product. In addition, in the fabric selection step, it is possible to select the fabric so that the minimum amount of inventory of the unit product in preference to the quantization rate in each size. Also, in the fabric selection step, a fabric having a high quantification rate among fabrics having a minimum inventory can be selected.
한편, 원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정될 수 있다. 예를 들어, 고객사 요구 수량, 양품 개수 및 양품화율에 따라, 제1 원단은 A제품으로 재단되고, 제2 원단은 B제품으로 재단되도록 결정될 수 있다.Meanwhile, in the fabric selection step, the size of the unit product to be cut in the selected fabric may be determined together. For example, the first fabric may be cut into the A product and the second fabric may be cut into the B product, depending on the customer's required quantity, quantity of goods, and yield rate.
또한, 양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출할 수 있다. 또한, 양품 산출단계에서 제1 크기를 갖는 단위제품과 제2 크기를 갖는 단위제품을 조합하여 재단할 경우의 제3 양품화율을 산출할 수 있다. 예를 들면, 제1 원단을 제1 크기의 A제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 A제품의 양품 개수가 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 제2 크기의 B제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율 및 B제품의 양품 개수가 산출될 수 있다. 또한, 제1 원단을 A제품과 B제품의 조합으로 재단할 경우 제3 양품화율, A제품의 양품 개수 및 B제품의 양품 개수가 산출될 수 있다.In addition, in the yield calculation step, the first yield rate when cutting the fabric into a unit product having a first size only and the second yield rate when cutting only a unit product having a second size different from the first size Each can be calculated. In addition, in the yield calculation step, a third yield ratio may be calculated when the unit product having the first size and the unit product having the second size are cut and combined. For example, when the first fabric is cut into only the A product of the first size, the first yield rate and the number of good products of the A product may be calculated. In addition, when the first fabric is cut into only the B product of the second size, the second yield rate and the number of good products of the B product may be calculated. In addition, when the first fabric is cut with a combination of A and B products, the third yield rate, the number of A products and the number of B products may be calculated.
이때, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단(제1 원단)에서 재단될 단위 제품의 크기는 제2 크기(B제품)로 결정될 수 있다.In this case, in the fabric selection step, when the second yield rate is higher than the first yield rate, the size of the unit product to be cut in the corresponding fabric (first fabric) may be determined as the second size (B product).
이와는 다르게, 원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품(A제품)의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품(B제품)의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단(제1 원단)에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정될 수 있다. 즉, 양품화율이 다소 낮더라도, 고객의 요구 수량을 맞춤과 동시에 재고량을 최소화하는 것이 더욱 중요할 수 있기 때문이다.Alternatively, in the fabric selection step, the second yield rate is higher than the first yield rate, and the inventory amount of the unit product (product A) having the first size is smaller than that of the unit product (product B) having the second size. In this case, the size of the unit product to be cut in the corresponding fabric (first fabric) may be determined as the first size. That is, even if the quantization rate is rather low, it may be more important to minimize the amount of inventory at the same time to meet the customer's required quantity.
이하, 상기와 같은 재단 제품의 생산 방법을 수행하기 위한 재단 제품의 생산 시스템을 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a production system of a cutting product for performing the production method of the cutting product as described above will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)을 나타내는 블록 구성도이다.5 is a block diagram showing a production system 100 for cutting products according to an embodiment of the present invention.
재단 제품의 생산 시스템(100)은, 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출 모드를 포함한다. 또한, 상기 재단 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함한다. 이때 원단 선정모드는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위 제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되도록 마련된다. 상기 재단 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함할 수 있다. 또한, 상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다. 전술한 바와 같이, 원단 선정 모드에서는 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정될 수 있다.The production system 100 for cutting products includes a goods production mode for calculating the number of pieces of goods and the yield rate of the unit product to be cut in each piece of fabric, based on defect information on the pieces of fabric. In addition, the production system 100 of the foundation product is one or more fabrics to ensure that the number of good products of the unit product is more than the production plan quantity based on the production plan quantity (customer required quantity) and the calculated quantity of good products for each unit product, respectively. It includes a fabric selection mode for selecting. In this case, the fabric selection mode is provided such that fabrics having a minimum inventory amount of a unit product are selected from a plurality of fabrics having a quantification rate of more than a predetermined value. The production system 100 for cutting products may further include an input unit for inputting a production plan quantity for a unit product and an output unit for displaying one or more fabrics to be cut when inputting a production plan quantity for a unit product. . In addition, the number and quantity of goods of the unit product to be cut through each fabric through the output unit may be displayed respectively. As described above, in the fabric selection mode, the fabric having the minimum amount of inventory of the unit product may be selected in preference to the yield rate.
