KR20200121972A - Manufacturing method for cut-out product and cutting system - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a manufacturing method of a cut-out product and a cutting system. According to one aspect of the present invention, the manufacturing method of a cut-out product is able to detect, in a cutting process, pattern information of some defects (faults) of introduced semi-finished products, and compare the pattern information with the pre-stored fault information of the fabric such that it is possible to match in real time the information to find precisely where the semi-finished products are processed in the whole fabric. Accordingly, the total fault information of the semi-finished products can be identified, and based on the same, the ratio of qualified products can be increased in the cutting process.

Description

재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템{Manufacturing method for cut-out product and cutting system}Production method for cut-out product and cutting system {Manufacturing method for cut-out product and cutting system}

본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것으로, 양품화율을 높일 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a production method and a cutting system of a cut product, and to a production method and a cutting system of a cut product capable of increasing the yield rate.

일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.In general, a product on a film (or sheet) is manufactured in the form of a fabric having a size larger than the size of the product to be actually used. For example, an optical member such as a polarizing plate or a retardation plate used in a display device or the like is the case. For a specific example, a polarizer supplier (manufacturer) considers various factors such as the efficiency aspect of the manufacturing process and fluctuations in demand for products, and uses a fabric having a larger length and width than the product to be actually used in manufacturing the polarizer. Manufacturing.

또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.In addition, in most cases, the fabric is manufactured in a strip shape through a continuous process, and the fabricated fabric is wound on a roll and stored. Thereafter, the fabric wound on the roll is drawn out and then cut into unit products of a predetermined size.

즉, 원단을 복수 개의 반제품으로 슬리팅 하기 위한 슬리팅 재단 및 반제품을 복수 개의 단위 제품(최종 재단제품)으로 재단하기 위한 단위 재단이 이루어진다.That is, a slitting cutting for slitting the fabric into a plurality of semi-finished products and a unit cutting for cutting the semi-finished products into a plurality of unit products (final cut products) are performed.

RTS(Roll To Sheet) 또는 RTP(Roll To Panel) 설비는 필름 가공품인 편광판 등의 제품을 재단하여 생산하는 설비로서 불량점(결점)을 포함한 롤(Roll)을 풀면서 불량점이 단위 제품(또는 재단품)에 포함되지 않도록 재단하여 롤(Roll) 단위로 한 가지 단위 제품을 생산한다. 폭 방향으로는 제품 폭에 맞게 미리 가공되어 있으며 길이 방향 사이즈를 동일하게 연속하여 재단하도록 한다. 이를 위해서 재단을 수행하는 레이저 재단장치 전방에 불량을 인식할 수 있는 카메라가 설치되어 있지만 롤의 몇 미터 구간밖에는 알 수 없다. 한편 반제품은 그 이전 공정에서 더 길게 그리고 더 큰 폭으로 만들면서 검사를 통해 이미 원단에서의 불량점의 위치와 종류를 저장하고 있다. RTS (Roll To Sheet) or RTP (Roll To Panel) equipment is a facility that cuts and produces products such as polarizing plates, which are film-processed products, and is a unit product (or cutting) while unwinding the roll including defects (defects). Product) to produce one unit product by roll unit. In the width direction, it is pre-processed to fit the width of the product, and the lengthwise size should be continuously cut equally. To this end, a camera capable of recognizing defects is installed in front of the laser cutting device that performs cutting, but only a few meters of the roll can be seen. On the other hand, semi-finished products are made longer and larger in the previous process, and the location and type of defects on the fabric are already stored through inspection.

그러나 불량을 적게 포함하는 구간으로 제품 폭에 맞게 재단하여 투입하기 때문에 재단 설비에서는 원단 전체 중에서 반제품이 원단의 어느 부분인지 인식하지 못하고 있다. 중간 과정에서 반제품의 방향이 폭 방향과 길이 방향으로 순서가 바뀔 수도 있지만 전체의 어느 부분인지 매칭이 된다면 완제품 양품화율을 높일 수 있다.However, since the section contains fewer defects and is cut to fit the width of the product, the cutting facility does not recognize which part of the fabric is the semi-finished product. In the middle process, the order of semi-finished products may change in the width and length directions, but if the whole part is matched, the quality of the finished product can be increased.

