WO2014156843A1 - 熱硬化性樹脂組成物 - Google Patents

熱硬化性樹脂組成物 Download PDF

Info

Publication number
WO2014156843A1
WO2014156843A1 PCT/JP2014/057358 JP2014057358W WO2014156843A1 WO 2014156843 A1 WO2014156843 A1 WO 2014156843A1 JP 2014057358 W JP2014057358 W JP 2014057358W WO 2014156843 A1 WO2014156843 A1 WO 2014156843A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
group
formula
resin composition
thermosetting resin
represented
Prior art date
Application number
PCT/JP2014/057358
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
護 田村
拓矢 大橋
榎本 智之
Original Assignee
日産化学工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日産化学工業株式会社 filed Critical 日産化学工業株式会社
Priority to SG11201507940TA priority Critical patent/SG11201507940TA/en
Priority to CN201480017846.4A priority patent/CN105051105B/zh
Priority to KR1020157023043A priority patent/KR101967369B1/ko
Priority to JP2015508371A priority patent/JP6288074B2/ja
Priority to US14/778,164 priority patent/US9567435B2/en
Publication of WO2014156843A1 publication Critical patent/WO2014156843A1/ja

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/40Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the curing agents used
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/01Use of inorganic substances as compounding ingredients characterized by their specific function
    • C08K3/013Fillers, pigments or reinforcing additives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/54Silicon-containing compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K9/00Use of pretreated ingredients
    • C08K9/04Ingredients treated with organic substances
    • C08K9/06Ingredients treated with organic substances with silicon-containing compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L61/00Compositions of condensation polymers of aldehydes or ketones; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L61/34Condensation polymers of aldehydes or ketones with monomers covered by at least two of the groups C08L61/04, C08L61/18 and C08L61/20
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L63/00Compositions of epoxy resins; Compositions of derivatives of epoxy resins
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L79/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon only, not provided for in groups C08L61/00 - C08L77/00
    • C08L79/04Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain; Polyhydrazides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J161/00Adhesives based on condensation polymers of aldehydes or ketones; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J161/34Condensation polymers of aldehydes or ketones with monomers covered by at least two of the groups C09J161/04, C09J161/18 and C09J161/20
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J163/00Adhesives based on epoxy resins; Adhesives based on derivatives of epoxy resins
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J179/00Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing nitrogen, with or without oxygen, or carbon only, not provided for in groups C09J161/00 - C09J177/00
    • C09J179/04Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain; Polyhydrazides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • H01L23/295Organic, e.g. plastic containing a filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3142Sealing arrangements between parts, e.g. adhesion promotors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/563Encapsulation of active face of flip-chip device, e.g. underfilling or underencapsulation of flip-chip, encapsulation preform on chip or mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/2919Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/0665Epoxy resin
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/186Material

