WO2015174412A1 - ペリクル枠、ペリクル、枠部材、露光原版、露光装置、及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

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WO2015174412A1
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pellicle
frame member
frame
original plate
exposure
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PCT/JP2015/063633
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French (fr)
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高村 一夫
陽介 小野
大樹 種市
泰之 佐藤
俊明 廣田
Original Assignee
三井化学株式会社
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • G03F1/64Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor

Definitions

  • the present invention relates to a pellicle frame, a pellicle, a frame member, an exposure original plate, an exposure apparatus, and a method for manufacturing a semiconductor device.
  • EUV light has the property of being easily absorbed by any substance. Therefore, in photolithography using EUV light as exposure light (hereinafter also referred to as “EUV lithography”), exposure is performed using a reflective optical system. Specifically, the EUV light is reflected by the original plate reflecting the exposure pattern, and the resist is exposed by the EUV light as reflected light. At this time, if a foreign substance adheres to the original, the EUV light is absorbed by the foreign substance or the EUV light is scattered, so that a desired pattern may not be exposed. Thus, it has been studied to protect the EUV light irradiation surface of the original plate with a pellicle.
  • the configuration of the pellicle has a pellicle film for protecting the EUV light irradiation surface of the original and a pellicle frame that supports the pellicle film.
  • the pellicle film used in EUV lithography is required to have high transparency to EUV light and not to be decomposed or deformed by irradiation with EUV light.
  • a silicon crystal film such as a single crystal silicon film (for example, see References 1 and 2), an aluminum nitride film (see, for example, Reference 3) laminated on a metal mesh, a graphene film ( For example, refer to Document 4).
  • Literature 1 JP 2010-256434 A Literature 2: JP 2009-116284 A Literature 3: JP 2005-43895 A Literature 4: International Publication No. 2011/160861 Pamphlet
  • a pellicle provided with a pellicle frame and a pellicle film may be used by being arranged in a decompressed exposure apparatus.
  • an exposure original plate that includes a pellicle and an original plate is disposed in an area of the exposure apparatus that is decompressed to, for example, 100 Pa or less (preferably 10 Pa or less).
  • the pellicle pellicle frame
  • the function of the flow path is the pressure between the area surrounded by the pellicle frame (hereinafter also referred to as “inside the pellicle”) and the area outside the pellicle frame (hereinafter also referred to as “outside the pellicle”). It is to adjust (vent).
  • the function of the flow path in this case is to capture foreign matter in the exposure apparatus (for example, on the original plate).
  • foreign matter in the exposure apparatus include scattered particles (debris) generated by an EUV light source, and foreign particles mixed in the gas that moves back and forth between the pellicle and the outside of the pellicle when the exposure apparatus is depressurized or pressurized.
  • the flow path that penetrates the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame may have both a ventilation function and a foreign matter capturing function.
  • the processing (formation) may be difficult.
  • the shape of the flow path may be a shape having a bent portion (for example, a bent portion and a curved portion), a branched portion, and the like.
  • the more complicated the shape of the flow path the more difficult it is to process (form) the flow path.
  • the processing (formation) of the flow path tends to be difficult.
  • an object of the present invention is to provide a pellicle frame excellent in processability (ease of processing) when forming a flow path penetrating between an outer peripheral surface and an inner peripheral surface of the pellicle frame by processing, and the pellicle frame
  • a pellicle frame including a first frame member and a second frame member arranged so that one end faces in the thickness direction face each other, At least one of an end surface of the first frame member facing the second frame member and an end surface of the second frame member facing the first frame member has a recess that communicates with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame.
  • the pellicle frame wherein the shape of the recess viewed from a direction perpendicular to the end surface provided with the recess is a groove shape having at least one of a bent portion and a branch portion.
  • ⁇ 3> The pellicle frame according to ⁇ 2>, wherein a flow path penetrating between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame is formed by at least the concave portion and a part of the adhesive layer.
  • ⁇ 4> The pellicle frame according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 3>, wherein a total number of the bent portion and the branch portion in the concave portion is 6 or more.
  • ⁇ 5> Any one of ⁇ 1> to ⁇ 5>, wherein the shape of the recess viewed from a direction perpendicular to the end surface provided with the recess is a groove shape extending over at least three sides of the pellicle frame.
  • At least one of the first frame member and the second frame member is A groove provided on at least one of the end faces in the thickness direction and not connected to the recess; A through hole penetrating between the outer peripheral surface and the wall surface of the groove;
  • ⁇ 7> The pellicle frame according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 6>, A pellicle film supported on an end surface side of the first frame member not facing the second frame member, or an end surface side of the second frame member not facing the first frame member; A pellicle.
  • a frame member for a pellicle frame At least one end surface in the thickness direction has a recess that communicates with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface,
  • a frame member in which the shape of the concave portion viewed from a direction perpendicular to the end surface provided with the concave portion is a groove shape having at least one of a bent portion and a branch portion.
  • ⁇ 10> The pellicle according to ⁇ 7>, An original plate disposed on the opposite side of the pellicle film from the pellicle frame; An exposure original plate.
  • An exposure apparatus comprising the exposure original plate described in ⁇ 10>.
  • ⁇ 12> a light source that emits exposure light;
  • Have The exposure original plate is arranged such that exposure light emitted from the light source passes through the pellicle film and is irradiated onto the original plate.
  • ⁇ 14> exposing the exposure light emitted from the light source through the pellicle film of the exposure original plate according to ⁇ 10>, irradiating the original plate, and reflecting the original plate; Exposing the sensitive substrate in a pattern by irradiating the sensitive substrate with the exposure light reflected by the original plate through the pellicle film; and A method for manufacturing a semiconductor device, comprising: ⁇ 15> The method for manufacturing a semiconductor device according to ⁇ 14>, wherein the exposure light is EUV light.
  • the pellicle frame excellent in workability (ease of processing) when forming a flow path penetrating between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame by processing, and the pellicle frame are provided.
  • a pellicle, a frame member suitable as a member of the pellicle frame, an exposure original plate including the pellicle, an exposure apparatus using the exposure original plate, and a method of manufacturing a semiconductor device are provided.
  • FIG. 6 is an exploded view showing an end surface of the first frame member facing the second frame member and an end surface of the second frame member facing the first frame member in the pellicle frame according to an example of the present embodiment.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line AA in FIG. 1. It is a fragmentary sectional view of the pellicle frame concerning the modification of this embodiment. It is a fragmentary sectional view of the pellicle frame concerning the modification of this embodiment.
  • the pellicle frame of the present embodiment is a pellicle frame including a first frame member and a second frame member arranged so that one end surfaces in the thickness direction face each other, and the second frame of the first frame member. At least one of the end surface facing the frame member and the end surface of the second frame member facing the first frame member has a recess communicating with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame, and the recess is provided.
  • the shape of the concave portion viewed from a direction perpendicular to the end face is a groove shape having at least one of a bent portion and a branched portion.
  • the outer peripheral surface of the pellicle frame is formed by the outer peripheral surface of the first frame member and the outer peripheral surface of the second frame member.
  • the inner peripheral surface of the pellicle frame is formed by the inner peripheral surface of the first frame member and the inner peripheral surface of the second frame member.
  • the pellicle frame of the present embodiment may include other members (for example, an adhesive layer described later) other than the first frame member and the second frame member. Further, the pellicle frame of the present embodiment may have only one concave portion or two or more concave portions. In the following description, the end face in the thickness direction of the frame member may be simply referred to as “end face of the frame member”.
  • the recess includes a flow path that penetrates between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame (for example, together with a frame member facing the recess, an adhesive layer described later, and the like).
  • the pellicle frame of the present embodiment has a recess communicating with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the first frame member on the end surface of the first frame member facing the second frame member, and The end surface of the second frame member facing the first frame member satisfies at least one of having a recess communicating with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the second frame member, and the pellicle is formed by at least the recess.
  • a flow path penetrating between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the frame is formed. That is, in the pellicle frame of this embodiment, the flow path is not formed as a through-hole penetrating the frame member, but is formed by processing a recess in the end surface of the frame member. The processing of the concave portion on the end surface of the frame member is easier than the processing of the through hole penetrating the frame member. Therefore, the pellicle frame of this embodiment is excellent in workability (ease of processing) when forming a flow path that penetrates between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame by processing.
  • the recess can be processed by a known method such as etching (dry etching, wet etching, etc.) or grinding.
  • the function of the flow path is not particularly limited.
  • the function of adjusting pressure (venting) between the region surrounded by the pellicle frame and the region outside the pellicle frame (hereinafter also referred to as “venting function”). ), A function of capturing foreign matter in the exposure apparatus (hereinafter also referred to as “foreign matter capturing function”), and the like.
  • the flow path may have two or more functions. Further, when the pellicle frame has two or more of the flow paths, each flow path may have a different function.
  • the shape of the concave portion viewed from a direction perpendicular to the end surface provided with the concave portion is a groove shape having at least one of a bent portion and a branch portion.
  • bent portion examples include a bent portion and a curved portion.
  • the shape of the concave portion is preferably a groove shape having at least one of a bent portion, a branch portion, and a curved portion.
  • the “bent portion” refers to a bent portion that leads to a straight portion (for example, bent portions 113, 114, 115, 116, 117, and 118 in FIG. 2 described later).
  • the “bent part” can also be called a “corner part”.
  • the “curved portion” refers to a bent portion that does not communicate with the straight portion.
  • the pellicle frame of the present embodiment further includes an adhesive layer that bonds the first frame member and the second frame member. Thereby, the 1st frame member and the 2nd frame member are fixed firmly.
  • the adhesive layer includes an adhesive.
  • Adhesives include acrylic resin adhesives, epoxy resin adhesives, polyimide resin adhesives, silicone resin adhesives, inorganic adhesives, double-sided adhesive tapes, silicone resin adhesives, acrylic adhesives, polyolefin adhesives, etc. Is mentioned. Among these, acrylic resin adhesives, epoxy resin adhesives, polyimide resin adhesives, silicone resin adhesives, and inorganic adhesives are preferable.
  • a flow path that penetrates between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame is formed by at least the concave portion and a part of the adhesive layer.
  • foreign substances can be effectively captured by a part of the adhesive layer constituting a part of the flow path. That is, the foreign matter capturing performance in the flow path is further improved.
  • the total number of bent portions and branch portions in the concave portion is preferably 6 or more.
  • This aspect is not necessarily limited to the concave portion having both the bent portion and the branched portion.
  • the total number of the bent portions is preferably 6 or more.
  • a groove for example, described later
  • the total number of bent portions can be 6.
  • the pellicle frame of the present embodiment preferably has an aspect in which the shape of the recess viewed from a direction perpendicular to the end surface provided with the recess is a groove shape extending over at least three sides of the pellicle frame. That is, the pellicle frame of the present embodiment extends on at least three sides of the first frame member on the end surface of the first frame member facing the second frame member, and one end is on the outer peripheral surface of the first frame member. The other end has a recess that communicates with the inner peripheral surface of the first frame member, and the end surface of the second frame member that faces the first frame member extends over at least three sides of the second frame member.
  • the channel length of the channel formed by the recess can be increased, the foreign matter capturing performance in the channel is further improved.
  • a recess 112 in the second frame member 200 described later
  • a recess 32 in the first frame member 102 described later
  • a recess 142 in the second frame member 206 described later. And the like.
  • the pellicle frame of the present embodiment at least one of the first frame member and the second frame member is provided on at least one of the end surfaces in the thickness direction, the groove not connected to the recess, the outer peripheral surface, and the above It is preferable to have a through hole penetrating between the wall surfaces of the groove.
  • the pellicle frame of the present embodiment has the groove and the through hole, at least one of the first frame member and the second frame member (hereinafter also referred to as “specific frame member”) and another member (for example, , Pellicle film, other frame member, original plate, etc.) can be fixed without contacting the front and back surfaces of each of the specific frame member and other members.
  • the said through-hole has penetrated between a part of outer peripheral surface of a specific frame member, and a part of wall surface (a side surface or a bottom face.
  • the following is same) of the said groove
  • the end surface of the specific frame member provided with the groove and the other member (for example, a pellicle film, another frame member, or an original plate) are arranged to face each other through the through hole.
  • a pressing force can be exerted between the specific frame member and the other member.
  • both can be fixed, without contacting the front and back of a specific frame member and another member (by an apparatus, a jig
  • the pellicle frame of the present embodiment has the groove and the through hole, the front and back surfaces of the specific frame member and the other member are brought into contact when the specific frame member and the other member are fixed. There is an effect that both can be fixed.
  • the “force for pressing” is synonymous with the force for attracting each other.
  • front surface refers to one end surface in the thickness direction (hereinafter also referred to as “one end surface”)
  • rear surface refers to the other end surface in the thickness direction (hereinafter referred to as “ It is also referred to as “the other end face”.
  • front surface and back surface refer to one film surface and the other film surface.
  • front surface refers to the light irradiation surface
  • rear surface refers to the surface opposite to the light irradiation surface.
  • the pellicle film has a property that it is very easily broken. For this reason, careful handling is required for handling the pellicle membrane.
  • a pellicle film containing an inorganic material for example, described in JP 2010-256434 A, JP 2009-116284 A, JP 2005-43895 A, or International Publication No. 2011/160861 pamphlet.
  • the pellicle film is not only a film that is easily torn and difficult to be self-supporting, but also causes mechanical scratches and dust generation.
  • self-supporting indicates that the film shape can be maintained independently.
  • the present inventors have fixed the specific frame member and other members (for example, a pellicle film, another frame member, an original plate, etc.) on the front and back surfaces of the specific frame member and the other members. Were examined for a method of fixing them so as not to contact each other by an apparatus, a jig, a hand or the like. The present inventors have found that such a method can be realized when the pellicle frame of the present embodiment has the groove and the through hole.
  • the pellicle frame of the present embodiment has the groove and the through hole, it is possible to prevent foreign matter from adhering to the specific frame member and the other member by contacting the specific frame member and the other member.
  • the pellicle film can be prevented from being broken due to contact with the pellicle film.
  • the pellicle frame of the present embodiment is a pellicle for lithography using exposure light having a short wavelength (for example, EUV light, light having a shorter wavelength than EUV light, etc.), and particularly an inorganic pellicle. It is suitable for manufacturing a pellicle provided with a pellicle film containing a material.
  • EUV (Extreme Ultra Violet) light refers to light having a wavelength of 5 nm to 30 nm.
  • the wavelength of EUV light is preferably 5 nm to 13.5 nm.
  • EUV light and light having a shorter wavelength than EUV light are collectively referred to as “EUV light or the like”.
  • a more preferable aspect in the case where the pellicle frame of the present embodiment has the groove and the through hole is an aspect in which the specific frame member has the groove on both one end face and the other end face in the thickness direction. Since the specific frame member of this aspect has the above-described pressure reducing groove on both the one end surface and the other end surface, the selection range of the surface for fixing the pellicle film, the other frame member, or the original plate is wide. Have advantages. Further, in the pellicle frame of this aspect, a pellicle film or other frame member (or original plate) is arranged on one end surface of the specific frame member, and an original plate (or pellicle film or other frame member) is arranged on the other end surface. This is suitable for producing an exposure original plate. In the production of the exposure original plate, the pellicle can be produced without contacting the specific frame member and the pellicle film, and the exposure original plate can be produced without contacting the pellicle and the original plate.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view of a pellicle frame 300 according to an example of the pellicle frame of the present embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view of a pellicle frame 300 according to an example of the pellicle frame of the present embodiment.
  • FIG. 2 is an exploded view showing the end surface of the pellicle frame 300 facing the second frame member of the first frame member and the end surface of the second frame member facing the first frame member.
  • illustration of the adhesive layer is omitted.
  • 3 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.
  • FIG. 6 is a schematic perspective view of a first frame member, which is one of the constituent members of the pellicle frame 300, as viewed from a direction in which an end surface that does not face the second frame member can be observed.
  • the pellicle frame 300 includes a rectangular first frame member 100 and a rectangular second frame member 200.
