WO2013176580A1 - Дифференциальный спектрометр ионной подвижности - Google Patents

Дифференциальный спектрометр ионной подвижности Download PDF

Info

Publication number
WO2013176580A1
WO2013176580A1 PCT/RU2013/000359 RU2013000359W WO2013176580A1 WO 2013176580 A1 WO2013176580 A1 WO 2013176580A1 RU 2013000359 W RU2013000359 W RU 2013000359W WO 2013176580 A1 WO2013176580 A1 WO 2013176580A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
source
ionization
gas
chamber
ion
Prior art date
Application number
PCT/RU2013/000359
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Марк Николаенмч ЛЕВИН
Александр Семенович ТАРАСОВ
Владимир Юрьевич ТАЯКИН
Анна Марковна ЛЕВИНА
Александр Владимирович ТАТАРИНЦЕВ
Владимир Апександрович МАКАРЕНКО
Original Assignee
Закрытое Акционерное Общество "Инновационный Центр "Бирюч" (Зао "Инновационный Центр "Бирюч")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Закрытое Акционерное Общество "Инновационный Центр "Бирюч" (Зао "Инновационный Центр "Бирюч") filed Critical Закрытое Акционерное Общество "Инновационный Центр "Бирюч" (Зао "Инновационный Центр "Бирюч")
Priority to CN201380004790.4A priority Critical patent/CN104054156B/zh
Priority to DE112013000365.1T priority patent/DE112013000365B4/de
Publication of WO2013176580A1 publication Critical patent/WO2013176580A1/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/622—Ion mobility spectrometry
    • G01N27/624—Differential mobility spectrometry [DMS]; Field asymmetric-waveform ion mobility spectrometry [FAIMS]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416—Systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72—Mass spectrometers
    • G01N30/7206—Mass spectrometers interfaced to gas chromatograph

