WO2004059354A1 - 波動伝達媒体および導波回路 - Google Patents

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Toshikazu Hashimoto
Ikuo Ogawa
Takeshi Kitagawa
Senichi Suzuki
Masahiro Yanagisawa
Tomohiro Shibata
Masaki Koutoku
Hiroshi Takahashi
Ryou Nagase
Masaru Kobayashi
Shuichiro Asakawa
Yoshiteru Abe
Tsutomu Kitoh
Takaharu Ohyama
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Definitions

  • Patent application title Wave transmission medium and waveguide circuit
  • the present invention relates to a wave transmission medium, a waveguide circuit using the medium, and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a medium that transmits a wave based on multiple scattering according to a two-dimensional refractive index distribution, and The present invention relates to a waveguide circuit formed by using this and a method for manufacturing the same.
  • optical waveguide structures are used to construct optical circuits for easily realizing light branching and interference.
  • the integrated optical components used make it possible to adjust the optical waveguide length, etc., to facilitate the manufacture of optical interferometers, etc., and to apply circuit processing technology in the semiconductor field.
  • Optical components can also be integrated
  • each component of the optical circuit is realized by an “optical confinement structure” that realizes spatial optical confinement of light propagating in the optical waveguide by utilizing a spatial distribution of a refractive index. Therefore, a cascaded circuit design using optical wiring and the like is required to construct the optical path.Therefore, the optical path length of the optical waveguide circuit is larger than the optical path length required to cause an interference phenomenon in the optical circuit. There was a problem that the In ⁇ optical circuit itself had to be extremely large, inevitably becoming longer.
  • the input port For example, taking a typical array waveguide grating as an example, the input port
  • the optical waveguide has an intermittent refractive index distribution such that the relative refractive index difference is greater than 0.1%.
  • the difference in the refractive index in the optical waveguide is caused by local irradiation of ultraviolet light and heat.
  • the amount of change in the refractive index is often about 0.1% at most, and when changing the propagation direction of light, the change in the refractive index follows the optical path of the optical waveguide.
  • the optical circuit length is inevitably extremely long, which makes it difficult to reduce the size of the optical circuit.
  • a circuit in which a grating-like circuit is added to an optical waveguide circuit has a periodic structure in a direction substantially parallel to the propagation direction of light.
  • a structure with strong periodicity that can be evaluated by Fourier transform is generally obtained because the characteristics of the optical circuit are obtained by a chirp structure in which the periodicity is slightly distorted.
  • the optical circuit disclosed in TW Mossberg "Planar holographic optical processing, Optics Letters, Vol. 26, No. 7, pp 414-416 (2001), light is not reflected in the optical circuit.
  • the transmitted light spreads in the circuit and cannot be used as signal light, and in a circuit such as a branch circuit that changes the spot position greatly in the direction perpendicular to the propagation direction, the light generated (Field) must be greatly expanded in the direction perpendicular to the propagation direction, and the circuit must be large. Furthermore, even in the actual circuit design, only a design method that is almost equivalent to the conventional one-dimensional dray- ing circuit design method such as fiber grating can be realized. Construction
  • the circuit scale is large, the wavelength tends to be sensitive, and the input / output positions are continuously distributed in the order of wavelength. There was a problem that the circuit was limited to a low-degree circuit.
  • an optical wavelength division multiplexing communication system using a plurality of optical wavelengths is being actively carried out in order to increase communication capacity.
  • an optical signal of a plurality of wavelengths is transmitted by a transmitter.
  • an optical wavelength multiplexing / demultiplexing circuit for multiplexing on the optical side or splitting multiple optical signals propagating in one optical fiber into different ports on the receiver side an arrayed waveguide grating type optical multiplexing Demultiplexing circuits are widely used.
  • Fig. 1 is a diagram for explaining an example of the configuration of a conventional arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit (for example, see K. Okamoto, Fundamentals of Optical Waveguides, Academic Press (2000)). )reference).
  • This circuit is composed of an input waveguide 101, a first slab waveguide 102, an array waveguide 103, a second slab waveguide 104, and an output waveguide provided on a substrate 100. Waveguides 105 connected sequentially It is configured.
  • the light input from the input waveguide 101 is expanded by the first slab waveguide 102 and split into an array waveguide 103 composed of waveguides corresponding to each wavelength. You. Then, the light is multiplexed again by the second slab waveguide 104 and guided to the output waveguide 105.
  • the light field pattern projected on the end of the first slab waveguide 102 on the side of the array waveguide 103 basically corresponds to the array waveguide of the second slab waveguide 104.
  • the light is reproduced (copied) at the end on the side of the waveguide 103, but the arrayed waveguide 103 is designed so that the optical path lengths of the optical waveguides adjacent to each other are different by exactly L. Therefore, the light field has a slope depending on the wavelength of the input light. Due to this tilt, the position where the optical field focuses at the end of the second slab waveguide 104 on the side of the output waveguide 105 changes for each wavelength, thereby enabling wavelength demultiplexing. .
  • Such an arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit is becoming an indispensable optical component in an optical multiplex communication system for transmitting optical signals of a plurality of wavelengths in one optical fiber.
  • various proposals have been made for passband-extended arrayed-waveguide-grating optical multiplexing / demultiplexing circuits, which have a wider transmission wavelength bandwidth than the arrayed-waveguide-grating optical multiplexing / demultiplexing circuit shown in FIG.
  • FIGS. 2A and 2B are diagrams for explaining an example of the configuration of a conventionally proposed pass-band-expanded arrayed-waveguide grating-type optical multiplexing / demultiplexing circuit (for example, see K. Okamoto and A. Sugita, Flat spectral response ar ray ed-wavego i de grating multi lexer with parabolic waveguide horns ", Electronics Letters, Vol. 32, No. 18, pp. 1661-1662 (1996)).
  • a conventionally proposed pass-band-expanded arrayed-waveguide grating-type optical multiplexing / demultiplexing circuit for example, see K. Okamoto and A. Sugita, Flat spectral response ar ray ed-wavego i de grating multi lexer with parabolic waveguide horns ", Electronics Letters, Vol. 32, No. 18, pp. 1661-1662 (1996)).
  • the circuit shown in FIG. 1 includes a circuit between the input waveguide 101 and the first slab waveguide 102 in the circuit shown in FIG.
  • This is a circuit configured across a parabolic waveguide 106 having the shape shown in FIG. 2B.
  • 3A and 3B show the propagation direction of light.
  • FIGS. 3A and 3B show the slab waveguide of the parabolic horrara waveguide 11 00 6 in the case of the circuit configuration of FIG. 2A.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining a light field and a distribution of light at a connection surface with 10 2, where z is a light propagation direction,
  • XX means the cross-sectional direction of the waveguide perpendicular to the z ⁇ direction.
  • the light field distribution has a distribution shape having a double peak.
  • the optical field having the double peak is reproduced on the output waveguide side of the 22nd slab waveguide 104 and the output waveguide 100 is reproduced.
  • the passband-expanded arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit having the conventional configuration described above has a wavelength dispersion having a large chromatic dispersion value due to the phase distribution in the parabolic waveguide, as shown in FIG. Since a different delay time is given to the spectrum component, the conventional optical band-multiplexed array waveguide grating type optical multiplexer / demultiplexer having a large chromatic dispersion has a problem that the optical pulse is significantly deteriorated. Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of such a problem, and is smaller than an optical circuit using a conventional optical waveguide circuit or a planar holographic circuit, and can set input and output of light as freely as possible. Furthermore, we have provided an optical (wave) transmission medium for realizing an optical circuit that can control optical signals with sufficiently high efficiency even with a gentle refractive index distribution (small height difference).
  • An object of the present invention is to provide a waveguide circuit, and to provide an arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit having small chromatic dispersion.
  • the present invention is directed to a first aspect of the present invention, in which a position on a circuit where a cross section having a desired optical input / output is to be given is provided.
  • a wave transmission medium that outputs incident light from an input port (input port) to a desired output port (output port) when it is referred to as a set. It has a spatial refractive index distribution determined so that the incident light from the cap propagates in the wave transmission medium with multiple scattering, and the local position in the wave transmission medium is a virtual position. It is specified by virtual pixels defined by a mesh, and is characterized by forming a spatial refractive index distribution of the wave transmission medium by the refractive index of each of the pixels.
  • the refractive index distribution of the wave transmission medium is such that the phase of the field of the forward-propagating light of the incident light from the input port and the back-propagating light in which the outgoing light is phase-propagated / backpropagated Is set to match the phase difference of the field at each point of the wave transmission medium.
  • the refractive index that can be taken of the pixel is either low refractive Oriritsu (n L) or a high refractive index (n H), ⁇ refractive index distribution, a low refractive index (li t) This is obtained by spatially arranging pixels having a refractive index (n H ) and pixels having a refractive index (n H ).
  • the existence probability of the pixel having the low refractive index (n ⁇ ) in the propagation direction of the incident light in the wave transmission medium is 30% or less.
  • the pixel may take a finite number of refractive indices between a lower limit refractive index and an upper limit refractive index, and the refractive index distribution has any one of the limited number of refractive indices. It is provided by spatially arranging the pixels.
  • the light incident from the input port is transmitted to a location.
  • the above-described refractive index distribution is determined so that the light is demultiplexed at the desired output port h at a desired ratio.
  • the light incident from the input port is a wavelength multiplexed light of a plurality of wavelengths, and ⁇ [-a different output port associated with the light of each wavelength forming the wavelength multiplexed light.
  • the refractive index distribution is determined so that the light is demultiplexed at the beam position.
  • the light incident from the B [J ci input port is a wavelength multiplexed light of a plurality of wavelengths, and the lights of the respective wavelengths constituting the wavelength multiplexed light are different from each other at a desired ratio.
  • the refractive index distribution is determined so as to be demultiplexed to the output port position.
  • the light incident from the input port is a polarization multiplexed light in a T ⁇ mode and a TM mode, and is associated with each polarization constituting the polarization multiplexed light.
  • the refractive index distribution is determined so that the light is demultiplexed to different output port positions.
  • the light incident from the input port is a T T mode and a TM mode polarization multiplexed light, and the respective polarizations forming the polarization multiplexed light are mutually separated at a desired ratio.
  • the refractive index distribution is determined so that the light is split into different output port positions.
  • the substance constituting the wave transmission medium is a dielectric.
  • a second invention is a method for producing a wave transmission medium of the present invention
  • the determination of the refractive index distribution in the second step is performed by a steepest descent method using a refractive index of each of the pixels as a variable.
  • a third invention is a method for manufacturing a wave transmission medium according to the present invention, comprising a first routine for successively approximating the refractive index distribution and a second routine, and a Wlefl first routine.
  • the second routine includes: ⁇ a refractive index distribution determined in the first routine.
  • Step the phase of the itl field and distribution 1 at the position in the wave transmission medium
  • -Step 9 and the ninth step of moving the position by a predetermined amount in the forward propagation direction and redefining it as a new position, and ⁇ the sixth to ninth steps are repeated to successively approximate the mad refractive index distribution.
  • the field distribution when the outgoing light is propagated to the incident surface in the refractive index distribution before the successive approximation is used.
  • the field distribution 1 the field distribution obtained by forward propagation in the previous refractive index distribution
  • the incident light is propagated to the exit surface in the successively approximated refractive index distribution.
  • the field distribution obtained by back-propagating the field distribution at the time of the approximation into the refractive index distribution before the successive approximation is used.
  • the first routine and the second routine are repeated until the field distribution 1 and the field distribution of the emitted light become equal to or less than a desired error.
  • each of the HU field distribution 1 and the field distribution 2 contains the reflected light components of the ⁇ incident light and the back propagation light in the wave transmission medium. It is rare.
  • the incident light from the input port is wavelength-division multiplexed light of a plurality of wavelengths or polarization-division multiplexed light of a ⁇ mode and a ⁇ mode, and The successive approximation is performed for each wavelength of the multiplexed light.
  • the field distribution 2 defined for each knitted wave so that each wave forming the ⁇ ⁇ -self-multiplexed light is split into different output points at a desired ratio.
  • the refractive index distribution is
  • a fourth invention is a waveguide circuit characterized in that the wave propagation medium of the present invention is two-dimensionally arranged on a substrate.
  • a multi-mode interference circuit is formed using this waveguide circuit.
  • a fifth invention is an optical circuit c configured as follows using the waveguide circuit of the present invention.
  • an optical bending circuit configured using the waveguide circuit of the present invention or a refractive index distribution of the waveguide circuit is realized by a local refractive index change of the waveguide circuit based on the electro-optic effect.
  • the virtual mesh is a component of a unit cell forming the waveguide region by periodic repetition M.
  • the unit cell has a shape forming a quasi-periodic structure.
  • the refractive index value that can be taken by the pixel is binarized and is either a high refractive index ( ⁇ ⁇ ) or a low refractive index (n L ).
  • the size of the pixel having the high refractive index is set to be equal to or less than the wavelength of light propagating in the waveguide region.
  • the value given by the following expression is 0.1 or less.
  • the pixel having the high refractive index has a polygonal shape of an n-sided polygon (n is an integer of 3 or more), and any of the sides is inclined with the propagation direction of light propagating through the waveguide region.
  • the pixels are arranged in such a manner as to perform the operation.
  • the polygonal shape is a square, and the angle of the inclination is 45 degrees.
  • each of the pixels has a desired size larger than an area defined by the virtual mesh, and any of the pixels is defined by the virtual mesh. It is located at a position shifted from the lattice position.
  • the pixel having the high refractive index ( nH ) includes a first high refractive index layer and a second high refractive index layer having a lower refractive index than the first high refractive index layer. While the pixel having the low refractive index (n) has a waveguide portion including the second high refractive index layer, and the pixel having the low refractive index (n) has the waveguide portion in which the second high refractive index layer is formed. H )) and the center of the optical field diameter propagating in the waveguide of the pixel having the low refractive index ( nt ) is equal to the center of the optical field diameter propagating in the waveguide of the pixel having the low refractive index ( nt ). It is set to be on the same plane parallel to the substrate surface.
  • the waveguide region is made of a dielectric material, and the dielectric material has a light loss function or a light amplification function.
  • the dielectric material has a complex refractive index that depends on the wavelength of light.
  • the waveguide region includes at least a first low-refractive-index layer, a high-refractive-index layer serving as a waveguide, and a second low-refractive-index layer. It has a next laminated structure, and the first and second low refractive index layers have "!
  • At least one surface of the high refractive index layer is provided with a concave portion to form relief-shaped patterning, and the concave portion is a low refractive index portion, and a portion other than the concave portion is formed.
  • ⁇ ⁇ The spatial refractive index distribution is given by using the refractive index portion.
  • the relief-shaped pattern ending is
  • a relief-shaped c applied to both surfaces of the high refractive index layer. Evening patterns are different from each other.
  • the depths of the concave portions of the relief-shaped patterns provided on both surfaces of the high refractive index layer are all equal.
  • the pixel is divided into a plurality of virtual sub-pixels having a binarized refractive index of either a high refractive index ( nH ) or a low refractive index (nL) ′.
  • the refractive index distribution of the pixel is given by the binarized arrangement of the sub-pixels.
  • the refractive index difference is changed over a distance of one wavelength or more as the rate of change of the refractive index difference (the spatial change ratio of the propagation constant of the propagating light in the wavefront traveling direction).
  • a cross-sectional shape of the pixel or the sub-pixel parallel to the substrate is a circle.
  • a cross-sectional shape of the pixel or the sub-pixel perpendicular to the substrate is a shape having a smoothly changing curve.
  • At least one of the first and second low refractive index layers is formed by stacking a plurality of layers having different refractive indexes from each other. Has been established.
  • the optical circuit is an optical circuit having a simultaneous broadcast / broadcast configuration having three or more input / output ports, and the spatial refractive index distribution is output from an m-filled output port.
  • the optical circuit is an optical circuit having a simultaneous broadcast / broadcast configuration having three or more input / output ports, and the spatial refractive index distribution is output from an m-filled output port.
  • the HU Pti optical circuit is an optical circuit having a simultaneous broadcast system having three or more input / output ports.
  • the spatial refractive index distribution is obtained from the input / output port.
  • the branch ratio of the ⁇ Bd optical circuit is asymmetric.
  • the optical circuit preferably has an amplifying function.
  • the mi optical circuit has a plurality of input ports, and that the optical signals input from the plurality of input ports are output from the same emitting surface.
  • the spatial refractive index distribution is set to iu, which adjusts and superimposes the phase of each signal light output from a plurality of input ports to shape the shape of the output light field.
  • a fu optical circuit and a circuit for inputting light with a phase difference between a plurality of input ports of the circuit be arranged at the front stage, and an output of the circuit be arrayed by an array waveguide diffraction.
  • FT is set so that it is placed at the input of the grating and moves at the output frequency interval of the field peak position irf ⁇ array waveguide diffraction grating to flatten the filter.
  • a sixth invention is an arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit constituted by using the waveguide circuit of the present invention, wherein an input waveguide, a first slab waveguide, and an array waveguide are arranged on a plane substrate. The waveguide, the second slab waveguide, and the output waveguide are sequentially connected, and the connection area between the input waveguide and the first slab waveguide is compared with the refractive index of the input waveguide. A plurality of scattering points having a high refractive index.
  • the scattering points are arranged such that there is no distortion in an equal phase plane of an optical field formed at an output end of the input waveguide, and the scattering point has a double peak in amplitude.
  • a two-dimensional distribution of the scattering points in the input waveguide is substantially line-symmetric with respect to a straight line extending in the light propagation direction.
  • the length of one side of the scattering point is 0.2 m or more.
  • the planar substrate is a silicon substrate.
  • the optical waveguide is a silica glass optical waveguide.
  • an optical circuit using a conventional optical waveguide circuit or a planar holographic V-circuit is smaller, the input and output of light can be set as freely as possible, and a more gentle refractive index distribution
  • a light (wave) transmission medium for realizing a waveguide circuit that enables sufficiently high-efficiency optical signal control even with a high or low refractive index, thereby realizing a highly efficient and compact optical circuit. It becomes possible.
  • the arrayed waveguide optical multiplexing / demultiplexing circuit of the present invention is capable of simultaneously controlling the phase and intensity of propagating light by arranging a plurality of scattering points based on a spatial refractive index distribution in an input waveguide.
  • the arrayed waveguide type optical multiplexing / demultiplexing circuit with reduced chromatic dispersion.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration example of a conventional arrayed waveguide grating optical multiplexing / demultiplexing circuit.
  • FIGS. 2A and 2B are diagrams for explaining an example of the configuration of a conventionally proposed passband and enlarged array waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining the optical field F distribution at the connection surface of the laboratory waveguide with the slab waveguide when the configuration is adopted;
  • Fig. 4 is a diagram for explaining the chromatic dispersion value of the passband-magnified arrayed waveguide grating type optical demultiplexer of the conventional configuration.
  • 5A to 5C are diagrams for explaining a basic concept and a basic structure which are the basis of the wave transmission medium of the present invention.
  • Fig. 6 is a diagram to make the configuration example of the conventional arrayed waveguide grating circuit P-convertible.
  • FIG. 7 is a flowchart for explaining a calculation procedure for determining the spatial refractive index distribution of the wave transmission medium of the present invention.
  • Figure 8 is a diagram showing an example of the field in the wave transmission medium to facilitate understanding of the calculation procedure.
  • 9A and 9B are diagrams for explaining the measurement of the optical circuit meter in the first embodiment.
  • FIG. 10A and FIG. 10B show the refractive index distribution
  • FIG. 11A to 11C are diagrams for explaining the transmission spectrum (FIG. 10B) and the transmission spectrum (FIG. 10B). Diagram for explaining the optical circuit of Example 1 which can be confined,
  • FIG. 12 is a flowchart showing a simplified flow of the optical circuit design of the second embodiment. ⁇ one chat,
  • FIGS. 13A to 13C are diagrams for explaining field data for executing the algorithm shown in FIG. 12,
  • FIG. 1A is a diagram showing the convergence of the calculation in the first embodiment
  • FIG. 14B is a diagram showing the convergence of the calculation in the second embodiment
  • FIG. 15A is the light of the second embodiment. Figure for explaining the refractive index distribution of the circuit
  • FIG. 15B is a diagram for explaining the transmission spectrum of the optical circuit according to the second embodiment.
  • FIGS. 16A and 16B are diagrams for explaining the setting of conditions for the optical circuit design of the four-wavelength demultiplexer of the third embodiment.
  • FIGS. 17A and 17B are diagrams for explaining the transmission loss spectrum (transmittance (dB)) of the optical circuit calculated in Example 3, and FIG. Fig. 4 is a diagram for explaining the condition setting for the optical circuit or meter of Example 4, a diagram in the case where a simple band overfill is set,
  • FIG. 18B is a diagram for explaining condition conditions for the optical circuit meter according to the fourth embodiment.
  • FIG. 18B is a diagram when a die for shaping a pan is provided.
  • FIG. 19A is a spectrum of transmission loss of output light output from the output port of the optical circuit adjusted under the condition setting shown in FIG. 18A.
  • Fig. 19B shows the transmission of the output light from the output port of the optical circuit adjusted under the condition settings shown in Fig. 18B.
  • Figure 20A shows the / li of the optical circuit of Example 5.
  • FIG. 20B is a diagram for explaining the spectrum of the excess loss of the optical circuit according to the fifth embodiment.
  • FIG. 21A is a diagram for explaining the setting of the input / output pair of the optical circuit according to the sixth embodiment.
  • FIG. 21B is a diagram for explaining the setting of the emission field distribution of 1.5 ⁇ m in the optical circuit according to the sixth embodiment.
  • FIG. 21C is a diagram for explaining a transmission loss spectrum of output light when input light is input from port a of the optical circuit of the sixth embodiment.
  • FIG. 21D is a diagram for explaining a transmission loss spectrum of output light when input light is input from port b of the optical circuit of the sixth embodiment.
  • Fig. 22 is a diagram for explaining the outline of the handling of the propagation matrix when the reflection component is also taken into account in the seventh embodiment, and is a diagram focusing on only the minute parts in the optical circuit.
  • FIG. 23A is a diagram for explaining the setting conditions of the optical circuit (wavelength filter) according to the seventh embodiment.
  • FIG. 23B is a diagram for explaining a spectrum of transmission loss of the optical circuit (wavelength filter) according to the seventh embodiment.
  • FIG. 24A is a diagram for explaining the refractive index distribution in the 16-branch optical circuit of the eighth embodiment.
  • FIG. 24B is a diagram for explaining the state of light propagation in the 16-branch optical circuit of the eighth embodiment.
  • FIG. 24C is a diagram showing the light transmission loss dB of the light output from each of the 16 output ports in the 16-branch optical circuit of the eighth embodiment
  • FIG. 25A is a diagram of the ninth embodiment. Diagram for explaining the refractive index distribution of the bending circuit
  • FIG. 25B is a diagram for explaining the state of light propagation in the bending circuit of the ninth embodiment.
  • FIG. 26A is a diagram for explaining the refractive index distribution in the optical circuit design area in Example 10.
  • FIG. 26B is a diagram for explaining the state of field propagation for each wavelength of light propagating in the optical circuit in the tenth embodiment.
  • FIG. 27A is a diagram for explaining the refractive index distribution in the optical circuit design area in Example 11;
  • FIG. 27B shows the probability that a gap appears in the waveguide per unit length (horizontal axis) in the optical circuit design area in Example 11 and the gap in the high refractive index portion is continuous (ie, diagram for explaining a relationship between the low refractive index portion is continuous) frequency for each number N g of pixels cells (vertical axis),
  • FIG. 2 8 a is a cross-sectional view of the electrode structure of example 1 2,
  • FIG. 28B is a diagram for explaining an example of the configuration of an optical circuit using the element shown in FIG. 28A,
  • FIGS. 29A and 29B are diagrams for explaining a configuration example of the wavelength filter of 1.3 1 m / 1.55 m of the embodiment 13;
  • FIG. 30 is a diagram for explaining a state of light spread when a dielectric pixel constituting the optical circuit of Example 13 is considered as a light scattering point.
  • Figures 31A and 31B show the transmission loss and crosstalk characteristics when an optical circuit with a wavelength filter of 1.3 1 1.55 m is configured by changing the pixel size W as a parameter. Diagram for explaining the pixel size dependency,
  • FIGS. 32A and 32B are diagrams for explaining the light confinement levels in the substrate vertical direction and the substrate horizontal direction in the planar optical circuit of Example 14;
  • Figure 33 shows one point per unit including the minimum pixel unit of 3 m square. Figure to explain the field dependence of radiation loss (coupling loss)
  • FIG. 34A is a diagram for explaining an optical circuit in Example 15 in which pixels are arranged in the light propagation direction.
  • FIG. 34B is a diagram for explaining an optical circuit in which pixels are arranged to be inclined with respect to the light propagation direction in the embodiment 15;
  • FIG. 35A is a diagram for explaining an optical circuit in Example 16 in which pixels are arranged at grid points defined by virtual meshes to form a refractive index distribution,
  • FIG. 35B is a diagram for explaining the optical circuit in Example 16 in which the refractive index distribution is formed by arranging pixels in the y direction irrespective of the positions of the lattice points.
  • Fig. 36A illustrates the refractive index distribution of an actual optical circuit (1.31 m and 1.55 m wavelength filters) created corresponding to the pixel arrangement shown in Fig. 35A.
  • Figure to do
  • Fig. 36B shows the refractive index distribution of the actual optical circuit (wavelength filters of 1.31 m and 1.55 m) fabricated according to the pixel arrangement shown in Fig. 35B.
  • FIGS. 37A to 37C are diagrams for explaining a procedure for manufacturing an optical circuit in Example 17;
  • Fig. 38 shows the light with the region where the high refractive index layer ⁇ 2 is removed by etching as the “low refractive index region”, and the region where the high refractive index layer ⁇ 2 is left without being removed by the etching as “high refractive index region”.
  • FIG. 39 is a diagram for explaining a calculation example for adjusting parameters over time in Embodiment 17;
  • FIG. 40 is a diagram for explaining the characteristics (wavelength dependence of transmission loss) of the 1.3 1 / 1.55 ⁇ m WDM circuit, which is the optical circuit of Example 17;
  • FIG. 41A and FIG. 41B show the manufacturing of the optical circuit of Example 18-1. Diagram for explaining the method,
  • FIGS. 42A and 42B are diagrams for explaining a method of manufacturing the optical circuit of Example 18-2.
  • FIGS. 43A to 43D are diagrams for explaining a method of manufacturing the optical circuit of Examples 18 to 3;
  • FIGS. 44A and 44B are diagrams for explaining a method of manufacturing the optical circuit of Example 18-14.
  • FIGS. 45A to 45C are cross-sectional views of a waveguide for explaining the state of the refractive index distribution of the optical circuit of Example 18-5.
  • FIG. 46 has the structure shown in FIGS. 45A-45C, 1.3.
  • FIGS. 47A to 47C are schematic diagrams for explaining the configuration of the optical circuit of Example 19;
  • FIGS. 48A to 48C are cross-sectional views for explaining the configuration of the optical circuit of Example 20.
  • FIG. 49 is a cross-sectional view of the waveguide portion of the optical circuit of Example 21.
  • FIGS. 50A to 50C are top views showing examples of sub-pixels of the optical circuit of Example 22.
  • FIG. 51A is a conceptual diagram of a refractive index distribution of a waveguide having a structure in which a refractive index changes in a direction parallel to a substrate in Example 23.
  • FIG. 51B is a refraction of Example 23. A diagram for explaining the state of return attenuation when a plane wave is propagated in the rate distribution,
  • Fig. 52A is a conceptual diagram for explaining the state of the effective refractive index distribution in a unit pixel when the pixel shape is circular
  • FIGS. 52B and 52C are top schematic views of a portion of a circuit configured using circular pixels
  • Figure 53 is a diagram for explaining the state of the pixel array when the pixel shape is a honeycomb shape.
  • Figure 54 is a diagram for explaining an incomplete periodic structure called “quasi-periodic structure”.
  • Fig. 55 5 is a diagram for explaining an example of the configuration of an optical circuit with a mutual broadcast / broadcast reception configuration.
  • FIG. 56 is a schematic diagram of the signal flow between each port of the optical circuit of FIG.
  • FIG. 57 is a diagram for explaining a state in which the signal flow between the ports schematically illustrated in FIG. 56 is deformed without breaking the signal flow of the book B,
  • Figure 58 shows the outline of a communication network using an unequal distribution circuit [ ⁇ J,
  • Figure 59 is a conceptual diagram of the application of the unequal distribution circuit.
  • FIG. 60A and FIG. 60B are diagrams for explaining the properties of the arrayed waveguide diffraction grating
  • FIG. 61 is a diagram for explaining the relationship between the output spot center position and the wavelength.
  • FIG. 62 is a diagram for explaining the configuration of the optical circuit in the embodiment 27.
  • FIG. 63 is a diagram for explaining how the center position moves when a gas function is assumed as the field shape.
  • Fig. 64A is a diagram for explaining the state of the phase equilibrium plane of the output field from the waveguide having the conventional configuration.
  • FIG. 64B is a diagram for explaining the state of the phase equidistant plane of the output field from the waveguide having the circuit configuration of the present invention.
  • Fig. 65 shows a near-field image of a near-field image of a spot whose diameter is shaped only in the horizontal direction using a holographic wave transmission medium made of quartz-based planar lightwave circuit technology with a relative refractive index difference of 1.5%.
  • Figure 66 illustrates the field distribution of the double peak in the parabolic waveguide provided in the conventional circuit shown in Figure 2A.
  • FIGS. 67A to 67E are diagrams for explaining the manufacturing process of the low dispersion arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit of the present invention.
  • Figure 68 is a diagram for explaining an example of the input waveguide structure (scattering point arrangement) connected to the slab waveguide of the pass-van expanded array waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit.
  • FIG. 69 is a diagram for explaining the calculation results of the distribution (amplitude and phase) of the optical field emitted from the input waveguide having the scattering point arrangement shown in FIG.
  • FIG. 70 shows a channel spacing of 100 using the input waveguide of the embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining a result of configuring an array waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit of G H z and verifying the effect of increasing the path and the effect of reducing wavelength dispersion of the circuit.
  • the wave propagation medium propagating in the wave transmission medium is ⁇ light J
  • the wave transmission medium is
  • the medium is used as an optical circuit
  • the theory on which the present invention is based specifies the characteristics of a medium based on a general wave equation, and the principle is also applied to a general wave. Therefore, the present invention can be applied to media that can propagate a broadly defined “electromagnetic wave” by multiple scattering. Not only is it applicable to electron waves with negligible body effects or electron waves with macroscopic coherence.
  • a wave signal may include a signal due to an electromagnetic wave or an electron wave in addition to the optical signal.
  • the wave propagation medium of the present invention is not limited to a narrow-feature optical circuit, but also includes a demultiplexer, a multiplexing aa, and a photographic optical optics such as a pod filter, a hologram lens, and the like. Therefore, the term “optical circuit J” used in this specification is intended to facilitate understanding of the characteristics of the wave propagation medium of the present invention.
  • the wave transmission medium itself (or a general waveguide circuit) can be interpreted as something that can be tasted.
  • the property of a wave transmission medium is defined by “refractive index”, but “ ⁇ refractive index” is, as defined by the wording, a wave in the propagation of a general planar wave. It means the ratio of refraction of the wave (the ratio of deflecting the direction of the plane wave), and specifies the properties of the medium with respect to the wave signal. For example, in the case of an optical signal, it is mainly a dielectric constant, and in the case of an electron wave signal, it is mainly an electric field.
  • the wave transmission medium of the present invention can be rephrased as a “holographic” wave transmission medium, and the meaning of the “holodaraf” wave transmission medium is a global transmission over the entire circuit by the wave transmission medium.
  • holo-dural control at various levels is realized by local holographic control and a set (controlled multiple scattering).
  • the wave transmission medium of the present invention is used to input a coherent light pattern.
  • the refractive index is arranged so that the phase difference between the forward propagating light and the back propagating light propagating in the medium becomes small at any place in the medium, By repeating holographic control at various levels in a multiplex manner, global holographic control is realized.
  • FIG. 5A C is a diagram for explaining a basic concept and a basic structure which are the basis of the wave transmission medium of the present invention.
  • 1 is an optical circuit board
  • 111 is a domain of an optical circuit composed of the wave transmission medium of the present invention. Is an incident surface 2-1 on which the input light 31-1 is transmitted while performing multiple scattering in an optical circuit having a spatial refractive index distribution composed of a wave transmission medium, and is the other end surface. The light is output from output surface 2-2 as output light 3_2.
  • the wave transmission medium is made of a dielectric material
  • the spatial refractive index distribution is expressed by the local refractive index of the electrical conductor constituting the medium as described below. It is assumed to be realized by setting ⁇ _ based on
  • the “field” (input field) formed by the input light 3-1 is modulated in accordance with the distribution of the refractive index of the wave transmission medium that forms the optical circuit to form the output light 3-2 Also "field” (output field)
  • the wave transmission medium of the present invention is (electromagnetic) field conversion means for correlating the input field and the output field according to the spatial refractive index distribution.
  • the light field in a cross section perpendicular to the propagation direction in the optical circuit (the z axis direction in the figure) is placed at the location (X , Z) in the (forward) propagation image (propagation field or propagation light) (See Fig. 5B.)
  • the coordinate z in Fig. 5A is the coordinate in the light propagation direction (z
  • field means what is generally called an electromagnetic field (electromagnetic field) or a vector potential field of the electromagnetic field.
  • the control of the electromagnetic field in the case of this embodiment is equivalent to considering the spatial refractive index distribution provided in the optical circuit, that is, the distribution of the dielectric constant.
  • the mouth power is given as a tensor, the transition between the polarization states is usually not so large, so that a scalar wave approximation for only one component of the electromagnetic field is a good approximation. Therefore, in this specification, the magnetic field is treated as a complex scalar wave.
  • the “ ⁇ state of light” includes an energy state (wavelength) and a polarization state. Therefore, when “field” is used to represent the state of light, the wavelength and polarization state of the light must be expressed. Can also be included
  • the image of the input light 31 (input field) other than the point is the image of the output light 3-2 (output field).
  • Such a field of light traveling from the exit surface 2-2 to the entrance surface 2-1 is called a counter-propagation image (counter-propagation field or counter-propagation light) (see Fig. 5C).
  • Backpropagation image can be defined for each location in the optical circuit
  • the output light 3-2 image will be similar to the above.
  • the backpropagation image can be defined for each location in the optical circuit.
  • the exit field is the incident field.
  • Field propagation field In the case of the optical path, the propagation field at an arbitrary point in the optical circuit coincides with the back propagation field. Note that the field is primarily a function of the entire space of interest, but the term “entry field J or outgoing field” refers to the cross-section of the field at the entrance or exit surface. ing. Also, in the case of “field distribution”, when we discuss about a specific cross section, we like the cross section of the field for that cross section.
  • the light of each state is generally denoted by the index j.
  • the entire refractive index distribution may be expressed as n q (x, z) with ( ⁇ , ⁇ ) as an indefinite variable, but the value of the refractive index n q (x, z) at the location (x, z) In order to distinguish from the above, ⁇ n q ⁇ is used for the entire refractive index distribution.
  • n core A symbol that indicates a higher index of refraction than the surrounding index, such as the core of an optical waveguide.
  • n c, ad like clad part of the optical waveguide, n e. Symbol indicating low refractive index value for re .
  • Y i (z, x, ⁇ n Q ⁇ ) The field at location (X, z) when the j-th incident field j (x) is propagated through the refractive index distribution ⁇ n q ⁇ to z. Field value.
  • “Input port” and “output port” are the “regions” where the fields are concentrated at the input end face and the output end face.For example, by connecting an optical fiber to that part, the light intensity is output to the fiber. It is an area that can be propagated. Here, the intensity distribution and phase distribution of the field are different between the j-th and k-th fields. Therefore, it is possible to provide a plurality of ports on the entrance S and the exit end face. Furthermore, considering the pair of the input field and the output field, the phase generated by the propagation between them differs depending on the frequency of the light. Therefore, the phase of the light having a different frequency (that is, the light having a different wavelength) includes the phase.
  • the ports can be set as different ports regardless of whether the field shapes are the same or orthogonal.
  • the sign shall be alphabetical capital letter ABC • • • on the input port side and alphabetic small letter ab C-• on the output port side.
  • the j-th incident field and the corresponding desired emission fields to be emitted are respectively denoted by ⁇ j (X) and ⁇ j (X).
  • the electromagnetic field is a field of a real number vector value and has a wavelength and a polarization state as a parameter, but the value of the component is represented by a complex number which is easily handled in general mathematical operations.
  • the field and the overall intensity are normalized to 1.
  • the jth hundred incident and outgoing fields are Groups that are distinguished from each other by their intensity distribution and phase distribution or wavelength or polarization. The elements of the set of light that have properties are appropriately ordered.
  • Figure 6 is a diagram for explaining an example of the configuration of a conventional arrayed waveguide grating circuit.
  • An array waveguide 5 provided between the two and a wave plate 6 provided at the center of the array waveguide 5 are formed.
  • wavelength multiplex communication as shown in this figure
  • the ⁇ signals with different ⁇ ⁇ and output the light of the j-th wavelength from the desired individual output port 3-2.
  • the distribution of the intensity and phase of the light of the j-th wavelength in the cross section of the exit surface of the waveguide is required to have an independent exit field pattern. Is called the j-th emission field.
  • the fields to be output are a set of fields in which each independent output field is spatially different.
  • the pattern of the incoming or outgoing fields must be such that the intensity and phase distributions are j-th.
  • the k-th may be the same.
  • FIG. 7 is a flow chart for explaining the calculation procedure for determining the spatial refractive index distribution of the wave transmission medium according to the present invention.
  • Step S220 Based on the refractive index distribution ⁇ n q- , ⁇ obtained by the (Q-1) th calculation, the propagation field for each j th input field X) and output field ⁇ J (X) is calculated. And the backpropagation field are calculated by numerical calculation, and the results are expressed as j ( ⁇ , ⁇ , ⁇ n q and ⁇ i (z, x, ⁇ n q- , ⁇ ), respectively). (Step S220).
  • n q (z, ⁇ ) n q _! (z, x) 3 ⁇ Im [ ⁇ J (z, x, ⁇ n q ., ⁇ ) * ⁇ ⁇ 1 , x, ⁇ n q ., ⁇ )] ⁇ ⁇ ⁇ (1)
  • in the second term on the right-hand side means the dot product operation, and means the imaginary component of the field dot product operation result in [].
  • the symbol “*” is a complex conjugate.
  • the coefficient is a value obtained by dividing a value less than a fraction of n q (z, x) by the number of field pairs, and is a small positive value. ⁇ i sums over index j Meaning.
  • Step S 2 2 0 and S 2 4 the value j at the exit plane of propagation Fi one field (z e, x, ⁇ n ⁇ ) is the absolute value of the difference between the exit field [Phi j (X) of the desired When the error becomes smaller than the error dj (step S230: YES), the calculation ends.
  • the basis for calculating the refractive index n q (z, X) as in the above equation (1) is as follows, and corresponds to obtaining the refractive index distribution by the steepest descent method.
  • the refractive index distribution ⁇ nq _, ⁇ field incident light propagated by - (z e, X, ⁇ ⁇ ⁇ ) and, since the difference between the output ⁇ j (X) to be finally obtained is minimum the residual R ⁇ j I ⁇ j ( x) - ⁇ j (z e, x, ⁇ . n q, ⁇ ) may if the I 2 is the minimum.
  • ⁇ j (X) etc. indicates that it is a function of X, and does not mean the specific: X coordinate.
  • each pair may be weighted, but for simplicity, the sum will be calculated with the same weight.
  • the inner product is defined by the field overlap integral.
  • This superposition of light fields has a finite energy and the fields handled are limited to a spatially finite range. Therefore, the field here forms a Hilbert space, and light propagation is defined as a unitary transformation having the following properties.
  • z. J (z, X, ⁇ n q ., ⁇ ) U (z, z 0 , ⁇ n q _, ⁇ ) ⁇ j (z., X, ⁇ n q ., ⁇ )
  • U (z ⁇ ., ⁇ N q — is a self-adjoint operator of U (z, z., ⁇ N ⁇ )
  • U (z, z., ⁇ Nq-J) — 1 is the inverse operator of U ( ⁇ , z Q , ⁇ ⁇ ), that is, the operator that gives backward propagation.
  • U ( ⁇ ', ⁇ , ⁇ n Q _) is a matrix that can convert just one step, such as in the beam propagation method. It can be considered that U (z, z., ⁇ N q ⁇ ) is the one that divides the propagation direction appropriately and repeats this operation.
  • ⁇ ⁇ ⁇ ( ⁇ ,, z, ⁇ n q ., ⁇ ) -i ⁇ ⁇ x n q- , ( ⁇ , ⁇ ) ⁇ ⁇ ⁇ (6)
  • is a value that is approximately the same as the propagation constant in a vacuum and is an appropriate positive coefficient, but will not be discussed in detail here because it is combined with other coefficients in the calculation.
  • the initial value of the refractive index distribution ⁇ n. ⁇ Can be set appropriately, but this initial value ⁇ n. Is closer to the expected refractive index distribution, the convergence of the calculation becomes faster (step S200). Also, when calculating ⁇ j (z, x, ⁇ n q , ⁇ ) and 1 (z, x, ⁇ n q ., ⁇ ) For each j, in the case of a computer that can calculate in parallel, j (ie ⁇ j (z, x, ⁇ n q , ⁇ ) and j ( ⁇ , ⁇ , (n q ⁇ )), the efficiency of the calculation can be improved by using a cluster system or the like (step S220).
  • step S2220 If the computer is configured with a relatively small amount of memory, select the appropriate j for each q in the sum of the index j in equation (1), and select ⁇ j (z, X , ⁇ n q- [ ⁇ ) and j (z,, ⁇ ng ., ⁇ ) only, and the subsequent calculations can be repeated (step S2220).
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of the state of a field in a wave transmission medium to facilitate understanding of the above-described calculation procedure.
  • X the optical circuit design area 11 composed of the wave transmission medium of the present invention
  • X the cross section of this small area.
  • the “nearly negligible width” means that the phase of the propagating light is almost the same as the original wavefront when the light propagates through the medium without the refractive index distribution by the distance ⁇ z Means such a distance.
  • the optical circuit on the entrance surface 2-1 side of the cross section X is the A circuit
  • the optical circuit on the exit surface 2-2 side is the B circuit
  • the cross section X is the interface between the A and B circuits.
  • phase conjugate light of the light propagating in the circuit A the fields of the guided light, diffracted light, and scattered light in which the emission field ⁇ j (X) propagates in the circuit B in the opposite direction to the circuit A
  • the sum of C is the field ⁇ j (z x + ⁇ z, x, ⁇ n q ⁇ ).
  • the determination of the spatial distribution of the refractive index in the present invention is, in other words, a method in which a virtual mesh is defined in the wave transmission medium, and the refractive index of a minute region (pixel) defined by the mesh is determined for each pixel. It is possible. In principle, such a local refractive index can be set to an arbitrary (desired) value for each location, but a system having a simple base has a low refractive index (nL). This is a system consisting only of pixels having a high refractive index (n H ) and pixels having a high refractive index, and the overall refractive index distribution is determined by the spatial distribution of these two types of pixels.
  • the wave transmission medium of the present invention can also be expressed as a desired place (pixel) in a medium having a uniform refractive index replaced with a pixel having a different refractive index.
  • an input port and an output port are provided in a medium (dielectric material in the case of light) that can make a wave holographically is ⁇ , and the field distribution 1 ( Field distribution of the phase conjugate light 2 (forward propagating light) and the phase conjugate light that is backpropagated from the output port side to the output field expected when the optical signal incident from the input port is output from the output port side. Back-propagating light) and are calculated by numerical calculation. Then, based on these field distributions 1 and 2, the spatial refractive index distribution in the medium is calculated so as to eliminate the phase difference at each point (X, Z) of the propagating light and counterpropagating light. As a method for obtaining such a refractive index distribution, m ⁇ 3 ⁇ 4.
  • the refractive index can be calculated by changing the refractive index in the direction obtained by the descent method using the refractive index of each point as a variable.
  • the difference between the two fields can be reduced. If a wave propagation medium such as that described above is applied to an optical component that causes light incident from an input port to exit to a desired output port, an interference phenomenon caused by multiple scattering of propagating waves generated in the medium will occur. However, even if the effective optical path length becomes longer and the refractive index changes (distribution), the optical circuit can have a sufficiently high optical signal controllability.
  • an optical circuit configured using the above-described wave transmission medium will be described with reference to examples.
  • the thickness (layer thickness) of the optical circuit is almost the same as that of a single-mode optical waveguide.
  • a silicon substrate is used as the substrate, a film whose refractive index is adjusted by adding an additive to quartz is deposited on the substrate, and the fine processing technology used in the semiconductor manufacturing process is used. This is to pattern the optical circuit. Therefore, the optical circuit pattern is two-dimensional, and is formed so as to exhibit a function as an optical circuit in the horizontal direction with respect to the substrate.
  • the optical circuit should be designed in consideration of the substrate height direction, even if the optical circuit is two-dimensional.
  • the refractive index distribution of the optical circuit is a binarized pattern, and the pattern is in the plane of the ⁇ 6 plate.
  • a portion having a high refractive index is referred to as a high refractive index portion, and a portion having a low refractive index is referred to as a low refractive index portion. Since a refractive index change is given by deposition of a film whose refractive index is adjusted, the substrate height is increased.
  • the high refractive index part in the vertical direction is called the high refractive index layer, and the low refractive index part is called the low refractive index layer. If there is no problem ⁇ ;
  • the index portion is called the “core”, and the low refractive index portion is called “the clad”.
  • pixel J the basic unit of the pattern is called "pixel J," and this pixel is combined in a block shape.
  • a macro pattern is formed.