Definitions

  • the present invention provides a thermosetting resin composition containing a novel polymer, a molded product and a cured product obtained from the thermosetting resin composition, and a process for producing a semiconductor device represented by an IC chip.
  • the present invention relates to an adhesive composition for bonding between laminates or an underfill composition used for flip chip bonding.
  • flip chip bonding is known as a method of mounting an IC chip on a substrate.
  • This is a method of providing a plurality of bumps (protruding terminals) on an IC chip and electrically connecting the bumps and electrode terminals of the substrate.
  • An underfill agent is used to fill the gap between the substrate and the IC chip and protect the IC chip from moisture and external stress.
  • a composition containing an epoxy resin is employed (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
  • an underfill agent is injected after bump connection between a substrate and an IC chip (rear insertion type). Underfill) and thermosetting methods were mainly used.
  • thermosetting resin compositions containing a compound having an aromatic benzoxazine ring in the main chain are known (for example, Patent Document 5 and Patent Document 6). It is also known that benzoxazine resins have excellent heat resistance and electrical properties. However, the thermosetting resin composition containing a compound having an aromatic benzoxazine ring in the main chain described in Patent Document 5 and Patent Document 6 has a low crosslinking density and a high coefficient of linear expansion above the glass transition point. In addition, there is a concern about reliability degradation such as cracking or peeling due to thermal history.
  • an epoxy resin is mixed with a benzoxazine resin to improve the crosslinking density.
  • the above mixed resin has a slow crosslinking reaction, and a sufficient crosslinking density cannot be obtained.
  • an epoxy resin curing agent represented by an imidazole compound is added.
  • the epoxy resin curing agent has low heat resistance, there is a concern about a decrease in reliability due to generation of voids. Is done.
  • the present invention relates to a thermosetting resin composition having high heat resistance, excellent electrical characteristics, and promoting the curing of an epoxy resin, a molded body and a cured product obtained from the thermosetting resin composition, and heat.
  • An object is to provide a curable adhesive composition or underfill composition.
  • the present invention is a thermosetting resin composition containing a polymer having at least one structural unit represented by the following formula (1).
  • R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms
  • X represents a single bond or a divalent organic group
  • Y represents the following formula (2): (Wherein Z 1 represents a carbonyl group or a —CONH— group, Z 2 represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, or a divalent divalent 5- or 6-membered ring containing at least one nitrogen atom.
  • Z 3 represents a 5-membered or 6-membered aromatic ring containing 2 nitrogen atoms, wherein at least one hydrogen atom may be substituted with an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms
  • Z 2 represents a 5-membered or 6-membered divalent saturated heterocyclic group containing at least one nitrogen atom
  • saturated heterocyclic ring examples include a piperazine ring, an imidazolidine ring
  • aromatic heterocycle of the 5-membered or 6-membered aromatic heterocyclic group containing two nitrogen atoms represented by Z 3 in the formula (2) include, for example, an imidazole ring, a pyrimidine ring, Examples thereof include a pyrazine ring and a pyrazole ring.
  • Z 3 represents, for example, an imidazolyl group
  • Z 2 represents, for example, an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms
  • Z 1 represents, for example, a —CONH— group.
  • X is, for example, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms, a cyclic alkylene group or at least one hydrogen atom optionally substituted with a halogen atom, and a halogen atom substituted with a halogen atom.
  • a divalent organic group including an arylene group, a sulfonyl group, a carbonyl group, an —O— group or a —COO— group.
  • X is, for example, the following formula (3): (Wherein R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group in which at least one of the hydrogen atoms may be substituted with a halogen atom, and m represents 0 or 1). The divalent organic group represented by these is represented.
  • Examples of the divalent organic group represented by the formula (3) include the following formula (3-a) or formula (3-b): It is represented by
  • the polymer contained in the thermosetting resin composition of the present invention may further have a structural unit represented by the following formula (4) in addition to the structural unit represented by the formula (1).
  • R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms
  • X represents a single bond or a divalent organic group
  • Q represents the following formula (5) or formula: (6):
  • T represents a single bond, a sulfonyl group or —O— group
  • R 3 and R 4 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group in which at least one of the hydrogen atoms may be substituted with a halogen atom
  • R 5 s each independently represent a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, or a methoxy group
  • n represents 0 or 1.
  • the divalent organic group represented by the formula (5) or formula (6) is, for example, the following formula (5-a), formula (6-a), formula (6-b) or formula (6-c). : It is represented by
  • the weight average molecular weight of the polymer is, for example, 1,000 to 100,000.
  • thermosetting resin composition of the present invention can further contain an epoxy resin.
  • thermosetting resin composition of the present invention can further contain a silane coupling agent.
  • thermosetting resin composition of the present invention can further contain an inorganic filler having a particle size of 1 nm to 700 nm.
  • thermosetting resin composition of the present invention can further contain a solvent.
  • thermosetting resin composition of the present invention is, for example, an adhesive composition or an underfill composition.
  • thermosetting resin composition of the present invention can be cured at a relatively low temperature of 200 ° C. or lower, and can promote the curing reaction of the epoxy resin.
  • the film formed from the thermosetting resin composition of the present invention has good adhesion without generating voids, hardly peels after bonding, has excellent heat resistance, and exhibits good electrical characteristics. .
  • the crosslinking density improves the thermosetting resin composition of this invention by mixing an epoxy resin. Therefore, the thermosetting resin composition of the present invention is useful as an epoxy curing accelerator, adhesive or underfill agent.
  • the thermosetting resin composition of the present invention includes a polymer having at least one structural unit represented by the formula (1) and an epoxy resin
  • the epoxy resin includes at least one epoxy in the molecule.
  • Compounds having groups can be used. Examples of such epoxy resins include 1,4-butanediol diglycidyl ether, 1,2-epoxy-4- (epoxyethyl) cyclohexane, glycerol triglycidyl ether, diethylene glycol diglycidyl ether, and 2,6-diglycidyl phenyl.
  • Glycidyl ether 1,1,3-tris [p- (2,3-epoxypropoxy) phenyl] propane, 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid diglycidyl ester, 4,4'-methylenebis (N, N-diglycidylaniline) ), Trimethylolethane triglycidyl ether, triglycidyl-p-aminophenol, tetraglycidylmetaxylenediamine, tetraglycidyldiaminodiphenylmethane, tetraglycidyl-1,3-bisaminomethylcyclohexa Bisphenol-A-diglycidyl ether, bisphenol-S-diglycidyl ether, pentaerythritol tetraglycidyl ether resorcinol diglycidyl ether, phthalic acid diglycidyl ester, neopentyl glycol diglycidyl ether
  • the said epoxy resin can use only 1 type, and can also be used in combination of 2 or more type. 1% to 80% by mass, or 5% to 60% by mass, or 10% to 50% by mass of an epoxy resin is used with respect to the polymer contained in the thermosetting resin composition of the present invention. Can do.
  • the solvent is not particularly limited as long as it is an organic solvent that can be used in a semiconductor device manufacturing process.
  • organic solvents include ketones such as cyclohexanone, cyclopentanone, tetrahydrofuran, methyl isoamyl ketone, 2-butanone, and 2-heptanone; ethylene glycol, ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol, Propylene glycol monoacetate, dipropylene glycol, dipropylene glycol monoacetate, and polyhydric alcohols such as monomethyl ether, monoethyl ether, monopropyl ether, monobutyl ether, monophenyl ether and derivatives thereof; cyclic such as dioxane Ethers; and methyl lactate, ethyl lactate, methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl
  • thermosetting resin composition of the present invention may further contain additives such as an inorganic filler, a silane coupling agent, a surfactant, a rheology modifier, and a crosslinking agent as necessary.
  • additives such as an inorganic filler, a silane coupling agent, a surfactant, a rheology modifier, and a crosslinking agent as necessary.
  • the inorganic filler examples include sols such as silica, aluminum nitride, boron nitride, zirconia, and alumina having a particle diameter of 1 nm to 700 nm.
  • the particles contained in the inorganic filler may be surface-treated with a silane coupling agent described later.
  • silane coupling agent examples include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidylpropyltrimethoxysilane, and 3-glycidylpropyl.
  • rheology modifier examples include, for example, phthalic acid derivatives such as dimethyl phthalate, diethyl phthalate, diisobutyl phthalate, dihexyl phthalate, and butyl isodecyl phthalate; Acid derivatives, maleic acid derivatives such as di-normal butyl maleate, diethyl maleate, dinonyl maleate, oleic acid derivatives such as methyl oleate, butyl oleate, tetrahydrofurfuryl oleate, and stearic acid derivatives such as normal butyl stearate, glyceryl stearate Can be mentioned.
  • phthalic acid derivatives such as dimethyl phthalate, diethyl phthalate, diisobutyl phthalate, dihexyl phthalate, and butyl isodecyl phthalate
  • Acid derivatives maleic acid derivatives such as di-normal butyl maleate, diethyl maleate
  • surfactant examples include polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene cetyl ether, polyoxyethylene alkyl ethers such as polyoxyethylene oleyl ether, polyoxyethylene octylphenyl ether, polyoxyethylene Polyoxyethylene alkyl aryl ethers such as ethylene nonylphenyl ether, polyoxyethylene / polyoxypropylene block copolymers, sorbitan monolaurate, sorbitan monopalmitate, sorbitan monostearate, sorbitan monooleate, sorbitan trioleate, sorbitan Sorbitan fatty acid esters such as tristearate, polyoxyethylene sorbitan monolaurate, polyoxyethylene Nonionic surfactants such as polyoxyethylene sorbitan fatty acid esters such as rubitan monopalmitate, polyoxyethylene sorbitan monostearate, polyoxyethylene sorbitan trioleate, polyoxyethylene sorbitan tristea
  • thermosetting resin composition of the present invention does not necessarily require the cross-linking agent, but if used, examples of the cross-linking agent include methoxymethyl group, ethoxymethyl group, butoxymethyl group, hexyloxymethyl group, etc. And nitrogen-containing compounds having a nitrogen atom substituted with an alkoxymethyl group or a hydroxymethyl group. Furthermore, a phenol group-containing compound, an allyl group-containing compound, an allyl group-containing polymer, an isocyanate group-containing compound or an isocyanate group-containing polymer can be used as a crosslinking agent.
  • nitrogen-containing compound examples include hexamethoxymethyl melamine, tetramethoxymethyl benzoguanamine, 1,3,4,6-tetrakis (butoxymethyl) glycoluril, 1,3,4,6-tetrakis (hydroxymethyl) glycoluril. 1,3-bis (hydroxymethyl) urea, 1,1,3,3-tetrakis (butoxymethyl) urea, 1,1,3,3-tetrakis (methoxymethyl) urea, 1,3-bis (hydroxymethyl) ) -4,5-dihydroxy-2-imidazolinone, 1,3-bis (methoxymethyl) -4,5-dimethoxy-2-imidazolinone and the like nitrogen-containing compounds.
  • crosslinking agent examples include methoxymethyl type melamine compounds (trade names: CYMEL (registered trademark) 300, 301, 303, 350) manufactured by Nippon Cytec Industries, Ltd., butoxymethyl type melamine compounds (trade name: My Coat (registered trademark) 506, 508), glycoluril compound (trade name: CYMEL (registered trademark) 1170, POWDERLINK (registered trademark) 1174), methylated urea resin (trade name: UFR65), butylated urea resin ( Product names: UFR300, U-VAN10S60, U-VAN10R, U-VAN11HV), urea / formaldehyde resin manufactured by DIC Corporation (high condensation type, product names: Beccamin (registered trademark) J-300S, P-955, N) can be mentioned commercially available compounds
  • crosslinking agent only one kind of compound can be used, or two or more kinds of compounds can be used in combination. 1% to 50% by mass, or 8% to 40% by mass, or 15% to 30% by mass of a crosslinking agent is used with respect to the polymer contained in the thermosetting resin composition of the present invention. Can do.
  • the thermosetting resin composition of this invention can contain a crosslinking catalyst with the said crosslinking agent.