본 발명은 재단 공정에서, 투입되는 반제품의 일부 불량점(결점) 들의 패턴 정보를 검출하고, 이를 이미 저장되어 있는 원단의 결점정보와 비교함으로써 해당 반제품이 전체 원단에서 정확하게 어느 부분으로 가공된 것인지 실시간으로 매칭할 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 관한 것이다.In the cutting process, the present invention detects pattern information of some defects (defects) of an input semi-finished product, and compares this with the defect information of the already stored fabric to determine exactly which part of the entire fabric is processed in real time. It relates to the production method and cutting system of cutting products that can be matched with

상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, (a)원단의 결점정보가 수집되는 단계, (b)원단이 복수 개의 반제품으로 슬리팅(slitting) 재단되는 단계, (c)반제품의 결점정보가 이송 방향을 따라 차례로 수집되는 단계, 및 (d)수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 원단의 결점정보를 비교하여, 반제품의 전단부의 결점정보를 원단의 결점정보와 매칭시키고, 원단의 결점정보로부터 반제품의 후단부의 결점정보를 예측하는 단계, 및 (e)수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 예측된 반제품의 후단부의 결점정보를 함께 반영하여, 반제품을 복수 개의 단위 제품으로 재단하기 위한 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하는 재단제품의 제조방법이 제공된다.In order to solve the above problems, according to an aspect of the present invention, (a) the step of collecting defect information of the fabric, (b) the step of slitting the fabric into a plurality of semi-finished products, (c) semi-finished products (D) The defect information of the front end of the semi-finished product is compared with the defect information of the fabric and the defect information of the fabric is compared, and (d) the defect information of the front end of the semi-finished product is matched with the defect information of the fabric. Predicting the defect information of the rear end of the semi-finished product from the defect information of, and (e) Cutting the semi-finished product into a plurality of unit products by reflecting the collected defect information of the front end of the semi-finished product and the predicted defect information of the rear end of the semi-finished product together. There is provided a method of manufacturing a cut product comprising the step of determining a virtual cut line for.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명이 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템에 따르면, 재단 공정에서, 재단 공정에서, 투입되는 반제품의 일부 불량점(결점) 들의 패턴 정보를 검출하고, 이를 이미 저장되어 있는 원단의 결점정보와 비교함으로써 해당 반제품이 전체 원단에서 정확하게 어느 부분으로 가공된 것인지 실시간으로 매칭할 수 있고, 이에 따라 반제품의 전체 결점정보를 파악한 후, 이에 기반하여 재단 시 양품화율을 높일 수 있다.As described above, according to the method and system for producing a cut product according to an embodiment of the present invention, in the cutting process, in the cutting process, pattern information of some defects (defects) of the injected semi-finished product is detected, By comparing this with the defect information of the already stored fabric, it is possible to match in real time exactly to which part the semi-finished product has been processed in real time, and accordingly, after grasping the total defect information of the semi-finished product, based on this, the yield rate at the time of cutting Can increase.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템을 나타내는 개략도이다.
도 2는 본 발명에 따른 재단방법의 효과를 설명하기 위한 개략도이다.
도 3은 원단의 불량정보 및 반제품의 불량정보를 매칭시키는 단계를 설명하기 위한 개략도이다.
도 4는 삼각형 패턴의 매칭 과정을 설명하기 위한 개략도이다.
도 5는 삼각형 패턴의 생성 실시예를 설명하기 위한 개략도이다.1 is a schematic diagram showing a cutting system related to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram for explaining the effect of the cutting method according to the present invention.
3 is a schematic diagram for explaining the step of matching the defect information of the fabric and the defect information of the semi-finished product.
4 is a schematic diagram illustrating a process of matching a triangular pattern.
5 is a schematic diagram illustrating an example of generating a triangular pattern.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단제품의 재단방법 및 재단 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a cutting method and a cutting system for a cutting product according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.In addition, regardless of the reference numerals, the same or corresponding components are given the same or similar reference numbers, and duplicate descriptions thereof will be omitted, and the size and shape of each component member shown for convenience of explanation are exaggerated or reduced. Can be.

