TWI702429B - 光纖輔助夾具及其量測治具、檢測儀 - Google Patents

光纖輔助夾具及其量測治具、檢測儀 Download PDF

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TWI702429B
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張敬源
張偉傑
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Abstract

一種光纖輔助夾具,包括一光纖頭套件以及一光纖夾持組;光纖頭套件用以嵌設並固定一根光纖的光纖頭部;光纖夾持組包含一定位支架件以及一可調夾持件,定位支架件具有一支撐架與設置於支撐架一側的一定位溝槽,支撐架的第一端組接光纖頭套件且支撐架的一第二端設有一夾持母部,定位溝槽用以放置自光纖頭套件拉伸之光纖的光纖束部;可調夾持件可活動地組接支撐架,可調夾持件的一端設有對應夾持母部的一夾持公部,光纖束部通過夾持母部與夾持公部之間的配合夾持固定;其中可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使夾持公部相對於夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,第一軸向與第二軸向係為互垂。藉此,實現對光纖的水平量測作業。

Description

光纖輔助夾具及其量測治具、檢測儀
本發明係一種光纖檢測技術領域,尤指一種自受測組件所延伸出的光纖引導進行水平量測的光纖輔助夾具、光纖量測治具以及光纖檢測儀。
光纖是光導纖維的簡寫,是一種由玻璃或塑膠製成的纖維,可作為光傳導工具。微細的光纖通過封裝在塑膠護套中,使得它能夠彎曲而不至於斷裂。通常,光纖的一端的發射裝置使用發光二極體(light emitting diode,LED)或一束鐳射將光脈衝傳送至光纖,光纖的另一端的接收裝置使用光敏元件檢測脈衝。光纖標準多、參數複雜、一般的非專業人員很難理解,主要可分為多模光纖以及單模光纖。多模光纖(Multi Mode Fiber):中心玻璃芯較粗(50或62.5μm),可傳多種模式的光。但其模間色散較大,這限制了傳輸數位信號的頻率,而且隨距離的增加會更加嚴重。單模光纖(Single Mode Fiber):中心玻璃芯很細(芯徑一般為9或10μm),只能傳一種模式的光。因此其模間色散很小,適用於遠端通訊,但還存在著材料色散和波導色散,這樣單模光纖對光源的譜寬和穩定性有較高的要求,即譜寬要窄,穩定性要好。
目前量測設備都是以光纖輸入最為普遍,然而相關耦光的透鏡及固裝結構太大,無法同時搭配顯微鏡來微調耦光機制,現行的光纖量測治具會被治具結構的限制檔住而不易操作;此外,因為透鏡光纖的聚焦及收光的能力非常好,外觀尺寸也只有125μm到240μm(常用尺寸),因此需要有搭配移動平台的延伸且容易在顯微鏡底下做細微的調整的功能,然而因為現行的光纖量測治具的結構限制,使得前述需求難以實現;再者,在進行量測時,治具結構中的輔助夾具的設計也相當重要。因為,輔助夾具除了導引光纖的行進方向之外,也要能在進行任一種光纖量測時,都有最小彎曲直徑以至於不會產生損耗的功能,因此如何能夠讓光纖具有特定角度範圍以入射到待測元件上,以解決上述結構限制以及光損的問題,是有待解決的重要課題。
有鑑於此,職是之故,發明人有鑑於習知技術中所產生之缺失,經過悉心試驗與研究,並一本鍥而不捨之精神,終構思出本發明以克服上述問題。
本發明之目的在於提出一種光纖輔助夾具、光纖量測治具以及光纖檢測儀,通過光纖輔助夾具的元件組成以及配置,藉由可活動夾持的方式以使光纖壓合固定並形成弧向彎曲延伸,從而使光纖的受測部分與量測試片形成水平配置並進行量測作業。