  • a crosslinking catalyst By using a crosslinking catalyst, the reaction of the crosslinking agent is promoted.
  • the crosslinking catalyst include p-toluenesulfonic acid, trifluoromethanesulfonic acid, methanesulfonic acid, pyridinium-p-toluenesulfonate, salicylic acid, camphorsulfonic acid, 5-sulfosalicylic acid, citric acid, benzoic acid, and hydroxybenzoic acid. 4-chlorobenzenesulfonic acid, 4-hydroxybenzenesulfonic acid, benzenedisulfonic acid and 1-naphthalenesulfonic acid.
  • the said crosslinking catalyst can use only 1 type, and can also be used in combination of 2 or more type. 0.01 mass% to 10 mass%, or 0.05 mass% to 8 mass%, or 0.1 mass% to 5 mass% with respect to the polymer contained in the thermosetting resin composition of the present invention, or 0.3% to 3% by weight or 0.5% to 1% by weight of a crosslinking catalyst can be used.
  • thermosetting resin composition of the present invention can be used as an adhesive composition or an underfill composition.
  • a miscible additive such as an adhesive is used as long as the essential characteristics of the present invention are not impaired.
  • Conventional additives such as an additional resin, a tackifier, a plasticizer, an adhesion aid, a stabilizer, a colorant, an antifoaming material, and a flux for improving the performance can be added.
  • Additional resins (polymers) for improving the performance of the adhesive include addition polymerization polymers such as polyester, polystyrene, polyimide, acrylic polymer, methacrylic polymer, polyvinyl ether, phenol novolac, naphthol novolac, polyether, polyamide, polycarbonate, etc.
  • a polycondensation polymer can be used, and a polymer having an aromatic ring such as a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring, a triazine ring, a quinoline ring, or a quinoxaline ring is preferably used.
  • the polymer having a triazine ring include a polyester having a structural unit represented by the following formula (7). (In the formula, L represents a divalent organic group.)
  • the additional resin (polymer) as described above examples include benzyl acrylate, benzyl methacrylate, phenyl acrylate, naphthyl acrylate, anthryl methacrylate, anthryl methyl methacrylate, styrene, hydroxystyrene, benzyl vinyl ether, N-phenylmaleimide, and the like.
  • An addition polymerization polymer containing an addition polymerizable monomer as its structural unit, and a polycondensation polymer such as phenol novolak and naphthol novolak can be mentioned.
  • a polymer having no aromatic ring can be used as the additional resin (polymer).
  • a polymer for example, only an addition polymerizable monomer having no aromatic ring such as alkyl acrylate, alkyl methacrylate, vinyl ether, alkyl vinyl ether, acrylonitrile, maleimide, N-alkylmaleimide, maleic anhydride, etc. Can be mentioned as addition polymerization polymers.
  • the polymer may be a homopolymer or a copolymer.
  • the weight average molecular weight of the additional resin (polymer) added to the adhesive composition or the underfill composition using the thermosetting resin composition of the present invention is, for example, 1,000 to 1,000,000, or 3,000 to 300,000, or 5,000 to 200,000, or 10,000 to 100,000.
  • the content thereof is, for example, 40% by mass or less, or 20% by mass or less, or 1 to 19 in the solid content. % By mass.
  • the tackifier is added to control the elastic modulus, viscosity, and surface state.
  • the type of the tackifier is preferably determined in consideration of viscosity.
  • This tackifier can be contained, for example, in a proportion of 100% by mass or less or 50% by mass or less with respect to the polymer contained in the adhesive composition or the underfill composition of the present invention.
  • the GPC (gel permeation chromatography) analysis of the polymers obtained in the synthesis examples described below uses the following apparatus, and the measurement conditions are as follows.
  • the obtained polymer is presumed to have a structural unit represented by the following formula (4-b) and a structural unit represented by the following formula (1-a).
  • the solution was replaced with nitrogen and reacted at 90 ° C. for 20 hours to obtain a solution containing the polymer. Then, the obtained solution was dripped at methanol and reprecipitated. Thereafter, the mixture was suction filtered with a Buchner funnel, washed twice with methanol, and the resulting powder was dried with a vacuum dryer for 12 hours to obtain a polymer.
  • the weight average molecular weight was 9,900 in standard polystyrene conversion.
  • the obtained polymer is presumed to have a structural unit represented by the following formula (4-a) and a structural unit represented by the following formula (8).
  • the solution was replaced with nitrogen and reacted at 90 ° C. for 20 hours to obtain a polymer-containing solution. Then, the obtained solution was dripped at methanol and reprecipitated. Thereafter, the mixture was suction filtered with a Buchner funnel, washed twice with methanol, and the resulting powder was dried with a vacuum dryer for 12 hours to obtain a polymer.
  • the weight average molecular weight was 7,700 in standard polystyrene conversion.
  • the obtained polymer is presumed to have a structural unit represented by the following formula (4-b) and a structural unit represented by the following formula (8).
  • the 5 mass% weight loss temperatures of the polymers obtained in Synthesis Example 1 and Synthesis Example 2 are both 380 ° C. or higher, compared with the imidazole-based epoxy resin curing agents prepared in Comparative Examples 1 to 3. It showed high heat resistance.
  • thermosetting resin composition ⁇ Example 1> 10 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a microfilter made of polytetrafluoroethylene (hereinafter abbreviated as PTFE in this specification) having a pore diameter of 0.2 ⁇ m. A composition containing 20% by mass of solid content was prepared.
  • PTFE polytetrafluoroethylene
  • Example 2 7 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 and 3 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 0.2 ⁇ m to obtain a solid content. A composition containing 20% by mass was prepared.
  • Example 3 5 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 and 5 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 0.2 ⁇ m to obtain a solid content. A composition containing 20% by mass was prepared.
  • Example 4 10 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 was dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 0.2 ⁇ m to prepare a composition containing 20% by mass of a solid content.
  • Example 5 7 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 and 3 g of epoxy resin GT401 (manufactured by Daicel Corporation) were dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 0.2 ⁇ m to obtain a solid content. A composition containing 20% by mass was prepared.
  • Example 6 5 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 and 5 g of epoxy resin GT401 (manufactured by Daicel Corporation) are dissolved in 40 g of tetrahydrofuran, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 0.2 ⁇ m to obtain a solid content. A composition containing 20% by mass was prepared.
  • Example 7 50 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m to prepare a composition containing 50% by mass of the solid content.
  • Example 8 35 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 and 15 g of epoxy resin GT401 (manufactured by Daicel Corporation) were dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • Example 9 25 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1 and 25 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • Example 10 50 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 was dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m to prepare a composition containing 50% by mass of the solid content.
  • Example 11 35 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 and 15 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • Example 12 25 g of the polymer obtained in Synthesis Example 2 and 25 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • Example 13 5 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1, 5 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation) as an epoxy resin, and 2 g of 3-phenylaminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) are dissolved in 65.5 g of tetrahydrofuran. Thereafter, organosilica sol [3-methacryloxypropyltrimethoxysilane-treated silica-methylethylketone dispersion, silica primary particle diameter 40 nm to 50 nm, solid content 30.8% by mass, specific gravity (20 ° C. ) 1.007, viscosity (20 ° C.) 2.5 mPa ⁇ s, moisture 0.08 mass%] 32.5 g was mixed to prepare a composition containing 20 mass% solids.
  • Example 14 5 g of the polymer obtained in Synthesis Example 1, 5 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation) as an epoxy resin, and 2 g of 3-phenylaminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) are dissolved in 22 g of cyclopentanone. Thereafter, organosilica sol [3-methacryloxypropyltrimethoxysilane-treated silica-methylethylketone dispersion, silica primary particle diameter 40 nm to 50 nm, solid content 30.8% by mass, specific gravity (20 ° C.
  • ⁇ Comparative Example 8 35 g of the polymer obtained in Synthesis Example 3 and 15 g of Epolede GT401 (manufactured by Daicel Corporation) as an epoxy resin are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • ⁇ Comparative Example 9 25 g of the polymer obtained in Synthesis Example 3 and 25 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • ⁇ Comparative Example 10 35 g of the polymer obtained in Synthesis Example 4 and 15 g of Epolede GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • ⁇ Comparative Example 11 25 g of the polymer obtained in Synthesis Example 4 and 25 g of Epode GT401 (manufactured by Daicel Corporation), which is an epoxy resin, are dissolved in 50 g of cyclopentanone, and then filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m. A composition containing 50% by mass of solid content was prepared.
  • ⁇ Comparative Example 13> Dissolve 25 g of the polymer obtained in Synthesis Example 4, 0.5 g of 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole of Comparative Example 1 and 25.5 g of epoxy resin Epolide GT401 (manufactured by Daicel Corporation) in 51.0 g of cyclopentanone. Thereafter, the mixture was filtered using a PTFE microfilter having a pore size of 5.0 ⁇ m to prepare a composition containing 50% by mass of a solid content.
  • thermosetting resin composition of the present invention promotes the epoxy curing reaction.
  • thermosetting resin film The compositions prepared in Examples 7 to 12 and 14 and the compositions prepared in Comparative Examples 12 to 13 were baked on a 4-inch silicon wafer so that the thickness after baking was 15 ⁇ m to 25 ⁇ m. After spin coating and baking at 100 ° C. for 5 minutes, the solvent was evaporated by baking at 150 ° C. for 5 minutes to form a thermosetting resin film. Thereafter, using a bonding apparatus (Ayumi Kogyo Co., Ltd., VJ-300), the silicon wafer on which the resin film was formed was subjected to other conditions under the conditions of a vacuum of 10 Pa or less, a temperature of 140 ° C., and an applied load of 300 kg.
  • a bonding apparatus Alumi Kogyo Co., Ltd., VJ-300
  • the resin was cured by bonding to a 4-inch glass wafer and then heating at 180 ° C. for 60 minutes.
  • attach favorably without a void was evaluated as (circle) and the case where a void existed and the adhesion defect was seen was evaluated as x.
  • the results are shown in Table 3 below.
  • compositions prepared in Examples 7 to 12 and Example 14 had good adhesion and heat resistance after adhesion.
  • compositions prepared in Comparative Example 12 and Comparative Example 13 using 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, which is an existing epoxy resin curing agent had low heat resistance, and voids thought to be caused by sublimation occurred. .
  • Tg linear expansion coefficient (CTE) of Tg pre-Tg temperature and post-Tg temperature was 5 ° C./minute from room temperature to 200 ° C. with TMA (manufactured by NETZSCH). Evaluation was made by measuring the elongation of the cured film when the temperature was raised. Tg is judged as ⁇ at 140 ° C. or more and less than 140 ° C., CTE at temperature before Tg is judged as ⁇ when less than 70 ppm / ° C., and CTE at 70 ppm / ° C. or more is judged as ⁇ Was judged as ⁇ and 1000 ppm / ° C. or more was judged as ⁇ . Tg here is the temperature at which the amount of elongation of the cured film changes. The measurement results are shown in Table 4 below.
  • compositions prepared in Examples 7 to 12 were diluted by adding cyclopentanone, coated on a silicon wafer using a spin coater, baked on a hot plate at 100 ° C. for 2 minutes, and then at 130 ° C. Baking was performed for 2 minutes, and further, baking was performed at 180 ° C. for 60 minutes in an oven purged with nitrogen to form a cured film having a thickness of 500 nm.
  • the leakage current value and dielectric constant when an electric field of 1 MV / cm was applied to the prepared sample with Cvmap 92B (manufactured by Four Dimensions) were measured. The results are shown in Table 5 below.
  • the cured films obtained from the compositions prepared in Examples 7 to 12 were found to have good electrical properties for adhesive or underfill applications.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Phenolic Resins Or Amino Resins (AREA)

