WO2011062213A1 - リーダ部材、基板、基板カートリッジ、基板処理装置、リーダ接続方法、表示素子の製造方法及び表示素子の製造装置 - Google Patents

リーダ部材、基板、基板カートリッジ、基板処理装置、リーダ接続方法、表示素子の製造方法及び表示素子の製造装置 Download PDF

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WO2011062213A1
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substrate
film
reader
unit
leader
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PCT/JP2010/070544
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智秀 浜田
徹 木内
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株式会社ニコン
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H75/00Storing webs, tapes, or filamentary material, e.g. on reels
    • B65H75/02Cores, formers, supports, or holders for coiled, wound, or folded material, e.g. reels, spindles, bobbins, cop tubes, cans, mandrels or chucks
    • B65H75/18Constructional details
    • B65H75/28Arrangements for positively securing ends of material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H2701/00Handled material; Storage means
    • B65H2701/10Handled articles or webs
    • B65H2701/12Surface aspects
    • B65H2701/124Patterns, marks, printed information

Definitions

  • the present invention relates to a reader member, a substrate, a substrate cartridge, a substrate processing apparatus, a reader connection method, a display element manufacturing method, and a display element manufacturing apparatus.
  • an organic electroluminescence (organic EL) element As a display element constituting a display device such as a display device, for example, an organic electroluminescence (organic EL) element is known.
  • the organic EL element has an anode and a cathode on a substrate and an organic light emitting layer sandwiched between the anode and the cathode.
  • holes are injected from an anode into an organic light emitting layer to combine holes and electrons in the organic light emitting layer, and display light can be obtained by emitted light at the time of the combination.
  • an electric circuit connected to, for example, an anode and a cathode is formed on a substrate.
  • roller method As one method for producing an organic EL element, for example, a method called a roll-to-roll method (hereinafter simply referred to as “roll method”) is known (for example, see Patent Document 1).
  • roll method a single sheet-like substrate wound around a substrate supply side roller is sent out, and the substrate is transported while being wound up by a substrate recovery side roller. In this manner, a light emitting layer, an anode, a cathode, an electric circuit, and the like constituting an organic EL element are sequentially formed on a substrate.
  • a substrate feeding roller and a substrate winding roller are detachable from the production line.
  • the removed roller is transported to, for example, another production line, and can be used by being attached to the other production line.
  • the substrate is frequently transferred between the roller and the production line, and the substrate is frequently transferred within the production line.
  • An aspect of the present invention aims to improve the conveyance accuracy of a substrate.
  • a reader member including a connection portion connected to a substrate and at least a position reference portion used for alignment between the substrate and the connection portion.
  • a substrate body including a substrate body conveyed in a predetermined direction and a reader connected to an end of the substrate body, and the reader member of the present invention is used as the reader. Provided.
  • a substrate cartridge that includes a cartridge body that accommodates a substrate, and that accommodates the substrate of the present invention as the substrate.
  • the apparatus includes a substrate processing unit that processes a substrate, a substrate loading unit that loads the substrate into the substrate processing unit, and a substrate unloading unit that unloads the substrate from the substrate processing unit, A substrate processing apparatus in which the substrate cartridge of the present invention is used as at least one of the substrate carry-in portion and the substrate carry-out portion is provided.
  • a reader connecting method for connecting a reader member to a substrate, the alignment step for aligning the positions of the substrate and the reader member, and the substrate and the reader member after the alignment step.
  • a reader connection method including a connection step of connecting the two is provided.
  • a method for manufacturing a display element comprising: a step of processing a substrate in the substrate processing unit; and a step of supplying the substrate to the substrate processing unit using the reader member of the present invention.
  • a display element manufacturing apparatus including a transport unit for transporting the reader member of the present invention connected to a substrate, and a substrate processing unit for processing the substrate.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a substrate cartridge according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a partial configuration of the substrate cartridge according to the embodiment.
  • the figure which shows the structure of the substrate processing apparatus which concerns on this embodiment The figure which shows the structure of the board
  • FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the film substrate FB.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a planar configuration of the film substrate FB, and
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a cross-sectional configuration of the film substrate FB.
  • the film substrate (substrate) FB includes a leader member (header member) LDR and a film (substrate body) F, and the leader member LDR and the film F are attached to each other. Connected configuration.
  • the leader member LDR is a sheet-like member formed in a substantially rectangular shape in plan view. Examples of the material constituting the leader member LDR include stainless steel and plastic.
  • a step portion 201 is formed in a region along one side (left side in the drawing) 200a of the leader member LDR. The step portion 201 is formed on, for example, one surface (the lower surface in FIG. 2) 200b of the leader member LDR. Of the leader member LDR, the portion where the step portion 201 is formed is thinner than the other portions.
  • the film substrate FB has a configuration in which the step portion 201 of the leader member LDR is attached to the end portion Fa of the film F by, for example, heat welding or via an adhesive.
  • the step part 201 of the leader member LDR is used as a connection part connected to the film F having flexibility.
  • the leader member LDR is pasted so as to slightly protrude from the film F in the extending direction of the side 200a. For this reason, the whole edge part of the film F is covered with the leader member LDR in the extending direction of the side 200a.
  • examples of the connection destination film F of the leader member LDR include a strip-like film that is flexible and wound in a roll shape.
  • a heat resistant resin film for example, stainless steel, or the like can be used.
  • the resin film is made of polyethylene resin, polypropylene resin, polyester resin, ethylene vinyl copolymer resin, polyvinyl chloride resin, cellulose resin, polyamide resin, polyimide resin, polycarbonate resin, polystyrene resin, vinyl acetate resin, etc. Can be used.
  • the dimension of the film F in the short direction (vertical direction in FIG. 1) is, for example, about 1 m to 2 m, and the dimension in the longitudinal direction (horizontal direction in FIG.
  • 1 and 2 show a configuration in which a leader member LDR is connected to one end in the longitudinal direction of the film F. In the present embodiment, the leader member is actually attached to both ends in the longitudinal direction of the film F, respectively.
  • the LDR is connected.
  • the above-mentioned dimension is only an example and it is not restricted to this.
  • the dimension in the Y direction of the film substrate (sheet substrate) FB may be 50 cm or less, or 2 m or more.
  • the dimension in the X direction of the film substrate (sheet substrate) FB may be 10 m or less.
  • the flexibility in the present embodiment refers to the property that the substrate can be bent without being broken or broken even when a predetermined force of at least its own weight is applied to the substrate.
  • the flexibility varies depending on the material, size, thickness, or environment such as temperature of the substrate.
  • the film F preferably has a smaller coefficient of thermal expansion so that the dimensions do not change even when subjected to heat of about 200 ° C., for example.
  • an inorganic filler can be mixed with a resin film to reduce the thermal expansion coefficient.
  • the inorganic filler include titanium oxide, zinc oxide, alumina, silicon oxide and the like.
  • the leader member LDR according to the present embodiment is formed to have higher rigidity than the film F.
  • Etc. the thickness t ⁇ b> 1 of the leader member LDR is formed to be thicker than the thickness t ⁇ b> 2 of the film F.
  • the end portion Fa of the film F is supported.
  • the end portion Fa of the film F is protected from bending or deformation.
  • the thickness F2 of the film F (or the thickness of the adhesive if an adhesive is used) t2 is obtained in advance, and the thickness t2 is equal to the height of the step portion 201.
  • the step 201 may be formed so as to be. In the configuration in which the leader member LDR and the film F are substantially flush as in the present embodiment, for example, when the film substrate FB is placed on a flat table, the leader member LDR and the film F are placed without a gap. Become.
  • a position reference portion 202 serving as a reference for alignment with the film F is provided in the vicinity of the step portion 201 of the leader member LDR.
  • the position reference portion 202 is formed as a rectangular mark (three lines in the figure), for example.
  • one position reference unit 202 is provided at each of edge portions of the side 200c and the side 200d facing each other in the reader member LDR.
  • the film side position reference portion Fd is formed on the film F with respect to the position reference portion 202.
  • the film-side position reference portion Fd is formed as, for example, the same mark (three line marks) as the position reference portion 202.
  • one film side position reference portion Fd is provided at each end of the film F in the short direction.
  • the distance in the lateral direction between the two film side position reference portions Fd is equal to the distance between the two position reference portions 202 in the same direction.
  • a plurality of openings 203 are provided at positions away from the step portion 201 in plan view.
  • the plurality of openings 203 are arranged in the same direction as the extending direction of the side 200a where the step portion 201 is formed.
  • the plurality of openings 203 are arranged, for example, at regular intervals. For example, a part of a conveying member for holding the leader member LDR is inserted into each opening 203 and is hooked. For this reason, the leader member LDR can be easily transported.
  • the configuration for facilitating the conveyance of the reader member LDR is not limited to the plurality of openings 203, and a configuration having only one opening 203 may be used.
  • the shape of the opening 203 is not limited to a rectangle as shown in FIG. 1 and may be a circle, a triangle, a polygon, or other shapes.
  • the opening 203 may be used as the position reference unit 202 described above.
  • the configuration is not limited to the configuration in which the opening 203 is provided in the leader member LDR, and for example, a configuration in which a concave portion that does not penetrate the front and back of the leader member LDR may be provided. Even when the recess is formed, a part of the conveying member or the like can be hung.
  • a notch portion may be formed on a side of the leader member LDR excluding the side 200a where the step portion 201 is formed. Even in this case, a configuration such that a part of the conveying member or the like can be hung on the notch portion.
  • an information holding unit 204 is provided in a region between the position reference unit 202 and the opening 203.
  • a one-dimensional barcode pattern as shown in FIG. 1 is formed in the information holding unit 204.
  • the barcode pattern is a pattern that can be detected by, for example, an external barcode detection device.
  • Information included in the barcode pattern includes, for example, the ID of the leader member LDR or information about the film F to which the leader member LDR is connected (eg, processing information for the film F, the length of the film F, the material of the film F) Etc.) and the like.
  • the information holding unit 204 is provided at each edge portion of the opposite side 200c and side 200d of the reader member LDR.
  • the present invention is not limited to this.
  • a configuration in which the information holding unit 204 is formed at a position may be employed.
  • the information holding unit 204 is not limited to a configuration having a one-dimensional barcode pattern as shown in FIG. 1, but may be a configuration having a two-dimensional barcode pattern, for example, or a configuration in which an IC tag or the like is embedded.
  • a configuration in which a pattern of a memory element is formed may be used.
  • the configuration is not limited to the configuration in which the information holding unit 204 is provided in two places, and for example, a configuration in which the information holding unit 204 is provided in one place or three or more places may be employed.
  • FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the substrate cartridge 1 according to the present embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram showing a configuration along the A-A ′ cross section in FIG. 3. As shown in FIGS. 3 and 4, the substrate cartridge 1 has a cartridge body 2 and a mount portion 3.
  • the cartridge main body 2 is a part that accommodates the film substrate FB. As shown in FIG. 4, the cartridge body 2 includes a storage unit 20, a substrate transfer unit (transfer mechanism) 21, a substrate guide unit 22, a second substrate transfer unit 36, and a second substrate guide unit 37.
  • the mount 3 is provided on the cartridge body 2.
  • the cartridge body 2 is made of aluminum or duralumin.
  • the accommodating portion 20 is a portion for accommodating the film substrate FB.
  • the accommodating part 20 is formed in a cylindrical shape so as to accommodate, for example, the film substrate FB wound up in a roll shape, and is provided so that a part protrudes to the + X side (protruding part 23). In the present embodiment, they are arranged in a state extending in the Y direction in the drawing.
  • the accommodating part 20 has a lid part 25 and a substrate driving mechanism 24.
  • the lid portion 25 is provided at the + Y side end portion or the ⁇ Y side end portion of the accommodating portion 20.
  • the lid portion 25 is provided so as to be detachable from the housing portion 20. By detaching the lid portion 25 from the housing portion 20, the inside of the housing portion 20 can be directly accessed.
  • an opening / closing mechanism of the lid portion 25 for example, the lid portion 25 and the accommodating portion 20 may be provided with threads that engage with each other, and the lid portion 25 and the accommodating portion 20 are connected by a hinge mechanism. It does not matter as a structure to do.
  • the substrate driving mechanism 24 is a part that performs an operation of winding up the film substrate FB and an operation of sending out the film substrate FB.
  • the substrate driving mechanism 24 is provided inside the housing part 20.
  • the substrate driving mechanism 24 includes a roller part (shaft part) 26 and a guide part 27. As shown in FIG. 4, the roller portion 26 includes a rotating shaft member 26 a, a diameter-expanded portion 26 b, and a cylindrical portion 26 c.
  • the rotating shaft member 26a is a columnar member formed of a highly rigid metal such as aluminum.
  • the rotating shaft member 26a is rotatably supported through an opening 25a and a bearing member 25b provided at the center of the lid 25, for example.
  • the central axis of the rotating shaft member 26a is in a state parallel to the Y direction, for example, and the rotating shaft member 26a rotates in the ⁇ Y direction.
  • the rotary shaft member 26a is connected to a rotation drive mechanism (not shown).
  • the rotary shaft member 26a is rotated about the central axis by drive control of the rotary drive mechanism.
  • the rotation driving mechanism can rotate the rotating shaft member 26a in, for example, both the + ⁇ Y direction and the ⁇ Y direction.
  • the enlarged diameter portion 26b is formed with a uniform thickness on the surface of the rotary shaft member 26a.
  • the enlarged diameter portion 26b is formed so as to rotate integrally with the rotary shaft member 26a.
  • the cylindrical portion 26c is formed with a uniform thickness on the surface of the enlarged diameter portion 26b in a cross-sectional view.
  • the cylindrical portion 26c is bonded so as to cover the periphery of the enlarged diameter portion 26b. Therefore, the cylindrical part 26c rotates integrally with the rotating shaft member 26a and the enlarged diameter part 26b.
  • FIG. 5A is a perspective view showing the configuration of the roller portion 26, and FIG. 5B is an enlarged cross-sectional view showing the configuration of the roller portion 26.
  • the cylindrical portion 26c has a concave portion 26e in the inner diameter portion.
  • the recess 26e is formed along the direction of the rotation axis from one end to the other end of the cylindrical portion 26c in the rotation axis direction (Y direction in the drawing), for example.
  • An opening 26d is provided on the outer surface side of the cylindrical portion 26c where the recess 26e is provided.
  • a plurality of openings 26d are arranged along the rotation axis direction.
  • the opening 26d is provided at a position corresponding to the opening 203 provided in the reader member LDR of the film substrate FB, for example.
  • the number of the openings 26d is preferably provided so as to match the number of the openings 203 of the reader member LDR, but it is of course possible to adopt a configuration that does not match the number of the openings 203.
  • the recess 26e is provided with an engagement mechanism 28 that is inserted into and engaged with the opening 203 of the leader member LDR.
  • the engagement mechanism 28 has a claw member 28a and a pressing member 28b.
  • the claw member 28a is provided to be detachable from the opening 26d.
  • the pressing member 28b is an elastic member that presses the claw member 28a so that the claw member 28a protrudes from the opening 26d onto the outer surface of the cylindrical portion 26c.
  • the pressing member 28b is elastically deformed by applying a force to the claw member 28a on the inner diameter side.
  • the claw member 28a is accommodated in the opening 26d by elastic deformation of the pressing member 28b.
  • the claw member 28a protrudes on the outer surface of the cylindrical portion 26c by the pressing member 28b.
  • the cylindrical portion 26c is formed using a material having adhesiveness enough to adhere the film substrate FB.
  • the guide portion 27 has a rotating member (first guide member) 27a and a tip member (first guide member) 27b.
  • first guide member first guide member
  • tip member first guide member
  • one end of the rotating member 27a is attached to the accommodating portion 20 via a shaft portion 27c, and is provided to be rotatable in the ⁇ Y direction around the shaft portion 27c.
  • the rotation member 27a is connected to a rotation drive mechanism (not shown).
  • the tip member 27b is connected to the other end of the rotating member 27a in a cross-sectional view.
  • the tip member 27b is formed to have an arcuate curved surface in cross-sectional view.
  • the film substrate FB is guided to the roller portion 26 through a curved surface on the + Z side having a circular arc shape in cross section provided on the tip member 27b.
  • the tip member 27b rotates integrally with the rotation member 27a. For example, when the rotating member 27 a rotates in a direction away from the roller portion 26 (outward direction in the radial direction of the roller portion 26), the rotating member 27 a comes into contact with the inner periphery of the accommodating portion 20. For this reason, the contact between the tip member 27b and the film substrate FB wound around the roller portion 26 is avoided.
  • the mount unit 3 is a part connected to the substrate processing unit 102.
  • the mount part 3 is provided, for example, at the + X side end of the protrusion 23 provided in the housing part 20.
  • the mount part 3 has an insertion part 3 a for connection with the substrate processing part 102.
  • the mount unit 3 is connected to the supply side connection unit 102 ⁇ / b> A of the substrate processing unit 102.
  • the mount unit 3 is connected to the collection side connection unit 102B of the substrate processing unit 102.
  • the mount unit 3 is detachably connected regardless of whether the mount unit 3 is connected to either the substrate supply unit 101 or the substrate recovery unit 103 of the substrate processing unit 102.
  • the mount 3 is provided with an opening 34 and a second opening 35.
  • the opening 34 is an opening provided on the + Z side, and is a portion where the film substrate FB is taken in and out of the cartridge body 2.
  • the cartridge body 2 is configured to receive the film substrate FB via the opening 34.
  • the film substrate FB accommodated in the cartridge main body 2 is sent out to the outside of the cartridge main body 2 through the opening 34.
  • the second opening 35 is an opening provided on the ⁇ Z side, and is a portion into which the second substrate SB having a band shape different from the film substrate FB is taken in and out of the cartridge body 2.
  • substrate SB the protective substrate etc. which protect the element formation surface of the film board
  • the protective substrate for example, a slip sheet or the like can be used.
  • the second opening 35 is disposed with a space from the opening 34.
  • the second opening 35 is formed in the same size and shape as the opening 34, for example.
  • a conductive material such as a stainless steel thin plate (eg, a thickness of 0.1 mm or less) may be used. In this case, when the second substrate SB is accommodated together with the film substrate (sheet substrate) FB in the cartridge main body 2, the second substrate SB is electrically connected to the cartridge main body 2. ) FB can be prevented from being charged.
  • the substrate transport unit 21, the substrate guide unit 22, the second substrate transport unit 36, and the second substrate guide unit 37 are provided, for example, inside the protrusion 23.
