TWI836506B - 測試系統以及測試方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種測試系統以及測試方法。測試系統包括電子裝置以及測試裝置。電子裝置包括處理器。測試裝置包括多個感測器以及控制器。各個感測器感測待測物以產生對應的感測信號。控制器依據處理器的第一控制信號來取樣感測信號，並將經取樣的感測信號傳輸至處理器以使處理器依據經取樣的感測信號產生測試報告。

Description

測試系統以及測試方法

本發明是有關於一種測試系統以及測試方法，特別是關於一種能夠自動地對待測物進行測試，並自動地生成測試報告的測試系統以及測試方法。

電子產品可以透過各種測試來評估對應的功能是否發生異常。舉例來說，電子產品可以透過電源擾動測試來獲得受到干擾時電子產品的暫態操作，以作為良率的評估項目之一。然而，現行的測試方式是透過人員多次地量測並記錄電子產品在受測過程中的測試資料，而造成所記錄的資料產生被誤判的問題。在另一方面，現行的測試方式還透過人員依據多筆經紀錄的測試資料來產生良率報告，而造成測試過程以及產生良率報告的效率低落。

本發明實施例提供一種測試系統，能夠自動地對待測物進行測試，並自動地產生測試報告。

本發明實施例的測試系統包括電子裝置以及測試裝置。電子裝置包括處理器。測試裝置耦接電子裝置以及待測物。測試裝置包括多個感測器以及控制器。此些感測器耦接待測物。各個感測器感測待測物以產生對應的感測信號。控制器耦接各個感測器以及處理器。控制器依據處理器的第一控制信號來取樣感測信號，並將經取樣的感測信號傳輸至處理器以使處理器依據經取樣的感測信號產生測試報告。

本發明實施例另提供一種測試方法。測試方法包括以下的步驟。透過各個感測器感測待測物以產生對應的感測信號。透過控制器依據處理器的第一控制信號來取樣感測信號，並透過控制器將經取樣的感測信號傳輸至處理器。透過處理器依據經取樣的感測信號產生測試報告。

基於上述，本發明實施例的測試系統以及測試方法能夠透過控制器對所感測到的感測信號進行取樣，能夠免除透過人員手動地記錄待測物的測試資料，而是以自動化的方式來避免人為誤判以提升測試作業的效率。在另一方面，本發明實施例的測試系統以及測試方法還能夠透過處理器依據經取樣的感測信號來產生測試報告，能夠提升產生良率報告的效率。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

本發明的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述，以下的描述所引用的元件符號，當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本發明的一部份，並未揭示所有本發明的可實施方式。更確切的說，這些實施例只是本發明的專利申請範圍中的範例。

圖1是依據本發明一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。請參考圖1，測試系統100可對待測物200進行測試，以評估待測物200的功能是否出現異常。圖1實施例的待測物200的數量僅為範例，並不以此為限。

在本實施例中，待測物200可以是具有顯示功能的電子裝置。待測物200可包括顯示元件以顯示顯示畫面。在本實施例中，待測物200可例如是車用顯示面板、儀表板以及後視鏡顯示器等交通用電子產品。在本實施例中，前述的顯示元件可例如是液晶顯示器（liquid crystal display，LCD）、發光二極體（light-emitting diode，LED）、有機發光二極體（Organic Light-Emitting Diode，OLED）等提供顯示功能的顯示元件。在一些實施例中，前述的顯示元件可例如是採用冷陰極螢光燈管（Cold Cathode Fluorescent Lamp，CCFL）或發光二極體做為背光模組的顯示元件。

在圖1的實施例中，測試系統100包括電子裝置110以及測試裝置120。電子裝置110耦接測試裝置120。電子裝置110包括處理器111。在本實施例中，電子裝置110可例如是手機、平板電腦、筆記型電腦與桌上型電腦等。在本實施例中，處理器111可例如是中央處理單元（Central Processing Unit，CPU），或是其他可程式化之一般用途或特殊用途的微處理器（Microprocessor）、數位訊號處理器（Digital Signal Processor，DSP）、可程式化控制器、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）、可程式化邏輯裝置（Programmable Logic Device，PLD）或其他類似裝置或這些裝置的組合，其可載入相關韌體或軟體，以實現本案關於控制以及分析等功能。

