TWI671520B - 光學薄膜的缺陷檢查方法、光學薄膜的缺陷檢查裝置、光學薄膜的製造方法、及光學薄膜的製造裝置 - Google Patents

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Abstract

有關本發明之一實施形態的缺陷檢查方法包含：使用具備光源(22)、透過檢查器(23)、透過檢查用的偏光偏光濾光片(24)的缺陷檢查裝置(20)，進行貼附分離膜貼附黏著材的光學薄膜之缺陷檢查，缺陷檢查裝置(20)更具備配向角測定器(21)；缺陷檢查方法包含：藉由配向角測定器(21)測定分離膜(121)的配向角的配向角測定工程、及基於所測定的配向角調整偏光濾光片(24)的偏光軸之調整工程、及藉由光源(22)照射光學薄膜的光照射工程、及藉由透過檢查器(23)通過偏光濾光片(24)接收透過光學薄膜的光，基於所接收的透過光進行光學薄膜的缺陷檢查的缺陷檢查工程。

Description

光學薄膜的缺陷檢查方法、光學薄膜的缺陷檢查裝置、光學薄膜的製造方法、及光學薄膜的製造裝置
本發明係有關於光學薄膜的缺陷檢查方法、光學薄膜的缺陷檢查裝置、光學薄膜的製造方法、及光學薄膜的製造裝置。
一般所知的光學薄膜，包含：具有偏光特性的偏光板及具有雙折射性的相位差板等的光學薄膜本體部，於該些光學薄膜本體部之一方之主面上貼附有分離膜貼附黏著材。這種光學薄膜通常將帶狀的光學薄膜本體部延著長邊方向連續地搬送，同時將帶狀的分離膜貼付黏著材連續地貼附生產，並連續地搬送所得到的光學薄膜。專利文獻1~3，揭示這種光學薄膜的缺陷檢查方法。
當光學薄膜本體部為偏光板的時侯，缺陷檢查方法包含：於光學薄膜之一方之主面(分離膜貼附黏著材側之面)的相反側的另一方的主面側設置的光源，藉由該光源照射光學薄膜的光照射工程，藉由設置於光學薄膜的一方之主面側的透過檢查器，通過設置於光學薄膜與透 過檢查器之間的透過檢查用偏光濾光片，接收透過光學薄膜的光的受光工程，藉由光學薄膜(偏光板)與透過檢查用偏光濾光片的正交偏光法透過檢查，進行光學薄膜的缺陷檢查。
光學薄膜本體部為相位差板的時侯，缺陷檢查方法包含：於光學薄膜之一方之主面(分離膜貼附黏著材側之面)的相反側的另一方的主面側設置的光源，通過設置於光學薄膜與光源之間的透過檢查用補助偏光濾光片，藉由該光源照射光學薄膜的光照射工程，及藉由設置於光學薄膜的一方之主面側的透過檢查器，通過設置於光學薄膜與透過檢查器之間的透過檢查用偏光濾光片，接收透過光學薄膜的光的受光工程，藉由透過檢查用補助偏光濾光片與透過檢查用偏光濾光片的正交偏光法透過檢查，進行光學薄膜的缺陷檢查。
但是，分離膜貼附黏著材中的分離膜，經由延伸工程所生產，使用有較大雙折射性的延伸薄膜。因此，分離膜有基於雙折射性的配向角。所以，這種正交偏光法透過檢查考慮分離膜貼附黏著材中分離膜的配向角，藉由調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸(例如：透過檢查用偏光濾光片的回轉角度)實現正交偏光狀態。
〔先前技術文獻〕 〔專利文獻〕
〔專利文獻1〕特開2007-213016號公報
〔專利文獻2〕國際公開第2011/148790號
〔專利文獻3〕特開2001-349839號公報
但是，這種做為光學薄膜生產所使用的分離膜貼附黏著材，例如常有數千公尺長，另一方面，偏光板或相位差板等的光學薄膜本體部，例如常有數萬公尺長，分離膜貼附黏著材對於一個光學薄膜本體部，在繫合在一起的同時連續地貼附。
做為這種於分離膜貼附黏著材中的分離膜，例如是用從原料薄膜延伸而得到的寬幅延伸薄膜，使該寬幅延伸薄膜與欲貼附的光學薄膜本體部等寬，從寬度方向複數地裁切。將原料薄膜延伸成延伸薄膜時，薄膜的寬度方向的配向角有些微的變化，也就是說會引起所謂的曲躬(bowing)現象，在寬度方向的配向角會有錯位發生，因此對各個所應貼附的分離膜貼附黏著材，會有相異的配向角。
