JPS58216906A - びん方向自動検査方法 - Google Patents
びん方向自動検査方法Info
- Publication number
- JPS58216906A JPS58216906A JP8293083A JP8293083A JPS58216906A JP S58216906 A JPS58216906 A JP S58216906A JP 8293083 A JP8293083 A JP 8293083A JP 8293083 A JP8293083 A JP 8293083A JP S58216906 A JPS58216906 A JP S58216906A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- light
- photoelectric conversion
- conversion element
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Attitude Control For Articles On Conveyors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は搬送体上に載って搬送されるびんの向きを自動
的に検査するびん方向自動検査方法に関するものである
。
的に検査するびん方向自動検査方法に関するものである
。
たとえば成る種のウィスキーびんでは、凹凸を有する彫
刻状の模様が形成された模様面と、ラベルを貼るために
滑らかに形成されたラベル面とがあり、一連のびん処理
工程の中にはたとえばラベル貼付工程のようにラベル面
を同一側に揃えることが必要な場合がある。そのために
はまずラベル面がどっちを向いているかの検査、すなわ
ちびん方向検査が必要になる。
刻状の模様が形成された模様面と、ラベルを貼るために
滑らかに形成されたラベル面とがあり、一連のびん処理
工程の中にはたとえばラベル貼付工程のようにラベル面
を同一側に揃えることが必要な場合がある。そのために
はまずラベル面がどっちを向いているかの検査、すなわ
ちびん方向検査が必要になる。
従来、この種の検査は人手圧頼って行なわれていた。そ
のため従来のびん方向検査においては、必然的に発生す
る検査者の疲労や不注意による検査ミスがしばしば発生
し、ごく一部の検査ミスのためロッド全体の検査精度な
いし信頼性を低下させる原因となっていた。
のため従来のびん方向検査においては、必然的に発生す
る検査者の疲労や不注意による検査ミスがしばしば発生
し、ごく一部の検査ミスのためロッド全体の検査精度な
いし信頼性を低下させる原因となっていた。
本発明はこのような観点から、びんの自動処理工程に好
適な無接触式のびん方向自動検査方法を提供することを
目的とするものである。
適な無接触式のびん方向自動検査方法を提供することを
目的とするものである。
この目的を達成するために本発明は、凹凸による模様面
と凹凸のない平滑面である非模様面とを形成した透光性
の被検査びんな一定の方向に搬送しつつ、被検査びんに
対し、その搬送方向とほぼ直交する一側方から、投光源
からの７本の光ビームを投射し、その光ビームを被検査
びんの一側部から他側部の判定すべぎ部位に形成されて
いる前記凹凸によって屈折されたとぎのみ、前記投光源
とは反対側に設置されている光電変換素子に入光させ、
との光電変換素子から出力されるパルスを計数してその
計数値が所定値以上になったときに前記模様面が前記光
電変換素子側に向いているものと判定し、それ以外のと
きは前記非模様面が前記光電変換素子側に向いているも
のと判定することを特徴とするものである。
と凹凸のない平滑面である非模様面とを形成した透光性
の被検査びんな一定の方向に搬送しつつ、被検査びんに
対し、その搬送方向とほぼ直交する一側方から、投光源
からの７本の光ビームを投射し、その光ビームを被検査
びんの一側部から他側部の判定すべぎ部位に形成されて
いる前記凹凸によって屈折されたとぎのみ、前記投光源
とは反対側に設置されている光電変換素子に入光させ、
との光電変換素子から出力されるパルスを計数してその
計数値が所定値以上になったときに前記模様面が前記光
電変換素子側に向いているものと判定し、それ以外のと
きは前記非模様面が前記光電変換素子側に向いているも
のと判定することを特徴とするものである。
以下、図面を参照して本発明をさらに詳細に説明する。
第７図において、／／は透光性被検査びんであって、ベ
ルトコンベヤ／、１などの搬送体上に載って紙面に垂直
な方向に搬送されるものとする。びん／／の一方の側に
は投光ユニット／３が配置され、他方の側には受光ユニ
ット／りが配置されている。投光ユニット／３は、ハウ