  • the first frame member 100 and the second frame member 200 include an end surface 10 that is one end surface in the thickness direction of the first frame member 100 and an end surface 110 that is one end surface in the thickness direction of the second frame member 200.
  • the first frame member 100 and the second frame member 200 have respective inner peripheral surfaces (inner peripheral surface 40, inner peripheral surface 140) and respective outer peripheral surfaces (outer peripheral surface 30).
  • the outer peripheral surfaces 130) are arranged so as to overlap.
  • the pellicle frame 300 which is an integral frame member is formed.
  • the outer peripheral surface of the pellicle frame 300 is formed by the outer peripheral surface 30 of the first frame member 100 and the outer peripheral surface 130 of the second frame member 200.
  • the inner peripheral surface of the pellicle frame 300 is formed by the inner peripheral surface 40 of the first frame member 100 and the inner peripheral surface 140 of the second frame member 200.
  • first frame member 100 and the second frame member 200 are rectangular as described above, but the shapes of the first frame member and the second frame member of the present embodiment are not limited to rectangular shapes, and are rectangular. It may be a shape other than the shape (for example, a trapezoidal shape, a shape having a protrusion on the outer side of the frame, etc.).
  • a groove-shaped recess 112 is provided on the end surface 110 of the second frame member 200.
  • the recess 112 communicates with the outer peripheral surface 130 and the inner peripheral surface 140 of the second frame member 200. That is, the recess 112 penetrates between the outer peripheral surface 130 and the inner peripheral surface 140 of the second frame member 200.
  • the shape of the concave portion 112 is such that when viewed from a direction perpendicular to the end surface 110, the outer peripheral surface 130 of one specific side of the four sides of the second frame member 200 is a starting point and passes through the other three sides. Then, the shape returns to the specific side, and the inner peripheral surface 140 of the specific side is the end point.
  • the recess 112 extends over at least three sides (substantially four sides) of the four sides of the second frame member 200, one end thereof communicates with the outer peripheral surface 130, and the other end communicates with the inner peripheral surface 140. Since the concave portion 112 has the above shape, it has six bent portions, specifically six bent portions (bent portions 113, 114, 115, 116, 117, 118). The shape of the recess in this embodiment is not limited to the shape of the recess 112. A modification of the recess will be described later.
  • a groove 12 is provided on the end face 10 of the first frame member 100.
  • the groove 12 of the first frame member 100 and the recess 112 of the second frame member 200 are provided so as not to be connected to each other (particularly, see FIGS. 2 and 3). That is, the groove 12 and the recess 112 are provided in an arrangement that does not overlap each other when viewed from the thickness direction of the first frame member 100 and the second frame member 200 (hereinafter also simply referred to as “thickness direction”). . More specifically, in the pellicle frame 300, the groove 12 is disposed outside the recess 112.
  • the groove 12 has a shape that makes one round over the four sides of the first frame member 100 when viewed from the thickness direction, but it is not a shape that makes a full circle, and has ends 16 and 17. It has a shape.
  • the arrangement of the groove 12 and the recess 112 as viewed from the thickness direction is such that a part of the recess 112 passes between the end 16 and the end 17 of the groove 12.
  • the first frame member 100 has a through hole 14A and a through hole 14B.
  • the through hole 14 ⁇ / b> A and the through hole 14 ⁇ / b> B penetrate between the bottom surface of the groove 12 and the outer peripheral surface 30 of the first frame member 100.
  • each of the through holes 14 ⁇ / b> A and 14 ⁇ / b> B may penetrate between the side surface of the groove 12 and the outer peripheral surface 30. Further, either one of the through holes 14A and 14B may be omitted. That is, in the first frame member 100, two through holes (through holes 14A and 14B) are connected to one groove (for example, the groove 12), but the present embodiment is not limited to this aspect. In the present embodiment, it is sufficient that at least one through hole is connected to one groove (for example, the groove 12). In the present embodiment, two or more grooves connected to at least one through hole may be provided per one end surface.
  • a groove 22 is provided on the end surface 20 opposite to the end surface 10.
  • the shape of the groove 22 is an endless shape that goes around the shape of the first frame member 100.
  • the first frame member 100 has a through hole 24A and a through hole 24B.
  • the through hole 24 ⁇ / b> A and the through hole 24 ⁇ / b> B penetrate between the bottom surface of the groove 22 and the outer peripheral surface 30.
  • the variations of the through holes 24A and 24B are the same as the variations of the through holes 14A and 14B.
  • the adhesive layer 160 is provided in a region other than the groove 12 on the end surface 10 of the first frame member 100.
  • the recess 112 and a part of the adhesive layer 160 provide a gap between the inner peripheral surface and the outer peripheral surface of the pellicle frame 300.
  • a flow path that penetrates is formed. This flow path has a function (venting function) for adjusting pressure (venting function) between a region surrounded by the pellicle frame 300 and a region outside the pellicle frame, and a function for capturing foreign objects in the exposure apparatus (foreign matter).
  • the adhesive layer 160 is formed on the first frame member 100 side (not on the second frame member 200 side).
  • a method of forming and then bonding the first frame member 100 on which the adhesive layer 160 is formed and the second frame member 200 is preferable.
  • the adhesive layer 160 may be provided in a region other than the recess 112 in the end face 110 of the second frame member.
  • a method of providing the adhesive layer 160 in a region other than the recess 112 when manufacturing the pellicle frame 300, the adhesive layer 160 is formed not on the first frame member 100 but on the second frame member 200 side, A method in which the second frame member 200 on which the adhesive layer 160 is formed and the first frame member 100 are bonded together is suitable.
  • the recess 112 forms a flow path that penetrates between the inner peripheral surface and the outer peripheral surface of the pellicle frame 300 together with a part of the adhesive layer 160.
  • a method of forming a flow path that penetrates between the inner peripheral surface and the outer peripheral surface of the pellicle frame there is also a method of processing a through hole in the frame member and using the through hole as a flow path. Conceivable.
  • the method of forming a flow path as a through hole it is difficult to form a complicated flow path having a bent portion such as the recess 112.
  • the present embodiment has an advantage that the formation (processing) of the flow path is easy because the recess is formed in the frame member instead of the through hole.
  • the recess can be processed by a known method such as etching (dry etching, wet etching, etc.), grinding, or the like.
  • foreign matter can be attached to a part of the adhesive layer 160 constituting a part of the flow path, so that the foreign matter capturing performance in the flow path is improved.
  • the recess 112 has six bent portions. As a result, the foreign matter is likely to collide with the wall surface of the concave portion 112, so that the foreign matter capturing performance of the flow path formed by the concave portion 112 is improved.
  • a groove 12 that is not connected to the recess 112 is provided on the end surface 10 of the first frame member 100. Further, the first frame member 100 is provided with a through hole 14 ⁇ / b> A and a through hole 14 ⁇ / b> B connected to the groove 12. With these configurations, the first frame member 100 and the second frame member 200 are fixed via the adhesive layer 160 without contacting the front surface (one end surface) and the back surface (the other end surface). Can do.
  • the first frame member 100 and the second frame member 200 can be fixed via the adhesive layer 160 without contacting the one film surface and the other film surface.
  • the inside of the groove 12 for example, a vacuum pump
  • the through holes 14A and 14B is formed through the through holes 14A and 14B. Or the like).
  • the groove 12 is a groove that is not connected to the concave portion 112, the pressing force can be effectively exerted. Further, the groove 12 does not hinder the function of the recess 112 (for example, a foreign matter capturing function, a ventilation function, etc.).
  • a groove 22 is provided on the end face 20 of the first frame member 100.
  • the first frame member 100 is provided with a through hole 24A and a through hole 24B connected to the groove 22. It has been.
  • a pressing force that is, a pulling force
  • the fixing may be performed via an adhesive layer.
  • a pellicle film may be fixed to the side of the end surface opposite to the end surface 110 of the second frame member 200 (via an adhesive layer as necessary).
  • the above-described pellicle frame 300 is also suitable for an application in which a pellicle having a pellicle film supported on the pellicle frame 300 is first manufactured, and then an exposure original plate is manufactured by fixing the pellicle and the original plate.
  • the pellicle and the original plate are fixed (via an adhesive layer as necessary) without contacting the front and back surfaces of the pellicle film, the pellicle frame 300, and the original plate. Can be produced.
  • the example of the dimension of the second frame member 200 is the same as the example of the dimension of the first frame member 100.
  • the length L1 of the first frame member 100 in the long side direction can be set to, for example, 135 mm to 153 mm, preferably 140 mm to 152 mm, and more preferably 145 mm to 151 mm.
  • the length L2 of the first frame member 100 in the short side direction can be, for example, 100 mm to 130 mm, preferably 105 mm to 125 mm, and more preferably 110 mm to 120 mm.
  • the length L1 in the long side direction and the length L2 in the short side direction may be the same dimension. That is, the shape of the first frame member 100 may be a square shape.
  • the frame width (frame width) W of the first frame member 100 can be, for example, 1.0 mm to 5.0 mm, preferably 1.2 mm to 3.5 mm, and more preferably 1.5 mm to 2.5 mm.
  • the frame width may be the same size or different size on the four sides of the rectangular first frame member 100.
  • the length in the long side direction of the opening (through hole) surrounded by the first frame member 100 can be, for example, 130 mm to 152 mm, preferably 135 mm to 151 mm, and more preferably 140 mm to 150 mm.
  • the width of the opening can be, for example, 95 mm to 130 mm, preferably 100 mm to 125 mm, and more preferably 105 mm to 120 mm.
  • the thickness t of the first frame member 100 can be, for example, 0.5 mm to 5.0 mm, preferably 0.5 mm to 3.0 mm, and more preferably 0.5 mm to 2.0 mm.
  • the widths of the grooves 12 and 22 can be appropriately set in consideration of the pressure loss reduction in the grooves, the relationship with the frame width of the first frame member 100, and the like.
  • the width is set to 10 ⁇ m to 1.0 mm. 50 ⁇ m to 700 ⁇ m are preferable, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m are more preferable, and 200 ⁇ m to 500 ⁇ m are particularly preferable.
  • the depth of the groove 12 and the groove 22 can be appropriately set in consideration of the pressure loss reduction in the groove, the relationship with the thickness of the frame member, etc., but can be set to 10 ⁇ m to 1.0 mm, for example, 50 ⁇ m. ⁇ 700 ⁇ m is preferable, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m is more preferable, and 200 ⁇ m to 500 ⁇ m is particularly preferable.
  • the widths of the through holes 14A, 14B, 24A, and 24B can be appropriately set in consideration of the pressure loss reduction in the through holes, the relationship with the thickness of the frame member, and the like. 50 ⁇ m to 700 ⁇ m are preferable, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m are more preferable, and 200 ⁇ m to 500 ⁇ m are particularly preferable. Further, the lengths of the through holes 14A, 14B, 24A, and 24B can be appropriately set in consideration of the pressure loss reduction in the through holes, etc., but can be set to 0.5 mm to 10 mm, for example, 0.7 mm Is preferably 5.0 mm, more preferably 1.0 mm to 2.0 mm.
  • the width (flow path width) of the recess 112 provided in the second frame member 200 can be appropriately set in consideration of pressure loss reduction in the recess 112, but can be set to 10 ⁇ m or more, for example. 100 ⁇ m or more is preferable.
  • the width of the recess is preferably 1.0 mm or less, more preferably 700 ⁇ m or less, further preferably 600 ⁇ m or less, and further preferably 500 ⁇ m or less.
  • the width of the concave portion is 1.0 mm or less, foreign matter (particularly, particles having a particle size of 100 nm or less) easily collides with the wall surface of the concave portion due to Brownian motion, so that the foreign matter capturing performance in the concave portion is further enhanced.
  • a foreign substance (particle) having a particle size of about 10 ⁇ m collides with the wall surface of the recess (or flow path) by at least one of gravity and inertia and is captured in the recess (or flow path).
  • the depth of the recess can be appropriately set in consideration of the pressure loss reduction in the recess, the relationship with the thickness of the frame member, etc., but can be set to 10 ⁇ m to 1.0 mm, for example, 50 ⁇ m ⁇ 700 ⁇ m is preferable, 100 ⁇ m to 600 ⁇ m is more preferable, and 200 ⁇ m to 500 ⁇ m is particularly preferable.
  • the recessed part in this embodiment is a recessed part connected to an outer peripheral surface and an inner peripheral surface, if the length (flow path length) of a recessed part is more than a frame width (frame width), there will be no restriction
  • the length of the recess (flow path length) can be, for example, 10 mm to 500 mm, preferably 50 mm to 490 mm, more preferably 100 mm to 480 mm, and still more preferably 200 mm to 450 mm.
  • the longer the length of the recess (flow channel length) the more advantageous.
  • the material of the first frame member 100 and the second frame member 200 is not particularly limited, and can be a normal material used for a pellicle frame.
  • the material of the first frame member 100 aluminum, aluminum alloy (5000 series, 6000 series, 7000 series, etc.), stainless steel, silicon, silicon alloy, iron, iron-based alloy, carbon steel, tool steel, ceramics , Metal-ceramic composite materials, resins and the like.
  • aluminum and aluminum alloys are more preferable from the viewpoint of light weight and rigidity.
  • the material of the first frame member 100 and the material of the second frame member 200 may be the same or different.
  • a frame member made of aluminum or an aluminum alloy may be used as the first frame member 100
  • a frame member made of silicon may be used as the second frame member 200.
  • This aspect is suitable when a composite member having a structure in which the second frame member 200 that is a silicon substrate supports a pellicle film that is a crystalline silicon film is used. This composite member will be described later.
  • the 1st frame member 100 and the 2nd frame member 200 may have a protective film on the surface.
  • a protective film having resistance to hydrogen radicals, EUV light, etc. present in the exposure atmosphere is preferable.
  • An example of the protective film is an oxide film.
  • the oxide film can be formed by a known method such as anodic oxidation.
  • the oxide film may be colored with a black dye.
  • the first frame member 100 has an oxide film colored with a black dye, it is easier to detect foreign matter on the first frame member 100.
  • appropriately refer to configurations of known pellicle frames such as JP2014-021217A and JP2010-146027A. Can do.
  • the concave portion 112 communicating with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame is provided in the second frame member 200.
  • the concave portion in the present embodiment is provided in the second frame member. Is not limited.
  • the recessed part in this embodiment should just be provided in at least one of the 1st frame member and the 2nd frame member.
  • the pellicle frame of the present embodiment has an outer peripheral surface and an inner peripheral surface of the pellicle frame (specifically, the first frame member) on the end surface of the first frame member facing the second frame member.
  • FIG. 4 and 5 are both partial cross-sectional views of a pellicle frame according to a modification of the present embodiment, and both correspond to the partial cross-sectional view of FIG.
  • the pellicle frame shown in FIG. 4 is an example in which the second frame member 202 is not provided with a recess, and instead the first frame member 102 is provided with a recess 32.
  • a channel is formed by the recess 32, a part of the adhesive layer 160 (specifically, an end face of the adhesive layer 160), and a part of the end face in the thickness direction of the second frame member 202. ing.
  • the recess 32 is provided at a position that does not contact the groove 12 (a position that does not overlap when viewed from the thickness direction of the frame member).
  • the pellicle frame shown in FIG. 5 is an example in which the concave portion 112 is provided in the second frame member 200 and the concave portion 32 is provided in the first frame member 102.
  • both are provided so that the concave portion 112 and the concave portion 32 overlap when viewed from the thickness direction of the frame member, whereby one channel is formed by the concave portion 112 and the concave portion 32. Is formed. More specifically, in this example, the flow path is formed by the recess 112, the recess 32, and a part of the adhesive layer 160 (specifically, the end surface of the adhesive layer 160).
  • one channel is formed by the recess 112 and the recess 32, but as a further modification, a separate channel is formed by the recess 112 and the recess 32. Also good. In short, it is only necessary that the recess 32 is provided at a position where it does not come into contact with the groove 12 (a position where it does not overlap when viewed from the thickness direction of the frame member).