  • the substrate guide unit 22 is provided between the opening 34 and the substrate transport unit 21.
  • the substrate guide portion 22 is a portion that guides the film substrate FB between the opening 34 and the substrate transport portion 21.
  • the substrate guide 22 has substrate guide members 22a and 22b.
  • the board guide members 22a and 22b are arranged to face each other so as to leave a gap 22c in the Z direction, and are provided so that the facing surfaces are substantially parallel to the XY plane.
  • the gap 22c is connected to the opening 34, and the film substrate FB moves through the opening 34 and the gap 22c.
  • the second substrate guide portion 37 is a portion that guides the second substrate SB between the mount portion 3 and the substrate transport portion 21.
  • the second substrate guide portion 37 includes second substrate guide members 37a, 37b, and 37c.
  • the second substrate guide members 37a and 37b are arranged to face each other so as to leave a gap 37d in the Z direction, and the facing surfaces are provided so as to be substantially parallel to the XY plane, respectively.
  • the second substrate guide member 37c is arranged to be inclined so that the second substrate SB is guided to the + Z side. Specifically, the ⁇ X side end portion of the second substrate guide member 37c is arranged in a state inclined to the + Z side with respect to the + X side end portion.
  • the second substrate transport unit 36 transports the second substrate SB between the mount unit 3 and the substrate transport unit 21.
  • the second substrate transport unit 36 is disposed between the second substrate guide members 37a and 37b and the second substrate guide member 37c.
  • the second substrate transport unit 36 includes a main driving roller 36a and a driven roller 36b.
  • the main driving roller 36a is provided so as to be rotatable in the ⁇ Y direction, for example, and is connected to a rotation driving mechanism (not shown).
  • the driven roller 36b is arranged with a gap between the driven roller 36a and the main driven roller 36a so that the second substrate SB is sandwiched between the driven roller 36b.
  • the substrate transport unit 21 transports the film substrate FB and the second substrate SB between the mount unit 3 and the storage unit 20.
  • the substrate transport unit 21 includes a tension roller (tension mechanism) 21a and a measurement roller (measurement unit) 21b.
  • the tension roller 21 a is a roller that applies tension to the film substrate FB and the second substrate between the roller portion 26.
  • the tension roller 21a is provided to be rotatable in the ⁇ Y direction.
  • a rotation drive mechanism (not shown) is connected to the tension roller 21a.
  • the tension roller 21a and the measurement roller 21b may be provided so as to be movable in the Z direction in FIG.
  • the measuring roller 21b is a roller having a smaller diameter than the tension roller 21a.
  • the measuring roller 21b is disposed with a predetermined gap between the measuring roller 21b and the tension roller 21a so that the film substrate FB and the second substrate SB can be sandwiched between the measuring roller 21b. Even when only the film substrate FB is sandwiched and when the film substrate FB and the second substrate SB are sandwiched together, the size of the gap between the measurement roller 21b and the tension roller 21a can be adjusted. I do not care.
  • the measuring roller 21b is a driven roller that rotates as the tension roller 21a rotates.
  • tension roller 21a By rotating the tension roller 21a while the film substrate FB is sandwiched between the tension roller 21a and the measurement roller 21b, tension is applied to the film substrate FB, and the film substrate FB is taken up and fed out, respectively.
  • the film substrate FB can be conveyed.
  • the substrate transport unit 21 includes, for example, a detection unit 21c that detects the rotation speed and rotation angle of the measurement roller 21b.
  • a detection unit 21c that detects the rotation speed and rotation angle of the measurement roller 21b.
  • an encoder or the like is used as the detection unit 21c.
  • the detection unit 21c can measure, for example, the transport distance of the film substrate FB via the measurement roller 21b.
  • the film substrate FB and the second substrate SB are respectively connected to the substrate guide unit 22 and the second substrate SB.
  • the junction portion 39 joins.
  • the film substrate FB and the second substrate SB merged at the merge unit 39 are conveyed by the substrate conveyance unit 21 in a merged state.
  • substrate conveyance part 21 presses and adheres the film board
  • substrate conveyance part 21 serves as the press mechanism which presses the 2nd board
  • FIG. 6A is a plan view showing a configuration of an organic EL element.
  • 6B is a cross-sectional view taken along the line BB ′ in FIG. 6A.
  • 6C is a cross-sectional view taken along the line CC ′ in FIG. 6A.
  • the organic EL element 50 is formed after the gate electrode G and the gate insulating layer I are formed on the film substrate FB, and the source electrode S, the drain electrode D, and the pixel electrode P are formed.
  • a gate insulating layer I is formed on the gate electrode G.
  • a source electrode S of the source bus line SBL is formed on the gate insulating layer I, and a drain electrode D connected to the pixel electrode P is formed.
  • An organic semiconductor layer OS is formed between the source electrode S and the drain electrode D. This completes the field effect transistor.
  • a light emitting layer IR is formed on the pixel electrode P, and a transparent electrode ITO is formed on the light emitting layer IR.
  • a partition wall BA (bank layer) is formed on the film substrate FB.
  • source bus lines SBL are formed between the partition walls BA.
  • the gate bus line GBL is also formed between the partition walls BA similarly to the source bus line SBL.
  • the organic EL element 50 is suitably used for a display device such as a display device and a display unit of an electronic device.
  • a display device such as a display device and a display unit of an electronic device.
  • an organic EL element 50 formed in a panel shape is used.
  • TFT thin film transistor
  • a pixel electrode In manufacturing such an organic EL element 50, it is necessary to form a substrate on which a thin film transistor (TFT) and a pixel electrode are formed.
  • TFT thin film transistor
  • a pixel electrode In order to accurately form one or more organic compound layers (light-emitting element layers) including a light-emitting layer on the pixel electrode on the substrate, a partition BA (bank layer) is easily and accurately formed in the boundary region of the pixel electrode. There is a need.
  • FIG. 7 is a schematic view showing the configuration of the substrate processing apparatus 100.
  • the substrate processing apparatus 100 is an apparatus that forms the organic EL element 50 shown in FIGS. 6A to 6C using the film substrate FB.
  • the substrate processing apparatus 100 includes a substrate supply unit 101, a substrate processing unit 102, a substrate collection unit 103, and a control unit 104.
  • the film substrate FB having the reader member LDR connected to the film F is automatically conveyed from the substrate supply unit 101 to the substrate recovery unit 103 via the substrate processing unit 102. Further, the film substrate FB is automatically conveyed between, for example, each processing unit (for example, the electrode forming unit 92, the light emitting layer forming unit 93, etc.) of the substrate processing apparatus 100.
  • the substrate processing apparatus 100 can transport the film substrate FB with high accuracy or easily by using the leader member LDR of the film substrate FB.
  • the control unit 104 controls the overall operation of the substrate processing apparatus 100.
  • the transport direction of the film substrate FB in the horizontal plane is the X axis direction
  • the direction orthogonal to the X axis direction in the horizontal plane is orthogonal to the Y axis direction, the X axis direction, and the Y axis direction.
  • the direction (that is, the vertical direction) is the Z-axis direction.
  • the rotation (inclination) directions around the X, Y, and Z axes are the ⁇ X, ⁇ Y, and ⁇ Z directions, respectively.
  • the substrate supply unit 101 is connected to a supply side connection unit 102 ⁇ / b> A provided in the substrate processing unit 102.
  • the substrate supply unit 101 supplies, for example, the film substrate FB wound in a roll shape to the substrate processing unit 102.
  • the substrate recovery unit 103 recovers the film substrate FB that has been processed by the substrate processing unit 102.
  • the substrate supply unit 101 and the substrate collection unit 103 for example, the substrate cartridge 1 described above is used.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of the substrate processing unit 102.
  • the substrate processing unit 102 includes a transport unit 105, an element forming unit 106, an alignment unit 107, a substrate cutting unit 108, a reader member pasting device 300, and an information detection device 400.
  • the substrate processing unit 102 forms each component of the organic EL element 50 on the film substrate FB while conveying the film substrate FB supplied from the substrate supply unit 101, and the film on which the organic EL element 50 is formed. This is the part that sends out the substrate FB to the substrate recovery unit 103.
  • the conveyance unit 105 has a plurality of rollers RR (conveyance units) arranged at positions along the X direction.
  • the film substrate FB is also transported in the X-axis direction by the rotation of the roller RR.
  • the roller RR may be a rubber roller that sandwiches the film substrate FB from both sides, or may be a roller RR with a ratchet as long as the film substrate FB has perforation. Some of these rollers RR are movable in the Y-axis direction orthogonal to the transport direction.
  • the conveyance unit 105 is not limited to the roller RR, For example, the structure which has a some belt conveyor (conveyance part) which can air-suck at least the leader member LDR may be sufficient.
  • the element forming unit 106 includes a partition forming unit 91, an electrode forming unit 92, and a light emitting layer forming unit 93.
  • the partition forming part 91, the electrode forming part 92, and the light emitting layer forming part 93 are arranged in this order from the upstream side to the downstream side in the transport direction of the film substrate FB.
  • each structure of the element formation part 106 is demonstrated in order.
  • the partition wall forming unit 91 includes an imprint roller 110 and a thermal transfer roller 115.
  • the partition forming unit 91 forms the partition BA on the film substrate FB sent from the substrate supply unit 101.
  • the film substrate FB is pressed by the imprint roller 110, and the film substrate FB is heated to the glass transition point or more by the thermal transfer roller 115 so that the pressed partition BA keeps its shape.
  • the mold shape formed on the roller surface of the imprint roller 110 is transferred to the film substrate FB.
  • the film substrate FB is heated to, for example, about 200 ° C. by the thermal transfer roller 115.
  • the imprint roller 110 and the thermal transfer roller 115 may have a function as a transport unit of the transport unit 105 described above.
  • the above-described transport unit may be configured to be movable at least in the transport direction (X direction) of the leader member LDR in accordance with the length of the leader member LDR in the transport direction.
  • the roller surface of the imprint roller 110 is mirror-finished, and a fine imprint mold 111 made of a material such as SiC or Ta is attached to the roller surface.
  • the fine imprint mold 111 forms a thin film transistor wiring stamper and a color filter stamper.
  • the imprint roller 110 forms the alignment mark AM on the film substrate FB using the fine imprint mold 111.
  • the fine imprint mold 111 has a stamper for the alignment marks AM.
  • the electrode forming portion 92 is provided on the + X side of the partition wall forming portion 91, and for example, a thin film transistor using an organic semiconductor is formed. Specifically, after forming the gate electrode G, the gate insulating layer I, the source electrode S, the drain electrode D, and the pixel electrode P as shown in FIGS. 6A to 6C, the organic semiconductor layer OS is formed.
  • the thin film transistor may be an inorganic semiconductor type or an organic semiconductor type.
  • an inorganic semiconductor thin film transistor an amorphous silicon type is known, but a thin film transistor using an organic semiconductor may be used. If a thin film transistor is formed using this organic semiconductor, the thin film transistor can be formed by utilizing a printing technique or a droplet coating technique.
  • field effect transistors FETs as shown in FIGS. 6A to 6C are particularly preferable.
  • the electrode forming unit 92 includes a droplet applying device 120, a heat treatment device BK, a cutting device 130, and the like.
  • a droplet applying device 120 for example, a droplet applying device 120G used when forming the gate electrode G, a droplet applying device 120I used when forming the gate insulating layer I, the source electrode S, A droplet applying device 120SD used when forming the drain electrode D and the pixel electrode P, a droplet applying device 120OS used when forming the organic semiconductor OS, and the like are used.
  • FIG. 9 is a plan view showing the configuration of the droplet applying apparatus 120.
  • FIG. 9 shows a configuration when the droplet applying device 120 is viewed from the + Z side.
  • the droplet applying device 120 is formed long in the Y-axis direction.
  • the droplet applying device 120 is provided with a driving device (not shown).
  • the droplet applying device 120 can be moved, for example, in the X direction, the Y direction, and the ⁇ Z direction by the driving device.
  • a plurality of nozzles 122 are formed in the droplet applying device 120.
  • the nozzle 122 is provided on the surface of the droplet applying device 120 that faces the film substrate FB.
  • the nozzles 122 are arranged, for example, along the Y-axis direction, and two rows (nozzle rows) of the nozzles 122 are formed, for example.
  • the control unit 104 can apply the droplets to all the nozzles 122 at once, and can individually adjust the timing of applying the droplets to each nozzle 122.
  • an inkjet method or a dispenser method can be employed.
  • the inkjet method include a charge control method, a pressure vibration method, an electromechanical conversion method, an electrothermal conversion method, and an electrostatic suction method.
  • the use of the material is less wasteful, and a desired amount of the material can be accurately disposed at a desired position.
  • the amount of one drop of metal ink applied by the droplet application method is, for example, 1 to 300 nanograms.
  • the droplet applying device 120G applies metal ink in the partition BA of the gate bus line GBL.
  • the droplet applying device 120I applies an electrically insulating ink of polyimide resin or urethane resin to the switching unit.
  • the droplet applying device 120SD applies metal ink in the partition BA of the source bus line SBL and in the partition BA of the pixel electrode P.
  • the droplet applying device 120OS applies the organic semiconductor ink to the switching unit between the source electrode S and the drain electrode D.
  • Metal ink is a liquid in which a conductor having a particle diameter of about 5 nm is stably dispersed in a solvent at room temperature, and carbon, silver (Ag), gold (Au), or the like is used as the conductor.
  • the compound forming the organic semiconductor ink may be a single crystal material family or an amorphous material, and may be a low molecule or a polymer. Particularly preferred among the compounds forming the organic semiconductor ink include a single crystal or ⁇ -conjugated polymer of a condensed ring aromatic hydrocarbon compound typified by pentacene, triphenylene, anthracene and the like.
  • the heat treatment apparatus BK is disposed on the + X side (downstream side in the substrate transport direction) of each droplet applying apparatus 120.
  • the heat treatment apparatus BK can radiate, for example, hot air or far infrared rays to the film substrate FB.
  • the heat treatment apparatus BK uses these radiant heats to dry or bake (bake) the droplets applied to the film substrate FB and harden them.
  • the cutting device 130 is provided on the + X side of the droplet applying device 120SD and on the upstream side of the droplet applying device 120OS.
  • the cutting device 130 cuts the source electrode S and the drain electrode D formed by the droplet applying device 120SD using, for example, laser light.
  • the cutting device 130 includes a light source (not shown) and a galvanometer mirror 131 that irradiates the film substrate FB with laser light from the light source.
  • a laser having a wavelength to be absorbed is preferable for the metal film to be cut. Further, by using a pulsed laser, thermal diffusion can be prevented and damage other than the cut portion can be reduced.
  • a femtosecond laser with a wavelength of 760 nm is preferable.
  • a femtosecond laser irradiation unit using a titanium sapphire laser as a light source is used.
  • the femtosecond laser irradiation unit irradiates the laser beam LL with a pulse of 10 KHz to 40 KHz, for example.
  • the distance between the source electrode S and the drain electrode D that determines the performance of the field effect transistor can be accurately cut. ing.
  • the distance between the source electrode S and the drain electrode D is, for example, about 3 ⁇ m to about 30 ⁇ m.
  • a carbon dioxide laser or a green laser can be used.
  • the galvanometer mirror 131 is disposed in the optical path of the laser beam LL.
  • the galvanometer mirror 131 reflects the laser beam LL from the light source onto the film substrate FB.
  • the galvanometer mirror 131 is provided to be rotatable in the ⁇ X direction, the ⁇ Y direction, and the ⁇ Z direction, for example. As the galvano mirror 131 rotates, the irradiation position of the laser beam LL changes.
  • a thin film transistor or the like can be formed by utilizing a printing technique or a droplet coating method technique without using a so-called photolithography process. Yes.
  • a printing technique a droplet coating technique, or the like
  • the partition wall BA is formed by using the partition wall forming portion 91, ink bleeding and spreading are prevented.
  • the distance between the source electrode S and the drain electrode D that determines the performance of the thin film transistor is formed by laser processing or machining.
  • the light emitting layer forming portion 93 is disposed on the + X side of the electrode forming portion 92.
  • the light emitting layer forming unit 93 forms, for example, the light emitting layer IR and the transparent electrode ITO, which are constituent elements of the organic EL device, on the film substrate FB on which the electrodes are formed.
  • the light emitting layer forming unit 93 includes a droplet applying device 140 and a heat treatment device BK.
  • the light emitting layer IR formed by the light emitting layer forming portion 93 contains a host compound and a phosphorescent compound (also referred to as a phosphorescent compound).
  • the host compound is a compound contained in the light emitting layer.
  • a phosphorescent compound is a compound in which light emission from an excited triplet is observed and emits phosphorescence at room temperature.
  • a droplet applying device 140 for example, a droplet applying device 140Re that forms a red light emitting layer, a droplet applying device 140Gr that forms a green light emitting layer, a droplet applying device 140Bl that forms a blue light emitting layer, an insulating material.
  • a droplet applying device 140I that forms a layer, a droplet applying device 140IT that forms a transparent electrode ITO, and the like are used.
  • an ink jet method or a dispenser method can be adopted as in the case of the droplet applying device 120 described above.
  • a device for forming these layers for example, a droplet applying device
  • the droplet applying device 140Re applies the R solution onto the pixel electrode P.
  • the discharge amount of the R solution is adjusted so that the film thickness after drying becomes 100 nm.
  • the R solution for example, a solution obtained by dissolving a red dopant material in 1,2-dichloroethane in polyvinyl carbazole (PVK) as a host material is used.
  • the droplet applying device 140Gr applies the G solution onto the pixel electrode P.
  • the G solution for example, a solution in which a green dopant material is dissolved in 1,2-dichloroethane in a host material PVK is used.
  • the droplet applying device 140B1 applies the B solution onto the pixel electrode P.
  • the solution B for example, a solution in which a blue dopant material is dissolved in 1,2-dichloroethane in a host material PVK is used.
  • the droplet applying device 120I applies an electrically insulating ink to a part of the gate bus line GBL or the source bus line SBL.
  • the electrically insulating ink for example, polyimide resin or urethane resin ink is used.
  • the droplet applying device 120IT applies ITO (Indium Tin Oxide) ink on the red, green, and blue light emitting layers.
  • ITO Indium Tin Oxide
  • a compound in which several percent of tin oxide (SnO 2 ) is added to indium oxide (In 2 O 3 ) is used.
  • an amorphous material such as IDIXO (In 2 O 3 —ZnO) capable of forming a transparent conductive film may be used.