在本實施例中，電子裝置110還可包括記憶體（未繪示）。記憶體耦接處理器111。記憶體可儲存與處理器111的操作相關的使用者介面（User interface，UI）、韌體或軟體、程式碼、以及資料（例如是測試報告）。在本實施例中，記憶體可例如是任意型式的固定式或可移動式隨機存取記憶體（random access memory，RAM）、唯讀記憶體（read-only memory，ROM）、快閃記憶體（flash memory）、硬碟或其他類似裝置、積體電路或上述裝置的組合。

在本實施例中，測試裝置120耦接電子裝置110以及待測物200。測試裝置120包括多個感測器121_1~121_n以及控制器122。各個感測器121_1~121_n耦接控制器122以及待測物200。圖1實施例的感測器121_1~121_n的數量以及配置僅為範例，並不以此為限。

具體來說，在本實施例中，感測器121_1可受控於處理器111，並透過控制器122以根據來自處理器111的所輸出的信號或指令（例如，第一控制信號C1）而被驅動。在一些實施例中，感測器121_1可受控於控制器122，並根據來自控制器122的控制信號（未繪示）而被驅動。感測器121_n可以參照感測器121_1的相關說明並加以類推，故在此以及以下實施例中不另重述。

在本實施例中，控制器122耦接處理器111。控制器122可受控於處理器111，並根據來自處理器111的所輸出的信號或指令（即，第一控制信號C1）而被驅動。在本實施例中，控制器122可例如是中央處理器、嵌入式控制器（Embed Controller，EC）或微控制器（Microcontroller Unit，MCU），但並不限於此。

圖2是依據本發明一實施例所繪示的測試方法的流程圖。請參考圖1以及圖2，測試系統100可以執行如以下步驟S210~S230來執行測試方法。在本實施例中，步驟S210~S230可以應用於以下示例性的情況。

在本實施例中，測試系統100可在一段時間內感測（或監測）一般工作中的待測物200，並根據所感測到的信號（即，感測信號SN_1~SN_n）來評估待測物200的功能。在本實施例中，測試系統100也可感測（或監測）受到模擬信號干擾的待測物200，並根據所感測到的信號（即，感測信號SN_1~SN_n）來評估待測物200以完成測試作業。

在步驟S210，透過各個感測器121_1~121_n感測待測物200以產生對應的感測信號SN_1~SN_n。在本實施例中，各個感測器121_1~121_n還分別將對應的感測信號SN_1~SN_n傳輸（或輸出）至控制器122。

在本實施例中，感測信號SN_1~SN_n可例如是待測物200的輸出電壓、輸出電流、溫度、顯示畫面的光信號及/或電源信號等，以指示待測物200的工作狀態。

在步驟S220，透過控制器122依據處理器111的第一控制信號C1來取樣感測信號SN_1~SN_n，並透過控制器122將經取樣的感測信號SN傳輸至處理器111。

在本實施例中，控制器122可接收來自感測器121_1輸出的感測信號SN_1，並對感測信號SN_1進行取樣操作以產生經取樣的感測信號SN。在本實施例中，前述的取樣操作可例如是基於取樣定理（Nyquist–Shannon sampling theorem）所執行的操作，例如是包括傅立葉轉換、類比與數位信號的轉換等步驟。取樣操作可透過本領域具通常知識者所熟知的取樣流程來執行。感測器121_n以及感測信號SN_n可以參照感測器121_1以及感測信號SN_1的相關說明並加以類推，故在此以及以下實施例中不另重述。

應注意的是，控制器122可收集不同形式（例如是電壓以及電流）的感測信號SN_1~SN_n。此外，控制器122可分別對感測信號SN_1~SN_n連續地進行取樣，並且即時地將經取樣的感測信號SN回傳至處理器111，以加速測試作業流程。

在步驟S230，透過處理器111依據經取樣的感測信號SN產生測試報告。

在本實施例中，處理器111可基於電子裝置110內建（或內存）的韌體或軟體模型，對經取樣的感測信號SN進行分析（或計算），以產生關聯於感測信號SN_1~SN_n以及待測物200的測試報告。測試報告可包括多個測試項目及其分析結果，以指示待測物200的良率（Yield）以及其中各種功能的評估結果。