  • FIG. 7 is a schematic perspective view of the first frame member 102 used in the pellicle frame according to the modification shown in FIGS. 4 and 5. As shown in FIG. 7, in the first frame member 102, a recess 32 that does not contact the groove 12 is provided on the end surface 10. Other configurations of the first frame member 102 are the same as those of the first frame member 100.
  • FIG. 8 is a schematic plan view of a second frame member 206 according to a modification of the second frame member 200 in the pellicle frame 300.
  • the recess 112 in the second frame member 200 has a groove shape like the recess 112, but is changed to a recess 142 including a branching portion and a meandering portion.
  • Other configurations of the second frame member 206 are the same as the configurations of the second frame member 200.
  • the pellicle frame of this embodiment may include other members other than the first frame member, the second frame member, and the adhesive layer interposed between the first frame member and the second frame member.
  • the pellicle frame of the present embodiment may include an adhesive layer on at least one of the end surface fixed to the pellicle film and the end surface fixed to the original plate.
  • Adhesives included in the adhesive layer include acrylic resin adhesives, epoxy resin adhesives, polyimide resin adhesives, silicone resin adhesives, inorganic adhesives, double-sided adhesive tapes, silicone resin adhesives, acrylic adhesives, And polyolefin pressure-sensitive adhesives.
  • an acrylic resin adhesive As an adhesive used for adhesion to the pellicle film, an acrylic resin adhesive, an epoxy resin adhesive, a polyimide resin adhesive, a silicone resin adhesive, and an inorganic adhesive are preferable.
  • an adhesive used for adhesion to the original plate a double-sided pressure-sensitive adhesive tape, a silicone resin pressure-sensitive adhesive, an acrylic pressure-sensitive adhesive, and a polyolefin-based pressure-sensitive adhesive are preferable.
  • the pellicle frame of the present embodiment may further have a release liner (also called a release film or a separator) on the adhesive layer.
  • a release liner also called a release film or a separator
  • Any known release liner can be used without particular limitation.
  • the frame member of the present embodiment is a frame member for a pellicle frame, and has at least one end surface in the thickness direction having a recess communicating with the outer peripheral surface and the inner peripheral surface, and the end surface provided with the recess.
  • the shape of the concave portion viewed from a direction perpendicular to the groove shape is a groove shape having at least one of a bent portion and a branched portion.
  • a frame member provided with a recess is mentioned, and a preferable range is also as described above.
  • Specific examples of the frame member of the present embodiment include the first frame member 102, the second frame member 200, and the second frame member 206 described above.
  • the frame member of the present embodiment further includes a groove that is provided on at least one end surface in the thickness direction and that does not connect to the recess, and a through hole that passes between the outer peripheral surface and the wall surface of the groove. Is preferred.
  • the first frame member 102 described above can be cited.
  • the frame member of the present embodiment may be a member that includes a frame member (hereinafter also referred to as a “frame main body”) and other members other than the frame main body.
  • the frame member (frame body) of the present embodiment may include an adhesive layer on at least one end surface in the thickness direction. Examples of the adhesive contained in the adhesive layer are as described above.
  • the frame member of this embodiment may further have a release liner (also called a release film or a separator) on the adhesive layer.
  • the pellicle according to the present embodiment includes the pellicle frame according to the present embodiment described above, the end surface side of the first frame member that does not face the second frame member, or the first frame member of the second frame member. And a pellicle film supported on the side of the end face that does not face each other. Since the pellicle of this embodiment includes the pellicle frame of this embodiment, the same effect as the pellicle frame of this embodiment can be obtained.
  • one of the first frame member and the second frame member that is closer to the pellicle film may be referred to as “frame member P”, and the other of the first frame member and the second frame member ( The frame member far from the pellicle film) may be referred to as “frame member Q”.
  • the second frame member is a frame member P (a frame member closer to the pellicle film) and the first frame member is a frame member Q (a frame member far from the pellicle film). The explanation is centered.
  • the pellicle structure of this embodiment is a structure in which the pellicle frame of this embodiment supports the pellicle film.
  • the manufacturing order of the pellicle according to the present embodiment does not necessarily have to be the order in which the pellicle film according to the present embodiment is manufactured and then the pellicle film is fixed to the pellicle frame.
  • the order in which the composite member having a structure in which the frame member P supports the pellicle membrane is manufactured and the obtained composite member and the frame member Q are fixed may be used.
  • the other frame member is bonded to the end surface side where the concave portion is provided in one of the first frame member and the second frame member as necessary.
  • the material of the pellicle film is not particularly limited, and may be an organic material, an inorganic material, or a mixed material of an organic material and an inorganic material.
  • the organic material include a fluorine-based polymer.
  • the inorganic material include crystalline silicon (eg, single crystal silicon, polycrystalline silicon, etc.), diamond-like carbon (DLC), graphite, amorphous carbon, graphene, silicon carbide, silicon nitride, aluminum nitride, and the like.
  • the pellicle film may contain one of the above materials alone or two or more of them.
  • examples of the pellicle film include a pellicle film containing at least one selected from the group consisting of fluorine-based polymer, crystalline silicon, diamond-like carbon, graphite, amorphous carbon, graphene, silicon carbide, silicon nitride, and aluminum nitride. It is done. Among them, crystalline silicon, diamond-like carbon, graphite, amorphous carbon, graphene, silicon carbide, silicon nitride are highly transparent to EUV light and the like and can suppress decomposition and deformation caused by irradiation with EUV light. And a pellicle film containing at least one inorganic material selected from the group consisting of aluminum nitride.
  • a pellicle film containing such an inorganic material is a film that is very easy to tear, and is liable to cause scratches and dust generation due to contact.
  • the pellicle of this embodiment when the frame member P has the groove not connected to the recess, the pellicle can be manufactured without contacting the front and back surfaces of the pellicle film and the pellicle frame. Therefore, in this case, even when a pellicle film containing such an inorganic material is used, it is possible to effectively prevent the pellicle film from being broken, scratched, or dusted by contact.
  • the configuration of the pellicle film may be a single layer configuration or a configuration composed of two or more layers.
  • the thickness of the pellicle film (the total thickness in the case of two or more layers) can be, for example, 10 nm to 200 nm, preferably 10 nm to 100 nm, more preferably 10 nm to 70 nm, and particularly preferably 10 nm to 50 nm.
  • the thickness of the pellicle film is thin (for example, 200 nm or less), the transparency to EUV light or the like is excellent.
  • the thickness of the pellicle film is thin (for example, 200 nm or less), the pellicle film tends to be easily broken.
  • the pellicle of the present embodiment when the frame member P has the above-described groove not connected to the recess, the pellicle film, the first frame member, and the second frame member are in contact with the front and back surfaces, respectively.
  • the pellicle can be manufactured without any problem. Therefore, in this case, even when a pellicle film having a small thickness (for example, 200 nm or less) is used, the pellicle film can be effectively prevented from being broken.
  • effect 1 when a groove that does not connect to the recess is provided on the end surface of the pellicle frame on the side that supports the pellicle film, the pellicle of this embodiment.
  • the pellicle of this embodiment when the groove not connected to the recess is provided on the opposite surface of the end surface of the pellicle frame on the side supporting the pellicle film, the pellicle of this embodiment is The exposure original plate can be manufactured without contacting the front and back surfaces of the pellicle and the original plate (hereinafter referred to as “effect 2”). Further, in the pellicle of the present embodiment, it is needless to say that both effects 1 and 2 are achieved when grooves are provided on both end faces of the pellicle frame.
  • a preferable aspect of the pellicle of the present embodiment is an aspect in which the frame member P includes a composite member having a structure in which the pellicle film is supported.
  • the pellicle film is a film that is difficult to stand by itself (for example, a pellicle film containing an inorganic material such as a silicon crystal film, a thin pellicle film, etc.)
  • the pellicle film is formed by the frame member P.
  • the pellicle can be manufactured while maintaining the film shape.
  • the pellicle having the above-described composite member is preferably manufactured by fixing the composite member having a structure in which the frame member P supports the pellicle film and the frame member Q.
  • An example of the composite member is a composite member including a silicon crystal film as a pellicle film and a frame-shaped silicon substrate (for example, a silicon wafer) as the frame member P.
  • the pellicle can be manufactured while the film shape of the pellicle film (silicon crystal film) is held by the frame member P (frame-shaped silicon substrate).
  • a silicon crystal film is formed on a silicon substrate, and then the center portion of the silicon substrate is etched from the silicon crystal film non-formation side of the silicon substrate. It can be produced by removing the silicon substrate. Only the silicon crystal film remains in the central portion of the composite member manufactured by this method, and the silicon crystal film in the central portion becomes a pellicle film. The silicon crystal film and the silicon substrate remain in the peripheral portion around the central portion, and the frame member P is formed by the silicon substrate remaining in the peripheral portion.
  • a circular silicon substrate for example, a silicon wafer
  • the circular silicon substrate and the silicon crystal film are not attached to the frame member Q before or after being bonded to the frame member Q.
  • the composite member having a structure in which the frame member P supports the pellicle film is a composite member other than the above example, it can be manufactured by the same method.
  • FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of an example (pellicle 500) of the pellicle of this embodiment.
  • the pellicle 500 has a configuration in which a composite member 490 of a pellicle film 480 and a second frame member 482 (frame member P) and a frame member 420 with an adhesive layer are bonded together. It has become.
  • the frame member 420 with an adhesive layer includes a first frame member 400 (frame member Q), an adhesive layer 460 in contact with one end surface of the first frame member 400 (a surface facing the second frame member 482), and a first An adhesive layer 462 that contacts the other end surface of the frame member 400 and a release liner 470 that contacts the adhesive layer 462 are provided.
  • the composite member 490 and the frame member 420 with the adhesive layer are arranged such that the second frame member 482 of the composite member 490 and the adhesive layer 460 of the frame member 420 with the adhesive layer are in contact with each other. Yes.
  • the first frame member 400 (frame member Q) has grooves that are not connected to the recesses, similar to the first frame member 100 described above, on both end faces in the thickness direction. Further, the first frame member 400 has the same through-hole as the first frame member 100 described above. Moreover, the 2nd frame member 482 (frame member P) has the recessed part connected to the outer peripheral surface and inner peripheral surface of a 2nd frame member similarly to the above-mentioned 2nd frame member 200. As shown in FIG. A flow path is formed by the recess and the film surface of the adhesive layer 460 of the frame member 420 with the adhesive layer.
  • the pellicle 500 has a second frame member 482, an adhesive layer 460, a first frame member 400, an adhesive layer 462, and a release frame 470, and a first frame of the second frame member 482. And a pellicle film 480 fixed on the end surface side not facing the member 400. That is, the pellicle 500 fixes the pellicle film on the end surface of the second frame member 200 that does not face the first frame member 100 with respect to the pellicle frame 300, and the second frame member 200 of the first frame member 100.
  • the adhesive layer and the release liner are sequentially provided on the end surface that is not opposed to the surface.
  • the pellicle 500 is preferably manufactured by fixing (bonding) the composite member 490 and the frame member 420 with an adhesive layer. At this time, since the inside of the groove provided on the one end surface of the first frame member 400 can be decompressed through the through hole connected to the groove, the front surface and the back surface of the composite member 490 and the frame member 420 with the adhesive layer are provided. Both can be fixed without contacting.
  • the release liner 470 in the frame member 420 with the adhesive layer is provided to protect the exposed surface of the adhesive layer 462.
  • the adhesive layer 462 is first exposed by removing the release liner 470 from the frame member 420 with the adhesive layer of the pellicle 500, and then the exposed adhesive layer By 462, the pellicle and the original plate are fixed.
  • the composite member 490 is preferably a composite member of a pellicle film 480 that is a polycrystalline silicon film (p-Si film) and a second frame member 482 that is a silicon substrate.
  • a method for manufacturing such a composite member is as described above.
  • the first frame member 400 is preferably an aluminum or aluminum alloy frame member.
  • an acrylic resin adhesive agent an epoxy resin adhesive agent, a polyimide resin adhesive agent, a silicone resin adhesive agent, and an inorganic adhesive agent are preferable.
  • an adhesive agent contained in the adhesive bond layer 462 a double-sided adhesive tape, a silicone resin adhesive, an acrylic adhesive, and a polyolefin adhesive are preferable.
  • Method 1 a method for manufacturing the pellicle frame and the pellicle film according to the present embodiment by a method of fixing via an adhesive layer as necessary.
  • the frame member P includes a composite member having a structure in which the pellicle film supports the frame member Q, and an adhesive layer as necessary.
  • Method 2 The method of fixing via the above.
  • the frame member P (the frame member closer to the pellicle film) has a groove that is not connected to the recess on the end surface facing the pellicle film, and penetrates between the wall surface of the groove and the outer peripheral surface. It is preferable that a through hole is provided. Further, the method 1 includes an arrangement step in which the end surface of the frame member P where the groove is provided and the pellicle film are opposed to each other, and the inside of the groove is decompressed through the through hole. It is preferable to include a fixing step of fixing the frame and the pellicle film.
  • the pressure can be applied between the pellicle frame and the pellicle film by the above-described decompression, so that both the pellicle frame and the pellicle film can be fixed without contacting the front and back surfaces. Can do.
  • the frame member Q (the frame member far from the pellicle membrane) includes a groove that is not connected to the concave portion on the end surface facing the composite member, and between the wall surface of the groove and the outer peripheral surface. It is preferable that a through-hole penetrating is provided. Further, the method 2 includes an arrangement step in which the end surface of the frame member Q provided with the groove and the frame member P included in the composite member are opposed to each other, and the inside of the groove through the through hole. It is preferable to have a fixing step of fixing the frame member Q and the composite member by reducing the pressure.
  • each of the frame member P, the frame member Q, and the pellicle film Both can be fixed without contacting the front surface and the back surface.
  • the pressure reduction in the fixing step is preferably performed in a state where the pellicle frame and the pellicle film to be fixed are arranged in a pressurized atmosphere.
  • the difference (differential pressure) between the pressure of the entire atmosphere in which the pellicle frame and the pellicle film are arranged and the pressure inside the groove can be increased, the pellicle frame and the pellicle film It is possible to increase the pressing force generated between the two. For this reason, both can be fixed more easily.
  • the pressing force force applied to the entire pellicle frame
  • the pressing force (force applied to the entire pellicle frame) is more preferably 10N or more, and particularly preferably 20N or more.
  • the upper limit of the pressing force (force applied to the entire pellicle frame) is not particularly limited, but is 500 N, preferably 400 N, from the viewpoint of productivity.
  • the pressure reduction in the fixing step is preferably performed in a state where the frame member Q and the composite member to be fixed are arranged in a pressurized atmosphere.
  • the frame member Q and the composite member can be combined.
  • the pressing force generated between the members can be increased. For this reason, both can be fixed more easily.
  • a preferable range of the pressing force is the same as the range described above for the method 1.
  • the flow path that penetrates the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the pellicle frame in the present embodiment functions effectively even when the pressure reduction in the fixing process is performed in a state where the object to be fixed is arranged in a pressurized atmosphere. That is, the difference between the inside of the pellicle (the region surrounded by the pellicle frame) and the outside of the pellicle (the region outside the pellicle frame) when a pressurized atmosphere is formed by the above flow path (for example, when the inside of the vacuum chamber is pressurized). The pressure can be reduced. Therefore, the flow path can effectively suppress deformation (dent or overhang) of the pellicle film due to the differential pressure.
  • the exposure original plate of the present embodiment includes the pellicle of the present embodiment and an original plate disposed on the opposite side of the pellicle film from the pellicle frame of the pellicle. Since the exposure original plate of this embodiment includes the pellicle of this embodiment, the same effects as the pellicle of this embodiment can be obtained.
  • the groove is provided on the end surface of the pellicle frame at least on the end surface facing the original plate (that is, at least the end surface on the side facing the original plate of the frame member Q). Preferably it is.
  • the exposure original plate of this aspect can be manufactured without contacting the front and back surfaces of the pellicle and the original plate.
