TWM458558U

TWM458558U - 用於檢測系統的控制介面

Info

Publication number: TWM458558U
Application number: TW102206015U
Authority: TW
Inventors: Chung-Hsing Chen; Chia-Chien Chen; Jih-Shen Chien; Wei-Lun Chen
Original assignee: Taiwan Surface Mounting Technology Corp
Priority date: 2013-04-02
Filing date: 2013-04-02
Publication date: 2013-08-01

Description

用於檢測系統的控制介面

本創作係有關於一種控制介面，尤其是一種可用於檢測系統的控制介面。

現今的電子產品中的印刷電路板或積體電路等，在製造過程中的每個階段，都必須經過多種功能測試。圖1為現有檢測系統的示意图。如圖1所示，檢測系統1包括電子裝置11、電源供應器(Power Supply)12、測量儀器13、控制介面14、測試治具15及待測物16，其中各元件連接關係如圖示。分別承載控制介面14、測量儀器13與電源供應器12等所提供的控制訊號、測量訊號及電源信號的線路被整合在測試治具15上。測試治具15可隨後藉由開關，在待測物16與測試儀器13間建立電性接觸，配合人工或機器替換待測物16，進而可半/全自動化完成各項測試。

然而，由於控制介面14通常和測試治具15設置在同一測試機台上，且因應不同積體電路或印刷電路板等待測物時，需使用不同規格或型態之控制介面14。現今做法多在測試機台和/或連接測試機台的電腦(PC)端，更換不同的控制介面14。但在更換的過程中須以人工方式抽拔控制介面14，而控制介面14與測試機台和/或連接測試機台的電腦(PC)端之間，一般係透過公、母插座來連接。但頻繁的抽拔動作常導致公、母插座間之連接端子產生碰撞而毀損。

一般而言，上述公、母插座之連接端子的數量，與控制介面14或測試治具15的探針數量相關。當測試治具15的探針數量增加，控制介面14的連接端子數量通常也隨之增加，使得控制介面14的尺寸和規格產生變化，進而在組裝時產生相容性之問題。另一種解決方案為將連接端子微小化而無需改變控制介面14的尺寸或規格，但微小化將更容易造成人工組裝所產生的碰撞毀損。

因此，需要一種用於檢測系統，而且具有可程式化功能的控制介面，且控制介面不需頻繁更換，以提高使用者的便利性，實為相關從業人員所亟欲克服的重點所在。

本創作之一實例可提供一種用於檢測系統的控制介面，包含：一電源控制電路，其包含：一電源管理模組，其分別耦接至一電源及一電子裝置；及一繼電器模組，其包含至少二個繼電器，該等至少二個繼電器分別電氣連接至該電子裝置；以及一控制電路，其耦接至該電子裝置。

本創作之一實例可另提供一種用於檢測系統的控制介面，包含：一電源控制電路，其分別耦接至一電源及一電子裝置；以及一控制電路，其包含：一介面模組，其包含：一訊號解碼器，其耦接至該電子裝置；及至少一個緩衝驅動器，其耦接至該訊號解碼器；以及至少二組控制模組，其分別耦接至該至少一個緩衝驅動器。

本創作之一實例還可提供一種可程式化的控制介面，包含：一電源管理模組，其分別耦接至一電源及一電子裝置；至少一驅動器，其分別耦接至該電源管理模組及該電子裝置；至少二個繼電器，其分別耦接至該至少一驅動器；一訊號解碼器，其耦接至該電子裝置；至少一個緩衝驅動器，其耦接至該訊號解碼器；以及至少二組控制模組，其分別耦接至該至少一個緩衝驅動器。

