TWI740918B - 偵測光學膜之缺陷的系統與方法 - Google Patents

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Abstract

一種偵測光學膜之缺陷的系統與方法。所述偵測光學膜之缺陷的系統可包括：照明單元，與所述光學膜間隔開，並朝所述光學膜的一個表面照射光；螢幕，與所述光學膜的另一表面間隔開，且所述光學膜中所存在的缺陷根據自所述照明單元穿過所述光學膜照射的所述光的通過而投射並顯示於所述螢幕上；成像單元，與所述螢幕間隔開，且獲得被投射至所述螢幕上的所述光學膜的所述缺陷的影像；以及分析單元，分析所獲得的所述影像，並基於所述分析的結果來偵測所述光學膜的所述缺陷。

Description

偵測光學膜之缺陷的系統與方法
本申請主張於2016年5月24日在韓國智慧財產局提出申請的韓國專利申請案第10-2016-0063703號的權利，所述韓國專利申請案的揭露內容全文併入本案供參考。
本發明的一或多個示例性實施例是有關於一種偵測光學膜之缺陷的系統與方法，且更具體而言是有關於一種藉由獲得被投射至螢幕上的光學膜的缺陷的影像並偵測所述光學膜之缺陷來偵測光學膜之缺陷的系統與方法。
光學膜提供形成影像所需的透射光且是主要光學組件，其主要用於液晶顯示器(liquid crystal display，LCD)面板等中並對顯示器面板的品質施以大的影響。
光學膜可藉由以下方式形成：將保護性膜貼合至極化裝置的兩個表面上並將例如變壓吸附劑(pressure swinging absorbent，PSA)等黏合劑施加至所述極化裝置的至少一個外表面上。然而，在製造光學膜的製程期間，可能產生以下現象：當將異物引入至所述膜或將所述膜纏繞於輥周圍時，所述膜會被按 壓；當施加至膜上的結合劑或黏合劑的厚度改變時，所述膜會被按壓；以及所述膜會被其他外力按壓或者所述膜會被其他外力壓印。
因所述現象而產生的光學膜的缺陷可能在其中使用所述光學膜的顯示器面板中造成亮斑缺陷(bright spot defect)，因而在光學膜被製造出之後對所述膜的缺陷進行檢查是一基本過程。
韓國專利第10-1082699號(在下文中稱作專利文獻1)提出一種藉由對光學膜的影像進行拍照來檢查所述光學膜的缺陷的設備。所述專利揭露以下內容：藉由使得自光源照射的光能夠穿過光學膜並藉由安裝於面對所述光源的位置處的拍照工具而以影像形式對所述光學膜進行拍照來檢查所述光學膜。然而，所述專利的局限性在於僅能偵測到光學膜中所存在的各種缺陷中的因異物引起的缺陷。
本發明的一或多個示例性實施例所欲解決的技術目標是提供一種偵測光學膜之缺陷的系統與方法，其使得照射至光學膜的光能夠投射至螢幕上，藉此偵測在製造所述光學膜的製程期間所產生的所述光學膜的各種形態的缺陷(例如，按壓、壓印及折疊)並提高所述光學膜的缺陷的偵測速率。
本發明的示例性實施例提供一種偵測光學膜之缺陷的系 統。所述偵測光學膜之缺陷的系統可包括：照明單元，與光學膜間隔開，並朝所述光學膜的一個表面(例如，前表面或後表面)照射光；螢幕，與所述光學膜的另一表面(例如，後表面或前表面)間隔開，且所述光學膜中所存在的缺陷根據自所述照明單元穿過所述光學膜照射的所述光的通過而投射並顯示於所述螢幕上；成像單元，與所述螢幕間隔開，且獲得被投射至所述螢幕上的所述光學膜的所述缺陷的影像；以及分析單元，分析獲得的所述影像，並基於所述分析的結果來偵測所述光學膜的所述缺陷。
在一實施例中，所述螢幕與所述光學膜之間的距離d1介於90毫米至130毫米的範圍內，且所述照明單元與所述光學膜之間的距離d2介於280毫米至340毫米的範圍內。
在一實施例中，所述成像單元與所述螢幕可被設置成具有第一角度θ1，所述照明單元與所述光學膜可被設置成具有第二角度θ2，且所述第一角度與所述第二角度可具有相同的值。
在一實施例中，被所述光照射的所述光學膜與所述螢幕可被設置成相互平行。
在一實施例中，所述第一角度θ1與所述第二角度θ2介於25°至48°的範圍內。
在一實施例中，所述偵測光學膜之缺陷的系統可更包括：傳送輥，用於傳送所述光學膜，其中所述傳送輥可以直列(in-line)形式傳送所述光學膜，其中行進方向為一個方向。
