WO2007034562A1

WO2007034562A1 - 発光ダイオード検査方法および検査装置

Info

Publication number: WO2007034562A1
Application number: PCT/JP2005/017612
Authority: WO
Inventors: Shigeki Hara; Yasuhito Kumai
Original assignee: Far East Engineering Co., Ltd.; Jcc Engineering Co., Ltd.
Priority date: 2005-09-26
Filing date: 2005-09-26
Publication date: 2007-03-29

Abstract

　発光ダイオード素子検査装置（１）は、複数個の発光ダイオード素子（１０）を高温槽（１７）を通して搬送して加熱し、加熱後に通電部（１８）において、各発光ダイオード素子（１０）に個別通電を行い、各発光ダイオード素子（１０）に対する通電試験を同時に行う。通電試験後に、冷却部（１９）を通して搬送して検査済みの発光ダイオード素子（１０）を冷却する。検査済みの発光ダイオード素子（１０）は通電試験の結果に基づき、良品取り出し部（２０）および不良品取り出し部（２１）に振り分けて回収される。発光ダイオード検査装置（１）を用いれば、熱歪によって断線する可能性の高い発光ダイオード素子（１０）を不良品として事前に排除できる。

Description

明細書

発光ダイオード検査方法および検査装置

技術分野

[0001] 本発明は、車載用ランプなどとして用いられる発光ダイオード素子の検查を確実に行うことのできる発光ダイオード検查方法および検查装置に関するものである。背景技術

[0002] 近年、発光ダイオードランプは各種の用途に用いられており、使用環境として高温下などの各種の条件下で使用される場合が多くなつてきている。例えば、自動車用ストップランプなどに用いられる場合には、夜間などにおいては点灯状態に保持され、高温下で使用される。

[0003] 高温下で使用される場合には、発光ダイオード素子のボンディングワイヤなどが温度変化に起因して断線して点灯しなくなるなどの不具合が発生するおそれがある。このような不具合が発生する発光ダイオードランプを出荷前に確実に振り分けることが望ましい。

[0004] し力ながら、一般に行われる発光ダイオード素子の検查は、通電試験による断線のチェックと、目視による色むら、輝度などのチェックとが行われているのみである。このため、熱歪に起因して不具合が発生する発光ダイオード素子を事前に選別することができない。

発明の開示

[0005] 本発明の目的は、このような点に鑑みて、熱歪に起因して不具合が発生する発光ダイオード素子を不良品として選別できる発光ダイオード検査方法および検査装置を提案することにある。

[0006] かかる目的を達成するために、本発明の発光ダイオード検査方法は、

検查対象の発光ダイオード素子を加熱する加熱工程と、

加熱後の発光ダイオード素子の通電試験を行う通電工程と、

前記通電試験の結果に基づき、検查済みの発光ダイオード素子を振り分けて回収する回収工程とを有してレ、ることを特徴としてレ、る。 [0007] 本発明の検查方法では、通電試験を行う前に予め発光ダイオード素子に熱負荷を与えるようにしている。温度変化に起因して断線するおそれの高い発光ダイオード素子を、熱負荷を与えることにより断線状態に陥る。したがって、このような不良品を、その後の通電試験により確実に排除できる。

[0008] ここで、本発明の方法では、前記通電工程の後に検查済みの発光ダイオード素子を冷却する冷却工程を有してレヽることを特徴としてレヽる。

[0009] また、本発明の方法では、前記通電工程に先立って、同一極性のリード端子が同一の側を向くように、搬送される前記発光ダイオード素子を整列する整列工程を有していることを特徴としている。

[0010] さらに、本発明の方法では、前記通電工程において、複数個の前記発光ダイォード素子に個別通電して、これらに対して同時に通電試験を行うことを特徴としている。このようにすれば、多数の発光ダイオード素子に対する通電試験を効率良く行うことができる。

[0011] 一方、本発明の発光ダイオード検査装置は、

発光ダイオード素子を一定の送りピッチで搬送する第 1循環路と、

この第 1循環路上における素子引き渡し位置に配列された発光ダイオード素子を n 個ずつ受け取り、当該第 1循環路に直交する方向に n個ずつ一定の送りピッチで搬送する第 2循環路と、

この第 2循環路に沿って搬送される発光ダイオード素子を加熱する高温槽と、前記高温槽を経由して加熱された後の発光ダイオード素子を n個ずつ同時に個別通電して通電試験を行う通電部と、

