TWI697730B - 相機模組測試治具 - Google Patents
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Abstract
一種相機模組測試治具,包括一座體以及一治具塊模組,其中所述治具塊模組包括相互獨立的一第一治具塊、一第二治具塊及一第三治具塊,所述第一治具塊、所述第二治具塊及所述第三治具塊可拆卸地固定於所述座體上;所述第一治具塊、所述第二治具塊以及所述第三治具塊分別用於收容鏡頭元件、軟板以及連接元件。本發明當待測試的相機模組進行外型改變的時候,可以視情況更改所述治具塊模組的某一單一治具塊,而不用整個報廢。
Description
本發明涉及一種測試治具,尤其涉及一種相機模組測試治具。
隨著相機模組的應用越來越廣,許多3C產品(3C產品是指電腦(Computer)、通信(Communication)和消費類電子產品(Consumer Electronics),亦稱“資訊家電”)都有裝設相機模組的需求。產線上通常使用測試治具對相機模組進行功能測試。一般而言,測試治具上都會開設有與相機模組相匹配的容置槽,用於容納該相機模組。但由於開發階段客戶會經常更改相機模組外型,而測試治具的容置槽並不能適用於任何外形的相機模組,這樣會導致產線需根據不同外型的相機模組製作不同的測試治具,從而增加製作成本。
有鑑於此,有必要提供一種相機模組測試治具,能夠解決以上問題。
一種相機模組測試治具,用於測試一相機模組,所述相機模組包括一鏡頭元件、一軟板及一連接元件,所述軟板連接於所述鏡頭元件與所述連接元件之間,所述相機模組測試治具包括一座體以及一治具塊模組,其中所述治具塊模組包括相互獨立的一第一治具塊、一第二治具塊及一第三治具塊。
所述第一治具塊、所述第二治具塊及所述第三治具塊可拆卸地固定於所述座體上。所述第一治具塊、所述第二治具塊以及所述第三治具塊分別用於***述鏡頭元件、所述軟板以及所述連接元件。
進一步地,所述座體設有一第一容納槽、一第二容納槽及一第三容納槽。所述第一容納槽用於容置所述第一治具塊,所述第一治具塊設有一用於容置所述鏡頭元件的鏡頭容置區,所述第二容納槽用於容置所述第二治具塊,所述第二治具塊設有一用於容置所述軟板的軟板容置區,所述第三容納槽用於容置所述第三治具塊,所述第三治具塊包括一導位塊,所述導位塊用於輔助所述連接元件在所述第三容納槽中進行對位,所述第一容納槽與所述第二容納槽之間連通,所述第二容納槽與所述第三容納槽之間連通。
進一步地,於所述鏡頭容置區設有一吸盤,與所述軟板容置區設有若干通氣孔。
於所述第一容納槽設有一第一通孔,於所述第二容納槽設有一第二通孔;所述吸盤與所述第一通孔聯通,所述通氣孔與所述第二通孔聯通,且所述第一通孔與所述第二通孔均與一真空抽氣單元相連接,所述真空抽氣單元用於測試時抽氣產生負壓,進而將收容於所述鏡頭容置區的所述鏡頭組件及收容於所述軟板容置區的所述軟板固定。
進一步地,所述相機模組測試治具還包括一上蓋板,所述上蓋板於靠近所述治具塊模組的一側設有一第一治具推塊。
所述第一治具塊還包括遠離所述座體的表面設置的一側推機構及一基準塊,其中所述側推機構及所述基準塊設於所述鏡頭容置區相對的兩側。所述側推機構包括一側推塊以及一回拉彈簧,所述回拉彈簧一端固定在所述第一治具塊內,另一端固定在所述側推塊上。所述基準塊具有一第一承靠面及垂
直於第一承靠面的第二承靠面,所述第一承靠面及所述第二承靠面朝向所述鏡頭容置區設置且所述第一承靠面及所述第二承靠面均垂直於所述座體;
所述第一治具推塊用於伸入所述第一容納槽,並推動所述側推機構直至其抵靠在所述第一承靠面和/或所述第二承靠面,所述回拉彈簧用於拉動所述側推塊復位。
進一步地,所述上蓋板還設有一鏡頭推塊;所述鏡頭推塊收容於貫穿所述上蓋板而形成的一開孔內,所述鏡頭推塊於所述開孔的中心位置處設有一檢測孔,所述檢測孔用於在測試時與所述鏡頭元件對準。