도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템(1)을 나타내는 개략도이고, 도 2는 본 발명에 따른 재단방법의 효과를 설명하기 위한 개략도이다.1 is a schematic diagram showing a cutting system 1 related to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the effect of the cutting method according to the present invention.

본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 시스템(1)은 반제품(3)을 이송하기 위한 이송부(40), 반제품의 결점을 검사하기 위한 결점검사부(10), 반제품(3)을 단위제품(양품)으로 재단하기 위한 재단부(30) 및 결점검사부(10), 재단부(30)를 제어하기 위한 제어부(20)를 포함한다.The cutting system 1 related to an embodiment of the present invention includes a transfer unit 40 for transferring a semi-finished product 3, a defect inspection unit 10 for checking defects in the semi-finished product, and a semi-finished product 3 as a unit product (good product). It includes a cutting unit 30 and a defect inspection unit 10 for cutting into, and a control unit 20 for controlling the cutting unit 30.

상기 이송부(40)는 복수 개의 롤(roll)을 포함할 수 있으며, 롤-투-롤 장치를 포함할 수 있다. The transfer unit 40 may include a plurality of rolls, and may include a roll-to-roll device.

또한, 본 문서에서, 재단제품의 재단방법은 재단 시스템(1)을 통해 이루어지며, 컴퓨터 프로그램과 같은 형태로 제어부(20)에 의해 수행될 수 있다. In addition, in this document, the cutting method of the cut product is performed through the cutting system 1, and may be performed by the control unit 20 in the form of a computer program.

본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단(2)"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(2)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다.In this document, the "fabric 2" to be cut is a base material on a film (or sheet), which is included here if it has a relatively larger size than before cutting. In addition, in the present invention, the type or laminated structure of the fabric 10 is not particularly limited. The fabric 2 may be selected from, for example, an optical member or a protective member on a film (or sheet) applied to an electrical or electronic product.

하나의 예시에서, 원단(2)은 편광판일 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. In one example, the fabric 2 may be a polarizing plate. In this case, the polarizing plate may have a laminated structure including a polarizer and a polarizer protective layer formed on the polarizer. The polarizer may be selected from dyed and stretched polyvinyl alcohol (PVA) films, for example. The polarizer protective layer may be selected from, for example, a triacetylcellulose (TAC) film, and may be attached to both sides of the polarizer through an adhesive. In addition, the polarizing plate may have a laminated structure further including a protective film and/or a release film formed on the polarizer protective layer.

원단(2)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(2)의 폭(도 3의 X축 방향)과 길이(도 3의 Y축 방향)는 제한되지 않는다. The fabric 2 is, for example, a strip shape, and can be taken out while being wound on a roll. The width (X-axis direction of FIG. 3) and length (Y-axis direction of FIG. 3) of the fabric 2 are not limited.

또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(2)은 결점(D)이 존재하는 영역, 및/또는 결점(D)이 존재하지 않는 영역을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(3)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다. 상기 결점(D)정보는 원단의 이송 중에 원단의 전체 결점정보가 결점검사부(예를 들어, 카메라)를 통해 얻어질 수 있다. In addition, in the present invention, the fabric 2 to be cut includes a region in which a defect (D) exists and/or a region in which the defect (D) does not exist. The defect (d) is an undesirable defect in the product, which may be formed in the manufacturing process and/or the winding process of the fabric 3. Defects include, for example, foreign matter, contamination, distortion, scratches and/or air bubbles. The defect (D) information may be obtained through the defect inspection unit (eg, a camera) of the entire defect information of the fabric during the transfer of the fabric.

한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(2)을 길이(Y축 방향) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품(3)으로 재단하는 것을 의미하여, 도 3을 참조하면, 상기 "단위 재단"은 반제품(3)을 폭 방향으로 재단하여 복수 개의 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품(3)을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 '단위 제품'이라 한다. Meanwhile, in this document, "foundation" may mean one or more selected from "slitting foundation" and "unit foundation". In addition, in the present invention, the "slitting cutting" means cutting the fabric 2 in a length (Y-axis direction) direction to cut into a strip-shaped semi-finished product 3, referring to FIG. "Unit cutting" means cutting the semi-finished product 3 in the width direction and cutting it into a plurality of unit products. At this time, in the present invention, the strip-shaped semi-finished product 3 obtained through the slitting cutting is referred to as a'strip', and the cut product obtained through the unit cutting is referred to as a'single product' or a'unit product'.