또한, 본 발명의 또 다른 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템은 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드 및 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드를 포함한다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템은 크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량(고객사 요구 수량)이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함한다. 이때 원단 선정모드에서, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단이 선정된다. 전술한 바와 같이, 원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정된다.In addition, according to another embodiment of the present invention, the production system for cutting products is based on the defect inspection mode and defect information for inspecting defects on the fabric, when cutting each fabric by the size of the unit product, according to the size It includes a good value calculation mode for calculating the number and quantity of good quality of the unit product respectively. In addition, if the production plan quantity (customer's required quantity) for the unit product by size is inputted, the production system of the foundation product is based on the quantity of good products calculated by the size of the unit product and the production plan quantity at each size, respectively. And a fabric selection mode for selecting a plurality of fabrics such that the number of articles is equal to or greater than the production plan quantity. At this time, in the fabric selection mode, a plurality of fabrics having a yield ratio of more than a predetermined value in each size and minimizing the inventory of the unit product are selected. As described above, in the fabric selection mode, the size of the unit product to be cut in the selected fabric is determined together, and the fabric is selected so that the amount of inventory of the unit product is minimized in preference to the yield rate at each size.
도 5를 참조하면, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 양품 산출부(200) 및 재단부(300)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 제품 정보 입력부(110)와 원단 정보 입력부(120) 및 고객 요구 수량 입력부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 결점 검사부(600) 및 결점 정보 저장부(400)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, the production system 100 for cutting products may include a yield calculation unit 200 and a cutting unit 300. In addition, the production system 100 for cutting products may include a product information input unit 110, the fabric information input unit 120 and the customer required quantity input unit 130. In addition, the production system 100 for cutting products may include a defect inspection unit 600 and a defect information storage unit 400.
상기 제품 정보 입력부(110)에는 제품의 정보가 입력될 수 있다. 이때, 상기 제품의 정보는 각 제품의 크기를 포함한다. 예를 들어, 원단(10)을 임의의 n개의 제품으로 재단 시, 상기 재단되는 n개의 각 제품에 대한 크기가 제품 정보 입력부(110)에 입력된다. 여기서, n개의 제품(n ≥ 2)은 앞서 설명한 바와 같다. 일례를 들어, 상기 재단되는 제품으로서, 크기(면적 또는 인치)가 서로 동일하거나, 다른 복수 개의 스트립 제품이 있을 때, 상기 제품 정보 입력부(110)에는 각각의 스트립 제품에 대한 크기가 입력되어 저장될 수 있다. 또한, 고객 요구 수량 입력부(130)에는 크기에 따른 단위 제품의 수량이 각각 입력될 수 있다.Product information may be input to the product information input unit 110. At this time, the information of the product includes the size of each product. For example, when the fabric 10 is cut into any n products, sizes of the n products to be cut are input to the product information input unit 110. Here, n products (n ≧ 2) are as described above. For example, as the product to be cut, when there are a plurality of strip products having the same size (area or inch) or different strip products, the size for each strip product is input and stored in the product information input unit 110. Can be. In addition, the quantity required of the unit product according to the size may be input to the customer required quantity input unit 130, respectively.
원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)에 대한 원단 정보가 입력된다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 크기가 입력될 수 있다. 구체적으로, 원단 정보 입력부(120)에는 당해 원단(10)의 폭(X) 및 길이(Y) 중에서 선택된 하나 이상이 입력될 수 있다.The far-end information input unit 120 receives the far-end information about the far-end 10. The fabric information input unit 120 may input, for example, the fabric size of the fabric 10 as fabric information. In detail, at least one selected from the width X and the length Y of the fabric 10 may be input to the fabric information input unit 120.
