WO2004036160A1 - Hochauflösendes spektrometer - Google Patents

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WO2004036160A1
WO2004036160A1 PCT/DE2003/003361 DE0303361W WO2004036160A1 WO 2004036160 A1 WO2004036160 A1 WO 2004036160A1 DE 0303361 W DE0303361 W DE 0303361W WO 2004036160 A1 WO2004036160 A1 WO 2004036160A1
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resolution spectrometer
width
slits
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Andreas Wuttig
Rainer Riesenberg
Christian Schachtzabel
Stefan Winter
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Institut für Physikalische Hochtechnologie e.V.
Analytik Jena Ag Analysenmessgeräte Und Laboreinrichtungen
Templatec-Softwareentwicklung Christian Schachtzabel Gbr
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
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    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/04Slit arrangements slit adjustment

Definitions

  • the invention relates to a high-resolution spectrometer according to the preamble of the claims. It is used in particular in array spectrometers.
  • the resolution of array spectrometers is given by the number of spectral measuring points, which is generally equal to the number of pixels of linear detector arrays.
  • the quotient of the spectral measuring range and spectral resolution is proportional to the number of spectral measuring points required or the number of pixels.
  • the number of pixels in commercial arrays is far too small for high-resolution spectroscopy. This applies e.g. also for high-resolution Raman spectrometers in the UV-VIS spectral range.
  • the object of the present invention is to generate a large number of spectral measuring points simultaneously with a very compact arrangement.
  • a spectrometer arrangement based on an array spectrometer is to be created which combines the highest spectral resolution with a large spectral measuring range, is at the same time compact and uses well-known detector arrays can.
  • the slit arrangement can be designed such that at least two slits are offset one above the other in their longitudinal direction and mutually offset in their width direction, so that the spectra images generated on the detector arrangement are offset by non-integer multiples (or fractions) of the center distance between two adjacent detector elements.
  • the gap arrangement comprises a gap which preferably extends in the longitudinal direction over the entire effective detector array; in the width direction, the spectra images generated by the slit are also offset by non-integer multiples of the center distance of two adjacent detectors due to a rotation of the slit arrangement and detector arrangement relative to one another with respect to a normal position.
  • the rotation can be done by rotating (inclined) the gap or its image or the detector arrangement or both.
  • This design of the slit arrangement and the detector arrangement makes it possible to simultaneously scan the spectral intensity distribution present on the slit arrangement at more wavelengths than would be the case if there were no displacement or displacement by an integer multiple of the center distance between two adjacent detectors.
  • different measuring points which contain subpixel information, arise in the imaging of the slit arrangement and dispersion of the light.
  • the two-dimensional detector array ensures the simultaneous output of the sub-pixel information generated by the columns.
  • the gap length or height should be at least equal to the pixel height; it is generally favorable if it is a multiple of the pixel height.
  • the dispersing optical element can be designed as a concave grating, a Cerney-Turner arrangement (flat grating with two imaging elements), a prism or a Fresnel optic.
  • the detector arrangement can be a CCD (Charge Couppled Device), a photodiode matrix or a matrix of thermal detectors or the like.
  • the detector arrangement (the detector array) can advantageously be tilted or fixed about an axis which is directed parallel to the width direction of the detector array.
  • FIG. 2 shows a first exemplary embodiment according to the invention with a plurality of columns arranged in the longitudinal direction
  • FIG. 1 An arrangement shown schematically in FIG. 1 has a primary or secondary light source 10 which emits light 11, the spectral distribution of which is to be examined.
  • the light 11 enters a spectrometer 13 through a slit arrangement (slit array) 12, is dispersed by a grating 14 and the slit arrangement 12 is dispersed and imaged on a detector array 15 which is arranged so as to be fixed about an axis X-X which is parallel to the detector array 15 and is arranged at right angles to the gap 12 or its image in the array plane.
  • measurement signals 16 are emitted from the detector array 15 to camera electronics 17, which in turn transmit image data 18 to an evaluation device (PC) 19.
  • Control information comes in the opposite direction from the evaluation device 19 to the camera electronics 17 or detector arrangement 15
  • Evaluation device 19 evaluates the information and data, displays it as a high-resolution spectrum 20 and stores it if necessary.
  • a slit arrangement 12 or 12a with ten individual slits 121 lying one above the other in the longitudinal direction allows the light 11 from a light source, not shown, to pass in the direction of a grating 14 at 200 lines per mm.