因此，如同上述所說，在偏光板或相位差板上貼附分離膜貼附黏著材後，進行正交偏光法透過檢查時，需要對各個所使用的分離膜貼附黏著材調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸。
但是，對於連續生產的光學薄膜本體部連續地(也可說是在線地)進行正交偏光法透過檢查時，為了 切換分離膜貼附黏著材的輥，即便在調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸時，也連續地生成光學薄膜本體部。因此，在這段調整期間裡所得到的光學薄膜的區域，成為未檢查區域。例如：調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸所花的時間約1分鐘，線速度約10~30m/分的話，切換分離膜貼附黏著材1次將造成約10~30分的光學薄膜區域未被檢查到。
於是，本發明的目的為提供一種光學薄膜的缺陷檢查方法，能夠縮短因分離膜的配向角之錯位所必需調整正交偏光法透過檢查用偏光濾光片的偏光軸的時間。此外，本發明的目的為提供：光學薄膜的缺陷檢查裝置、光學薄膜的製造方法、及光學薄膜的製造裝置。
本發明的光學薄膜的缺陷檢查方法，用於缺陷檢查裝置，具備：光學薄膜，於光學薄膜本體部之一方之主面貼附有分離膜貼附黏著材；於貼附有分離膜貼附黏著材之一方之主面側或另一方的主面側，設置有光源；相對於光學薄膜，於光源之相反側設置有透過檢查器；於光學薄膜的一方之主面與光源或透過檢查器之間，設置有透過檢查用偏光濾光片，其中該缺陷檢查裝置更具備：設置於光學薄膜之一方之主面側的配向角測器定器；缺陷檢查方法包含：藉由配向角測定器，測定分離膜的配向角之配向角測定工程；於配向角測定工程中，基於所測定出的配 向角，調整偏光濾光片的偏光軸之調整工程；藉由光源，以光照射光學薄膜之光照射工程；藉由透過檢查器，通過偏光濾光片接收透過光學薄膜的光，基於所接受的透過光，進行光學薄膜的缺陷檢查之缺陷檢查工程。
本發明的光學薄膜的缺陷檢查裝置，包含：光學薄膜，於光學薄膜本體部之一方之主面貼附有分離膜貼附黏著材，其中該光學薄膜的缺陷檢查裝置，具備：於光學薄膜中分離膜貼附黏著材側之一方之主面側或另一方的主面側，設置照射光學薄膜的光源；相對於光學薄膜，於光源之相反側，設置有接收透過光學薄膜之光的透過檢查器；於光學薄膜的一方之主面與光源或透過檢查器之間，設置有透過檢查用偏光濾光片，於光學薄膜之前述一方之主面側，設置有測定分離膜的配向角之配向角測器定器；基於藉由配向角測定器所測定的配向角，調整偏光濾光片的偏光軸之後，基於藉由透過檢查器所接收的透過光，進行光學薄膜的缺陷檢查。
根據這種光學薄膜的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，藉由配向角測定器測定分離膜的配向角，基於測定得到的配向角調整偏光濾光片的偏光軸，因此，可以縮短造成分離膜的配向角之錯位所必要的正交偏光法透過檢查用偏光濾光片之偏光軸的調整時間。因此，在線進行正交偏光法透過檢查時，為了切換分離膜貼附黏著材的輥，在調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸時，可以削減連續生成的光學薄膜本體部的未檢查區域，減低無謂的浪費。
這種光學薄膜的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置為：在偏光板本體部的一方之主面貼附分離膜貼附黏著材之偏光板的缺陷檢查，使用該偏光板及透過檢查用偏光濾光片可以適用於正交偏光法透過檢查。
上述光學薄膜的缺陷檢查裝置，在光學薄膜的另一方的主面與光源或透過檢查器之間，更可設置有透過檢查用的補助偏光濾光片。於上述光學薄膜的缺陷檢查方法中的缺陷檢查工程，通過偏光濾光片及補助偏光濾光片接收透過光學薄膜的光，基於所接受的透過光，也可進行光學薄膜的缺陷檢查。
這種光學薄膜的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置為：在相位差板本體部的一方之主面貼附分離膜貼附黏著材的相位差板之缺陷檢查，使用該透過檢查用偏光濾光片及透過檢查用補助偏光濾光片可以適用於正交偏光法透過檢查。