  • the transparent conductive film preferably has a transmittance of 90% or more.
  • the heat treatment apparatus BK is disposed on the + X side (downstream side in the substrate transport direction) of each droplet applying apparatus 140.
  • the heat treatment apparatus BK can radiate, for example, hot air or far infrared rays to the film substrate FB, similarly to the heat treatment apparatus BK used in the electrode forming unit 92.
  • the heat treatment apparatus BK uses these radiant heats to dry or bake (bake) the droplets applied to the film substrate FB and harden them.
  • Alignment unit 107 has a plurality of alignment cameras CA (CA1 to CA8) provided along the X direction.
  • the alignment camera CA may pick up an image with CCD or CMOS under visible light illumination, process the picked-up image to detect the position of the alignment mark AM, or irradiate the alignment mark AM with the laser light and scatter the light. Even if light is received, the position of the alignment mark AM may be detected.
  • the alignment camera CA1 is disposed on the + X side of the thermal transfer roller 115.
  • the alignment camera CA1 detects the position of the alignment mark AM formed by the thermal transfer roller 115 on the film substrate FB.
  • the alignment cameras CA2 to CA8 are respectively arranged on the + X side of the heat treatment apparatus BK.
  • the alignment cameras CA2 to CA8 detect the position of the alignment mark AM on the film substrate FB that has passed through the heat treatment apparatus BK.
  • the film substrate FB may expand and contract in the X axis direction and the Y axis direction through the thermal transfer roller 115 and the heat treatment apparatus BK.
  • the detection results from the alignment cameras CA1 to CA8 are transmitted to the control unit 104. Based on the detection results of the alignment cameras CA1 to CA8, the control unit 104 adjusts, for example, the ink application position and timing of the droplet application device 120 and the droplet application device 140, and supplies the film substrate FB from the substrate supply unit 101. Adjustment of the speed and the conveyance speed of the roller RR, adjustment of movement in the Y direction by the roller RR, adjustment of the cutting position and timing of the cutting device 130, and the like are performed.
  • the leader member sticking device 300 is a device that cuts the film F of the film substrate FB and sticks the leader member LDR to the cut portion, for example.
  • One or a plurality of leader member attaching devices 300 are provided in the substrate processing unit 102. In the present embodiment, a total of two are provided, one between the partition wall forming portion 91 and the electrode forming portion 92 and one between the electrode forming portion 92 and the light emitting layer forming portion 93.
  • the leader member affixing device 300 includes, for example, a cutting part for cutting the film F, a position reference forming part for forming the film side position reference part Fd on the film F, a position reference part for the leader member LDR, and a film side position reference part for the film F. It has an alignment part for aligning with Fd.
  • the information detection device 400 is a device that detects information held in the information holding unit 204 of the reader member LDR, for example.
  • the information detected by the information detection apparatus 400 is supplied to the control unit 104, for example.
  • the information detection device 400 is provided, for example, on the upstream side of the partition wall forming unit 91 in the substrate processing unit 102. By disposing the information detection device 400 on the upstream side of the partition wall forming unit 91, the information regarding the film substrate FB can be transferred to the substrate processing unit 102 prior to the partition forming process which is substantially the first process for the film substrate FB of the substrate processing unit 102. This is supplied to the unit 102 (or the control unit 104).
  • the substrate processing unit 102 can perform each process such as a partition wall forming process based on the information, an optimal process according to the information on the film substrate FB is performed.
  • the location where the information detection device 400 is arranged is not limited to the upstream side of the partition wall forming unit 91, and the substrate processing unit 102 can be used as long as the information held in the information holding unit 204 can be read. It can be at any position.
  • the leader member pasting device 300 may be a device that is disposed in a process upstream from the partition wall forming unit 91 and pastes the leader member LDR to a predetermined portion of the film substrate FB.
  • a one-dimensional barcode reader is used as the information detection device 400.
  • a two-dimensional barcode reader is used as the information detection device 400.
  • an IC tag or a memory element pattern is formed as the information holding unit 204, a device capable of reading the information held in the information detecting device 400 is used.
  • an apparatus having a function capable of reading a plurality of types of information including at least a part of the types listed above may be used.
  • FIG. 10A to FIG. 10D are diagrams showing manufacturing steps of the film substrate FB.
  • the production of the film substrate FB is performed, for example, by an apparatus having the same configuration as that of the above-described leader member pasting apparatus 300.
  • the leader member LDR is attached on a stage (not shown), for example.
  • a broken line portion shown in FIGS. 10A to 10C is a position where the leader member LDR is to be pasted.
  • the film F is disposed so as to pass past the position where the leader member LDR is to be pasted, for example, by the transport roller 210 or the like.
  • FIG. 10A shows an example in which the film F is transported from the right side to the left side in the figure, for example, but the transport direction may be reversed.
  • the film-side position reference portion Fd is formed in the section on the transport roller 210 side. Then, the end portion Fa of the film F is conveyed to the conveying roller 210 side. Further, the section F0 cut off from the film F is fixed, for example, at the position when it is cut.
  • connection position is, for example, a position corresponding to the step portion 201 of the position where the leader member LDR is to be pasted.
  • the position may be adjusted while detecting the film side position reference portion Fd formed on the film F by the alignment camera CA300 or the like.
  • alignment is performed between the film F and the leader member LDR (alignment process), and after the alignment, the leader member LDR is attached to the film F, and both are attached. Connect (connection process).
  • the alignment step using the film side position reference portion Fd provided on the film F and the position reference portion 202 provided on the leader member LDR, the position of the film F in the vertical direction in the drawing and in the horizontal direction in the drawing, The position of the leader member LDR in the vertical direction in the figure and the position in the horizontal direction in the figure is detected (position detection step), and the attachment position of the leader member LDR is adjusted based on the detected position.
  • position detection step for example, the positions of the film side position reference portion Fd and the position reference portion 202 are detected using the alignment cameras CA300 and CA301.
  • the position reference portion 202 is formed on the leader member LDR prior to the alignment step.
  • the film F and the leader member LDR are thermocompression bonded using a thermocompression roller 211 or the like.
  • a heat welding type adhesive may be applied in advance to the leader member LDR, and the film F and the leader member LDR may be connected by welding the adhesive.
  • an area (an element formation area 60 described later) in the film F where the organic EL element 50 is formed is indirectly directed to the leader member LDR. Will be aligned.
  • the leader member LDR since the leader member LDR is conveyed with high accuracy by the conveyance unit 105, the element forming region 60 in the film F is aligned with high accuracy by the leader member LDR.
  • FIG. 11A and 11B are views showing the state of the substrate cartridge 1 during the accommodating operation.
  • the outline of the substrate cartridge 1 is indicated by a broken line in order to make it easy to distinguish the drawings.
  • the film substrate FB is accommodated in the substrate cartridge 1
  • the film substrate FB is inserted from the opening 34 while the substrate cartridge 1 is held on the holder HD.
  • the tension roller 21a and the rotating shaft member 26a are rotated.
  • the film substrate FB inserted through the opening 34 is guided to the substrate transport unit 21 by the substrate guide unit 22.
  • the film substrate FB is sandwiched between the tension roller 21a and the measurement roller 21b and transported to the storage unit 20 side.
  • the film substrate FB that has passed through the substrate transport unit 21 toward the storage unit 20 is guided while being bent in the ⁇ Z direction by its own weight.
  • the guide portion 27 is provided on the ⁇ Z side of the film substrate FB, the film substrate FB is guided to the roller portion 26 along the rotating member 27a and the tip member 27b of the guide portion 27. It will be.
  • the tip of the film substrate FB reaches the cylindrical portion 26c of the roller portion 26, the claw member 28a protruding from the cylindrical portion 26c is inserted into the opening 203 provided in the leader member LDR of the film substrate FB. Since each part of the roller part 26 rotates integrally in this state, the film substrate FB is wound around the cylindrical part 26c in a state where the claw member 28a is engaged with the opening 203 of the leader member LDR.
  • the guide portion 27 is retracted as shown in FIG. 11B.
  • the film substrate FB is gradually wound around the roller portion 26.
  • the film substrate FB wound up gradually increases in thickness, but since the guide portion 27 has already been retracted, the film substrate FB and the guide portion 27 do not come into contact with each other.
  • the film substrate FB is gradually wound around the cylindrical portion 26c, and is pressed toward the rotating shaft member 26a by the film substrate FB on which the claw member 28a is wound.
  • the pressing member 28b is elastically deformed by this pressing force, and the claw member 28a is accommodated in the recess 26e.
  • the rotation speed of the tension roller 21a and the rotation speed of the rotary shaft member 26a are set so that the film substrate FB does not bend between the roller unit 26 and the substrate transport unit 21.
  • the film substrate FB is conveyed while adjusting. After winding up the film substrate FB having a desired length, for example, a portion of the film substrate FB outside the opening 34 is cut. In this way, the film substrate FB is accommodated in the substrate cartridge 1.
  • connection operation for connecting the substrate cartridge 1 containing the film substrate FB to the supply side connection unit 102A as the substrate supply unit 101, a supply operation of the film substrate FB by the substrate cartridge 1 by the substrate supply unit 101, a substrate processing unit The element forming operation by 102 and the removing operation of the substrate cartridge 1 are sequentially performed.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating the connection operation of the substrate cartridge 1.
  • the insertion port is formed in a shape corresponding to the mount portion 3 for the supply side connection portion 102 ⁇ / b> A.
  • the mount unit 3 and the supply-side connection unit 102A are aligned with the substrate cartridge 1 held by a holder (for example, the same configuration as the holder HD shown in FIG. 11A). After alignment, the mount unit 3 is moved to the + X side and inserted into the substrate processing unit 102.
  • the film substrate FB is supplied to the substrate processing unit 102, for example, the rotation shaft member 26a (roller unit 26) and the tension roller 21a of the substrate cartridge 1 are rotated in the opposite direction to that in the accommodating operation, and shown in FIG. Thus, the film substrate FB is sent out through the opening 34. At this time, the above-described leader member LDR is sent out from the opening portion 34 at the head.
  • the element forming operation While the film substrate FB is supplied from the substrate supply unit 101 to the substrate processing unit 102, the substrate processing unit 102 forms elements on the film substrate FB. In the substrate processing unit 102, the film substrate FB is conveyed by the roller RR.
  • the control unit 104 acquires information from the information detection apparatus 400 and controls subsequent operations of the substrate processing unit 102 based on the processing information.
  • the control unit 104 detects whether or not the roller RR is displaced in the Y-axis direction, and when it is displaced, moves the roller RR to correct the position. Further, the control unit 104 also performs position correction of the film substrate FB.
  • the film substrate FB supplied from the substrate supply unit 101 to the substrate processing unit 102 is first transported to the partition wall forming unit 91.
  • the film substrate FB is sandwiched and pressed between the imprint roller 110 and the thermal transfer roller 115, and the partition BA and the alignment mark AM are formed on the film substrate by thermal transfer.
  • FIG. 14 is a diagram showing a state in which the partition walls BA and the alignment marks AM are formed on the film substrate FB.
  • FIG. 15 is an enlarged view of a part of FIG.
  • FIG. 16 is a diagram showing a configuration along a DD section in FIG. 14 and 15 show the state when the film substrate FB is viewed from the + Z side.
  • the partition wall BA is formed in the element formation region 60 at the center in the Y direction of the film substrate FB.
  • the element formation region 60 includes a region where the gate bus line GBL and the gate electrode G are formed (gate formation region 52), the source bus line SBL, the source electrode S, A region for forming the drain electrode D and the anode P (source / drain formation region 53) is partitioned.
  • the gate formation region 52 is formed in a trapezoidal shape in a cross-sectional view.
  • the source / drain formation region 53 has the same shape.
  • the width W ( ⁇ m) in the partition wall BA is the line width of the gate bus line GBL.
  • the width W is preferably about 2 to 4 times the droplet diameter d ( ⁇ m) applied from the droplet applying apparatus 120G.
  • the cross-sectional shapes of the gate formation region 52 and the source / drain formation region 53 are V-shaped or U-shaped in cross-section so that the film substrate FB can be easily peeled after the fine imprint mold 11 presses the film substrate FB. It is preferable to have a shape. As other shapes, for example, a rectangular shape in a sectional view may be used.
  • a pair of alignment marks AM is formed in the edge regions 61 at both ends in the Y direction of the film substrate FB.
  • the partition wall BA and the alignment mark AM are formed at the same time because the mutual positional relationship is important.
  • a predetermined distance PY between the alignment mark AM and the gate formation region 52 is defined in the Y-axis direction, and the alignment mark AM and the source / drain formation region 53 are defined in the X-axis direction.
  • a predetermined distance PX is defined. For this reason, based on the position of the pair of alignment marks AM, it is possible to detect the shift in the X-axis direction, the shift in the Y-axis direction, and the ⁇ rotation of the film substrate FB.
  • a pair of alignment marks AM is provided for each of the plurality of rows of barrier ribs BA in the X-axis direction.
  • the alignment mark AM is provided for each row of barrier ribs BA.
  • the alignment mark AM may be provided not only in the edge region 61 of the film substrate FB but also in the element forming region 60. 14 and 15, the alignment mark AM has a cross shape, but may have other mark shapes such as a circular mark and an oblique straight mark.
  • the film substrate FB is conveyed to the electrode forming unit 92 by the conveying roller RR.
  • the electrode forming section 92 droplets are applied by each droplet applying device 120, and electrodes are formed on the film substrate FB.
  • FIGS. 17A and 17B are views showing a state of the film substrate FB on which droplet application is performed by the droplet applying apparatus 120G.
  • the droplet applying device 120G applies metal ink, for example, in the order of 1 to 9 to the gate forming region 52 of the film substrate FB on which the partition walls BA are formed.
  • This order is, for example, the order in which the ink is applied linearly with the tension between the metal inks.
  • FIG. 17B is a diagram illustrating a state in which, for example, one drop of metal ink is applied. As shown in FIG. 17A, since the partition wall BA is provided, the metal ink applied to the gate formation region 52 is held without being diffused. In this way, the metal ink is applied to the entire gate formation region 52.
  • FIG. 18A is a diagram illustrating a state of the gate formation region 52 after the metal ink is dried. As shown in FIG. 18A, by drying the metal ink, the conductor contained in the metal ink is laminated in a thin film shape. Such a thin film-like conductor is formed on the entire gate formation region 52, and as shown in FIG. 18B, the gate bus line GBL and the gate electrode G are formed on the film substrate FB.
  • the film substrate FB is transported to the ⁇ Z side of the droplet applying device 120I.
  • the electrically insulating ink is applied to the film substrate FB.
  • electrically insulating ink is applied onto the gate bus line GBL and the gate electrode G passing through the source / drain formation region 53.
  • FIG. 19 shows a state in which the gate insulating layer I is formed in a circular shape so as to straddle the partition BA, but it is not particularly necessary to form it beyond the partition BA.
  • the film substrate FB is transported to the ⁇ Z side of the droplet applying apparatus 120SD.
  • metal ink is applied to the source / drain formation region 53 of the film substrate FB.
  • metal ink is ejected in the order of 1 to 9 shown in FIG.
  • the film substrate FB After discharging the metal ink, the film substrate FB is transported to the ⁇ Z side of the heat treatment apparatus BK, and the metal ink is dried. After the drying process, the conductor contained in the metal ink is laminated in a thin film shape, and the source bus line SBL, the source electrode S, the drain electrode D, and the anode P are formed. However, at this stage, the source electrode S and the drain electrode D are connected.
  • FIG. 21 is a diagram illustrating a state where the gap between the source electrode S and the drain electrode D is cut by the cutting device 130.
  • the cutting device 130 performs cutting while adjusting the irradiation position of the laser beam LL on the film substrate FB using the galvano mirror 131.
  • the film substrate FB is transported to the ⁇ Z side of the droplet applying apparatus 120OS.
  • the organic semiconductor layer OS is formed on the film substrate FB.
  • the organic semiconductor ink is ejected across the source electrode S and the drain electrode D in a region overlapping with the gate electrode G on the film substrate FB.
  • the film substrate FB is conveyed to the ⁇ Z side of the heat treatment apparatus BK, and the organic semiconductor ink is dried. After the drying treatment, semiconductors included in the organic semiconductor ink are laminated in a thin film shape, and an organic semiconductor OS is formed as shown in FIG. Through the above steps, the field effect transistor and the connection wiring are formed on the film substrate FB.
  • the film substrate FB is transported to the light emitting layer forming portion 93 by the transport roller RR.
  • red, green, and blue light emitting layers IR are formed by the droplet applying device 140Re, the droplet applying device 140Gr, the droplet applying device 140Bl, and the heat treatment device BK, respectively. Since the barrier ribs BA are formed on the film substrate FB, even when the red, green, and blue light emitting layers IR are continuously applied without heat treatment by the heat treatment apparatus BK, the solution is applied to the adjacent pixel region. Overflow does not cause color mixing.
  • the insulating layer I is formed on the film substrate FB via the droplet applying device 140I and the heat treatment device BK, and the transparent electrode ITO is formed via the droplet applying device 140IT and the heat treatment device BK.
  • the organic EL element 50 shown in FIG. 1 is formed on the film substrate FB.
  • an alignment operation is performed. Is going.
  • the alignment operation will be described with reference to FIG.
  • a plurality of alignment cameras CA (CA1 to CA8) provided in each unit appropriately detect the alignment mark AM formed on the film substrate FB, and transmit the detection result to the control unit 104.
  • the control unit 104 causes the alignment operation to be performed based on the transmitted detection result.
  • control unit 104 detects the feeding speed of the film substrate FB based on the imaging interval of the alignment mark AM detected by the alignment camera CA (CA1 to CA8), and whether or not the roller RR is rotating at a predetermined speed, for example. Determine whether. When it is determined that the roller RR is not rotating at a predetermined speed, the control unit 104 issues an instruction for adjusting the rotation speed of the roller RR and applies feedback.
  • control unit 104 detects whether or not the position of the alignment mark AM in the Y-axis direction is shifted based on the imaging result of the alignment mark AM, and detects whether or not the film substrate FB is displaced in the Y-axis direction. To do. When the misregistration is detected, the control unit 104 detects how long the misregistration continues while the film substrate FB is conveyed.
  • the time of positional deviation corresponds by switching the nozzle 122 which apply
  • FIG. If the displacement of the film substrate FB in the Y-axis direction continues for a long time, the position of the film substrate FB in the Y-axis direction is corrected by the movement of the roller RR.