在一實施例中，所述偵測光學膜之缺陷的系統可更包 括：暗室，防止自所述照明單元照射的所述光洩漏至用於偵測所述光學膜的所述缺陷的所述偵測光學膜之缺陷的系統的外部。
在一實施例中，所述成像單元可與所述光學膜的所述另一表面間隔開，以直接獲得投射並聚焦於所述螢幕上而不穿過所述光學膜的影像。
在一實施例中，所述照明單元可在所述光學膜的整個寬度方向上照射光。
本發明的另一示例性實施例提供一種利用投射影像來偵測光學膜之缺陷的方法，所述方法包括：由與光學膜間隔開的照明單元將光照射至所述光學膜的一個表面；由成像單元獲得所述光學膜的缺陷的影像，所述影像是根據自所述照明單元穿過所述光學膜照射的所述光的通過而投射至螢幕上；分析獲得的所述影像；以及基於所述分析的結果來偵測所述光學膜上的所述缺陷，其中所述螢幕與所述光學膜的另一表面間隔開，且所述成像單元與所述螢幕及所述光學膜的所述另一表面間隔開以直接獲得投射並聚焦於所述螢幕上而不穿過所述光學膜的影像。
根據一或多個示例性實施例，提供一種非暫時性電腦可讀取記錄媒體，上面記錄有用於執行前述利用投射影像來偵測光學膜之缺陷的方法的程式。
根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統與方法，可偵測所述光學膜的各種形式的缺陷，例如按壓缺陷、戳 印缺陷及折疊缺陷。此外，藉由將螢幕與光學膜之間的距離、照明單元與光學膜之間的距離、成像單元與螢幕之間的角度、及照明單元與光學膜之間的角度設定在預定範圍內，照射至所述光學膜的光得以投射至所述螢幕上，藉此提高所述光學膜的缺陷的偵測速率。
100:光學膜
200:照明單元
300:螢幕
400:成像單元
500:分析單元
600:傳送輥
700:暗室
d1、d2:距離
S100、S200、S300、S400:操作
θ1:角度/第一角度
θ2:角度/第二角度
圖1是說明根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統的構造及佈局的圖。
圖2是表示當螢幕與光學膜之間的距離d1處於根據本發明示例性實施例的範圍內時與距離d1處於另一範圍內時被投射至所述螢幕上的影像的平均亮度的對比的圖。
圖3是表示當照明單元與光學膜之間的距離d2處於根據本發明示例性實施例的範圍內時與距離d2處於另一範圍內時被投射至所述螢幕上的影像的平均亮度的對比的圖。
圖4a是說明偵測光學膜之缺陷的系統的構造及佈局的實例的圖。
圖4b是表示根據圖4a的偵測光學膜之缺陷的系統與根據本發明的偵測光學膜之缺陷的系統之間被投射至所述螢幕上的影像的平均亮度的對比的圖。
圖5是說明當成像單元與螢幕之間的角度θ1大於根據本發明示例性實施例的範圍時產生的現象的圖。
圖6是說明當照明單元與光學膜之間的角度θ2小於根據本發明示例性實施例的範圍時產生的現象的圖。
圖7是說明利用投射影像偵測光學膜之缺陷的方法的流程圖。
在下文中，將參照附圖來詳細闡述本發明的示例性實施例，以使熟習此項技術者可易於實施本發明。然而，本發明可被實作成各種不同形式，而並非僅限於本文所述示例性實施例。將在圖式中省略與本說明無關的部分以清楚地闡述本發明，且在說明書通篇中相似的元件將由相似的參考編號表示。
將簡要闡述本說明書中所使用的用語，且將詳細闡述本發明。
在慮及在本發明中的功能的同時選擇當前廣泛使用的一般性用語作為本發明中所使用的用語，但所述用語可根據熟習此項技術者或熟習先例者的意圖、新技術的出現等來改變。此外，在特定情形中，申請者會隨機選擇用語，且在此種情形中，將在對本發明的對應說明中詳細闡述所述用語的含義。因此，本發明中所使用的用語應基於所述用語的含義及本發明通篇的內容而不是所述用語的簡單名稱來定義。
在本說明書通篇中，除非明確相反地闡述，否則詞語「包括(comprise)」及例如「包括(comprises或comprising)」等變型將被理解為暗含包括所陳述元件但不排除任何其他元件。另 外，本說明書中所闡述的用語「…單元(...unit)」意指用於處理至少一個功能及操作的單元且可藉由硬體組件或軟體組件及其組合來實作。
在下文中，將參照附圖來詳細闡述本發明的實施例。
