WO2009044658A1 - 放射線検出器 - Google Patents

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Shinji Takihi
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Hamamatsu Photonics K.K.
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Abstract

 X線ラインセンサ1では、低エネルギ範囲のX線を吸収して光を発するシンチレータ層24と、高エネルギ範囲のX線を吸収して光を発するシンチレータ層26とが接触させられており、更に、後側のシンチレータ層26の厚さよりも、前側のシンチレータ層24の厚さが薄くなっている。これらにより、同じ角度で前側から入射した低エネルギ範囲のX線及び高エネルギ範囲のX線に対するシンチレータ層24での発光位置P1とシンチレータ層26での発光位置P2とのずれ量が小さくなるため、このとき、シンチレータ層24が発した光及びシンチレータ層26が発した光は、対向する光検出部16及び光検出部23によって検出されることになる。従って、同時に取得された低エネルギ範囲のX線透過像と高エネルギ範囲のX線透過像とがずれるのを防止することができる。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105651793A (zh) * 2016-01-05 2016-06-08 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种克服物体厚度影响的x光检测方法
WO2016107480A1 (zh) * 2014-12-30 2016-07-07 清华大学 双能射线成像方法和***

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101937095B (zh) * 2009-06-30 2012-05-09 同方威视技术股份有限公司 双能x射线探测器及双能x射线探测器阵列装置
JP5457118B2 (ja) 2009-09-18 2014-04-02 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
JP5467830B2 (ja) * 2009-09-18 2014-04-09 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
JP5295915B2 (ja) 2009-09-18 2013-09-18 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
JP5894657B1 (ja) * 2014-11-14 2016-03-30 株式会社イシダ X線検査装置

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0673198A (ja) * 1992-08-28 1994-03-15 Central Glass Co Ltd 樹脂板の接着方法
JPH09230054A (ja) * 1996-02-22 1997-09-05 Canon Inc 放射線検出装置及びその製造方法
JPH09260626A (ja) * 1995-10-20 1997-10-03 Canon Inc 光電変換装置及びその作製方法及び物質透過撮像装置及び実装装置
JPH11505142A (ja) * 1995-05-11 1999-05-18 ユニバーシテイ・オブ・マサチユセツツ・メデイカル・センター 定量的放射線透過写真映像化のための装置
JP2000009845A (ja) * 1998-06-19 2000-01-14 Hamamatsu Photonics Kk 放射線イメージセンサ
JP2001011411A (ja) * 1999-07-02 2001-01-16 Toray Ind Inc 接着剤用組成物
JP2002048872A (ja) * 2000-08-03 2002-02-15 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出器
JP2002350548A (ja) * 2000-12-12 2002-12-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc シンチレータ/ダイオード結合を改良した半導体ct検出器モジュール
JP2006278877A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Canon Inc 放射線撮像装置及びその製造方法
JP2007084805A (ja) * 2005-08-23 2007-04-05 Sanyo Chem Ind Ltd ホットメルト接着剤
JP2007214191A (ja) * 2006-02-07 2007-08-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd 放射線検出器および放射線検査装置
JP5068674B2 (ja) * 2005-03-01 2012-11-07 ダウ・コーニング・コーポレイション 半導体加工のための一時的なウェハ結合法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60200189A (ja) * 1984-03-23 1985-10-09 Toshiba Corp 放射線検出器
JPS6293679A (ja) * 1985-10-19 1987-04-30 Fuji Photo Film Co Ltd オ−トラジオグラフ記録方法およびその方法に用いられる蓄積性蛍光体シ−ト並びに蓄積性蛍光体シ−ト積層体
JP3717530B2 (ja) * 1993-07-14 2005-11-16 富士写真フイルム株式会社 放射線画像検出器
JPH07120557A (ja) * 1993-10-27 1995-05-12 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線検出器
JPH1184007A (ja) * 1997-09-11 1999-03-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線センサおよびx線検査装置
JP2006346011A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Canon Inc 放射線撮像装置及びその制御方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0673198A (ja) * 1992-08-28 1994-03-15 Central Glass Co Ltd 樹脂板の接着方法
JPH11505142A (ja) * 1995-05-11 1999-05-18 ユニバーシテイ・オブ・マサチユセツツ・メデイカル・センター 定量的放射線透過写真映像化のための装置
JPH09260626A (ja) * 1995-10-20 1997-10-03 Canon Inc 光電変換装置及びその作製方法及び物質透過撮像装置及び実装装置
JPH09230054A (ja) * 1996-02-22 1997-09-05 Canon Inc 放射線検出装置及びその製造方法
JP2000009845A (ja) * 1998-06-19 2000-01-14 Hamamatsu Photonics Kk 放射線イメージセンサ
JP2001011411A (ja) * 1999-07-02 2001-01-16 Toray Ind Inc 接着剤用組成物
JP2002048872A (ja) * 2000-08-03 2002-02-15 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出器
JP2002350548A (ja) * 2000-12-12 2002-12-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc シンチレータ/ダイオード結合を改良した半導体ct検出器モジュール
JP5068674B2 (ja) * 2005-03-01 2012-11-07 ダウ・コーニング・コーポレイション 半導体加工のための一時的なウェハ結合法
JP2006278877A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Canon Inc 放射線撮像装置及びその製造方法
JP2007084805A (ja) * 2005-08-23 2007-04-05 Sanyo Chem Ind Ltd ホットメルト接着剤
JP2007214191A (ja) * 2006-02-07 2007-08-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd 放射線検出器および放射線検査装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016107480A1 (zh) * 2014-12-30 2016-07-07 清华大学 双能射线成像方法和***
US10339673B2 (en) 2014-12-30 2019-07-02 Tsinghua University Dual-energy ray imaging methods and systems
CN105651793A (zh) * 2016-01-05 2016-06-08 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种克服物体厚度影响的x光检测方法
CN105651793B (zh) * 2016-01-05 2019-04-02 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种克服物体厚度影响的x光检测方法

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