  • the control unit 104 detects whether or not the film substrate FB is displaced in the ⁇ Z direction based on the positions of the alignment marks AM detected by the alignment camera CA in the X-axis and Y-axis directions.
  • the control unit 104 detects how long the positional deviation has continued in the state in which the film substrate FB is conveyed, as in the case of detecting the positional deviation in the Y-axis direction. If this time is short, the nozzle 122 for applying droplets among the plurality of nozzles 122 of the droplet applying apparatus 120 is switched. If the deviation continues for a long time, the two rollers RR provided at a position sandwiching the alignment camera CA that has detected the deviation are moved in the X direction or the Y direction to correct the position of the film substrate FB in the ⁇ Z direction.
  • the removal operation will be described. For example, after forming the organic EL element 50 on the film substrate FB and collecting the film substrate FB, the substrate cartridge 1 used as the substrate supply unit 101 is removed from the substrate processing unit 102.
  • FIG. 24 is a diagram illustrating the removal operation of the substrate cartridge 1.
  • the mount unit 3 In the detaching operation, the mount unit 3 is moved in the ⁇ X direction to be removed from the supply side connection unit 102A. The mount part 3 is removed.
  • the reader member LDR has a connection part (step part 201) connected to the flexible film F and at least between the film F and the connection part (step part 201). Since the position reference unit 202 used for the positioning of the film F is provided, the film F is connected to the desired position of the film F with high accuracy.
  • the film substrate FB according to the present embodiment includes the film F that is flexible and transported in a predetermined direction, and the reader member LDR of the present embodiment that is connected to the end of the film F. Therefore, the edge part of the film F is protected accurately. Thereby, deformations such as bending and distortion of the film F caused by the conveyance of the film substrate FB can be reduced.
  • the substrate cartridge 1 according to the present embodiment includes the cartridge body 2 that accommodates the flexible film substrate FB, the film substrate FB is accommodated in a state in which almost no bending or distortion occurs. Can do. Further, since the substrate cartridge 1 according to the present embodiment includes the cartridge body 2 that accommodates the flexible film substrate FB, the film substrate FB accommodated in a state in which bending or distortion hardly occurs is sent out. be able to.
  • the substrate processing apparatus 100 includes a substrate processing unit 102 that processes a flexible film substrate FB, a substrate supply unit 101 that carries the film substrate FB into the substrate processing unit 102, and the substrate. And the substrate collection unit 103 for carrying out the film substrate FB from the processing unit 102, and the substrate cartridge 1 of the present embodiment is used as at least one of the substrate supply unit 101 and the substrate collection unit 103.
  • the film substrate FB supplied with almost no distortion can be processed, and the processed film substrate FB can be accommodated.
  • the reader connection method is a reader connection method for connecting the leader member LDR to the flexible film F, and an alignment step for aligning the positions of the film F and the leader member LDR; Since the connection step for connecting the film F and the leader member LDR is included after the alignment step, the leader member LDR can be connected to the desired position of the film F with high accuracy.
  • the dimension of the leader member LDR is, for example, the X direction of the leader member LDR so as to be longer than the interval between the rollers RR adjacent to each other in the transport direction (X direction) among the rollers RR provided in the substrate processing unit 102. Can be set. As a result, the leader member LDR is transported in a state of being supported by at least two or more rollers RR, so that it can be transported more reliably.
  • the structure formed in this way is mentioned.
  • the length is equal to or longer than the distance L2 between the roller RR on the outlet side of each processing unit such as the partition wall forming unit 91 and the electrode forming unit 92 and the roller RR on the inlet side of the next processing unit. It doesn't matter.
  • the interval L1 between the inlet-side roller RR and the outlet-side roller RR in each processing unit or the outlet-side roller RR of each processing unit and the next processing unit can be made longer than, for example, when there is no leader member LDR.
  • the length of the reader member LDR in the transport direction in the present embodiment is not particularly limited.
  • the length in the transport direction of the droplet applying device 120, the interval in the transport direction of each processing unit, and the processing unit is exposed. In the case of an apparatus, it may be set to 30 cm or more in consideration of the width of the exposure field in the transport direction.
  • the partition formation unit 91 and the electrode formation unit 92 described above are delivered as separate apparatuses, and the substrate formation unit 102 is connected by connecting the partition formation unit 91 and the electrode formation unit 92.
  • the substrate processing apparatus 100 may have a bridge guide BG as an auxiliary part between the partition wall forming part 91 and the electrode forming part 92.
  • the arrangement height of the rollers RR (the height in the Z direction) on the outlet side of each processing unit and the arrangement height of the rollers RR on the inlet side of the next processing unit are as high as possible.
  • the thickness is preferably about 50 cm to 100 cm from the viewpoint of workability or visibility.
  • the dimension L3 of the leader member LDR in the X direction is based on the distance L1 between the inlet-side roller RR and the outlet-side roller RR in each processing unit such as the partition wall forming unit 91 and the electrode forming unit 92 of the substrate processing unit 102.
  • the slide claw mechanism 500 or the guide plate 501 may be provided as an auxiliary portion as shown in FIG.
  • the slide claw mechanism 500 is configured such that a claw member 500a having a protrusion that can be inserted into the opening 203 of the leader member LDR is movable in the X direction along the guide rail 500b.
  • the claw member 500a is movable in the ⁇ Z direction at the end portion on the downstream side in the movement direction, and the inserted protrusion can be extracted.
  • the guide plate 501 for example, as shown in FIG. 26, two (guide plates 501a and 501b) are provided upstream of each processing unit (here, the electrode forming unit 92 is illustrated).
  • One (guide plates 501c and 501d) is provided at both ends in the X direction, and two (guide plates 501e and 501f) are provided downstream of the electrode forming portion 92.
  • the dimension L3 of the leader member LDR in the X direction is the thermal transfer roller.
  • a guide plate 502, a loading roller 503, a Bernoulli pad 504, a cover member 505, or the like may be disposed as an auxiliary portion.
  • a loading roller 503a provided so as to be accessible to a roller RR arranged on the upstream side of the thermal transfer roller 115, and a thermal transfer roller 115 are provided so as to be accessible.
  • a loading roller 503c provided so as to be accessible to a roller RR disposed on the downstream side of the thermal transfer roller 115.
  • the Bernoulli pad 504 has, for example, a Bernoulli mechanism that generates negative pressure by moving the film substrate FB, and moves the film substrate FB closer to the Bernoulli pad 504 side. Since the negative pressure generating surface of the Bernoulli pad 504 is provided along the moving direction of the film substrate FB, the film substrate FB is prevented from being caught by the thermal transfer roller 115.
  • the cover member 505 is provided, for example, so as to open a region that contacts the fine imprint mold 111 in the thermal transfer roller 115 and to cover both ends of the film substrate FB in the X direction. For this reason, the film substrate FB moves along the outer surface of the thermal transfer roller 115.
  • the film substrate FB may be conveyed so as to be bent.
  • a guide plate 506a and an upstream roller 508 are disposed on the upstream side of the reservoir portion 510 that bends the film substrate FB, and a downstream roller is disposed on the downstream side of the reservoir portion 510.
  • 509 and guide plates 506b and 506c are arranged.
  • the bridge plate 507 is connected to the upstream roller 508.
  • the bridge plate 507 is a plate member that passes the film substrate FB between the upstream roller 508 and the downstream roller 509, for example.
  • a leader at the tip of the film substrate FB is provided via a bridge plate 507 as an auxiliary portion.
  • the member LDR is conveyed.
  • the bridge plate 507 is released as shown in FIG.
  • the gap between the upstream roller 508 and the upstream roller 508 is not supported, so that the film F of the film substrate FB that is subsequently conveyed bends along the shape of the pool portion 510. become.
  • the film F can be bent while preventing the leader member LDR from being bent in the accumulation portion 510.
  • the position reference portion 202 of the reader member LDR has been described by taking, for example, a configuration in which, for example, a mark is formed.
  • the present invention is not limited to this.