この通電部を経由して前記第 2循環路に沿って搬送される発光ダイオード素子を冷却する冷却部とを有し、

冷却後に前記素子引き渡し位置に戻った発光ダイオード素子が、 n個ずつ前記第

1循環路に戻されるようになつていることを特徴としている。

[0012] 本発明では、第 1循環路に直交する方向に発光ダイオードを n個ずつ搬送する第 2 循環路を配置し、第 2循環路に沿って n個ずつ発光ダイオードを搬送して加熱および通電試験を行っている。また、第 2循環路における素子引き渡し位置において検査対象の発光ダイオード素子を受け取り、検查済みの発光ダイオード素子を同一の素子引き渡し位置から再び第 1循環路に戻すようにしている。したがって、発光ダイォードの搬送経路を小型でコンパクトに構成することができ、また、多数の発光ダイォード素子の通電試験を効率良く行うことができる。

[0013] ここで、本発明の検査装置では、前記第 2循環路に沿って発光ダイオード素子を搬送する素子移送具が一定の送りピッチで n個ずつ配列され、各素子移送具は搬送方向に開閉する一対の開閉腕を備え、これらの開閉腕の間に発光ダイオード素子の一対のリード端子が絶縁板を挟んだ状態で把持されるようになっており、搬送方向に隣接する各素子移送具の開閉腕の先端面は、これらの間を封鎖する可撓性の断熱シートで覆われていることを特徴としている。力かる構成の素子移送具を用いれば、各素子移送具が断熱されているので、これらによって把持されている発光ダイオードのみを高温炉におレ、て加熱できる。

[0014] また、本発明の検査装置では、前記通電部は、通電用の n対の接触子を備えており、当該通電部に搬送されてきた n個の素子移送具に把持されている各発光ダイォード素子におけるリード端子の付け根部分に、両側から各接触子を押し付けて、各発光ダイオード素子に対して個別通電を行うことを特徴としている。

図面の簡単な説明

[0015] [図 1]本発明を適用した発光ダイオード検查装置の概略平面図である。

[0016] [図 2]図 1の発光ダイオード検查装置の概略正面図である。

[0017] [図 3]図 1の発光ダイオード検查装置の概略左側面図である。

[0018] [図 4]図 1の発光ダイオード検査装置の概略右側面図である。

[0019] [図 5]図 1の発光ダイオード検査装置における発光ダイオード素子の流れを示す説明図である。

[0020] [図 6]図 1の発光ダイオード検査装置の通電部の構成を示す部分説明図である。

[0021] [図 7]図 6に示す通電部の部分斜視図である。

発明を実施するための最良の形態

[0022] 以下に、図面を参照して、本発明を適用した発光ダイオード検查装置の一例を説明する。 [0023] (全体構成）

図 1ないし図 4は、本例の発光ダイオード検查装置の主要部分の概略平面図、概略正面図、概略左側面図および概略右側面図である。発光ダイオード検查装置 1は、直方体形状に組まれた装置架台 2を有している。この装置架台 2に水平に取り付けられているベース板 3の上に、各構成部品が搭載されており、ベース板 3と装置底板 4の間には制御 ·操作盤 5などが収容されている。装置左側面には検查対象の発光ダイオード素子を供給するための供給側開口部 6があり、この開口部 6には両開き式の開閉扉 7が取り付けられている。装置前面の右側には検査済みの発光ダイオード素子を取り出すための取り出し用開口部 8があり、ここには片開き式の開閉扉 9が取り付けられている。

[0024] 供給側開口部 6の内側には、検査対象の発光ダイオード素子を受け入れ、これらを一定の送りピッチで送り出す素子供給部 11が配置されている。素子供給部 11から送り出された発光ダイオード素子は極性整列部 12に供給される。極性整列部 12では、発光ダイオード素子のリード端子の極性を検査して、同一極性のリード端子が同一方向を向くように揃えられる。このように整列された発光ダイオード素子は、移送部 13 を介して、水平面上に配置された長円形の水平方向循環路 14 (第 1循環路）に引き渡される。

