TWI804309B - 天線測試系統 - Google Patents

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Abstract

一種天線測試系統。此天線測試系統包含箱體、承載裝置、至少一探針裝置、訊號量測裝置以及移動裝置。箱體至少具有一操作面，此操作面具有可活動開啟之一開口，以方便操作箱體內的裝置。承載裝置設置於箱體內，用以承載待測天線電路。探針裝置設置於箱體內，用以施加天線測試訊號至待測天線電路，使待測天線電路發射出天線工作訊號。訊號量測裝置設置於箱體內，用以接收待測天線電路所發出之天線工作訊號。移動裝置設置於箱體內，用以承載訊號量測裝置並可在至少在XYZ三個軸向移動，使訊號量測裝置可在不同位置接收天線工作訊號。

Description

天線測試系統
本發明是有關於一種天線測試系統。
隨著無線通訊技術的發展，各種電子產品，例如智慧型手機以及平板電腦都提供了無線通訊的功能來滿足人類的需求。為了提升電子產品的無線通訊性能，業者設計了各種不同的天線裝置來提升電子產品的無線通訊品質。為了確保這些天線裝置能正常運作，會對這些天線裝置進行測試。然而，現行的天線裝置測試需要在實驗室中進行，不但空間需求大，且需要透過繁複的操作才能完成天線裝置的測試。
因此，需要一種天線測試系統來整合實驗室中的各種測試裝置，縮小所需空間，並簡化天線裝置測試的操作，以提高天裝置測試的效率，減少天線裝置測試的時間與空間成本。
本發明提出一種天線測試系統，將多種儀器整合在一箱體中，提高天裝置測試的效率，並減少天線裝置測試的時間與空間成本。
根據本發明之實施例，上述之天線測試系統包含箱體、承載裝置、至少一探針裝置、訊號量測裝置以及移動裝置。箱體至少具有一操作面，此操作面具有可活動開啟之一開口。承載裝置係設置於箱體內，用以承載一待測天線電路。探針裝置係設置於箱體內，用以施加天線測試訊號至待測天線電路，使待測天線電路發射出一天線工作訊號。訊號量測裝置係設置於箱體內，用以接收待測天線電路所發出之天線工作訊號。移動裝置係設置於箱體內，用以承載訊號量測裝置並可在至少在XYZ三個軸向移動，使訊號量測裝置可在不同位置接收天線工作訊號。
在一些實施例中，上述之天線測試系統，更包含：至少一第一滑軌以及承載盤。第一滑軌係朝向箱體之開口方向來延伸設置於箱體之至少一側壁上。承載盤之至少一端部設置於第一滑軌上，以沿著第一滑軌移動。承載盤承載承載裝置及探針裝置，當承載盤沿著至少一第一滑軌朝向該箱體之該開口之方向移動時，承載盤及承載之承載裝置及探針裝置之至少一部份露出於箱體外。
在一些實施例中，移動裝置包含第二滑軌，設置於箱體之頂部。訊號量測裝置設置於第二滑軌上，藉由移動裝置移動至不同位置來接收天線工作訊號。
在一些實施例中，承載裝置與探針裝置設置於箱體之一頂部。
在一些實施例中，移動裝置包含滑軌，設置於箱體之底部。訊號量測裝置設置於滑軌上，以移動至不同位置來接收天線工作訊號。
在一些實施例中，天線測試系統更包含移動式觀測平台，設置於箱體外，用以承載至少一顯微觀測裝置以檢視該探針裝置接觸待測天線電路之位置是否正確。當觀測待測天線電路，移動式觀測平台由箱體之開口伸入至箱體中；當該探針裝置接觸待測天線電路位置觀測完畢後，移動式觀測平台由開口退出箱體。
在一些實施例中，移動式觀測平台更包含Y型支撐臂，Y型支撐臂延伸出二支撐座，二支撐座分別承載正視顯微鏡及背視顯微鏡。
在一些實施例中，該移動式觀測平台更包含可旋轉之支撐臂，支撐臂係承載有顯微鏡，且可旋轉至正視位置或背視位置。
在一些實施例中，該移動裝置更包含防震裝置，用以防止訊號量測裝置在該移動裝置上移動時之震動影響承載裝置。
在一些實施例中，承載裝置更包含防震裝置，防止承載裝置受箱體外力震動影響。
在一些實施例中，天線測試系統更包含高低升降裝置，高低升降裝置設置於承載盤上並承載承載裝置，高低升降裝置用以調整待測天線電路之Z軸座標位置。
在一些實施例中，承載盤與高低升降裝置之間更設置有旋轉機構，使高低升降裝置可以Z軸為中心來旋轉，以調整待測天線電路之角度。
