TWI716694B - 批量攝像模組測試設備及其測試系統 - Google Patents

Abstract

一種批量攝像模組測試設備，用於對安置至少兩個攝像模組的測試板進行測試，包括：一測試板；一運載工具，其中所述測試板可拆卸地固定於所述運載工具，使得所述運載工具攜帶所述測試板進行相應的測試；以及一測試工具，其中所述測試板安置至少兩個所述攝像模組，通過對所述測試板的測試來進行對所述攝像模組的測試，其中所述測試板可拆卸地固定於所述運載工具，使得所述運載工具攜帶所述測試板進行相應的測試，其中所述測試板與所述測試工具之間的方位是可調整的，其中所述測試工具提供所述測試板所需要的測試環境。

Description

批量攝像模組測試設備及其測試系統

本發明涉及一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，特別是一種利用一承載批量攝像模組進行測試的測試板的測試設備及其測試系統。

隨著智慧設備的發展，越來越多的智慧設備離不開圖像採集功能。而且，高性能的攝像、照相功能更是被市場所追求。例如，智慧手機、可擕式電腦以及智慧穿戴設備等等，都在向具有更高性能的攝像功能發展。性能指標也是隨著市場變化，需要不斷的更新。這些微型的攝像應用場合離不開攝像模組的使用。

目前，攝像模組在生產中還有很多不安定因素，製造完成的攝像模組不能直接被安裝於使用設備中。那麼每一個攝像模組都需要被進行不同性能指標的測試，對於不滿足要求的攝像模組則不能被使用。對於生產廠家而言，產品的良率非常重要，出貨產品的良率更是關鍵。所以在攝像模組的生產中，基本是採取全部產品進行全部測試。這就無疑增加了生產成本，並且降低了生產效率。

傳統的攝像模組生產過程中，採取每個攝像模組依次進行各種測試。也就是說，對於大數量的產品而言，測試還是單獨進行的。但是目前生產製造中也趨向於批量化的生產，那麼傳統的攝像模組測試不能滿足批量製造的需求。另外，傳統的測試中，都是將攝像模組接入測試設備或者測試環境中，在測試結束後，再把攝像模組取回。而且，需要測試專案數量也是較多的，反復地對攝像模組進行摘取和接入必然會對攝像模組造成不良影響。再考慮到時間成本，每個測試中將攝像模組單獨的接入和斷開都會影響效率。特別是，傳統中每個攝像模組的測試還需要人工，人工的完成接入和摘取的操作，主動的來維護測試環境。這給測試帶來更多不良因素的同時，也必將不能適應發展的趨勢。

傳統的攝像模組的測試中，利用測試設備的介面或者簡單的中繼端將攝像模組接入測試端。而且，通常對於每一個攝像模組的接入是單一對應的，並不能適應多個攝像模組的同時接入或者多個攝像模組的連續測試。而且攝像模組的引腳對於接入的精度要求很高，反復的接入和摘取對電路的損害很嚴重，使用壽命很短。並且對攝像模組的不同的類型需要不同的結構來固定，不然攝像模組會脫離。另外不能適配攝像模組的所有測試，人工成本很高。

傳統的攝像模組的測試設備並不能被有效地應用在批量的測試中，甚至於是流水線型的批量測試。對於高自動化型的測試設備而言，主要面臨的問題是對於攝像模組測試環境的穩定性和一致性。特別是，對於設備與攝像模組的連接，設備與設備之間的連接的精度要求都是很高的。而且，批量的測試中需要的測試工具也與傳統測試設備中的有很大的差別。

如何能在測試設備中批量的對攝像模組的各項性能進行測試是最直接的問題。在對多個攝像模組進行測試的過程中，如何保證在接入、測試、摘取等等多個過程中的有效性、準確性也是必須解決的問題。多個攝像模組被同時接入時，必定會出現累計公差的問題。怎麼保證同一批測試的攝像模組都能被接入設備，達到適於生產使用的有效接入，是實際對設備進行設計的關鍵。對於多個攝像模組的連接，連接精度還會受到外界的影響。那麼減少設備運行中對連接精度誤差的影響也是十分重要的。

另外，因為批量測試中的每個攝像模組必須處於同樣的測試條件，要不然就是失去了批量測試的意義。那麼每個攝像模組所處的位置在空間上是不同的，在測試設備中怎麼提供給每個攝像模組相同的測試環境是十分重要的。測試設備提供的穩定相同的測試環境是有效批量測試攝像模組的重要前提。

更多地，為了適應不同類型攝像模組能進行不同的測試方法，雖然說機械較人工在精確度方面有一定的優勢，但是實際中如何克服機械流轉上形成的累積公差也是面臨挑戰之一。

本發明的一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，提供對至少兩個攝像模組的測試環境，保證每個攝像模組的測試環境具有一致性。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試設備適於對一測試板進行測試，所述測試板適於被安置至少兩個測試塊，使得所述測試塊通過所述測試板被同時接入進行測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試塊包括所述組裝完成的待測試攝像模組和與一所述攝像模組連接的中繼單元中的至少一個。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，通過所述測試板可以與所述測試塊，也就是與所述攝像模組進行連接，進而對所述攝像模組進行測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試板將至少兩個所述測試塊按陣列的方式進行固定，使得所述測試塊相對於所述測試板的位置確定。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試塊可以具體為待測試的所述攝像模組，也可以具體為將所述攝像模組提供中繼作用的中繼單元，通過對所述測試塊的測試即可以對所述攝像模組進行測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試設備進一步包括一運載工具，所述運載工具將所述測試板進行固定和連接，以將所述測試板放置於測試環境中。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具與所攜帶的所述測試板相互連接，在測試環境中獲得測試資料。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具進一步包括一固定元件，一連接元件，以及一傳動元件，其中所述測試板被所述固定元件固定於所述運載工具，所述連接元件將所述測試板中的所述測試塊相互通電地連接，所述傳動元件可以對所述運載工具的方位進行調整，進而對所述測試板的位置進行調整。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具進一步包括一定位元件，所述定位元件可以確定所述測試板與所述運載工具的相對位置，方便所述連接元件進行精准的連接。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具保證所述測試板中的每個所述測試塊都被有效地連接，適於批量的對所述測試板進行測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試板相對於所述運載工具的位置是確定的，使得所述運載工具適於對多個所述測試板依次地進行測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具對所述測試板提供測試所需要的環境，將所述測試板中的所述測試塊的測試資料通過所述連接元件匯出。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，提供一測試工具，所述測試工具可以為所述測試板中的每個所述測試塊提供一致的測試環境。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運載工具具有運動功能，可以攜帶所述測試板調整與所述測試工具的方位。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試工具具有運動功能，可以相對於所述測試板進行方位的調整。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試工具進一步包括一測試元件，一運送元件以及一採集元件，所述測試元件為對所述攝像模組測試所需要的器材，所述運送元件可以使得所述測試元件的方位移動，所述採集元件將採集所述測試板的所述測試塊的測試資料。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試元件與所述測試板為相對應的設計和設置，使得所述測試板的每個所述測試塊的測試環境具有一致性，使得測試的結果穩定、有效。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試元件與所述測試板的相對位置可以被調整，可以通過所述 運載工具的所述傳動元件，可以通過所述測試工具的所述運送元件，或者通過上述兩者的相互配合。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試元件可以為多項測試項目所使用的器件，使得所述測試板的所述測試塊可以進行多項測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試工具進一步包括一校準元件，所述校準元件對所述測試板的方位進行校準，使得所述測試板與所述測試元件的相對位置是適於進行測試的。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述校準元件可以通過所述運載工具的所述定位元件對所述測試板的相對位置進行調整，進而調整所述測試元件與所述測試板的相對方位，也可以直接根據所述測試板的位置進行調整。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述採集元件可以通過所述運載工具的所述連接元件對所述測試板進行測試資料的採集，並交至後臺進行進一步的處理和分析。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述採集元件根據所述校準元件的校準結果判斷是否可以開始採集，保證所述測試板的所述測試塊根據所述測試元件得到的測試結果有效。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述測試系統進一步提供一固定子系統，一運動子系統以及一採集子系統，所述固定子系統為所述測試塊與所述測試板，所述測試板與所述運載工具之間提供相互固定控制，所述運動子系統為所述測試板與所述測試工具之間相對方位提供調整，所述採集子系統為所述測試板的所述測試塊提供測試環境和測試資料獲取。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述固定子系統通過所述運載工具的所述固定元件將所述測試板固定。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述運動子系統通過所述運載工具的所述傳動元件、所述測試工具 的所述運送元件或者上述兩者的結合對所述測試板與所述測試工具的相對方位。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述採集子系統通過所述運載工具的所述連接元件對所述測試板的所述測試塊進行測試資料的採集。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，所述固定子系統在固定之間經過一定的定位，所述運動子系統在運行中經過一定的方位校準，使得所述測試板穩定的進行測試，對於不同的所述測試板也具有一致性。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，利用所述測試板在所述測試工具的環境中測試可以得到所述測試板的所述測試塊的測試資料，進一步可以進行多個測試板的測試，實現批量測試。