結合附圖參閱以下本創作之詳細實例，可得知本創作之其他目的、優點及新穎特徵。

1、2、3、4‧‧‧檢測系統

11、21、31、41‧‧‧電子裝置

12、22、32、42‧‧‧電源供應器

13‧‧‧測量儀器

14、23、33、43‧‧‧控制介面

15、24、34、44‧‧‧測試治具

16、25、35、45‧‧‧待測物

231、331、431‧‧‧電源控制電路

232、332、432‧‧‧控制電路

233、333、433‧‧‧電源管理模組

234、334、434‧‧‧繼電器模組

235、335、435‧‧‧介面模組

236-1、236-2...236-n‧‧‧ROM讀寫控制模組

336-1、336-2...336-n‧‧‧ROM讀寫控制模組

436-1、436-2...436-n‧‧‧ROM讀寫控制模組

335a、435a‧‧‧SCL及SDA控制訊號解碼器

335b、435b‧‧‧緩衝及線路驅動器

434a‧‧‧驅動器

434b1、434b2、...434bn‧‧‧繼電器

437‧‧‧穩壓器

i1、i2、i3‧‧‧輸入端

o1、o2、o3‧‧‧輸出端

I/O1、I/O2‧‧‧輸入/輸出端

P1、P2、P2’‧‧‧電源信號

P3、P3-1、P3-2~P3-n‧‧‧電源信號

P4、P5‧‧‧電源信號

C1‧‧‧控制訊號

C2、C2-1、C2-2...C2-n‧‧‧控制訊號

C3、C3-1、C3-2...C3-n‧‧‧控制訊號

C4、C4-1、C4-2...C4-n‧‧‧控制訊號

D1、D1-1、D1-2...D1-n‧‧‧數據訊號

當併同各隨附圖式而閱覽時，即可更佳瞭解本創作之前揭摘要以及上文較佳範例的詳細說明。然應瞭解本創作並不限於所繪之精確排置方式及設備裝置。此外，將瞭解到為了說明之簡單與清楚，顯示於圖式中之元件並不一定依照比例繪製。例如，為清楚之故，某些元件的尺寸相對於其他元件可能有所放大。在各圖式中：圖1為現有技術中的檢測系統的示意图；圖2為依據本創作之一範例的檢測系統的示意圖；圖3為依據本創作之另一範例的檢測系統的示意圖；圖4為依據本創作之另一範例的檢測系統的示意圖；以及圖5為依據本創作之一範例的檢測系統的操作方法的流程圖。

現將詳細參照本創作於隨附圖式中說明之範例。盡其可能，所有圖式中將依相同元件符號以代表相同或類似的部件。

圖2為依據本創作之一範例的檢測系統2的示意圖。檢測系統2可包含電子裝置21、電源供應器22、控制介面23、測試治具24及待測物25。其中控制介面23分別耦接至電子裝置21、電源供應器22以及測試治具24。

電子裝置21可產生至少一個控制訊號。而控制介面23還可包含一電源控制電路231及一控制電路232。電源控制電路231接收及處理來自電源供應器22的電源信號P1和來自電子裝置21的控制訊號C1及C2，且根據電源信號P1和控制訊號C1及C2產生電源信號P2和P3，並將電源信號P2和P3輸出至測試治具24。控制電路232接收及處理來自電子裝置21的控制訊號C3，且根據控制訊號C3產生控制訊號C4，並將控制訊號C4輸出至測試治具24。電源信號P2和P3與控制訊號C4可被傳送到與測試治具24電性連接的待測物25，以便對待測物25及其上的電路或電子元件(例如電阻、電容、電感、放大器、記憶體(Random access memory，「RAM」、Read only memory，「ROM」、Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，「EEPROM」或Flash ROM)、IC晶片、Gamma IC或其他)，進行各種電氣信號的測試。

另外，控制介面23還可對待測物25進行讀取資料的操作。當待測物25接收到來自控制介面23的控制訊號C4及/或電源信號P2和P3時，待測物25可產生數據訊號D1，並輸出至控制介面23。通過控制電路232將數據訊號D1回傳至電子裝置21。因此，控制介面23可針對待測物25及其上的電路或電子元件(例如EEPROM、Flash ROM、IC晶片、Gamma IC或其他)等IC內部的ROM資料進行讀取，以便與電子裝置21上的資料比對，以判斷待測物25上的資料是否正確。