  • an original including a support substrate, a reflective layer laminated on the support substrate, and an absorber layer formed on the reflective layer can be used.
  • the absorber layer partially absorbs EUV light, whereby a desired image is formed on a sensitive substrate (for example, a semiconductor substrate with a photoresist film).
  • the reflective layer can be a multilayer film of molybdenum (Mo) and silicon (Si).
  • the absorber layer can be a material having high absorbability such as EUV light, such as chromium (Cr) or tantalum nitride.
  • the manufacturing method of the exposure original plate of this embodiment is not particularly limited, but the groove is provided on the end surface of the pellicle of this embodiment, which is opposite to the end surface of the pellicle frame that supports the pellicle film.
  • the pellicle and the original plate are disposed so that the opposite surface and the original plate face each other, and the inside of the groove is decompressed through the through hole, whereby the pellicle and the original plate are It is preferable to have a fixing step of fixing According to the manufacturing method of the exposure original plate of the present embodiment, the pressing force between the pellicle and the original plate can be exerted by the reduced pressure inside the groove, so that the front and back surfaces of the pellicle and the original plate are not contacted. Both can be fixed.
  • the pressure reduction in the fixing step is preferably performed in a state where the pellicle and the original plate are arranged in a pressurized atmosphere.
  • the difference (differential pressure) between the pressure of the entire atmosphere in which the pellicle and the original plate are arranged and the pressure inside the groove can be increased, the pressing between the pellicle and the original plate is performed.
  • the matching power can be increased. For this reason, both can be fixed more easily.
  • the pressing force between the pellicle and the original plate is preferably 1N or more, and more preferably 2N or more.
  • the pressing force between the pellicle and the original plate is more preferably 10N or more, and particularly preferably 20N or more.
  • the upper limit of the pressing force between the pellicle and the original plate (the force applied to the entire pellicle frame) is not particularly limited, but is, for example, 500 N, preferably 400 N from the viewpoint of productivity.
  • the exposure apparatus of this embodiment includes the exposure original plate of this embodiment. For this reason, there exists an effect similar to the exposure original plate of this embodiment.
  • the exposure apparatus of the present embodiment includes a light source that emits exposure light (preferably EUV light or the like, more preferably EUV light; the same applies hereinafter), an exposure original plate of the present embodiment, and exposure light emitted from the light source. It is preferable that the exposure original plate is arranged so that the exposure light emitted from the light source passes through the pellicle film and is irradiated on the original plate.
  • EUV light or the like in addition to being able to form a fine pattern (for example, a line width of 32 nm or less) by EUV light or the like, EUV light or the like that tends to cause a problem of poor resolution due to foreign matter is used as exposure light. In addition, pattern exposure with reduced resolution failure due to foreign matter can be performed.
  • the method for manufacturing a semiconductor device includes a step of irradiating the original light of the exposure light emitted from a light source through the pellicle film of the exposure original plate of the present embodiment and reflecting the original light, and reflecting the original plate, Exposing the sensitive substrate in a pattern by irradiating the sensitive substrate with the exposure light reflected by the light through the pellicle film.
  • a semiconductor device in which the resolution failure due to foreign matter is reduced even when EUV light or the like that is likely to cause a resolution failure due to foreign matter is used as the exposure light. can do.
  • FIG. 10 is a schematic cross-sectional view of an EUV exposure apparatus 800 that is an example of the exposure apparatus of the present embodiment.
  • the EUV exposure apparatus 800 includes a light source 831 that emits EUV light, an exposure original plate 850 that is an example of an exposure original plate according to this embodiment, and an EUV light emitted from the light source 831.
  • an illumination optical system 837 that leads to The exposure original plate 850 includes a pellicle 810 including a pellicle film 812 and a pellicle frame 814, and an original plate 833.
  • the exposure original plate 850 is arranged such that EUV light emitted from the light source 831 passes through the pellicle film 812 and is irradiated onto the original plate 833.
  • the original 833 reflects the irradiated EUV light in a pattern.
  • the pellicle frame 814 and the pellicle 810 are examples of the pellicle frame and the pellicle of the present embodiment, respectively.
  • filter windows 820 and 825 are installed between the light source 831 and the illumination optical system 837 and between the illumination optical system 837 and the original 833, respectively. Further, the EUV exposure apparatus 800 includes a projection optical system 838 that guides the EUV light reflected by the original 833 to the sensitive substrate 834.
  • the EUV light reflected by the original 833 is guided onto the sensitive substrate 834 through the projection optical system 838, and the sensitive substrate 834 is exposed in a pattern. Note that exposure by EUV is performed under reduced pressure conditions.
  • the EUV light source 831 emits EUV light toward the illumination optical system 837.
  • the EUV light source 831 includes a target material, a pulse laser irradiation unit, and the like. EUV is obtained by irradiating this target material with a pulse laser to generate plasma.
  • EUV When the target material is Xe, EUV having a wavelength of 13 to 14 nm is obtained.
  • the wavelength of light emitted from the EUV light source is not limited to 13 to 14 nm, and may be light having a wavelength suitable for the purpose within a wavelength range of 5 to 30 nm.
  • the illumination optical system 837 collects the light emitted from the EUV light source 831, makes the illuminance uniform, and irradiates the original 833.
  • the illumination optical system 837 includes a plurality of multilayer mirrors 832 for adjusting the EUV optical path, an optical coupler (optical integrator), and the like.
  • the multilayer film mirror is a multilayer film in which molybdenum (Mo) and silicon (Si) are alternately stacked.
  • the method for attaching the filter windows 820 and 825 is not particularly limited, and examples thereof include a method of attaching via an adhesive or the like, and a method of mechanically fixing in the EUV exposure apparatus.
  • the filter window 820 disposed between the light source 831 and the illumination optical system 837 captures scattered particles (debris) generated from the light source, and the scattered particles (debris) are elements inside the illumination optical system 837 (for example, a multilayer film). Avoid sticking to the mirror 832).
  • the filter window 825 disposed between the illumination optical system 837 and the original 833 captures particles (debris) scattered from the light source 831 side and prevents the scattered particles (debris) from adhering to the original 833. .
  • the foreign matter adhering to the original plate absorbs or scatters EUV light, which causes poor resolution on the wafer. Therefore, the pellicle 810 is mounted so as to cover the EUV irradiation area of the original 833.
  • the EUV light passes through the pellicle film 812 and is irradiated on the original 833.
  • the EUV light reflected by the original 833 passes through the pellicle film 812 and is irradiated onto the sensitive substrate 834 through the projection optical system 838.
  • the projection optical system 838 condenses the light reflected by the original 833 and irradiates the sensitive substrate 834.
  • the projection optical system 838 includes a plurality of multilayer mirrors 835 and 836 for preparing an EUV optical path.
  • the sensitive substrate 834 is a substrate on which a resist is applied on a semiconductor wafer, and the resist is exposed in a pattern by EUV reflected by the original 833. By developing this resist and etching the semiconductor wafer, a desired pattern is formed on the semiconductor wafer.

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Abstract