상기 결점(D)정보는 원단의 이송 중에 원단의 전체 결점정보가 결점검사부(예를 들어, 카메라)를 통해 얻어질 수 있다. 또한, 단위 재단 공정에서, 도 1에서와 같이, 반제품(3)의 결점정보가 결점검사부(10)를 통해 얻어질 수 있다.The defect (D) information may be obtained through the defect inspection unit (eg, a camera) of the entire defect information of the fabric during the transfer of the fabric. In addition, in the unit cutting process, as shown in FIG. 1, defect information of the semi-finished product 3 may be obtained through the defect inspection unit 10.

본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(2)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다. 또한, 반제품을 단위제품으로 재단하기 위한 재단 시스템(1)에서, 상기 재단부(30)는 레이저 재단장치일 수 있다.In the present invention, the cutting method is not particularly limited. As for the cutting method, it is good if the fabric 2 can be divided into at least one unit and/or strip. Cutting may be performed through, for example, a metal knife, a jet water knife, and/or a light source, and the light source may be a laser beam or the like. In addition, in the cutting system 1 for cutting semi-finished products into unit products, the cutting part 30 may be a laser cutting device.

본 문서에서, "양품화율"은 반제품(3)에서 얻어지는 단위 제품의 총면적을 반제품(3)의 총면적으로 나누어 산출될 수 있다. In this document, the "quality conversion rate" can be calculated by dividing the total area of the unit product obtained from the semi-finished product 3 by the total area of the semi-finished product 3.

또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(2)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미하고, 길이를 나타내는 "인치(inch)"는, 주지된 바와 같이 대각선 길이를 의미할 수 있다. 인치는, 예를 들어 제품이 편광판 등과 같이 사각형 단품인 경우에 대각선 길이를 의미할 수 있다.In addition, in this document, "size" means one or more selected from the width, length, area, and diagonal length of the fabric (2) or cut product (single product and/or strip), and "inch (inch) representing the length. "Can mean a diagonal length, as is well known. The inch may mean a diagonal length, for example, when the product is a single rectangular product such as a polarizing plate.

재단제품의 생산방법은 원단의 결점정보가 수집되는 단계 (a), 원단(2)이 복수 개의 반제품으로 슬리팅(slitting) 재단되는 단계 (b), 및 반제품(3)의 결점(D)정보가 이송 방향을 따라 차례로 수집되는 단계(c)를 포함한다.The production method of the cut product includes the step (a) in which the defect information of the fabric is collected, the step in which the fabric (2) is slitting and cut into a plurality of semi-finished products (b), and the defect (D) information of the semi-finished product (3). It includes a step (c) is collected sequentially along the transport direction.

또한, 재단제품의 재단방법은, 수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 원단의 결점정보를 비교하여, 반제품의 전단부의 결점정보를 원단의 결점정보와 매칭시키고, 원단의 결점정보로부터 반제품의 후단부의 결점정보를 예측하는 단계 (d), 및 수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 예측된 반제품의 후단부의 결점정보를 함께 반영하여, 반제품을 복수 개의 단위 제품으로 재단하기 위한 가상 재단선을 결정하는 단계(e)를 포함한다.In addition, the cutting method of the cut product is to compare the defect information of the front end of the semi-finished product and the defect information of the fabric to match the defect information of the front end of the semi-finished product with the defect information of the fabric, and (D) predicting the defect information, and determining a virtual cutting line for cutting the semi-finished product into a plurality of unit products by reflecting the defect information on the front end of the collected semi-finished product and the defect information on the rear end of the semi-finished product. Includes (e).