[0025] 長円形の水平方向循環路 14における一方の直線状搬送路部分 15には、円形の垂直方向循環路 16が対峙している。発光ダイオード素子は水平方向循環路 14の直線状搬送路部分 15から複数個ずつ一括して垂直方向循環路 16 (第 2循環路）に引き渡される。本例では 32個ずつ引き渡される。垂直方向循環路 16に引き渡された 3 2個の発光ダイオード素子は当該垂直方向循環路 16に沿って搬送され、再び、直線状搬送路部分 15に対峙した元の位置に戻る。

[0026] 垂直方向循環路 16に沿って高温ネ曹 17が配置されており、発光ダイオード素子は当該高温槽 17を通って搬送される間に所定の温度に加熱される。高温槽 17の出口部には通電部 18が配置されており、ここに至った 32個の発光ダイオード素子は、同時に個別通電され、断線の有無が検査される。垂直方向循環路 16における通電部 1 8の下流側の部位には冷却部 19が配置されており、ここを通過する間に、発光ダイオード素子は冷却される。

[0027] 冷却後の発光ダイオード素子は再び水平方向循環路 14の直線状搬送路部分 15 に対峙した位置に戻り、ここ力、直線状搬送路部分 15に戻される。直線状搬送路部分 15に戻された発光ダイオード素子は、当該水平方向循環路 14に沿って搬送され、その下流側の位置において、通電試験結果に基づき振り分けられ、良品取り出し部 20および不良品取り出し部 21に回収される。

[0028] (各部の説明）

図 5は、本例の発光ダイオード検査装置 1における発光ダイオードの流れを示す説明図である。

[0029] 発光ダイオード検査装置 1の素子供給部 11は、検査対象の発光ダイオード 10が投入されるホッパ 22と、ホッパ 22から送り出される発光ダイオード素子 10を正立状態に整歹 IJして送り出す搬送部 23と、成立状態で整列された発光ダイオード素子 10を水平な円弧状の搬送経路に沿って一定の送りピッチで送り出すピッチ変換部 24とを備えている。

[0030] ピッチ変換部 24から一定の送りピッチで送り出される発光ダイオード 10は一個ずつ極性整列部 12に引き渡される。極性整列部 12は、ピッチ変換部 24の真上において、垂直面上において放射状に延びる状態で等角度間隔に配置した 8本の素子移送具 25を備えている。これらの素子移送具 25は左右に開閉する把持爪を備えており、水平軸線を中心とする垂直な円形循環路 26に沿って回転する。円形循環路 26における最も下の回転位置が素子受け取り位置であり、ここにおいて、ピッチ変換部 24から送り出される成立姿勢の発光ダイオード素子 10を、その一対のリード端子 10a、 10 bが回転方向に並び、且つ、外方に突出した状態で、把持して搬送する。

[0031] この受け取り位置から 135度回転した位置には極性検出部 27が配置されており、一対のリード端子 10a、 10bの極性を検出する。ここから 45度回転した位置には極性反転部 28が配置されており、ここにおいては、極性検出部 26の検出結果に基づき、予め定められた極性のリード端子が搬送方向の前側に位置する状態で素子移送具 25 によって把持されていないものについては、その向きが 180度反転させられる。ここから 45度回転した位置には〇/S検査部 29が配置されており、ここから 45度回転した水平となる弓 Iき渡し位置にぉレ、て、発光ダイオード素子 10は移送部 13に引き渡される

[0032] 移送部 13は、 90度の角度間隔で放射状に配列された 4本の素子移送具 31を備えており、これらの素子移送具 31は、極性整列部 12の素子移送具 25と同一の垂直面上においてこれらの円形循環路 26に外接する円形循環路 32に沿って回転する。素子移送具 31は左右に開閉する把持爪を備えており、極性整列部 12の引き渡し位置に至った素子移送具 25に把持されている発光ダイオード素子 10の一対のリード端子 10a、 10bを両側から把持し、移送具 25の側力発光ダイオード素子 10を受け取る。素子移送具 31は、反対側まで回転して水平姿勢となる引き渡し位置において、発光ダイオード素子 10を水平方向循環路 14に引き渡す。

[0033] 水平方向循環路 14は、駆動側スプロケット 32および従動側スプロケット 33の間に架け渡した搬送ベルト 34に一定のピッチで取り付けた素子移送具 35の移動経路である。素子移送具 35はその後端部が搬送ベルト 34に連結されており、その先端部には左右に開閉可能な素子把持爪が取り付けられている。素子移送具 35は、水平方向循環路 14における移送部 13の素子移送具 31に対峙した受け取り位置において、素子移送具 31に把持されている発光ダイオード素子 10における一対のリード端子 10a、 10bの根元部分を両側から把持して、当該素子移送具 31から発光ダイオード 10を受け取る。