本發明的另一個目的在於提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統，對於所述測試板的測試實現全程自動化操作，提升生產效率。

依本發明的一個方面，本發明進一步提供一種批量攝像模組測試設備，用於對安置至少兩個攝像模組的測試板進行測試，包括： 一運載工具，所述測試板可拆卸地固定於所述運載工具，使得所述運載工具攜帶所述測試板進行相應的測試；以及 一測試工具，通過對所述測試板的測試來進行對所述攝像模組的測試，其中所述測試板與所述測試工具之間的方位是可調整的，其中所述測試工具提供所述測試板所需要的測試環境。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具提供結構上的連接和電路上的連通於所述測試板。

根據本發明的一個實施例，通過所述運載工具對所述測試板的測試資料進行匯出，以便交至後臺進行資料處理和分析。

根據本發明的一個實施例，所述測試塊通過所述測試板的所述介面與所述運載工具可通電地連接，使得所述測試塊的測試資料可以被所述運載工具匯出。

根據本發明的一個實施例，所述測試板的定位部將所述測試板用於所述運載工具的相對固定位置的確定，其中所述定位部能確定所述測試板的方位。

根據本發明的一個實施例，所述測試板進一步地包括一固定部，其中所述固定部提供所述運載工具固定所述測試板的部位，通過對所述固定部的固定能維持所述測試板的穩定。

根據本發明的一個實施例，測試塊確定地放置於所述測試板，所述測試板藉由所述定位部和所述固定部被確定地放置於所述運載工具，使得每個測試塊相對於所述運載工具的位置被確定。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具進一步包括一固定元件、一連接元件以及一傳動元件，其中所述固定元件將所述測試板固定於所述運載工具，其中所述連接元件與所述測試板可通電地連接，進而將所述測試板中的所述測試塊與所述連接元件連接，其中所述傳動元件為調整所述運載工具的方位和所述測試板的方位的移動裝置。

根據本發明的一個實施例，在所述運載工具被所述傳動元件帶動移動的時候，所述固定元件將保持所述測試板與所述運載工具的相對穩定，使得所述連接元件與所述測試板的通電連接有效。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具進一步包括一定位元件，其中所述定位元件定位所述測試板與所述運載工具的位置關係和所述測試板與所述測試工具的位置關係。

根據本發明的一個實施例，當所述固定元件將所述測試板固定後，所述定位元件將所述測試板與所述運載工具相互位置確定，所述連接元件便與所述測試板的所述測試塊相互連接，通過所述連接元件所述測試板的所述測試塊可以將測試的資料匯出。

根據本發明的一個實施例，所述定位元件進一步包括至少一連接定位件，所述連接定位件與所述測試板相互定位。

根據本發明的一個實施例，所述固定元件進一步包括至少一夾具和一固定槽，其中所述連接元件被置於所述固定槽，所述夾具被置於所述固定槽邊緣。

根據本發明的一個實施例，所述連接元件進一步包括至少一連接器、一施力器以及一與所述施力器連接的感測器，其中所述感測器收集所述 施力器對所述測試板產生的壓力資料，並將壓力數據傳回所述施力器，供所述施力器調整對所述測試板的施力，其中所述連接器與所述測試板的介面為相對應地設置。

根據本發明的一個實施例，所述連接器與所述測試板的全部所述介面為一一相對應地設置。

根據本發明的一個實施例，所述連接器與所述測試板的部分所述介面為一一相對應地設置。

根據本發明的一個實施例，所述測試工具進一步包括一測試元件、一支撐元件供支援所述測試元件、一運送元件以及一採集元件，其中所述測試元件為所述測試板所攜帶的所述測試塊提供測試條件，其中所述運送元件被設置於所述支撐元件，對所述測試元件的方位進行相應的調整，其中所述採集元件通過所述運載工具的所述連接元件採集所述測試板的測試資料。

根據本發明的一個實施例，所述測試工具進一步包括一校準元件，其中所述校準元件對所述測試元件與所述運載工具所固定的所述測試板之間的相互方位進行校準，使得所述測試板處於適於根據所述測試元件測試的環境中。

根據本發明的一個實施例，所述校準元件被設置於所述測試元件。

根據本發明的一個實施例，所述校準元件被設置於所述支撐元件。

根據本發明的一個實施例，所述校準元件直接與所述測試板的所述定位部進行校準。

根據本發明的一個實施例，所述校準元件與所述運載工具的所述定位元件相互確認位置，通過與所述運載工具的校準，來校準與所述測試板的相對位置。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具的所述傳動元件可對所述測試板的方位進行三維方向調整，所述測試工具的所述運送元件可對所述測試元件的方位進行三維方向的調整。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具可以對所述測試工具調整自身方位，來調整所述測試元件與所述測試板的相對方位。

根據本發明的一個實施例，所述測試工具可以對所述運載工具調整自身方位，來調整所述測試元件與所述測試板的相對方位。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具和所述測試工具可以相對協同調整，來調整所述測試元件與所述測試板的相對方位。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具的所述傳動元件進一步包括至少一驅動器，其中所述驅動器帶動所述運載工具的所述測試板移動或轉動。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具的所述傳動元件進一步包括至少一軌道，其中所述驅動器帶動所述測試板在所述軌道方向移動。

根據本發明的一個實施例，所述軌道進一步提供一第一軌道和一第二軌道，所述驅動器進一步提供一第一驅動器、一第二驅動器以及一第三驅動器，其中所述第一軌道與所述第二軌道相互垂直，其中所述第一驅動器帶動所述測試板沿著所述第一軌道移動，其中所述第二驅動器帶動所述測試板沿著所述第二軌道移動，其中所述第三驅動器帶動所述測試板調整俯仰角。

根據本發明的一個實施例，所述運送元件進一步包括一升降器、一平移器以及一調角器，其中所述升降器、所述平移器以及所述調角器被設置於所述支撐元件，使得所述測試元件的方位可以通過所述升降器、所述平移器以及所述調角器被調整方位。

根據本發明的一個實施例，所述校準元件進一步包括至少一校準器，所述校準器與所述定位元件相互核准相對方位。

根據本發明的一個實施例，所述運載工具的所述定位元件進一步包括與所述校準器相互對應的至少一測試校準件，其中所述校準器被置於所述測試元件中，使得所述校準器與所述測試校準件相互校準後，所述測試元件的方位與所述運載工具和所述測試板的方位便相對確定。

根據本發明的一個實施例，所述測試校準件被置於所述運載工具。

根據本發明的一個實施例，所述測試校準件被置於所述運載工具所攜帶的所述測試板。

根據本發明的一個實施例，所述測試塊以呈矩陣的形式被排列於所述測試板。

依本發明的另一個方面，本發明進一步提供一種批量攝像模組測試系統，其利用所述批量攝像模組測試設備，包括：一固定子系統；一運動子系統；以及一採集子系統，其中所述固定子系統對所述測試板與所述運載工具之間的固定關係進行控制，其中所述運動子系統調整所述測試板與所述測試工具之間的相對方位，其中所述採集子系統控制所述測試板根據所述測試工具進行測試並採集所述測試板的測試資料。

