TWI712927B - 觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器 - Google Patents

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Abstract

就算是當產生有較起因於指示體所發生的指示體凸部而寬幅為更廣之廣凸部的情況時，也能夠僅將指示體凸部適當地檢測出來。

一種藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係包含有：針對複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得與指示體和觸控感測器間之靜電電容相對應的差分值D(i，j)之步驟；和取得差分值D(i，j)之最大值D(imax，jmax)之步驟ST10；和將觸碰檢測臨限值T1決定為從最大值D(imax，jmax)而減去了身為固定值或者是身為若是最大值D(imax，jmax)越大則會變得越小之值之減算值R後的值之步驟ST11；和以觸碰檢測臨限值T1作為基準，並基於各交叉位置之每一者的差分值D(i，j)而導出代表指示體之位置的重心GCur之步驟ST13。

Description

觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器
本發明，係有關於觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器，特別是有關於將伴隨著對象物之接近所導致的感測器電極間之靜電電容之變化檢測出來的觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器。
靜電電容方式之觸碰感測器，係具備有將分別延伸存在於Y方向上的複數之X電極和分別延伸存在於X方向上的複數之Y電極作交叉配置的構成，並例如構成為對於所有的Y電極而依序反覆進行對於Y電極輸入特定之訊號並從各X電極而依序將此訊號取出的處理。若是手指等之指示體接近觸碰感測器之觸碰面，則在位於其之近旁處的X電極以及Y電極之間會產生靜電電容，由於在X電極中所流動的電流之一部分係成為在指示體方向上而使電流被吸收，因此，從X電極所取出的訊號之振幅係變小。靜電電容方式之觸碰感測器，係構成為根據此振幅之變化而檢測出靜電電容之增加，並將代表靜電電容 乃成為臨限值以上的區域之重心之座標，作為指示體之位置座標而導出。
又，以平板終端作為代表之觸碰檢測裝置，一般而言係藉由在液晶顯示裝置之顯示面上配置靜電電容方式之觸碰感測器來構成，但是，作為此配置之具體性的方法，係周知有在液晶顯示裝置之顯示面與觸碰感測器之間設置有空間(空氣間隙)的例子。於此情況，觸碰感測器與液晶顯示裝置之間的固定，係藉由被配置在顯示面之緣部處的間隔物等來實現。以下，將此種具備有空氣間隙之觸碰檢測裝置，稱作「空氣間隙型」。
空氣間隙型之觸碰檢測裝置，在能夠避免波紋(moire)的發生、能夠省略在液晶顯示裝置上設置接著劑層之工程、以及能夠容易地進行故障了的觸碰感測器之交換等的觀點上，係為有利，但是，另一方面，係亦有著當藉由手指等之指示體而對於觸碰面強力地作了按壓的情況等時，會於觸碰感測器處產生有「撓折」的弱點。若是產生「撓折」的情形而觸碰感測器接近液晶顯示裝置之顯示面，則由於在該部分處，上述之靜電電容也會增加，因此，係成為等同於涵蓋非常廣泛之區域而檢測出了指示體。如此這般所檢測出的廣泛區域之重心，由於係並非絕對會與由指示體所致之指示位置相互一致，因此，係成為會起因於撓折之發生而導致位置檢測的精確度降低。
在專利文獻1中，係揭示有下述之構成的空 氣間隙型之觸碰檢測裝置，亦即是，當輸出有超過觸碰臨限值之靜電電容的電極之數量乃身為特定數量以上的情況時，判定為係產生有「撓折」，並於此情況時，取消接觸位置之算出，而，在該觸碰檢測裝置中，當身為將觸碰面板與物體之間的接觸位置連續地作了輸出的次數之連續下觸計數為較特定之臨限值而更大的情況時，將撓折判定處理取消。當「撓折」的原因係為由指示體所致之觸碰面的強力按下的情況時，若是將此事作為「撓折」而檢測出來，則會成為也無法進行指示體之位置檢測，但是，若依據在專利文獻1中所揭示之技術，則就算是在此種情況時，亦成為能夠進行指示體之位置檢測。但是，專利文獻1之技術，由於係僅是成為就算是存在有「撓折」的情況也能夠檢測出指示體之位置，關於將指示體之位置座標導出的方法自身而言，係仍與上述之先前技術的方法相同，因此，在產生有「撓折」的情況時之位置座標的導出精確度，係與先前技術相同的，仍然並非為高精確度。
又，雖與「撓折」無關，但是，在專利文獻2中，係揭示有一種技術，其係將為了檢測出指示體所設置的靜電電容之臨限值，依據指示體之種類來作動性變更。在此技術中，係構成為藉由對於在緊接於前之特定數量的圖框之各者中所得到的靜電電容之檢測值的平均值而乘上特定之係數(例如1/2)，來算出臨限值。若依據此，則係成為能夠將靜電電容之檢測值互為相異的複數種類之指 示體適當地檢測出來。
在專利文獻3中，係揭示有一種觸碰檢測裝置，其係基於靜電電容之檢測值(RAW值)和基線(baseline)值的差分值(DIFF值)，來進行指示體之檢測。此觸碰檢測裝置，係具備有下述之功能：亦即是，當在某種程度以上的面積之區域中而差分值超過了臨限值的情況時，係豎立「大物件旗標」，並當豎立有「大物件旗標」的情況時，成為並不進行座標算出處理，藉由此，來成為不會使手掌等之大的物體被檢測出來之功能、和當豎立有「大物件旗標」之狀態持續了特定時間以上的情況時，藉由進行將RAW值設定為基線值的處理(校準)，來成為使之後的起因於手掌等之大的物體之接近所導致的靜電電容之變化不會被反映在差分值中之功能。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2011-076484號公報
[專利文獻2]日本特開2013-088982號公報
[專利文獻3]日本特開2014-056512號公報
針對「當發生有「撓折」的情況時位置檢測 之精確度會降低」的在空氣間隙型之觸碰檢測裝置中之課題，作更詳細之說明。
圖26(a)，係為對於當在空氣間隙型之觸碰檢測裝置中並未發生「撓折」的情況時之靜電電容C(i，j)的由座標(i，j)所致之變化作展示之示意圖。另一方面，圖26(b)，係為對於當發生有「撓折」的情況時之靜電電容C(i，j)的由座標(i，j)所致之變化作展示之示意圖。不論是在何者之圖中，均同樣的，在中央附近處所出現的小的凸部，係代表由指示體所致之凸部。
如同若是對於圖26(a)、(b)作比較則可理解一般，在發生有「撓折」的情況時之靜電電容C的峰值P2，相較於並未發生「撓折」的情況時之靜電電容C之峰值P1，係成為相當大的值。此係因為，當發生有「撓折」的情況時，係會成為在起因於「撓折」所發生的寬幅為廣之凸部之上而產生起因於指示體所致的凸部之形態之故。
為了在並未發生「撓折」的情況時而適當地檢測出指示體之位置，如同在圖26(a)中所例示一般，係有必要將靜電電容C之臨限值T設定為較峰值P1而更小之值。藉由設為此種構成，如同圖26(a)中所示一般，由於藉由觸碰感測器所檢測出的區域S1係與由指示體所致之凸部的位置良好地一致，因此，藉由作為指示體之位置而導出區域S1之重心，係成為能夠適當地進行指示體之位置檢測。
另一方面，若是使用如此這般所決定的臨限值T(較峰值P1而更小之值的臨限值T)，則在如同圖26(b)一般之發生有「撓折」的情況時，位置檢測的精確度會降低。亦即是，如同根據圖26(b)而可理解一般，於此情況所藉由觸碰感測器而檢測出之區域S2，係並非與指示體相互一致，而是與起因於「撓折」所致的凸部之位置相互一致。故而，就算是導出區域S2之重心，也僅是得到了「撓折」之中央位置，而並無法到指示體之位置。亦即是，係並無法正確地檢測出指示體之位置。
針對此種課題，係如係可考慮如同專利文獻2一般地藉由對於在靜電電容之檢測值的平均值而乘上特定之係數(例如1/2)，來使臨限值作動性變更。然而，如同根據圖26而可清楚得知一般，就算是如此這般地使臨限值作動性變更，也僅能夠得到適合於進行由「撓折+指示體」所致之凸部的中央位置之檢測的臨限值，而仍難以成為能夠僅將由指示體所致之凸部的中央位置檢測出來。
以上之課題，並不僅是當在空氣間隙型之觸碰檢測裝置中而發生有「撓折」的情況時所會產生之課題，而亦為當起因於由手掌所致之觸碰等的其他之理由而產生有相較於由指示體所致之凸部而寬幅為更廣之凸部的情況時會廣泛發生之課題。故而，本發明之其中一個目的，係在於提供一種就算是當產生有較起因於指示體所發 生的凸部而寬幅為更廣之凸部的情況時，也能夠僅將由指示體所致之凸部適當地檢測出來的觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器。
又，在空氣間隙型之觸碰檢測裝置中，係存在有會於「撓折」處產生遲滯的問題。亦即是，例如起因於由指示體所致之觸碰而產生的「撓折」，在指示體從觸碰面而離開之後，係並不會立即消除，而會涵蓋某種程度之時間(例如數微秒)地而逐漸消除。於該期間中，由於由觸碰檢測裝置所致之位置檢測亦仍在繼續，因此，在直到起因於「撓折」所導致的凸部充分地變小為止的期間中，起因於「撓折」所導致的凸部之重心係成為會被作為指示體之位置而導出。
故而，本發明之另外一個目的，係在於提供一種能夠防止起因於「撓折」之遲滯所產生的指示體之位置的誤檢測之觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感測器控制器。
進而，本案之發明者，係發現到下述的新問題：亦即是，觸碰檢測裝置，係多會有被形成為能夠以單手來作保持之尺寸的情形，但是，若是在藉由如同後述之圖3(e)一般的拿持方式而以單手來作了保持的狀態下使用空氣間隙型之觸碰檢測裝置，則會有透過使用者的手而對於觸碰檢測裝置之背面施加壓力並被檢測出與藉由手掌來對於觸碰面進行了觸碰的情況時同樣之廣寬幅之凸部的情況。以下，將此種觸碰檢測裝置之拿取方式，稱作 「背面支持」。