圖1說明根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統。參照圖1，根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統可包括照明單元200、螢幕300、成像單元400及分析單元500。
本發明的照明單元200與光學膜100間隔開，且可朝光學膜100的一個表面照射光。此處，光學膜100為與在背景技術中所闡述的光學膜相同的構造，且可以片材形式提供。
與此同時，照明單元200可在光學膜100的整個寬度方向上照射光，且可慮及照明單元200的壽命、亮度穩定性及維護與修理而使用發光二極體(light emitting diode，LED)。此外，照明單元200可由多個發光二極體形成，且除發光二極體以外亦可使用例如螢光燈及白熾燈等燈具。然而，照明單元200並非僅限於所列舉的照明種類。
自照明單元200照射的光穿過光學膜100且投射光學膜100中所存在的缺陷，使得螢幕300可以光影影像(light and shade image)形式來顯示投射缺陷。亦即，螢幕300可使得由光學膜100中所存在的缺陷的投影形成的光影影像能夠得以聚焦。因此，如圖1中所示，螢幕300可與供自照明單元200照射的光穿過光學 膜100並射出的表面間隔開。
根據本發明示例性實施例的螢幕300是用於投射光的一般性螢幕，且是一種永久性虛擬電路，並且可由聚丙烯(PolyVinylChloride，PVC)片材形成，但螢幕300並非基本上僅限於此。與此同時，根據本發明示例性實施例的螢幕300可具有光漫射透射性質(light diffuse transmission property)。
與此同時，光學膜100中所存在的缺陷可被表示成所述光學膜的因外力造成的各種形態，例如被按壓、壓印、折疊或起褶皺。更具體來說，光學膜100中所存在的缺陷意指其中因以下因素而使得所述光學膜的前表面或後表面的形狀畸變或所述光學膜的形狀改變的缺陷：因引入異物而對光學膜造成的壓力、當將光學膜纏繞於傳送輥600周圍時產生的壓力、根據施加至光學膜上的結合材料或黏合劑的厚度的改變而產生的壓力、根據光學膜的折疊而產生的褶皺等。
當光學膜100被按壓且具有凸的形狀(例如，放大鏡的形狀)時，投射並聚焦於螢幕300上的影像相較於垂直投射的影像而言可具有提高的亮度且以白斑(white spot)形式顯示於螢幕300上。
與此同時，當將異物被引入至光學膜100時，自照明單元200照射的光無法穿過光學膜100，使得投射並聚焦於螢幕300上的影像變得較垂直投射的影像更暗且以黑斑(black spot)形式顯示於螢幕300上。
此外，當光學膜100被折疊或戳印時，被投射至螢幕300上的影像中白斑或黑斑以被拉長的線形式顯示。
根據本發明示例性實施例的成像單元400可與螢幕300間隔開且可獲得光學膜的缺陷的影像。獲得所述影像的方法可藉由對由光學膜100的缺陷投射並聚焦於螢幕300上的光影影像進行拍照來進行，所述拍照是利用構成成像單元400且用於將所拍影像轉換成影像資料的照相機而達成。所述照相機可為電荷耦合裝置(charge-coupled device，CCD)感測器或掃描照相機，但並非僅限於此。
根據本發明示例性實施例的分析單元500可利用自成像單元400獲得的影像資料作為輸入資料而將所接收的所述影像資料影像處理成影像亮度數值。可對通過影像處理的資料進行關於藉由比較所述資料與垂直投射影像之間的亮度值來判斷通過所述影像處理的所述資料是黑斑還是白斑以及偵測缺陷的分析。此外，亦可進行關於量測被表示為黑斑或白斑的一部分的大小以及偵測缺陷的分析。
分析單元500可包括其中嵌入有能夠進行影像處理及比較性分析的分析程式的電子裝置。舉例而言，分析單元可為電腦、平板個人電腦(tablet PC)、個人可攜式電話、穿戴式裝置及可程式化邏輯控制器(programmable logic controller，PLC)。
在根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統中，螢幕300與光學膜100之間的距離d1、照明單元200與光學 膜100之間的距離d2、成像單元400與螢幕300之間的角度θ1、或照明單元200與光學膜100之間的角度θ2可被界定在特定範圍內。以下將闡述所述距離或角度的特定範圍。