請同時參照圖1和圖2，其係繪示根據本發明一實施例之天線測試系統100之結構示意圖。天線測試系統100包含箱體110、承載盤120、吸收材130、下針手臂140、訊號量測裝置150、移動裝置160以及防震裝置SA。箱體110係用以容納測試天線所需的裝置，其內部表面設置有吸收材130，以吸收電磁波。箱體110至少具有操作面112，用以供使用者置入待測天線電路於箱體110中。例如，操作面112設置有可活動開啟之一開口，以供使用者透過此開口來操作，將待測天線電路置入箱體110中。在本實施例中，操作面112係設置有活動式的側開門來提供上述開口，但本發明之實施例並不受限於此。
承載盤120係用以承載待測天線電路。例如，當操作面112開啟後，承載盤120之一部分可活動式地從開口露出於箱體110外，以方便使用者操作，將待測天線電路置放置在露出於箱體110外的承載盤部分。在本實施例中，承載盤120係利用滑軌來移動。例如，箱體110的側壁上設置有至少一條滑軌，其係朝向箱體110之操作面112(開口)之方向來延伸。承載盤之至少一端部設置於滑軌上，以沿著滑軌移動。如此，當操作面112開啟後，承載盤120之一部分便可從開口露出於箱體110外。
下針手臂140係設置於箱體110內，且位於承載盤120上方，以利用探針裝置來施加天線測試訊號至承載盤120上的待測天線電路，使待測天線電路相應地發出天線工作訊號。在本實施例中，下針手臂140可利用，例如設置於箱體110上壁的軌道來於X-Y平面上移動，以調整施加探針的位置。
訊號量測裝置150係設置於箱體110內，且位於承載盤120下方。訊號量測裝置150係用以量測待測天線電路所發出的天線工作訊號。在本實施例中，訊號量測裝置150為號角天線，但本發明之實施例並不受限於此。
移動裝置160係設置於箱體110內，且位於承載盤120下方。移動裝置160係用以承載訊號量測裝置150，以使訊號量測裝置150能夠在XYZ三個軸向上移動。例如，移動裝置160包含Z軸升降平台162，其可控制訊號量測裝置150在箱體110內的高度。又，如圖3所示，移動裝置160包含滑軌164X和164Y上，而Z軸升降平台162設置於滑軌164X和164Y上，以使得移動裝置160能攜帶訊號量測裝置150在X-Y平面上移動，其中馬達166係用以驅動移動裝置160在XYZ三個軸向上移動。
請參照圖4，其係繪示根據本發明實施例之天線量測的操作示意圖。如圖4所示，探針裝置141係施加天線測試訊號至待測天線電路410，以使待測天線電路發射出天線工作訊號。在本實施例中，待測天線電路410係設置於一承載裝置420上，此承載裝置420可例如為一治具，其底面具有開口，以露出待測天線電路410的底部413。雖然本實施例之探針裝置141係接觸待測天線電路410的頂部412來施加天線測試訊號至待測天線電路410，但本發明之實施例並不受限於此。在本發明之其他實施例中，探針裝置141可透過承載裝置420的開口來接觸待測天線電路410的底部413，以從待測天線電路410底部施加天線測試訊號。
在施加天線測試訊號至待測天線電路410後，待測天線電路410會發出天線工作訊號，而訊號量測裝置150會依照預定時序移動到各個不同的位置(XYZ座標)來量測待測天線電路410所發出的天線工作訊號。
在一些實施例中，待測天線電路410會具有非常小的體積。為了確保探針裝置141能正確地將天線測試訊號施加至待測天線電路410上的預設位置，天線測試系統100更包含顯微鏡210，以於下針手臂140將探針裝置141與待測天線電路410接觸時，透過顯微鏡210來觀察探針裝置141與待測天線電路410的接觸位置是否正確。
請回到圖1，防震裝置SA係設置於箱體110外側表面，用以支撐箱體110，以避免外部震動影響到天線量測的操作。在本實施例中，防震裝置SA為阻尼式防震裝置，但本發明之實施例並不受限於此。