在如同專利文獻3之觸碰檢測裝置一般的被利用於實行掃描和複印之多功能周邊裝置的操作部(參考該文獻之圖19、圖21)等處之觸碰檢測裝置的情況時，係並無法進行此種背面支持，但是，在近年來係有著顯著的薄型化和輕量化之傾向的平板終端等的情況時，係頻繁地進行有背面支持。在專利文獻3所記載之校準中，不論是針對起因於此背面支持所產生的廣寬幅之凸部或者是起因於手掌對於觸碰面進行了觸碰一事所產生的廣寬幅之凸部，均係成為無區別地而根據差分值來進行抵消。
於此，在所謂的平板終端等之泛用的觸碰檢測裝置中，係與如同在專利文獻3中所記載一般之多係身為選單選擇等的限定性之操作的多功能周邊裝置之操作部的觸碰檢測裝置相異，進行上述一般之校準一事係並不理想。
原本，進行校準一事，係指將現在所正檢測出之靜電電容的檢測值作為基準狀態。若是於正在進行觸碰的途中而實行校準，則基準狀態會成為追隨於檢測值。故而，根本上而言，一面進行校準一面實行觸碰之檢測一事，係身為相互違背的關係。例如，若是想要如同以書寫文具來對於被放置在桌上之紙進行描繪一般地來在平板終端上利用被稱作所謂的觸控筆或被動筆一般之與手指相異的位置指示器，則將位置指示器作了把持的手掌之側面首 先會成為被載置於觸碰面上。於此，若是在起因於手掌之側面所產生了的靜電電容之狀態被作了維持的情況下而實行了校準，則就算是之後使用者想要從載置了手掌之側面的狀態起來使用位置指示器而進行由平板終端所致之輸入，在此一瞬間，雖然也關連於指示器(或者是食指)之狀態，但是係會有變得無法將其檢測出來的可能性。此事，係會成為在泛用的觸碰檢測裝置中進行校準一事並不理想的原因。
然而，相較於手掌的側面被載置於放置在桌上之平板處並可預期有後續之觸碰輸入的上述一般之情況，在「背面支持」的情況時，從經驗上來說，立即開始觸控筆之使用的情形係為少。此係因為，例如，與被載置有手掌之側面的狀況相異，在正被作背面支持的情況時，多係成為像是正在對於影像等進行閱覽的利用形態。故而，相較於手掌之側面被作了載置的情況，針對由「背面支持」所導致之凸部，以進行校準並將其抵消一事為較理想的狀況係為多。然而，在先前技術中，係並不存在有將起因於背面支持所產生的廣寬幅之凸部選擇性地抽出的方法，其結果，在先前技術之觸碰檢測裝置中，係有著無法僅以起因於背面支持所產生的廣寬幅之凸部作為對象來實行校準的課題。
故而，本發明之另外一個目的，係在於提供一種能夠僅以起因於背面支持所產生的廣寬幅之凸部作為對象並實行校準之觸碰檢測方法、觸碰檢測裝置及觸碰感 測器控制器。
由本發明之其中一個側面所致之觸碰檢測方法，係為藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係包含有：針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得與指示體和前述觸控感測器間之靜電電容相對應的檢測值之步驟；和取得前述各交叉位置之每一者的前述檢測值中之最大值之步驟；和將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之步驟；和以前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值而導出前述指示體之位置之步驟。
另外，在上述觸碰檢測方法中，係亦可構成為，係更進而具備有：當前述第1臨限值正在降低的情況時，將較藉由前述決定第1臨限值之步驟所決定的值而更大之值再設定為前述第1臨限值之步驟，前述導出指示體之位置之步驟，係構成為以被作了再設定的前述第1臨限值作為基準，來基於各前述交叉位置之每一者的檢測值而導出前述指示體之位置。
由本發明之另外一個側面所致之觸碰檢測方法，係為藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係 包含有：取得前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者的基準值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而基於前述電容值以及前述基準值，來取得與指示體和前述觸控感測器間之靜電電容相對應的檢測值之步驟；和算出藉由所對應之檢測值為超過第1臨限值的交叉位置所表現之區域的代表位置之步驟；和判定前述代表位置之移動的有無之步驟；和因應於前述判定移動的有無之步驟的判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之步驟。
由本發明之其中一個側面所致之觸碰檢測裝置，其特徵為，係包含有：構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極；和針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得代表指示體和前述觸控感測器間之靜電電容的電容值之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，並將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值，並且以所決定了的前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值，而導出前述指示體之位置之座標導出部。
由本發明之另外一個側面所致之觸碰檢測裝置，其特徵為，係包含有：構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極；和取得前述複數之感測器電極的 各交叉位置之每一者的基準值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而算出從所對應之前述電容值而減去前述基準值所成之差分值之觸碰檢測部；和將藉由前述差分值或基於前述差分值所取得之檢測值為超過第1臨限值的交叉位置所表現之區域的代表位置計算出來，並判定該代表位置之移動的有無，並且因應於該判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之座標導出部。
由本發明之其中一個側面所致之觸碰感測器控制器，係為被與構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極一同作使用之觸碰感測器控制器，其特徵為，係包含有：針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得代表指示體和前述觸控感測器間之靜電電容的電容值之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，並將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值，並且以所決定了的前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值，而導出前述指示體之位置之座標導出部。
由本發明之另外一個側面所致之觸碰感測器控制器，係為被與構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極一同作使用之觸碰感測器控制器，其特徵 為，係包含有：取得前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者的基準值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而算出從所對應之前述電容值而減去前述基準值所成之差分值之觸碰檢測部；和將藉由前述差分值或基於前述差分值所取得之檢測值為超過第1臨限值的交叉位置所表現之區域的代表位置計算出來，並判定該代表位置之移動的有無，並且因應於該判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之座標導出部。
若依據本發明之其中一個側面，則由於係在檢測出了最大值之後，藉由從該最大值而減去了上述減算值之後的值，來決定成為位置導出之基準的第1臨限值，因此，就算是當產生有較起因於指示體所導致的凸部(以下，稱作「指示體凸部」)而寬幅為更廣之凸部(以下，稱作「廣凸部」)的情況時，也成為能夠僅將指示體凸部適當地檢測出來。
另外，減算值，雖然亦可設為固定值，但是，係以構成為身為若是所檢測出的最大值越大則會變得越小之值為更理想。此係因為，若是廣凸部為越高，則被檢測出的最大值係會變得越大，但是，另一方面，係有著若是廣凸部越高，則位置於其之上的指示體凸部之高度 (從廣凸部之頂部起的高度)會變得越小的傾向之故。
又，若依據本發明之其中一個側面的變形例，則在第1臨限值正在降低的情況中，由於係將第1臨限值再度設定為更大之值，因此，係能夠延遲第1臨限值之降低。故而，在此種情況中，以第1臨限值作為基準的指示體之位置的導出由於係成為不會被進行，因此，係成為能夠防止起因於「撓折」之遲滯所產生的指示體之位置的誤檢測。
又，若依據本發明之另外一個側面，則由於係構成為僅在代表位置並未作移動的情況時才會啟動校準，因此，係成為能夠僅將起因於背面支持所產生的廣凸部作為校準之對象。另外，此一側面，係為基於下述之新的知識所得到的發明：亦即是，「起因於進行背面支持一事，係會導致產生廣凸部的事態」，以及「在進行了背面支持的情況時，觸碰檢測裝置自身雖然會有產生大幅度之搖晃的情形，但是，由於將背面作支持之支點(複數之手指)與觸碰檢測裝置之間的相對性之位置關係係並不會改變，因此，起因於進行背面支持一事所產生的廣凸部，相較於起因於手掌對於觸碰面進行了觸碰一事所產生的廣凸部，係成為就算是時間有所經過也幾乎不會移動，故而，藉由檢測出此移動之有無，係能夠對於此些之廣凸部作區分」。