為達到本發明之其一目的,本發明提出一種光纖輔助夾具,其包括一光纖頭套件以及一光纖夾持組;光纖頭套件用以嵌設並固定一根 光纖的光纖頭部;光纖夾持組連接該光纖頭套件且包含:一定位支架件以及一可調夾持件,定位支架件具有一支撐架與設置於該支撐架一側的一定位溝槽,該支撐架的一第一端組接該光纖頭套件且該支撐架的一第二端設有一夾持母部,該定位溝槽用以放置自該光纖頭套件拉伸之該光纖的光纖束部;可調夾持件可活動地組接該支撐架,該可調夾持件的一端設有對應該夾持母部的一夾持公部,該夾持母部與該夾持公部之間具有一特定間隙,該光纖的光纖束部通過該夾持母部與該夾持公部之間的配合夾持固定;其中該可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使該夾持公部相對於該夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,而該第一軸向與該第二軸向係為互垂,當該可調夾持件位於第一擺動位置時,該夾持公部與該夾持母部之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖的最大線徑。
根據本發明一實施例,其中該可調夾持件包含組接該支撐架並作為支點的一支點部、自該支點部延伸的一支桿部以及連接該支桿部的該夾持公部,該支桿部為一直向桿件或斜向桿件,該夾持公部為自該支桿部沿一第三軸向延伸的一弧狀凸塊,該第三軸向與該第一軸向與該第二軸向形成互垂。
根據本發明一實施例,其中該夾持母部係為自該定位溝槽遠離該光纖頭套件的一端形成內凹的一平面或一弧面,當該夾持公部位於第一擺動位置時,該平面或該弧面上的一位置點係與該夾持公部保持該特定間隙。
根據本發明一實施例,其中夾持公部在對應該夾持母部的一端面係為一弧狀端面。
根據本發明一實施例,其中該定位溝槽為沿該第一軸向的一直向溝槽,該定位溝槽的底部為一U形輪廓、V形輪廓以及ㄩ型輪廓之前述任一者。
根據本發明一實施例,其中該定位溝槽的底部至頂部的二內壁為沿該第二軸向延伸的一直向壁面,該二壁面之間的最小寬度大於該光纖的最大線徑。
根據本發明一實施例,其中該第一擺動位置係根據該光纖的最大線徑做更動,該第一擺動位置係為用以夾持壓合該光纖的該光纖束部的擺動位置,該可調夾持件通過施力進行自由擺動且其擺動角度介於0~180度之間,以使該可調夾持件形成除了該第一擺動位置之外的一第二擺動位置,用以鬆開被夾持壓合之該光纖的該光纖束部。
為達到本發明之另一目的,本發明提出一種光纖量測治具,其包括:一光纖輔助夾具、一固定基座以及一定向底座;該光纖輔助夾具包含一光纖頭套件以及一光纖夾持組;光纖頭套件用以嵌設並固定一根光纖的光纖頭部;光纖夾持組連接該光纖頭套件且包含:一定位支架件以及一可調夾持件,定位支架件具有一支撐架與設置於該支撐架一側的一定位溝槽,該支撐架的一第一端組接該光纖頭套件而且該支撐架的一第二端設有一夾持母部,該定位溝槽用以放置自該光纖頭套件拉伸之該光纖的光纖束部;可調夾持件可活動地組接該支撐架,該可調夾持件的一端設有對應該夾持母部的一夾持公部,該夾持母部與該夾持公部之間具有一特定間隙, 該光纖的光纖束部為通過該夾持母部與該夾持公部之間的配合夾持固定;固定基座可拆卸地組接該光纖頭套件且可調整該光纖輔助夾具的擺設角度;該定向底座可拆卸地組接該定位支架件,該定向底座設有一定向溝槽,該定向溝槽用以放置自該定位溝槽拉伸之該光纖的光纖束部;其中該可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使該夾持公部相對於該夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,而該第一軸向與該第二軸向係為互垂,當該夾持公部位於第一擺動位置時,該夾持公部與該夾持母部之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖的最大線徑。