  • such a pixel is arranged on a grid point having a period of a pixel size defined by a virtually provided mesh, and a pattern formed by a high refractive index portion and a low refractive index portion is formed. It is formed.
  • Example 1 In the case of a so-called step-index type optical circuit ', since the possible values of the refractive index are limited, it is not obvious whether the optical circuit can be designed based on the above equation ( ⁇ ). However, even when the possible values of the refractive index are limited, it is possible to globally adjust the phase phase of light by repeating local adjustment of the refractive index. It is. Accordingly, a step having an upper limit value of the refractive index of the dielectric material constituting the optical circuit and a finite number of refractive index values reaching the upper limit value.
  • an optical circuit by assuming a V-shaped refractive index distribution and calculating the refractive index distribution of the optical circuit with these refractive indices as limiting values.
  • an optical circuit is designed based on the above.
  • this is an optical waveguide having the same structure as the step index type planar optical waveguide, and having a structure in which the grooves of the waveguide are patterned in the shape of a dot in the optical circuit design area. Designed 1.31 m and 1.55 m wavelength division filters adapted to the wave path
  • a quartz optical waveguide is assumed.
  • the core high refractive index part
  • the refractive index value which is a parameter, is assumed to be a free value.
  • V q is given by the following equation (9).
  • value Ri was refractive index 3 ⁇ 4 Mel by the the calculation and the v q value or et equation (1 0) and (1 1).
  • FIGS. 9A and 9B are diagrams for explaining the setting of the optical circuit design in the present embodiment.
  • the wavelength is 1.31 m as shown in Fig. 9A.
  • the wavelength as shown in Fig. 9B
  • a set of a 1.55 m incident field 2 (X) and an exit field ⁇ 2 (X) (ie, with the above symbol] ' 2) was set.
  • the field is defined for the entire area of the entrance surface 2-1 and the exit surface 2-2, but for the sake of simplicity, only the portion where the field intensity is concentrated is shown in this figure. .
  • Such a pair of input / output fields ⁇ j (X), ⁇ j (X) ⁇ is hereinafter referred to as an input / output pair.
  • FIG. 1OA and FIG. 10B show the refractive index distribution according to the present embodiment. 10A) and a transmission spectrum (FIG. 10B). Approximately 20 to calculate the refractive index according to the above algorithm
  • the black part (111) in the optical circuit design area (1-1) in the figure is a high refractive index part (dielectric multiple scattering part) corresponding to the core, and the parts other than the black part are clad. This is a low-refractive-index portion corresponding to the
  • the refractive index of the clad is assumed to be that of quartz glass, and the refractive index of a is assumed to have a value that is 1.5% higher than that of quartz glass.
  • the size of the optical circuit is 300 m in length and ⁇ ⁇ in width.
  • the mesh used for calculating the refractive index distribution is 140 X 3
  • FIGS. 9A and 9B show the characteristic that light of 1.31 m wavelength is output from output port a and that of 1.55 m wavelength is output from output port b. It should be noted that the light input and output directions shown in FIGS. 9A and 9B were reversed, and that light of the above two wavelengths was input from output ports a and b, respectively. Can be multiplexed and output from the entrance surface 2-1. Can be. In other words, it can be seen that the optical circuit described in the present example exerts the effect of the multiplexing / demultiplexing of light wavelength 5.
  • the core which is a high-refractive portion
  • the high-refractive-index portion is composed of two high-refractive-index portions (a first high-refractive-index portion and a second high-refractive-index portion). Assuming an optical circuit with a structure sandwiched between the above, the refractive index distribution was obtained.
  • FIG. 11A is a schematic cross-sectional view of an optical circuit having a refractive index of a planar lightwave circuit and capable of confining light in a direction perpendicular to the substrate.
  • I 1 1 is composed of two high refractive index portions (a first high refractive index portion 111 a and a second high refractive index portion 111 lb), and a second high refractive index portion 111 is formed.
  • 1 1b is the first high refractive index part
  • — 11 constitutes an optical circuit by being sandwiched between upper and lower low-refractive-index portions 1 — 12.
  • this optical circuit it is the second high-refractive-index portion 111b that acts as a so-called core J, and the first high-refractive-index portion 111b propagates through this core. It is used to confine light in the thickness direction (vertical direction) of the substrate.
  • the ratio between the low refractive index portion 111 and the first high refractive index portion 1-111a The calculation is performed on the assumption that the index difference and the relative refractive index difference between the first high refractive index portion 111a and the second high refractive index portion 111b are each 1.5%.
  • Fig. 11 On the right side of 1A, the effective refractive index in the vertical direction of the optical circuit The profile shows the effective refractive index profile in the horizontal direction in the high refractive index section 1 1 1 below.
  • the second high-refractive-index portion 1 — 11 a provided around the core of the second high-refractive-index portion 11-1 lb causes It is easy to realize light confinement.
  • the light is guided by the first high refractive index section 111a (FIG. 11B) and
  • the field diameter is adjusted and the optical fiber is adjusted.
  • the output field is calculated with a complex value, it is possible to find the phase of the output field. Therefore, for example, when the phase of light is also required to be adjusted, for example, when an external cavity laser is manufactured by combining the above-described optical circuit and a semiconductor optical amplifier having a non-reflection coating, ⁇
  • the above optical field calculation procedure is applicable.
  • the beam propagation method has been used to calculate the optical field described so far, the calculation may be performed using the time domain difference method if the memo U capacity of the computer used for the calculation is sufficient.
  • the position of the output port is limited.
  • the surface opposite to the incident surface was set as the exit surface.
  • the position of the output port can be freely selected, so that an optical circuit having a configuration having an optical path with a sharp bend can be used.
  • the fact that RX measurement can be easily performed is the same in the following examples.
  • an optical circuit portion of several hundred meters is required for only the directional coupler portion.
  • an optical circuit configuration having a size about several times smaller can be achieved, and miniaturization can be achieved.
  • the same optical circuit as that described in the first embodiment is designed based on the following method of calculating the refractive index distribution.
  • FIG. 12 is a flowchart simply showing the flow of the optical circuit design of the present embodiment. Using the same symbols as used in equation (1),
  • n q (z + dz, x) -r ⁇ j arg [ J (z + dz, x, ⁇ n q ., ⁇ ) * ⁇ ⁇ J , x, ⁇ n q ⁇ )] ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ",) n q (z dz 'x ⁇ -T j argl ⁇ z' xJiiq + , ⁇ ) * ⁇ -'(z-dz, x, ⁇ n q ⁇ )].
  • the coefficient r is (2k. Dz) divided by about 1 by the number of input / output pairs, and k. Is the wave number in vacuum, which is about the average wave number of the input signal under consideration. The reason why the wave number is “approximately” means that there is a change in the relative effective refractive index.
  • Formula (1 ') and (1 ") Im ⁇ j ⁇ j (z in Equation (1)', x,
  • Im ⁇ j ⁇ j (z,, x, ⁇ n q — j (z, x, ⁇ n q — J) and arg [ ⁇ i) j ( z,, x, ⁇ n Q —) * j (z, x, ⁇ n q ] is equivalent to arg [ ⁇ J '(z', x, ⁇ n q — J) * j (z , x, ⁇ n Q - J )]
  • the Im ⁇ " ⁇ [Phi] '( ⁇ ', x, ⁇ n q _, ⁇ ) * yu j (z, x, may be ⁇ n q, which each location This corresponds to changing the index of refraction by weighting with the intensity of the field of arg [ ⁇ i) j ( ⁇ ', ⁇ , ⁇ ⁇ ) * ⁇ j ( ⁇ , ⁇ , ⁇ n Q _hi)].
  • step S655 The calculation of the formula (1 ') (step S655) and the calculation of the formula (1' '') (step S605) are alternately repeated (step S697), thereby calculating the refractive index distribution. Execute until the calculation is completed (step S695: YES).
  • the cross section of the field distribution 1 and the cross section of the field distribution 2 are phase-matched at a very small distance dz.
  • a large calculation error occurs. Therefore, by applying an appropriate rare number g in the coefficient ⁇ , both of the product (g ⁇ r) is (2k.dz) one 1 The value should be less than a fraction of.
  • the position of the field is not a perfect z + dz but a value in the middle, or n q (z + dz, x) is the center value of the refractive index at the position z and the position z + 2dz.
  • Position (z + wdz) (0 ⁇ w ⁇ 2).
  • Adopt a prescription that suppresses short-period vibration.
  • the refractive index distribution was assumed to be the same stiff index type as in Example 1, and the same discretization prescription was used. Note that the same optical circuit as that of the first embodiment is used as the optical circuit of the present embodiment.
  • x, ⁇ n q — J; — as i (z, x, ⁇ ⁇ ) it is possible to calculate with only two wavefronts in memory. In this way, the field is calculated to both ends of the calculation area, so it is sufficient to propagate the field in the opposite direction with this value as the initial value.
  • it may be used differently from the method of storing it in memory once.
  • FIGS. 14A and 14B show the convergence of the calculations in the first and second embodiments, respectively.
  • FIGS. 14A and 14B show the first and the second embodiments, respectively.
  • the transmittance (dB) to the desired output port and the crosstalk (dB) to the other output ports are displayed with respect to the number of calculation iterations.
  • the number of repetitions of these calculations corresponds to the number of repetitions of the loop shown in FIG. 7 and FIG. 12, and the amount of calculation is substantially the same.
  • the calculation method employed in Example 1 requires about 200 iterations before convergence, whereas The calculation method adopted in 2 converges in several iterations.
  • the calculation method employed in the second embodiment converges tens of times faster than the calculation method employed in the first embodiment. Therefore, the calculation method employed in the second embodiment can be applied to the design of a relatively large-scale optical circuit.
  • FIGS. 15A and 15B show the refractive index distribution of the optical circuit of this embodiment.
  • Fig. 15A shows the refractive index distribution of the optical circuit of this embodiment.
  • Fig. 15B shows the transmission spectrum of this optical circuit.
  • the transmission spectrum of this optical circuit shows the characteristic that light of wavelength 1.312 m is output from output port a while light of wavelength 1 is output from output port b. This shows that a demultiplexer (and a multiplexer) based on the wavelength is formed.
  • the high refractive index portions 1 1 1 1 1 are relatively uniformly distributed, so the effective refractive index tends to be uniform. And the uniformity of the effective refractive index in the thickness direction of the substrate in the optical circuit design area 1-1 increases, and the light confinement unevenness in the direction of decreases. It is possible to suppress scattering, and even if the refractive index distribution is not set using two high refractive index portions as shown in FIG. 11A, only a single high refractive index portion 111 Thus, an optical circuit capable of confining light can be realized.
  • the initial refractive index distribution when calculating the refractive index distribution is calculated by setting the refractive index of each pixel defined by the mesh so as to be intermittently distributed in a random manner.
  • the final refractive index distribution is likely to be random.
  • the structure has only a single high-refractive-index part, and a refractive index distribution suitable for realizing an optical circuit can be realized.
  • FIGS. 16A and 16B show the optical recovery of the four-wavelength demultiplexer of the present embodiment.
  • Fig. 16A is a diagram for explaining the condition setting for the circuit design.
  • Fig. 16A shows the case where the polarization state of the input light is set to TE mode only.
  • Fig. 16B shows the TE state of the polarization state of the input light.
  • the wavelength multiplexed light is input from the input port 31 and each of the plurality of output ports 3-2 is provided. Light of different wavelengths is emitted from each port. That is, one input port 31 is provided on the entrance surface 2 _ 1, and four ports abc and d are set on the exit surface 2-2. 1.53 from input port 3_1
  • FIGS. 17A and 17B are diagrams for explaining the transmission loss spectrum (transmittance (dB)) of the optical circuit calculated in this embodiment
  • FIG. 17A is a diagram illustrating the polarization of the input light
  • Fig. 17B shows the case where the state is set to TE mode only (corresponding to the condition in Fig. 16A).
  • Fig. 16B shows the setting in which TM mode is added to the polarized TE mode of the input light.
  • the output light h32 output from the output port h32 is as shown in FIG. 17A.
  • the figure becomes TE
  • the light in the mode is represented by a thick line
  • the light in the TM mode which is in a polarization state orthogonal to the TE mode, is represented by a thin line.
  • the spectrum is calculated for each polarization state because the effective refractive index perceived by light propagating in the optical circuit is slightly different between the ⁇ E mode and the TM mode. . Therefore, in the present embodiment, each of the four wavelengths of light input from the input port 3_1 is combined with the TE mode light and the TM mode light.
  • TE mode light having the same wavelength and Tnpu
  • M-mode light is output from the same output port (abc or d), and each of the four sets of fields for each wavelength is classified into two sets for each polarization state, for a total of eight input / output pairs.
  • the wavelength division multiplexing demultiplexing circuit was designed by adjusting the refractive index distribution by using
  • FIG. 17B it is possible to reduce the transmission loss caused by the difference in the polarization state.
  • FIG. 16B it is shown in FIG. 16B.
  • polarization multiplexed light is input from an input port, and a different output port is provided for each polarization. Adjust the refractive index distribution so that the output is specified
  • the wavelength and polarization are incident as parameters.
  • an optical circuit having the same function is configured by an arrayed waveguide grating using a conventional silica-based optical waveguide, it is necessary to use only a part of the power bra to provide a sufficient number of arrayed waveguides. In addition to requiring a length of several mm, the array waveguide also bends There is a need. For this reason, the size of the optical circuit must be several mm square or more (typically 1 cm square or more). Furthermore, in order to eliminate polarization dependence, a wavelength plate may be inserted and provided in an optical circuit. On the other hand, according to the optical circuit design of the present embodiment, it is possible to configure an optical circuit having a function equivalent to that of a conventional optical circuit with a size of 100 times or less.
  • This embodiment is an example in which an optical wavelength band transmission circuit is configured.
  • FIG. 18A and FIG. 18B are diagrams for explaining the condition setting for the optical circuit design of the present embodiment.
  • FIG. 18A is a diagram showing a case where a simple band-pass filter is set.
  • FIG. 18B shows a case in which a dummy port for band shaping is provided.
  • FIGS. 19A and 19B correspond to FIGS. 18A and 18B, respectively.
  • wavelengths of six wavelengths of 1.530 ⁇ 111, 1.535 ⁇ > 1.540 zm, 1.550 m, 1.555 Mm3 ⁇ 4 ⁇ fc and 1.560 / m are multiplexed from input port 3.
  • the light in the 1.530 to 1.540 m band is applied to port a and 1.550 to 1.560 mm
  • the desired dispersion characteristics are realized by adjusting the phase of the light of each wavelength so that the light in the band is output from port b.
  • the calculation method described in the second embodiment is adopted, and the same resolution and circuit scale as in the third embodiment are assumed.
  • the 3 dB attenuation wavelength bandwidth is about 5 nm on one side.
  • the wavelength interval was set to 5 nm, and the wavelengths were uniformly distributed in the transmission band in which each set of the six wavelength fields was to be obtained.
  • the transmission loss spectrum obtained by the above calculation method has a substantially rectangular shape as shown in FIG. 19, but has not yet sufficiently suppressed transmission in the short wavelength region. Therefore, as shown in FIG. 18B, another port (port c) is provided on the output side at a distance of 10 m from the port a, and this port c is used for band shaping. Dami-Po
  • the calculation was performed assuming that three sets of optical signals of 1.5101 m, 1.5151 m and 1.5210 m were output from the Damiport h.
  • the present embodiment is an example of the configuration of the optical wavelength band transmission circuit as in the fourth embodiment.
  • the wavelength and the size of the region (the total length of the optical circuit is 600 m).
  • Embodiment 14 are changed from those in Embodiment 4.
  • the input field and the output field are replaced by the real-valued vector function of the location (optical circuit or position within ⁇ 10 vh range).
  • the calculation is performed as a complex-valued vector function. Specifically, a plurality of output ports of the optical circuit (port a), a plurality of output ports of the optical circuit (port a), a plurality of output ports of the optical circuit (port a), a plurality of output ports of the optical circuit (port a), a plurality of output ports of the optical circuit (port a), a plurality of output ports of the optical circuit (port a)
  • FIG. 2OA and FIG. 20B are diagrams for explaining the setting conditions of the optical circuit of the present embodiment and the spectrum of the transmission loss of the optical circuit.
  • Fig. 2 OA light with a wavelength difference of 10 nm and a wavelength difference of 10 nm (interval of wavelength 10 nm) from the input port 3-1 in the wavelength range of 1.510 to 1.560; 1.530 m, 1.535 m and 1.540 m of light from output port a, 1.550 m, 1.565 m and 1.560 H1 of light from output port b, and 1.510 ⁇ 111 from dummy port c , 1.515 m and, respectively.
  • Port a and port b are separated by 7 // m, and port a and dummy port c are separated by 1 O m.
  • Input port 3 1
  • the phase difference with the light to be emitted was set to 0 for port a and 7T for port b.
  • the distance between port a and port b was extremely close to 7 m.
  • 2 OB is the spectrum when the phase difference between the phases of the fields output from port a and port b is provided, and the broken line is the line from port a and port b.
  • This is the spectrum when the phase difference 7t is not provided for the phase of the output field (phase difference 0).
  • phase difference 0 phase difference 0
  • it is possible to obtain a transmission filter in which the spectrum of light output from the port a and the port is rectangular, but as described above, When a phase difference is provided between the phases of the fields output from a and port b, crosstalk is suppressed and a steeper rectangular filter is obtained as compared with the case where no phase difference is provided.
  • the results of the present embodiment show that the phase of the output light can be controlled only by setting the phase parameter for each channel. Since such a phase relationship can be set not only between the output ports but also between the input ports, by controlling the phase between these ports, other external relations can be established. It is possible to construct a Mach-Zehnder (MZ) interference circuit or the like by combining the waveguide circuit and the present optical circuit.
  • MZ Mach-Zehnder
  • Figures 21A to 2ID show the setting of the input / output pair of the optical circuit of this embodiment ( Figure 21A), the setting of the emission field distribution of 1.55 ⁇ 111 ( Figure 21B), and the settings of ports A and FIG. 21 is a diagram for explaining transmission loss spectra (FIGS. 21C and 21D) of each output light when input light is input from port B.
  • the optical circuit of this embodiment is provided with two ports (port A and port B) as input port 3—1, and is 1.29 m from port A, 1.30 im, Wavelength multiplexed light of four wavelengths of 1.31 m and 1.32 m is input and provided as output port 3-2 From the four ports (a, b, c, and d), the light having the above four wavelengths is demultiplexed and output, and the one input from port B is output.
  • An optical circuit that distributes and outputs .55 m light to these four output ports (a, b, c, and d)
  • Such an optical circuit can be used for the following applications, for example.
  • An optical fiber is connected from one base terminal to four terminals located at locations with different distribution distances, and is used for 1.29 m, 1.30 m 1.31 m and 1.32 m wave 5 light for overnight communication. Assuming a case where light is distributed and distributed all at once, rather than equally distributing 1.55 m wavelength light to the optical fibers connected to the four terminals, , According to the loss of each optical fiber 1.
  • the input port A power, the input wavelength-division multiplexed light is demultiplexed according to each wavelength, and each of these lights is converted into four output ports ( a, b, c and d) It can be seen that the data is output.
  • optical distribution circuit As described above, it is possible to easily design the optical distribution circuit by using the circuit design method of the present embodiment. Of course, if light is incident on this optical circuit in the opposite direction, optical multiplexing is possible, so that an optical multiplexing circuit can be designed.
  • the optical circuit of the present embodiment realizes a circuit having two functions of wavelength demultiplexing and light distribution by giving one refractive index distribution to the optical circuit design area. As described above, according to the present invention, different functions (regions) are assigned to the same optical circuit ⁇ ru.
  • the propagation of the field in consideration of the reflection phenomenon can be described by a “propagation matrix”.
  • the propagation matrix is given in the form of a matrix for the incident (wave) component and the reflected (wave) component.
  • the form of the matrix is, for example, A bidirectional beam propagation method for multiple dielectric interfaces "(H. Rao e ⁇ .a 1., IEEE PTL Vol.11, No.7, pp 830-832 0999) Described in is there.
  • This propagation matrix corresponds to the “unitary transformation” already described in (Basic Concept).
  • FIG. 22 is a diagram for explaining the outline of the handling of the propagation matrix when the reflection component is also taken into consideration, and is a diagram focusing on only a minute portion in the optical circuit.
  • Each of ut means a field at the input plane 2 — 1 (in) and the output plane 2-2 (out) of the microscopic part of the optical circuit shown in FIG. 22, and zj or z 5 _
  • the minute part of the optical circuit means the z-position of the j-th or (j-11) th layer defined by a mesh provided virtually in the entire optical circuit design area. That is, the input surface 2-1 and the output surface 2-2 in Fig. 22 are the input surface and the output surface of this minute area, and mean the input surface and the output surface of the entire optical circuit. Note that it is not a taste. Note that the subscript + or-means the incident component (+) or the reflected component (1) of those fields.
  • the reflection component is given in advance, and the following equation (20)
  • the incident wave input from the input surface and the reflected wave toward the input surface are set, and the output wave output from the output surface is set.
  • a field traveling in the propagation direction that is, a direction from the input surface 211 to the output surface 2_2
  • a reflection direction that is, the output surface 2-2 to the input surface 2
  • the reflected wave going to the output surface side is generated. It should be zero because it should not be, but in the middle of the optical circuit, there may be reflected wave components going to the output surface side
  • the reflected wave component generated in the optical circuit is very small. Therefore, the main effect of a change in the refractive index on light in an optical circuit is a phase change when propagating in the propagation direction with respect to light traveling in the propagation direction, and a change in phase with respect to light traveling in the reflection direction. Is a phase change when propagating in the reflection direction.
  • the incident wave component traveling in the propagation direction and the reflected wave component traveling in the propagation direction are combined into one forward propagation wave.
  • One backpropagating wave is composed of the incident wave component traveling in the reflection direction (backpropagated output wave) and the reflected wave component traveling in the reflection direction (reflection component paired with the backpropagated output wave). (Ie, consider the circuit as a scattering matrix). Then, assuming a field corresponding to each of these two waves, Alternatively, the local refractive index may be changed by the method described in the second embodiment to calculate the refractive index distribution.
  • FIGS. 23A and 23B are diagrams illustrating the setting conditions of the optical circuit (wavelength filter) and the spectrum of the transmission loss of the optical circuit according to the present embodiment. As shown in Figure 23A, input port 31
  • This optical circuit is a planar optical circuit composed of stone cores provided on a silicon substrate, and the local refractive index of quartz in the optical circuit design area 111 is high or low.
  • the refractive index distribution of the optical circuit is set by adjusting the refractive index of the optical circuit.
  • the relative refractive index difference between the refractive index part and the low refractive index part is 1.5%.
  • this optical circuit emits light of three wavelengths having low loss and steep transmission characteristics from each output port, and has an excellent wavelength filter characteristic.
  • this optical circuit by designing the circuit in consideration of the reflected wave in the optical circuit, it is possible to manufacture an optical circuit having excellent filter characteristics.
  • Figs. 24A to 24C show the refractive index distribution (Fig. 24A), the state of light propagation (Fig. 24B), and the output from each of the 16 output ports in this 16-branch optical circuit.
  • the light transmission loss d B of the incident light is shown (FIG. 24C).
  • an optical circuit design area in which quartz having a relative refractive index difference ⁇ of 0.75% between a high refractive index portion and a low refractive index portion is deposited on a silicon substrate is patterned by etching.
  • the size of the optical circuit is 420 m x 180 m.
  • the light input from the central part of the incident surface of the optical circuit propagates through the optical circuit design area while being scattered multiple times, and exits the optical circuit. It is configured to output from ports 16 provided on the launch surface (upper side in the figure).
  • the refractive index distribution shown in FIG. 24A is a result obtained by the method described in Example 2.
  • a black portion corresponds to a high refractive index portion
  • a white portion corresponds to a low refractive index portion.
  • cage (corresponding to the pixel defined by the mesh Interview) pixel size is 3 X 3 m 2.
  • Fig. 24B which shows the results obtained by numerically calculating the state of the field when light propagates through this optical circuit, indicates the light intensity distribution.
  • the light is split into 16 lights, and each light is output from 16 ports.
  • These 16 ports are numbered (1, 2, ..., 16 from the left) and the transmission loss of the light output from each port is shown in Fig. 24C. ing.
  • the loss of the 16 ports is distributed within approximately 2 dB with reference to the theoretical loss of 12 dB, indicating that uniform and low-loss optical distribution is realized.
  • the optical circuit design method of the present invention it is possible to easily split light with an extremely short waveguide length of 180 m. Become. Considering that the waveguide length required to realize the same function in the conventional optical circuit is about 1 cm, the present invention can greatly reduce the waveguide length, and can reduce the size of the optical fiber. It is understood that the circuit can be easily realized.
  • the waveguide of the bending circuit has a constant radius of curvature. It is designed to have the above small curvature.
  • the relative refractive index difference ⁇
  • the circuit e is measured to have a radius of curvature of about 5 mm to realize a curved optical circuit.
  • optical circuit of the present embodiment light that has once leaked to the outside from the optical waveguide can be reflected by multiple scattering and returned to the original optical waveguide. (Radius), it is possible to set up an optical waveguide and the size of the optical circuit can be reduced.
  • FIGS. 25A and 25B are for explaining the refractive index distribution (FIG. 25A) and the state of light propagation (FIG. 25B) of the bending circuit of this embodiment.
  • the optical circuit of _ is designed by etching the optical circuit design area in which quartz with a relative refractive index difference ⁇ of 1.5% between the high refractive index part and the low refractive index part is deposited on the silicon substrate. It was formed in the evening, and the size of the optical circuit was
  • the light input at an angle of 5 degrees propagates in the optical circuit design area while being scattered multiple times.
  • the refractive index distribution shown in FIG. 25A is the result obtained by the method described in Example 2.
  • the color portions correspond to the high refractive index portion
  • the white portion corresponds to the low refractive index portion. and which, (corresponding to a pixel defined by Menn Interview) pixel size is 0. 7 X 0. 7 m 2.
  • Figure 25B shows the results obtained by numerically calculating the state of the field when light propagates through this optical circuit.
  • the shading in Figure 25B indicates the light intensity distribution in the optical circuit design area. Light that leaks out of the waveguide is reflected back into the waveguide by multiple scattering, preventing light from leaking out of the waveguide due to radiation. Also, the output side and the input side shown in this figure have almost the same field shape, and the field shape disorder due to the light leaking out of the waveguide is reduced. It can be seen that the field and shape are suppressed by multiple scattering.
  • a bending of a light input / output angle difference of 10 degrees is realized with a waveguide length of 90 m.
  • this bending is converted into a radius of curvature, it is equivalent to about 0.5 mm, which means that a waveguide having an extremely small radius of curvature (a large radius of curvature) is realized.
  • MMI mode interference circuit
  • the light field has a larger wave number (ie, momentum) in the propagation direction, and a smaller wave number (ie, momentum in the lateral direction) in the lateral direction (in the direction perpendicular to the propagation direction). Even at an extremely small interface, light is reflected laterally.
  • a certain width using this phenomenon With this optical waveguide, the field of the propagating light travels in a meandering manner while repeating reflection in this optical waveguide, and the effective optical path length can be lengthened.
  • Such an optical propagation phenomenon corresponds to the fact that light in each mode propagates while interfering with each other in an optical circuit in which light in a plurality of modes can exist.
  • Called multimode interference recovery (MMI) Called multimode interference recovery
  • the optical circuit of the present invention is provided inside the multi-mode interference circuit.
  • FIGS. 26A and 26B show the refractive index component (FIG. 26A) in the optical circuit design area in this embodiment and the propagation of the file for each wavelength of light propagating in this optical circuit.
  • Fig. 26 (B) to explain the situation.
  • This optical circuit consists of a high refractive index part and a low refractive index part on a thin substrate.
  • the pattern is formed by X-chitching, and the size of the optical circuit is 60 m wide ⁇ 3 O O O m long.
  • the lower part in Fig. 26A corresponds to the entrance surface, and light from three ports of 1.31 ⁇ m, 1.49 m, and 1.55 m from one port provided on this entrance surface.
  • the wavelength multiplexed light is input, and each of these three wavelengths of light travels through the optical circuit with different meandering power according to the wavelength, and is provided on the emission surface shown at the top in the figure.
  • the light is output from each of the three ports for each wavelength. That is, this optical circuit functions as a wavelength selection filter
  • the refractive index distribution shown in 26 A is a result obtained by the method described in Example 2.
  • the black portion corresponds to the high refractive index portion.
  • the white portion corresponds to the low refractive index portion.
  • Contact ⁇ , (equivalent to defining pixels Ri by mesh Interview) pixel size is 3 X 3 m 2.
  • the strip-like low-refractive-index areas extending in the vertical direction shown on each of the left and right sides of this figure are the areas provided also in the conventional multi-mode interference circuit, and the high gap between these strip-like areas is provided.
  • the refractive index distribution set in the present invention is given by the low refractive index portions dispersedly provided in the refractive index region.
  • Fig. 26B indicates the light intensity distribution in the optical circuit design area. It is understood that light of any wavelength travels meandering in the optical circuit, and that almost no light exits out of the multi-mode interference circuit due to multiple scattering in the optical circuit. it can.
  • each output port of the multi-mode interference circuit of this embodiment is
  • the propagation loss is about 08 dB and the crosstalk is less than 20 dB, and good characteristics are obtained as a wavelength selective filter.
  • the multi-mode interference circuit of the present embodiment it is possible not only to suppress the leakage of the propagating light, but also to reduce the size of the circuit and improve the controllability of the light.
  • the optical circuit of this embodiment is a demultiplexing circuit such as a planar lightwave circuit that demultiplexes wavelength multiplexed light having two wavelengths of 1.3 m and 1.55 tm into light of each wavelength. If the design is made by the method described in Example 1, as shown in the right figure of FIG. 27A, the light in the thickness direction of the substrate is required because many low refractive index parts are required to be distributed in the optical circuit design area. It has already been explained that confinement becomes difficult and a special light confinement structure as shown in Fig. 11 must be used.
  • Example 2 the initial value of the refractive index distribution was randomly set to eliminate the need for a special light confinement structure, and the refractive index distribution as shown in FIG. The confinement was achieved.
  • S has a low refractive index by distributing a high refractive index portion and a low refractive index portion so as to increase the number of high refractive index portions when determining the refractive index distribution.
  • the refractive index distribution is determined so that the area where pixels are continuously arranged is as small as possible. ( Figure 27A, left). This means that, when the pixel having a low refractive index is considered as a region where the pixel having a high refractive index does not exist, that is, the void of a pixel having a high refractive index, the voids of the pixel having a high refractive index are distributed as continuously as possible.
  • the refractive index distribution is determined by distributing as many high-refractive-index pixels as possible so that the refractive index distribution does not occur.
  • the algorithm described in the second embodiment is improved as follows so that the algorithm has a portion corresponding to the core of the optical waveguide in the refractive index distribution.
  • n q (z, x) n core
  • n e i ad corresponds to the refractive index of the low refractive index portion in the refractive index corresponding to the clad. Therefore, the refractive index distribution in the optical circuit design area is obtained by spatially distributing these two types of refractive indexes. N like this.
  • ffset it is possible to design optical circuits with many cores. Note that n.
  • the quantity ffset is obtained as follows.
  • Figure 27B shows the probability that a void will appear in the waveguide per unit length (horizontal axis) and the number of pixels where the voids in the high refractive index part are continuous (that is, the low refractive index part is continuous).
  • the relationship between the frequency of each g (vertical axis) This is a diagram for explanation, and is the result of calculation by Monte Carlo method. Since the difference in the N g value reflects the degree of connection of the holes, the frequency per unit length in the waveguide differs depending on the N g value.
  • the appearance probability of the air gap indicated by the horizontal axis is zero when there is no air gap in the waveguide having the unit length, and the appearance probability is 1 when all the waveguides having the unit length are air gaps.
  • An appearance probability of 0.5 corresponds to the case where half of the unit length waveguide is a gap.
  • the unit length of the gap is the mesh interval of the refractive index distribution of the core.For example, when the mesh interval is fixed at 1 m, the unit length of the gap is 1 m.
  • the gap between the calculated high refractive index pixels is 0 m 1 ⁇ m 2 m, '... for each of N 0 1 2 • •-.
  • the wavelength in a medium having a refractive index of about 1.5 is about 1 ⁇ m, so if there is a gap of several meters in the optical circuit, the light will radiate. Loss occurs.
  • the core, the cladding, and the part are almost randomly distributed with the same distribution probability, and the variation (2 ⁇ ) is small.
  • the refractive index distribution was determined based on the simple algorithm described above, and the characteristics of the optical circuit were experimentally manufactured by examining the optical circuit.
  • the optical loss in the case of the refractive index distribution shown in Fig. 27B was about 6 dB Fig.
  • the optical loss is about
  • n is set in advance.
  • batAlthough set was given as a constant, it is not necessary to be a constant, as can be seen from the fact that the horizontal axis in Fig. 27B indicates the probability of air gap appearance per unit distance.
  • the probability of voids is calculated on the way, and based on the result, if n.ffsel is changed successively, it is possible to make more accurate corrections, ie, find the frequency of v q (z, x). For example, if you want to set 50 %, set n.Set ffsel to the average value of v q ( ⁇ , ⁇ ).
  • FIG. 28 ⁇ is a cross-sectional view of the electrode structure of the present example, and FIG. 28 ⁇ is a configuration example of an optical circuit using this element.
  • Figure 28 shows the results of multiple sets of bending.
  • an optically transparent insulating film here, quartz glass
  • the figure shows an example in which the electrodes are arranged in a matrix through the) to form a reconfigurable optical circuit.
  • the insulating film has a thickness of about 0.3 / zm, and the doped region has a thickness of about 3 ⁇ m.
  • a substrate having a so-called silicon on-insulator (SOI) structure having a glass layer underneath is used. It is possible to provide a relative refractive index dispute about 1 0 3 from a change in the electron concentration by applying a voltage to the electrodes may are shorted with a ⁇ semiconductor process easily fine and large since a MOS structure It is possible to make something.
  • SOI silicon on-insulator
  • an optical circuit can be configured by designing a pattern of a refractive index distribution and generating a voltage distribution in accordance with the refractive index distribution.
  • a plurality of refractive index distributions are previously stored in a semiconductor memory or the like, and the optical circuit can be reconfigured by changing the voltage distribution as needed.
  • the circuit is ⁇
  • a write-type optical circuit can be configured by using a configuration similar to that of a flash memory.
  • the source, drain, floating gate and control gate are provided in a part of the circuit, the refractive index control of the source and drain parts is abandoned, and the source and drain parts are directly under the gate.
  • Light rotation due to refractive index change Configure the road.
  • the refractive index distribution must be O
  • the circuit may be configured in the state of FF.
  • FIG. 28B is an optical circuit using the device of FIG. 28A.
  • the optical signal is propagated from the lower left to the upper right by expanding the field and giving a uniform phase gradient in the horizontal direction. By appropriately adjusting the phase, distribution to multiple channels is possible.
  • the optical circuit according to the present embodiment is a 1.311.55 m wavelength filter using Rayleigh scattering having low directivity and high wavelength dependency.
  • the pixel size of the high-refractive-index portion of the wave transmission medium constituting the optical circuit is set to a size not more than the length of the wavelength component of light propagating in the optical circuit in the direction perpendicular to the propagation direction.
  • FIG. 29A and FIG. 29B show the 1.31 HI / 1.55 m
  • FIG. 29A is a plan view of the optical circuit
  • FIG. 29B is a diagram illustrating an arrangement of pixels in a high refractive index portion and pixels in a low refractive index portion. It is a figure for explaining.
  • the black part in 9A indicates the high refractive index part.
  • Light is output from i.55 m from output port b.
  • the length of this optical circuit in the light propagation direction is 1000 m and its width is 160 ⁇ .
  • the refractive index distribution of this optical circuit is, as shown in Fig. 29 ⁇ , a pixel of high refractive index (shaded area) and a low refractive index area (open area), each having a pixel size W. Is determined by arranging the pixels.
  • Fig. 31 B is a diagram for explaining the optical circuit.
  • the length of this optical circuit in the light propagation direction is 600 m, and the output a and the output port
  • the optical circuit according to the present embodiment is an optical circuit capable of suppressing light loss by suppressing light emission in a substrate height direction (a direction perpendicular to the substrate surface).
  • the low refractive index part which exists between pixels corresponding to the high-refractive-index portion, corresponds to a radiation portion to the cladding portion (gap between the waveguides) in the optical waveguide.
  • the light in the lateral direction of the substrate can be controlled by multiple scattering.
  • light leaking in the height direction of the substrate is usually emitted as it is, causing a (light) loss.
  • Fig. 32A and Fig. 32B are diagrams for explaining the light confinement level in the planar optical circuit in the vertical and horizontal directions of the substrate.
  • the solid line is the light in the vertical direction of the substrate and the broken line is the horizontal direction of the substrate.
  • the light spreading in the horizontal direction of the substrate is confined in the optical circuit while repeating reflection and scattering in the optical circuit.
  • the light in the vertical direction of the substrate is emitted out of the optical circuit as it is.
  • Figure 33 is a diagram for explaining the field radius dependence of radiation loss (coupling loss) per point when the minimum pixel unit is 3 m square.
  • the light radiated in the optical circuit largely depends on the field diameter of the light.
  • the beam has a large radiation angle due to the effect of diffraction.
  • the field diameter is small, light emission can be suppressed, and loss as an optical circuit can be suppressed.Assuming a circuit size of 1,000 m, several hundred scattering points May occur, so the entire optical circuit Light loss in individual scattering occupancy
  • the field of light propagating in a single-mode optical waveguide with a weak optical confinement effect such as a silica-based optical waveguide can have a gas distribution with a good approximation.
  • the coordinates are represented by (x, y), where x is the plane direction of the substrate and y is the vertical direction of the substrate. In other words, assuming a Gaussian distribution as the light field, the light is separated into several functions in each of the X and y directions.
  • the field radius w can be controlled mainly by the size of the core and the refractive index. Then, based on the high controllability of parameter W, find the necessary conditions to keep the light loss at each scattering point sufficiently low o
  • a gap of the high-refractive-index part occurs between r-refractive-index parts. It is assumed that the presence of this gap causes a field of light having a Gaussian distribution to be radiated out of the waveguide.In this case, the gas distribution of the shape of the optical field is maintained, but the field radius changes. Then, the wavefront is curved.
  • the field distribution in this state is formally expressed as g (y ⁇ ).
  • z is a parameter given as an average of the distance of the radiating part. .
  • is the wavelength of light
  • is the refractive index of the high refractive index part.
  • the light loss at each scattering point can be suppressed to a sufficiently low level.
  • the thickness a of the high-refractive-index portion is set as a parameter to change the field radius, and the coupling loss field radius
  • the field radius was 3 Lm (approximately 6 / or converted to the film thickness a of the high refraction portion), which is the result of determining the dependence, a sufficiently low loss was obtained.
  • the influence of the pixel size in the optical circuit plane direction on the light propagating through the optical circuit is large.
  • efficient light control was made possible by tilting the pixels with respect to the light propagation direction.
  • Fig. 34A is a diagram for explaining an optical circuit in which pixels are arranged in the light propagation direction
  • Fig. 34B is a diagram for explaining an optical circuit in which pixels are arranged obliquely to the light propagation direction. If pixels are arranged to be inclined with respect to the light propagation direction as in 34B, a lattice plane with a period shorter than the pixel size is formed in the direction perpendicular to the light propagation direction. More efficient light control becomes possible.
  • the inclination angle is made shallower (or deeper) than 45 degrees, it is possible to form a grating surface with a shorter period, but if the distance between the center positions of the reflecting surfaces constituting the grating surface becomes larger, However, the function as a reflection surface is reduced.
  • the refractive index changes at a size of several pixels, so Bragg reflection occurs at that distance.
  • about 45 degrees is appropriate to function as a surface
  • the pixels of the high refractive index portion (or the low refractive index portion) that define the refractive index distribution are arranged on grid points defined by a virtual method, and the refractive index distribution Since the size of each pixel is limited so that the image is easily converted into a pattern, the grid point interval cannot be made smaller than each pixel size.
  • optical circuit characteristics may be degraded due to fuzzing errors relating to pixels and scattering of propagating light at the pixel wedge, and the light propagation direction (X direction) in the waveguide plane (in the xy plane) ) And the regular periodicity of the refractive index in the direction perpendicular to the y-direction (the direction transverse to the light propagation direction), generates light in order to generate a spatial cut-off frequency according to the pixel size.
  • the optical circuit according to the present embodiment only the minimum unit of the pixel size and the minimum unit of the pixel interval are set as conditions in the horizontal direction with respect to the light propagation direction.
  • a high-refractive-index portion (or low-refractive-index portion) is arranged in a pixel to form a refractive index distribution.
  • FIG. 35A is a diagram for explaining an optical circuit in which pixels are arranged at lattice points defined by a virtual mesh to form a refractive index distribution
  • Fig. 35B is the position of such lattice points.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining an optical circuit in which a pixel arrangement is performed in the y direction independently to form a refractive index component.
  • each pixel is arranged at a grid point position defined by a virtual mesh
  • each pixel In the light propagation direction (X direction), each pixel is located at a grid point position defined by a virtual mesh, but in the horizontal direction (y direction) with respect to the light propagation direction.
  • each pixel Are not located at the grid points defined by the virtual mesh, and pixels with high or low refractive index portions are placed at arbitrary positions
  • the refractive index distribution determined by the arrangement of the pixels is calculated with the interval sufficiently smaller than the small pixel size (interval between grid points) as the minimum unit of the parameter. If the distance between pixels is larger than the minimum unit, an appropriate boundary is defined, and the value of the high refractive index portion or the low refractive index portion is assigned to each pixel so that the refractive index value changes at that boundary. If the distance between pixels is smaller than the minimum unit, the average of the refractive indices is calculated within the area, and the value of the high or low refractive index part is calculated. It is decided to use the closer one of them.
  • Figures 36 6 and 36B show the actual optical circuits (1.31 m and 1.55 m, respectively) fabricated corresponding to the pixel arrangements of Figures 35A and 35B, respectively.
  • This is a diagram for explaining the refractive index distribution of the wavelength filter.
  • the diagrams on the left of these diagrams show the entire circuit, and the diagrams on the right show enlarged images of a part of the circuit.
  • the white part is the high refractive index part
  • the black part is the low refractive index part
  • the relative refractive index difference is 1.
  • the circuit length of this optical circuit was set to 1200 m, and the minimum power rule (minimum unit of arrangement parameters) was set to 3 m.
  • the structure is a square pixel structure with sides that are almost perpendicular to the direction of travel of the wavefront.7 Intense interference occurs just like a knife essence, causing severe interference to occur in the optical circuit In addition to the decrease in power, light having a large wave number is generated, and light control cannot be performed with a refractive index distribution with a small refractive index difference4. The effect is that the optical circuit having a refractive index distribution can be used. ⁇ Intense interference in the optical circuit ⁇ The generation of light with a large wave number can be suppressed.
  • the optical circuit of Example 14 has a high refractive index to suppress light emission from the same refractive index portion to the low refractive index portion.
  • the layer thickness a is increased, a large loss occurs in principle when the low-refractive-index portion is long and continuous 9 (that is, when the gap between gaps is long). Therefore, in the optical circuit of the present embodiment, the optical confinement in the direction perpendicular to the substrate is made possible even in the low-refractive-index portion, and a structure of the optical circuit that provides low loss even when the gap interval is long is provided. I do.
  • FIG. 37A is a diagram for explaining the fabrication procedure of the optical circuit of the present embodiment.
  • a clad portion low-refractive-index
  • a first high refractive index layer corresponding to the core is deposited on the low refractive index part of (Fig. 37A).
  • Is and the refractive index of the low refractive index portion is n
  • the refractive index of the first high refractive index layer is n (1 + ⁇ 2).
  • a part of the first high-refractive-index layer is patterned by etching (Fig. 37B).
  • the first high The portion where the refractive index m layer is left by the etching becomes the refractive index portion of the optical circuit. If the first high refractive index layer is left so as to have a waveguide pattern, a waveguide structure can be formed in the remaining portion. In this patterning step, the low-refractive-index portion immediately below the first high-refractive-index layer, which is removed by the etching, is applied to the lower portion of the high-refractive-index layer. —Stop etching at a suitable height o
  • a second high refractive index layer having a constant thickness is deposited, and if necessary, the second high refractive index layer is subjected to patterning, and the second high refractive index layer is used to conduct the second high refractive index layer.
  • Waveform formation may be performed (Fig. 37C).
  • the refractive index of the second high refractive index layer is Ri n (1 + ⁇ !) Der, compared to the refractive index of the first high refractive index layer n (1 + ⁇ 2), n (1 + ⁇ 2 )> n (1 + ⁇ ! (that is, ⁇ 2 > ⁇ e).
  • an upper clad (not shown) is deposited to embed the first and second high refractive index layers.
  • the optical circuit obtained as described above can be made to have an optical circuit structure with low loss and no increase in loss even in an optical circuit including many low refractive index portions by adjusting parameters described later.
  • the first high refractive index layer is referred to as “high refractive index layer ⁇ 2 ”
  • the second high refractive index layer is referred to as “high refractive index layer ⁇
  • the low refractive index area a region of high refractive index layer delta 2 is removed by etching, the region is not removed but left the high refractive index layer delta 2 etch "high refractive index region" If you call it high refraction In the refractive index region, the thickness of the portion corresponding to the “waveguide core” corresponding to the sum of the high refractive index layer ⁇ and the high refractive index layer ⁇ 2 is thicker than the low refractive index region .
  • the kinetic energy of an optical field propagating in a waveguide is reduced by distributing and propagating throughout the waveguide.
  • the above-mentioned high refractive index region has the effect of reducing the kinetic energy by spreading the distribution of the optical field over the entire waveguide.