具體來說，在本實施例中，測試報告可包括對應於各個感測信號SN_1~SN_n的測試項目、或是綜合各個感測信號SN_1~SN_n所對應的測試項目。在本實施例中，測試報告還可包括以數字、圖表或前述之組合所表示的分析結果，以指示待測物200的功能評估、良率或前述之組合。

在此值得一提的是，透過單一結構的測試裝置120來感測待測物200能夠免除透過人力來進行感測，同時也能夠免除透過多個外接式的感測器來進行感測，以加速測試作業的流程。此外，透過控制器122對感測信號SN_1~SN_n進行取樣（即，信號處理）以產生感測信號SN，能夠以自動化的操作來避免人為誤判以提升測試作業的效率。在另一方面，透過處理器111依據經取樣的感測信號SN產生測試報告，能夠以自動化的操作來提升產生測試報告的效率。

圖3是依據本發明另一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。請參考圖3，測試系統300可對待測物400進行測試，以評估待測物400的功能是否出現異常。待測物400可以參照待測物200的相關說明並加以類推，故在此不另重述。圖3實施例的待測物400的數量僅為範例，並不以此為限。

在圖3的實施例中，測試系統300包括電子裝置310以及測試裝置320。電子裝置310、電子裝置310所包括的處理器311、測試裝置320、測試裝置320所包括的多個感測器321_1~321_4以及控制器322可以參照測試系統100的相關說明並加以類推，故在此不另重述。

在本實施例中，測試裝置320的多個感測器321_1~321_4包括電壓感測器321_1、電流感測器321_2、光感測器321_3以及溫度感測器321_4。圖3實施例的電壓感測器321_1、電流感測器321_2、光感測器321_3以及溫度感測器321_4的數量以及配置僅為範例，並不以此為限。在一些實施例中，測試裝置320的多個感測器可例如是電壓感測器321_1、電流感測器321_2、光感測器321_3以及溫度感測器321_4中的至少一者或前述之組合。

具體來說，在本實施例中，電壓感測器321_1耦接控制器322以及待測物400。電流感測器321_2耦接控制器322以及待測物400。電壓感測器321_1、以及電流感測器321_2可與控制器322整合在相同結構中（例如是相同積體電路中或相同電路板上）。光感測器321_3耦接控制器322以及待測物400。光感測器321_3可設置（例如是黏貼於）待測物400的顯示元件上。溫度感測器321_4耦接控制器322以及待測物400。溫度感測器321_4可設置（例如是黏貼於）待測物400的顯示元件上。

在本實施例中，測試系統300還包括訊號產生器330。訊號產生器330耦接處理器311以及控制器322。在本實施例中，訊號產生器330可受控於處理器311，並根據來自處理器311的第二控制信號C2來產生電源擾動（Power disturbance）信號PS。在本實施例中，訊號產生器330可例如是可程控電源供應器。

應注意的是，電源擾動信號PS可包括具有波形變化的電源擾動。在本實施例中，電源擾動信號PS可例如是符合ISO標準16750-2關於車輛電子瞬態擾動測試的信號，以模擬車輛啟動（Starting profile）、中斷（Interrupt）、加速及減速（Slow decrease and increase）、重新啟動（Reset behavior）或上述狀態的組合。

在本實施例中，測試系統300還包括拍攝裝置340。拍攝裝置340耦接處理器311。拍攝裝置340的快門可面對待測物400的顯示元件，以拍攝顯示元件的顯示畫面。在本實施例中，拍攝裝置340可例如是相機或攝影機。圖3實施例的拍攝裝置340的數量以及配置僅為範例，並不以此為限。

在本實施例中，測試系統300還包括負載裝置350。負載裝置350耦接待測物400以及處理器311。負載裝置350可受控於處理器311，並根據來自處理器311的所輸出的第三控制信號C3而被驅動。在本實施例中，負載裝置350可例如是驅動器。圖3實施例的負載裝置350的數量以及配置僅為範例，並不以此為限。