  • the individual gaps 121 of the gap arrangement 12 each have a width of 10 ⁇ m and a height of 175 ⁇ m.
  • the distance between two adjacent gaps 121 in the longitudinal direction is 25 ⁇ m and their lateral offset is 7 ⁇ m.
  • ten light bundles 111 are formed which impinge on the grating 14, which generates ten spectra 211 offset one above the other in an imaging plane 21 oriented at right angles to the drawing plane of FIG. 2 and thus images the individual column 121 spectrally decomposed.
  • the slit images of a wavelength in the imaging plane are denoted by 121 '.
  • the imaging plane 21 there is a detector array (CCD) 15 with pixels 151 with a size of 25 ⁇ m • 25 ⁇ m and a resolution of 1024 • 256 pixels.
  • pixels of the detector array 15 which are lying one above the other are not interconnected to form larger pixels, as is customary, but the pixel groups of the detector array affected by the mutually offset spectra 211 are treated separately and by one special algorithm in the evaluation device 19 combined to a spectrum 20 of higher resolution.
  • the distance between the so-called support points in the spectrum is also reduced, namely from 0.83 nm / pixel in a conventional spectrometer to 0.083 nm / pixel in the spectrometer according to the invention.
  • the affected pixel rows 151 of each individual column 121 are interconnected in terms of hardware; this results in a higher signal-to-noise ratio because this is usually the dominant one Readout noise occurs only once per vertical pixel column and single column.
  • a measurement with the slit array 121 according to the invention results in the spectrum of FIG. 3b.
  • a group of two peaks 221, 222 at 312 nm is almost completely resolved.
  • they generally have to be at least two pixels apart, in the case of the conventional arrangement approximately 1.7 nm apart.
  • two peaks with a distance of 0.6 nm were almost completely separated.
  • FIG. 4 again shows a slit arrangement 12 or 12a, a dispersive imaging element 14 and an imaging plane 21, which represent the monochromator of a spectrometer 13 (FIG. 1).
  • the slit arrangement 12 has an oblique slit 122 which is imaged spectrally broken down into the imaging plane 21 with the aid of the element 14.
  • the inclined slit 122 has a width of 10 ⁇ m, a height of approximately 80 pixel lines and is inclined by approximately 2-3 degrees, or its image 122 'is opposite pixels to a detector arrangement 15 or 15a located in the imaging plane 21 the amount mentioned in parallelogram form distorted.
  • FIG. 2 it would also be possible to use a vertical gap and to rotate the detector arrangement 15, which is designed, for example, as a photodiode matrix, in its plane.
  • the spectra 212 of the individual pixel lines are separated and combined to form a spectrum of higher resolution.
  • read-out noise occurs for each detector pixel 151 in the inclined gap of FIG. 4 because all detector lines must be read out individually. Otherwise, what has been said about FIG. 2 applies at least analogously.
  • FIGS. 5a and 5b analogously to FIGS. 3a and 3b, the resolution of a known spectrometer is compared with the resolution of the spectrometer according to the invention with an inclined slit.
  • a peak 23 in a range of approximately 1.1 nm, which is identified with the spectrometer according to the invention as a peak 23 'of 0.3 nm width (FIG. 5b).
  • the resolution of the individual intensity peak at 435.5 nm is also improved by the factor ⁇ 3.7 by reducing the half width from approximately 1.1 nm to approximately 0.3 nm.
  • FIGS. 2 and 4 Each exemplary embodiment according to FIGS. 2 and 4 enables measurement and high resolution over the entire gas emission spectrum, as has been used in part in FIGS. 3 and 5.

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Abstract

Die Erfindung beinhaltet ein hochauflösendes kompaktes Spektrometer mit einem großen spektralen Messbereich mit dem eine vollständige Messung in nur einem Messschritt durchführbar ist. Das Spektrometer hat eine aus einzelnen Spalten bestehende Spaltanordnung, ein abbildendes, in Breitenrichtung der Spalte dispergierendes Element und eine zweidimensionale, aus Einzeldetektoren bestehende Detektoranordnung, auf die die Spaltanordnung unter Aufspaltung nach Wellenlängen in Breitenrichtung abgebildet wird und die sich in der Abbildungsebene parallel zur Breiten- und Längsrichtung der Spalte erstreckt. Die Spalte sind so angeordnet und gestaltet, dass die durch sie verursachten Spektrenbilder um nicht ganzzahlige Vielfache des Mittenabstands zweier benachbarter Detektoren in Breitenrichtung versetzt sind. Dabei können die Spalte als gegeneinander versetzte Einzelspalte oder als Schrägspalt ausgebildet sein.

