TWI753384B - 玻璃瓶的檢查方法及玻璃瓶的製造方法 - Google Patents

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Abstract

[課題]本發明，是提供一種玻璃瓶的檢查方法及玻璃瓶的製造方法，可從畫像自動地判別在表面具有雕刻的玻璃瓶中有無缺點。 [技術內容]玻璃瓶的檢查方法的一態樣，是對於在胴部的表面具有雕刻的玻璃瓶進行檢查的方法，包含：將旋轉的玻璃瓶攝像並將胴部的全周被攝像的畫像取得的畫像取得過程S12、及將畫像中包含源自雕刻的模樣的雕刻領域屏蔽的屏蔽過程S18、及對於畫像中除了被屏蔽的雕刻領域以外的領域判別有無缺點的判別過程S20。

Description

玻璃瓶的檢查方法及玻璃瓶的製造方法
本發明，是有關於在胴部的表面具有雕刻之玻璃瓶的檢查方法及該玻璃瓶的製造方法。
已知在表面施加了具有凹凸的雕刻的玻璃瓶。具有雕刻的玻璃瓶，是具有獨創性和高級感，對於消費者可產生較佳的印象。
在這種的表面具有凹凸的玻璃瓶的檢查方法，例如專利文獻1已被提案。專利文獻1的發明，是光學地判別由凹凸所形成的雕刻面及無凹凸的平滑面。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開昭58-216906號公報
[發明所欲解決之問題]
但是在專利文獻1的發明中，只可判別有凹凸的面及無凹凸的面，並無法檢查玻璃瓶的缺點。欲光學地檢查具有凹凸的雕刻的玻璃瓶的話，不易判別出：是由凹凸所產生的陰影，還是由刮傷和氣泡等的缺點所產生的陰影。即使現在，具有凹凸的玻璃瓶的刮傷和氣泡等的有無缺點，還是只能依賴目視檢查。
在此，本發明，是提供一種玻璃瓶的檢查方法及玻璃瓶的製造方法，可從畫像自動地判別在表面具有雕刻的玻璃瓶中有無缺點。 [用以解決問題之技術手段]
為了解決上述的課題的至少一部分，本發明可以由以下的態樣或是適用例實現。
又，在以下的說明中，「雕刻」，是指由玻璃瓶的表面的凹凸所產生的外觀的造形設計，「模樣」，是指在將玻璃瓶攝像所獲得的畫像中出現的起因於「雕刻」的明暗濃度的變化。
[1]本發明的玻璃瓶的檢查方法的一態樣，是對於在胴部的表面具有雕刻的玻璃瓶進行檢查的方法，包含：將旋轉的前述玻璃瓶攝像並將前述胴部的全周被攝像的畫像取得的畫像取得過程、及將前述畫像中包含源自前述雕刻的模樣的雕刻領域屏蔽的屏蔽過程、及對於前述畫像中除了被屏蔽的前述雕刻領域以外的領域判別有無缺點的判別過程。
依據上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣的話，因為對於判別除了雕刻領域以外的領域是否有無缺點，所以可以從畫像自動地判別在表面具有雕刻的玻璃瓶中有無缺點。
[2]對於上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣，前述缺點，是至少包含表面缺點，前述畫像取得過程，是由線感測器將透過了前述胴部的透過光攝像。
依據上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣的話，藉由線感測器將透過光攝像，即使是如表面氣泡的陰影不易出現的缺點，也可以從畫像自動地判別。
[3]對於上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣，進一步包含模樣位置檢出過程，其是使用事先依據前述雕刻的外形所作成的圖型登錄畫像，圖型搜尋由前述畫像取得過程所取得的前述畫像，而檢出前述模樣，前述屏蔽過程，是可以屏蔽包含藉由前述模樣位置檢出過程所檢出的前述模樣的前述雕刻領域。
依據上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣的話，因為可使用依據雕刻的外形所作成的圖型登錄畫像來檢出模樣，所以即使模樣的濃淡較薄，仍可以穩定地檢出模樣的位置。
[4]對於上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣，前述模樣位置檢出過程，是對於前述畫像中的規定高度範圍進行圖型搜尋。