進一步地,所述上蓋板於所述第一治具推塊的同側還設有一第二治具推塊。
所述第三容納槽於所述第一治具塊對應位置處內還收容有一針托,所述針托內設有測試探針。
所述第二治具推塊用於伸入所述第三容納槽,並抵靠所述連接元件,實現所述連接元件與所述測試探針的電連接。
進一步地,所述上蓋板上於所述第一治具推塊的同側還還凸出設有定位柱。
所述座體於靠近所述上蓋板的一側還設有若干墊環及與所述定位柱相對應的定位孔,其中,所述定位柱用於伸入所述定位孔,所述墊環用於與所述上蓋板接觸同時止擋所述上蓋板的移動。
進一步地,所述上蓋板於所述遠離所述治具塊模組的一側設有一抗反光板,所述抗反光板與所述上蓋板形狀相同,用於減少環境中光線對所述相機模組在測試中產生的不良影響。
進一步地,所述相機模組測試治具還包括一致動模組,所述致動模組包括一本體,所述上蓋板固定於所述本體上,所述本體用於帶動所述上蓋板沿平行於所述座體方向往復運動或沿垂直於所述座體的方向往復移動。
進一步地,所述相機模組測試治具還包括一固定板及一底座,所述座體與所述致動模組均固定在所述底座的同側;且所述座體藉由所述固定板固定在所述底座上。
所述固定板上設有一檢測電路板,所述檢測電路板與設於其上的所述針托電連接,所述電路板由於測試所述相機模組的電學性能。
本發明把用於容置相機模組的治具塊模組劃分為獨立的幾個治具塊,這樣當待測試的相機模組進行外型改變的時候,就可以視情況更改相應的治具塊,而不用整個報廢。
100:相機模組測試治具
10:上蓋板
10a:第一表面
10b:第二表面
10c:抗反光板
101:開孔
102:鏡頭推塊
102a:檢測孔
103:第一治具推塊
103a:第三表面
103b:第四表面
103c:曲面
103d:固定座
104:第二治具推塊
104a:第一端面
104b:第二端面
104c:凸部
106:定位柱
20:座體
20a:第五表面
20b:第六表面
201:第一容納槽
201a:第一通孔
202:第二容納槽
202a:第二通孔
203:第三容納槽
203a:第三通孔
204:定位孔
205:墊環
30:治具塊模組
301:第一治具塊
3011:鏡頭容置區
3011a:基準塊
3011b:第一承靠面
3011c:第二承靠面
3011d:吸盤
3012a:側推機構
3012b:側推塊
302:第二治具塊
302a:軟板容置區
303:第三治具塊
303a:導位塊
303b:針托
303c:測試探針
303d:導位面
303e:針托座
303f:探針容置部
40:致動模組
401:本體
402:導軌
50:底座
60:相機模組
601:鏡頭組件
602:軟板
603:連接元件
70:固定板
701:真空抽氣管
702:電路板
圖1為本發明的實施方式中相機模組測試治具的結構示意圖。
圖2為圖1中所示相機模組測試治具的分解圖。
圖3為圖1所示相機模組測試治具的另一角度的分解圖。
圖4為圖1所示測試模組治具測試時的剖面示意圖。
下面將結合本發明實施方式中的附圖,對本發明實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施方式僅僅是本發明一部分實施方式,而不是全部的實施方式。基於本發明中的實施方式,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施方式,都屬於本發明保護的範圍。
需要說明的是,當元件被稱為“固定在”另一個元件,它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件,它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。當一個元件被認為是“設置於”另一個元件,它可以是直接設置在另一個元件上或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“垂直”、“水準”以及類似的表述只是為了說明的目的。