電子裝置21在本實施例中可為但不限於伺服器、主機型電腦、工業電腦、個人電腦、膝上型電腦、筆記型電腦、平板電腦、微處理器、智慧型個人裝置或其它等。電子裝置21可具有至少一個訊號傳輸埠(圖中未示)，該訊號傳輸埠可為通用序列匯流排(USB)埠、一高效能串聯匯流排(由電氣與電子工程師學會(Institute of Electrical and Electronic Engineers)發佈之IEEE1394)埠、一藍牙埠、一紅外線傳輸(Infrared Data Association，「IrDA」)埠、一乙太網路埠、一序列周邊介面(Serial Peripheral Interface，「SPI」)埠、一內部整合電路(Inter-Integrated Circuit，I² C)埠、一通用輸入輸出(General Purpose Input/Output，「GPIO」)埠、一週邊組件互連架構(Peripheral Component Interconnect，「PCI」)埠、一PCI Express埠、一序列先進技術附加(Serial advanced technology attachment，「Serial ATA」or「SATA」序列ATA或SATA)埠、一印表機埠(Print port，「LPT」)、一平行埠(Parallel port或稱並列埠) 或一串列埠(Serial Port，「Com」或稱序列埠，RS-232、RS-422、RS-485)等。

控制介面23可以包括一USB埠連接器(A型或B型USB埠)、一IEEE 1394埠連接器、一乙太網路連接器、一SPI連接器、一I² C連接器、一GPIO連接器、一PCI連接器、一PCI Express埠連接器、一SATA埠連接器、一印表機埠連接器、一平行埠或一串列埠(如果其對應於藍牙埠或IrDA埠即無實體連接器)。因此，電子裝置21及控制介面23之每一者皆能夠支援下列其中之一的資料傳輸，例如一通用序列匯流排(USB)(A型或B型)、IEEE 1394、藍牙、IrDA、Ethernet、SPI、I² C、一GPIO、PCI、PCI Express、序列先進技術附加(序列ATA或SATA)協定、印表機Print port LPT、平行Parallel port及串列Serial Port。另外，電子裝置21與控制介面23之間的通訊協定態式種類，可由兩者彼此互相支援。

請繼續參照圖2，其中，控制介面23還可包括輸入端i1、i2、i3及輸入/輸出端I/O1，其分別接收來自電源供應器22的電源信號P1及/或來自電子裝置21的控制訊號C1、C2、C3。控制介面23還可包括輸出端o1、o2及輸入/輸出端I/O2，其分別輸出電源信號P2、P3及/或控制訊號C4。

電源控制電路231可包含一電源管理模組233以及一繼電器模組234。電源管理模組233耦接至輸入端i1，用以接收來自電源供應器22的電源信號P1；電源管理模組233同時耦接至輸入端i2，用以接收來自電子裝置21的控制訊號C1。繼電器模組234耦接至輸入端i3，用以接收來自電子裝置21的控制訊號C2。其中，電源管理模組233根據接收的電源信號P1和控制訊號C1產生電源信號P2和P2’，並藉由輸出端o1輸出電源信號P2，並將電源信號P2’輸出至繼電器模組234。繼電器模組234可耦接至電源管理模組233，用以接收來自電源管理模組233的電源信號P2’，然後根據電源信號P2’和控制訊號C2產生電源信號P3，並藉由輸出端o2輸出電源信號P3。

其中，控制電路232可包含一介面模組235以及至少2組以上的ROM讀寫控制模組236-1、236-2、...236-n，n為大於或等於2的正整數。介面模組235可包含但不限於一內部電路(Inter-Integrated Circuit，I² C)及/或序列週邊介面匯流排(Serial Peripheral Interface Bus，SPI)電路。介面模組235耦接至輸入/輸出端I/O1，用以接收來自電子裝置21的控制訊號C3。ROM讀寫控制模組236-1、236-2、...236-n分別耦接至介面模組235，並藉由輸入/輸出端I/O2，輸出控制訊號C4。

其中，來自電子裝置21的控制訊號C1，其用以控制電源管理模組233，以決定是否將來自電源供應器22的電源信號P1，經過控制電源管理模組233轉換成電源訊號P2後，藉由輸出端o1，將電源信號P2輸出至測試治具24和待測物25。電源信號P2可作為待測物25所需的負載電源，其直流電壓約為3.3伏特(V)至30V且最大電流為10安培(A)。