상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 정보가 입력되어 저장된다. 상기 결점 정보는 원단(10)에 존재하는 결점(d)의 분포(위치) 및/또는 결점(d)의 종류 등을 예로 들 수 있다. 상기 결점 정보는, 예를 들어 결점 검사 장치(도시하지 않음)에 의해 검사되어 결점 정보 저장부(400)에 입력될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보는 모니터(도시하지 않음)을 통해 x-y 좌표 상으로 표시될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 분포 지도(30)와 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)가 저장될 수 있다.The defect information storage unit 400 is inputted and stored the defect information of the far-end (10). The defect information may include, for example, a distribution (position) of the defect (d) and / or the kind of the defect (d) existing in the far-end 10. For example, the defect information may be inspected by a defect inspection apparatus (not shown) and input to the defect information storage unit 400. In addition, the defect information may be displayed on the x-y coordinates through a monitor (not shown). In addition, the defect information storage unit 400 may store a defect distribution map 30 of the fabric 10 and defect distribution densities 40 and 50 according to at least one of the longitudinal and width directions of the fabric. .
상기 양품 산출부(200)는 결점 정보 저장부(400)에 저장된 결점(d) 분포에 기초하여 양품 개수 및 양품화율, 즉 결점(d)의 분포에 따른 면적 수율을 산출한다. 상기 양품 산출부(200)는 결점(d) 분포를 고려하여 재단선에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출한다.The yield calculation unit 200 calculates the area yield according to the number of defects and the yield rate, that is, the distribution of defects d, based on the distribution of defects d stored in the defect information storage unit 400. The yield calculation unit 200 calculates the number of yields and the yield rate according to the cutting line in consideration of the defect (d) distribution.
또한, 재단 시 제품의 생산 시스템(100)은 단위 제품에 대한 고객사 요구 수량을 입력하기 위한 입력부(130) 및 단위 제품에 대한 고객사 요구 수량을 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부(500)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 출력부(500)를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시될 수 있다.In addition, the production system 100 of the product at the time of cutting the input unit 130 for inputting the customer's required quantity for the unit product and the customer's required quantity for the unit product, the output unit for displaying one or more fabrics to be cut ( 500). In addition, through the output unit 500, the number and quantity of goods of the unit product to be cut through each fabric may be displayed.
예를 들어, 출력부(500)는 단위 제품의 크기(예를 들어, 인치)별 고객사 요구 수량과 양품개수 및 양품화율이 각각 표시되는 제1 표시영역과 원단 정보가 표시되는 제2 표시영역 및 원단의 선정을 위한 제3 표시영역을 포함할 수 있다.For example, the output unit 500 may include a first display area for displaying a customer's required quantity, quantity of goods, and a rate of production for each unit size (eg, inches), and a second display area for displaying fabric information, and It may include a third display area for selecting the far end.
한편, 상기 재단부(300)는 양품 산출부(200)에서 산출된 결과에 기초하여, 면적 효율 및 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선을 따라 원단(10)을 재단할 수 있다. 상기 재단부(300)는 적어도 재단 장치를 포함한다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 통상과 같이 구성될 수 있다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 원단(10)을 지지하는 지지 수단과, 원단(10)을 재단하는 재단 수단을 포함할 수 있다. 상기 지지 수단은, 예를 들어 이송 컨베이어, 롤(roll), 및 지지 플레이트 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 상기 재단 수단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및 광원(레이저 빔 조사기 등) 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 재단부(300)는 원단(10)을 길이 방향으로 슬리팅 재단하여 복수의 스트립(11)(12)(13)을 얻는 제1 재단부를 포함할 수 있다. 아울러, 상기 재단부(300)는, 상기 얻어진 복수의 스트립(11)(12)(13)을 폭 방향으로 재단하여 단위 제품을 얻는 제2 재단부를 포함할 수 있다. On the other hand, the cutting unit 300 may cut the fabric 10 along the virtual cutting line to maximize the area efficiency and yield rate, based on the result calculated by the good value calculator 200. The cutting unit 300 includes at least a cutting device. The cutting device may be configured as usual, for example. The cutting device may include, for example, support means for supporting the fabric 10 and cutting means for cutting the fabric 10. The support means may comprise one or more selected from, for example, a transfer conveyor, a roll, a support plate, and the like. The cutting means may have a structure including one or more selected from, for example, a metal knife, a jet water knife and a light source (laser beam irradiator, etc.). In addition, the cutting part 300 may include a first cutting part which slits the fabric 10 in the longitudinal direction to obtain a plurality of strips 11, 12, 13. In addition, the cutting part 300 may include a second cutting part which cuts the obtained strips 11, 12, 13 in the width direction to obtain a unit product.