應注意的是，在本實施例中，負載裝置350的數量可與待測物400的數量相同。舉例來說，當測試系統300同時對多個待測物400進行測試時，各個待測物400耦接對應的負載裝置350，以一對一地協同操作。在一些實施例中，負載裝置350的數量可與待測物400的數量不相同。舉例來說，當測試系統300同時對多個待測物400進行測試時，多個待測物400耦接相同負載裝置350，以一起協同操作。

在應用於多個待測物400的實施例中，電子裝置310可透過通用串列匯流排（Universal Serial Bus，USB）耦接至集線器（Hub，未繪示），並透過集線器以及多條USB耦接至測試裝置320、拍攝裝置340以及多個負載裝置350。電子裝置310可透過傳輸線（例如是符合RS-232序列資料通訊協定的傳輸線）耦接至訊號產生器330。訊號產生器330可透過傳輸線（例如是符合RS-232序列資料通訊協定的傳輸線）耦接至測試裝置320，並且可透過電源線（例如是符合ISO標準16750-2的電源線）耦接至測試裝置320，以傳輸電源擾動信號PS。

接續上述的說明，測試裝置320可透過多條電源線（例如是符合ISO標準16750-2的電源線）分別耦接至多個待測物400，以傳輸電源擾動信號PS。測試裝置320可透過多條光信號傳輸線耦接至多個光感測器321_3，以傳輸感測光信號SN_3，並且可透過多條溫度信號傳輸線耦接至多個溫度感測器321_4，以傳輸感測溫度信號SN_4。測試裝置320可透過多條電源線（例如是電源傳輸標準的電源線）分別耦接至多個負載裝置350，以傳輸此些負載裝置350與待測物400之間的信號（未繪示）。各個負載裝置350可透過傳輸線（例如是用以傳輸影音資料的傳輸線）耦接至對應的待測物400。在應用於多個待測物400的實施例中，測試系統300內各個元件還可以透過其他方式對應地耦接，並不以上述的傳輸線配置為限。

圖4是依據本發明另一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。請參考圖3以及圖4，測試系統300可以執行如以下步驟S410~S460來執行測試方法。在本實施例中，步驟S410~S460可以應用於以下示例性的情況。

在本實施例中，透過負載裝置350依據處理器311的第三控制信號C3而被驅動，以進一步驅動待測物400、使待測物400顯示特定的顯示畫面或上述的組合。在本實施例中，測試系統300可感測（或監測）受到模擬信號（即，電源擾動信號PS）干擾的待測物400，並根據所感測到的信號（即，感測信號SN_1~SN_4及/或照片SN_P）來評估待測物400以完成測試作業。

在步驟S410，透過訊號產生器330依據處理器311的第二控制信號C2來輸出電源擾動信號PS至多個感測器321_1~321_4中的一者（例如是電流感測器321_2）。

在步驟S420，透過電流感測器321_2將電源擾動信號PS傳輸至待測物400以使待測物400基於電源擾動信號PS來操作以輸出顯示畫面。

在本實施例中，當測試系統300同時對多個待測物400進行測試時，透過電流感測器321_2可同時將電源擾動信號PS傳輸至各個待測物400，使得各個待測物400同時基於電源擾動信號PS來操作以輸出各自的顯示畫面。

在步驟S430，透過拍攝裝置340拍攝顯示畫面以輸出照片SN_P至處理器311。

在本實施例中，拍攝裝置340可透過拍照或錄影的方式來擷取待測物400的顯示畫面以產生照片SN_P。拍攝裝置340可即時地將照片SN_P傳輸至處理器311。在本實施例中，當測試系統300同時對多個待測物400進行測試時，拍攝裝置340可對多個待測物400進行拍攝以輸出單一張照片SN_P。在一些實施例中，當測試系統300同時對多個待測物400進行測試時，拍攝裝置340可分別對多個待測物400進行拍攝以輸出對應的多張照片SN_P。

在步驟S440，透過各個感測器321_1~321_4感測待測物400以產生對應的感測信號SN_1~SN_4。在本實施例中，各個感測器321_1~321_4還分別將對應的感測信號SN_1~SN_4傳輸（或輸出）至控制器322。