ジング／４’、ランプや発光ダイオードなどの光源１５
および集光レンズ／６を備え、被検査びん／／の側面の
、凹凸による模様面か平滑面として形成されたラベル面
（非模様面）かの判定に供される部位Ａの内面に向けて
、びん／／の反対側の肉厚を透過して光ビームを投射す
る。受光ユニット／７は、ピンホール／ｇ、 ／？を有
する暗箱〃と、これらのピンホールを通過する光を受光
する光電変換素子コｌとを含み、Ａ部を角度θだけ屈折
して透過する光を光電変換素子−／で受光する。
ルトコンベヤ／、１などの搬送体上に載って紙面に垂直
な方向に搬送されるものとする。びん／／の一方の側に
は投光ユニット／３が配置され、他方の側には受光ユニ
ット／りが配置されている。投光ユニット／３は、ハウ
ジング／４’、ランプや発光ダイオードなどの光源１５
および集光レンズ／６を備え、被検査びん／／の側面の
、凹凸による模様面か平滑面として形成されたラベル面
（非模様面）かの判定に供される部位Ａの内面に向けて
、びん／／の反対側の肉厚を透過して光ビームを投射す
る。受光ユニット／７は、ピンホール／ｇ、 ／？を有
する暗箱〃と、これらのピンホールを通過する光を受光
する光電変換素子コｌとを含み、Ａ部を角度θだけ屈折
して透過する光を光電変換素子−／で受光する。
第２図は本発明を実施する装置の′電気回路部分の構成
を示すものである。コ／は第７図の光電変換素子ａ／を
電気回路の構成要素として再び示したものである。光電
変換素子：ｌ／の出力電気信号は整形増幅回路二で直流
分をカットして交流パルス成分のみを増幅され、ブリセ
ットカランタコ３に入力される。カウンタ２３は、整形
増幅回路２２から入力される交流パルスを計数し、その
計数値が、出力計数値設定器評で設定される所定の計数
値、たとえば３に達すると動作出力を出してアンド回路
Ｊの一方の入力端子に加えられる。アンド回路２Ｓの他
方の入力端子にはびん通過信号発生器２乙の出力信号が
入力される。びん通過信号発生器２乙はびん／／がユニ
ッ）／、７．／’７による測定に係る測定領域内を通過
中は継続的にびん通過信号を出力するものであり、これ
はたとえば上記測定領域の始点と終点に光学的びん検知
装置を配置したりすることによって容易に実現できる。
を示すものである。コ／は第７図の光電変換素子ａ／を
電気回路の構成要素として再び示したものである。光電
変換素子：ｌ／の出力電気信号は整形増幅回路二で直流
分をカットして交流パルス成分のみを増幅され、ブリセ
ットカランタコ３に入力される。カウンタ２３は、整形
増幅回路２２から入力される交流パルスを計数し、その
計数値が、出力計数値設定器評で設定される所定の計数
値、たとえば３に達すると動作出力を出してアンド回路
Ｊの一方の入力端子に加えられる。アンド回路２Ｓの他
方の入力端子にはびん通過信号発生器２乙の出力信号が
入力される。びん通過信号発生器２乙はびん／／がユニ
ッ）／、７．／’７による測定に係る測定領域内を通過
中は継続的にびん通過信号を出力するものであり、これ
はたとえば上記測定領域の始点と終点に光学的びん検知
装置を配置したりすることによって容易に実現できる。
アンド回路２Ｓの動作出力はびんの向きを揃えるための
ソレノイド装置２７や必要に応じて記録装置、表示装置
などに利用される。
ソレノイド装置２７や必要に応じて記録装置、表示装置
などに利用される。
さて、びん方向検査に際して受光ユニット／７にびん／
ｌの滑らかなラベル面が対向して搬送される場合、投光
ユニット／３から投射される光ビームは部位Ａをほとん
ど屈折することなく透過直進し、受光ユニット／７には
受光されない。ただし、光ビームがびんｌ／の前縁部お
よび後縁部を通過するときは、過渡的に受光ユニット／
７に光ビームが到達してしまうので、光電変換素子２／
は第３図圧示すような光信号を受けることになる。この
光信号は整形増幅回路２：ｌで直流分をカットした上で
増幅され、プリセットカウンタ２３に導かれる。しかし
ながらこの入力はカウンタ２３に動作出力を発生させる
には至らず、したがってアンド回路２Ｓに動作出力を生
ずることもない。すなわち、アンド回路２Ｓに動作出力
を生じないときは、受光ユニット／７にラベル面を向け
てびん／／が搬送されたことを意味する。
ｌの滑らかなラベル面が対向して搬送される場合、投光
ユニット／３から投射される光ビームは部位Ａをほとん
ど屈折することなく透過直進し、受光ユニット／７には
受光されない。ただし、光ビームがびんｌ／の前縁部お
よび後縁部を通過するときは、過渡的に受光ユニット／
７に光ビームが到達してしまうので、光電変換素子２／
は第３図圧示すような光信号を受けることになる。この
光信号は整形増幅回路２：ｌで直流分をカットした上で