100:測試系統

101:固定子系統

102:運動子系統

103:採集子系統

10:測試板

11:安置位元

12:介面

13:定位部

14:固定部

20:測試塊

30:運載工具

31:固定元件

311:夾具

312:固定槽

32:連接元件

321:連接器

322:施力器

323:感測器

33:定位元件

331:連接定位件

332:測試校準件

34:傳動元件

341:軌道

3411:第一軌道

3412:第二軌道

342:驅動器

3421:第一驅動器

3422:第二驅動器

3423:第三驅動器

40:測試工具

41:測試元件

411:光板測試件

412:標板測試件

413:鏡片測試件

42:支撐元件

43:運送元件

431:升降器

432:平移器

433:調角器

44:校準元件

441:校準器

45:採集元件

A:光板測試件411與測試板10之間的法向距離

B:鏡片測試件413與測試板10之間的法向距離

C:標板測試件412與測試板10之間的法向距離

圖1是根據本發明的一個優選實施例的批量攝像模組測試系統的示意圖。

圖2是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備的示意圖。

圖3是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的側面示意圖。

圖4是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的分體示意圖。

圖5是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的移動方向調整示意圖。

圖6是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的移動方向示意圖。

圖7是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的測試流程示意圖。

圖8是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述固定子系統的流程示意圖。

圖9是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述運動子系統的流程示意圖。

圖10是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的測試流程圖。

圖11是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述運載工具的示意圖。

圖12是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述運載工具的示意圖。

圖13是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試板的示意圖。

圖14是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述運載工具與所述測試板固定的示意圖。

圖15是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試工具的示意圖。

圖16是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試工具的分體示意圖。

圖17是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試工具的所述測試元件的示意圖。

圖18是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試工具的示意圖。

圖19是根據本發明的上述優選實施例的批量攝像模組測試設備及其測試系統的所述測試工具與所述測試板調整的示意圖。

以下描述用於揭露本發明以使本領域技術人員能夠實現本發明。以下描述中的優選實施例只作為舉例，本領域技術人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本發明的基本原理可以應用於其他實施方案、變形方案、改進方案、等同方案以及沒有背離本發明的精神和範圍的其他技術方案。

本領域技術人員應理解的是，在本發明的揭露中，術語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“後”、“左”、“右”、“豎直”、“水準”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關係是基於附圖所示的方位或位置關係，其僅是為了便於描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或 元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此上述術語不能理解為對本發明的限制。

可以理解的是，術語“一”應理解為“至少一”或“一個或多個”，即在一個實施例中，一個元件的數量可以為一個，而在另外的實施例中，該元件的數量可以為多個，術語“一”不能理解為對數量的限制。

本發明提供一種批量攝像模組測試設備及其測試系統對至少兩個攝像模組進行測試。所述攝像模組為組裝完成待測試的成品，需要進行測試驗證其功能良好。如圖1至圖19所示，所述測試設備包括一運載工具30以及一測試工具40。所述測試設備用於對安置至少兩個攝像模組的一測試板10進行測試，通過對所述測試板10的測試來進行對所述攝像模組的測試，其中所述測試板10可拆卸地被固定於所述運載工具30，所述運載工具30將攜帶所述測試板10進行相應的測試，其中所述測試工具40提供所述測試板10所需要的測試環境。更具體地，所述測試板10所攜帶的每個所述攝像模組都將根據所述測試工具40進行測試，所述測試工具40和所述運載工具30也將對所述測試板10提供適合的測試環境。所述測試板10可以與所述運載工具30進行結構上的固定連接和電路上的連通連接，使得所述測試板10可以通過所述運載工具30匯出測試資料。特別地，所述測試板10和所述測試工具40之間的相對方位可以被調整，以供所述測試板10被置於適合的測試條件中。優選地，為了調整所述測試板10與所述測試工具40之間的相對方位，所述運載工具30可以攜帶所述測試板10進行移動來調整，所述測試工具40也可以調整自身的位置來改變與所述測試板10的相對方位。當然，所述運載工具30和所述測試工具40可以協同地調整。

本發明提供的所述測試系統100的整體示意圖如圖1所示。所述測試系統100包括一固定子系統101、一運動子系統102以及一採集子系統103。所述固定子系統101對所述測試板10與所述運載工具30之間的固定關係進行控制，使得所述測試板10可以被有效地、穩定地連接於所述運載工具30從而進行測試。所述運動子系統102為調整所述運載工具30與所述測試工具40之間的相對方位的控制系統，保證所述運載工具30所攜帶的所述測試板10與所述測試工具40的相對方位對於所述測試板10為有效的測試環境。所述採集子系統103控制所述測試板10根據所述測試工具40進行測試並採集所述測 試板10的測試資料。具體地，所述採集子系統103通過所述運載工具30對所述測試板10的測試資料進行收集，並交至後臺進行資料處理和分析。

[測試板與攝像模組的關聯性]

值得一提的是，所述測試板10適於被安置至少兩個測試塊20，使得所述測試塊20通過所述測試板10被同時接入進行測試。所述測試塊20包括組裝完成的待測試的所述攝像模組和與一所述攝像模組連接的中繼單元中的至少一個。所述中繼單元為承載所述攝像模組與所述測試板10連接的一個模組。也就是說，所述攝像模組被直接或者間接地固定於所述測試塊20，進而被安置於所述測試板10，並且被所述測試板10所攜帶進行測試。一個所述測試塊20將與一個所述攝像模組相對應，使得經過所述測試板10的測試，每個所述攝像模組都能得到測試。也就是說，攝像模組可以通過所述測試塊20完成全部的測試操作，不必相對於所述測試塊20反復的進行接入和摘取。例如，在開始測試操作前，待測試的攝像模組連接並固定於所述測試塊20。所述測試塊20將攜帶攝像模組進行全部的測試，無論攝像模組是否通過測試，所述測試塊20都將始終連接攝像模組。也就是說，所述測試塊20對於沒有通過測試的攝像模組，所述測試塊20也可以輔助攝像模組進行未通過測試相應的操作。對於通過測試的攝像模組，所述測試塊20也將陪同攝像模組完成其他測試。藉由所述測試塊20，攝像模組在全部的測試，包括流轉過程，都可以避免反復的接入和摘取，減少測試對攝像模組的不利影響，減少每個攝像模組測試所需時間，提高測試的整體效率。

需要說明的是，攜帶所述測試塊20的所述測試板10被固定於所述運載工具30時，所述測試塊20被連接於所述運載工具30，使得所述運載工具30可以從所述測試塊20中獲得資料。那麼所述運載工具30通過所述測試板10和所述測試塊20便可以獲得所述攝像模組的測試資料。優選地，所述測試板10中的所述測試塊20呈矩陣式排列。每個所述測試塊20的位置都可以被相對固定並跟蹤。方便對每個所述測試塊20的測試資料進行收集和後期的對應性處理。

本優選實施例中，所述測試塊20被所述測試板10所攜帶，通過所述固定子系統101的固定，所述測試塊20與所述測試板10的相對方位被固定。更為優選地，所述測試塊20呈矩陣的形式被排列在所述測試板10，本優選實施例中，所述測試板10以2×8的形式被安置了16個所述測試塊20。當 然，所述測試塊20被安置的形式只是舉例，根據測試的需要可以有多種的改變，這裡就不一一列舉。所述測試塊20將隨著所述測試板10被所述運動子系統102調整與所述測試工具40的相對方位。根據不同的測試條件的要求，所述測試塊20可以被反復調整相對的方位，以適應不同的測試。當然，所述運載工具30都可以作為攜帶所述測試塊20的所述測試板10調整的媒介，所述測試工具40也可以被調整。也就是說，所述測試塊20所需要的測試條件是相對的，所述運動子系統102藉由所述運載工具30或者所述測試工具40的移動都可以控制相對的方位。值得一提的是，所述運載工具30與所述測試板10在測試中是相互固定的。所述採集子系統104可以通過所述運載工具30收集所述測試板10中的測試資料，進而得到所述攝像模組的測試資料。

更具體地，如圖2、圖3、圖4以及圖13所示，所述測試板10被固定於所述運載工具30，所述運載工具30可以相對所述測試工具40調整方位。需要說明的是，所述測試板10相對所述測試工具40的距離可以被調整，所述測試板10相對所述測試工具10的俯仰角可以被調整。所述測試板10相對所述測試工具40的距離包括所述測試板10相對所述測試工具40的法向距離和側向距離。也就是說，所述測試板10與所述測試工具40的相對方位可以被調整以適應所述測試板10對不同測試條件的要求。因此，藉由所述測試工具40和運載工具30，所述測試板10可以進行不同的針對所述攝像模組的測試。當然，所述測試工具40可以攜帶不同的測試物品，為所述測試板10營造不同測試環境。那麼，所述測試設備可以為所述攝像模組提供多種測試。

更多地，所述測試板10進一步包括至少兩個安置位11和至少兩個介面12。所述安置位11被適於安置所述測試塊20，所述介面12為所述測試塊20的通電提供連接端，使得所述測試塊20被安置於所述測試板10時不僅在結構上相對固定，也能夠可通電地連接。所述安置位元11與所述介面12的位置是一一對應的。也就是說，所述測試塊20被放置在所述安置位11後，所述測試塊20可以通過所述介面12匯出測試資料。更具體地，所述測試塊20通過所述測試板10的所述介面12與所述運載工具30可通電地連接，使得所述測試塊20的測試資料可以被所述運載工具30獲得，方便所述採集子系統103的收集。