  • the optical field is the high refractive index layer delta Since the potential energy is lower when concentrated on 2 , the tendency is to concentrate on the high refractive index layer ⁇ 2 as much as possible. In this way, the action of distributing the optical field widely throughout the waveguide and the action of concentrating it in a part of the waveguide compete with each other.
  • the action of concentrating the light in the high refractive index layer ⁇ 2 works to shift the center position of the optical field toward the substrate. Taking advantage of such a property of the light field due to energy minimization, the light field in the high refractive index region has the same field radius as the light field in the low refractive index region. Adjust the parameters so that the center position is the same.
  • FIG. 39 is a diagram for explaining a calculation example for parameter adjustment in the present embodiment.
  • parameters other than ⁇ , ⁇ and ⁇ 2 already described are used.
  • the refractive index ⁇ and wavelength ⁇ are determined at the time of circuit design, so the remaining six parameters are determined.
  • these parameters are obtained using the variational method.
  • the wave function in the low refractive index region is denoted by u fm
  • the wave function in the low refractive index region is denoted by u gap .
  • the wave function u fill in the high refractive index region is given by the following equation ( 32 ).
  • FIG. 40 is a diagram for explaining the characteristics (wavelength dependence of transmission loss) of the 1.31 / 1.55 z mWDM circuit that is the optical circuit of the present embodiment.
  • Bm is set.
  • the ratio of the low refractive index region to the total circuit area was about 50%, and the circuit length was 120 Om.
  • the optical circuit contains a relatively large number of interfaces between the high and low refractive index regions and a continuous low refractive index region, as shown in Fig. 40, it has a good value of about 2 dB. Transmission loss was obtained.
  • the refractive index and the structure are changed by light irradiation, which is a recently developed method. It is also possible to adopt a technique for making this part of the optical circuit manufacturing process. In this embodiment, several embodiments of manufacturing an optical circuit using such light irradiation will be described. According to this embodiment, the number of manufacturing steps can be significantly reduced as compared with a normally used process, and the desired structure can be easily manufactured.
  • FIGS. 41A and 41B show an optical circuit according to the first embodiment of the present embodiment.
  • a lower cladding layer 22, an upper cladding layer 23, and a lower cladding layer 22 are formed on a silicon substrate 21 by a flame deposition method (FHD method).
  • the 2 4 were sequentially formed (Fig. 4 1 a) o the lower clad layer 2 2 and the upper clad layer 2 4, a quartz glass (S i 0 2) a base Ichisu to the mother material B and P, etc. It uses a material doped with an oxide.
  • As the core layer 2 3 is a flame deposition method
  • a material is used in which Ge oxide is doped in addition to oxide impurities such as B and P.
  • the core layer 24 is set to have a higher refractive index than the lower cladding layer 22 and the upper cladding layer 24.
  • the thickness of the lower cladding and layer 22 was set to 20 m
  • the thickness of the core layer 23 was set to ⁇ Hm
  • the thickness of the upper cladding layer 24 was set to 10 m.
  • a thin thin film 25 as a light-shielding film for light irradiation as shown in FIG. 41B is formed on the upper cladding layer 24, and then a pattern is formed with a photosensitive resist.
  • pattern formation was performed by partially removing the silicon film by a dry etching process (Fig. 41B). Note that the photosensitive resist was removed after the silicon mask was formed. .
  • the refractive index pattern required for obtaining the desired circuit characteristics is finally obtained. However, a slight correction has been made to the design value of the core shape obtained without considering such process dependence.
  • the irradiation power at this time is 120 mJ, and the irradiation time is 10 minutes.
  • heat treatment is performed to remove hydrogen diffused in the sample and to stabilize the refractive index by eliminating the unstable state of the glass caused by light irradiation. The goal was to develop
  • the refractive index of the core layer in a region where the light-shielding mask 25 is not formed is selectively changed, and the optical mask 2 is formed.
  • the index of refraction such as a sign, can be different from the refractive index of the core layer in the area where 5 is formed. Is estimated to be about 0.3%.
  • Mouth'c I was. It is considered that the loss characteristics deviated from the design values because the refractive index change was different from the design values.
  • the manufacturing process includes a process for forming the lower cladding layer 22, the core layer 23 and the upper cladding layer 24, a process for forming the light shielding mask layer 25, and a light irradiation process.
  • the lower cladding layer 22, the core layer 23, and the upper cladding layer 24 are formed by CVD, sputtering, or spin coating. It is also possible to use the method.
  • each layer is composed of a material having a single composition, but can be obtained by stacking a plurality of glasses having different compositions.
  • the layers of the multi-layer structure may be treated as one layer.
  • the light-shielding mask layer 25 another material other than silicon may be used as long as the material has an effect of shielding the irradiated light. Further, as an example of a method of forming a light-shielding mask, a method of forming the mask on the upper clad 24 has been described. However, the mask is formed on another glass substrate.
  • FIGS. 42A and 42B are diagrams for explaining a method of manufacturing the optical circuit according to the second embodiment of the present embodiment.
  • This embodiment is the first embodiment (Examples 18 to 11). Since it is almost the same as that, only the differences are explained.
  • the first embodiment since the lower cladding, the layer 22 and the upper cladding layer 24 were not filled with oxide of Ge, the upper cladding when irradiated with light was used.
  • the refractive index change in the V-doped layer 24 and the lower cladding layer 22 is small or almost negligible. In contrast, in the present embodiment, these layers become photosensitive layers similarly to the upper layer 23. 24 and the lower cladding layer 22 are formed, and a change in the refractive index due to light irradiation is induced.
  • a lower cladding layer 22 core layer 23 and an upper cladding layer 24 are sequentially formed (FIG. 42A).
  • a light-shielding film for light irradiation is formed on the upper cladding layer 24.
  • a silicon thin film 25 is formed and patterned (FIG. 42B).
  • a change in the refractive index occurs according to the amount of Ge doping.
  • the hatched area (23 ′) is the area where the refractive index has changed due to laser irradiation.
  • the composition so that both the core layer 23 and the cladding layers (22 and 24) become photosensitive layers, the high refractive index region and the low refractive index region formed by light irradiation can be obtained. It is possible to improve the loss characteristics of a device having a small difference in the field distribution in the light propagation direction.
  • FIG. 43A-D is a diagram illustrating a method of manufacturing the optical circuit according to the third embodiment of the present example. This embodiment corresponds to a combination of the first and second embodiments (Example 18-1 and Example 18-2). Therefore, only the steps added to these embodiments will be described below.
  • a local refractive index change is caused by UV light irradiation using a phase mask, and as shown in FIG.
  • a branch circuit was fabricated.
  • the UV light irradiation method using a phase mask is used in the manufacture of fiber gratings and the like, and is used for periodic structures such as grating structures.
  • a lower cladding layer 22 layer 23 and an upper cladding layer 24 are sequentially formed (FIG. 43A).
  • a patterned light-shielding mask 25 was formed and irradiated with UV light (Fig. 43B).
  • the area (23-1) shown by oblique lines in FIG. 43B is the area where the refractive index has been changed by UV light irradiation.
  • a darting filter is formed in a partial area near the output port.
  • a phase mask 26 patterned as shown in FIG. 43C is placed near the output port of the area where a grating fill is to be formed (corresponding to 27 in FIG. 43D). UV irradiation is performed through the phase mask 26 of the formation layer 2
  • the UV light irradiation step corresponding to FIG. 43C is interrupted during the manufacturing process of the embodiment 18-1 to simplify the manufacturing. After all the steps of the embodiment 7-1 are completed, a UV light irradiation step corresponding to FIG. 43C may be performed.
  • FIGS. 44A and 44B are diagrams for explaining a method of manufacturing an optical circuit according to the fourth embodiment of the present embodiment.
  • a silicon circuit is used as in the case of Example 18-1.
  • a lower cladding layer 22, a core layer 23, and an upper cladding layer 24 were sequentially formed on a substrate 21 by a flame deposition method (FHD method) (FIG. 44A).
  • FHD method flame deposition method
  • a hatched area (23 ′) is an area where a change in the refractive index is caused by laser irradiation.
  • the size of the region where the refractive index has changed is not constant, and the size of each region can be determined so that a desired refractive index distribution is realized.
  • the extent of these areas in the horizontal direction (XY direction) is determined by the amount of drive of the stage during laser light irradiation in the XY plane and the amount of laser power.
  • the extension (thickness) in the vertical direction (Z direction) is determined by controlling the amount of laser power and controlling the focusing state of the laser beam 28 by the amount of drive of the stage in the Z direction.
  • the core layer 23 may have the same thickness as that of the core layer 23 or may have a thickness smaller or larger than that of the core layer 23.
  • the change in the refractive index of the irradiation area is mainly performed by controlling the laser power.
  • a femtosecond pulse laser having a wavelength of 775 nm is used as the laser light, and the pulse width is 150 fs.
  • the pulse width is 150 fs.
  • the laser beam is condensed and drawn according to the method described above, and the spatial In order to realize the distribution, there is no need to form a mask in advance, but it is necessary to irradiate laser light for each dot, so it takes time to fabricate an optical circuit Tend. For this reason, this hand is used in Example 18-1 or Example 18 above.
  • the laser beam is not limited to the femtosecond laser, but it is also possible to use a UV excimer laser beam, a CW UV laser beam, or the like. In this case, as described in Example 18-1, it is effective to sensitize UV light using hydrogen addition or the like in order to obtain a large refractive index of 1.
  • the lower cladding layer 22 ⁇ layer 23 and the upper ladder layer 24 have a three-layer structure. Because it utilizes the refractive index change of the material, it can be applied to materials with a single composition such as bulk glass.
  • FIG. 45 AC is a cross-sectional view of the waveguide for explaining the state of the refractive index distribution of the manufactured optical circuit
  • FIG. 45A is the refractive index distribution before light irradiation
  • FIG. 45C shows the state of the refractive index distribution formed by the method of Example 18_2.
  • the refractive index distribution and the pixel size are 3 ⁇ 3 m and the thickness of the core layer is 4.5 Hm
  • FIG. 46 illustrates the loss characteristics (transmittance) of each of the 1.31 Hm / 1.55 ⁇ m (1 ⁇ 2) branch circuits having the structure shown in FIG. 45 AC.
  • FIG. The circuit size is 1 2 0
  • the loss characteristic of the optical circuit of the present invention is improved by about 1 dB compared with the loss characteristic of the optical circuit having the conventional structure, and an optical circuit having good characteristics is obtained. O obtained
  • the refractive index is treated as a complex refractive index.
  • the imaginary part of the complex refractive index means the gain or the loss of light in the medium. Therefore, it is assumed that the wave transmission medium has an absorption or amplification effect.
  • the characteristic that the complex refractive index of the ordinary material changes depending on the wavelength is effectively used.
  • the optical circuit structure consider the example of the 1.31i / 155 m (1X2) demultiplexer described in the second embodiment.
  • FIG. 47A- are schematic diagrams for explaining the configuration of the optical circuit of the present embodiment
  • FIG. 47A is a conceptual diagram of the entire circuit
  • FIG. 47B and FIG. I s a conceptual diagram of the complex refractive index distribution at the output side.
  • These figures are the ports for 1.31 m (a in the figure) and the ports for ck and 1.55 m (b in the figure), respectively.
  • the state of the silicon refractive index distribution in the vicinity of is shown.
  • the optical circuit of (1) has a complex refractive index distribution near the output port of 1.311 m in addition to the ordinary circuit design, and is almost transparent to light in the 1.31 m band. 5 Large for light in the 5 m band
  • the X-meter (Fig. 47B) is used to have a loss, while the complex refractive index distribution near the output port of 1.55 / Xm is almost transparent to light in the 1.55m band.
  • the optical circuit is designed to have a large loss for light in the 1.3 m band (Fig. 47, that is, in this optical circuit, the signal light of the wavelength to be output is transparent. The birefringence distribution is determined so that unnecessary signal light is not absorbed and output in the optical circuit.
  • a complex refractive index distribution is provided between the 1.55 m output port (b) and both wavelengths of light so that unnecessary signal light is scattered.
  • the design is designed to prevent cross-talk caused by this.
  • a semiconductor-doped glass-based material was selected as the constituent material of the optical circuit of this embodiment.
  • L_ is used to form a circuit when a semiconductor material is used.
  • any material that gives a complex refractive index may be used, and various materials such as organic materials, metals, and dielectric materials can be used. Monkey
  • the circuit of the present invention utilizes multiple diffraction and interference phenomena, and therefore has the feature of being able to realize extremely diverse functions.However, sufficient circuit characteristics are realized with a refractive index distribution consisting only of real numbers. Difficult to do can occur. In such a case, the embodiment In addition, if the circuit is designed to provide a complex refractive index distribution in the-part or all regions of the circuit, it is possible to improve the circuit characteristics or to make a circuit with a short element length. It becomes possible.
  • the optical circuit of this embodiment is a circuit in which a high refractive index layer is formed in a relief shape to form a refractive index distribution as the high refractive index portion and the low refractive index portion of the optical circuit described above.
  • FIGS. 48A to 48C are cross-sectional views for explaining the configuration of the optical circuit of the present embodiment.
  • FIG. 48A shows the basic structure of the optical circuit, which is formed by a low refractive index layer.
  • the upper part of the 5 m thick core layer 23, which is the high refractive index layer sandwiched between the cladding layers (22, 24), is removed by a depth of 2 m to give a relief
  • the effective refractive index distribution is formed by forming the effective “high refractive index portion” 23 a and the “low refractive index portion” 23 b
  • Such patterning can be performed by reactive ion etching.
  • the deeper the processing depth the greater the degree of pattern deformation ⁇ and the lower the controllability of pattern formation, and therefore the pattern size that can be formed if deep etching is performed.
  • the pattern size formed by etching is a very important parameter. This is because the spatial refractive index distribution determined by the pattern size affects the controllability of light, and thus the characteristics of the optical circuit itself.
  • FIG. 8B is a diagram for explaining an example of this.
  • unevenness is formed only from the surface of the core layer 23 which is a high refractive index layer.
  • irregularities are formed from both sides of the layer 23, and as a result, an equivalent refractive index distribution is realized by setting the X-cutting depth applied to each irregularity to 1 ⁇ m.
  • low refractive index glass is deposited as a lower cladding part on a silicon substrate (not shown), and a groove is formed on a part of the silicon substrate by reactive ion etching.
  • the groove portion corresponds to the high refractive index portion of the core layer 23 of the present optical circuit. Therefore, the cladding layer (2 2 4 ) Is set to 1.5%, and the thickness of the high refractive index portion of the core layer 23 finally obtained is measured and measured to be 5 m.
  • a groove of about 1 m is formed to obtain a sufficient step force V.
  • a layer of high refractive index glass is deposited on the lower cladding layer 22 and heated at a high temperature.
  • the high refractive index glass is filled without gaps near both ends of the groove of the lower cladding layer 22 (step portion), and the surface of the high refractive index layer is flattened.
  • the deposition of the high-refractive-index glass is performed so that the thickness of the high-refractive-index glass layer on the groove, which corresponds to the high-refractive-index portion of the core layer 23 of the present optical circuit, becomes 6 Lm.
  • the thickness of the high-refractive-index glass layer is set to 6 m is that a groove is formed on the upper surface of the high-refractive-index glass layer by etching so that the thickness of the final high-refractive-index portion is reduced.
  • the “gap” by etching was set to 1 m.
  • the concave portion (convex portion) provided in the lower cladding layer 22 is formed on the surface of the high refractive index glass layer.
  • the core layer 23 is formed such that the low refractive index portions and the high refractive index portions formed on the front surface and the rear surface of the core layer 23 correspond to each other. This is the core layer
  • the shape of the field of light propagating in 23 is symmetric with respect to the straight line extending in the light propagation direction, it is formed on the front and back surfaces of the core layer 23 to avoid extra loss.
  • the inventors have found that the low refractive index portion and the high refractive index portion should also be symmetrical with respect to a straight line extending in the light propagation direction.
  • an upper cladding layer 24 is provided on the upper layer 23, which is the waveguide portion, to provide a high refractive index portion 23a and a low refractive index portion 2.
  • the -fa A of an optical waveguide having a relative refractive index difference of about 1.5% between the cladding layer and the core layer is set to about 4.5% in order to make a single mode in the thickness direction of the substrate.
  • the thickness about 5 m
  • a considerably deep etching was required, and it was difficult to add a fine pattern.
  • by adopting a reflex structure like the optical circuit of the present embodiment it is possible to form a fine pattern with an etching depth of as low as 11 m and as shallow as about 0 • 5 m.
  • the effective refractive index difference ⁇ ′ in the high refractive index and low refractive index portions of the layer 23 is calculated by calculating the difference between the low refractive index glass forming the crack and the core. It is estimated that the relative refractive index difference ⁇ (approximately 1.5%) of the high refractive index glass to be formed is about 20%, and the effective refractive index for forming the spatial refractive index distribution of the optical circuit of the present embodiment. The difference ⁇ 'is only about 0.3%.
  • the circuit length can be reduced to about 1.5 times as long as the optical circuit of Example 1 with the relative refractive index difference ⁇ 1.5%.
  • the pixel size can be reduced to less than 0.5 m. If the optical circuit is designed with the pixel size of 0.5 m, a large wave number in the horizontal direction is obtained. Optical field can be generated, and the circuit length can be reduced to about half of the optical circuit of the first embodiment.
  • the light-reflecting surface is provided.
  • the optical circuit can be greatly reduced
  • the shape of the reflector provided on the core 23 can be freely changed according to the desired refractive index distribution. For example, as shown in FIG. 48C, different patterns are provided above and below the core layer 23, and in addition to the high refractive index portion 3a and the low refractive index portion 23b, an intermediate portion is formed.
  • the refractive index part 2 3 c may be cut
  • the optical circuit of this embodiment realizes light confinement by forming a clad by a multilayer film in which films having different refractive indices are stacked in multiple layers.
  • FIG. 49 is a cross-sectional view of the waveguide portion of the optical circuit of the present embodiment.
  • the lower cladding layer 22 and the upper cladding layer 24 sandwiching the core layer 23 are all films having different refractive indices ( It is composed of a multilayer film in which 2 2 & ⁇ 01 and 24 & & (1) are stacked in multiple layers.
  • the field pattern of the low refractive index portion is usually radiative as in the optical circuit of the second embodiment, and is different from that of the optical circuit of the first and second embodiments. Even in the circuit configuration, loss occurs in principle.
  • the optical circuit according to the present embodiment completely suppresses the light leaking above and below the substrate by forming the cladding as a multilayer film in which films having different refractive indices are stacked in multiple layers. This is what we did.
  • the design method of the optical circuit is Dispersion and radiation loss characteristics of anti-resonant reflecting otical waveguides-numerical results and analytical express ions "(T. Bab a and Y. Kokubun, Quantum Electronics, IEEE Journal of, Vol. 28 No. .7, p 1689-1700 July (1992)).
  • the cladding layer is composed of the above multilayer film and has a low refractive index area.
  • the optical circuit of the present embodiment is designed to design a refractive index distribution by dividing one pixel into a plurality of sub-pixels, thereby realizing an optical circuit with lower loss than the circuit described in the embodiment 14.o
  • the effective refractive index differs depending on the distribution of the number of sub-pixels having a high refractive index and the number of sub-pixels having a low refractive index.
  • Unit pixels can be created arbitrarily.
  • FIG. 5OA and FIG. 50B are top views showing examples of such sub-pixels
  • FIG. 50C is a graph showing the refractive index distribution obtained by using pixels divided by sub-pixels.
  • FIG. 4 is a conceptual top view of a portion of an optical circuit having a mouth 1. The unit pixel has a size of 1 a m square, and the pixel is divided into two (Fig. 50A) and four (Fig. 50A).
  • the effective value of the gap is approximately 0.5, m (in case of Fig. 50A) or 0.5.
  • the pixel is divided into a plurality of sub-pixels, but the calculation of the refractive index distribution is facilitated by performing the calculation on a pixel-by-pixel basis in the refractive index distribution.
  • the pixel structure is a square pixel structure having a side substantially perpendicular to the traveling direction of the wavefront, Intense interference occurs, as in the case where light is diffracted by a knife edge, and the design accuracy of the optical circuit is reduced.In addition, light having a large wave number is generated, and the refractive index distribution with a small refractive index difference is generated. Then, there is a problem that the light cannot be controlled.
  • the pixel shape is modified from a conventional rectangle. Such a pixel shape may be deformed in a direction horizontal to the substrate or in a direction perpendicular to the substrate.
  • FIG. 5A is a conceptual diagram of the refractive index distribution of a waveguide having a structure in which the refractive index changes in a direction parallel to the substrate
  • FIG. 51B is a plane wave in the refractive index distribution shown in FIG. 51A. It is a diagram for explaining the state of reflection attenuation when light is propagated.
  • the horizontal axis of Fig. 51B is the refractive index gradient (the rate of spatial change of the propagation constant), and the vertical axis is Is the reflection due to the mismatch of the constant.
  • the pixel size of is approximately 1 / since the wavelength in vacuum is about 2 wavelengths for 55 light. It is expected that the scattering can be attenuated by about dB when the refractive index is changed in this way.
  • Figure 52A shows the state of the refractive index component in a unit pixel when the pixel is circular.
  • FIG. 52B is a schematic top view of a part of the circuit constructed using the circular pixel shown in Fig. 52A, and Fig. 52B is the high refractive index part and low refractive index in Fig. 52B.
  • FIG. 4 is a conceptual top view of a part of the circuit when the arrangement of the components is reversed.
  • the local effective refractive index is likely to change in proportion to the cross-sectional area of the circular pixel.
  • a circle with a diameter of about 3 um is made to have the same refractive index as the cladding, and the area around the circular region is formed by a film with a high refractive index.
  • the circuit shown in Figure 52B is A high-refractive-index portion made of a film having a high refractive index is uniformly formed, and a part of the high-refractive-index portion is formed in a circular shape and a low-refractive-index portion is provided in that portion.
  • a low refractive index portion made of a film having a low refractive index is uniformly formed, and a part of the low refractive index portion is circularly wound. It has a configuration in which a high refractive index part is provided in that part
  • an Andrado cloud is deposited on the substrate, and then a film having a higher refractive index than the clad is deposited.
  • the thickness of the mask which is a mask, is changed spatially.
  • a different film can be left as a core. For example, after applying a photo resist, the resist is melted by heating to about 130 ° C, the edge of the powder is rounded by surface tension, and the resist of this condition is etched with a mask. If the resist pattern is used, the periphery of the resist pattern is etched away, and the pattern that is finally transferred to the high-refractive-index film also has a pattern in which the outer periphery of the resist pattern is rounded. Become.
  • the outer peripheral portion of the finally obtained pattern can be made smooth.
  • the arrangement of the pixels forming the optical circuit can be defined by a method of dividing the planar area of the optical circuit.
  • a unit cell is considered and its symmetry Because the cell placement position can be specified, the unit cell is
  • the entire circuit has the same periodicity as a crystal.
  • an ideal plane wave that is spatially greatly spread in the horizontal direction is incident on a circuit having such a periodicity, strong scattering occurs for a specific wave number component.
  • the desired characteristics can be obtained because the characteristics of the optical circuit differ depending on how the crystallographic orientation of the circuit is determined and determined with respect to the pixel size and arrangement and the light incident direction (or light emitting direction). For this purpose, the direction of incidence of light and the wave number are important. Then, if strong scattering for the specific wavenumber component described above is used, the circuit can be downsized and the characteristics can be improved.
  • a simple unit cell consists of a single pixel, and the shape of this pixel can be round or n-gonal (n is an integer of 3 or more).
  • Fig. 53 is a diagram for explaining the state of the pixel array when this pixel shape is a honeycomb shape. With this pixel array, a relatively isotropic diffraction surface can be obtained. In such an optical circuit that inputs and outputs light from multiple directions, large reflections are likely to occur in various directions, thus improving the circuit characteristics.
  • the so-called “quasi-periodic structure” is also known as an imperfect periodic structure. Since the spectrum is distributed, there is an advantage that convenient scattering can be obtained in configuring the circuit.
  • a circuit configured to distribute a signal from each port to another port at the same time and receive a signal from the same port includes an optical circuit. Since an optical multiplexer / demultiplexer that simply multiplexes / demultiplexes the signals was used, when signals are input, if the signal is input from only one port, the N port is used. In some circuits, there was a problem that light attenuated to 1 N. : The cause of this problem is that the circuit was designed in consideration of the phase of light. There is no point. On the other hand, if the wave transmission medium of the present invention is used, a multiplexing / distributing function including the phase can be realized, so that light can be multiplexed / distributed without generating extra loss.
  • Fig. 55 is a diagram for explaining an example of the configuration of an optical circuit with a mutual simultaneous reception and simultaneous reception configuration.
  • Fig. 56 is a schematic diagram of the signal flow between each port of this optical circuit.
  • FIG. This optical circuit has four ports.Each port emits light toward the other three ports, while the other three ports are output independently to receive the IS signal. Circuit configuration.
  • an optical fiber is connected to these ports, and each port is connected to a terminating device or an optical amplifier device for use.
  • the signal flow between the ports schematically illustrated in FIG. 56 is obtained as shown in FIG. 57 when deformed without breaking the BRH-physical signal flow.
  • the upper and lower opposing ports are the same port in the actual fere, but in order to clarify the signal flow, the lower side is the transmission port (+), and the upper side is the reception port (-). ) Are distinguished from functions. However, these show only the logical composition of the forces composed of the same circuit.
  • the power is 1 Z 3 due to the three branches on the transmitting side, and the power is 1/3 due to the multiplexer on the receiving side.
  • the loss on the receiving side is the loss that occurs because light with phase matching is not input from the other two ports. Therefore, it is considered that the loss will be eliminated if the branching method is devised so that the light can be received independently of the light from the other two ports. This can be achieved by distributing to the birds.
  • phase of each port is defined as a set of four numbers (ie, a vector
  • the amplitude is set to 1. However, if there is no light distribution to a specific port, its component is set to 0. For example, if the phase is 0 for port 1, ⁇ for port 2, pit 3 for port, and port 4 with no light,
  • the field overlap integral can be calculated as an inner product of the vectors, and this can be used to find the desired vector set. Now, assuming that a signal is distributed evenly from one port car to all other ports, the component corresponding to the port to be distributed is 0, and the field corresponding to the other ports is zero. Should be considered. If all the vectors are orthogonal to each other by adjusting their phases, each port can receive light independently of the signals from the other fields, and the loss Can receive the optical signal with only the branch loss. In fact, in this case, it is 00 ,, 11 ,, 11 ,, D
  • the present embodiment is an optical circuit having the same configuration as that of Embodiment 25, but is an example of the configuration of an optical circuit for minimizing the overlap of output signals when there is no orthogonal state.
  • an optical circuit for minimizing the overlap of output signals when there is no orthogonal state.
  • orthogonal g cannot be realized.
  • a configuration with low loss can be achieved by selecting a state that is as close to orthogonal as possible. Can be realized.
  • Fig. 59 is a conceptual diagram of the application of such an uneven distribution circuit. As shown in Fig. 59, three-port optical circuits are arranged in cascade.
  • an optical circuit in which the inorganic glass material constituting the optical circuit is doped with an Er element to provide a function of increasing the wavelength in a 1.5 m wavelength band. Since the loss of the circuit is sufficiently lower than before, the amplifier can be amplified with a small power consumption and a short distance, so that a small and low power consumption tap circuit can be configured. Indicated.
  • the output position shifts in the direction A according to the change in the wavelength (FIG. 60A). Also, when the position B of the incident waveguide is shifted for the signal light of the same wavelength, the output position shifts in the direction C. ( Figure 60B).
  • Figure 60B By utilizing such properties, if the center of the field on the incident waveguide side is shifted in the direction B according to the wavelength, the movement in the direction A and the movement in the direction C cancel each other, and the field Stops working.
  • the center position of the field on the incident waveguide side is determined by the wavelength interval between the output ports when the center position of the field on the incident waveguide side does not move. When changed periodically, a plateau is formed as shown in FIG. If an optical waveguide of the output port is arranged in a part of this bra, a wavelength filter characteristic on a rectangle can be obtained.
  • a directional coupler be placed in the incident waveguide part and a branch delay circuit be placed in front of it.
  • the swing width in which the center position of the field fluctuates Is required to be as small as the field and diameter, so the core width of the directional coupling is small.
  • the shape of the field becomes wider than the required spot diameter and the field shape is distorted, which means that the light output image on the exit side, which is a conjugate image thereof, is distorted. Therefore, there is a problem that optical coupling is degraded as a result. Therefore, in the present embodiment, the light from a plurality of incident ports is shaped and output using the wave transmission medium of the present invention, and By superimposing the waves, a good incident field shape was obtained, and by adjusting the phase between the incident ports, the center position of the field was adjusted. In this embodiment, two incident ports are used.
  • the coordinates are represented by X
  • the images of the incident ports are represented by f 0 (X), f, ((), respectively
  • the phase difference between the ports is represented by ⁇ .
  • the superimposed image f (x, ⁇ ) is
  • each field shape can be arbitrarily determined, including the phase, if the field is a direct field. Fields can be set for each input port. As shown in Fig. 62 (only the incident part excluding the arrayed waveguide grating is shown), the phase difference at this stage is given by the delay of the waveguide circuit, and the output repetition period and the output side with respect to the wavelength of the delay circuit. If the output wavelength spacing between the waveguides is the same, the distance D between the waveguides between the output ports h is
  • Fig. 63 is an example showing how the center position moves when a Gaussian function is assumed as the field shape.
  • the field shape of the part before entering the arrayed waveguide grating was observed with a near-field image so that the movement of the field could be understood.
  • This is a configuration including the delay circuit shown in Fig. 62, and it can be seen that the center position of the field periodically changes at intervals of about 10 nm. 7 In the transfer region, the two peaks deviate from the approximation, but this portion is not related to the coupling because it corresponds to the transition region from one output port to the next output port.
  • the delay circuit part can be freely set by the length of the waveguide. Since it can be set and the branch ratio of the two-branch circuit can be set freely, a flat wavelength demultiplexing characteristic can be obtained by adjusting the above method according to the arrayed waveguide grating.
  • the input waveguides are two input waveguides.
  • the number of input waveguides may be increased. The general theory for that is shown below.
  • Transforming (4 5), Then, can be determined in an appropriate form in the same manner as in the above embodiment.
  • is used as a parameter for simplicity.
  • a conditional expression is described using parameters of a desired field.
  • the phase term to be added to the other waveguide is
  • the desired function is Taylor-expanded, summarized in terms of the order of ⁇ , and apparently, the coefficient of the term with one lower order is given a lame-independent dependence.
  • the approximation may be performed in the same manner as described above, using the procedure described above for another parameter.
  • the optical fiber and the optical semiconductor laser reduce the optical coupling loss via a lens.
  • the use of a lens requires a sufficient space between the optical waveguide structure and the lens, which is not suitable for miniaturization and miniaturization. Therefore, the optical waveguide and the optical semiconductor
  • the optical waveguide has an almost phase-wave equal phase plane inside the circuit, so With this radiation, the light is diffracted, resulting in a loss of light P.
  • optical coupling loss occurs when the field diameter is reasonable.
  • the optical diameter of a silica-based optical waveguide and a semiconductor optical waveguide for example, the field diameter of a silica-based optical waveguide is reduced
  • the optical coupling is improved by simultaneously controlling the wavefront and controlling the field shape using the wave transmission medium of the present invention.
  • the wave propagation medium of the present invention uses multiple scattering of light, unlike an optical waveguide, it is possible to control light having a high transverse wave number, which is usually emitted light, so that the field diameter is determined by the waveguide structure. It can be smaller than the value that can be narrowed down.
  • the wave transmission medium of the present invention can control the phase distribution of the field, it is sufficient that the equiphase surface is concave as shown in FIG. 64B.
  • Figure 65 shows the spot diameter shaped only in the horizontal direction of the substrate using a wave transmission medium made of a quartz-based planar lightwave circuit technology with a relative refractive index difference of 1.5%, but with a near-field image perpendicular to the substrate surface.
  • the wave transmission medium was designed to form a beam west approximately 5 m away from the exit end, and a minimum field diameter of approximately 5 m from the exit end was realized in the near-field image.
  • the reference is the field of the optical waveguide, which coincides with the vertical field spread of the wave transmission medium.
  • the field in the horizontal direction of the substrate had a field diameter of about 3 m, and a smaller field diameter than the optical waveguide structure was realized.
  • the coupling loss with the semiconductor laser in the past was about 8 dB, but could be improved to 4 dB.
  • the array waveguide type optical multiplexing / demultiplexing circuit described below is based on the above principle by arranging scattering points based on the spatial refractive index distribution in the connection region between the input waveguide and the first slab waveguide.
  • the phase and the intensity of the propagating light are controlled simultaneously, but the main advantages obtained by this are as follows.
  • FIG. 3 is a diagram for explaining a light field distribution of a double peak in a parabolic waveguide 106.
  • the field distribution of the double peak in the parabolic waveguide 106 provided in the conventional circuit shown in Fig. 2A is generated by the superposition of the 0th and 2nd modes, and the field distribution ⁇ (X) can be expressed by the following equation.
  • ⁇ ( ⁇ ) ⁇ 0 ⁇ 0 (x) exp... (-; ⁇ 0 z) + ⁇ 2 ⁇ 2 ( ⁇ ) & ⁇ (-] ⁇ 2 ⁇ ), ⁇ ⁇ )
  • the m Tsugimoichi de field distribution of the propagation constants of iS n ⁇ im order mode is a m is an expansion coefficient of the m-th order mode.
  • the phase distribution which is a factor of chromatic dispersion, is caused by the phase difference between the 0th and 2nd modes induced in the parabolic waveguide.
  • the arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit of the present invention not a waveguide mode but a plurality of scattering points locally control the phase and intensity, so that the degree of freedom is higher. It is possible to specify the intensity distribution and phase distribution of the emitted light. Therefore, by optimally arranging the scattering points in the input waveguide (ie, optimizing the spatial refractive index distribution), the shape of the output field distribution can be a double peak without phase distortion, and the low peak can be obtained. Dispersion array waveguide It becomes possible to realize a grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit.
  • the waveguide structure of the present invention also enables miniaturization and a desired band design.
  • a silicon substrate is used as a substrate, and a film whose refractive index is adjusted by adding an additive to quartz is deposited on the silicon substrate to form a semiconductor substrate.
  • the optical circuit is patterned by the fine processing technology used in the process. Therefore, the optical circuit pattern is two-dimensional, and is patterned so as to exhibit a function as an optical circuit in the horizontal direction with respect to the substrate.
  • FIGS. 67A to 67E are diagrams for explaining the manufacturing process of the low dispersion arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit of the present invention.
  • S i O 2 lower class Tsu Dogarasusu DOO 6 0 2 was mainly, and, S i 0 2 to G e.
  • the lower clad glass plate 602 becomes a lower clad glass layer 604 having a thickness of approximately 30 nm
  • the core glass plate 603 becomes a core glass 60 ⁇ having a thickness of approximately 7 m. 5 (Fig. 67B).
  • the thickness of the lower glass soot 602 and the core glass soot 603 deposited in FIG. 67A is such that the thickness of both layers is equal to the above thickness by the glass clearing heat treatment shown in FIG. 67B. Is determined to be
  • an etching mask 606 was formed on the glass substrate 605 by photolithography (FIG. 67C), and the core mask was formed by reactive ion X-etching.
  • Lath 605 is paginated (Fig. 67D).
  • the etching mask 606 remaining on the core glass 605 that has been removed is removed, the upper clad glass 607 is formed by a flame deposition method, and the core glass 605 is formed as the upper clad glass. Embedded between 607 and lower cladding glass 604
  • Fig. 67E In order to lower the glass transition temperature of the upper clad glass 607, the upper clad glass Dopants such as Ron (B) and Rin (P) are added. By lowering the glass transition temperature, it becomes easier for the upper glass 607 to evenly enter the narrow gap between the patterned core glasses 605.
  • the thus obtained patterned core glass 605 has a higher refractive index than the upper cladding glass 607 interposed between the core glasses 605. Therefore, the high-refractive-index portion corresponding to the region where the core glass 605 exists and the low-refractive-index portion corresponding to the region where the upper clad glass 607 intervenes between the core glasses 605 are provided.
  • a two-dimensional spatial refractive index distribution is formed, and each of the core glasses 605, which is a high refractive index portion, acts as a scattering point for guided light, and optimizes the arrangement of the scattering points. In other words, by optimizing the spatial refractive index distribution), local control of the phase and intensity of the optical field becomes possible.
  • Figure 68 shows an example of a structure (scattering point arrangement) in which the input waveguide connected to the slab waveguide of the passband-magnified arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit is designed based on the above principle.
  • the area indicated by the black part in the figure corresponds to the scattering point (high refractive index part).
  • the two-dimensional arrangement distribution of the scattering points in the input waveguide is almost line-symmetric with respect to a straight line extending in the light propagation direction.
  • This structure was designed by optimally arranging the scattering points in the waveguide by the steepest descent method described above.
  • the length of one side of the scattering point is preferably set to 0.2 ⁇ m or more.
  • Fig. 69 is a diagram for explaining the calculation results of the distribution (amplitude and phase) of the optical field emitted from the input waveguide having the scattering point arrangement shown in Fig. 68.
  • an outgoing light field and distribution having no distortion in the equiphase surface and having a double peak (double peak) are obtained.
  • FIG. 70 shows a channel spacing of 10 using the input waveguide of this embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the results of configuring an arrayed-waveguide grating optical multiplexing / demultiplexing circuit of 0 GHz, and examining the results of examining the path, the effect of expanding the wavelength, and the effect of reducing the wavelength dispersion of this circuit.
  • the chromatic dispersion of the circuit of the present invention does not have a relative wavelength dependence and has little effect on the transmission bandwidth, and the dispersion can be reduced. It is apparent that the light loss characteristics are also improved.
  • an arrayed waveguide grating type optical multiplexing / demultiplexing circuit is configured by a silica-based glass waveguide provided on a thin substrate, but the constituent material of the waveguide is not limited to glass.
  • F sheet U [pi over emissions, semiconductor, or may be filed with other materials, such as L i N b 0 3. Needless to say, the substrate used is not limited to silicon.