Abstract

【課題】 新規な熱硬化性樹脂組成物を提供する。 【解決手段】 下記式(1)で表される構造単位を少なくとも一種有する重合体を含む熱硬化性樹脂組成物。{式中、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又は炭素原子数1乃至4のアルキル基を表し、Xは単結合又は2価の有機基を表し、Yは下記式(2):(式中、Zはカルボニル基又は-CONH-基を表し、Zは炭素原子数1乃至5のアルキレン基、又は窒素原子を少なくとも1つ含有する5員環又は6員環の2価の飽和複素環基を表し、Zは水素原子の少なくとも1つが炭素原子数1乃至5のアルキル基で置換されていてもよい、窒素原子を2つ含有する5員環又は6員環の芳香族複素環基を表す。) で表されるアリーレン基を表す。}

Description

熱硬化性樹脂組成物
本発明は新規な重合体を含む熱硬化性樹脂組成物、及び当該熱硬化性樹脂組成物から得られる成形体及び硬化物、並びにICチップなどに代表される半導体デバイスを製造する工程において、被積層物間を接着する接着剤組成物、又はフリップチップボンディングに用いられるアンダーフィル組成物に関する。
近年、携帯電話機、ICカードなどの電子機器の高機能化及び小型化に伴い、半導体デバイスの高集積化が求められている。その手法として、半導体素子そのものの微細化、半導体素子間を縦方向に積み上げるスタック構造が検討されている。スタック構造の作製においては、半導体素子間の接合に接着剤が使用される。
スタック構造の作製において、基板上にICチップを実装する方法として、フリップチップボンディングが知られている。これは、ICチップにバンプ(突起状端子)を複数設け、当該バンプと基板の電極端子とを電気的に接続させる方法である。そして、その基板とICチップとの隙間を埋め、湿気及び外部応力からICチップを保護するために、アンダーフィル剤が使用される。アンダーフィル剤としては、エポキシ樹脂を含む組成物が採用されており(例えば、特許文献1及び特許文献2)、従来は基板とICチップとをバンプ接続後にアンダーフィル剤を注入し(後入れ型アンダーフィル)、熱硬化させる方法が主に用いられていた。しかし、バンプの小型化、狭ピッチ化及びICチップの大型化が進むと、アンダーフィル剤の後入れは困難となる。そのため、ウェハーをダイシングする前に、バンプ付きウェハー上にアンダーフィル剤を予め形成し、その後ダイシングしたICチップをフリップチップボンディングさせる先入れ型アンダーフィルが今後主流になると考えられる。
このようなフリップチップボンディングでは、アンダーフィルのボンディング後、速やかにバンプを接続するため、特許文献3に記載されているような従来の接着剤では、接着剤が未硬化の状態で瞬間的に高温にさらされるため、ボイドの発生を避けることは困難であった。
また、別のスタック構造の作製方法として、特許文献4に記載されているWOW(ウェハーオンウェハー)構造では、ウェハーとウェハーをボイドが全く発生することなく接着する必要があるため、ボイドの原因となる低分子成分や耐熱性が低く分解する成分の適用は困難であった。
ところで、主鎖に芳香族ベンゾオキサジン環を有する化合物を含む熱硬化性の樹脂組成物が知られている(例えば、特許文献5及び特許文献6)。また、ベンゾオキサジン樹脂が優れた耐熱性や電気特性を有することも知られている。しかし、特許文献5及び特許文献6に記載の、主鎖に芳香族ベンゾオキサジン環を有する化合物を含む熱硬化性の樹脂組成物では、架橋密度が低くガラス転移点以上での線膨張係数が高く、熱履歴によるクラックや剥がれなど信頼性の低下が懸念される。
さらに、公知の技術として、ベンゾオキサジン樹脂にエポキシ樹脂を混合し、架橋密度を向上させることが知られている。しかし、上記の混合樹脂は架橋反応が遅く、十分な架橋密度が得られない。そのため、イミダゾール系の化合物に代表される、エポキシ樹脂硬化剤を添加することが広く知られているが、エポキシ樹脂硬化剤は耐熱性が低いため、ボイドの発生に起因する信頼性の低下が懸念される。
特許第4887850号公報 特許第4931079号公報 特開2008-201998号公報 国際公開WO2010/032729号 国際公開WO2007/129640号 国際公開WO2009/008468号
本発明は、耐熱性が高く、優れた電気特性を有しかつエポキシ樹脂の硬化を促進する熱硬化性樹脂組成物、及び当該熱硬化性樹脂組成物から得られる成形体及び硬化物、並びに熱硬化性の接着剤組成物又はアンダーフィル組成物を提供することを目的とする。
本発明は、下記式(1)で表される構造単位を少なくとも一種有する重合体を含む熱硬化性樹脂組成物である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008







{式中、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又は炭素原子数1乃至4のアルキル基を表し、Xは単結合又は2価の有機基を表し、Yは下記式(2):
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009




(式中、Zはカルボニル基又は-CONH-基を表し、Zは炭素原子数1乃至5のアルキレン基、又は窒素原子を少なくとも1つ含有する5員環又は6員環の2価の飽和複素環基を表し、Zは水素原子の少なくとも1つが炭素原子数1乃至5のアルキル基で置換されていてもよい、窒素原子を2つ含有する5員環又は6員環の芳香族複素環基を表す。)
で表されるアリーレン基を表す。}
前記式(2)において、Zが窒素原子を少なくとも1つ含有する5員環又は6員環の2価の飽和複素環基を表す場合、飽和複素環として例えば、ピペラジン環、イミダゾリジン環、ピラゾリジン環を挙げることができる。また、前記式(2)においてZで表される、窒素原子を2つ含有する5員環又は6員環の芳香族複素環基の芳香族複素環として、例えば、イミダゾール環、ピリミジン環、ピラジン環、ピラゾール環を挙げることができる。
前記式(2)において、Zは例えばイミダゾリル基を表し、Zは例えば炭素原子数1乃至5のアルキレン基を表し、Zは例えば-CONH-基を表す。
前記式(1)においてXは、例えば、水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよい炭素原子数1乃至6のアルキレン基、環状アルキレン基、水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいアリーレン基、スルホニル基、カルボニル基、-O-基又は-COO-基を含む2価の有機基を表す。
前記式(1)においてXは、例えば下記式(3):
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010




(式中、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、又は水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいメチル基を表し、mは0又は1を表す。)
で表される2価の有機基を表す。
前記式(3)で表される2価の有機基は、例えば下記式(3-a)又は式(3-b):
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011




で表される。
本発明の熱硬化性樹脂組成物に含まれる前記重合体は、前記式(1)で表される構造単位に加えて、下記式(4)で表される構造単位をさらに有することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012




{式中、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又は炭素原子数1乃至4のアルキル基を表し、Xは単結合又は2価の有機基を表し、Qは下記式(5)又は式(6):
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013




(式中、Tは単結合、スルホニル基又は-O-基を表し、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、又は水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいメチル基を表し、4つのRはそれぞれ独立に水素原子、メチル基、エチル基又はメトキシ基を表し、nは0又は1を表す。)
で表される2価の有機基を表す。}
前記式(5)又は式(6)で表される二価の有機基は、例えば下記式(5-a)、式(6-a)、式(6-b)又は式(6-c):
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014