所述測試板10進一步地包括一定位部13和一固定部14。所述定位部13輔助所述測試板10和所述運載工具30的相對固定位置的確定，所述 固定部14提供所述運載工具30固定所述測試板10的部位。更具體地，所述定位部13的位置與所述運載工具30是相對確定的，使得所述測試板10被相對確定地固定於所述運載工具30。那麼對於形式一致的所述測試板10，所述測試板10相對所述運載工具30的位置就是確定的。另外，所述固定部14被所述運載工具30所固定後，所述測試板10對於所述運載工具30的位置也就被固定了。所述固定部14還進一步地防止所述測試板10在隨著所述運載工具30移動的時候出現晃動偏差。也就是說，所述固定部14保持所述測試板10與所述運載工具30的關係穩定。對於批量的測試而言，所述測試板10所攜帶的所述測試塊20相對於所述運載工具30的位置確定是必要的。在測試塊20被確定地放置於所述測試板10後，所述測試板10藉由所述定位部13和所述固定部14被確定地放置於所述運載工具30，那麼每個測試塊20相對於所述運載工具30的位置也就被確定。

[運載工具的配置]

更進一步地，所述運載工具30進一步包括一固定元件31、一連接元件32、一定位元件33以及一傳動元件34。所述固定元件31將所述測試板10固定於所述運載工具30，使得所述測試板10的方位可以藉由所述運載工具30得到調整。所述連接元件32與所述測試板10可通電地連接，進而將所述測試板10中的所述測試塊20與所述連接元件32連接，以供獲得所述測試塊20的測試資料。所述定位元件33輔助定位所述測試板10與所述運載工具30的位置關係，以及所述測試板10與所述測試工具40的位置關係。所述傳動元件34為調整所述運載工具30的方位和所述測試板10的方位的傳動裝置。具體地，所述測試板10被固定於所述運載工具30的所述固定元件31，而且所述固定元件31會保持所述測試板10與所述運載工具30的相對位置確定。也就是說，在所述運載工具30被所述傳動元件34帶動運動的時候，所述固定元件31將保持所述測試板10與所述運載工具30的相對穩定。另外，所述連接元件32也與所述測試塊20的相對位置保持穩定。當所述固定元件31將所述測試板10固定後，所述連接元件32便與所述測試板10的所述測試塊20相互連接。通過所述連接元件32，所述測試板10的所述測試塊20可以將測試的資料匯出。也就是說，只要所述測試板10的結構和形式相同，所述運載工具30可以反復的運載不同的所述測試板10進行測試，對於大批量的測試十分有利。所述固定元件31和所述定位元件33可以保證每次測試的所述測試板10相對於所述運載工具30的位置 都是一致的。也就是說，所述定位元件33可以保證所述測試板10相對位置的確定。當然，所述定位元件33不僅可以確定位置，還可以對所述測試板10的方向進行確定。更多地，所述定位元件33不僅與所述測試板10相互確定，所述定位元件33也可以對所述測試工具40與所述運載工具30的相對位置進行確定。所述定位元件33為所述測試板10在測試中確定相對位置的保證，使得所述測試板10處於有效的測試環境。因為所述定位元件33對於所述測試板10與所述運載工具30和所述測試工具40的相對位置有確定作用，所述測試板10可以在所述運載工具30中處於適合的測試環境。這樣，所述測試板10的所述測試塊20在所述運載工具30中的位置相對確定，連接關係也相對確定，不會因所述傳動元件34的運動使得所述測試板10或者所述測試塊20的相對位置改變。

[測試工具的配置]

所述測試工具40進一步包括一測試元件41、一支撐元件42供支援所述測試元件41、一運送元件43、一校準元件44以及一採集元件45，其中所述測試元件41為所述測試板10所攜帶的所述測試塊20提供測試條件，其中所述運送元件43對所述測試元件41的方位進行相應的調整，其中所述校準元件44對所述測試元件41與所述運載工具30所固定的所述測試板10之間的相互方位進行校準，使得所述測試板10處於適於根據所述測試元件41測試的環境中，其中所述採集元件45通過所述運載工具30的所述連接元件32採集所述測試板10的測試資料。在本優選實施例中，所述測試元件41進一步包括至少一光板測試件411和一標板測試件412。所述測試板10的所述測試塊20可以根據所述測試板10對所述攝像模組做測試。所述運送元件43被設置於所述測試元件41，所述測試元件41被所述運送元件43移動至適合測試的位置。所述校準元件44被設置於所述測試元件41，說明所述測試元件41與所述測試板10之間的相對位置做校正。優選地，所述校準元件44與所述運載工具30的所述定位元件33可相互確認位置，通過與所述運載工具30的校準，來校準與所述測試板10的相對位置。當然，在某些可行的實施例中，所述校準元件44可直接與所述測試板10的所述定位部13進行校準。也就是說，所述校準元件44用於確認所述測試元件41與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43根據所述校準元件44的結果來調整所述測試元件41與所述測試板10的相互方位。所述校準元件44相當於所述運送元件43執行的標準，根據不同測試條件的要求，所述 校準元件44提供不同的相對方位的核准資訊，所述運送元件43按照所述校準元件44的資訊來對所述測試元件41進行調整。

更具體地，所述運送元件43通過為所述測試元件41提供支撐的所述支撐元件42進行移動，進而調整所述測試元件41相對於所述測試板10的方位。例如，在合適的距離和方位下，所述光板測試件411可以被提供用於對所述測試板10的所述測試塊20做近焦測試。那麼所述校準元件42對搭載所述測試板10的所述運載工具30的所述定位元件33的位置進行核實。所述校準元件42根據需要通過判斷使得所述運送元件43將所述光板測試件411移動至合適的方位。當所述校準元件42校準後，所述運載工具30的所述連接元件32可以將所述測試板10中的測試資料匯出，完成對近焦測試資料的採集。

當然，本領域技術人員可以理解的是，為了調整所述測試板10和所述測試元件41之間的相對方位，除了利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34也可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。如圖5所示，所述測試板10攜帶所述測試塊20被固定於所述運載工具30的所述固定元件31後，所述測試板10與所述運載工具30的相對位置是確定不變的。所述運載工具30的所述傳動元件34可以將所述測試板10移動。所述測試工具40的所述運送元件43可以將所述測試元件41移動。另外，為了利用所述標板測試件412對所述攝像模組進行遠焦測試，所述測試元件41進一步提供一鏡片測試件413，通過所述鏡片測試件413對所述標板測試件412，可以得到遠焦測試的結果。為方便說明本發明的技術特徵，本優選實施例中的所述測試元件41的所述光板測試件411和所述鏡片測試件413均為可被所述運送元件43移動的，所述標板測試件412為相對固定的。

[運載工具與測試工具的關聯性]

當然，根據不同的測試條件的要求，所述測試元件41可以提供不同的測試環境。例如，如圖5中所示的測試移動方向順序示意，攜帶了所述測試板10的所述運載工具30首先按箭頭1的方向向所述測試工具40靠近。同時或者稍後，所述測試工具40的所述測試元件41的所述光板測試件411按箭頭2的方向向所述運載工具30方向移動。也就是說，所述校準元件44尋找滿足本次測試的相對方位。當所述校準元件44達到目的後，所述傳動元件34和所述運送元件44停止調整。所述運載工具30的所述連接元件32將所述測試板10中對於所述光板測試件411的測試資料匯出。最後，所述運載工具30攜帶所述測試板 10按照箭頭3的方向退回初始的位置，完成對所述測試板10的測試。值得一提的是，因為所述運載工具30對所述測試板10的固定，在移動和測試中，所述測試板10相對運載工具30的位置是不變的。當然，對於所述測試元件41與所述測試板10相對位置的調整還有很多可能的方向和順序，只要能滿足所述校準元件44的校準需要，或者滿足所述測試板10的測試環境的需要，所述測試工具40和所述運載工具30可提供不同方式的相對方位的調整。

更具體地，如圖6所示，本優選實施例中，所述運載工具30和所述測試工具40分別可以進行三維方位的調整。所述運載工具30的所述傳動元件34進一步包括至少一軌道341和至少一驅動器342。所述驅動器342將帶動所述運載工具30的所述測試板10移動。更優選地，所述軌道341進一步提供一第一軌道3411和一第二軌道3412，所述驅動器342進一步提供一第一驅動器3421、一第二驅動器3422以及一第三驅動器3423。所述第一驅動器3421帶動所述測試板10沿著所述第一軌道3411移動。所述第二驅動器3422帶動所述測試板10沿著所述第二軌道3412移動。所述第三驅動器3423帶動所述測試板10調整俯仰角。也就是說，所述測試板10通過所述第一驅動器3421與所述第一軌道3411、所述第二驅動器3422與所述第二軌道3412，以及所述第三驅動器3423在三維方位上得到調整。為了給所述測試板10提供合適的測試環境，所述傳動元件34在三維方向上進行相應的移動。