예를 들어, 도 1과 같은 재단 시스템(1)에서, 결점검사부(10)가 반제품(3)의 몇 미터 구간의 결점만을 검사하고, 이러한 결점정보에 맞추어 제어부(20)가 가상재단선을 결정하여 재단부(30)를 통해 단위제품으로 재단 시, 반제품(3) 전체의 결점정보에 대한 파악이 부족하여, 비교예와 같이 재단이 이루어지고, 이에 따라 14장의 양품이 얻어질 수 있다.For example, in the cutting system 1 as shown in FIG. 1, the defect inspection unit 10 inspects only defects in a section of several meters of the semi-finished product 3, and the control unit 20 determines the virtual cutting line according to the defect information. Therefore, when cutting into a unit product through the cutting unit 30, there is insufficient grasp of the defect information of the entire semi-finished product 3, so that cutting is performed as in the comparative example, and thus, 14 good products can be obtained.

이와는 다르게, 반제품(3)의 몇 미터 구간의 결점만을 검사한 상태에서, 반제품(3) 전체의 결점정보를 예측하게 되면, 도 2의 실시예와 같이, 1장의 양품(B)이 추가로 더 얻어질 수 있으며, 가상 재단선 결정 시, A 영역 부분에 대한 재단선을 비교예 대비 변경함으로써, 양품화율을 높일 수 있다.On the contrary, when only the defects of the semi-finished product 3 are inspected for several meters, and the defect information of the whole semi-finished product 3 is predicted, as in the embodiment of FIG. 2, one piece of good product B is additionally added. It can be obtained, and when determining the virtual cutting line, by changing the cutting line for the area A portion compared to the comparative example, it is possible to increase the quality of product quality.

또한, 도 3은 원단(2)의 불량(결점)정보 및 반제품(3)의 불량정보를 매칭시키는 단계를 설명하기 위한 개략도이고, 도 4는 삼각형 패턴의 매칭 과정을 설명하기 위한 개략도이며, 도 5는 삼각형 패턴의 생성 실시예를 설명하기 위한 개략도이다.In addition, FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the step of matching the defect (defect) information of the fabric 2 and the defect information of the semi-finished product 3, and FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a matching process of a triangular pattern. 5 is a schematic diagram for explaining an example of generating a triangular pattern.

또한, 단계 (d)에서, 반제품(3)의 전단부(도 3의 (b)의 '시작' 부분)의 결점(D)정보 수집 시, 인접하는 3개의 결점을 가상의 선으로 연결하여 삼각형(101, 102, 103)으로 인식되도록 마련될 수 있다.In addition, in step (d), when collecting information on the defect (D) of the front end of the semi-finished product 3 (the'start' portion of Fig. 3 (b)), the three adjacent defects are connected with a virtual line to form a triangle It can be provided to be recognized as (101, 102, 103).

또한, 도 3 및 도 5의 (b)를 참조하면, 단계 (d)에서, 반제품(3)의 이송방향(y축 방향)을 따라 연속하여 배치된 2개의 삼각형(101, 102)에서 하나의 결점을 꼭지점으로 공유하도록 삼각형들이 인식될 수도 있다. In addition, referring to FIGS. 3 and 5(b), in step (d), one of two triangles 101 and 102 successively arranged along the conveying direction (y-axis direction) of the semi-finished product 3 Triangles may be recognized to share a flaw as a vertex.

이와는 다르게, 도 5의 (a)를 참조하면, 단계 (d)에서, 이송방향을 따라 차례로 인식되는 삼각형들이 적어도 하나의 결점도 공유하지 않도록 인식될 수도 있다. Alternatively, referring to FIG. 5A, in step (d), triangles that are sequentially recognized along the transport direction may be recognized so as not to share at least one defect.

이와는 다르게, 도 5의 (c)를 참조하면, 단계 (d)에서, 반제품(3)의 이송방향(y축 방향)을 따라 연속하여 배치된 2개의 삼각형에서 2개 이상의 결점을 공통 꼭지점으로 공유하도록 삼각형들이 인식될 수도 있다. In contrast, referring to (c) of FIG. 5, in step (d), two or more defects are shared as a common vertex in two triangles successively arranged along the conveying direction (y-axis direction) of the semi-finished product 3 Triangles may be recognized so that.