増幅され、プリセットカウンタ２３に導かれる。しかし
ながらこの入力はカウンタ２３に動作出力を発生させる
には至らず、したがってアンド回路２Ｓに動作出力を生
ずることもない。すなわち、アンド回路２Ｓに動作出力
を生じないときは、受光ユニット／７にラベル面を向け
てびん／／が搬送されたことを意味する。
次に、受光ユニット／７に模様面を向けてびん／／が搬
送される場合であるが、この場合はびん／／の部位Ａの
彫刻状凹凸部の立上がり縁部および立下がり縁部におい
て投光ユニット１３から光ビームが複雑に屈折して透過
し、その一部がピンホール１ｇ。
送される場合であるが、この場合はびん／／の部位Ａの
彫刻状凹凸部の立上がり縁部および立下がり縁部におい
て投光ユニット１３から光ビームが複雑に屈折して透過
し、その一部がピンホール１ｇ。
／りを介して光電変換素子、２／に継続的に到達する。
したがって、この場合の光電変換素子２／の受光信号は
びんＩ／の移動に伴って大きく変化し、第４図に示すよ
うに不規則なパルス列波形となる。なお、このとき、ピ
ンホール７ｇ、 ／？は受光パルスの波形を急峻なもの
として測定の精度を向上させるのに役立つ。第り図の光
信号を電気信号に変換し、さらに整形増幅回路ｎを介し
てブリセソトカウンタコ３で計数させる。その計数値は
設定器Ｊによる設定値以上となるのでプリセットカウン
タｎは動作出力を出す。したがってアンド回路Ｊは動作
出力を出してソレノイド装置ニアを作動させる。すなわ
ち、受光ユニット／りに模様面を向けてびんｌｌが搬送
される場合は、アンド回路部Ｓが動作出力を出すことに
よって検知される。
びんＩ／の移動に伴って大きく変化し、第４図に示すよ
うに不規則なパルス列波形となる。なお、このとき、ピ
ンホール７ｇ、 ／？は受光パルスの波形を急峻なもの
として測定の精度を向上させるのに役立つ。第り図の光
信号を電気信号に変換し、さらに整形増幅回路ｎを介し
てブリセソトカウンタコ３で計数させる。その計数値は
設定器Ｊによる設定値以上となるのでプリセットカウン
タｎは動作出力を出す。したがってアンド回路Ｊは動作
出力を出してソレノイド装置ニアを作動させる。すなわ
ち、受光ユニット／りに模様面を向けてびんｌｌが搬送
される場合は、アンド回路部Ｓが動作出力を出すことに
よって検知される。
以上説明したように本発明は光ビームがラベル面（平滑
面）を透過するか、模様面（非平滑面）を透過するかに
よって、透過光の進路が変わることを利用してびんの向
きを高精度かつ高信頼性をもって無接触式に自動検査す
るものであり、びんの自動処理工程に良好に適用できる
。
面）を透過するか、模様面（非平滑面）を透過するかに
よって、透過光の進路が変わることを利用してびんの向
きを高精度かつ高信頼性をもって無接触式に自動検査す
るものであり、びんの自動処理工程に良好に適用できる
。
第７図は本発明を実施する装置における光学系の一構成
例を示す配置図、第２図は同装置における電気回路部分
の一構成例のブロック図、第３図および第１図は同装置
における受光素子の異なる受光状態を示す波形図である
。 ／か・・被検査びん、ｌλ・・・ベルトコンベヤ、／３
・・・投光ユニット、／Ｓ・・・光源、 ／Ａ・・・集
光レンズ、ル・・受光ユニ７ ）、１ｇ、 ／９・・・
ピンホール、２ｏ・・・暗箱、２／・・・光電変換素子
、−一用整形増幅回路、２３・・・プリセットカウンタ
１．！５・・・アンド回路、２乙・・・びん通過信号発
生器。 出願人代理人 猪 股 溝 層１囚 ２９− 屏すに 屏４丙 Ｕ −眸八呵
例を示す配置図、第２図は同装置における電気回路部分
の一構成例のブロック図、第３図および第１図は同装置
における受光素子の異なる受光状態を示す波形図である
。 ／か・・被検査びん、ｌλ・・・ベルトコンベヤ、／３
・・・投光ユニット、／Ｓ・・・光源、 ／Ａ・・・集
光レンズ、ル・・受光ユニ７ ）、１ｇ、 ／９・・・
ピンホール、２ｏ・・・暗箱、２／・・・光電変換素子
、−一用整形増幅回路、２３・・・プリセットカウンタ
１．！５・・・アンド回路、２乙・・・びん通過信号発
生器。 出願人代理人 猪 股 溝 層１囚 ２９− 屏すに 屏４丙 Ｕ −眸八呵
Claims (1)
- ｌ凹凸による模様面と凹凸のない平滑面である非模様面
とを形成した透光性の被検査びんな一定の方向釦搬送し
つつ、被検査びんに対し、その搬送方向とほぼ直交する
一側方から、投光源からの７本の光ビームを投射し、そ
の光ビームを被検査びんの一側部から他側部の判定すべ
き部位に形成されている前記凹凸によって屈折されたと
ぎのみ、前記投光源とは反対側に設置されている光電変
換素子に入光させ、この光電変換素子から出力されるパ
ルスを計数してその計数値が所定値以上になったとぎ圧