上述光學薄膜的缺陷檢查方法中，更包含將於配向角測定工程所測定的配向角之資訊記錄於光學薄膜上的記錄工程，調整工程基於記錄工程中光學薄膜上所記錄的配向角資訊，也可調整偏光濾光片的偏光軸。上述光學薄膜的缺陷檢查裝置中，更具備藉由配向角測定器所測定的配向角之資訊，將其記錄於光學薄膜上的記錄部，藉由記錄部在光學薄膜上所記錄的配向角的資訊，基於該資訊調整偏光濾光片的偏光軸之後，藉由透過檢查器基於所接收的透過光，也可進行光學薄膜的缺陷檢查。
根據該光學薄膜的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，從配向角測定工程開始記錄工程為止，都在同一線上進行；調整工程、光照射工程、及缺陷檢查可在別的線上進行。
本發明的光學薄膜之製造方法，包含上述光學薄膜的缺陷檢查方法，在配向角測定工程及缺陷檢查工程前，也可包含於光學薄膜本體部的一方的主面貼附分離膜貼附黏著材的貼附工程的形態；在配向角測定工程後，缺陷檢查工程前，也可包含於光學薄膜本體部的一方之主面貼附分離膜貼附黏著材的貼附工程的形態。
本發明的光學薄膜之製造裝置，包含上述光學薄膜的缺陷檢查裝置，在配向角測定器及透過檢查器的上游側，也可包含於光學薄膜本體部的一方的主面貼附分離膜貼附黏著材的形態；在配向角測定器的下游側，透過檢查器的上游側，也可包含於光學薄膜本體部的一方之主面貼附分離膜貼附黏著材的形態。
根據本發明，可以縮短造成分離膜的配向角之錯位所必要的正交偏光法透過檢查用偏光濾光片之偏光軸的調整時間。因此，在線進行正交偏光法透過檢查時，為了切換分離膜貼附黏著材的輥，在調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸時，可以削減連續生成的光學薄膜本體部的未檢查區域，減低無謂的浪費。
10、10A‧‧‧偏光板(光學薄膜)的製造裝置
10B、10C‧‧‧相位差板(光學薄膜)的製造裝置
11、12‧‧‧原反捲取裝置
20‧‧‧偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置
20B‧‧‧相位差板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置
21‧‧‧配向角測定器
22‧‧‧光源
23‧‧‧透過檢查器
24‧‧‧透過檢查用偏光濾光片
25‧‧‧透過檢查用補助偏光濾光片
26‧‧‧相位差補償濾光片
27‧‧‧記錄部
100‧‧‧偏光板(光學薄膜)
100B‧‧‧相位差板(光學薄膜)
101‧‧‧一方之主面
102‧‧‧另一方的主面
110‧‧‧偏光板本體部(光學薄膜本體部)
110B‧‧‧相位差板本體部(光學薄膜本體部)
120‧‧‧分離膜貼附黏著材
121‧‧‧分離膜
122‧‧‧黏著材
123‧‧‧連結縫
〔圖1〕有關本發明第1實施形態的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔圖2〕藉由圖1的製造裝置及製造方法所製造的偏光板的示意圖。
〔圖3〕圖1所揭示的分離膜的配向角錯位的示意圖。
〔圖4〕有關本發明第2實施形態的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔圖5〕有關本發明第3實施形態的相位差板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及相位差板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔圖6〕藉由圖5所示的製造裝置及製造方法所製造的相位差板的示意圖。