依據上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣的話，畫像中的模樣的出現的高度因為是幾乎固定，所以藉由對於規定高度範圍進行圖型搜尋，就可以減少檢查裝置的負荷。
[5]本發明的玻璃瓶的製造方法的一態樣，是由粗模從塊料成形成型坯，由精整模型將前述型坯成形成前述玻璃瓶，對於前述玻璃瓶進行上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣而獲得被判別為無前述缺點的玻璃瓶。
依據上述玻璃瓶的製造方法的一態樣的話，即使具有雕刻的玻璃瓶，因為可以自動地判別缺點，所以也可以製造無缺點的玻璃瓶。 [發明的效果]
依據本發明的玻璃瓶的檢查方法的一態樣的話，可以從畫像自動地判別在表面具有雕刻的玻璃瓶中有無缺點。依據本發明的玻璃瓶的製造方法的一態樣的話，即使具有雕刻的玻璃瓶，也可以製造無缺點的玻璃瓶。
以下，使用圖面詳細說明本發明的最佳的實施方式。又，以下說明的實施方式，不是用於限定本發明的申請專利範圍所記載的內容。且，以下說明的結構的全部，不一定皆是本發明的必須構成要件。
本實施方式的玻璃瓶的檢查方法，是對於在胴部的表面具有雕刻的玻璃瓶進行檢查的方法，包含：將旋轉的前述玻璃瓶攝像並將前述胴部的全周被攝像的畫像取得的取得過程、及將前述畫像中包含源自前述雕刻的模樣的雕刻領域屏蔽的屏蔽過程、及對於前述畫像中除了被屏蔽的前述雕刻領域以外的領域判別有無缺點的判別過程。
本實施方式的玻璃瓶的製造方法，是由粗模從塊料成形成型坯，將前述型坯由精整模型而成形成玻璃瓶，對於前述玻璃瓶進行上述玻璃瓶的檢查方法的一態樣而獲得被判別為無前述缺點的玻璃瓶。
1.檢查裝置 使用第1圖及第2圖，詳細說明玻璃瓶10的檢查裝置1。第1圖是示意使用本實施方式的檢查方法的檢查裝置1的側面圖，第2圖是示意該檢查裝置1的俯視圖。
第1圖及第2圖所示的檢查裝置1，是在表面具有雕刻15的玻璃瓶10的檢查裝置1。檢查裝置1，是被組入無圖示的玻璃瓶10的生產線，並成為該生產線的一部分，成形後，將被漸冷的玻璃瓶10朝檢查裝置1搬運，將檢查後的玻璃瓶10朝下一個過程搬運。
檢查裝置1，是包含：具有將光照射玻璃瓶10的發光面22的發光部20、及隔著玻璃瓶10與發光部20相面對配置的攝像部40、及包含依據由攝像部40所攝像的玻璃瓶10的畫像80(第4圖)判別有無缺點的判別部52的控制部50。
在此，如第1圖所示，玻璃瓶10是在正立狀態下，即在中心軸12是沿著垂直方向的狀態下受到檢查。垂直方向是重力的方向，水平方向是與垂直方向垂直交叉的方向。
檢查裝置1，是包含：將玻璃瓶10一邊繞中心軸12的周圍旋轉一邊支撐的載置台30、及一邊與玻璃瓶10的側面接觸一邊將玻璃瓶10旋轉的側滾子32。如第1圖所示，側滾子32雖是位於玻璃瓶10及攝像部40之間，但只是方便說明側滾子32用，側滾子32是被配置於不會妨礙攝像部40將玻璃瓶10攝像的位置。
玻璃瓶10，是透明或是半透明。半透明，是指可藉由來自透過了玻璃瓶10的發光部20的光而判別玻璃瓶10的胴部13的缺點例如表面氣泡18的程度的透明度。玻璃瓶10，是例如具有橫斷面圓形的頸部11及胴部13、及底部14的廣口瓶。玻璃瓶10的橫斷面形狀，是多角形也可以。玻璃瓶10，是在表面具有雕刻15。雕刻15，是形成於玻璃瓶10的表面的凹凸，例如，藉由被刻在成形用模具的表面的凹凸而成形。
側滾子32，是與胴部13接觸，將玻璃瓶10繞中心軸12的周圍旋轉。中心軸12，是成為玻璃瓶10旋轉的旋轉中心軸的虛線。側滾子32，是藉由旋轉控制部62的指令將馬達60的驅動力透過皮帶35等朝玻璃瓶10傳達，將玻璃瓶10旋轉。側滾子32，是將玻璃瓶10由規定速度旋轉規定量。規定量的旋轉，是指使玻璃瓶10的全周可被攝像的充分的量。規定量的旋轉，是設定成例如1.5圈以上，使可以由1個畫像資料把握檢出體的整體。旋轉檢出部54，是可以直接或是間接安裝於馬達60的旋轉式編碼器。依據旋轉檢出部54的脈衝輸出，由攝像部40將玻璃瓶10的規定次數分的畫像攝像。
