TWI709736B - 流體控制機器 - Google Patents

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日商富士金股份有限公司
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Abstract

本發明提供一種流體控制機器，即便是在流體之漏出為些微的情況下仍能夠精度佳地偵測出漏出。
流體控制機器V1係具有：閥主體1，係形成有流路；隔膜22，係將密閉空間S2從流路隔離；閥帽24，係在與隔膜22之間形成密閉空間S2，並且設置有連通至密閉空間S2且可供隔膜推壓器23能夠上下移動地貫通***的貫插孔241a；隔膜推壓器23，係在貫插孔231a內上下移動並按壓隔膜22，並且設置有不能從貫插孔241a拔出的擴徑部232；壓力感測器P，係檢測密閉空間S2內之壓力；以及彈性體6，係在密閉空間S2內，中介於隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之間，且伴隨隔膜推壓器23之上下移動而在隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之間彈性地膨脹收縮。

Description

流體控制機器
本發明係關於一種在流體控制裝置中偵測流體之漏出的技術。
以往，在半導體晶圓(wafer)之表面形成薄膜的成膜處理中係被要求膜厚之微細控制，且近年來有使用一種以原子等級(level)或分子等級之厚度來形成薄膜之所謂ALD(Atomic Layer Deposition；原子層沉積)的成膜方法。
但是，如此的成膜處理係已對供給流體至成膜裝置的流體控制機器要求高於現今之高頻率的開閉動作，有的情況變得容易因該負荷而引起流體之漏出等。為此，提高了對可以容易偵測出流體控制機器中的流體之漏出的技術之要求。
又，因在半導體製程中係有使用反應性較高且毒性極高的氣體，故而重要的是可以在漏出微小之中且遠距離地偵測出漏出。
此點，在專利文獻1中，係有提出一種由已形成於控制流體之流量的控制器之外表面的孔、和安裝於該孔的洩漏偵測構件所構成的密封部破損偵測機構，前述孔係連通至控制器內之空隙，前述洩漏檢測構件係由安裝於前述孔的筒狀體、和已設置於該筒狀體的可動構件所構成，該可動構件係藉由已充滿於控制器內之前述空隙內的漏出流體之壓力而可朝向前述筒狀體之外方移動所成。
又，在專利文獻2中，係有提出一種附密封部破損偵測機構的控制器，其由已形成於控制流體之流量的控制器之外面的孔、和安裝於該孔的洩漏偵測構件所構成，前述孔係連通至控制器內之空隙，前述洩漏偵測構件係藉由特定之流體的存在來感應。
又，在專利文獻3中，係有提出一種檢測流體之洩漏的洩漏檢測裝置，其具備：感測器保持體；超音波感測器，其以與洩漏埠口(leak port)對向之方式保持於感測器保持體，該洩漏埠口係設置於洩漏檢測對象構件並連通洩漏檢測對象構件內之密封部分與外部；超音波通路，其設置於超音波感測器之感測器面與洩漏埠口之間；以及處理電路，其處理以超音波感測器所獲得的超音波。
[先前技術文獻] [專利文獻]
專利文獻1：日本特開平04-093736號公報
專利文獻2：日本特開平05-126669號公報
專利文獻3：日本特開2014-21029號公報
但是，在專利文獻1所記載之密封部破損偵測機構中，雖然可以判別控制器內之空隙的加壓，但是無法判別負壓，且在流體之漏出為些微的情況下，恐有可動構件無法充分移動，且無法偵測出漏出之虞。
又，在專利文獻2所記載之附密封部破損偵測機構的控制器中，係在流體之漏出為些微的情況下，恐有由沖洗氣體(purge gas)所稀釋化而洩漏偵測構件感應不到之虞，又恐有洩漏偵測構件對特定之流體感應不到之虞。
更且，在專利文獻3所記載之洩漏偵測裝置中，係在流體之漏出為些微的情況下，恐有超音波微弱而無法偵測出漏出之虞。
於是，本發明的目的之一係在於提供一種在流體控制機器中，即便流體之漏出為些微的情況下仍能夠精度佳地偵測出漏出的技術。
為了達成上述目的，本發明之一觀點的流體控制機器，係偵測與流路隔離的密閉空間內之壓力者，且具有：閥主體(valve body)，係形成有前述流路；隔離構件，係容許或切斷前述流路中的流體之流通，並且將前述密閉空間從前述流路隔離；閥帽(bonnet)，係被配設於前述閥主體上並在與前述隔離構件之間形成前述密閉空間，並且設置有連通至前述密閉空間且可供隔膜推壓器能夠上下移動地貫通***的貫插孔；前述隔膜推壓器，係在前述貫插孔內上下移動並按壓前述隔離構件，並且設置有不能從前述貫插孔拔出的擴徑部；壓力感測器，係檢測前述密閉空間內之壓力；以及彈性體，係在前述密閉空間內，中介於前述隔膜推壓器之擴徑部與前述閥帽之間，且伴隨前述隔膜推壓器之上下移動而在前述隔膜推壓器之擴徑部與前述閥帽之間彈性地膨脹收縮。
又，在前述閥帽亦可設置有開口於前述密閉空間側且收容前述彈性體的收容部；前述彈性體，亦可伴隨前述隔膜推壓器之上下移動而膨脹收縮，並且在壓縮時彈性變形而收容於前述收容部。