所述測試工具40的所述運送元件43進一步包括一升降器431、一平移器432以及一調角器433。所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433被設置於所述支撐元件42，使得所述測試元件41的方位可以通過所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433被調整。更具體地，如圖6中的所述測試工具40的箭頭所示，所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433分別可以沿著箭頭方向所示對所述測試元件41的方位進行移動。一種可行的測試環境中，所述測試元件41的所述光板測試件411可以被所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433調整，所述標板測試件412是相對固定的，所述鏡片測試件413可以被所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433調整。當然，這裡只是對測試環境做舉例，所述測試元件41可以按照測試要求做適應性的調整。也就是說，本發明的所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433提供的三維空間的調整功能並不對測試器件產 生限制，不同的器件需要調整時，可以全部或者部分的應用所述運送元件43的功能。

本優選實施例中，一種測試需要的運動流程如圖7所示。為了根據所述光板測試件411測試所述攝像模組的汙壞點，需要批量地進行測試。所述固定元件31將所述測試板10固定於所述運載工具30，使得所述測試板10的方位可以藉由所述運載工具30得到測試方向上的調整。首先，通過所述傳動元件34的所述第三驅動器3423將所述測試板10的朝向調整為面向所述測試工具40，如箭頭1方向。其次，所述傳動元件34的所述第二驅動器3422調整所述運載工具30與所述測試工具40的法向距離，如箭頭2方向。然後，所述測試工具40的所述運送元件43將所述光板測試件411移動至合適的位置，如箭頭3所示的方向。接著，所述運動組件43的所述升降器431、所述平移器432以及所述調角器433將所述光板根據所述校準元件44的校準來調整所述光板測試件411的方位，如箭頭4的方向所示。本領域的技術人員可以理解地，對於每個調整的順序都是可以調整的。因為，所述測試板10與所述光板測試件411之間是相對的距離和角度，並不是絕對的，那麼利用所述運載工具30的所述傳動元件34、所述測試工具40的所述運送元件43或者兩個的結合來調整都是可行的。

另外，所述校準元件44進一步包括至少一校準器441，所述校準器441與所述定位元件33相互核准。所述運載工具30的所述定位元件33進一步包括與所述校準器441相互對應的至少一測試校準件332。所述校準器441被置於所述測試元件41中，所述測試校準件332被置於所述運載工具30或者所述運載工具30所攜帶的所述測試板10中，使得所述校準器441與所述測試校準件332相互校準後，所述測試元件41的方位與所述運載工具30和所述測試板10的方位便相互校準。優選地，所述校準器441與所述測試校準件332具體為一對位置感測器。優選地，所述校準器441與所述測試校準件332具體為一對鐳射收發裝置。優選地，所述校準器441與所述測試校準件332具體為移動卡齒，當角度或者距離適合時會卡住以防止繼續移動。優選地，所述校準器441與所述測試校準件332分別地具體為光線收發器和反射鏡。本領域的技術人員可以理解的是，所述校準器441與所述測試校準件332的相互校準使得所述測試元件41與所述運載工具30所攜帶的所述測試板10的方位滿足測試條件的要求。除了所述測試校準件332對所述測試元件41進行校準，所述定 位元件33進一步包括至少一連接定位件331，所述連接定位件331與所述測試板10相互定位。那麼進一步地，所述測試板10通過所述連接定位件331與所述運載工具30連接，進一步通過所述測試校準件332與所述測試元件41進行校準，使得所述測試板10與所述測試元件41相互方位確定。也就是說，通過所述定位元件33，所述測試板10與所述測試元件41的關係可以保持一致，適於批量地所述測試板10進行測試。

[測試設備對應的測試系統的配置]

本優選實施例的所述測試設備對應的所述測試系統100的流程圖如圖8至圖10所示。利用所述測試設備，所述固定子系統101、所述運動子系統102以及所述採集子系統103完成對所述測試板10的固定、方位調整和採集測試資料功能。所述固定子系統101對所述測試板10與所述運載工具40固定流程如圖8所示。所述測試塊20被固定於所述測試板10，使得所述測試塊20在所述測試板10中得到有效地測試。接著，所述測試板10被放置於所述運載工具30。具體地，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述定位元件33相互確定位置，所述運載工具30的所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12相互通電地連接。最後，所述測試板10的所述固定部14與所述運載工具30的所述固定元件31相互固定，確定所述測試板10與所述運載工具30在結構上和電氣上的連接穩定。所述測試板10的所述定位部13與所述運載組件30的所述定位元件33是相對的，也就是所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331是相互對應的。優選地，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331為相應的定位杆與定位孔。優選地，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331為相應的卡合結構。優選地，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331為相應磁吸材料。優選地，所述運載工具30的所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12為相對應的插座與插頭。優選地，所述運載工具30的所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12為相對應的電氣觸點與觸針。優選地，所述運載工具30的所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12為相對應的子母接線柱。需要說明的是，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331相互對應後，可以保證所述運載工具30的所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12也是相互對應的。

本優選實施例中的所述運動子系統102的流程如圖9所示。當所述運載工具30固定所述測試板10後，需要對所述測試板10與所述測試工具40之間的相對方位進行調整。因為所述測試板10與所述測試工具40之間是相對的，那麼可以通過所述運載工具30的所述傳動元件34、所述測試工具40的所述運送元件43或者兩個組合的方式進行調整。具體地，本優選實施例中採用的是先對所述運載工具30的所述傳動元件34進行調整所述測試板10的方位，後對所述測試工具40的所述運送元件43調整所述測試元件41的方位。在綜合的調整之後，所述校準器441對所述測試校準件332相互核實，判斷所述測試板10的測試條件是否被滿足。如果不滿足，則需要重新對所述測試板10與所述測試工具40之間的方位進行調整。如果滿足，那麼所述測試板10的測試資料通過所述運載工具30的所述連接元件32被所述採集元件45採集，進而完成本次測試。

本領域技術人員可以理解的是，為了調整所述測試板10和所述測試工具40之間的相對方位，利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。而且，兩者的順序並不影響本發明的技術特徵。所述測試板10攜帶所述測試塊20被固定於所述運載工具30的所述固定元件31後，所述測試板10與所述運載工具30的相對位置是確定不變的。所述運載工具30的所述傳動元件34可以將所述測試板10移動。所述測試工具40的所述運送元件43可以將所述測試工具40移動。當然，根據不同的測試條件的要求，所述測試工具40可以提供不同的測試環境。值得一提的是，因為所述運載工具30對所述測試板10的固定，在移動和測試中，所述測試板10相對運載工具30的位置是不變的。當然，對於所述測試工具40與所述測試板10相對位置的調整還有很多可能的方向和順序，只要能滿足所述校準元件44的校準需要，或者滿足所述測試板10的測試環境的需要，所述測試工具40和所述運載工具30可提供不同方式的相對方位的調整。

更具體地，本優選實施例提供的所述測試系統的具體流程如圖10所示。本流程主要對所述光板測試件411、所述標板測試件412以及所述鏡片測試件413的依次調整和測試。所述固定元件31將所述測試板10固定於所述運載工具30。所述連接元件32與所述測試板10可通電地連接，進而將所述測試板10中的所述測試塊20與所述連接元件32連接，以供獲得所述測試塊 20的測試資料。所述測試板10被固定於所述運載工具30的所述固定元件31，而且所述固定元件31會保持所述測試板10與所述運載工具30的相對位置確定。

為了調整所述測試板10和所述光板測試件411之間的相對方位，利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34也可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。所述定位元件33輔助定位所述測試板10與所述運載工具30的位置關係，以及所述測試板10與所述測試工具40的位置關係。所述傳動元件34為調整所述運載工具30的方位和所述測試板10的方位的傳動裝置。也就是說，在所述運載工具30被所述傳動元件34帶動運動的時候，所述固定元件31將保持所述測試板10與所述運載工具30的相對穩定。另外，所述連接元件32也與所述測試塊20的相對位置保持穩定。當所述固定元件31將所述測試板10固定後，所述連接元件32便與所述測試板10的所述測試塊20相互連接。通過所述連接元件32，所述測試板10的所述測試塊20可以將測試的資料匯出。

所述校準元件44用於確認所述光板測試件411與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43根據所述校準元件44的結果來調整所述光板測試件411與所述測試板10的相互方位。所述校準元件44相當於所述運送元件43執行的標準，根據不同測試條件的要求，所述校準元件44提供不同的相對方位的核准資訊，所述運送元件43按照所述校準元件44的資訊來對所述光板測試件411進行調整。當所述校準元件44核實位置後，所述採集元件45開始採集所述測試板10的測試資料。

