TWI829074B - 探針座結構 - Google Patents
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Abstract
本發明係揭露一種探針座結構，其包括一組接座、複數雙頭探針、一頭蓋、複數帶線套筒、及一上鎖件。該組接座，具有一組接端面、複數配置於組接端面之第一透孔及第一鎖孔。各雙頭探針，係穿伸容置於各第一透孔中。該頭蓋，係組設於組接端面，具有同心各第一透孔之複數第二透孔，與同心第一鎖孔之一第三透孔。各帶線套筒，係組設於各第二透孔中，並與各雙頭探針一端抵接。該上鎖件，係穿伸第三透孔後鎖固於第一鎖孔。藉由上述構件之組成，提供使用者可選擇性的局部更換損壞構件。
Description
本發明係與測試設備相關之技術領域，尤其是指一種探針座結構。
按，液晶顯示(Liquid Crystal Display，LCD)需求與應用的大幅成長、功能多元化以及處理速度、頻率增加等，為達到此要求，LCD製造流程中最後階段的封裝測試則更顯重要，其測試主要是針對LCD進行電性特性檢測，找出不合格的晶粒。
坊間針對LCD進行檢測之測試機台，係透過複數探針之探頭與LCD預設端點接觸，形成電性連接並進行相關之測試。
請參閱圖7至9所示，係為單頭式探頭90結構，大致包括一座體91、複數探針套92、複數單頭探針93、及一探針護蓋94。
所述座體91，具有複數頂底貫穿形成於座體91之第一貫穿孔911。
所述探針套92，係套設於各單頭探針93外周則後，配合粘著劑局部設置於各第一貫穿孔911中。
所述探針護蓋94，具有同心各第一貫穿孔911之第二貫穿孔941，提供各單頭探針93及探針套92穿伸固設。
上述結構之單頭探針93於凸出探針護蓋94之一端，提供導線(圖中未示)連接，俾以傳遞單頭探針93之電性響應。
前述單頭式探頭90結構中，其單頭探針93需穿伸探針套92才能組裝至座體91，故單頭探針93其直徑較細，容易因外力而造成損害。且較細的單頭探針93其生產工藝要求較高，反而造成採購成本的增加。
另外，當單頭探針93損壞時，雖說可對損壞之單頭探針93進行更換，但如果探針套92損壞或單頭探針93斷裂卡在探針套92時，由於探針套92無法更換，只能將整個單頭式探頭90進行更換。
又，由於單頭探針93還必需與導線連接，而細針配合細導線之結構，對焊接工藝來說其要求與工時必然不低。
請參閱圖10至12所示，係為雙頭式探頭80結構，大致包括一座本體81、複數雙頭探針82、一電路基板83、及一保護板84。
所述座本體81，具有複數頂底貫穿形成於座本體81之第三貫穿孔811。
所述雙頭探針82，係分別容置各第三貫穿孔811中。
所述電路基板83，係疊設於座本體81上，並與各雙頭探針82一端抵接，俾以傳遞雙頭探針82之電性響應。
所述保護板84，係組設於電路基板83上，對電路基板83形成保護。
前述雙頭式探頭80之結構，雖然可以改善單頭式探頭90細針易損壞與需整體更換之缺失，但其組成構件中之電路基板83其生產成本高，又電路基板83與後端傳輸導線(圖中未示)採焊接連接，而精密焊接之工時長、工藝技術要求高，造成雙頭式探頭80整體成本居高不下。
有鑑於上述先前技術之問題與缺失，本發明之主要目的，乃在於提供一種探針座結構，透過結構之創新設計解決先前技術之缺失。
根據本發明上述目的，本發明提出一種探針座結構，其包括一組接座、複數雙頭探針、一頭蓋、複數帶線套筒、及一上鎖件。該組接座，具有一組接端面、複數配置於組接端面之第一透孔及第一鎖孔。各雙頭探針，係穿伸容置於各第一透孔中。該頭蓋，係組設於組接端面，具有同心各第一透孔之複數第二透孔，與同心第一鎖孔之一第三透孔。各帶線套筒，係組設於各第二透孔中，並與各雙頭探針一端抵接。該上鎖件，係穿伸第三透孔後鎖固於第一鎖孔。藉由上述構件之組成，提供使用者可選擇性的局部更換損壞構件。