又，前述收容部亦可構成在作為前述貫插孔當中在前述密閉空間之附近擴徑而成的部分；前述彈性體，亦可密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
又，前述彈性體，亦可在自然狀態中，在與前述密閉空間為相反之側形成空隙並收容於前述收容部。
又，在前述密閉空間內上下移動的前述隔膜推壓器之擴徑部的位置，亦可界定與前述隔膜推壓器連動的活塞之上死點。
又，亦可更具有密封構件，該密封構件係在前述密閉空間之附近，密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
依據本發明，在流體控制機器中，即便流體之漏出為些微的情況下仍能夠精度佳地偵測出漏出。
1‧‧‧閥主體
2‧‧‧閥帽部
3‧‧‧蓋體部
4‧‧‧致動器部
6、9‧‧‧彈性體
6a、9a、25a、41a、241a‧‧‧貫插孔
7‧‧‧處理模組
8‧‧‧外部終端機
11‧‧‧基座部
12‧‧‧圓筒部
12a、24a‧‧‧凹部
12b‧‧‧狹縫
21‧‧‧閥座
22‧‧‧隔膜
23‧‧‧隔膜推壓器
24‧‧‧閥帽
24b‧‧‧收容部
25‧‧‧閥帽壁
25b、42a、43a‧‧‧開口部
25c、241b、31a、31c‧‧‧螺孔
25d、31b、31d‧‧‧螺釘
25e、241c、32b、33b、33a‧‧‧貫通孔
25f‧‧‧螺栓
26‧‧‧襯墊
31‧‧‧蓋體
32、33‧‧‧板件
32a‧‧‧缺口部
41‧‧‧致動器主體
42‧‧‧致動器罩
43‧‧‧活塞
44‧‧‧彈簧
51‧‧‧撓性電纜
52‧‧‧電路基板
53‧‧‧連接器
71‧‧‧判別處理部
72‧‧‧通信處理部
91‧‧‧密封部
92‧‧‧膨縮部
112‧‧‧閥室
231‧‧‧基體部
231a‧‧‧條溝
232、431‧‧‧擴徑部
241‧‧‧分隔部
241d‧‧‧連通孔
411‧‧‧周壁
432‧‧‧驅動壓力導入流路
M1‧‧‧磁鐵
M2‧‧‧磁性體
O1、O2、O41、O42‧‧‧O型環
P‧‧‧壓力感測器
S1‧‧‧驅動壓力導入室
S2‧‧‧密閉空間
V1、V2‧‧‧流體控制機器
第1圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器之(a)外觀立體圖、(b)俯視圖。
第2圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器之內部結構的A-A剖視圖，第2圖中之(a)係顯示閉閥狀態，第2圖中之(b)係顯示開閥狀態。
第3圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器之分解立體圖。
第4圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器之分解立體圖。
第5圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器之分解立體圖。
第6圖係顯示本發明之第一實施形態的流體控制機器所具備之功能之一例的功能方塊圖。
第7圖係顯示本發明之第二實施形態的流體控制機器之內部結構的A-A剖視圖，第7圖中之(a)係顯示閉閥狀態，第7圖中之(b)係顯示開閥狀態。
第8圖係顯示本發明之第二實施形態的流體控制機器之分解立體圖。
[實施例1]
以下，參照圖來說明本發明之第一實施形態的流體控制機器。
再者，在以下之說明中，雖然有時為了方便而依圖式上之方向將構件等的方向指稱為上下左右，但是此等指稱並非是限定本發明之實施或是使用時的構件等之方向。
第1圖所示之本實施形態的流體控制機器V1，為能夠藉由內置的感測器來檢測內部動作的機器，且可以基於所檢測出的資訊來偵測出流體控制機器V1之異常，特別是偵測出流體控制機器V1內的流體之漏出。又，該流體控制機器V1，係連接於外部終端機，且可以對該外部終端機提供有關流體控制機器V1之異常的資訊或藉由感測器所檢測出的資訊。
再者，在流體控制機器V1之實際的使用情景中，複數個流體控制機器V1係與其他的流量控制機器等一起聚集而構成流體控制裝置(氣體控制箱(gas box))。
本實施形態的流體控制機器V1為空氣作動式之直動式隔膜閥(direct diaphragm valve)，且如第1圖及第2圖所示，具備閥主體1、閥帽部2、蓋體(cover)部3、及致動器(actuator)部4。
˙閥主體1
如第2圖及第3圖所示，閥主體1係由形成有流路的基座部11、和已設置於基座部11上的大致圓筒形狀之圓筒部12所構成。
基座部11係由俯視觀察呈矩形狀所構成，且在藉由複數個流體控制機器V1來構成已被單元化的流體控制裝置之情況下，成為被設置於基盤或是歧管塊(manifold block)上的部分。
圓筒部12係由可供閥帽部2配設之側的端面開口後的中空形狀所構成，而中空之內部係構成可供閥帽部2收容的凹部12a。
在該圓筒部12係設置有狹縫(slit)12b，該狹縫12b係在軸心方向具有長度，在可供閥帽部2配設之側並與基座部11為相反側的一端呈開口，並且從外側往凹部12a側貫通。透過該狹縫12b，從閥帽壁(bonnet wall)25所延伸出來的撓性電纜(flexible cable)51可從內側往外側導出。