又，若依據本發明之另外一個側面，則當判定廣凸部乃是起因於背面支持所產生者的情況時，由於係 實行校準，因此，在像是正在觀看影像的情況等之會暫時持續背面支持狀態一般的情況時，係成為能夠使觸碰之檢測停止，而成為能夠使伴隨著觸碰檢測所產生之計算處理以及對於主機CPU之被附加有無效旗標的資料之通知自身或者是岔斷處理等停止。
1‧‧‧觸碰檢測裝置
2‧‧‧框體
3‧‧‧顯示裝置
3a‧‧‧顯示裝置3之顯示面
4‧‧‧間隔物
5‧‧‧覆蓋面板
5a‧‧‧觸碰面
6‧‧‧觸控感測器
6a‧‧‧觸控感測器6之下面
6x‧‧‧X電極
6y‧‧‧Y電極
7‧‧‧空氣間隙
8、F1~F5‧‧‧手指
8a‧‧‧拳頭
8b‧‧‧手掌
10‧‧‧觸控感測器控制器
11‧‧‧震盪器
12、13‧‧‧多工器
14‧‧‧類比數位轉換器
15‧‧‧觸碰檢測部
16‧‧‧座標導出部
20‧‧‧記憶部
AA‧‧‧由背面支持所致之廣凸部的產生區域
FM0、FM1‧‧‧圖框記憶體
[圖1]係為由本發明之實施形態所致之觸碰檢測裝置1的剖面圖。
[圖2]係為對於由本發明之實施形態所致之觸碰檢測裝置1的功能區塊作展示之略區塊圖。
[圖3](a)係為對於在觸碰檢測裝置1之近旁並不存在有使用者之手的狀態(狀態S0)作展示之示意圖，(b)係為對於正藉由手指8而將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S1)作展示之示意圖，(c)係為對於正藉由手指8而將觸碰面5a之端部附近作按下的狀態(狀態S2)作展示之示意圖，(d)係為對於正藉由拳頭8a而將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S3)作展示之示意圖，(e)係為對於正藉由手掌8b而將觸碰檢測裝置1作背面支持的狀態(狀態S4)作展示之示意圖，(f)係為對於正在一面藉由手掌8b而將觸碰檢測裝置1作背面支持一面藉由手指8來將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S5、S6)作展示之示意圖。
[圖4]係為對於在圖3(a)中所示之狀態S0處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖5]係為對於在圖3(a)中所示之狀態S0處的基準值S(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖6]係為對於在圖3(b)中所示之狀態S1處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖7]係為對於在圖3(c)中所示之狀態S2處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖8]係為對於在圖3(d)中所示之狀態S3處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖9]係為對於在圖3(e)中所示之狀態S4處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。
[圖10]係為對於在圖3(f)中所示之狀態S5處的差分值D(i，j)之其中一例(校準實行前)作展示之圖。
[圖11]係為對於在圖3(f)中所示之狀態S6處的差分值D(i，j)之其中一例(校準實行後)作展示之圖。
[圖12]係為對於涵蓋特定時間的凸部之重心之移動的軌跡作展示者，(a)係為對於在圖3(e)中所示之狀態S4處所檢測出的凸部之重心之移動的軌跡作展示者，(b)係為對於在圖3(d)中所示之狀態S3處所檢測出的凸部之重心之移動的軌跡作展示者。
[圖13]係為對於圖2中所示之觸碰檢測部15所進行的觸碰檢測處理之處理流程作展示之圖。
[圖14]係為對於圖2中所示之座標導出部16所進行 的座標導出處理之處理流程作展示之圖。
[圖15]係為用以對於圖13以及圖14中所示之減算值R的合適之決定方法作說明之圖。
[圖16]係為用以對於圖14中所示之步驟ST12的意義作說明之圖。
[圖17]係為對於圖2中所示之觸碰檢測部15所進行的校準之效果作展示之圖。
[圖18]係為對於圖14中所示之座標導出處理的變性例作展示之圖。
[圖19]係為對於圖14中所示之移動平均MA(i，j)以及差分值DM(i，j)的其中一例作展示之圖。
[圖20]係為對於圖13中所示之觸碰檢測處理的變性例作展示之圖。
[圖21]係為對於圖20中所示之加算處理的處理流程作展示之圖。
[圖22]係為用以對於圖20中所示之變形例的效果作說明之圖。
[圖23]係為對於圖13中所示之觸碰檢測處理的其他變性例作展示之圖。
[圖24]係為對於圖14中所示之座標導出處理的其他變性例作展示之圖。
[圖25]係為用以對於圖24中所示之變形例的效果作說明之圖。
[圖26]係為對於由本發明之先前技術所致之靜電電容 C(i，j)的其中一例作展示之圖。
以下，參考所添附之圖面，針對本發明之理想實施形態作詳細說明。
圖1，係為由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1的剖面圖，圖2，係為對於觸碰檢測裝置1的功能區塊作展示之略區塊圖。
觸碰檢測裝置1，係如同圖1中所示一般，具備有被形成為略直方體之無上蓋之箱狀的框體2、和以使顯示面3a朝向上方的狀態而被收容於框體2之內部的顯示裝置3、和被配置在顯示面3a之上方的透明之覆蓋面板5、和被貼附在覆蓋面板5之下面(與顯示面3a之對向面)的觸控感測器6、以及支持覆蓋面板5和觸控感測器6的間隔物4，而構成之。另外，間隔物4，係涵蓋框體2之緣部之全周地而被作配置。又，觸碰檢測裝置1，係如同圖2中所示一般，亦具備有觸控感測器控制器10、記憶部20以及主機CPU，而構成之。由本實施形態所致之觸碰檢測方法，係藉由此觸碰感測器控制器10而被實行。
如圖1中所示一般，在觸碰檢測裝置1中，覆蓋面板5之上面係構成觸碰面5a。對於觸碰檢測裝置1所進行之輸入操作，係藉由在此觸碰面5a上使圖示之手指8等的指示體移動，來實行之。另外，作為觸控感測器 6用之指示體，除了圖示之手指8以外，係亦可使用對應於靜電電容方式之電子筆等，但是，以下，係為了簡化說明，而針對作為指示體而使用了手指8的情形作說明。又，觸控感測器6和顯示面3a係並未相互密著，在此些之間係被設置有一定之空間(空氣間隙7)。亦即是，觸碰檢測裝置1，係為上述之空氣間隙型之觸碰檢測裝置。
顯示裝置3，係為用以基於圖2中所示之主機CPU的控制而顯示文字或畫像的裝置。作為顯示裝置3，具體而言，係以使用液晶顯示器或有機EL顯示器為合適，但是，係亦可藉由此些以外之顯示器來構成顯示裝置3。
觸控感測器6，係為靜電電容方式之觸控感測器，並如同圖2中所示一般，具備有將分別沿著Y方向(圖1中所示之觸碰面5a內之其中一方向)而延伸存在並於X方向(在圖1中所示之觸碰面5a內而與Y方向相正交之方向)上以等間隔來作了配置的複數之X電極6x和分別沿著X方向而延伸存在並於Y方向上以等間隔來作了配置的複數之Y電極6y作了交叉配置的構成。此些之X電極6x以及Y電極6y，係構成觸控感測器6之感測器電極。各X電極6x以及各Y電極6y，係均為藉由ITO透明導電性薄膜等之透明之導電材料所構成，故而，觸碰檢測裝置1之使用者，係能夠透過觸碰面5a而觀看到顯示裝置3之顯示面3a。若是使手指8與觸碰面5a作接觸，則在手指8和存在於其近旁之X電極6x以及Y電極 6y之間係產生靜電電容。圖2中所示之觸控感測器控制器10，係構成為利用此靜電電容之變化而檢測出在觸控面5a上的手指8之位置。關於此點，係於後再度作詳細之說明。
覆蓋面板5，例如係藉由玻璃或塑膠等之相對於對觸碰面5a所施加的按壓力而具有高強度之透明材料所構成。但是，若是使用者強力地按下觸碰面5a，則覆蓋面板5係會與觸控感測器6一同地而朝向顯示面3a方向撓折。此撓折，由於係會對於上述之靜電電容造成影響，因此，係也會對於由觸控感測器控制器10所致之手指8的檢測造成影響。關於此點，亦同樣係於後再度作詳細之說明。
觸控感測器控制器10，係如同圖2中所示一般，具備有震盪器11、和多工器12、13、和類比數位轉換器(A/D)14、和觸碰檢測部15、以及座標導出部16，而構成之。
振盪器11，係為震盪特定頻率之訊號的電路。又，多工器12，係為發揮對於複數之X電極6x而以特定之時間間隔來一次一根地依序作選擇並將震盪器11連接於所選擇了的X電極6x處之功用的電路。藉由此多工器12之動作，震盪器11所輸出了的訊號係成為依序被供給至複數之X電極6x的各者處。被供給至X電極6x處之訊號，係通過與各Y電極6y之間的交叉位置(i，j)而被供給至各Y電極6y處。於此，i、j，係分別為代 表X電極6x與Y電極6y之編號的自然數，藉由i與j之組合(i，j)，來標示在觸碰面5a上之各交叉位置的座標。i，j之各別的最大值，係如同圖2中所示一般，而分別為M、N。
多工器13，係為發揮對於複數之Y電極6y而以特定之時間間隔來一次一根地依序作選擇並將類比數位轉換器14之輸入端連接於所選擇了的Y電極6y處之功用的電路。類比數位轉換器14，係具備有藉由對於從各Y電極6y所被供給而來之訊號施加取樣化以及量化而產生數位訊號並將所產生了的數位訊號供給至觸碰檢測部15處的功能。
若是手指8接近於任一之交叉位置(i，j)的附近，則在存在於該交叉位置(i，j)之近旁之X電極6x以及Y電極6y和手指8之間係產生靜電電容，訊號係被朝向人體方向而吸收。其結果，從該Y電極6y所供給至類比數位轉換器14處的訊號之振幅係變小，此事係被反映在數位訊號之值中。觸碰檢測部15，係構成為基於如此這般地而被反映在數位訊號之值中的振幅之變化，來針對各交叉位置(i，j)之每一者而取得代表手指8與觸控感測器6之間之靜電電容的電容值C(i，j)。另外，作為觸碰檢測部15之具體性的電路構成，例如係使用如同可編程邏輯控制器一般的硬體電路。