〔圖7〕有關本發明第4實施形態的相位差板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及相位差板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔圖8〕有關本發明變形例的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔圖9〕有關本發明變形例的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
〔實施形態〕
以下，參照圖式詳細說明本發明最佳的實施形態。於各圖式中對於同一或是相同的部分標示同一符號。
〔第1實施形態〕
圖1為有關本發明第1實施形態的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖，圖2為藉由圖1所示的製造裝置及製造方法所製造的偏光板的示意圖。
圖1所示的製造裝置10為製造圖2所揭示的偏光板100的製造裝置。首先，製造裝置10在偏光子111的主面兩側貼附有保護薄膜112，生成偏光板本體部(光學薄膜本體部)110。接著，製造裝置10將由黏著材122與分離膜(離型薄膜)121貼合而成的分離膜貼附黏著材120貼合於偏光板本體部110，生成偏光板100。接著，製造裝置10藉由捲取輥這種原反捲取裝置11捲取所生成的偏光板100。
做為偏光子111材料，例如：聚乙烯醇(Polyvinyl Alcohol：PVA)，做為保護薄膜112的材料，例如：三醋酸纖維素(Triacetylcellulose：TAC)。做為分離膜121的材料，例如：聚對苯二甲酸(Polyethylene Terephthalate：PET)。藉由剝除分離膜121，偏光板100可藉由黏著材122貼合於液晶面板或其他的光學薄膜等。
製造裝置10包含缺陷檢查裝置20。缺陷檢查裝置20具有：配向角測定器21、光源22、透過檢查器23、透過檢查用偏光濾光片24、在線進行偏光板100的缺陷檢查。
配向角測定器21設置於比透過檢查器23更上游側，設置於偏光板100的分離膜貼附黏著材120側的一方之主面101側，並測定分離膜121的配向角。配向角測定器21向透過檢查用偏光濾光片24提供所測定的配向角資訊。做為配向角測定器21，可使用在線軸測定器(例如：大塚電子製RE-200)等。在配向角測定器21的製造線更下游側，設置有光源22及透過檢查器23。
光源22，設置於偏光板100另一方的主面102側，向偏光板100另一方的主面102側照射光。另一方面，透過檢查器23設置於偏光板100的一方之主面101側，通過透過檢查用偏光濾光片24，接收透過偏光板100的光。
透過檢查用偏光濾光片24設置於偏光板100 的一方之主面101與透過檢查器23之間。透過檢查用偏光濾光片24具有偏光軸調整機構，基於從配向角測定器21所測定的分離膜121的配向角資訊，調整相對偏光板本體部110的偏光軸之偏光濾光片24的偏光軸(例如：偏光濾光片24的回轉角度)，形成正交偏光狀態。例如：偏光軸調整機構預先將分離膜121的配向角相關連的偏光濾光片24的偏光軸之調整量，做為查詢表記憶；基於該查詢表，自動決定對應所測定的分離膜121的配向角之偏光濾光片24的偏光軸。
調整偏光濾光片24的偏光軸之後，基於藉由透過檢查器23所接收的透過光，利用正交偏光法透過檢查，進行所謂的偏光板100缺陷檢查。正交偏光法透過檢查為：使2個偏光子(在本實施形態中為偏光板100及偏光濾光片24)的吸收軸略呈正交狀態(正交偏光)，利用攝影機(例如光感測器)觀察其透過光像，並檢測出漏光時的缺陷(輝點)。
本實施形態在配向角測定器21及透過檢查器23的上游測，於偏光板本體部110的一方之主面貼合有分離膜貼附黏著材120。
接著，說明有關本發明第1實施形態的偏光板的缺陷檢查方法，以及製造方法。首先，於偏光板本體部110的一方之主面貼附有分離膜貼附黏著材120(貼附工程)。
接著，藉由配向角測定器21，測定分離膜 121的配向角(配向角測定工程)。再來，藉由於透過檢查用偏光濾光片24的偏光軸調整機構，基於從配向角測定器21所測定的分離膜121的配向角資訊，調整相對於偏光板本體部110的偏光軸之偏光濾光片24的偏光軸(調整工程)。