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Abstract

波動伝達媒体に入力ポートと出力ポートとを設け、入力ポートから入射した伝搬光のフィールド分布1(順伝搬光)と、入力ポートから入射した光信号が出力ポートから出力される際に期待される出力フィールドを出力ポート側から逆伝搬させた位相共役光のフィールド分布2(逆伝搬光)と、を数値計算により求める。そして、これらのフィールド分布1および2をもとに、伝搬光と逆伝搬光の各点(x,z)における位相差をなくすように、媒体中での空間的な屈折率分布を求める。

Description

発明の名称 波動伝達媒体および導波回路
技術分野
本発明は、 波動伝達媒体およびこれを用いた導波回路ならび にそれらの製造方法に関し、 よ り詳細には、 2次元的な屈折率 分布に応じた多重散乱に基づいて波動を伝達させる媒体および これを用いて構成された導波回路ならびにそれらの製造方法に 関する。
背景技術
光通信などの技術分野においては、 光の分岐 · 干渉を容易に 実現するための光回路を構成するために 、 光導波路構造を利用 光部品が開発されてきた のような波動としての性 質を利用した集積光部品は、 光導波路長などを調整したり光干 渉計等の作製を容易化したりする ことを可能とし、 さ らに 、 半 導体分野における回路加ェ技術を適用することで、 光部品の集 積化も可能となる
しかしながら 、 このような光導波路回路においては、 光導波 路中を伝搬する光を屈折率の空間的分布を利用して空間的な光 閉じ込めを実現する 「光閉じ込め構造」 により光回路の各構成 要素を構成するために 光配線などを用いた縦列的な回路設計 が必要となる このため 、 光導波路回路の光路長は、 光回路内 で干渉現象などを生じさせるために求められる光路長よ り も長 くならざるを得ず、 その In κ 光回路そのものが極めて大型に なってしまう という問題があつた。
たとえば、 典型的なァレイ導波路格子を例にとると 、 入力ポ
— 卜から入力された複数の波長 ( λ j ) の光はスラブ導波路を有 するスター力プラによ り分波 · 合波を繰り返し、 分波された光 が出力ポー トから出力されるが 、 波長の千分の 1程度の分解能 で光を分波するために要する光路長は、 導波路を伝搬する光の 波長の数万倍となる。 また'、 光回路の導波路パターンニングを はじめとして、 偏光状態に依存する回路特性を補正するための 波長板などを設けるための加工も施す必要がある。 (例えば、 Y. Hibino, Passive optical devices for photonic networks ,
IEIC Trans. Co画 n., Vol. E83-B No.10, (2000)
また、 光回路の小型化のためには光を導波路中
Figure imgf000004_0001
閉じ込 める必要があるため 、 屈折率の空間的分布に よ り光 じ込め 状態を制御するため は極めて大きな屈折率差を光導 路中に もたせる ( _とが必要 され、 例えば従来のステッブイ ンテク ッ ス型の光導波路では 比屈折率差が 0 1 %より も大 な値と なるような屈折率の 間的分布を有するように光
Figure imgf000004_0002
が設計 されていた 。 このよ な大きな屈折率 を利用して光 じ込め を行う ととすると 回路構成の自由 が制限されてしまう と いう問雜が生じる 特に、 光導波路中 の屈折率差を 局所的 な紫外線照射、 熱光 効果や電気光学
Figure imgf000004_0003
果などによ り 現しよ う とする場合には 、 られる屈折率の変化量は高々 0 1 %程 度 ^のる場合が多 < 、 光の伝搬方向を変化させる場合 は光導 波路の光路にそつて徐々に向きを変変化化させざるを得ず 光回路 長は必然的に極めて長い のとなつっててしまい、 その結 として 光回路の小型化が困難になつてしまう
さ らに 、 グレーティ ング様の回路を光導波路回路に付与した 回路は光の伝搬方向に対して概ね平行な向さの周期構造もし < は誘電体屈折率の周期変化により光回路を構成し、 かつ、 実際 の設計においては概ねフ一リェ変換で評価可能な強い周期性を 有する構造 ¾し < は周期性を僅かに歪ませたチヤープ構造によ り光回路の特性を得ているために、 波面に対して概ね均一な構 造となつて伝搬方向に 直な方向 (波面に沿つた方向) での光 制御 が困 難 と な る 。 例 え ば、 T. W. Mossberg, "Planar holographic o tical processing , Optics Letters, Vol.26, No. 7, pp 414-416 (2001 )に開示されている光回路では、 光回 路中で反射することなく透過する光は回路中に広がってしまい 信号光として利用する ことができない。 また、 分岐回路のよう に伝搬方向に垂直な方向へ大きくスポッ ト位置を変化させる回 路では、 光が形成する 「場」 (フィールド) を伝搬方向と垂直方 向に大きく広げる必要があ り回路が大きくならざるを得ない。 さ らに、 実際の回路の設計においても、 ファイバグレーティ ン グのような従来の 1次元のダレ一ティ ング回路の設計方法とほ ぼ等価な設計方法しか実現できないために、 周期性の強い構造
(すなわち、 伝搬方向の波数に依存した光回路) に限定され、 回路規模が大きくなり、 波長に敏感になり易く、 入出力の位置 が波長の順に連続的に分布してしまうなど、 設計の自由度が低 い回路に限定されるという問題があった。
一方、 現在では通信容量の拡大のために複数の光波長を用い た光波長多重通信システムの開発が盛んに行われており、 この 光波長多重通信システムにおいて、 複数の波長の光信号を送信 機側で合波したり、 1本の光ファイバ中を伝搬する複数の光信 号を受信機側で異なるポー 卜に分波するための光波長合分波回 路として、 アレイ導波路回折格子型光合分波回路が広く用いら れている。
図 1 は、 従来のアレイ導波路回折格子型光合分波回路の構成 例 を 説 明 す る た め の 図 で あ る ( 例 え ば 、 K. Okamoto, Fundamentals of O tical Waveguides , Academic Press (2000)参照)。 この回路は、 基板 1 0 0上に設けられた、 入力導 波路 1 0 1 と第 1 のスラブ導波路 1 0 2 とアレイ導波路 1 0 3 と第 2 のスラブ導波路 1 0 4 と出力導波路 1 0 5 とが順次接続 されて構成されている。
入力導波路 1 0 1 から入力された光は第 1 のスラブ導波路 1 0 2 によ り拡げられ、 各波長に対応する導波路で構成されたァ レイ導波路 1 0 3へと分波される。 そして、 第 2 のスラブ導波 路 1 0 4で再び合波されて出力導波路 1 0 5へと導かれる。 こ こで、 第 1 のスラブ導波路 1 0 2 のアレイ導波路 1 0 3側の端 部に投射された光フィールドパターンは、 基本的には、 第 2 の スラブ導波路 1 0 4のアレイ導波路 1 0 3側の端部に再生 (コ ピー) されることになるが、 アレイ導波路 1 0 3 は、 互いに隣 り合う光導波路の光路長がちょ う ど△ Lだけ異なるように設計 されているため、 光フィールドは、 入力された光の波長に依存 して傾きをもつこととなる。 この傾きにより、 第 2 のスラブ導 波路 1 0 4の出力導波路 1 0 5側の端部で光フィールドが焦点 を結ぶ位置が波長ごとに変化し、 これによ り波長分波が可能と なる。
このようなアレイ導波路格子型光合分波回路は、 複数の波長 の光信号を 1本の光ファイバ中で伝送させる光多重通信システ ムにおいて必要不可欠な光部品となりつつある。 また、 図 1 に 示したアレイ導波路格子型光合分波回路の透過波長帯域幅を拡 げたパスバン ド拡大アレイ導波路格子型光合分波回路の提案も 種々行われている。
図 2 Aおよび図 2 Bは、 従来提案されているパスバンド拡大 アレイ導波路格子型光合分波回路の構成例を説明するための図 である (例えば、 K. Okamoto and A. Sugi ta, "Flat spectral response ar r ay ed-wavego i de grating multi lexer with parabolic waveguide horns" , Electronics Letters, Vol. 32, No. 18, pp. 1661 - 1662 (1996)参照)。
この回路は、 図 2 Aに示すように、 図 1 に示した回路におい て、 入力導波路 1 0 1 と第 1 のスラブ導波路 1 0 2 との間に、 図 2 Bに示した形状のパラボラ導波路 1 0 6 を 又けて構成され る回路である。なお、 図中の z は、光の伝搬方向を示している 図 3 Aおよび図 3 Bは、 図 2 Aの回路構成とした場合の 、 パ ララボホララ導導波波路路 11 00 6 のスラブ導波路 1 0 2 との接続面における 光光フフィィーールルドド、分分布を説明するための図で、 z は光の伝搬方向、
XXはは zΖ方方向向とと垂垂直直な導波路の断面方向を意味している。 の図 にに示示すすよよううにに、 光光フィールド分布はダブルピークを有する分布 形形状状ととななるる。 第第 22 のスラブ導波路 1 0 4の出力導波路側でこの ダダブブルルピピーククををもつ光フィ ールドが再生されて出力導波路 1 0
55 にに結結合合すするる ことととなるため、 透過波長帯域の 犬が実現され ることとなる
しかしながら、 上述した従来構成のパスバン ド拡大ァレイ導 波路格子型光合分波回路は 、 図 4 に示すよう に、 パラボラ導波 路内の位相分布に起因する大きな波長分散値を有する 波長分 散は信号スぺク トル成分に異なる遅延時間を与えるため 、 大さ な波長分散を有する従来のパスバン ド拡大ァレイ導波路格子型 光合分波回路では光パルス劣化が著しいという問題がある。 発明の開示
本発明は このような課題に鑑みてなされたもので、 従来の 光導波路回路や平面ホログラフィ ック'回路を用いた光回路よ り も小型で 光の入出力を可能な限り 自由に設定でき、 さらに、 緩やかな屈折率分布 (小さな高低差) でも充分に高効率の光信 号制御を可能とする光回路を実現するための光 (波動) 伝達媒 体を提供し これにより、 高効率で小型の導波回路を実現する と、 および 、 波長分散の小さなアレイ導波路格子型光合分波 回路を提供することを目的としている。
本発明はこのような目的を達成するために、 第 1 の発明は、 所望の光入出力のある断面が与えられるべき回路上の場所をポ 一 卜とよぶときに、 入力側ポー ト (入力ポート) からの入射光 を所望の出力側ポー ト (出力ポー ト ) ίこ出力する波動伝達媒体 であつて 、 前記波動伝達媒体は、 前記入カポ一 卜からの入射光 が当該波動伝達媒体中で多重散乱しながら伝搬するように決定 された空間的な屈折率分布を有し、 当該波動伝達媒体内の局所 的な位置は、 仮想的なメッシュによ り画定される仮想的なピク セルにより指定され、 前記ピクセルの各々が有する屈折率によ り前記波動伝達媒体の空間的な屈折率分布を成すしとを特徴と する。
好ましく は、 前記波動伝達媒体の屈折率分布は 、 前記入力ポ 一 卜からの入射光の順伝搬光のフィ一ルドの位相と前記出射光 を位相せ /ヽ役に逆伝搬させた逆伝搬光のフィールドの位相との差 を、 刖記波動伝達媒体の各点において整合させる う に設定さ れている
また 、 好ましく は、 前記ピクセルの取り得る屈折率は、 低屈 折率 ( n L ) または高屈折率 ( n H ) の何れかであり 、 刖記屈折 率分布は、 低屈折率 ( li t ) を有するピクセルと高屈折率 ( n H ) を有するピクセルを空間的に配置させることによ り与えられ るものである。
また、 好ましく は、 前記低屈折率 ( n ^ ) を有するピクセル の、 前記波動伝達媒体中における前記入射光の伝搬方向での存 在確率は、 3 0 %以下である。
また、 好ましく は、 前記ピクセルは、 下限屈折率と上限屈折 率との間の有限個の屈折率を取り得、 前記屈折率分布は当該有 限個の屈折率のうちの何れかの屈折率を有する前記ピクセルを 空間的に配置させる ことによ り与えられるものである。
また、 好ましく は、 前記入力ポー トから入射される光を、 所 望の割合で互いに異なる出力ポー h位置に分波されるょう に刖 記屈折率分布が決定されている。
また 、 好ましく は、 前記入力ポ トから入射される光は複数 の波長の光の波長多重光であり、 ヽ [ -該波長多重光をなす各々の 波長の光に対応付けられた互いに異なる出力ポ 卜位置に分波 されるように前記屈折率分布が決定されている
また 、 好ましく は、 B【J ci入力ポ ―トから入射される光は複数 の波長の光の波長多重光であ り、 当該波長多重光をなす各々の 波長の光が所望の割合で互いに異なる出力ポー 卜位置に分波さ れるように前記屈折率分布が決定されている。
また 、 好ましく は、 前記入力ポ一 卜から入射される光は T Ε モー ドと T Mモ一 ドの偏波多重光であり、 当該偏波多重光をな す各々の偏波に対応付けられた互いに異なる出力ポー 卜位置に 分波されるように前記屈折率分布が決定されている
また 、 好ましく は、 前記入力ポ トから入射される光は T Ε モー ドと T Mモー ドの偏波多重光であ り、 当該偏波多重光をな す各々の偏波が所望の割合で互いに異なる出力ポー ト位置に分 波されるよう に前記屈折率分布が決定されている
また 、 好ましく は、 前記波動伝達媒体を構成する物質は誘電 体である。
第 2 の発明は、 本発明の波動伝 媒体の製造方法であつて 、
を仮定した前記波 、 初期屈折率分布 動伝達媒体中において 、 刖記 入射光のフィールド分布 1 と、 前記出射光を前記出力ポ ― 卜か ら仮想的に逆伝搬させた光のフィ ルド分布 2 と 、 ¾:永める第
1 のステツプと、 前記波動伝達媒体の各点において、 前記フィ ールド分布 1 と前記フィールド分 2 との位相差が少なくなる ょラに 、 前記屈折率分布を決定する第 2のステ Vプと、 刖 己出 力ポー ト位置において 記フィ ル 分布 1 と刖記出射光の フィ一ルド分布とが所亡 の誤差以下となるまで 刖記第 1 のス テッフ と ήή第 2 のステップとを繰 Ό返して前記屈折率分布を 逐次近似する第 3 のステ プと 、 を備えている とを特徴とす る
好ましくは 、 刖記第 2 のステップにおける屈折率分布の決定 は、 前記ピクセルの各々の屈折率を変数とする最急降下法によ り実行される ο
第 3 の発明は、 本発明の波動伝 媒体の製造方法であって、 前記屈折率分布を逐次近似するための第 1 のル一チンと第 2 の ルーチンとを備え Wl efl第 1 のル チンは 、 初期屈折率分布を 仮定した前記波動 Vs. 媒体中に 45いて 刖記入射光のフィ一ル ド分布 1 と、 刖 出射光を前 Pし ιϋカポ 卜から仮想的に逆伝搬 させた光のフィ―ルド分布 2 と、 を求める第 1 のステップと、 前記波動 fe達媒体内の位置における刖記フィールド分布 2 の位 相が当該位置における前記フィ―ルドゝ分布 1 の位相と整合する ょラに刖記屈折率分布を変更する第 2 のステツプと、 当該変更 後の屈折率分布を用いて BU pd u置に けるフィ ールド分布 2 を 求め直す第 3 のステップと、 刖 pd を逆伝搬方向に所定量だ け移動させて新たな 1 mとして定義し直す第 4のステップと、 前記第 1乃至 4のステツプを繰り して刖記屈折率分布を逐次 近似する第 5 のスアツ ノと、 を備え 刖記第 2 のルーチンは、 刖 第 1 のルーチンで決定された屈折 分布を仮定した前記波 動伝達媒体中において、 出射光のフィ ルド分布 1 と、 前 記出射光を刖 力ポー 卜から仮想的に逆伝搬させた光のフィ ルド分布 2 と、 を求める第 6 のステップと、 前記波動伝達媒 体内の位置における itl記フィ —ルド、分布 1 の位相が当該位置に おける前 Βΰフィールドヽ分布 2 の位相と整合するよう に前記屈折 率分布を変更する第 7 のステップと、 当該変更後の屈折率分 を用いて前記位置におけるフィールド分布 1 を求め直す第 8 の ,- ステツプと 、 刖 置を順伝搬方向に所定量だけ移動させて新 たな位置として定義し直す第 9 のステップと 、 刖記第 6乃至 9 のステップを繰り返して m ad屈折率分布を逐次近似する第 1 0 のステツフ と、 を備えていることを特徴とする
好ましく は、 第 2 のステップにおいて 、 刖 §dフィ—— レ F 分布 2 としては 、 逐次近似前の屈折率分布中で前記出射光を入 射面まで伝搬させたときのフィールド分布を当該逐次近似前の 屈折率分布中で順伝搬させて得られたフィ ―ルド分布を用い 、 前記フィ一ルド分布 1 としては、 逐次近似刖の屈折率分布中で 前 ø己入射光を出射面まで伝搬させたときのフィ一ルド分布を当 該逐次近似前の屈折率分布中で逆伝搬させて得られたフィール ド分布を用いる。
また 、 好ましく ま、 刖記出力ポー ト位置におけ ^> 刖 フィ一 ルド分布 1 と前記出射光のフィールド分布とが所望の誤差以下 となるまで 、 前記第 1 のルーチンと前記第 2 のル一チンを順次 繰り返す第 3 のルーチンを備えている。
また 、 好ましく (ま、 HU記フィ一ルド分布 1 および刖記フィー ルド分布 2 の各々には、 前記波動伝達媒体中 おける、 刖 ή入 射光あよび逆伝搬光の各々の反射光成分が繰込まれている。
また 、 好ましく ま、 刖記初期屈折率分布としてランダム分布 を仮定する
また 、 好ましく は、 前記入力ポー 卜からの入射光は複数の波 長の光の波長多重光または Τ Εモー ドと Τ Μモ一 ドの偏波多重 光であ り 、 刖記屈折率分布の逐次近似は、 前記多重光の各波長 の光 とまたは各編波ごとに定義されたフィールド分布 2 を用 いて順次実 れ 、 刖 β己多重光をなす各波が所望の割合で互い に異なる出カポ一 ト 置に分波されるように前記屈折率分布が 卜 1
決定されている
第 4の発明は 、 基板上に 、 本発明の波動 1 達媒体を 2次元的 に配置して構成されている とを特徴とする導波回路である。 好ましく は、 この導波回路を用いて多モー ド干渉回路が構成 されている。
第 5 の発明は、 本発明の導波回路を用いて構成された下記の ような光回路 c、ある。
すなわち 、 本発明の導波回路を用いて構成された光曲げ回路 や、 導波回路の屈折率分布が電気光効果に基づく 当該導波路回 路の局所的な屈折率変化によ り実現されている光回路や 、 ピク セルの各々の屈折率が前記基板に対して垂直方向に光を閉じ込 めるよう に決定,されている光回路などである。
好ましくは 、 前記仮想的なメ ッシュは、 周期的な繰 Mしに より前記導波領域を形成する単位格子の構成要素である
また、 好ましく は、 前記単位格子は、 準周期構造を形成する 形状を有するものである
また、 好ましく は、 前記ピクセルが取り得る屈折率値は 2値 化されてお 、 高屈折率 ( η Η ) または低屈折率 ( n L ) の何れ かである。
また、 好ましく は、 HU記高屈折率を有するピクセルのサイズ は、前記導波領域内を伝搬する光の波長以下に設定されている。
また、好ましく は、次式で与えられる値が 0 . 1 以下である。 a
( A 伝搬光波長、 η 高屈折率を有するピクセルの屈折率値 ( n H )、 a : 高屈折率を有するピクセルの高さ、 Q : 伝搬光の フィ ールド分布の放射成分の平均距離を z としたとき Q == ( z Z a ) で与えられる係数)
また、 好ましく は、 前記高屈折率を有する ピクセルは n角形 ( nは 3以上の整数) の多角形状を有し、 当該の何れの辺も、 前記導波領域を伝搬する光の伝搬方向と傾斜するよう に前記ピ クセルが配置されている。
また、 好ましく は、 前記多角形状は正方形であ り、 前記傾斜 の角度が 4 5度である。
また、 好ましく は、 前記ピクセルの各々は、 前記仮想的なメ ッシュによ り画定される領域以上の所望のサイズを有し、 前記 ピクセルの何れかは、 前記仮想的なメッシュによ り画定される 格子位置からずれた位置に配置されている。
また、 好ましく は、 前記高屈折率 ( n H ) を有するピクセル は、 第 1 の高屈折率層と当該第 1 の高屈折率層よ り も低い屈折 率を有する第 2 の高屈折率層とを順次積層させた導波部を有す る一方、 前記低屈折率 ( n ) を有するピクセルは、 前記第 2 の高屈折率層がらなる導波部を有し、 前記前記高屈折率 ( n H ) を有するピクセルの導波部を伝搬する光フィ一ルド径の中心位 置と前記前記低屈折率 ( n t ) を有するピクセルの導波部を伝 搬する光フィールド径の中心位置とが、 前記基板表面と平行な 同一平面上にあるよう に設定されている。
また、 好ましく は、 前記導波領域は誘電体材料で構成されて おり、 当該誘電体材料は、 光損失機能または光増幅機能を備え ている。
また、 好ましく は、 前記誘電体材料は、 光の波長に依存する 複素屈折率を有する。
また、 好ましく は、 前記導波領域は、 少なく とも、 第 1 の低 屈折率層と導波部である高屈折率層と第 2 の低屈折率層とが順 次積層された構造を有し、 当該第 1 および第 2 の低屈折率層に "!
より BU PC高屈折率層中に光が閉じ込められる。
また、 好ましく は 、 前記高屈折率層の少なく とも一方の表面 上には、 凹部を設けることでレリーフ状のパターンニングが施 されており、 前記凹部を低屈折率部とし当該凹部以外の部分を 髙屈折率部とする ことによ り前記空間的屈折率分布が与えられ ている
また、 好ましく は 、 前記レリーフ状のパターンエングが、 前
PL 问屈折率 の両面に施されている。
また、 好ましく は 、 前記高屈折率層の両面に施されたレリ一 フ状のハ。夕一ンは、 互いに異なるパターンである。
また、 好ましく は 、 前記高屈折率層の両面に施されたレリー フ状のパ夕一ンの前記凹部の深さが、 何れも等しい。
また、 好ましく は 、 前記ピクセルは、 高屈折率 ( n H ) また は低屈折率 ( n L ) 'の何れかの 2値化された屈折率を有する複 数の仮想のサブピクセルに分割されており、 当該 2値化された サブピクセルの配列により前記ピクセルの屈折率分布が与えら れている
また、 好ましく は 、 前記ピクセルでは屈折率差の変化の割合 として屈折率差を 1 波長以上の距離をかけて変化させる (伝搬 光の波面進行方向への伝搬定数の空間的変化割合) 。
また、 好ましく は 、 前記ピクセルまたは前記サブピクセルの 刖記基板と平行な断面形状は、 円形である。
また、 好ましく は 、 前記ピクセルまたは前記サブピクセルの 刖記基板に垂直な断面形状は、 滑らかに変化する曲線を有する 形状である
また、 好ましく は 、 前記第 1 または第 2 の低屈折率層の少な く とも一方は 、 互いに屈折率が異なる複数の層を積層させて構 成されている。
また、 好ましく は 、 刖 ή光回路は 3つ以上の入出力ポ — 卜を 備えた相互一斉配信 • 一斉受信構成の光回路であり、 前記空間 的屈折率分布は 、 m記入出力ポー 卜から出力される信号の位相 が互いに直交するように設定されている o
また、 好ましく は 、 HU Pti光回路は 3つ以上の入出力ポ一卜を 備えた相互一斉配信 . 一斉受信構成の光回路であり、 前記空間 的屈折率分布は 、 刖記入出力ポ一 卜から出力される信号の位相 が互いに直交しない場合に出力信号の重なり を最小とするよう に設定されている
また、 好ましく は 、 刖 Bd光回路の分岐比率が非対称である。 ま /こ 、 好 しく は 、 上記光回路には増幅機能が備えられてい る。
また、 好まし < ^、 mi記光回路は複数の入力ポー ト 有し 、 かつ、 当該複数の入力ポ一卜から入力された光信号が同一の出 射面から出力されるよ に構成されており、 前記空間的屈折率 分布は、 iu ή複数の入力ポー 卜から出力される各々の信号光の 互いの位相を調敕して重ねあわせ 、 出力される光フィール 形 状を整形する Όに設定されている o
また、 好まし < は、 fu記光回路と、 その回路の複数入力ポ一 間に位相差を けて光を入射する回路を前段に配置するとと もに、 前記回路の出力をアレイ導波路回折格子の入力部に配置 し 、 フィ一ルドのピーク位 irf ^ァレイ導波路回折格子の出力周 波数間隔で移動させ、 フィ レタをフラッ ト化させるように FT又定 されている ο
また、 好まし < は、 刖記空間的屈折率分布は 、 出力光のスポ 卜サイズ変換をもたらす、 フィールド強度と位相分布を 、 可 能とするように e又定されている。 第 6 の発明は、 本発明の導波回路を用いて構成されたァレイ 導波路格子型光合分波回路であって、 平面基板上に、 入力導波 路と第 1 のスラブ導波路とアレイ導波路と第 2 のスラブ導波路 と出力導波路とが順次接続されており、 前記入力導波路と刖記 第 1 のスラブ導波路との接続領域には、 当該入力導波路の屈折 率に比較して高屈折率の散乱点が複数配置されて設けられてい ることを特徴とする。
好ましく は、 前記散乱点は、 前記入力導波路の出力端に形成 される光フィール ド分 の等位相面に歪がなく且つ振幅にダプ ルピークを有するように配置されている。
また、 好ましく は、 前記散乱点の前記入力導波路内での 2次 元的な配置分布は、 前記光の伝搬方向に伸びる直線に対して概 ね線対称である。
また、 好ましく は、 刖記散乱点の 1辺の長さは、 0 . 2 m 以上である。
また、 好ましく は、 前記平面基板はシリ コン基板であ り 刖 記光導波路は石英系ガラス光導波路である。
本発明により、 従来の光導波路回路や平面ホログラフィ Vク 回路を用いた光回路よ Ό も小型で、 光の入出力を可能な限り 自 由に設定でき、 さ らに 緩やかな屈折率分布 (小さな屈折率高 低差) でも充分に高効率な光信号制御を可能とする導波回路を 実現するための光 (波動 ) 伝達媒体を提供し、 これによ 高 効率で小型の光回路を実現することが可能となる。
また、 本発明のァレィ導波路型光合分波回路は、 入力導波路 内に空間的屈折率分布に基づく複数の散乱点を配置する とに より伝搬光の位相と強 とを同時に制御することとしたので 波長分散を低減した低分散のアレイ導波路型光合分波回路の 供が可能となる。 図面の簡単な説明
図 1 は、 従来のァレイ導波路回折格子型光合分波回路の構成 例を説明するための図、
図 2 Aおよび図 2 Bは、 従来提案されているパスバン ド、拡大 ァレイ導波路格子型光合分波回路の構成例を説明するための図 図 3 Aおよび図 3 Bは、 図 2 Aの回路構成とした場合の 、 ラボラ導波路のスラブ導波路との接続面における光フィ―ル F 分布を説明するための図、
図 4は、 従来構成のパスバン ド拡大アレイ導波路格子型光 分波回路の波長分散値を説明するための図、
図 5 A〜 5 Cは、 本発明の波動伝達媒体の基礎となる基本概 念と基本構造とを説明するための図、
図 6 は、 従来のアレイ導波路格子回路の構成例を P兌明するた めの図 、
図 7 は、 本発明の波動伝達媒体の空間的な屈折率分布を決定 するための計算手順を説明するためのフロ一チヤ一 、
図 8 は、 計算手順の理解を容易にするために、 波動伝達媒体 中でのフィール ドの様子の一例を示した図、
図 9 Aおよび図 9 Bは、 実施例 1 における光回路 計の 定 を説明するための図、
図 1 0 Aおよび図 1 0 Bは、 実施例 1 による屈折率分布 (図
1 0 A ) と透過スペク トル (図 1 0 B ) を説明するための図 図 1 1 A〜 1 1 Cは、 平面光波回路状の屈折率分 を有し 、 かつ、 基板垂直方向での光閉じ込め可能な実施例 1 の光回路を 説明するための図、
図 1 2 は、 実施例 2 の光回路設計のフローを簡単に示したフ Π一チャ一卜、
図 1 3 A 〜 1 3 Cは 、 図 1 2 に示したアルゴリズムを実行す るための 、 フィ ルドのデータを説明するための図、
図 1 Aは、 実施例 1 の計算の収束の様子を示した図、 図 1 4 Bは、 実施例 2 の計算の収束の様子を示した図、 図 1 5 Aは、 実施例 2 の光回路の屈折率分布を説明するため の図 、
図 1 5 Bは、 実施例 2 の光回路の透過スぺク トルを説明する ための図 、
図 1 6 Aおよび図 1 6 Bは、 実施例 3 の 4波長分波器の光回 路設計のための条件設定を説明するための図、
図 1 7 A よび図 1 7 Bは、 実施例 3で計算した光回路の透 過損失スぺク 卜ラム (透過率 ( d B ) ) を説明するための図、 図 1 8 Aは、 実施例 4 の光回路又計のための条件設定を説明 するための図で 、 単純なパンド 過フィル夕を設定した場合の 図、
図 1 8 Bは、 実施例 4 の光回路 計のための条件 疋を説明 するための図で 、 パン ド整形用のダ 一ポ一卜を設けた場合の 図、
図 1 9 Aは、 図 1 8 Aに示した条件設定の下で調整された光 回路の出力ポー 卜から出力される出力光の透過損失のスぺク 卜 ラム 、
図 1 9 Bは、 図 1 8 Bに示した条件設定の下で調整された光 回路の出力ポー から出力される出力光の透過.損失のスぺク 卜 ラム 、
図 2 0 Aは、 実施例 5 の光回路の /li
B又定 件を説明するための 図 2 0 Bは、 実施例 5 の光回路の ¾過損失のスぺク トラムを 説明するための図、
図 2 1 Aは、 実施例 6 の光回路の入出力ペアの設定を説明す るための図、
図 2 1 Bは、 実施例 6 の光回路の 1 . 5 ^mの出射フィールド 分布の設定を説明するための図、
図 2 1 Cは、 実施例 6 の光回路の、 ポー ト aから入力光を入 力させた場合の出力光の透過損失スぺク トラムを説明するため の図、
図 2 1 Dは、 実施例 6 の光回路の、 ポー ト bから入力光を入 力させた場合の出力光の透過損失スぺク トラムを説明するため の図、
図 2 2 は、 実施例 7 において反射成分をも考慮する際の伝搬 行列の取扱いの概要を説明するための図で、 光回路中の微小部 分のみに着目 して図示した図
図 2 3 Aは、 実施例 7 の光回路 (波長フィルタ) の設定条件 を説明するための図、
図 2 3 Bは、 実施例 7 の光回路 (波長フィル夕) の透過損失 のスぺク トラムを説明するための図、
図 2 4 Aは、 実施例 8 の 1 6分岐光回路における、 屈折率分 布を説明するための図で 、
図 2 4 Bは、 実施例 8 の 1 6分岐光回路における、 光伝搬の 様子を説明するための図 、
図 2 4 Cは、 実施例 8 の 1 6分岐光回路における、 1 6個の 各出力ポー 卜から出力される光の光透過損失 d Bを示す図、 図 2 5 Aは、 実施例 9 の曲げ回路の屈折率分布を説明するた めの図、 図 2 5 Bは、 実施例 9 の曲げ回路の光伝搬の様子を説明する ための図 、
図 2 6 Aは、 実施例 1 0 における光回路設計領域における屈 折率分布を説明するための図、
図 2 6 Bは、 実施例 1 0 における光回路中を伝搬する光の波 長毎のフィ —ル ドの伝搬の様子を説明するための図 、
図 2 7 Aは、 実施例 1 1 における光回路設計領域内の屈折率 分布を説明するための図、
図 2 7 Bは、 実施例 1 1 における光回路設計領域内の、 単位 長さ当 り の導波路中に空隙が出現する確率 (横軸) と 、 高屈折 率部の空隙が連続する (すなわち低屈折率部が連続する) ピク セルの数 N g毎の頻度 (縦軸) との関係を説明するための図、 図 2 8 Aは、 実施例 1 2 の電極構造の断面図、
図 2 8 Bは、 図 2 8 Aに示した素子を用いた光回路の構成例 を説明するための図、
図 2 9 Aおよび図 2 9 Bは、 実施例 1 3 の 1 . 3 1 m/ 1 . 5 5 m の波長フィル夕の構成例を説明するための図、
図 3 0 は 、 実施例 1 3 の光回路を構成する誘電体のピクセル を光の散乱点として考えた場合の光の広がりの様子を説明する ための図 、
図 3 1 Aおよび図 3 1 Bは、 ピクセルサイズ Wをパラメ一夕 として変化させて 1 . 3 1 1 . 55 m の波長フィル夕の光回路 を構成した場合の、 透過損失特性および漏話特性のピクセルサ ィズ依存性を説明するための図、
図 3 2 Aおよび図 3 2 Bは、 実施例 1 4 の平面光回路におけ る 、 基板垂直方向と基板水平方向での光の閉じ込めレベルを説 明するための図、
図 3 3 は 、 最小ピクセル単位を 3 m角としたと含の 1 点当 たりの放射損失 (結合損失) のフィ一ルド 依存性を説明す るための図、
図 3 4 Aは、 実施例 1 5 における 、 ピクセルを光伝搬方向に 配置した光回路を説明するための図 、
図 3 4 Bは、 実施例 1 5 における 、 ピクセルを光伝搬方向に 対して傾斜させて配置した光回路を説明するための図、
図 3 5 Aは、 実施例 1 6 における 、 仮想的なメ ッシュで画定 された格子点にピクセルを配置して屈折率分布を形成した光回 路を説明するための図、
図 3 5 Bは、 実施例 1 6 における 、 格子点の位置とは無関係 に y方向でのピクセル配置を行 て屈折率分布を形成した光回 路を説明するための図、
図 3 6 Aは、 図 3 5 Aに示したピクセル配置に対応させて作 製した実際の光回路 ( 1 . 3 1 mと 1 . 5 5 mの波長フィ ル夕) の屈折率分布を説明するための図、
図 3 6 Bは、 ,:図 3 5 Bに示したピクセル配置に対応させて作 製した実際の光回路 ( 1 . 3 1 mと 1 . 5 5 mの波長フィ ル夕) の屈折率分布を説明するための図、
図 3 7 A〜 3 7 Cは、 実施例 1 7 における、 光回路の作製手 順を説明するための図、
図 3 8 は、 高屈折率層△ 2をエッチング除去した領域を 「低 屈折率領域」、 高屈折率層△ 2をエッチング除去せずに残存させ た領域を 「高屈折率領域」 とする光回路の構成を説明するため の図 、
図 3 9 は 、 実施例 1 7 におけるパラメ一夕調整のための計算 例を説明するための図 、
図 4 0 は 、 実施例 1 7 の光回路である 1 . 3 1 / 1 . 55 μ mWDM回路 の特性 (透過損失の波長依存性) を説明するための図、
図 4 1 Aおよび図 4 1 Bは、 実施例 1 8 — 1 の光回路の製造 方法を説明するための図、
図 4 2 Aおよび図 4 2 Bは、 実施例 1 8 — 2 の光回路の製造 方法を説明するための図、
図 4 3 A〜 4 3 Dは、 実施例 1 8 — 3 の光回路の製造方法を 説明するための図、
図 4 4 Αおよび図 4 4 Βは、 実施例 1 8 一 4の光回路の製造 方法を説明するための図、
図 4 5 A〜 4 5 Cは、 実施例 1 8 - 5 の光回路の屈折率分布 の様子を説明するための導波路断面図、
図 4 6 は、 図 4 5 A〜 4 5 Cで示した構造を有する、 1 . 3
1 m/ 1 . 5 5 ΠΙの ( I X 2 ) 分岐回路の各々の損失特性
(透過率) を説明するための図 、
図 4 7 A〜 4 7 Cは、 実施例 1 9 の光回路の構成を説明する ための概略図、
図 4 8 A〜 4 8 Cは、 実施例 2 0 の光回路の構成を説明する ための断面図、
図 4 9 は、 実施例 2 1 の光回路の導波路部分の断面図、 図 5 0 A〜 5 0 Cは、 実施例 2 2 の光回路のサブピクセルの 例を示す上面図、
図 5 1 Aは、 実施例 2 3 における、 基板に対して水平な方向 に屈折率が変化する構造を有する導波路の屈折率分布の概念図、 図 5 1 Bは、 実施例 2 3 の屈折率分布中に平面波を伝搬させ た際の反射減衰の様子を説明するための図 、
図 5 2 Aは、 ピクセル形状を円形とした場合の単位ピクセル における有効屈折率分布の様子を説明するための概念図、
図 5 2 Bおよび図 5 2 Cは、 円形ピクセルを用いて構成した 回路の一部の上面概念図、
図 5 3 は、 ピクセル形状を蜂の巣状とした場合のピクセル配 列の様子を説明するための図、 図 5 4は、 「準周期構造」 と呼ばれる不完全周期構造を説明す るための図 、
図 5 5 は 、 相互一斉配信 · 一斉受信構成とした光回路の構成 例を説明するための図、
図 5 6 は 、 図 5 5 の光回路の各ポー 間での信号の流れを模 式化した図 、
図 5 7 は 、 図 5 6で模式化して示した各ポ ―ト間での信号の 流れを、 B冊理的な信号の流れを崩さずに変形した様子を説明す るための図 、
図 5 8 は 、 不均等分配回路を用いた通信網の概 [^J、
図 5 9 は 、 不均等分配回路の応用概念図、
図 6 0 Aおよび図 6 0 Bは、 アレイ導波路回折格子の性質を 説明するための図、
図 6 1 は 、 出力スポッ ト中心位置と波長との関係を説明する ための図、
図 6 2 は 、 実施例 2 7 における光回路の構成を説明するため の図、
図 6 3 は 、 フィールド形状としてガゥス関数を仮定した場合 の、 中心位置の移動の様子を説明するための図 、
図 6 4 Aは、 従来構成の導波路からの出射フィ一ルドの等位 相面の様子を説明するための図、
図 6 4 Bは'、 本発明の回路構成の導波路からの出射フィ一ル ドの等位相面の様子を説明するための図 、
図 6 5 は 、 比屈折率差 1 . 5 %の石英系の平面光波回路技術で作 製したホログラフイ ツク波動伝達媒体によ りスポッ ト径を基板 水平方向のみ整形したものの近視野像の基板面に垂直な方向の 断面図、
図 6 6 は 、 図 2 Aに示した従来構成の回路に設けられている パラボラ導波路内のダブルピークのフィ —ルド分布を説明する ための図、
図 6 7 A 〜 6 7 Eは 、 本発明の低分散アレイ導波路格子型光 合分波回路の製造プロセスを説明するための図、
図 6 8 は 、 パスバン 拡大アレイ導波路格子型光合分波回路 のスラブ導波路に接続される入力導波路構造 (散乱点配 ) の 例を説明するための図
図 6 9 は 、 図 6 8 に示した散乱点配置を有する入力導波路か ら出射される光フィール の分布 (振幅および位相) の計 結 算 果を説明するための図 、
図 7 0 は 、 実施例の入力導波路を用いてチャネル間隔 1 0 0
G H z のァレィ導波路格子型光合分波回路を構成し、 この回路 のパス ) ン 大化効果と低波長分散化効果を検証した 果を 説明するための図である
発明の詳細な説明
以下、 図面を参照して本発明の実施の形態について説明する お、 各図面において 1口 J様の機能を有する箇所には同一の符 号を付し、 明の重複は ヽ
略する また、 入力光と入力ポー ト
、 および、 出力光と出力ポ一 、 に同じ符号を用いる場合があ り得る。
(基本概念 • 本発明の波動伝 媒体の基本概念)
以下に、 本発明の波動伝達媒体に関する基本的概念について 説明するが 、 の説明に際しては簡略化のために、 波動伝達媒 体中を伝搬する 「波動 J は Γ光 J であり、 波動伝達媒体は光回 路として用いられているちのと仮定する。 しかしながら、 本発 明が基礎とする理論は 、 一般の波動方程式に基づいて、 媒質の 特性を指定するものであり 、 一般の波動においても原理的に成 り立ち得る のである て 、 本発明は 、 広義の 「電磁波」 を多重散乱によ り波動伝 itさせ得る媒体一般に応用可能である のみならず、 体効果を無視できる電子波または巨視的にコヒ 一レンスを有する電子波にも適用可能である 0 よつて、 以下で はレ一ザ光の うな 3ヒ一レンスを有する波動信号を光信号と して記すが 、 波動信号には光信号の他に電磁波や電子波による 信号をも含み得る
また、 本発明の波動伝 媒体は 、 単に狭 feの光回路としての みならず、 分波器や合波 aaなどのほか 、 ホ Πダラフィ ックフィ ルタゃホロダラフイ ツク レンズなどのホ口グラフィ ック光学素 子の構成要素としても広範な利用が可能であ 0 従つて 、 本明 細書中で用いられる 「光回路 J とレ う文言は 、 本発明の波動伝 達媒体の特性の理解の容易化のために用いられるものでめ Ό 、 波動伝達媒体そのもの (若しく は一般的な導波回路 ) を ソ kr、味 し得るものと解釈でさる
また、 以下の 明では 「屈折率」 によつて波動伝達媒質の性 質を規定しているが 、 Γ屈折率」 とはその文言の定義の通り一 般的な平面状の波動の伝搬において波動を屈折させる割合 (平 面波の方向を偏向させる割合) を意味するものであ り、 波動信 号に対する媒体の性質を規定するものである。 例えば、 光信号 の場合は主に誘電率であり、 電子波信号の場合は主に電界もし
< は磁界によつて物理的に規定される。
さらに、 本発明の波動伝達媒体は 「ホログラフィ ック」 波動 伝達媒体とも言い換える ことが可能であるが、 この 「ホロダラ フイ ツク」 波動伝達媒体という意味は、 波動伝達媒体による回 路全体での大域的なレベルでのホロダラフィ ックな制御が、 局 所的なホログラフィ ック制御とその集合 (制御された多重散乱 ) によ り実現されているという点にある。 より具体的には、 本 発明の波動伝達媒体とは、 コヒーレン トな光のパターンを入力 して所望の光のパターンとして出力させるために、 この媒体中 を伝搬する順伝搬光と逆伝搬光の位相差が媒体中の何れの場所 においても小さくなるよう に屈折率を配置し 、 局所的なレベル でのホログラフィ ックな制御を多重に繰り返すことによ 、 大 域的なホ グラフィ ック制御を実現するものである。
図 5 A Cは、 本発明の波動伝達媒体の基礎となる基本概念 と基本構 とを説明するための図である。 まず、 図 5 Aを参照 して用語の説明をする。 図 5 A中の 1 は光回路基板であ り 、 1 一 1 は本 明の波動伝達媒体によ り構成される光回路の 計領 域である 光回路の一方の端面は入力光 3 一 1 が入射する入射 面 2 - 1 であり、 この入力光 3 一 1 は波動伝達媒体で構成され た空間的な屈折率分布を有する光回路中を多重散乱しながら伝 搬し 、 他方の端面である出射面 2 - 2から出力光 3 _ 2 として 出力される。 なお、 本実施例では、 波動伝達媒体は誘電体から なるものと仮定し、 空間的な屈折率分布は の媒体を構成して いる口乃電体の局所的な屈折率を後述する理 mに基づいて設定す る < _とによ り実現されるものとする。
入力光 3 一 1 が形成している 「場」 (入力フィ ールド ) は、 光回路を構成する波動伝達媒体の屈折率のェ間的分布に応じて 変調され、 出力光 3 — 2 の形成する 「場」 (出力フィールド) に亦
义換される。 換言すれば、 本発明の波動伝達媒体は、 その空 間的な屈折率分布に応じて入力フィールドと出力フィールドと を相関づけるための (電磁) フィ一ルド変換手段である なお
、 これらの入力フィールドおよび出力フィ一ルドに対して 、 光 回路中での伝搬方向 (図中 z軸方向) に垂直な断面 (図中 X軸 に沿う断面 ) における光のフィールドをその場所 ( X , Z ) に おける (順 ) 伝搬像 (伝搬フィールド ώるいは伝搬光) と呼ぶ (図 5 B参照 ) 図 5 A中の座標 z は光の伝搬方向の座標 ( z
0が入射面 Z = z eが出射面) であ り、 座標 Xは光の伝搬 方向に対する横方向の座標である。
こで、 「フィ —ルド」 とは、 一般に電磁場 (電磁界) ある いは電磁場のベク トルポテンシャル場と呼ばれるものを意味し ている。 本実施例の場合の電磁場の制御は、 光回路中に設けら れた空間的な屈折率分布、 すなわち誘電率の分布を考えること に相当する。 口乃電率はテンソルとして与えられるが、 通常は偏 光状態間の遷移はそれほど大きくないので、 電磁場の 1成分の みを対象としてスカラー波近似しても良い近似となる。 そこで 本明細書では 磁場を複素スカラー波として扱う。 なお、 光 の Γ状態」 には エネルギ状態 (波長) と偏光状態とがあるた め 「フィ—ルド、 」 を光の状態を表現するものとして用いる場 合には、 光の波長と偏光状態をも包含し得ることとなる
また、 通常、 伝搬光の増幅や減衰を生じさせない光回路では
、 屈折率の空間的分布を決めると、 、、、点以外の入力光 3 一 1 の 像 (入力フィールド ) は 、 出力光 3 ― 2 の像 (出力フィ —ル
) に対して一意的に定まる。 このような、 出射面 2 — 2側から 入射面 2 — 1側へと向かう光のフィ ルドを、 逆伝搬像 (逆伝 搬フィールドあるいは逆伝搬光) と呼ぶ (図 5 C参照) の ような逆伝搬像は光回路中の場所ごとに定義することができる
。 すなわち、 光回路中での任意の場所における光のフィール を考えたとき、 その場所を仮想的な 「入力光」 の出射点として 考えれば、 上記と同様に出力光 3 — 2 の像に対して、 その場所 での逆伝搬像を考える とができる このように、 光回路中の 各場所ごとに逆伝搬像が定義できる ここで特に、 単一の光回 路において、 出射フィ ルドが入射フィ—ルドの伝搬フィ―ル ドとなっている場合には、 光回路の任意の点での伝搬フィ ル ドと逆伝搬フィールドとは一致する 。 なお、 フィールドは一 には対象とする空間全体の上の関数であるが、 「入射フィ一ル ド J あるいは 「出射フィールド」 という場合は、 入射面めるい は出射面におけるフィールドの断面を意味している。 また 、 Γ フィール ド分布」 という場合でも、 ある特定の断面に関して 我 論を行う場合にはその断面についてのフィールドの断面を 、味 している。
屈折率分布の決定方法を説明するためには記号を用いるほう が見通しがよいので、 各量を表すために以下のような記号を用 いることとする。 なお、 本発明で対象とされる光 (フィ一ル
) は単一状態の光には限定されないので、 複数の状態の光が重 畳された光をも対象とされ得るべく 、 個々の状態の光にィ ンァ ックス j を充てて一般的に表記する
j ( X ) : j 番目の入射フィ —ルド (複素べク トル値関数であ り、 入射面において設定する強度分布および位相の分布 、 なら びに、 波長および偏波により規定さ )
φ j ( X ) : j 番目の出射フィ —ルド (複素べク トル値関数であ り、 出射面において設定する強度分布および位相分布、 ならび に、 波長および偏波により規定される) 。
なお、 ゆ j ( X )および Φ j ( X )は、 回路中で強度増幅や波長変換 や偏波変換が行われない限り 、 光強度の総和は同じ (あるいは 無視できる程度の損失) であ り、 それらの波長も偏波も同じで ある。 したがって、
{ j ( X ) 、 φ j ( X ) } : 入出力ペア (入出力のフィール の組 み) 。
は、 入射面および出射面に ¾ける、 強度分布および位相分布な らびに波長および偏波によ り規定される。
{nq } : 屈折率分布 (光回路設計領域全体の値の組) 。
与えられた入射フィールドおよび出射フィールドに対して屈 折率分布をひとつ与えたときに光のフィールドが決まるので、 q番目の繰り返し演算で与えられる屈折率分布全体に対するフ ィ一ル ドを考える必要がある。 そこで、 (χ, ζ)を不定変数として 屈折率分布全体を nq (x, z)と表しても良いが、場所(x, z)におけ る屈折率の値 nq (x,z)と区別するために、 屈折率分布全体に対 しては {nq }と表す。
n c o r e : 光導波路におけるコア部分のような、 周囲の屈折率 に対して高い屈折率の値を示す記号。
n c , a d : 光導波路におけるクラッ ド部分のような、 n er eに 対して低い屈折率の値を示す記号。
ゆ i (z,x, {nQ }) : j 番目の入射フィールド j (x)を屈折率分 布 {nq }中を z まで伝搬させたときの、 場所(X, z)におけるフィ 一ルドの値。
1 (z, x, {nq }) : j 番目の出射フィ一ルド Φ j (X)を屈折率分 布 {nq }中を z まで逆伝搬させたときの、 場所(χ, ζ)におけるフ ィ一ルドの値。
本実施例の屈折率分布の決定方法は、すべての j についてゆ j (ze , χ, {nq })= φ j (x)あるいはそれに近い状態となるように {n q }を求める方法を与えるものである。
「入力ポート」 および 「出力ポー ト」 とは、 入射端面および 出射端面におけるフィ一ルドの集中した 「領域」 で、 たとえば 、 その部分に光ファイバを接続する ことにより、 光強度をファ ィバに伝搬できるような領域である。 ここで、 フィールドの強 度分布および位相分布は j 番目のものと k番目のものとで異な るように設計可能であるので、 入射 Sおよぴ出射端面に複数 のポー トを設ける ことが可能である 。 さ らに 、 入射フィール と出射フィールドの組を考えた場合 、 その間の伝搬により発生 する位相が、 光の周波数によつて異なるので 、 周波数が異なる 光 (すなわち波長の異なる光 ) については 位相を含めたフィ ルド形状が同じであるか直交しているかの如何に力 カゝわらず 、 異なるポー トとして設定することが可能である。 符号として は、 入射ポー ト側にはァルフアベッ トの大文字 A B C • • · を充て、 出射ポ ― 卜側にはアルフアベッ 卜の小文字 a b C - • を るものとする。
その他 gや Wは数値計算上の適当な係数であり それらの程度に ては適宜文章中に示す ととするが、 たと えば 通常の数 体力学等で用いられる 厂スキームの安定性 の議 5冊 J にした て、 実際の数値計算では僅かに調整される ベきちのである
伝搬方向は z 伝搬方向に対して垂直な方向は Xで し、 入 射面 2 ― 1 での Z の値を 0 、 出射面 2 一 2 での z の値を Z e と する 後述するように、 対象とする区別可能な光の状餡に順次 番号をつける のとさ j 番目の入射フィールドと それに 対応し出射させたい所望の出射フィールドをそれぞれ Φ j ( X )お よび Φ j ( X )とする。' こで、 電磁界は実数べク トル値の場で、 かつ波長と偏光状態をパラメ一夕としてもつものとするが 、 そ の成分の値を一般な数学的取扱いが容易な複素数で表示して電 磁波の解を表記する また、 以下の計算においては、 フィール ド、全体の強度は 1 に規格化されている のとする /よ j 番 百の入射フィールドや出射フィ ルドとは、 フィ一ルドの強度 分布と位相分布あるいは波長や偏光により互いに区別される属 性を有する光の組の要素に対して適当に順番をつけたものであ る。
図 5 Bおよび図 5 Cに示すように j 番目の入射フィールド
■Φ j (x)および出力フィールド お j (X)に対し、 伝搬フィ一ルドと 逆伝搬フィール をそれぞれ場所の複素べク トル値関数として
、 i (Z, X {n})および Φ j (z, X, {n})と表記する 。 これらの関数 の値は屈折率分 { n }により変化するため、 屈折率分布 { n }が パラメ一夕となる 。 記号の定義によ Ό Φ j (x) =ゆ j (0, X, {n}) および、 φ i ): = Φ ' (ze, x in})となる 0 れらの 数の値は 入射フィールド j (X)と出射フィ 一ル Φ j (X)および屈折率 分布 { n }が与えられれば、 ビーム伝搬法などの公知の手法によ り容易に計算することができる。 これらの各フィールドの様子 をより具体的な例を用いて説明すると以下のょラになる o
図 6 は、 従来のアレイ導波路格子回路の構成例を 明するた めの図で、 光回路設計領域 1 一 1 には 2つのス夕 力プラ ( 光合分波器) 4 一 1 および 4 _ 2 間に設けられたアレイ導波路 5 と、 このアレイ導波路 5 の中央部に設けられた波長板 6 とが 形成されている。 この図に示したような波長多重通信における
1 XN波長分波器 (Nは波長の数) を考えると、 たと ば 1 つの入力ポー ト 3 — 1 に対して、 ほぼ同様なフィ一ル F強度と 位相分布をもつ入射フィールドで、 波長 1 , 人 2 , λ •
3
λ Ν の異なる Ν個の信号に番号をつけ、その j 番目の波長の光 を所望の個別の出力ポー ト 3 — 2から出力させる。 のとぎ、 光を分波するためには、 導波路の出射面の断面における j 番目 の波長の光の強度および位相の分布は、 独立な出射フィ ルド パターンとなっている ことが求められ、 これを j 番巨の出射フ ィールドと呼ぶ。 分波された光を光ファイバへ出力させる場合 を想定すれば、 出力されるべきフィールド 夕 ンは、 独立し た各々の出射フィールドが空間的に異なる場所となるフィール ドの組となる。 なお、 与えられた入射フィ ル の組を所望の 出射フィールドで出力する光回路を構成するためには 、 入射フ ィールドあるいは出射フィ —ルドのパターンは 、 その強度およ び位相の分布が j 番目 と k番目 とで同一であつてちよい。
以下に、 空間的な屈折率分布を決定するための一般的なァル ゴリズムを説明す -S o
図 7 は本発明の波動伝達媒体の空間的な屈折率分布を決定す るための計算手順を説明するためのフローチャ 卜でめ の計算は り返し実行されるものであるので、 繰 返し回数を
Qで表し 、 ( Q - 1 ) 番目まで計算が実行されているとさの q 番目の計算の様子が図示されている o '
( Q ― 1 ) 番目の計算によつて得られた屈折率分布 {n q - , } をもとに 、 各 j 番目の入射フィ一ルド X)および出射フィー ルド Φ J ( X)について伝搬フィ―ル と逆伝搬フィ ルドとを数 値計算によ り求め、 その結果を各々、 ゆ j (ζ,χ, {nq および Φ i (z, x, {nq - , })と表記する (ステップ S 2 2 0 ) 。
これらの結果をもとに、 各場所 ( z , X ) における屈折率 n q ( z , χ ) を、 次式により求める (ステップ S 2 4 0 ) 。 nq (z, x) = nq _! (z,xリ一 ∑ 3· I m [ φ J (z,x, {nq . , } ) * · φ 1 , x , {nq ., })] · · · ( 1 ) こ こで、 右辺第 2項中の記号 「 · 」 は内積演算を意味し、 は []内のフィールド内積演算結果の虚数成分を意味する。 なお 、 記号 「 *」 は複素共役である。 係数ひは n q (z, x)の数分の 1 以下の値をさ らにフィ一ルドの組の数で割った値であ り、 正の 小さな値である。∑ iはイ ンデックス j について和をとるという 意味である。
ステップ S 2 2 0 と S 2 4 0 を繰り返し、 伝搬フィ一ルドの 出射面における値 j (ze, x, {n})と出射フィールド Φ j (X)との 差の絶対値が所望の誤差 d jよ り も小さく なると (ステップ S 2 3 0 : Y E S ) 計算が終了する。
上式 ( 1 ) のように屈折率 n q ( z , X ) を求める根拠は下 記のとおりであ り、 屈折率分布を最急降下法により求めること に対応している。
まず、 屈折率分布 {n q_,}により入射光が伝搬したフィールド - (ze, X, {η^})と、 最終的に得たい出力 φ j (X)との差が最小と なるためには、 残差 R = ∑ j I φ j (x) - ψ j (ze, x, {nq.,}) I 2が 最小となればよい。 なお、 Φ j (X)などは Xの関数であることを 表しており、 特定の: Xの座標を意味するわけではない。 また、 各ペアごとに重みをつけてもよいが簡単のため全て同じ重みで 和をとることとする。
ここでは、 光のフィールドの重ね合わせが可能な範囲で考え ており、 フィ一ルドの重なり積分により内積が定義される。 こ の光フィールドの重ね合わせは有限のエネルギをもち、 かつ、 取り扱われるフィ ールドは空間的に有限な範囲に限定される。 したがって、 こ こでいうフィール ドはヒルベルト空間を形成し 、 光の伝搬は以下の性質を有するュニタリ変換として定義され る。
具体的には、 z。から zまでのュニタ リ変換演算子 Uとして、 Φ j (z, X, {nq .,}) = U (z , z0, {nq _,} ) ψ j (z。, x, {nq .,})
· · · ( 2 ) が成り立ち、 こ こで、 反射が無視できる程度であるとすると、 伝搬過程の加法性から、 U (z, z0, {nq .,}) = U (z, zい {nq _ ) U (zい z。, {nq .,})
• · · ( 3 ) となる。
さ らに、 重なり積分により定義される内積に対してュニ夕リ 性を有するから、
U (z, z0, {nq _J) *U (z, z0, {nq _,} )
= U (z, z。, {n,.,})-^ (z, z。, {n,.,})
= I U (z, z。, {nq一 J) I 2 = 1 · · · ( 4 ) となる。 こ こで、 U (z ζ。, {nq— は U (z, z。, {n^})の自己随 伴演算子である。 また、 U (z, z。, {nq-J)— 1は U (ζ, zQ, {η^}) の逆演算子、 つまり、 逆方向の伝搬を与える演算子である。
z , と z の差 ( | z ' — z I ) が十分小さい範囲において、 U (ζ' , ζ, {nQ_ )はビーム伝搬法などにおける丁度 1 ステップ 分の変換をもたらす行列であると考えればよく、 適当に伝搬方 向を分割してこの演算を繰り返したものが U (z, z。, {n q } )な どであると考えればよい。
これらの結果を用いて残差 Rを書き換えると、
R = ∑ i I φ ! ' (τ) - υ (ze, ζ' , {η,.,}) U (ζ ' , 0, {nq_,}) ψ j (χ) | = ∑ i 1 U (ze, ζ {nq— J) 1 2 1 U (ze , ζ' , {η,.,})-^ j (x) -
U (ζ ' , 0, {nq .,}) ■ ' x) 1 2
= ∑ i 1 U (ze, z in,.,}) - 1 Φ j (x) - U (ζ' , ζ, {nq_1}) U (ζ,
0, ίηα - 〖}) :( 2
x) 1
= ∑ i 1 Φ j (z' , χ, {nq .,})一 U (z, , z , {nq _,}) j (ζ, χ, {nq ) 1 2 • · · ( 5 ) となる
1 ζ ' - z 1 → 0 の極限に :おいては、 特定の χ座標の場所 X における U (z, , z, {nq— J)の変化 ( <5 xU (z' , z, {nQ— !})) は、 同じく特定の x座標の場所 xにおける η ^^ζ, χ)の変化((5 xnq_ , (ζ, χ)) と、
δ χυ (ζ, , z, {nq .,}) = - i κ δ x nq -, (ζ, χ) · · · ( 6 ) の関係を有する。 なお、 κは概ね真空中の伝搬定数程度の値で 正数の適当な係数であるが、 計算上他の係数と組み合わせるた めこ こでは詳しく議論しない。
以上の結果よ り、 特定の X座標の場所 Xにおける残差 Rの変 化 ( S XR )) として、 ·
(5 XR = ∑ j {- i κ δ ng (ζ, χ) j (z ' , x, {nq _,}) *-φ j (z, x, {ng }) + c. c. }
= 2 K δ nq _! (z, x) Im∑ j j (z ' , x, {ng .,}) *-φ j (z, x, {nq .,} ) · · · ( 7 ) が得られる。
こ こで、
δ ng _! (ζ, χ) =― a Im∑ j j (z ' ,x, {nq . ) * Ψ ' (z , x, ing .J )
( > 0 )
• · · ( 8 ) とすれば <5 x R < 0 となり、 この方向に変化させていけば極小値 に向かう ことになる。 これが上式 ( 1 ) の方向に屈折率分布を 変化させる理由である。
以上の計算では、 屈折率分布の初期値 {n。 }は適当に設定す ればよいが、 この初期値 { n。 }が予想される屈折率分布に近け れば、 それだけ計算の収束は早くなる (ステップ S 2 0 0 ) 。 また、 各 j について φ j (z, x, {nq , })および 1 (z, x, {nq . , }) を計算するにあたっては、 パラレルに計算が可能な計算機の場 合は、 j ごと (すなわち、 φ j (z, x, {nq , })および j (ζ, χ, {n q ^ })ごと) に計算すればよいので、 クラスタシステム等を利 用して計算の効率化を図ることができる (ステップ S 2 2 0 ) 。 また、 比較的少ないメモリで計算機が構成されている場合は 、 式 ( 1 ) のイ ンデックス j についての和の部分で、 各 qで適 当な j を選び、その分の φ j (z, X, {nq ―【 })および j (z, , {ng . , })のみを計算して、 以降の計算を繰り返すことも可能である ( ステップ S 2 2 0 ) 。
以上の演算において、 Φ j (z, x, {nq - , })の値と (z, x, {nq . の値とが近い場合には、 式 ( 1 ) 中の Ιπι[φ j (z, x, {nq _ , }) * · φ 1 (z, x, {nq ;)]は位相差に対応する値となり、 この値を 減少させることで所望の出力を得る ことが可能である。
図 8 は上述した計算手順の理解を容易にするために、 波動伝 達媒体中でのフィールドの様子の一例を示した図である。 この 図を例に説明すると、 本発明の波動伝達媒体からなる光回路設 計領域 1 一 1 の任意の位置 ( X, z) において、 伝搬する光の波面 に対して概ね平行でかつ概ね無視できる幅 ( Δ z ) を持った微 小領域を仮定し、 この微小領域の断面を Xとする。 なお、 こ こ で 「概ね無視できる幅」 とは、 屈折率分布をもたない媒体中を 光がその距離 Δ z だけ伝搬したときに、 伝搬光の位相がもとの 波面と概ね同一であるような距離を意味している。 断面 Xよ り も入射面 2 — 1側にある光回路を A回路、 出射面 2 — 2側にあ る光回路を B回路とすると、 断面 Xは A回路と B回路の界面と なる。
いま、 所望の各入出力の組を考えて、 各組に j = 1 から Nと 番号を付け、 j 番目の組の入射フィールド j (X)と出射フィ一 ルド j (X)を仮定する。 A回路に入射フィールド 』' (X)を入力 して伝搬させた場合の、 界面 Xにおける、 導波光、 回折光およ び散乱光の各々のフィールドの和はフィールド j (z x , x , {n q })である。 また、 A回路中を伝搬する光の位相共役光として、 出射フィールド Φ j (X)を A回路とは逆方向に B回路中を伝搬さ せた導波光、 回折光および散乱光の各々のフィール ドの和はフ イールド φ j (zx + △ z , x, {nq })である。 これらのフィールド Φ 1 (zx, X, {nq })および φ (zx + Δ z, x, {nq })の位相差を、 各 組毎に平均 (または重み付け平均) した値 P を求め、 この位相 差 Pを、 所望の屈折率の範囲において可能な限り打ち消すよう に界面 X上での屈折率分布を決定する。 このような屈折率分布 は界面 X毎に定まるから、 界面 Xの位置を z軸上で 0 (入射面 ) から z e (出射面) まで変化させて演算を実行する こととす れば、 波動伝達媒体全体の屈折率分布が定まることとなる。
本発明における屈折率の空間的分布の決定は、 波動伝達媒体 に仮想的メ ッシュを定め、 このメ ッシュによって画定される微 小領域 (ピクセル) の屈折率を各ピクセルごとに決定するもの とも言い換えることが可能である。 このような局所的な屈折率 は、 原理的には、 その場所ごとに任意の (所望の) 値とする こ とが可能であるが、 基も単純な系は、 低屈折率 ( n L ) を有す るピクセルと高屈折率 ( n H) を有するピクセルのみからなる 系であり、 これら 2種のピクセルの空間的分布によ り全体的な 屈折率分布が決定される。 この場合、 媒体中の低屈折率ピクセ ルが存在する場所を高屈折率ピクセルの空隙として観念したり 、 逆に、 高屈折率ピクセルが存在する場所を低屈折率ピクセル の空隙として観念したりする ことが可能である。 すなわち、 本 発明の波動伝達媒体とは、 均一な屈折率を有する媒体中の所望 の場所 (ピクセル) をこれとは異なる屈折率のピクセルで置換 したものと表現することも可能である。 上述した屈折率分布決定のための演算内容を要約すると次の よう になる。 すなわち、 波動をホログラフィ ックに is τΜさせ得 る媒体 (光の場合には誘電体) に入力ポー 卜 と出力ポー 卜とを 設け、 入力ポー 卜から入射した伝搬光のフィ一ルド分布 1 (順 伝搬光 ) と、 入力ポー トから入射した光信号が出力ポー 卜カゝら 出力される際に期待される出力フィールドを出カポ一 卜側から 逆伝搬させた位相共役光のフィールド分布 2 (逆伝搬光 ) と、 を数値計算により求める。 そして、 これらのフィ一ルド分布 1 および 2 をもとに、 伝搬光と逆伝搬光の各点 、 X, Z ) おける位 相差をなくすよう に、 媒体中での空間的な屈折率分布を求める なお 、 このような屈折率分布を得るための方法として m ι¾.