또한, 단계 (d)에서, 반제품(3)에서 수집된 이송 방향(y축 방향, L)에 따른 삼각형 배열(101, 102, 103)을 원단(2)의 결점정보에 대응시킴으로써, 원단(2)의 결점정보로부터 반제품의 후단부의 결점정보를 수집할 수 있다. In addition, in step (d), by matching the triangular arrays 101, 102, 103 according to the conveying direction (y-axis direction, L) collected in the semi-finished product 3 to the defect information of the fabric 2, the fabric 2 The defect information of the rear end of the semi-finished product can be collected from the defect information of ).

이때, 삼각형 매칭 시, 원단 상의 좌표('원단의 원점 2a에 대한 좌표'를 의미) 및 반제품 상의 좌표('반제품의 원점 104에 대한 좌표'를 의미)의 편차(약 ±10mm)를 고려할 수 있다. 또한, 반제품으로 재단 후 다시 롤로 권취되는 과정에서, 권취 방식에 따라, 길이방향(Y축 방향), 및/또는 폭 방향(X축 방향)에 따라 반전이 이루어질 수 있으므로, X좌표와 Y좌표의 반전 인식이 필요할 수 있다. 이러한 방식을 통해, 반제품(3)에서 인식된 연속하는 삼각형 배열(101, 102, 103)을 원단(2) 상의 결점 분포에 따른 삼각형 배열에 매칭시킴으로써, 해당 반제품(3)이 원단(2)의 어느 위치의 영역에 해당하는 것인지 확인할 수 있고, 반제품(3) 전체의 결점 정보를 원단의 결점정보로부터 매칭시킴으로써, 결점검사부를 통해 아직 검출되지 않은 반제품(3)의 나머지 영역에 대한 결점정보를 예측할 수 있다.At this time, when triangle matching, the deviation (about ±10mm) of the coordinates on the fabric (means'coordinates to the origin 2a of the fabric') and the coordinates on the semi-finished product (means'coordinates to the origin 104 of the semi-finished product') can be considered. . In addition, in the process of being wound into a roll after cutting into a semi-finished product, depending on the winding method, inversion may be performed in the longitudinal direction (Y-axis direction) and/or the width direction (X-axis direction), so that the X and Y coordinates Reversal awareness may be necessary. In this way, by matching the continuous triangular arrays 101, 102, 103 recognized in the semi-finished product 3 with the triangular array according to the defect distribution on the fabric 2, the semi-finished product 3 is It is possible to check the location of the area, and by matching the defect information of the entire semi-finished product (3) from the defect information of the fabric, it is possible to predict the defect information of the remaining areas of the semi-finished product (3) that has not yet been detected through the defect inspection unit. I can.

도 4의 (a)를 참조하면, 삼각형 배열 대응 시, 세변의 길이가 동일할 때, 반제품에서 인식된 삼각형과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형이 동일한 것으로 인식될 수 있다. Referring to FIG. 4A, when the triangle arrangement corresponds, when the lengths of the three sides are the same, it may be recognized that the triangle recognized in the semi-finished product and the triangle recognized in the defect information of the fabric are the same.

또한, 도 4의 (a)를 참조하면, 반제품에서 인식된 삼각형 및 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형 비교 시, 원단의 길이방향 및 폭방향 중 적어도 하나의 방향을 따라 대칭된 모양일 때, 동일한 삼각형으로 인식될 수 있다. 즉, 110번 부호의 삼각형은 111(x축 반전), 112(y축 반전), 113번(x축, y축 모두 반전) 부호의 삼각형과 동일한 삼각형으로 인식되지만, 114번 부호의 삼각형과는 동일한 삼각형으로 인식되지 않는다.In addition, referring to Figure 4 (a), when comparing the triangle recognized in the semi-finished product and the triangle recognized in the defect information of the fabric, when the shape is symmetrical along at least one of the length direction and the width direction of the fabric, the same It can be recognized as a triangle. That is, the triangle of sign 110 is recognized as the same triangle as the triangle of 111 (inverted x-axis), 112 (inverted y-axis), and 113 (inverted both x- and y-axis), but is different from the triangle of 114 It is not recognized as the same triangle.