[0034] この受け取り位置において発光ダイオード 10を順次に受け取りながら、素子移送具 35は水平方向循環路 14に沿って間欠送りされ、反対側の直線状搬送路部分 15に向かう。直線状搬送路部分 15に一定のピッチで 32個の発光ダイオード素子 10が並ぶと、水平方向循環路 14における素子移送具 35の搬送動作が一時停止して、 32 個の発光ダイオード素子 10がー括して垂直方向循環路 16の側に引き渡される。

[0035] 垂直方向循環路 16の側は次のように構成されている。水平方向循環路 14と同一高さにおいて直線状搬送路部分 15と平行に延びる水平回転軸 41が左右の端板 42 、 43の間に回転自在の状態で架け渡されている。水平回転軸 41の一方の軸端は端板 43を突出して延びており、そこには、当該水平回転軸 41を回転駆動するための回転駆動源 44が連結されている。左右の端板 42、 43の内側には、水平回転軸 41に同軸状に円盤 45、 46が取り付けられており、これらの円盤 45、 46の間には、水平回転軸 41を中心とする同一円状に一定の角度間隔で複数本の連結軸 47が水平に架け渡されている。

[0036] 各連結軸 47には、その軸線方向に沿って一定のピッチで 32本の素子移送具 50の後端部が取り付けられている。水平回転軸 41が回転すると、これと一体回転する各連結軸 47に取り付けられている素子移送具 50が水平回転軸 41の回りに回転し、それらの素子移送具 50の先端に把持された発光ダイオード素子が円形の垂直方向循環路 16に沿って移動する。

[0037] 図 6は素子移送具 50および通電部 18の主要部分を示す説明図であり、図 7はそれらの斜視図である。これらの図に示すように、素子移送具 50は、連結軸 47に後端部が連結されている支持板 51を備え、この支持板 51には、支持ピン 52、 53を中心として搬送方向に開閉可能な一対の開閉腕 54、 55が取り付けられている。これらの間には、一列に配列されている 32個の素子移送具 50における開閉腕 54、 55の間を通つて絶縁板 56が配置されている。開閉腕 54、 55は不図示のばね部材によって、先端側が相互に当接する方向に付勢されており、それらの支持ピン 52、 53より後側に延びている後端部にはローラ 57、 58が取り付けられている。これらのローラ 57、 58の間には、回転カム板 59が配置されている。回転カム板 59の幅方向の両端がローラ 57、 58に当たっている状態では、図 6に示すように、開閉腕 54、 55の先端側の部位が閉じてレ、る。回転カム板 59が 180度回転して想像線で示す位置 59Aになると、ばね力によって開閉腕 54、 55の先端側の部位が開く。

[0038] 開閉腕 54、 55の先端部における内側面には、それぞれ、 2枚の L形状の把持用板ばね 61、 62が、絶縁板 56を挟み、相互に向き合った状態で取り付けられている。左右の把持用板ばね 61、 62を開き、絶縁板 56の両側に発光ダイオード素子 10の一対のリード端子 10a、 10bを位置させ、この状態で開閉腕 54、 55を閉じると、左右の把持用板ばね 61、 62がー対のリード端子 10a、 10bのそれぞれを絶縁板 56に押し付けた状態になる。この状態で、発光ダイオード素子 10は素子移送具 50によって把持される。

[0039] 次に、素子移送具 50によって把持された発光ダイオード素子 10は、垂直方向循環路 16に沿って配置されている高温炉 17内を搬送される。本例の高温炉 17は、左右の端板 42、 43と、これらの間に架け渡した 180度以上の角度を張る外側円弧板 63および内側円弧板 64とによって形成される一定幅の円弧状ダクト 65を備えている。また、一列状に 32個配列されている素子移送具 50の開閉腕 54、 55の先端面と、舞接する列の素子移送具 50の開閉腕 55、 54の先端面は、図 6に示すように、これらの間を封鎖している可撓性素材からなる断熱シート 66、 67によって覆われている。これらの断熱シート 66、 67によって、放射状に配列されている素子移送具 50が実質的に覆われており、これら断熱シート 64、 65と内側円弧板 62との間に、円弧状の内側ダタト 68が形成された状態となっている。