Definitions

  • the present invention relates to the field of gas analysis and is intended to detect microimpurities of substances in gaseous media, in particular an atmosphere of air, is used in gas chromatography as a sensitive detector.
  • instruments based on the method of detection by ion mobility are used to control the microconcentrations of impurities of organic and inorganic substances in gases.
  • this device In the case of ionization at atmospheric pressure, this device has low sensitivity and noise immunity due to the influence of impurities in the analyzed gas on the ionization efficiency and separation efficiency.
  • the heating chamber is installed at the entrance of the ionization chamber, connected at the input to the analyzed gas and the output of the gas purification device, and at the exit, at the entrance to the ionization chamber and includes a temperature meter, a temperature controller and a humidity meter, which is connected to a controlled gas discharge device.
  • This spectrometer is disclosed in the patent of the Russian Federation N 2 2178929, publication date - 01/27/2002, the IPC index - H01J49 / 40.
  • the disadvantage of this device is that it does not solve the problem of protecting the ionizer from the effects of impurities contained in the analyzed gas.
  • the closest technical solution of the present invention is still an ion mobility spectrometer according to the aforementioned US patent N 2 5420424.
  • the disadvantage of this technical solution is the exposure of the ionizer in the stream of the analyzed gas. This leads to instability of the formation of reactant ions, as well as to a change in the ionizer current over time due to contamination of the ionizer with the analyzed gas.
  • the present invention is to protect the ionizer from contamination of the analyzed gas.
  • the technical result of the present invention is to improve the stability and reproducibility of the results of the analysis of gas environments, increasing the life of the ionizer.
  • a differential ion mobility spectrometer including a cylindrical ionization chamber in which analyte ions are formed, having an input for the analyzed gas and an outlet for gas discharge, an ionization source, an ion aperture, an electrode system consisting of two concentrically arranged internal and external electrodes, an analytical gap formed by these two opposite cylindrical electrodes, having an input for purified gas, connected at the input to the analyte ion formation region through an ion aperture, and at the output to an ion recorder, a periodic polarity asymmetric generator, providing access to the plot of the nonlinear field dependence of ion mobility, a compensating voltage generator, a high-frequency voltage source, providing an increase in the resolution of the device, connected to the internal electrode, according to the invention, is equipped with an additional chamber concentrically located relative to the inner cylindrical electrode, having an input and output for the ionizing gas, in which the ionization source is located and the repulsive voltage generator is
  • a radioactive? Source such as tritium, can be used as an ionization source to produce negative and positive ions.
  • an electron ionizer for example, a corona discharge
  • an ionization source for which an electrode with a sharp end connected to an alternating high voltage generator is placed in an additional chamber.
  • an electrospray can be used as an ionization source in the spectrometer according to the present invention, for which an electrospray capillary is placed in an additional chamber to supply a solution of a controlled flow rate and composition connected to a constant high voltage source.
  • any known source of ultraviolet radiation can be used as an ionization source.
  • a gas purification system may contain a gas flow inducer (for example, a pump), two filters located at the outlet of the ionization chamber and at the entrance to the analytical gap and an additional chamber, three pneumatic resistances installed after the filters and at outlet E to discharge gas into the atmosphere.
  • a gas flow inducer for example, a pump
  • two filters located at the outlet of the ionization chamber and at the entrance to the analytical gap and an additional chamber
  • three pneumatic resistances installed after the filters and at outlet E to discharge gas into the atmosphere.
  • the Figure shows a diagram of a spectrometer of the present invention.
  • the present invention organizes an additional stream of purified gas with a controlled composition around the ionizer. Then, the resulting reactant ions are mixed with the flow of the analyzed gas and the ions of the analytes are formed as a result of ion-molecular recharging reactions with the reactant ions.
  • the spectrometer consists of an ionization chamber 1, an external cylindrical electrode 2 and an inner cylindrical electrode 3, concentrically located relative to the electrode 2, an additional chamber 4 for introducing a stream of ionized gas (reactant gas), concentrically located relative to the inner cylindrical electrode 3, an ionization source 5, for example of a radioactive?
