WO2013077671A1 - 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓 - Google Patents

스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓 Download PDF

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WO2013077671A1
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test
test socket
conductive
insert
stopper portion
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PCT/KR2012/009984
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Inventor
이재학
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Lee Jae Hak
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    • H01R13/2414—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means conductive elastomers
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    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the present invention relates to a test socket in which a stopper portion is formed, and more particularly, a stop portion for stably contacting the device under test evenly at a uniform pressure even when the insert seating the device under test is unstablely lowered.
  • a stopper portion for stably contacting the device under test evenly at a uniform pressure even when the insert seating the device under test is unstablely lowered.
  • the test socket is used in the inspection process for determining whether the manufactured device under test is defective. That is, the manufactured device under test performs a predetermined electrical test to determine whether there is a defect, wherein the device under test and the device for inspection are not in direct contact with each other but indirectly through a test socket. Will be connected.
  • the reason for this is that the inspection apparatus for inspection is relatively expensive, so that it is not easy to replace when worn or damaged due to frequent contact with the inspected device, and the replacement cost is high.
  • the test socket is replaceably mounted on the upper side of the test apparatus, and the device under test is electrically connected to the test apparatus by contacting the test socket instead of the test apparatus. Therefore, the test signal from the test apparatus is transmitted to the device under test through the test socket.
  • the device to be inspected is moved to a place where the inspection apparatus is located in a state where it is mounted on a predetermined tray after manufacture, where an insert is used.
  • An insert carries the device under test from a tray to the inspection device.
  • the device under test carried by the insert 120 to the test apparatus 140 is pressed by the pusher device 130 while being seated in the test socket 110 as shown in FIGS. 1 and 2. It will be in close contact with
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of FIG. 2, wherein an insert 120 is seated in a test socket 110 seated on an apparatus to be inspected, and a device under test 100 is disposed in the insert 120.
  • the pusher device 130 for pressing the device under test 100 is disposed on the upper surface of the device 100.
  • the pusher device 130 is arranged with a spring 131 for pressing the device under test 100.
  • a socket guide 111 for fixing the test socket 110 is disposed at an edge of the test socket 110, and the socket guide 111 may prevent the insert 120 from falling over a predetermined level. It also functions. That is, the socket guide 111 is in contact with the insert to be lowered, thereby preventing the insert 120 from falling over a certain amount, and thus the device under test 100 disposed in the insert 120 is tested at a uniform pressure. Contact with conductive portions of the socket 110.
  • the socket guide serves to prevent damage to the terminal of the device under test or the conductive portion of the test socket, which may occur as the insert is excessively lowered.
  • the socket guide disposed in the test socket prevents the insert from lowering by a certain amount as it comes in contact with the edge of the insert.
  • the insert is not inclined while being leveled by a machining deviation such as a pusher or insert, but rather inclined. There is a case where it is lowered, and in this case, only one side of the insert contacts the socket guide, and the other side of the insert does not contact the socket guide, which may cause a gap S.
  • the device under test inserted into the insert also obliquely contacts the conductive part of the test socket in an inclined state, thereby preventing contact with the uniform conductive part. Let's do it. That is, as shown in the enlarged view of the left side in FIG. 4, one side of the device under test comes into contact with the conductive part of the test socket with excessive pressure, and the other side of the device under test as shown in the enlarged view of the right side shows the test socket. There is a concern that it may be difficult to make a uniform contact by not coming into contact with the conductive portion of N or by contacting with a weak pressure.
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and more particularly, by bringing the device under test into contact with the conductive portion of the test socket in a horizontal state, the terminal of the device under test and the conductive portion of the test socket are subjected to uniform contact conditions. It is an object of the present invention to provide a test socket in which a stopper part is formed to have a reliable inspection result.
  • the stopper portion of the present invention for achieving the above object
  • a conductive part which exhibits conductivity in the thickness direction and has a conductive portion formed at each position corresponding to the terminal of the device under test, and a support portion positioned around the conductive portion and supporting the conductive portion,
  • the upper surface of the support portion is disposed at a position lower than the upper surface of the conductive portion to form a space for entering the insert to move downward to seat the device under test to the test socket,
  • An upper surface of the supporting portion is formed with a stopper portion protruding from the upper surface of the supporting portion and contacting the lower surface of the insert so that the insert can stop falling at a predetermined height.
  • the predetermined height may be a height at which terminals of the device under test inserted into the insert may contact each conductive portion at a uniform pressure.
  • the stopper portion may be integrally connected with the support portion.
  • the stopper portion may be attached to the support portion.
  • the stopper portion and the support portion may be made of different materials from each other.
  • the stopper portion may include a plate member made of metal or plastic, and an elastic member supporting the plate member and coupled with the plate member but having an elastic force.
  • the elastic member may include any one of a silicone rubber or a spring.
  • the stopper portion may be continuously formed around the conductive portion to surround the conductive portion.
  • the stopper portion may be formed to be spaced apart from each other along the circumference of the conductive portion.
  • the conductive part may have a structure in which conductive particles are included in an elastic material.