除非另有定義,本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施方式的目的,不是旨在於限製本發明。本文所使用的術語“和/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
請參照圖1,一種相機模組測試治具100,用於測試相機模組60的性能是否符合特定要求,其中,該相機模組60包括一鏡頭元件601、一軟板602及一連接元件603;其中該鏡頭元件601及該連接元件603藉由該軟板602連接。
該相機模組測試治具100包括一上蓋板10、一座體20、一治具塊模組30、一致動模組40、一底座50及一真空抽氣單元(圖未示);
其中,該治具塊模組30可拆卸的固定在該座體20上,該座體20與該致動模組40均固定在該底座50的同側;該真空抽氣單元設於該底座50的與該致動模組40和該座體20相對的另一側,且該真空抽氣單元藉由真空抽氣管701與該治具塊模組30連接;
該上蓋板10固定於該致動模組40上,該上蓋板10可在該致動模組40帶動下水準移動至該治具塊模組30的上方,也可以在該致動模組40帶動下沿垂直該座體20方向運動。進一步地,該致動模組40包括一本體401及兩個導軌402,該上蓋板10固定於該本體401上。該本體401既可以可沿該導軌402水準往
復運動又可以可沿垂直該導軌402的方向垂直往復運動,進而帶動該上蓋板10沿該導軌402水準往復運動或沿垂直於該導軌402的方向垂直往復移動。
在本實施方式中,該相機模組測試治具100還包括一固定板70,該座體20藉由該固定板70設置於該底座50上。
請一併參見圖2-圖4,該上蓋板10大致呈矩形,且該上蓋板10上設有一鏡頭推塊102、一第一治具推塊103及一第二治具推塊104。
該上蓋板10具有一第一表面10a以及一平行於該第一表面10a的第二表面10b。該第一表面10a上方固定有一抗反光板10c,該抗反光板10c與該上蓋板10具有相同的形狀,其用於減少環境中光線對該相機模組60在測試中產生的不良影響。該上蓋板10藉由該第二表面10b固定在該致動模組40之上。
貫穿該上蓋板10及該抗反光板10c形成有一開孔101,該鏡頭推塊102容置於該開孔101中,該鏡頭推塊102於該開孔101圓心位置處開設有一檢測孔102a,測試時,該檢測孔102a與該鏡頭元件601對準。
該第一治具推塊103設置於該上蓋板10的第二表面10b上鄰近該檢測孔102a的位置,該第一治具推塊103大致呈長方體形,其具有一垂直於該第二表面10b的第三表面103a以及一垂直於該第三表面103a且平行於該第二表面10b的第四表面103b,該第三表面103a與該第四表面103b藉由一曲面103c相接。於該第一治具推塊103靠近該第二表面10b的一端延伸出一固定座103d,該第一治具推塊103藉由該固定座103d固定連接於該第二表面10b。
該第二治具推塊104設置於該上蓋板10的第二表面10b,該第二治具推塊104大致呈長方體形,其具有一平行於該第二表面10b的第一端面104a,於該第一端面104a凸出形成一凸部104c。
於該上蓋板10的第二表面10b上還凸設有定位柱106。
該座體20大致呈矩形,其具有一第五表面20a及一平行於該第五表面20a的第六表面20b。該座體20藉由第六表面20b固定在該固定板70之上。
於該第五表面20a上開設有一第一容納槽201、一第二容納槽202及一第三容納槽203,其中該第一容納槽201與該第二容納槽202之間連通,該第二容納槽202與該第三容納槽203之間連通。