厚さ方向の一方の端面が互いに対向するように配置された第1 枠部材(100)及び第2枠部材(200)を備えたペリクル枠(300)であって、対向する前記端面の少なくとも一方に、前記ペリクル枠の外周面(30、130)と内周面(40、140)とに通じ、前記端面内で1つ以上の曲がり部又は分岐部を有する溝形状の凹部(112)と、前記第1枠部材及び前記第2枠部材の少なくとも一方の、少なくとも一方の端面(10、20、110)に、前記凹部(112)に接続しない、外周面(30、130)へ貫通する貫通孔(14A、14B、24A、24B)を有する溝(12、22)と、を備えた前記ペリクル枠(300)とすることで、貫通流路の加工性を改善した。

Description

ペリクル枠、ペリクル、枠部材、露光原版、露光装置、及び半導体装置の製造方法
 本発明は、ペリクル枠、ペリクル、枠部材、露光原版、露光装置、及び半導体装置の製造方法に関する。
 半導体デバイス(半導体装置)の高集積化及び微細化は、年々加速している。
 例えば、現在では、エキシマ露光にて線幅45nm程度のパターンが形成されているが、近年では、半導体デバイスのさらなる微細化に伴い、線幅32nm以下のパターンの形成が求められている。このような微細加工は、従来のエキシマ露光では対応が難しい。そこで、露光光をより短波長のEUV(Extreme Ultra Violet:極端紫外)光に替えることが検討されている。
 EUV光は、あらゆる物質に吸収されやすい特性を有する。
 そこで、露光光としてEUV光を用いるフォトリソグラフィー(以下、「EUVリソグラフィー」ともいう)では、反射光学系を用いて露光を行う。具体的には、露光パターンが反映された原版によってEUV光を反射させ、反射光としてのEUV光によってレジストを露光する。この際、原版に異物が付着していると、EUV光が異物に吸収されたり、EUV光が散乱するため、所望のパターンに露光されない場合がある。
 そこで、原版のEUV光照射面を、ペリクルで保護することが検討されている。
 ペリクルの構成は、原版のEUV光照射面を保護するためのペリクル膜と、このペリクル膜を支持するペリクル枠と、を有する構成となっている。
 EUVリソグラフィーに用いられるペリクル膜としては、EUV光に対して高い透過性を有すること、EUV光の照射によって分解・変形しないことが求められる。このような要求を満たすペリクル膜として、単結晶シリコン膜等のシリコン結晶膜(例えば、文献1及び2参照)、金属メッシュ上に積層された窒化アルミニウム膜(例えば、文献3参照)、グラフェン膜(例えば、文献4参照)、等が提案されている。
 文献1:特開2010-256434号公報
 文献2:特開2009-116284号公報
 文献3:特開2005-43895号公報
 文献4:国際公開第2011/160861号パンフレット
 ところで、ペリクル枠及びペリクル膜を備えるペリクルは、減圧された露光装置内に配置されて用いられることがある。例えばEUV光等の短波長の光を露光光として用いる露光装置では、露光装置内における例えば100Pa以下(好ましくは10Pa以下)に減圧された領域に、ペリクルと原版とを備える露光原版が配置されて用いられることがある。
 ペリクル(ペリクル枠)が減圧下で用いられることに鑑み、ペリクル枠に対し、ペリクル枠の外周面と内周面とを貫通する流路を設けることが考えられる。この場合の流路の機能は、ペリクル枠で囲まれた領域(以下、「ペリクル内」ともいう)と、ペリクル枠の外側の領域(以下、「ペリクル外」ともいう)と、の間の圧力調節(通気)を行うことである。
 また、露光装置内(例えば原版上)の異物を低減する観点からも、ペリクル枠の外周面と内周面とを貫通する流路を設けることが考えられる。この場合の流路の機能は、露光装置内(例えば原版上)の異物を捕捉することである。露光装置内の異物の一例として、EUV光源で発生する飛散粒子(デブリ)、露光装置内を減圧又は加圧する際においてペリクル内とペリクル外とを行き来するガスの中に混入している異物粒子が挙げられる。
 また、ペリクル枠の外周面と内周面とを貫通する流路は、通気の機能と異物捕捉の機能とを兼ね備えることもあり得る。
 しかし、ペリクル枠の外周面と内周面とを貫通する流路を、貫通孔として加工(形成)しようとした場合、加工(形成)が難しい場合がある。
 例えば、流路の異物捕捉性能を向上させるために、流路の形状を、曲がり部(例えば屈曲部及び湾曲部)、分岐部等を有する形状とすることが考えられる。流路の形状が複雑になるほど、流路の加工(形成)が難しくなる傾向がある。
 また、ペリクル枠の厚さの上限に制約がある場合にも、流路の加工(形成)が難しくなる傾向がある。
 本発明は上記に鑑みなされたものであり、以下の目的を達成することを課題とする。
 即ち、本発明の目的は、加工により、ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路を形成する際の加工性(加工し易さ)に優れたペリクル枠、上記ペリクル枠を備えるペリクル、上記ペリクル枠の一部材として好適な枠部材、上記ペリクルを備える露光原版、並びに、上記露光原版を用いた露光装置及び半導体装置の製造方法を提供することである。
 上記課題を解決するための具体的手段は以下の通りである。
<1> 厚さ方向の一方の端面が互いに対向するように配置された第1枠部材及び第2枠部材を備えるペリクル枠であって、
 前記第1枠部材の前記第2枠部材に対向する端面及び前記第2枠部材の前記第1枠部材に対向する端面の少なくとも一方に、ペリクル枠の外周面と内周面とに通じる凹部を有し、
 前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である、ペリクル枠。
<2> 更に、前記第1枠部材と前記第2枠部材とを接着する接着剤層を備える、<1>に記載のペリクル枠。
<3> 少なくとも前記凹部と前記接着剤層の一部とによって前記ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路が形成されている、<2>に記載のペリクル枠。
<4> 前記凹部における、前記曲がり部及び前記分岐部の総数が、6以上である、<1>~<3>のいずれか1項に記載のペリクル枠。
<5> 前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、前記ペリクル枠の少なくとも三辺にわたって延びる溝形状である、<1>~<5>のいずれか1項に記載のペリクル枠。
<6> 前記第1枠部材及び前記第2枠部材の少なくとも一方は、
 厚さ方向の端面のうちの少なくとも一方に設けられ、前記凹部に接続しない溝と、
 外周面と前記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、
を有する、<1>~<5>のいずれか1項に記載のペリクル枠。
<7> <1>~<6>のいずれか1項に記載のペリクル枠と、
 前記第1枠部材の前記第2枠部材とは対向しない端面の側、又は、前記第2枠部材の前記第1枠部材とは対向しない端面の側に支持されたペリクル膜と、
を備える、ペリクル。
<8> ペリクル枠用の枠部材であって、
 厚さ方向の少なくとも一方の端面に、外周面と内周面とに通じる凹部を有し、
 前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である、枠部材。
<9> 更に、
 厚さ方向の少なくとも一方の端面に設けられ、前記凹部に接続しない溝と、
 外周面と前記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、
を有する、<8>に記載の枠部材。
<10> <7>に記載のペリクルと、
 前記ペリクル枠からみて前記ペリクル膜とは反対側に配置された原版と、
を備える、露光原版。
<11> <10>に記載の露光原版を備える、露光装置。
<12> 露光光を放出する光源と、
 <10>に記載の露光原版と、
 前記光源から放出された露光光を前記露光原版に導く光学系と、
を有し、
 前記露光原版は、前記光源から放出された露光光が前記ペリクル膜を透過して前記原版に照射されるように配置されている、露光装置。
<13> 前記露光光が、EUV光である、<12>に記載の露光装置。
<14> 光源から放出された露光光を、<10>に記載の露光原版の前記ペリクル膜を透過させて前記原版に照射し、前記原版で反射させるステップと、
 前記原版によって反射された露光光を、前記ペリクル膜を透過させて感応基板に照射することにより、前記感応基板をパターン状に露光するステップと、
を有する、半導体装置の製造方法。
<15> 前記露光光が、EUV光である、<14>に記載の半導体装置の製造方法。
 本発明によれば、加工により、ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路を形成する際の加工性(加工し易さ)に優れたペリクル枠、上記ペリクル枠を備えるペリクル、上記ペリクル枠の一部材として好適な枠部材、上記ペリクルを備える露光原版、並びに、上記露光原版を用いた露光装置及び半導体装置の製造方法が提供される。
本実施形態の一例に係るペリクル枠を示す概略斜視図である。 本実施形態の一例に係るペリクル枠における、第1枠部材の第2枠部材と対向する端面、及び、第2枠部材の第1枠部材と対向する端面を示す分解図である。 図1のA-A線断面図である。 本実施形態の変形例に係るペリクル枠の部分断面図である。 本実施形態の変形例に係るペリクル枠の部分断面図である。 本実施形態の一例に係るペリクル枠の構成部材の一つである第1枠部材を、第2枠部材に対向しない端面を観察できる方向から見た概略斜視図である。 本実施形態の変形例に係るペリクル枠に用いられる第1枠部材の概略斜視図である。 本実施形態の変形例に係るペリクル枠に用いられる第2枠部材の概略平面図である。 本実施形態の一例に係るペリクルの概略断面図である。 本実施形態の露光装置の一例に係るEUV露光装置の概略断面図である。
 以下、適宜、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。しかし、本発明は、図面等の具体的な実施形態に限定されることはない。また、各図面に共通の要素については、同一の符号を付すことがあり、重複した説明を省略することがある。また、図面では、構造を見やすくするために、隠れ線の一部を省略することがある。
<ペリクル枠>
 本実施形態のペリクル枠は、厚さ方向の一方の端面が互いに対向するように配置された第1枠部材及び第2枠部材を備えるペリクル枠であって、上記第1枠部材の上記第2枠部材に対向する端面及び上記第2枠部材の上記第1枠部材に対向する端面の少なくとも一方に、ペリクル枠の外周面と内周面とに通じる凹部を有し、上記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た上記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である。
 ここで、ペリクル枠の外周面は、第1枠部材の外周面及び第2枠部材の外周面によって形成されている。また、ペリクル枠の内周面は、第1枠部材の内周面及び第2枠部材の内周面によって形成されている。
 本実施形態のペリクル枠は、第1枠部材及び第2枠部材以外のその他の部材(例えば、後述の接着剤層等)を備えていてもよい。
 また、本実施形態のペリクル枠は、上記凹部を1つのみ有していてもよいし、2つ以上有していてもよい。
 また、以下において、枠部材の厚さ方向の端面を、単に「枠部材の端面」ということがある。
 本実施形態のペリクル枠において、上記凹部は、(例えば、上記凹部に対向する枠部材、後述の接着剤層、等とともに)ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路を形成している。
 即ち、本実施形態のペリクル枠は、上記第1枠部材の上記第2枠部材に対向する端面に、上記第1枠部材の外周面と内周面とに通じる凹部を有すること、及び、上記第2枠部材の上記第1枠部材に対向する端面に、上記第2枠部材の外周面と内周面とに通じる凹部を有することの少なくとも一方を満たしており、少なくとも上記凹部によって、上記ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路が形成されている。
 即ち、本実施形態のペリクル枠において、上記流路は、枠部材を貫通する貫通孔として加工されるのではなく、枠部材の端面に凹部を加工することによって形成される。枠部材の端面における凹部の加工は、枠部材を貫通する貫通孔の加工と比較して容易である。
 従って、本実施形態のペリクル枠は、加工により、ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路を形成する際の加工性(加工し易さ)に優れている。
 上記凹部の加工は、例えば、エッチング(ドライエッチング、ウェットエッチング、等)、研削などの公知の方法によって行うことができる。
 上記流路の機能には特に制限はないが、例えば、ペリクル枠で囲まれた領域とペリクル枠の外側の領域との間の圧力調節(通気)を行う機能(以下、「通気機能」ともいう)、露光装置内の異物を捕捉する機能(以下、「異物捕捉機能」ともいう)、等が挙げられる。
 上記流路は、2つ以上の機能を兼ね備えていてもよい。
 また、ペリクル枠が上記流路を2つ以上有する場合、各流路が異なる機能を有していてもよい。
 本実施形態のペリクル枠において、上記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た上記凹部の形状は、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である。これにより、凹部(流路)に侵入した異物(粒子)が、凹部(流路)の壁面により衝突し易くなるので、流路における異物捕捉性能がより向上する。
 上記曲がり部としては、屈曲部及び湾曲部が挙げられる。
 上記凹部の形状は、屈曲部、分岐部、及び湾曲部の少なくとも1つを有する溝形状であることが好ましい。
 ここで、「屈曲部」とは、直線部分に通じる曲がり部を指す(例えば、後述の図2における屈曲部113、114、115、116、117、118)。「屈曲部」は、「コーナー部」と言い換えることもできる。
 「湾曲部」とは、直線部分に通じない曲がり部を指す。
 本実施形態のペリクル枠は、更に、上記第1枠部材と上記第2枠部材とを接着する接着剤層を備えることが好ましい。これにより、第1枠部材及び第2枠部材がしっかりと固定される。
 接着剤層は接着剤を含む。
 本実施形態において、「接着剤」は広義の接着剤を指し、「接着剤」の概念には、粘着剤も含まれるものとする。
 接着剤としては、アクリル樹脂接着剤、エポキシ樹脂接着剤、ポリイミド樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、無機系接着剤、両面粘着テープ、シリコーン樹脂粘着剤、アクリル系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤、等が挙げられる。
 中でも、アクリル樹脂接着剤、エポキシ樹脂接着剤、ポリイミド樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、無機系接着剤、が好ましい。
 本実施形態のペリクル枠では、少なくとも上記凹部と上記接着剤層の一部とによって上記ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路が形成されている態様が好ましい。この態様では、流路の一部を構成する接着剤層の一部により、効果的に異物を捕捉できる。即ち、上記流路における異物捕捉性能がより向上する。
 上記流路における異物捕捉性能を更に向上させる観点から、上記凹部における、曲がり部及び分岐部の総数は、6以上であることが好ましい。
 この態様は、必ずしも、凹部が曲がり部及び分岐部の両方を有していることには限定されない。例えば凹部が曲がり部のみを有する場合には、曲がり部の総数が6以上であることが好ましい。
 例えば、枠部材のうちの特定の一辺の外周面の起点として、枠部材の他の三辺を経由し、上記特定の一辺に戻り、上記特定の一辺の内周面に至る溝(例えば後述の図2参照)では、曲がり部の総数を6とすることができる。
 曲がり部及び分岐部の総数の上限には特に制限はないが、上記総数は、圧力損失低減の観点などから、100以下が好ましく、50以下がより好ましく、30以下が特に好ましい。
 また、本実施形態のペリクル枠は、上記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た上記凹部の形状が、上記ペリクル枠の少なくとも三辺にわたって延びる溝形状である態様が好ましい。
 即ち、本実施形態のペリクル枠は、上記第1枠部材の上記第2枠部材に対向する端面に、上記第1枠部材の少なくとも三辺にわたって延び、一端が上記第1枠部材の外周面に通じ、他端が上記第1枠部材の内周面に通じる凹部を有すること、及び、上記第2枠部材の上記第1枠部材に対向する端面に、上記第2枠部材の少なくとも三辺にわたって延び、一端が上記第2枠部材の外周面に通じ、他端が上記第2枠部材の内周面に通じる凹部を有することの少なくとも一方を満たす態様が好ましい。
 この態様では、上記凹部によって形成される上記流路の流路長を長くすることができるので、上記流路における異物捕捉性能がより向上する。
 この態様の具体例として、後述の第2枠部材200における凹部112(図2参照)、後述の第1枠部材102における凹部32(図7参照)、後述の第2枠部材206における凹部142(図8参照)、等が挙げられる。
 本実施形態のペリクル枠において、上記第1枠部材及び上記第2枠部材の少なくとも一方は、厚さ方向の端面のうちの少なくとも一方に設けられ、上記凹部に接続しない溝と、外周面と上記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、を有することが好ましい。
 本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合には、上記第1枠部材及び上記第2枠部材の少なくとも一方(以下、「特定枠部材」ともいう)と他の部材(例えば、ペリクル膜、他の枠部材、原版、等)とを固定する際に、特定枠部材及び他の部材の各々の前面及び背面に接触することなく両者を固定できる。
 詳細には、上記貫通孔は、特定枠部材の外周面の一部と、上記溝の壁面(側面又は底面。以下同じ。)の一部と、の間を貫通している。このため、特定枠部材の上記溝が設けられた端面と、他の部材(例えば、ペリクル膜、他の枠部材、原版)と、を対向配置させた状態で、上記貫通孔を通じて上記溝の内部を減圧することにより、特定枠部材と他の部材との間に、押し付け合う力を働かせることができる。このため、特定枠部材及び他の部材の前面及び背面に(装置、治具、手などによって)接触することなく、両者を固定することができる。
 従って、本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合には、特定枠部材と他の部材とを固定する際に、特定枠部材及び他の部材の前面及び背面に接触することなく両者を固定できるという効果が奏される。
 なお、本明細書中において、「押し付け合う力」は、引き付け合う力と同義である。
 ここで、枠部材について、「前面」とは、厚さ方向の端面の一方(以下、「一端面」ともいう)を指し、「背面」とは、厚さ方向の端面の他方(以下、「他端面」ともいう)を指す。
 また、ペリクル膜について、「前面」及び「背面」とは、一方の膜面及び他方の膜面を指す。
 原版について、「前面」とは、光照射面を指し、「背面」とは、光照射面とは反対側の面を指す。
 以下、本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合について、より詳細に説明する。