又，觸碰檢測部15，係亦具備有將電容值C(i，j)轉換為差分值D(i，j)(對應於手指8與觸控 感測器6之間之靜電電容的檢測值)之功能。若是作具體性說明，則在記憶部20中，係如同圖2中所示一般，被設置有將各交叉位置(i，j)之每一者的基準值S(i，j)作儲存之圖框記憶體FM0、和將各交叉位置(i，j)之每一者的差分值D(i，j)作儲存之圖框記憶體FM1。觸碰檢測部15，係針對各交叉位置(i，j)之每一者，而從圖框記憶體FM0來讀出基準值S(i，j)，並藉由下述之式(1)，來進行從所對應之電容值C(i，j)而減算所讀出的基準值S(i，j)之處理。之後，係構成為將作為此減算之結果所得到的數值，作為與各交叉位置(i，j)相對應的差分值D(i，j)而儲存在訊框記憶體FM1中。
[數1]D(i,j)=C(i,j)-S(i,j)…(1)
觸碰檢測部15，係除了上述的功能以外，亦具備有判定是否存在有超過預先所記憶了的觸碰檢測臨限值T2(第2臨限值，參考後述之圖13)之差分值D(i，j)，並僅當判定為有存在的情況時使座標導出部16進行座標導出之功能、和基於座標導出部16之指示來進行基準值S(i，j)的校準之功能等，但是，針對此些功能之詳細內容，係於後再參考圖13以及圖14來作說明。
座標導出部16，係具備有：取得被記憶在圖框記憶體FM1中之複數的差分值D(i，j)之中的最大 值，並藉由從此最大值而減去減算值R，來算出觸碰檢測臨限值T1(第1臨限值)之功能、和以所算出了的觸碰檢測臨限值T1作為基準，而基於各交叉位置(i，j)之每一者的差分值D(i，j)來導出手指8的位置之功能。又，座標導出部16，係更進而具備有將藉由差分值D(i，j)為超過觸碰檢測臨限值T1的1或複數之交叉位置(i，j)所表現之區域的重心GCur(代表位置)計算出來，並判定此重心GCur之移動的有無，並且因應於該判定結果，來啟動用以將各基準值S(i，j)朝向接近差分值D(i，j)之方向而作校正的校準處理之功能。座標導出部16，例如係藉由如同MPU一般之積體電路所構成，並構成為藉由實行從外部所供給而來之程式來實現包含有上述之3個的功能之各功能。
關於座標導出部16之功能的詳細內容，亦係於後參考圖13以及圖14來另外作說明。
以上，係針對觸碰檢測裝置1之概要內容作了說明。接著，針對被儲存在圖框記憶體FM1中之差分值D(i，j)，來基於使用者之手(包含手指8)與觸碰檢測裝置1之位置關係的各狀態而列舉出具體性的例子作說明。
圖3(a)~圖3(f)，係為對於使用者之手與觸碰檢測裝置1之位置關係的狀態作展示之示意圖。另外，在此些之圖中，係將觸碰檢測裝置1之剖面圖作了些許之簡略化而進行描繪。圖3(a)，係對於在觸碰檢測 裝置1之近旁並不存在有使用者之手的狀態(狀態S0)作展示。又，圖3(b)，係對於正藉由手指8而將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S1)作展示。圖3(c)，係對於正藉由手指8而將觸碰面5a之端部附近作按下的狀態(狀態S2)作展示。圖3(d)，係對於正藉由拳頭8a而將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S3)作展示。圖3(e)，係對於正藉由手掌8b而將觸碰檢測裝置1作背面支持的狀態(狀態S4)作展示。圖3(f)，係對於正一面藉由手掌8b而將觸碰檢測裝置1作背面支持一面藉由手指8來將觸碰面5a之中央附近作按下的狀態(狀態S5、S6)作展示。
圖4，係為對於在圖3(a)中所示之狀態S0處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。另外，在圖4中，係針對分別設置有TX00~TX35之36個的X電極6x和RX00~RX62之63個的Y電極6y之例作展示，在圖4(a)中，朝向深度方向之軸係代表X座標，橫軸係代表Y座標，縱軸係代表差分值D(i，j)，在圖4(b)中，橫軸係代表Y座標，縱軸係代表差分值D(i，j)。圖4(b)，係成為從深度方向來對於圖4(a)作了觀察之圖。關於此些事項，針對後述所參照之圖5~圖11，亦為相同。但是，關於圖5，係代替差分值D(i，j)而使用基準值S(i，j)。
如同圖4中所示一般，在狀態S0下之差分值D(i，j)，係不論是在觸碰面5a上之何者的位置處均略 為0，此係代表在觸碰檢測裝置1之近旁並不存在有任何之包含使用者之手的指示體。但是，於此情況，亦同樣的，通常電容值C(i，j)係在各座標之每一者處而互為相異，為了得到如同圖4中所示一般之均一的差分值D(i，j)，係有必要預先進行基準值S(i，j)之調整。在圖5中，係對於如此這般所作了調整的基準值S(i，j)之其中一例作展示。
圖6，係為對於在圖3(b)中所示之狀態S1處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。在該圖中，於觸碰面5a之中央附近所產生的凸部，係為對於在正位置在觸碰面5a之中央附近處的手指8與觸控感測器6之間所產生的靜電電容有所反映之指示體凸部。在圖6中，在指示體凸部之周圍，亦同樣的，差分值D(i，j)係變大，但是，此係為起因於觸控感測器6之撓折所產生的廣凸部。亦即是，如同在圖3(b)中所例示一般，依存於手指8之按壓力，係會有起因於觸碰面5a之按下而導致在觸控感測器6處產生撓折的情形。由於若是起因於此撓折所產生的觸控感測器6之位置的變化越大，則藉由觸碰檢測部15所檢測出的電容值C(i，j)會變得越大，因此，會如同圖6一般，成為在按下點之附近而產生廣凸部。
由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1的其中1個特徵，係在於實現就算是在如同這般地而產生有廣凸部的情況時也能夠僅將指示體凸部適當地檢測出來的目標。 因此，在本實施形態中，係對於藉由從差分值D(i，j)之最大值來減去減算值R所得到的觸碰檢測臨限值T1作利用。關於其詳細內容，係於後參考圖13以及圖14來作說明。
圖7，係為對於在圖3(c)中所示之狀態S2處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。在該圖中，於觸碰面5a之端部附近所產生的凸部，係為對於在正位置在觸碰面5a之端部附近處的手指8與觸控感測器6之間所產生的靜電電容有所反映之指示體凸部。此指示體凸部，相較於圖6之指示體凸部，係為較小，此係因為在觸碰面5a之端部附近，觸控感測器6之感度係為較弱。又，於此情況，亦同樣的，在指示體凸部之周圍，差分值D(i，j)係變大，但是，此係與圖6之情況相同的，為起因於觸控感測器6之撓折所產生的廣凸部。由於按下點係為觸碰面5a之端部，因此，由手指8所致之指示體凸部，係位置在起因於撓折所導致的廣凸部之端部附近。
圖8，係為對於在圖3(d)中所示之狀態S3處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。在該圖中，係並未產生有指示體凸部，而在相對性而言為較廣之廣凸部之上，產生有相對性而言為較窄的廣凸部。後者之廣凸部，係為對於在拳頭8a與觸控感測器6之間所產生之靜電電容有所反映者，前者之廣凸部，係為起因於觸控感測器6之撓折所產生者。
圖9，係為對於在圖3(e)中所示之狀態S4處的差分值D(i，j)之其中一例作展示之圖。在該圖中，亦同樣的，係並未產生有指示體凸部，而產生有1個的廣凸部。此廣凸部，係為起因於背面支持所產生者，若是相較於圖8中所示之起因於拳頭8a所導致的廣凸部或者是起因於藉由觸碰面5a之按下所產生之撓折而導致的廣凸部，則係具備有其重心並不會移動的特徵。
針對此特徵，列舉出具體性之例子來作說明。圖12，係為對於涵蓋特定時間的凸部之重心之移動的軌跡作展示者，圖12(a)係為對於在圖3(e)中所示之狀態S4處所檢測出的凸部之重心之移動的軌跡作展示者，圖12(b)係為對於在圖3(d)中所示之狀態S3處所檢測出的廣凸部之重心之移動的軌跡作展示者。如同根據此些之圖而可理解一般，起因於背面支持所產生的廣凸部之重心，若是相較於起因於拳頭8a所導致的廣凸部之重心，則係幾乎並未作移動。如此這般，起因於背面支持所產生的廣凸部，係有著重心幾乎不會移動的特徵。
由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1的另外1個特徵，係在於利用此種起因於背面支持所產生的廣凸部之特徵，來成為能夠僅將起因於背面支持所產生的廣凸部作為觸碰檢測部15所進行之校準處理的對象。關於其詳細內容，係於後參考圖13以及圖14來作說明。
圖10以及圖11，係分別為對於在圖3(f)中所示之狀態S5、S6處的差分值D(i，j)之其中一例作 展示之圖。狀態S5，係為觸碰檢測部15實行校準處理之前的狀態，狀態S6，係為觸碰檢測部15實行了校準處理之後的狀態。在圖10以及圖11中，於觸碰面5a之中央附近所產生的凸部，係為對於在正位置在觸碰面5a之中央附近處的手指8與觸控感測器6之間所產生的靜電電容有所反映之指示體凸部。另外，在圖10和圖11中，雖然指示體凸部之位置係為相異，但是，此係為起因於測定之狀況所導致者，在本質上係並沒有差異。
在圖10中，於指示體凸部之周圍，係與圖9中所示者相同的，而出現有起因於背面支持所導致的廣凸部。觸碰檢測部15所進行之校準處理，係為用以將此廣凸部抵消者，在實行了校準處理之後，如同圖11中所示一般，起因於背面支持所導致的廣凸部係消失，並成為僅出現有指示體凸部。關於校準處理之詳細內容，亦同樣的，係於後參考圖13以及圖14來作說明。
以上，係針對被儲存在圖2中所示之圖框記憶體FM1中的差分值D(i，j)之具體例作了說明。接著，針對觸碰檢測部15以及座標導出部16之功能，參考圖13以及圖14來作詳細說明。
圖13，係為對於觸碰檢測部15所進行的觸碰檢測處理之處理流程作展示之圖。在此觸碰檢測處理中，首先，係在觸碰檢測部15處設定各種之值(步驟ST0)。在於此所設定之值之中，係包含有初期基準值S0(i，j)、觸碰檢測臨限值T2、減算值R、手掌判定值 SQ0、校正係數A、校正計數Count0。