根據本發明一實施例,其中設有該定向溝槽之該定向底座的一側更設有一順向坡部,該順向坡部配置於該定向底座的一端,該順向坡部具有一弧向坡面或者一斜向坡面,該定向溝槽係自該順向坡部朝該定向底座的另一端延伸的溝槽,該定向溝槽自其底部至頂部形成一直向溝槽,該直向溝槽的最小寬度大於該光纖的最大線徑。
為達到本發明之另一目的,本發明提出一種光纖檢測儀,其包括一光纖量測治具以及一光纖檢測系統;光纖量測治具包含:一光纖輔助夾具、一固定基座以及一定向底座;該光纖輔助夾具包含一光纖頭套件以及一光纖夾持組;光纖頭套件用以嵌設並固定一根光纖的光纖頭部;光纖夾持組連接該光纖頭套件且包含:一定位支架件以及一可調夾持件,定位支架件具有一支撐架與設置於該支撐架一側的一定位溝槽,該支撐架的一第一端組接該光纖頭套件而且該支撐架的一第二端設有一夾持母部,該定位溝槽用以放置自該光纖頭套件拉伸之該光纖的光纖束部;可調夾持件可活動地組接該支撐架,該可調夾持件的一端設有對應該夾持母部的一夾 持公部,該夾持母部與該夾持公部之間具有一特定間隙,該光纖的光纖束部通過該夾持母部與該夾持公部之間的配合夾持固定;固定基座可拆卸地組接該光纖夾持組且可調整該光纖輔助夾具的擺設角度;該定向底座可拆卸地組接該定位支架件,該定向底座設有一定向溝槽,該定向溝槽用以放置自該定位溝槽拉伸之該光纖的光纖束部;其中該可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使該夾持公部相對於該夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,而該第一軸向與該第二軸向係為互垂,當該夾持公部位於第一擺動位置時,該夾持公部與該夾持母部之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖的最大線徑;光纖檢測系統包含:一量測平台、一耦合式光強測定單元、一顯微成像單元以及一運算處理單元,量測平台包含一主平台與配置在該主平台中間位置的一水平基座,該光纖輔助夾具通過該固定基座組接該主平台,以使通過可調夾持件夾持壓合後且自該定向溝槽拉伸出之該光纖的一裸光纖部平行指向該水平基座上的一光纖試片;耦合式光強測定單元用以實現對該光纖發光以及接收自該光纖試片進行光訊號轉換後的電壓訊號或電流訊號;顯微成像單元用以通過雙面全反射鏡對該光纖的端面進行成像;運算處理單元用以接收自該耦合式光強測定單元的電壓訊號或電流訊號並進行運算處理;其中該光纖量測治具配置數量為N個且N≧2,各該光纖量測治具的位置係為對向配置,以使通過可調夾持件夾持壓合後且自該定向溝槽拉伸出之每一該光纖的該裸光纖部,分別朝配置在該主平台中間位置的該水平基座平行指向該水平基座上的該光纖試片。
10:光纖檢測系統
11:量測平台
12:耦合式光強測定單元
121:光電接收電路
122:光源驅動電路
13:顯微成像單元
14:運算處理單元
20:固定基座
30:光纖輔助夾具
31:光纖頭套件
310:光纖套部
32:光纖夾持組
321:定位支架件
3210:定位溝槽
3211:支撐架
3211a:第一端
3211b:第二端
3212:夾持母部
322:可調夾持件
3222:夾持公部
3223:支點部
3224:支桿部
40:定向底座
41:定向溝槽
42:順向坡部
A1:第一軸向
A2:第二軸向
A3:第三軸向
LB:光纖
LB1:光纖頭部
LB2:光纖束部
LB3:裸光纖部
S:光纖試片
圖1~4係分別繪製本發明之光纖輔助夾具不同角度的外觀示意圖。
圖5係繪製本發明之定位支架件的結構示意圖。
圖6係繪製本發明之光纖量測治具的外觀示意圖。
圖7係繪製本發明之定向底座的結構示意圖。
圖8係繪製本發明之光纖檢測儀的配置示意圖。
圖9係繪製本發明之圖8的局部放大示意圖(進行光纖水平量測作業)。