在凹部12a之下方及基座部11內，係形成有供流體流入的流入路和供流體流出的流出路、以及連通至該流入路與流出路的閥室112。流入路、流出路及閥室112係一體地構成供流體流通的流路。
˙閥帽部2
如第2圖至第4圖所示，閥帽部2係配設成已收容於閥主體1之凹部12a內的狀態。
該閥帽部2係具備閥座(seat)21、隔膜22、隔膜推壓器23、閥帽24及閥帽壁25，此外還具有用以提高伴隨流體之漏出所帶來的壓力變化之檢測精度的彈性體6。
環狀之閥座21係設置於閥室112中的流入路之開口周緣。可以藉由使隔膜22與閥座21抵接及分離來使流體從流入路往流出路流通，或使流通切斷。
隔膜22係由不鏽鋼、Ni-Co(鎳鈷)系合金等的金屬所構成，並且是中心部***成凸狀的球殼狀之構件，用以隔離流路與致動器部4動作的空間。該隔膜22，係在並未藉由隔膜推壓器23所按壓的狀態下，如第2圖中之(b)所示，會從閥座21分離，使流入路與流出路連通，且容許流體之流通。另一方面，在已藉由隔膜推壓器23所按壓的狀態下，係如第2圖中之(a)所示，隔膜22之中央部會變形並抵接於閥座21，使流入路與流出路切斷，且切斷流體之流通。
隔膜推壓器23係設置於隔膜22之上側，且與活塞(piston)43之上下移動連動來按壓隔膜22之中央部。
該隔膜推壓器23係由大致圓柱狀之基體部231、和抵接於隔膜22之側的一端側擴徑而成的擴徑部232所構成。
在基體部231係形成有：在軸心方向具有長度，且與擴徑部232為相反側之一端開口後的有底之條溝231a。已螺入於閥帽壁25之螺孔25c的螺釘25d之軸桿部分係能夠滑動地嵌合在該條溝231a。條溝231a與螺釘25d係構成限制隔膜推壓器23之周方向之轉動的轉動限制手段，藉此，隔膜推壓器23雖然會與活塞43連動而上下移動，但是被限制周方向之轉動。
又，在基體部231係安裝有構成磁力感測器(magnetic sensor)的磁鐵M1。該磁鐵M1係與已安裝於閥帽壁25的磁性體M2一起構成後面所述的磁力感測器。再者，在本實施例中，雖然磁鐵M1係安裝於基體部231之條溝231a的相反側，但是只要沒有妨礙與磁性體M2構成磁力感測器，亦可以安裝於基體部231上之其他的位置。
擴徑部232為具有直徑比閥帽24之貫插孔241a更大的大致圓盤狀之部分，且位於密閉空間S2內使隔膜推壓器23不能從貫插孔241a拔出。
又，該擴徑部232係依照與活塞43連動的隔膜推壓器23之上下移動，而在與閥帽24之分隔部241之間夾壓彈性體6。
在此，擴徑部232之寬度較佳是設為使隔膜推壓器23不能從貫插孔241a拔出，並且可以將彈性體6夾壓於與閥帽24之分隔部241之間的最小限之寬度。只要將擴徑部232之寬度設為如此的寬度，並且將設置於閥帽24之分隔部241之下面側的密閉空間S2之寬度或直徑，按照擴徑部232之寬度或直徑來縮小，就可以減少密閉空間S2之體積。
由如此之構成所組成的隔膜推壓器23，係界定伴隨流體控制機器V1之開閉而上下移動的活塞43之上死點。亦即，隔膜推壓器23之擴徑部232的上表面係在開閥時，且在與閥帽24之分隔部241之間夾壓彈性體6並使之壓縮時，藉由驅動壓力而使彈性體6最大限壓縮時的位置是構成上死點。
藉此，與將其他的位置作為活塞43之上下移動的上死點之情況不同，在開閥時沒有必要使隔膜推壓器23之擴徑部232所到達的位置具有餘裕，且可以將密閉空間S2之體積抑制在最小限。
閥帽24係由大致圓筒狀所構成，且配設於閥主體1上，在與隔膜22之間形成密閉空間。
該閥帽24係在下端部與閥主體1之間夾持隔膜22，且能以該部分密封隔膜22與閥主體1之間。
又，在閥帽24之內部係設置有大致圓盤狀之分隔部241，該分隔部241係於中心部形成有可供隔膜推壓器23能夠上下移動地貫通***的貫插孔241a。
在形成於分隔部241之上方、或是可供致動器部4配設之側的凹部24a係收容有閥帽壁25。在分隔部241與閥帽壁25係分別於互為對應的位置設置有螺孔241b和貫通孔25e，且閥帽壁25藉由螺栓(bolt)25f來螺設於閥帽24。
閥帽24之分隔部241係具有一定之厚度，且在分隔部241上所形成的貫插孔241a之內周面與隔膜推壓器23之間，係夾設有作為密封構件的O型環O2。藉此，可確保藉由分隔部241、隔膜22及隔膜推壓器23所劃分界定的密閉空間S2之氣密性。
在此，用以確保密閉空間S2之氣密性的O型環O2，係設置於上下移動的隔膜推壓器23之動作方向當中的密閉空間S2之附近。藉此，能減少從貫插孔241a之密閉空間S2側的開口部至O型環O2為止的間隙，且能減小密閉空間S2之體積。
再者，在此所謂的密閉空間S2之附近，係指至少在上下移動的隔膜推壓器23之動作方向上，比隔膜推壓器23與活塞43抵接之側更偏靠密閉空間S2側的位置，更佳是指O型環O2與隔膜推壓器23之擴徑部232不會相接觸而可以保持被隔開的最小限之距離的位置。
又，在閥帽24之分隔部241係設置有連通至被安裝於閥帽壁25之壓力感測器P的連通孔241d。透過連通孔241d而設置有壓力感測器P，藉此就可以測定藉由分隔部241、隔膜22及隔膜推壓器23所劃分界定的密閉空間S2內之壓力。