Description

Hochauflösendes Spektrometer
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein hochauflösendes Spektrometer gemäß der Gattung der Patentansprüche Sie kommt insbesondere bei Array- Spektrometern zur Anwendung.
Bekanntlich ist die Auflösung von Arrayspektrometern durch die Anzahl der spektralen Messpunkte gegeben, die in der Regel gleich der Pixelzahl linearer Detektorarrays ist. Der Quotient aus spektralem Messbereich und spektraler Auflösung ist proportional der Zahl der benötigten spektralen Messpunkte bzw. der Anzahl der Pixel. Insbesondere im NIR- und im IR- Spektralbereich ist die Pixelzahl kommerzieller Array s für die hochauflösende Spektroskopie viel zu klein. Das gilt z.B. auch für hochauflösende Raman-Spektrometer im UV-VIS Spektralbereich. Bekannt ist es, vor allen Dingen für leistungsfähige Geräte der Raumfahrt, viele Detektorzeilen nebeneinander anzuordnen. Die resultierenden Geräte sind zu groß und kostenintensiv. Das dabei auftretende größere Öffhungsverhältnis bedingt eine Erhöhung der Abbildungsfehler und begrenzt somit die erreichbare spektrale Auflösung .
Weiterhin ist es bekannt, die Abbildung der Spektren des Eingangsspaltes mehrfach versetzt zueinander vorzunehmen, so dass virtuell auf dem Detektorarray Subpixel erzeugt und ausgewertet werden können. Um die Subpixel zu erzeugen, ist aber ein Bewegung, d. h. ein Scannen oder Schalten des oder der Eingangsspalte nötig, was u.a. das Spektrometer langsamer werden lässt und zusätzlich hochgenaue Stellmittel erfordert.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine hohe Zahl von spektralen Messpunkten gleichzeitig mit einer sehr kompakten Anordnung zu erzeugen. Insbesondere ist eine Spektrometeranordnung auf der Basis eines Array-Spektrometers zu schaffen, die höchste spektrale Auflösung mit großem spektralen Messbereich verbindet, zugleich kompakt ist und allgemein bekannte Detektorarrays nutzen kann. Gleichzeitig soll es wie bei herkömmlichen Array-Spektrometern möglich sein, eine vollständige Messung in nur einem Messschritt, ohne die Bewegung von Spektrometerteilen auszuführen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die kennzeichnenden Merkmale des ersten Patentanspruchs gelöst. Dabei kann die Spaltanordnung so gestaltet sein, dass mindestens zwei Spalte in ihrer Längsrichtung übereinander und in ihrer Breitenrichtung gegeneinander versetzt sind, so dass die auf der Detektoranordnung erzeugten Spektrenbilder um nicht ganzzahlige Vielfache (oder Bruchteile) des Mittenabstands zweier benachbarter Detektorelemente versetzt sind. Oder die Spaltanordnung umfasst einen Spalt, der sich in Längsrichtung vorzugsweise über das gesamte wirksame Detektorarray erstreckt; in Breitenrichtung sind die durch den Spalt erzeugten Spektrenbilder infolge einer Verdrehung von Spaltanordnung und Detektoranordnung gegeneinander bezüglich einer Normallage ebenfalls um nicht ganzzahlige Vielfache des Mittenabstandes zweier benachbarter Detektoren versetzt. Die Verdrehung kann durch eine Verdrehung (Schrägstellung) des Spaltes bzw. seines Bildes oder der Detektoranordnung oder beider geschehen. Durch diese Gestaltung der Spaltanordnung und der Detektoranordnung ist es möglich, die an der Spaltanordnung vorliegende spektrale Intensitätsverteilung an mehr Wellenlängen gleichzeitig abzutasten, als dies bei NichtVerschiebung oder Verschiebung um ein ganzzahliges Vielfaches des Mittenabstandes zweier benachbarter Detektoren der Fall wäre. Infolge der Erfindung entstehen bei der Abbildung der Spaltanordnung und Dispersion des Lichtes unterschiedliche Messpunkte, die Subpixelinformationen enthalten. Das zweidimensionale Detektorarray gewährleistet die gleichzeitige Abgabe der von den Spalten erzeugten Subpixelinformationen. Die Spaltlänge bzw. -höhe soll mindestens gleich der Pixelhöhe sein; günstig ist es im Allgemeinen, wenn sie ein Mehrfaches der Pixelhöhe beträgt. Das dispergierende optische Element kann als Konkavgitter, Cerney-Turner-Anordnung (ebenes Gitter zwei abbildenden Elementen), Prisma oder Fresneloptik gestaltet sein. Die Detektoranordnung kann eine CCD (Charge Couppled Device), eine Photodiodenmatrix oder eine Matrix aus Thermodetektoren o. ä. sein. Zur Vermeidung von Verzerrungen bzw. zur Beseitigung des Einflusses von Abbildungsfehlern bei der Abbildung der Spaltanordnung in die Detektorebene ist vorteilhaft die Detektoranordnung (das Detektorarray) um eine Achse neigbar bzw. fest einstellbar, die parallel zur Breitenrichtung des Detektorarrays gerichtet ist.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der schematischen Zeichnung näher erläutert, die zwei Ausführungsbeispiele enthält. Es zeigen:
Fig. 1 eine prinzipielle Anordnung zur Erzeugung und Auswertung eines Spektrums unter Verwendung der Erfindung,
Fig. 2 ein erstes Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung mit mehreren, in Längsrichtung angeordneten Spalten,
Fig. 3 a und b den durch das erste Ausführungsbeispiel erreichten Intensitäts- und Auflösungsgewinn,
Fig. 4 ein zweites Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung mit Schrägspalt,
Fig. 5 a und b den durch das zweite Ausführungsbeispiel erreichten Intensitäts- und Auflösungsgewinn.
Eine in Fig. 1 schematisch dargestellte Anordnung weist eine primäre oder sekundäre Lichtquelle 10 auf, die Licht 11 aussendet, dessen spektrale Verteilung untersucht werden soll. Das Licht 11 tritt durch eine Spaltanordnung (Spaltarray) 12 in ein Spektrometer 13 ein, wird durch ein Gitter 14 dispergiert und die Spaltanordnung 12 dispergiert auf ein Detektorarray 15 abgebildet, das um eine Achse X - X fest einstellbar angeordnet ist, die parallel zum Detektorarray 15 und rechtwinklig zum Spalt 12 bzw. seinem Bild in der Array ebene angeordnet ist. Dementsprechend werden vom Detektorarray 15 Messsignale 16 an eine Kameraelektronik 17 abgegeben, die ihrerseits Bilddaten 18 an eine Auswerteeinrichtung (PC) 19 gibt. In umgekehrter Richtung kommen Steuerinformationen von der Auswerteeinrichtung 19 bis zur Kameraelektronik 17 bzw. Detektoranordnung 15. Die Auswerteeinrichtung 19 wertet die Informationen und Daten aus, bringt sie als hochaufgelöstes Spektrum 20 zur Anzeige und speichert sie gegebenenfalls.
In den folgenden Figuren 2 und 4 sind die Umklappungen der Spaltanordnungen 12 und der Detektoranordnungen 15 mit 12a und 15a bezeichnet und wegen der Anschaulichkeit vergrößert gezeichnet.
In Fig. 2 sind die erfindungswesentlichen Teile des ersten Ausführungsbeispiels dargestellt. Eine Spaltanordnung 12 bzw. 12a mit zehn in Längsrichtung übereinander liegenden Einzelspalten 121 lässt das Licht 11 einer nicht dargestellten Lichtquelle in Richtung eines Gitters 14 mit 200 Linien pro mm passieren. Die Einzelspalte 121 der Spaltanordnung 12 haben je eine Breite von 10 μm und eine Höhe von 175 μm. Der Abstand zweier benachbarter Spalte 121 in Längsrichtung beträgt 25 μm und ihr seitlicher Versatz 7 μm. Dabei entstehen entsprechend der Anzahl der Einzelspalte 121 zehn Lichtbündel 111, die auf das Gitter 14 auftreffen, das in einer rechtwinklig zur Zeichenebene der Fig. 2 gerichteten Abbildungsebene 21 übereinander zehn gegeneinander versetzte Spektren 211 erzeugt und somit die Einzelspalte 121 spektral zerlegt abbildet. Die Spaltbilder einer Wellenlänge in der Abbildungsebene sind mit 121' bezeichnet. In der Abbildungsebene 21 befindet sich ein Detektorarray (CCD) 15 mit Pixeln 151 einer Größe von 25 μm 25 μm und einer Auflösung von 1024 256 Pixeln. Zur elektronischen Erfassung des Spektrums in der Kameraelektronik 17 (Fig. 1) werden nicht, wie sonst üblich, übereinander liegende Pixel des Detektorarrays 15 zu größeren Pixeln verschaltet, sondern die von den gegeneinander versetzten Spektren 211 betroffenen Pixelgruppen des Detektorarrays werden getrennt behandelt und durch einen speziellen Algorithmus in der Auswerteeinrichtung 19 zu einem Spektrum 20 höherer Auflösung kombiniert. Dabei wird auch der Abstand der sog. Stützstellen im Spektrum verringert, und zwar von 0,83 nm/Pixel in einem herkömmlichen Spektrometer auf 0,083 nm/Pixel im erfindungsgemäßen Spektrometer. Die betroffenen Pixelzeilen 151 jedes Einzelspaltes 121 sind hardwaremäßig verschaltet; somit ergibt sich ein höheres Signal-Rausch-Verhältnis, weil das üblicherweise dominierende Ausleserauschen nur einmal je vertikaler Pixelspalte und Einzelspalt auftritt.