接著，藉由光源22，以光照射偏光板100(光照射工程)。再來，藉由透過檢查器23，通過偏光濾光片24接收透過偏光板100的光，基於所接受的透過光，進行偏光板100的缺陷檢查(缺陷檢查工程)。
但是，若分離膜貼附黏著材120，例如藉由輥形態提供，長度為1000m以上，並且，偏光板100，例如以超過分離膜貼附黏著材120的長度連續地生成的話，分離膜貼附黏著材120與一個偏光板100，於同種輥之間的連結縫123中一邊繫合在一起並連續地貼附。
做為分離膜貼附黏著材120中的分離膜121，如圖3所示，例如是使用：從原料薄膜延伸而得到的寬幅延伸薄膜，使該寬幅延伸薄膜與應貼附的偏光板100等寬，從寬度方向裁切成複數個A、B、C段。將原料薄膜延伸成延伸薄膜時，因為曲躬(bowing)D現象，寬度方向的配向角E會產生錯位，所以對各自所欲貼附的分離膜貼附黏著材120的輥A、B、C，會有相異的配向角。
因此，如同上述所說，在偏光板本體部110上貼附分離膜貼附黏著材120後，進行正交偏光法透過檢查時，需要對各個分離膜貼附黏著材120的輥調整透過檢 查用偏光濾光片24的偏光軸。
從前，在線進行正交偏光法透過檢查時，為了切換分離膜貼附黏著材的輥，在調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸時，也連續地生成偏光板。因此，在這段調整的期間裡所得到的偏光板的區域成為未檢查區域，無法做為製品使用，成為無謂的浪費。例如：調整透過檢查用偏光濾光片的偏光軸所花的時間約1分鐘，線速度約10~30m/分的話，切換1次分離膜貼附黏著材的輥將造成約10~30m的偏光板區域未檢查到，造成無謂的浪費。
不過，根據這種第1實施形態的偏光板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置、以及偏光板的製造方法及製造裝置，藉由配向角測定器21事先測定分離膜121的配向角，基於測定得到的配向角自動調整偏光濾光片24的偏光軸。因此，可以縮短造成分離膜121的配向角之錯位所必要的正交偏光法透過檢查用偏光濾光片24之偏光軸的調整時間。
於是，在線進行正交偏光法透過檢查時，為了切換分離膜貼附黏著材120的輥，在調整透過檢查用偏光濾光片24的偏光軸時，可以削減所連續生成的偏光板100的未檢查區域，減低無謂的浪費。
〔第2實施形態〕
圖4為有關本發明第2實施形態的偏光板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及偏光 板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
如圖4所示的第2實施形態的製造裝置10A，在配向角測定器21的下游側及透過檢查器23的上游測，於偏光板本體部110的一方之主面貼合有分離膜貼附黏著材120，此點與第1實施形態相異。第2實施形態的製造裝置10A的其他構成，與第1實施形態的製造裝置10相同。
換言之，第2實施形態的製造方法包含：在配向角測定工程後，缺陷檢查工程前，於偏光板本體部110的一方之主面貼合有分離膜貼附黏著材120的貼附工程，此點與第1實施形態相異。
該第2實施形態的偏光板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，以及偏光板的製造方法及製造裝置，可以得到與第1實施形態的偏光板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置、及偏光板製造方法及製造裝置相同的優點。
〔第3實施形態〕
圖5為有關本發明第3實施形態的相位差板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及相位差板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖，圖6為藉由圖5所示的製造裝置及製造方法所製造的相位差板示意圖。