又，在閥帽24之側面，係設置有用以使從已收容於內側之閥帽壁25所導出的撓性電纜51往外側導出的貫通孔241c。
閥帽壁25為配設於閥帽24內的構件。該閥帽壁25係由將壁厚的大致圓盤狀之構件挖通成俯視觀察呈大致C字狀的形狀所構成。在該閥帽壁25之中心，係設置有使隔膜推壓器23之基體部231貫通***的貫插孔25a。又，設置有使貫插孔25a朝向閥帽壁25之半徑方向外側開口的開口部25b。
在閥帽壁25之厚度部分的預定部位，係形成有從貫插孔25a朝向半徑方向外側切削螺紋後的螺孔25c。螺釘25d係從外側螺合於該螺孔25c，已螺合的螺釘25d之軸心部分係往貫插孔25a側露出，並能夠滑動地嵌合於已貫通***於貫插孔25a的隔膜推壓器23之條溝231a。
在閥帽壁25，係於與閥帽24之螺孔241b對應的位置設置有貫通孔25e。螺栓25f係在閥帽24之分隔部241上配設有閥帽壁25的狀態下，螺合於螺孔241b與貫通孔25e，藉此，閥帽壁25可固定於閥帽24。
在閥帽壁25之外周面當中的開口部25b附近，係安裝有為了堵塞開口部25b而搭架所固定的平板狀之磁性體M2。該磁性體M2，係與已安裝於隔膜推壓器23的磁鐵M1一起構成後面所述之磁力感測器。
˙彈性體6
彈性體6為依外力而彈性地膨脹收縮的構件，且由外表面以非多孔質材料所塗覆而成的多孔質之軟性樹脂等所構成。又，在本例中係構成具有一定厚度的環狀，且中央係設置有可供隔膜推壓器23之基體部231貫通***的貫插孔6a。
該彈性體6係在使隔膜推壓器23之基體部231貫通***於貫插孔6a內的狀態下，中介於隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間，且伴隨隔膜推壓器23之上下移動而彈性地膨脹收縮。亦即，在流體控制機器V1開閥時，當隔膜推壓器23從隔膜22分離時，就會在隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間被夾壓並壓縮。另一方面，在流體控制機器V1閉閥時，當隔膜推壓器23抵接於隔膜22，且隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241分開時，就會從夾壓狀態被解放並膨脹，且回到壓縮前的自然狀態。
藉此，僅以流體控制機器V1之彈性體6的部分就可以減少在密閉空間S2所佔據的氣體之容積。
再者，在本實施形態中，雖然彈性體6係構成環狀，且使隔膜推壓器23貫通***於貫插孔6a，但是不論此，只要能中介於隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間而彈性地膨脹收縮，亦可由其他的形狀所構成。例如，外形既可為矩形狀又可以複數個彈性構件之集合體的方式來構成。
˙蓋體部3
如第1圖及第5圖所示，蓋體部3係與致動器主體41來夾壓閥主體1並一體地保持，並且構成將電路基板52及已設置於電路基板52的連接器(connector)53固定於流體控制機器V1的固定手段。
該蓋體部3，係具備蓋體31與平板狀之板件32、33。
蓋體31係由大致U字狀所構成，在其內側可供致動器主體41與閥主體1之端部嵌入。
在蓋體31之兩側面，係與可供致動器主體41嵌入的位置對應而設置有螺孔31a。藉此，當在閥主體1已嵌入於內側的狀態下使螺釘31b螺入於螺孔31a，且使螺釘31b之前端壓接於閥主體1時，就可以將閥主體1夾持於蓋體31之內側。
又，在蓋體31之厚度部分，係設置有螺孔31c。藉由螺釘31d透過板件32、33之貫通孔32b、33b來螺合於該螺孔31c，就可使板件32、33安裝於蓋體31。
板件32、33，係在已將致動器主體41與閥主體1之端部嵌套於蓋體31之內側的狀態下以固定用螺釘來與蓋體31固定，且在已被固定的狀態中，將致動器主體41與閥主體1夾壓保持於與蓋體31之間。
在該板件32之下方，係形成有已切口成舌片狀的缺口部32a，撓性電纜51係可透過該缺口部32a往設置有連接器53的電路基板52導出。
板件33係在使電路基板52夾設於與板件32之間的狀態下以固定用螺釘固定於板件32及蓋體31，且將電路基板52夾壓保持於與板件32之間。
在該板件33，係於中央部設置有大致矩形狀之貫通孔33a，已設置於電路基板52的連接器53係從該貫通孔33a往外側露出。
在此，在基座部11是由俯視觀察呈矩形狀所構成時，如第1圖中之(b)所示，蓋體部3，係將連接器53朝向矩形狀的基座部11之對角線方向固定於流體控制機器V1。之所以朝向如此的方向來固定連接器53，其理由如下。亦 即，在藉由複數個流體控制機器V1來構成已被單元化的流體控制裝置(氣體控制箱)之情況下，根據集成化之要求，較佳是使相鄰之矩形狀的基座部11之方向一致並盡可能地消除間隙，且將流體控制機器V1配設於基盤或是歧管塊上。另一方面，在如此地配置並使之集成的情況下，會變得不易將端子等連接於連接器53。為此，與朝向被配設於正側面的流體控制機器V1之方向的情況相較，藉由將連接器53朝向基座部11之對角線方向，就可以取得較寬之連接的空間(space)。結果，既容易將端子等連接於連接器53，又可以預防藉由端子等之折彎或扭轉所導致的斷線等之不良情形，或預防端子等碰撞到流體控制機器V1而對流體控制機器V1之動作造成異常的不良情形。