另外，在一些實施例中，天線測試系統100也可將防震裝置SA應用至其他的裝置上。例如，移動裝置160可包含防震裝置SA，以防止訊號量測裝置150利用移動裝置160移動時之震動影響到承載裝置420。又例如，承載盤120可包含防震裝置SA，以防止承載裝置420受箱體110外力震動影響。在本實施例中，防震裝置SA設置於承載盤120的側邊以及箱體110之間。由於防震裝置SA的表面積稍大於承載盤120側邊的表面積，故防震裝置SA不會被承載盤120的側邊所遮蔽，而會露出一部分的防震裝置SA。
請參照圖5，其係繪示根據本發明另一實施例之天線測試系統500之結構示意圖。本實施例之天線測試系統500係類似於天線測試系統100，但不同之處在於天線測試系統500的承載盤120、承載裝置420、下針手臂140(探針裝置141)係設置於箱體110之底部，而非頂部。具體而言，在本實施例中，承載盤120設置於箱體110之底部，而訊號量測裝置150和移動裝置160則位於箱體110之頂部。在進行天線量測時，訊號量測裝置150利用移動裝置160來於箱體110之頂部移動至不同的位置(座標)，以量測下方承載盤120所承載之待測天線電路的天線工作訊號。例如，圖3之滑軌164X和164Y係設置於箱體之頂部，如此訊號量測裝置150可利用滑軌164X和164Y來於箱體110之頂部移動。
在一些實施例中，天線測試系統500可再增設高低升降裝置於承載盤120上，例如前述之Z軸升降平台162來承載待測天線電路，以調整待測天線電路的高度。在另外一些實施例中，高低升降裝置與承載盤120之間可設有旋轉機構，以透過旋轉機構來旋轉高低升降裝置，以調整待測天線電路的角度。
請參照圖6，其係繪示根據本發明實施例之天線量測的操作示意圖。本實施例之天線量測操作係對應上述之天線測試系統500，其中探針裝置141係透過承載裝置420的開口來接觸待測天線電路410的底部413，以從待測天線電路410底部施加天線測試訊號，使得待測天線電路410往上方的訊號量測裝置150發射天線工作訊號。在本實施例中，由於探針裝置141係從待測天線電路410底部施加天線測試訊號，故探針裝置141不會影響或遮蔽從待測天線電路410頂部412發射的天線工作訊號。
請參照圖7，其係繪示根據本發明又一實施例之天線測試系統700之結構示意圖。天線測試系統700係類似於上述之天線測試系統100，不同之處在於天線測試系統700利用移動式觀測平台710來提供確認探針裝置位置時所需的顯微鏡，其中移動式觀測平台710係設置於箱體110外，當進行天線量測時，將移動式觀測平台710之Y型支撐臂712移入至箱體110中，以提供顯微鏡，如圖8和圖9所示。
在圖8和圖9中，當移動式觀測平台710之Y型支撐臂712移入至箱體110時，Y型支撐臂712所延伸出的二支撐座712a和712b會分別位於承載盤120的上方和下方。例如，Y型支撐臂712的二支撐座712a和712b設置有正視顯微鏡910和背視顯微鏡920，其中正視顯微鏡910位於承載盤120的上方，以從承載盤120的上方擷取影像；背視顯微鏡920位於承載盤120的下方，以從承載盤120的下方擷取影像。
在一些實施例中，Y型支撐臂712可更包含有旋轉機構，Y型支撐臂712可利用旋轉機構來旋轉，而使二支撐座712a和712b可以透過旋轉來互換位置。例如，支撐座712a可透過旋轉來移動至承載盤120的下方，而同時支撐座712b也會至承載盤120的上方。移動式觀測平台710之Y型支撐臂712可僅承載一個顯微鏡，例如正視顯微鏡910或背視顯微鏡920。使用者可利用上述之旋轉機構來調整顯微鏡的位置，以符合使用者的需求。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100:天線測試系統 110:箱體 112:操作面 120:承載盤 130:吸收材 140:下針手臂 141:探針裝置 150:訊號量測裝置 160:移動裝置 162:Z軸升降平台 164X:滑軌 164Y:滑軌 166:馬達 210:顯微鏡 410:待測天線電路 412:頂部 413:底部 420:承載裝置 500:天線測試系統 700:天線測試系統 710:移動式觀測平台 712:Y型支撐臂 712a、712b:支撐座 910:正視顯微鏡 920:背視顯微鏡 SA:防震裝置