 一般に、ペリクル膜は、非常に破れやすい性質を有している。このため、ペリクル膜の取り扱いには、細心の注意が求められる。ペリクル膜の中でも、無機系材料を含むペリクル膜(例えば、特開2010-256434号公報、特開2009-116284号公報、特開2005-43895号公報、又は国際公開第2011/160861号パンフレットに記載のペリクル膜)は、破れやすく、自立しにくい膜であるだけでなく、機械的な接触によっても傷や発塵の原因となるため、その取扱いにはより一層の注意が求められる。ここで、「自立」とは、単独で膜形状を保持できることを指す。
 また、半導体デバイスの微細化に伴い、ペリクル膜、ペリクル枠、原版といった部材に異物が付着しないようにするために、より一層の注意が求められる。
 例えばEUVリソグラフィーに用いられるEUV露光装置では、露光装置内に原版を固定する際、従来のチャック方式とは異なり、静電チャック方式によって、原版の背面(EUV光照射面とは反対側の面。以下同じ。)がマスクステージに直接接触するように固定される。そのため、原版の背面に異物が付着すると、異物の凹凸によって原版の平坦性が損なわれ正常な露光ができなくなることを本発明者らは見出した。この点に関し、原版を機械的に保持してペリクルを貼り付ける従来の方法では、原版背面への異物付着および傷の発生の原因となりうる。
 以上の観点から、本発明者らは、特定枠部材と他の部材(例えば、ペリクル膜、他の枠部材、原版等)とを固定する際に、特定枠部材及び他の部材の前面及び背面を、装置、治具、手などによって接触しないにようにして両者を固定する方法について検討した。
 そして本発明者らは、本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有することにより、かかる方法を実現できることを見出した。
 本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合には、特定枠部材や他の部材に接触することによる、特定枠部材及び他の部材への異物の付着を防止できる。
 特に、他の部材としてペリクル膜を用いた場合には、ペリクル膜に接触することによる、ペリクル膜の破れを防止できる。
 特に、近年、半導体デバイスの微細化に伴い、ペリクルや原版への異物の付着を抑制する要求が一層強くなっている。
 また、線幅32nm以下のパターン形成は、例えばEUVリソグラフィーによって行われる。EUVリソグラフィーに用いられる、無機系材料を含むペリクル膜は、有機系材料を含むペリクル膜と比較して自立しにくい傾向があり、また、機械的な接触によっても傷や発塵を発生しやすい。このため、無機系材料を含むペリクル膜を用いてペリクルを作製する場合には、ペリクル膜の膜面に接触することなくペリクルを作製する要求が大きい。 本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合には、半導体デバイスの微細化に伴うこれらの要求に応えることができる。
 具体的には、本実施形態のペリクル枠は、特に、波長が短い露光光(例えば、EUV光、EUV光よりも更に波長が短い光、等)を用いたリソグラフィー用のペリクル、中でも、無機系材料を含むペリクル膜を備えたペリクルの作製に好適である。
 本実施形態において、EUV(Extreme Ultra Violet:極端紫外)光とは、波長5nm~30nmの光を指す。
 EUV光の波長は、5nm~13.5nmが好ましい。
 本実施形態では、EUV光、及び、EUV光よりも波長が短い光を総称し、「EUV光等」ということがある。
 本実施形態のペリクル枠が上記溝及び上記貫通孔を有する場合の更に好ましい態様は、特定枠部材が、厚さ方向の一端面及び他端面の両方に上記溝を有する態様である。
 この態様の特定枠部材は、上記一端面及び上記他端面の両方に、上述した減圧用の溝を有するため、ペリクル膜、他の枠部材、又は原版を固定する面の選択の幅が広いという利点を有する。
 更に、この態様のペリクル枠は、特定枠部材の一端面にペリクル膜若しくは他の枠部材(又は原版)が配置され、他端面に原版(又は、ペリクル膜若しくは他の枠部材)が配置されてなる、露光原版の作製に好適である。この露光原版の作製では、特定枠部材及びペリクル膜に接触せずにペリクルを作製でき、かつ、上記ペリクル及び原版に接触せずに露光原版を作製できる。
(ペリクル枠の一例)
 次に、本実施形態のペリクル枠の一例を、図1~図3及び図6を参照しながら説明する。但し、本実施形態のペリクル枠はこの一例によって限定されることはない。
 なお、以下の示す一例は、独立した部材としてのペリクル枠の一例に該当するだけでなく、後述する本実施形態のペリクル(ペリクル枠がペリクル膜を支持してなるペリクル)のうちのペリクル枠の部分の一例にも該当する。
 図1は、本実施形態のペリクル枠の一例に係るペリクル枠300の概略斜視図である。
 図2は、上記ペリクル枠300における、第1枠部材の第2枠部材と対向する端面、及び、第2枠部材の第1枠部材と対向する端面を示す分解図である。図2では、接着剤層の図示を省略している。
 図3は、図1のA-A線断面図である。
 図6は、上記ペリクル枠300の構成部材の一つである第1枠部材を、第2枠部材に対向しない端面を観察できる方向から見た概略斜視図である。
 図1及び図2に示すように、ペリクル枠300は、矩形状の第1枠部材100及び矩形状の第2枠部材200を備えている。
 第1枠部材100及び第2枠部材200は、第1枠部材100の厚さ方向の一方の端面である端面10と、第2枠部材200の厚さ方向の一方の端面である端面110と、が対向するように配置されている。第1枠部材100及び第2枠部材200は、これらの厚さ方向からみたときに、各々の内周面(内周面40、内周面140)、及び、各々の外周面(外周面30、外周面130)が重なるように配置されている。
 そして第1枠部材100と第2枠部材200との間には、両者を接着する接着剤層160が介在している。
 以上のようにして、一体の枠部材である、ペリクル枠300が形成されている。
 ペリクル枠300の外周面は、第1枠部材100の外周面30及び第2枠部材200の外周面130によって形成されている。また、ペリクル枠300の内周面は、第1枠部材100の内周面40及び第2枠部材200の内周面140によって形成されている。
 なお、第1枠部材100及び第2枠部材200の形状は上述のとおり矩形状であるが、本実施形態の第1枠部材及び第2枠部材の形状は矩形状には限定されず、矩形状以外の形状(例えば、台形状、枠の外側部分に出っ張りを有する形状、等)であってもよい。
 図2に示すように、第2枠部材200の端面110には、溝形状の凹部112が設けられている。凹部112は、第2枠部材200の外周面130と内周面140とに通じている。即ち、凹部112は、第2枠部材200の外周面130と内周面140との間を貫通している。
 詳細には、凹部112の形状は、端面110に対して垂直な方向からみたときに、第2枠部材200の四辺のうちの特定の一辺の外周面130を起点とし、他の三辺を経由して上記特定の一辺に戻り、特定の一辺における内周面140を終点とする形状となっている。言い換えれば、凹部112は、第2枠部材200の四辺のうちの少なくとも三辺(概ね四辺)にわたって延び、その一端が外周面130に通じており、その他端が内周面140に通じている。
 凹部112は、上記形状であるために、6つの曲がり部、詳細には6つの屈曲部(屈曲部113、114、115、116、117、118)を有している。
 本実施形態における凹部の形状は、凹部112の形状には限定されない。凹部の変形例については後述する。
 また、第1枠部材100の端面10には、溝12が設けられている。
 ペリクル枠300において、第1枠部材100の溝12及び第2枠部材200の凹部112は、互いに接続しない配置で設けられている(特に、図2及び図3参照)。即ち、溝12及び凹部112は、第1枠部材100及び第2枠部材200の厚さ方向(以下、単に「厚さ方向」ともいう)からみたときに、互いに重ならない配置で設けられている。
 ペリクル枠300において、より具体的には、溝12は、凹部112よりも外側に配置されている。
 更に、溝12は、厚さ方向からみたときに、第1枠部材100の四辺に渡って概ね一周する形状となっているが完全に一周する形状ではなく、端部16及び17を有する有端形状となっている。そして厚さ方向からみた溝12及び凹部112の配置は、溝12の端部16と端部17との間を、凹部112の一部が通る配置となっている。
 また、第1枠部材100は、貫通孔14A及び貫通孔14Bを有している。
 貫通孔14A及び貫通孔14Bは、それぞれ、溝12の底面と第1枠部材100の外周面30との間を貫通している。
 ここで、貫通孔14A及び14Bは、それぞれ、溝12の側面と外周面30との間を貫通していてもよい。
 また、貫通孔14A及び14Bのいずれか一方は、省略されていてもよい。即ち、第1枠部材100では、1つの溝(例えば溝12)に対して2つの貫通孔(貫通孔14A及び14B)が接続しているが、本実施形態はこの態様には限定されない。本実施形態では、1つの溝(例えば溝12)に対し、少なくとも1つの貫通孔が接続されていればよい。また、本実施形態では、少なくとも1つの貫通孔に接続される溝が、1つの端面につき2つ以上設けられていてもよい。
 また、図6に示すように、端面10とは反対側の端面20には、溝22が設けられている。溝22の形状は、第1枠部材100の形状に沿って一周する無端形状となっている。
 第1枠部材100は、貫通孔24A及び貫通孔24Bを有している。
 貫通孔24A及び貫通孔24Bは、それぞれ、溝22の底面と外周面30との間を貫通している。
 貫通孔24A及び24Bのバリエーションについては、貫通孔14A及び14Bのバリエーションと同様である。
 また、図3に示すように、ペリクル枠300において、接着剤層160は、第1枠部材100の端面10のうち、溝12以外の領域に設けられている。
 これにより、ペリクル枠300では、凹部112と、接着剤層160の一部(より詳細には接着剤層160の膜面)と、によって、ペリクル枠300の内周面と外周面との間を貫通する流路が形成されている。
 この流路は、ペリクル枠300で囲まれた領域とペリクル枠の外側の領域との間の圧力調節(通気)を行う機能(通気機能)、及び、露光装置内の異物を捕捉する機能(異物捕捉機能)の少なくとも一方を果たす。
 溝12以外の領域に接着剤層160を設ける方法としては、ペリクル枠300を製造する際、まず、(第2枠部材200の側ではなく)第1枠部材100の側に接着剤層160を形成し、次いで、接着剤層160が形成された第1枠部材100と、第2枠部材200と、を貼り合わせる方法が好適である。
 なお、接着剤層160は、第2枠部材の端面110のうち、凹部112以外の領域に設けられていてもよい。凹部112以外の領域に接着剤層160を設ける方法としては、ペリクル枠300を製造する際、第1枠部材100ではなく第2枠部材200の側に、接着剤層160を形成し、その後、接着剤層160が形成された第2枠部材200と、第1枠部材100と、を貼り合わせる方法が好適である。
 上述したペリクル枠300において、凹部112は、接着剤層160の一部とともに、ペリクル枠300の内周面と外周面との間を貫通する流路を形成している。
 ペリクル枠の内周面と外周面との間を貫通する流路を形成する方法としては、本実施形態とは異なり、枠部材に貫通孔を加工し、この貫通孔を流路とする方法も考えられる。しかし、貫通孔として流路を形成する方法では、凹部112のような、屈曲部を有する複雑な流路を形成することは難しい。
 この方法に対し、本実施形態では、枠部材に対し、貫通孔ではなく、凹部を形成するので、流路の形成(加工)が容易であるという利点を有する。凹部の加工は、エッチング(ドライエッチング、ウェットエッチング、等)、研削などの公知の方法によって行うことができる。
 また、ペリクル枠300では、上記流路の一部を構成している接着剤層160の一部に異物を付着させることができるので、上記流路における異物捕捉性能が向上する。
 また、ペリクル枠300では、凹部112が6か所の屈曲部を有している。これにより、異物が凹部112の壁面に衝突しやすくなるので、凹部112によって形成される流路の異物捕捉性能が向上する。
 また、ペリクル枠300では、第1枠部材100の端面10に、凹部112とは接続しない溝12が設けられている。更に、この第1枠部材100には、この溝12に接続する貫通孔14A及び貫通孔14Bが設けられている。
 これらの構成により、第1枠部材100と第2枠部材200とを、これらの前面(一方の端面)及び背面(他方の端面)に接触することなく、接着剤層160を介して固定することができる。特に、第2枠部材の端面110とは反対側の端面の側にペリクル膜が支持されている場合(即ち、ペリクル枠300とペリクル膜とを備えるペリクルを作製する場合)には、ペリクル膜の一方の膜面及び他方の膜面に接触することなく、第1枠部材100と第2枠部材200とを接着剤層160を介して固定できる。
 具体的には、第1枠部材100の端面10の側(接着剤層160の表面)に第2枠部材200を固定する際に、貫通孔14A及び14Bを通じて溝12の内部を(例えば真空ポンプ等の排気手段によって)減圧することができる。この減圧により、第1枠部材100と第2枠部材200との間に押し付け合う力(即ち、引き付け合う力)を働かせることができるので、これらの前面(一方の端面)及び背面(他方の端面)に接触することなく、接着剤層160を介して両者を固定することができる。
 本一例において、溝12は、凹部112とは接続しない溝であるため、上記押し付け合う力を効果的に働かせることができる。また、溝12によって、凹部112の機能(例えば、異物捕捉機能、通気機能、等)が妨げられることもない。
 また、ペリクル枠300では、第1枠部材100の端面20に溝22が設けられており、更に、この第1枠部材100には、この溝22に接続する貫通孔24A及び貫通孔24Bが設けられている。
 これらの構成により、ペリクル枠300の第1枠部材100の端面20の側に、原版を固定して露光原版を作製する際に、ペリクル枠300及び原版の各々の前面及び背面に接触することなく、両者を固定することができる。
 具体的には、第1枠部材100の端面20の側に原版を固定する際に、貫通孔24A及び24Bを通じて溝22の内部を(例えば真空ポンプ等の排気手段によって)減圧することができる。この減圧により、第1枠部材100と原版との間に押し付け合う力(即ち、引き付け合う力)を働かせることができるので、これらの前面及び背面に接触することなく両者を固定することができる。上記固定は、接着剤層を介して行われてもよい。その後、第2枠部材200の端面110とは反対側の端面の側に、(必要に応じ接着剤層を介して)ペリクル膜を固定してもよい。
 また、上述したペリクル枠300は、まずペリクル枠300にペリクル膜が支持されたペリクルを作製し、次いで、ペリクルと原版とを固定して露光原版を作製する用途にも好適である。この露光原版の作製では、ペリクル膜、ペリクル枠300、及び原版の各々の前面及び背面に接触することなくペリクルと原版とを(必要に応じ接着剤層を介して)固定して、露光原版を作製することができる。
 次に、第1枠部材100の寸法の例について、図2を参照しながら説明する。
 なお、第2枠部材200の寸法の例についても第1枠部材100の寸法の例と同様である。
 第1枠部材100の長辺方向の長さL1は、例えば135mm~153mmとすることができ、140mm~152mmが好ましく、145mm~151mmがより好ましい。
 第1枠部材100の短辺方向の長さL2は、例えば100mm~130mmとすることができ、105mm~125mmが好ましく、110mm~120mmがより好ましい。
 長辺方向の長さL1と短辺方向の長さL2とは、同一寸法であってもよい。即ち、第1枠部材100の形状は、正方形形状であってもよい。
 第1枠部材100の枠幅(フレーム幅)Wは、例えば1.0mm~5.0mmとすることができ、1.2mm~3.5mmが好ましく、1.5mm~2.5mmがより好ましい。枠幅は、矩形形状の第1枠部材100の四辺において、同一の寸法としてもよいし、異なる寸法としてもよい。
 また、第1枠部材100によって囲まれた開口部(貫通孔)の長辺方向の長さは、例えば130mm~152mmとすることができ、135mm~151mmが好ましく、140mm~150mmがより好ましい。
 また、開口部の幅は、例えば95mm~130mmとすることができ、100mm~125mmが好ましく、105mm~120mmがより好ましい。
 第1枠部材100の厚さtは、例えば0.5mm~5.0mmとすることができ、0.5mm~3.0mmが好ましく、0.5mm~2.0mmがより好ましい。
 また、溝12及び溝22の幅は、溝での圧力損失低減、第1枠部材100の枠幅との関係、等を考慮して適宜設定できるが、例えば10μm~1.0mmとすることができ、50μm~700μmが好ましく、100μm~600μmがより好ましく、200μm~500μmが特に好ましい。
 また、溝12及び溝22の深さは、溝での圧力損失低減、枠部材の厚さとの関係、等を考慮して適宜設定できるが、例えば10μm~1.0mmとすることができ、50μm~700μmが好ましく、100μm~600μmがより好ましく、200μm~500μmが特に好ましい。
 また、貫通孔14A、14B、24A、及び24Bの幅は、貫通孔での圧力損失低減、枠部材の厚さとの関係等を考慮して適宜設定できるが、例えば10μm~1.0mmとすることができ、50μm~700μmが好ましく、100μm~600μmがより好ましく、200μm~500μmが特に好ましい。
 また、貫通孔14A、14B、24A、及び24Bの長さは、貫通孔での圧力損失低減、等を考慮して適宜設定できるが、例えば0.5mm~10mmとすることができ、0.7mm~5.0mmが好ましく、1.0mm~2.0mmがより好ましい。
 本一例において、第2枠部材200に設けられている凹部112の幅(流路幅)は、凹部112での圧力損失低減等を考慮して適宜設定できるが、例えば10μm以上とすることができ、100μm以上が好ましい。
 また、凹部における異物捕捉性能をより高める観点からは、凹部の幅は1.0mm以下が好ましく、700μm以下が更に好ましく、600μm以下が更に好ましく、500μm以下が更に好ましい。
 凹部の幅が1.0mm以下であると、ブラウン運動によって異物(特に、粒径100nm以下の粒子)が凹部の壁面により衝突し易くなるので、凹部における異物捕捉性能がより高まる。
 なお、粒径10μm程度の異物(粒子)は、重力及び慣性力の少なくとも一方によって凹部(又は流路)の壁面に衝突し、凹部(又は流路)内に捕捉されると考えられる。
 凹部の深さ(流路高さ)は、凹部での圧力損失低減、枠部材の厚さとの関係、等を考慮して適宜設定できるが、例えば10μm~1.0mmとすることができ、50μm~700μmが好ましく、100μm~600μmがより好ましく、200μm~500μmが特に好ましい。
 本実施形態における凹部は外周面と内周面とに通じる凹部であるため、凹部の長さ(流路長)は、枠幅(フレーム幅)以上であれば特に制限はない。
 凹部の長さ(流路長)は、例えば10mm~500mmとすることができ、50mm~490mmが好ましく、100mm~480mmがより好ましく、200mm~450mmが更に好ましい。
 凹部(流路)の異物捕捉性能を向上させる点では、凹部の長さ(流路長)が長いほど有利である。また、凹部(流路)における圧力損失を低減する点では、凹部の長さ(流路長)が短いほど有利である。
 第1枠部材100及び第2枠部材200の材質には特に制限はなく、ペリクル枠に用いられる通常の材質とすることができる。
 第1枠部材100の材質として、具体的には、アルミニウム、アルミニウム合金(5000系、6000系、7000系等)、ステンレス、シリコン、シリコン合金、鉄、鉄系合金、炭素鋼、工具鋼、セラミックス、金属-セラミックス複合材料、樹脂等が挙げられる。中でも、アルミニウム、アルミニウム合金が、軽量かつ剛性の面からより好ましい。
 また、第1枠部材100の材質及び第2枠部材200の材質は、同一であっても異なっていてもよい。