で表される。
前記重合体の重量平均分子量は、例えば1,000乃至100,000である。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂をさらに含むことができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、シランカップリング剤をさらに含むことができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、粒子径1nm以上700nm以下の無機フィラーをさらに含むことができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、溶剤をさらに含むことができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、例えば接着剤組成物又はアンダーフィル組成物である。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、200℃以下という比較的低温で硬化させることができ、また、エポキシ樹脂の硬化反応を促進することができる。本発明の熱硬化性樹脂組成物から形成された膜は、ボイドが発生することなく良好な接着性を具備し、接着後に剥離が生じにくく、さらに耐熱性に優れると共に、良好な電気特性を示す。また、本発明の熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ樹脂が混合されることで、架橋密度が向上する。したがって、本発明の熱硬化性樹脂組成物はエポキシ硬化促進剤、接着剤又はアンダーフィル剤として有用である。
本発明の熱硬化性樹脂組成物が、前記式(1)で表される構造単位を少なくとも一種有する重合体とエポキシ樹脂とを含む場合、当該エポキシ樹脂としては、分子内に少なくとも1個のエポキシ基を有する化合物を使用することができる。そのようなエポキシ樹脂として、例えば、1,4-ブタンジオールジグリシジルエーテル、1,2-エポキシ-4-(エポキシエチル)シクロヘキサン、グリセロールトリグリシジルエーテル、ジエチレングリコールジグリシジルエーテル、2,6-ジグリシジルフェニルグリシジルエーテル、1,1,3-トリス[p-(2,3-エポキシプロポキシ)フェニル]プロパン、1,2-シクロヘキサンジカルボン酸ジグリシジルエステル、4,4’-メチレンビス(N,N-ジグリシジルアニリン)、トリメチロールエタントリグリシジルエーテル、トリグリシジル-p-アミノフェノール、テトラグリシジルメタキシレンジアミン、テトラグリシジルジアミノジフェニルメタン、テトラグリシジル-1,3-ビスアミノメチルシクロヘキサン、ビスフェノール-A-ジグリシジルエーテル、ビスフェノール-S-ジグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールテトラグリシジルエーテルレゾルシノールジグリシジルエーテル、フタル酸ジグリシジルエステル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、テトラブロモビスフェノール-A-ジグリシジルエーテル、ビスフェノールヘキサフルオロアセトンジグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールジグリシジルエーテル、トリス-(2,3-エポキシプロピル)イソシアヌレート、モノアリルジグリシジルイソシアヌレート、ジグリセロールポリジグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、1,4-ビス(2,3-エポキシプロポキシパーフルオロイソプロピル)シクロヘキサン、ソルビトールポリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパンポリグリシジルエーテル、レゾルシンジグリシジルエーテル、1,6-へキサンジオールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、フェニルグリシジルエーテル、p-ターシャリーブチルフェニルグリシジルエーテル、アジピン酸ジグリシジルエーテル、o-フタル酸ジグリシジルエーテル、ジブロモフェニルグリシジルエーテル、1,2,7,8-ジエポキシオクタン、1,6-ジメチロールパーフルオロヘキサンジグリシジルエーテル、4,4’-ビス(2,3-エポキシプロポキシパーフルオロイソプロピル)ジフェニルエーテル、2,2-ビス(4-グリシジルオキシフェニル)プロパン、3’,4’-エポキシシクロヘキシルメチル-3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、3,4-エポキシシクロヘキシルオキシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)-3’,4’-エポキシ-1,3-ジオキサン-5-スピロシクロヘキサン、1,2-エチレンジオキシ-ビス(3,4-エポキシシクロヘキシルメタン)、4’,5’-エポキシ-2’-メチルシクロヘキシルメチル-4,5-エポキシ-2-メチルシクロヘキサンカルボキシレート、エチレングリコール-ビス(3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート)、ビス-(3,4-エポキシシクロヘキシルメチル)アジペート、ビス(2,3-エポキシシクロペンチル)エーテル、ε-カプロラクトン変性テトラ(3,4-エポキシシクロヘキシルメチル)ブタンテトラカルボキシレート、ε-カプロラクトン変性3’,4’-エポキシシクロヘキシルメチル-3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、1,2-エポキシ-4-ビニルシクロヘキサン、1,2-エポキシ-4-(2-メチルオキシラニル)-1-メチルシクロヘキサン、2,2-ビス(ヒドロキシメチル)-1-ブタノールの1,2-エポキシ-4-(2―オキシラニル)シクロヘキサン付加物、エポキシ化ポリブタジエン、3,4-エポキシシクロヘキシルメチルメタアクリレート、ポリグリシジルメタクリレート、スチレン-ブタジエンブロック共重合体のエポキシ化物、及び多核フェノールグリシジルエーテル誘導樹脂を挙げることができる。これらの例示の中で、好ましくは、エポキシシクロヘキシル基を有するエポキシ樹脂である。
上記エポキシ樹脂は、一種のみを使用することができ、また、二種以上を組み合わせて用いることもできる。本発明の熱硬化性樹脂組成物に含まれる重合体に対して、1質量%乃至80質量%、又は5質量%乃至60質量%、又は10質量%乃至50質量%のエポキシ樹脂を使用することができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物が溶剤を含む場合、当該溶剤としては、半導体デバイス製造工程で使用できる有機溶剤であれば特に限定はない。そのような有機溶剤として、例えば、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、テトラヒドロフラン、メチルイソアミルケトン、2-ブタノン、2-ヘプタノン等のケトン類;エチレングリコール、エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコール、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコール、プロピレングリコールモノアセテート、ジプロピレングリコール、ジプロピレングリコールモノアセテート、並びにこれらのモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル、モノフェニルエーテル等の多価アルコール類及びその誘導体;ジオキサン等の環式エーテル類;及び乳酸メチル、乳酸エチル、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチル等のエステル類を用いることが好ましい。これらの有機溶剤は一種のみを用いてもよく、二種以上を混合して用いてもよい。本発明の熱硬化性樹脂組成物から上記有機溶剤を除いた成分を固形分とすると、当該固形分の割合は、例えば1質量%乃至70質量%である。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、必要に応じて無機フィラー、シランカップリング剤、界面活性剤、レオロジー調整剤、架橋剤などの添加剤をさらに含有していてもよい。
上記無機フィラーとしては、例えば、粒子径が1nm以上700nm以下の、シリカ、窒化アルミ、窒化ボロン、ジルコニア、アルミナなどのゾルを挙げることができる。当該無機フィラーに含まれる粒子は、後述するシランカップリング剤で表面処理されていてもよい。
上記シランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシジルプロピルトリメトキシシラン、3-グリシジルプロピルトリエトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)プロピルトリメトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)プロピルトリエトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリエトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)メチルトリメトキシシラン、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)メチルトリエトキシシラン、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-アミノプロピルトリメトキシシラン、及び3-フェニルアミノプロピルトリメトキシシランを挙げることができる。
上記レオロジー調整剤としては、例えば、ジメチルフタレート、ジエチルフタレート、ジイソブチルフタレート、ジヘキシルフタレート、ブチルイソデシルフタレート等のフタル酸誘導体、ジノルマルブチルアジペート、ジイソブチルアジペート、ジイソオクチルアジペート、オクチルデシルアジペート等のアジピン酸誘導体、ジノルマルブチルマレート、ジエチルマレート、ジノニルマレート等のマレイン酸誘導体、メチルオレート、ブチルオレート、テトラヒドロフルフリルオレート等のオレイン酸誘導体、及びノルマルブチルステアレート、グリセリルステアレート等のステアリン酸誘導体を挙げることができる。
上記界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルアリールエーテル類、ポリオキシエチレン・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレンソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトップ(登録商標)EF301、同EF303、同EF352(三菱マテリアル電子化成(株)製)、メガファック(登録商標)F171、同F173、同R30、同R30N、同R40、同R40-LM(DIC(株)製)、フロラードFC430、同FC431(住友スリーエム(株)製)、アサヒガード(登録商標)AG710、サーフロン(登録商標)S-382、同SC101、同SC102、同SC103、同SC104、同SC105、同SC106(旭硝子(株)製)等のフッ素系界面活性剤、及びオルガノシロキサンポリマーKP341(信越化学工業(株)製)を挙げることができる。これらの界面活性剤は一種のみを添加してもよいし、二種以上の組合せで添加することもできる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は必ずしも上記架橋剤を必要としないが、もし使用するなら、当該架橋剤としては、例えば、メトキシメチル基、エトキシメチル基、ブトキシメチル基、ヘキシルオキシメチル基等のアルコキシメチル基又はヒドロキシメチル基で置換された窒素原子を有する含窒素化合物を挙げることができる。さらに、フェノール基含有化合物、アリル基含有化合物、アリル基含有ポリマー、イソシアネート基含有化合物又はイソシアネート基含有ポリマーを架橋剤として用いることができる。
上記含窒素化合物としては、例えば、ヘキサメトキシメチルメラミン、テトラメトキシメチルベンゾグアナミン、1,3,4,6-テトラキス(ブトキシメチル)グリコールウリル、1,3,4,6-テトラキス(ヒドロキシメチル)グリコールウリル、1,3-ビス(ヒドロキシメチル)尿素、1,1,3,3-テトラキス(ブトキシメチル)尿素、1,1,3,3-テトラキス(メトキシメチル)尿素、1,3-ビス(ヒドロキシメチル)-4,5-ジヒドロキシ-2-イミダゾリノン、1,3-ビス(メトキシメチル)-4,5-ジメトキシ-2-イミダゾリノン等の含窒素化合物が挙げられる。上記架橋剤としては、また、日本サイテックインダストリーズ(株)製メトキシメチルタイプメラミン化合物(商品名:CYMEL(登録商標)300、同301、同303、同350)、ブトキシメチルタイプメラミン化合物(商品名:マイコート(登録商標)506、同508)、グリコールウリル化合物(商品名:CYMEL(登録商標)1170、POWDERLINK(登録商標)1174)、メチル化尿素樹脂(商品名:UFR65)、ブチル化尿素樹脂(商品名:UFR300、U-VAN10S60、U-VAN10R、U-VAN11HV)、DIC(株)製尿素/ホルムアルデヒド系樹脂(高縮合型、商品名:ベッカミン(登録商標)J-300S、同P-955、同N)の市販されている化合物を挙げることができる。
上記架橋剤は、一種の化合物のみを使用することができ、また、二種以上の化合物を組み合わせて用いることもできる。本発明の熱硬化性樹脂組成物に含まれる重合体に対して、1質量%乃至50質量%、又は8質量%乃至40質量%、又は15質量%乃至30質量%の架橋剤を使用することができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、上記架橋剤と共に架橋触媒を含むことができる。架橋触媒を使用することにより、上記架橋剤の反応が促進される。架橋触媒としては、例えば、p-トルエンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、メタンスルホン酸、ピリジニウム-p-トルエンスルホナート、サリチル酸、カンファースルホン酸、5-スルホサリチル酸、クエン酸、安息香酸、ヒドロキシ安息香酸、4-クロロベンゼンスルホン酸、4-ヒドロキシベンゼンスルホン酸、ベンゼンジスルホン酸及び1-ナフタレンスルホン酸を挙げることができる。上記架橋触媒は、一種のみを使用することができ、また、二種以上を組み合わせて用いることもできる。本発明の熱硬化性樹脂組成物に含まれる重合体に対して0.01質量%乃至10質量%、又は0.05質量%乃至8質量%、又は0.1質量%乃至5質量%、又は0.3質量%乃至3質量%、又は0.5質量%乃至1質量%の架橋触媒を使用することができる。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、接着剤組成物又はアンダーフィル組成物として使用することができる。本発明の熱硬化性樹脂組成物を接着剤組成物又はアンダーフィル組成物として使用する場合、本発明における本質的な特性を損なわない範囲で、さらに、混和性のある添加剤、例えば接着剤の性能を改良するための付加的樹脂、粘着付与剤、可塑剤、接着助剤、安定剤、着色剤、消泡材、フラックスなどの慣用されている添加剤を添加することができる。
接着剤の性能を改良するための付加的樹脂(ポリマー)としては、ポリエステル、ポリスチレン、ポリイミド、アクリルポリマー、メタクリルポリマー、ポリビニルエーテル、フェノールノボラック、ナフトールノボラック、ポリエーテル、ポリアミド、ポリカーボネート等の付加重合ポリマー又は縮重合ポリマーを使用することができ、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、トリアジン環、キノリン環、キノキサリン環等の芳香環を有するポリマーが好ましく使用される。前記トリアジン環を有するポリマーとして、例えば下記式(7)で表される構造単位を有するポリエステルを挙げることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000015