取 t∞F- 下法を採用すれば、 各点の屈折率を変数として藏 降下法によ り得られる方向に屈折率を変化させることにより 、 屈折率を式
( 1 ) のように変化させることで上記 2つのフィ一ルド間の差 を減少させることが可能となる。 そして、 のような波動 達 媒体を 、 入力ポー トから入射した光を所望の出カポ ― 卜に出射 させる光部品に応用すれば、 媒体内で生じる伝搬波同士の多重 散乱による干渉現象によ り、 実効的な光路長が長くなり かな屈折率変化 (分布) でも充分に高い光信号制御性を有する 光回路を構成することが可能となる。
以下に実施例により 、 上述の波動伝達媒体 用いて構成した 光回路について説明する。 なお 、 以下の実施形態においては、 特に断らない場合は、 基板上に形成した埋め込み型石英系光導 波路と同様の屈折率分布を、 基板力 らの高さ方向に有する光回 路であり、 その光回路の厚み (層厚) は単ーモ一 光導波路と ほぼ同等のものであるものとする。 さ らに 、 基板にはシリ コン 基板を用い 、 その上に石英に添加物を加えて屈折率を調整した 膜を堆積し、半導体作製工程で用いられる微細加工技術によ り、 光回路をパターン化するものである。 したがつて、 光回路パ夕 ーンは 2次元的であり 、 基板に対して水平方向に光回路として の機能を発現するようにパ夕一ン形成される。
しかしながら、 高屈折率部分と低屈折率部分とからなる回路 を基板面内に 2次元的に展 1¾した場合に、 単純に、 低屈折率部 分を光導波路のコアに相当する部分が全くないものとしてしま う と、 光回路における損失が発生してしまう こととなる。 した がって、 光回路としては 2次元的であっても基板高さ方向を 考慮して光回路が設計されるべきである ことはいうまでもない 上 したように、 本発明の光回路の作製には半導体微細加ェ 技術が適用されるので 、 特に断らない限りは、 光回路の屈折率 分布は 2値化されたパタ —ンと /よ 0 よ /し、 ^6板面内における パターンにおいて、 屈折率が高い部分を高屈折率部分、 低い部 分を低屈折率部分と呼ぶ 0 よノし 、 屈折率調整された膜の堆積に より屈折率変化が与えられているので、 基板高さ方向での屈折 率の高い部分を高屈折率層、 低い部分を低屈折率層と呼ぶ ο な お、特に問題がない場合 ί;二は、光導波路の構造の慣例に従つて 、 高屈折率部分を 「コア」、 低屈折率部分を 「クラッ ド」 と呼ぶ。 さらに 、 基板水平面内のパ夕—ンについて議 S冊 9 る場 Pには、 パ夕一ンの基本単位を 「ピクセル J とよび、 この Γピクセル」 がブ口ック状に組み合わされることでマクロなパ夕一ンが形成 される 。 このようなピクセルは 、 最も単純な場合には 、 仮想的 に設けられたメッシュにより規定されるピクセルサィズの周期 の格子点上に配置され、 高屈折率部分と低屈折率部分とによれ パターンが形成される。 ただし、 これらのピクセルを格子点上 に配置する必要は必ずしもなく、 所望の屈折率分布を得るため に意図的に格子点上からずらして配置するよう にしてもよい。
(実施例 1 ) いわゆるステップイ ンデクス型の光回路の場合'には、 屈折率 の取り得る値が限られているため、 上述した式 ( ί ) に基づい て光回路が設計可能か否かは自明ではない。 しかし、 屈折率の 取り得る値が限られている場合であっても、 局所的な屈折率の 調整を繰り返すことによ り、、 光光のの位位相相を大域的に調整すること が可能である。 したがつて、、 光光回回路路をを構成する誘電体の屈折率 の上限値とこの上限値に至る有限個の屈折率値とを有するステ
Vプ状の屈折率分布を仮定し、 これらの屈折率を制限値として 光回路の屈折率分布を計算することで光回路を設計することは 可能である。 本実施例ではこのような えに基づいて光回路を 設計する。
本実施例においてはこれを ステップイ ンデクス型平面光導 波路と同様の構造の光導波路であ て かつ、 その導波路の ァが光回路設計領域において ッ 卜状にパターン化されている 構造を有する光導波路に適応し 1. 31 mと 1.55 mの波長分割 フィルタを設計した
本実施例では、 石英の光導波路が想定されている。 また、 屈 折率の空間的分布 計算するにあたつては、コア(高屈折率部分
) の屈折率とクラ V ド (低屈折率部分) の屈折率の 2種類のみ を考えることとし これらの 2種類の屈折率を光回路設計領域 内で分布させて得られる屈折率分布を計算することとした。
また、 図 7 を用いて説明した屈折率分布算出のアルゴリズム では、 パラメータである屈折率値は自由な値を取り得るものと しているが では、 次式 ( 9 ) で与えられる V q な る 値 を 計 算 し の vq 値 か ら 次式 ( 1 0 ) および ( 1 1 ) によ り屈折率 ¾ めることとした。
vn , x) =vn . , (z, x) - a; ∑ j Im [ J (z, x, {ng . , } ) * · ψ j (z, x, {nq - , })] • · · ( 9 ) vq (z, x) > (ncr e +nc , a d)/2のときは nq (z, x) = nc 0 r e
• · · ( 1 0 ) vq (z, x) く (ncr e+ne , a d)/2のときは nq (z, x) = nc , a d d
- - - ( 1 1 ) ここで、 。 r eはコアに相当する屈折率、 ne , a dはクラッ ドに相 当する屈折率である。 したがって、 光回路設計領域内での屈折 率分布は 、 これらの 2種類の屈折率を空間的に分布させて得ら れることになる。 なお、 一般には、 ner e > ne , a dの関係が成立
" る。 このような計算によっても、 以下に示すよう に、 十分に 所望の光出力を得ることが可能な光導波路を設計することがで きる。 さ らに、 簡単化のために、 上記 2種類の屈折率のうち、 コアのパタ —ンに相当する屈折率 (ner e) を有効屈折率とし、 進行方向 1次元、 横方向 1次元として計算した。
図 9 Aおよび図 9 Bは、 本実施例における光回路設計の設定 を説明するための図である。 まず、 入力ポー ト 3 — 1 から入力 させた偏波多重された光を出力ポー ト 3 — 2から出力させる こ ととして屈折率分布を調整することにより、 図 9 Aのよう に、 波長 1.31 mの入射フィールド 1 )と出射フィールド φ 1 (X) (すなわち、 上記の記号で j = 1 ) の組と、 図 9 Bのように、 波長
1.55 mの入射フィールド 2 (X)と出射フィールド Φ 2 (X) (すな わち、 上記の記号で]' =2) の組を設定した。 フィール ドは入射面 2 — 1 と出射面 2 — 2 の全域について定義されるものであるが 、 この図では理解の容易化のために、 フィールド強度が集中し ている部分のみを図示している。このような入射/出射フィール ドの組 {ゅ j (X) , φ j (X) }を、 以降、 入出力ペアと呼ぶ。
図 1 O Aおよび図 1 0 Bは、 本実施例による屈折率分布 (図 1 0 A) と透過スぺク 卜ル (図 1 0 B ) を説明するための図で ある。 上記のアルゴリズムにしたがつて屈折率を計算する約 20
0回の繰り返しによ り、図 1 0 Aに示した屈折率分布を有する光 回路が得られる。 ここで 図中の光回路設計領域 ( 1 - 1 ) 内 の黒色部分 ( 1 一 1 1 ) はコアに相当する高屈折率部 (誘電体 多重散乱部) であり、 黒色部以外の部分はクラッ ドに相当する 低屈折率部である。 クラッ ドの屈折率としては石英ガラスの屈 折率を想定しており、 ァの屈折率は、 石英ガラスに対する比 屈折率が 1.5%だけ高い値を有するものとしている。 また、 光回 路のサイズは縦 300 m、 横 θ ΐηである。
屈折率分布を求める際の計算に用いられたメッシュは 140 X 3
00 ( 42000) である。 従って、 屈折率分布のパラメ一夕数は 4
2000となるから、 これらのパラメータを最適化する必要がある 刍降下法を単純に適用して、 これらの各々のパラメ一夕に ついて 1つずつ数値微分を求めることでパラメータを最適化す る場 には、 1 ステップ分の計算を実行するのに 42000の光の伝 搬を計算する必要がある。 これに対して、 本実施例では 2回の光 の伝搬を計算するだけで足りるため、 実用上妨げとならない短 時間の計算で光回路の設計が可能となる。
のようにして設計された光回路の透過スぺク トルは図 1 0
Bのようになり、波長 1.31 mの光が出力ポー ト aから出力され る 方 、波長 1.55 mの光が出力ポー ト bから出力される特性を 示す すなわち、 波長による分波器が形成されていることがわ かる なお、 図 9 Aおよび図 9 Bに図示した光の入力方向と出 力方向とを逆転させ、 上記 2つの波長の光の各々を出力ポー ト aお び bから入力しこれらの光を合波して入射面 2 — 1から 出力させることも可能であるから、 合波器としても動作させる とができる。 つまり、 本実施例で説明した光回路は、 光の波 長による合分波 §5としての作用を奏する とが分かる
ところで、 光回路としての機能を担保するためには、 光回路 内を伝搬する光がその光回路内で十分に閉じ込められる とが 必要である。 図 1 0 Aに示した屈折率分布では、 高屈折 部で あるコアは光回路設計領域内でドッ ト状 分布しており 基板 の厚み方向での光の閉じ込めが不十分になる ことが縣今される そこで、 高屈折率部を 2つの高屈折率部 (第 1 の高屈折率部 と第 2 の高屈折率部) で構成する ととし 、 この高屈折率部が 低屈折率部で上下から挟まれている構造の光回路を想定し、 そ の屈折率分布を求めた。
図 1 1 Aは、 平面光波回路状の屈折率兮布を有し 、 かつ、 基 板垂直方向での光閉じ込め可能な光回路の断面概今図であり、 この光回路の高屈折率部 1 一 1 1 は 2つの高屈折率部 (第 1 の高屈折率部 1 一 1 1 a と第 2の高屈折率部 1 一 1 l b ) で構 成され 、 第 2 の高屈折率部 1 一 1 1 bは第 1 の高屈折率部 1 一
1 1 aよ り も高い屈折率を有している 。 そして、 高屈折率部 1
— 1 1が上下の低屈折率部 1 _ 1 2で挟まれて光回路が構成さ れている。 なお、 この光回路において所謂 「コァ J として作用 するのは第 2 の高屈折率部 1 一 1 1 bであり、 第 1 の高屈折率 部 1 一 1 1 aは、 このコア中を伝搬する光を基板の厚み方向 ( 垂直方向) に閉じ込めるためのものでめ.る なお この図にお いて、 低屈折率部 1 一 1 2 と第 1 の高屈折率部 1 ― 1 1 aの比 屈折率差、 および、 第 1 の高屈折率部 1 一 1 1 a と第 2 の高屈 折率部 1 一 1 1 bの比屈折率差は 各々 1 . 5 %として計算を行つ ている 。 図 1 1 Aの右側には光回路の垂直方向での有効屈折率 プロファイルが、 下側には高屈折率部 1 一 1 1 における水平方 向での有効屈折率プロフアイルが示されている
このような構造の光回路によれば、 コアである第 2 の高屈折 率部 1 一 1 l bの周り に設けられた第 2 の高屈折率部 1 — 1 1 aによって、 基板厚み方向での光閉じ込めが容 に実現できる 易 このような光回路に光入出力部を設けるに際しては、 第 1 の 高屈折率部 1 一 1 1 aで光をガイ ドする場合 (図 1 1 B ) と第
2 の高屈折率部 1 - 1 1 bで光をガイ ドする場 □ (図 1 1 C ) とが考えられる。 また、 第 1 の高屈折率部 1 一 1 1 aおよび第
2 の高屈折率部 1 - 1 1 bの各々の形状を最適化したり これら を組み合わせたりする ことにより、 フィールド径の調整を行つ て光フアイノ、との fcfc
ノ Lホロ αの最適化が可能となる
なお、 出力フィ —ルドは複素数値で計算されるから、 出カフ ィ一ルドの位相を求めること 可能である。 従 て 、 例えば、 上述の光回路と無反射コ 卜を施した半導体光ァンプとを組み 合わせて外部共振器レーザを作製する場合などのよう に、 光の 位相の調整も必要とされる場 αにも、 上述の光フィ ルドの計 算手順は適用可能である
これまで説明してきた光フィ —ルドの計算にはビ —ム伝搬法 を用いたが、 演算に用いるコンピュー夕のメモ U容量が十分な 場合には時間領域差分法を用いて計算してもよい 一般に、 ビ ーム伝搬法は直線的な方向への光出力を計算するため、 出力ポ ー トの位置が限定される 。 例えば、 本実施例の場 aには、 入射 面の対向面を出射面とした。 れに対して、 時間領域差分法を 用いて計算すれば 、 出力ポー 卜の位置は自由に選択可能となる から、 急激な屈曲を有する光路を備えた構成の光回路などを容 易に RX計することができる の とは、 以下の実施例におい ても同様である。 また、 このよ な回路を方向性結合器の組み 合わせによって実現しよう とすると 、 方向性結合器部分だけで も数百 mの光回路部分を要する ととなるのに対して 、 上述 の方法によれば数分の 1程度の大ささの光回路構成とすること ができて小型化を図ることが可能となる。
(実施例 2 )
本実施例は、 実施例 1 で説明した光回路と同じ光回路を、 以 下のような屈折率分布の計算方法に基づいて設計したものであ
0 ο の概要を再度図 1 を参照して簡単に説明すると、 先ず、 適当な屈折率分布 { n } を与えて れに対応する入力光のフィ ールド分布 1 : Ψ j (z, X, {n})を求め 、 出力ポ一卜から出力され る出力光として期待されるフィ ルドの逆伝搬光 (フィ —ルド 分布 2 : Φ ! (z, X, {n})) を入射面 2 一 1 に向けて仮想的に伝搬 させながら逐次求める。
図 8 を例に説明すると 、 ある場所 ζ = ζΥでのフィールド分布 1 の断面 j (zx x {n})の位相とフィ ール ド分布 2 の断面 φ ' (ζχ+ Δ ζ, χ, {η})の位相が互いに整合するよう に屈折率分布を変更 し、 変更後の屈折率分布を用いて、 (ζχ+Δ ζ) から ζχまでのフ ィ一ルド分布 2 の断面 Φ j (ζ χ, {η}) (ζ= ζχ+Δ ζ ζχ)を求め 直す。 (ζχ- Δ ζ) を改めて ζχとして同じ操作を逐次的に繰り返 す。 フィールド分布 2 の断面が入射面 2 — 1 に達した時点で、 今度は逆に、 入力光のフィ一ルド分布 1 の断面を伝搬方向に仮 想的に伝播させ、 上記と同様に、 フィールド分布 1 の断面とフ ィ一ルド分布 2 の断面とを位相整合させながら屈折率分布を逐 次決定し、 フィールド分布 1 の断面が出射面 2 — 2 に達するま で計算を実行する。 この手順を 1つのルーチンとして、 再度このルーチンを繰返 し、 フィールド分布 2およびフィールド分布 1 を相互に逆伝搬 または順伝搬させながら屈折率分布を逐次改め直し、 入射フィ —ルド J'が出射面 2 — 2 まで伝搬した結果出力される出射フ ィ一ルド φ ί (χ)と、 所望の出射フィールドとが、 所望の誤差以 下となるまで上記の計算を繰り返す。
後述するように、 このような手順を採用することにより、 光 回路の設計に要する時間が短縮され、 大規模光回路の設計も現 実的な時間と手間の下で可能となる。
まず、 アルゴリズムについて説明する。
図 1 2 は、 本実施例の光回路設計のフローを簡単に示したフ ローチャー 卜である。 式 ( 1 ) で用いた記号と同じ記号を用い て、
nq (z + dz, x)=-r∑ j arg[ J (z + dz, x, {nq . , } ) * · Ψ J , x, {n q } )] · · · " , ) n q (z dz' x^-T j argl^ z' xJiiq + , } ) * · - ' (z-dz , x, {n q })] . . . ( 1 ' ' ) とする。 ここで、 係数 rは、 (2k。 dz) 1程度の値を入出力ペアの 数で割ったものであり、 k。は真空中の波数で、 考えている入力 信号の平均の波数程度である。 ここで、 波数 「程度」 としてい る理由は、 比有効屈折率程度の変化があるという意味である。 式 ( 1 ' ) および式 ( 1 " ) は、 式 ( 1 ) の Im∑ j φ j (z ' , x,
^ !^ が、 極小点において丁度位相差がなく なるべきであることを意味しており、 これをもとに argCc^ j ' ,x, {nQ— ゅ j (z, x, {!!。_,})]が減少するように屈折率を配置 することを意味している。 特に、 位相差が小さい場合は、 振幅 を除いて Im∑ j φ j (z, ,x, {nq— j (z,x, {nq— J)と、 arg[<i) j ( z, , x, {nQ— )* j (z, x, {nq ]と、 は等価になるので、 arg[ Φ J' (z ' , x, {nq— J)* j (z, x, {nQ— J)]を Im∑』■ Φ】'(ζ' , x, {nq _,}) * ゆ j (z, x, {nq としてもよく、 これは場所ごとのフィールドの 強度で重み付けして屈折率を変更することに対応する。 以下で は簡単のため arg[<i) j (ζ' , χ, {η^})*^ j (ζ, χ, {nQ_ひ)]を用いる こととする。
式 ( 1 ' ) の意味は、 φ j (z, X, {nq _ , が全域で与えられてい るとして、 求めた nq (z, X)をもとに j (z, X, {nq })を求め (ス テツプ S 6 7 0 ) 、 この (z, x, {nQ })をもとに、 さ らに、 座 標 zから微小距離 dzだけ進んだ点 (z + dz) において nq (z + dz, x) を決める (ステップ S 6 8 0 ) という ことである (ステップ S 6 5 5 ) 。 ここで、 記号 「 · 」 は内積演算を表し、 arg[]はその 偏角で、 記号 「*」 は複素共役を意味する。
また、 式 ( 1 ' ' ) の意味は、 ψ ζ, χ, ίι^ })が全域で与えら れているとして、 求めた!^ +! をもとに 〗 , ^。 ^ ) を求め (ステップ S 6 2 0 ) 、 座標 ζから dzだけ戻った点 ( z - d z) において nq + , (z-dz, x)を求める (ステップ S 6 3 0 ) とい う ことである (ステップ S 6 0 5 ) 。
式 ( 1 ' ) の算出 (ステップ S 6 5 5 ) と式 ( 1 ' ' ) の算出 ( ステップ S 6 0 5 ) を交互に繰り返す (ステップ S 6 9 7 ) こ とにより屈折率分布の計算を計算終了 (ステップ S 6 9 5 : Y E S ) まで実行する。
本実施例の計算においては、 微小距離 dzでフィールド分布 1 の断面とフィールド分布 2 の断面とを位相整合をさせることと しており、 実際の計算では周期の短い振動が発生してしまい結 果として大きな計算誤差を生じる こととなる。 そこで、 係数ァ に適当な稀有数 gをかけて、 両者の積 ( g · r ) が(2k。dz)一 1 の数分の 1 以下の値となるよう にする。 また、 フィールドの位 置についても、 完全な z + dzではなく、 その途中の値としたり、 あるいは、 nq (z + dz,x)が位置 zと位置 z + 2dzの屈折率の中心値と なる位置 (z+wdz) (0≤ w≤ 2 ) としたりする。 このような工夫 により、
n (z + dz, x; = (1- g n . , (z + dz, χ)
g r ∑ j arg [ φ J (z+wdz , x, {n . , } ) * · Φ i (z, x, { nn })] . . ( 1 " ' )
q + (z-dz, x) = (1- g ) nq (z-dz, x)
-g r ∑ i arg[ i (z, x, {nq + 1 }) φ ' (z-wdz , , { nq })] . ( 1 " " ) として上式 ( 1 ' ) および ( 1 ' ' ) を修正する o そそししてて、、 稀稀有有数数 gを 0く g≤ 1の範囲のパラメ一夕として、 その加重平均により
、 短周期の振動を抑制する処方を採用する。 本実施例では、 w= 1とし、 g =0.25とした。 また、 屈折率分布は実施例 1 と同様の ステッフィ ンデックス型を想定し、 同様の離散化の処方をと た。 なお、 本実施例の光回路としては実施例 1 と じものをき P又 ¾
/£し こ 。
ここで、 図 1 3 Aに示すように、 このアルゴリズムにおいて 、 計算を実行するためには、 以前のフィ一ル の了一夕が必要 である。 ここで、 以前の伝搬させたフィール Fのァ一夕を保存 しょう とすると大量の記憶領域を必要とする 0 例えば 1 Q 00 m
X1000 mの領域を O. l ^i mピッチの均等メ ッシュで計算する場 合、 単純な一組のフィールドペアだけでも倍精度実数値で複素 数値として 2X8X 108の = 1.6Gbyte必要となり計算が困難とな る。 そこで、 図 1 3 Bにあるよう に、 一度伝搬させたフィ一ル ドを逆方向に伝搬させることで、 丁度途中まで伝搬させたのと 同じになる ことを利用して、 波面の部分だけのメモリで済むよ うにした。
具体的には図 1 3 Cにあるよう に逆方向に伝搬させた φ j (z = 0, x, {η^ を初期値として順方向に伝搬させた f (ζ, χ, {η,.,} ; φ j を Φ j (z,x, {nq— J)として用い、 j (z = zc, x, {nq— J)を初 期値として逆伝搬させた g(z, x, {nq— J ; — を i (z, x, {η^ })として用いる ことによって波面 2つ分だけのメモリで計算す ることができる。 この計算は図 1 2 のアルゴリズムにあるよう にフィールドを計算領域の両端まで計算することになるので今 度はそれを初期値として反対方向に伝搬させればよい。 この方 法は計算量が 2倍になるため計算が遅くなるが状況に応じてメ モリ に一度保存する方法と使い分ければよい。
図 1 4 Aおよび図 1 4 Bは、 実施例 1 と実施例 2での計算の 収束の様子を示した図で、 図 1 4 Aおよび図 1 4 Bは、 各々、 実施例 1 および実施例 2 における、 計算の繰返し回数に対する 所望の出力ポー トへの透過率 ( d B ) と他の出力ポー トへの漏 話 ( d B ) を表示している。 これらの計算の繰り返し回数は、 図 7および図 1 2 に示したループの繰り返し数に相当しており 、 概ね同等の計算量になっている。
図 1 4 Aおよび図 1 4 Bの両方のグラフの比較からわかるよ うに、 実施例 1 で採用した計算方法では収束までに 2 0 0 回程 度の繰返しを要しているのに対し、 実施例 2で採用した計算方 法では数回の繰返しで収束している。 すなわち、 実施例 2で採 用した計算方法は、 実施例 1 で採用した計算方法に比較して数 十倍速く収束する。 このため、 実施例 2で採用した計算方法を 比較的大規模な光回路の設計に適用することが可能である。
図 1 5 Aおよび図 1 5 Bは、 本実施例の光回路の屈折率分布 (図 1 5 A) と透過スペク トル (図 1 5 B ) を説明するための 図である。 この光回路の透過スペク トルも、 図 1 0 B と同様に 、 波長 1.31 2 mの光が出力ポート aから出力される一方、 波長 1 の光が出力ポー ト bから出力される特性を示しており、 波長による分波器 (および合波器) が形成されていることがわ かる。
図 1 5 Aに示した本実施例の光回路の屈折率分布は、 図 1 0
Aに示した実施例 1·の光回路の屈折率分布と比較して、 高屈折 率部 1 一 1 1 が比較的一様に分布している このため、 有効屈 折率は一様化傾向が強くなり、 光回路設計領域 1 ― 1 での基板 の厚み方向の有効屈折率の一様性が増大し、 の方向での光閉 じ込めムラが減少する すなわち、 基板厚み方向への光の散 を抑制する ことが可能となり、 図 1 1 Aで示したような 2つの 高屈折率部分を用いて屈折率分布を設定しな <ても 、 単一の高 屈折率部 1 一 1 1 のみで光閉じ込めが可能な光回路を実現する とが可能となる。
特に 、 屈折率分布を計算する際の初期の屈折 分布として メッシュによ り画定される各ピクセルの屈折率が 間的にラ ダムに分布するよう に設定する とによ り、 計算によ り求め れる最終的な屈折率分布がよ い そう ランダム分布となり 単一の高屈折率部のみを備えた構 Ξ.により光回路を実現する に した屈折率分布を実現できる
(実施例 3 )
本実施例では、 1.53 m 1.54 m 1.55 mおよび 1.56 mの 4つの波長を分波および または合波する波長多重合分波回路 の設計方法について説明する。
図 1 6 Aおよび図 1 6 Bは、 本実施例の 4波長分波器の光回 路設計のための条件設定を説明するための図で、 図 1 6 Aは入 力光の偏光状態が T Eモ一 ドのみの設定の場合 、 図 1 6 Bは入 力光の偏光状態の T Eモー ドに T Mモー ドを加えた設定の場合 について説明している
先ず、 T Eモ ドのみの設定の場合は、 図 1 6 Aに示すよう に、 入力ポー ト 3 一 1 から波長多重された光を入力し、 複数個 設けられた出力ポ 卜 3 — 2 の各々のポー トからそれぞれに異 なる波長の光を出射させる。 すなわち、 入射面 2 _ 1 には 1 つ の入力ポー ト 3 一 1 を設け、 出射面 2 — 2 には a b c およ び dの 4つのポ 卜を設定する。 入力ポ一 卜 3 _ 1 からは 1.53
It m 1.54 m 1. 55^ mおよび 1.56 mの 4つの波長が合波され た光を入射し、 出力ポー ト 3 — 2 のポ一 卜 a ポー 卜 b、 ポ一 h cおよびポー dから、 それぞれ、 1.53 m 1.54 m, 1.55 mおよび 1.56 mの波長の光を出力させる。 したがって、 屈折 率分布を計算する際のフィ一ルドの組み合わせは、 4つの出力 ポー ト ( a b cおよび d ) 各々の 1.53 m 1. m> 1.55 mおよび 1.56^ πιの波長の光のフィールドと、 多重合波された 入力光のフィールドと、 の組み合わせ (計 4組) となる。
図 1 7 Αおよび図 1 7 Βは、 本実施例で計算した光回路の透 過損失スペク トラム (透過率 ( d B ) ) を説明するための図で 、 図 1 7 Aは入力光の偏光状態が T Eモー ドのみの設定の場合 (図 1 6 Aの条件に対応) であり、 図 1 7 Bは入力光の偏光状 の T Eモ に T Mモ を加 iた設定の (図 1 6 Bの 条件に対応 ) である
入力光のフィ —ル Fを、 基板 1 に対する偏光状 を T Eモ ド、として条件設定すると、 出カポ h 3 2から出力される出 力光のスぺク hルは図 1 7 Aのよ Όになる の図では T E モー ドの光を太線で表し、 T Eモ と直交する偏波状態であ る T Mモ一 ドの光を細線で表している 。 偏波状態ごとにスぺク トルを計算しているのは、 光回路中を伝搬する光が感じる実効 的な屈折率が、 τ Eモー ドと T Mモ ―ドとでは僅かに異なるた めである。 そこで 本実施例では 入力ポー 卜 3 _ 1 から入力 する 4つの波長の光の各々を T Eモ — ドの光と T Mモードの 犛
光の偏波多重光とし 、 同 の波長を有する T Eモー ドの光と T n pu
Mモー ドの光を同 の出力ポ 卜 ( a b c または d ) から 出力させることとし 、 波長別の 4組のフィールドの各々を偏波 状態ごとに 2組に分類して計 8組の入出力ペアを P殳 して屈折 率分布を調整する とで波長多重の分波回路設計を行つた (図
1 6 B )
このような方法によれば 図 1 7 Bに示すよう に、 偏光状態 の相違に起因する透過損失の理いを低減できる。 尚 めえて図 示する ことはしないが、 図 1 6 Bに示し /こ P 十条件の変形とし て、 入力ポ 卜からは偏波多重された光を入力し 、 各偏波ごと に異なる出力ポー 卜を指定して出力させるよう に屈折率分布を 調整するようにしてちょい
上述したよ に 波長と偏光状 とをパラメ 夕として入射
Z出射フィ —ルドの 定する ととすれば、 偏光無依存の 光回路や偏光依存の光回路が白由に設計できる。 また、 基板の もつ複屈折をパラメ —夕として計算に取り込むことで、 偏波依 存性を取り除く ことも可能となる
従来の石英系の光導波路を用いたァレイ導波路格子で同等の 機能を有する光回路を構成する場合には、 アレイ導波路の本数 を十分多数に設けるためにはス夕 力ブラの部分だけでち数 m mの長さを必要とすることに加え ァレイ導波路も湾曲させる 必要がある。 このため、 光回路の大きさが数 m m角以上 (典型 的には 1 c m角以上) のものとならざるを得ない。 さ らに、 偏 波依存性をなくするために光回路内に波長板を挿入して設ける 場合もあり得る。 これに対して 、 本実施例の光回路設計によれ ば、 従来の光回路の 1 0 0分の 1以下の大きさで、 同等の機能 の光回路を構成することが可能となる。
(実施例 4 )
本実施例は光波長帯域透過回路を構成した例である
図 1 8 Aおよび図 1 8 Bは 、 本実施例の光回路設計のための 条件設定を説明するための図で 、 図 1 8 Aは単純なバン ド透過 フィルタを設定した場ノロ.、 1¾1 1 8 Bはバン ド整形用のダミーポ 一 卜を設けた場合の図である お 、 れらの光回路の全長は
1 5 0 0 β mである
また 、 図 1 9 Aおよび図 1 9 Bは、 各々 、 図 1 8 Aお
1 8 Bに 7Kした条件設定の下で調整された光回路の出力 から出力される出力光の透過損失のスぺク 卜ラムである
図 1 8 Aに示した条件設定においては、 入力ポ一卜 3 ら、 1.530 ^ 111、 1.535 πι> 1.540 z m、 1.550 m, 1.555 M m¾ <fc び 1.560 / mの 6つの波長の光を波長多重光として入力し、 1 0 m離間して設けられた出力ポー ト 3 — 2 の 2つのポー ト ( a および b ) において、 1.530〜 1.540 m帯域の光をポー ト a に、 1.550〜 1.560M m帯域の光をポ一 ト bから出力させるように、各 波長の光の位相を調整して所望の分散特性を実現している。
計算方法には実施例 2で説明した方法を採用し、 実施例 3 と 同様の分解能と回路規模を仮定している。 この場合、 図 1 7 A および図 1 7 Bで示したよう に、 1波長についてのフィールド の組を設定した場合の 3 d B減衰波長帯域幅は片側約 5 n mで あること力ゝら、 波長の間隔を 5 n mとし 上記 6つの波長の各 フィ ルドの組を得よう とする透過帯域に一様に分布させた。 上記の計算方法で求めた透過損失スぺク 卜ルは、 図 1 9 Αに示 すよう に概ね矩形状となるが 、 短波長領域の透過を十分に抑制 するには至っていない 。 そ で、 図 1 8 Bに示すよう に 、 出力 側にもう 1 つのポート (ポ 卜 c ) をポ 卜 a と 1 0 m離間 して設ける こととし、 このポ ― 卜 c をバン ド整形用のダミ―ポ
― 卜として用い、 このダミ ポー hから 1 . 5 1 0 1 m 1 . 5 1 5 11 mお よび 1 . 5 2 0 mの 3組の光信号を出力させることとして計算を実 行した。
このようなダミ ポー hを設けると、 図 1 9 Bに示す透過ス ぺク 卜ルが得られ 、 短波長領域においても光の透過を十分に阻 止する ことが可能となり ポ ― aおよびホ 卜 b (ならびに ポー 卜 c ) から出力される各スぺク 卜ルが矩形状となる透過フ ィル夕を得ることが可能となる
(実施例 5 )
本実施例は、 実施例 4 と同様に 光波長帯域透過回路の構成 例である /よね 、 波長や領域の大ささ (光回路全長 6 0 0 m
) のパラメ一タを 、 実施例 4 とは変えている た 、 上記実施 例 1 4では入力フィール と出力フィールドを場所 (光回路 又 §十 vh域内での位置) の実数値ベク 卜ル関数としたのに対して
、 本実施例においては複素数値ベク トル関数として計算を実行 している。 具体的には、 光回路の出力ポー を複数 (ポ 卜 a
、 ホ ' ~ ト bおよびダミーポ C ) 設け、 れらの出力ポー 卜 から平面波的な (すなわち位相分布のない) フィールドを出力 させる場合において、 互いに隣接する出力ポートから出力され る光 (出力フィールド) が異なる位相を有するよう に条件設定 されている。 すなわち、 ポ一 卜 a とポー ト bのフィールドは一 様な複素数値をもち、 かつ、 位相差をもつように設定されてい る。
図 2 O Aおよび図 2 0 Bは、 本実施例の光回路の設定条件と その光回路の透過損失のスぺク トラムを説明するための図であ る。 図 2 O Aに示すように、 入力ポー ト 3 — 1 から、 1.510〜 1 .560; mの波長範囲にあって互いに 1 0 n mの波長差を有する 光 (波長 1 0 n m間隔) を入力し、 出力ポー ト aから 1.530 m 、 1.535 mおよび 1· 540 mの光を、 出力ポー ト bから 1.550 m 、 1.565 mおよび 1. 560 H1の光を、 そして、 ダミーポ一 ト c か らは 1.510^ 111、 1.515 mおよび の光を、 それぞれ出力 させる。 なお、 ポ一 ト a とポー ト b とは 7 // m離間され、 ポー ト a とダミーポー ト c とは 1 O m離間されて設けられている こ こで、 入力ポー ト 3 — 1から入力される光との位相差を、 ポー 卜 aでは 0、 ポー 卜 bでは 7Tとした。 また、 ポー ト a とポ — ト b との間隔を 7 mと極端に近づけた。 これにより、 ポー ト aに出力されるべき光がポー ト bに漏話したり、 ポー ト bに出 力されるべき光がポー 卜 aに漏話することを抑制する ことがで きる。 これは、 入力ポー ト 3 — 1 から入力される光との位相差 をポー ト a とポー ト b とで同じとした場合には、 ポー ト aおよ びポー ト b において漏話光と非漏話光とが共にほぼ同じ位相と なるために、 漏話光が信号光と同じように集光され、 その結果 、 漏話光が大きくなるのに対して、 入力ポ一 ト 3 — 1 から入力 される光との位相差をポー ト a とポー ト b とで異なるように設 定する上述した本実施例の場合には漏話光同士が干渉して、 各 ポ一 トへの漏話光の集光が抑制されるためである。 図 2 O B中の実線は、 ポー ト a とポー ト bから出力されるフ ィールドの位相に位相差兀を設けた場合のスぺク トルであり、 破線は、 ポー ト a とポー ト bから出力されるフィ一ルドの位相 に位相差 7tを設けない (位相差 0 ) 場合のスペク トルである。 この図に示すよう に、 何れの場合もポー ト aおよびポー ト か ら出力される光のスペク トルが矩形状となる透過フィルタを得 ることが可能となるが、 上述のよう にポ一 ト a とポー ト bから 出力されるフィールドの位相に位相差 を設けた場合には、 位 相差を設けない場合に比べて漏話が抑制され、 よ り急峻な矩形 フィルタが得られている。
本実施例の結果は、 各チャンネルに対して位相パラメ一夕を 設定するだけで、 出力光の位相を制御する ことが可能であるこ とを示している。 なお、 このような位相関係は出力ポー 卜間だ けではなく入力ポー ト との間にも設定され得るものであるから 、 これらのポー ト相互間での位相制御によ り、 外部の他の導波 路回路などと本光回路とを組み合わせて Mach-Zehnder (M Z ) 干渉回路などを構成する ことが可能である。
(実施例 6 )
図 2 1 A〜 2 I Dは、 本実施例の光回路の入出力ペアの設定 (図 2 1 A) 、 1.55^111の出射フィールド分布の設定 (図 2 1 B ) 、 ならびに、 ポー ト Aおよびポー ト Bから入力光を入力さ せた場合の各々の出力光の透過損失スぺク トラム (図 2 1 Cお よび図 2 1 D ) を説明するための図である。
この実施例の光回路は、 図 2 1 Aに示すように、 入力ポー ト 3 — 1 として 2つのポー ト (ポー ト Aおよびポー ト B ) を設け 、 ポー ト Aから 1.29 m、 1.30 i m、 1.31 mおよび 1.32 mの 4 つの波長の波長多重光を入力して出力ポ一 ト 3 — 2 として設け られた 4つのポ一 ( a、 b、 cおよび d ) から上記 4つの波 長の光を分波して出力させるとともに 、ポー ト Bから入力した 1
.55 mの光を れら 4つの出カポ 卜 ( a、 b、 cおよび d ) に分配して出力する光回路である
このような光回路は 、 例 ば次のような用途に用いることが できる。 配信距離が異なる場所に 又置された 4つの端末に 1 つ の基地端末から光ファィバを接続し 、 デ一夕通信用として 1.29 m、 1.30 m 1.31 mおよび 1.32 mの波 5の光を充てて 、 か つ、 の光を分配して一斉に配信するような場合を想定す ると、 4つの端末に接続されている光ファィ に 1. 55 mの波 長の光を均等分配するよ り も、 各光フアイパの損失に応じて 1.