於此，圖2中所示之圖框記憶體FM0(儲存基準值S(i，j)之圖框記憶體)，實際上係準備有2個，觸碰檢測部15，係在每次反覆進行後述之主迴圈時，對於此2者交互作選擇，在後述之步驟ST3中，係從所選擇了的其中一方之圖框記憶體FM0而讀出基準值S(i，j)，在後述之步驟ST3中，係構成為對於另外一方之圖框記憶體FM0而寫入基準值S(i，j)。以下，係會有記載為基準值SA(i，j)、基準值SB(i，j)的情況，但是，基準值SA(i，j)，係代表從所選擇了的其中一方之圖框記憶體FM0而讀出的基準值S(i，j)，基準值SB(i，j)，係代表被寫入至另外一方之圖框記憶體FM0中的基準值S(i，j)。初期基準值S0(i，j)，係為基準值S(i，j)之初期值，並被設定於最初所被選擇的圖框記憶體FM0中。圖5中所示之基準值S(i，j)，係為此初期基準值S0(i，j)之其中一例。
在結束了步驟ST0之後，觸碰檢測部15，係開始主迴圈之處理(步驟ST1)。此主迴圈，係一直被反覆進行，直到起因於電源切斷等之從外部而來之插斷而被中斷為止。
在主迴圈中，觸碰檢測部15，首先係藉由參照從圖2中所示之類比數位轉換器14所供給而來的數位訊號，而進行電容值C(i，j)之檢測(步驟ST2)。接著，觸碰檢測部15，係從圖2中所示之圖框記憶體FM0 來讀出基準值SA(i，j)，並藉由進行上述之式(1)的計算，來針對各交叉位置(i，j)之每一者而算出差分值D(i，j)(步驟ST3)。
接著，觸碰檢測部15，係判定在所算出了的差分值D(i，j)之中是否存在有超過觸碰檢測臨限值T2者(步驟ST4)。此一處理，原本係為以判定在所算出之差分值D(i，j)中是否存在有指示體凸部一事作為目的而進行的處理，但是，由於觸碰檢測臨限值T2通常係被設定為較低，因此，在步驟ST4之處理中，不僅是會檢測出指示體凸部，而亦會檢測出如同圖6~圖10中所示一般之廣凸部。
當在步驟ST4之處理中而得到了否定性之判定結果的情況時，觸碰檢測部15，係在將校準旗標設為OFF之後(步驟ST5)，移行至下一個迴圈中。關於校準旗標，係於後再述。
另一方面，當在步驟ST4之處理中而得到了肯定性之判定結果的情況時，觸碰檢測部15，係使座標導出部16進行座標導出處理(步驟ST6)。
圖14，係為對於座標導出部16所進行的座標導出處理之處理流程作展示之圖。座標導出部16，若是開始處理，則首先係取得差分值D(i，j)成為最大的i，j之組(imax，jmax)(步驟ST10)。之後，係依據下述之式(2)，而藉由從差分值D(i，j)之最大值D(imax，jmax)來減去減算值R，而算出觸碰檢測臨限值T1(步驟 ST11)。
[數2]T1=D(i max ,j max )-R…(2)
於此，此觸碰檢測臨限值T1，係為為了僅將指示體凸部確實地檢測出來而被利用者。故而，減算值R，係有必要設為相當於指示體凸部的高度(當存在有廣凸部的情況時，係為從其之頂端起之高度)之值以下。具體而言，雖然亦可設為固定值，但是，係以構成為身為若是最大值D(imax，jmax)越大則會變得越小之值為更理想。
圖15，係為用以對於減算值R的合適之決定方法作說明之圖。圖15(a)係對於存在有廣凸部的情況作展示，圖15(b)係對於並不存在有廣凸部的情況作展示。如同此些之圖中所示一般，最大值D(imax，jmax)，一般而言，在存在有廣凸部的情況時，相較於並不存在廣凸部的情況，係成為更大之值。另一方面，指示體凸部之高度H，一般而言，在並不存在有廣凸部的情況時，相較於存在廣凸部的情況，係成為更大之值。亦即是，在最大值D(imax，jmax)和指示體凸部之高度H之間，係具有負的相關關係。根據此，可以說，減算值R，係以設為身為若是最大值D(imax，jmax)越大則會變得越小之值為理想。
回到圖14。算出了觸碰檢測臨限值T1之座標導出部16，接著係對於觸碰檢測臨限值T1和觸碰檢測臨限值T2作比較(步驟ST12)。之後，若是觸碰檢測臨限值T1係為未滿觸碰檢測臨限值T2，則結束處理，若是並非為此，則係移行至步驟ST13之處理。
圖16，係為用以對於步驟ST12的意義作說明之圖。圖16(a)，係對於雖然手指8為確實地與觸碰面5a作觸碰但是尚未導致撓折之產生的情況作展示，圖16(b)，係對於手指8將觸碰面5a強力地按下而產生有撓折的情況作展示，圖16(c)，係對於當由手指8所致之觸碰為弱或者是雖然並未觸碰觸碰面5a但是卻起因於某些理由而出現有如同凸部一般之構造的情況作展示。如同圖16(a)、(b)中所示一般，當起因於手指8之觸碰而產生有凸部的情況時，觸碰檢測臨限值T1係成為較觸碰檢測臨限值T2而更大之值。反過來說，減算值R，係被設定為就算是在如同圖16(a)一般之並不存在有廣凸部的情況時觸碰檢測臨限值T1也會成為超過觸碰檢測臨限值T2一般之值。另一方面，如同圖16(c)中所示一般，當僅是起因於像是觸碰過弱之類的某些之理由而出現有如同凸部一般之物的情況時，通常，觸碰檢測臨限值T1係成為較觸碰檢測臨限值T2而更小之值。圖14之步驟ST12，係為用以成為在此種情況時並不會進行指示體之位置座標的檢測(並不對於主機CPU進行通知)之處理。
回到圖14。在步驟ST13中，座標導出部16，係將差分值D(i，j)為超過觸碰檢測臨限值T1之區域抽出，並針對所抽出了的各區域之每一者，而分別進行算出其之重心GCur以及面積SQ的處理。具體而言，係藉由下述之式(3)來算出區域之重心GCur，並將在區域中所包含的交叉位置(i，j)之數量作為面積SQ。但是，式(3)中之AR，係代表針對存在於所抽出了的區域中之所有的交叉位置(i，j)而進行加算。
Figure 105125945-A0202-12-0033-2
另外，於此，雖係針對將重心GCur作為代表位置來使用之例作說明，但是，作為代表位置，係亦可使用其他的特徵量。例如，係亦可將區域之中心作為代表位置來使用，亦可將在區域中而差分值D(i，j)成為最大之點作為代表位置來使用。又，關於面積SQ，亦同樣的，於此，雖係對於將在區域中所包含的交叉位置(i，j)之數量作為面積SQ來使用之例作說明，但是，係亦可幾何學性地算出藉由區域之外周所展現的圖形之面積並作為面積SQ。
接著，座標導出部16，係將在步驟ST13中所算出的重心GCur，作為所檢測出的指示體之位置而對於主CPU(參考圖2)作輸出(步驟ST14)。如同根據 至今為止的說明而可理解一般，在由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1中，係將以成為能夠僅檢測出指示體凸部的方式所構成之觸碰檢測臨限值T1作為臨限值，而檢測出凸部，並作為所檢測出的凸部之代表位置而對於主CPU作輸出。故而，若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則當存在有指示體凸部的情況時，係能夠實現僅將該指示體凸部適當地檢測出來並基於所檢測出的指示體凸部來進行指示體之位置檢測。又，在藉由式(3)來計算出代表位置時，由於係僅需要在相當於指示體凸部之區域處而進行加算處理，因此，用以進行座標導出所需的計算量係被降低。
接著，座標導出部16，係判定所算出了的面積SQ是否成為手掌判定值SQ0(第3臨限值)以上(步驟ST15)。此處理，簡單來說，係為判定所檢測出之區域是身為廣凸部或者是指示體凸部的處理。當就算是利用觸碰檢測臨限值T1來算出面積SQ，在步驟ST15中亦係進行有肯定判定的情況時，係身為在成為了檢測對象的差分值D(i，j)處並不存在指示體凸部的情況。
當判定面積SQ係並非為手掌判定值SQ0以上的情況時，亦即是當判定所檢測出的區域係身為指示體凸部的情況時，座標導出部16，係將無效旗標設為OFF(步驟ST16)，並結束處理。無效旗標，係為被主CPU所參照的旗標，主CPU，係構成為僅當無效旗標成為OFF的情況時才將座標導出部16在步驟ST14中所輸出的座標 視為有效者來進行處理，當無效旗標成為ON的情況時，則係將座標導出部16在步驟ST14中所輸出的座標廢棄。
另一方面，當判定面積SQ係為手掌判定值SQ0以上的情況時，亦即是當判定所檢測出的區域係身為廣凸部的情況時，座標導出部16，首先係將無效旗標設為ON(步驟ST17)。藉由此，座標導出部16在步驟ST14中所輸出之座標，係成為被主CPU所廢棄。
在步驟ST17之後，座標導出部16，係判定重心GCur是否與在緊接於前之迴圈中所算出的重心GCur相同(步驟ST18)。亦即是，此係為對於重心GCur之移動的有無作確認之處理。當在步驟ST18而判定並非為相同的情況時，座標導出部16，係在變數count中設定0(步驟ST19)。在最初的迴圈中，由於步驟ST18的結果必定會成為否定判定，因此，在變數count中係成為被設定有0。另一方面，當在步驟ST18而判定係為相同的情況時，座標導出部16，係使變數count作1的增數(步驟ST20)。之後，係判定變數count是否成為校準計數Count0以上(步驟ST21)，若是為否，則結束處理，若是為是，則係在將校準旗標設為ON之後(步驟ST22)，結束處理。
回到圖13。觸碰檢測部15，在由座標導出部16所致之座標導出處理(步驟ST6)結束之後，係判定校準旗標是否為OFF(步驟ST7)。之後，當判定校準旗標乃身為OFF的情況時，係移行至下一個迴圈中。另一方 面，當判定校準旗標乃身為ON的情況時，係在藉由下述之式(4)來對於被記憶在圖2中所示之圖框記憶體FMO中的基準值S(i，j)作了更新之後(步驟ST8)，移行至下一個迴圈中。
[數4]S B (i,j)=S A (i,j)+A．D(i,j)…(4)
式(4)，係代表使基準值S(i，j)作與在差分值D(i，j)上乘上了校正係數A之後的量相對應之量的增加。另外，校正係數A，係為滿足0<A<1之定數。在經過式(4)來移行至下一個迴圈處的情況時，於下一個迴圈的步驟ST3處，係成為若是在前一次的迴圈中檢測出了越大的差分值D(i，j)則從電容值C(i，j)來減去較前一次之迴圈而更大之數。此事，係代表著，由式(4)所致之基準值S(i，j)的更新，係具備著將在差分值D(i，j)中所出現的凸部作抵消之校準效果。又，藉由設置步驟ST15之處理(對於所檢測出的區域之面積SQ是否為手掌判定值SQ0以上一事作確認之處理)以及步驟ST18之處理(對於重心GCur是否有所移動一事作確認之處理)，此校準處理，係僅當出現有起因於背面支持所導致之廣凸部的情況時才會被實行。故而，若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則係可實現僅將起因於背面支持所產生的廣凸部作為校準之對象。