(式中、Lは二価の有機基を表す。)
上記のような付加的樹脂(ポリマー)としては、例えば、ベンジルアクリレート、ベンジルメタクリレート、フェニルアクリレート、ナフチルアクリレート、アントリルメタクリレート、アントリルメチルメタクリレート、スチレン、ヒドロキシスチレン、ベンジルビニルエーテル、N-フェニルマレイミド等の付加重合性モノマーをその構造単位として含む付加重合ポリマー、及びフェノールノボラック、ナフトールノボラック等の縮重合ポリマーを挙げることができる。また、付加的樹脂(ポリマー)としては芳香環を有さないポリマーを使用することもできる。そのようなポリマーとしては、例えば、アルキルアクリレート、アルキルメタクリレート、ビニルエーテル、アルキルビニルエーテル、アクリロニトリル、マレイミド、N-アルキルマレイミド、マレイン酸無水物等の芳香環を有さない付加重合性モノマーのみをその構造単位として含む付加重合ポリマーを挙げることができる。付加的樹脂(ポリマー)として付加重合ポリマーが使用される場合、そのポリマーは単独重合体でもよく共重合体であってもよい。
本発明の熱硬化性樹脂組成物を使用した接着剤組成物又はアンダーフィル組成物に添加される付加的樹脂(ポリマー)の重量平均分子量は、例えば、1,000乃至1,000,000、又は3,000乃至300,000、又は5,000乃至200,000、又は10,000乃至100,000である。本発明の接着剤組成物又はアンダーフィル組成物に付加的樹脂(ポリマー)が含まれる場合、その含有量としては、固形分中で例えば40質量%以下、又は20質量%以下、又は1乃至19質量%である。
上記粘着付与剤は、弾性率、粘性及び表面状態の制御のために添加される。かかる粘着付与剤の種類は、粘性を考慮して定めることが好ましいが、例えば、脂肪族系石油樹脂、芳香族系石油樹脂、脂肪族・芳香族共重合系石油樹脂、脂環族系水添石油樹脂、アルキルフェノール樹脂、キシレン樹脂、クマロンインデン樹脂、テルペン樹脂、テルペンフェノール樹脂、芳香族変性テルペン樹脂、水素化テルペン樹脂、ロジン系樹脂、水添ロジン系樹脂、不均化ロジン系樹脂、二量化ロジン系樹脂、及びエステル化ロジン系樹脂から選択される一種又は二種以上の組み合わせが挙げられる。この粘着付与剤は、本発明の接着剤組成物又はアンダーフィル組成物に含まれる重合体に対して、例えば100質量%以下、又は50質量%以下の割合で含有することができる。
以下に、実施例に基づいて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定されるものではない。
以下に記載する合成例で得られた重合体のGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィ)分析は、下記の装置を用い、測定条件は下記のとおりである。
装置:一体型高速GPCシステム HLC-8220GPC 東ソー(株)製
カラム:KF-G,KF-804L
カラム温度:40℃
溶媒:テトラヒドロフラン(THF)
流量:1.0mL/分
標準試料:ポリスチレン
ディテクター:RI
<合成例1>
3-イミダゾリルプロピル-1,5-ジアミノベンズアミド(別名:1-イミダゾリルプロピル-3,5-ジアミノベンズアミド)4.68g、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジエチルジフェニルメタン(日本化薬(株)製、KAYAHARD A-A)41.21g、ビスフェノールM(三井化学ファイン(株)製)69.29g、パラホルムアルデヒド(東京化成工業(株)製)25.34g及びトリエチルアミン4.06gをN-メチル-2-ピロリドン327.49gに溶解させた後、窒素置換し90℃で20時間反応させポリマーを含む溶液を得た。その後、得られた溶液をメタノールに滴下し、再沈殿させた。その後、ブフナーロートで吸引ろ過し、メタノールにて2回洗浄し、得られた粉体を減圧乾燥機で12時間乾燥させ重合体を得た。得られた重合体のGPC分析を行ったところ、標準ポリスチレン換算にて重量平均分子量は3,800であった。なお、得られた重合体は、下記式(4-a)で表される構造単位及び下記式(1-a)で表される構造単位を有すると推定される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016





<合成例2>
3-イミダゾリルプロピル-1,5-ジアミノベンズアミド(別名:1-イミダゾリルプロピル-3,5-ジアミノベンズアミド)4.68g、4,4’-ジアミノ-3,3’,5,5’-テトラメチルジフェニルメタン(日本化薬(株)製、KAYABOND 200S)41.21g、ビスフェノールM(三井化学ファイン(株)製)69.29g、パラホルムアルデヒド(東京化成工業(株)製)25.34g及びトリエチルアミン4.05gをN-メチル-2-ピロリドン327.49gに溶解させた後、窒素置換し90℃で20時間反応させポリマーを含む溶液を得た。その後、得られた溶液をメタノールに滴下し、再沈殿させた。その後、ブフナーロートで吸引ろ過し、メタノールにて2回洗浄し、得られた粉体を減圧乾燥機で12時間乾燥させ重合体を得た。得られた重合体のGPC分析を行ったところ、標準ポリスチレン換算にて重量平均分子量は5,000であった。なお、得られた重合体は、下記式(4-b)で表される構造単位及び下記式(1-a)で表される構造単位を有すると推定される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017



<合成例3>
1,3-フェニレンジアミン(東京化成工業(株)製)1.95g、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジエチルジフェニルメタン(日本化薬(株)製、KAYAHARD A-A)41.20g、ビスフェノールM(三井化学ファイン(株)製)69.30g、パラホルムアルデヒド(東京化成工業(株)製)22.87g及びトリエチルアミン4.05gをN-メチル-2-ピロリドン320.48gに溶解させた後、窒素置換し90℃で20時間反応させポリマーを含む溶液を得た。その後、得られた溶液をメタノールに滴下し、再沈殿させた。その後、ブフナーロートで吸引ろ過し、メタノールにて2回洗浄し、得られた粉体を減圧乾燥機で12時間乾燥させ重合体を得た。得られた重合体のGPC分析を行ったところ、標準ポリスチレン換算にて重量平均分子量は9,900であった。なお、得られた重合体は、下記式(4-a)で表される構造単位及び下記式(8)で表される構造単位を有すると推定される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000018



<合成例4>
1,3-フェニレンジアミン(東京化成工業(株)製)1.95g、4,4’-ジアミノ-3,3’,5,5’-テトラメチルジフェニルメタン(日本化薬(株)製、KAYABOND 200S)41.20g、ビスフェノールM(三井化学ファイン(株)製)69.34g、パラホルムアルデヒド(東京化成工業(株)製)22.82g及びトリエチルアミン4.09gをN-メチル-2-ピロリドン320.75gに溶解させた後、窒素置換し90℃で20時間反応させポリマーを含む溶液を得た。その後、得られた溶液をメタノールに滴下し、再沈殿させた。その後、ブフナーロートで吸引ろ過し、メタノールにて2回洗浄し、得られた粉体を減圧乾燥機で12時間乾燥させ重合体を得た。得られた重合体のGPC分析を行ったところ、標準ポリスチレン換算にて重量平均分子量は7,700であった。なお、得られた重合体は、下記式(4-b)で表される構造単位及び下記式(8)で表される構造単位を有すると推定される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000019