  • the conductive part may include a pin member inserted into a housing in which a through hole is formed at each position corresponding to the terminal of the test target board, and a spring member elastically supporting the pin member.
  • the stopper portion may have a thickness of about 0.1 mm to about 4 mm.
  • a stopper portion which contacts the lower surface of the insert and prevents the insert from falling down is disposed at a supporting portion located around the conductive portion, so that the terminal of the device under test is stably connected to the conductive portion of the test socket It can be in contact with the effect of maximizing the reliability of the test.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view of a test socket according to the prior art
  • FIG. 2 is a coupling diagram of FIG.
  • FIG. 3 is a sectional view taken along the line III-III of FIG. 2;
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a test socket according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a plan view of the test socket of FIG.
  • FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of FIG.
  • FIGS 8-11 are diagrams of test sockets in accordance with another embodiment of the present invention.
  • test socket according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
  • the test socket 10 is disposed between the device under test 50 and the test device 60 to electrically connect the terminal 51 of the device under test 50 to the test device 60. It is to perform the function of connecting with.
  • the test socket 10 is mounted on the upper side of the inspection apparatus 60 and is configured to be brought into contact with the terminal 51 of the device under test 50 moved by the insert 80.
  • the test socket 10 includes a conductive portion 20, a support portion 30, and a stopper portion 40.
  • the conductive portion 20 exhibits conductivity in the thickness direction, and the conductive portion 21 is formed at each position corresponding to the terminal 51 of the device under test 50.
  • An insulating portion 22 is disposed between the conductive portion 21 and the conductive portion 21.
  • the conductive part 21 is disposed at an upper side and is disposed at a position corresponding to the terminal 51 of the device under test 50, and is disposed below the electrode 211 and is disposed in an elastic material.
  • the elastic conductive part 212 which consists of a structure containing many electroconductive particles is included.
  • the elastic material is preferably a high molecular material having a crosslinked structure.
  • Various materials can be used as the curable polymer material forming material that can be used to obtain such an elastic material, and specific examples thereof include polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, styrene-butadiene copolymer rubber, and acrylonitrile-butadiene.
  • Conjugated diene rubbers such as copolymer rubbers, hydrogenated products thereof, block copolymer rubbers such as styrene-butadiene-diene block copolymer rubbers, styrene-isoprene block copolymers, and these hydrogenated materials, chloroprene rubbers, urethane rubbers, polyesters Rubber, epichlorohydrin rubber, silicone rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, ethylene-propylene-diene copolymer rubber, and the like.
  • silicone rubber what crosslinked or condensed a liquid silicone rubber is preferable.
  • the liquid silicone rubber preferably has a viscosity of 10 5 poise or less at a strain rate of 10 ⁇ 1 seconds, and may be any of a condensation type, an additive type, a vinyl group, a hydroxyl group, and the like.
  • dimethyl silicone raw rubber, methyl vinyl silicone raw rubber, methylphenylvinyl silicone raw rubber, and the like can be given.
  • electroconductive particle electroconductive particle which shows magnetic property
  • conductive particles include particles of metals having magnetic properties such as iron, cobalt, and nickel, particles of alloys thereof, particles containing these metals, or these particles as core particles.
  • the plating of the electroconductive magnetic metal of etc. is mentioned.
  • the insulating portion 22 is a film 221 for connecting and supporting the electrode 211 and the electrode 211, the elastic support portion 222 for supporting the elastic conductive portion 212 and the elastic conductive portion 212.
  • the film 221 is made of a thin sheet form may be used a material such as polyimide, polypropylene.
  • the elastic support 222 is made of the same material as the elastic material of the elastic conductive part 212, but may be specifically made of silicone rubber, but is not limited to this, of course, various materials may be used.
  • the support portion 30 is positioned around the conductive portion 20 and supports the conductive portion 20. This support portion 30 extends along the edge of the conductive portion 20.
  • the support part 30 includes an insulating part 31 integrally extending along the edge of the conductive part 20 and a frame plate 32 that is coupled to the insulating part 31 and is made of a metal material. Is done. A predetermined positioning hole is formed at the edge edge side of the frame plate 32 so that the test socket 10 can be installed at a required position.
  • the upper surface of the support portion 30 is preferably arranged in a position lower than the upper surface of the conductive portion 20.
  • the upper surface of the support portion 30 from the conductive portion 20 to form a step between the upper surface of the conductive portion 20 in a state disposed at a lower position than the upper surface of the conductive portion 20 Is extended.
  • the device under test 50 moves to seat the device under test 50 through the space formed by the step.
  • the on insert 80 can enter.
  • the insert 80 is configured such that the lower end of the cross-sectional shape of the “L” type supports the device under test 50, wherein the lower end of the insert 80 is lower than the device under test 50. Since it is further lowered, when the support portion 30 has a height higher than or equal to the conductive portion 20, there is no space for the insert 80 to enter so that the terminal 51 of the device under test 50 is tested. It is not easy to come into contact with the conductive portion 21 of the socket 10.
  • the support portion 30 is lowered so that a step is formed.