  • notches 520 and 530 are formed in a part of the leader member LDR, and the leader member LDR and the film F are aligned using the notches 520 and 530. It doesn't matter.
  • the notches 520 and 530 are provided at both ends (corner portions) in the Y direction of the connection portion (step portion 201) with the film F.
  • the notches 520 and 530 are formed so as to fit in the imaging regions 540 and 550 such as a CCD camera.
  • the notches 520 and 530 have sides 520a and 530a that are parallel to the X direction in the drawing, as shown in the enlarged portion of FIG.

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Abstract

 リーダ部材は、基板に接続される接続部と、少なくとも上記基板と上記接続部との間の位置合わせに用いられる位置基準部とを備える。

Description

リーダ部材、基板、基板カートリッジ、基板処理装置、リーダ接続方法、表示素子の製造方法及び表示素子の製造装置
 本発明は、リーダ部材、基板、基板カートリッジ、基板処理装置、リーダ接続方法、表示素子の製造方法及び表示素子の製造装置に関する。
 本願は、2009年11月19日に出願された特願2009-263752号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 ディスプレイ装置などの表示装置を構成する表示素子として、例えば有機エレクトロルミネッセンス(有機EL)素子が知られている。有機EL素子は、基板上に陽極及び陰極を有すると共に、これら陽極と陰極との間に挟まれた有機発光層を有する構成となっている。有機EL素子は、陽極から有機発光層へ正孔を注入して有機発光層において正孔と電子とを結合させ、当該結合時の発光光によって表示光が得られるようになっている。有機EL素子は、基板上に例えば陽極及び陰極に接続される電気回路などが形成されている。
 有機EL素子を作製する手法の1つとして、例えばロール・トゥー・ロール方式(以下、単に「ロール方式」と表記する)と呼ばれる手法が知られている(例えば、特許文献1参照)。ロール方式は、基板供給側のローラに巻かれた1枚のシート状の基板を送り出すと共に送り出された基板を基板回収側のローラで巻き取りながら基板を搬送し、基板が送り出されてから巻き取られるまでの間に、有機EL素子を構成する発光層や陽極、陰極、電気回路などを基板上に順次形成する手法である。
 特許文献1に記載の構成では、例えば基板送り出し用のローラ及び基板巻き取り用のローラが製造ラインに対して取り外し可能な構成になっている。取り外したローラは、例えば別の製造ラインに搬送され、当該別の製造ラインに取り付けて用いられることができるようになっている。当該構成においては、ローラと製造ラインとの間で基板の受け渡し、また、製造ライン内での基板の受け渡しが頻繁に行われることになる。
国際公開第2006/100868号パンフレット
 しかしながら、上記構成においては、例えばローラ・製造ライン間での搬送や、製造ライン内のローラ間の搬送などにおける対策がなされておらず、基板の搬送精度の観点で問題が生じる可能性がある。
 本発明の態様は、基板の搬送精度を向上させることを目的とする。
 本発明の第1の態様に従えば、基板に接続される接続部と、少なくとも上記基板と上記接続部との間の位置合わせに用いられる位置基準部とを備えるリーダ部材が提供される。
 本発明の第2の態様に従えば、所定方向に搬送される基板本体と、当該基板本体の端部に接続されるリーダとを備え、当該リーダとして、本発明のリーダ部材が用いられる基板が提供される。
 本発明の第3の態様に従えば、基板を収容するカートリッジ本体を備え、基板として、本発明の基板が収容される基板カートリッジが提供される。
 本発明の第4の態様に従えば、基板を処理する基板処理部と、当該基板処理部に基板を搬入する基板搬入部と、当該基板処理部から基板を搬出する基板搬出部とを備え、基板搬入部及び基板搬出部のうち少なくとも一方として、本発明の基板カートリッジが用いられる基板処理装置が提供される。
 本発明の第5の態様に従えば、基板にリーダ部材を接続させるリーダ接続方法であって、基板とリーダ部材との位置を合わせる位置合わせ工程と、当該位置合わせ工程の後、基板とリーダ部材とを接続する接続工程とを含むリーダ接続方法が提供される。
 本発明の第6の態様に従えば、基板処理部において基板を処理する工程と、本発明のリーダ部材を用いて当該基板処理部に当該基板を供給する工程と、を有する表示素子の製造方法が提供される。
 本発明の第7の態様に従えば、基板に接続される本発明のリーダ部材を搬送する搬送ユニットと、当該基板を処理する基板処理部と、を備える表示素子の製造装置が提供される。
 本発明の態様によれば、基板の搬送精度を向上させることができる。
本発明の実施の形態に係るリーダ部材の構成を示す平面図。 本実施形態に係るリーダ部材の構成を示す断面図。 本実施形態に係る基板カートリッジの構成を示す斜視図。 本実施形態に係る基板カートリッジの構成を示す断面図。 本実施形態に係る基板カートリッジの一部の構成を示す斜視図。 本実施形態に係る基板カートリッジの一部の構成を示す断面図。 本実施形態に係る基板処理装置によって形成される有機EL素子の構成図。 本実施形態に係る基板処理装置によって形成される有機EL素子の構成図。 本実施形態に係る基板処理装置によって形成される有機EL素子の構成図。 本実施形態に係る基板処理装置の構成を示す図。 本実施形態に係る基板処理部の構成を示す図。 本実施形態に係る液滴塗布装置の構成を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板FBの製造過程を示す図。 本実施形態に係る基板カートリッジの収容動作を示す図。 本実施形態に係る基板カートリッジの収容動作を示す図。 本実施形態に係る基板カートリッジの接続動作を示す図。 本実施形態に係る基板カートリッジの接続動作を示す図。 本実施形態に係る基板処理部の隔壁形成の工程を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板(シート基板)に形成される隔壁の形状及び配置を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板(シート基板)に形成される隔壁の断面図。 本実施形態に係る液滴の塗布動作を示す図。 本実施形態に係る液滴の塗布動作を示す図。 本実施形態に係る隔壁間に形成される薄膜の構成を示す図。 本実施形態に係る隔壁間に形成される薄膜の構成を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板(シート基板)にゲート絶縁層を形成する工程を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板(シート基板)の配線を切断する工程を示す図。 本実施形態に係るソースドレイン形成領域に薄膜を形成する工程を示す図。 本実施形態に係る有機半導体層を形成する工程を示す図。 本実施形態に係るアライメントの一例を示す図。 本実施形態に係る基板カートリッジの取り外し動作を示す図。 本実施形態に係る基板処理装置の他の構成を示す図。 本実施形態に係る基板処理装置の他の構成を示す図。 本実施形態に係る基板処理装置の他の構成を示す図。 本実施形態に係る基板処理装置の他の構成を示す図。 本実施形態に係るフィルム基板の他の構成を示す図。
 [第1実施形態]
 以下、図面を参照して、本発明の第1実施形態を説明する。
 (フィルム基板、リーダ部材)
 図1は、フィルム基板FBの構成を示す平面図である。図1はフィルム基板FBの平面構成を示す図、図2はフィルム基板FBの断面構成を示す図である。
 図1及び図2に示すように、フィルム基板(基板)FBは、リーダ部材(ヘッダ部材)LDR及びフィルム(基板本体)Fを有しており、リーダ部材LDRとフィルムFとが貼り付けられて接続された構成になっている。
 リーダ部材LDRは平面視で略矩形に形成されたシート状の部材である。リーダ部材LDRを構成する材料として、例えばステンレスやプラスチックなどが挙げられる。リーダ部材LDRの一辺(図中左側の辺)200aに沿った領域には、段部201が形成されている。段部201は、リーダ部材LDRの例えば一方の面(図2の下面)200bに形成されている。リーダ部材LDRのうち段部201の形成された部分は、他の部分よりも薄くなっている。
 フィルム基板FBは、リーダ部材LDRの段部201が例えば熱溶着によってあるいは接着剤を介してフィルムFの端部Faに貼り付けられた構成になっている。このように、リーダ部材LDRの段部201は可撓性を有するフィルムFに接続される接続部として用いられている。リーダ部材LDRは、辺200aの延在方向においてフィルムFからややはみ出すように貼り付けられている。このため、辺200aの延在方向において、フィルムFの端部の全体がリーダ部材LDRによって覆われることになる。
 本実施形態では、リーダ部材LDRの接続先のフィルムFとしては、例えば可撓性を有しロール状に巻かれて用いられる帯状のフィルムなどが挙げられる。このようなフィルムの構成材料としては、例えば耐熱性の樹脂フィルム、ステンレス鋼などを用いることができる。例えば、樹脂フィルムは、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリエステル樹脂、エチレンビニル共重合体樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、セルロース樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、酢酸ビニル樹脂、などの材料を用いることができる。フィルムFの短手方向(図1の上下方向)の寸法は例えば1m~2m程度に形成されており、長手方向(図1の左右方向)の寸法は例えば10m以上に形成されている。図1及び図2においては、フィルムFの長手方向の一端にリーダ部材LDRが接続された構成が示されているが、本実施形態では、実際にはフィルムFの長手方向の両端にそれぞれリーダ部材LDRが接続された構成になっている。なお、上述の寸法は一例に過ぎず、これに限られることは無い。例えばフィルム基板(シート基板)FBのY方向の寸法が50cm以下であっても構わないし、2m以上であっても構わない。また、フィルム基板(シート基板)FBのX方向の寸法が10m以下であっても構わない。また、本実施形態における可撓性とは、例えば基板に少なくとも自重程度の所定の力を加えても線断や破断することがなく、該基板を撓めることが可能な性質をいう。上記可撓性は、該基板の材質、大きさ、厚さ、又は温度などの環境、等に応じて変わる。
 フィルムFは、例えば200℃程度の熱を受けても寸法が変わらないように熱膨張係数が小さい方が好ましい。例えば、無機フィラーを樹脂フィルムに混合して熱膨張係数を小さくすることができる。無機フィラーの例としては、酸化チタン、酸化亜鉛、アルミナ、酸化ケイ素などが挙げられる。
 本実施形態に係るリーダ部材LDRは、フィルムFよりも剛性が高くなるように形成されている。このような構成の具体例として、例えばリーダ部材LDRの厚さをフィルムFの厚さよりも厚く形成する構成や、リーダ部材LDRの構成材料としてフィルムFの構成材料よりも剛性の高い材料を用いる構成などが挙げられる。本実施形態では、図2に示すように、リーダ部材LDRの厚さt1がフィルムFの厚さt2よりも厚くなるように形成されている。
 リーダ部材LDRの剛性をフィルムFの剛性よりも高くすることにより、例えばフィルムFの端部Faが支持されることになる。これにより、フィルムFを搬送したり、巻き取りあるいは送り出しを行ったりする場合など、フィルムFを取り扱う場合には、フィルムFの端部Faが折れ曲がりや変形などから保護されることになる。
 図2に示すように、段部201にフィルムFを貼り付けた状態においては、例えばフィルムFの図中下面(面Fc)とリーダ部材LDRの図中下面(面200b)とがほぼ面一状態となっている。このような構成を得るには、例えばフィルムFの厚さ(接着剤を用いる場合には更に接着剤の厚さ)t2を予め求めておき、当該厚さt2と段部201の高さとが等しくなるように当該段部201を形成すれば良い。本実施形態のようにリーダ部材LDRとフィルムFとがほぼ面一状態になっている構成では、例えばフィルム基板FBを平坦な台上に載置する場合には、隙間無く載置されることになる。
 図1に示すように、リーダ部材LDRのうち段部201の近傍には、フィルムFとの間で位置合わせの基準となる位置基準部202が設けられている。この位置基準部202は、本実施形態においては例えば矩形のマーク(図では3本のライン)として形成されている。位置基準部202は、例えばリーダ部材LDRのうち対向する辺200c及び辺200dの縁部分に1つずつ設けられている。
 この位置基準部202に対して、フィルムFには、フィルム側位置基準部Fdが形成されている。フィルム側位置基準部Fdは、例えば位置基準部202と同一のマーク(3本のラインのマーク)として形成されている。フィルム側位置基準部Fdは、例えばフィルムFの短手方向の両端に1つずつ設けられている。2つのフィルム側位置基準部Fd間の当該短手方向の距離は、同一方向についての2つの位置基準部202間の距離に等しくなっている。本実施形態では、リーダ部材LDRに設けられる位置基準部202の位置とフィルムFに設けられるフィルム側位置基準部Fdの位置とを合わせることで、リーダ部材LDRとフィルムFとの間で位置が合うようになっている。このため、リーダ部材LDRとフィルムFとの間の位置合わせは、高精度に行うことができる。
 リーダ部材LDRのうち例えば平面視で段部201から外れた位置には、複数の開口部203が設けられている。複数の開口部203は、段部201が形成された辺200aの延在方向と同一の方向に配置されている。複数の開口部203は、例えば一定の間隔を空けて配置されている。各開口部203には、例えばリーダ部材LDRを保持する搬送部材などの一部分が挿入されて掛かるようになっている。このため、リーダ部材LDRを容易に搬送することができるようになっている。なお、リーダ部材LDRを搬送しやすくする構成としては、複数の開口部203には限られず、開口部203が1つだけの構成であっても構わない。また、開口部203の形状としては、図1に示すような矩形に限られず、円形や三角形、多角形、その他の形状であっても構わない。また、開口部203を上記の位置基準部202として用いても構わない。
 また、リーダ部材LDRに開口部203を設ける構成に限られず、例えばリーダ部材LDRの表裏を貫通しないような凹部を設けた構成であっても構わない。凹部を形成した場合においても、搬送部材などの一部分を掛けることができる構成となる。また、リーダ部材LDRのうち段部201が形成された辺200aを除く辺に切り欠き部を形成する構成としても構わない。この場合であっても、当該切り欠き部に搬送部材などの一部分を掛けることができる構成となる。
 リーダ部材LDRのうち例えば位置基準部202と開口部203との間の領域には、情報保持部204が設けられている。情報保持部204には、例えば図1に示すような1次元のバーコードパターンなどが形成されている。バーコードパターンは、例えば外部のバーコード検出装置などによって検出可能なパターンである。バーコードパターンに含まれる情報としては、例えば、リーダ部材LDRのID、又は、リーダ部材LDRの接続先のフィルムFに関する情報(例、フィルムFに対する加工情報、フィルムFの長さ、フィルムFの材質などの諸元値、など)などが挙げられる。本実施形態では、例えば情報保持部204がリーダ部材LDRのうち対向する辺200c及び辺200dのそれぞれの縁部分に設けられているが、これに限られることは無く、例えばリーダ部材LDRの他の位置(例えば中央部など)に情報保持部204が形成されている構成としても構わない。また、情報保持部204は、図1に示すような1次元のバーコードパターンを有する構成に限られず、例えば2次元バーコードパターンを有する構成であっても構わないし、ICタグなどを埋め込んだ構成や、記憶素子のパターンが形成された構成であっても構わない。また、情報保持部204が2箇所に設けられた構成に限られず、例えば情報保持部204が1箇所又は3箇所以上に設けられている構成であっても構わない。
 (基板カートリッジ)
 次に、上記のフィルム基板FBを収容する基板カートリッジの構成を説明する。以下の説明においては、説明の便宜上、XYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。
 図3は、本実施形態に掛かる基板カートリッジ1の構成を示す斜視図である。図4は、図3におけるA-A’断面に沿った構成を示す図である。図3及び図4に示すように、基板カートリッジ1は、カートリッジ本体2及びマウント部3を有している。
 カートリッジ本体2は、フィルム基板FBを収容する部分である。図4に示すように、カートリッジ本体2は、収容部20、基板搬送部(搬送機構)21、基板案内部22、第2基板搬送部36及び第2基板案内部37を有している。また、上記のマウント部3は、カートリッジ本体2に設けられている。また、例えば、カートリッジ本体2は、アルミニウム製又はジュラルミン製、等である。
 図3及び図4に示すように、収容部20は、フィルム基板FBを収容する部分である。収容部20は、例えばロール状に巻き取られたフィルム基板FBを収容できるように円筒状に形成されており、一部が+X側に突出するように設けられている(突出部23)。本実施形態では、図中Y方向に延在する状態で配置されている。収容部20は、蓋部25及び基板駆動機構24を有している。
 蓋部25は、収容部20の+Y側端部あるいは-Y側端部に設けられている。蓋部25は収容部20に対して着脱可能に設けられている。蓋部25を収容部20に対して着脱させることにより、収容部20の内部に直接アクセスできるようになっている。蓋部25の開閉機構としては、例えば蓋部25及び収容部20に互いに係合するネジ山が設けられている構成であっても構わないし、蓋部25と収容部20とをヒンジ機構によって接続する構成としても構わない。
 基板駆動機構24は、フィルム基板FBを巻き取る動作及びフィルム基板FBを送り出す動作を行う部分である。基板駆動機構24は、収容部20の内部に設けられている。基板駆動機構24は、ローラ部(軸部)26及びガイド部27を有している。ローラ部26は、図4に示すように、回転軸部材26a、拡径部26b及び円筒部26cを有している。
 回転軸部材26aは、例えばアルミなどの剛性の高い金属によって形成された円柱状部材である。回転軸部材26aは、例えば蓋部25の中央部に設けられた開口部25a及びベアリング部材25bを介して回転可能に支持されている。この場合、回転軸部材26aの中心軸は例えばY方向に平行な状態となり、回転軸部材26aはθY方向に回転することになる。
 回転軸部材26aは、不図示の回転駆動機構に接続されている。回転駆動機構の駆動制御により、回転軸部材26aが中心軸を中心として回転するようになっている。回転駆動機構は、図4に示すように、回転軸部材26aを例えば+θY方向及び-θY方向のいずれの方向にも回転させることができるようになっている。
 拡径部26bは、回転軸部材26aの表面に均一な厚さで形成されている。拡径部26bは、回転軸部材26aと一体的に回転するように形成されている。円筒部26cは、断面視で拡径部26bの表面に均一な厚さで形成されている。円筒部26cは、拡径部26bの周囲を覆うように接着されている。したがって、円筒部26cは、回転軸部材26a及び拡径部26bと共に一体的に回転するようになっている。
 図5Aはローラ部26の構成を示す斜視図であり、図5Bはローラ部26の構成を拡大して示す断面図である。図5A及び図5Bに示すように、円筒部26cは、内径部分に凹部26eを有している。凹部26eは、例えば円筒部26cの回転軸方向(図中Y方向)の一端から他端にかけて当該回転軸方向に沿って形成されている。円筒部26cのうち凹部26eが設けられている部分の外面側には、開口部26dが設けられている。開口部26dは、回転軸方向に沿って複数配置されている。本実施形態では、開口部26dは、例えばフィルム基板FBのリーダ部材LDRに設けられる開口部203に対応する位置に設けられている。開口部26dの個数はリーダ部材LDRの開口部203の個数に一致するように設けられることが好ましいが、開口部203の個数に一致させない構成としても勿論構わない。
 凹部26eには、リーダ部材LDRの当該開口部203に挿入させて係合させる係合機構28が設けられている。係合機構28は、爪部材28a及び押圧部材28bを有している。爪部材28aは、開口部26dに対して挿脱可能に設けられている。押圧部材28bは、爪部材28aを開口部26dから円筒部26cの外面上に突出させるように当該爪部材28aを押圧する弾性部材である。押圧部材28bは、爪部材28aに内径側に力を作用させることで弾性変形するようになっている。爪部材28aは、当該押圧部材28bの弾性変形によって開口部26d内に収容されるようになっている。
 本実施形態では、フィルム基板FBを巻きつけてない場合、爪部材28aは押圧部材28bによって円筒部26cの外面上に突出した状態になっている。円筒部26cは、フィルム基板FBを接着させる程度の粘着性を有する材料を用いて形成されている。
 また、図4に示すように、ガイド部27は、回動部材(第1案内部材)27a及び先端部材(第1案内部材)27bを有している。回動部材27aは、例えば一端が軸部27cを介して収容部20に取り付けられており、当該軸部27cを中心にθY方向に回動可能に設けられている。回動部材27aは、不図示の回転駆動機構に接続されている。