 例えば、第1枠部材100として、アルミニウム又はアルミニウム合金製の枠部材を用い、第2枠部材200として、シリコン製の枠部材を用いてもよい。この態様は、シリコン基板である第2枠部材200が結晶シリコン膜であるペリクル膜を支持した構造の、複合部材を用いる場合に好適である。この複合部材については後述する。
 また、第1枠部材100及び第2枠部材200は、その表面に保護膜を有していてもよい。
 保護膜としては、露光雰囲気中に存在する水素ラジカルおよびEUV光等に対して耐性を有する保護膜が好ましい。
 保護膜としては、例えば、酸化被膜が挙げられる。
 酸化被膜は、陽極酸化等の公知の方法によって形成することができる。
 また酸化被膜は、黒色系染料によって着色されていてもよい。第1枠部材100が黒色系染料によって着色された酸化被膜を有する場合には、第1枠部材100上の異物の検出がより容易となる。
 その他、第1枠部材100及び第2枠部材200のその他の構成については、例えば、特開2014-021217号公報、特開2010-146027号公報等の公知のペリクル枠の構成を適宜参照することができる。
(ペリクル枠の変形例)
 以下、本実施形態のペリクル枠の変形例について説明する。
 上記ペリクル枠300では、ペリクル枠の外周面と内周面とに通じる凹部112が、第2枠部材200に設けられているが、本実施形態における凹部は、第2枠部材に設けられることには限定されない。
 本実施形態における凹部は、第1枠部材及び第2枠部材の少なくとも一方に設けられていればよい。
 より詳細には、本実施形態のペリクル枠は、上記第1枠部材の上記第2枠部材に対向する端面に、ペリクル枠(詳細には上記第1枠部材)の外周面と内周面とに通じる凹部を有すること、及び、上記第2枠部材の上記第1枠部材に対向する端面に、ペリクル枠(詳細には上記第2枠部材)の外周面と内周面とに通じる凹部を有することの少なくとも一方を満たしていればよい。
 図4及び図5は、いずれも本実施形態の変形例に係るペリクル枠の部分断面図であり、いずれも図3の部分断面図に対応するものである。
 図4に示すペリクル枠は、第2枠部材202には凹部が設けられておらず、その代りに第1枠部材102に凹部32が設けられた例である。この例では、凹部32と、接着剤層160の一部(詳細には接着剤層160の端面)と、第2枠部材202の厚さ方向の端面の一部と、によって流路が形成されている。
 第1枠部材102において、凹部32は、溝12と接触しない位置(枠部材の厚さ方向からみて重ならない位置)に設けられている。
 図5に示すペリクル枠は、第2枠部材200に凹部112が設けられ、かつ、第1枠部材102に凹部32が設けられた例である。図5に示すペリクル枠では、枠部材の厚さ方向からみたときに、凹部112と凹部32とが重なるように両者が設けられており、これにより、凹部112と凹部32とによって一つの流路が形成されている。より詳細には、この例では、凹部112と、凹部32と、接着剤層160の一部(詳細には接着剤層160の端面)と、によって流路が形成されている。
 なお、図5に示すペリクル枠では、凹部112と凹部32とによって一つの流路が形成されているが、更なる変形例として、凹部112と凹部32とによって別個の流路が形成されていてもよい。要するに、凹部32が、溝12と接触しない位置(枠部材の厚さ方向からみて重ならない位置)に設けられていればよい。
 図7は、図4及び図5に示す変形例に係るペリクル枠に用いられる、第1枠部材102の概略斜視図である。
 図7に示すように、第1枠部材102では、端面10に、溝12とは接触しない凹部32が設けられている。
 第1枠部材102のその他の構成は、第1枠部材100の構成と同様である。
 図8は、ペリクル枠300における第2枠部材200の変形例に係る第2枠部材206の概略平面図である。
 図8に示すように、第2枠部材206では、第2枠部材200における凹部112が、凹部112と同様に溝形状ではあるが、分岐部及び蛇行部を含む凹部142に変更されている。
 第2枠部材206のその他の構成は、第2枠部材200の構成と同様である。
 以上の具体例及び変形例は、適宜、組み合わせることもできる。
(その他の部材)
 本実施形態のペリクル枠は、第1枠部材、第2枠部材、第1枠部材と第2枠部材との間に介在する接着剤層以外のその他の部材を備えていてもよい。
 例えば、本実施形態のペリクル枠は、ペリクル膜と固定される側の端面、及び、原版と固定される側の端面の少なくとも一方に、接着剤層を備えていてもよい。
 接着剤層に含まれる接着剤としては、アクリル樹脂接着剤、エポキシ樹脂接着剤、ポリイミド樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、無機系接着剤、両面粘着テープ、シリコーン樹脂粘着剤、アクリル系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤、等が挙げられる。
 ペリクル膜との接着に用いられる接着剤としては、アクリル樹脂接着剤、エポキシ樹脂接着剤、ポリイミド樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、無機系接着剤、が好ましい。
 原版との接着に用いられる接着剤としては、両面粘着テープ、シリコーン樹脂粘着剤、アクリル系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤が好ましい。
 また、本実施形態のペリクル枠は、接着剤層上に、更に、剥離ライナー(剥離フィルムやセパレーターとも呼ばれている)を有していてもよい。剥離ライナーとしては、公知のものを特に制限なく用いることができる。
<枠部材>
 本実施形態の枠部材は、ペリクル枠用の枠部材であって、厚さ方向の少なくとも一方の端面に、外周面と内周面とに通じる凹部を有し、上記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た上記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である。
 本実施形態の枠部材としては、前述した第1枠部材及び第2枠部材のうち、凹部が設けられた枠部材が挙げられ、好ましい範囲も前述のとおりである。
 本実施形態の枠部材の具体例としては、前述した、第1枠部材102、第2枠部材200、及び第2枠部材206が挙げられる。
 本実施形態の枠部材は、更に、厚さ方向の少なくとも一方の端面に設けられ、上記凹部に接続しない溝と、外周面と上記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、を有することが好ましい。
 かかる態様の枠部材の一例として、前述した第1枠部材102が挙げられる。
 本実施形態の枠部材は、枠部材(以下、「枠本体」ともいう)と枠本体以外のその他の部材を備えた部材であってもよい。
 例えば、本実施形態の枠部材(枠本体)は、厚さ方向の少なくとも一方の端面に接着剤層を備えていてもよい。
 接着剤層に含まれる接着剤の例は前述のとおりである。
 また、本実施形態の枠部材は、上記接着剤層上に、更に、剥離ライナー(剥離フィルムやセパレーターとも呼ばれている)を有していてもよい。
<ペリクル>
 本実施形態のペリクルは、上述した本実施形態のペリクル枠と、上記第1枠部材の上記第2枠部材とは対向しない端面の側、又は、上記第2枠部材の上記第1枠部材とは対向しない端面の側に支持されたペリクル膜と、を備える。
 本実施形態のペリクルは、本実施形態のペリクル枠を備えるので、本実施形態のペリクル枠と同様の効果を奏する。
 以下では、第1枠部材及び第2枠部材の一方であってペリクル膜からみて近い方の枠部材を「枠部材P」と称することがあり、第1枠部材及び第2枠部材の他方(ペリクル膜からみて遠い方の枠部材)を「枠部材Q」と称することがある。
 また、以下では、第2枠部材が枠部材P(ペリクル膜からみて近い方の枠部材)であり、第1枠部材が枠部材Q(ペリクル膜からみて遠い方の枠部材)である場合を中心に説明する。
 本実施形態のペリクルの構造は、本実施形態のペリクル枠がペリクル膜を支持している構造である。
 しかし、本実施形態のペリクルの製造順序は、必ずしも、本実施形態のペリクル枠を製造した後、このペリクル枠にペリクル膜を固定して製造する順序である必要はない。
 具体的には、枠部材Pがペリクル膜を支持している構造の複合部材を製造し、得られた複合部材と枠部材Qとを固定して製造する順序であってもよい。
 本実施形態のペリクルをいずれの製造順序で製造する場合であっても、第1枠部材及び第2枠部材の一方における凹部が設けられた端面の側に、他方の枠部材を必要に応じ接着剤層を介して固定することにより、少なくとも凹部によって流路を形成することができる。このため、本実施形態のペリクル枠と同様の効果が奏される。
 上記ペリクル膜の材質には特に制限はなく、有機系材料であっても、無機系材料であっても、有機系材料と無機系材料との混合材料であってもよい。
 有機系材料としては、フッ素系ポリマー等が挙げられる。
 無機系材料としては、結晶シリコン(例えば、単結晶シリコン、多結晶シリコン、等)、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)、グラファイト、アモルファスカーボン、グラフェン、炭化ケイ素、窒化ケイ素、窒化アルミニウム等が挙げられる。
 ペリクル膜は、上記材料を1種単独で含んでいてもよいし、2種以上を含んでいてもよい。
 即ち、ペリクル膜としては、フッ素系ポリマー、結晶シリコン、ダイヤモンドライクカーボン、グラファイト、アモルファスカーボン、グラフェン、炭化ケイ素、窒化ケイ素、及び窒化アルミニウムからなる群から選択される少なくとも1種を含むペリクル膜が挙げられる。
 中でも、EUV光等に対し高い透過性を有し、かつ、EUV光等の照射による分解及び変形を抑制できる点で、結晶シリコン、ダイヤモンドライクカーボン、グラファイト、アモルファスカーボン、グラフェン、炭化ケイ素、窒化ケイ素、及び窒化アルミニウムからなる群から選択される少なくとも1種の無機系材料を含むペリクル膜が好ましい。
 一方、かかる無機系材料を含むペリクル膜は、非常に破れやすく、接触による傷及び発塵が生じやすい膜である。しかし、本実施形態のペリクルにおいて、枠部材Pが、上述した、凹部に接続しない溝を有する場合には、ペリクル膜及びペリクル枠の各々の前面及び背面に接触することなくペリクルを製造できる。従って、この場合には、かかる無機系材料を含むペリクル膜を用いた場合であっても、接触によるペリクル膜の破れ、傷、発塵等を効果的に防止できる。
 また、ペリクル膜の構成は、単層構成であっても、二層以上からなる構成であってもよい。
 ペリクル膜の厚さ(二層以上からなる場合には総厚)は、例えば、10nm~200nmとすることができ、10nm~100nmが好ましく、10nm~70nmがより好ましく、10nm~50nmが特に好ましい。
 ペリクル膜の厚さが薄いと(例えば200nm以下であると)、EUV光等に対する透過性に優れる。
 一方、ペリクル膜の厚さが薄いと(例えば200nm以下であると)、ペリクル膜が破れやすくなる傾向となる。しかし、本実施形態のペリクルにおいて、枠部材Pが、上述した、凹部に接続しない溝を有する場合には、ペリクル膜、第1枠部材、及び第2枠部材の各々の前面及び背面に接触することなく、ペリクルを製造できる。従って、この場合には、厚さが薄い(例えば200nm以下の)ペリクル膜を用いた場合であっても、ペリクル膜の破れを効果的に防止できる。
 また、例えば、本実施形態のペリクルにおいて、上記凹部に接続しない溝が、上記ペリクル枠の端面のうちペリクル膜を支持する側の端面に設けられている場合には、本実施形態のペリクルは、ペリクル膜及びペリクル枠の前面及び背面に接触することなく製造できるという効果(以下、「効果1」とする)を奏する。
 また、本実施形態のペリクルにおいて、上記凹部に接続しない溝が、上記ペリクル枠の端面のうちペリクル膜を支持する側の端面の反対面に設けられている場合には、本実施形態のペリクルは、ペリクル及び原版の前面及び背面に接触することなく露光原版を製造できるという効果(以下、「効果2」とする)を奏する。
 また、本実施形態のペリクルにおいて、上記ペリクル枠の両方の端面に溝が設けられている場合には、効果1及び効果2の両方を奏することは言うまでもない。
 本実施形態のペリクルの好ましい態様は、枠部材Pがペリクル膜を支持している構造の複合部材を備える態様である。
 この態様は、ペリクル膜が自立しにくい膜(例えば、シリコン結晶膜等の無機系材料を含むペリクル膜、厚さが薄いペリクル膜、等)である場合であっても、枠部材Pによってペリクル膜の膜形状を保持しながらペリクルを製造できるという利点を有する。
 上記複合部材を備える態様のペリクルは、枠部材Pがペリクル膜を支持している構造の複合部材と、枠部材Qと、を固定することによって好適に作製される。
 上記複合部材の一例として、ペリクル膜としてのシリコン結晶膜と、枠部材Pとしての枠形状のシリコン基板(例えばシリコンウェハ)と、からなる複合部材が挙げられる。ペリクルの製造において、上記一例に係る複合部材を用いた場合には、枠部材P(枠形状のシリコン基板)によってペリクル膜(シリコン結晶膜)の膜形状を保持しながら、ペリクルを製造できる。
 この一例に係る複合部材は、例えば、まず、シリコン基板上にシリコン結晶膜を形成し、次いで、このシリコン基板のシリコン結晶膜非形成面側から、シリコン基板の中央部をエッチングしてこの中央部のシリコン基板を除去することにより作製できる。この方法で作製された複合部材の上記中央部にはシリコン結晶膜のみが残り、この中央部のシリコン結晶膜がペリクル膜となる。中央部の周りの周辺部にはシリコン結晶膜及びシリコン基板が残り、この周辺部に残ったシリコン基板によって枠部材Pが形成される。シリコン基板として円形状のシリコン基板(例えばシリコンウェハ)を用いた場合には、円形状のシリコン基板及びシリコン結晶膜は、枠部材Qとの貼り合わせ前又は貼り合わせ後において、枠部材Qの外形状と同じ外形状にカットされることが好ましい。このカットする操作は、「トリミング」と呼ばれている。
 なお、枠部材Pがペリクル膜を支持している構造の複合部材が、上記一例以外の複合部材である場合も同様の方法によって作製できる。
(ペリクルの一例)
 次に、本実施形態のペリクルの一例を、図9を参照しながら説明する。但し、本実施形態のペリクルはこの一例によって限定されることはない。
 図9は、本実施形態のペリクルの一例(ペリクル500)の概略断面図である。
 図9に示されるように、ペリクル500の構成は、ペリクル膜480と第2枠部材482(枠部材P)との複合部材490と、接着剤層付き枠部材420と、を貼り合わせた構成となっている。
 接着剤層付き枠部材420は、第1枠部材400(枠部材Q)と、第1枠部材400の一端面(第2枠部材482との対向面)に接する接着剤層460と、第1枠部材400の他端面に接する接着剤層462と、接着剤層462に接する剥離ライナー470と、を備えている。
 ペリクル500において、複合部材490と接着剤層付き枠部材420とは、複合部材490の第2枠部材482と、接着剤層付き枠部材420の接着剤層460と、が接するように配置されている。
 第1枠部材400(枠部材Q)は、厚さ方向の端面の両方に、それぞれ前述の第1枠部材100と同様の、凹部に接続しない溝を有している。更に、第1枠部材400は、前述の第1枠部材100と同様の貫通孔を有している。
 また、第2枠部材482(枠部材P)は、前述の第2枠部材200と同様に、第2枠部材の外周面と内周面とに通じる凹部を有している。そしてこの凹部と、接着剤層付き枠部材420の接着剤層460の膜面とによって流路が形成されている。
 ペリクル500は、見方を変えると、第2枠部材482、接着剤層460、第1枠部材400、接着剤層462、及び剥離ライナー470を備えるペリクル枠と、第2枠部材482の第1枠部材400とは対向しない端面の側に固定されたペリクル膜480と、を備えている。
 即ち、ペリクル500は、前述のペリクル枠300に対し、第2枠部材200の第1枠部材100とは対向しない端面にペリクル膜を固定し、かつ、第1枠部材100の第2枠部材200とは対向しない端面に、接着剤層及び剥離ライナーを順次設けた構成となっている。
 ペリクル500は、複合部材490と接着剤層付き枠部材420とを固定する(貼り合わせる)ことによって作製されることが好ましい。
 この際、第1枠部材400の一端面に設けられた溝の内部を、この溝に接続する貫通孔を通じて減圧することができるので、複合部材490及び接着剤層付き枠部材420の前面及び背面に接触することなく、両者を固定することができる。
 なお、接着剤層付き枠部材420における剥離ライナー470は、接着剤層462の露出面を保護するために設けられている。
 ペリクル500を用いて露光原版を作製する場合には、まず、ペリクル500の接着剤層付き枠部材420から剥離ライナー470を除去することで接着剤層462を露出させ、次いで、露出した接着剤層462によって、ペリクルと原版とを固定する。
 上記複合部材490としては、多結晶シリコン膜(p-Si膜)であるペリクル膜480とシリコン基板である第2枠部材482との複合部材が好ましい。このような複合部材を製造する方法の例については、前述したとおりである。
 上記第1枠部材400としては、アルミニウム製又はアルミニウム合金製の枠部材が好ましい。
 また、接着剤層460に含まれる接着剤としては、アクリル樹脂接着剤、エポキシ樹脂接着剤、ポリイミド樹脂接着剤、シリコーン樹脂接着剤、無機系接着剤が好ましい。
 また、接着剤層462に含まれる接着剤としては、両面粘着テープ、シリコーン樹脂粘着剤、アクリル系粘着剤、ポリオレフィン系粘着剤が好ましい。
<ペリクルの製造方法>
 本実施形態のペリクルの製造方法には特に制限はない。
 本実施形態のペリクルの製造方法の例として、例えば、本実施形態のペリクル枠とペリクル膜とを、必要に応じ接着剤層を介して固定する方法によって製造する方法(以下、「方法1」ともいう)が挙げられる。
 また、本実施形態のペリクルの製造方法の別の例として、前述のとおり、枠部材Pがペリクル膜を支持している構造の複合部材と、枠部材Qと、を必要に応じ接着剤層を介して固定する方法(以下、「方法2」)も挙げられる。
 方法1において、枠部材P(ペリクル膜からみて近い方の枠部材)は、ペリクル膜と対向する端面に、凹部と接続しない溝を備え、かつ、この溝の壁面と外周面との間を貫通する貫通孔が設けられていることが好ましい。
 また、方法1は、枠部材Pの上記溝が設けられている端面と上記ペリクル膜とが対向するように配置する配置工程と、上記貫通孔を通じて上記溝の内部を減圧することにより、上記ペリクル枠と上記ペリクル膜とを固定する固定工程と、を有することが好ましい。
 これにより、前述したとおり、上記減圧により、ペリクル枠とペリクル膜との間に押し付け合う力を働かせることができるので、ペリクル枠及びペリクル膜の前面及び背面に接触することなく、両者を固定することができる。
 また、方法2において、枠部材Q(ペリクル膜からみて遠い方の枠部材)は、複合部材と対向する端面に、凹部と接続しない溝を備え、かつ、この溝の壁面と外周面との間を貫通する貫通孔が設けられていることが好ましい。
 また、方法2は、枠部材Qの上記溝が設けられている端面と、上記複合部材に含まれる枠部材Pと、が対向するように配置する配置工程と、上記貫通孔を通じて上記溝の内部を減圧することにより、枠部材Qと複合部材とを固定する固定工程と、を有することが好ましい。これにより、前述したとおり、上記減圧により、溝が設けられている枠部材Qと複合部材との間に押し付け合う力を働かせることができるので、枠部材P、枠部材Q、及びペリクル膜の各々の前面及び背面に接触することなく、両者を固定することができる。
 上記方法1において、固定工程における減圧は、固定の対象となる、ペリクル枠及びペリクル膜が、加圧雰囲気下に配置された状態で行うことが好ましい。