於該第一容納槽201、該第二容納槽202及該第三容納槽203還分別設有一第一通孔201a、一第二通孔202a及一第三通孔203a。且該第一通孔201a、該第二通孔202a及該第三通孔203a均貫穿該第五表面20a以及該第六表面20b。
於該第五表面20a上還設有若干與該定位柱106相對應的定位孔204,於該第五表面20a上還凸設有若干墊環205,該墊環205用於承靠該上蓋板10,從而阻止所述上蓋板10繼續運動。該致動模組40帶動設有該定位柱106的該上蓋板10水準移動至該治具塊模組30的上方,使得該定位柱106對準該定位孔204,繼而帶動該設有該定位柱106的該上蓋板沿垂直該座體20的方向靠近該座體20,使得該定位柱106伸入該定位孔204中,直至該第二表面10b與該墊環205接觸。其中,該墊環205可採用彈性材質製得。
該治具塊模組30包括相互獨立的一第一治具塊301、一第二治具塊302、一第三治具塊303,該第一治具塊301、該第二治具塊302及該第三治具塊303均可拆卸地固定在該座體20上,其中該第一治具塊301與該第一容納槽201相對應,且該第一治具推塊103可伸入該第一容納槽201;該第二治具塊302與該第二容納槽202對應;該第三治具塊303與該第三容納槽203對應,且該第二治具推塊104可伸入該第三容納槽203內。
該第一治具塊301可拆卸地固定於該第一容納槽201中,該第一治具塊301大致呈方形,其遠離該座體20的表面設有一鏡頭容置區3011、一側推機構3012a及一基準塊3011a。該鏡頭容置區3011用於容置鏡頭元件601,該鏡頭容
置區3011可以依照該鏡頭元件601的實際形狀和大小改變。該側推機構3012a及該基準塊3011a設於該鏡頭容置區3011相對的兩側。
在本實施例中,該側推機構3012a包括一側推塊3012b以及一回拉彈簧(圖未示),該回拉彈簧一端固定在該第一治具塊301內,另一端固定在該側推塊3012b上。在該第一治具推塊103可伸入該第一容納槽201的過程中,該側推塊3012b可與該第一治具推塊103的該曲面103c相抵靠,同時推動該第一側推塊3012b向靠近該基準塊3011a方向移動,此時該回拉彈簧拉伸,在該第一治具推塊103退出該第一容納槽201後,該回拉彈簧的彈性回復力用於拉動該側推塊3012b復位。
該基準塊3011a具有一第一承靠面3011b及垂直於第一承靠面3011b的第二承靠面3011c,該第一承靠面3011b及該第二承靠面3011c朝向該鏡頭容置區3011設置且該第一承靠面3011b及該第二承靠面3011c均垂直於該第五表面20a。
測試時,該上蓋板10在該致動模組40帶動下移動至該治具塊模組30的上方,然後在該致動模組40的帶動下向靠近該治具塊模組30移動。請參見圖4,在該第一治具推塊103伸入該第一容納槽201的過程中,該曲面103c推動該側推塊3012b,該側推塊3012b繼而推動該鏡頭組件601直至其抵靠在該第一承靠面3011b和/或該第二承靠面3011c。測試完後,該第一治具推塊103遠離該第一治具塊301,該側推機構3012a在該回拉彈簧的回復力的拉動下退回至原位置。藉由該側推塊3012b將該鏡頭元件601推靠在該基準塊3011a上,方便了該鏡頭元件601與該鏡頭推塊102對準,提高了測試的效率。
進一步地,在本實施例中,該鏡頭容置區3011內固定有一吸盤3011d,該真空抽氣管701穿過該第一通孔201a並與該吸盤3011d連通,測試時,該真空抽氣單元抽氣,產生的負壓會使該吸盤3011d吸附該鏡頭組件601,從而
固定該鏡頭組件601,測試完成後,該真空抽氣單元停止抽氣,該鏡頭組件601與該吸盤3011d脫離。藉由抽真空的方式來固定該鏡頭元件601可以防止鏡頭元件601的翹曲,提高測試的精度。