圖17，係為對於觸碰檢測部15所進行的校準之效果作展示之圖。在該圖中，係對於當持續成為圖3(e)中所示之狀態S4(作了背面支持的狀態)的情況時之在出現有起因於背面支持所導致的凸部之交叉位置(i，j)處的差分值D(i，j)之時間變化作示意性展示。由於狀態S4係持續，因此，假設若是並不進行校準，則差分值D(i，j)係會在維持於較高之的狀態下而變遷，但是，在實行了校準之後，其結果，直到時刻t1處為止，差分值D(i，j)係一直降低至觸碰檢測臨限值T2之準位。若是作更具體性之說明，則在校準被進行之前的階段中，觸碰檢測臨限值T1係具有較觸碰檢測臨限值T2而更大之值。此係因為基準值S(i，j)為小之故。其結果，在圖14之步驟ST12中的判定之結果係成為肯定，校準係被實行。伴隨著校準之進行，觸碰檢測臨限值T1係逐漸變小，在圖17中所示之時刻t1處，觸碰檢測臨限值T1係成為較觸碰檢測臨限值T2而更小。此後，由於在圖14之步驟ST12中的判定之結果係成為否定，因此校準係成為並不會被進行。同時，由於在步驟ST13處之重心GCur以及面積SQ的算出也成為不會被進行，因此，此後之觸碰檢測裝置1的計算處理係被減輕。
在圖17中，係亦對於在之後的時刻t2處而成為了在圖3(e)中所示之狀態S6(一面進行背面支持，一面藉由手指8而對於觸碰面5a作了觸碰的狀態)的情況時之差分值D(i，j)之時間變化作展示。在成為不會 進行校準之後，於指示體並不存在於觸碰面5a之近旁的期間中，由於係不會有差分值D(i，j)成為超過觸碰檢測臨限值T2的情形，因此，在圖13之步驟ST4中的判定之結果係成為否定，圖14之座標導出處理係成為並不會被進行。若是在時刻t2處而指示體接近觸碰面5a，則由於在圖13之步驟ST4中的判定之結果係成為肯定，因此圖14之座標導出處理係會被進行。在此座標導出處理中，由於觸碰檢測臨限值T1係變得較觸碰檢測臨限值T2而更小，因此，在步驟ST12中的判定之結果係成為肯定，對於主CPU之座標輸出係被實行。
如同以上所作了說明一般，若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則由於係在檢測出了差分值D(i，j)之最大值之後，藉由從該最大值而減去減算值R，來算出成為位置導出之基準的觸碰檢測臨限值T1，因此，就算是當產生有較起因於撓折或由手掌所致之觸碰所導致的廣凸部的情況時，也成為能夠僅將指示體凸部適當地檢測出來。
又，若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則由於係構成為僅在代表位置並未作移動的情況時才會啟動校準，因此，係成為能夠僅將起因於背面支持所產生的廣凸部作為校準之對象。
若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則係亦可得到能夠將觸碰檢測裝置1之計算處理減輕的效果。亦即是，假設若是並不進行由本實施形態所致之校 準，則在使用者正在進行背面支持的期間中，於差分值D(i，j)處係會持續出現起因於背面支持所導致之廣凸部，並成為針對該廣凸部而持續進行用以進行座標導出之計算處理(步驟ST13)。但是，由於就算是針對廣凸部而導出座標，也會起因於在步驟ST16處所設定的無效旗標而最終會被設為無效，因此，在此情況中所在步驟ST13處進行的座標導出，係身為原本並不需要進行的處理，對於主CPU而言，係並不需要進行附加有無效旗標之資訊的通知。若依據由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1，則藉由校準之實施，由於在圖17之時刻t1處，在差分值D(i，j)中係成為不會出現起因於背面支持所導致的廣凸部，而在步驟ST4處係成為被進行有否定判定，因此，係成為不會如同上述一般地而進行原本並不需要進行的計算處理。故而，係成為能夠將觸碰檢測裝置1之計算處理減輕。
另外，此種計算處理之減輕效果，係會有在除了背面支持之情況以外的情形中也能夠發揮的情況。例如，當在觸碰面上放置有果汁罐的情況時，也會得到並不進行重心之移動的廣凸部，故而，係能夠得到與上述相同之計算處理減輕效果。又，當在觸碰面上存在有水滴的情況時、或者是當在觸碰面之一部分積蓄有靜電並成為導致一部分的靜電電容持續性地變大一般的情況時，由於係亦會同樣的得到並不進行重心之移動的廣凸部，因此，係能夠得到在觸碰檢測裝置1中之計算處理的減輕效果。
以上，雖係針對本發明之理想實施形態作了說明，但是，本發明係並不被此些之實施形態作任何的限定，當然的，本發明，係可在不脫離其之要旨的範圍內，而以各種的形態來實施。
例如，在上述實施形態中，雖係基於差分值D(i，j)，來實施了觸碰檢測臨限值T1、重心GCur、面積SQ之算出(圖14之步驟ST11、ST13)，但是，只要是身為與指示體和觸控感測器6之間的靜電電容相對應之值(檢測值)，則係亦可基於其他種類之值來將該些算出。作為其中一例，係亦可將上述之電容值C(i，j)作為檢測值來使用，亦可將其他之值作為檢測值來使用。以下，對其中一例作展示。
圖18，係為對於圖14中所示之座標導出處理的變性例作展示之圖。在此變形例中，係將基於差分值D(i，j)之移動平均MA(i，j)所算出的減算值DM(i，j)，作為上述檢測值來使用。在圖19中，對於此些之值的具體性之例作圖示。若是依循圖18來作具體性說明，則座標導出部16，首先係算出從圖框記憶體FM1(參考圖2)所讀出的差分值D(i，j)之移動平均MA(i，j)(步驟ST31)。此算出，例如，較理想，係如同下述之式(5)中所示一般，針對各交叉位置(i，j)之每一者，而藉由針對與該交叉位置(i，j)相對應之差分值D(i，j)、和與該交叉位置(i，j)相鄰接之1或複數之其他之交叉位置的差分值，而算出該些之間的平均，來進行之。 但是，式(5)中之k，m係均為自然數，一般而言，較理想，係設為k=m=1。
Figure 105125945-A0202-12-0041-3
接著，座標導出部16，係針對各交叉位置(i，j)之每一者，而依據下述之式(6)，來藉由從差分值D(i，j)而減去移動平均MA(i，j)，而算出減算值DM(i，j)(步驟ST32)。如此這般所算出的減算值DM(i，j)，係如同圖19中所示一般，概略成為從差分值D(i，j)而將廣凸部之部分作了除去者。之後，除了代替差分值D(i，j)而使用減算值DM(i，j)以外，係進行與圖14中所示之處理相同的處理(步驟ST33之後)。
[數6]DM(i,j)=D(i,j)-MA(i,j)…(6)
若依據本變形例，則除了能夠得到與上述實施形態相同之效果以外，亦由於廣凸部係概略被從減算值DM(i，j)而除去，指示體凸部係被作強調，因此，在如同圖19中所示一般之存在有複數之指示體凸部的情況 時，係成為能夠將此些更確實地檢測出來。
又，在上述實施形態中，雖係將在圖13之步驟ST3中所算出的差分值D(i，j)在後續之處理中直接作使用，但是，由於在藉由校準處理而使基準值S(i，j)變大時，差分值D(i，j)係會變小，因此，係亦可進行差分值D(i，j)之全面的提升。以下，作具體性說明。
圖20，係為對於圖13中所示之觸碰檢測處理的變性例作展示之圖。如同該圖中所示一般，在此變形例中，係於步驟ST3和步驟ST4之間***有加算處理(步驟ST40)。又，作為最初所設定之值的其中一者，係追加有在此加算處理中所使用之加算值B(步驟S0a)。
圖21，係為對於此加算處理的處理流程作展示之圖。如同該圖中所示一般，在此加算處理中，觸碰檢測部15，係針對所有的交叉位置(i，j)，而實施下述之處理(步驟ST41)：亦即是，進行最新之基準值S(i，j)與在步驟ST0a中所設定的初期基準值S0(i，j)之間之比較(步驟ST42)，當此些並非相互一致的情況時，對於在步驟ST3中所算出的差分值D(i，j)而加算上加算值B(步驟ST43)。另外，為了進行步驟ST42之比較，初期基準值S0(i，j)，係需要預先儲存在與上述之2個的圖框記憶體FM0相異之圖框記憶體中。最新之基準值S(i，j)與初期基準值S0(i，j)並非相互一致一事，由於係代表該交叉位置(i，j)係成為了校準之對 象，因此，若依據圖21之處理，則係成為能夠僅針對成為了校準對象之交叉位置(i，j)而將差分值D(i，j)作與加算值B相對應之量的全面提昇。
圖22，係為用以對於本變形例的效果作說明之圖。圖22(a)，係為針對在觸碰面5a內存在有起因於背面支持所導致之廣凸部之發生區域AA的狀態下而5根的手指F1~F5在觸碰面5a上同時地作了觸碰的狀態作示意性展示者。又，圖22(b)，係對於此時之在步驟ST3中所算出的差分值D(i，j)作示意性展示，圖22(c)，係對於在更進而經過了步驟ST40之後的差分值D(i，j)作示意性展示。另外，在圖22中，係對於已充分地實行了校準而成為在差分值D(i，j)處不會出現起因於背面支持所導致的廣凸部之狀態作展示。
如同圖22(b)中所示一般，與對區域AA作了觸碰的手指F3、F4相對應之指示體凸部，相較於與對於區域AA以外而作了觸碰的手指F1、F2、F5相對應之指示體凸部，係成為較小。此係因為，在實行了校準之後的結果，於區域AA處基準值S(i，j)係變大之故。藉由實施圖21中所示之加算處理，如同圖22(c)中所示一般，在區域AA內，差分值D(i，j)係作了與加算值B相對應之量的全面提昇。其結果，與手指F3、F4相對應之指示體凸部，係被全面提昇至和與手指F1、F2、F5相對應的指示體凸部同等程度之準位。如此這般，若依據本變形例，則就算是在起因於校準處理而導致基準值S (i，j)變大的場所，也成為能夠與並未變大的場所同樣地而得到高的指示體凸部。