 先端部材27bは、断面視において回動部材27aの他端に接続されている。先端部材27bは、断面視で円弧状の曲面を有するように形成されている。フィルム基板FBは、先端部材27bに設けられた当該断面視円弧状の+Z側の曲面を介してローラ部26へと案内されるようになっている。先端部材27bは、回動部材27aと一体的に回動するようになっている。例えば回動部材27aがローラ部26から遠ざかる方向(ローラ部26の径方向の外側方向)に回動する場合、収容部20の内周に沿って当接するようになっている。このため、先端部材27bとローラ部26に巻き取られたフィルム基板FBとの間の接触が回避されるようになっている。
 マウント部3は、基板処理部102に接続される部分である。マウント部3は、例えば収容部20に設けられる突出部23の+X側端部に設けられている。マウント部3は、基板処理部102との接続のための挿入部3aを有している。基板カートリッジ1が基板供給部101として用いられる場合、マウント部3は基板処理部102の供給側接続部102Aに接続される。基板カートリッジ1が基板回収部103として用いられる場合、マウント部3は基板処理部102の回収側接続部102Bに接続される。マウント部3は、基板処理部102の基板供給部101及び基板回収部103のいずれに接続される場合においても、着脱可能に接続されるようになっている。
 マウント部3には、開口部34及び第2開口部35が設けられている。開口部34は、+Z側に設けられた開口部であり、カートリッジ本体2との間でフィルム基板FBが出し入れされる部分である。カートリッジ本体2には、当該開口部34を介したフィルム基板FBが収容されるようになっている。カートリッジ本体2に収容されるフィルム基板FBは、当該開口部34を介してカートリッジ本体2外部に送り出されるようになっている。
 第2開口部35は、-Z側に設けられた開口部であり、カートリッジ本体2との間でフィルム基板FBとは異なる帯状の第2基板SBが出し入れされる部分である。このような第2基板SBとしては、例えばフィルム基板FBの素子形成面を保護する保護基板などが挙げられる。保護基板としては、例えば合紙などを用いることができる。第2開口部35は、例えば開口部34に対して間隔を空けて配置されている。第2開口部35は、例えば開口部34と同一の寸法及び形状に形成されている。また、本実施形態における第2基板SBとしては、ステンレス鋼の薄板(例、厚さが0.1mm以下等)などの導電性を有する材質を用いてもよい。この場合、第2基板SBがカートリッジ本体2にフィルム基板(シート基板)FBとともに収容された際に、第2基板SBがカートリッジ本体2に電気的に接続されるようにすると、フィルム基板(シート基板)FBの帯電防止ができる。
 図4に示すように、基板搬送部21、基板案内部22、第2基板搬送部36及び第2基板案内部37は、例えば突出部23の内部に設けられている。基板案内部22は、開口部34と基板搬送部21との間に設けられている。基板案内部22は、開口部34と基板搬送部21との間でフィルム基板FBを案内する部分である。基板案内部22は、基板用案内部材22a及び22bを有している。基板用案内部材22a及び22bは、Z方向に隙間22cを空けるように対向配置されており、対向面がそれぞれXY平面にほぼ平行となるように設けられている。当該隙間22cは開口部34に接続されており、フィルム基板FBは開口部34及び隙間22cを移動するようになっている。
 第2基板案内部37は、マウント部3と基板搬送部21との間で第2基板SBを案内する部分である。第2基板案内部37は、第2基板用案内部材37a、37b及び37cを有している。第2基板用案内部材37a及び37bは、Z方向に隙間37dを空けるように対向配置されており、対向面がそれぞれXY平面にほぼ平行となるように設けられている。第2基板用案内部材37cは、第2基板SBが+Z側へ案内されるように傾いて配置されている。具体的には、第2基板用案内部材37cの-X側端部が+X側端部に対して+Z側に傾いた状態で配置されている。
 第2基板搬送部36は、マウント部3と基板搬送部21との間で第2基板SBを搬送する。第2基板搬送部36は、第2基板用案内部材37a及び37bと、第2基板用案内部材37cとの間に配置されている。第2基板搬送部36は、主動ローラ36a及び従動ローラ36bを有している。主動ローラ36aは、例えばθY方向に回転可能に設けられており、不図示の回転駆動機構に接続されている。従動ローラ36bは、主動ローラ36aとの間で第2基板SBが挟持されるように主動ローラ36aとの間に隙間を空けて配置されている。
 基板搬送部21は、マウント部3と収容部20との間でフィルム基板FB及び第2基板SBを搬送する。基板搬送部21は、テンションローラ(テンション機構)21a及び測定ローラ(測定部)21bを有している。テンションローラ21aは、ローラ部26との間でフィルム基板FB及び第2基板に張力を与えるローラである。テンションローラ21aは、θY方向に回転可能に設けられている。テンションローラ21aには、例えば不図示の回転駆動機構が接続されている。なお、テンションローラ21a及び測定ローラ21bは、図4におけるZ方向にそれぞれ移動可能に設けられてもよい。
 測定ローラ21bは、テンションローラ21aよりも小さい径を有するローラである。測定ローラ21bは、テンションローラ21aとの間でフィルム基板FB及び第2基板SBを挟持できるようにテンションローラ21aとの間に所定の隙間を空けて配置されている。フィルム基板FBのみを挟持する場合とフィルム基板FB及び第2基板SBを併せて挟持するように、測定ローラ21bとテンションローラ21aとの間の隙間の大きさを調整可能とする構成であっても構わない。測定ローラ21bは、テンションローラ21aの回転に伴って回転する従動ローラである。
 テンションローラ21aと測定ローラ21bとの間でフィルム基板FBを挟んだ状態でテンションローラ21aを回転させることにより、フィルム基板FBに張力を与えつつ、当該フィルム基板FBの巻き取り方向及び送り出し方向にそれぞれフィルム基板FBを搬送可能になっている。
 基板搬送部21は、例えば測定ローラ21bの回転数や回転角度を検出する検出部21cを有している。当該検出部21cとしては、例えばエンコーダなどが用いられる。当該検出部21cにより、例えば測定ローラ21bを介したフィルム基板FBの搬送距離などを計測することができるようになっている。
 例えば開口部34を介してフィルム基板FBが挿入され、第2開口部35を介して第2基板SBが挿入される場合、フィルム基板FB及び第2基板SBは、それぞれ基板案内部22及び第2基板案内部37で案内されることにより、合流部39において合流するようになっている。合流部39で合流したフィルム基板FB及び第2基板SBは、合流した状態で基板搬送部21によって搬送される。このとき、基板搬送部21は、フィルム基板FBと第2基板SBとを押圧して密着させる。このため、基板搬送部21は、第2基板SBをフィルム基板FBへ押圧する押圧機構を兼ねることになる。
 (有機EL素子、基板処理装置)
 次に、上記のフィルム基板FBを用いて製造される素子の例として、有機EL素子の構成を説明する。図6Aは、有機EL素子の構成を示す平面図である。図6Bは、図6AにおけるB-B´断面図である。図6Cは、図6AにおけるC-C´断面図である。
 図6A~図6Bに示すように、有機EL素子50は、フィルム基板FBにゲート電極G及びゲート絶縁層Iが形成され、さらにソース電極S、ドレイン電極D及び画素電極Pが形成された後、有機半導体層OSが形成されたボトムコンタクト型である。
 図6Bに示すように、ゲート電極G上にゲート絶縁層Iが形成されている。ゲート絶縁層I上にはソースバスラインSBLのソース電極Sが形成されると共に、画素電極Pと接続したドレイン電極Dが形成されている。ソース電極Sとドレイン電極Dとの間には有機半導体層OSが形成されている。これで電界効果型トランジスタが完成することになる。また、画素電極Pの上には、図6B及び図6Cに示すように、発光層IRが形成され、その発光層IRには透明電極ITOが形成される。
 図6B及び図6Cから理解されるように、フィルム基板FBには隔壁BA(バンク層)が形成されている。そして図6Cに示すようにソースバスラインSBLが隔壁BA間に形成されている。このように、隔壁BAが存在することにより、ソースバスラインSBLが高精度に形成されると共に、画素電極P及び発光層IRも正確に形成されている。なお、図6B及び図6Cでは示されていないが、ゲートバスラインGBLもソースバスラインSBLと同様に隔壁BA間に形成されている。
 この有機EL素子50は、例えばディスプレイ装置などの表示装置をはじめ、電子機器の表示部などにも好適に用いられる。この場合、例えば有機EL素子50をパネル状に形成したものが用いられる。このような有機EL素子50の製造においては、薄膜トランジスタ(TFT)、画素電極が形成された基板を形成する必要がある。その基板上の画素電極上に発光層を含む1以上の有機化合物層(発光素子層)を精度良く形成するために、画素電極の境界領域に隔壁BA(バンク層)を容易に精度良く形成する必要がある。
 図7は、基板処理装置100の構成を示す概略図である。
 基板処理装置100は、上記のフィルム基板FBを用いて図6A-図6Cに示す有機EL素子50を形成する装置である。図7に示すように、基板処理装置100は、基板供給部101、基板処理部102、基板回収部103及び制御部104を有している。フィルムFにリーダ部材LDRが接続されたフィルム基板FBは、基板供給部101から基板処理部102を経て基板回収部103へと自動的に搬送されるようになっている。また、該フィルム基板FBは、例えば基板処理装置100の各処理部(例、電極形成部92、発光層形成部93、等)の間を自動的に搬送されるようになっている。基板処理装置100は、フィルム基板FBのリーダ部材LDRを用いることによって、高精度に又は容易にフィルム基板FBを搬送することができる。制御部104は、基板処理装置100の動作を統括的に制御する。
 以下の説明においては、図3から図5Bで用いたXYZ直交座標系と共通の座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。なお、XYZ直交座標系は、水平面内のうちフィルム基板FBの搬送方向がX軸方向、水平面内においてX軸方向と直交する方向がY軸方向、X軸方向及びY軸方向のそれぞれと直交する方向(すなわち鉛直方向)がZ軸方向となる。また、X軸、Y軸、及びZ軸まわりの回転(傾斜)方向はそれぞれ、θX、θY、及びθZ方向となる。
 基板供給部101は、基板処理部102に設けられる供給側接続部102Aに接続されている。基板供給部101は、例えばロール状に巻かれたフィルム基板FBを基板処理部102へ供給する。基板回収部103は、基板処理部102において処理された後のフィルム基板FBを回収する。基板供給部101及び基板回収部103として、例えば上記の基板カートリッジ1が用いられる。
 図8は、基板処理部102の構成を示す図である。
 図8に示すように、基板処理部102は、搬送ユニット105、素子形成部106、アライメント部107、基板切断部108、リーダ部材貼付装置300及び情報検出装置400を有している。基板処理部102は、基板供給部101から供給されるフィルム基板FBを搬送しつつ、当該フィルム基板FBに上記の有機EL素子50の各構成要素を形成し、有機EL素子50が形成されたフィルム基板FBを基板回収部103へと送り出す部分である。
 搬送ユニット105は、X方向に沿った位置に配置される複数のローラRR(搬送部)を有している。ローラRRが回転することによっても、フィルム基板FBがX軸方向に搬送されるようになっている。ローラRRはフィルム基板FBを両面から挟み込むゴムローラであってもよいし、フィルム基板FBがパーフォレーションを有するものであればラチェット付きのローラRRであってもよい。これらのローラRRのうちの一部のローラRRは搬送方向と直交するY軸方向に移動可能である。なお、搬送ユニット105は、ローラRRに限定されず、例えば、少なくともリーダ部材LDRをエア吸着可能な複数のベルトコンベア(搬送部)を有する構成であってもよい。
 素子形成部106は、隔壁形成部91、電極形成部92及び発光層形成部93を有している。隔壁形成部91、電極形成部92及び発光層形成部93は、フィルム基板FBの搬送方向の上流側から下流側にかけてこの順に配置されている。以下、素子形成部106の各構成を順に説明する。
 隔壁形成部91は、インプリントローラ110及び熱転写ローラ115を有している。隔壁形成部91は、基板供給部101から送り出されたフィルム基板FBに対して隔壁BAを形成する。隔壁形成部91では、インプリントローラ110でフィルム基板FBを押圧するとともに、押圧した隔壁BAが形状を保つように熱転写ローラ115でフィルム基板FBをガラス転移点以上に熱する。このため、インプリントローラ110のローラ表面に形成された型形状がフィルム基板FBに転写されるようになっている。フィルム基板FBは、熱転写ローラ115によって例えば200℃程度に加熱されるようになっている。なお、インプリントローラ110及び熱転写ローラ115は、上述の搬送ユニット105の搬送部としての機能を有するようにしてもよい。また、上述の搬送部は、リーダ部材LDRの搬送方向の長さに応じて、少なくともリーダ部材LDRの搬送方向(X方向)に移動可能に構成されてもよい。
 インプリントローラ110のローラ表面は鏡面仕上げされており、そのローラ表面にSiC、Taなどの材料で構成された微細インプリント用モールド111が取り付けられている。微細インプリント用モールド111は、薄膜トランジスタの配線用のスタンパー及びカラーフィルタ用のスタンパーを形成している。
 インプリントローラ110は、微細インプリント用モールド111を用いて、フィルム基板FBにアライメントマークAMを形成する。フィルム基板FBの幅方向であるY軸方向の両側にアライメントマークAMを形成するため、微細インプリント用モールド111は、アライメントマークAM用のスタンパーを有している。
 電極形成部92は、隔壁形成部91の+X側に設けられており、例えば有機半導体を用いた薄膜トランジスタを形成する。具体的には、図6A-図6Cで示すようなゲート電極G、ゲート絶縁層I、ソース電極S、ドレイン電極D及び画素電極Pを形成した後、有機半導体層OSを形成する。
 薄膜トランジスタ(TFT)としては、無機半導体系のものでも有機半導体を用いたものでも良い。無機半導体の薄膜トランジスタは、アモルファスシリコン系のものが知られているが、有機半導体を用いた薄膜トランジスタであってもよい。この有機半導体を用いて薄膜トランジスタを構成すれば、印刷技術や液滴塗布法技術を活用して薄膜トランジスタを形成できる。また、有機半導体を用いた薄膜トランジスタの内、図6A-図6Cで示したような電界効果型トランジスタ(FET)が特に好ましい。
 電極形成部92は、液滴塗布装置120や熱処理装置BK、切断装置130などを有している。
 本実施形態では、液滴塗布装置120として、例えばゲート電極Gを形成する際に用いられる液滴塗布装置120G、ゲート絶縁層Iを形成する際に用いられる液滴塗布装置120I、ソース電極S、ドレイン電極D及び画素電極Pを形成する際に用いられる液滴塗布装置120SD、有機半導体OSを形成する際に用いられる液滴塗布装置120OSなどが用いられている。
 図9は、液滴塗布装置120の構成を示す平面図である。図9では、液滴塗布装置120を+Z側から見たときの構成を示している。液滴塗布装置120は、Y軸方向に長く形成されている。液滴塗布装置120には不図示の駆動装置が設けられている。液滴塗布装置120は、当該駆動装置により、例えばX方向、Y方向及びθZ方向に移動可能になっている。
 液滴塗布装置120には、複数のノズル122が形成されている。ノズル122は、液滴塗布装置120のうちフィルム基板FBとの対向面に設けられている。ノズル122は、例えばY軸方向に沿って配列されており、当該ノズル122の列(ノズル列)が例えば2列形成されている。制御部104は、全ノズル122に一括して液滴を塗布させることもできるし、各ノズル122について液滴を塗布させるタイミングを個別に調整することもできるようになっている。
 液滴塗布装置120としては、例えばインクジェット方式やディスペンサー方式などを採用することができる。インクジェット方式としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気機械変換式、電気熱変換方式、静電吸引方式などが挙げられる。液滴塗布法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できる。なお、液滴塗布法により塗布されるメタルインクの一滴の量は、例えば1~300ナノグラムである。
 また、図8に示すように、液滴塗布装置120Gは、ゲートバスラインGBLの隔壁BA内にメタルインクを塗布する。液滴塗布装置120Iは、スイッチング部にポリイミド系樹脂又はウレタン系樹脂の電気絶縁性インクを塗布する。液滴塗布装置120SDは、ソースバスラインSBLの隔壁BA内及び画素電極Pの隔壁BA内にメタルインクを塗布する。液滴塗布装置120OSは、ソース電極Sとドレイン電極Dとの間のスイッチング部に有機半導体インクを塗布する。
 メタルインクは、粒子径が約5nmほどの導電体が室温の溶媒中で安定して分散をする液体であり、導電体として、カーボン、銀(Ag)又は金(Au)などが用いられる。有機半導体インクを形成する化合物は、単結晶材科でもアモルファス材料でもよく、低分子でも高分子でもよい。有機半導体インクを形成する化合物のうち特に好ましいものとしては、ペンタセンやトリフェニレン、アントラセン等に代表される縮環系芳香族炭化水素化合物の単結晶又はπ共役系高分子などが挙げられる。
 熱処理装置BKは、各液滴塗布装置120の+X側(基板搬送方向下流側)にそれぞれ配置されている。熱処理装置BKは、フィルム基板FBに対して例えば熱風や遠赤外線などを放射可能になっている。熱処理装置BKは、これらの放射熱を用いて、フィルム基板FBに塗布された液滴を乾燥又は焼成(ベーキング)し硬化させる。
 切断装置130は、液滴塗布装置120SDの+X側であって液滴塗布装置120OSの上流側に設けられている。切断装置130は、例えばレーザ光などを用いて、液滴塗布装置120SDによって形成されるソース電極Sとドレイン電極Dとを切断する。切断装置130は、不図示の光源と、当該光源からのレーザ光をフィルム基板FB上に照射させるガルバノミラー131とを有している。
 レーザ光の種類としては、切断する金属膜に対し、吸収する波長のレーザが好ましく、波長変換レーザで、YAGなどの2,3,4倍高調波がよい。またパルス型レーザを用いることで熱拡散を防止し、切断部以外の損傷を低減することができる。材料がアルミの場合、760nm波長のフェムト秒レーザが好ましい。
 本実施形態では、例えば光源としてチタンサファイアレーザを使ったフェムト秒レーザ照射部を用いている。当該フェムト秒レーザ照射部は、レーザ光LLを例えば10KHzから40KHzのパルスで照射するようになっている。
 本実施形態ではフェムト秒レーザを使用するため、サブミクロンオーダの加工が可能であり、電界効果型トランジスタの性能を決めるソース電極Sとドレイン電極Dと間隔を正確に切断することができるようになっている。ソース電極Sとドレイン電極Dと間隔は、例えば3μm程度から30μm程度である。
 上述したフェムト秒レーザ以外にも、例えば炭酸ガスレーザ又はグリーンレーザなどを使用することも可能である。また、レーザ以外にもダイシングソーなどで機械的に切断する構成としてもよい。
 ガルバノミラー131は、レーザ光LLの光路に配置されている。ガルバノミラー131は、光源からのレーザ光LLをフィルム基板FB上に反射させる。ガルバノミラー131は、例えばθX方向、θY方向及びθZ方向に回転可能に設けられている。ガルバノミラー131が回転することにより、レーザ光LLの照射位置が変化するようになっている。
 上記の隔壁形成部91及び電極形成部92の両方を用いることにより、いわゆるフォトリソグラフィ工程を使用しなくても、印刷技術や液滴塗布法技術を活用して薄膜トランジスタ等を形成できるようになっている。例えば印刷技術や液滴塗布法技術などが用いられる電極形成部92のみを用いた場合、インクのにじみや広がりのため精度よく薄膜トランジスタ等ができない場合がある。
 これに対して、隔壁形成部91を用いることで隔壁BAが形成されるため、インクのにじみや広がりが防止されるようになっている。また薄膜トランジスタの性能を決めるソース電極Sとドレイン電極Dとの間隔は、レーザ加工又は機械加工により形成されるようになっている。
 発光層形成部93は、電極形成部92の+X側に配置されている。発光層形成部93は、電極が形成されたフィルム基板FB上に、例えば有機EL装置の構成要素である発光層IRや透明電極ITOなどを形成する。発光層形成部93は、液滴塗布装置140及び熱処理装置BKを有している。
 発光層形成部93で形成される発光層IRは、ホスト化合物とリン光性化合物(リン光発光性化合物ともいう)が含有される。ホスト化合物とは、発光層に含有される化合物である。リン光性化合物は、励起三重項からの発光が観測される化合物であり、室温においてリン光発光する。
 本実施形態では、液滴塗布装置140として、例えば赤色発光層を形成する液滴塗布装置140Re、緑色発光層を形成する液滴塗布装置140Gr、青色発光層を形成する液滴塗布装置140Bl、絶縁層を形成する液滴塗布装置140I及び透明電極ITOを形成する液滴塗布装置140ITなどが用いられている。
 液滴塗布装置140としては、上記の液滴塗布装置120と同様、インクジェット方式又はディスペンサー方式を採用することができる。有機EL素子50の構成要素として例えば正孔輸送層及び電子輸送層などを設ける場合には、これらの層を形成する装置(例えば、液滴塗布装置など)を別途設けるようにする。
 液滴塗布装置140Reは、R溶液を画素電極P上に塗布する。液滴塗布装置140Reは、乾燥後の膜厚が100nmになるようにR溶液の吐出量が調整されるようになっている。R溶液としては、例えばホスト材のポリビニルカルバゾール(PVK)に赤ドーパント材を1、2-ジクロロエタン中に溶解した溶液が用いられる。
 液滴塗布装置140Grは、G溶液を画素電極P上に塗布する。G溶液としては、例えばホスト材PVKに緑ドーパント材を1、2-ジクロロエタン中に溶解した溶液が用いられる。