發光部20，是照射玻璃瓶10的光源。發光部20，是在玻璃瓶10側具有發光面22，可以從攝像部40的相反側照射玻璃瓶10的面光源。發光部20的高度，是設定於可以照射預定由檢查裝置1檢查的最大的玻璃瓶10的整體。如第2圖所示，發光面22的全寬度W2，是比玻璃瓶10的全寬度W1更狹窄。藉由將全寬度W2比全寬度W1更窄，就可將表面氣泡18的陰影明確地攝像。全寬度W1、W2，是從俯視看檢查裝置1的情況時的玻璃瓶10及發光面22的全寬度。
如第2圖所示，發光面22，是例如長方形的形狀，其幾乎全面發光。發光面22，是正對於玻璃瓶10及攝像部40，透過了玻璃瓶10的光可到達攝像部40。
發光部20的光源，是可以使用例如LED和有機EL等的公知的光源。發光部20是擴散照明，使用LED的情況時可以在發光面22利用擴散板將均一的光對於玻璃瓶10照射。擴散板，可以使用將來自LED等的光源的光擴散並朝外部射出的公知者。光是藉由擴散板而被擴散，當使用多數的光源的情況時，可以減少光源不存在的部分的不均勻。
攝像部40，是將玻璃瓶10與挾持發光部20相面對配置。攝像部40，是配置成將中心軸12的延長線上的玻璃瓶10的表面攝像。攝像部40，是配置成可以將玻璃瓶10的至少檢查對象部分攝像，在此，玻璃瓶10的胴部13的垂直方向的整體可進入攝像部40的視野內。
攝像部40，可以藉由透過了玻璃瓶10的發光部20的光而將包含檢出體(例如包含表面氣泡18)的畫像攝像。攝像部40，是例如，可以使用公知的線感測器照相機。攝像部40，是藉由旋轉檢出部54的輸出配合側滾子32的旋轉而攝像，旋轉速度即使由任何的原因變化也不會影響畫像80。
攝像部40，是將胴部13的全周攝像，將其資料朝控制部50的畫像處理部53發訊。
控制部50，是包含：判別部52、及畫像處理部53。控制部50，是例如，由CPU(中央處理器、Central Processing Unit)和GPU(圖形處理單元、Graphics Processing Unit)等的處理器、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、ROM(唯讀記憶體、Read-Only Memory)、RAM(動態隨機存取記憶體、Random Access Memory)等的記憶裝置、鍵盤、滑鼠、觸控板等的輸入裝置、液晶顯示器、有機EL(電致發光、Electro Luminescence)顯示器等的顯示裝置、I/O板等的數位輸入輸出板等構成。控制部50，是實行檢查玻璃瓶10的處理。由檢查裝置1將玻璃瓶10由規定速度間歇搬運的處理，雖是由與控制部50不同的控制部實行，但是也可以由控制部50實行。
判別部52，是依據從攝像部40所取得的畫像判別有無缺點。由判別部52所判別的缺點，是例如，表面缺點。表面缺點，是指存在於玻璃瓶10的內表面或是外表面的表面氣泡18、污垢、異物。判別部52，是除了判別表面缺點以外，也可以判別例如玻璃瓶10的內部的缺點。判別部52，是將例如縱的長度是3.0mm以上，橫的長度是1.0mm以上，深度是0.05mm以上的表面氣泡18判別為缺點較佳。且，判別部52，不會誤將源自雕刻15的畫像的模樣判別為缺點較佳。
控制部50，是將判別部52的判別結果將玻璃瓶10朝外部輸出，例如，將由檢查裝置1的排出部之後的線判別為有缺點的玻璃瓶10排除。對於控制部50的具體的處理，是由下述「3.檢查方法」說明。
2.製造方法 說明本實施方式的玻璃瓶10的製造方法。玻璃瓶10，首先是由粗模從塊料成形成型坯。型坯，是在已被配置於粗模內的高溫的塊料內將壓縮空氣吹入而成形成有底筒狀。也可以配合壓縮空氣而使用滑閥。接著，將型坯朝精整模型移動，在精整模型內將壓縮空氣朝型坯吹入將製品也就是玻璃瓶10成形。成形隨後的玻璃瓶10因為是高溫，所以朝漸冷爐移動使緩慢地被冷卻。對於從漸冷爐被搬出的玻璃瓶10實行下述檢查方法。且，實行下述檢查方法後，可將被判別為無缺點的玻璃瓶10作為良好的製品。