其中，來自電子裝置21的控制訊號C2，其用以控制繼電器模組234，以決定是否藉由輸出端o2，將電源信號P3輸出至測試治具24和待測物25及其上的電路或電子元件，例如EEPROM，以便配合藉由輸入/輸出端I/O2輸出的控制訊號C4對EEPROM進行各種電氣信號的測試時，提供所需的一測試電壓。

其中，來自電子裝置21的控制訊號C3，其用以控制介面模組235，以產生控制訊號C4，控制訊號C4可具有一測試用串列時脈(Serial Data Line，SCL)及串列資料(Serial Clock Line，SDA)模擬訊號波形，然後通過至少2組以上的ROM讀寫控制模組236-1、236-2、...236-n，並藉由輸入/輸出端I/O2，將包含該SCL及SDA模擬訊號波形的控制訊號C4輸出至測試治具24和待測物25及其上的電路或電子元件，例如EEPROM，以便對EEPROM進行各種電氣信號的測試。

另外，當待測物25及其上的電路或電子元件，例如EEPROM，接收到來自控制介面23的控制訊號C4及/或電源信號P2和P3時，待測物25可產生數據訊號D1，數據訊號D1可具有例如EEPROM等IC內部的ROM資料的一數據用串列時脈(Serial Data Line，SCL)及串列資料(Serial Clock Line，SDA)模擬訊號波形，並藉由控制介面23的輸入/輸出端I/O2，通過至少2組以上的ROM讀寫控制模組236-1、236-2、...236-n，然後將包含該SCL及SDA模擬訊號波形的數據訊號D1傳送至介面模組235，介面模組235藉由輸入/輸出端I/O1，將包含該SCL及SDA模擬訊號波形的數據訊號D1輸出至電子裝置21。如此一來，電子裝置21便能與待測物25 及其上的電路或電子元件，例如EEPROM等IC內部的ROM資料進行比對，以判斷待測物25上的資料是否正確。

綜上所述，電源供應器22配合著控制介面23的電源管理模組233、繼電器模組234及電子裝置21，可配合待測物25，提供所需的時序做電壓切換管理及電壓加嚴測試項目等。換句話說，可藉由控制具有至少2個以上繼電器的繼電器模組234，對待測物25做多用途輸入或輸出測試電源的控制使用。而控制介面23的硬體電路可配合電子裝置21(例如PC端)上的控制訊號變化(例如高/低位準變化)，可使用例如I² C或SPI的介面模組235及至少2組以上的ROM讀寫控制模組236-1、236-2、...236-n，與待測物25電性連接，可讀取或寫入待測物25上的EEPROM、Flash ROM、Gamma IC等IC內部ROM資料。一旦使用者/檢測者需要比對IC ROM，提供相關協定(Protocol)及指令(Command)的方式就能線上(On Board)比對，而且一次可讀/寫至少2組以上不同的ROM。換句話說，在電路設計上可讀/寫至少2組以上的ROM。

此外，配合著客戶所需量測項目，其搭配的儀器量測，可為多功能的資料擷取器(例如Agilent34970A)、示波器或電表等使用，若測量電壓可配合客製化擴充多組電壓，也可測試電流、頻率、電阻..等，並搭配使用測試軟體控制。

透過控制介面讀寫ROM及控制電壓，以及量測儀器的控制與數據回傳，工程人員可依不同機種的待測物設定不同參數，若相同機種待測物只須讀取相對應參數，便可快速設定好此塊待測物所需測量的項目，按開始量測後將數據回傳到PC端，分析及比對將每片待測物最後結果，存成報告存回伺服器端。

圖3為依據本創作之另一範例的檢測系統3的示意圖。請參照圖3，檢測系統3的結構可相似於如圖2所示的檢測系統2，而其中，控制介面33的控制電路332，其介面模組335可包含一SCL及SDA控制訊號解碼器335a及至少一個緩衝及線路驅動器335b。SCL及SDA控制訊號解碼器335a用以接收來自電子裝置31的控制訊號C3，且該至少一個緩衝及線路驅動器335b耦接於SCL及SDA控制訊號解碼器335a與至少2組以上的ROM讀寫控制模組336-1、336-2、...336-n之間。