 液滴塗布装置140Blは、B溶液を画素電極P上に塗布する。B溶液としては、例えばホスト材PVKに青ドーパント材を1、2-ジクロロエタン中に溶解した溶液が用いられる。
 液滴塗布装置120Iは、ゲートバスラインGBL又はソースバスラインSBLの一部に電気絶縁性インクを塗布する。電気絶縁性インクとしては、例えばポリイミド系樹脂又はウレタン系樹脂のインクが用いられる。
 液滴塗布装置120ITは、赤色、緑色及び青色発光層の上にITO(Indium Tin Oxide:インジウムスズ酸化物)インクを塗布する。ITOインクとしては、酸化インジウム(In)に数%の酸化スズ(SnO)を添加した化合物などが用いられる。また、IDIXO(In-ZnO)等非晶質で透明導電膜を作製可能な材料を用いてもよい。透明導電膜は、透過率が90%以上であることが好ましい。
 熱処理装置BKは、各液滴塗布装置140の+X側(基板搬送方向下流側)にそれぞれ配置されている。熱処理装置BKは、電極形成部92で用いられる熱処理装置BKと同様、フィルム基板FBに対して例えば熱風や遠赤外線などを放射可能になっている。熱処理装置BKは、これらの放射熱を用いて、フィルム基板FBに塗布された液滴を乾燥又は焼成(ベーキング)し硬化させる。
 アライメント部107は、X方向に沿って設けられた複数のアライメントカメラCA(CA1~CA8)を有している。アライメントカメラCAは、可視光照明下でCCD又はCMOSで撮像し、その撮像画像を処理してアライメントマークAMの位置を検出してもよいし、レーザ光をアライメントマークAMに照射して、その散乱光を受光してもアライメントマークAMの位置を検出しても良い。
 アライメントカメラCA1は、熱転写ローラ115の+X側に配置されている。アライメントカメラCA1は、フィルム基板FB上に熱転写ローラ115によって形成されるアライメントマークAMの位置を検出する。アライメントカメラCA2~CA8は、それぞれ熱処理装置BKの+X側に配置されている。アライメントカメラCA2~CA8は、熱処理装置BKを経たフィルム基板FBのアライメントマークAMの位置を検出する。
 熱転写ローラ115及び熱処理装置BKを経ることにより、フィルム基板FBがX軸方向及びY軸方向に伸縮したりする場合がある。このように熱処理を行う熱転写ローラ115の+X側や、熱処理装置BKの+X側にアライメントカメラCAを配置することにより、熱変形などによるフィルム基板FBの位置ずれを検出することができるようになっている。
 アライメントカメラCA1~CA8による検出結果は、制御部104に送信されるようになっている。制御部104は、アライメントカメラCA1~CA8の検出結果に基づいて、例えば液滴塗布装置120や液滴塗布装置140のインクの塗布位置とタイミングの調整、基板供給部101からのフィルム基板FBの供給速度やローラRRの搬送速度の調整、ローラRRによるY方向への移動の調整、切断装置130の切断位置やタイミングなどの調整が行われるようになっている。
 リーダ部材貼付装置300は、例えば、フィルム基板FBのフィルムFを切断し、切断部分にリーダ部材LDRを貼り付ける装置である。リーダ部材貼付装置300は、基板処理部102内に1つ又は複数設けられている。本実施形態では、隔壁形成部91と電極形成部92との間に1つ、電極形成部92と発光層形成部93との間に1つ、計2つ設けられている。
 リーダ部材貼付装置300は、例えばフィルムFを切断する切断部や、フィルムFにフィルム側位置基準部Fdを形成する位置基準形成部、リーダ部材LDRの位置基準部とフィルムFのフィルム側位置基準部Fdとの位置合わせを行う位置合わせ部などを有している。
 情報検出装置400は、例えば上記リーダ部材LDRの情報保持部204に保持された情報を検出する装置である。情報検出装置400によって検出された情報は、例えば制御部104に供給されるようになっている。情報検出装置400は、例えば基板処理部102のうち隔壁形成部91の上流側に設けられている。情報検出装置400を隔壁形成部91の上流側に配置することにより、基板処理部102のフィルム基板FBに対する実質的に最初の処理となる隔壁形成処理に先立って当該フィルム基板FBに関する情報が基板処理部102(又は制御部104)に供給されることになる。基板処理部102においては、当該情報をもとにして隔壁形成処理のような各処理を行うことができるため、フィルム基板FBの情報に応じた最適な処理が行われることとなる。なお、情報検出装置400の配置される箇所については、隔壁形成部91の上流側に限定されることは無く、情報保持部204に保持される情報を読み取り可能な位置であれば基板処理部102内のどの位置であっても構わない。情報保持部204に保持される情報を基板処理部102内での処理に活用する場合には、基板処理部102のより上流側に設けられることが好ましい。なお、本実施形態において、リーダ部材貼付装置300は、隔壁形成部91より上流の工程に配置され、フィルム基板FBの所定部分にリーダ部材LDRを貼り付ける装置であってもよい。
 本実施形態では、例えば情報保持部204として一次元バーコードが形成されている場合には、情報検出装置400としては一次元バーコード読取装置を用いるようにする。また、情報保持部204として二次元バーコードが形成されている場合には、情報検出装置400としては二次元バーコードの読取装置を用いるようにする。同様に、情報保持部204としてICタグや記憶素子のパターンが形成されている場合には、情報検出装置400としてはこれらに保持される情報を読み取り可能な装置を用いるようにする。勿論、情報検出装置400として、上記に掲げた種類の少なくとも一部を含む複数種類の情報を読み取り可能な機能を有する装置を用いても構わない。
 (フィルム基板の製造動作)
 次に、上記のフィルム基板FBを製造する工程を説明する。図10(a)~図10(d)は、フィルム基板FBの製造工程を示す図である。フィルム基板FBの製造は、例えば上記のリーダ部材貼付装置300と同様の構成を有する装置によって行われる。リーダ部材LDRの貼付は、例えば不図示のステージ上で行われる。図10(a)~図10(c)に示す破線部分は、リーダ部材LDRの貼付予定位置である。
 まず、図10(a)に示すように、例えば搬送ローラ210などによって、リーダ部材LDRの貼付予定位置を通り過ぎるようにフィルムFを配置させる。図10(a)では、例えば図中右側から左側にフィルムFを搬送する例を示しているが、搬送方向についてはこの逆であっても構わない。
 次に、図10(b)に示すように、フィルムFのうちリーダ部材LDRの貼付予定位置の搬送方向上流側を切断し、搬送ローラ210側の切片にフィルム側位置基準部Fdを形成した後、当該フィルムFの端部Faを当該搬送ローラ210側に搬送する。また、フィルムFから切り離された切片F0については、例えば切断されたときの位置に固定させておく。
 次に、図10(c)に示すように、フィルムFの端部Faを接続位置に配置させる。この接続位置は、例えばリーダ部材LDRの貼付予定位置の段部201に対応する位置とする。フィルムFの配置時には、例えばフィルムFに形成されたフィルム側位置基準部FdをアライメントカメラCA300などによって検出しながら位置を調整するようにしても構わない。
 次に、図10(d)に示すように、フィルムFとリーダ部材LDRとの間で位置合わせを行い(位置合わせ工程)、当該位置合わせの後にリーダ部材LDRをフィルムFに貼り付けて両者を接続する(接続工程)。
 位置合わせ工程では、フィルムFに設けられたフィルム側位置基準部Fdと、リーダ部材LDRに設けられた位置基準部202とを用いてフィルムFの図中上下方向及び図中左右方向の位置と、リーダ部材LDRの図中上下方向及び図中左右方向の位置とを検出し(位置検出工程)、検出した位置をもとにしてリーダ部材LDRの貼付位置を調整する。位置検出工程では、例えばアライメントカメラCA300、CA301などを用いてフィルム側位置基準部Fd及び位置基準部202の位置を検出する。リーダ部材LDRには、例えば位置合わせ工程に先立って、位置基準部202を形成しておくようにする。
 接続工程では、例えば図10(d)に示すように、熱圧着ローラ211などを用いてフィルムFとリーダ部材LDRとを熱圧着する。リーダ部材LDRに予め熱溶着型の接着剤を塗布しておき、当該接着剤を溶着させることでフィルムFとリーダ部材LDRとを接続させるようにしても構わない。
 なお、本実施形態において、フィルムFはリーダ部材LDRに対して位置合わせされるため、フィルムFにおける有機EL素子50が形成される領域(後述の素子形成領域60)はリーダ部材LDRに対して間接的に位置合わせされることになる。本実施形態において、リーダ部材LDRは搬送ユニット105によって高精度に搬送されるため、フィルムFにおける素子形成領域60はリーダ部材LDRによって高精度に位置合わせされていることになる。
 (基板カートリッジへのフィルム基板の収容動作)
 次に、上記のように構成された基板カートリッジ1にフィルム基板FBを収容する収容動作を説明する。図11A及び図11Bは、収容動作時の基板カートリッジ1の状態を示す図である。図11A及び図11Bにおいては、図を判別しやすくするため、基板カートリッジ1の外形を破線で示している。
 図11Aに示すように、基板カートリッジ1にフィルム基板FBを収容する際には、基板カートリッジ1をホルダHD上に保持させた状態で、フィルム基板FBを開口部34から挿入する。フィルム基板FBを挿入する際には、テンションローラ21a及び回転軸部材26a(ローラ部26)を回転させた状態としておく。
 開口部34を介して挿入されたフィルム基板FBは、基板案内部22によって基板搬送部21へと案内される。基板搬送部21では、フィルム基板FBがテンションローラ21aと測定ローラ21bとの間に挟まれて収容部20側へ搬送される。基板搬送部21を収容部20側に通過したフィルム基板FBは、自重によって-Z方向に撓みながら案内される。本実施形態では、フィルム基板FBの-Z側にガイド部27が設けられているため、フィルム基板FBはガイド部27の回動部材27a及び先端部材27bに沿ってローラ部26へと案内されることになる。
 フィルム基板FBの先端がローラ部26の円筒部26cに到達すると、円筒部26cから突出している爪部材28aがフィルム基板FBのリーダ部材LDRに設けられた開口部203内に挿入される。この状態でローラ部26の各部が一体的に回転するため、リーダ部材LDRの開口部203に爪部材28aが係合された状態でフィルム基板FBが円筒部26cに巻き取られることになる。
 フィルム基板FBがローラ部26に対して例えば1回転分巻き取られた後、図11Bに示すように、ガイド部27を退避させる。この状態でローラ部26を回転させることにより、フィルム基板FBが徐々にローラ部26に巻き取られていく。巻き取られたフィルム基板FBの厚さは次第に厚くなっていくが、ガイド部27が既に退避されているため、フィルム基板FBとガイド部27とが接触することは無い。
 また、フィルム基板FBが徐々に円筒部26cに巻き取られていき、爪部材28aが巻き取られたフィルム基板FBによって回転軸部材26a側に押圧される。この押圧力によって押圧部材28bが弾性変形し、爪部材28aが凹部26e内に収容されることになる。フィルム基板FBが巻き取られた後には、ローラ部26と基板搬送部21との間でフィルム基板FBが撓まないように、例えばテンションローラ21aの回転速度と回転軸部材26aの回転速度とを調整しながらフィルム基板FBを搬送する。所望の長さのフィルム基板FBを巻き取った後、例えばフィルム基板FBのうち開口部34の外側の部分を切断する。このようにして、基板カートリッジ1にフィルム基板FBを収容する。
 (基板処理装置の動作)
 次に、上記のように構成された基板処理装置100の動作を説明する。
 本実施形態では、フィルム基板FBを収容した基板カートリッジ1を基板供給部101として供給側接続部102Aに接続する接続動作、基板供給部101による基板カートリッジ1によるフィルム基板FBの供給動作、基板処理部102による素子形成動作、基板カートリッジ1の取り外し動作、を順に行う。
 まず、基板カートリッジ1の接続動作を説明する。図12は、基板カートリッジ1の接続動作を示す図である。
 図12に示すように、供給側接続部102Aについては、マウント部3に対応する形状に挿入口を形成しておく。
 接続動作では、基板カートリッジ1をホルダ(例えば図11Aに示すホルダHDと同様の構成)に保持させた状態で、マウント部3と供給側接続部102Aとの位置合わせを行う。位置合わせの後、マウント部3を+X側へ移動させて基板処理部102に挿入する。
 次に、供給動作を説明する。基板処理部102にフィルム基板FBを供給する際には、例えば基板カートリッジ1の回転軸部材26a(ローラ部26)及びテンションローラ21aを収容動作のときとは逆向きに回転させ、図13に示すように、開口部34を介してフィルム基板FBを送り出すようにする。このとき、開口部34からは上記のリーダ部材LDRが先頭となって送り出されることになる。
 次に、素子形成動作を説明する。素子形成動作では、基板供給部101から基板処理部102に対してフィルム基板FBを供給しつつ、基板処理部102において当該フィルム基板FB上に素子を形成していく。基板処理部102では、ローラRRによってフィルム基板FBを搬送する。
 基板処理部102では、まず情報検出装置400によってリーダ部材LDRの情報保持部204に保持された情報が検出される。制御部104は、例えば情報検出装置400からの情報を取得し、当該処理情報に基づいて以降の基板処理部102の動作を制御する。また、制御部104は、ローラRRがY軸方向にずれているか否かを検出し、ずれている場合にはローラRRを移動させて位置を補正する。また、制御部104は、フィルム基板FBの位置補正を併せて行わせる。
 基板供給部101から基板処理部102に供給されたフィルム基板FBは、まず隔壁形成部91に搬送される。隔壁形成部91では、フィルム基板FBがインプリントローラ110と熱転写ローラ115で挟まれて押圧され、熱転写によってフィルム基板に隔壁BA及びアライメントマークAMが形成される。
 図14は、フィルム基板FBに隔壁BA及びアライメントマークAMが形成された状態を示す図である。図15は、図14の一部を拡大して示した図である。図16は、図15におけるD-D断面に沿った構成を示す図である。図14及び図15は、フィルム基板FBを+Z側から見たときの様子を示している。
 図14に示すように、隔壁BAは、フィルム基板FBのY方向中央部の素子形成領域60に形成される。図15に示すように、隔壁BAを形成することにより、素子形成領域60には、ゲートバスラインGBL及びゲート電極Gを形成する領域(ゲート形成領域52)とソースバスラインSBL、ソース電極S、ドレイン電極D及び陽極Pを形成する領域(ソースドレイン形成領域53)とが区画されることになる。図16に示すように、ゲート形成領域52は、断面視で台形状に形成されている。図示を省略するが、ソースドレイン形成領域53についても同様の形状となっている。隔壁BA内の幅W(μm)は、ゲートバスラインGBLの線幅となる。この幅Wとしては、液滴塗布装置120Gから塗布される液滴直径d(μm)に対して2倍~4倍程度とすることが好ましい。
 なお、ゲート形成領域52及びソースドレイン形成領域53の断面形状は、微細インプリント用モールド11がフィルム基板FBを押圧した後にフィルム基板FBが剥離しやすいように、断面視でV字形状又はU字形状とすること好ましい。この他の形状として、例えば断面視で矩形形状としても構わない。
 一方、図14に示すように、アライメントマークAMは、フィルム基板FBのY方向両端部の縁領域61に一対形成される。隔壁BA及びアライメントマークAMは、相互の位置関係が重要であるため同時に形成される。図15に示すように、Y軸方向には、アライメントマークAMとゲート形成領域52との間の所定距離PYが規定されており、X軸方向には、アライメントマークAMとソースドレイン形成領域53との間の所定距離PXが規定されている。このため、一対のアライメントマークAMの位置に基づいて、フィルム基板FBのX軸方向のずれ、Y軸方向のずれ及びθ回転が検出可能となる。
 図14及び図15では、アライメントマークAMが、X軸方向の複数行の隔壁BAごとに一対設けられているが、これに限られることは無く、例えば隔壁BA1行ごとにアライメントマークAMを設けるようにしても良い。また、スペースがあれば、フィルム基板FBの縁領域61だけでなく素子形成領域60にアライメントマークAMを設けても良い。また、図14及び図15では、アライメントマークAMは十字形状を示したが、円形マーク、斜めの直線マークなど他のマーク形状であってもよい。
 続いてフィルム基板FBは、搬送ローラRRによって電極形成部92に搬送される。電極形成部92では、各液滴塗布装置120による液滴の塗布が行われ、フィルム基板FB上に電極が形成される。
 フィルム基板FB上には、まず液滴塗布装置120GによってゲートバスラインGBL及びゲート電極Gが形成される。図17A及び図17Bは、液滴塗布装置120Gによって液滴塗布が行われるフィルム基板FBの様子を示す図である。
 図17Aに示すように、液滴塗布装置120Gは、隔壁BAが形成されたフィルム基板FBのゲート形成領域52に例えば1~9の順序でメタルインクを塗布する。この順序は、例えばメタルインク同士の張力で直線状に塗布される順序である。図17Bは、例えば1滴のメタルインクが塗布された状態を示す図である。図17Aに示すように、隔壁BAが設けられているため、ゲート形成領域52に塗布されたメタルインクは拡散せずに保持されることになる。このようにして、ゲート形成領域52の全体にメタルインクを塗布する。
 ゲート形成領域52にメタルインクが塗布された後、フィルム基板FBは当該メタルインクの塗布された部分が熱処理装置BKの-Z側に位置するように搬送される。熱処理装置BKは、フィルム基板FB上に塗布されたメタルインクに熱処理を行い、当該メタルインク乾燥させる。図18Aは、メタルインクを乾燥させた後のゲート形成領域52の状態を示す図である。図18Aに示すように、メタルインクを乾燥させることにより、メタルインクに含まれる導電体が薄膜状に積層されることになる。このような薄膜状の導電体がゲート形成領域52の全体に形成され、図18Bに示すように、フィルム基板FB上にゲートバスラインGBL及びゲート電極Gが形成されることになる。
 次に、フィルム基板FBは、液滴塗布装置120Iの-Z側に搬送される。液滴塗布装置120Iではフィルム基板FBに電気絶縁性インクが塗布される。液滴塗布装置120Iでは、例えば図19に示すように、ソースドレイン形成領域53を通過するゲートバスラインGBL上及びゲート電極G上に電気絶縁性インクが塗布される。
 電気絶縁性インクが塗布された後、フィルム基板FBは熱処理装置BKの-Z側に搬送され、熱処理装置BKによって当該電気絶縁性インクに熱処理が施される。この熱処理によって電気絶縁性インクが乾燥し、ゲート絶縁層Iが形成される。図19では、ゲート絶縁層Iが隔壁BA上に跨るように円形状に形成された状態を示しているが、特に隔壁BAを越えて形成する必要は無い。
 ゲート絶縁層Iが形成された後、フィルム基板FBは液滴塗布装置120SDの-Z側に搬送される。液滴塗布装置120SDでは、フィルム基板FBのソースドレイン形成領域53にメタルインクが塗布される。ソースドレイン形成領域53のうちゲート絶縁層Iを跨ぐ部分については、例えば図20に示す1~9の順序でメタルインクが吐出される。
 メタルインクの吐出後、フィルム基板FBは熱処理装置BKの-Z側に搬送され、メタルインクの乾燥処理が行われる。当該乾燥処理後、メタルインクに含まれる導電体が薄膜状に積層され、ソースバスラインSBL、ソース電極S、ドレイン電極D及び陽極Pが形成される。ただし、この段階では、ソース電極Sとドレイン電極Dとの間が接続された状態になっている。
 次に、フィルム基板FBは、切断装置130の-Z側に搬送される。フィルム基板FBは、切断装置130において、ソース電極Sとドレイン電極Dとの間が切断される。図21は、ソース電極Sとドレイン電極Dとの間隔を切断装置130で切断した状態を示す図である。切断装置130では、ガルバノミラー131を用いてレーザ光LLのフィルム基板FBへの照射位置を調整しながら切断を行う。
 ソース電極Sとドレイン電極Dとの間が切断された後、フィルム基板FBは、液滴塗布装置120OSの-Z側に搬送される。液滴塗布装置120OSでは、フィルム基板FB上に有機半導体層OSが形成される。フィルム基板FB上のうちゲート電極Gに重なる領域には、ソース電極S及びドレイン電極Dに跨るように有機半導体インクが吐出される。
 有機半導体インクの吐出後、フィルム基板FBは熱処理装置BKの-Z側に搬送され、有機半導体インクの乾燥処理が行われる。当該乾燥処理後、有機半導体インクに含まれる半導体が薄膜状に積層され、図22に示すように、有機半導体OSが形成される。以上の工程により、フィルム基板FB上に電界効果型トランジスタ及び接続配線が形成されることになる。
 続いてフィルム基板FBは、搬送ローラRRによって発光層形成部93に搬送される。発光層形成部93では、液滴塗布装置140Re、液滴塗布装置140Gr、液滴塗布装置140Bl及び熱処理装置BKによって赤色、緑色、青色の発光層IRがそれぞれ形成される。フィルム基板FB上には隔壁BAが形成されているため、赤色、緑色及び青色の発光層IRを熱処理装置BKで熱処理することなく続けて塗布する場合であっても、隣接する画素領域へ溶液が溢れることにより、混色が生じることがない。
 発光層IRの形成後、フィルム基板FBは液滴塗布装置140I及び熱処理装置BKを経て絶縁層Iが形成され、液滴塗布装置140IT及び熱処理装置BKを経て透明電極ITOが形成される。このような工程を経て、フィルム基板FB上には図1で示した有機EL素子50が形成される。
 素子形成動作では、上記のようにフィルム基板FBを搬送させながら有機EL素子50を形成する過程で、フィルム基板FBがX方向、Y方向及びθZ方向にずれてしまうのを防ぐため、アライメント動作を行っている。以下、図23を参照して、アライメント動作を説明する。
 アライメント動作においては、各部に設けられた複数のアライメントカメラCA(CA1~CA8)が適宜フィルム基板FBに形成されたアライメントマークAMを検出し、制御部104に検出結果を送信する。制御部104では、送信された検出結果に基づいて、アライメント動作を行わせる。
