TWI647438B - 鍵盤電路板檢測系統 - Google Patents

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TWI647438B
TWI647438B TW106123678A TW106123678A TWI647438B TW I647438 B TWI647438 B TW I647438B TW 106123678 A TW106123678 A TW 106123678A TW 106123678 A TW106123678 A TW 106123678A TW I647438 B TWI647438 B TW I647438B
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蔡正壹
曾英哲
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Abstract

本發明提供一種鍵盤電路板檢測系統，用以檢測鍵盤電路板，電路板具有複數個光發射元件及相對應的複數個光接收元件，系統包括：第一治具，具有複數個第一凹槽，第一凹槽用以容置光發射元件及光接收元件；第二治具，具有複數個檢測開關；以及計算機，用以執行檢測程式。第一治具及第二治具用以夾持鍵盤電路板，檢測程式用以控制光發射元件發射光線至光接收元件，檢測開關用以阻斷或導通光線的路徑，檢測程式用以檢測光接收元件之電壓值的變化，並產生對應於鍵盤電路板的檢測紀錄。

Description

鍵盤電路板檢測系統
本發明係有關於一種輸入裝置檢測的應用領域，尤指一種光學鍵盤的檢測系統。
隨著科技的進步，電腦的應用也廣泛且深入地進入每個家庭與行業。輸入裝置為操作電腦的必備裝置，而今，電腦的輸入裝置也已衍生出許許多多不同的選擇，然而，鍵盤及滑鼠依舊是電腦輸入不可或缺的選項。
於現有的鍵盤種類中，其包括了機械式鍵盤、薄膜式鍵盤、導電橡膠式鍵盤及無接點靜電容量式鍵盤等。為符合不同使用者的需求，除了讓鍵盤的外觀更加輕薄且符合人體工學外，各種不同的功能如：藍牙無線功能、背光提示功能、USB連接功能、音源輸出及輸入功能等也被廣泛地設置於鍵盤之中。而為提升按鍵按壓的靈敏度，近年來更發展出以光遮斷模組作為按鍵按壓觸發的設計。
然而，目前以光遮斷模組作為開關的鍵盤並無相關的檢測工具。有鑑於此，如何提供一種可針對光遮斷模組進行檢測的鍵盤電路板檢測系統，以有效提升光遮斷模組之鍵盤生產的良率，為本發明欲解決的技術課題。
本發明之主要目的，在於提供一種針對光遮斷模組進行檢測的鍵盤電路板檢測系統，並可同時檢測鍵盤電路板的背光光源是否可正常運作。
為達前述之目的，本發明提供一種鍵盤電路板檢測系統，用以檢測鍵盤電路板，電路板具有複數個光發射元件及相對應的複數個光接收元件，系統包括：第一治具，具有複數個第一凹槽，第一凹槽用以容置光發射元件及光接收元件；第二治具，具有複數個檢測開關；以及計算機，用以電性連接該鍵盤電路板並執行檢測程式；其中，第一治具及第二治具用以夾持鍵盤電路板，檢測程式用以控制光發射元件發射光線至光接收元件，檢測開關用以阻斷或導通光線的路徑，檢測程式用以量測光接收元件之電壓值的變化，並產生對應於鍵盤電路板的檢測紀錄。
於上述較佳實施方式中，其進一步包括抵壓板，抵壓板具有複數個抵壓塊，抵壓塊用以抵壓檢測開關。
於上述較佳實施方式中，其中鍵盤電路板進一步包括複數個背光單元，且第二治具具有複數個聚光孔用以容置並覆蓋背光單元。
於上述較佳實施方式中，其中聚光孔具有複數個聚光單元，聚光單元用以凝聚背光單元所發射出的光線。
於上述較佳實施方式中，其進一步包括影像擷取模組，檢測程式用以控制背光單元進行發光，並控制影像擷取模組擷取自聚光單元發出的光線影像。
於上述較佳實施方式中，其中檢測程式對光線影像進行色度比對，並依據色度比對產生檢測紀錄。
於上述較佳實施方式中，其中計算機包括顯示裝置，顯示裝置用以顯示檢測程式之檢測介面。
於上述較佳實施方式中，其中檢測介面包括鍵盤按壓檢測介面及背光光源檢測介面。
於上述較佳實施方式中，其進一步包括雲端伺服器，檢測程式可以有線或無線的方式傳送檢測紀錄至雲端伺服器之資料庫進行儲存。
於上述較佳實施方式中，其進一步包括標籤機，檢測程式控制標籤機列印條碼標籤，且條碼標籤包含對應鍵盤電路板的檢測紀錄之資訊。