<比較例1>
エポキシ樹脂硬化剤である1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール(東京化成工業(株)製)を用意した。
<比較例2>
エポキシ樹脂硬化剤である2-エチル-4-メチルイミダゾール(東京化成工業(株)製)を用意した。
<比較例3>
エポキシ樹脂硬化剤である4-メチル-2-フェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)を用意した。
[耐熱性評価]
合成例1及び合成例2で得られた重合体、並びに比較例1乃至比較例3で用意されたイミダゾール系のエポキシ樹脂硬化剤の耐熱性について、TG-DTA(NETZSCH社製、TG/DTA2010SR)にて、試料を10℃/分で昇温し5質量%の重量減少を生ずる温度(以下、本明細書では5質量%重量減温度と略称する。)を測定した結果から評価した。5質量%重量減温度の測定結果を下記表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000020

  
合成例1及び合成例2で得られた重合体の5質量%重量減温度はいずれも380℃以上となり、比較例1乃至比較例3で用意されたイミダゾール系のエポキシ樹脂硬化剤と比較して高い耐熱性を示した。
[熱硬化性樹脂組成物の調製]
<実施例1>
合成例1で得られた重合体10gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのポリテトラフルオロエチレン(以下、本明細書ではPTFEと略称する。)製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例2>
合成例1で得られた重合体7gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)3gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例3>
合成例1で得られた重合体5gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例4>
合成例2で得られた重合体10gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例5>
合成例2で得られた重合体7gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)3gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例6>
合成例2で得られた重合体5gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例7>
合成例1で得られた重合体50gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例8>
合成例1で得られた重合体35gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)15gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例9>
合成例1で得られた重合体25gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)25gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例10>
合成例2で得られた重合体50gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例11>
合成例2で得られた重合体35gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)15gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例12>
合成例2で得られた重合体25gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)25gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<実施例13>
合成例1で得られた重合体5g、エポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5g及び3-フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン(東京化成工業株式会社製)2gをテトラヒドロフラン65.5gに溶解させ、その後、無機フィラーであるオルガノシリカゾル[3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシランで表面処理したシリカのメチルエチルケトン分散液、前記シリカの一次粒子径40nm乃至50nm、固形分30.8質量%、比重(20℃)1.007、粘度(20℃)2.5mPa・s、水分0.08質量%]32.5gを混和させ、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<実施例14>
合成例1で得られた重合体5g、エポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5g及び3-フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン(東京化成工業株式会社製)2gをシクロペンタノン22gに溶解させ、その後、無機フィラーであるオルガノシリカゾル[3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシランで表面処理したシリカのメチルエチルケトン分散液、前記シリカの一次粒子径40nm乃至50nm、固形分30.8質量%、比重(20℃)1.007、粘度(20℃)2.5mPa・s、水分0.08質量%]32.5gを混和させた。その後エバポレーターを用いて濃縮を行い、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例4>
合成例3で得られた重合体7gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)3gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<比較例5>
合成例3で得られた重合体5gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<比較例6>
合成例4で得られた重合体7gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)3gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<比較例7>
合成例4で得られた重合体5gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)5gをテトラヒドロフラン40gに溶解させ、その後、孔径0.2μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を20質量%含有する組成物を調製した。
<比較例8>
合成例3で得られた重合体35gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)15gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例9>
合成例3で得られた重合体25gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)25gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例10>
合成例4で得られた重合体35gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)15gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例11>
合成例4で得られた重合体25gとエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)25gをシクロペンタノン50gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例12>
合成例3で得られた重合体25g、比較例1の1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール0.5g及びエポキシ樹脂であるエポリードGT401(株式会社ダイセル製)25.5gをシクロペンタノン51.0gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
<比較例13>
合成例4で得られた重合体25g、比較例1の1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール0.5g及びエポキシ樹脂エポリードGT401(株式会社ダイセル製)25.5gをシクロペンタノン51.0gに溶解させ、その後、孔径5.0μmのPTFE製ミクロフィルターを用いてろ過し、固形分を50質量%含有する組成物を調製した。
[硬化性評価]
実施例1乃至実施例6及び実施例13で調製した組成物1g並びに比較例4乃至比較例7で調製した組成物1gを直径40mmの金属製カップにいれ、50℃で60分間ベーク後、65℃で60分間ベークし、更に80℃で30分間ベークして溶媒を蒸発させ、熱硬化性の樹脂膜を形成した。その後、前記樹脂膜の硬化温度を、レオメーター(アントンパール社製、MCR102)を用いて5℃/分で昇温して評価し、硬化温度が190℃未満なら○、190℃以上なら×と判断した。なお、ここで示す硬化温度とは、樹脂膜の硬化反応によって複素粘度が10,000Pa・sとなる温度である。その硬化温度の結果を下記表2に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000021

実施例1乃至実施例6及び実施例13で調製した組成物から形成された樹脂膜は、比較例4乃至比較例7で調製した組成物から形成された樹脂膜と比較して硬化温度が低い結果となり、本発明の熱硬化性樹脂組成物は、エポキシ硬化反応を促進していることが示された。
[接着性評価]
実施例7乃至実施例12及び実施例14で調製した組成物並びに比較例12乃至比較例13で調製した組成物を、4インチのシリコンウェハー上に、ベーク後の厚みが15μm乃至25μmとなるようスピンコートし、100℃で5分間ベーク後、150℃で5分間ベークして溶媒を蒸発させ、熱硬化性の樹脂膜を形成した。その後、貼り合せ装置(アユミ工業(株)製、VJ-300)を使用して、真空度10Pa以下、温度140℃、印加荷重300kgの条件下で、前記樹脂膜を形成したシリコンウェハーを他の4インチガラスウェハーと接着させ、その後、180℃で60分間加熱して樹脂を硬化させた。ボイド無く良好に接着できた場合を○、ボイドが存在し接着不良が見られた場合を×と評価した。その結果を下記表3に示す。
[接着後耐熱性]
上記接着性の評価で良好に接着できたサンプルについて、200℃で5分間の加熱後、250℃のホットプレートに載せ、剥離発生の有無を確認した。前記ホットプレートにそのサンプルを載せてから1時間以上経過しても剥離が発生しない場合を○、1時間未満にて剥離が発生する場合を×と評価した。その結果を下記表3に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000022

実施例7乃至実施例12及び実施例14で調製した組成物は、良好な接着性と接着後の耐熱性を有することがわかった。一方、既存のエポキシ樹脂硬化剤である1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾールを使用した比較例12及び比較例13で調製した組成物は耐熱性が低く、昇華に起因すると考えられるボイドが発生した。
[硬化膜の物性評価]
実施例8、実施例9、実施例11、実施例12及び実施例14で調製した組成物並びに比較例8乃至比較例13で調製した組成物を、アルミ箔をラミネートしたシリコンウェハー上に、ベーク後の厚みが15μm乃至25μmとなるようスピンコートし、100℃で5分間ベーク後、150℃で5分間ベークして溶媒を蒸発させ、アルミ箔に積層された熱硬化性の樹脂膜を得た。その後、窒素雰囲気中でさらに180℃で60分間ベークして樹脂膜を硬化させた後、6mol/Lの塩酸水溶液に投入してアルミ箔を溶解させ、硬化膜を得た。得られた硬化膜を幅5mmにカットし、Tgと、Tg前温度及びTg後温度の線膨張係数(CTE)を、TMA(NETZSCH社製、TMA4000SA)で5℃/分で室温から200℃まで昇温したときの硬化膜の伸びを測定することにより評価した。Tgは140℃以上を○、140℃未満を×と判断し、Tg前温度のCTEは70ppm/℃未満を○、70ppm/℃以上を×と判断し、Tg後温度のCTEは1000ppm/℃未満を○、1000ppm/℃以上を×と判断した。ここでいうTgは、硬化膜の伸び量の変曲する温度である。測定結果を下記表4に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000023

実施例8、実施例9、実施例11、実施例12及び実施例14で調製した組成物から得られた硬化膜は、エポキシ樹脂の架橋が十分進み、良好な硬化膜特性が得られた。一方、比較例8乃至比較例13で調製した組成物から得られた硬化膜は、エポキシ樹脂との架橋が不十分と考えられる特性不良を生じた。
[電気特性評価]
実施例7乃至実施例12で調製した組成物に、シクロペンタノンを加えて希釈し、シリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗布し、ホットプレート上において100℃で2分間ベーク後、130℃で2分間ベークを行い、さらに、窒素置換されたオーブン中で、180℃で60分間ベークを行い、膜厚500nmの硬化膜を形成した。作製したサンプルに対し、Cvmap 92B (Four Dimensions社製)にて1MV/cmの電界を印加したときのリーク電流値、及び誘電率を測定した。その結果を下記表5に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000024

実施例7乃至実施例12で調製した組成物から得られた硬化膜は、接着剤又はアンダーフィル用途として良好な電気特性を有することがわかった。

Claims (15)