圖5所示的製造裝置10B為用來製造圖6所示的相位差板100B的製造裝置。製造裝置10B將由黏著 材122與分離膜(離型薄膜)121貼合而成的分離膜貼附黏著材120貼合於相位差板本體部110B，生成相位差板100B。接著，製造裝置10藉由原反捲取裝置11捲取所生成的相位差板100B。做為相位差板的材料，可以是TAC、聚碳酸酯、PET、COP(環烯烴聚合物)等。
製造裝置10B包含缺陷檢查裝置20B。缺陷檢查裝置20B，於缺陷檢查裝置20B中更具備透過檢查用補助偏光濾光片25及相位差補償濾光片26，此點與第1實施形態相異。
透過檢查用補助偏光濾光片25設置於相位差板100B的另一方的主面102與光源22之間，相位差補償濾光片26設置於相位差板100B的另一方的主面102與透過檢查用補助偏光濾光片25之間。
藉此，透過檢查器23通過透過檢查用補助偏光濾光片25、相位差補償濾光片26、及透過檢查用偏光濾光片24，接收透過相位差板100B的光。
於透過檢查用偏光濾光片24的偏光軸調整機構，基於從配向角測定器21所測定的分離膜121的配向角資訊，調整相對於透過檢查用補助偏光濾光片25的偏光軸之偏光濾光片24的偏光軸(例如：偏光濾光片24的回轉角度)，形成正交偏光狀態。也就是說，本實施形態藉由兩個偏光子(透過檢查用補助偏光濾光片25及偏光濾光片24)形成正交偏光狀態。
本實施形態在配向角測定器21及透過檢查器 23的上游測，於相位差板本體部110B的一方之主面貼合有分離膜貼附黏著材120。
接著，說明有關本發明第3實施形態的相位差板的缺陷檢查方法，以及製造方法。首先進行上述的貼附工程及配向角測定工程。
再來，藉由於透過檢查用偏光濾光片24的偏光軸調整機構，基於從配向角測定器21測定而來的分離膜121之配向角資訊，調整相對於透過檢查用補助偏光濾光片25的偏光軸之偏光濾光片24的偏光軸(調整工程)。
接著，藉由光源22，以光照射相位差板100B(光照射工程)。再來，藉由透過檢查器23，通過補助偏光濾光片25、相位差補償濾光片26、及偏光濾光片24接收透過相位差板100B的光，基於所接受的透過光，進行相位差板100B的缺陷檢查(缺陷檢查工程)。
這種第3實施形態的相位差板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置、以及相位差板的製造方法及製造裝置，藉由配向角測定器21事先測定分離膜121的配向角，基於測定所得到的配向角自動調整偏光濾光片24的偏光軸，因此，可以縮短造成分離膜121的配向角之錯位所必要的正交偏光法透過檢查用偏光濾光片24之偏光軸的調整時間。
因此，在線進行正交偏光法透過檢查時，為了切換分離膜貼附黏著材120的輥，在調整透過檢查用偏 光濾光片24的偏光軸時，可以削減連續生成的相位差板100B的未檢查區域，減低無謂的浪費。
〔第4實施形態〕
圖7為有關本發明第4實施形態的相位差板(光學薄膜)的缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法，以及相位差板(光學薄膜)的製造裝置及製造方法的示意圖。
如圖7所示的第4實施形態的製造裝置10C，在配向角測定器21的下游側及透過檢查器23的上游測，於相位差板本體部110B的一方之主面貼合有分離膜貼附黏著材120，此點與第3實施形態相異。第4實施形態的製造裝置10C的其他構成，與第3實施形態的製造裝置10B相同。
換言之，第4實施形態的製造方法包含：在配向角測定工程後，缺陷檢查工程前，於相位差板本體部110B的一方之主面上貼附有分離膜貼附黏著材120的貼附工程，此點與第3實施形態相異。
該第4實施形態的相位差板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，以及相位差板的製造裝置及製造裝置，可以得到與第3實施形態的相位差板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置、及相位差板的製造方法及製造裝置相同的優點。