  • a -source located at the output of chamber 4, of a generator 6 of a periodic voltage asymmetric in polarity, providing access to the current of the nonlinear field dependence of the mobility of ions, a compensating voltage generator 7, a high-frequency voltage source 8, providing an increase in the resolution of the device connected to the electrode 3, a buoy voltage generator 9 connected to the chamber 4, an ion collector 10 located at the end of the analytical gap 1 1, to which an ion recorder 12 is connected, for example, a current meter.
  • Chamber 1 and the internal electrode 3 are separated from each other and form an ionic aperture 15, which allows ionized particles to move into the analytical gap 1 1.
  • the ionization chamber 1 has an inlet 17 for introducing a stream of the analyzed gas and an outlet 18 for discharging gas.
  • the spectrometer is equipped with a gas purification system that combines the 19 outputs of the analytical gap 1 1 and the ionization chamber 1 with the inputs of the additional chamber 4 and the analytical gap 1 1.
  • the gas purification system includes a gas flow inducer (for example, a pump) 25, two filters 23 and 24, respectively placed at the exit of the ionization chamber 1 and at the entrance to the analytical gap 1 1 and the additional chamber 4, three pneumatic resistances 20, 21, 22, installed after the filters 23 and 24 and at the exit E to discharge gas into the atmosphere.
  • a gas flow inducer for example, a pump
  • two filters 23 and 24 respectively placed at the exit of the ionization chamber 1 and at the entrance to the analytical gap 1 1 and the additional chamber 4
  • three pneumatic resistances 20, 21, 22, installed after the filters 23 and 24 and at the exit E to discharge gas into the atmosphere.
  • Cylindrical electrodes and chambers are separated from each other by supporting elements 26.
  • the spectrometer works as follows.
  • Reactant ions are formed in the ionized purified gas stream R entering the chamber 4 under the influence of ⁇ particles of the radioactive source 5 in the ionization region 13. Reactant ions enter the stream of the analyzed gas A entering the ionization chamber 1 through the inlet 17. At the same time, the stream of the purified buffer gas B enters the space between the wall of the chamber 1 and the electrode 2. A part of this stream exits through the ion aperture 15 to the region of formation of the analyte ions 14 , the other part C enters the analytical gap 1 1 formed by electrodes 2 and 3.
  • the ions of the analyzed substances are formed as a result of ion-molecular recharging reactions and are pulled by an electric field, provided by the potential difference between the electrodes 3 and 2 from the region of formation of ions 14, into the carrier gas stream C. Ions with different dependence of mobility on the electric field intensity reach the ion collector 10 at the end of the gap 1 1 at various compensating voltages and are recorded by a current meter 12.
  • the gases passed through the collector 10 and the outlet 18 of the ionization chamber 1 enter the purification system. After cleaning, one stream of purified gas is returned to the chamber 4, and the other in the analytical gap 1 1.
  • the technical result of the present invention is due to the fact that the flow of ionizing clean gas prevents the analyzed "dirty" gas from entering the ionization source.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения микропримесей веществ в газовых средах, в частности атмосфере воздуха, имеет применение в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора. Технический результат заключается в улучшении стабильности и воспроизводимости результатов анализа газовых сред, увеличении срока эксплуатации ионизатора. Дифференциальный спектрометр ионной подвижности содержит цилиндрическую камеру для формирования ионов аналита, источник ионизации, в области которого происходит образование реактант-ионов, систему электродов, ионную апертуру, аналитический зазор, образованный двумя концентрическими цилиндрическими электродами, ионный регистратор, генератор периодического несимметричного по полярности напряжения, обеспечивающий выход на участок нелинейной полевой зависимости подвижности ионов, источник компенсирующего напряжения, источник высокочастотного напряжения, обеспечивающий повышение разрешения прибора, концентрически расположенную относительно внутреннего цилиндрического электрода дополнительную (третью) камеру, имеющей вход и выход для ионизирующего газа, в которой размещен источник ионизации и подключен генератор выталкивающего напряжения; генератор периодического несимметричного по полярности напряжения, обеспечивающего выход на участок нелинейной полевой зависимости подвижности ионов, источник компенсирующего напряжения и генератор высокочастотного напряжения, обеспечивающий повышение разрешения прибора, подключены к внутреннему электроду камеры ионизации. В качестве источника ионизации использован: радиоактивный -источник, или электронный ионизатор, или электроспрей, или любой известный источник ультрафиолетового излучения. Имеет систему очистки газа.