又，在上述實施形態中，當在圖13之步驟ST3中所算出的差分值D(i，j)之中並不存在有超過觸碰檢測臨限值T2者的情況時(步驟ST4之否定判定)、在圖14之步驟ST13中所算出的面積SQ為低於手掌判定值SQ0的情況時(步驟ST15之否定判定)、在圖14之步驟ST13中所算出的重心GCur並非為與在緊接於前之迴圈中所算出的重心GCur相同的情況時(步驟ST18之否定判定)以及當變數count為低於校準計數值Count0的情況時(步驟ST21之否定判定)，係構成為並不進行校準，但是，係亦可構成為於此些之情況中亦進行校準。以下，作具體性說明。
圖23，係為對於圖13中所示之觸碰檢測處理的其他變性例作展示之圖。如同該圖中所示一般，在此變形例中，係於步驟ST5之後段處亦***有校準處理(步驟ST50)。又，作為最初所設定之值的其中一者，係追加有在此校準處理中所使用之校正係數a(步驟S0b)。
在步驟ST50之校準處理中，藉由下述之式(7)，被記憶在圖2中所示之圖框記憶體FM0中的基準值S(i，j)係被作更新。於此情況，較理想，校正係數a，係設為相較於在步驟ST8中所使用之校正係數A而為較小之值。藉由設為此種構成，在步驟ST8之校準中，相較於在步驟ST50中之校準，基準值S(i，j)係成為迅速 地接近差分值D(i，j)。亦即是，在檢測出了由背面支持所致之廣凸部的情況時，係成為能夠相較於並非如此的情況而更迅速地將廣凸部抵消。
[數7]S B (i,j)=S A (i,j)+a．D(i,j)…(7)
圖24，係為對於圖14中所示之座標導出處理的其他變性例作展示之圖。如同該圖中所示一般，在此變形例中，係於步驟ST11和步驟ST12之間，***有判定觸碰檢測臨限值T1是否身為變數T1last以上之處理(步驟ST60)、和當在步驟ST60中而得到了否定性之判定結果的情況時，對於觸碰檢測臨限值T1進行再設定之處理(步驟ST61)。又，在座標導出處理之最終段處，係***有在變數T1last處設定觸碰檢測臨限值T1之處理(步驟ST62)。
在步驟ST61中的觸碰檢測臨限值T1之再設定，係為用以在觸碰檢測臨限值T1處設定較在步驟ST11中所設定之值而更大之值的處理，具體而言，係如同下式(8)中所示一般，藉由將觸碰檢測臨限值T1再設定為對於觸碰檢測臨限值T1之E倍而加算變數T1last之(1-E)倍後所成之值，來實施之。但是，E係為滿足0<E<1之定數(更新係數)，並在圖13中所示之步驟ST0處被與其他之值一同進行初期設定。在步驟ST61被實行的 情況時，由於在步驟ST11中所算出的觸碰檢測臨限值T1係必定會較變數T1last而更小，因此，藉由式(8)所算出的觸碰檢測臨限值T1，係必定會成為較在步驟ST11中所設定之值而更大之值。
[數8]T1=(1-E)．T1last+E．T1…(8)
圖25，係為用以對於本變形例的效果作說明之圖。該圖之(a)、(c)、(e)、(g)，係為對於在藉由手指8來將觸碰面5a按下之後，觸碰面5a之撓折逐漸被消除的模樣作描繪之剖面圖，(a)係對於藉由手指8而將觸碰面5a作了按下的狀態作展示，(c)係對於在手指8從觸碰面5a而離開之後觸碰面5a之撓折仍為持續的狀態作展示，(e)係對於雖然撓折為逐漸消除但是卻仍然存在的狀態作展示，(g)係對於撓折完全消除的狀態作展示。又，圖25(b)、(d)、(f)、(h)，係分別為對於與該圖(a)、(c)、(e)、(g)相對應之差分值D(i，j)的狀態作展示者，在各圖中所圖示的觸碰檢測臨限值T1，係代表在圖24之步驟ST11中所算出者(在進行由步驟ST61所致之再設定之前)。
如同圖25中所示一般，起因於手指8將觸碰面5a按下一事所產生的「撓折」，係具備有遲滯，就算是在手指8從觸碰面5a離開之後，也不會立即消除，而 是逐漸地消除。此時，觸碰檢測臨限值T1係逐漸變小，在如同圖25(c)中所示一般之觸碰檢測臨限值T1變得較觸碰檢測臨限值T2而更小時，步驟ST12的判定之結果係成為否定，對於主CPU而輸出檢測座標之處理(步驟ST14)係成為不會被實行。
反過來說，在直到觸碰檢測臨限值T1成為低於觸碰檢測臨限值T2為止的期間中，就算是並不存在有指示體凸部，檢測座標亦仍係被持續對於主CPU作輸出。如此這般所被輸出的檢測座標，由於係僅為在圖25(d)中以斜線所標示之區域、亦即是起因於「撓折」所導致之廣凸部的上端部分之重心，而並非為代表指示體之位置者，因此，對於主CPU而言，係成為誤檢測之結果。
在本變形例中，藉由追加步驟ST60、ST61、ST62之處理，在如同圖25中所例示一般之觸碰檢測臨限值T1逐漸降低的情況時，觸碰檢測臨限值T1之降低係成為變慢。其結果，在如同圖25(d)一般的情況時，由於觸碰檢測臨限值T1係超過最大值D(imax，jmax)，在步驟ST13處係成為不會檢測出「滿足D(i，j)>T1之區域」，因此，係能夠對於如同上述一般之將僅代表廣凸部之上端部分的重心之檢測座標對於主CPU而進行輸出的情形作防止。故而，若依據本變形例，則係成為能夠防止起因於「撓折」之遲滯所產生的指示體之位置的誤檢測。
另外，定數E之具體性數值，係以能夠得到 上述效果的方式來實驗性地決定為理想，但是，例如係以設為0.1或0.5等之值為理想。
除此之外，在由本實施形態所致之觸碰檢測裝置1中，係亦可考慮有各種的變形例。例如，在上述之實施形態中，雖係構成為判定新算出之重心GCur與緊接於前之重心GCur是否為完全一致(圖14之步驟ST18)，並當其結果為相互一致的狀態持續了藉由校準計數值Count0所代表之時間的情況時，才會啟動校準處理，但是，此處理係僅為其中一例，只要構成為當重心GCur在特定時間內而並未進行超過特定範圍之移動的情況時才會啟動校準處理即可。若是列舉出具體性之例，則例如，係亦可構成為判定新算出的重心GCur是否被包含於以緊接於前之重心GCur為中心的特定之範圍內。作為此情況中之特定之範圍，例如，係以觸碰面5a上之實際尺寸而設定為以緊接於前之重心GCur作為中心的直徑5mm之圓內或者是5mm平方之矩形內的範圍，更理想，係以觸碰面5a上之實際尺寸而設定為以緊接於前之重心GCur作為中心的直徑1.5mm之圓內或者是1.5mm平方之矩形內的範圍。
又，本發明，對於空氣間隙型之觸碰檢測裝置而言係為特別有效，但是，係亦可適用在空氣間隙型以外的觸碰檢測裝置中。故而，本發明，係亦包含有事先並不知道觸控感測器之安裝環境的情況一般地而可作泛用性的利用。
又，上述實施形態，雖係作為將最大值或檢測值等設為正值的情況來作了說明，但是，係亦可將此些作為負值來進行說明，於此種情況時，當然的，各值間的大小關係係成為與上述之說明相反。所謂檢測出最大值，係指當以正值而檢測出起因於手指之接近所導致的靜電電容之變化的情況時之最大值，當將起因於手指之接近所導致的靜電電容之變化作為所檢測出之電流的減少量來以負值作表現的情況時，係成為對應於檢測出最小值。

Claims (21)

  1. 一種觸碰檢測方法，係為藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係包含有：針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得與指示體和前述觸控感測器間之靜電電容相對應的檢測值之步驟；和取得前述各交叉位置之每一者的前述檢測值中之最大值之步驟；和將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之步驟；和以前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值而導出前述指示體之位置之步驟；和取得前述各交叉位置之每一者的基準值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值之步驟，前述檢測值，係身為從所對應之前述電容值而減去所對應之前述基準值所成的差分值，該觸碰檢測方法，係更進而包含有：將藉由所對應之檢測值為超過前述第1臨限值之交叉位置而表示的區域之代表位置算出之步驟；和當前述代表位置在特定時間內並未超出特定範圍地而作移動的情況時，啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值 之方向而作校正的校準(calibration)之步驟。
  2. 一種觸碰檢測方法，係為藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係包含有：針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得與指示體和前述觸控感測器間之靜電電容相對應的檢測值之步驟；和取得前述各交叉位置之每一者的前述檢測值中之最大值之步驟；和將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之步驟；和以前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值而導出前述指示體之位置之步驟；和取得前述各交叉位置之每一者的基準值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而藉由從前述電容值減去前述基準值來算出差分值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而算出前述差分值之移動平均之步驟，前述檢測值，係身為從所對應之前述差分值而減去所對應之前述移動平均所成的值。
  3. 如申請專利範圍第2項所記載之觸碰檢測方法， 其中，係更進而包含有：將藉由所對應之檢測值為超過前述第1臨限值之交叉位置而表示的區域之代表位置算出之步驟；和當前述代表位置在特定時間內並未超出特定範圍地而作移動的情況時，啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準(calibration)之步驟。