 例えば、制御部104は、アライメントカメラCA(CA1~CA8)が検出するアライメントマークAMの撮像間隔などに基づいてフィルム基板FBの送り速度を検出し、ローラRRが例えば所定速度で回転しているか否かを判断する。ローラRRが所定速度で回転していないと判断した場合、制御部104は、ローラRRの回転速度の調整の指令を出しフィードバックをかける。
 また、例えば制御部104は、アライメントマークAMの撮像結果に基づき、アライメントマークAMのY軸方向の位置がずれているか否かを検出し、フィルム基板FBのY軸方向の位置ずれの有無を検出する。位置ずれが検出された場合、制御部104は、フィルム基板FBを搬送させた状態で位置ずれがどの程度の時間継続しているかを検出する。
 位置ずれの時間が短時間であれば、液滴塗布装置120の複数のノズル122のうち液滴を塗布するノズル122を切り替えることによって対応する。フィルム基板FBのY軸方向のずれが長時間続くようであれば、ローラRRの移動によってフィルム基板FBのY軸方向の位置補正を行う。
 また、例えば制御部104は、アライメントカメラCAが検出するアライメントマークAMのX軸及びY軸方向の位置に基づき、フィルム基板FBがθZ方向にずれているか否かを検出する。位置ずれが検出された場合、制御部104は、Y軸方向の位置ずれの検出時と同様、フィルム基板FBを搬送させた状態で位置ずれがどの程度の時間継続しているかを検出する
 位置ずれの時間が短時間であれば、液滴塗布装置120の複数のノズル122のうち液滴を塗布するノズル122を切り替えることによって対応する。ずれが長時間続くようであれば、当該ズレを検出したアライメントカメラCAを挟む位置に設けられる2つのローラRRをX方向又はY方向に移動させ、フィルム基板FBのθZ方向の位置補正を行う。
 次に、取り外し動作を説明する。例えばフィルム基板FBに有機EL素子50を形成し、フィルム基板FBを回収した後、基板供給部101として用いられる基板カートリッジ1を基板処理部102から取り外す。
 図24は、基板カートリッジ1の取り外し動作を示す図である。
 取り外し動作では、マウント部3を-X方向に移動させて供給側接続部102Aから外す。マウント部3を外すようにする。
 以上のように、本実施形態に係るリーダ部材LDRは、可撓性を有するフィルムFに接続される接続部(段部201)と、少なくともフィルムFと上記接続部(段部201)との間の位置合わせに用いられる位置基準部202とを備えることとしたので、フィルムFの所望の位置に対して高精度に接続される。
 また、本実施形態に係るフィルム基板FBは、可撓性を有し所定方向に搬送されるフィルムFと、当該フィルムFの端部に接続される本実施形態のリーダ部材LDRとを備えることとしたので、フィルムFの端部が正確に保護されることになる。これにより、フィルム基板FBの搬送によって生じるフィルムFの曲がりや歪みなどの変形を低減することができる。
 また、本実施形態に係る基板カートリッジ1は、可撓性を有するフィルム基板FBを収容するカートリッジ本体2を備えることとしたので、曲がりや歪みなどがほとんど生じない状態でフィルム基板FBを収容することができる。また、本実施形態に係る基板カートリッジ1は、可撓性を有するフィルム基板FBを収容するカートリッジ本体2を備えることとしたので、曲がりや歪みなどがほとんど生じない状態で収容したフィルム基板FBを送り出すことができる。
 また、本実施形態に係る基板処理装置100は、可撓性を有するフィルム基板FBを処理する基板処理部102と、当該基板処理部102にフィルム基板FBを搬入する基板供給部101と、当該基板処理部102からフィルム基板FBを搬出する基板回収部103とを備え、基板供給部101及び基板回収部103のうち少なくとも一方として、本実施形態の基板カートリッジ1が用いられることとしたので、曲がりや歪みなどのほとんど無い状態で供給されるフィルム基板FBに対して処理することができ、また、処理後のフィルム基板FBを収容することができる。
 また、本実施形態に係るリーダ接続方法は、可撓性を有するフィルムFにリーダ部材LDRを接続させるリーダ接続方法であって、フィルムFとリーダ部材LDRとの位置を合わせる位置合わせ工程と、当該位置合わせ工程の後、フィルムFとリーダ部材LDRとを接続する接続工程とを含むこととしたので、フィルムFの所望の位置に対して高精度にリーダ部材LDRを接続することができる。
 本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加えることができる。
 上記実施形態では、リーダ部材LDRの寸法は、例えば基板処理部102に設けられるローラRRのうち搬送方向(X方向)に隣接するローラRR同士の間隔よりも長くなるようにリーダ部材LDRのX方向の寸法を設定することができる。これにより、リーダ部材LDRが少なくとも2つ以上のローラRRによって支持された状態で搬送されることになるため、より確実に搬送することができる。
 具体的には、図25に示すように、基板処理部102の隔壁形成部91や電極形成部92などの各処理部における入口側のローラRRと出口側のローラRRとの間隔L1以上の長さに形成する構成が挙げられる。また、図25に示すように、隔壁形成部91や電極形成部92などの各処理部の出口側のローラRRと次の処理部の入口側のローラRRとの間隔L2以上の長さに形成しても構わない。また、フィルム基板FBは少なくともフィルムF以上の剛性を有するので、各処理部における入口側のローラRRと出口側のローラRRとの間隔L1又は各処理部の出口側のローラRRと次の処理部の入口側のローラRRとの間隔L2は、例えばリーダ部材LDRがない場合よりも長くすることが可能である。なお、本実施形態におけるリーダ部材LDRの搬送方向の長さは、特に限定はされないが、例えば、液滴塗布装置120の搬送方向における長さ、各処理部の搬送方向における間隔、処理部が露光装置の場合は露光視野の搬送方向の幅、などを考慮して、30cm以上に設定してもよい。
 なお、図25に示すように、例えば、上述の隔壁形成部91と電極形成部92とが別々の装置として納入され、隔壁形成部91と電極形成部92とを連結して基板処理部102を組み立てる場合には、基板処理装置100は隔壁形成部91と電極形成部92との間に補助部としてブリッジガイドBGを有するようにしてもよい。また、例えば、本実施形態において、各処理部の出口側におけるローラRRの配置高さ(Z方向の高さ)と次の処理部の入口側におけるローラRRの配置高さとは、できる限り同じ高さが望ましく、作業性又は視認性の観点から50cm~100cm程度である。なお、各処理部の出口側におけるローラRRの配置高さと次の処理部の入口側におけるローラRRの配置高さとが互いに異なる場合には、上述のブリッジガイドBGを高さ方向(Z方向)に傾斜させて配置すればよい。
 また、例えばリーダ部材LDRのX方向の寸法L3が、基板処理部102の隔壁形成部91や電極形成部92などの各処理部における入口側のローラRRと出口側のローラRRとの間隔L1よりも小さい場合、図26に示すように、補助部としてスライドクロー機構500又はガイド板501などを設ける構成としても構わない。スライドクロー機構500は、リーダ部材LDRの開口部203に挿入可能な突出部を有するクロー部材500aがガイドレール500bに沿ってX方向に移動可能な構成となっている。また、クロー部材500aは移動方向の下流側の端部において-Z方向に移動可能になっており、挿入させた突出部を抜き取ることができるようになっている。また、ガイド板501としては、例えば図26に示すように各処理部(ここでは電極形成部92を例示)の上流側に2つ(ガイド板501a及び501b)、電極形成部92内の図中X方向両端部に1つずつ(ガイド板501c及び501d)、電極形成部92の下流側に2つ(ガイド板501e及び501f)設けられている。
 また、図27に示すように、例えば隔壁形成部91の構成が熱転写ローラ115によってフィルム基板FBに+Z側にテンションを加える構成である場合において、リーダ部材LDRのX方向の寸法L3が、熱転写ローラ115の外面を経由したローラRR間の距離L4よりも小さい場合には、補助部としてガイド板502、ローディング用ローラ503、ベルヌーイパッド504、又はカバー部材505などを配置する構成としても構わない。
 図27において、ローディング用ローラ503としては、例えば熱転写ローラ115の上流側に配置されるローラRRに対してアクセス可能に設けられたローディング用ローラ503aや、熱転写ローラ115に対してアクセス可能に設けられたローディング用ローラ503b、熱転写ローラ115の下流側に配置されるローラRRに対してアクセス可能に設けられたローディング用ローラ503cなどが挙げられる。
 ベルヌーイパッド504は、例えばフィルム基板FBの移動によって負圧を発生させるベルヌーイ機構を有し、フィルム基板FBをベルヌーイパッド504側に近づけさせる。ベルヌーイパッド504の負圧発生面がフィルム基板FBの移動方向に沿って設けられているため、フィルム基板FBが熱転写ローラ115に巻き込まれるのが回避されるようになっている。
 カバー部材505は、例えば熱転写ローラ115のうち微細インプリント用モールド111に当接する領域を空けると共にフィルム基板FBのX方向の両端部を覆うように設けられている。このため、フィルム基板FBが熱転写ローラ115の外面に沿って移動することとなる。
 また、例えば上記実施形態では、基板処理部102内においてフィルム基板FBにテンションを加えたまま搬送する構成として説明したが、これに限られることは無く、例えば図28(a)~図28(c)に示すように、フィルム基板FBを撓ませるように搬送しても構わない。この場合、例えば図28(a)に示すように、フィルム基板FBを撓ませる溜まり部分510の上流側にガイド板506a及び上流側ローラ508を配置すると共に、溜まり部分510の下流側に下流側ローラ509及びガイド板506b、506cを配置する。また、例えば上流側ローラ508にブリッジ板507を接続させておくようにする。ブリッジ板507は、例えば上流側ローラ508と下流側ローラ509との間でフィルム基板FBを渡す板部材である。
 溜まり部分510においては、まず図28(a)及び図28(b)に示すように、溜まり部分510の上流側から下流側へ補助部としてのブリッジ板507を介してフィルム基板FBの先端のリーダ部材LDRを搬送する。リーダ部材LDRが例えば溜まり部分510の下流側のローラRRに支持された後、図28(c)に示すように、ブリッジ板507を解除する。ブリッジ板507を解除することにより、上流側ローラ508と上流側ローラ508との間が支持されなくなるため、以降搬送されてくるフィルム基板FBのフィルムFは溜まり部分510の形状に沿って撓むことになる。このように、溜まり部分510においてはリーダ部材LDRを撓ませないようにしつつ、フィルムFを撓ませる構成とすることができる。
 また、上記実施形態では、リーダ部材LDRの位置基準部202として、例えばマークなどを形成する構成を例に挙げて説明したが、これに限られることは無い。例えば図29に示すように、リーダ部材LDRの一部に切り欠き部520、530を形成し、当該切り欠き部520、530を用いてリーダ部材LDRとフィルムFとの間の位置合わせを行うようにしても構わない。
 図29に示す例では、切り欠き部520及び530は、フィルムFとの接続部(段部201)のY方向両端部(角部)に設けられている。切り欠き部520及び530は、例えばCCDカメラなどの撮像領域540、550内に収まるように形成されている。切り欠き部520及び530は、図29の拡大部分に示すように、それぞれ図中X方向に平行な辺520a、530aを有している。
 この切り欠き部520及び530を用いて位置合わせを行う場合、まず切り欠き部520及び530とフィルムFとの一部が重なるようにリーダ部材LDRを配置する。その上で、例えば辺520a及び530aについては、例えばフィルムFの端辺Faとの間の距離ΔX1及びΔX2をそれぞれ求める。また、リーダ部材LDRの-Y側の辺520b及び+Y側の辺530bについては、フィルムFの-Y側の辺Fg及び+Y側の辺Fhとの間の距離ΔY1及びΔY2をそれぞれ求める。その後、例えばΔX1=ΔX2、ΔY1=ΔY2となるようにリーダ部材LDRの貼付位置を調整するようにする。この構成により、フィルムF側にマークを別途形成することなく、位置合わせを行うことができる。
FB…フィルム基板 LDR…リーダ部材 F…フィルム Fa…端部 Fd…フィルム側位置基準部 1…基板カートリッジ 2…カートリッジ本体 26…ローラ部 26a…回転軸部材 26b…拡径部 26c…円筒部 26e…凹部 26d…開口部 28…係合機構 28a…爪部材 28b…押圧部材 100…基板処理装置 101…基板供給部 102…基板処理部 103…基板回収部 104…制御部 105…搬送ユニット 120…液滴塗布装置 201…段部 202…位置基準部 203…開口部 204…情報保持部 300…リーダ部材貼付装置 400…情報検出装置 520、530…切り欠き部

Claims (47)

  1.  基板に接続される接続部と、
     少なくとも前記基板と前記接続部との間の位置合わせに用いられる位置基準部と
     を備えるリーダ部材。
  2.  前記位置基準部は、前記基板と前記接続部とを非接触で位置合わせ可能な位置基準である
     請求項1に記載のリーダ部材。
  3.  前記位置基準部は、切り欠き部を含む
     請求項1又は請求項2に記載のリーダ部材。
  4.  前記切り欠き部は、前記接続部に形成されている
     請求項3に記載のリーダ部材。
  5.  前記位置基準部は、パターンを含む
     請求項1から請求項4のうちいずれか一項に記載のリーダ部材。
  6.  前記基板に関する情報を保持する情報保持部
     を更に備える請求項1から請求項5のうちいずれか一項に記載のリーダ部材。
  7.  前記情報保持部は、第2パターンを含む
     請求項6に記載のリーダ部材。
  8.  前記情報保持部は、半導体チップを含む
     請求項6又は請求項7に記載のリーダ部材。
  9.  前記情報保持部は、前記位置基準部として用いられる
     請求項6から請求項8のうちいずれか一項に記載のリーダ部材。
  10.  前記接続部から外れた位置に設けられる1つ以上の開口部
     を更に備える請求項1から請求項9のうちいずれか一項に記載のリーダ部材。
  11.  前記開口部のうち少なくとも1つが前記位置基準部として用いられる
     請求項10に記載のリーダ部材。
  12.  前記基板は、表示素子用である
     請求項1から請求項11のうちいずれか一項に記載のリーダ部材。
  13.  所定方向に搬送される基板本体と、
     前記基板本体の端部に接続されるリーダと
     を備え、
     前記リーダとして、請求項1から請求項12のうちいずれか一項に記載のリーダ部材が用いられる
     基板。
  14.  前記基板本体は、前記リーダ部材の前記位置基準部に対応する基板側基準部を有する
     請求項13に記載の基板。
  15.  前記リーダ部材は、前記基板本体よりも剛性が高い
     請求項13又は請求項14に記載の基板。
  16.  前記基板本体と前記リーダ部材とは、前記基板本体の搬送方向に直交する方向の寸法が同一である
     請求項13から請求項15のうちいずれか一項に記載の基板。
  17.  前記リーダ部材は、前記位置基準部として切り欠き部を有し、
     前記基板本体は、前記切り欠き部の少なくとも一部に重なっている
     請求項13から請求項16のうちいずれか一項に記載の基板。
  18.  前記リーダ部材は、前記接続部に段部を有し、
     前記基板本体は、前記段部に接続されている
     請求項13から請求項17のうちいずれか一項に記載の基板。
  19.  前記段部は、前記リーダ部材の一面と前記基板本体の一面とが面一状態となるように形成される
     請求項18に記載の基板。
  20.  基板を収容するカートリッジ本体を備え、
     前記基板として、請求項13から請求項19のうちいずれか一項に記載の基板が収容される
     基板カートリッジ。
  21.  前記カートリッジ本体は、前記基板を巻き取った状態で収容する
     請求項20に記載の基板カートリッジ。
  22.  前記基板の巻き取り及び送り出しのうち少なくとも一方を行う基板駆動機構を有する
     請求項20又は請求項21に記載の基板カートリッジ。
  23.  前記基板駆動機構は、突出部が設けられかつ回転可能に設けられる軸部材を有し、
     前記リーダ部材は、前記軸部材の前記突出部に掛けられる開口部を有する
     請求項22に記載の基板カートリッジ。
  24.  前記突出部は、前記軸部材の回転面に対して退避可能に設けられる
     請求項23に記載の基板カートリッジ。
  25.  前記基板に設けられる前記リーダ部材は、前記軸部材に対して少なくとも1回転以上巻き取られる寸法に形成されている
     請求項23又は請求項24に記載の基板カートリッジ。
  26.  基板を処理する基板処理部と、
     前記基板処理部に前記基板を搬入する基板搬入部と、
     前記基板処理部から前記基板を搬出する基板搬出部と
     を備え、
     前記基板搬入部及び前記基板搬出部のうち少なくとも一方として、請求項20から請求項25のうちいずれか一項に記載の基板カートリッジが用いられる
     基板処理装置。
  27.  前記基板処理部は、前記基板に関する情報を検出する検出部を有する
     請求項26に記載の基板処理装置。
  28.  基板にリーダ部材を接続させるリーダ接続方法であって、
     前記基板と前記リーダ部材との位置を合わせる位置合わせ工程と、
     前記位置合わせ工程の後、前記基板と前記リーダ部材とを接続する接続工程と
     を含むリーダ接続方法。
  29.  前記位置合わせ工程は、前記基板に設けられた基板側位置基準部と、前記リーダ部材に設けられた位置基準部とを用いて前記基板と前記リーダ部材との位置を検出する位置検出工程を有する
     請求項28に記載のリーダ接続方法。
  30.  前記位置合わせ工程に先立って、前記リーダ部材に前記位置基準部を形成する
     請求項29に記載のリーダ接続方法。
  31.  前記位置合わせ工程に先立って、前記基板に前記基板側位置基準部を形成する
     請求項29又は請求項30に記載のリーダ接続方法。
  32.  前記位置合わせ工程は、前記基板側位置基準部として、前記基板の端部を用いる
     請求項29から請求項31のうちいずれか一項に記載のリーダ接続方法。
  33.  前記位置合わせ工程は、前記位置基準部として、前記リーダ部材に設けられた切り欠き部を用いる
     請求項29から請求項32のうちいずれか一項に記載のリーダ接続方法。
  34.  前記接続工程は、前記基板の一部と前記リーダ部材の一部とを貼り合わせて接続する
     請求項28から請求項33のうちいずれか一項に記載のリーダ接続方法。
  35.  請求項1から請求項12のうちいずれか一項に記載のリーダ部材を用いて基板を搬送する工程と、
     基板処理部において前記基板を処理する工程と、を有する
     表示素子の製造方法。
  36.  前記基板処理部は、前記基板を搬送する少なくとも2つの搬送部を有し、
     前記リーダ部材の搬送方向の長さは、前記2つの搬送部の配置間隔以上である
     請求項35に記載の表示素子の製造方法。
  37.  前記基板処理部は、前記基板を処理する少なくとも2つの処理部を有し、
     前記リーダ部材の搬送方向の長さは、前記2つの処理部の配置間隔以上である
     請求項35に記載の表示素子の製造方法。
  38.  前記リーダ部材の搬送を補助する補助部を用いて前記基板を搬送する工程を有する
     請求項35から請求項37のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造方法。
  39.  少なくとも一部が互いに重なるように収容された前記基板を搬送する工程を有する
     請求項35から請求項38のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造方法。
  40.  ロール状に収容された前記基板を搬送する工程を有する
     請求項35から請求項39のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造方法。
  41.  前記基板の素子形成領域は、前記リーダ部材に対して位置合わせされる
     請求項35から請求項40のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造方法。
  42.  基板に接続される請求項1から請求項12のうちいずれか一項に記載のリーダ部材を搬送する搬送ユニットと、
     前記基板を処理する基板処理部と、
     を備える表示素子の製造装置。
  43.  前記基板を少なくとも一部が互いに重なるように収容する基板カートリッジを備える
     請求項42に記載の表示素子の製造装置。
  44.  前記基板をロール状に収容する基板カートリッジを備える
     請求項42又は請求項43に記載の表示素子の製造装置。
  45.  前記搬送ユニットは、少なくとも2つの搬送部を有し、
     前記リーダ部材の搬送方向の長さは、前記2つの搬送部の配置間隔以上である
     請求項42から請求項44のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造装置。
  46.  前記基板処理部は、前記基板を処理する少なくとも2つの処理部を有し、
     前記リーダ部材の搬送方向の長さは、前記2つの処理部の配置間隔以上である
     請求項42から請求項44のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造装置。
  47.  前記リーダ部材の搬送を補助する補助部を備える
     請求項42から請求項46のうちいずれか一項に記載の表示素子の製造装置。
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