有關本發明的詳細說明及技術內容,配合圖式說明如下,然而所附圖式僅提供參考與說明用,並非用來對本發明加以限制。以下結合附圖對本發明的各種實施例進行詳細描述,但本發明並不僅僅限於這些實施例。本發明涵蓋任何在本發明的精髓和範圍上做的替代、修改、等效方法以及方案。為了使公眾對本發明有徹底的瞭解,在以下本發明優選實施例中詳細說明瞭解具體的細節,而對本領域技術人員來說沒有這些細節的描述也可以完全理解本發明。
以下配合圖式及本發明之較佳實施例,進一步闡述本發明為達成欲定發明目的所採取得技術手段,有關本發明之詳細說明及技術內容,所附圖式僅提供參考與說明用,並非用來對本發明加以限制者。在本發明下述的說明中,術語“上”、“下”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關係為基於附圖所示的方位或位置關係,僅是為了便於描述本發明簡化說明,而不是指示的文中各裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作,因此不能理解為對本發明的限制
請參閱圖1~9所示,其分別繪製本創作之光纖輔助夾具的不同角度的外觀的示意圖、光纖量測治具不同角度的外觀示意圖以及光纖檢 測儀的結構圖以及方塊示意圖。各圖示中分別以標示相互垂直的第一軸向A1、第二軸向A2以及第三軸向A3作為參考座標,以便於審查委員能夠更清楚理解本創作之技術特徵。本發明所提出的一種光纖輔助夾具,其包括:一光纖頭套件31以及一光纖夾持組32;該光纖頭套件31主要用以嵌設並固定一根光纖LB的一光纖頭部LB1;該光纖夾持組32則連接該光纖頭套件31且該光纖夾持組32包含一定位支架件321以及一可調夾持件322。
承上所述,該定位支架件321具有一支撐架3211與設置於該支撐架3211一側的一定位溝槽3210,該支撐架3211的一第一端3211a組接該光纖頭套件31,且該支撐架3211的一第二端3211b設有一夾持母部3212,該定位溝槽3210用以放置自該光纖頭套件31拉伸之該光纖LB的光纖束部LB2;可調夾持件322則可活動地組接該支撐架3211,該可調夾持件322的一端設有對應該夾持母部3212的一夾持公部3222,該夾持母部3212與該夾持公部3222之間具有一特定間隙,該光纖LB的光纖束部LB2通過該夾持母部3212與該夾持公部3222之間的配合夾持固定該光纖LB的該光纖束部LB2,該特定間隙係略小於該光纖LB的最大線徑。
在此說明,該可調夾持件322係以組接該支撐架3211的一端作為支點,而組接該支撐架3211的方式可通過樞接方式,從而使該夾持公部3222以該支點相對於該夾持母部3212通過施予外力以沿該第一軸向A1與該第二軸向A2所構成的平面形成擺動。當使用者通過該光纖頭套件31固定光纖LB的光纖頭部LB1,並且將該光纖束部LB2順直後沿著定位溝槽3210,爾後將該可調夾持件322調整到位於第一擺動位置,該第一擺動位置亦即夾持位置,以使該夾持公部3222與該夾持母部3212之間保持該特定間隙,從而使該光纖束部LB2被夾固於該夾持公部3222與該夾持母部3212之間,如圖4。進一步說明,原則上,以500μm線徑的光纖為例來設計,本發明所述之光纖輔助夾具主要只是通過該可調夾持件322夾持光纖來抵銷 光纖本身抵抗彎折的彈性,來達成不產生彎曲損耗的入射角度。現行因為越粗的光纖有越難彎折的脆性,因此本發明所述之光纖輔助夾具主要應用於光纖線徑≦500μm的為主。
根據本發明一實施例,其中該光纖頭套件31具有一光纖套部310,該光纖套部310用以使光纖LB的光纖頭部LB1穿設於其中,而且該光纖套部310可以通過施予外力以沿該第一軸向A1與該第二軸向A2所構成的平面形成擺動,通過該光纖套部310的角度調整以使光纖束部LB2能平順地擺放定貼抵於該定位溝槽3210的底面。
根據本發明一實施例,其中該定位溝槽3210為沿該第一軸向A1的一直向溝槽,該定位溝槽3210的底部為一U形輪廓、V形輪廓以及ㄩ型輪廓之前述任一者,如圖5A~5C。