  4. 如申請專利範圍第1項或第3項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述算出代表位置之步驟，係亦算出前述區域之面積，前述啟動校準之步驟，係當前述面積為超過預先所設定之身為手掌判定值之第3臨限值的情況時，啟動前述校準。
  5. 如申請專利範圍第1~3項中之任一項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述取得最大值之步驟，係當在藉由前述取得檢測值之步驟所取得的複數之檢測值之中存在有超過預先所設定之身為觸碰檢測臨限值之第2臨限值者的情況時，會被實行。
  6. 如申請專利範圍第1~3項中之任一項所記載之觸碰檢測方法，其中，係更進而具備有：當前述第1臨限值正在降低的情況時，將較藉由前述決定第1臨限值之步驟所決定的值而更大之值再設定為前述第1臨限值之步驟，前述導出指示體之位置之步驟，係構成為以被作了再 設定的前述第1臨限值作為基準，來基於各前述交叉位置之每一者的檢測值而導出前述指示體之位置。
  7. 一種觸碰檢測方法，係為藉由包含複數之感測器電極的靜電電容方式之觸碰感測器的控制器所實行之觸碰檢測方法，其特徵為，係包含有：取得前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者的基準值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值之步驟；和在前述各交叉位置之每一者，而基於前述電容值以及前述基準值，來取得與指示體和前述觸控感測器間之靜電電容相對應的檢測值之步驟；和將藉由所對應之檢測值為超過身為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之第1臨限值的交叉位置而表現的區域之代表位置算出之步驟；和判定前述代表位置之移動的有無之步驟；和因應於前述判定移動的有無之步驟的判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之步驟。
  8. 如申請專利範圍第7項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述判定移動的有無之步驟，係構成為判定前述代表位置是否在特定時間內超出特定範圍地而作移動，並因應於該判定結果，來判定前述代表位置之移動的有無。
  9. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述算出代表位置之步驟，係更進而算出前述區域之面積，前述啟動校準之步驟，係當在前述面積為超過預先所設定之身為手掌判定值之第3臨限值的情況中藉由前述判定移動的有無之步驟而判定前述代表位置係並未移動的情況時，啟動前述校準。
  10. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述啟動校準之步驟，當藉由前述判定移動的有無之步驟而判定前述代表位置係並未移動的情況時，係以相較於當藉由前述判定移動的有無之步驟而判定前述代表位置係有所移動的情況時而更快地來使前述基準值接近前述檢測值的方式，來實行前述校準。
  11. 如申請專利範圍第10項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述啟動校準之步驟，當藉由前述判定移動的有無之步驟而判定前述代表位置係有所移動的情況時，係並不進行前述校準。
  12. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述代表位置，係為前述區域之重心。
  13. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，係更進而包含有：將前述代表位置對於主機CPU而輸出之步驟。
  14. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢 測方法，其中，係更進而具備有：取得在前述各交叉位置之每一者的檢測值中之最大值之步驟；和藉由從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值，來算出第1臨限值之步驟，前述算出代表位置之步驟，係當前述第1臨限值乃身為預先所設定了的身為觸碰檢測臨限值之第2臨限值以上的情況時，會被啟動。
  15. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，前述檢測值，係身為從所對應之前述電容值而減去所對應之前述基準值所成的差分值。
  16. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，係更進而包含有：針對前述各交叉位置之每一者，而藉由從前述電容值來減去前述基準值而算出差分值之步驟；和針對前述各交叉位置之每一者，而算出前述差分值之移動平均之步驟，前述檢測值，係身為從所對應之前述差分值而減去所對應之前述移動平均所成的值。
  17. 如申請專利範圍第7項或第8項所記載之觸碰檢測方法，其中，係更進而包含有：針對藉由前述校準而使前述基準值被作了校正後之前述交叉位置，而在前述檢測值處加算上特定值之步驟。
  18. 一種觸碰檢測裝置，其特徵為，係包含有：構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極；和針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得代表指示體和前述觸控感測器間之靜電電容的電容值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而藉由從前述電容值減去前述基準值來算出差分值，並在前述各交叉位置之每一者，而算出前述差分值之移動平均之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，並將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值，並且以所決定了的前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值，而導出前述指示體之位置之座標導出部，前述檢測值，係身為從所對應之前述差分值而減去所對應之前述移動平均所成的值。
  19. 一種觸碰檢測裝置，其特徵為，係包含有：構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極；和取得前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者的基準值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述 靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而算出從所對應之前述電容值而減去前述基準值所成之差分值之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，將藉由前述差分值或基於前述差分值所取得之檢測值為超過身為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之第1臨限值的交叉位置而表現的區域之代表位置算出，並判定該代表位置之移動的有無，並且因應於該判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之座標導出部。
  20. 一種觸碰感測器控制器，係為被與構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極一同作使用之觸碰感測器控制器，其特徵為，係包含有：針對前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者，而分別取得代表指示體和前述觸控感測器間之靜電電容的電容值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而藉由從前述電容值減去前述基準值來算出差分值，並在前述各交叉位置之每一者，而算出前述差分值之移動平均之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，並將第1臨限值決定為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大 值越大則會變得越小之值之減算值後的值，並且以所決定了的前述第1臨限值作為基準，並基於前述各交叉位置之每一者的檢測值，而導出前述指示體之位置之座標導出部，前述檢測值，係身為從所對應之前述差分值而減去所對應之前述移動平均所成的值。
  21. 一種觸碰感測器控制器，係為被與構成靜電電容方式之觸碰感測器的複數之感測器電極一同作使用之觸碰感測器控制器，其特徵為，係包含有：取得前述複數之感測器電極的各交叉位置之每一者的基準值，並在前述各交叉位置之每一者，而取得代表前述靜電電容之電容值，並且進而在前述各交叉位置之每一者，而算出從所對應之前述電容值而減去前述基準值所成之差分值之觸碰檢測部；和取得身為基於前述各交叉位置之每一者的前述電容值所得之值的檢測值中之最大值，將藉由前述差分值或基於前述差分值所取得之檢測值為超過身為從前述最大值而減去了身為固定值或者是身為若是前述最大值越大則會變得越小之值之減算值後的值之第1臨限值的交叉位置而表現的區域之代表位置算出，並判定該代表位置之移動的有無，並且因應於該判定結果，來啟動將前述基準值朝向接近前述檢測值之方向而作校正的校準之座標導出部。
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