[0040] 高温炉 17は不図示の加熱空気供給源から供給される加熱空気を、外側の円弧状ダクト 65および内側の円弧状ダクト 68を経由して循環させ、内側の円弧状ダクト 68 内を搬送される発光ダイオード素子 10を加熱する。

[0041] 次に、円弧状ダクト 68の出口端は垂直方向循環路 16の真上の位置にあり、この位置には、素子移送具 50に把持されている発光ダイオード 10の通電試験を行う通電部 18が配置されている。図 6、 7を参照して通電部 18の構成を説明する。通電部 18 は、 32組の正側接触子 71と負側接触子 72が、下向き状態で一列に配列された構成となっている。各正側接触子 71および各負側接触子 72の後端は、給電線 73、 74をそれぞれ介して、電源の正側および負側に接続されている。接触子 71、 72の先端部は、相互に接近する方向に直角に突出している爪部分 71a、 72aを備えており、素子移送具 50によって把持されている発光ダイオード素子 10の一対のリード端子 10a 、 10bにおける付け根側の部分を、絶縁板 56を挟み両側から押し付けることにより、これらに通電可能となっている。

[0042] 接触子 71、 72は支持腕 75、 76に取り付けられており、これらの支持腕 75、 76は、昇降シリンダ 77 (図 4参照）によって、発光ダイオード 10の垂直方向循環路 16から外側に外れた上昇位置（図 6における一方の支持腕 75の位置）と、発光ダイオード 10 の一対のリード端子 10a、 10bの付け根側の部位に爪部分 71a、 72aが対峙した下降位置（図 6における他方の支持腕 76の位置）の間を昇降可能である。また、開閉シリンダ 78 (図 4参照）によって、爪部分 71a、 72aが相互に離れている後退位置と、これらが発光ダイオード素子 10のリード端子 10a、 10bに押し付けられた接触位置との間を移動可能となっている。

[0043] 垂直方向循環路 16における通電部 18よりも下流側の部位に配置されている冷却部 19は、通電試験後の高温炉 17から送り出された発光ダイオード素子 10に対して、ブロワ 81 (図 4参照）によって冷却用空気を吹き付けて冷却する。冷却後の発光ダイオード素子 10は再び、水平方向循環路 14の直線状搬送路部分 15に対峙した受け渡し位置に戻る。この受け渡し位置において、高温下での通電試験が終わった検查済み発光ダイオード 10が当該直線状搬送路部分 15に待機している空状態の 32個の素子移送具 35に引き渡される。

[0044] 水平方向循環路 14の素子移送具 35は、検査済み発光ダイオード素子 10の受け渡し動作が終了すると、再び、水平方向循環路 14に沿って搬送される。水平方向循環路 14に沿った搬送は、間欠駆動により 32ピッチ分だけ連続して行われ、しかる後に、搬送が一時停止する。この状態では、次の 32個の検査対象の発光ダイオード素子 10が直線搬送路部分 15に並んだ状態になる。これらの新しい 32個の発光ダイォード素子 10は、検査済みの発光ダイオード素子 10が引き渡されて空になった状態で同一位置に待機している垂直方向循環路側の 32個の素子移送具 50に引き渡される。新しい検査対象の発光ダイオード素子 10の受け取り動作が終了した後は、垂直方向循環路 16に沿って一ピッチ分だけ 32個の発光ダイオード素子 10の送り動作が行われる。

[0045] このように、垂直方向循環路 16の受け渡し位置において、 32個の素子移送具 50 は、検査済みの発光ダイオード素子 10を水平方向循環路 14に戻した後に、新たな検查対象の発光ダイオード素子 10を受け取り、しかる後に、一ピッチ分搬送されるとレ、う動作を繰り返す。また、素子移送具 50の停止時に、通電部 18に位置する素子移送具 50に把持されてレ、る 32個の発光ダイオード素子 10に対する通電試験が個別通電により同時に行われる。

[0046] —方、水平方向循環路 14に戻された検查済み発光ダイオード素子 10のうち、通電試験に合格した良品は、受け渡し位置の下流側に配置されている良品取り出し部 20 において素子移送具 35から開放され、そこに回収される。通電試験に合格しなかつた不良品は、良品取り出し部 20の下流側の不良品取り出し部 21において素子移送具 35から開放され、そこに回収される。このようにして空の状態となった素子移送具 3 5は再び、検查対象の発光ダイオード素子 10の受け取り位置に至り、移送部 13の側力も順次に、検查対象の発光ダイオード素子 10を受け取る。