接著，調整所述測試板10和所述標板測試件412之間的相對方位，利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34也可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。所述定位元件33輔助定位所述測試板10與所述運載工具30的位置關係，以及所述測試板10與所述測試工具40的位置關係。所述傳動元件34為調整所述運載工具30的方位和所述測試板10的方位的傳動裝置。也就是說，在所述運載工具30被所述傳動元件34帶動運動的時候，所述固定元件31將保持所述測試板10與所述運載工具30的相對穩定。另外，所述連接元件32也與所述測試塊20的相對位置保持穩定。當所述固定元件31將所述測試板10固定後，所述連接元件32便與所述 測試板10的所述測試塊20相互連接。通過所述連接元件32，所述測試板10的所述測試塊20可以將測試的資料匯出。

所述校準元件44用於確認所述標板測試件412與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43根據所述校準元件44的結果來調整所述標板測試件412與所述測試板10的相互方位。所述校準元件44相當於所述運送元件43執行的標準，根據不同測試條件的要求，所述校準元件44提供不同的相對方位的核准資訊，所述運送元件43按照所述校準元件44的資訊來對所述光板測試件411進行調整。當所述校準元件44核實位置後，所述採集元件45開始採集所述測試板10的測試資料。

然後，調整所述測試板10和所述鏡片測試件413之間的相對方位，利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34也可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。所述定位元件33輔助定位所述測試板10與所述運載工具30的位置關係，以及所述測試板10與所述測試工具40的位置關係。所述傳動元件34為調整所述運載工具30的方位和所述測試板10的方位的傳動裝置。也就是說，在所述運載工具30被所述傳動元件34帶動運動的時候，所述固定元件31將保持所述測試板10與所述運載工具30的相對穩定。另外，所述連接元件32也與所述測試塊20的相對位置保持穩定。當所述固定元件31將所述測試板10固定後，所述連接元件32便與所述測試板10的所述測試塊20相互連接。通過所述連接元件32，所述測試板10的所述測試塊20可以將測試的資料匯出。

所述校準元件44用於確認所述鏡片測試件413與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43根據所述校準元件44的結果來調整所述鏡片測試件413與所述測試板10的相互方位。所述校準元件44相當於所述運送元件43執行的標準，根據不同測試條件的要求，所述校準元件44提供不同的相對方位的核准資訊，所述運送元件43按照所述校準元件44的資訊來對所述光板測試件411進行調整。當所述校準元件44核實位置後，所述採集元件45開始採集所述測試板10的測試資料。最後所述運載工具30退回原位結束測試。

[運載工具與測試板的配置]

如圖11、圖12以及圖14所示，所述運載工具30的具體結構如下闡述。所述固定元件31進一步包括至少一夾具311和一固定槽312。所述連接元件32被 置於所述固定槽312中，所述夾具311被置於所述固定槽312邊緣。這樣，當所述測試板10被置於所述固定槽312時，所述夾具311將所述測試板10固定。同時，所述連接元件32與所述測試板10的所述介面12連接。所述連接元件32與所述測試板10可通電地連接，進而將所述測試板10中的所述測試塊20與所述連接元件32連接，以供獲得所述測試塊20的測試資料。

所述連接元件32進一步包括至少一連接器321、一施力器322以及一與所述施力器322連接的感測器323。所述感測器323收集所述施力器322對所述測試板10產生的壓力資料，並將壓力數據傳回所述施力器322，供所述施力器322調整對所述測試板10的施力。所述連接器321與所述測試板10的所述介面12為相對應的。優選地，所述連接器321與所述測試板10的所述介面12為相對應的插座與插頭。優選地，所述連接器321與所述測試板10的所述介面12為相對應的電氣觸點與觸針。優選地，所述連接器321與所述測試板10的所述介面12為相對應的子母接線柱。需要說明的是，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331相互對應後，可以保證所述運載工具30的所述連接器321與所述測試板10的所述介面12也是相互對應的。

所述定位元件33輔助定位所述測試板10與所述運載工具30的位置關係，以及所述測試板10與所述測試工具40的位置關係。所述傳動元件34為調整所述運載工具30的方位和所述測試板10的方位的傳動裝置。具體地，所述測試板10被放置於所述固定槽312，並由所述夾具311對所述測試板10的所述固定部14固定。在所述運載工具30被所述傳動元件34帶動運動的時候，所述固定元件31將保持所述測試板10與所述運載工具30的相對穩定。

另外，所述連接元件32的所述連接器321也與所述測試塊20的相對位置保持穩定。當所述固定元件31將所述測試板10固定後，所述連接元件32的所述連接器321便與所述測試板10的所述測試塊20相互連接。通過所述連接元件32的所述連接器321，所述測試板10的所述測試塊20可以將測試的資料匯出。也就是說，只要所述測試板10的結構和形式相同，所述運載工具30可以反復的運載不同的所述測試板10進行測試，對於大批量的測試十分有利。

所述定位元件33可以保證每次測試的所述測試板10相對於所述運載工具30的位置都是一致的。也就是說，所述定位元件33的所述連接定位 件331可以保證所述測試板10相對位置的確定。當然，所述連接定位件331不僅可以確定位置，還可以對所述測試板10的方向進行確定。例如，所述連接定位件331為防呆孔柱。這樣，所述測試板10的所述測試塊20在所述運載工具30中的位置相對確定，連接關係也相對確定，不會因所述傳動元件34的運動使得所述測試板10或者所述測試塊20的相對位置改變。

本優選實施例中所應用的所述測試板10的具體結構如圖13所示。特別的是，本優選實施例提供的所述測試板10被安置十六個所述測試塊20，以供測試中可以對最多十六個的所述攝像模組同時進行測試。優選地，所述測試板10可以被安置2×8個所述測試塊20，並以陣列的形式排列。所述測試板10將呈陣列形式的所述測試塊20固定，在測試過程中保證所述測試塊20所處的環境一致。也就是說，被安置於所述測試板10的所有所述測試塊20的測試條件一致。這樣，就可以保證所述測試塊20所攜帶的所述攝像模組的測試環境穩定。

每個所述測試塊20都按照一定的確定位置被安置。所述測試塊20優選地被柱孔連接於所述測試板10的所述安置位11。所述測試板10提供至少兩個安置位11，其中所述安置位11被相對應的安置所述測試塊20，進而將所述測試塊20所攜帶的所述攝像模組置於確定的位置。本優選實施例中所述測試板10具有十六個所述安置位11，相應地可以被十六個所述測試塊20放置。所述介面12被設置於所述安置位11，與所述測試塊20是相對應的。也就是說，在本優選實施例中，所述介面12為給所述測試塊20提供的介面通孔。值得一提的是，每個安置位元11的結構都是一致的，方便所述測試塊20適應性的放置。更多地，本優選實施例中，所述測試板10的所述定位部13與所述運載工具30的所述連接定位件331相對應地設置。優選地，所述定位部13與所述連接定位件331是成對的存在。所述固定部14與所述運載工具30的所述夾具311是成對的存在。優選地，所述固定部14為所述測試板10圍周的固定孔。所述定位部13與所述連接定位件331，和所述固定部14與所述運載工具30的所述夾具311優選為不同的位置，在某些可行的模式中也可以將兩對作以結合。優選地，所述定位部13與所述連接定位件331，和所述固定部14與所述運載工具30的所述夾具311為相應的定位杆與定位孔。優選地，所述定位部13與所述連接定位件331，和所述固定部14與所述運載工具30的所述夾具 311為相應的卡合結構。優選地，所述定位部13與所述連接定位件331，和所述固定部14與所述運載工具30的所述夾具311為相應磁吸材料。

特別的是，所述連接器321與所述介面12的設置可以為一一對應的，使得每個所述測試塊20都被接入所述運載工具30。當然，如圖14所示，所述連接器321與所述介面12可以不一一對應，而是採取隔行對應的設置，對隔行的所述測試塊20進行測試。在測試過程中，可以對所述連接器321的位置做改變，進行兩個或者以上的測試。這對於本發明的技術特徵並沒有影響。根據實際測試條件的要求，可以採用全部接入或者部分接入的方法。對於部分接入，可以採用本優選實施例中所示的隔行接入，也可以採用分半接入，或者錯開接入等形式。

[測試工具與測試板的配置]