  • the step 80 allows the insert 80 to descend without interference.
  • the stopper portion 40 is a portion protruding from the upper surface of the support portion 30 to be in contact with the lower surface of the insert 80, specifically, the insert 80 entering may stop the lowering at a predetermined height.
  • the thickness of the stopper portion 40 is such that the terminal 51 of the device under test 50 inserted into the insert 80 has a height that can contact each conductive portion 21 at a uniform pressure. It is desirable to have a height. For example, it is preferable that it is 0.1-4 mm.
  • the stopper portion 40 is integrally connected with the support portion 30 and may be the same material as the support portion 30. In addition, as shown in FIG. 6, the stopper portion may be continuously formed around the conductive portion 20 so as to surround the conductive portion 20.
  • the socket guide 11 is manufactured to prevent the insert 80 from falling over a certain level while supporting the test socket 10 by contacting the upper surface of the socket guide 11 with the lower surface of the insert 80. It is installed on the edge of the socket (10).
  • the inspection apparatus 60 performs inspection by applying an electrical signal to the inspection apparatus 60, and a plurality of pads (not shown) are disposed.
  • the pusher device 70 presses the device under test 50, which has been moved by the insert 80, to the test socket 10, so that the terminal 51 of the device under test 50 is connected to the test socket 10. This is to ensure contact with the conductive portion 21 of the.
  • the insert 80 carries the device under test 50, and a central hole in which the insert 80 can be inserted is formed in the center thereof, and a locking portion in which the insert 80 can be caught is formed in the lower center of the insert 80. Will be.
  • Test socket 10 according to an embodiment of the present invention has the following effects.
  • the device under test 50 which has been moved by the insert 80, has a test socket (A) as the insert 80 is seated in the test socket 10 and the pusher device 70 presses the device under test 50. It comes into contact with the conductive portion 21 of 10.
  • the insert 80 may be stopped by the lower edge of the lower end of the socket guide 11 by a predetermined or more stop, so that the device under test 50 excessively conducts the conductive portion 21 of the test socket 10. Pressurization can be prevented.
  • a predetermined signal is applied from the inspection apparatus 60, the electrical signal is transmitted to the device under test 50 through the test socket 10 to perform a predetermined electrical inspection.
  • the stopper portion 40 is disposed on the upper surface of the support portion 30 in contact with the lower surface of the insert 80, so that the excessive drop of the insert 80 together with the socket guide 11 is assured. Can be prevented.
  • the stopper portion 40 disposed on the upper surface of the support portion 30 is disposed adjacent to the periphery of the conductive portion 20, the stopper portion may be final even when eccentric contact may occur due to mechanical tolerances. As the stop function is performed, the insert 80 can be reliably stopped at a desired position.
  • the stopper part 40 absorbs the impact force caused by the terminal 51 of the device under test 50 so that the conductive part may be made of an elastic material. There is an effect that the impact to the 21) can be minimized.
  • the stopper portion 40 is formed to extend along the circumference of the conductive portion 20, the device under test 50 contacts the conductive portion 21 of the test socket 10 in an inclined state.
  • the conductive portion 21 of the test socket 10 By preventing a uniform contact pressure is applied to the conductive portion 21, as well as the terminal 51 of almost all the device under test 50 can contact the conductive portion 21 of the test socket 10, The advantage is that the reliability can be significantly improved.
  • test socket 10 according to an embodiment of the present invention may be modified as follows.
  • the stopper portion 40 has been described as being continuously formed around the conductive portion 20 to surround the conductive portion 20, but is not limited thereto, as shown in FIGS. 8 and 9. It is also possible to form discontinuously.
  • the stopper portion 40 may be divided into a plurality of portions, and each of the stopper portions 40 may be disposed to surround the conductive portion 20 in a state in which the stopper portion 40 is spaced apart from each other.
  • the pair may be arranged to extend only in one direction and to be spaced apart from each other.
  • the stopper portion 40 and the support portion 30 may be made of the same material, or may be made of different materials.
  • the stopper portion 40 supports the plate member 41 made of any one of a film 221, a metal, a plastic, and a PCB material, and the plate member 41, and supports the plate member ( It may be made of an elastic member 42 coupled to 41 but having an elastic force.
  • the elastic member 42 may be silicon rubber, but is not limited thereto and may be a spring.
  • the conductive portion 21 may include a pin member 213 and a pin member 213 inserted into a housing in which a through hole is formed at each position corresponding to the terminal 51 of the substrate to be inspected.
  • the elastic support may be configured to be made of a spring member (not shown) disposed inside the housing.

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Abstract

본 발명은 스토퍼부분이 형성된 테스트소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 두께방향으로 도전성을 나타내며 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 도전부가 형성되는 도전성 부분과, 상기 도전성 부분의 주위에 위치하며 상기 도전성 부분을 지지하는 지지부분으로 이루어지고, 상기 지지부분의 상면이 상기 도전성 부분의 상면보다 낮은 위치에 배치되어 피검사 디바이스를 테스트 소켓에 안착시키기 위하여 하강이동하는 인서트가 진입할 수 있는 공간이 형성되되, 상기 지지부분의 상면에는 진입하는 인서트가 소정의 높이에서 하강을 멈출 수 있도록 상기 지지부분의 상면으로부터 돌출되며 상기 인서트의 하면에 접촉하는 스토퍼부분이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓에 대한 것이다.