Description

Описание
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ СПЕКТРОМЕТР ИОННОЙ ПОДВИЖНОСТИ
Область техники
Настоящее изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения микропримесей веществ в газовых средах, в частности атмосфере воздуха, применяется в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора.
Предшествующий уровень техники
Ввиду высокой чувствительности, селективности и экспрессности для контроля микроконцентраций примесей органических и неорганических веществ в газах применяются приборы, основанные на методе детектирования по подвижности ионов.
Из уровня техники известен патент США N25420424, дата пудликации - 30 мая 1995 г., индекс МПК - H01J 49/40, в котором раскрыт спектрометр нелинейности дрейфа ионов, состоящий из камеры ионизации, имеющей вход для анализируемого газа и выход для сброса газа, источника ионизации, системы электродов, ионной апертуры, камеры разделения ионов (аналитический зазор), образованной двумя противолежащими электродами, имеющей вход для очищенного газа, соединенной по входу с камерой ионизации через ионную апертуру, а по выходу - с ионным регистратором, генератора периодического несимметричного по полярности напряжения и источника компенсирующего напряжения, подключенных кэлектродам камеры разделения, источника напряжений, подключенного к электродам камеры ионизации.
В случае использования ионизации при атмосферном давлении это устройство обладает низкой чувствительностью и помехозащищенностью, обусловленными влиянием примесей, находящихся в анализируемом газе, на эффективность ионизации и эффективность разделения.
Для устранения одного из этих недостатков, а именно низкой помехозащищенности, было предложено дополнить данный спектрометр устройством очистки газа, соединенным по входу со сбросовым каналом и выходом камеры разделения, а по выходу - со входом камеры ионизации. Данное устройство раскрыто в патенте США N2 5736739, дата публикации - 7 апреля 1998 г., индекс МПК - H01J 49/40.
Однако при этом влияние примесей на эффективность ионизации не устраняется, что снижает чувствительность анализа.
С целью повышения чувствительности анализа было предложено в спектрометр ввести нагревательную камеру и управляемое устройство сброса газа. Нагревательная камера установлена на входе камеры ионизации, соединена по входу с анализируемым газом и выходом устройства очистки газа, а по выходу - с входом камеры ионизации и включает в себя измеритель температуры, терморегулятор и измеритель влажности, который подключен к управляемому устройству сброса газа. Данный спектрометр раскрыт в патенте Российской Федерации N22178929, дата публикации - 27.01.2002 г., индекс МПК - H01J49/40.
Недостатком данного устройства остается то, что оно не решает проблему защиты ионизатора от влияния на него загрязнений, содержащихся в анализируемом газе.
Наиболее близким техническим решением настоящего изобретения все же является спектрометр ионной подвижности по вышеупомянутому патенту США N2 5420424. Недостатком данного технического решения, помимо изложенных выше, является экспозиция ионизатора в потоке анализируемого газа. Это приводит к нестабильности образования ионов-реактантов, а также к изменению тока ионизатора со временем из-за загрязнения ионизатора анализируемым газом.
Раскрытие изобретения
Задачей настоящего изобретения является защита ионизатора от загрязнений анализируемым газом.
Технический результат настоящего изобретения заключается в улучшении стабильности и воспроизводимости результатов анализа газовых сред, увеличении срока эксплуатации ионизатора.
Вышеуказанный технический результат достигается тем, что дифференциальный спектрометр ионной подвижности, включающий цилиндрическую камеру ионизации, в которой происходит формирование ионов аналита, имеющую вход для анализируемого газа и выход для сброса газа, источник ионизации, ионную апертуру, систему электродов, состоящую из двух концентрически расположенных внутреннего и внешнего электродов, аналитический зазор, образованный этими двумя противолежащими цилиндрическими электродами, имеющий вход для очищенного газа, соединенный по входу с областью формирования ионов аналита через ионную апертуру, а по выходу - с ионным регистратором, генератор периодического несимметричного по полярности напряжения, обеспечивающего выход на участок нелинейной полевой зависимости подвижности ионов, генератор компенсирующего напряжения, источник высокочастотного напряжения, обеспечивающего повышение разрешения прибора, подключенные к внутреннему электроду, согласно изобретению, снабжен дополнительной камерой, концентрически расположенной относительно внутреннего цилиндрического электрода, имеющей вход и выход для ионизирующего газа, в которой размещен источник ионизации и подключен генератор выталкивающего напряжения, системой очистки газа, объединяющей трубопроводами выходы аналитического зазора и камеры ионизации со входами аналитического зазора и дополнительной камерой.
В спектрометре согласно настоящему изобретению в качестве источника ионизации может быть использован радиоактивный ?-источник, такой кактритий, для получения отрицательных и положительных ионов.
Также в спектрометре согласно настоящему изобретению в качестве источника ионизации может быть использован электрон н ы й ион изатор, например, коронный разряд, для чего в дополнительной камере размещен электрод с острым концом, подключенным к генератору переменного высоковольтного напряжения.