55^ mの光を分配することにより、配信距離が異なる端末に対し ても同等の光信号強度で送信する ことが可能となる
本実施例においては、 このような状況を 又定して 、 図 2 1 B に示すよう に、 1.55 mの光を、 ポー ト a とポー ト c には 1/6ず つ、 ポ一卜 bとポ - ト d には 1 /3ずつ、 の強度比となる う に分 配することとしている。 すなわち、 強度が互いに相 する 4つ のポー 卜 、 b 、 cおよび d ) のフィールド分布の重ね合わ せによ り出射面 2一 2 における出射フィールドの強度分布を求 めることとして、 実施例 2で説明した手順で計算を実行レ 7こ なお、 1.29 m、 1 .30 ^ m 1.31 mおよび 1.32 mの波長の光に ついては、 実施例 3 と同様に、 各波長毎に 4つのフィ一ルドの 組を設定している
図 2 1 Cに示したスペク トラムによれば、 入力ポ A力、ら 入力された波長多重光は、 各々の波長に応じて分波され 、 しれ らの光の各々が 4つの出力ポー 卜 ( a、 b、 cおよび d ) カゝら 出力されている ことが分かる。 また、 図 2 I Dに示したスペク トラムによれば、 入力ポー ト Bから入力された波長 の光は、ポ一 ト aおよびポー ト c には概ね 1/6 ( = 8dB)、 ポート bおよびポー ト d には概ね 1/3 ( = 5 d B)の割合で分配されているのが分かる。
このよう に、 本実施例の回路設計方法を用いることにより、 容易に光分配回路を設計する ことが可能である。 なお、 当然の ことではあるが、 この光回路に逆向きに光を入射させることと すれば光合波も可能であるから、 光合波回路の設計も可能であ る。
また、 本実施例の光回路は、 光回路設計領域に 1 つの屈折率 分布を与えることで 、 波長分波 と光分配 という 2つの機能 を有する回路を実現している。 のように 、 本発明によれば、 異なる機能 (を有する領域) を同一の光回路 ^ru
P又 口 領域上に設け ることが可能であるから 、 極めて容易に集積化することができ る。
(実施例 7 )
本実施例では、 伝搬光の反射を 考慮した光回路の設計方法 について説明する。 光回路中の光には、 多重散乱しながら進行 する伝搬波だけではなく反射波も存在し得るから 、 この反射波 の存在も考慮してフィールド設定することによ Ό 、 特性のよ り 優れた光回路を実現することが可能である
反射現象をも考慮した場合のフィールドの伝搬は、 「伝搬行 列 」 によって記述可能であり、 この伝搬行列は 、 入射 (波) 成 分と反射 (波) 成分に対する行列の形で与えられ 、 その行列の 形としては、 例 ば、、 A bidirectional beam propagation m ethod for multi le dielectric interfaces" (H. Rao e ί . a 1. , IEEE PTL Vol.11, No.7, pp 830-832 0999))などに記載が ある。 なお、 この伝搬行列は、 既に (基本概念) で説明した 「 ュニタ リ変換」 に相当する。
図 2 2 は、 反射成分をも考慮する際の伝搬行列の取扱いの概 要を説明するための図で、 光回路中の微小部分のみに着目 して 図示した図である。
H. Rao, e t . a 1 , A bidi rect ional beam propagation method f or mul t iple dielectric interfaces ", IEEE PTL Vol . 11 , No. 7, pp 830-832 ( 1999)によれば、位置(x, z) における屈折率 n (x, z) についての偏微分方程式である次式 ( 1 2 )
d2/dz2 = -(d/dx)2 -k0 2n(x,z)2 . · . ( 1 2 ) を形式的に解き、 演算子
Figure imgf000059_0001
を定義して、 j 番目の z位置の演算子として
L. · · · ( 1 4 )
を用いて表記すると、
Figure imgf000059_0002
で与えられる
M · · · ( 1 6 )
が伝搬行列である。
式 ( 1 5 ) で用いた記号 u i nおよび u。 u tの各々は、 図 2 2 に示した光回路の微小部分の入力面 2 — 1 ( in) および出力面 2 - 2 (ou t)におけるフィールドを意味しており、 z j または z 5 _ェは、 この光回路の微小部分が、 光回路設計領域の全体に仮 想的に設けたメッシュによ り画定された j 番目または ( j 一 1 ) 番目の層の z位置を意味している。 すなわち、 図 2 2 中の入 力面 2 - 1 および出力面 2 - 2 は、 この微小領域の入力面およ び出力面なのであって、 光回路全体の入力面および出力面を意 味するものではないことに注意されたい。 なお、 添字の +また は—は、 それらのフィールドの入射成分 ( + ) または反射成分 (一) であることを意味している。
ここで、
M=P„T„— … ! · · · ( 1 7 )
Figure imgf000060_0001
の関係がある。
本発明においては、 反射成分を予め与えることとし、 次式 ( 2 0 )
/+2 T丄;+1, +2 2P1
Figure imgf000060_0002
の左辺を ( j + 1 ) 番目の層までの逆伝搬光 Φ (z j + 右辺 を ( j — 1 ) 番目の層までの伝搬光 (z j — ^と考えて
ゾ— ゾ一
る Γ屈折率」 (屈折率に相当する演算子) る 所望の機能を有する光回路を得 Ό 0
各 間の界面での反射が弱い場合には、 し/ +1 —丄
が良い近似で成り立つから、
Figure imgf000060_0003
と近似できる
そして、
Figure imgf000061_0001
は、 反射が全 <ヽ. fiハ、£、い状態での光の伝搬を与える演算子であるか ら、 これまでの実施例で口 ½明してきた 2つの方法と同様の設計 方法により光回路設計を行 ことができる。
すなわち、 入力面から入力される入射波と、 入力面側へ向か う反射波と、 を設定し、 さ らに、 出力面から出力される出力波 を設定する。 そして 、 光回路設計領域の各点において、 伝搬方 向 (すなわち入力面 2 一 1から出力面 2 _ 2 に向かう方向) に 進むフィ一ルドと 反射方向 (すなわち出力面 2 ― 2から入力 面 2 — 1 に向かう方向) に進むフィールドと、 を仮定して、 実 施例 1 と同様の手順によ り計算を実行すればよい なお、 因果 律によれば、 出力面側に向かう反射波は発生しないはずなので ゼロであるが 、 光回路の途中では出力面側へ向か Ό反射波成分 も存在し得る
般に 、 光回路中での空間的な屈折率亦化が小さな場合には
、 光回路内で生じる反射波成分は極僅かである。 したがって、 屈折率変化が光回路中の光に与える主な影響は、 伝搬方向へ進 行する光に対しては伝搬方向へ伝搬する際の位相変化であり、 反射方向へ進行する光に対しては反射方向に伝搬する際の位相 変化となる のため、 伝搬方向に進行する入射波成分と伝搬 方向に進行する反射波成分とを合わせて 1 つの順伝搬波とし、 入射光からみたときに、 反射方向に進行する入射波成分 (逆伝 搬させた出力波) と反射方向に進行する反射波成分 (逆伝搬さ せた出力波と対となる反射成分) とを合わせて 1 つの逆伝搬波 とする (すなわち、 回路を散乱行列とみなす) 。 そして、 これ ら 2つの波の各々に対応するフィールドを仮定して、 実施例 1 もしく は実施例 2で説明した方法によつて局所的な屈折率を変 化させて屈折率分布を計算すればよい。
図 2 3 Aおよぴ図 2 3 Bは、 本実施例の光回路 (波長フィル 夕) の設定条件とその光回路の透過損失のスぺク 卜ラムを説明 するための図である 。 図 2 3 Aに示すよ Ό に、 入力ポー ト 3 一
1から 1 . 31 m 1 . 9 mおよび 1 . 55 mの波長の光を波長多 重光として入力し 出力ポー 卜 3 — 2 として設けた 3つのポー 卜 (ポ一 卜 a ポ 卜 bおよびポー ト c ) の各々から上記 3つ の波長の光ごとに出力して波長フィル夕として機能させる 本 実施例では、 ¾ヽ一 卜 aから 1 . 3 1 m、 ポ ― 卜 b力、ら 1 . 49 m 、 そ して、 ポー ト c からは 1 . 55 mの波長の光を、 それぞれ出力させ る。 各ポー ト間隔は 1 0 mであ り、 光回路長は l m m ( l 0 0 0 m )である。
この光回路は、 シリ コ ン基板上に設けられた石央からなる平 面光回路であって、 光回路設計領域 1 一 1 における石英の局所 的な屈折率が高屈折率部または低屈折率部となるように調整を 行う ことで光回路の屈折率分布が設定されている なあ、 1¾屈 折率部と低屈折率部の比屈折率差は 1 . 5 %である
図 2 3 Bに示すように、 この光回路からは、 低い損失と急峻 な透過特性を有する 3つの波長の光が各出力ポ ― から出力さ れており 、 波長フィル夕特性に優れた光回路が得られている このよ に、 光回路中での反射波をも考慮して回路設計する とによ り 、 フィルタ特性に優れた光回路を作製することが可能 となる
(実施例 8 )
本実施例では、 本発明の波動伝達媒体を用いて 1 6分岐光回 路を構成した例について説明する 図 2 4 A〜 Cは、 この 1 6分岐光回路における、 屈折率分布 (図 2 4 A) 、 光伝搬の様子 (図 2 4 B ) 、 および、 1 6個の 各出力ポー トから出力される光の光透過損失 d B (図 2 4 C ) を示している。
この光回路は、 シリ コン基板上に、 高屈折率部と低屈折率部 の比屈折率差 Δが 0.75%の石英を堆積させた光回路設計領域を エッチングによ りパターン形成したもので、 光回路の大きさは 4 2 0 z m X 1 8 0 0 mである。 図 2 4 Bに示したよう に、 光回路の入射面中央部 (図中の下側中央) から入力された光は 、 光回路設計領域中を多重散乱しながら伝搬して、 光回路の出 射面 (図中の上側) に設けられた 1 6 のポー トから出力される 構成となっている。
図 2 4 Aに示した屈折率分布は実施例 2で説明した方法によ り求めた結果であり、 この図において、 黒色部は高屈折率部、 白色部は低屈折率部に相当しており、 ピクセルサイズ (メッシ ュにより画定されたピクセルに相当) は 3 X 3 m2である。
この光回路に光伝搬させたときのフィールドの様子を数値計 算して求めた結果を示す図 2 4 B中の濃淡は光強度分布を意味 しており、 1本の入力光は光回路の出射面において 1 6本の光 に分岐され、 各々の光が 1 6個のポー 卜から出力される。 これ らの 1 6個のポー トに番号付け (左から 1 、 2、 · · · 、 1 6 ) し、 各ポー トから出力される光の透過損失を測定した結果を 図 2 4 Cに示している。 1 6個のポー トの損失は原理損失 1 2 d Bを基準として概ね 2 d B以内に分布しており、 均等かつ低 損失の光分配が実現されていることがわかる。
このよう に、 本発明の光回路設計方法によれば、 1 8 0 0 mという極めて短い導波路長で容易に光分割することが可能と なる。 従来の光回路で同等の機能を実現させる場合に必要とさ れる導波路長が 1 c m程度である ことを勘案すると、 本発明に より導波路長の大幅な短縮化が可能であり、 小型光回路を容易 に実現できることが理解される。
(実施例 9 )
本実施例では、 本発明の波動伝達媒体を用いて光導波路に所 望の曲率をもたせた 「曲げ回路」 を構成した例について説明す る。
口乃電体で構成される光導波路においては、 導波路からの光の 放射を回避するために 、 光導波路の急激な曲げを避ける必要が める したがって、 曲げ回路の導波路は一定の曲率半径以上の 小さな曲率を有するように設計される。 例えば、 比屈折率差 Δ
= 1 5 %を有する石英系光導波路コアとクラッ ドとで構成さ れる従来の曲げ回路では、 5 m m程度の曲率半径となるように 回路 e又計する ことで湾曲した光回路を実現していた。
れに対して、 本実施例の光回路では、 光導波路から一旦外 部に漏れ出た光を多重散乱により反射させて元の光導波路に戻 すことが可能となるため、 大きな曲率 (小さな曲率半径) で光 導波路を設 十 "I とが可能となり、 その結果、 光回路を小型 化することが可能となる
図 2 5 Aおよび図 2 5 Bは、 本実施例の曲げ回路の屈折率分 布 (図 2 5 A ) と光伝搬の様子 (図 2 5 B ) を説明するための ある
( _の光回路は、 シ U コン基板上に、 高屈折率部と低屈折率部 の比屈折率差 Δが 1 . 5 % の石英を堆積させた光回路設計領域を ッチングによ りパ夕ーン形成したもので、 光回路の大きさは
1 0 0 PL m X 9 0 mである。 図 2 5 Bに示したよう に、 光回 路の入射面中央部 (図中の下側中央) から この入射面に対して
5度の角度で入力された光は、 光回路設計領域中を多重散乱 しながら伝搬して、 光回路の出射面 (図中の上側) に対して +
5度の角度で出力される
図 2 5 Aに示した屈折率分布は実施例 2 で説明した方法によ り求めた結果であ り 、 この図において 、 、、色部は高屈折 部、 白色部は低屈折率部に相当しており、 ピクセルサイズ (メッン ュにより画定されたピクセルに相当) は 0 . 7 X 0 . 7 m 2 である。
この光回路に光伝搬させたときのフィ —ルドの様子を数値計 算して求めた結果を示す図 2 5 B中の濃淡は光回路設計領域に おける光強度分布を意味しており、 導波路の外側へと漏れ出し た光は多重散乱によって導波路へと反射されて戻り、 放射によ る導波路からの光の漏れ出しが回避されている。 また、 この図 に示されている出力側.と入力側のフィ―ルド形状はほぼ同様の 形状となつており 、 導波路の外側へと漏れ出した光に起因する フィ一ルド形状の乱れが多重散乱により抑制されて、 フィール ド、形状が整形されている ことが分かる。
本実施例の曲げ回路では、 9 0 mの導波路長で光の入出力 角度差 1 0度の曲げが実現されている。 この曲げを曲率半径に 換算すると約 0 5 m mに相当しており 、 極めて小さな曲率半 径 (大きな曲率 ) の導波路が実現されている ことになる。 また
、 この曲げ回路における光の挿入損失は 0 . 1 d B以下である から、 この曲げ回路を複数個繰り返して設けて 9 0度程度の曲 げを実現したとしても、 その損失は僅かに 1 d B以下となる とが期待され、 極めて小型の曲げ回路を実現することが可能で ある。 (実施例 1 0 )
本実施例では、 本発明の波動伝 媒体を用いて モー ド干渉 回路 ( M M I ) を構成した例について説明する。
光回路においては、 光のフィールドが伝搬方向 大きな波数 (すなわち運動量) をもっと、 横方向 (伝搬方向と 直方向) の波数 (すなわち横方向の運動量 ) が小さ くなり その結果、 屈折率差が比較的小さい界面においても光が横方 に反射され ることとなる。 この現象を利用してある程度の幅
Figure imgf000066_0001
の光導波路 を構成すると、 伝搬光のフィ一ルド、はこの光導波路中で反射を 繰り返しながら大きく蛇行して進進行し、 実効的な光路長を長く することが可能となる。 このような光伝搬現象は、 複数のモー ドの光が存在し得る光回路中において、 これら各モ一ドの光が 互いに干渉し合いながら伝搬していること 対応し、 このよ な光回路は、 多モー ド干渉回潞 ( M M I ) と呼ばれる
しかし、 従来の多モ一ド干渉回路中では ある次数以上の高 次モー ドは存在できず、 外部 放射されてしまう。 すなわち、 光回路の幅を広く設定するほ
Figure imgf000066_0002
光回路中を伝搬する光の大さな 蛇行が期待され実効的な光路長を長 <する とが可能となるが 、 その一方で、 放射によ り光回路外部へと光が漏れ出てしまう という問題があった。
本実施例では、 このよ な問題を解決するために、 多モー ド 干渉回路の内部に本発明の光回路を設ける ととした
図 2 6 Aおよび図 2 6 Bは、 本実施例における光回路設計領 域における屈折率分 (図 2 6 A ) と、 この光回路中を伝搬す る光の波長毎のフィ一ル の伝搬の様子を説明するための図 ( 図 2 6 B ) である。
この光回路は、 シ ン基板上に、 高屈折率部と低屈折率部 の比屈折率差 Δが 0. 75 %の石英を堆積させた光回路設計領域を
Xッチングによ りパターン形成したもので 、 光回路の大きさは 幅 6 0 m X長さ 3 O O O mである。 図 2 6 A中の下部が入 射面に対応し、 この入射面に設けられた 1 のポー トから 1 . 3 1 β m 、 1 . 49 mおよび 1 . 5 5 mの 3 つの波長の光が波長多重さ れた光が入力され 、 これら 3つの波長の光の各々はその波長に 応じて異なる蛇行能、様で光回路中を進行し 、 図中の上部で表さ れる出射面に設けられた 3つのポー 卜から各波長の光毎に出力 される。 すなわち 、 この光回路は波長選択フィルタとして機能 する
2 6 Aに示した屈折率分布は実施例 2で説明した方法によ り求めた結果であり 、 この図において 、 黒色部は高屈折率部 ·* 白色部は低屈折率部に相当してお Ό 、 ピクセルサイズ (メッシ ュ よ り画定されたピクセルに相当 ) は 3 X 3 m 2である。 この図の左右の各々に示されている縦方向に延在する帯状の低 屈折率領域は 従来の多モ一 ド干渉回路でも設けられている領 域であり、 これらの帯状領域の間の高屈折率領域中に分散して 設けられた低屈折率部により本発明で設定される屈折率分布が 与えられている。
この光回路に光伝搬させたとさのフィ —ルドの様子を各波長 毎に数値計算して求めた結果を示す図 2 6 B中の濃淡は光回路 設計領域における光強度分布を意味しており、 何れの波長の光 も光回路中を蛇行しながら進行している様子、 および、 光回路 内でも多重散乱により多モ一 ド干渉回路部分の外部へと れ出 る光は殆どないことが理解できる。
図 2 6 Bに示されている光の蛇行の様子からわかるよう に、 の回路中では、 斜めに広がって進行する光が回路側面で折り 返され、 この折り しを繰り返しながら各出力ポー へと集光 される。 従って、 の光回路では 、 小さな面積の光回路 計領 域内で大きな光路長差を fcたせることが可能であ り 、 かつ 、 個 々のピクセル (個 のピクセルの屈折率) が伝搬フィ一ルドに 及ぼす影響を高めて光を効率的に制御することが可能となつて いる。 また、 本実施例の多モー ド干渉回路の各出力ポ とも
、 伝搬損失は約 0 8 d B 、 漏話量は一 2 0 d B以下であ り、 波長選択フィ レタとして良好な特性が得られている
以上のよう に、 本実施例の多モ一 ド干渉回路では 、 伝搬光の 漏れを抑制することのみならず、 回路の小型化および光の制御 性を高めることが可能となる
(実施例 1 1 )
本実施例の光回路は、 1 . 3 mと 1 . 5 5 t mの 2つの波 長の光の波長多重光を各々の波長の光に分波する平面光波回路 でめ しの うな分波回路を実施例 1 で説明した方法により 設計しょう とすると、 図 2 7 Aの右図のよう に 、 光回路設計領 域内に分布させる低屈折率部が多く必要となつて基板厚さ方向 での光閉じ込めが困難となり、 図 1 1 に示したような特別な光 閉じ込め構造としなければならないことは既に説明した。
これに対して実施例 2では、 特別な光閉じ込め構造を不要と するために屈折率分布の初期値をランダムにとり、 図 1 5 Aに 示したような屈折率分布とする とで実効的な光閉じ込めを実 現した。
本実施例に Sいては、 さ らに 、 屈折率分布の決定に際してな るベく高屈折率部が多くなるよ Ό に高屈折率部と低屈折率部を 分布させ、 低屈折率を有するピクセルが連続して配列される領 域がなるベく少なくなるよう に屈折率分布を決定することとし た (図 2 7 Aの左図) 。 このことは、 低屈折率を有するピクセ ルを高屈折率を有するピクセルの存在しない領域、 すなわち高 屈折率ピクセルの空隙として観念した場合には、 この高屈折率 ピクセルの空隙がなるべく連続して分布することがないよう に 可能な限り多く の高屈折率ピクセルを分布させる ことで屈折率 分布を決定するもの、 と言い換える こともできる。
このための具体的な方法は以下のとおりである。 まず、 アル ゴリズムを、 屈折率分布中での光導波路のコアに相当する部分 が多くなるように実施例 2で説明したアルゴリズムを以下のよ う に改良する。
すなわち、
n。 f f se tz 0
なる量を定義して、
vg (z, x)〉(ncre + nclad)/2— n。ffselのときは nq (z, x) = ncore
—— . ( 2 1 a ) vq , 〈( ^ !^^;! —!^ のときは nq (z, x) = ncladd
• · · ( 2 1 b ) とする。 こ こで、 はコアに相当する屈折率で高屈折率部の 屈折率に相当し、 ne i a dはクラッ ドに相当する屈折率で低屈折率 部の屈折率に相当する。 したがって、 光回路設計領域内での屈 折率分布は、 これらの 2種類の屈折率を空間的に分布させて得 られることになる。 このような n。ffsetの導入によ り、 コア部分が 多い光回路を設計することが可能である。 なお、 n。ffsetなる量は 、 以下のようにして求められる。
図 2 7 Bは、 単位長さ当 りの導波路中に空隙が出現する確率 (横軸) と、 高屈折率部の空隙が連続する (すなわち低屈折率 部が連続する) ピクセルの数 N g毎の頻度 (縦軸) との関係を 説明するための図で、 モンテカルロ法での計算結果である。 N g値の違いは空孔の繋がり具合を反映するものであるため、 導 波路中での単位長当 りの頻度は N g値によって異なる。 なお、 横軸で示した空隙の出現確率がゼロとは単位長の導波路に全く 空隙がない場合であり、 出現確率が 1 とは単位長の導波路の全 てが空隙の場合であり、 出現確率が 0 . 5 とは単位長の導波路 の半分が空隙の場合に相当する。,,また、 例えば N g = 1 の場合 の曲線において単位距離当 りの頻度が 0 . 1 というのは、 1 0 のピクセルからなる列を想定したときに、 確率的に 1つの N P = 1 の空隙ピクセルが存在するとい Ό意味である
この計算では 横方向に連 した空隙がフィ ルドに及ぼす 影響は事実上無視できる程度のものであるために考慮しないこ ととして 、 光回路の縦方向領域のみを対象とする このような 取扱いが妥当なのは、 光が伝搬する回路中において 、 激しく電 磁界が変化するのは伝搬方向である とに る
空隙の単位長はコアの屈折率分布のメッシュ間隔とされ、 例 えばメ ッシュ間隔を 1 mと 定した場合の空隙の単位長は 1 mとな •o 従つて、 このような 隙で互いに離隔された高屈 折率ピクセル間の間隙は、 N 0 1 2 • • - の各々に ついて 0 m 1 ^ m 2 m 、 ' … と / る。
光通信等に利用される光の波長範囲では 、 屈折率が約 1 . 5 の媒体中での波長は約 1 ^ mとなるから、 光回路中に数 mの 間隙があるとすると光が放射的になって損失が生じてしまう。 光回路の一般的な加工精度は 1 m程度であるから 1 ^ m程 度の間隔でメ ッシュを設定して光回路の屈折率分布を決定する 場合を想定すると、 N g = 3以下に抑えることが望ましい。
そこで、 図 2 7 Bを基に、 N = 4以上の間隙が殆ど生じず 、 かつ、 屈折率変化が生じるコアとクラッ ドとの界面が適当に 多 <なる条件を探すと、 N g = 1 の空隙の出現確率を 0 . 2 土
0 • 0 5程度とすることが望ましいこととなる。 このことは、 実施例 1 の設計条件で決定される屈折率分布において、 コア部 とクラッ ド、部が同等の分布確率で略ランダムに分布するものと し 、 かつ 、 そのバラツキ ( 2 σ ) が屈折率差程度であるものと し 、 さ らに 、 正規分布するものであると仮定して、 コアの配置 ラメ一夕を屈折率差の約 3 0 %程度とすればよいことを意味 している すなわち、 n。ffsel=(ncre-
Figure imgf000071_0001
程度とすれば、 屈折 率変化する界面が適当に多く含まれ、 かつ、 コアの間隙幅が少 ない光回路を構成することが可能となる。
の Όなアルゴリズムに基づいて屈折率分布を決定し光回 路を 際に試作して特性を調べたところ、 図 2 7 Bのような屈 折率分布とした場合の光損失が約 6 d Bであったのに対し、 図
2 7 Aのような本実施例の屈折率分布とした場合の光損失は約
2 5 d Bであ り、 大幅な損失低減が確認された。
なお、 本実施例においては、 予め n。„setを定数として与えるこ ととしたが、 定数である必要は必ずしもない。 図 2 7 Bの横軸 が単位距離あたりの空隙の出現確率とされていることからもわ かるよう に、 計算の途中で空隙の出現確率を集計し、 その結果 をもとに n。ffselを逐次変更することとすれば、より確実な修正が 可能となる。 すなわち、 vq (z,x)の頻度を求めて、 たとえば 5 0 %に設定したい場合は n。ffselを vq (ζ, χ)の平均値に設定する などすればよい。
(実施例 1 2 )
図 2 8 Αは本実施例の電極構造の断面図、 図 2 8 Βはこの素 子を用いた光回路の構成例である。 図 2 8 Αは、 複数の組の屈 折率分布を電気光効果によ り基板上に必要に応じて生じさせる ことを特徴とする光波形整形器の例として、 シリ コン基板上に 、 光学的に透明な絶縁膜 (ここでは石英ガラス) を介して電極 をマ ト リ クス状に設けて再構成可能な光回路を構成する例を図 示している。 絶縁膜は 0 . 3 /z m程度、 ド一プ領域は 3 ^ m程度 の厚みである。この例ではさ らにその下にガラス層がある所謂 S i 1 i c on- On- I n s u l a t o r ( S O I )構造の基板を用いている。電極に 電圧を掛けることにより電子濃度の変化から 1 0— 3 程度の比 屈折率争を与えることが可能である しれは M O S構造である ので 甬常の半導体プロセスによ り容易に微細かつ大規模なも のをつく る ことが可能である。 一般に 1 0 一 3 の比屈折率差で は光導波路構造をつく ったとしても非常に閉じ込めが弱いため 現実的な回路を構成することは困難でめるが、 U V光により石 英ガラスに書き込むファイバグレーティ ングのような弱い屈折 率変調でも大きな光の反射が可能なのと同様に、 広い領域計算 領域を用いて本実施形態によ り光回路を設計すれば実用的な光 回路を構成することができる。
上記実施例 1 〜 1 1 で説明したよ に屈折率分布のパターン を設計し、 その屈折率分布に合わせて電圧の分布を生じさせる ことにより光回路を構成できる。 特に 、 複数の屈折率分布をあ らかじめ半導体メモリ等に入れておさ 、 必要に応じて電圧の分 布を変化させることで光回路を再構成できる。 また、 回路は Μ
O Sのプロセスを適用できるので、 フラッシュメモリ と同様の 構成を用いれば書き込み式の光回路を構成できる。 すなわち、 ソ一ス、 ド レイ ン、 フローティ ングゲ一 トとコン トロールゲー 卜を回路の一部に設け、 ソース、 ドレィ ン部分の屈折率制御は 放棄して、 フ口一ティ ングゲ一 ト直下の屈折率変化により光回 路を構成する。 こで、 ソース、 ドレイ ン部分へは回路再構成 の際にのみ通電すればよいので、 屈折率分布としては電圧を O
F Fにした状態で回路を構成すればよい。
本実施形態に Ό 5 mm角程度のチップサイズに 1 0 0万電極程 度をマ 卜 リ ックス状に配置し波形整形器ができた。 これは基板 に対してフィールド径として数百ミクロンに拡大し、 かつ 位 相分布を制御するもので、 突き当て結合により結合したスラブ 導波路を介して対向する同様の素子に対して光合分波が可能で ある れらの光部品 (ファイバ、 本実施形態の素子 スラブ導波路 ) は光学的に透明な接着剤で接合されている 図 2 8 Bは図 2 8 Aの素子を用いた光回路の例で、 ここでは フィ ルドを拡大するとともに横方向に一様な位相勾配を与え る とで左端下から右上に光信号を伝搬させている。 位相を適 当に調整することによ り複数のチヤンネルへの分配も可能であ る。
(実施例 1 3 )
本実施例の光回路は、 指向性が低くかつ波長依存性が高いレ イ リ一散乱を利用した 1 . 3 1 1 · 5 5 m の波長フィルタであ る。
光の波長の 1 0分の 1以下程度の大ささを有する物体による 散乱は一般にレイ リ —散乱とよばれ、 指向性が低くかつ波長依 存性 (波長の 4乗分の 1 に比例) の高い散乱がえられる。 本実 施例では、 光回路を構成する波動伝達媒質の高屈折率部分のピ クセルサイズを、 光回路中を伝搬する光の、 伝搬方向に垂直な 方向の波長成分の長さ程度以下のサイズとすることで、 レイ リ 散乱の発生条件を満足する屈折率分 (誘電体分布) を実現 して充分に大きな光制御性を得ている
図 2 9 A よび図 2 9 Bは本実施例の 1 . 3 1 HI/ 1 . 5 5 m の 波長フィルタの構成例を説明するための図で、 図 2 9 Aはこの 光回路の平面図であり、 図 2 9 Bは高屈折率部のピクセルと低 屈折率部のピクセルの配置の様子を説明するための図である。
図 2 9 A中の黒色部は高屈折率部を意味しており、 入力ポー ト 3 — 1から、 l. Si m と 1.55 ΙΙΙ の波長の光を入力し、 出力 ポー ト aから 1.31 πιの光を、 出力ポー ト bから i.55 mの光 を、 それぞれ出力させる。 なお、 この光回路の光伝搬方向の長 さは 1000 mであり幅は 160 ζ πιである。この光回路の屈折率分 布は、 図 2 9 Βに示すよう に、 各々がピクセルサイズ Wを有す る、 高屈折率部のピクセル (網掛け部) と低屈折率部 (白抜き 部) のピクセルを配置させることにより決定される。
このような、 ピクセルサイズ Wを有する誘電体を多数配置し て構成される導波路構造 (すなわち、 光閉じ込め構造) 中にお いて形成される光のフィールド半径 wには、 1 次元のガウシァ ン近似による変分法によ り、 概ね、 =1 · · · (2 2 )
Figure imgf000074_0001
なる条件が要求される。 ここで、 k。は真空中の波数、 nは屈 折率、 Δはピクセル部分の比屈折率差である。
一方、 本光回路を構成する誘電体のピクセルを光の散乱点と して考え、 このピクセルによるフィ一ルド半径 wを開口半径 w とする (図 3 0 )。 このとき、 この開口からの回折角 (遠視野角) を Θ とすると、 真空中での波数 λ を用いて、 tan · · ' ( 2 3 )
mw
となる (図 3 0 )。 媒質中における、 光の伝搬方向に垂直な向き の波数
と、 伝搬方向の波数 βι,
との比をとると、
λ
tan5> ( 2 4 )
miw が得られる。
Figure imgf000075_0001
は光の伝搬方向成分の波長であり、
λ
は伝搬方向に垂直な方向成分の波長である。
こ こで、 光の波数 (運動量と等価) の殆どは伝搬方向に集中 しているとして仮定すると、
λ « Λ
となり、
Λ miw · · · (■■ 2 5
が得られる。 レイ リー散乱の条件と して、 となることから、
w = wc
となり、 さ らに、 式 ( 2 5 ) から、
w = 10WC l{m)
として式 ( 2 2 ) に代入して wを消去すると、
Figure imgf000075_0002
なる条件を得る。
式 ( 2 6 ) の右辺のうちの括弧部分 ( λ以外の係数) は、 例 えば石英系光導波路 ( η = 1 . 5 Δ = 0 . 0 1 ) や半導体導 波路 ( η = 3 . 5 Δ = 0 . 0 5 ) でも概ね 1程度であるから、
W<WC ~
であればレイ リー散乱の条件が成り立つこととなる。 図 3 1 をパフメ 夕 として変化させて 1 . 3 1 ^ mZ l . 55 m の波長フィ ル夕の光回路 を構成した場合の、 透過損失特性および漏話特 のピクセルサ ィズ依存性 (図 3 1 B ) を説明するための図で、 この光回路の 光伝搬方向の長さは 6 0 0 mであ り、 出 卜 a と出力ポ
— 卜 bの間隔は 3 0 mである (図 3 1 A
図 3 1 Bに示した結果から 、 ピクセルサ
程度 (図 3 1 B中中にに示示すす)) 以以下下のの場場合合ににはは、 漏話が非常に効率 よく抑えられて優れた透過損失特性が得ら
の にレイ U 一散乱条件を満足するよう
を設定する こ とが有効である ゲ とが分かる
(実施例 1 4 )
本実施例の光回路は、 基板高さ方向 (基板表面と垂直な方向) への光の放射を抑制するこ とで光損失を抑制することを可能と した光回路である。
光回路の屈折率分布を高屈折率部と低屈折率部とで 2値化し て得られるピクセルパ夕一ンにおいては、 低屈折率部を高屈折 率部の空孔 (空隙) と考えると、 高屈折率部に相当するピクセ ル相互間に存在することとなる低屈折率部は、 光導波路でいう と ころのクラッ ド部分への放射部分(導波路間のギヤ ップ)に相 当する。 光回路を設計するに際しては、 基板横方向 (基板表面 と平行な方向) への光は多重散乱により制御可能である。 しか しながら、 平面光回路の場合には、 基板高さ方向へ漏れた光は 通常そのまま放射されて (光) 損失の原因となる。
図 3 2 Aおよび図 3 2 Bは平面光回路における、 基板垂直方 向と基板水平方向での光の閉じ込めレベルを説明するための図 で、 実線は基板垂直方向の光、 破線は基板水平方向の光を示し ている。 この図に示すよう に、 基板水平方向に広がってゆく光 は、 光回路内で反射 · 散乱を繰り返しながら光回路内に閉じ込 められるが、 基板垂直方向への光はそのまま光回路の外へと放 射される。
図 3 3 は、 最小ピクセル単位を 3 m角としたとさの 1点当 たりの放射損失 (結合損失) のフィールド半径依存性を説明す るための図である。 この図に示すように、 光回路内で放射され る光は光のフィールド径に大きく依存し、 一般にフィールド径 が小さい場合は回折の影響により大きな放射角をもつこととな る。 逆にフィ ルド径を大き <取る とによ り光の放射を抑制 することが可能となり、 光回路としての損失を抑制することが できる 千 11 m程度の回路サィズを仮定すると数百 の散乱 点が発生する可能性がある こととなるから 、 光回路全
Figure imgf000077_0001
として の損失を抑えるためには個々の散乱占における光損失 充分低
<抑える必要がある。
石英系光導波路のような光閉じ込め効果の弱い単一モー ド光 波路中を伝搬する光のフィールドは、 良い近似でガゥス分布 とすることができる。 また、 光のフィールドは、 波面内の光の 振幅の分布 F (x y)を変数分離して F (x , y) = f (x ) g (y)としても良 い近似となる。 ここで、 基板平面方向を x、 基板垂直方向を y として座標を(x , y )で表してある。 すなわち、 光のフィールドと してガウス分布を仮定すると、 X 方向と y 方向の各々の関数に 数分離される。
で、 基板水平方向の関数である f ( x ) ついては多重散乱 により 能であるので問題 ない。 については 、 放射 さ となる 。 したがつ て 抑えるためには、 る方法を考えれば よいこととなる。
g (y )についてガウス分布を仮定すると、
Figure imgf000078_0001
と表記でさる で wはフィ一ル 半径である フィ 一ル ド半径 wは、 主として 、 コアの大きさと屈折率とによ 制御可 能であることがよ <知られている。 そ で、 パラメ 夕 Wの制 御性が高いことを 提として、 個々の散乱点における光損失を 充分低く抑えるために必要な条件を求める o
図 3 2 Bに 「ピクセル」 として示した高屈折率部が分断され て配置された A口を想定すると r 屈折率部相互間に高屈折率 部のギヤップが生じる 。 このギャップの存在によ り ガウス分 布を有する光のフィ ルドが導波路外に放射されるものとする この場合 、 光フィ ―ルドの形状のガゥス分布は維持されるもの の、 フィールド半径が変化するとと にその波面に湾曲を生じ る。 この状態のフィールド分布を形式:的に g (y ζ )と表す。 こ こ で、 z は放射部分の距離の平均値として与えられるパラメ一夕 である。 .
上記ギャップ部によ り導波路外に放射された光フィールドの うち、 再び高屈折率部へと結合する量は、 次式の重なり積分で 与えられる。
V 2 4 + ( 2 8 )
Figure imgf000078_0002
こ こで、 λ は光の波長、 ηは高屈折率部の屈折率である。
こ こで、 図 3 2 Βに示した光回路の高屈折率部の高さを a と し、 フ ィ 一ル ド直径も概ね この a と同程度である と考えて w= a/ 2 と仮定する。 また、 放射部分の距離の平均値を適当な係 数 q により z = q a とすると、 ギャップひとつ当たり の、 損失の期 待値く 7?〉は、
〈〉= 1+ • ( 2 9 )
Figure imgf000078_0003
で表される。 この式 ( 2 9 ) の値は (え q/n a) で規格化できる。 本発明の光回路中を伝搬する光は概ね 1 0 0 回程度の散乱を重 ねる ことになるので、 Ι / l O O dB程度の損失を期待すると、
Figure imgf000079_0001
の条件を満足すれば個々の散乱点における光損失を充分低く抑 えることが可能となる。
幅を 3 mと 疋し 、 1、 λ = 1 . 5 5 β m、 n = l . 高屈折率部の厚み a をパラメ一夕として フィ —ル ド半径を変 させ 、 結合損失のフ ルド半径依存性 を求めた結果である フィ一ルド半径 3 L m (高屈折部分の膜 厚 a に換算して 6 程 /又 ) に相当すると ろで充分低い損失 となる結果が得られた。
(実施例 1 5 )
施例 1 3 でも説明した う に 、 光回路面内方向のピクセル サイズが光回路中を伝搬する光に及ぼす影響が大さい。 本実施 例に おいては、 ピクセルを光伝搬方向に対して傾斜させて することにより、 効率的な光制御を可能とした。
図 3 4 Aはピクセルを光伝搬方向に配置した光回路を説明す るための図 、 そして図 3 4 Bはピクセルを光伝搬方向に対して 傾斜させて配置した光回路を説明するための図である 3 4 Bのよう に、 ピクセルを光伝搬方向に対して傾斜させて配置す ることとすると、 光伝搬方向と垂直方向にピクセルサイズより も短い周期の格子面が形成され、 これによ り効率的な光の制御 が可能となる。 ここで、 傾斜角を 4 5度よ り浅く (または深く) すればよ 短い周期の格子面を形成する ことが可能であるが、 格子面を構成する反射面の中心位置の間隔が大きくなつて、 反 射面としての機能が低下する。 とく に、 本回路は数ピクセルサ ィズで屈折率が変化するので、 その程度の距離でブラッグ反射 面として機能させるためには、 4 5度程度が適当である
(実施例 1 6 )
これまで説明してきた実施形態では 、 屈折率分布を定める高 屈折率部 (または低屈折率部) のピクセルを仮想的なメソシュ で画定される格子点上に配置することとし、 かつ、 屈折率分布 をパ夕ーン化し易い大きさとなるよラに各ピクセルのサィズを 限定したため、 格子点間隔は各ピクセルサイズ以下とする と はできないこととなる 。 このため、 ピクセルに関するァジ夕ィ ジング誤差とピクセルェッジにおける伝搬光の散乱により 光 回路特性が劣化することが生じ得る さ らに 、 導波路面内 ( x y 平面内 ) における光の伝搬方向 ( X方向) と垂直な方向 ( y方 向 : 光の伝搬方向に対して横方向) での屈折率の規則的な周期 性が、 ピクセルサイズに応じて 、 空間的な遮断周波数を発生さ せるために光の制御性も制約を受けてしまう 本実施例の光回 路においては、 光の伝搬方向に対する横方向において ピクセ ルサイズの最小単位およびピクセル間隔の最小単位のみを条件 として設定することとして、 任意の位置に高屈折率部 (または 低屈折率部) のピクセルを配置する とで屈折率分布を形成す るよう にした。
図 3 5 Aは仮想的なメッシュで画定された格子点にピクセル を配置して屈折率分布を形成した光回路を説明するための図で あり、 図 3 5 Bはかかる格子点の位置とは無関係に y方向での ピクセル配置を行って屈折率分 を形成した光回路を説明する ための図である。 図 3 5 Aに示した導波路においては 、 各ピク セルは 仮想的なメッシュで画定された格子点位置に配置され ているのに対して、 図 3 5 Bに示した本実施例の導波路におい ては、 光の伝搬方向 ( X方向) には各ピクセルが仮想的なメッ シュで画定された格子点位置に配置されているものの 、 光の伝 搬方向に対して横方向 ( y方向 ) 1には、 (必ずしも) 各ピクセル が仮想的なメ ッシュで画定された格子点位置に配置されておら ず、 任 の位置に高屈折率部または低屈折率部のピクセルが配 置されている
なお 、 本実施例の場合は、 ピクセルの配置により定まる屈折 率分布を 、 取小ピクセルサイズ (格子点間隔 ) より も充分に小 さい間隔を酉己置パラメータの最小単位として計算する ととし ている そして、 ピクセル同士の間隔がこの最小単位よ り も大 きな場合は適当な境界を定めてその境界において屈折率の値が 変化するよう に各ピクセルに高屈折率部の値または低屈折率部 の値を与える一方、 ピクセル同士の間隔が最小単位よ り も小さ い場合にはその領域の範囲内で屈折率の平均を求めて高屈折率 部の値もしく は低屈折率部の値のうちの何れか近いほうを採用 することとしている。
図 3 6 Αおよび図 3 6 Bは、 各々、 図 3 5 Aおよび図 3 5 B のピクセル配置に対.応させて作製した実際の光回路 ( 1 . 3 1 mと 1 . 5 5 mの波長フィル夕) の屈折率分布を説明する ための図で、 これらの図の左側の図が回路全体像、 右側の図が 回路の一部の拡大像である。 これらの図において、 白い部分は 高屈折率部、黒い部分は低屈折率部分であり、比屈折率差は 1 .