D‧‧‧暗箱
L‧‧‧光線
1‧‧‧鍵盤電路板檢測系統
10‧‧‧第一治具
11‧‧‧第一凹槽
20‧‧‧第二治具
21、21a、21b‧‧‧檢測開關
210a、210b‧‧‧開關鍵帽
211a、211b‧‧‧檢測柱
2110b‧‧‧第一透光孔
212b‧‧‧套筒件
2120b‧‧‧第二透光孔
22‧‧‧聚光孔
220‧‧‧聚光單元
23‧‧‧第二凹槽
231‧‧‧檢測孔
30‧‧‧抵壓板
31‧‧‧抵壓塊
40‧‧‧影像擷取模組
50‧‧‧計算機
51‧‧‧檢測程式
510‧‧‧檢測介面
511‧‧‧鍵盤按壓檢測介面
512‧‧‧背光光源檢測介面
60‧‧‧顯示裝置
601‧‧‧顯示螢幕
70‧‧‧標籤機
71‧‧‧條碼標籤
80‧‧‧雲端伺服器
81‧‧‧資料庫
90‧‧‧鍵盤電路板
91‧‧‧光發射元件
92‧‧‧光接收元件
93‧‧‧背光單元
94‧‧‧按鍵孔
圖1A：係為本發明所提供之鍵盤電路板檢測系統；圖1B：係為本發明所提供鍵盤電路板檢測系統之鍵盤按壓檢測的示意圖；圖2A至2B：係為本發明鍵盤按壓檢測之第一實施例的剖面圖；圖3A至3C：係為本發明鍵盤按壓檢測之第二實施例的剖面圖；圖4：係為本發明所提供鍵盤電路板檢測系統之背光光源檢測的示意圖；以及圖5：係為鍵盤電路板檢測系統之檢測介面的示意圖。
本發明的優點及特徵以及達到其方法將參照例示性實施例及附圖進行更詳細的描述而更容易理解。然而，本發明可 以不同形式來實現且不應被理解僅限於此處所陳述的實施例。相反地，對所屬技術領域具有通常知識者而言，所提供的此些實施例將使本揭露更加透徹與全面且完整地傳達本發明的範疇。
首先，請參閱圖1A所示，圖1A係為本發明所提供之鍵盤電路板檢測系統。於圖1A中，所述的鍵盤電路板檢測系統1包括：第一治具10、第二治具20、抵壓板30、影像擷取模組40、計算機50、顯示裝置60、標籤機70、雲端伺服器80及暗箱D，計算機50分別與影像擷取模組40、顯示裝置60及標籤機70電性連接。其中，第一治具10具有複數個第一凹槽11，第二治具20包括：複數個聚光孔22及複數個第二凹槽23。其中，聚光孔22內設置有一聚光單元220，而聚光單元220可為：光導纖維(optical fiber)或聚光透鏡。第二凹槽23則用以容置可模擬按鍵按壓的檢測開關21。抵壓板30位於第二治具20上方，且抵壓板30的一表面上則具有複數個用以抵壓檢測開關21的抵壓塊31。計算機50則用以儲存並執行一檢測程式51。暗箱D則用以容置第一治具10、第二治具20、抵壓板30及影像擷取模組40，並隔絕環境光線，使待檢測的電子裝置可不受環境光線的干擾。
請繼續參閱圖1B，圖1B係為本發明所提供鍵盤電路板檢測系統之鍵盤按壓檢測的示意圖。於圖1B中，鍵盤電路板90先與計算機50電性連接，使檢測程式51可控制並檢測鍵盤電路板90的運作。鍵盤電路板90的一表面上具有複數個作為按鍵訊號觸發的光發射元件91及與其相對應的複數個光接收元件92，其中，鍵盤電路板90的光發射元件91可為一種發光二極體單元(Light-Emitting Diode,LED)，而光接收元件92可為光電晶體或光敏電阻。鍵盤電路板90的另一表面上則具有用於按鍵發光的複數個背光單元93。
首先，可以人工或自動的方式將鍵盤電路板90放置於第一治具10之上，其中第一凹槽11用以容置光發射元件91及相對應的光接收元件92，使光發射元件91及光接收元件92可處 在不受外界干擾的封閉空間之中。計算機50的檢測程式51則用以控制光發射元件91發射光線至光接收元件92。接著可以人工或自動的方式將第二治具20放置於鍵盤電路板90之上，形成以第一治具10及第二治具20夾持鍵盤電路板90的形式，其中，第二治具20之第二凹槽23的位置與第一治具10之第一凹槽11的位置相對應，使檢測開關21可對光發射元件91及光接收元件92進行阻斷或導通，隨後計算機50中的檢測程式51則進一步量測光接收元件92之電壓值的變化。而第二治具20上的聚光孔22則用以容置並覆蓋於背光單元93之上。