具體來說，在本實施例中，透過電壓感測器321_1感測待測物400的輸出電壓以產生感測電壓信號SN_1，並且透過電壓感測器321_1輸出感測電壓信號SN_1至控制器322。透過電流感測器321_2感測待測物400的輸出電流以產生感測電流信號SN_2，並且透過電流感測器321_2輸出感測電流信號SN_2至控制器322。透過光感測器321_3感測待測物400的輸出光以產生感測光信號SN_3，並且透過光感測器321_3輸出感測光信號SN_3至控制器322。透過溫度感測器321_4感測待測物400的溫度以產生感測溫度信號SN_4，並且透過溫度感測器321_4輸出感測溫度信號SN_4至控制器322。

在步驟S450，透過控制器322依據處理器311的第一控制信號C1來取樣感測信號SN_1~SN_4，並透過控制器322將經取樣的感測信號SN傳輸至處理器311。步驟S450可以參照步驟S220的相關說明並加以類推，故在此不另重述。

在步驟S460，透過處理器311依據經取樣的感測信號SN產生測試報告312。步驟S460可以參照步驟S230的相關說明並加以類推，故在此不另重述。

在本實施例中，測試報告312可包括對應於各個感測信號SN_1~SN_4的測試項目、或是綜合各個感測信號SN_1~SN_4所對應的測試項目。

舉例來說，在本實施例中，測試報告312可包括對應於感測電壓信號SN_1的電壓測試項目、對應於感測電流信號SN_2的電流測試項目、對應於感測光信號SN_3的亮度測試項目、以及對應於感測溫度信號SN_4的溫度測試項目等。在本實施例中，測試報告312還可包括對應於綜合此些感測信號SN_1~SN_4的良率項目等。

在本實施例中，測試報告312還可包括拍攝裝置340所輸出的照片SN_P、以及以數字、圖表或前述之組合所表示的分析結果，以指示待測物400的功能評估、良率或前述之組合。

舉例來說，在本實施例中，測試報告312可包括在各個擾動測試模式中，電源擾動信號PS的波形種類以及循環次數的圖表。測試報告312還可包括在對應的擾動測試模式中，依據感測電壓信號SN_1、標準電壓信號、測試時間、標準電壓上限值以及標準電壓下限值所計算出的電壓值與時間關係圖表。在本實施例中，測試報告312還可包括在對應的擾動測試模式中，依據感測電流信號SN_2、標準電流信號、測試時間、標準電流上限值以及標準電流下限值所計算出的電流值與時間關係圖表。在本實施例中，測試報告312還可包括在對應的擾動測試模式中，依據感測光信號SN_3、標準光信號、測試時間、標準亮度上限值以及標準亮度下限值所計算出的亮度值與時間關係圖表。在本實施例中，測試報告312還可包括在對應的擾動測試模式中，依據感測溫度信號SN_4、標準溫度信號、測試時間、標準溫度上限值以及標準溫度下限值所計算出的溫度值與時間關係圖表。

應注意的是，處理器311可依據控制器322所回傳的多個資料（即，感測信號SN_1~SN_4）來進行分析，並產生具有標準極限值的圖形化資料（即，圖表），而能夠優化進行評估作業的效率。在另一方面，當處理器311計算出待測物400的良率後，處理器311可依據所計算的良率來將照片SN_P分類為「通過（Pass）」或「不通過（Fail）」。處理器311還可將經分類的照片SN_P儲存至電子裝置310的記憶體中，以留存待測物400在測試作業中的實體照片。

綜上所述，本發明實施例的測試系統以及測試方法能夠透過測試裝置來感測待測物，並對所感測的感測信號進行取樣，而能夠以自動化的操作來避免人為誤判以提升測試作業的效率。在另一方面，透過處理器對經取樣的感測信號進行分析並產生測試報告，能夠以自動化的操作來提升產生測試報告的效率。如此一來，測試系統以及測試方法能夠自動地對待測物進行測試，並自動地產生測試報告。在部分實施例中，透過不同種類的感測器能夠感測對應的感測電壓信號、感測電流信號、感測光信號以及感測溫度信號，而能夠針對多種測試項目進行分析。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100、300:測試系統 110、310:電子裝置 111、311:處理器 120、320:測試裝置 121_1~121_n、321_1~321_4:感測器 122、322:控制器 200、400:待測物 312:測試報告 330:訊號產生器 340:拍攝裝置 350:負載裝置 C1:第一控制信號 C2:第二控制信號 C3:第三控制信號 PS:電源擾動信號 S210~S230、S410~S460:步驟 SN:經取樣的感測信號 SN_1~SN_n、SN_1~SN_4:感測信號 SN_P:照片