5 %である。 また、 この光回路の回路長は 1 2 0 0 mとし、 最小パ夕一ンルール (配置パラメータの最小単位) を 3 mと した。
図 3 6 Aと図 3 6 B とを比較すると、 本実施例の光回路にお いては屈折率パターンが平滑化されていることがわかる。また、 図 3 6 Aに示した屈折率分布の光回路では 2 d Bの損失があつ たのに対して、 図 3 6 Bの屈折率分布の光回路では概ね 0 . 5 d B程度の損失改善が認められた。 この事実は、 本実施例の光 回路のように屈折率分布を滑らかとすることにより、 図 3 6 A のような屈折率分布を有する光回路では制御不可能であった強 い散舌しに <=ΰ 損失が低減され、 伝搬光の制御性が改善されたこ とによる効果であ -0 具体的には 、 図 3 6 Aに示したような光 回路では、 例えばピクセルの構造が波面の進行方向に対して概 ね垂直な辺を有する四角形のピクセル構造である 7こめに、 ちょ う どナイフエッシによ り光が回折されるよう に、 激しい干渉が 生じて光回路の設 度が低下することに加え、 大さな波数を 有する光が発生して、 小さな屈折率差の屈折率分布では光制御 しきれなくなる 4 に対して 本実施例の光回路のよ Ό に 滑らかな屈折率分布を有する光回路とすることによ Ό 光回路 内での激しい干渉ゃ大きな波数の光の発生を抑制する とが可 能となることによる効果である
(実施例 1 7 )
実施例 1 4の光回路においては 図 3 2 A、 図 3 2 Bおよび 図 3 3 を用いて説明したように 同屈折率部から低屈折率部へ 向かう光放射を抑制するために高屈折率層の厚み a を厚ぐ した が 低屈折率部が長く連続 9 る場 (すなわちギヤップ間 1¾が 長い場合)には原理的に大きな損失が発生してしまう。そこで、 本実施例の光回路においては、 基板に対して垂直方向での光閉 じ込めを低屈折率部においても可能なら しめて、 ギャップ間隔 が長い場合でも低損失となる光回路の構造を提供する。
Cは本実施例の光回路の作製手順を説明するため の図で、 まず、 通常の光導波路の作製と同様に、 例えば S i 基 板上にコァ下部となるクラッ ド部分(低屈折率部分)を堆積し、 の低屈折率部分の上にコアに相当する第 1 の高屈折率層を堆 積する (図 3 7 A )。 こ こで、 低屈折率部分の屈折率を n とした とさ 、 第 1 の高屈折率層の屈折率は n ( 1 + Δ 2 ) である。 次に、 第 1 の高屈折率層の一部をエッチングによりパターン ングする (図 3 7 B ) このときのパターンは、 光回路の高屈 折率部分と低屈折率部分に対応するパ夕一ンであ り、 第 1 の高 屈折 m率層がェツチングによ Ό残される部分が光回路の咼屈折率 部分となる。 なお、 第 1 の高屈折率層が導波路パタ ンを有す るように残り存させれば その残存部分に導波構 を形成する とも可能である。 このパ夕 ン ング工程においては ェッチ ングで除去される第 1 の高屈折率層直下にある低屈折率部分の で施し、 当該箇所の低屈折率部分が所望の厚みと なるよう に後 "5—る適当な髙さでェッチングを停止する o
さ らに、 定膜厚の第 2 の高屈折率層を堆積し 必要に応じ てこの第 2の高屈折率層にパ夕 ン二ングを施し 第 2 の高屈 折率層を用いて導波路形成などを実行してもよい (図 3 7 C )。 第 2 の高屈折率層の屈折率は n ( 1 + Δ ! ) であ り、 第 1 の高 屈折率層の屈折率 n ( 1 + Δ 2 ) に比較して、 n ( 1 + Δ 2 ) > n ( 1 + Δ! ) (すなわち、 Δ 2 > Δ ェ) の関係がある。 最後に、 図示しない上部クラッ ドを堆積して、 第 1 および第 2 の高屈折 率層を埋め込む。
のようにして得られる光回路は 後述するパラメ一夕調整 により、 損失が低く、 かつ 低屈折率部分を多く含む光回路で も損失増大のない光回路構造とする とが可能である。 以下で は、 これらの高屈折率層の比屈折率差を用いて、 第 1 の高屈折 率層を 「高屈折率層 Δ 2」 第 2 の高屈折率層を 「高屈折率層 Δ
1 J と表記する。 以下、 パラメ —夕の 夂疋 法に いて説明す る。
既に実施例 1 4で説明したように、 光回路においてはピクセ ルの各界面に けるフィールド形状が同じであれば損失なく光 を伝搬させる とができる 以下でも、 基板に対して垂直方向 の光のフィールドヽ分布のみに着目 して説明する
図 3 8 に示すよう に、 高屈折率層 Δ 2をエッチング除去した 領域を 「低屈折率領域」、 高屈折率層 Δ 2をエッチング除去せず に残存させた領域を 「高屈折率領域」 と呼ぶとすると、 高屈折 率領域においては、 高屈折率層△ェ と高屈折率層 Δ 2との和に相 当する 「導波路コア」 に相当する部分の厚みが、 低屈折率領域 に比較して厚くなつている。 導波路中を伝搬する光フィールド は、 導波路全体に分布して伝搬するほうが運動エネルギを低く 抑えられる。 従って、 上述の高屈折率領域は、 光フィールドの 分布を導波路全体に広げて運動エネルギを低くする作用がある。 一方、 光フィール ドの位置エネルギに着目すると、 高屈折率層 Δ 2と高屈折率層 ェとでは、 高屈折率層 Δ 2の屈折率のほうが 高いために、 光フィールドは高屈折率層 Δ 2に集中するほうが 位置エネルギは低くなるため、 できるだけ高屈折率層△ 2に集 中しょう とする傾向がある。 このよう に、 光フィールドを導波 路全体に広く分布させる作用と導波路の一部に集中させよう と する作用とが競合する ことになる。 さ らに、 高屈折率層△ 2に 集中させよう とする作用は、 光フィールドの中心位置を基板側 にシフ トさせるように働く。 このような光フィールドのェネル ギ最小化に起因する性質を利用して、 高屈折率領域中での光フ ィ一ルドが、 低屈折率領域中での光フィールドと同じフィ一ル ド半径でかつ中心位置が同じになるよう に、 パラメ一夕を調整 すればよい。
図 3 9 は本実施例におけるパラメータ調整のための計算例を 説明するための図で、 この場合のパラメータは、 図 3 9 に示し たように、 既に説明した η 、 Δ および△ 2の他に、 高屈折率層 △ iの膜厚 高屈折率層 Δ 2の膜厚 W 2、 高屈折率層 Δ 2の層 上面から低屈折率領域のフィ一ル ド中心位置までの距離 X c 、 フィ ール ド半径 w、 光の波長 λ (すなわち、 波数 k Q = 2 7r Z λ ) である。 通常は、 屈折率 η と波長 λ は回路設計時には決ま つているので、残りの 6個のパラメ一夕を決定することになる。 ここでは、これらのパラメ一夕を変分法を用いて求める。また、 便宜のため、 添字 f i l l および g ap を用い、 高屈折率領域におけ る波動関数を u fm、 低屈折率領域における波動関数を u gap、 な どと表記する。
高屈折率領域における波動関数 u fillは、 次式 ( 3 1 ) で与え られ、
( 3 1 )
Figure imgf000085_0001
また、 高屈折率領域における波動関数 u fillは、 次式 ( 3 2 ) で 与えられる。
- (x) 丁" -2た。2"2 (-W2l2<{x-xc)<W 2) . · · ( 3 οヽ sapK } 1 0 (それ以外)
波動方程式を近軸光線近似して得られるフレネル方程式
H; = +«/ (χ) (]· = fiU, gap) ( 3 3 )
Figure imgf000085_0002
について、 フィ ールド半径 wおよび髙屈折率層 Δ 2の層上面か ら低屈折率領域のフィールド中心位置 (セン夕一位置) までの 距離 x eを決める変分方程式を以下のよう に立てて演算を進め ると、 最終的には、 次式 ( 3 7 ) のよう に 3つの方程式が導出 される。
Figure imgf000085_0003
Rfiiiョ fg(x—xc)HfiUg(x—xc dx
Figure imgf000085_0004
( 3 6 ) dw
¾ - = 0 · · - ( 3 7 )
dW
dR fiu― o
dxc
この結果は丁度、 フィールド半径 wが同じで、 適当なセン夕 一位置 X cがあるという条件式に相当する。 従って、 結果的に は、 残り 3つのパラメ一夕を与える ことによ り光フィールドの 系が決定されることとなる。
図 4 0 は、 本実施例の光回路である 1.31/1.55 z mWDM回路の 特性 (透過損失の波長依存性) を説明するための図である。 な お、 こ こでは、 A i ^ l . 5 %、 Δ 2 = 2 %、 W! = 5 . b m と設定してある。 また、 低屈折率領域が全回路面積に占める割 合を約 5 0 %とし、 回路長は 1 2 0 O mとした。 比較的多く の高屈折率領域と低屈折率領域との界面、 および、 連続した低 屈折率領域が含まれている光回路であるが、 図 4 0 にあるよう に、 約 2 d B という良好な透過損失が得られた。
(実施例 1 8 )
本発明の光回路を製造するに際しては、 従来から一般的に用 いられてきている通常のプロセスによることのほか、 近年開発 された手法であるところの、 光照射によって屈折率や構造を変 化させる手法を光回路製造プロセスの一部に採用する ことも可 能である。 本実施例では、 このような光照射を用いた光回路作 製の幾つかの実施例について説明する。 本実施例によれば、 通 常用いられているプロセスと比較して、 製造工程数を大幅に低 減する事ができることのほか、 所望の構造を容易に作製できる という効果が得られる。
(実施例 1 8 — 1 )
図 4 1 Aおよび図 4 1 Bは、 本実施例の第 1 の形態の光回路 の製造方法を説明するための図で、 まず、 シリ コ ン基 2 1上 に 、 火炎堆積法 ( F H D法) によ り、 下部クラッ ド層 2 2 、 n ァ層 2 3 、 上部クラッ ド層 2 4 を順次形成した (図 4 1 A ) o 下部クラッ ド層 2 2および上部クラッ ド層 2 4 としては 、 石英 ガラス ( S i 0 2 ) をべ一スとする母材料に Bや Pなどの酸化 物を ドーピングさせた材料を用いている。コア層 2 3 としては、
Bや Pなどの酸化物の不純物に加え、 G e の酸化物を ド一ピン グした材料を用いている。 このような材料選択によ り 、 下部ク ラッ ド層 2 2および上部ク ラッ ド層 2 4より もコア層 2 4の方 が高い屈折率をもつよう に設定してある。 また、 下部クラッ ド、 層 2 2 の厚さを 2 0 m、 コア層 2 3 の厚さを Ί H m 、 上部ク ラッ ド層 2 4の厚さを 1 0 mとした。 なお 、 上部ク ラ V ド層
2 4は U V光を照射したときの回折広がり を抑えるために 、 通 常の光回路の構造に比較して若干薄い厚みとなるよう に設計し た o
次に、 上部クラッ ド層 2 4の上に 、 図 4 1 Bに示すような光 照射用の遮光膜としてのシ ン薄膜 2 5 を形成した後、 感光 性レジス トでパ夕一ンを形成し 、 ドライエツチングプロセスに より シリ コン膜を部分的に除去することでパタ ―ン形成を実行 した (図 4 1 B ) o なお、 感光性レジス 卜はシ コンパ夕一ン 形成後に除去されている。 また 、 の遮光マスクパターンの形 成に際し 乙は 、 所望の回路特性を得るために必要とされる屈折 率パターンが最終的に得られるよ Ό に、 プロセス依存性や照射 光の広がり を考慮して、 かかるプ Πセス依存性等を考慮せずに 得られるコア形状の設計値に若干の補正が加えられている。
次に、 光感受性を向上させるため 、 高圧水素雰囲気中でサン プル中への水素拡散を実行した o 具体的には 、 密閉容器中にサ ンプルを設置し、 室温にて 1 5 0気圧の水素雰囲気中に一週間 放置した。 この水素拡散に続いて、 A r Fエキシマレーザを用いて波長 1 9 3 n mの U V光を照射することにより、 照射前の屈折率よ り も大きな屈折率を有するよう にコア層 2 3部分の屈折率を変 化させた。 図 4 1 B中に斜線で示した領域 ( 2 3 ' ) がレーザ 照射によ り屈折率変化を生じた領域である。 このときの照射パ ヮ一は 1 2 0 m J、 照射時間は 1 0分である。 光照射後に遮光膜 をエッチングによ り除去した後に、 熱処理を施し、 サンプル中 に拡散させた水素を除去するとともに、 光照射により生じたガ ラスの不安定状態を解消することにより屈折率の安定化を図つ た。
このようなプ Πセスに り 、 遮光マスク 2 5が形成されなか た領域のコア層の屈折率を選択的に変化させ 、 光マスク 2
5 を形成した領域のコア層の屈折率とは異なる屈折率とするこ とがでさる しのような屈折率変化の程度は、 U ファ レンスと して設定した広い照射領域の測定カ、ら 、 約 0 . 3 %程度と推定 される。
上述の製造工程によ り、 ( 1 X 4 ) の分岐回路を作製した。 回路設計から期待される特性に比較して 2 d B 程度の大きな損 失特性ではあったものの、 基本的な分岐動作が確き ¾7
口' c:れた 。 損 失特性が設計値からずれた原因は、 屈折率変化量が設計値とは 異なっていたことによるものと考えられる
なお、 上述した製造方法はあく までも一例を示したものに過 ぎない。 製造工程として、 下部クラッ ド層 2 2 、 コァ層 2 3お よび上部クラッ ド層 2 4の形成工程、 遮光マスク層 2 5 の形成 工程、 および、 光照射工程を含んでいる とが必須の要素であ るが、 これらの必須工程を含めて各工程に関しては様々な変更 を加える ことが可能であることはいうまでもない 。 例えば 、 下 部クラッ ド層 2 2 、 コア層 2 3 、 上部クラッ ド層 2 4の形成に は、 C V D法やスパッ夕法あるいはスピンコ 一 卜法などの成膜 方法を用いる ことも可能である。 また、 図 4 1 Aおよび図 4 1 Bに示した例では、 各層は単一組成の材料で構成されるものと したが、 組成の異なるガラスを複数枚重ね合わせて堆積を行つ て得られる多層構造の層を 1 つの層として取り扱う こととして も構わない。
遮光マスク層 2 5 としては、 照射する光を遮蔽する効果のあ る材料であれば、シリ コン以外の別の材料を用いても構わなレ、。 また 、 遮光用のマスクの形成方法の一例として 、 上部クラッ ド 上 2 4に形成する方法をあげたが 、 別のガラス基板上にマスク 形成を行い ゲ
、 しのガラス基板をサンプルに密着させて光照射す る とによつても同様の結果を得るしとがでさる。 さ らに、 光 感受性を向上させるための手法については、 高圧下での水素添 加方法によるしとの他に、 、)
向 sで短時間の水素処理や、 重水素 を添加するなどの手法によることも可能である よノ 、 照射光 として、 1 9 3 n mの U Vェキシマレ ザ光のほか、 K r Fェ キシマレ一ザや X e Fェキシマレ ザ等の他のレ一ザからの光 や 、 短パルスの可視光レーザ光などを用いても 、 上記と同様の 光回路構 : teを作製することがでさる
(実施例 1 8 一 2 )
図 4 2 Aおよび図 4 2 Bは、 本実施例の第 2 の形態の光回路 の製造方法を説明するための図である この実施形態は第 1 の 実施形態 (実施例 1 8 一 1 ) とほぼ同じであるので、 相違する 部分についてのみ説明を行 Ό 。 第 1 の実施形 においては、 下 部クラッ ド、層 2 2および上部クラッ 層 2 4 には G e の酸化物 を 一ピングしない ととしたので 、 光照射した際の上部クラ
V ド、層 2 4および下部クラッ ド層 2 2 における屈折率変化はな いか 、 若しく は 、 ほとんど無視でさる程度となる。 し れに対し て 、 本 施形態では 、 これらの層も ァ層 2 3 と同様に感光層 となるよ Όに、 G e ド、ープされたガラス組成で上部クラッ ド層 2 4および下部クラッ ド層 2 2 を形成することとし、 光照射に よる屈折率変化が誘起される こととしている
第 1 の実施形態と同様に、下部クラッ ド層 2 2 コァ層 2 3 上部クラッ ド層 2 4を順次形成し (図 4 2 A ) 上部クラッ ド 層 2 4の上に光照射用の遮光膜としてのシリ nン薄膜 2 5 を形 成してパターン形成する (図 4 2 B ) 。 遮光マスク 2 5でマス キングされていない領域が光照射されると、 ァ層 2 3 のみな らず上部クラッ ド層 2 4および下部クラッ ド層 2 2 も感光し、
G e ド一プ量に応じた屈折率変化が生じる。 図 4 2 B中に斜線 で示した領域 ( 2 3 ' ) がレ一ザ照射によ り屈折率変化を生じ た領域である。 上述の製造工程によ り、 ( 1 X 4 ) の分岐回路 を作製した結果、 第 1 の実施形態の分岐回路よ Ό も優れた損失 特性が得られることが確認された。
すなわち、 コア層 2 3およびクラッ ド層 ( 2 2 ¾よび 2 4 ) の双方が感光層となるように組成選択することにより 、 光照射 により形成された高屈折率領域と低屈折率領域と ける光伝 播方向でのフィールド分布の差分が少なくな 素子の損失特 性を改善することができる。
(実施例 1 8 — 3 )
図 4 3 A Dは、 本実施例の第 3 の形態の光回路の製造方法 を説明するための図である。 この実施形態は第 1 お び第 2 の 実施形態 (実施例 1 8 — 1 および実施例 1 8 ― 2 ) を併用する ものに相当している。 従って、 以下では、 これらの実施形態に 追加される工程部分についてのみ説明を行う
本実施形態においては、 位相マスクを用いた U V光照射によ り局所的な屈折率変化を生じさせ、 図 4 3 Dに示すような ( 1
X 2 ) 分岐回路を作製した。 位相マスクを用いた U V光照射方 法は、 ファイバ一グレーティ ングなどの製造において用いられ ているものであり、 グレーティ ング構造などのような 、 周期的 かつ微細な構造を比較的容易かつ正確に作製する ことができる とい 利点がある また、 複数の位相マスクを用いることによ
Ό ある程度の複雑な構造であつても比較的容易に製造が可能 である 。しカゝし、本発明の光回路のように構造が複雑であると 位相マスクを用いた U V光照射のみによつて所望の屈折率分布 を完全に実現する とは困難となるため 、 第 1 および第 2 の実 施形 で説明した製造方法などと併用して用いる ことが必要と なるのでめる
第 1 の実施形 と同様に、下部クラッ ド層 2 2 ァ層 2 3 上部クラッ ドヽ層 2 4 を順次形成し (図 4 3 A ) 上部クラッ ド、 層 2 4の上に光照射用のパ夕一ン化された遮光マスク 2 5 を形 成して U V光照射を実行した (図 4 3 B ) 。 図 4 3 B中に斜線 で示した領域 ( 2 3 一 ) が U V光照射により屈折率亦化を生じ た領域である。 遮光マスク 2 5 を除去した後に、 図 4 3 Dに示 すように 、 出力ポー 卜近傍の一部領域に 、 ダレ ティ ングフィ ル夕の形成を行う。 具体的には、 グレーティ ングフィル夕を形 成したい領域(図 4 3 D中の 2 7 に相当)の出力ポ ― 卜近傍に、 図 4 3 Cに示すようにパターン化された位相マスク 2 6 を形成 の位相マスク 2 6 を介して U V照射を実行して 層 2
3 内の所望領域 2 3 ' ' を感光させてグレーティ ングフィル夕 とする この工程の後に、 実施例 7 _ 1 と同様の工程によ り熱 処理を行い、サンプル中に拡散させた水素を除去するとともに、 光照射により生じたガラスの不安定状態を解消して屈折率の安 定化を図つ /こ
グレ ―ティ ングを追加形成した出力ポ一卜 (図 4 3 Dの 2 7 で示す領域の出力ポー ト) においては、 そのフィル夕動作によ り、 透過波長特性が変化することが確認された なお 、 本実施 例では 実施例 1 8 — 1 の製造工程途中に、 図 4 3 Cに相当す る U V光照射工程を割り込ませて製造の簡略化を図つているが、 実施例 7 — 1 の工程を全て完了した後に、 上記図 4 3 Cに相 する U V光照射工程を実施するよう にしてもよい。
(実施例 1 8 — 4 )
図 4 4 Aおよび図 4 4 Bは、 本実施例の第 4の形態の光回路 の製造方法を説明するための図で、 この実施形態においても、 実施例 1 8 — 1 と同様に、 シリ コン基板 2 1 上に、 下部ク ラッ ド層 2 2 、 コア層 2 3 、 および、 上部クラッ ド層 2 4 を、 火炎 堆積法 ( F H D法) により順次形成した (図 4 4 A
これに続いて、 上記各層を形成したウェハを、 図示しない X Y Z方向 3軸の可動ステージ上に固定し、 レンズ 2 9 によ り レ 一ザ光 2 8 をコア近傍に集光させて光照射を行い、 照射点付近 の屈折率を変化させた (図 4 4 B ) 。 図 4 4 B中に斜線で示し た領域 ( 2 3 ' ) がレーザ照射によ り屈折率変化を生じた領域 である。 この図に示したように、 屈折率変化した領域の大きさ は一定ではなく 、 所望の屈折率分布が実現されるように、 個々 の領域の大きさを決定する ことができる。
これらの領域の横方向 ( XY方向) の広がりは、 レーザ光照 射中のステージの X Y平面内での駆動量やレーザパヮ一量によ り決定される。 一方、 縦方向 ( Z方向) の広がり (厚み) は、 レーザパワー量の制御とステージの Z方向での駆動量によって レーザ光 2 8 の集光状態を制御する ことによ り決定され、 コア 層 2 3 と同じ厚みを有するよう にしたり、 コア層 2 3 より も薄 い或いは厚い厚みとすることが可能である。 また、 照射領域の 屈折率変化量は、 主としてレーザパワー量の制御により行われ る。 なお、 この実施形態では、 レーザ光として 7 7 5 n mの波 長のフェム ト秒パルスレーザを用い、 パルス幅は 1 5 0 f s で ある。 このよう にして ( 1 X 4 ) の分岐回路を製造し、 基本的 な分岐動作を確認した。
上述した手法によ り レーザ光を集光描画して屈折率の空間的 分布を実現する場合には、 予めマスク形成などを行う必要性が ないという特徴を有しているが、 各 ドッ ト毎にレーザ光照射を 行う必要があるため、光回路の作製に時間がかかる傾向がある。 このため、 本手 を、 上述の実施例 1 8 — 1 または実施例 1 8 化行でザザ実ののクの
一 2で説明した 一括描画による屈折率分布形成方法と併用す ることが有 ある
また、 レ 光としては フェム ト秒レーザに限らず、 U V ェキシマレ 光や C Wの U Vレ—ザ光などを用いることも可 能である。 場 も、 実施例 1 8 — 1 で説明した う に、 大 さな屈折率 を 1 るために 、 水素添加などを用いて U V光に 対する増感を ととすることが効果的である
さ らに、 本 施例では、 下部クラッ ド層 2 2 ηァ層 2 3 あよび、 上部 ラ V ド層 2 4の 3層構造とされているが、 本手 法はレーザ光 集光点付近の屈折率変化を利用しているので、 バルクガラス よ Όな単一組成の材料に適用する とも可能で める
(実施例 1 8 - 5 )
上記実施例 1 8 一 1 および 1 8 — 2で説明した手法によ り光 回路を作製した例を説明する。
図 4 5 A Cは 、 作製した光回路の屈折率分布の様子を説明 するための導波路断面図で 、図 4 5 Aは光照射前の屈折率分布、 図 4 5 Bは実施例 1 8 - 1 の手法により形成した屈折率分布、 そして 図 4 5 Cは実施例 1 8 _ 2 の手法により形成した屈折 率分布の様子である なあ 、 これらの図において、 屈折率分布 ピクセルサィズは 3 X 3 mであ り、 コア層の厚みは 4 . 5 H mである
図 4 5 A Cに示す何れの屈折率分布においても、 高屈折率 部分と低屈折率部分は同等の有効屈折率差 (高屈折率部分 : Δ = 1 - 5 %、 低屈折率部分 : Δ = 1 . 3 % ) を有しており、 直 接比較することが可能でめる。
図 4 6 は、 図 4 5 A Cで示した構造を有する、 1 . 3 1 H m / 1 . 5 5 ^ mの ( 1 X 2 ) 分岐回路の各々の損失特性 (透 過率 ) を説明するための図である。 なお 、 回路サイズは 1 2 0
0 a m X 1 2 0 ^ mである 。 図 4 5 Aに対応する構造 (従来構 造) の光回路の特性を破線で示し、 図 4 5 Bおよび図 4 5 Cに 対応する構造の光回路特性を、 それぞれ ( B ) および ( C ) で示してある。
の図力 ^らわかるように 、 本発明の光回路の損失特性は 、 従 来構造の光回路の損失特性に比較して、 約 1 d B程度の改善が 認められ 、 特性良好な光回路が得られている o
(実施例 1 9 )
本実施例では、 屈折率を複素屈折率として取り扱う 。 複素屈 折率の虚部は、 媒質中に ける光の利得若し < は損失を意味す 従つて、 波動伝達媒質は、 吸収または増幅効果を有するも のであるものとする。 本実施例の光回路においては、 通常材料 の複素屈折率が波長に依存して変化するとい 特徴を有効に利 用したものである。 なお 光回路構造としては 、 実施例 2で説 明した 1 . 3 1 i / 1 5 5 mの ( 1 X 2 ) 分波回路の例 を考える o
図 4 7 A〜(:は、 本実施例の光回路の構成を説明するための 概略図で 、 図 4 7 Aは回路全体の概念図であ 、 図 4 7 Bおよ び図 4 7 Cは出力側における複素屈折率分布の概念図であ り、 これらの図はそれぞれ、 1 . 3 1 m用ポ 卜 (図中 a ) お ck び 1 . 5 5 m用ポー 卜 (図中 b ) の近傍のネ复素屈折率分布の 様子 示している。
の光回路は、 通常の回路設計に加えて 1 . 3 1 11 mの出 カポ 卜近傍の複素屈折率分布を、 1 . 3 1 m帯の光に対し てはほぼ透明で、 かつ、 1 - 5 5 m帯の光に対しては大きな 損失を有するよ に X計 (図 4 7 B ) する一方、 1 . 5 5 /X m の出力ポー卜近傍の複素屈折率分布を、 1 . 5 5 m帯の光に 対してはほぼ透明で 、 かつ、 1 . 3 m帯の光に対しては大き な損失を有するよう に設計している (図 4 7 すなわち、 この光回路においては 、 出力させたい波長の信号光については 透明であ り、 かつ 、 不要な信号光は光回路内で吸収させて出力 されないように複 屈折率分布が決定されている
田な図 7 はしないが、 1 . 3 1 n mの出力ポー 卜 ( a ) と
1 . 5 5 mの出力ポ — ト ( b ) との間には、 両方の波長の光 に対して大きな損失を有するように複素屈折率分布が与えられ ており、 不要な信号光が散乱することにより生じるクロス 卜一 クを防ぐ設計とな ている。 本実施例の光回路の構成材料とし ては半導体ドープガラス系材料が選択されており、 二れによ り、 光に対して透明な材料のみで光回路を作製した場合に比較して
1 . 5 5 // mの出力ポー トに対する 1 . 3 m の信号光のク 口ス 卜一クが大き <減少した。 また、 1 . 3 1 mの出力ポー 卜に対する 1 5 5 m帯の信号光のク ロス ト ~クも若干減少 した な 、 信号光の損失の増加は殆ど認められなかった。 ま た、 実数のみの屈折率分布を与えた光回路と、 複素屈折率分布 を与えた本実施例の光回路とを比較すると、 同一の回路特性を 得るための回路長を短くすることが可能となる
なお、 本実施例では、 回路を構成するに際して半導体材料を 用いる L_ ととしたが 、 複素屈折率を与える材料であればよく、 有機材料、 金属 、 誘電体材料など様々な材料を用いることがで さる
本発明の回路に いては、 多重の回折 , 干渉現象を利用して いるため、 極めて多彩な機能を実現できるという特長を有して いるが、 実数のみの屈折率分布で充分な回路特性を実現する こ とが困難な場 生じ得る。 そのような場合に 、 本実施例のよ に、 回路の ~ -部もしく は全ての領域において、 複素屈折率分 布を与えるよ に設計することとすれば、 回路特性を改善した り 、あるいは、素子長の短い回路を作製することが可能となる。
(実施例 2 0 )
本実施例の光回路は、 これまで説明してきた光回路の高屈折 率部分と低屈折率部分として、 レリーフ状に屈折率の高い層を 加ェすることで屈折率分布を形成した回路でめる
図 4 8 A〜 Cは、 本実施例の光回路の構成を説明するための 断面図で、図 4 8 Aは本光回路を構成する基本的な構造であ り、 低屈折率層でめるクラッ ド層 ( 2 2 、 2 4 ) に挟まれた高屈折 率層である厚み 5 mのコア層 2 3 の上部の一部を 2 mの深 さ分だけ除去してレリーフ状のパ夕一ニングを施すことにより、 実効的な 「高屈折率部分」 2 3 a と 「低屈折率部分」 2 3 b と を形成することで屈折率分布を形成している □
このようなパターン形成は、 反応性イオンェッチングによ り 実行可能である 。一般に、エッチングによるパ夕ーン形成では、 その加工深さが深いほどパターン変形の度合いが大き <なって パターン形成の制御性が低下するため、 深いェッチングを施す しととすると形成可能なパターンサイズは大さく ならざるを得 ないという問題がある。 発明者らは、 本発明の光回路において はエッチングによ り形成されるパターンサイズは極めて重要な パラメ一夕で る ことを見出した。 これは、 パターンサィズに より決定される空間的屈折率分布が光の制御性に影響を与え、 ひいては光回路の特性そのものに影響を与えることになるため である。
そこで、 パ夕ーンサイズの制御性を高めてより小さいサイズ のパターンの形成を可能とするために、 以下に説明するような 方法によ り、 比較的浅いエッチング深さのレリ —フ状のパ夕一 ングを施して所望の屈折率分布を実現する こととした 。 図 4 8 Bは、 その一例を説明するための図で、 図 4 8 Aの構造では 高屈折率層であるコア層 2 3 の 方の面からのみ凹凸を形成し ているのに対して、 この図に示した構造では、 ァ層 2 3 の両 面から凹凸を形成し、 これにより、 個々の凹凸に施す Xッチン グ深さを 1 ^ mとして同等の屈折率分布を実現 'したち のである
図 4 8 Bに示した回路構造を作製するには、 先ず、 図示しな いシリ コン基板上に下部クラッ ド部分として低屈折率のガラス を堆積し、 その一部に反応性ィォンエッチングにより溝を形成 ししてて下下部部クラッ ド層 2 2 とする。 後述するように の溝の部 分が本光回路のコア層 2 3 の高屈折率部分に相当する ととな では、 高屈折率層であるコァ層 2 3 のク ラッ 層 ( 2 2 2 4 ) に対する比屈折率差△を 1 . 5 %とし、 最終的に得られ るコア層 2 3 の高屈折率部分の厚みが 5 mとなるようにき &計 しているので、 この層厚に対して十分なステツプ力バレ Vンが 得られるよう に約 1 mの溝を形成している。
下部クラッ ド層 2 2 に対する溝形成に続いて 、 下部クラッ ド 層 2 2上に高屈折率のガラスの層を堆積して高温で加熱する。 この加熱によ り、 下部クラッ ド層 2 2 の溝の両端近傍 (段差部 分) にも高屈折率ガラスが隙間なく充填され、 かつ、 高屈折率 層の表面も平坦化される。なお、この高屈折率ガラスの堆積は、 本光回路のコア層 2 3 の高屈折率部分に 相当することとなる溝 上の高屈折率ガラス層の厚みが 6 L mとなるよう に実行される こ こで、 高屈折率ガラス層の厚みを 6 mとするのは、 この 高屈折率ガラス層の上表面にエツチングによ り溝を形成して、 最終的な高屈折率部分の厚みが 5 II mのコア層 2 3 を得るため に、 エッチングによる 「とり しろ」 を 1 mとしたことによる。 高屈折率ガラス層の表面に形成する は、 図 4 8 Bに示すよ う に、 下部クラッ ド層 2 2 に設けた凹部 (凸部) が高屈折率ガ ラス層の凸部 (凹部) となるよう に、 すなわち、 コア層 2 3 の 表面と裏面に形成される低屈折率部分と高屈折率部分が互いに 対応する位置に設けられるよう に形成される。 これは、 コア層
2 3 中を伝搬する光のフィ一ルドの形状が光伝搬方向に伸びる 直線に対して対称であるため 、余分な損失を回避するためには、 コァ層 2 3 の表面と裏面に形成される低屈折率部分と高屈折率 部分も光伝搬方向に伸びる直線に対して対称であるべきである とい 発明者らの知見に づく ものである。
このようなレリ一フ状パターンのコア層 2 3 を形成した後 導波部分である Πァ層 2 3 の上部に上クラッ 層 2 4 を設け 高屈折率部分 2 3 a と低屈折率部分 2 3 b とを有する ァ層
3が上下のクラッ βに埋め込まれた構造とし 、 上述の実施
2 同様、 1 . 3 1 / 1 . 5 5 mWDM光回路とした。
従来 、 クラッ ド層とコア層の比屈折率差△が 1 . 5 %程度の光導 波路の -fa A は、 基板厚み方向に単一モー ドにするために 、 ァの膜厚を約 4 . 5 m程度の厚みとするため 、 同程度の通常 の半導体プロセスにおけるエッチング深さ約 1 mと比較して、 かなり深いェツチングが必要で微細パターンを加ェするのが困 難であつた。 これに対して、 本実施例の光回路のよろにレ フ状の構造とする ことで、 エッチングの深さを 1 11 mと浅 < し て 0 • 5 m程度の微細なパターン化が可能となつた
図 4 8 Bに示した構造を有する光回路では、 ァ層 2 3 の高 屈折率 低屈折率部分の有効屈折率差 Δ 'は 、 計算上 、 ク ラッ を形成する低屈折率ガラスとコアを形成する高屈折帛ガ ラスの比屈折率差△ (約 1 . 5 % ) の約 2 0 %程度と見積も られ、 本実施例の光回路の空間屈折率分布を形成するための有効屈折 率差 Δ ' は、 僅かに約 0 . 3 %となる。
この有効屈折率差 (約 0 . 3 % ) をもとに光回路を設計 した結果、ピクセルサイズを 3 mと設定した場合であっても、 比屈折率差 Δ 1 . 5 %で 又計した実施例 1 の光回路と比較して 僅かに 1 . 5倍程度の長さの回路長におさめることが可能であ つた。 また、 本実施例の光回路においては、 ピクセルサイズを 0 . 5 mにまで小さ < 定することが可能であ り 、 ピクセル サイズ 0 . 5 mで光回路を設計すれば横方向への大きな波数 の光フィールドを発生させることが可能となり、 実施例 1 の光 回路と比較して約半分の回路長とする とがで る
すなわち、 本実施例の光回路では、 例えば 0 3 %程 の低 い屈折率差で光伝搬領域を形成したとしても、 レリ一フ状のパ 面設し 2
ターンを有する導波路構造による 散乱を利用して比較的大 きな反射 · 散乱を発生させる とが可能となり、 ¾!率で光干 渉を生じさせ ί守る。 のため 、 光回路 大幅に小 化すること が可能である
なお、 コア 2 3 に設けるレ フの形状は、 所望する屈折 率分布に応じて自由 更が可
Figure imgf000099_0001
あ り、 例えば、 図 4 8 Cに 示すように、 コア層 2 3 の上下 で異なるパターンを有するよ う にするにして、 高屈折率部分 3 a と低屈折率部分 2 3 b に 加え、 中間屈折率部分 2 3 c を けるよう にしてもよい
既に実施例 1 6 において説明 たよ 図 3 6 Aに示した ような光回路では、 ピクセルの が波面の進行方向に対して 概ね垂直な辺を有する四角形のピクセル構造であるために、 ち よ う どナイ フェッジにより光が回折されるように、 激しい干渉 が生じて光回路の設計 度が低下する ことに加え、 大さな波数 を有する光が発生して 小さな屈折率差の屈折率分布では光制 御しきれなくなるとい 問題が生じ得るが、 コア層 2 3 に上述 のレリ一フ状パターンを施すこととすれば、 高屈折率を有する ピクセル相互間に介在する低屈折率を有するピクセルの存在に よ り、 屈折率パターンが実効的に平滑化されて、 伝搬光の激し い散乱を抑制する ことが可能となる (実施例 2 1 )
本実施例の光回路は、 屈折率の異なる膜を多層に積層させた 多層膜により クラッ ドを構成することで光閉じ込めを実現した ものである。
図 4 9 は、 本実施例の光回路の導波路部分の断面図で、 コア 層 2 3 を挟む下部クラッ ド層 2 2および上部クラッ ド層 2 4は、 何れも、 屈折率の異なる膜 ( 2 2 &〜 01ぉょび 2 4 &〜(1 ) を 多層に積層させた多層膜で構成されている。
これまで説明してきた光回路においては、 低屈折率部分のフ ィ一ルドパターンは、 通常は、 実施例 2 の光回路のよう に放射 的となり、実施例 1 7や実施例 1 9 のような回路構成としても、 原理的に損失が発生してしまう。 本実施例の光回路は、 この問 題を解消すべく、 クラッ ドを屈折率の異なる膜を多層に積層し た多層膜とすることで、 基板の上下に漏れる光を完全に抑制す る よ う に し た も の で あ る 。 なお 、 光 回路 の 設計方法は Dispersion and radiation loss characteristics of ant i resonant reflecting o tical waveguides-numerical results and analytical express ions" (T. Bab a and Y. Kokubun, Quantum Electronics, IEEE Journal of , Vol .28 No.7 , p 1689 -1700 July (1992) )に記載されているものと同様である。
屈折率が互いに異なる媒質を多層に組み込むこととすると、 全反射や無反射条件が実現可能となる。 特に、 横方向の波数が 小さい場合には、 比較的容易に全反射条件を形成することが可 能である (例えば、 T. Baba and Y. Kokubun, "Dispersion and radiation loss characteristics of ant i resonant ref lecting o tical waveguides-numerical results and analytical expressions" , Quantum Electronics, IEEE Journal of , Vol.28 No.7 , pp 1689 -1700 July (1992)参照)。
したがって、 クラッ ド層を上記多層膜で構成し、 低屈折率領 域においてコァ層 2 3 の上下側両面において全反射 (もしく は 充分に高い反射率 ) が得られるようにこれらの層を配置する とによ り、 低屈折率領域と高屈折率領域の割合が同程度とされ た光回路においても、 充分に低損失の回路を実現することが可 能と /よる。
のよ な回路構成は、 (図示しない) 基板の上下方向にのみ ブラッグ条件を満足すれば効果が得られるため、 図 4 9 に示し た構成のよう に基板上下方向のみに周期構造をもたせた多層膜 稱 とすることのほか、 フォ トニック結晶を用いて上下のクラ ッ ド |Sをネ s成することによつても同様の効果を得ることができ る。
(実施例 2 2 )
本実施例の光回路は、 1 つのピクセルを複数のサブピクセル に分割して屈折率分布を設計し、 実施例 1 4で説明した回路よ り も低損失の光回路を実現するものである o
一般に、 大雑把な近似として、 光がその波長よ Ό 小さな構 造を有する物体と相互作用する際には 、 回折'現象のために、 波 長程度の大きさの領域において平均化された屈折率を 、 実効的 な屈折率として感受する。 したが て 、 単位ピクセルを構成す る複数のサブピクセルにおいて、 高屈折率を有するサブピクセ ル数と低屈折率を有するサブピクセル数との配分の仕方によつ て、 実効的な屈折率が異なる単位ピクセルを任意に作り 出すこ とができる。
図 5 O Aおよび図 5 0 Bはそのよ なサブピクセルの例を示 す上面図であ り、 図 5 0 Cはサブピクセルにより分割されたピ クセルを用いて屈折率分布を sru s-J- 口又口 1 した光回路の 部の上面概念 図である。 単位ピクセルは 1 a m角の大きさであ 、 のピク セルを 2分割する場合 (図 5 0 A ) と 4分割する場 (図 5 0
B )について例示している。 の うなピクセル分割によつて、 ギャ ップの実効値は約 0 . 5 , m (図 5 0 Aの場合) または 0 .