또한, 도 4의 (b)를 참조하면, 반제품의 삼각형 배열 및 원단의 삼각형 배열을 대응 시, 인접하는 2개의 삼각형 간의 거리가 동일할 때, 반제품에서 인식된 삼각형들과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형들이 동일한 것으로 인식될 수 있다. In addition, referring to Fig. 4(b), when corresponding to the triangle arrangement of the semi-finished product and the triangle arrangement of the fabric, when the distance between two adjacent triangles is the same, the triangles recognized in the semi-finished product and the defect information of the fabric are recognized. The formed triangles can be recognized as identical.

또한, 도 4의 (b)를 참조하면, 반제품에서 인식된 삼각형 배열과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형 배열 비교 시, 원단의 길이방향 및 폭방향 중 적어도 하나의 방향을 따라 대칭된 모양일 때, 동일한 삼각형 배열로 인식될 수 있다. 즉, 120번 부호의 삼각형은 121(y축 반전), 122(x축 반전), 124번(x축, y축 모두 반전) 부호의 삼각형과 동일한 삼각형으로 인식되지만, 123번 부호의 삼각형과는 동일한 삼각형으로 인식되지 않는다.In addition, referring to Figure 4 (b), when comparing the triangle arrangement recognized in the semi-finished product with the triangle arrangement recognized in the defect information of the fabric, when the shape is symmetrical along at least one of the length direction and the width direction of the fabric , Can be recognized as the same triangular arrangement. In other words, the triangle of sign 120 is recognized as the same triangle as the triangle of sign 121 (inverted y-axis), 122 (inverted x-axis), and 124 (inverted both x-axis and y-axis), but is different from the triangle of sign 123 It is not recognized as the same triangle.

또한, 도 2의 (b)를 참조하면, 단계 (e)에서, 반제품에서 재단되는 단위제품의 양품화율이 최대가 되도록 복수 개의 단위 제품 간의 간격이 조절될 수 있다. 즉, 전체 반제품(3)의 결점분포를 고려하여, 양품의 개수가 최대로 하는 가상 재단선이 결정될 수 있다.Further, referring to (b) of FIG. 2, in step (e), the interval between the plurality of unit products may be adjusted so that the rate of quality of the unit product cut from the semi-finished product is maximized. That is, in consideration of the defect distribution of the entire semi-finished product 3, a virtual cutting line in which the number of good products is maximized may be determined.

위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.Preferred embodiments of the present invention described above are disclosed for the purpose of illustration, and those skilled in the art who have ordinary knowledge of the present invention will be able to make various modifications, changes, and additions within the spirit and scope of the present invention. And additions will be seen as falling within the scope of the following claims.

1: 재단 시스템
2: 원단
3: 반제품
10: 결점검사부
20: 제어부
30: 재단부
40: 이송부1: Foundation system
2: fabric
3: semi-finished products
10: defect inspection unit
20: control unit
30: Foundation
40: transfer unit

Claims (10)