根據本發明示例性實施例的螢幕300與光學膜100之間的距離d1可介於90毫米至130毫米的範圍內，且照明單元200與光學膜100之間的距離d2可介於280毫米至340毫米的範圍內。
圖2是表示當螢幕與光學膜之間的距離d1處於根據本發明示例性實施例的範圍內時與距離d1處於另一範圍內時被投射至所述螢幕上的影像的平均亮度的對比的圖。
如圖2中所示，當螢幕300與光學膜100之間的距離d1處於90毫米至130毫米的範圍內時，投射影像的平均亮度(針對在本發明的示例性實施例中被顯示為白斑的缺陷而量測)為70，但當螢幕300與光學膜100之間的距離d1等於或小於90毫米時(在本發明的示例性實施例中，其中螢幕300與光學膜100之間的距離d1處於60毫米至90毫米範圍內的情形)，投射影像的平均亮度為62，此相對於70下降11%，且當螢幕300與光學膜100之間的距離d1等於或大於130毫米時(在本發明的示例性實施例中，其中螢幕300與光學膜100之間的距離d1處於130毫米至160毫米範圍內的情形)，投射影像的平均亮度為52，此相對於70下降26%。
與此同時，使用藉由0至255進行表達的灰階(gray level)來表示根據本發明示例性實施例的投射影像的亮度數值，且當螢 幕300與光學膜100之間的距離d1被調整時，照明單元200與光學膜100之間的距離d2固定在110毫米。如可在圖2中看出，當螢幕300與光學膜100之間的距離小於90毫米至130毫米時，被表示為白斑的缺陷的大小為小的，但當螢幕300與光學膜100之間的距離大於90毫米至130毫米時，被表示為白斑的缺陷的大小為大的。
亦即，根據本發明的示例性實施例，與被投射至螢幕300上的影像中的缺陷對應的部分的亮度及大小可與螢幕300與光學膜100之間的距離具有相關性。
圖3是表示當照明單元200與光學膜100之間的距離d2處於根據本發明示例性實施例的範圍內時與距離d2處於另一範圍內時被投射至所述螢幕上的影像的平均亮度的對比的圖。如圖3中所示，當照明單元200與光學膜100之間的距離d2被調整時，螢幕300與光學膜100之間的距離d2固定在110毫米。
如圖3中所示，當照明單元200與光學膜100之間的距離d2處於280毫米至340毫米範圍內時，投射影像的平均亮度(針對在本發明的示例性實施例中被顯示為白斑的缺陷而量測)為92，但當照明單元200與光學膜100之間的距離d2等於或小於280毫米時(在本發明的示例性實施例中，其中照明單元200與光學膜100之間的距離d2處於250毫米至280毫米範圍內的情形)，投射影像的平均亮度為70.5，此相對於92下降23%，且當照明單元200與光學膜100之間的距離d2等於或大於340毫米時(在本 發明的示例性實施例中，其中照明單元200與光學膜100之間的距離d2處於340毫米至370毫米範圍內的情形)，投射影像的平均亮度為75，此相對於92下降18%。
亦即，根據本發明的示例性實施例，與被投射至螢幕300上的影像中的缺陷對應的部分的亮度可與照明單元200與光學膜100之間的距離具有相關性。
如圖1中所示，根據本發明示例性實施例的成像單元400與光所照射至的光學膜100的表面的另一表面間隔開，使得成像單元400的特徵在於被安裝成直接獲得投射並聚焦於螢幕上而不穿過光學膜的影像。
當將根據本發明示例性實施例的成像單元400的配置結構(disposition structure)與圖4a中所示成像單元的配置結構進行比較時，可證實根據本發明的成像單元400的配置結構是優異的。
圖4a是說明偵測光學膜之缺陷的系統的構造及佈局的實例的圖。圖4a中所示成像單元400被設置成獲得由光學膜100投射至螢幕300上的缺陷的影像。
圖4b是表示根據圖4a的偵測光學膜之缺陷的系統與根據本發明的偵測光學膜之缺陷的系統之間被投射至螢幕300上的影像的平均亮度的對比的圖。
依據根據本發明的成像單元400的其中螢幕300與成像單元400之間不存在光學膜100的配置結構，投射影像的平均亮 度為70，但根據如圖4a中所示的其中螢幕300與成像單元400之間存在光學膜100的配置結構，投射影像的平均亮度為53，此較根據本發明示例性實施例的70低24%。