Die Auflösung des erfindungsgemäßen Spektrometers 13 (Fig. 1) wird anhand eines Quecksilber-Gasemissionsspektrums bestimmt. Dieses Spektrum enthält in dem vom Spektrometer überstrichenen Wellenlängenbereich mehrere sehr schmale Intensitätspeaks, deren natürliche Breite vernachlässigt werden kann. Bestimmt man in einem gemessenen Spektrum die scheinbare Breite eines solchen Peaks, so erhält man die Auflösung des Spektrometers. Einige dieser Peaks stehen so dicht zusammen, dass sie mit einem zum Stand der Technik gehörenden Spektrometer gleicher Größenordnung nicht auflösbar sind. Entsprechende Messungen an dem Quecksilberspektrum in der bekannten Konfiguration mit einem 25-μm-Spalt sind im Diagramm gemäß Fig. 3 a dargestellt, bei dem die Intensität I über der Wellenlänge = aufgetragen ist. Wie man erkennt, liegt die Mittenwellenlänge eines Peaks 22 bei etwa 312 nm. Eine Messung mit dem erfindungsgemäßen Spaltarray 121 ergibt das Spektrum der Fig. 3b. Eine Gruppe aus zwei Peaks 221, 222 bei 312 nm ist fast vollständig aufgelöst. Um zwei Peaks immer sicher trennen zu können, müssen diese im allgemeinen mindestens zwei Pixel, im Falle der herkömmlichen Anordnung also etwa 1.7 nm weit auseinanderliegen. Mit der erfindungsgemäßen Anordnung wurden zwei Peaks mit einem Abstand von 0.6 nm fast vollständig getrennt. Man kann bei vorsichtiger Schätzung davon ausgehen, dass selbst bei einem Peak-Abstand von unter 0.45 nm noch eine eindeutige Trennung der Peaks zu beobachten wäre. Damit ergibt sich eine erreichte Auflösungserhöhung bzgl. der Trennschärfe bei Doppelpeaks 221, 222 von über 3.7.