  1. 下記式(1)で表される構造単位を少なくとも一種有する重合体を含む熱硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001




    {式中、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又は炭素原子数1乃至4のアルキル基を表し、Xは単結合又は2価の有機基を表し、Yは下記式(2):
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002




    (式中、Zはカルボニル基又は-CONH-基を表し、Zは炭素原子数1乃至5のアルキレン基、又は窒素原子を少なくとも1つ含有する5員環又は6員環の2価の飽和複素環基を表し、Zは水素原子の少なくとも1つが炭素原子数1乃至5のアルキル基で置換されていてもよい、窒素原子を2つ含有する5員環又は6員環の芳香族複素環基を表す。)
    で表されるアリーレン基を表す。}
  2. 前記式(2)においてZはイミダゾリル基を表す、請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  3. 前記式(2)においてZは炭素原子数1乃至5のアルキレン基を表す、請求項1又は請求項2に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  4. 前記式(2)においてZは-CONH-基を表す、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  5. 前記式(1)においてXは、水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよい炭素原子数1乃至6のアルキレン基、環状アルキレン基、水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいアリーレン基、スルホニル基、カルボニル基、-O-基又は-COO-基を含む2価の有機基を表す、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  6. 前記式(1)においてXは下記式(3):
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003




    (式中、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、又は水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいメチル基を表し、mは0又は1を表す。)
    で表される2価の有機基を表す、請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  7. 前記式(3)で表される2価の有機基は下記式(3-a)又は式(3-b):
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004




    で表される、請求項6に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  8. 前記重合体は下記式(4)で表される構造単位をさらに有する、請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005




    {式中、R、R及びXは請求項1における定義と同義であり、Qは下記式(5)又は式(6):
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006




    (式中、Tは単結合、スルホニル基又は-O-基を表し、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、又は水素原子の少なくとも1つがハロゲン原子で置換されていてもよいメチル基を表し、4つのRはそれぞれ独立に水素原子、メチル基、エチル基又はメトキシ基を表し、nは0又は1を表す。)
    で表される2価の有機基を表す。}
  9. 前記式(5)又は式(6)で表される二価の有機基は下記式(5-a)、式(6-a)、式(6-b)又は式(6-c):
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007




    で表される請求項8に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  10. 前記重合体の重量平均分子量は1,000乃至100,000である請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  11. エポキシ樹脂をさらに含む請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  12. 溶剤をさらに含む請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  13. 接着剤組成物又はアンダーフィル組成物である請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  14. シランカップリング剤をさらに含む請求項1乃至請求項13のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  15. 粒子径が1nm以上700nm以下の無機フィラーをさらに含む請求項1乃至請求項14のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
PCT/JP2014/057358 2013-03-25 2014-03-18 熱硬化性樹脂組成物 WO2014156843A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SG11201507940TA SG11201507940TA (en) 2013-03-25 2014-03-18 Thermosetting resin composition
CN201480017846.4A CN105051105B (zh) 2013-03-25 2014-03-18 热固性树脂组合物
KR1020157023043A KR101967369B1 (ko) 2013-03-25 2014-03-18 열경화성 수지조성물
JP2015508371A JP6288074B2 (ja) 2013-03-25 2014-03-18 熱硬化性樹脂組成物
US14/778,164 US9567435B2 (en) 2013-03-25 2014-03-18 Thermosetting resin composition

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013-062168 2013-03-25
JP2013062168 2013-03-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014156843A1 true WO2014156843A1 (ja) 2014-10-02

Family

ID=51623823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2014/057358 WO2014156843A1 (ja) 2013-03-25 2014-03-18 熱硬化性樹脂組成物

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9567435B2 (ja)
JP (1) JP6288074B2 (ja)
KR (1) KR101967369B1 (ja)
CN (1) CN105051105B (ja)
SG (1) SG11201507940TA (ja)
TW (1) TWI620767B (ja)
WO (1) WO2014156843A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020116313A1 (ja) * 2018-12-03 2020-06-11 パナソニックIpマネジメント株式会社 補強用樹脂組成物、電子部品、電子部品の製造方法、実装構造体及び実装構造体の製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112080237B (zh) * 2020-09-07 2022-05-31 江苏矽时代材料科技有限公司 一种环氧结构胶及其制备方法和应用

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007129640A1 (ja) * 2006-05-01 2007-11-15 Sekisui Chemical Co., Ltd. 樹脂焼成物及びこれを搭載した電子機器
JP2008291070A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂の製造方法、及び熱硬化性樹脂
WO2009008468A1 (ja) * 2007-07-10 2009-01-15 Sekisui Chemical Co., Ltd. ベンゾキサジン構造を有する熱硬化性樹脂及びその製造方法
JP2009242669A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物の製造方法、熱硬化性樹脂組成物、成形体、硬化体及び電子部品
JP2009256650A (ja) * 2008-03-26 2009-11-05 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂及びその製造方法、熱硬化性樹脂を含む熱硬化性組成物及びその成形体、硬化体、硬化成形体、並びにそれらを含む電子機器
WO2011040459A1 (ja) * 2009-09-30 2011-04-07 積水化学工業株式会社 ベンゾオキサジン環を有する熱硬化性樹脂及びその製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1419619A (en) 1972-01-25 1975-12-31 Redifon Ltd Scanning devices
JPS4931079A (ja) 1972-07-21 1974-03-20
JP4887850B2 (ja) 2006-03-16 2012-02-29 住友ベークライト株式会社 アンダーフィル用液状樹脂組成物、並びにそれを用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP5019363B2 (ja) 2007-02-22 2012-09-05 信越化学工業株式会社 エポキシ樹脂接着剤組成物
JP5132220B2 (ja) * 2007-08-09 2013-01-30 電気化学工業株式会社 スチレン系樹脂組成物
JP4931079B2 (ja) 2007-12-21 2012-05-16 パナソニック株式会社 アンダーフィル用液状熱硬化性樹脂組成物とそれを用いた半導体装置
KR101615990B1 (ko) 2008-09-18 2016-04-28 고쿠리츠다이가쿠호우진 도쿄다이가쿠 반도체장치의 제조방법
DE102009003033B4 (de) * 2009-05-12 2013-02-21 Henkel Ag & Co. Kgaa Polymerisierbare Benzoxazin-Verbindungen mit grenzflächenaktiven bzw. oberflächenaktiven Eigenschaften

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007129640A1 (ja) * 2006-05-01 2007-11-15 Sekisui Chemical Co., Ltd. 樹脂焼成物及びこれを搭載した電子機器
JP2008291070A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂の製造方法、及び熱硬化性樹脂
WO2009008468A1 (ja) * 2007-07-10 2009-01-15 Sekisui Chemical Co., Ltd. ベンゾキサジン構造を有する熱硬化性樹脂及びその製造方法
JP2009256650A (ja) * 2008-03-26 2009-11-05 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂及びその製造方法、熱硬化性樹脂を含む熱硬化性組成物及びその成形体、硬化体、硬化成形体、並びにそれらを含む電子機器
JP2009242669A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sekisui Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物の製造方法、熱硬化性樹脂組成物、成形体、硬化体及び電子部品
WO2011040459A1 (ja) * 2009-09-30 2011-04-07 積水化学工業株式会社 ベンゾオキサジン環を有する熱硬化性樹脂及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020116313A1 (ja) * 2018-12-03 2020-06-11 パナソニックIpマネジメント株式会社 補強用樹脂組成物、電子部品、電子部品の製造方法、実装構造体及び実装構造体の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2014156843A1 (ja) 2017-02-16
SG11201507940TA (en) 2015-10-29
CN105051105A (zh) 2015-11-11
KR101967369B1 (ko) 2019-04-09
TWI620767B (zh) 2018-04-11
JP6288074B2 (ja) 2018-03-07
US20160272764A1 (en) 2016-09-22
CN105051105B (zh) 2017-04-26
KR20150137052A (ko) 2015-12-08
TW201502167A (zh) 2015-01-16
US9567435B2 (en) 2017-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6098825B2 (ja) 重合体及びそれを含む組成物並びに接着剤用組成物
US9890254B2 (en) Resin composition, resin film, and semiconductor device and method for manufacturing same
US20170037238A1 (en) Heat-curable epoxy resin composition
JP6265105B2 (ja) シリコーン樹脂、樹脂組成物、樹脂フィルム及び半導体装置とその製造方法
JP7109159B2 (ja) 熱硬化性樹脂を含む膜形成組成物
TW202022047A (zh) 熱固性樹脂組合物、熱固性樹脂膜及半導體裝置
JP6288074B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物
JP6226141B2 (ja) 接着剤組成物又はアンダーフィル組成物
JP6402860B2 (ja) 特定の末端構造を有する重合体を含む熱硬化性樹脂組成物
JP2015137287A (ja) 半導体ウエハ用保護フィルムおよび半導体ウエハ用保護フィルム付き半導体チップの製造方法
JP2014165200A (ja) 半導体チップの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201480017846.4

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 14776405

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2015508371

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20157023043

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14778164

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 14776405

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1