該第二治具塊302可拆卸地固定於該第二容納槽202中,該第二治具塊302的表面凹設有一軟板容置區302a,該軟板容置區302a用於容置該軟板602。該軟板容置區302a可以依照該相機模組60的軟板602的實際形狀和大小改變。
進一步地,在本實施例中,該軟板容置區302a內開設有若干通氣孔302b,該通氣孔302b與該第二通孔202a連通,該真空抽氣管701與該第二通孔202a連通,測試時,該真空抽氣單元抽氣,產生的負壓會將該軟板602與第二治具塊302壓緊,從而暫時固定該軟板602,測試完成後,該真空抽氣單元停止抽氣,該軟板602與該第二治具塊302脫離。藉由抽真空的方式來固定該軟板602可以防止該軟板602的曲翹,提高測試的精度。
該第三治具塊303可拆卸地固定於該第三容納槽203中,其包括一導位塊303a,其中該導位塊303a為一方形塊,其具有一導位面303d,該導位面303d用於輔助該相機模組60的該連接元件603在該第三容納槽203中進行對位。
具體地,該固定板70上設有一檢測電路板702,該檢測電路板702上設有一針托303b,該針托303b穿過該第三通孔203a收容於該第三容納槽203中,且臨近該導位塊303a設置。該針托303b包括一針托座303e及從該針托座303e向遠離該固定板70延伸形成的一探針容置部303f。該探針容置部303f中具有一凹槽(圖未標),該凹槽於靠近該導位塊303a的一側貫穿該探針容置部303f以形成一開口(圖未示),該導位塊303a位於該開口處以使該凹槽的周緣封閉,部分該連接元件603收容在該凹槽內。
進一步地,該凹槽的底面設有測試探針303c,該測試探針303c與該檢測電路板702電連接,當該連接元件603放入該第三容納槽203時,該測試探針303c與該連接元件603電連接,該檢測電路板702由於測試該相機模組60的電學性能。
測試時,該上蓋板10在該致動模組40帶動下移動至該治具塊模組30的上方,然後在該致動模組40的帶動下向靠近該治具塊模組30移動。當該第二治具推塊104的伸入該第三容納槽203的過程中,該第二治具推塊104的該凸部104c伸入該凹槽中,並抵靠該連接元件603,實現該測試探針303c與該連接元件603的穩固電連接;測試完成後,該第二治具推塊104退出該凹槽,該測試探針303c與該連接元件603斷開電連接。
本發明提供的相機模組測試治具採用了分體式模組設計,將原有的用於容置所述相機模組的治具塊模組劃分為獨立的多個治具塊,即,第一治具塊、第二治具塊及第三治具塊。使得當相機模組外型改變的時候,就可以視情況更改相應的治具塊的結構,而不用整個報廢。
可以理解的是,對於本領域的普通技術人員來說,可以根據本發明的技術構思做出其它各種相應的改變與變形,而所有這些改變與變形都應屬於本發明權利要求的保護範圍。
100:相機模組測試治具
10:上蓋板
10c:抗反光板
101:開孔
102:鏡頭推塊
102a:檢測孔
20:座體
204:定位孔
205:墊環
30:治具塊模組
301:第一治具塊
302:第二治具塊
303:第三治具塊
303a:導位塊
303b:針托
40:致動模組
401:本體
402:導軌
50:底座
60:相機模組
601:鏡頭組件
602:軟板
603:連接元件
70:固定板
Claims (9)