接著，請參閱圖2A至2B，圖2A至2B係為本發明鍵盤按壓檢測之第一實施例的剖面圖。於圖2A中，檢測開關21a具有一開關鍵帽210a及檢測柱211a，第二凹槽23中則具有一檢測孔231。鍵盤電路板90上具有複數個按鍵孔94，其中，檢測孔231可與按鍵孔94相互對齊，使檢測開關21a的檢測柱211a可同時穿設於檢測孔231及按鍵孔94之中，並可於第二凹槽23中設置一彈性元件(未示於圖中)，使檢測開關21a可於第二凹槽23內往復位移。接著，可以人工或自動的方式控制抵壓板30，使抵壓板30的抵壓塊31抵壓檢測開關21a的開關鍵帽210a。
於圖2A中，當抵壓板30的抵壓塊31未向下抵壓時，檢測開關21a模擬鍵盤之按鍵未被按壓的狀態，此時檢測程式51控制光發射元件91發射出的光線L可被相對應的光接收元件92所接收。接著，請參閱圖2B，當抵壓板30的抵壓塊31向下抵壓時，檢測開關21a的檢測柱211a則穿過鍵盤電路板90的按鍵孔94並凸出於光發射元件91及光接收元件92之間，以藉此模擬鍵盤之按鍵被按壓的狀態。此時，光發射元件91所發射出的光線L則被檢測柱211a阻斷，因此光接收元件92無法接收到光線L。隨後計算機50的檢測程式51則量測光接收元件92於光線L未被檢測柱211a阻斷時及光線L被檢測柱211a阻斷時兩者間電壓值的變化，以藉此判定光發射元件91及光接收元件92是否可 正常運作，並依據測試結果產生一測試紀錄。另一方面，可以人工或自動的方式控制抵壓板30的抵壓塊31抵壓開關鍵帽210a的程度，藉此控制檢測柱211a對光線L之路徑的阻斷程度。舉例而言，檢測柱211a未阻斷光線L之路徑時，此時檢測程式51量測光接收元件92的電壓值，並判斷其是否符合生產規格；接著，檢測柱211a下降並阻斷1/4的光線L之路徑，此時檢測程式51量測光接收元件92的電壓值，並判斷其是否符合生產規格；再接著，檢測柱211a下降並阻斷1/2的光線L之路徑，此時檢測程式51量測光接收元件92的電壓值，並判斷其是否符合生產規格；隨後，檢測柱211a下降並阻斷3/4的光線L之路徑，此時檢測程式51量測光接收元件92的電壓值，並判斷其是否符合生產規格。最後，檢測程式51再依據各次量測所測得的電壓值作為鍵盤電路板90之按鍵作動範圍校準的依據，並將所測得的電壓值寫入鍵盤電路板90的微控制器(Microcontroller,MCU)(未示於圖中)之中。
請參閱圖3A至3C，圖3A至3C係為本發明鍵盤按壓檢測之第二實施例的剖面圖。於圖3A中，檢測開關21b具有一開關鍵帽210b、檢測柱211b及套筒件212b。其中檢測柱211b具有一可讓光線穿透的第一透光孔2110b。套筒件212b則固定於檢測孔231且穿過按鍵孔94，並凸出於光發射元件91及光接收元件92之間。套筒件212為一中空結構並用以容置檢測柱211b，且套筒件212凸出於光發射元件91及光接收元件92之間的一端具有二個相對應的第二透光孔2120b。
請參閱圖3B，檢測開關21b藉由檢測柱211b套設於套筒件212之中，並藉由設置於第二凹槽23中的彈性元件(未示於圖中)使檢測開關21b可於第二凹槽23內往復位移。抵壓板30的抵壓塊31則用以抵壓檢測開關21b的開關鍵帽210b。
請繼續參閱圖3B，當抵壓板30的抵壓塊31未向下抵壓時，檢測開關21b模擬鍵盤之按鍵未被按壓的狀態，此時檢測程式51控制光發射元件91發射出的光線L在穿透過第二透光 孔2120b後，則被檢測柱211b阻斷，因此光接收元件92無法接收到光線L。接著，請參閱圖3C，當抵壓板30的抵壓塊31向下抵壓時，檢測開關21b則模擬鍵盤之按鍵被按壓的狀態，檢測開關21b之檢測柱211b上的第一透光孔2110b則移動至與套筒件212b之第二透光孔2120b相對應的位置，此時光發射元件91所發射出的光線L則被導通，並依序穿透第二透光孔2120b、第一透光孔2110b及相對應的另一第二透光孔2120b，因此光接收元件92便可接收到光線L。計算機50的檢測程式51則量測光接收元件92於光線L被檢測柱211b阻斷時及光線L被導通時兩者間電壓值的變化，以藉此判定光發射元件91及光接收元件92是否可正常運作，並依據測試結果產生一測試紀錄。
接著，請參閱圖4，圖4係為本發明所提供鍵盤電路板檢測系統之背光光源檢測的示意圖。於圖4中，待完成鍵盤電路板檢測系統之鍵盤按壓檢測後，可以人工或自動的方式將抵壓板30移除，此時檢測開關21便可藉由彈性元件(未示於圖中)進行復位，而恢復成未被按壓的狀態。接著，計算機50的檢測程式51則控制單一個或複數個背光單元93進行發光，聚光單元220則進一步的凝聚背光單元93所發射出的光線。隨後，檢測程式51控制影像擷取模組40擷取自聚光單元220發出的光線影像，並對所擷取的光線影像進行色度比對。在完成鍵盤按壓檢測及背光光源檢測後，可以人工或自動的方式移除第二治具20，並以人工或自動的方式取出放置於第一治具10上的鍵盤電路板90。