Description

스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓
본 발명은 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스를 안착하는 인서트가 불안정적으로 하강하는 경우에도 안정적으로 피검사 디바이스와 균일한 압력으로 접촉가능하게 하는 스토부부분이 형성되어 있는 테스트 소켓에 대한 것이다.
일반적으로 테스트 소켓은, 제조된 피검사 디바이스의 불량여부를 판단하기 위한 검사과정에서 사용되는 것이다. 즉, 제조된 피검사 디바이스는 불량여부를 판단하기 위하여 소정의 전기적 검사를 수행하게 되는데, 이때 검사가 요구되는 피검사 디바이스와 검사를 위한 검사장치는 서로 직접 접촉되는 것이 아니라 테스트 소켓을 통하여 간접적으로 접속되게 된다. 그 이유는 검사를 위한 검사장치는 비교적 고가이기 때문에 빈번한 피검사 디바이스와의 접촉으로 인한 마모 또는 손상시 교체가 용이하지 않고 교체비용이 많이 들기 때문이다. 이에 따라 테스트 소켓은 검사장치의 상측에 교체가능하게 장착되고 상기 피검사 디바이스는 검사장치가 아닌 테스트 소켓과 접촉함으로서 상기 검사장치와 전기적으로 연결되게 된다. 따라서, 검사장치로부터 나오는 검사신호는 상기 테스트 소켓을 통하여 상기 피검사 디바이스로 전달되게 되는 것이다.
한편, 피검사 디바이스는 제조가 된 후에 소정의 트레이에 장착된 상태에서 검사장치가 위치한 곳까지 이동하게 되는데, 이때 인서트가 사용된다. 인서트는 상기 피검사 디바이스를 트레이로부터 상기 검사장치까지 운반한다. 이와 같이 인서트(120)에 의하여 검사장치(140)로 운반된 피검사 디바이스는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 테스트 소켓(110)에 안착되면서 푸셔장치(130)에 의하여 눌려 테스트 소켓(110)에 밀착접촉되게 된다.
도 3은 도 2의 단면도로서, 피검사장치에 안착된 테스트 소켓(110)에는 인서트(120)가 안착되고 상기 인서트(120) 내부에는 피검사 디바이스(100)가 배치되어 있으며 상기 피검사 디바이스(100)의 상면에는 상기 피검사 디바이스(100)를 누르는 푸셔장치(130)가 배치되어 있게 된다. 한편, 푸셔장치(130)에는 상기 피검사 디바이스(100)를 가압하기 위한 스프링(131)이 배치되어 있게 된다.
한편, 상기 테스트 소켓(110)의 가장자리에는 테스트 소켓(110)을 위치고정하는 소켓가이드(111)가 배치되는데, 그 소켓가이드(111)는 인서트(120)가 일정 이상 하강하는 것을 방지할 수 있는 기능도 수행한다. 즉, 소켓가이드(111)는 하강하는 인서트와 접촉함으로서, 상기 인서트(120)가 일정이상 하강하는 것을 방지하고, 이에 따라서 인서트 (120)내에 배치된 피검사 디바이스(100)가 균일한 압력으로 테스트 소켓(110)의 도전부들과 접촉가능하게 한다.
즉, 소켓가이드는 인서트가 과도하게 하강함에 따라서 발생할 수 있는 피검사 디바이스의 단자 또는 테스트 소켓의 도전부의 파손을 방지하게 하는 기능을 수행하게 된다.
이러한 종래기술은 다음과 같은 문제점을 가지고 있다.
테스크 소켓에 배치된 소켓가이드는 인서트의 가장자리에 접촉됨에 따라서 상기 인서트가 일정이상 하강하는 것을 방지하는데, 푸셔장치, 인서트 등의 가공편차에 의하여 상기 인서트가 수평을 유지하면서 하강하는 것이 아니라 다소 경사진 상태로 하강하는 경우가 있으며, 이러한 경우에 인서트의 일측만이 상기 소켓가이드에 접촉하고 인서트의 타측은 소켓가이드에 접촉하지 않아 간격(S)이 발생할 염려가 있게 된다.
인서트의 일측만이 소켓가이드와 접촉하는 경우에는 도 4에 도시된 바와 같이, 인서트 내에 삽입된 피검사 디바이스 역시 경사진 상태로 테스트 소켓의 도전부와 접촉하게 되면 균일한 도전부와의 접촉을 방해하게 한다. 즉, 도 4에서 좌측의 확대도에 도시된 바와 같이 피검사 디바이스의 일측은 과도한 압력으로 상기 테스트 소켓의 도전부와 접촉하게 되고 우측의 확대도에 도시된 바와 같이 피검사 디바이스의 타측은 테스트 소켓의 도전부와 접촉하지 않게 되거나 또는 약한 압력으로 접촉하게 됨으로서 균일한 접촉을 어렵게 할 염려가 있다.