如此，依據本實施方式的玻璃瓶10的製造方法的話，即使具有雕刻15的玻璃瓶10，因為可以自動地判別缺點，所以也可以製造無缺點的玻璃瓶10。
3.檢查方法 使用第3圖～第7圖說明使用第1圖及第2圖中的檢查裝置1的本實施方式的玻璃瓶10的檢查方法。第3圖是本實施方式的檢查方法的流程圖，第4圖是畫像80的一例，第5圖是說明畫像前處理S14、模樣位置檢出過程S16及屏蔽過程S18的圖，第6圖是說明畫像前處理S14及屏蔽過程S18的圖，第7圖是說明判別過程S20的圖。
如第3圖所示，本實施方式的檢查方法，是對於在胴部13的表面具有雕刻15的玻璃瓶10進行檢查的方法，至少包含：畫像取得過程S12、及屏蔽過程S18、及判別過程S20。本實施方式的檢查方法，也可以在S12之前進一步包含開始攝像的過程S10，也可以在S12之後包含對於畫像施加規定的處理的畫像前處理S14，也可以在S14之後進一步包含模樣位置檢出過程S16。對於各過程一邊參照第1圖及第2圖一邊如以下依序地說明。
S10：控制部50，是朝攝像部40發出攝像開始的指令。攝像部40，是依據控制部50的指令，由線感測器將透過了繞中心軸12的周圍旋轉的玻璃瓶10的胴部13的透過光攝像。此時，控制部50，是依據來自旋轉檢出部54的輸出而運算玻璃瓶10的旋轉角度，連續攝像1.5圈(例如 360°×1.5=540°)。第1圖所示的缺點，是例如表面氣泡18。藉由線感測器將透過光攝像，即使如表面氣泡18的陰影的不易出現的缺點，也可以從畫像自動地判別。被攝像的畫像資料，是從攝像部40朝控制部50被發訊。
S12：控制部50，是實行將從攝像部40被發訊的胴部13的全周被攝像的畫像80(第4圖)取得的畫像取得過程S12。畫像80，是被記憶於控制部50的無圖示的記憶裝置。在畫像80中，至少使胴部13的1.5圈分的畫像被攝像，也可以進一步使頸部11的1.5圈分的畫像被攝像。畫像80是藉由具有胴部13的1.5圈分以上，控制部50，就可以將相當於胴部13的1圈分的複數檢查領域(82～84、88、89)不中斷地配置於畫像80。
第4圖所示的畫像80，是顯示源自雕刻15的模樣15a、及朝縱方向延伸的接縫線16、及表面氣泡陰影18a，是作為暗影被攝像的狀態。接縫線16，是藉由使用將玻璃瓶10成形時的模具所形成的段差而發生的陰影。在畫像80中被判別為缺點的陰影，是除了源自表面氣泡18而形成的表面氣泡陰影18a以外，也可以包含源自內部的氣泡、白石、異物等而形成的陰影。為了將這些的陰影明確與模樣15a和接縫線16區別而判別為缺點，在畫像80中的胴部13被攝像的部分中，設有複數矩形的檢查領域(82～84、88、89)，在各檢查領域實行事先被設定的檢查規則。在第4圖中各檢查領域(82～84、88、89)是由虛線顯示。
S14：畫像處理部53，是為了更確實地實行模樣位置檢出過程S16，而對於模樣15a實行畫像前處理S14。畫像前處理S14，是為了由抽象的形狀來圖型搜尋模樣15a，例如可以進行「模糊處理」。「模糊處理」，是例如可以藉由平均化濾波器進行，平均化濾波器是將矚目畫素的畫素值，置換成濾波器尺寸範圍內的全畫素值的平均值並輸出的二次元濾波器。
且畫像前處理S14，是除了「模糊處理」以外，也可以採用例如將陰影的黑加以膨脹的「膨脹處理」。
S16：如第5圖所示，判別部52，是實行模樣位置檢出過程S16。在實行模樣位置檢出過程S16之前，如第5圖(a)所示，操作者是事先準備依據雕刻15的外形而作成的圖型登錄畫像86。圖型登錄畫像86也可以依據源自雕刻15的模樣15a的外形而作成。圖型登錄畫像86，是比雕刻15更稍大的框，也可以設定成與矩形的第1檢查領域82相同大小。圖型登錄畫像86，是被記憶於控制部50的無圖示的記憶裝置。
接著，判別部52，是實行模樣位置檢出過程S16。如第5圖(b)及(c)所示，模樣位置檢出過程S16，是對於在畫像取得過程S12所取得的畫像80，使用事先依據雕刻15的外形所作成的圖型登錄畫像86進行圖型搜尋，而檢出模樣15a。圖型搜尋，是在畫像80內搜尋適合圖型登錄畫像86的檢出體，當圖型登錄畫像86與一定程度模樣15a的外形一致時，就將檢出體檢出作為模樣15a。因為使用依據雕刻15的外形所作成的圖型登錄畫像86而檢出模樣15a，所以模樣15a的濃淡即使較薄，仍可以穩定地檢出模樣15a的位置。