本發明不限於上述第1實施形態~第4實施形態(以下合稱為本實施形態。)可以有多種的可能的變形 態。例如：於本實施形態例示了，光源22設置於偏光板100或相位差板100B的另一方的主面102側，透過檢查器23設置於偏光板100或相位差板100B的一方的主面101側之形態。不過，光源22也可設置於偏光板100或相位差板100B的一方的主面101側，透過檢查器23也可設置於偏光板100或相位差板100B的另一方的主面102側(例如，參照圖8：第1實施形態的變形例)。此種情形，在第1及第2的實施形態中，透過檢查用偏光濾光片24也可設置於偏光板100的一方之主面101與光源22之間。另一方面，第3及第4的實施形態中，透過檢查用偏光濾光片24也可設置於相位差板100B的一方的主面101與光源22之間，透過檢查用補助偏光濾光片25及相位差補償濾光片26也可設置於相位差板100B的另一方的主面102與透過檢查器23之間。
本實施形態中，雖然直接提供藉由配向角測定器21所測定的配向角之資訊給偏光濾光片24，但藉由配向角測定器21測定的分離膜121的配向角的資訊，則藉由記錄部27記錄在偏光板100或相位差板100B上，一旦藉由捲取輥這種所謂的原反捲取裝置12來做捲取，之後由再度捲出時位於偏光濾光片24中的偏光軸調整機構來讀取偏光板100或相位差板100B上所記錄的資訊，可以基於此資訊調整光濾光片的偏光軸。換句話說，包含將於配向角測定工程所測定的分離膜121的配向角資訊記錄於偏光板100或相位差板100B上的記錄工程之調整工 程，會基於記錄工程中偏光板100或相位差板100B上所記錄的分離膜121之配向角的資訊，調整偏光濾光片24的偏光軸(例如，圖9：參照第1實施形態的變形例)。
偏光板100或相位差板100B上所記錄的資訊，可以是驗證碼(一維條碼、二維條碼、OR code(註冊商標)等)等，也可以記錄於偏光板100或相位差板100B上的寬度方向的端部。
藉此，從配向角測定工程開始到記錄工程為止，都在同一線上進行；調整工程、光照射工程、及缺陷檢查工程可在別的線上進行。
做為配向角測定器21，組合與上述相同的透過檢查器、透過檢查用偏光濾光片、相位差補償濾光片、及光源，在第2實施形態(圖4)、第3實施形態(圖5)、及第4實施形態(圖7)的情況下，也可以組合與上述相同的透過檢查用補助偏光濾光片。在此情況下，例如配置透過檢查器於配置配向角測定器(21)的位置；配置透過檢查用偏光濾光片於透過檢查器與分離膜貼附黏著材(120)之間；配置光源於分離膜貼附黏著材(120)的透過檢查器側的相反對側；於分離膜貼附黏著材(120)與光源之間的分離膜貼附黏著材(120)側開始依序配置相位差補償濾光片及透過檢查用補助偏光濾光片。例如：為了不使從光源發出的光傳導至透過檢查器，改變透過檢查用偏光濾光片的偏光軸、相位差補償濾光片遲相軸、及光學檢查用補助偏光濾光片的偏光軸之方向，從該些軸的 方向可以得到分離膜的配向角。
不過，一般偏光板100或相位差板100B(光學薄膜)的長度為分離膜貼附黏著材120的10倍以下。換言之，一般連續生成的偏光板本體部110或相位差板本體部110B(光學薄膜本體部)的長度為分離膜貼附黏著材120的長度之10倍以下。具體而言，偏光板100或相位差板100B的長度(換言之，偏光板本體部110或相位差板本體部110B的長度)為1000m以上20000m以下，分離膜貼附黏著材120的長度多為500m以上5000m以下。因此，偏光板100或相位差板100B的長度(換言之，偏光板本體部110或相位差板本體部110B的長度)為分離膜貼附黏著材120的長度之3倍以上，或甚至是5位以上的話，相對於1偏光板100或相位差板100B(換言之，偏光板本體部110或相位差板本體部110B)，繫合分離膜貼附黏著材120的頻度會增加。因此，偏光板100或相位差板100B的長度(換言之，偏光板本體部110或相位差板本體部110B的長度)與分離膜貼附黏著材120的長度差異將變大，連接分離膜貼附黏著材120的頻度增加時，使用本發明的方法及裝置會更適合，並更顯著地發揮上述的效果。