이와 같이 피검사 디바이스의 단자가 균일한 압력으로 테스트 소켓의 도전부들과 접촉하지 않는 경우에는 전기적인 접속이 확실하게 이루어질 수 없으며 이에 따라서 정확한 검사를 수행할 수 없게 된다는 문제점이 있게 된다. 또한, 피검사 디바이스의 과도한 압력으로 인하여 도전부의 일부가 과도하게 압축되면서 쉽게 파손될 염려가 있게 된다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스가 수평상태로 테스트 소켓의 도전부와 접촉하게 함으로서피검사 디바이스의 단자 및 테스트 소켓의 도전부가 균일한 접촉조건을 가지게 하여 신뢰성이 있는 검사결과를 얻을 수 있도록 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 스토퍼부분이 형성된 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 테스트 소켓에 있어서,
두께방향으로 도전성을 나타내며 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 도전부가 형성되는 도전성 부분과, 상기 도전성 부분의 주위에 위치하며 상기 도전성 부분을 지지하는 지지부분으로 이루어지고,
상기 지지부분의 상면이 상기 도전성 부분의 상면보다 낮은 위치에 배치되어 피검사 디바이스를 테스트 소켓에 안착시키기 위하여 하강이동하는 인서트가 진입할 수 있는 공간이 형성되되,
상기 지지부분의 상면에는 진입하는 인서트가 소정의 높이에서 하강을 멈출 수 있도록 상기 지지부분의 상면으로부터 돌출되며 상기 인서트의 하면에 접촉하는 스토퍼부분이 형성된다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 소정의 높이는, 상기 인서트 내에 삽입된 피검사 디바이스의 단자가 각각의 도전부와 균일한 압력으로 접촉할 수 있는 높이일 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분은, 상기 지지부분과 일체로 연결될 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분은, 상기 지지부분에 부착형성될 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분과 상기 지지부분은 서로 이종재질로 이루어질 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분은, 금속 또는 플라스틱으로 이루어진 판부재와, 상기 판부재를 지지하며 상기 판부재와 결합되되 탄성력을 가지는 탄성부재를 포함할 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 탄성부재는 실리콘 고무 또는 스프링 중 어느 하나를 포함할 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분은, 상기 도전성 부분을 감싸도록 상기 도전성 부분의 주위에 연속되어 형성될 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분은 다수개가 상기 도전성 부분의 둘레를 따라서 서로 이격되어 형성될 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 도전부는 도전성 입자가 탄성물질 내에 포함되어 있는 구조로 이루어질 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 도전부는 피검사 기판의 단자와 대응되는 위치마다 관통공이 형성되어 있는 하우징에 삽입되는 핀부재 및 상기 핀부재를 탄력지지하는 스프링부재로 이루어질 수 있다.
상기 테스트 소켓에서,
상기 스토퍼부분의 두께는 0.1 ~ 4mm 일 수 있다.
본 발명에 따른 테스트 소켓에 의하면, 도전성 부분의 주변에 위치하는 지지부분에 인서트의 하면과 접촉하여 인서트의 하강을 저지하는 스토퍼부분이 배치되어 있어 피검사 디바이스의 단자가 안정적으로 테스트 소켓의 도전부와 접촉할 수 있어 검사의 신뢰성을 극대화할 수 있다는 효과가 있다.
도 1은 종래기술에 따른 테스트 소켓의 분리사시도.
도 2는 도 1의 결합도
도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ 단면도.
도 4는 도 1의 작동도.
도 5는 본 발명의 일실시예에 다른 테스트 소켓의 단면도.
도 6은 도 5의 테스트 소켓의 평면도.
도 7은 도 5의 확대단면도.
도 8 내지 도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓의 도면.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 소켓을 첨부된 도면을 참고하면서 상세하게 설명한다.
본 실시예에 따른 테스트 소켓(10)은, 피검사 디바이스(50)와 검사장치(60)의 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스(50)의 단자(51)를 상기 검사장치(60)에 전기적으로 접속시키는 기능을 수행하는 것이다. 이러한 테스트 소켓(10)은, 검사장치(60)의 상측에 탑재되며 인서트(80)에 의하여 이동하여 온 피검사 디바이스(50)의 단자(51)와 접촉될 수 있도록 구성된다.
상기 테스트 소켓(10)은, 도전성 부분(20)과, 지지부분(30) 및 스토퍼부분(40)을 포함하여 구성된다. 상기 도전성 부분(20)은 두께방향으로 도전성을 나타내며 상기 피검사 디바이스(50)의 단자(51)와 대응되는 위치마다 도전부(21)가 형성되는 것이다. 상기 도전부(21)와 도전부(21) 사이에는 절연부(22)가 배치되어 있게 된다.