模樣位置檢出過程S16，是可以對於畫像80中的規定高度範圍進行圖型搜尋。如第1圖所示玻璃瓶10是位於載置台30上，被攝像的畫像80中的模樣15a的出現的高度是幾乎一定。在此，如第4圖所示，將來自畫像80的下端的第1高度H1作為下限，將第2高度H2的水平方向的範圍設定於圖型搜尋領域85(由一點鎖線包圍的矩形領域)，在圖型搜尋領域85內進行圖型搜尋。如此藉由對於規定高度範圍進行圖型搜尋，就可以減少檢查裝置1的處理的負荷。
S18：畫像處理部53，是實行屏蔽過程S18。如第5圖(d)及(e)所示，屏蔽過程S18，是藉由遮罩87而將畫像80中包含源自雕刻15的模樣15a的雕刻領域81屏蔽。雕刻領域81，是包含模樣15a的整體的寬度。雕刻領域81，也可以是藉由圖型登錄畫像86而被包圍的領域，也可以是將比圖型登錄畫像86更若干窄且更接近模樣15a的範圍作為雕刻領域81。遮罩87，是與雕刻領域81等同。遮罩87，是與圖型登錄畫像86一起，事先被作成。也可以事先設定遮罩87及圖型登錄畫像86的配置。由此，藉由圖型搜尋而確認了圖型登錄畫像86是被配置於畫像80中適切的位置的話，在雕刻領域81被設定於畫像80的同時藉由遮罩87進行屏蔽。且，畫像處理部53，是依據藉由圖型搜尋而檢出的模樣15a的位置，將事先設定的形狀的複數檢查領域(82～84、88、89)配置於畫像80。藉由事先設定好模樣15a的位置及各檢查領域(82～84、88、89)的位置之間的相對位置，當模樣15a的位置被決定的話，就可以將複數檢查領域(82～84、88、89)的位置自動地佈局配置在畫像80上。
除了上述的S14～S18以外，例如，S14也可以採用其他的畫像處理。例如，畫像處理部53，也可以藉由將由第6圖(a)的畫像取得過程S12所取得的畫像80，如第6圖(b)進行複數次的膨脹處理將模樣15a加粗，將其畫像80如第6圖(c)進行二值化處理，由判別部52實行模樣位置檢出過程S16而檢出的模樣15a並設定雕刻領域81，使畫像處理部53如第6圖(d)實行屏蔽過程S18。此情況，模樣位置檢出過程S16，可以藉由由二值化處理所獲得的模樣15a的重心及面積而檢出模樣15a。
S20：判別部52，是實行判別過程S20。判別過程S20，是對於畫像80中除了被屏蔽的雕刻領域81以外的領域，判別有無缺點。因為是對於除了雕刻領域81以外的領域有無缺點進行判別，所以可以從畫像80自動地判別在表面具有雕刻15的玻璃瓶10中有無缺點。判別過程S20，是各別對於被設定於畫像80的第1檢查領域82、第2檢查領域83、第3檢查領域84、第4檢查領域88及第5檢查領域89，由各別規定的檢查規則實行，判別有無缺點。各檢查領域，是事先被設定成為例如規定的大小的矩形狀。
第1檢查領域82，是將雕刻領域81的周圍包圍的領域，比第2檢查領域83更狹窄。在第1檢查領域82中，除了由遮罩87所被覆的領域以外，對於如第7圖(a)陰影的線較細(或較薄)的表面氣泡18，畫像處理部53是進行了例如縱橫方向強調處理之後，進行二值化處理的話如第7圖(b)所示陰影的線就成為無中斷的連續體。判別部52，是二值化處理後，依據檢出體的面積及最大長度，來判別檢出體是否為缺點，檢出體不是缺點的情況時判別為「無缺點」，控制部50是將該玻璃瓶10作為良品處理(S22)。且，在檢出體具有缺點的情況中判別為「具有缺點」，控制部50是將該玻璃瓶10作為不良品處理(S24)。
第2檢查領域83，是將第1檢查領域82的周圍包圍，從畫像80的下端至頸部11的下端為止延伸。第2檢查領域83，是除了第1檢查領域82以外的部分。畫像處理部53，是對於第2檢查領域83進行與第1檢查領域82同樣的畫像處理，判別部52是判別檢出體是否為缺點(S20)。因為在第2檢查領域83將模樣15a誤判別為缺點的可能性較低，所以判別部52，可以由比第1檢查領域82更高的精度來判別第2檢查領域83的檢出體。