請繼續參閱圖4，在進行背光光源檢測時，舉例而言，若背光單元93為一種紅綠藍三原色的LED模組，首先檢測程式51可控制單一個或複數個背光單元93發出紅光，接著影像擷取模組40開始擷取自單一個或複數個聚光單元220發出的紅色光線影像，隨後檢測程式51將所擷取的紅色光線影像與檢測程式51內建的紅色標準色度進行辨識及比對，以判斷檢測程式51所控制之單一個或複數個背光單元93是否符合紅色之色度標準；接 著，檢測程式51控制單一個或複數個背光單元93發出綠光，影像擷取模組40則開始擷取自單一個或複數個聚光單元220發出的綠色光線影像，隨後檢測程式51將所擷取的綠色光線影像與檢測程式51內建的綠色標準色度進行辨識及比對，以判斷檢測程式51所控制之單一個或複數個背光單元93是否符合綠色之色度標準；再接著，檢測程式51控制單一個或複數個背光單元93發出藍光，影像擷取模組40則開始擷取自單一個或複數個聚光單元220發出的藍色光線影像，隨後檢測程式51將所擷取的藍色光線影像與檢測程式51內建的藍色標準色度進行辨識及比對，以判斷檢測程式51所控制之單一個或複數個背光單元93是否符合藍色之色度標準；最後，檢測程式51控制單一個或複數個背光單元93發出白光，影像擷取模組40則開始擷取自單一個或複數個聚光單元220發出的白色光線影像，隨後檢測程式51將所擷取的白色光線影像與檢測程式51內建的白色標準色度進行辨識及比對，以判斷檢測程式51所控制之單一個或複數個背光單元93是否符合白色之色度標準，在判斷各個背光單元93是否可正常運作後，則依據測試結果產生一測試紀錄。另一方面，檢測程式51亦可依據背光單元93的測試結果對背光單元93進行色度的校正。
請參閱圖5、圖2A至2B、圖3A至3C及圖4，圖5係為鍵盤電路板檢測系統之檢測介面的示意圖。於圖5中，顯示裝置60具有一顯示螢幕601，用以顯示檢測程式51之檢測介面510。其中，檢測介面510包括鍵盤按壓檢測介面511及背光光源檢測介面512。鍵盤按壓檢測介面511用以顯示鍵盤按壓的檢測結果(如圖2A至2B或圖3A至3C)；背光光源檢測介面512用以顯示鍵盤背光光源的檢測結果(如圖4)。
於圖5中，若鍵盤之任一按鍵的按壓無法正常運作或不符合生產規格時，則於鍵盤按壓檢測介面511顯示無法進行正常按壓運作或不符合生產規格的按鍵位置。舉例而言，當按鍵「Q」無法正常運作時，則於鍵盤按壓檢測介面511上按鍵「Q」 的位置進行醒目提示，讓產線上的測試人員可自顯示螢幕601得知按鍵「Q」無法正常運作。請繼續參閱圖5，若鍵盤之任一按鍵的背光光源無法正常運作時，則於背光光源檢測介面512顯示無法正常進行發光運作的按鍵位置。舉例而言，當按鍵「M」的背光光源93無法正常運作時，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置進行醒目提示，讓產線上的測試人員可自顯示螢幕601得知按鍵「M」的背光光源無法正常運作。
請繼續參閱圖5，進一步的，若按鍵「M」的背光光源93為一種紅綠藍三原色的LED模組且無法正常運作時，若為LED模組中的紅色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示紅色以進行醒目提示；若為LED模組中的綠色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示綠色以進行醒目提示；若為LED模組中的藍色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示藍色以進行醒目提示；若為LED模組中的紅色及綠色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示黃色以進行醒目提示；若為LED模組中的紅色及藍色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示紫色以進行醒目提示；若為LED模組中的藍色及綠色光源無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示青色以進行醒目提示；若為LED模組中的紅色、綠色及藍色光源均無法正常運作，則於背光光源檢測介面512上按鍵「M」的位置顯示黑色以進行醒目提示。