圖4為依據本創作之另一範例的檢測系統4的示意圖。請參照圖4，檢測系統4的結構可相似於如圖3所示的檢測系統3，且控制介面43的電源控制電路431可進一步包含至少一穩壓器437；且繼電器模組434可包含至少一驅動器434a及至少2個以上的繼電器434b1、434b2、...434bn，n為大於或等於2的正整數。驅動器434a耦接至輸入端i3，用以接收來自電子裝置41的控制訊號C2。其中，驅動器434a可耦接至電源管理模組433，用以接收來自電源管理模組433的電源信號P2’。該至少2個以上的繼電器434b1、434b2、...434bn分別耦接至驅動器434a，並藉由輸出端o2輸出電源信號P3。

綜上所述，如此一來，電子裝置41便可以透過具有至少2個以上的繼電器434b1、434b2、...434bn及至少2個以上的 ROM讀寫控制模組436-1、436-2、...436-n的控制介面43以及測試治具44，對待測物45上的至少2個以上的待測電路或電子元件，例如EEPROM，同時進行測試，或進行IC內部的ROM資料讀取或比對。

例如，如圖4所示，待測物45可具有但不限於n個待測元件，例如EEPROM，控制介面43可透過測試治具44，將n個ROM讀寫控制模組436-1、436-2、...436-n及相對應的n個繼電器434b1、434b2、...434bn，分別耦接至待測物45上對應的n個待測元件，例如EEPROM，然後電子裝置41就可以同時對n個待測元件進行測試，或進行IC內部的ROM資料讀取或比對。

其中，電子裝置41可透過至少一個訊號傳輸埠(圖中未示)，可分別同時發出n個控制訊號C2-1、C2-2、...C2-n至控制介面43的繼電器模組434，以及n個控制訊號C3-1、C3-2、...C3-n至控制介面43的介面模組435。然後，繼電器模組434中的驅動器434a接收到來自電子裝置41的n個控制訊號C2-1、C2-2、...C2-n後，將其依序分派給分別耦接至驅動器434a的n個繼電器434b1、434b2、...434bn，用以產生n個電源信號P3-1、P3-2、...P3-n，並藉由輸出端o2，將n個電源信號P3-1、P3-2、...P3-n輸出至測試治具44和待測物45。而介面模組435中的SCL及SDA控制訊號解碼器435a接收到來自電子裝置41的n個控制訊號C3-1、C3-2、...C3-n後，產生n個具有SCL及SDA模擬訊號波形的控制訊號C4-1、C4-2、...C4-n，透過緩衝及線路驅動器435b，將其依序分派給分別耦接至緩衝及線路驅動器435b的n個ROM讀寫控制模組436-1、436-2、...436-n，並藉由輸入/輸出端I/O2，將包含該SCL及SDA模擬訊號波形的n個控制訊號C4-1、C4-2、...C4-n輸出至測試治具44和待測物45。

然後，n個電源信號P3-1、P3-2、...P3-n及相對應的n個控制訊號C4-1、C4-2、...C4-n，便可透過測試治具44對待測物45上與其分別對應的n個待測元件，例如EEPROM，便可以同時進行測試，或者，n個待測元件，例如EEPROM，可產生n個具有SCL及SDA模擬訊號波形的數據訊號D1-1、D1-2、...D1-n，並藉由控制介面43的輸入/輸出端I/O2，將n個數據訊號D1-1、D1-2、...D1-n，通過n個ROM讀寫控制模組436-1、436-2、...436-n，傳送至緩衝及線路驅動器435b，然後緩衝及線路驅動器435b藉由輸入/輸出端I/O1，將n個數據訊號D1-1、D1-2、...D1-n輸出至電子裝置41，便可以同時對n個待測元件，例如EEPROM，進行IC內部的ROM資料讀取或比對。