2個第3檢查領域84，是被配置於第2檢查領域83的左右的外側，從畫像80的下端至頸部11的下端為止延伸。第3檢查領域84，是被配置於畫像80中的接縫線16出現的部分。第3檢查領域84中的檢查規則，有必要與檢出體接縫線16區別。例如，如第7圖(c)及(d)，將檢出體朝縱方向複數分割，並測量被分割的框內的橫方向的二線間距離D1、D2。判別部52，當二線間距離D1是比規定的寬度更寬且上下的框內的檢出體是例如3個以上連續的情況時，就判別為表面氣泡18，二線間距離D2是比規定的寬度更窄的話，就判別為接縫線16。且，畫像處理部53，是從第7圖(e)的畫像將縱方向的陰影(接縫線16)消去，進一步二值化處理成如第7圖(f)之後，判別部52，是藉由檢出體的面積判別是否為缺點。此時因為可以藉由由畫像處理強調縱方向的輝度變化將縱方向的陰影消去，所以會殘留縱方向具有輝度變化的具有橫長的部分的表面氣泡。如此藉由同時適用二種不同的檢查規則，就不會將接縫線16弄錯成缺點，且可更正確地檢查。
第4檢查領域88，是在第2檢查領域83及第3檢查領域84之間，從畫像80的下端至頸部11的下端為止延伸。第4檢查領域88，是與胴部13中的第2檢查領域83相面對的部分。畫像處理部53及判別部52，可以對於第4檢查領域88，進行與第2檢查領域83同樣的處理。
第5檢查領域89，是對應在第2檢查領域83～第4檢查領域88的上方延伸的頸部11的部分。第5檢查領域89，是除了接縫線16被攝像的位置以外，在畫像80上被分開配置2個。其是因為在位於2個第5檢查領域89之間的位置中會發生與接縫線16垂直交叉的干擾陰影。畫像處理部53及判別部52，可以對於第5檢查領域89，進行例如與第3檢查領域84同樣的處理。
本發明，不限定於上述的實施方式，可進一步進行各種的變形，包含與實施方式所說明的構成(結構)實質上相同的構成(結構)。在此，「相同的構成(結構)」，是指功能、方法、及結果是相同的構成(結構)，或是目的效果相同的構成(結構)。且，本發明，是包含將由實施方式所說明的構成(結構)的非本質的部分置換的構成(結構)。且，本發明，是包含可達成與實施方式所說明的構成(結構)相同的作用效果的構成(結構)、或是可以相同的目的構成(結構)。且，本發明，是包含了在實施方式所說明的構成(結構)附加了公知技術的構成(結構)。
1:檢查裝置 10:玻璃瓶 11:頸部 12:中心軸 13:胴部 14:底部 15:雕刻 15a:模樣 16:接縫線 18:表面氣泡 18a:表面氣泡陰影 19:口部 20:發光部 22:發光面 30:載置台 32:側滾子 35:皮帶 40:攝像部 50:控制部 52:判別部 53:畫像處理部 54:旋轉檢出部 60:馬達 62:旋轉控制部 80:畫像 81:雕刻領域 82:第1檢查領域 83:第2檢查領域 84:第3檢查領域 85:圖型搜尋領域 86:圖型登錄畫像 87:遮罩 88:第4檢查領域 D1,D2:二線間距離 H1:第1高度 H2:第2高度 W1,W2:全寬度
[第1圖]示意檢查裝置的側面圖。 [第2圖]示意檢查裝置的俯視圖。 [第3圖]本實施方式的檢查方法的流程圖。 [第4圖]畫像的一例。 [第5圖]說明畫像處理、檢出過程及屏蔽過程的圖。 [第6圖]說明畫像處理及屏蔽過程的圖。 [第7圖]說明判別過程的圖。

Claims (5)

  1. 一種玻璃瓶的檢查方法，對於在胴部的表面具有雕刻的玻璃瓶，進行檢查的方法，前述雕刻是藉由成形時被刻在模具的凹凸而成形，其特徵為，包含：將旋轉的前述玻璃瓶攝像並將前述胴部的全周被攝像的畫像取得的畫像取得過程、及將前述畫像中包含源自前述雕刻的模樣的雕刻領域屏蔽的屏蔽過程、及對於前述畫像中除了被屏蔽的前述雕刻領域以外的領域判別有無缺點的判別過程。
  2. 如請求項1的玻璃瓶的檢查方法，其中，前述缺點，是至少包含表面缺點，前述畫像取得過程，是由線感測器將透過了前述胴部的透過光攝像。