˙致動器部4
致動器部4係配設於閥帽部2上。
如第2圖所示，該致動器部4係具備致動器主體41、致動器罩(actuator cap)42、活塞43及彈簧44。再者，在第3圖中，雖然已省略致動器部4之內部結構，但是內部結構係如同第2圖所示。
致動器主體41係夾設於活塞43與閥帽24之間。
該致動器主體41係如第3圖所示由大致圓柱形狀所構成，在中心部係沿著長度方向設置有可供活塞43與隔膜推壓器23貫通***的貫插孔41a。如第2圖所示，在貫插孔41a內，活塞43與隔膜推壓器23會抵接，且隔膜推壓器23係與活塞43之上下移動連動而上下移動。
在致動器主體41之可供活塞43配設之側的上端面，係形成有由環狀之突條所構成的周壁411，在周壁411之內側的平坦之水平面與活塞43之擴徑部431的下端面之間，係形成有可供驅動壓力導入的驅動壓力導入室S1。
又，在致動器主體41之可供活塞43配設之側的外周面上，係切出有外螺紋，藉由與在致動器罩42之內周面所切出的內螺紋螺合，致動器主體41就可安裝於致動器罩42之一端。
致動器主體41之長度方向的中心部，係形成剖面觀察呈大致六角形狀，該剖面觀察呈六角形狀之部分與閥主體1之上端部分，係藉由蓋體31一體地夾壓。
致動器罩42係下端部已開口的罩狀之構件，且在內部收容著活塞43與彈簧44。
在致動器罩42之上端面，係設置有連通至活塞43之驅動壓力導入流路432的開口部42a。
致動器罩42之下端部係螺合致動器主體41之上部所封閉。
活塞43係按照驅動壓力之供給與停止而上下移動，且透過隔膜推壓器23來使隔膜22與閥座21抵接及分離。
該活塞43之軸心方向大致中央係擴徑成圓盤狀，且該部位係構成擴徑部431。活塞43係在擴徑部431之上面側承受彈簧44之彈壓力。又，在擴徑部431之下端側，係形成有可供驅動壓力供給的驅動壓力導入室S1。
又，在活塞43之內部係設置有：用以使已形成於上端面的開口部43a、與形成於擴徑部431之下端側的驅動壓力導入室S1連通的驅動壓力導入流路432。活塞43之開口部43a係連通至致動器罩42之開口部42a為止，而用以從外部導入驅動壓力的導入管則連接於開口部42a，藉此可對驅動壓力導入室S1供給驅動壓力。
在活塞43之擴徑部431的外周面上，係安裝有O型環O41，該O型環O41係密封活塞43之擴徑部431的外周面與致動器主體41的周壁411之間。又，在活塞43之下端側亦安裝有O型環O42，該O型環O42係密封活塞43之外周面與致動器主體41之貫插孔41a的內周面之間。藉由此等的O型環O41、O42，而形成有連通至活塞43內之驅動壓力導入流路432的驅動壓力導入室S1，並且可確保該驅動壓力導入室S1之氣密性。
彈簧44係捲繞於活塞43之外周面上，且抵接於活塞43之擴徑部431的上表面以將活塞43朝向下方彈壓，亦即將活塞43朝向壓下隔膜22的方向彈壓。
在此，針對伴隨驅動壓力之供給與停止而來的閥之開閉動作加以說明。當從已連接於開口部42a的導入管(省略圖示)供給有空氣時，空氣就會透過活塞43內之驅動壓力導入流路432而被導入至驅動壓力導入室S1。相應於此，活塞43係抵抗彈簧44之彈壓力而往上方推。藉此，隔膜22就從閥座21分離並成為已開閥的狀態，且流體會流通。
另一方面，當空氣未被導入至驅動壓力導入室S1時，活塞43就會按照彈簧44之按壓力往下方推。藉此，隔膜22就會抵接於閥座21並成為已閉閥的狀態，且流體之流通會被切斷。
˙感測器
流體控制機器V1係具備壓力感測器P、及由磁鐵M1與磁性體M2所構成的磁力感測器，作為用以檢測機器內之動作的感測器。
如第2圖所示，壓力感測器P係安裝於閥帽壁25之下表面、或是流路側，且透過連通孔241d，而連通至藉由隔膜22、閥帽24之分隔部241及隔膜推壓器 23所劃分界定的密閉空間S2。該壓力感測器P係藉由檢測壓力變化的感壓元件、或將藉由感壓元件所檢測出的壓力之檢測值轉換成電信號的轉換元件等所構成。藉此，壓力感測器P係可以檢測藉由隔膜22、閥帽24之分隔部241及隔膜推壓器23所劃分界定的密閉空間S2內之壓力。
再者，在壓力感測器P通至連通孔241d的部位係夾設有襯墊(packing)26，可擔保氣密狀態。
再者，壓力感測器P，亦可為檢測計示壓力(gauge pressure)或是大氣壓力之任一個的感測器，且只要按照各自之情況，來設定判別處理部71(參照第7圖並於後述)所參照的臨限值即可。
又，在本實施形態中，雖然是藉由壓力感測器P來檢測密閉空間S2內之壓力，藉此偵測出因流體之漏出等所引起的流體控制機器V1之異常，但是能夠使用電容式麥克風單元(condenser type microphone unit)作為壓力感測器P。亦即，電容式麥克風單元，係具有接受音波而振動的振動板、及與振動板對向所配置的對向電極，且可以將振動板與對向電極之間的靜電電容之變化轉換成電壓之變化來作為聲音信號。然後，該電容式麥克風單元係藉由堵塞被設置於振動板之背面側的空氣室而成為無指向性(全指向性)。在無指向性的情況下，因電容式麥克風單元係掌握藉由來自所有方向之音波所致的音壓之變化而動作，故而能夠作為壓力感測器來利用。