另外，請繼續參照圖4，控制介面43的電源控制電路431可進一步包含至少一穩壓器437。其中，電源管理模組433可根據接收到的電源信號P1和控制訊號C1產生電源信號P2、P2’和P4，然後將其中的電源信號P4輸出至穩壓器437。穩壓器437可耦接至電源管理模組433，用以接收來自電源管理模組433的電源信號P4，電源信號P4經過穩壓器437轉換成電源訊號P5後，並藉由輸出端o3，將電源信號P5輸出至測試治具44和待測物45。而穩壓器437 可為但不限於1.2V至9.7V的電壓穩壓器(Voltage Regulator)，並可提供電源信號P5，例如編程電壓(VPP)電源，做為待測物45上的一次性可編程(One Time Programmable，OTP)IC進行寫入時，所需的的特定電源。

圖5為依據本創作之一範例的檢測系統的操作方法的流程圖。請參照圖5，於步驟501中，開啟測試軟體；在步驟502中，輸入機種(工程人員已設定好的此機種量測參數)；在步驟503中，登入使用者模式；在步驟504中，在測試治具上放上待測物；在步驟505中，以手動或自動方式，掃描待測物上，用以識別的條碼(Barcode)；在步驟506中，下壓治具，將量測頂針頂到待測物的測點上；在步驟507中，在測試軟體上的測試頁面上按開始；在步驟508中，開始量測，依客戶需求量測比對IC內ROM的Checksum及量測電壓或電流、頻率...等；在步驟509中，測量結束，測試軟體分析比對待測物上的ROM是否正確，量測數據是否在範圍內後判定通過(PASS)或失敗(FAIL)；在步驟510中，將此待測物通過或失敗及其相關數據，依照此待測物條碼，儲存成報告(Report)，並回存在伺服器端(Server)；在步驟511中，上拉治具並取出待測物，然後重覆步驟504至511，進行下一個待測物的測試，直至所有待測物測試完畢，則結束整個操作流程。

綜上所述，本創作的優點為透過控制介面，可自由定義時序，除了I² C與SPI通用格式外，也可根據客戶自行定義的協定(Protocol)及時序來調整修改程式；可客制化的方式調整治具、軟體、控制介面及量測儀器的整合，滿足客戶所需任何方式的量測；及支援一次多顆ROM讀取，多組繼電器(Relay)的切換及百組電壓等數據量測及產品判定。然後，將測試後所穫得之量測數據，傳送至電子裝置，以便對量測數據(例如待測物的電壓、電流、阻抗、波形、校驗和(checksum)或其它)進行分析、判斷或比對，然後作成測試結果。該電子裝置更可將各測試結果作成報表、報告或紀錄。

在闡述本創作之代表性實例時，本說明書可能已將本創作之操作方法及/或過程呈現為一具體序列之步驟。然而，由於該方法或過程並非依賴於本文該步驟之具體順序，因而該方法或過程不應被限制於該步驟之具體序列。此項技術中之通常知識者應理解，亦可採用其他序列之步驟。因此，本說明書該步驟之具體順序不應被視為係對申請專利範圍之限制。此外，關於本創作之方法及/或過程之申請專利範圍不應被限制於以該順序執行其各步驟，且熟習此項技術者可輕易地理解，該等序列可有所變化且仍屬於本創作之精神及範圍內。

熟習此項技術者應理解，在不背離上述實例之廣泛創作概念之條件下，可對該等實例作出改變。因此，應理解，本創作並非僅限於所揭示之具體實例，而是旨在涵蓋屬於隨附申請專利範圍所界定之本創作精神及範圍內之所有潤飾。