圖1和圖2係繪示根據本發明一實施例之天線測試系統之結構示意圖。 圖3係繪示根據本發明一實施例之移動裝置的滑軌結構示意圖。 圖4係繪示根據本發明實施例之天線量測的操作示意圖。 圖5係繪示根據本發明另一實施例之天線測試系統之結構示意圖。 圖6係繪示根據本發明實施例之天線量測的操作示意圖。 圖7係繪示根據本發明又一實施例之天線測試系統之結構示意圖。 圖8和圖9係繪示根據本發明實施例之應用移動式觀測平台來進行天線量測的示意圖。
無
110:箱體
112:操作面
120:承載盤
140:下針手臂
150:訊號量測裝置
160:移動裝置
162:Z軸升降平台
210:顯微鏡
SA:防震裝置

Claims (11)

  1. 一種天線測試系統，包含：一箱體，至少具有一操作面，該操作面具有可活動開啟之一開口；一承載裝置，設置於該箱體內，用以承載一待測天線電路；至少一探針裝置，設置於該箱體內，用以施加一天線測試訊號至該待測天線電路，使該待測天線電路發射出一天線工作訊號；以及一訊號量測裝置，設置於該箱體內，用以接收該待測天線電路所發出之該工作訊號；以及一移動裝置，設置於該箱體內，用以承載該訊號量測裝置並可在至少在XYZ三個軸向移動，使該訊號量測裝置可依照預定時序以在不同之複數個量測位置接收該工作訊號；其中該探針裝置係設置於一下針手臂上，以利用該下針手臂來進行移動，當待測天線電路從該箱體外被移動至該箱體內之一預設測試位置後，該下針手臂移動該探針裝置來施加該天線測試訊號至該待測天線電路。
  2. 如請求項1所述之天線測試系統，更包含：至少一第一滑軌，其中該至少一第一滑軌係朝向該箱體之該開口之方向來延伸設置於該箱體之至少一側壁上；以及一承載盤，其中該承載盤之至少一端部設置於該至少一 第一滑軌上，以沿著該至少一第一滑軌移動；其中，該承載盤承載該承載裝置及該探針裝置，當該承載盤沿著該至少一第一滑軌朝向該箱體之該開口之方向移動時，該承載盤及承載之該承載裝置及該探針裝置之至少一部份露出於該箱體外。
  3. 如請求項2所述之天線測試系統，其中該移動裝置包含一第二滑軌，設置於該箱體之一頂部；其中，該訊號量測裝置設置於該第二滑軌上，以移動至不同位置來接收該天線工作訊號。
  4. 如請求項1所述之天線測試系統，其中該承載裝置與該探針裝置設置於該箱體之一頂部。
  5. 如請求項4所述之天線測試系統，其中該移動裝置包含一滑軌，設置於該箱體之一底部；其中，該訊號量測裝置設置於該滑軌上，以移動至不同位置來接收該天線工作訊號。
  6. 如請求項5所述之天線測試系統，更包含一移動式觀測平台，設置於該箱體外，用以承載至少一顯微觀測裝置以檢視該探針裝置接觸該待測天線電路之位置是否正確；其中當觀測該待測天線電路與該探針裝置之接觸狀態時，該移動式觀測平台由該箱體之該操作面之該開口伸入至該箱體中；當觀測完畢後，該移動式觀測平台由該開口退出該箱 體。
  7. 如請求項6所述之天線測試系統，其中該移動式觀測平台更包含一Y型支撐臂，該Y型支撐臂延伸出二支撐座，該至少一顯微觀測裝置包含一正視顯微鏡及一背視顯微鏡，該二支撐座分別承載該正視顯微鏡及該背視顯微鏡。
  8. 如請求項6所述之天線測試系統，其中該移動式觀測裝置更包含一可旋轉之支撐臂，該至少一顯微觀測裝置為一顯微鏡，該支撐臂承載該顯微鏡，且可旋轉至一正視位置或一背視位置。
  9. 如請求項1所述之天線測試系統，其中該移動裝置更包含一防震裝置，用以防止該訊號量測裝置在該移動裝置上移動時之震動影響該承載裝置。
  10. 如請求項2所述之天線測試系統，其中該承載盤更包含一防震裝置，防止該承載裝置受該箱體外力震動影響。
  11. 如請求項2所述之天線測試系統，更包含一高低升降裝置，該高低升降裝置設置於該承載盤上並承載該承載裝置，該高低升降裝置用以調整該待測天線電路之Z軸座標位置。
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