在閥帽壁25之開口部25b係安裝有磁性體M2，該磁性體M2係與已安裝於隔膜推壓器23的磁鐵M1一起構成磁力感測器。
藉由該磁力感測器可以如同以下般地偵測出閥之開閉動作。亦即，磁鐵M1是按照隔膜推壓器23之上下移動而上下移動，相對於此，磁性體M2係與閥帽 壁25及閥帽24一起固定於閥主體1內。結果，可以基於在按照隔膜推壓器23之上下移動而上下移動的磁鐵M1、與位置被固定的磁性體M2之間產生的磁場之變化，來偵測出隔膜推壓器23之動作、進而偵測出閥之開閉動作。
再者，雖然在本實施形態中係使用磁力感測器，但是不限於此，在其他的實施形態中，亦可以使用光學式之位置感測器等其他種類的感測器。
在壓力感測器P與磁力感測器係分別連接具有可撓性之通信用的撓性電纜51之一端(就磁力感測器而言，詳言之係連接於磁性體M2)，撓性電纜51之另一端係連接於已設置於流體控制機器V1之外側的電路基板52。
在本例中，在電路基板52係構成有執行預定之資訊處理的處理模組7(參照第7圖並於後述)。處理模組7係執行：根據從壓力感測器P或磁力感測器所取得的資訊，來偵測出流體控制機器V1之異常的處理。然後，在電路基板52係設置有外部端子連接用之大致矩形狀的連接器53，藉此，可以抽出藉由壓力感測器P與磁力感測器所測定出的資料，或抽出有關藉由處理模組7所執行的異常判別處理之處理結果的資料。
再者，在本實施形態中，在撓性電纜51與電路基板52中係使用撓性基板(FPC：Flexible Printed Circuits；軟性印刷電路基板)，撓性電纜51、電路基板52及連接器53係一體地構成。藉由將撓性基板使用於撓性電纜51與電路基板52，就能利用構件間之間隙作為配線路徑，結果，比起使用被覆線的情況還可以使流體控制機器V1本身小型化。
又，處理模組7係與電路基板52不同，既可收納於流體控制機器V1內，又可構成作為壓力感測器P或磁力感測器之一部分。
又，連接器53之種類或形狀，係能按照各種的規格來適當設計。
由以上之構成所組成的流體控制機器V1，因僅以彈性體6之部分就可以減少密閉空間S2內之容積，故而可以精度佳地檢測密閉空間S2內的壓力變化。結果，可以偵測出流體從流路往密閉空間S2之些微的漏出等因隔膜22之破損等所引起的異常。
˙軟體(software)構成
敘述在由以上之構成所組成的流體控制機器V1中，根基密閉空間S2內之壓力變化來判別流體控制機器V1之異常的處理之一例。
處理模組7係藉由已設置於電路基板52上的運算電路或記憶體(memory)所構成，藉此，如第6圖所示，具備由判別處理部71與通信處理部72所構成的功能方塊。該處理模組7係構成能夠藉由撓性電纜51來與壓力感測器P或磁力感測器進行協調，且可以從該壓力感測器P或磁力感測器接受資料之供給。
判別處理部71係執行：藉由比較已保持於參照用表格(table)等的預定之臨限值、與藉由壓力感測器P所檢測出的壓力之檢測值，來判別因流體往密閉空間S2之漏出等所引起的流體控制機器V1之異常的處理。亦即，在正常使用時，事先將以流體控制機器V1之閥的開閉所假定的密閉空間S2內之壓力的界限值作為預定之臨限值。然後，在密閉空間S2內之壓力的檢測值已超出該臨限值的情況下，判別在流體控制機器V1已發生異常。如此的判別之合理性係依據如下：流體因隔膜22之破損等而往密閉空間S2漏出並使密閉空間S2內之壓力上升的結果，或是密閉空間S2內之壓力因流路內之減壓而減少的結果，會視為密閉空間S2內之壓力的檢測值已超出臨限值。
通信處理部72，為用以執行對透過連接器53所連接的外部終端機8，發送藉由判別處理部71所為的判別結果之處理的功能部。
再者，在本實施形態中，雖然藉由判別處理部71所為的處理結果，係透過連接器53來發送至外部終端機8，但是亦可以藉由例如無線LAN(Local Area Network；區域網路)、Bluetooth(藍芽)(註冊商標)、紅外線通信、或是Zigbee(紫蜂)(註冊商標)等來構成通信處理部72，且藉由無線通信來發送。
又，在其他的終端機始終連接於連接器53的情況下，通信處理部72係能夠以1小時或1日等之任意所設定的預定之週期來發送藉由判別處理部71所為的判別結果。此點，流體之微量漏出雖然難以偵測出其瞬間，但是只要是數日左右因會升壓故而能夠偵測出。另一方面，因密閉空間S2為氣密的空間，故而即便發生微小的漏出仍不易立即造成問題。為此，即便是藉由預定之週期所為的發送仍沒有妨礙。更且，在如此以預定之週期來進行資訊之發送的情況下，係可以抑制消耗電力。
又，在流體控制機器V1集成複數個來構成流體控制裝置的情況下，各個流體控制機器V1之通信處理部72，係能夠以對外部終端機8依每一流體控制機器V1以不同的時序(timing)一起發送能夠識別自己的自我識別資訊、與藉由判別處理部71所為的判別結果。
藉由能夠對外部終端機8發送能夠個別識別流體控制機器V1的自我識別資訊，就可以判別構成流體控制裝置的複數個流體控制機器V1當中之任一個是否招來異常。