請一併參閱圖1B及圖4，計算機50中的檢測程式51可以有線或無線的方式將鍵盤按壓檢測的檢測紀錄及背光光源檢測的檢測紀錄傳送至雲端伺服器80的資料庫81進行儲存，如此，產線上下一個維修站的維修人員便可自雲端伺服器80的資料庫81下載與該鍵盤電路板90對應的檢測紀錄，如此便可依據檢測紀錄進行後續的維修或組裝。或者，計算機50中的檢測程式51 可以控制與計算機50電性連接的標籤機70列印出包含測試紀錄資訊的條碼標籤71，產線上的測試人員可將條碼標籤71黏貼於鍵盤電路板90之上，如此產線上下一個維修站的維修人員便可利用掃描機掃描條碼標籤，以藉此獲得與該鍵盤電路板90對應的檢測紀錄，如此便可依據檢測紀錄快速地進行後續的維修或組裝。
相較於習知技術，本發明提供一種鍵盤電路板檢測系統，可進行鍵盤按壓檢測及背光光源檢測；故，本發明實為一極具產業價值之創作。
本發明得由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護。

Claims (10)

  1. 一種鍵盤電路板檢測系統，用以檢測一鍵盤電路板，該電路板具有複數個光發射元件及相對應的複數個光接收元件，該系統包括：一第一治具，具有複數個第一凹槽，該些第一凹槽用以容置該些光發射元件及該些光接收元件；一第二治具，具有複數個檢測開關；以及一計算機，用以電性連接該鍵盤電路板並執行一檢測程式；其中，該第一治具及該第二治具用以夾持該鍵盤電路板，該檢測程式用以控制該些光發射元件發射一光線至該些光接收元件，該些檢測開關用以阻斷或導通該光線的路徑，該檢測程式用以量測該些光接收元件之電壓值的變化，並產生對應於該鍵盤電路板的一檢測紀錄；以及，一抵壓板，該抵壓板具有複數個抵壓塊，該些抵壓塊用以抵壓該些檢測開關。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之鍵盤電路板檢測系統，其中該鍵盤電路板進一步包括複數個背光單元，且該第二治具具有複數個聚光孔用以容置並覆蓋該些背光單元。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之鍵盤電路板檢測系統，其中該些聚光孔具有複數個聚光單元，該些聚光單元用以凝聚該些背光單元所發射出的光線。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之鍵盤電路板檢測系統，其進一步包括一影像擷取模組，該檢測程式用以控制該些背光單元進行發光，並控制該影像擷取模組擷取自該些聚光單元發出的一光線影像。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之鍵盤電路板檢測系統，其中該檢測程式對該光線影像進行一色度比對，並依據該色度比對產生該檢測紀錄。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之鍵盤電路板檢測系統，其中該計算機包括一顯示裝置，該顯示裝置用以顯示該檢測程式之一檢測介面。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之鍵盤電路板檢測系統，其中該檢測介面包括一鍵盤按壓檢測介面及一背光光源檢測介面。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之鍵盤電路板檢測系統，其進一步包括一雲端伺服器，該檢測程式可以有線或無線的方式傳送該檢測紀錄至該雲端伺服器之一資料庫進行儲存。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之鍵盤電路板檢測系統，其進一步包括一標籤機，該檢測程式控制該標籤機列印一條碼標籤，且該條碼標籤包含對應該鍵盤電路板的該檢測紀錄之資訊。