Claims (10)

  1. 一種光學薄膜的缺陷檢查方法，係使用缺陷檢查裝置來檢查前述光學薄膜的缺陷，該缺陷檢查裝置具備：於光學薄膜本體部之一方之主面貼附分離膜貼附黏著材而形成的光學薄膜的成為前述分離膜貼附黏著材側之一方之主面側或另一方的主面側設置的光源；相對於前述光學薄膜設置於前述光源之相反側的透過檢查器；於前述光學薄膜的前述一方之主面與前述光源或前述透過檢查器之間設置的透過檢查用偏光濾光片，其特徵在於：前述缺陷檢查裝置更具備：設置於前述光學薄膜之前述的一方之主面側的配向角測定器；前述缺陷檢查方法，包含：藉由前述配向角測定器，測定前述分離膜的配向角之配向角測定工程；基於前述配向角測定工程中所測定出的前述配向角，調整前述偏光濾光片的偏光軸之調整工程；藉由前述光源，以光照射前述光學薄膜之光照射工程；藉由前述透過檢查器，通過前述偏光濾光片接收透過前述光學薄膜的光，基於所接受的透過光，進行前述光學薄膜的缺陷檢查之缺陷檢查工程。
  2. 如請求項1所記載之光學薄膜的缺陷檢查方法，其中，前述缺陷檢查裝置更具備：在前述光學薄膜的前述另一方的主面與前述光源或前述透過檢查器之間設置的透過檢查用的補助偏光濾光片；前述缺陷檢查工程，通過前述偏光濾光片及前述補助偏光濾光片接收透過前述光學薄膜的光，基於所接收的透過光，進行前述光學薄膜的缺陷檢查。
  3. 如請求項1或2所記載之光學薄膜的缺陷檢查方法，其中更包含：將前述配向角測定工程中所測定的前述配向角之資訊記錄於前述光學薄膜上之記錄工程；前述調整工程中，基於前述記錄工程中記錄於前述光學薄膜上的前述配向角之資訊，調整前述偏光濾光片的偏光軸。
  4. 一種光學薄膜的製造方法，包含如請求項1或2所記載之光學薄膜的缺陷檢查方法；其中，於前述光學薄膜本體部的前述一方之主面貼附前述分離膜貼附黏著材之貼附工程，係在前述配向角測定工程及前述缺陷檢查工程前進行。
  5. 一種光學薄膜的製造方法，包含如請求項1或2所記載之光學薄膜的缺陷檢查方法；其中，於前述光學薄膜本體部的前述一方之主面貼附前述分離膜貼附黏著材之貼附工程，係在前述配向角測定工程後，前述缺陷檢查工程前進行。
  6. 一種光學薄膜的缺陷檢查裝置，該光學薄膜，係於光學薄膜本體部之一方之主面貼附分離膜貼附黏著材而成，該光學薄膜的缺陷檢查裝置，具備：設置於前述光學薄膜之前述分離膜貼附黏著材側之一方之主面側或另一方的主面側，照射前述光學薄膜的光源；相對於前述光學薄膜設置於前述光源之相反側，接收透過前述光學薄膜之光的透過檢查器；於前述光學薄膜的前述一方之主面與前述光源或前述透過檢查器之間設置的透過檢查用偏光濾光片，設置於前述光學薄膜之前述一方之主面側，測定前述分離膜的配向角之配向角測器定器；基於藉由前述配向角測定器所測定的前述配向角，調整前述偏光濾光片的偏光軸之後，基於藉由前述透過檢查器所接收的透過光，進行前述光學薄膜的缺陷檢查。
  7. 如請求項6所記載之光學薄膜的缺陷檢查裝置，其中，更具備：於前述光學薄膜的前述另一方的主面與前述光源或前述透過檢查器之間設置的透過檢查用的補助偏光濾光片。
  8. 如請求項6或7所記載之光學薄膜的缺陷檢查裝置，其中更包含：將前述配向角測定器所測定的前述配向角之資訊記錄於前述光學薄膜上之記錄部；基於藉由前述記錄部在前述光學薄膜上所記錄的前述配向角之資訊，調整前述偏光濾光片的偏光軸之後，基於藉由前述透過檢查器所接收的透過光，進行前述光學薄膜的缺陷檢查。
  9. 一種光學薄膜的製造裝置，具備如請求項7或8所記載之光學薄膜的缺陷檢查裝置；其中：在前述配向角測定器及前述透過檢查器的上游側，於前述光學薄膜本體部的前述一方之主面，貼附前述分離膜貼附黏著材。
  10. 一種光學薄膜的製造裝置，具備如請求項7或8所記載之光學薄膜的缺陷檢查裝置；其中：在前述配向角測定器的下游側及前述透過檢查器的上游側，於前述光學薄膜本體部的前述一方之主面，貼附前述分離膜貼附黏著材。
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