又，藉由可依每一流體控制機器V1以不同的時序對外部終端機8發送判別結果，就可以迴避封包碰撞(packet collision)的問題，且與一齊發送的情況相較又可以預防暫時性的處理之過負荷。更且，與一齊發送的情況不同，因沒有必要依每一流體控制機器V1改變資料發送所利用的無線之頻道(channel)，故而沒有必 要準備多數的頻道。在藉由Bluetooth(註冊商標)來實現流體控制機器V1與外部終端機8之連接手段的情況下，因同時連接台數會受限(通常七台)，故而可以使用藉由改變發送之時序來超過同時連接台數之數目的流體控制機器V1。
外部終端機8為所謂個人電腦(personal computer)或伺服器(server)、能夠進行資料之收發或處理的可攜式終端機等，並藉由CPU(Central Processing Unit；中央處理單元)、CPU所執行的電腦程式(computer program)、記憶電腦程式或預定之資料的RAM(Random Access Memory；隨機存取記憶體)或ROM(Read Only Memory；唯讀記憶體)、及硬碟機(hard disk drive)等之外部記憶裝置等的硬體資源所構成。
該外部終端機8係具有用以接收流體往流體控制機器V1的密閉空間S2之漏出的判別結果之通信處理部。外部終端機8已從流體控制機器V1接收的資訊係可適當按照來自流體控制機器V1之管理者或是監視者等所利用的終端機之要求，提供至該監視者等所利用的終端機。
藉由以上之構成所組成的流體控制機器V1，基於藉由壓力感測器P所檢測出的密閉空間S2內之壓力與預定之臨限值的比較，就可以偵測出因流體往密閉空間S2之漏出等所引起的流體控制機器V1之異常。
又，因有關流體控制機器V1之異常的資訊是集中於外部終端機8，故而流體控制機器V1之監視者等，係可以沒有負擔地監視流體控制機器V1之動作狀況。
更且，因流體控制機器V1，係在檢測出密閉空間S2內之壓力之後，藉由比較預定之臨限值與檢測值來檢測異常，故而即便是在已招來密閉空間S2內部成為負壓之異常的情況下，仍可以偵測出該異常。
再者，如此的功能構成係為一例，亦可設為使外部終端機8具備判別處理部71，且將藉由壓力感測器P所為的檢測值等流體控制機器V1之動作資訊發送至外部終端機8，且能夠獲得各種的機構構成。
[實施例2]
其次，針對本發明之第二實施形態的流體控制機器加以說明。
如第7圖及第8圖所示，本實施形態的流體控制機器V2，係於閥帽24具備收容彈性體9的收容部24b。
再者，在本實施形態的流體控制機器V2之說明中，係談及流體控制機器V2作為以上所述之第一實施形態的流體控制機器V1之變化例，且對具有同一功能或構成的構件附記與流體控制機器V1同一符號並省略說明。
在本實施形態的閥帽24係設置有朝向密閉空間S2側開口，且從開口部收容彈性體9的大致凹狀之收容部24b。特別是在本實施形態中，收容部24b係構成已設置於閥帽24之分隔部241的貫插孔241a之一部分，且比貫插孔241a之其他部分更擴徑，具有比隔膜推壓器23之基體部231之直徑更大的直徑。
再者，與上面所述的第一實施形態同樣，即便是在本實施形態中，隔膜推壓器23之擴徑部232仍合適界定伴隨流體控制機器V1之開閉而上下移動的活塞43之上死點。
˙彈性體9
彈性體9係與上面所述的彈性體6同樣，為依外力而彈性地膨脹收縮的構件，且由外表面以非多孔質材料所塗覆而成的多孔質之軟性樹脂等所構成。又， 即便在本例中仍是構成大致環狀，且中央係設置有可供隔膜推壓器23之基體部231貫通***的貫插孔9a。
另一方面，本例中的彈性體9係包含：密封部91，其在自然狀態中收容於收容部24b；以及膨縮部92，其從收容部24b突出，且在隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間彈性地膨脹收縮。
密封部91係由按照收容部24b之形狀的大致環狀所構成。該密封部91係在已收容於收容部24b的狀態下密封隔膜推壓器23與閥帽24之間以確保密閉空間S2之氣密性，且執行構成以上所述的第一實施形態之流體控制機器V1的O型環O2之功能。
藉此，在本例中，亦可不設置第一實施形態之流體控制機器V1所具有的O型環O2。但是，此並不妨礙另外設置O型環O2，亦可與第一實施形態同樣地設置O型環O2。
雖然膨縮部92係與密封部91同樣由大致環狀所構成，但是其係由比收容部24b及密封部91之直徑更大的直徑所構成。該膨縮部92係在使隔膜推壓器23之基體部231貫通***於貫插孔9a內的狀態下，中介於隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間，且伴隨隔膜推壓器23之上下移動而彈性地膨脹收縮。亦即，在流體控制機器V2開閥時，當隔膜推壓器23從隔膜22分離時，就會在隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241之間被夾壓並壓縮。另一方面，在流體控制機器V2閉閥時，當隔膜推壓器23抵接於隔膜22，且隔膜推壓器23之擴徑部232與閥帽24之分隔部241分開時，就會從夾壓狀態被解放並膨脹，且回到壓縮前的自然狀態。