 この態様によれば、ペリクル枠及びペリクル膜が配置される全体の雰囲気の圧力と、溝の内部の圧力と、の差(差圧)をより大きくすることができるので、ペリクル枠とペリクル膜との間に生じる、押し付け合う力をより大きくすることができる。このため、両者をより容易に固定することができる。
 上記押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)は、1N以上が好ましく、2N以上がより好ましい。
 上記押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)は、10N以上が更に好ましく、20N以上が特に好ましい。
 上記押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)の上限には特に制限はないが、生産性などの点からは、例えば500N、好ましくは400Nである。
 同様に、上記方法2において、固定工程における減圧は、固定の対象となる、枠部材Q及び複合部材が、加圧雰囲気下に配置された状態で行うことが好ましい。
 この態様によれば、枠部材Q及び複合部材が配置される全体の雰囲気の圧力と、溝の内部の圧力と、の差(差圧)をより大きくすることができるので、枠部材Qと複合部材との間に生じる、押し付け合う力をより大きくすることができる。このため、両者をより容易に固定することができる。
 上記押し付け合う力の好ましい範囲は、方法1について上述した範囲と同様である。
 本実施形態におけるペリクル枠の外周面と内周面とを貫通する流路は、固定工程における減圧を、固定の対象が加圧雰囲気下に配置された状態で行う場合においても有効に機能する。即ち、上記流路により、加圧雰囲気とする際(例えば真空チャンバー内を加圧する際)における、ペリクル内(ペリクル枠で囲まれた領域)とペリクル外(ペリクル枠の外側の領域)との差圧を低減することができる。従って、上記流路により、上記差圧によるペリクル膜の変形(凹みや張り出し)を効果的に抑制できる。
<露光原版>
 本実施形態の露光原版は、本実施形態のペリクルと、上記ペリクルの上記ペリクル枠からみて上記ペリクル膜とは反対側に配置された原版と、を備える。
 本実施形態の露光原版は、本実施形態のペリクルを備えるので、本実施形態のペリクルと同様の効果を奏する。
 本実施形態の露光原版は、特に、上記ペリクル枠の端面のうち、少なくとも原版に対向する側の端面(即ち、少なくとも、枠部材Qの原版に対向する側の端面)に上記溝が設けられていることが好ましい。この態様の露光原版は、ペリクル及び原版の前面及び背面に接触することなく製造することができる。
 ここで、原版としては、支持基板と、この支持基板上に積層された反射層と、反射層上に形成された吸収体層と、を含む原版を用いることができる。吸収体層がEUV光を一部吸収することで、感応基板(例えば、フォトレジスト膜付き半導体基板)上に、所望の像が形成される。反射層は、モリブデン(Mo)とシリコン(Si)との多層膜でありうる。吸収体層は、クロム(Cr)や窒化タンタル等、EUV光等の吸収性の高い材料でありうる。
<露光原版の製造方法>
 本実施形態の露光原版の製造方法には特に制限はないが、本実施形態のペリクルであって上記ペリクル枠の少なくとも上記ペリクル膜を支持する側の端面とは反対側の端面に上記溝が設けられているペリクルと、原版と、を上記反対側の面と上記原版とが対向するように配置する配置工程と、上記貫通孔を通じて上記溝の内部を減圧することにより、上記ペリクルと上記原版とを固定する固定工程と、を有することが好ましい。
 本実施形態の露光原版の製造方法によれば、溝の内部の減圧により、ペリクルと原版との間に押し付け合う力を働かせることができるので、ペリクル及び原版の前面及び背面に接触することなく、両者を固定できる。
 本実施形態の露光原版の製造方法において、上記固定工程における上記減圧は、上記ペリクル及び上記原版が加圧雰囲気下に配置された状態で行うことが好ましい。
 この態様によれば、ペリクル及び原版が配置される全体の雰囲気の圧力と、溝の内部の圧力と、の差(差圧)をより大きくすることができるので、ペリクルと原版との間の押し付け合う力をより大きくすることができる。このため、両者をより容易に固定することができる。
 ペリクルと原版との間の押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)は、1N以上が好ましく、2N以上がより好ましい。
 ペリクルと原版との間の押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)は、10N以上が更に好ましく、20N以上が特に好ましい。
 ペリクルと原版との間の押し付け合う力(ペリクル枠全体に加わる力)の上限には特に制限はないが、生産性などの点からは、例えば500N、好ましくは400Nである。
<露光装置>
 本実施形態の露光装置は、本実施形態の露光原版を備える。
 このため、本実施形態の露光原版と同様の効果を奏する。
 本実施形態の露光装置は、露光光(好ましくはEUV光等、より好ましくはEUV光。以下同じ。)を放出する光源と、本実施形態の露光原版と、上記光源から放出された露光光を上記露光原版に導く光学系と、を備え、上記露光原版は、上記光源から放出された露光光が上記ペリクル膜を透過して上記原版に照射されるように配置されていることが好ましい。
 この態様によれば、EUV光等によって微細化されたパターン(例えば線幅32nm以下)を形成できることに加え、露光光として異物による解像不良が問題となり易いEUV光等を用いた場合であっても、異物による解像不良が低減されたパターン露光を行うことができる。
<半導体装置の製造方法>
 本実施形態の半導体装置の製造方法は、光源から放出された露光光を、本実施形態の露光原版の上記ペリクル膜を透過させて上記原版に照射し、上記原版で反射させるステップと、上記原版によって反射された露光光を、上記ペリクル膜を透過させて感応基板に照射することにより、上記感応基板をパターン状に露光するステップと、を有する。
 本実施形態の半導体装置の製造方法によれば、露光光として異物による解像不良が問題となり易いEUV光等を用いた場合であっても、異物による解像不良が低減された半導体装置を製造することができる。
 図10は、本実施形態の露光装置の一例である、EUV露光装置800の概略断面図である。
 図10に示されるように、EUV露光装置800は、EUV光を放出する光源831と、本実施形態の露光原版の一例である露光原版850と、光源831から放出されたEUV光を露光原版850に導く照明光学系837と、を備える。
 露光原版850は、ペリクル膜812及びペリクル枠814を含むペリクル810と、原版833と、を備えている。この露光原版850は、光源831から放出されたEUV光がペリクル膜812を透過して原版833に照射されるように配置されている。
 原版833は、照射されたEUV光をパターン状に反射するものである。
 ペリクル枠814及びペリクル810は、それぞれ、本実施形態のペリクル枠及びペリクルの一例である。
 EUV露光装置800において、光源831と照明光学系837との間、及び照明光学系837と原版833の間には、フィルター・ウィンドウ820及び825がそれぞれ設置されている。
 また、EUV露光装置800は、原版833が反射したEUV光を感応基板834へ導く投影光学系838を備えている。
 EUV露光装置800では、原版833により反射されたEUV光が、投影光学系838を通じて感応基板834上に導かれ、感応基板834がパターン状に露光される。なお、EUVによる露光は、減圧条件下で行われる。
 EUV光源831は、照明光学系837に向けて、EUV光を放出する。
 EUV光源831には、ターゲット材と、パルスレーザー照射部等が含まれる。このターゲット材にパルスレーザーを照射し、プラズマを発生させることで、EUVが得られる。ターゲット材をXeとすると、波長13~14nmのEUVが得られる。EUV光源が発する光の波長は、13~14nmに限られず、波長5~30nmの範囲内の、目的に適した波長の光であればよい。
 照明光学系837は、EUV光源831から照射された光を集光し、照度を均一化して原版833に照射する。
 照明光学系837には、EUVの光路を調整するための複数枚の多層膜ミラー832と、光結合器(オプティカルインテグレーター)等が含まれる。多層膜ミラーは、モリブデン(Mo)、シリコン(Si)が交互に積層された多層膜等である。
 フィルター・ウィンドウ820,825の装着方法は特に制限されず、接着剤等を介して貼り付ける方法や、機械的にEUV露光装置内に固定する方法等が挙げられる。
 光源831と照明光学系837との間に配置されるフィルター・ウィンドウ820は、光源から発生する飛散粒子(デブリ)を捕捉し、飛散粒子(デブリ)が照明光学系837内部の素子(例えば多層膜ミラー832)に付着しないようにする。
 一方、照明光学系837と原版833との間に配置されるフィルター・ウィンドウ825は、光源831側から飛散する粒子(デブリ)を捕捉し、飛散粒子(デブリ)が原版833に付着しないようにする。
 また、原版に付着した異物は、EUV光を吸収、もしくは散乱させるため、ウエハへの解像不良を引き起こす。したがって、ペリクル810は原版833のEUV照射エリアを覆うように装着されている。EUV光はペリクル膜812を通過して、原版833に照射される。
 原版833で反射されたEUV光は、ペリクル膜812を通過し、投影光学系838を通じて感応基板834に照射される。
 投影光学系838は、原版833で反射された光を集光し、感応基板834に照射する。投影光学系838には、EUVの光路を調製するための複数枚の多層膜ミラー835、836等が含まれる。
 感応基板834は、半導体ウエハ上にレジストが塗布された基板等であり、原版833によって反射されたEUVにより、レジストがパターン状に露光される。このレジストを現像し、半導体ウエハのエッチングを行うことで、半導体ウエハに所望のパターンを形成する。
 2014年5月16日に出願された日本国特許出願2014-102518の開示はその全体が参照により本明細書に取り込まれる。
 本明細書に記載された全ての文献、特許出願、及び技術規格は、個々の文献、特許出願、及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。

Claims (15)

  1.  厚さ方向の一方の端面が互いに対向するように配置された第1枠部材及び第2枠部材を備えるペリクル枠であって、
     前記第1枠部材の前記第2枠部材に対向する端面及び前記第2枠部材の前記第1枠部材に対向する端面の少なくとも一方に、前記ペリクル枠の外周面と内周面とに通じる凹部を有し、
     前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である、ペリクル枠。
  2.  更に、前記第1枠部材と前記第2枠部材とを接着する接着剤層を備える、請求項1に記載のペリクル枠。
  3.  少なくとも前記凹部と前記接着剤層の一部とによって前記ペリクル枠の外周面と内周面との間を貫通する流路が形成されている、請求項2に記載のペリクル枠。
  4.  前記凹部における、前記曲がり部及び前記分岐部の総数が、6以上である、請求項1~請求項3のいずれか1項に記載のペリクル枠。
  5.  前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、前記ペリクル枠の少なくとも三辺にわたって延びる溝形状である、請求項1~請求項4のいずれか1項に記載のペリクル枠。
  6.  前記第1枠部材及び前記第2枠部材の少なくとも一方は、
     厚さ方向の少なくとも一方の端面に設けられ、前記凹部に接続しない溝と、
     外周面と前記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、
    を有する、請求項1~請求項5のいずれか1項に記載のペリクル枠。
  7.  請求項1~請求項6のいずれか1項に記載のペリクル枠と、
     前記第1枠部材の前記第2枠部材とは対向しない端面の側、又は、前記第2枠部材の前記第1枠部材とは対向しない端面の側に支持されたペリクル膜と、
    を備える、ペリクル。
  8.  ペリクル枠用の枠部材であって、
     厚さ方向の少なくとも一方の端面に、外周面と内周面とに通じる凹部を有し、
     前記凹部が設けられている端面に対して垂直な方向から見た前記凹部の形状が、曲がり部及び分岐部の少なくとも1つを有する溝形状である、枠部材。
  9.  更に、
     厚さ方向の少なくとも一方の端面に設けられ、前記凹部に接続しない溝と、
     外周面と前記溝の壁面との間を貫通する貫通孔と、
    を有する、請求項8に記載の枠部材。
  10.  請求項7に記載のペリクルと、
     前記ペリクル枠からみて前記ペリクル膜とは反対側に配置された原版と、
    を備える、露光原版。
  11.  請求項10に記載の露光原版を備える、露光装置。
  12.  露光光を放出する光源と、
     請求項10に記載の露光原版と、
     前記光源から放出された露光光を前記露光原版に導く光学系と、
    を備え、
     前記露光原版は、前記光源から放出された露光光が前記ペリクル膜を透過して前記原版に照射されるように配置されている、露光装置。
  13.  前記露光光が、EUV光である、請求項12に記載の露光装置。
  14.  光源から放出された露光光を、請求項10に記載の露光原版の前記ペリクル膜を透過させて前記原版に照射し、前記原版で反射させるステップと、
     前記原版によって反射された露光光を、前記ペリクル膜を透過させて感応基板に照射することにより、前記感応基板をパターン状に露光するステップと、
    を有する、半導体装置の製造方法。
  15.  前記露光光が、EUV光である、請求項14に記載の半導体装置の製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10712656B2 (en) 2015-09-02 2020-07-14 Asml Netherlands B.V. Method for manufacturing a membrane assembly
US20200401039A1 (en) * 2018-03-05 2020-12-24 Mitsui Chemicals, Inc. Pellicle, exposure master, exposure device and method for manufacturing semiconductor device
JP2021073536A (ja) * 2017-10-10 2021-05-13 信越化学工業株式会社 Euv用ペリクルフレームの通気構造、euv用ペリクル、euv用ペリクル付露光原版、露光方法、半導体の製造方法及び液晶ディスプレイの製造方法
WO2021117817A1 (ja) 2019-12-13 2021-06-17 三井化学株式会社 ペリクルのデマウント方法、及び、ペリクルのデマウント装置
JP2022121755A (ja) * 2019-02-01 2022-08-19 信越化学工業株式会社 ペリクル、ペリクル付露光原版、露光方法及び半導体の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05188583A (ja) * 1992-01-17 1993-07-30 Fujitsu Ltd ペリクル
JP2001312048A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Mitsui Chemicals Inc ペリクル
JP2011209344A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 Shin-Etsu Chemical Co Ltd ペリクル及びその取り付け方法、並びにペリクル付マスク及びマスク
JP2013123018A (ja) * 2011-12-12 2013-06-20 Fujitsu Ltd 極紫外露光マスク用防塵装置及び極紫外露光装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008041436A1 (de) * 2007-10-02 2009-04-09 Carl Zeiss Smt Ag Optisches Membranelement
JP4928494B2 (ja) * 2008-05-02 2012-05-09 信越化学工業株式会社 ペリクルおよびペリクルの製造方法
JP4934099B2 (ja) * 2008-05-22 2012-05-16 信越化学工業株式会社 ペリクルおよびペリクルの製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05188583A (ja) * 1992-01-17 1993-07-30 Fujitsu Ltd ペリクル
JP2001312048A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Mitsui Chemicals Inc ペリクル
JP2011209344A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 Shin-Etsu Chemical Co Ltd ペリクル及びその取り付け方法、並びにペリクル付マスク及びマスク
JP2013123018A (ja) * 2011-12-12 2013-06-20 Fujitsu Ltd 極紫外露光マスク用防塵装置及び極紫外露光装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10712656B2 (en) 2015-09-02 2020-07-14 Asml Netherlands B.V. Method for manufacturing a membrane assembly
JP2021073536A (ja) * 2017-10-10 2021-05-13 信越化学工業株式会社 Euv用ペリクルフレームの通気構造、euv用ペリクル、euv用ペリクル付露光原版、露光方法、半導体の製造方法及び液晶ディスプレイの製造方法
JP7451442B2 (ja) 2017-10-10 2024-03-18 信越化学工業株式会社 Euv用ペリクルフレームの通気構造、euv用ペリクル、euv用ペリクル付露光原版、露光方法及び半導体の製造方法
US20200401039A1 (en) * 2018-03-05 2020-12-24 Mitsui Chemicals, Inc. Pellicle, exposure master, exposure device and method for manufacturing semiconductor device
US11852968B2 (en) * 2018-03-05 2023-12-26 Mitsui Chemicals, Inc. Pellicle, exposure master, exposure device and method for manufacturing semiconductor device
JP2022121755A (ja) * 2019-02-01 2022-08-19 信越化学工業株式会社 ペリクル、ペリクル付露光原版、露光方法及び半導体の製造方法
US11971655B2 (en) 2019-02-01 2024-04-30 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Pellicle frame and pellicle
WO2021117817A1 (ja) 2019-12-13 2021-06-17 三井化学株式会社 ペリクルのデマウント方法、及び、ペリクルのデマウント装置

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