여기서, 원단(10)의 결점 검사는 결점 검사부(600)를 통해 수행될 수 있다. 또한, 원단(10)의 결점 정보는 결점 정보 저장부(400)에 저장될 수 있다.Here, the defect inspection of the fabric 10 may be performed through the defect inspection unit 600. In addition, defect information of the fabric 10 may be stored in the defect information storage unit 400.
위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art having various ordinary knowledge of the present invention may make various modifications, changes, and additions within the spirit and scope of the present invention. And additions should be considered to be within the scope of the following claims.
본 발명에 따르면, 생산 계획 수량(고객사 요구 수량) 및 원단의 결점정보에 기초하여 재단 계획을 세울 수 있다. 따라서, 재고량을 최소화하고, 양품화율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, the cutting plan can be made based on the production plan quantity (customer required quantity) and defect information of the fabric. Therefore, the amount of inventory can be minimized and the yield rate can be improved.

Claims (20)

  1. 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계; 및A yield calculation step of calculating yield numbers and yield ratios of unit products to be cut in each fabric based on defect information on the fabric; And
    단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하며,A fabric selection step of selecting one or more fabrics such that the quantity of good products of the unit product is greater than or equal to the production plan quantity, respectively, based on the production plan quantity and the calculated quantity of good products for the unit product,
    원단 선정 단계에서는, 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cut product for selecting a fabric that minimizes the inventory of the unit product from a plurality of fabrics with a quantification rate of more than a predetermined value.
  2. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    원단 선정 단계에서, 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cutting product to select the fabric to minimize the inventory quantity of the unit product in preference to the yield rate.
  3. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2,
    원단 선정단계에서는 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cutting product, characterized in that the high quantitative fabric among the fabrics with the minimum inventory.
  4. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1,
    생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.Production plan quantity is a production method of the foundation product, characterized in that the quantity required by the customer.
  5. 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기 별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 단위 제품의 크기에 따른 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출단계; 및On the basis of the defect information on the fabric, when cutting each fabric by the size of the unit product, a quantity of goods calculation step of calculating the number and quantity of goods according to the size of the unit product respectively; And
    단위 제품의 크기에 따른 생산 계획 수량 및 크기 별로 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 각각의 크기에서 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정단계를 포함하며,A fabric selection step of selecting a plurality of fabrics such that the quantity of good products of each unit product is greater than or equal to the production plan quantity at each size based on the production plan quantity according to the size of the unit product and the quantity of good products calculated by each size; ,
    원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cut product for selecting a plurality of fabrics having a quantification rate of more than a predetermined value in each size, the minimum inventory of the unit product.
  6. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein
    원단 선정 단계에서는, 각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단을 선정하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cutting product to select the fabric so that the inventory of the unit product is minimized in preference to the yield rate in each size.
  7. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein
    원단 선정단계에서는, 재고량을 최소로 하는 원단 중 양품화율이 높은 원단이 선정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, a method for producing a cutting product, characterized in that the fabric of high yield rate is selected among the fabrics with the minimum inventory.
  8. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein
    원단 선정단계에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, the production method of the cut product, characterized in that the size of the unit product to be cut from the selected fabric is determined together.
  9. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8,
    양품 산출단계에서, 원단을 제1 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제1 양품화율 및 제1 크기와 다른 제2 크기를 갖는 단위제품으로만 재단할 경우의 제2 양품화율을 각각 산출함을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the yield calculation step, calculating the first yield rate when cutting the fabric into only the unit product having the first size and the second yield rate when cutting only the unit product having the second size different from the first size, respectively. Method for producing a foundation product characterized in that.
  10. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9,
    원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높은 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제2 크기로 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, when the second yield rate is higher than the first yield rate, the size of the unit product to be cut in the fabric is determined as the second size production method of the product.
  11. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9,
    원단 선정단계에서는, 제1 양품화율보다 제2 양품화율이 높고, 제1 크기를 갖는 단위 제품의 재고량이 제2 크기를 갖는 단위 제품의 재고량 보다 작게 되는 경우, 해당 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 제1 크기로 결정됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.In the fabric selection step, when the second yield rate is higher than the first yield rate and the inventory of the unit product having the first size is smaller than the inventory quantity of the unit product having the second size, the size of the unit product to be cut from the fabric A method for producing a cut product, characterized in that is determined to be the first size.