Кроме того в спектрометре согласно настоящему изобретению в качестве источника ионизации может быть использован электроспрей, для чего в дополнительной камере размещен электроспрейный капилляр, для подачи раствора контролируемого расхода и состава, подключенный к источнику постоянного высокого напряжения.
Наконец, в спектрометре согласно настоящему изобретению в качестве источника ионизации может быть использован любой известный источник ультрафиолетового излучения.
В спектрометре по настоящему изобретению система очистки газа может содержать побудитель расхода газа (например, насос), два фильтра, размещенных на выходе из камеры ионизации и на входе в аналитический зазор и дополнительную камеру, трех пневматических сопротивлений, установленных после фильтров и на выходе Е для сброса газа в атмосферу.
Краткое описание чертежей
На Фигуре представлена схема спектрометра по настоящему изобретению.
Варианты осуществления изобретения
В настоящем изобретении организуется дополнительный поток очищенного газа с контролируемым составом вокруг ионизатора. Затем образовавшиеся ионы-реактанты смешиваются с потоком анализируемого газа и ионы анализируемых веществ образуются в результате ион-молекулярных реакций перезарядки с ионами-реактантами. Спектрометр состоит из камеры ионизации 1 , внешнего цилиндрического электрода 2 и внутреннего цилиндрического электрода 3, концентрически расположенного относительно электрода 2, дополнительной камеры 4 для ввода потока ионизируемого газа (газа-реактанта), концентрически расположенной относительно внутреннего цилиндрического электрода 3, источника ионизации 5, например, радиоактивного ?-источника (тритий), размещенного на выходе камеры 4, генератора 6 периодического несимметричного по полярности напряжения, обеспечивающего выход на участок нелинейной полевой зависимости подвижности ионов, генератора 7 компенсирующего напряжения, источника 8 высокочастотного напряжения, обеспечивающего повышение разрешения прибора, подключенных к электроду 3, генератора 9 выталкивающего напряжения, подключенного к камере 4, коллектора ионов 10, размещенного в конце аналитического зазора 1 1 , к которому подключен ионный регистратор 12, например, измеритель тока. На выходе камеры 4 располагается область ионизации 13, в камере 1 - область формирования ионов аналита 14. Камера 1 и внутренний электрод 3 отстранены друг от друга и образуют ионную апертуру 15, позволяющую ионизированным частицам перемещаться в аналитический зазор 1 1. Имеется вход 16 для очищенного газа в пространство, образованное стенкой камеры ионизации 1 и электродом 2. Камера ионизации 1 имеет вход 17 для ввода потока анализируемого газа и выход 18 для сброса газа. Спектрометр снабжен системой очистки газа, объединяющей трубопроводами 19 выходы аналитического зазора 1 1 и камеры ионизации 1 со входами дополнительной камеры 4 и аналитического зазора 1 1. Система очистки газа включает побудитель расхода газа ( например, насос) 25, два фильтра 23 и 24, соответственно размещенные на выходе из камеры ионизации 1 и на входе в аналитический зазор 1 1 и дополнительную камеру 4, трех пневматических сопротивлений 20, 21 , 22, установленных после фильтров 23 и 24 и на выходе Е для сброса газа в атмосферу.
Цилиндрические электроды и камеры отделены друг от друга поддерживающими элементами 26.
Спектрометр работает следующим образом.
В потоке ионизируемого очищенного газа R, поступающего в камеру 4 под воздействием ?-частиц радиоактивного источника 5 в области ионизации 13 образуются ионы-реактанты. Ионы-реактанты попадают в поток анализируемого газа А, поступающего в камеру ионизации 1 через вход 17. Одновременно поток буферного очищенного газа В поступает в пространство между стенкой камеры 1 и электродом 2. Часть этого потока выходит через ионную апертуру 15 в область формирования ионов аналита 14, другая часть С поступает в аналитический зазор 1 1 , образованный электродами 2 и 3.
Ионы анализируемых веществ образуются в результате ион-молекулярных реакций перезарядки и перетягиваются электрическим полем, обеспеченным разностью потенциалов между электродами 3 и 2 из области формирования ионов 14, в поток газа-носителя С. Ионы с различной зависимостью подвижности от напряженности электрического поля достигают коллектора ионов 10 в конце зазора 1 1 при различных компенсирующих напряжениях и регистрируются измерителем тока 12.
Газы прошедшие через коллектор 10 и выход 18 камеры ионизации 1 поступают в систему очистки. После очистки один поток очищенного газа вновь возвращается в камеру 4, а другой в аналитический зазор 1 1.
Технический результат настоящего изобретения обусловлен тем, что поток ионизирующего чистого газа предотвращает попадание анализируемого "грязного" газа к источнику ионизации. Промышленная применимость
Современные методы, технологии и материалы создают реальную возможность осуществления вышеописанного дифференциального спектрометра ионной подвижности. Все конструктивные элементы спектрометра могут быть произведены с помощью уже используемого оборудования на действующих заводах. Специалист в области измерений окружающей среды не сможет подвергнуть сомнению работоспособность диффференциального спектрометра ионной подвижности, предлагаемого настоящим изобретением.