因此，與本發明的示例性實施例類似，用於對具有其中螢幕300與成像單元400之間不存在光學膜100的配置結構的光學膜之缺陷進行偵測的系統的光學膜的所述缺陷的投射影像較所述示例性情形的投射影像亮，使得根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統可提高缺陷的偵測速率。
與此同時，根據本發明示例性實施例的成像單元400被設置成與螢幕具有第一角度θ1，且照明單元200被設實成與光學膜具有第二角度θ2，且第一角度θ1與第二角度θ2可彼此相同。
亦即，成像單元400和螢幕300之間的第一角度θ1與照明單元200和光學膜100之間的第二角度θ2彼此相同，使得第一角度θ1與第二角度θ2可一起增大或減小。
因此，定位於光所照射的表面上的光學膜100、與螢幕300可被設置成相互平行，使得成像單元400和螢幕300之間的第一角度θ1與照明單元200和光學膜100之間的第二角度θ2彼此相同。亦即，如圖1中所示，光所照射的光學膜100可定位於兩個傳送輥600之間且可被設置成平行於螢幕300。
根據本發明示例性實施例的成像單元400和螢幕300之間的第一角度θ1與照明單元200和光學膜100之間的第二角度θ2可介於25°至48°的範圍內。
圖5是說明其中成像單元與螢幕之間的角度θ1大於根據本發明示例性實施例的範圍(等於或大於48°)的現象的圖。亦即，當成像單元400與螢幕300之間的角度θ1等於或大於48°時，在緊靠成像單元400定位的傳送輥600與被成像單元400拍照的影像部位之間會產生干擾，使得可能在獲得聚焦於螢幕上的影像時產生障礙。
圖6是說明當照明單元與光學膜之間的角度θ2小於根據本發明示例性實施例的範圍(等於或小於25°)產生的現象的圖。亦即，當照明單元200與光學膜100之間的角度θ2等於或小於25°時，在緊靠照明單元200定位的傳送輥600與自照明單元200照射的光所穿過的部位之間會產生干擾，使得可能在獲得聚焦於螢幕上的影像時產生障礙。
此外，當成像單元400與螢幕300之間的第一角度θ1以及照明單元200與光學膜100之間的第二角度θ2具有除根據本發明示例性實施例的範圍以外的值時，會產生邊界反射(boundary reflection)或漫反射(diffused reflection)，使得光品質的同質性(homogeneity)降低。因此，成像單元400可能獲得光學膜的缺陷的畸變影像。
與此同時，成像單元400與螢幕300之間的距離與成像單元400的照相機的解析度相關，使得所述距離可根據所述解析度來改變。
根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統可 更包括用於傳送光學膜100的傳送輥600，且傳送輥600可以行進方向為一個方向的直列形式傳送光學膜100。因此，光學膜100可根據其中將傳送輥600輥動的操作而沿傳送輥600連續地傳送，且自照明單元200照射的光可到達在各傳送輥600之間傳送的光學膜100的表面。
根據本發明示例性實施例的偵測光學膜之缺陷的系統可更包括暗室700，暗室700防止自照明單元200照射的光洩漏至用於偵測光學膜的缺陷的所述系統的外部。
圖7是說明利用投射影像偵測光學膜之缺陷的方法的流程圖。
根據本發明示例性實施例的利用投射影像偵測光學膜之缺陷的方法可包括：操作S100，在操作S100中，由與光學膜100間隔開的照明單元200將光照射至光學膜100的一個表面(例如，前表面或後表面)；操作S200，在操作S200中，由成像單元400獲得光學膜100的缺陷的影像，所述影像是根據自照明單元200穿過光學膜100照射的光的通過而投射至螢幕300上；操作S300，在操作S300中，分析所獲得的影像；以及操作S400，在操作S400中，基於分析結果來偵測光學膜100上的缺陷。
對於根據本發明示例性實施例的方法，可應用所述系統的前述內容。因此，對於所述方法，將不再對與所述系統的內容相同的內容予以贅述。
與此同時，作為本發明的示例性實施例，可提供與硬體 (例如，電腦)進行組合且儲存於媒體中以執行前述方法的電腦程式。