  12. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein
    생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.Production plan quantity is a production method of the foundation product, characterized in that the quantity required by the customer.
  13. 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 각각의 원단에서 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 산출하는 양품 산출 모드; 및A yield calculation mode for calculating a quantity and quantity of yield of the unit product to be cut in each fabric based on defect information on the fabric; And
    단위 제품에 대한 생산 계획 수량 및 산출된 양품 개수에 각각 기초하여, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 하나 이상의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하며,And a fabric selection mode for selecting one or more fabrics such that the quantity of good products of the unit product is greater than or equal to the production plan quantity, based on the production plan quantity and the calculated quantity of good products for the unit product, respectively.
    원단 선정모드에서는 양품화율이 소정 값 이상인 복수 개의 원단 중에서 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템.In the fabric selection mode, a production system for cutting products in which a fabric having a minimum inventory of unit products is selected among a plurality of fabrics whose yield ratio is a predetermined value or more.
  14. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13,
    단위 제품에 대한 생산 계획 수량을 입력하기 위한 입력부 및 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 재단될 하나 이상의 원단이 표시되는 출력부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템.And an input unit for inputting a production plan quantity for the unit product and an output unit for displaying one or more fabrics to be cut when the production plan quantity for the unit product is input.
  15. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13,
    상기 출력부를 통해 각각의 원단을 통해 재단될 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율이 각각 표시됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템.Production system for cutting products, characterized in that the number of quantitative and quantification rate of the unit product to be cut through each fabric through the output unit is displayed respectively.
  16. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13,
    원단 선정 모드에서는 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량을 최소로 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템.In the fabric selection mode, a production system for cutting products in which fabrics are selected that minimize the stock quantity of unit products in preference to yield rate.
  17. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13,
    생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템.Production plan quantity is the production system of the foundation product, characterized in that the quantity required by the customer.
  18. 원단 상의 결점을 검사하기 위한 결점 검사모드;A defect inspection mode for inspecting defects on the fabric;
    결점 정보에 기초하여, 단위 제품의 크기별로 각각의 원단을 재단하는 경우, 크기에 따른 단위 제품의 양품 개수 및 양품화율을 각각 산출하는 양품 산출모드; 및A good quality calculation mode for calculating the number of good products and the yield rate of each unit product according to the size, when each fabric is cut by the size of the unit product based on the defect information; And
    크기별 단위 제품에 대한 생산 계획 수량이 입력되면, 단위제품의 크기별로 산출된 양품 개수 및 생산 계획 수량에 각각 기초하여 각각의 크기에서, 단위 제품의 양품 개수가 생산 계획 수량 이상이 되도록 하는 복수 개의 원단을 선정하는 원단 선정모드를 포함하며,When the production plan quantity for a unit product by size is inputted, a plurality of fabrics in which the quantity of the product of the unit product is equal to or greater than the production plan quantity at each size based on the quantity of good products and the quantity of production plan calculated for each unit product size, respectively. Includes a fabric selection mode for selecting
    원단 선정모드에서, 각각의 크기에서 양품화율이 소정 값 이상이고, 단위제품의 재고량을 최소로 하는 복수 개의 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템.A production system for cutting products in which a plurality of fabrics are selected in which the quantity of production is equal to or greater than a predetermined value in each size, and the minimum amount of inventory of the unit product is selected.
  19. 제 18 항에 있어서,The method of claim 18,
    원단 선정모드에서는 선정된 원단에서 재단될 단위 제품의 크기가 함께 결정되고,In the fabric selection mode, the size of the unit product to be cut from the selected fabric is determined together.
    각각의 크기에서 양품화율에 우선하여 단위제품의 재고량이 최소가 되도록 하는 원단이 선정되는 재단 제품의 생산 시스템.A production system for cutting products in which fabrics are selected so that the quantity of the unit product is minimized in preference to the yield rate at each size.
  20. 제 18 항에 있어서,The method of claim 18,
    생산 계획 수량은 고객사 요구 수량인 것을 특징으로 하는 재단 제품의 생산 시스템.Production plan quantity is the production system of the foundation product, characterized in that the quantity required by the customer.
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