Claims

Формула изобретения
1. Дифференциальный спектрометр ионной подвижности, включающий цилиндрическую камеру ионизации, в которой происходит формирование ионов аналита, имеющую вход для анализируемого газа и выход для сброса газа, источник ионизации, ионную апертуру, систему электродов, состоящую из двух концентрически расположенных внутреннего и внешнего электродов, аналитический зазор, образованный этими двумя противолежащими цилиндрическими электродами, имеющий вход для очищенного газа, соединенный по входу с областью формирования ионов аналита через ионную апертуру, а по выходу - с ионным регистратором, генератор периодического несимметричного по полярности напряжения, обеспечивающего выход на участок нелинейной полевой зависимости подвижности ионов, генератор компенсирующего напряжения, источник высокочастотного напряжения, обеспечивающего повышение разрешения прибора, подключенные к внутреннему электроду, отличающийся тем, что снабжен дополнительной камерой, концентрически расположенной относительно внутреннего цилиндрического электрода, имеющей вход и выход для ионизирующего газа, в которой размещен источник ионизации и подключен генератор выталкивающего напряжения, системой очистки газа, объединяющей трубопроводами выходы аналитического зазора и камеры ионизации с входами аналитического зазора и дополнительной камерой.
2. Спектрометр по п.1 , отличающийся тем, что в качестве источника ионизации использован радиоактивный ^-источник, такой как тритий.
3. Спектрометр по п.1 , отличающийся тем, что в качестве источника ионизации использован электронный ионизатор, например, коронный разряд, для чего в дополнительной камере размещен электрод с острым 1 . концом, подключенный к генератору переменного высоковольтного напряжения.
4. Спектрометр по п.1 , отличающийся тем, что в качестве источника ионизации использован электроспрей, для чего в дополнительной камере размещен электроспрейный капилляр, для подачи раствора контролируемого расхода и состава, подключенный к источнику постоянного высокого напряжения.
5. Спектрометр по п.1 , отличающийся тем, что в качестве источника ионизации любой известный источник ультрафиолетового излучения.
6. Спектрометр по п.1 , отличающийся тем, что система очистки газа содержит побудитель расхода газа (например, насос), два фильтра, размещенных на выходе из камеры ионизации и на входе в аналитический зазор и дополнительную камеру, трех пневматических сопротивлений, установленных после фильтров и на выходе для сброса газа в атмосферу.
PCT/RU2013/000359 2012-05-22 2013-04-25 Дифференциальный спектрометр ионной подвижности WO2013176580A1 (ru)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201380004790.4A CN104054156B (zh) 2012-05-22 2013-04-25 差分式离子迁移率频谱仪
DE112013000365.1T DE112013000365B4 (de) 2012-05-22 2013-04-25 Differenzielles Ionenmobilitätsspektrometer

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012121133 2012-05-22
RU2012121133/07A RU2503083C1 (ru) 2012-05-22 2012-05-22 Дифференциальный спектрометр ионной подвижности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2013176580A1 true WO2013176580A1 (ru) 2013-11-28

Family

ID=49624156

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/RU2013/000359 WO2013176580A1 (ru) 2012-05-22 2013-04-25 Дифференциальный спектрометр ионной подвижности

Country Status (4)

Country Link
CN (1) CN104054156B (ru)
DE (1) DE112013000365B4 (ru)
RU (1) RU2503083C1 (ru)
WO (1) WO2013176580A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108091541A (zh) * 2016-11-21 2018-05-29 中国科学院大连化学物理研究所 一种阵列式高场非对称波形离子迁移管

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2577781C1 (ru) * 2014-09-09 2016-03-20 Закрытое акционерное общество "Инновационный центр "Бирюч" (ЗАО "ИЦ "Бирюч") Дифференциальный спектрометр ионной подвижности с ионной ловушкой
RU2620251C2 (ru) * 2015-08-21 2017-05-24 Закрытое акционерное общество "Инновационный центр "Бирюч" (ЗАО "ИЦ "Бирюч") Дифференциальный спектрометр ионной подвижности с ламинарным потоком
CN105403614B (zh) * 2015-12-15 2018-01-16 清华大学深圳研究生院 离子迁移谱仪中运动离子分布的示踪办法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5420424A (en) * 1994-04-29 1995-05-30 Mine Safety Appliances Company Ion mobility spectrometer
US5736739A (en) * 1996-04-04 1998-04-07 Mine Safety Appliances Company Recirculating filtration system for use with a transportable ion mobility spectrometer in gas chromatography applications
RU2150157C1 (ru) * 1998-06-09 2000-05-27 Конструкторско-технологический институт геофизического и экологического приборостроения СО РАН Спектрометр нелинейности дрейфа ионов
RU2178929C2 (ru) * 2000-01-25 2002-01-27 Конструкторско-технологический институт геофизического и экологического приборостроения СО РАН Спектрометр нелинейности дрейфа ионов
US20090114811A1 (en) * 2007-11-06 2009-05-07 Jurgen Landgraf Ion mobility spectrometer and method for operation
US20100282961A1 (en) * 2007-02-01 2010-11-11 Sionex Corporation Differential mobility spectrometer pre-filter assembly for a mass spectrometer