本發明的示例性實施例亦可被實作成包括電腦可執行命令的記錄媒體形式，例如由電腦執行的程式模組。電腦可讀取媒體可為預定電腦可存取可用媒體(predetermined computer-accessible available medium)，且包括非揮發性媒體以及可分離媒體及不可分離媒體中的所有者。此外，電腦可讀取媒體可包括電腦儲存媒體中的所有者。電腦儲存媒體包括藉由預定方法或技術來實作以對電腦可讀取命令、資料結構、程式模組或資訊(例如，其他資料)進行儲存的非揮發性媒體以及可分離媒體及不可分離媒體中的所有者。通訊媒體通常包括電腦可讀取命令、資料結構、程式模組。
本發明的說明是用於說明，且其可被理解為，熟習此項技術者可易於在不改變本發明的技術精神或基本特性的條件下將本發明修改成其他特定形式。因此，應知，上述示例性實施例旨在於所有意義上皆為說明性的而非限制性的。舉例而言，以單數形式闡述的每一構成元件可分散實施，且相似地，以分散形式闡述的構成元件亦可以組合形式實施。
本發明的範圍是由欲在下文中闡述的申請專利範圍而非本詳細說明表示，且應被解釋為申請專利範圍的含義及範圍以及自申請專利範圍的等效範圍衍生出的所有改變或修改形式皆屬於本發明的範圍。
100‧‧‧光學膜
200‧‧‧照明單元
300‧‧‧螢幕
400‧‧‧成像單元
500‧‧‧分析單元
600‧‧‧傳送輥
700‧‧‧暗室
d1、d2‧‧‧距離
θ1‧‧‧角度/第一角度
θ2‧‧‧角度/第二角度

Claims (6)

  1. 一種偵測光學膜之缺陷的系統，包括：照明單元，與光學膜間隔開，並朝所述光學膜的一個表面照射光；螢幕，與所述光學膜的另一表面間隔開，且所述光學膜中所存在的缺陷根據自所述照明單元穿過所述光學膜照射的所述光的通過而投射並顯示於所述螢幕上；成像單元，與所述螢幕間隔開，且獲得被投射至所述螢幕上的所述光學膜的所述缺陷的影像；分析單元，分析獲得的所述影像，並基於所述分析的結果來偵測所述光學膜的所述缺陷；以及多個傳送輥，用於傳送所述光學膜，其中所述多個傳送輥的其中之一位於所述成像單元以及所述螢幕之間；其中所述傳送輥以行進方向為一個方向的直列形式傳送所述光學膜，其中所述成像單元與所述螢幕被設置成具有第一角度，所述照明單元與所述光學膜被設置成具有第二角度，其中被所述光照射的所述光學膜與所述螢幕被設置成相互平行，而所述第一角度與所述第二角度具有介於25°至48°的範圍內的相同的值，在所述照明單元及所述光學膜之間並未設置光轉換單元以避免所述傳送輥與被所述成像單元拍攝的影像部位之間會產生干 擾，其中所述螢幕與所述光學膜之間的距離介於90毫米至130毫米的範圍內，其中所述照明單元與所述光學膜之間的距離介於280毫米至340毫米的範圍內。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之偵測光學膜之缺陷的系統，更包括：暗室，防止自所述照明單元照射的所述光洩漏至用於偵測所述光學膜的所述缺陷的所述偵測光學膜之缺陷的系統的外部。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之偵測光學膜之缺陷的系統，其中所述成像單元與所述光學膜的所述另一表面間隔開，以直接獲得投射並聚焦於所述螢幕上而不穿過所述光學膜的影像。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之偵測光學膜之缺陷的系統，其中所述照明單元在所述光學膜的整個寬度方向上照射所述光。
  5. 一種利用如申請專利範圍第1項至第4項中任一項的所述之偵測光學膜之缺陷的系統來偵測光學膜之缺陷的方法，所述方法包括：由與光學膜間隔開的照明單元將光照射至所述光學膜的一個表面；由成像單元獲得所述光學膜的缺陷的影像，所述影像是根據自所述照明單元穿過所述光學膜照射的所述光的通過而投射至螢 幕上；分析獲得的所述影像；以及基於所述分析的結果來偵測所述光學膜上的所述缺陷，其中所述成像單元與所述螢幕被設置成具有第一角度，所述照明單元與所述光學膜被設置成具有第二角度，其中被所述光照射的所述光學膜與所述螢幕被設置成相互平行，而所述第一角度與所述第二角度具有介於25°至48°的範圍內的相同的值，在所述照明單元及所述光學膜之間並未設置光轉換單元。
  6. 一種非暫時性電腦可讀取記錄媒體，上面記錄有用於執行如申請專利範圍第5項所述的方法的程式。
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