  10. 一種鍵盤電路板檢測系統，用以檢測一鍵盤電路板，該電路板具有複數個光發射元件及相對應的複數個光接收元件，該系統包括：一第一治具，具有複數個第一凹槽，該些第一凹槽用以容置該些光發射元件及該些光接收元件；一第二治具，具有複數個檢測開關；以及一計算機，用以電性連接該鍵盤電路板並執行一檢測程式；其中，該第一治具及該第二治具用以夾持該鍵盤電路板，該檢測程式用以控制該些光發射元件發射一光線至該些光接收元件，該些檢測開關用以阻斷或導通該光線的路徑，該檢測程式用以量測該些光接收元件之電壓值的變化，並產生對應於該鍵盤電路板的 一檢測紀錄；其中該計算機包括一顯示裝置，該顯示裝置用以顯示該檢測程式之一檢測介面；以及，該檢測介面包括一鍵盤按壓檢測介面及一背光光源檢測介面。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113532757A (zh) * 2020-04-17 2021-10-22 神讯电脑(昆山)有限公司 一种键盘防水功能测试***及其方法
CN112698125B (zh) * 2020-12-03 2022-10-21 苏州汇亿达光学科技有限公司 一种笔记本电脑键盘彩色背光模组的测试方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146611A (ja) * 1988-11-29 1990-06-05 Fujitsu Ltd キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法
US5434566A (en) * 1991-06-10 1995-07-18 Fujitsu Limited Key touch adjusting method and device
TWI459009B (zh) * 2011-12-02 2014-11-01 Ningbo G B T Tech Trading Co Ltd 複合式量測治具
TWM533305U (en) * 2016-06-08 2016-12-01 Chicony Electronics Co Ltd Keyswitch device
CN106646202A (zh) * 2017-02-24 2017-05-10 常州信息职业技术学院 一种触摸按键电路板功能展示与检测***

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI411938B (zh) * 2010-04-09 2013-10-11 Primax Electronics Ltd 產生鍵盤測試程式之方法
CN105118723B (zh) * 2015-08-31 2017-11-21 东莞市名键电子科技有限公司 光电式键盘按键
CN106877855A (zh) * 2015-12-14 2017-06-20 致伸科技股份有限公司 光学式开关键盘
CN106877853A (zh) * 2015-12-14 2017-06-20 致伸科技股份有限公司 光学式开关键盘

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146611A (ja) * 1988-11-29 1990-06-05 Fujitsu Ltd キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法
US5434566A (en) * 1991-06-10 1995-07-18 Fujitsu Limited Key touch adjusting method and device
TWI459009B (zh) * 2011-12-02 2014-11-01 Ningbo G B T Tech Trading Co Ltd 複合式量測治具
TWM533305U (en) * 2016-06-08 2016-12-01 Chicony Electronics Co Ltd Keyswitch device
CN106646202A (zh) * 2017-02-24 2017-05-10 常州信息职业技术学院 一种触摸按键电路板功能展示与检测***

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