再者，在本實施形態中，雖然彈性體9係構成大致環狀，且使隔膜推壓器23貫通***於貫插孔9a，但是不論此，只要膨縮部92從收容部24b突出，且按照來自隔膜推壓器23之擴徑部232的按壓力彈性地膨脹收縮，亦可由其他的形狀所構成。例如，外形既可為矩形狀，又可以複數個彈性構件之集合體的方式來構成。又，亦可構成：膨縮部92是由與收容部24b或密封部91相同的直徑所構成，且密封部91與膨縮部92之外周面成為同一平面。
又，如此的收容部24b、及由密封部91和膨縮部92所構成的彈性體9之構成，並非將膨縮部92之一部分或全體被收容於收容部24b的構成排除在外。從而，在流體控制機器V2開閥時，亦可藉由來自隔膜推壓器23之按壓力使彈性體9之膨縮部92的一部分或全部彈性地變形，且收容於收容部24b。
又，只要具有上面所述的第一實施形態之流體控制機器V1所具備的O型環O2，則亦可以不設置密封部91，而是僅由膨縮部92來構成彈性體9。在此情況下，流體控制機器V2開閥時，可藉由來自隔膜推壓器23之按壓力，使彈性體9之一部分或全部收容於收容部24b。
又，雖然彈性體9係收容於收容部24b，但是在閉閥時之自然狀態中，亦可在與密閉空間S2為相反之側(收容部24b之裡側)形成空隙來收容於收容部24b。藉此，在開閥時彈性體9可一邊埋設於該空隙且一邊收容於收容部24b，另一方面，在閉閥時彈性體9會大幅地突出至密閉空間S，可以縮小密閉空間S2之體積。
依據本實施形態之流體控制機器V2，可以一邊密封隔膜推壓器23與閥帽24之間，且一邊僅以彈性體9之部分來減少在密閉空間S2所佔據的氣體之容積。
1‧‧‧閥主體
2‧‧‧閥帽部
3‧‧‧蓋體部
4‧‧‧致動器部
6‧‧‧彈性體
11‧‧‧基座部
12‧‧‧圓筒部
21‧‧‧閥座
22‧‧‧隔膜
23‧‧‧隔膜推壓器
24‧‧‧閥帽
25d‧‧‧螺釘
26‧‧‧襯墊
41‧‧‧致動器主體
41a‧‧‧貫插孔
42‧‧‧致動器罩
42a、43a‧‧‧開口部
43‧‧‧活塞
44‧‧‧彈簧
112‧‧‧閥室
231a‧‧‧條溝
241d‧‧‧連通孔
411‧‧‧周壁
431‧‧‧擴徑部
432‧‧‧驅動壓力導入流路
O2、O41、O42‧‧‧O型環
P‧‧‧壓力感測器
S1‧‧‧驅動壓力導入室
S2‧‧‧密閉空間
V1‧‧‧流體控制機器

Claims (9)

  1. 一種流體控制機器，係偵測與流路隔離的密閉空間內之壓力，該流體控制機器具有：閥主體，係形成有前述流路；隔離構件，係容許或切斷前述流路中的流體之流通，並且將前述密閉空間從前述流路隔離；閥帽，係被配設於前述閥主體上並在其與前述隔離構件之間形成前述密閉空間，並且設置有連通至前述密閉空間且可供隔膜推壓器能夠上下移動地貫通***的貫插孔；前述隔膜推壓器，係在前述貫插孔內上下移動並按壓前述隔離構件，並且設置有不能從前述貫插孔拔出的擴徑部；壓力感測器，係檢測前述密閉空間內之壓力；以及彈性體，係在前述密閉空間內，中介於前述隔膜推壓器之擴徑部與前述閥帽之間，且伴隨前述隔膜推壓器之上下移動而在前述隔膜推壓器之擴徑部與前述閥帽之間彈性地膨脹收縮。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之流體控制機器，其中，在前述閥帽係設置有開口於前述密閉空間側且收容前述彈性體的收容部；前述彈性體係伴隨前述隔膜推壓器之上下移動而膨脹收縮，並且在壓縮時彈性變形而收容於前述收容部。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之流體控制機器，其中，前述收容部係構成作為在前述貫插孔當中在前述密閉空間之附近擴徑而成的部分；前述彈性體係密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
  4. 如申請專利範圍第2項或第3項所述之流體控制機器，其中，前述彈性體在自然狀態中，係以在與前述密閉空間相反之側形成空隙的方式收容於前述收容部。
  5. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述之流體控制機器，其中，由前述隔膜推壓器之擴徑部的位置來界定活塞之上死點，前述隔膜推壓器係在前述密閉空間內上下移動，前述活塞係與前述隔膜推壓器連動。
  6. 如申請專利範圍4項所述之流體控制機器，其中，由前述隔膜推壓器之擴徑部的位置來界定活塞之上死點，前述隔膜推壓器係在前述密閉空間內上下移動，前述活塞係與前述隔膜推壓器連動。
  7. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述之流體控制機器，更具有密封構件，該密封構件係在前述密閉空間之附近，密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
  8. 如申請專利範圍第4項所述之流體控制機器，更具有密封構件，該密封構件係在前述密閉空間之附近，密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
  9. 如申請專利範圍第5項所述之流體控制機器，更具有密封構件，該密封構件係在前述密閉空間之附近，密封前述貫插孔之內周面與前述隔膜推壓器之間。
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