2 5 H m (図 5 0 Bの場合) となり のような媒体中を伝搬 する光はギャップの存在を殆ど感受することがなくなる よ 屈折率分布を設計するに際して 計算に必要なデー夕量を例 えば 1 Z 2や 1 Z 4 とする とが可能となるため、 1万ピクセ ル X 1 万ピクセル (この士县 には、 1 C m角に相当する ) 禾王度 の大規模な回路であつても容易に形成することができることと なる
本実施例の光回路においては 、 ピクセルを複数のサブピクセ ルに分割するが、 屈折率分布の §k目十に際してはピクセル単位で 計算を実行する ことにより、 屈折率分布の計算を容易化してい
•o また、 微細パターンを実現する場口に 、 サブピクセルによ る分割状態が同じ単位ピクセルを多用して計算を行う ととす れば 、 フォ トプロセスにおける位相シフ 卜マスクなどによる回 折補正工程やプロセスによるェッチング里の補正工程における 補正条件設定などが容易化される
(実施例 2 3 )
既に実施例 1 6 において説明したように、 図 3 6 Aに示した ような光回路では、 ピクセルの構造が波面の進行方向に対して 概ね垂直な辺を有する四角形のピクセル構造であるために、 ち よ う どナイフエッジにより光が回折されるように、 激しい干渉 が生じて光回路の設計精度が低下する ことに加え、 大きな波数 を有する光が発生して、 小さな屈折率差の屈折率分布では光制 御しきれなくなるという問題がある。
この問題を解決するために、 本実施例の光回路では、 ピクセ ル形状をこれまでの矩形から変形させた形状としている。 この ようなピクセル形状の変形の態様としては、 基板に水平な方向 に変形させる場合と基板に垂直な方向に変形させる場合とがめ る。 なお、 屈折率分布を計算する際には、 実施例 1 1 と同様に、 実効的な屈折率の差を有する高低 2つの屈折率を仮定すればよ い。
徐勾 ¾クらこ 1
図 5 Aは、 基板に対して水平な方向に屈折率が変化する構 造を有する導波路の屈折率分布の概念図であり 、 図 5 1 Bは 図 5 1 A 示す屈折率分布中に平面波を伝搬させた際の反射減 衰の様子を説明するための図である なお、 図 5 1 Bの横軸は 屈折率の勾配 (伝搬定数の空間的な変化の割合) であ り、 縦軸 は伝 定数不整合による反射 である。 空間的な長さは媒 体中 の光の波長で規格化する とし 、 かつ 、 各場所の屈折 率を 屈折率 ( n = 1 . 4 5 長 1 . 5 5 mにおける石 英系 路の屈折率) で規格化して比屈折率差を求めている れ の図からわかるよう 、 屈折率の勾配を 1 よ り も小さ くする とで反射 衰量が改 される すなわち、 ピクセルの 形状を 々に変化 せればよい。 例えば 3 m角の屈折率分 布のピ セルを仮 すると、 のピクセルサイズは、 真空中の 波 が 5 5 の光に対して約 2波長程度の大きさである から 配が 1 / 程度となるよう に屈折率を変化させると 散乱 d B程度 衰させる とが可能であると予想される 図 5 2 Aは、 ピ セル形状 円形とした場合の単位ピクセル における屈折率分 の様子を 明するための概念図、 図 5 2 B は 図 5 2 Aに示 た円形ピ セルを用いて構成した回路の一 部の上面概念図、 そして、 図 は 図 5 2 Bにおける高屈 折率部と低屈折率 の配置を逆転させた場合の回路の一部の上 面概念図である。
フィ ―ルドの広がり の程度をピクセルサィズと同程度と仮定 すると、 局所的な実効屈折率は概ね円形ピクセルの断面積に比 例して変化すると考えられる。 ここでは 直径約 3 u mの円形 を、 クラッ ドと同じ屈折率とし その円形領域の周囲を高 屈折率の膜で形成している。つま り、図 5 2 Bに示した回路は 高い屈折率を有する膜からなる高屈折率部が一様に形成され、 この高屈折率部の一部領域を円形に < りぬいてその部分に低屈 折率部を設けた構成となつている れとは jy£に 、 図 5 2 Cに 示した回路は、 低い屈折率を有する膜からなる低屈折率部が一 様に形成され、 この低屈折率部の一部領域を円形にぐ りぬいて その部分に高屈折率部を設けた構成となつている
基板に対して垂直方向に屈折率が変化する回路構成の ·¾ 口 に は、 先ず、 基板にァンダークラッ ド、を堆積した後 、 屈折率がク ラッ ドより も高い膜を堆積する。 フォ 卜 レジス 卜をマスク とし て用いた反応性ィォンェッチングに てコァのパ夕一ン形成 を行う場合には、 マスクであるフ才 卜 レジス 卜の厚みを空間的 に変化させる ことによ り、 厚みの異なる膜をコァとして残すこ とができる。 例えば 、 フォ 卜レジス 卜を塗 i後、 約 1 3 0 °cに 過熱してレジス トを溶融させ、 表面張力によりパ夕一ンのエツ ジを丸め、 この状能のレジス 卜をェッチングマスクとして用い ることとすれば、 レジス 卜パ夕一ン周囲はェッチングによって 削られて、 最終的に高屈折率膜に転写されるパ夕 ―ンもパ夕一 ン外周部分が丸められたパターンとなる。
なお 、 例えば、 A Z系のフォ ト レジス 卜を用いることとすれ ば、 露光量に概ね比例する深さのレジス 卜を除去する とが可 能である。 従って、 異なるパターンを複数回に分けて露光する こととすれば、 最終的には所望の ターンを形成する とが可 能である。 この場合にも、 最終的に得られるパターンの外周部 分を滑らかにすることができる。
(実施例 2 4 )
光回路を構成するピクセルの配置は、 光回路の平面領域の分 割方法により規定する ことができる 。 換言すれば、 結晶学にお いて行うのと同様に、 単位格子を考えてその対称性に り ピク セルの配置位置を規定することができる こで、 単位格子は
1つ以上のピクセルからなるものと仮定する 。 このような取扱 いをすると、 回路全体としては結晶と同様の周期性を有するこ ととなる。 このような周期性を有する回路に空間的に横方向に 大きく広がった理想的な平面波を入射すると 、 特定の波数成分 に対して強い散乱が生じる た/ し、 しクセルの配置位置には
、 低屈折率あるいは高屈折率の媒体が適宜配置されるので、 兀 全な周期性があるというわけだはない (これらについては、 た とえば、 Char Is Ki t tel ed . I n t roduc t i on to sol id state P hys i cs 6lh" John Wily & Sons , Inc. , New York, U. S.A. (19
86)を参照) 。
この場合、 ピクセルのサイズおよび配置ならびに光の入射方 向 (あるいは出射方向) に対して回路の結晶学的な配向をどの ように 又定するかで光回路特性が異なるため、 所望の特性を得 るためには、 光の入射方向と波数とが重要となる。 そして、 上 述の特定の波数成分に対する強い散乱を利用すれば、 回路の小 型化ゃ特性改善が可能となる。
つ とも単純な単位格子は単一ピクセルからなるもので、 こ のピクセルの形状を丸形や n角形 ( nは 3以上の整数) とする ともでさる。
図 5 3 は、 このピクセル形状を蜂の巣状とした場合のピクセ ル配列の様子を説明するための図で このピクセル配列とする と比較的等方的な回折面が得られる したがって、 図中の矢印 のよう に複数の方向から光を入出力させる光回路において、 さ まざまな方向に大きな反射を発生させやすくなり回路特性が改 善される
また 図 5 3で示したのと同様に 例え同じピクセル配列構 造であってもそのピクセルの配向状 を変える とにより特性 改善が可能である。
なお、 図 5 4に示したよう に、 いわゆる 「準周期構造」 と呼 ばれる不完全周期構造も知られている の場 の回折スぺク トルはフラク夕ル形状となり、 か 比較的広い範囲にスぺク 卜ルが分布する ととなるため、 回路を構成するうえで好都 Π な散乱が得られるという利点がある
(実施例 2 5 )
従来、 複数の入出力ポートを備える光回路において 、 各ポー トから他のポー 卜に一斉に信号を配信し且つ同一のポ一卜から 信号を受信するように構成されている回路には、 光のパヮ—を 単純に合分波するだけの光合分波器が用いられて た のた め、 信号を する際に、 1 つのポ一トだけから 号が入力さ れる場合には Nポー 卜からなる回路では光が 1 Nに減衰'し てしまう というなどの問題があつた 。: このような 題が生じる 原因は、 光の位相を考慮した回路設計がなされて
Figure imgf000106_0001
ない点にあ る。 これ ί: 対して 、 本発明の波動伝達媒体を用いれば、 位相を も含めて合分配機能を実現できるため、 余分な損失を発生させ ずに光を合分配することが可能となる。
図 5 5 は、 相互一斉酉己信 . 一斉受信構成とした光回路の構成 例を説明するための図であり、 図 5 6 は、 この光回路の各ポー ト間での信号の流れを模式化した図である。 この光回路は 4つ のポ一 トを有し、 各ポー トは他の 3つのポー 卜に向けて光を出 射する一方、 他の 3つのポー 卜から独立に出力され IS号を受 信する回路構成とされている。 なお 、 このような光回路を基板 上に作製した場合には、 これらのポ — トに光ファィバを接続し 、 各ポー トを終端装置または光増幅装置などに接続して使用す 図 5 6で模式化して示した各ポー ト間での信号の流 ¾ ゝ BRH 理的な信号の流れを崩さずに変形すると図 5 7 のよ Ό になる。 この図において、 上下の互いに対向するポー トは実 fereには同一 ポー 卜であるが、 信号の流れを明確化するために、 下側を送信 ポー ト ( +) 、 上側を受信ポー ト (-) として、 機能 とに区別 して示している。 だだし、 これらは同一の回路によ り構成され る力、ら 、 あくまでも、 論理上の構成を示しているに過ぎない。
このとさ 、 通常のパワー分岐回路では、 送信側の 3分岐によ りパヮ一が 1 Z 3 となり、 受信側の合波器によりパヮ —が 1 /
3 となるため、 結局 1 Z 9 にまでパワーが低減する o すなわち
、 8 / 9 もの損失が発生するのである。 このうち、 受信側の損 失は他の 2 ポー トから位相整合した光が入力されないために発 生する損失である。 そこで、 他の 2ポー トからの光とは独立に 受信できるように分岐方法を工夫すれば損失がなくなると考え られる 0 れは以下に示すように、 各光の位相をも考慮して各 ポー 卜への分配を行う ことにより実現できる。
まず 、 各ポー トの位相を、 4つの数の組 (すなわちベク トル
) として表す。 こ こで、 振幅は 1 としている。 ただし 、 特定の ポ一 卜への光の分配がない場合は、 その成分を 0 とする。 例え ば位相が、 ポー ト 1が 0、 ポー ト 2が ττ、 ポー ト 3が兀 、 ポ一 卜 4 には光がないとすると、
- ι,-ι,ο)
というべク トルを考えることとする。 このような表現方法で考 えると、 フィール ドの重なり積分はちょ う どべク トルの内積と して計算できるから、 これを用いて所望のベク トルの組を見出 せばよい。 いま、 1つのポー トカ らそのポー ト以外の てのポートに均 等に信号を分配するものと仮定すると 、 分配 る側のポー トに 対応する成分は 0 となり、 他のポー トについ となるフィールドを考えればよい。 そして それらの位相を調 整することによ り全てのべク トルが互いに直交すれば、 他のフ ィ―ルド らの信号とは独立に各ポー 卜が光を受けることが可 能となり、 損失が分岐損失のみで光信号を受けることができる 実際、 この場合は がそのよう00,,11な,,11,, D
4, , -1, 0, 1)
み合1わ,。,せ1,-の: 1
一つである。 これにより、 従来の受 信側での原理損失をなくす とができ、 3倍の強度で光信号を 受信することがでさた。
さ らに、 図 5 8 に示す不均等分配回路の う に 、 不均等に光 を分配 (分岐) することによつて、 送信距離に伴う損失を補う とができるとと に、 適当な位相を選ぶことにより損失を少 な <することが可能となり 光アンプなどを用いない低 ス 卜 な光通信システム力 S実現できる なお、 図 5 8では、 基地局か ら 斉送受信をするととちに 、 各端末間の通信も行っている。
(実施例 2 6 )
本実施例は、 実施例 2 5 と同様の構成の光回路であるが 、 直 交状態が存在しない場合に いて出力信号の重なり を最小にす るための光回路の構成例である。 ここでは 3ポ — 卜の光回路 の場合を考える。 の場合 ポー 卜は 3つしかないので 直交 状 g を実現することはできない。 し力 ^し 下 に示すよ に、 でさるだけ直交状 に近い状態を選ぶことで損失の少ない構成 を実現することができる。
実施例 2 5 と同様に、 ポー トの出力を
-(-1,2, 2), -(2-1,2), -{2, 2,-1),
3 3 3 ノ
とする。 こ こで、 自分自身にも出力があるが、 これは反射戻り 光として取り扱う ことができる。
これによ り、必要なポー トでは 4/9 = 3.5dBの光を得ることがで さる α これは従来の 3 d B力ブラを 2つ組み合わせる場合に比 て 2. 5dB低い損失である。
図 5 9は、 このような不均等分配回路の応用概念図である の図に示すよう に、 3ポ ト光回路を縦列配置することによ
Ό夕ップ回路が実現できる こ こでは 、 光回路を構成する無機 ガラス材料に E r元素を ドゝ一プして 1. 5 m波長帯での増 B機 能をもたせてある。 回路の損失は従来よ り も十分低いから 、 僅 かな消費電力かつ短距離で増幅可能であるため、 小型で低消費 電力のタップ回路が構成可能である 図中にはそれを損失補償 型回路として示した。
(実施例 2 7 )
導波路回折格子においては 、 図 6 0 Aおよび図 6 0 Bに示す ように 、 入射側スラブにおける入射導波路位置を固定した場合
、 波長の変化に応じて出力位置が方向 Aにずれる (図 6 0 A ) また 、 同じ波長の信号光に対して 、 入射導波路の位置 Bをず らすと 、 出力位置が方向 Cにずれる (図 6 0 B ) 。 このような 性質を利用して、 波長に応じて入射導波路側のフィ一ルドの中 心 を方向 Bにずらすと 、 方向 Aへの動きと方向 Cへの動き が打ち消しあって、 フィ ル ドが動かなくなる。
入射導波路側のフィ 一ル の中心位置を入射導波路側のフィ 一ル ドの中心位置が動かない場合の出力ポー 卜間の波長間隔で 周期的変化させると、 図 6 1 に示すよう に、 プラ トーが形成さ れる 。 このブラ 一部分に出射ポー トの光導波路が配置されれ ば 、 矩形上の波長フィル夕特性が得られる
しれを実現するために、 入射導波路部分に方向性結合器を配 置し 、 その前段に分岐遅延回路を配置した のが提案されてい る このとさ、 フィ一ルドの中心位置が振れる振れ幅はフィ一 ルド、径程度必要とされるために、 方向性結合 のコア幅を小さ
<することはでさない。 このため、 フィ一ルド、の形状が必要な スポッ 卜径より ち広い構造となってフィール 形状が歪むこと となる れは 、 その共役像である出射側の光出力像を歪ませ る とになり、 东ロ果として光結合が劣化するという問題がある そこで、 本実施例においては、 本発明の波動伝達媒体を用い て、 複数の入射ポー トからの光を、 それぞれ、 整形して出力し 且つそれらの波を重ねあわせることによ り、 良好な入射フィー ルド形状を得るとともに、 その入射ポー ト間の位相を調整する ことで、 フィールドの中心位置を調整する こととした。 なお、 本実施例では、 入射ポ一卜を 2本とした。
こ こで、 座標を Xで表して、 入射ポー トの像を、 それぞれ f 0 ( X ) 、 f , ( χ ) として、 ポー ト間の位相差を φ と表す。 こ のとき、 その重ね合わせ像 f ( x 、 φ )は、
f (ぶ; Φ) = fo W + h (χ)βίφ = /0 (χ) + Λ (χ) + ΐφ 1 (χ) + . ..
• · · ( 3 8 ) となる。 所望のフィールド形状が、 位相差 Φの関数 X e ( Φ )を 中心位置、 0 ( )を位相として、 関数
Figure imgf000110_0001
) で与えられているとする。 こ こで、 簡単のため x c ( 0 ) = 0 Θ ( 0 ) = 0 とした。 このとき、 φについて 1次の係数を比 較すると
,ヽ dF . , dxc 3 n、 . . . ( 4 0 )
dx ϋφ αφ となる。 これは関数 g ( X ) h ( x ) が満たさなくてはなら ない式である。 φは後に示すように、 波長差に対応する量であ ることから、
Figure imgf000111_0001
は中心位置の動くべき速さに対応するので設計条件で決まる である。
f Q ( X ) f ! ( X ) の直交条件と規格化条件から、 f0(x) = (l-s)F(x)-i^S-s2G(x)
j (x) = sF(x) + i- 's -s2G(x) となる。 ここで、 Gは
dF/dx
を規格化した関数であり、 s は 1 を越えない量で、
Figure imgf000111_0002
で決められる量である。 なお、
はノルムの平方根である。 本発明で用いる波動伝達媒体は、 直父.するフィールド、であれ ば 、 それぞれのフィ ルド形状を位相を含めて任意に P又定でき るので、 このよ な波動伝達媒体を用いてこれらの出力フィ― ルドを各入力ポ 卜に対して設定する とができる。 いま 段の位相差を図 6 2 (ァレイ導波路格子を除く入射部のみを図 示してある) に示すよ に、 導波路回路の遅延で与え 遅延回 路の波長に対する出力の繰り返し周期と出力側導波路間の出力 波長間隔を同一にすると、 出力ポー h間の導波路の間 Dを用 いて、
^(0) =— . . . ( 4 3 )
θφ 7 となる関係式が得られ、 所望のフィ ―ルド F を決めさえすれば 全てのパラメ一夕が決まることになる o
たとえば、 Fとしてガウス関数を仮定し、 フィールドヽ半径を wとすると、
Figure imgf000112_0001
である。
図 6 3は、 フィールド形状としてガウス関数を仮定した場合 の、 中心位置の移動の様子を示す例である。 フィ一ルド、の動き が分かるよう にアレイ導波路格子に入る前の部分のフィールド 形状を近視野像で観察したものである 。 図 6 2 に示した遅延回 路を含んだ構成であり、 約 1 0 n m間隔で周期的にフィールド の中心位置が周期的変化していることが分かる。 7こだし 移 領域では近似からずれて、 2 ピークになっているが の部分 は 1つの出力ポー トから隣の出力ポ 卜への遷移領域にあたる ため結合には関係ない。 遅延回路部分は導波路の長さで自由に 設定可能であ り、 かつ 2分岐回路の分岐比率も自由に設定でき ることから、 アレイ導波路格子にあわせて上記の方法で調整す れば、 平坦な波長分波特性が得られる。
以上の実施形態においては、 入力側導波路を 2本の入力導波 路としたが、 よ り精度を向上するためには、 入力側導波路の本 数を増やせばよい。 そのための一般論を以下に示す。
7? をパラメ一夕とする所望の関数 F ( X ; 7? ) について、 1 次までの近似は上記と同様の方法で得られ、 2次まで展開する と、
±< (χ;η) = Ρΐχ;0) + η ( ) ト.
1次までの近似と同じ形 ( 4 4 ) となる。 したがって、
( 4 5 ) を変形して、
Figure imgf000113_0001
とおけば、 を上記実施形態と同様にして適当な形で決める ことができる。 ここで、 上記の実施形態の場合には簡単のため φ をパラメータ としたが、 ここでは明確な形とするため、 所望のフィールドの パラメ一夕 で条件式を記述している。 また、 は に直交したフィ 一ルドになるようにする o よ つ の導波 路に付加すベき位相項は
+ ^2 ^))]
とな 。
以上のよ Ό に、 所望の関数をテイ ラー展開して、 刖の次数の 項にまとめて 、 見かけ上、 1 つ次数の低い項の係数に ラメ 夕依存性をもたせ、 その項について、 1次の近似を施す とで 順次近似を上げることが可能である。 また、 パラメ 夕が複 数ある場合も同様に一つのパラメ一夕にあうように sn,
Θ又定して そのあとで 上記の方法で、 も う 1 つのパラメ一夕に いて口又 定する手順で順次近似させればよい。
(実施例 2 8 )
一般に石英系光導波路と半導体光導波路においては 、 フィ ルド径が異なる ことから、 光ファィバと光半導体レーザなどで はレンズを介して光 合損失を低減する。 しかしながら、 レン ズを用いるためには 光導波路構造とレンズの間を十分にとる 必要があるため、 小型集や 化には適さない。 そこで、 光導波路 と光半導体素子とを w
レノスを介さずに光結合する方法が試みら れているが、 図 6 4 Aにある に、 光導波路は回路内部にお いて概ね平面波的な等位相面を有しているため、 開口部からの 放射では光が回折して光結 Pに損失が生じることになる。 さ ら に、 一般にはフィ ールド径の理いがあると光結合損失を生じる ため、 たとえば石英系光導波路と半導体光導波路の光 ロ f¾ ( おいては石英系光導波路のフィ ルド径を小さくする必要があ る。
本実施例は、 本発明の波動伝達媒体を用いて上記の波面の制 御とフィールド形状の制御を同時に行う ことで光結合を改善す るものである。 本発明の波動伝達媒体は光の多重散乱を用いる ため、 光導波路と異なり、 通常放射光となる高い横方向の波数 をもつ光を制御できるために、 フィ一ルド径を導波路構造によ り絞り込める値よ り も小さくすることが可能である。 さ らに、 本発明の波動伝達媒体はフィ ールドの位相分布を制御できるこ とから、 図 6 4 Bに示すよう に、 等位相面を凹状すればよい。 図 6 5 は、 比屈折率差 1 . 5 %の石英系の平面光波回路技術で作 製した波動伝達媒体によ りスポッ ト径を基板水平方向のみ整形 したものの近視野像の基板面に垂直な方向の断面である。 波動 伝達媒体は出射端から約 5 m先にビームウェス トを形成する よう に設計したもので、 近視野像においても出射端から約 5 mに最小のフィールド径が実現された。 参照は光導波路による フィール ドで波動伝達媒体の縦方向のフィールドの広がり と一 致しているのが分かる。 それに対して基板水平方向のフィ一ル ドは約 3 mのフ ィールド直径であ り、 光導波路構造より も小 さなフィールド径が実現できた。 これによ り、 従来、 半導体レ 一ザ一との結合'損失が約 8 d Bであったものが、 4 d Bまで改 善する ことができた。
(実施例 2 9 )
以下に説明するアレイ導波路型光合分波回路は、 その入力導 波路と第 1 のスラブ導波路との接続領域に空間的屈折率分布に 基づく散乱点を配置することにより、 上述の原理に基づいて、 伝搬光の位相と強度とを同時に制御するようにしているが、 こ れによ り得られる主な利点は以下のとおりである。
図 6 6 は、 図 2 Aに示した従来構成の回路に設けられている パラボラ導波路 1 0 6 内のダブルピークの光フィールド分布を 説明するための図である。 図 2 Aに示した従来構成の回路に設 けられているパラボラ導波路 1 0 6 内のダブルピークのフィー ルド分布は、 0次モー ドと 2次モー ドの重畳によって生じ、 フ ィールド分布 Φ ( X )は次式によって表現できる。
Φ(χ) = α0φ0 (x) exp(-;^0z) + α2φ2 (χ) &χρ(-]β2ζ) . . . , Λ ァ)
= exp(- 0z){fl0(j9。( ) + α2φ2 (χ) &χτρ(-ϊδβζ)}
δβ = β2 - β0
であり、 は m次モ一 ドのフィールド分布、 iS n^i m次モー ドの伝搬定数、 a mは m次モー ドの展開係数である。 すなわち、 波長分散の要 因である位相分布は、 パラボラ導波路内に誘起された 0次モ一 ドと 2次モー ドの位相差に起因する。
これに対して、 本発明のアレイ導波路格子型光合分波回路に おいては、 導波モードではなく、 複数の散乱点が位相と強度と を局所的に制御するため、 より高い自由度で出射光の強度分布 と位相分布を指定する ことが可能となる。 したがって、 入力導 波路内の散乱点を最適に配置 (すなわち、 空間的屈折率分布を 最適化) する ことによ り、 出射フィールド分布の形状を位相歪 のないダブルピークとする ことができ、 低分散のアレイ導波路 格子型光合分波回路を実現することが可能となる。 なお、 本発 明の導波路構造は、 小型化および所望の帯域設計をも可能とす る。
以下に、 実施例によ り本発明の低分散アレイ導波路格子型光 合分波回路についての具体的な説明を行う。 なお、 以下の実施 形態においては、 基板にはシリ コン基板を用い、 その上に石英 に添加物を加えて屈折率を調整した膜を堆積し、 半導体作製ェ 程で用レ られる微細加工技術によ Ό、 光回路をパターン化する ものである 。 したがって、 光回路パ夕 —ンは 2次元的であり、 基板に対して水平方向に光回路としての機能を発現するように パターン形成される。
図 6 7 A 〜 Eは、 本発明の低分散ァレイ導波路格子型光合分 波回路の製造プロセスを説明するための図である。 先ず、 シリ ン基板 6 0 1 上に、 火炎堆積法によ り、 S i O 2を主体にし た下部クラ ッ ドガラススー ト 6 0 2 、 および、 S i 0 2に G e 。を添加したコアガラスス一 ト を堆積する (図 その後、 1 0 0 0 以上の咼温で熱処理を行い、 下部クフッ ド ガラスス一 6 0 2および ァガラ f) · スス 卜 6 0 3 のガラス透 明化を実行する。 このガラス透明化熱処理により 、 下部クラッ ドガラスス一卜 6 0 2 は概ね 3 0 n mの厚みの下部クラッ ドガ ラス層 6 0 4 となり、 コァガラスス一卜 6 0 3 は概ね 7 mの 厚みのコアガラス 6 0 5 となる (図 6 7 B )。
なお、 図 6 7 Aにおいて堆積される下部ク ラッ ガラススー 卜 6 0 2お びコアガラスス — 卜 6 0 3 の厚みは 、 図 6 7 Bに 示したガラス透明化熱処理により両層の厚みが上記厚みとなる ように決定されている
このガラス透明化熱処理に c 、 3ァガラス 6 0 5 の上にェ ツチングマスク 6 0 6 をフォ 卜 U ソグラフィ技術を用いて形成 し (図 6 7 C )、 さ らに 、 反応性ィォン Xッチングにより コアガ ラス 6 0 5 にパ夕一二ングを施す (図 6 7 D )。
パ夕一二ングされたコァガラス 6 0 5上に残存しているエツ チングマスク 6 0 6 を除去し 上部クラッ ドガラス 6 0 7 を火炎堆積法により形成し 、 コアガラス 6 0 5 を 、 上部クラッ ドガラス 6 0 7 と下部クラッ ドガラス 6 0 4 との間に埋め込む
(図 6 7 E ) なお、 上部クラッ ドガラス 6 0 7 のガラス転移温 度を低くするために、 この上部クラッ ド、ガラス 6 0 7 には、 ボ ロン ( B ) やリ ン ( P ) などの ドーパン トが添加されている。 ガラス転移温度を低くすることにより、 パターニングされたコ ァガラス 6 0 5相互間の狭い隙間にも上部グラッ ドガラス 6 0 7が満遍なく入り込み易くなる。
このようにして得られたパ夕一ニングされたコアガラス 6 0 5 は、 コアガラス 6 0 5相互間に介在する上部クラッ ドガラス 6 0 7 よ り も高い屈折率を有する。 したがって、 コアガラス 6 0 5 の存在領域に相当する高屈折率部と、 コアガラス 6 0 5相 互間に介在する上部クラッ ドガラス 6 0 7 の存在領域に相当す る低屈折率部とにより、 2次元的な空間的屈折率分布が形成さ れ、 高屈折率部であるコアガラス 6 0 5 の各々は、 導波光に対 する散乱点として作用し、 この散乱点の配置を最適化 (すなわ ち、 空間的屈折率分布を最適化) する ことで光フィールドの位 相と強度の局所的制御が可能となる。
図 6 8 は、 パスバン ド拡大アレイ導波路格子型光合分波回路 のスラブ導波路に接続される入力導波路を、 上述の原理に基づ いて設計した構造 (散乱点配置) の例を説明するための図で、 図中黒部で示した領域が散乱点(高屈折率部)に対応している。 この図に示すよう に、 散乱点の入力導波路内での 2次元的な配 置分布は、 光の伝搬方向に伸びる直線に対して概ね線対称であ る。
この構造は、 導波路内の散乱点を上述した最急降下法により 最適配置することによって設計されたもので、 この導波路は長 さ 3 0 0 m、 幅 1 6 0 mの領域を有している。 この領域を 1 5 0 0 X 8 0 0 のピクセルに分割 (ピクセルの 1辺の長さは 0 . 2 mとなる) し、 これらの微小領域に散乱点 (低屈折率 部との屈折率差△ = () . 7 5 ) を最適配置して空間的屈折率 分布を形成している。 なお、 伝搬光を効果的に散乱させるため には、 散乱点の 1 辺の長さを 0 . 2 ^ m以上とすることが好ま しい。
図 6 9 は、 図 6 8 に示した散乱点配置を有する入力導波路か ら出射される光フィールドの分布 (振幅および位相) の計算結 果を説明するための図で、 この図に示すよう に、 等位相面に歪 がなく、 かつ、 その振幅はダブルピーク (双峰) を有する出射 光フィ ールド、分布が得られている。
図 7 0 は 本実施例の入力導波路を用いてチャネル間隔 1 0
0 G H z のァレイ導波路格子型光合分波回路を構成し、 この回 路のパスハ、ン ド拡大化効果と低波長分散化効果を検 g正した結果 を説明するための図である
図 4 に示した従来構成の回路特性との比較から明らかなよう に、 本発明の回路の波長分散は相対波長依存性をちたず透過帯 域幅に殆ど影響を与える となく低分散化が顕 であり 、 つ、 光損失特性も向上していることがわかる。
これまでの説明では、 散乱点として高屈折率の散乱体を用い たが、 入力側スラブ導波路の端部に、 高屈折率ではなく低屈折 率の散乱体を配置しても同様の効果を得る とができる。また、 シ ン基板上に設けられた石英系ガラス導波路によりアレイ 導波路格子型光合分波回路を構成した例について示したが、 導 波路の構成材料はガラスに限定されるものではなく、 ポリイミ
F シ U πーン、 半導体、 L i N b 0 3などの他の材料であつ てもよい。 また、 用いる基板もシリ コンに限定されるものでは ない とはいう までもない。

Claims

請 求 の 範 囲 - 所望の光入出力のある断面が与えられるべき回路上の場 所をポー トとよぶときに、 入力側ポ一 (入力ポー h ) から の入射光を所望の出力側ポー ト (出力ポ一 卜) に出力する波 動伝達媒体であって、 前記波動伝達媒体は、 前記入力ポー からの入射光が当該 波動伝達媒体中で多重散乱しながら伝搬するように決定され た空間的な屈折率分布を有し、 当該波動伝達媒体内の局所的な位置は 、 仮想的なメッシュ により画定される仮想的なピクセルにより指定され 、 前記ピクセルの各々が有する屈折率によ り前記波動伝達媒 体の空間的な屈折率分布を成すことを特徴とする波動伝達媒 体 • 前記波動伝達媒体の屈折率分布は 、 m記入カポ トか ら の入射光の順伝搬光のフィ一ルドの位相と前記出射光を位相 役に逆伝搬させた逆伝搬光のフィ ールドの位相との差を、、た 刖記波動伝達媒体の各点において整合させるように 定され ている ことを特徴とする請求の範囲第 1項に記載の波動 達 体 • 前記ピクセルの取り得る屈折率は 、 低屈折率 ( n L ) ま たは高屈折率 ( η Η ) の何れかであ り、 前記屈折率分布は、 低屈折率 ( n L ) を有するピクセルと 高屈折率 ( n H ) を有するピクセルを空間的に配置させるこ とによ り与えられるものである こと、 を特徴とする請求の範 囲第 1項または第 2項に記載の波動伝達媒体。 . 前記低屈折率 ( n ) を有するピクセルの、 前記波動伝 達媒体中における前記入射光の伝搬方向での存在確率は、 30 %以下である ことを特徴とする 求の範囲第 3項に記載の 波動伝達媒体。 • 前記ピクセルは、 下限屈折率と上限屈折率との間の有限 個の屈折率を取り得、 前記屈折率分布は当該有限個の屈折率 の ちの何れかの屈折率を有する 記ピクセルを空間的に配 置させることにより与えられるものであること、 を特徴とす る P冃求の範囲第 1項または第 2項に記載の波動伝達媒体。• 前記入力ポー トから入射される光を、 所望の割合で互い に異なる出力ポ一 ト位置に分波されるように前記屈折率分布 が決定されていることを特徴とする請求の範囲第 1項乃至第5項の何れかに記載の波動伝達媒体 o • 前記入力ポ一 卜から入射される光は複数の波長の光の波 長多重光であり、 当該波長多重光をなす各々の波長の光に対 応付けられた互いに異なる出力ポ 卜位置に分波されるよう に前記屈折率分布が決定されていることを特徴とする請求の 範囲第 1項乃至第 6項の何れかに し載の波動伝達媒体。 • 前記入力ポートから入射される光は複数の波長の光の波 長多重光であり、 当該波長多重光をなす各々の波長の光が所 望の割合で互いに異なる出力ポ一 卜位置に分波されるよう に 刖記屈折率分布が決定されている とを特徴とする請求の範 囲第 1項乃至第 6項の何れかに記載の波動伝達媒体。 • 前記入力ポー卜から入射される光は T Eモ一 ドと T Mモ の偏波多重光であり、 当該偏波多重光をなす各々の偏波 に対応付けられた互いに異なる出力ポー ト位置に分波される よ に前記屈折率分布が決定されていることを特徴とする請 求の範囲第 1項乃至第 6項の何れかに記載の波動伝達媒体。 0 . 前記入力ポー トから入射される光は T Eモー ドと T M モー ドの偏波多重光であ り 、 当該偏波多重光をなす各々の偏 波が所望の割合で互いに異なる出力ポ一 卜 直に分波される ように前記屈折率分布が決定されていることを特徴とする 求の範囲第 1項乃至第 6項の何れかに記載の波動 達媒体 o
1 . 刖記波動伝達媒体を構成する物質は誘電体である と を特徴とする請求の範囲第 1項乃至第 1 0項の何れかに記載 の波動伝達媒体。
2 . 請求の範囲第 1項乃至第 1 1項の何れかに BD載の波動 伝達媒体の製造方法であつて、
初期屈折率分布を仮定した前記波動伝達媒体中において 、 刖記入 光のフィールド分布 1 と、 前 PB出 ^J'光を 1¾記出力ポ 一 卜から仮想的に逆伝搬させた光のフィールド分布 2 と 、 を 求める第 1 のステップと、
刖 ά波動伝達媒体の各点において 、 前記フィ —ルド分布 1 と前記フィ 一ルド分布 2 との位相差が少なくなるように 、 刖 記屈折率分布を決定する第 2 のステップと、
m記出力ポー ト位置において、 前記フィール ド分布 1 と刖 記出射光のフィールド分布とが所望の tig差以下となるまで 、 刖記第 1 のステップと前記第 2 のステップとを繰り返して刖 記屈折率分布を逐次近似する第 3 のステップと 、 備えてい る ことを特徴とする波動伝達媒体の製 7Ξ.方法。
3 . 前記第 2 のステップにおける屈折率分布の決定は、 前 記ピクセルの各々の屈折率を変数とする最急降下法により実 行される ことを特徴とする請求の範囲第 1 2項に記載の波動 伝達媒体の製造方法。
4 . 請求の範囲第 1項乃至第 1 1項の何れかに記載の波動 伝達媒体の製造方法であって、
前記屈折率分布を逐次近似するための第 1 のル一チンと第
2 のルーチンとを備え、
前記第 1 のルーチンは、
初期屈折率分布を仮定した刖記波動伝達媒体中において、 前記入射光のフィールド分布 1 と、 刖記出射光を前記出力
— トから仮想的に逆伝搬させた光のフィ一ルド、分布 2 と 、 を 求める第 1 のステップと、
前記波動伝達媒体内の位置における HU pdフィ一ル ド分 の位相が当該位置における前記フィ ールド分 1 の位相と整 合するよう に前記屈折率分布を変更する第 2 のステップと、 当該変更後の屈折率分布を用いて前記位置におけるフィ― ルド分布 2 を求め直す第 3 のスアツ フ と、
前記位置を逆伝搬方向に所定量だけ移動させて新たな 1 置 として定義し直す第 4のステップと、
前記第 1 乃至 4のステップを繰り返して前記屈折率分布を 逐次近似する第 5 のステップと 、 を備え、
前記第 2 のルーチンは、
ふ 、 前記第 1 のルーチンで決定された屈折率分布を仮定した刖 記波動伝達媒体中において、 前記出射光のフィ ―ルド分布 1 と、 前記出射光を前記出力ポ ―卜カゝら仮想的に逆伝搬させた 光のフィールド分布 2 と、 を求める第 6 のステ Vプと、
前記波動伝達媒体内の位置における刖 dフィ ~ルド分布 1 の位相が当該位置における前記フィールド分 2 の位相と整 合するように前記屈折率分布を変更する第 7 のステップと、 当該変更後の屈折率分布を用いて前 Bci 1^.置におけるフィ一 ルド分布 1 を求め直す第 8 のスアツ フ と、 前記位置を順伝搬方向に所定量だけ移動させて新たな位置 として定義し直す第 9 のステツフ と、
刖 fl第 6乃至 9 のステ Vプを繰り返して前記屈折率分布を 逐次近似する第 1 0 のステップと 、 を備えていることを特徴 とする波動伝達媒体の製造方法。
5 . 前記第 2 のステップ ¾いて、
前記フィールド分布 2 としては 、 逐次近似刖の屈折率分布 中で前記出射光を入射面まで伝搬させたときのフィ ルド分 布を当該逐次近似前の屈折率分布中で順伝搬させて得られた フィ ールド分布を用い
前記フィールド分布 1 としては 、 逐次近似刖の屈折率分布 中で前記入射光を出射面まで伝搬させたときのフィ ルド分 布を当該逐次近似前の屈折率分布中で逆伝搬させて得られた フィールド分布を用いる ことを特徴とする 求の範囲第 1
4項に記載の波動 1K 7&媒体の製造方法。
6 . 前記出力ポー ト位置における前記フィールド分布 1 と 前記出射光のフィールド分布とが所望の誤差以下となるまで 、 前記第 1 のル一チンと前記第 2 のルーチンを順次繰り返す 第 3 のルーチンを備えていることを特徴とする請求の範囲第 1 4項または第 1 5項に記載の波動伝達媒体の製造方法。 7 . 前記フィールド分布 1 および前記フィールド分布 2 の 各々には、 前記波動伝達媒体中における、 前記入射光および 逆伝搬光の各々の反射光成分が繰込まれていることを特徴と する請求の範囲第 1 2項乃至第 1 6項の何れかに記載の波動 伝達媒体の製造方法。
8 . 前記初期屈折率分布としてランダム分布を仮定するこ とを特徴とする請求の範囲第 1 2項乃至第 1 7項の何れかに 記載の波動伝達媒体の製造方法。
9 · 前記入力ポー卜からの入射光は複数の波長の光の波長 多重光または T Eモ ―ドと T Mモ一ドの偏波多重光であり、 刖記屈折率分布の逐次近似は、 HU Β己多 ¾光の各波長の光ご とまたは各編波ごとに定義されたフィ一ル 分布 2 を用いて 順次実行され、
刖記多重光をなす各波が所望の割合で互いに異なる出力ポ 一卜位置に分波されるように刖 Βΰ屈折率分 が決定されてい る ことを特徴とする ah求の範囲第 1 2項乃至第 1 8項の何れ かに記載の波動伝達媒体の製造方法。
0 基板上に、 請求の範囲第 1項乃至第 1 1項の何れかに記 載の波動伝達媒体を 2次元的に配置して構成されていること を特徴とする導波回路
1 . 請求の範囲第 2 0項に記載の導波回路を用いて多モー ド干渉回路が構成されている ことを特徴とする導波回路。
2 . 請求の範囲第 2 0項に記載の導波回路を用いて光曲げ 回路が構成されていることを特徴とする光回路。
3 . 請求の範囲第 . 2 0項に記載の導波回路を用いて構成さ れた光回路であって 、 前記導波回路の屈折率分布は、 電気光 効果に基づく 当該導波路回路の局所的な屈折率変化によ り実 現されることを特徴とする光回路
4 . 請求の範囲第 2 0項に記載の導波回路を用いて構成さ れた光回路であつて 、
刖 、 記ピクセルの各々の屈折率は 、 刖 id ¾板に対して垂直方 向に光を閉じ込めるよう に決定されている とを特徴とする 光回路。
5 . 前記仮想的なメ ッシュは、 周期的な り返しにより前 記導波領域を形成する単位格子の構成要素であることを特徴 とする請求の範囲第 2 4項に記載の光回路。
6 前記単位格子は、 準周期構造を形成する形状を有する ものであることを特徴とする請求の範囲第 2 4項または第 2
5項に記載の光回路。
7 . 前記ピクセルが取り得る屈折率値は 2値化されており、 高屈折率 ( η Η ) または低屈折率 ( n j^ ) の何れかであること を特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 2 6項の何れかに記 載の光回路。
8 . 前記高屈折率を有するピクセルのサイズは、 前記導波 領域内を伝搬する光の波長以下に設定されていることを特徴 とする請求の範囲第 2 7項に記載の光回路。
9 . 次式で与えられる値が 0 . 1以下である ことを特徴と する 求の範囲第 2 7項または第 2 8項に記載の光回路。 jma 記ッ
前し nピ 4
(入 伝搬光波長、 n : 咼屈折率を有するピクセル記たのはク Q屈折率 値 ( H )、 a : 咼屈折率を有するピクセルの高さ、 : 伝搬 光の ィールド分布の放射成分の平均距離を z と とさ d = ( / a ) で与えられる係数)
0 . 前記高屈折率を有するピクセルは n角形 3以上 の整数 ) の多角形状を有し 、 当該の何れの辺 導波領 を伝搬する光の伝搬方向と傾斜するよう に前 セルが 配置されていることを特徴とする請求の範囲 乃至第
2 9項の何れかに記載の光回路。
1 . 前記多角形状は正方形であり、 前記傾斜の角 が 4 5 度であることを特徴とする請求の範囲第 3 0項に記 の光回 路。
2 · 前記ピクセルの各々は、 前記仮想的なメ ン により 画定される領域以上の所望のサイズを有し、 刖 ピ セルの 何れかは、 前記仮想的なメッシュによ り画定される格子位置 からずれた位置に配置されている ことを特徴とする請求の範 囲第 2 4項乃至第 3 1項の何れかに記載の光回路。
3 . 前記高屈折率 ( n H ) を有するピクセルは、 第 1 の高 屈折率層と当該第 1 の高屈折率層より も低い屈折率を有する 第 2 の高屈折率層とを順次積層させた導波部を有する一方、 前記低屈折率 ( n ) を有するピクセルは、 前記第 2 の髙屈 折率層からなる導波部を有し、 前記前記高屈折率 ( n H ) を 有するピクセルの導波部を伝搬する光フィ ールド径の中心位 置と前記前記低屈折率 ( n ^ ) を有するピクセルの導波部を 伝搬する光フィ一ルド径の中心位置とが、 前記基板表面と平 行な同一平面上にあるように設定されていることを特徴とす る請求の範囲第 2 7項乃至第 3 2項の何れかに記載の光回路。 4 . 前記導波領域は誘電体材料で構成されており、 当該誘 電体材料は、 光損失機能または光増幅機能をを備備ええていること を特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 3 3項の何れかに記 載の光回路。
5 . 前記誘電体材料は、 の波長に依存する複素屈折率を 有することを特徴とする請 の範囲第 3 4項に記載の光回路。 6 . 前記導波領域は、 少 く とち、 第 1 の低屈折率層と導 波部である高屈折率層と第 の低屈折率層とが順次積層され た構造を有し、 当該第 1 お び第 2 の低屈折率層によ 刖 ή 高屈折率層中に光が閉じ込 られる ことを特徴とする 求の 範囲第 2 4項乃至第 3 5項 何れかに記載の光回
7 . 前記高屈折率層の少 く とも一方の表面上には、 凹部 を設けることでレリーフ状 パターン一ングが施されており、 前記凹部を低屈折率部とし当該凹部以外の部分を高屈折率 部とすることによ り前記空間的屈折率分布が与えられている ことを特徴とする請求の範囲第 3 6項に記載の光回路。
8 . 前記レリーフ状のパターンニングが、 前記高屈折率層 の両面に施されている ことを特徴とする請求の範囲第 3 7項 に記載の光回路。
9 . 前記高屈折率層の両面に施されたレリーフ状のパター ンは、 互いに異なるパターンであることを特徴とする請求の 範囲第 3 8項に記載の光回路。
0 . 前記高屈折率層の両面に施されたレリーフ状のパター ンの前記凹部の深さが、 何れも等しいことを特徴とする請求 の範囲第 3 8項または第 3 9項に記載の光回路。
1 . 前記ピクセルは、 高屈折率 ( n H ) または低屈折率 ( n L ) の何れかの 2値化された屈折率を有する複数の仮想のサ ブピクセルに分割されており、 当該 2値化されたサブピクセ ルの配列により前記ピクセルの屈折率分布が与えられている ことを特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 4 0項の何れか に記載の光回路。 ,
2 前 fidヒクセルにおいて 、 伝搬光の波面進行方向への,伝 搬定数の空間的変化割合として、 屈折率差の変化の割合とし て屈折率差を 1 波長以上の距離をかけて変化させることを特 徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 4 1 項の何れかに記載の 光回路
3 前記ピクセルまたは前記サブピクセルの前記基板と平 行な断面形状は 、 円形であることを特徴とする請求の範囲第
4 2項に記載の光回路。
4 • 前記ピクセルまたは前記サブピクセルの前記基板に垂 直な断面形状は 、 滑らかに変化する曲線を有する形状である とを特徴とする請求項 4 2 または 4 3 に記載の光回路 5 . 前記第 1 または第 2 の低屈折率層の少なく とも一方は、 互いに屈折率が異なる複数の層を積層させて構成されている ことを特徴とする請求の範囲第 3 6項乃至第 4 4項の何れか に記載の光回路。
6 . 前記光回路は 3つ以上の入出力ポー トを備えた相互一 斉配信 · 一斉受信構成の光回路であり、
前記空間的屈折率分布は、 前記入出力ポー トから出力され る信号の位相が互いに直交するよう に設定されていることを 特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 4 5項の何れかに記載 の光回路。
7 . 前記光回路は 3つ以上の入出力ポートを備えた相互一 斉配信 · 一斉受信構成の光回路であ り、
' 前記空間的屈折率分布は、 前記入出力ポー トから出力され る信号の位相が互いに直交しない場合に出力信号の重なり を 最小とするように設定されていることを特徴とする請求の範 囲第 2 4項乃至第 4 5項の何れかに記載の光回路。
8 . 前記光回路の分岐比率が非対称である ことを特徴とす る請求の範囲第 4 6項または第 4 7項に記載の光回路。
9 . 上記光回路には増幅機能が備えられていることを特徴 とする請求の範囲第 4 6項乃至第 4 8項の何れかに記載の光 回路。
0 . 前記光回路は複数の入力ポー トを有し、 かつ、 当該複 数の入力ポー 卜から入力された光信号が同一の出射面から出 力されるよう に構成されており、
前記空間的屈折率分布は、 前記複数の入力ポー 卜から出力 される各々の信号光の互いの位相を調整して重ねあわせ、 出 力される光フィールド形状を整形するように設定されている ことを特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第 4 9項の何れか に記載の光回路。
1 . 請求の範囲第 5 0項に記載の光回路をアレイ導波路格 子回路の入力側スラブに配置した光回路であって、
前記複数の入力ポー トの相互間の位相差は前記光回路の光 導波路の回路長で与えられており、
、裏- 前記光導波路の回路長で与えられる位相差の Ό し周期
( f r e e s p e c t r um r ange )は前 ァレイ導波路格子回路の出力の 波長間隔と一致しており 刖記アレイ導波路格子回路の波長 分散特性を前記出力の波長間隔で周期的に打ち消すよう に 刖記光回路からの出力のフィ 一ルド中心位置が周期的に変動 することを特徴とする光回路。
2 . 前記空間的屈折率分布は 、 出力光のスポッ 卜サィズ変 換を可能とするフィ ールド形状と位相分布を実現するよう に 設定されている ことを特徴とする請求の範囲第 2 4項乃至第
5 1項の何れかに記載の光回路。
3 . 請求の範囲第 2 0項に記載の導波回路を用いて構成さ れたアレイ導波路格子型光合分波回路であ て、
平面基板上に 、 入力導波路と第 1 のスラブ導波路とァレイ 導波路と第 2 のスラブ導波路と出力導波路とが順次接 ϋ¾され ており、
刖記入力導波路と前記第 1 のスラブ導波路との接続領域に は、 当該入力導波路の屈折率に比較して高屈折率の散乱点が 複数配置されて設けられている とを特徴とするァレイ導波 路格子型光合分波回路。
4 . 前記散乱点は、 前記入力導波路の出力端に形成される 光フィールド分布の等位相面に歪がなく且つ振幅にダブルピ ークを有するよう に配置されている ことを特徴とする請求の 範囲第 5 3項に記載のアレイ導波路格子型光合分波回路。 5 . 前記散乱点の前記入力導波路内での 2次元的な配置分 布は、 前記光の伝搬方向に伸びる直線に対して概ね線対称で あることを特徴とする請求の範囲第 5 3項に記載のアレイ導 波路格子型光合分波回路。
6 . 前記散乱点の 1辺の長さは、 0 . 2 t m以上である こ とを特徴とする請求の範囲第 5 3項乃至第 5 5項の何れかに 記載のアレイ導波路格子型光合分波回路。
7 . 前記平面基板はシリ コン基板であり、 前記光導波路は 石英系ガラス光導波路であることを特徴とする請求の範囲第 5 3項乃至第 5 6項の何れかに記載のアレイ導波路格子型光 合分波回路。
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