In Fig. 4 sind wieder eine Spaltanordnung 12 bzw. 12a , ein dispergierend abbildendes Element 14 und eine Abbildungsebene 21 gezeigt, die den Monochromator eines Spektrometers 13 (Fig. 1) darstellen. Im Unterschied zu Fig. 2 weist die Spaltanordnung 12 einen Schrägspalt 122 auf, der mit Hilfe des Elements 14 in die Abbildungsebene 21 spektral zerlegt abgebildet wird. Der Schrägspalt 122 hat eine Breite von 10 μm, eine Höhe von etwa 80 Pixelzeilen und ist um ca. 2 - 3 Grad schräg gestellt bzw. sein Bild 122' ist gegenüber einer in der Abbildungsebene 21 befindlichen Detektoranordnung 15 bzw. 15a mit Pixeln 151 um den genannten Betrag parallelogrammartig verzerrt. Es wäre auch möglich einen vertikalen Spalt zu verwenden und die bspw. als Photodiodenmatrix gestaltete Detektoranordnung 15 in ihrer Ebene zu drehen. Analog zu Fig. 2 werden die Spektren 212 der einzelnen Pixelzeilen getrennt und zu einem Spektrum höherer Auflösung kombiniert. Abweichend von Fig. 2 fällt beim Schrägspalt der Fig. 4 für jedes Detektorpixel 151 ein Ausleserauschen an, weil alle Detektorzeilen einzeln ausgelesen werden müssen. Im übrigen gilt das zu Fig. 2 Gesagte zumindest sinngemäß. In den Diagrammen der Figuren 5a und 5b wird analog zu den Fig. 3a und 3b der Auflösung eines bekannten Spektrometers die Auflösung des erfmdungsgemäßen Spektrometers mit Schrägspalt gegenüber gestellt. Die Messungen werden wieder an Hand eines Quecksilber- Gasemissionsspektrums vorgenommen. In Fig. 5a ist das Spektrum eines 25-μm-Spaltes in einem bekannten Spektrometer, und zwar bei einer Wellenlänge <=> von 435,5 nm dargestellt. Dort befindet sich entsprechend Fig. 5a in einem Bereich von ca. 1,1 nm ein Peak 23, der mit dem erfindungsgemäßen Spektrometer als ein Peak 23' von 0,3 nm Breite identifiziert wird (Fig. 5b). Die Auflösung des einzelnen Intensitätspeaks bei 435,5 nm wird durch die Verringerung der Halbwertsbreite von ca. 1,1 nm auf ca. 0,3 nm ebenfalls um den Faktor ~3,7 verbessert.
Jedes Ausführungsbeispielgemäß den Figuren 2 und 4 ermöglicht die Messung und hohe Auflösung über das gesamte Gasemissionsspektrum wie es in den Figuren 3 und 5 auszugsweise benutzt worden ist.
Alle in der Beschreibung, den nachfolgenden Ansprüchen und der Zeichnung dargestellten Merkmale können sowohl einzeln als auch in beliebiger Kombination miteinander erfindungswesentlich sein. Bezugszeichenliste
10 Lichtquelle
11 Licht
12 Spaltanordnung, Spaltarray
13 Spektrometer
14 Gitter
15 Detektoranordnung
16 Messsignale
17 Kameraelektronik
18 Bilddaten
19 Auswerteeinrichtung
20 hochaufgelöstes Spektrum
21 Abbildungsebene
22, 23 Peaks
111 Lichtbündel
121 Einzelspalte
122 Schrägspalt
121', 122' Spaltbilder
151 Pixel
201,202 Teilspektren
221, 222, 231 Peaks x-x Achse

Claims

Patentansprüche
1. Hochauflösendes Spektrometer mit einer aus einzelnen Spalten bestehenden Spaltanordnung, einem abbildenden, in Breitenrichtung der Spalte dispergierenden optischen Element und einer zweidimensionalen, aus Einzeldetektoren bestehenden Detektoranordnung, auf die die Spaltanordnung unter Aufspaltung nach Wellenlängen in Breitenrichtung abgebildet wird und die sich in der Abbildungsebene parallel zur Breiten- und Längsrichtung der
Spalte erstreckt, dadurch gekennzeichnet, dass die Spalte der Spaltanordnung so angeordnet und gestaltet sind, dass die durch sie verursachten Spektrenbilder um nicht ganzzahlige Vielfache des Mittenabstands zweier benachbarter Detektoren in Breitenrichtung versetzt sind.
2. Hochauflösendes Spektrometer gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Spalte der Spaltanordnung in Längsrichtung übereinander und in Breitenrichtung gegeneinander versetzt angeordnet sind.
3. Hochauflösendes Spektrometer gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Spaltanordnung einen Einzelspalt aufweist, der sich in seiner Längsrichtung über die gesamte Detektoranordnung erstreckt und dass Spalt und/oder Detektoranordnung gegenüber einer
Normallage schräggestellt ist.
4. Hochauflösendes Spektrometer gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoranordnung um eine in Breitenrichtung der
Detektoranordnung verlaufende Achse gegenüber der Abbildungsebene der Spaltanordnung neigbar angeordnet ist.
5. Hochauflösendes Spektrometer gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die
Detektoranordnung eine CCD ist.
6. Hochauflösendes Spektrometer gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoranordnung eine Photodiodenmatrix ist.
7. Hochauflösendes Spektrometer gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoranordnung eine Thermodetektorenmatrix ist.
8. Hochauflösendes Spektrometer gemäß mindestens einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoranordnung eine hexagonale Struktur aufweist.
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WO (1) WO2004036160A1 (de)

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