상기 도전부(21)는 상측에 배치되며 상기 피검사 디바이스(50)의 단자(51)와 대응되는 위치마다 배치되는 전극(211) 및, 상기 전극(211)의 하측에 배치되며 탄성물질 내부에 다수의 도전성 입자가 포함되는 구조로 이루어지는 탄성도전부(212)를 포함한다. 이때, 탄성물질은, 가교 구조를 갖는 고분자 물질이 바람직하다. 이러한 탄성 물질을 얻기 위해서 이용할 수 있는 경화성의 고분자 물질 형성 재료로서는, 여러가지 것을 사용할 수 있고, 그 구체예로서는, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소프렌 고무, 스티렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무 등의 공액 디엔계 고무 및 이들의 수소 첨가물, 스티렌-부타디엔-디엔 블록 공중합체 고무, 스티렌-이소프렌 블록 공중합체 등의 블록 공중합체 고무 및 이들 수소 첨가물, 클로로프렌 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피클로로히드린 고무, 실리콘 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무 등을 들 수 있다.
이상에 있어서, 얻어지는 도전부(21)에 내후성이 요구되는 경우에는, 공액 디엔계 고무 이외의 것을 이용하는 것이 바람직하고, 특히 성형 가공성 및 전기 특성 측면에서, 실리콘 고무를 이용하는 것이 바람직하다.
실리콘 고무로서는, 액상 실리콘 고무를 가교 또는 축합한 것이 바람직하다. 액상 실리콘 고무는, 그의 점도가 변형 속도 10-1초에서 105 푸아즈 이하인 것이 바람직하고, 축합형의 것, 부가형의 것, 비닐기나 히드록실기를 함유하는 것 등 중의 어느 것일 수도 있다. 구체적으로는, 디메틸 실리콘 생고무, 메틸비닐실리콘 생고무, 메틸페닐비닐 실리콘 생고무 등을 들 수 있다.
도전성 입자로서는, 자성을 나타내는 도전성 입자가 이용된다. 이러한 도전성 입자의 구체예로서는, 철, 코발트, 니켈 등의 자성을 갖는 금속의 입자 또는 이들의 합금의 입자 또는 이들 금속을 함유하는 입자, 또는 이들 입자를 코어 입자로 하여, 상기 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 로듐 등의 도전성이 양호한 금속의 도금을 실시한 것, 또는 비자성 금속 입자 또는 유리 비드 등의 무기 물질 입자 또는 중합체 입자를 코어 입자로 하여, 상기 코어 입자의 표면에 니켈, 코발트 등의 도전성 자성 금속의 도금을 실시한 것 등을 들 수 있다.
이 중에서는, 니켈 입자를 코어 입자로 하여, 그 표면에 도전성이 양호한 금의 도금을 실시한 것을 이용하는 것이 바람직하다.
상기 절연부(22)는 상기 전극(211)과 전극(211)을 연결하여 지지하는 필름(221)과, 상기 탄성도전부(212)와 탄성도전부(212)를 지지하는 탄성지지부(222)로 이루어진다. 이때, 필름(221)은 얇은 시트형태로 이루어지되 폴리이미드, 폴리프로필렌 등의 소재가 사용될 수 있다. 또한, 탄성지지부(222)는 상기 탄성도전부(212)의 탄성물질과 동일한 소재로 이루어지되, 구체적으로는 실리콘 고무로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 다양한 소재가 사용될 수 있음은 물론이다.
상기 지지부분(30)은, 상기 도전성 부분(20)의 주위에 위치하며 상기 도전성 부분(20)을 지지하는 것이다. 이러한 지지부분(30)은 상기 도전성 부분(20)의 가장자리를 따라서 연장되는 것이다. 구체적으로 상기 지지부분(30)은, 상기 도전성 부분(20)의 가장자리를 따라서 일체로 연장되는 절연부분(31)과, 상기 절연부분(31)에 결합되되 금속소재로 이루어지는 프레임판(32)으로 이루어진다. 상기 프레임판(32)의 가장자리 모서리 측에는 소정의 위치결정용 구멍이 형성되어 있어 상기 테스트 소켓(10)이 필요한 위치에 설치될 수 있도록 한다. 한편, 상기 지지부분(30)의 상면은 상기 도전성 부분(20)의 상면보다 낮은 위치에 배열되어 있는 것이 바람직하다. 구체적으로 상기 지지부분(30)의 상면은 상기 도전성 부분(20)의 상면보다 낮은 위치에 배치된 상태에서 상기 도전성 부분(20)의 상면과의 사이에 단차를 형성하도록 상기 도전성 부분(20)으로부터 연장된다. 이와 같이 지지부분(30)의 상면이 상기 도전성 부분(20)의 상면보다 낮게 위치하는 경우에는 그 단차에 의해 이루어진 공간을 통하여 피검사 디바이스(50)를 테스트 소켓(10)에 안착시키기 위하여 이동하여 온 인서트(80)가 진입할 수 있게 된다.
즉, 인서트(80)는 "L" 형의 단면형태로 이루어진 하단부분이 피검사 디바이스(50)를 지지하도록 구성되는데, 이때 인서트(80)의 하단부분이 통상 피검사 디바이스(50)보다 하측으로 더 내려가 있기 때문에, 지지부분(30)이 도전성 부분(20)보다 높거나 같은 높이를 가지는 경우에는 상기 인서트(80)가 진입할 공간이 없게 되어 피검사 디바이스(50)의 단자(51)가 테스트 소켓(10)의 도전부(21)와 접촉하는 것이 용이하지 않게 된다.