  3. 如請求項1或2的玻璃瓶的檢查方法，其中，進一步包含模樣位置檢出過程，其是使用事先依據前述雕刻的外形而作成的圖型登錄畫像，圖型搜尋由前述畫像取得過程所取得的前述畫像，而檢出前述模樣，前述屏蔽過程，是將包含由前述模樣位置檢出過程所檢出的前述模樣的前述雕刻領域屏蔽；根據藉由前述圖型搜尋所檢出的前述模樣的位置，將事先設定的形狀的複數的檢查領域，並排配置於前述畫像 的橫方向，前述複數的檢查領域的至少兩個檢查領域配置在前述畫像的接縫線出現的部分。
  4. 如請求項3的玻璃瓶的檢查方法，其中，前述模樣位置檢出過程，是對於前述畫像中的規定高度範圍進行圖型搜尋。
  5. 一種玻璃瓶的製造方法，其特徵為：由粗模從塊料成形成型坯，由精整模型將前述型坯成形成前述玻璃瓶，對於前述玻璃瓶進行如請求項1至4中任一項的玻璃瓶的檢查方法，而獲得被判別為無前述缺點的玻璃瓶。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4325206A1 (en) 2022-08-18 2024-02-21 F. Hoffmann-La Roche AG Method for compensating defective partitions of a microfluidic chip

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004909A (en) * 1988-05-30 1991-04-02 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles using stripe pattern illumination
WO2003042673A1 (en) * 2001-11-16 2003-05-22 Heineken Technical Services B.V. Method and apparatus for generating a robust reference image of a container and for selecting of a container
CN105407346A (zh) * 2014-09-04 2016-03-16 宏达国际电子股份有限公司 影像分割方法
CN206974915U (zh) * 2017-06-22 2018-02-06 山东明佳科技有限公司 一种玻璃容器视觉在线检测设备
CN207181324U (zh) * 2017-06-27 2018-04-03 建湖国创机械制造有限公司 一种透明玻璃瓶全方位智能检测装置
TWM578796U (zh) * 2019-01-31 2019-06-01 統一企業股份有限公司 Container defect detecting device

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58216906A (ja) 1983-05-12 1983-12-16 Toyo Glass Kk びん方向自動検査方法
KR900007548B1 (ko) * 1985-10-04 1990-10-15 다이닛뽕스쿠링세이소오 가부시키가이샤 패턴 마스킹 방법 및 그 장치
JP3283356B2 (ja) * 1993-09-22 2002-05-20 マツダ株式会社 表面検査方法
JPH07160887A (ja) * 1993-12-13 1995-06-23 Hewtec:Kk パターンマッチング検査方法とその装置
JPH09161056A (ja) * 1995-12-08 1997-06-20 Fuji Electric Co Ltd 円形容器内面検査方法
JP2002140695A (ja) * 2000-11-01 2002-05-17 Omron Corp 検査方法およびその装置
JP3934359B2 (ja) * 2001-04-23 2007-06-20 日立エンジニアリング株式会社 透明容器内充填液体中の異物検査装置
JP4284646B2 (ja) * 2002-12-27 2009-06-24 キリンテクノシステム株式会社 異物検査装置及び異物検査用の照明装置