根據本發明一實施例,其中該第一擺動位置係根據該光纖LB的最大線徑做更動,該第一擺動位置係為用以夾持壓合該光纖的該光纖束部LB2的擺動位置,該可調夾持件322通過外部施力進行自由擺動且其擺動角度介於0~180度之間,以使該可調夾持件322形成除了該第一擺動位置之外的一第二擺動位置,用以鬆開被夾持壓合之該光纖LB的該光纖束部LB2,如圖2可表示為該可調夾持件322位於該第一擺動位置;如圖3可表示為該可調夾持件322位於該第二擺動位置。
根據本發明一實施例,其中該可調夾持件322包含組接該支撐架3211並作為支點的一支點部3223、自該支點部3223延伸的一支桿部3224、以及連接該支桿部3224的該夾持公部3222,該支桿部3224為一直向桿件,該夾持公部3222為自該支桿部3224沿一第三軸向A3延伸的一弧狀凸塊,該第三軸向A3與該第一軸向A1與該第二軸向A2形成互垂,如圖2~3。
根據本發明一實施例,其中該夾持母部3212配置在自該定位溝槽3210為遠離該光纖頭套件31的一端,而該夾持母部3212的構造為內 凹的一平面或一弧面,當該夾持公部3222位於第一擺動位置時,該平面或該弧面上的任一位置點係與該夾持公部3222保持該特定間隙。
根據本發明一實施例,其中該夾持公部3222在對應該夾持母部3212的一端面係為一弧狀端面。
根據本發明一實施例,其中該定位溝槽3210的底部至頂部的二內壁為沿該第二軸向A2延伸的一直向壁面、或者為朝該第二軸向A2延伸漸擴的一斜向壁面,該二壁面之間的最小寬度大於該光纖LB的最大線徑。
基於上述的光纖輔助夾具30,本發明再提出一種光纖量測治具,如圖6~7所示;在本實施例中,關於光纖輔助夾具30的部分請參考上述各實施例說明,在此不另行贅述。該光纖量測治具300主要包括上述各實施例所述的光纖輔助夾具30、一固定基座20以及一定向底座40,其中該固定基座20可拆卸地組接該光纖夾持組32且可調整該光纖輔助夾具30的擺設角度;定向底座40則可拆卸地組接該定位支架件321,該定向底座40設有一定向溝槽41,該定向溝槽41用以放置自該定位溝槽3210拉伸之該光纖LB的光纖束部LB2;其中該可調夾持件322係以組接該支撐架3211為支點,從而使該夾持公部3222相對於該夾持母部3212沿該第一軸向A1與該第二軸向A2所構成的平面形成擺動,而該第一軸向A1與該第二軸向A2係為互垂,當該夾持公部3222位於第一擺動位置時,該夾持公部3222與該夾持母部3212之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖LB的最大線徑。
根據本發明一實施例,其中該定向底座40為鄰近光纖輔助夾具30的一側設有一順向坡部42,該順向坡部42配置於該定向底座40的一端,該順向坡部42具有一弧向坡面或者一斜向坡面,該定向溝槽41係自該順向坡部42朝該定向底座40的另一端延伸的溝槽,該定向溝槽41的底部至 頂部的二內壁為一直向溝槽或者一漸擴溝槽,該定向溝槽41的最小寬度大於該光纖LB的最大線徑。
根據本發明一實施例,其中該定向溝槽41為一直向溝槽,該定向溝槽41的底部為一U形輪廓、V形輪廓以及ㄩ型輪廓之前述任一者,可參考圖5A~5C所表示的實施例。
基於上述的光纖量測治具,本發明再提出一種光纖檢測儀,如圖8~9所示;在本實施例中,關於光纖輔助夾具30以及光纖量測治具300的部分請參考上述各實施例說明,在此不另行贅述。光纖檢測儀3包括:上述光纖量測治具300以及一光纖檢測系統10,包含一量測平台11、一耦合式光強測定單元12、一顯微成像單元13以及一運算處理單元14;其中量測平台11包含一主平台110與配置在該主平台110中間位置的一水平基座111,該光纖輔助夾具30通過該固定基座20組接該主平台110,以使通過該可調夾持件322夾持壓合後,自該定向溝槽41拉伸出之該光纖LB的一裸光纖部LB3平行指向該水平基座111上的一光纖試片S。