이에 따라서 본 실시예에서는 지지부분(30)을 낮게 하여 단차가 형성되도록 하는데, 이러한 단차로 인하여 상기 인서트(80)가 간섭없이 하강할 수 있도록 한다.
상기 스토퍼부분(40)은, 상기 지지부분(30)의 상면으로부터 돌출되어 상기 인서트(80)의 하면에 접촉하는 부분으로서, 구체적으로는 진입하는 인서트(80)가 소정의 높이에서 하강을 멈출 수 있도록 상기 지지부분(30)의 상면으로부터 돌출되는 것이다. 이때, 상기 스토퍼부분(40)의 두께는 인서트(80) 내에 삽입된 피검사 디바이스(50)의 단자(51)가 각각의 도전부(21)와 균일한 압력으로 접촉할 수 있는 높이를 가지게 하는 높이를 가지는 것이 바람직하다. 예컨데, 0.1 ~ 4mm 인 것이 바람직하다.
상기 스토퍼부분(40)은 상기 지지부분(30)과 일체로 연결되어 있으며, 상기 지지부분(30)과 동일한 소재일 수 있다. 또한, 스토퍼 부분은 도 6에 도시된 바와 같이, 도전성 부분(20)을 감싸도록 상기 도전성 부분(20)의 주위에 연속되어 형성되어 있을 수 있다.
기타 도면부호에 대하여 설명하면 도면에서 11, 60, 70, 80 는 각각 소켓가이드, 검사장치, 푸셔장치 및 인서트를 지칭한다.
상기 소켓가이드(11)는 그 상면이 상기 인서트(80)의 하면과 접촉됨으로서 상기 테스트 소켓(10)을 지지하면서 인서트(80)가 일정 이상 하강하는 것을 방지하기 위하여 제작된 것으로서, 구체적으로는 테스트 소켓(10)의 가장자리에 설치되는 것이다.
상기 검사장치(60)는, 상기 피검사장치(60)로 전기적인 신호를 인가하여 검사를 수행하는 것으로서, 다수의 패드(미도시)가 배치되어 있는 것이다.
상기 푸셔장치(70)는 인서트(80)에 의하여 이동되어 온 피검사 디바이스(50)를 테스트 소켓(10) 측으로 가압하여 상기 피검사 디바이스(50)의 단자(51)가 상기 테스트 소켓(10)의 도전부(21)에 확실하게 접촉할 수 있도록 하는 것이다.
상기 인서트(80)는 상기 피검사 디바이스(50)를 운반하는 것으로서, 중앙에 상기 인서트(80)가 삽입될 수 있는 중앙홀이 형성되며 중앙하단에는 상기 인서트(80)가 걸릴 수 있는 걸림부가 형성되는 것이다.
이러한 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(10)은 다음과 같은 작용효과를 가진다.
먼저, 인서트(80)에 의하여 이동되어온 피검사 디바이스(50)는 인서트(80)가 테스트 소켓(10)에 안착되고 푸셔장치(70)가 상기 피검사 디바이스(50)를 가압함에 따라서 테스트 소켓(10)의 도전부(21)와 접촉하게 된다. 한편, 이때 인서트(80)는 그 하측 가장자리가 소켓가이드(11)에 의하여 일정이상 하강하는 것이 정지될 수 있어 상기 피검사 디바이스(50)가 과도하게 테스트 소켓(10)의 도전부(21)를 가압하는 것을 방지할 수 있다. 이때, 상기 검사장치(60)로부터 소정의 신호가 인가되면 상기 전기적인 신호는 테스트 소켓(10)을 거쳐서 상기 피검사 디바이스(50)로 전달되어 소정의 전기적인 검사가 이루어지게 된다.
다만, 본 실시예에서는 지지부분(30)의 상면에 상기 인서트(80)의 하면과 접촉되는 스토퍼부분(40)이 배치되어 있어 상기 소켓가이드(11)와 함께 인서트(80)의 과도한 하강을 확실하게 방지할 수 있다. 특히 지지부분(30)의 상면에 배치되는 스토퍼부분(40)은 도전성 부분(20)의 주변에 인접하여 배치되어 있기 때문에 기구적인 공차에 의하여 편심 접촉이 발생할 염려가 있는 경우에도 상기 스토퍼 부분이 최종적인 정지기능을 수행함에 따라서 인서트(80)가 확실하게 원하는 위치에 정지할 수 있도록 한다.
특히, 상기 스토퍼 부분이 탄력성이 있는 실리콘 고무의 소재로 이루어지는 경우에는 상기 피검사 디바이스(50)의 단자(51)로 인한 충격력을 상기 스토퍼부분(40)이 흡수함으로서 탄력성 있는 소재로 이루어진 도전부(21)에 가해지는 충격을 최소화할 수 있다는 효과가 있게 된다.