10:組接座
11:組接端面
12:第一透孔
13:第一鎖孔
141:第一定位柱
142:第二定位柱
30，30’:蓋體
31:第二透孔
311:大徑段
312:小徑段
32:第三透孔
33:第一定位孔
34:第一定位槽
35:第二鎖孔
40，40’:帶線套筒
41:導線
42:徑擴段
43:徑縮段
50:夾片
51:第四透孔
52:第五透孔
53:第二定位孔
54:第二定位槽
55:第六透孔
<先前技藝>
81:座本體
811:第三貫穿孔
82:雙頭探針
83:電路基板
84:保護板
90:單頭式探頭
91:座體
92:探針套
93:單頭探針
94:探針護蓋
911:第一貫穿孔
941:第二貫穿孔
A1:上鎖件
A2:下鎖件
〔圖1〕係本發明實施例立體外觀示意圖。
〔圖2〕係圖1所示實施例局部構件分解及剖面示意圖。
〔圖3〕係圖1所示實施例剖面示意圖。
〔圖4〕係本發明另一實施例立體外觀示意圖。
〔圖5〕係圖4所示實施例局部構件分解及剖面示意圖。
〔圖6〕係圖4所示實施例剖面示意圖。
〔圖7〕係先前技藝之單頭式探頭實施例示意圖。
〔圖8〕係圖7所示實施例局部構件分解示意圖。
〔圖9〕係圖7所示實施例剖面示意圖。
〔圖10〕係先前技藝之雙頭式探頭實施例示意圖。
〔圖11〕係圖10所示實施例局部構件分解示意圖。
〔圖12〕係圖10所示實施例剖面示意圖。
以下請參照相關圖式進一步說明本發明探針座結構實施例。實施例中各種不同物件係按適用於說明之比例、尺寸、變形量或位移量而描繪，而非按實際元件的比例繪製，合先敘明。且餘下實施例中相同和對稱配置之元件皆以相同的編號來表示。另外，下文所列各實施例說明中「前、後、左、右、上、下、內、外」等方向性術語，是按照指定之視圖方向做表示，不能作為對本發明限制之解釋。
請參閱圖1至3所示，有關本發明探針座結構，其包括一組接座10、複數雙頭探針82、一頭蓋30、及複數帶線套筒40。
上述組接座10，具有一組接端面11、複數第一透孔12、一第一鎖孔13、一第一定位柱141、一第二定位柱142。
所述各第一透孔12，係頂、底貫穿組接座10形成，並配置於組接端面11。
所述第一鎖孔13，係凹設於組接端面11預設位置。
所述第一、二定位柱141、142，係對稱立設於組接端面11，並配置於第一鎖孔13兩側。
上述各雙頭探針82(先前技藝)，係穿伸容置於各第一透孔12中，且兩端分別凸出於第一透孔12。
上述頭蓋30，係匹配組接端面11疊設，具有頂、底貫穿頭蓋30形成之複數第二透孔31、一第三透孔32、一第一定位孔33、及一第一定位槽34。
所述各第二透孔31與各第一透孔12同心。
所述第三透孔32與第一鎖孔13同心。
所述第一、二定位柱141、142分別匹配第一定位孔33與第一定位槽34。
上述各帶線套筒40，係配合粘著劑固設於頭蓋30之各第二透孔31。該帶線套筒40之導線41自第二透孔31頂端凸伸於頭蓋30外側。
是以，上述即為本發明所提供一較佳實施例探針座各部構件及組裝方式之介紹，茲再將本發明之實施例作動特點介紹如下。
請參閱圖1至3所示，頭蓋30對應組接座10之組接端面11設置，並配合上鎖件A1穿伸第三透孔32後鎖設於組接座10之鎖孔13中。俾使設置於頭蓋30中之各帶線套筒40，與容置於組接座10之各雙頭探針82一端接觸。