前記模様面が前記光電変換素子側に向いているものと判
定し、それ以外のときは前記非模様面が前記光電変換素
子側に向いているものと判定することを特徴とするびん
方向自動検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8293083A JPS58216906A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | びん方向自動検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8293083A JPS58216906A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | びん方向自動検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58216906A true JPS58216906A (ja) | 1983-12-16 |
Family
ID=13787947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8293083A Pending JPS58216906A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | びん方向自動検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58216906A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132814A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Nec Kansai Ltd | マ−キング検査方法 |
| JPS6224106A (ja) * | 1985-07-25 | 1987-02-02 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 塗装状態モニタ方法および装置 |
| JPS62127616A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Toppan Printing Co Ltd | 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置 |
| JPS6448605U (ja) * | 1987-09-21 | 1989-03-27 | ||
| KR20210002528A (ko) | 2019-06-21 | 2021-01-08 | 도요 가라스 가부시키가이샤 | 유리병 검사방법 및 유리병 제조방법 |
-
1983
- 1983-05-12 JP JP8293083A patent/JPS58216906A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132814A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Nec Kansai Ltd | マ−キング検査方法 |
| JPH0449888B2 (ja) * | 1984-11-30 | 1992-08-12 | Kansai Nippon Electric | |
| JPS6224106A (ja) * | 1985-07-25 | 1987-02-02 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 塗装状態モニタ方法および装置 |
| JPH0578765B2 (ja) * | 1985-07-25 | 1993-10-29 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | |
| JPS62127616A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Toppan Printing Co Ltd | 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置 |
| JPS6448605U (ja) * | 1987-09-21 | 1989-03-27 | ||
| KR20210002528A (ko) | 2019-06-21 | 2021-01-08 | 도요 가라스 가부시키가이샤 | 유리병 검사방법 및 유리병 제조방법 |
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