특히, 상기 스토퍼부분(40)은 도전성 부분(20)의 둘레를 따라서 연장되어 형성되어 있기 때문에 피검사 디바이스(50)가 경사진 상태로 테스트 소켓(10)의 도전부(21)와 접촉되는 것을 방지함으로서 균일한 접촉압이 도전부(21)에 가해지도록 함은 물론 거의 모든 피검사 디바이스(50)의 단자(51)가 테스트 소켓(10)의 도전부(21)와 접촉할 수 있어 검사의 신뢰성을 대폭적으로 향상시킬 수 있다는 장점이 있다.
이러한 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(10)은 다음과 같이 변형되는 것도 가능하다.
상술한 실시예에서는, 스토퍼부분(40)이 도전성 부분(20)을 감싸도록 상기 도전성 부분(20)의 주위에 연속되어 형성된 것을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이 불연속적으로 형성되어 있는 것도 가능하다. 예컨데, 도 8에 도시된 바와 같이 스토퍼부분(40)이 다수의 부분으로 분리되고 각각은 서로 일정간격 이격된 상태로 상기 도전성 부분(20)을 감싸도록 배치되는 것도 가능하며, 도 9에 도시된 바와 같이, 일방향으로만 연장되고 서로 이격되어 있도록 한 쌍이 배치되는 것도 가능하다.
또한, 스토퍼 부분이 상기 지지부분(30)과 일체로 결합되어 있는 구조 이외에 별도의 부재로 이루어지고 상기 지지부분(30)에 부착형성되는 구조가 가능하다. 이때 스토퍼부분(40)과 지지부분(30)은 동종소재로 이루어지는 것도 가능하다, 이외에 서로 이종재질로 이루어지는 것도 가능하다. 예컨데, 도 10에 도시된 바와 같이 스토퍼부분(40)이 필름(221), 금속, 플라스틱, PCB 소재 중 어느 하나로 이루어지는 판부재(41)와, 상기 판부재(41)를 지지하며 상기 판부재(41)와 결합되되 탄성력을 가지는 탄성부재(42)로 이루어질 수 있다. 이때, 탄성부재(42)는 실리콘 고무일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 스프링일 수 있다.
한편, 본 실시예에 따른 도전부(21)는, 상술한 구조 이외에 포고핀의 구조가 적용될 수 있다. 예컨데, 도 11에 도시된 바와 같이 도전부(21)는 피검사 기판의 단자(51)와 대응되는 위치마다 관통공이 형성되어 있는 하우징에 삽입되는 핀부재(213) 및 상기 핀부재(213)를 탄력지지하며 상기 하우징의 내부에 배치되는 스프링부재(미도시)로 이루어지도록 구성되는 것이 가능하다.
본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 청구범위에 의하여 합리적으로 해석될 수 있는 범위라면 청구범위가 확대해석될 수 있음은 물론이다.

Claims (12)

  1. 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 테스트 소켓에 있어서,
    두께방향으로 도전성을 나타내며 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 도전부가 형성되는 도전성 부분과, 상기 도전성 부분의 주위에 위치하며 상기 도전성 부분을 지지하는 지지부분으로 이루어지고,
    상기 지지부분의 상면이 상기 도전성 부분의 상면보다 낮은 위치에 배치되어 피검사 디바이스를 테스트 소켓에 안착시키기 위하여 하강이동하는 인서트가 진입할 수 있는 공간이 형성되되,
    상기 지지부분의 상면에는 진입하는 인서트가 소정의 높이에서 하강을 멈출 수 있도록 상기 지지부분의 상면으로부터 돌출되며 상기 인서트의 하면에 접촉할 수 있는 스토퍼부분이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 소정의 높이는, 상기 인서트 내에 삽입된 피검사 디바이스의 단자가 각각의 도전부와 균일한 압력으로 접촉할 수 있는 높이인 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부분은, 상기 지지부분과 일체로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼 부분이 형성된 테스트 소켓.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부분은, 상기 지지부분에 부착형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼 부분이 형성된 테스트 소켓.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 스토퍼부분과 상기 지지부분은 서로 이종재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 스토퍼부분은, 금속 또는 플라스틱으로 이루어진 판부재와, 상기 판부재를 지지하며 상기 판부재와 결합되되 탄성력을 가지는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 탄성부재는 실리콘 고무 또는 스프링 중 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부분은, 상기 도전성 부분을 감싸도록 상기 도전성 부분의 주위에 연속되어 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부분은 다수개가 상기 도전성 부분의 둘레를 따라서 서로 이격되어 형성되어 있는 것을 특징으로 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 도전부는 도전성 입자가 탄성물질 내에 포함되어 있는 구조로 이루어지는 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 도전부는 피검사 기판의 단자와 대응되는 위치마다 관통공이 형성되어 있는 하우징에 삽입되는 핀부재 및 상기 핀부재를 탄력지지하는 스프링부재로 이루어지는 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 스토퍼부분의 두께는 0.1 ~ 4mm 인 것을 특징으로 하는 스토퍼부분이 형성된 테스트 소켓.
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