[0047] このようにして、水平方向循環路 14においては、 32ピッチ分連続して素子移送具 3 5を間欠搬送し、しかる後に搬送動作を所定期間停止するという搬送サイクルが繰り返される。この搬送サイクルに同期させて、供給部 11、極性整列部 12および移送部 13の各部分の動作が制御されて、検査対象の新たな発光ダイオード素子 10がーつずつ水平方向循環路 14の素子移送具 35に引き渡される。

[0048] 以上説明したように、本例の発光ダイオード検査装置 1では、発光ダイオード素子 1 0を高温槽 17に通して加熱した後に通電試験を行っている。したがって、熱歪に起因して断線するおそれの高い発光ダイオード素子を不良品として振り分けることができる。よって、車載用ランプなどのように、高温下で使用される発光ダイオード素子の検査に適している。

[0049] また、本例では、水平方向循環路 14の直線状搬送路部分 15に交差するように、垂直方向に循環する垂直方向循環路 16を配置してある。直線状搬送路部分 15に複数個の発光ダイオード素子 10を並べると、これらを一括して、垂直方向循環路 16に引き渡して、高温槽 17を経由して通電部 18に送ることができる。したがって、多数個の発光ダイオード素子 10をコンパクトな搬送機構によって通電部に送ることができ、装置の小型化、コンパクトィヒに有利である。

[0050] さらに、垂直方向循環路 16に沿って循環する各素子移送具 50の先端面は断熱シート 66、 67によって覆われている。したがって、高温槽 17内を搬送される発光ダイォード素子 10のみが加熱され、各素子移送具 50の側に熱が逃げてしまうことがない。よって、効率良く発光ダイオード素子を加熱でき、高温槽 17の熱容量を小さくできる

[0051] なお、本発明の検查方法および検查装置は、実施例で説明したタイプの発光ダイオード素子の検査に限らず、面実装タイプ、スナップタイプ、その他のタイプの発光ダイオード素子の検査にも適用できる。

Claims

請求の範囲

[1] 検査対象の発光ダイオード素子を加熱する加熱工程と、

前記通電試験の結果に基づき、検査済みの発光ダイオード素子を振り分けて回収する回収工程とを有していることを特徴とする発光ダイオード検査方法。

[2] 請求項 1において、

前記通電工程の後に検査済みの発光ダイオード素子を冷却する冷却工程を有してレ、ることを特徴とする発光ダイオード検査方法。

[3] 前記通電工程に先立って、同一極性のリード端子が同一の側を向くように、搬送される前記発光ダイオード素子の向きを揃える極性整列工程を有していることを特徴とする発光ダイオード検查方法。

[4] 請求項 3において、

前記通電工程では、複数個の前記発光ダイオード素子に同時に個別通電を行うことを特徴とする発光ダイオード検査方法。

[5] 発光ダイオード素子を一定の送りピッチで搬送する第 1循環路と、

この第 1循環路上における素子引き渡し位置に配列された発光ダイオード素子を n 個 (nは正の整数)ずつ受け取り、当該第 1循環路に直交する方向に一定の送りピッチで搬送する第 2循環路と、

冷却後に前記素子引き渡し位置に戻った発光ダイオード素子が、 n個ずつ前記第 1循環路に戻されるようになつていることを特徴とする発光ダイオード検査装置。

[6] 請求項 5において、

前記第 2循環路に沿って発光ダイオード素子を搬送する複数の素子移送具を有しこれらの素子移送具は、一定の送りピッチで n個ずつ配列されており、

各素子移送具は搬送方向に開閉する一対の開閉腕を備え、これらの開閉腕の間に発光ダイオード素子の一対のリード端子が絶縁板を挟んだ状態で把持されるようになっており、

搬送方向に隣接する各素子移送具の開閉腕の先端面は、これらの隙間を封鎖する可撓性の断熱シートによって覆われていることを特徴とする発光ダイオード検查装置。

請求項 5または 6において、

前記通電部は、通電用の n対の接触子を備えており、

当該通電部に搬送されてきた n個の素子移送具に把持されている各発光ダイォード素子におけるリード端子の付け根部分に、両側から各接触子を押し付けて、各発光ダイオード素子に対して個別通電を行うことを特徴とする発光ダイオード検査装置