JP2004251662A (ja) * 2003-02-18 2004-09-09 Shibuya Kogyo Co Ltd 物品検査方法と物品検査装置
JP4508838B2 (ja) * 2004-11-11 2010-07-21 大日本印刷株式会社 容器の口部の検査装置
JP2008107311A (ja) * 2006-09-29 2008-05-08 Hitachi Chem Co Ltd 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2010048745A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Asahi Glass Co Ltd 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法
JP2010060312A (ja) * 2008-09-01 2010-03-18 Kirin Techno-System Co Ltd 異物検査装置及び異物検査システム
JP5726045B2 (ja) * 2011-11-07 2015-05-27 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
JP2013134101A (ja) * 2011-12-26 2013-07-08 Kirin Techno-System Co Ltd 異物検査装置
JP6585992B2 (ja) * 2015-10-16 2019-10-02 株式会社キーエンス 画像検査装置
JP6851802B2 (ja) * 2016-12-12 2021-03-31 東洋ガラス株式会社 製びん機の金型制御システム
KR102205582B1 (ko) * 2017-02-28 2021-01-21 도요 가라스 가부시키가이샤 용기 검사장치 및 용기 검사방법
KR102300158B1 (ko) * 2017-04-26 2021-09-10 도요 가라스 가부시키가이샤 용기 검사장치 및 용기 검사방법

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004909A (en) * 1988-05-30 1991-04-02 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles using stripe pattern illumination
WO2003042673A1 (en) * 2001-11-16 2003-05-22 Heineken Technical Services B.V. Method and apparatus for generating a robust reference image of a container and for selecting of a container
CN105407346A (zh) * 2014-09-04 2016-03-16 宏达国际电子股份有限公司 影像分割方法
CN206974915U (zh) * 2017-06-22 2018-02-06 山东明佳科技有限公司 一种玻璃容器视觉在线检测设备
CN207181324U (zh) * 2017-06-27 2018-04-03 建湖国创机械制造有限公司 一种透明玻璃瓶全方位智能检测装置
TWM578796U (zh) * 2019-01-31 2019-06-01 統一企業股份有限公司 Container defect detecting device

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Publication number Publication date
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