上述頭蓋30與組接座10組裝過程，為確保各帶線套筒40與各雙頭探針82接觸準確，可以配合組接座10上第一、二定位柱141、142與頭蓋30之第一定位孔33及第一定位槽34，進行定位校準。
由上述實施說明可知，頭蓋30係藉由上鎖件A1鎖設於組接座10上，當頭蓋30因故損壞時，可直接更換頭蓋30。而各雙頭探針82係可活動的插設於組接座10之第一透孔12中，故當有任一雙頭探針82損壞時，也可選擇的自由更替。
請參閱圖4至6所示，係本發明另一實施例；其中頭蓋30’與組接座10之間進一步設有一夾片50，透過下鎖件A2鎖固夾片50於頭蓋30’朝下端面，藉此共同夾銜帶線套筒40’。
上述頭蓋30’，具有複數第二透孔31、一第三透孔32、一第一定位孔33、一第一定位槽34、及複數第二鎖孔35。其中第三透孔32、第一定位孔33與第一定位槽34，其位置與作用係
與上述實施例相同，故不多作贅述。
所述第二透孔31，係頂、底貫穿頭蓋30’形成，其孔徑具有一大徑段311與一小徑段312；其中，大徑段311毗鄰頭蓋30’朝下端面配置。
所述第二鎖孔35，係對稱形成於頭蓋30朝下端面。實施時，各第二鎖孔35係為螺孔。
上述夾片50，具有頂、底貫夾片50形成之複數第四透孔51、一第五透孔52、一第二定位孔53、一第二定位槽54、及複數第六透孔55。
所述各第四透孔51，係上、下同心頭蓋30’之第二透孔31與組接座10之第一透孔12。
所述第五透孔52，係上、下同心頭蓋30’之第三透孔32與組接座10之第一鎖孔13。
所述第二定位孔53，係匹配頭蓋30’之第一定位孔33與組接座10之第一定位柱141。
所述第二定位槽54，係匹配頭蓋30’之第一定位槽34與組接座10之第二定位柱142。
所述第六透孔55，係同心頭蓋30’之第二鎖孔35，提供下鎖件A2穿伸。
上述帶線套筒40’，具有一徑擴段42及分別形成於徑擴段42兩端之徑縮段43。
藉由上述構件之組成，帶線套筒40’一端穿伸於頭蓋30’之第二透孔31，並使之徑擴段42與第二透孔31之大徑段311形成抵接。而帶線套筒40’另一端穿伸夾片50之第四透孔51，且使徑擴段42抵接於夾片50之端面。藉由頭蓋30’與夾片50共同夾持各帶線套筒40’俾以省略上述實施例中之粘著劑實施，並可依
各帶線套筒40’損壞情況進行更換，而無需同時將頭蓋30’及未損壞之帶線套筒40’進行丟棄。
以上所述說明，僅為本發明的較佳實施方式而已，意在明確本發明的特徵，並非用以限定本發明實施例的範圍，本技術領域內的一般技術人員根據本發明所作的均等變化，以及本領域內技術人員熟知的改變，仍應屬本發明涵蓋的範圍。
10:組接座
82:雙頭探針
30:頭蓋
40:帶線套筒
A1:上鎖件
Claims (3)
- 一種探針座結構，其包括：一組接座，具有一組接端面、複數貫穿該組接座形成且配置於該組接端面之第一透孔、及一凹設形成於該組接端面之第一鎖孔；複數雙頭探針，係穿伸容置於各該第一透孔中，且兩端分別凸出該第一透孔；一頭蓋，係組設於該組接端面，具有頂、底貫穿該頭蓋形成之複數第二透孔與一第三透孔，且各該第二透孔同心各該第一透孔，而該第三透孔同心該第一鎖孔；複數帶線套筒，係配合組設於各該第二透孔中，並選擇性與各該雙頭探針一端抵接；一上鎖件，係穿伸該第三透孔後鎖固於該第一鎖孔。
- 如請求項1所述探針座結構，其中該組接端面設有一第一定位柱；該頭蓋具有供該第一定位柱穿伸之一第一定位孔。
- 如請求項1所述探針座結構，其中該組接端面設有一第二定位柱；該頭蓋具有供該第二定位柱穿伸之一第一定位槽。
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