耦合式光強測定單元12設置於水平基座111內,耦合式光強測定單元12具有一光電接收電路121以及一光源驅動電路122,光電接收電路121以及光源驅動電路122分別連接該運算處理單元14,用以實現對該光纖發光以及接收自該光纖試片S進行光訊號轉換後的電壓訊號或電流訊號;運算處理單元14用以接收經該耦合式光強測定單元12的電壓訊號或電流訊號並進行運算處理;顯微成像單元13設有雙面全反射鏡,主要用以對該光纖的端面成像。
根據本發明一實施例,其中該光纖量測治具配置數量為N個且N≧2,各該光纖量測治具的位置係為對向配置,以使通過可調夾持件322夾持壓合後且自該定向溝槽41拉伸出之每一該光纖LB的該裸光纖部LB3,分別朝配置在該主平台110中間位置的該水平基座111平行指向該水 平基座111上的該光纖試片S,其中該光纖試片S為光二極體(Photodiode chip),能夠將光根據使用方式,轉換成電流或者電壓訊號的光探測器。
補充說明,該裸光纖部LB3的尖端距離光纖試片S的間距主要根據量測平台上方的顯微成像單元13觀測能力做設定;為了讓耦光的功率及光斑可以均勻,基本上大於80度的入射角度將是比較合適的耦光角度,因此延伸的光纖與角度的搭配也要計算避免阻擋到上方顯微成像單元13的影像判斷。通過以雷射收光方式引導光線進入到光纖中,就能導引進入光纖檢測儀進行測試,藉由透鏡光纖進行聚焦的能力,將光能量耦入極小的Photodiode chip中,就可以轉換電流達到訊號處理的分析。
綜上所述,本發明所述之光纖輔助夾具、光纖量測治具以及光纖檢測儀,通過光纖輔助夾具的元件組成以及配置,藉由可活動夾持的方式以使光纖壓合固定並形成弧向彎曲延伸,讓光纖能夠大於80度角的入射到待測元件上,使用斜角及彎曲壓片的結構設計來達到這個沒有光損的彎曲功能,再者上方的顯微鏡也不會受到導槽的遮擋影響耦光的判斷,從而使光纖的受測部分與量測試片形成水平配置並進行量測作業。光纖輔助夾具所搭配的透鏡光纖會依照客戶需求來製作,選用的波長,光纖的導光直徑,焦距都直接會影響到耦光的效率,量測平移台則是微動的設計讓透鏡光纖以微米的解析度調整以取得最佳的耦光效率。
雖然本發明以前述之較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習相像技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。惟以上之具體實施例,僅係用於例釋本發明之特點及功效,而非用於限定本發明之可實施範疇,於未脫離本發明上揭之精神與技術範疇下,任何運用本發明所揭示內容而完成之等效改變及修飾,均仍應為下述之申請專利範圍所涵蓋。
31:光纖頭套件
310:光纖套部
32:光纖夾持組
3210:定位溝槽
3211:支撐架
3211a:第一端
3211b:第二端
3212:夾持母部
322:可調夾持件
3222:夾持公部
A1:第一軸向
A2:第二軸向
LB1:光纖頭部
LB2:光纖束部
LB3:裸光纖部

Claims (10)

  1. 一種光纖輔助夾具,其包括:一光纖頭套件,用以嵌設並固定一根光纖的光纖頭部;一光纖夾持組,連接該光纖頭套件且包含:一定位支架件,具有一支撐架與設置於該支撐架一側的一定位溝槽,該支撐架的一第一端組接該光纖頭套件,且該支撐架的一第二端設有一夾持母部,該定位溝槽用以放置自該光纖頭套件拉伸之該光纖的光纖束部;以及一可調夾持件,可活動地組接該支撐架,該可調夾持件的一端設有對應該夾持母部的一夾持公部,該夾持母部與該夾持公部之間具有一特定間隙,該光纖的光纖束部通過該夾持母部與該夾持公部之間的配合夾持固定;其中該可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使該夾持公部相對於該夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,而該第一軸向與該第二軸向為互垂,當該可調夾持件位於第一擺動位置時,該夾持公部與該夾持母部之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖的最大線徑。