所述測試工具40的具體結構示意圖如圖15至19所示。所述測試元件41為所述測試板10所攜帶的所述測試塊20提供測試條件，而且並不因所述測試元件41處於的方向對測試條件產生限制。本優選實施例中，所述光板測試件411與所述鏡片測試件413被分別置於所述測試板10的側方。而所述標板測試件412被置於所述測試板10的正前方。通過所述測試工具40的所述運送元件43，所述測試元件41被可移動的調整，以滿足測試的條件。本優選實施例中，所述光板測試件411與所述鏡片測試件413均被置於所述支撐元件42，藉由被設置於所述支撐元件42的所述運送元件43來進行方位的調整。

本優選實施例以所述光板測試件411與所述鏡片測試件413在所述測試板10兩側的所述支撐元件42為例，對所述測試元件41相對所述測試板10進行相對調整做說明。如圖16所示，所述光板測試件411被所述支撐元件42支撐。所述光板測試件411面向所述測試板10，使得所述測試板10根據所述光板測試件411進行測試，以得到每個所述攝像模組相對所述光板測試件411的測試結果。優選地，所述光板測試件411的發光面足夠大，使得所述測試板10的所述攝像模組都處於相同的測試環境中。當然，所述光板測試件411可以被移動，對所述測試板10的部分所述攝像模組進行測試，即分組測試。也就是說，所述運送元件43和所述光板測試件411相互配合給所述測試板10提供測試環境。特別地，所述光板測試件411移動時，所述運送元件43將對所述光板測試件411的位置根據所述校準元件44的要求來調整。例如，在進行一組近焦測試時，所述測試板10的位置已經確定。可以通過所述運載工具30將 所述測試板10固定，也就可以通過其他裝置將所述測試板10固定。之後再對所述光板測試件411的方位調整。那麼所述升降器431和所述調角器433分別對所述光板測試件411的相對高度和俯仰角做調整，所述平移器432調整與所述測試板10之間的相對距離。需要說明的是，所述光板測試件411為可發光裝置，為所述測試板10提供測試所需要的環境。

另外，本優選實施例可以對所述測試板10的所述測試塊20進行遠焦測試來測試所述攝像模組。利用所述標板測試件412和所述鏡片測試件413實現遠焦測試的環境。優選地，所述鏡片測試件413為至少一個增距鏡，使得所述測試板10的所述測試塊20可以通過所述鏡片測試件413根據所述標板測試件412進行遠焦測試。如圖17所示，所述鏡片測試件413被所述支撐元件42支撐。所述鏡片測試件413面向所述測試板10，使得所述測試板10根據所述鏡片測試件413進行測試，以得到每個所述攝像模組相對所述鏡片測試件413的測試結果。優選地，所述鏡片測試件413的發光面足夠大，使得所述測試板10的所述攝像模組都處於相同的測試環境中。當然，所述鏡片測試件413可以被移動，對所述測試板10的部分所述攝像模組進行測試，即分組測試。也就是說，所述運送元件43和所述鏡片測試件413相互配合給所述測試板10提供測試環境。特別地，所述鏡片測試件413移動時，所述運送元件43將對所述鏡片測試件413的位置根據所述校準元件44的要求來調整。例如，在進行一組遠焦測試時，所述測試板10和所述標板測試件412的位置已經確定。可以通過所述運載工具30將所述測試板10固定，也就可以通過其他裝置將所述測試板10固定。之後再對所述鏡片測試件413的方位調整。那麼所述升降器431和所述調角器433分別對所述鏡片測試件413的相對高度和俯仰角做調整，所述平移器432調整與所述測試板10之間的相對距離。直到所述校準元件44確認了所述鏡片測試件413與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43的調整就得以完成。所述採集元件45對所述測試板10的資料開始採集。

值得一提的是，所述鏡片測試件413的具體鏡片設置於所述測試板10的所述測試塊20的設置是相互對應的。如圖17中，所述鏡片測試件413提供與所述測試板10的所述測試塊20相一致的矩陣排列的設置。如圖18，所述鏡片測試件413採用整體的鏡片設置。根據測試環境的要求，所述鏡片測試件413的具體設計需要根據所述測試板10的所述測試塊20來安排。但 是對於所述鏡片測試件413整體的移動調整方法是一致的，對所述測試板10形成的測試環境也不受影響。

為了更進一步地說明所述測試元件41與所述測試板10的相對調整，如圖19所示，本優選實施例選取所述光板測試件411與所述測試板10的相對方位，所述鏡片測試件413與所述測試板10的相對方位，所述標板測試件412與所述測試板10的相對方位來說明。這裡，所述光板測試件411與所述測試板10之間的法向距離為距離A，所述鏡片測試件413與所述測試板10之間的法向距離為距離B，所述標板測試件412與所述測試板10之間的法向距離為距離C。這裡作為舉例的情形是所述光板測試件411、所述標板測試件412和所述鏡片測試件413與所述測試板10為相互平行的狀態。當然，對於不平行的狀態也是類似的，這裡不做枚舉。本技術人員可以理解的是，距離A、距離B以及距離C都是相對性的。也就是說，距離A可以通過移動所述運載工具30的所述傳動元件34和所述測試工具40所述運送元件43的協作來調節。距離B也可以通過移動所述運載工具30的所述傳動元件34和所述測試工具40所述運送元件43的協作來調節。距離C可以通過移動所述運載工具30的所述傳動元件34來調節。本優選實施例中的所述運動子系統102根據所述校準元件44來控制所述運載工具30的所述傳動元件34和所述測試工具40所述運送元件43。而且所述校準元件44對所述測試元件41與所述運載工具30所固定的所述測試板10之間的相互方位可以進行校準，使得所述測試板10處於適於根據所述測試元件41測試的環境中，方便所述採集元件45通過所述運載工具30的所述連接元件32採集所述測試板10的測試資料。

總之，所述校準元件44與所述運載工具30的所述定位元件33可相互確認位置，通過與所述運載工具30的校準，來校準與所述測試板10的相對位置。所述校準元件44可直接與所述測試板10的所述定位部13進行校準。也就是說，所述校準元件44用於確認所述測試元件41與所述測試板10之間的相對方位，所述運送元件43根據所述校準元件44的結果來調整所述測試元件41與所述測試板10的相互方位。所述運動子系統102中的所述校準元件44相當於所述運送元件43執行的標準，根據不同測試條件的要求，所述校準元件44提供不同的相對方位的核准資訊，所述運送元件43按照所述校準元件44的資訊來對所述測試元件41進行調整。所述運送元件43被設置於所述測試元件41，所述測試元件41被所述運送元件43移動至適合測試的位置。所述校 準元件44被設置於所述測試元件41，說明所述測試元件41與所述測試板10之間的相對位置做校正。

更具體地，所述運送元件43通過為所述測試元件41提供支撐的所述支撐元件42進行移動，進而調整所述測試元件41相對於所述測試板10的方位。例如，在合適的距離和方位下，所述光板測試件411可以被提供用於對所述測試板10的所述測試塊20做近焦測試。那麼所述校準元件42對搭載所述測試板10的所述運載工具30的所述定位元件33的位置進行核實。所述校準元件42根據需要通過判斷使得所述運送元件43將所述光板測試件411移動至合適的方位。當所述校準元件42校準後，所述運載工具30的所述連接元件32可以將所述測試板10中的測試資料匯出，完成對近焦測試資料的採集。又需要做遠焦測試時，可以將上次的所述光板測試件411移開，再將所述鏡片測試件413進行調整。所述校準元件42根據需要通過判斷使得所述運送元件43將所述鏡片測試件413移動至合適的方位。

當然，本領域技術人員可以理解的是，為了調整所述測試板10和所述測試元件41之間的相對方位，除了利用所述測試工具40的所述運送元件43，所述運載工具30的所述傳動元件34也可以對所述測試板10的位置進行調整來達到目的。如圖5所示，所述測試板10攜帶所述測試塊20被固定於所述運載工具30的所述固定元件31後，所述測試板10與所述運載工具30的相對位置是確定不變的。所述運載工具30的所述傳動元件34可以將所述測試板10移動。所述測試工具40的所述運送元件43可以將所述測試元件41移動。值得一提的是，因為所述運載工具30對所述測試板10的固定，在移動和測試中，所述測試板10相對運載工具30的位置是不變的。當然，對於所述測試元件41與所述測試板10相對位置的調整還有很多可能的方向和順序，只要能滿足所述校準元件44的校準需要，或者滿足所述測試板10的測試環境的需要，所述測試工具40和所述運載工具30可提供不同方式的相對方位的調整。也就是說，所述固定子系統101幫助所述運動子系統102固定，而所述運動子系統102幫助所述測試子系統103提供測試環境。