2‧‧‧檢測系統

21‧‧‧電子裝置

22‧‧‧電源供應器

23‧‧‧控制介面

231‧‧‧電源控制電路

232‧‧‧控制電路

233‧‧‧電源管理模組

234‧‧‧繼電器模組

235‧‧‧介面模組

236-1~236-n‧‧‧ROM讀寫控制模組

24‧‧‧測試治具

25‧‧‧待測物

i1、i2、i3‧‧‧輸入端

o1、o2‧‧‧輸出端

I/O1、I/O2‧‧‧輸入/輸出端

Claims

一種用於檢測系統的控制介面，包含：一電源控制電路，其包含：一電源管理模組，其分別耦接至一電源及一電子裝置；及一繼電器模組，其包含至少二個繼電器，該等至少二個繼電器分別電氣連接至該電子裝置；以及一控制電路，其耦接至該電子裝置。
如申請專利範圍第1項之控制介面，其中該繼電器模組進一步包含至少一驅動器，其分別耦接至該電源管理模組、該電子裝置以及該等至少二個繼電器。
如申請專利範圍第1項之控制介面，其中該電源管理模組分別接收來自該電源的一第一電源信號及來自該電子裝置的一第一控制訊號，並輸出一第二電源信號。
如申請專利範圍第2項之控制介面，其中該至少一驅動器接收來自該電子裝置的至少一第二控制訊號，及該至少二個繼電器可分別輸出至少一個第三電源信號。
如申請專利範圍第1項之控制介面，其中該控制電路還包含：一介面模組，其耦接至該電子裝置；以及至少二組控制模組，其分別耦接至該介面模組。
如申請專利範圍第5項之控制介面，其中該介面模組接收一來自該電子裝置的至少一第三控制訊號，及該至少二組控制模組分別輸出至少一個第四控制訊號。
如申請專利範圍第5項之控制介面，其中該介面模組還包含：一訊號解碼器，其耦接至該電子裝置；及至少一個緩衝驅動器，其耦接於該訊號解碼器與該至少二組控制模組之間。
如申請專利範圍第1項之控制介面，其中該電源控制電路還包含至少一穩壓器，該穩壓器耦接至該電源管理模組，並輸出一第四電源信號。
一種用於檢測系統的控制介面，包含：一電源控制電路，其分別耦接至一電源及一電子裝置；以及一控制電路，其包含：一介面模組，其包含：一訊號解碼器，其耦接至該電子裝置；及至少一個緩衝驅動器，其耦接至該訊號解碼器；以及至少二組控制模組，其分別耦接至該至少一個緩衝驅動器。
如申請專利範圍第9項之控制介面，其中該電源控制電路還包含一電源管理模組，該電源管理模組分別耦接至該電源及該電子裝置。
如申請專利範圍第10項之控制介面，其中該電源管理模組分別接收來自該電源的一第一電源信號及來自該電子裝置的一第一控制訊號，並輸出一第二電源信號。
如申請專利範圍第10項之控制介面，其中該電源控制電路更包含一繼電器模組，該繼電器模組分別耦接至該電源管理模組及該電子裝置。
如申請專利範圍第12項之控制介面，其中該繼電器模組還包含：至少一驅動器，其分別耦接至該電源管理模組及該電子裝置；及至少二個繼電器，其分別耦接至該至少一驅動器。
如申請專利範圍第13項之控制介面，其中該至少一驅動器接收來自該電子裝置的至少一第二控制訊號，及該至少二個繼電器分別輸出至少一個第三電源信號。
如申請專利範圍第9項之控制介面，其中該訊號解碼器接收來自該電子裝置的至少一第三控制訊號，及該至少二組控制模組分別輸出至少一個第四控制訊號。
如申請專利範圍第10項之控制介面，其中該電源控制電路還包含至少一穩壓器，該穩壓器耦接至該電源管理模組，並輸出一第四電源信號。
一種可程式化的控制介面，包含：一電源管理模組，其分別耦接至一電源及一電子裝置；至少一驅動器，其分別耦接至該電源管理模組及該電子裝置；至少二個繼電器，其分別耦接至該至少一驅動器；一訊號解碼器，其耦接至該電子裝置；至少一個緩衝驅動器，其耦接至該訊號解碼器；以及至少二組控制模組，其分別耦接至該至少一個緩衝驅動器。
如申請專利範圍第17項之控制介面，其中該電源管理模組分別接收來自該電源的一第一電源信號及來自該電子裝置的一第一控制訊號，並輸出一第二電源信號。
如申請專利範圍第17項之控制介面，其中該至少一驅動器接收來自該電子裝置的至少一第二控制訊號，及該至少二個繼電器分別輸出至少一個第三電源信號。
如申請專利範圍第17項之控制介面，其中該訊號解碼器接收來自該電子裝置的至少一第三控制訊號，及該至少二組控制模組分別輸出至少一個第四控制訊號。
如申請專利範圍第17項之控制介面還包含至少一穩壓器，該穩壓器耦接至該電源管理模組，並輸出一第四電源信號。