  2. 如申請專利範圍第1項之光纖輔助夾具,其中該可調夾持件包含組接該支撐架並作為支點的一支點部、自該支點部延伸的一支桿部以及連接該支桿部的該夾持公部,該支桿部為一直向桿件,該夾持公部為自該支桿部沿一第三軸向延伸的一弧狀凸塊,該第三軸向與該第一軸向與該第二軸向形成互垂。
  3. 如申請專利範圍第2項之光纖輔助夾具,其中該夾持母部係為自該定位溝槽遠離該光纖頭套件的一端形成內凹的一平面或一弧 面,當該夾持公部位於第一擺動位置時,該平面或該弧面上的一位置點係與該夾持公部保持該特定間隙。
  4. 如申請專利範圍第3項之光纖輔助夾具,其中該夾持公部在對應該夾持母部的一端面係為一弧狀端面。
  5. 如申請專利範圍第1項之光纖輔助夾具,其中該定位溝槽為沿該第一軸向的一直向溝槽,該定位溝槽的底部為一U形輪廓、V形輪廓以及ㄩ型輪廓之前述任一者。
  6. 如申請專利範圍第5項之光纖輔助夾具,其中該定位溝槽的底部至頂部的二內壁為沿該第二軸向延伸的一直向壁面,該二壁面之間的最小寬度大於該光纖的最大線徑。
  7. 如申請專利範圍第1項之光纖輔助夾具,其中該第一擺動位置係根據該光纖的最大線徑做更動,該第一擺動位置係為用以夾持壓合該光纖的該光纖束部的擺動位置,該可調夾持件通過施力進行自由擺動且其擺動角度介於0~180度之間,以使該可調夾持件形成除了該第一擺動位置之外的一第二擺動位置,用以鬆開被夾持壓合之該光纖的該光纖束部。
  8. 一種光纖量測治具,其包括:如申請專利範圍第1~7之任一項的光纖輔助夾具;一固定基座,可拆卸地組接該光纖夾持組且可調整該光纖輔助夾具的擺設角度;以及一定向底座,可拆卸地組接該定位支架件,該定向底座設有一定向溝槽,該定向溝槽用以放置自該定位溝槽拉伸之該光纖的光纖束部;其中該可調夾持件係以組接該支撐架為支點,從而使該夾持公部相對於該夾持母部沿一第一軸向與一第二軸向所構成的平面形成擺動,而該第一軸向與該第二軸向係為互垂,當該夾持公部位於第一擺動位置時, 該夾持公部與該夾持母部之間保持該特定間隙,該特定間隙係略小於該光纖的最大線徑。
  9. 如申請專利範圍第8項之光纖量測治具,其中設有該定向溝槽之該定向底座的一側更設有一順向坡部,該順向坡部配置於該定向底座的一端,該順向坡部具有一弧向坡面或者一斜向坡面,該定向溝槽係自該順向坡部朝該定向底座的另一端延伸的溝槽,該定向溝槽由其底部至頂部形成一直向溝槽或者一漸擴溝槽,而該直向溝槽的最小寬度大於該光纖的最大線徑。
  10. 一種光纖檢測儀,其包括:如申請專利範圍第8項所述之光纖量測治具;以及一光纖檢測系統,包含:一量測平台,包含一主平台與配置在該主平台中間位置的一水平基座,該光纖輔助夾具通過該固定基座組接該主平台,以使通過可調夾持件夾持壓合後且自該定向溝槽拉伸出之該光纖的一裸光纖部平行指向該水平基座上的一光纖試片;一耦合式光強測定單元,用以實現對該光纖發光以及接收自該光纖試片進行光訊號轉換後的電壓訊號或電流訊號;一顯微成像單元,通過雙面全反射鏡對該光纖的端面進行成像;一運算處理單元,用以接收自該耦合式光強測定單元的電壓訊號或電流訊號並進行運算處理;其中該光纖量測治具配置數量為N個且N≧2,各該光纖量測治具的位置係為對向配置,以使通過可調夾持件夾持壓合後且自該定向溝槽拉伸出之每一該光纖的該裸光纖部,分別朝配置在該主平台中間位置的該水平基座平行指向該水平基座上的該光纖試片。
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