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5801379A (en) * 1996-03-01 1998-09-01 Mine Safety Appliances Company High voltage waveform generator
JP2000509487A (ja) * 1996-04-04 2000-07-25 マイン・セイフティ・アプライアンセス・カンパニー 運搬可能なイオン移動度分析計と共に使用する再循環濾過装置
DE102005004325A1 (de) * 2005-01-31 2006-08-10 Bruker Daltonik Gmbh Ionenmobilitätsspektrometer und Verfahren zu seinem Betrieb
WO2009144071A1 (en) * 2008-05-30 2009-12-03 Applied Materials, Inc. Arrangement and method for removing alkali- or alkaline earth-metals from a vacuum coating chamber

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5420424A (en) * 1994-04-29 1995-05-30 Mine Safety Appliances Company Ion mobility spectrometer
US5736739A (en) * 1996-04-04 1998-04-07 Mine Safety Appliances Company Recirculating filtration system for use with a transportable ion mobility spectrometer in gas chromatography applications
RU2150157C1 (ru) * 1998-06-09 2000-05-27 Конструкторско-технологический институт геофизического и экологического приборостроения СО РАН Спектрометр нелинейности дрейфа ионов
RU2178929C2 (ru) * 2000-01-25 2002-01-27 Конструкторско-технологический институт геофизического и экологического приборостроения СО РАН Спектрометр нелинейности дрейфа ионов
US20100282961A1 (en) * 2007-02-01 2010-11-11 Sionex Corporation Differential mobility spectrometer pre-filter assembly for a mass spectrometer
US20090114811A1 (en) * 2007-11-06 2009-05-07 Jurgen Landgraf Ion mobility spectrometer and method for operation

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108091541A (zh) * 2016-11-21 2018-05-29 中国科学院大连化学物理研究所 一种阵列式高场非对称波形离子迁移管
CN108091541B (zh) * 2016-11-21 2019-09-06 中国科学院大连化学物理研究所 一种阵列式高场非对称波形离子迁移管

Also Published As

Publication number Publication date
RU2012121133A (ru) 2013-12-10
RU2503083C1 (ru) 2013-12-27
CN104054156B (zh) 2016-06-15
CN104054156A (zh) 2014-09-17
DE112013000365B4 (de) 2016-07-14
DE112013000365T5 (de) 2014-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Miller et al. A MEMS radio-frequency ion mobility spectrometer for chemical vapor detection
CA2148166C (en) Ion mobility spectrometer
US2959677A (en) Gas analysis
US7375317B2 (en) Ion drift-chemical ionization mass spectrometry
KR20100103624A (ko) 가스를 검출 및 확인하기 위한 방법 및 장치
JP2008508511A (ja) コロナ放電イオン化エレメントを備えたイオン移動度分光器
US20060186330A1 (en) Ion mobility spectrometer with parallel running drift gas and ion carrier gas flows
JP2013542409A (ja) イオン移動度分光計を用いた気体の検出及び同定のための方法及び装置
WO2013176580A1 (ru) Дифференциальный спектрометр ионной подвижности
US5281915A (en) Sensor for detecting a high molecular weight substance using ionization effects
US20100308216A1 (en) FAIMS Ion Mobility Spectrometer With Multiple Doping
EP2156461B1 (en) Detectors and ion sources
Baumbach et al. Ion mobility sensor in environmental analytical chemistry—Concept and first results
WO2006028402A1 (fr) Tete d'analyse destinee a la detection dans le gaz de substances sous forme de micro-impuretes
US20090184241A1 (en) Ion mobility spectrometer
CN111983008A (zh) 一种小型光离子化检测仪及其检测方法
US11315777B2 (en) Method and apparatus for concentrating ionised molecules
JPH06507472A (ja) ガス中の異物質含有物の検出方法
US10209220B2 (en) Apparatus for measuring ion mobility of harmful material and reference data obtaining method of the same
RU115072U1 (ru) Фотоионизационный детектор для газоаналитической аппаратуры
RU2289810C2 (ru) Источник ионизации коронного разряда для устройств обнаружения микропримесей веществ в газах
US20220301843A1 (en) Method and apparatus for concentrating ionised molecules
RU2577781C1 (ru) Дифференциальный спектрометр ионной подвижности с ионной ловушкой
RU2523765C1 (ru) Фотоионизационный детектор для газоаналитической аппаратуры
GB2328789A (en) Photoionisation detectors

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13793182

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 112013000365

Country of ref document: DE

Ref document number: 1120130003651

Country of ref document: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13793182

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1