本領域的技術人員應理解，上述描述及附圖中所示的本發明的實施例只作為舉例而並不限制本發明。本發明的目的已經完整並有效地實現。本發明的功能及結構原理已在實施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本發明的實施方式可以有任何變形或修改。

10:測試板

101:固定子系統

102:運動子系統

103:採集子系統

30:運載工具

40:測試工具

Claims (40)

1. 一種批量攝像模組測試設備，其特徵在於，用於對安置至少兩個攝像模組的測試板進行測試，包括：一運載工具，其中所述測試板可拆卸地固定於所述運載工具，使得所述運載工具攜帶所述測試板進行相應的測試，其中所述攝像模組通過所述測試板的至少一介面與所述運載工具可通電地連接，使得所述攝像模組的測試資料藉由所述運載工具匯出；以及一測試工具，通過對所述測試板的測試來進行對所述攝像模組的測試，其中所述測試板與所述測試工具之間的方位是可調整的，其中所述測試工具提供所述測試板所需要的測試環境。
2. 根據申請專利範圍第1項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具穩定地將所述測試板固定，並提供給所述測試板的所述攝像模組電路上的連通。
3. 根據申請專利範圍第2項所述的批量攝像模組測試設備，其中，通過所述運載工具對所述測試板的測試資料進行匯出，以便交至後臺進行資料處理和分析。
4. 根據申請專利範圍第3項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具通過所述測試板的一定位部確定與所述運載工具的相對位置，其中所述定位部能確定所述測試板的方位。
5. 根據申請專利範圍第4項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具通過所述測試板的一固定部連接並固定所述測試板，其中所述固定部提供所述運載工具固定所述測試板的部位，通過對所述固定部的連接能維持所述測試板與所述運載工具之間的穩定。
6. 根據申請專利範圍第5項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試板藉由所述定位部和所述固定部被確定地放置於所述運載工具，使得每個所述攝像模組相對於所述運載工具的位置被分別地確定。
7. 根據申請專利範圍第5項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具進一步包括一固定元件、一連接元件以及一傳動元件，其中所述固定元件將所述測試板固定於所述運載工具，其中所述連接元件與所述測試板可通電地連接，進而將所述測試板中的所述攝像模組與所述連接元件連接，其中所述傳動元件可移動地調整所述運載工具和所述測試板之間的相對方位。
8. 根據申請專利範圍第7項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述固定元件與所述測試板的所述固定部可拆卸地相互連接，使得所述測試板與所述固定元件相互固定。
9. 根據申請專利範圍第7項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述連接元件與所述測試板的所述介面可通電的相互連接。
10. 根據申請專利範圍第7項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述固定元件將保持所述測試板與所述運載工具之間的相對穩定，使得在所述運載工具被所述傳動元件帶動移動的時候，所述連接元件與所述測試板的通電連接有效。
11. 根據申請專利範圍第7項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具進一步包括一定位元件，其中所述定位元件定位所述測試板與所述運載工具之間的位置關係和所述測試板與所述測試工具之間的位置關係。
12. 根據申請專利範圍第11項所述的批量攝像模組測試設備，其中，當所述固定元件將所述測試板固定後，所述定位元件將所述測試板與所述運載工具之間相互位置確定，所述連接元件與所述測試板相互連接，使得通過所述連接元件，所述測試板將測試的資料匯出。
13. 根據申請專利範圍第11項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述定位元件進一步包括至少一連接定位件，所述連接定位件與所述測試板的所述定位部相互定位。
14. 根據申請專利範圍第13項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述連接定位件與所述定位部相互為定位杆和定位孔、磁吸體、卡扣中的至少一種。
15. 根據申請專利範圍第11項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述固定元件進一步包括至少一夾具和一固定槽，其中所述連接元件被置於所述固定槽，所述夾具被置於所述固定槽邊緣。
16. 根據申請專利範圍第11項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述連接元件進一步包括至少一連接器、一施力器以及一與所述施力器連接的感測器，其中所述感測器收集所述施力器所相接的所述連接器對所述測試板產生的壓力資料，並將壓力數據傳回所述施力器，供所述施力器調整對所述測試板的施力，其中所述連接器與所述測試板的介面為相對應地可通電地設置。
17. 根據申請專利範圍第16項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述連接器與所述測試板的全部所述介面為一一相對應地設置。
18. 根據申請專利範圍第16項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述連接器與所述測試板的部分所述介面為一一相對應地設置。
19. 根據申請專利範圍第11項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試工具進一步包括一測試元件、一支撐元件供支援所述測試元件、一運送元件以及一採集元件，其中所述測試元件為所述測試板所攜帶的所述攝像模組提供測試條件，其中所述運送元件被設置於所述支撐元件，對所述測試 元件的方位進行相應的調整，其中所述採集元件通過所述運載工具採集所述測試板的測試資料。
20. 根據申請專利範圍第19項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試元件進一步包括至少一光板測試件和一標板測試件，所述光板測試件提供所述攝像模組測試用的光源，所述標板測試件提供所述攝像模組測試用的圖像。
21. 根據申請專利範圍第19項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試工具進一步包括一校準元件，其中所述校準元件對所述測試元件與所述運載工具所固定的所述測試板之間的相互方位進行校準，使得所述測試板處於適於根據所述測試元件測試的環境中。
22. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述校準元件被設置於所述測試元件。
23. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述校準元件被設置於所述支撐元件。
24. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述校準元件與所述測試板的所述定位部進行校準。
25. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述校準元件與所述運載工具的所述定位元件相互確認位置，通過與所述運載工具的校準，來校準與所述測試板的相對位置。
26. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具的所述傳動元件對所述測試板的方位進行三維方向的調整，所述測試工具的所述運送元件可對所述測試元件的方位進行三維方向的調整。
27. 根據申請專利範圍第26項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具對所述測試工具調整自身方位，來調整所述測試元件與所述測試板之間的相對方位。
28. 根據申請專利範圍第26項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試工具對所述運載工具調整自身方位，來調整所述測試元件與所述測試板之間的相對方位。
29. 根據申請專利範圍第26項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具和所述測試工具相互協同地調整，來調整所述測試元件與所述測試板的相對方位。
30. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具的所述傳動元件進一步包括至少一驅動器，其中所述驅動器帶動所述運載工具的所述測試板移動或轉動。
31. 根據申請專利範圍第30項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具的所述傳動元件進一步包括至少一軌道，其中所述驅動器帶動所述測試板在所述軌道引導的方向移動。
32. 根據申請專利範圍第31項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述軌道進一步提供一第一軌道和一第二軌道，所述驅動器進一步提供一第一驅動器、一第二驅動器以及一第三驅動器，其中所述第一軌道與所述第二軌道相互垂直，其中所述第一驅動器帶動所述測試板沿著所述第一軌道移動，其中所述第二驅動器帶動所述測試板沿著所述第二軌道移動，其中所述第三驅動器帶動所述測試板調整俯仰角。
33. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運送元件進一步包括一升降器、一平移器以及一調角器，其中所述升 降器、所述平移器以及所述調角器被設置於所述支撐元件，使得所述測試元件的方位通過所述升降器、所述平移器以及所述調角器被調整方位。
34. 根據申請專利範圍第21項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述校準元件進一步包括至少一校準器，所述校準器與所述定位元件相互核准相對方位。
35. 根據申請專利範圍第34項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述運載工具的所述定位元件進一步包括與所述校準器相互對應的至少一測試校準件，其中所述校準器被置於所述測試元件中，使得所述校準器與所述測試校準件相互校準後，所述測試元件的方位與所述運載工具和所述運載工具所攜帶的所述測試板的方位便相對確定。
36. 根據申請專利範圍第35項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試校準件被置於所述運載工具。
37. 根據申請專利範圍第35項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試校準件被置於所述運載工具所攜帶的所述測試板。
38. 根據申請專利範圍第35項所述的批量攝像模組測試設備，其中，所述測試校準件和所述校準器為相互識別位置的感測器。
39. 根據申請專利範圍第7項、第11項、第19項、第21項、第34項或者第35項中任一項所述的任一種批量攝像模組測試設備，其中，所述攝像模組以呈矩陣的形式被排列於所述測試板。
40. 一種批量攝像模組測試系統，其特徵在於，利用申請專利範圍第39項中的所述批量攝像模組測試設備，包括：一固定子系統；一運動子系統；以及 一採集子系統，其中所述固定子系統對所述測試板與所述運載工具之間的固定連接進行控制，其中所述運動子系統調整所述測試板與所述測試工具之間的相對方位，其中所述採集子系統控制所述測試板根據所述測試工具進行所述攝像模組的測試並採集每個所述攝像模組的測試資料。

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