(a)원단의 결점정보가 수집되는 단계;
(b)원단이 복수 개의 반제품으로 슬리팅(slitting) 재단되는 단계;
(c)반제품의 결점정보가 이송 방향을 따라 차례로 수집되는 단계; 및
(d)수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 원단의 결점정보를 비교하여, 반제품의 전단부의 결점정보를 원단의 결점정보와 매칭시키고, 원단의 결점정보로부터 반제품의 후단부의 결점정보를 예측하는 단계; 및
(e)수집된 반제품의 전단부의 결점정보 및 예측된 반제품의 후단부의 결점정보를 함께 반영하여, 반제품을 복수 개의 단위 제품으로 재단하기 위한 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하는 재단제품의 제조방법.(a) collecting defect information of the fabric;
(b) slitting the fabric into a plurality of semi-finished products;
(c) sequentially collecting defect information of the semi-finished product along the conveying direction; And
(d) Comparing the defect information of the front end of the semi-finished product and the defect information of the fabric, matching the defect information of the front end of the semi-finished product with the defect information of the fabric, and predicting the defect information of the rear end of the semi-finished product from the defect information of the fabric ; And
(e) A method of manufacturing a cut product comprising the step of determining a virtual cutting line for cutting the semi-finished product into a plurality of unit products by reflecting the defect information of the front end of the semi-finished product and the defect information of the predicted semi-finished product together . 제 1 항에 있어서,
단계 (d)에서, 반제품의 전단부의 결점정보 수집 시, 인접하는 3개의 결점을 가상의 선으로 연결하여 삼각형으로 인식되도록 마련된 재단 제품의 제조방법. The method of claim 1,
In step (d), when collecting defect information on the front end of the semi-finished product, a method for manufacturing a cut product is arranged to be recognized as a triangle by connecting three adjacent defects with a virtual line. 제 2 항에 있어서,
단계 (d)에서, 반제품의 이송방향을 따라 연속하여 배치된 2개의 삼각형에서 하나의 결점을 꼭지점으로 공유하도록 삼각형들이 인식되는, 재단 제품의 제조방법.The method of claim 2,
In step (d), a method of manufacturing a cut product, in which triangles are recognized so as to share one defect as a vertex in two triangles successively arranged along the conveying direction of the semi-finished product. 제 2 항에 있어서,
단계 (d)에서, 이송방향을 따라 차례로 인식되는 삼각형들이 적어도 하나의 결점도 공유하지 않도록 인식되는, 재단 제품의 제조방법. The method of claim 2,
In step (d), triangles recognized in sequence along the conveying direction are recognized so as not to share at least one defect. 제 2 항에 있어서,
단계 (d)에서, 반제품에서 수집된 이송 방향에 따른 삼각형 배열을 원단의 결점정보에 대응시킴으로써, 원단의 결점정보로부터 반제품의 후단부의 결점정보를 수집하는, 재단 제품의 제조방법.The method of claim 2,
In step (d), by matching the triangular arrangement according to the conveying direction collected from the semi-finished product to the defect information of the fabric, the defect information of the rear end of the semi-finished product is collected from the defect information of the fabric. 제 5 항에 있어서,
삼각형 배열 대응 시, 세변의 길이가 동일할 때, 반제품에서 인식된 삼각형과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형이 동일한 것으로 인식되는 재단 제품의 제조방법.The method of claim 5,
A method of manufacturing a cut product in which the triangle recognized in the semi-finished product and the triangle recognized in the defect information of the fabric are recognized as the same when the triangle array corresponds to the same length of the three sides. 제 6 항에 있어서,
반제품에서 인식된 삼각형 및 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형 비교 시, 원단의 길이방향 및 폭방향 중 적어도 하나의 방향을 따라 대칭된 모양일 때, 동일한 삼각형으로 인식되는 재단 제품의 제조방법.The method of claim 6,
When comparing the triangle recognized in the semi-finished product and the triangle recognized in the defect information of the fabric, when the shape is symmetrical along at least one of the length and width directions of the fabric, it is recognized as the same triangle. 제 5 항에 있어서,
반제품의 삼각형 배열 및 원단의 삼각형 배열을 대응 시, 인접하는 2개의 삼각형 간의 거리가 동일할 때, 반제품에서 인식된 삼각형들과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형들이 동일한 것으로 인식되는 재단제품의 제조방법.The method of claim 5,
When matching the triangular arrangement of the semi-finished product and the triangular arrangement of the fabric, when the distance between two adjacent triangles is the same, the triangles recognized in the semi-finished product and the triangles recognized in the defect information of the fabric are recognized as the same . 제 7 항에 있어서,
반제품에서 인식된 삼각형 배열과 원단의 결점정보에서 인식된 삼각형 배열 비교 시, 원단의 길이방향 및 폭방향 중 적어도 하나의 방향을 따라 대칭된 모양일 때, 동일한 삼각형 배열로 인식되는 재단 제품의 제조방법.The method of claim 7,
When comparing the triangle arrangement recognized in the semi-finished product with the triangle arrangement recognized in the defect information of the fabric, when the shape is symmetrical along at least one of the length and width directions of the fabric, it is recognized as the same triangular arrangement. . 제 1 항에 있어서,
단계 (e)에서, 반제품에서 재단되는 단위제품의 양품화율이 최대가 되도록 복수 개의 단위 제품 간의 간격이 조절되는 재단제품의 제조방법.The method of claim 1,
In step (e), a method of manufacturing a cut product in which the interval between a plurality of unit products is adjusted so that the yield rate of the unit product cut from the semi-finished product is maximized.
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