- 一種相機模組測試治具,用於測試一相機模組,所述相機模組包括一鏡頭元件、一軟板及一連接元件,所述軟板連接於所述鏡頭元件與所述連接元件之間,其改進在於,所述相機模組測試治具包括一座體以及一治具塊模組,其中所述治具塊模組包括相互獨立的一第一治具塊、一第二治具塊及一第三治具塊,所述第一治具塊、所述第二治具塊及所述第三治具塊可拆卸地固定於所述座體上;所述第一治具塊、所述第二治具塊以及所述第三治具塊分別用於***述鏡頭元件、所述軟板以及所述連接元件;所述座體設有一第一容納槽、一第二容納槽及一第三容納槽;所述第一容納槽用於容置所述第一治具塊,所述第一治具塊設有一用於容置所述鏡頭元件的鏡頭容置區,所述第二容納槽用於容置所述第二治具塊,所述第二治具塊設有一用於容置所述軟板的軟板容置區,所述第三容納槽用於容置所述第三治具塊,所述第三治具塊包括一導位塊,所述導位塊用於輔助所述連接元件在所述第三容納槽中進行對位,所述第一容納槽與所述第二容納槽之間連通,所述第二容納槽與所述第三容納槽之間連通。
- 如請求項第1項所述之相機模組測試治具,其中:所述第一治具塊於所述鏡頭容置區設有一吸盤,所述軟板容置區內設有若干通氣孔;於所述第一容納槽設有與所述通氣孔連通的一第一通孔,於所述第二容納槽設有一第二通孔;所述相機模組測試治具還包括一真空抽氣單元,所述真空抽氣單元用於測試時抽氣產生負壓,進而藉由所述第一通孔以及所述通氣孔吸附收容於所述鏡頭容置區的所述鏡頭元件,及藉由所述第二通孔吸附收容於所述軟板容置區的所述軟板。
- 如請求項第1項所述之相機模組測試治具,其中:所述相機模組測試治具還包括一上蓋板,該上蓋板可相較於所述治具塊模組運動,所述上蓋板於朝向所述治具塊模組的一側設有一第一治具推塊;所述第一治具塊還包括遠離所述座體的表面設置的一側推機構及一基準塊,其中所述側推機構及所述基準塊設於所述鏡頭容置區相對的兩側;所述側推機構包括一側推塊以及一回拉彈簧,所述回拉彈簧一端固定在所述第一治具塊內,另一端固定在所述側推塊上;所述基準塊具有一第一承靠面及垂直於第一承靠面的第二承靠面,所述第一承靠面及所述第二承靠面朝向所述鏡頭容置區設置,且所述第一承靠面及所述第二承靠面均垂直於所述座體;所述第一治具推塊用於當所述上蓋板運動至所述治具塊模組的上方時伸入所述第一容納槽,並推動所述側推機構直至所述鏡頭元件抵靠在所述第一承靠面和所述第二承靠面中的至少一個,所述回拉彈簧用於拉動所述側推塊復位。
- 如請求項第3項所述之相機模組測試治具,其中:所述上蓋板還設有一鏡頭推塊;貫穿所述上蓋板開設有一開孔,所述鏡頭推塊收容於所述開孔內,所述鏡頭推塊於所述開孔的中心位置處設有一檢測孔,所述檢測孔用於在測試時與所述鏡頭元件對準。
- 如請求項第4項所述之相機模組測試治具,其中:所述上蓋板於所述第一治具推塊的同側還設有一第二治具推塊;所述第三容納槽於所述第一治具塊對應位置處內還收容有一針托,所述針托內設有測試探針;所述第二治具推塊用於當所述上蓋板運動至所述治具塊模組的上方時伸入所述第三容納槽,並抵靠所述連接元件,實現所述連接元件與所述測試探針的電連接。
- 如請求項第5項所述之相機模組測試治具,其中:所述上蓋板於所述第一治具推塊的同側還凸設有定位柱;所述座體於靠近所述上蓋板的一側還設有若干墊環及與所述定位柱相對應的定位孔,其中,所述定位柱用於伸入所述定位孔以限定所述上蓋板移動方向,所述墊環用於承靠所述上蓋板以阻止所述上蓋板繼續運動。
- 如請求項第5項所述之相機模組測試治具,其中:所述上蓋板於所述遠離所述治具塊模組的一側設有一抗反光板。
- 如請求項第5項所述之相機模組測試治具,其中:述相機模組測試治具還包括一致動模組,所述致動模組包括一本體,所述上蓋板固定於所述本體上,所述本體用於帶動所述上蓋板相較於所述上蓋板運動。
- 如請求項第8項所述之相機模組測試治具,其中:所述相機模組測試治具還包括一固定板及一底座,所述座體與所述致動模組均固定在所述底座的同側;且所述座體藉由所述固定板固定在所述底座上;所述固定板上設有一檢測電路板,所述針托設置於所述檢測電路板上並與所述檢測電路板電連接,所述檢測電路板由於測試所述相機模組的電學性能。
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