圖1是依據本發明一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。 圖2是依據本發明一實施例所繪示的測試方法的流程圖。 圖3是依據本發明另一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。 圖4是依據本發明另一實施例所繪示的測試系統的方塊示意圖。

100:測試系統

110:電子裝置

111:處理器

120:測試裝置

121_1~121_n:感測器

122:控制器

200:待測物

C1:第一控制信號

C2:第二控制信號

C3:第三控制信號

SN:經取樣的感測信號

SN_1~SN_n:感測信號

Claims (8)

1. 一種測試系統，包括：一電子裝置，包括一處理器；一測試裝置，耦接該電子裝置以及至少一待測物，包括：多個感測器，耦接該至少一待測物，各該感測器感測該至少一待測物以產生對應的一感測信號；以及一控制器，耦接各該感測器以及該處理器，該控制器依據該處理器的一第一控制信號來取樣各該感測信號，並將經取樣的各該感測信號傳輸至該處理器以使該處理器依據經取樣的各該感測信號產生一測試報告；以及一訊號產生器，耦接該處理器以及該控制器，該訊號產生器依據該處理器的一第二控制信號來輸出一電源擾動信號至該些感測器中的一者，其中該些感測器中的該者將該電源擾動信號傳輸至該至少一待測物以使該至少一待測物基於該電源擾動信號來操作以輸出一顯示畫面。
2. 如請求項1所述的測試系統，其中該些感測器包括：一電壓感測器，感測該至少一待測物的輸出電壓以產生一感測電壓信號；一電流感測器，感測該至少一待測物的輸出電流以產生一感測電流信號；一光感測器，感測該至少一待測物的一輸出光以產生一感測 光信號；以及一溫度感測器，感測該至少一待測物的一溫度以產生一感測溫度信號。
3. 如請求項1所述的測試系統，還包括：一拍攝裝置，耦接該處理器，該拍攝裝置拍攝該顯示畫面以輸出一照片至該處理器。
4. 如請求項1所述的測試系統，還包括：至少一負載裝置，耦接該至少一待測物以及該處理器，該至少一負載裝置依據該處理器的一第三控制信號來驅動該至少一待測物。
5. 一種測試方法，包括：透過各多個感測器感測至少一待測物以產生對應的一感測信號；透過一控制器依據一處理器的一第一控制信號來取樣該感測信號，並透過該控制器將經取樣的該感測信號傳輸至各該處理器；透過該處理器依據經取樣的各該感測信號產生一測試報告；以及透過一訊號產生器依據該處理器的一第二控制信號來輸出一電源擾動信號至該些感測器中的一者；以及透過該些感測器中的該者將該電源擾動信號傳輸至該至少一待測物以使該至少一待測物基於該電源擾動信號來操作以輸出一顯示畫面。
6. 如請求項5所述的測試方法，其中透過各該感測器感測該至少一待測物以產生對應的該感測信號的步驟包括：透過該些感測器中的一電壓感測器感測該至少一待測物的輸出電壓以產生一感測電壓信號；透過該些感測器中的一電流感測器感測該至少一待測物的輸出電流以產生一感測電流信號；透過該些感測器中的一光感測器感測該至少一待測物的一輸出光以產生一感測光信號；以及透過該些感測器中的一溫度感測器感測該至少一待測物的一溫度以產生一感測溫度信號。
7. 如請求項5所述的測試方法，還包括：透過一拍攝裝置拍攝該顯示畫面以輸出一照片至該處理器。
8. 如請求項5所述的測試方法，還包括：透過至少一負載裝置依據該處理器的一第三控制信號來驅動該至少一待測物。